JPS59104519A

JPS59104519A - 高速繰返しパルス光計測装置

Info

Publication number: JPS59104519A
Application number: JP21414382A
Authority: JP
Inventors: Yutaka Tsuchiya; 裕土屋; Yu Koishi; 結小石; Akira Takeshima; 晃竹島
Original assignee: Hamamatsu Photonics KK
Current assignee: Hamamatsu Photonics KK
Priority date: 1982-12-07
Filing date: 1982-12-07
Publication date: 1984-06-16
Also published as: JPH0262806B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔技術分野〕本発明は高速繰返しパルス光の計測装置、さらに詳しく
言えば被計測光が同一の波形で正確な周期で繰返される
パルスである場合の計測に適した高速繰返しパルス光の
計測装置に関する。

〔従来技術〕

高速で変化する光の強度分布を観察する装置としてスト
リークカメラが知られている。

このストリークカメラで使用されるストリーク管は光電
面と螢光面との間に偏向電極を配置した電子管である。

ストリーク管の光電面に光か入射させられると、光電面
が光電子を放出する。この光電子が螢光面方向に移動す
る過程で、前記偏向電極で電界を作用させるとく掃引す
ると）入射光の強さの変化が螢光面上の一方向く時間軸
方向）の輝度の変化として現れる。

この輝度の変化により得られる像をストリーク像と呼ん
でいる。

ストリークカメラは前記のようなストリーク管とこのス
トリーク管の光電面に被計測光を投影する光学系、この
スしリーク管に電圧を加える電源等から構成されている
。

前記ストリーク像を解析する方法として、螢光面上のス
トリーク像をテレビジョンカメラで撮像し、得られた映
像信号を処理する方法が知られている。

この解析方法によって高速繰返しパルス光のストリーク
像を撮像すると１フイ一ルド刈間にわたってストリーク
像が多数回重なることになるから、大きな映像信号が得
られると言う利点かある。

しかしながら当然この期間中ストリーク管固有の暗電流
も蓄積されるので低い輝度レベルの計測か不正確になる
と言う問題がある。

またデータのコントラストは映（象増幅時のダイナミッ
クレンジにより制限され、それ以上のダイナミックレン
ジを期待できない。

高速繰返しパルス光のストリーク像を１０４〜１０６の
ような大きなダイナミックレンジで解析したいと言う要
請があるが前記方法では到底この要請を満たすことかで
きない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は光電変換器に光電子増倍管を用いること
等により前記問題を解決し、高速繰返しパルス光のスト
リーク像を大きいダイナミックレンジで解析できる高速
繰返しパルス光の計測装置を提供することにある。

〔発明の構成および作用〕

ｆｆ１ｉ」記目的を達成するために本発明による被計測
光か大竹的とこ同一の波形および周期で繰返されるパル
ス光の計測装置は、基本的にストリークカメラと、スト
リーク管の螢光面上のストリーク像を時間軸に垂直な方
向で一部取り出すサンプリング手段と、Ｍ！ｊ記サンプ
リング手段で取り出したストリーク（象を光電変換して
増倍する光電子増倍管と、前記光電子増倍管の出力を前
記遅延時間制御信号発生器の出力との関係で出力する出
力装置から構成されている。

前記ストリークカメラは、ストリーク管、前記ストリー
ク管の光電面に前記被計測光を入力する光学生段、前記
被計測光と同期した同期信号を発生ずる同期信号発生器
、前記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制御信号
を発生する遅延時間制御信号発生器、前記同期信号発生
器の出力を前記制御信号により遅延させる遅延回路、前
記遅延回路の出力を偏向電圧に変換してストリーク管の
偏向電極に接続する偏向電圧接続手段から構成されてい
る。

前記装置によれば繰返し入射するパルス光のストリーク
像はストリーク管の螢光面上に一回毎に順次ずれて形成
される。

このような像をずれる方向に垂直で狭く長いスリットな
どの前記サンプリング手段によｔつ順次界なる部分が取
り出される。各部は前記光電子増倍管で光電変換され増
倍されてとりだされ、出力装置に入力される。出力装置
は前記遅延時間制御信号発生器の出力との関係で、一つ
のパルスのプロファイルを高い精度で出力する。

〔実施例の説明〕

以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。

第１図は本発明による高速繰り返しパルス光の計測装置
の実施例を示すブロック図である。

この実施例装置は癌の診断や治療に利用される有機分子
性結晶であるヘマトポルフィリン誘導体を特定するため
にヘマトポルフィリン誘導体の微弱な螢光発光を観測す
ることを目的として構成されたものである。

まず初めにストリークカメラの主要部を形成するストリ
ーク管の構成を説明する。

ストリーク管３の気密容器３ｏの入射面の内壁には、光
電面３１が形成されており、他の対向する内壁面には螢
光面３４が形成されている。

それ等の間に網状電極３５．集束電極３６．アパーチャ
電極３７．偏向電極３３．マイクロチャンネルプレート
３２が順次配置されている。

マイクロチャンネルプレート３２は、３２．７龍の外１
Ｌ　　２７　■の内ｆ’！−をもっ枠の中にチャンネル
（二次電子増倍器）が平行に配ダルである。各チャンネ
ル（二次電子増倍器）は、内径２５μｍでこの中心との
間は３２μｍである。

各チャンネル（二次電子増倍器）の長さと内径の比は５
０：１である。

前記マイクロチャンネルプレート３２の入力側電極を接
地し、出力側電極に９００ポルｉ・を印加して、入力側
に１個の電子が入射すると約１０３個の数の電子が出力
側から送出される。

マイクロチャンネルプレー１・３２の入力側電極および
アパーチャ電極３７は接地されている。電源２１と分割
抵抗２２，２３．２４によって光電面３１に一４０００
ボルト、網状電極３５に一３０００ボルト、集束電極３
６に一３１００ボルトの電位が与えられている。螢光面
３４は電源２５によりマイクロチャンネルプレート３２
の出力（則電極より３０００ボルト高い電位か与えられ
ている。

マイクロチャンネルプレート３２の出力側電極は、電源
２６により１５００ボルトの電位か与えられている。

この実施例装置の被計測光パルスを発生するヘマトポル
フィリン誘導体４はダイレーザ発振器１の出力パルス光
により照射される。

ダイレーザ発振器１は波長約６０００ａｎｏ　ｍ、パル
ス幅５ｐｓｅｃのレーザ光を周波数８０〜２００８１１
ｚの範囲の任意の繰返し周期で発光可能である。

このダイレーザ発振器１はこの実施例装置の観測対象物
に励起信号を前記周期で繰返し送出し、対応する螢光発
光をさせる励起信号源を形成している。

半透明鏡であるヒームスプリノク２は、前記ダイレーザ
発Ｇ５器１の出力光を２系列に分岐する。分岐された一
方のパルスレーザ光は観測対象であるヘマ［ポルフィリ
ン誘導体４を照射する。

”マｌ−ホ／ｌ／　フィリン誘導体４はパルスレーザ光
ニよって励起されて前記パルスレーザ光に同期した螢光
パルスを発生ずる。

前記螢光発？覧はストリークカメラのストリーク管３の
光電面３１に被計測光を入力する光学手段により入力さ
れる。前記光学手段には、スリット坂１５　（スリン１
への方向は紙面に垂直である。）およびレンズ１６．１
７から形成されている。

前記光学手段によりヘマトポルフィリン誘導体４から螢
光パルスば、光電面３１の一定の位置に、形成される像
がストリーク管３の後述する掃引方向に対して極めて狭
い幅となるように投影される。

前記半透明鏡２により分岐させられた他方のパルスレー
ザ光は同期信号の発生に利用される。

前記他方のパルスレーザ光はＰＩＮフメトダイオード５
に入射させられる。

ＰＩＮフォトダイオード５は極めて応答速度が速い光電
素子で、パルスレーザ光の入射に応答してパルス電流を
出力する。ＰＩＮフォトダイオード５の出力は増幅器６
により増幅され同期信号か形成される。増幅器６の出力
端は遅延回路７に接わａされており、同期信号は遅延回
路７で遅延させられる。

遅延回路７は、遅延時間制御信号発生器１０からの信号
に基づいて前記同期信号を適当な時間遅延するため、お
よび順次位相を遅らせるために設けたものである。

前記遅延させられた同期信号によって光電面３１からの
光電子が偏向電極３３の近くを通過しているときに加え
る掃引電圧の位相を順次遅らせる。

遅延時間制御信号発生器１０は第２図に示す鋸歯状波電
圧を出力している。

遅延回路７の出力は同調増幅器８に接続されており、前
記同調増幅器８は前記遅延させられた同期信号と同一の
周波数の正弦波が発生させられる。

同調増幅器８は８０〜２００　ＭＨｚの範囲で任意の周
波数を中心周波数として動作可能であり、その中心周波
数はダイレーザの発振器１の周波数と等しく設定されて
いる。

同１１．１増幅器８の出力は駆動増幅器９により増幅さ
れ前記ストリーク管３の偏向電極３３に接続される。

この偏向電極３３に印加される正弦波の振幅は一５７５
ボルトから＋５７５ボルトまで、尖頭値開電圧１１５０
ボルトの正弦波（正確には正弦波に極めて類似した交流
波）であり、この波形の＋１００ボルトから一１００ボ
ルトまでが螢光面上の有効な掃引に利用される。

遅延時間制御信号発生器１０の出力は前記の遅延回路７
および、出力装置であるＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入
力端に接続されている。

前記ストリーク管３の螢光面３４の時間軸方向（この実
施例では紙面の上下方向）に垂直な前記螢光面上のスト
リーク像の一部は、サンプリング手段により光電子増倍
管の光電面に形成される。

前記サンプリング手段は、レンズ１８とスリット板１１
からなり、スリット板１１のスリットは螢光面３４上の
像がレンズ１８によって結像させられる面に、ストリー
ク管の掃引方向（螢光面３４の時間軸方向）に垂直で狭
＜長＜形成されている。

光電子増倍管１２はスリット板１１のスリン１−を通っ
た光のみを光電変換し増倍する。

光電子増倍管１２の出力信号は増幅器１３を介してＸＹ
ブロック１４のＹ軸座標入力端に接続されている。

次に前記実施例装置の動作を、レーザ光により励起され
たヘラ１−ポルフィリン誘導体の発生する螢光パルスの
波形を計測する場合を例にして詳しく説明する。

ます、遅延時間制御信号発生器１０を起動する・。

この遅延時間制御信号発生器１０は第２図に示すように
振幅１０Ｖ、周波数Ｉ　Ｈｚの鋸歯状波を繰返し出力す
る。

次にダイレーザ発振器１を起動する。

このダイレーザ発１辰器１は１００　　Ｍｌｌｚでレー
ザパルス光を発射する。このレーザパルス光は半透明鏡
であるビーノ・スプリツタ２を介してヘマトポルフィリ
ン誘導体４に入射させられる。

これによりヘマ（〜ポルフィリン銹導体４は励起され、
螢光を発光する。ごの螢光ば前記レーザパルス光に正確
に同期させられている。

この螢光はストリークカメラ３のレンズ１６，１７、ス
リット板１５からなる光学系により、ストリーク管３の
光電面３１に投影される。

スリット板１５のスリットの幅は狭いので光電面３１に
投影された像も極めて細い線となる。

光電面３１ば入射像に対応する電子が放出し、放出され
た電子は電界によって加速されて偏向電極３３、螢光面
３４の方向に移動させられる。

他方ビームスプリッタ２で分岐したレーザパルス光ばＰ
ＩＮフォトダイオードによって電気信号に変換され増幅
器６を介して遅延回路７に入力されている。

前記遅延回路７は入力信号を制御信号０■で固定遅延時
間ｔだけ遅延し、制御信号１０Ｖでｔ＋　３ｎａｎｏ　
ｓｅｃ遅延する。

この遅延時間はＯＶから１０　Ｖの間で一次関数的に変
化させられている。

また前述したようにレーザ光パルスに同期した入力信号
が１００ＭＨｚの周波数（従ってｌ　Ｑ　ｎａｎｏ　ｓ
ｅｃの周期）で遅延回路７に入力させられている。

このとき遅延時間制御信号か連続する２つの入力信号の
間、すなわち１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃ間、すなわら１０
０　ｎａｎｏＶ変化するから可制御遅延回路７による信
号の遅延時間は３Ｘ１０ｓｅｃだけ長（なる。

このパルス間の制御信号の変化は、１０　Ｖ　Ｘ　１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃ／　ｌ　ｓｅｃ
　＝　１００　ｎａｎｏＶであり、パルス間の遅延時間
の変化は３　ｎａｎｏ　５ｅｃＸ　１００　ｎａｎｏＶ／　１０
　Ｖ　＝　３　Ｘ　１０−”ｓｅｃとなる。したがって、遅延回路７へ１０　ｎａｎｏ　ｓ
ｅｃの周期で入力するパルスは３　Ｘ　１０＝７ｓｅｃ
だケ位相が遅れる。

遅延回路７で遅延させられた信号は同調増幅器８で正弦
波に変換され、駆動増幅器９で振幅が一５７５ボルトか
ら＋５７５ボルトまでの尖頭値開電圧１１５０ボルトに
増幅して偏向電極３３に加えられる。

この電圧のうち一１００ボルトから＋１００ボルトまで
か掃引に利用される。

前述の動作の結果、ヘマトポルフィリン誘導体４の螢光
に対応する電子が１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃごとに偏向電
極３３のつくる偏向電界に入射するのに対し、前記偏向
電界は位相が３’　Ｘ　１０＝７ｓｅｃ　／パルスずつ
遅れる。

次に前記螢光に対応する電子と偏向電界の時間関係から
螢光面３４上に生ずるストリーク像の状態について説明
する。

いま、理解を容易にするため、ヘマトポルフィリン誘導
体４の発生ずるパルス列に含まれる単一の螢光パルスの
プロファイルが第３図に示すようなものであるとする。

また一番目の螢光パルスに対応する電子群の先頭部分が
偏向電界へ入射したとき偏向電界がＯＶ／ｍであり　（
第１図の偏向電極３３で下から上へ向かう電界を正、上
から下へ向かう電界を負とする。

）正から負へ変化しているものとする。

また電子群の先頭はストリーク管３の中心、つまり螢光
面３４の中心を通る水平線上に入射するものとしこの水
平線を第４図にＸで示す。

電子群の先頭から尾部へ進むに従って笥４図のＸから下
に順次入射する。そして先頭から２８０ｐｓｅｃ遅れた
電子ば→−１００ボルトで偏向され蛍光面３４の下端に
入射する。このストリーク像の変化を第４図へに示す。

この曲線の時間軸は、ストリーク像の時間軸と一致して
おり、輝度を直線Ｙからの距離で示しである。

光電子増倍管１２はレンス１８によって、スリット板１
１に結像させられた螢光面３４上のストリーク像のうち
、前記スリットに対応する第４図Ｘで示した線上の部分
のみを光電変換して増倍する。

二番目の螢光に対応する電子群は、一番目の螢光からｌ
　Ｑ　１ａｎｏ　ｓｅｃ遅れて偏向電界に入射する。こ
れに対し二周期目の偏向電界は一周期目の偏向電界から
（］　Ｏｎａｎｏ　ｓｅｃ＋　３　Ｘ　１０−”　ｓｅ
ｃ　）　Ｊれて加えられる。

これを一番目の螢光に対応する電子群と対比すると相対
的に偏向電界の位相が３　Ｘ　１０＝”ｓｅｃだけ遅（
加えられることになる。すなわち電子群の先頭は約−１
０μ■で偏向される。二番目の螢光のストリーク像を第
４図Ｂに示す。このとき光電子増倍管１２は、ストリー
ク像の先頭から３×１０−”７ｓｅｃ　メこげ遅れた部
分を光電変換する。

このように繰返し螢光が入射するたびに螢光に対応する
電子群か偏向電界に入射する時刻に対して偏向電圧が加
えられる時刻は３　Ｘ　１０　＝”ｓｅｃずつ遅くなる
。そして順次３　Ｘ　１０−１７ｓｅｃだけずれたスト
リーク像が螢光面３４に形成される。このストリーク像
を第４図Ａ、Ｂ、Ｃ・・ｘ、ｙ、ｚに示しである。ただ
し、連続するストリーク像のピンチは理解を容易にする
ため誇張して示しである。

そしてストリーク像の先頭から３　Ｘ　Ｌ　Ｏ−”　ｓ
ｅｃずつ遅れた部分が１０　ｎａｒ＋ｏ　’ｓｅｃ　（
１０−”　５ｅｃ）ごとに光電子増倍管１２で光電変換
される。この光電子増倍管１２の出力信号は増１闇器１
３を介してＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入力端へ出力す
る。

次にＸＹプロッタ１４に遅延時間制御信号発生器１０の
出力信号と光電子増倍管１２の出力信号を入力して表示
する場合について説明する。

いま理解を容易にするため、前述の一番目の螢光に対応
する電子群は遅延時間制御信号発生器１０の出力がＯＶ
によって制御された偏向電圧によって偏向されたものと
する。そしてその時刻を０とする。

第５図は出力装置であるＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入
力とＸ軸座標入力との相関を示す図である。

これは言うまでもなくＸＹブロック１４に表示される図
形である。ＸＹブロック１４のＸ！ｌｌＩ座標は入力電
圧に比例し、入力電圧は基準時刻からの時間に比例する
。そして、入力電圧１０Ｖが時間１秒に対応する。この
入力電圧と時間を第５図に横軸で示しである。

Ｙ　！ｉｌｈ座標は光電子増倍管１２の出力電流に比例
する。まず一番目の螢光の入射に対応して螢光の先頭部
分に対応する電流かＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入力端
から入力する。いま、この電流はＯとする。このときＸ
軸座標入力端の入力端子は０ボルトである。これは第５
図の原点に相当する。二番目の螢光の入射に対応して螢
光の先頭部分に対応する電流がＸＹプロッタ１４のＸ軸
座標から入力する。この電流１２とする。Ｘ軸座標の入
力は１００　ｎａｎｏＶである。

以下同様にして、ｎ番目の螢光の入射に対応して第２図
に示すと同じ螢光の先頭より（ｎ−１）Ｘ３　Ｘ　１０
’−”　ｓｅｃ遅れた部分の螢光強度を１ｎをＸ軸座標
入力として（ｎ　１）Ｘ１００ｎａｎｏＶをＸ軸座標入
力として同時に入力しＸＹブロック１４にプロットする
と、ＸＹブロック１４に螢光の先頭から３　ｎａｎｏ　
ｓｅｃまでのストリーク像の輝度分布図を１０８のサン
プリング数で措くことかできる。

このようなサンプリング数は通常ストリーク管の螢光面
の有効な径が３０鰭程度でスリット板１１のスリット幅
がＱ、ｌｉｍ程度であることから十分なものである。

〔発明の詳細な説明〕

以上説明したように本発明による装置によれば、入射光
の繰返し速度と少しずつ位相をずらした偏向電界を加え
ることによってストリーク像を僅かずつずらしストリー
ク像の掃引方向に狭いスリットで螢光面の一部のみの像
を通過し、これを光電子増倍管で光電変換し、光電子増
倍管の出力を一定速度で掃引しながらプロットしてスト
リーク像の輝度分布図を描くことができる。

ストリーク管のストリーク管は光電変換に蓄積効果を有
しない。また光電子増倍管は、極めて大きいダイナミッ
クレンジを提供できるので、本発明による装置は従来の
テレビジョン撮像管を使ってストリーク像を撮像する場
合に比べて数千倍という極めて大きなダイナミックレン
ジの計測データが得られる。

〔変形例の説明〕

以上１実施例に付き本発明の装置の構造、および動作を
詳細に述べた。

前記実施例に付き本発明の範囲で種々の変形を施すこと
かできる。

前述の実施例では理解を容易にするために、光電子増倍
管の出力を単に増幅してＸＹプロッタ１４のＹ軸に入力
した。

しかし前記増幅器１３を対数圧ｊ；ｈ増幅器として、Ｘ
Ｙプロッタ１４のＹ軸を対数目盛にした方が良い場合が
多い。

この対数圧縮増幅器に置き換える変形は、大きいダイナ
ミックレンジの入力信号を表示することができると言う
点で本発明の目的に合致する。

前記実施例でばスｌ−ＩＪ−り像の一部を透過させるサ
ンプリング手段として、光電子増倍管側にスリット板を
配置する例を示したが、ストリークカメラ側からスリッ
ト形状の螢光像を出すように構成することも可能である
。

すなわち、前記ストリーク管３の螢光面３４を光学ファ
イバープレートからなる気密容器壁に形成し、スリット
部分を残し他を不透明にしてストリーク管の出射面から
スリット状の像を出力するようにすることも可能である
。

このスリット状の像は適宜な光学手段で前記光電子増倍
管の光電面に伝達できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による高速繰返しパルス光計１１１１装
置の実施例を示すプロ、り図である。第２図は遅延時間制御信号発生器の出力信号波形を示す
波形図である。第３図はレーザ光により励起されたヘラｌ−ポルフィリ
ン誘導体が発生する螢光パルストレイン中の一つの螢光
パルスのプロファイルを示すグラフである。第４図は順次移動するストリーク像とストリーク管の螢
光面の関係を示した説明図である。第５図はＸＹプロッタのＸ軸座標入力とＹ軸座標入力と
の相関を説明する説明図である。１・・・ダイレーザ発振器２・・・ビームスブリック（半透明鏡）３・・・ストリ
ーク管２１．２５．２６・・・電源装置２２．２３．２４・・・抵抗器３０・・・ストリーク管の気密容器３１・・・ストリーク管の光電面３２・・・ストリーク管のマイクロチャンネルプレート３３・・・ストリーク管の偏向電極３４・・・ストリーク管の螢光面３５・・・ストリーク管の網状電極３６・・・ストリーク管の集束電極３７・・・ストリーク管のアパーチャ電極４・・ヘマト
ポリフィン誘導体（被測定発光源）５・・・ＰＩＮボト
ダイオード６・・・増幅器７・・・遅延回路８・・・同調増幅器９・・・駆動増幅器１０・・・遅延時間制御信号発生器１１・・・スリット板１？・・・光電子増倍管１３・・・増幅器１４・　・・ＸＹプロッタ１５・・・アパーチャ４反１６．１７．１８・・・レンズ特許出願人　　　浜松テレビ株式会社代理人　弁理士　　井　ノ　ロ　　壽手続ネｓＴＴ正書昭和５８年　１月２５日特許庁長官　着膨　和　人１、事件の表示昭和５７年特　許　願第２１４．１４３号２、発明の名
称高速繰返しパルス光計連、・装置３、特許出願人４、代理　人７、補正の内容　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　／補正の内容（特願昭５７−２１４１４３）（１）
　特許請求の範囲を以下のとおり補正する。「２、特許請求の範囲（１）波計ヨ１１光が実質的に同一の波形および周期で
繰返されるパルス光の計測装置であって、ストリーク管
、前記ストリーク管の光電面に前記波計フリ光を入力す
る光学手段、前記被計測光と同期した同期信号を発生す
る同期信号発生器、前記同期信号を順次一定時間だけ遅
延させる制御信号を発生する遅延時間制御信号発生器、
前記同期信号発生器の出力を前記制御信号により遅延さ
せる遅延回路、前記遅延回路の出力を偏向電圧に変換し
てストリーク管の偏向電極に接続する偏向電圧接続手段
、からなるストリークカメラと、前記螢光面上のスｌ−
ＩＪ−り像の一部を前記螢光面の時間軸方向を光電変換
して増倍する光電子増倍管と、前記光電子増倍管の出力
を前記遅延時間制御信号発生器の出力との関係で出力す
る出力装置から構成した高速繰返しパルス光計測装置。（２）前記同期信号発生器は前記被計測光を発生する物
体を励起する信号に基づいて同期信号を発生ずる特許請
求の範囲第１項記載の高速繰返しパルス光計測装置。（３）前記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制御
信号は前記同期信号の多数倍の周期の鋸歯状波信号であ
り前記同期信号は前記遅延回路によりその時点の前記鋸
歯状波信号の振幅に対応する時間だけ遅延させられる特
許請求の範囲第１項記載の高速鴛又しパルス光計測装置
。（４）偏向電圧接続手段は前記遅延回路出刃に同調して
正弦波を発生する同調増幅器と前記同調増幅器の出力を
増幅して前記ストリーク管の偏向電極に接続する駆動増
幅器から構成される特許請求の範囲第１項記載の高速Ｗ
避しパルス光計測装置。（５）前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリング
手段はストリーク像を前記光電子増倍管の光電面の前に
結像させる光学装置と前記結像面に配置されたスリンｆ
４＆である特許請求の範囲第１項記載の高速繰返しパル
ス光計測装置。（６）前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリング
手段は前記ス）　ＩＪ−り管の螢光面が形成される光学
ファイバープレートからなる気密容器壁に形成されてい
るスリン１−と前記スリットの像を前記光電子増倍管の
光電面に形成する光学装置である特許請求の範囲第１項
記載の高速繰返しパルス光計測装置。（７）前記出力２置ば前記遅延時間制御信号発生器の出
力を第１の軸、前記光電子増倍管の出力を第２の軸とし
て出力するプロッタである特許請求の範囲第１項記載の
高速繰返しパルス光計測装置。（８）前記プロ２・夕の第２の軸には前記光電子増倍管
の出力を対数圧縮した信号が接続され、前記第２の軸の
目盛は対数目盛である特許請求の範囲第７項記載の低速
繰返しパルス光計測装置。」（２）明細書第５頁第１２
行目の「ストリーク管」を「撮像管」に？ｉｌｉ正する
。（３）明細書第１４頁第１４行目の「この螢光はストリ
ークカメラ３のレンズ１６．１７．スリソト板１５から
・・・」を「この螢光はレンズ１６゜１７．スリット板
１５から・・・」に補正する。（４）明細書第２１頁第１６行目から同第１７行目の「
ストリーク管のストリーク像は光電変換に蓄積効果を有
しない。また」を削除する。以上

Claims

【特許請求の範囲】

（１）被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返
されるパルス光の計ｌす装置であって、ストリーク管、
前記ストリーク管の光電面に前記被計測光を入力する光
学手段、前記被計測光と同期した同期信号を発生する同
期信号発生器、前記同期信号を順次一定時間だけ遅延さ
せる制御信号を発生する遅延時間制御信号発生器、前記
同期（−号発生器の出力を前記制御信号により遅延させ
る遅延回路、前記遅延回路の出力を偏向電圧に変換して
ストリーク管の偏向電極に接続する偏向電圧接続手段手
段、からなるストリークカメラと、ｎｉｊ記螢光面上の
ストリーク像の一部を前記螢光面の時間軸方向に垂直に
細い幅で取り出すサンプリング手段と、前記サンプリン
グ手段で取り出したストリーク像を光電変換して増倍す
る光電子増倍管と、前記光電子増倍管の出力を前記遅延
時間制御信号発生器の出力との関係で出力する出力装置
から構成した高速繰返しパルス光計測装置。
（２）前記同期信号発生器は前記被計測光を発生する物
体を励起する信号に基づいて同期信号を発生する特許請
求の範囲第１項記載の高速繰り返しパルス光計測装置。
（３）前記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制御
；１０信号ば前記同期信号の多数倍の周期の鉱山状波信
号であり前記同期（８号は前記遅延回路によりその時点
の前記鉱山状波信号の振幅に対応する時間だり遅延させ
られる特許請求の範囲第１項記載の高速繰り返しパルス
光計測装置。
（４）偏向電圧接続手段は前記遅延回路出力に同調して
正弦波を発生ずる同調増幅器と前記同調増幅器の出力を
増幅して前記ストリーク管の偏向電極に接続する駆動増
幅器から構成される特許請求の範囲第１項記載の高速繰
り返しパルス光計測装置。
（５）　　前記スＩ・リーク像の一部を取り出すサンプ
リング手段はストリーク像を前記光電子増倍管の光電面
の前に結像させる光学装置と前記結像面に配置されたス
リット板である特許請求の範囲第１項記載の高速繰返し
パルス光計測装置。
（６）前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリング
手段は前記ストリーク管の螢光面が形成される光学ファ
イバープレートからなる気密容器壁に形成されているス
リットと前記スリットの像を前記光電子増倍管の光電面
に形成する光学装置である特許請求の範囲第１項記載の
高速繰返しパルス光計測装置。
（７）前記出力装置は前記遅延時間制御信号発生器の出
力を第１の軸、前記光電子増倍管の出力を第２の軸とし
て出力するプロッタである特許請求の範囲第１項記載の
高速繰返しパルス光計測装置。
（８）前記プロッタの第２の軸には前記光電子増イス３
管の出力を対数圧縮した信号が接続され、前記第２の軸
の目盛は対数目盛である特許請求の範囲第７項記載の高
速繰返しパルス光計測装置。
（９）前記被計測光はダイレーザ発振器の出力で励起さ
れるヘマトポルフィリイン誘導体の螢光発光パルストレ
インである特許請求の範囲第１項記載の高速繰返しパル
ス光計測装置。