JPH0262806B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は高速繰返しパルス光の計測装置、さら
に詳しく言えば被計測光が同一の波形で正確な周
期で繰返されるパルスである場合の計測に適した
高速繰返しパルス光の計測装置に関する。

〔従来技術〕

高速で変化する光の強度分布を観察する装置と
してストリークカメラが知られている。

このストリークカメラで使用されるストリーク
管は光電面と螢光面との間に偏向電極を配置した
電子管である。

ストリーク管の光電面に光が入射させられる
と、光電面が光電子を放出する。この光電子が螢
光面方向に移動する過程で、前記偏向電極で電界
を作用させると（掃引すると）入射光の強さの変
化が螢光面上の一方向（時間軸方向）の輝度の変
化として現れる。

この輝度の変化により得られる像をストリーク
像と呼んでいる。

ストリークカメラは前記のようなストリーク管
とこのストリーク管の光電面に被計測光を投影す
る光学系、このストリーク管に電圧を加える電源
等から構成されている。

前記ストリーク像を解析する方法として、螢光
面上のストリーク像をテレビジヨンカメラで撮像
し、得られた映像信号を処理する方法が知られて
いる。この解析方法によつて高速繰返しパルス光
のストリーク像を撮像すると１フイールド期間に
わたつてストリーク像が多数回重なることになる
から、大きな映像信号が得られると言う利点があ
る。しかしながら当然この期間中撮像管固有の暗
電流も蓄積されるので低い輝度レベルの計測が不
正確になると言う問題がある。

またデータのコントラストは映像増幅時のダイ
ナミツクレンジにより制限され、それ以上のダイ
ナミツクレンジを期待できない。

高速繰返しパルス光のストリーク像を10⁴〜10⁶
のような大きなダイナミツクレンジで解析したい
と言う要請があるが前記方法では到底この要請を
満たすことができない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は光電変換器に光電子増倍管を用
いること等により前記問題を解決し、高速繰返し
パルス光のストリーク像を大きいダイナミツクレ
ンジで解析できる高速繰返しパルス光の計測装置
を提供することにある。

〔発明の構成および作用〕

前記目的を達成するために、本発明による高速
繰返しパルス光計測装置は、被計測光が実質的に
同一の波形および周期で繰返されるパルス光の計
測装置であつて、 ストリークカメラと、 前記螢光面上のストリーク像の一部を前記螢光
面の時間軸方向に垂直に細い幅で取り出すサンプ
リング手段と、 前記サンプリング手段で取り出したストリーク
像を光電変換して検出する光検出器と、 前記光電検出器の出力を前記遅延時間制御信号
発生器の出力との関係で出力する出力装置から構
成され、前記ストリークカメラは、 ストリーク管、前記ストリーク管の光電面に前
記被計測光を入力する光学手段、前記被計測光と
同期した同期信号を発生する同期信号発生器、前
記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制御信
号を発生する遅延時間制御信号発生器、前記同期
信号発生器の出力を前記制御信号により遅延させ
る遅延回路、前記遅延回路の出力を偏向電圧に変
換してストリーク管の偏向電極に接続する偏向電
圧接続手段から構成されている。

前記同期信号発生器は前記被計測光を発生する
物体を励起する信号に基づいて同期信号を発生す
るように構成できる。

前記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制
御信号は前記同期信号の多数倍の周期の鋸歯状波
信号であり前記同期信号は前記遅延回路によりそ
の時点の前記鋸歯状波信号の振幅に対応する時間
だけ遅延させられるように構成できる。

前記偏向電圧接続手段は前記遅延回路出力に同
調して正弦波を発生する同調増幅器と前記同調増
幅器の出力を増幅して前記ストリーク管の偏向電
極に接続する駆動増幅器から構成することができ
る。

前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリン
グ手段はストリーク像を前記光検出器の検出面の
前に結像させる光学装置と前記結像面に配置され
たスリツト板で構成できる。

前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリン
グ手段は前記ストリーク管の螢光面が形成される
光学フアイバープレートからなる気密容器壁に形
成されているスリツトと前記スリツトの像を前記
光検出器の検出面に形成する光学装置とすること
ができる。

前記出力装置は前記遅延時間制御信号発生器の
出力を第１の軸、前記光検出器の出力を第２の軸
として出力するプロツタで構成できる。

前記プロツタの第２の軸には前記光検出器の検
出出力を対数圧縮した信号が接続され、前記第２
の軸の目盛は対数目盛とすることができる。

前記被計測光はダイレーザ発振器の出力で励起
されるヘマトポルフイリイン誘導体の螢光発光パ
ルストレインとすることができる。

前記光検出器を光電子増倍管で形成することも
できる。

前記装置によれば繰返し入射するパルス光のス
トリーク像はストリーク管の螢光面上に時間軸方
向に一回毎に順次ずれて形成される。

このような像をずれる方向に垂直で狭く長いス
リツトなどの前記サンプリング手段により順次異
なる部分が取り出される。各部は前記光電子増倍
管で光電変換され増倍されてとりだされ、出力装
置に入力される。出力装置は前記遅延時間制御信
号発生器の出力との関係で、一つのパルスのプロ
フアイルを高い精度で出力する。

〔実施例の説明〕

以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説
明する。

第１図は本発明による高速繰り返しパルス光の
計測装置の実施例を示すブロツク図である。

この実施例装置は癌の診断や治療に利用される
有機分子性結晶であるヘマトポルフイリン誘導体
を特定するためにヘマトポルフイリン誘導体の微
弱な螢光発光を観測することを目的として構成さ
れたものである。

まず初めにストリークカメラの主要部を形成す
るストリーク管の構成を説明する。

ストリーク管３の気密容器３０の入射面の内壁
には、光電面３１が形成されており、他の対向す
る内壁面には螢光面３４が形成されている。

それ等の間に網状電極３５、集束電極３６、ア
パーチヤ電極３７、偏向電極３３、マイクロチヤ
ンネルプレート３２が順次配置されている。

マイクロチヤンネルプレート３２は、32.7mmの
外径、27mmの内径をもつ枠の中にチヤンネル（二
次電子増倍器）が平行に配列してある。各チヤン
ネル（二次電子増倍器）は、内径25μｍでこの中
心との間は32μｍである。

各チヤンネル（二次電子増倍器）の長さと内径
の比は50：１である。

前記マイクロチヤンネルプレート３２の入力側
電極を接地し、出力側電極に900ボルトを印加し
て、入力側に１個の電子が入射すると約10³個の
数の電子が出力側から送出される。

マイクロチヤンネルプレート３２の入力側電極
およびアパーチヤ電極３７は接地されている。電
源２１と分割抵抗２２，２３，２４によつて光電
面３１に−4000ボルト、網状電極３５に−3000ボ
ルト、集束電極３６に−3100ボルトの電位が与え
られている。螢光面３４は電源２５によりマイク
ロチヤンネルプレート３２の出力側電極より3000
ボルト高い電位が与えられている。マイクロチヤ
ンネルプレート３２の出力側電極は、電源２６に
より1500ボルトの電位が与えられている。

この実施例装置の被計測光パルスを発生するヘ
マトポルフイリン誘導体４はダイレーザ発振器１
の出力パルス光により照射される。

ダイレーザ発振器１は波長約600nano ｍ，パ
ルス幅5p secのレーザ光を周波数80〜200MHzの
範囲の任意の繰返し周期で発光可能である。この
ダイレーザ発振器１はこの実施例装置の観測対象
物に励起信号を前記周期で繰返し送出し、対応す
る螢光発光をさせる励起信号源を形成している。

半透明鏡であるビームスプリツタ２は、前記ダ
イレーザ発振器１の出力光を２系列に分岐する。
分岐された一方のパルスレーザ光は観測対象であ
るヘマトポルフイリン誘導体４を照射する。

ヘマトポルフイリン誘導体４はパルスレーザ光
によつて励起されて前記パルスレーザ光に同期し
た螢光パルスを発生する。

前記螢光発光はストリークカメラのストリーク
管３の光電面３１に被計測光を入力する光学手段
により入力される。前記光学手段には、スリツト
板１５（スリツトの方向は紙面に垂直である。）
およびレンズ１６，１７から形成されている。

前記光学手段によりヘマトポルフイリン誘導体
４から螢光パルスは、光電面３１の一定の位置
に、形成される像がストリーク管３の後述する掃
引方向に対して極めて狭い幅となるように投影さ
れる。前記半透明鏡２により分岐させられた他方
のパルスレーザ光は同期信号の発生に利用され
る。

前記他方のパルスレーザ光はPINフオトダイオ
ード５に入射させられる。

PINフオトダイオード５は極めて応答速度が速
い光電素子で、パルスレーザ光の入射に応答して
パルス電流を出力する。PINフオトダイオード５
の出力は増幅器６により増幅され同期信号が形成
される。増幅器６の出力端は遅延回路７に接続さ
れており、同期信号は遅延回路７で遅延させられ
る。

遅延回路７は、遅延時間制御信号発生器１０か
らの信号に基づいて前記同期信号を適当な時間遅
延するため、および順次位相を遅らせるために設
けたものである。

前記遅延させられた同期信号によつて光電面３
１からの光電子が偏向電極３３の近くを通過して
いるときに加える掃引電圧の位相を順次遅らせ
る。遅延時間制御信号発生器１０は第２図に示す
鋸歯状波電圧を出力している。

遅延回路７の出力は同調増幅器８に接続されて
おり、前記同調増幅器８は前記遅延させられた同
期信号と同一の周波数の正弦波が発生させられ
る。同調増幅器８は80〜200MHzの範囲で任意の
周波数を中心周波数として動作可能であり、その
中心周波数はダイレーザの発振器１の周波数と等
しく設定されている。

同調増幅器８の出力は駆動増幅器９により増幅
され前記ストリーク管３の偏向電極３３に接続さ
れる。

この偏向電極３３に印加される正弦波の振幅は
−575ボルトから＋575ボルトまで、尖頭値間電圧
1150ボルトの正弦波（正確には正弦波に極めて類
似した交流波）であり、この波形の＋100ボルト
から−100ボルトまでが螢光面上の有効な掃引に
利用される。

遅延時間制御信号発生器１０の出力は前記の遅
延回路７および、出力装置であるXYプロツタ１
４のＸ軸座標入力端に接続されている。

前記ストリーク管３の螢光面３４の時間軸方向
（この実施例では紙面の上下方向）に垂直な前記
螢光面上のストリーク像の一部は、サンプリング
手段により光電子増倍管の光電面に形成される。
前記サンプリング手段は、レンズ１８とスリツト
板１１からなり、スリツト板１１のスリツトは螢
光面３４上の像がレンズ１８によつて結像させら
れる面に、ストリーク像の掃引方向（螢光面３４
の時間軸方向）に垂直で狭く長く形成されてい
る。

光検出器である光電子増倍管１２はスリツト板
１１のスリツトを通つた光のみを光電変換し増倍
する。

光電子増倍管１２の出力信号は増幅器１３を介
してXYプロツタ１４のＹ軸座標入力端に接続さ
れている。

次に前記実施例装置の動作を、レーザ光により
励起されたヘマトポルフイリン誘導体の発生する
螢光パルスの波形を計測する場合を例にして詳し
く説明する。

まず、遅延時間制御信号発生器１０を励動す
る。この遅延時間制御信号発生器１０は第２図に
示すように振幅10V、周波数１Hzの鋸歯状波を繰
返し出力する。

次にダイレーザ発振器１を起動する。

このダイレーザ発振器１は100MHzでレーザパ
ルス光を発射する。このレーザパルス光は半透明
鏡であるビームスプリツタ２を介してヘマトポル
フイリン誘導体４に入射させられる。

これによりヘマトポルフイリン誘導体４は励起
され、螢光を発光する。この螢光は前記レーザパ
ルス光に正確に同期させられている。

この螢光はレンズ１６，１７、スリツト板１５
からなる光学系により、ストリーク管３の光電面
３１に投影される。

スリツト板１５のスリツトの幅は狭いので光電
面３１に投影された像も極めて細い線となる。

光電面３１は入射像に対応する電子が放出し、
放出された電子は電界によつて加速されて偏向電
極３３、螢光面３４の方向に移動させられる。

他方ビーススプリツタ２で分岐したレーザパル
ス光はPINフオトダイオードによつて電気信号に
変換され増幅器６を介して遅延回路７に入力され
ている。

前記遅延回路７は入力信号を制御信号0Vで固
定遅延時間ｔだけ遅延し、制御信号10Vでｔ＋
3nano sec遅延する。

この遅延時間は0Vから10Vの間で一次関数的
に変化させられている。

また前述したようにレーザ光パルスに同期した
入力信号が100MHzの周波数（従つて10nano sec
の周期）で遅延回路７に入力させられている。こ
のとき遅延時間制御信号が連続する２つの入力信
号の間、すなわち10nano sec間、すなわち
100nanoV変化するから可制御遅延回路７による
信号の遅延時間は３×10^-17secだけ長くなる。こ
のパルス間の制御信号の変化は、 10V×10nano sec／1sec＝100nanoV であり、パルス間の遅延時間の変化は 3nano sec×100nanoV／10V＝３×10^-17sec となる。したがつて、遅延回路７へ10nano sec
の周期で入力するパルスは３×10^-17secだけ位相
が遅れる。

遅延回路７で遅延させられた信号は同調増幅器
８で正弦波に変換され、駆動増幅器９で振幅が−
575ボルトから＋575ボルトまでの尖頭値間電圧
1150ボルトに増幅して偏向電極３３に加えられ
る。

この電圧のうち−100ボルトから＋100ボルトま
でが掃引に利用される。

前述の動作の結果、ヘマトポルフイリン誘導体
４の螢光に対応する電子が10nano secごとに偏
向電極３３のつくる偏向電界に入射するのに対
し、前記偏向電界は位相が３×10^-17sec／パルス
ずつ遅れる。

次に前記螢光に対応する電子と偏向電界の時間
関係から螢光面３４上に生ずるストリーク像の状
態について説明する。いま、理解を容易にするた
め、ヘマトポルフイリン誘導体４の発生するパル
ス列に含まれる単一の螢光パルスのプロフアイル
が第３図に示すようなものであるとする。

また一番目の螢光パルスに対応する電子群の先
頭部分が偏向電界へ入射したとき偏向電界が
0V／ｍであり（第１図の偏向電極３３で下から
上へ向かう電界を正、上から下へ向かう電界を負
とする。）正から負へ変化しているものとする。

また電子群の先頭はストリーク管３の中心、つ
まり螢光面３４の中心を通る水平線上に入射する
ものとしてこの水平線を第４図にｘで示す。

電子群の先頭から尾部へ進むに従つて第４図の
ｘから下に順次入射する。そして先頭から280p
sec遅れた電子は＋100ボルトで偏向され螢光面３
４の下端に入射する。このストリーク像の変化を
第４図Ａに示す。この曲線の時間軸は、ストリー
ク像の時間軸と一致しており、輝度を直線Ｙから
の距離で示してある。

光電子増倍管１２はレンズ１８によつて、スリ
ツト板１１に結像させられた螢光面３４上のスト
リーク像のうち、前記スリツトに対応する第４図
ｘで示した線上の部分のみを光電変換して増倍す
る。二番目の螢光に対応する電子群は、一番目の
螢光から10nano sec遅れて偏向電界に入射する。
これに対し二周期目の偏向電界は一周期目の偏向
電界から（10nano sec＋３×10^-17sec）遅れて加
えられる。

これを一番目の螢光に対応する電子群と対比す
ると相対的に偏向電界の位相が３×10^-17secだけ
遅く加えられることになる。すなわち電子群の先
頭は約−10μVで偏向される。二番目の螢光のス
トリーク像を第４図Ｂに示す。このとき光電子増
倍管１２は、ストリーク像の先頭から３×
10^-17secだけ遅れた部分を光電変換する。

このように繰返し螢光が入射するたびに螢光に
対応する電子群が偏向電界に入射する時刻に対し
て偏向電圧が加えられる時刻は３×10^-17secずつ
遅くなる。そして順次３×10^-17secだけずれたス
トリーク像が螢光面３４に形成される。このスト
リーク像を第４図Ａ，Ｂ，Ｃ…Ｘ，Ｙ，Ｚに示し
てある。ただし、連続するストリーク像のピツチ
は理解を容易にするため誇張して示してある。そ
してストリーク像の先頭から３×10^-17secずつ遅
れた部分が10nano sec（10^-8sec）ごとに光電子増
倍管１２で光電変換される。この光電子増倍管１
２の出力信号は増幅器１３を介してXYプロツタ
１４のＹ軸座標入力端へ出力する。

次にXYプロツタ１４に遅延時間制御信号発生
器１０の出力信号と光電子増倍管１２の出力信号
を入力して表示する場合について説明する。

いま理解を容易にするため、前述の一番目の螢
光に対応する電子群は遅延時間制御信号発生器１
０の出力が0Vによつて制御された偏向電圧によ
つて偏向されたものとする。そしてその時刻を０
とする。

第５図は出力装置であるXYプロツタ１４のＸ
軸座標入力とＹ軸座標入力との相関を示す図であ
る。これは言うまでもなくXYプロツタ１４に表
示される図形である。XYプロツタ１４のＸ軸座
標は入力電圧に比例し、入力電圧は基準時刻から
の時間に比例する。そして、入力電圧10Vが時間
１秒に対応する。この入力電圧と時間を第５図に
横軸で示してある。

Ｙ軸座標は光電子増倍管１２の出力電流に比例
する。まず一番目の螢光の入射に対応して螢光の
先頭部分に対応する電流がXYプロツタ１４のＹ
軸座標入力端から入力する。いま、この電流は０
とする。このときＸ軸座標入力端の入力電圧は０
ボルトである。これは第５図の原点に相当する。
二番目の螢光の入射に対応して螢光の先頭部分に
対応する電流がXYプロツタ１４のＹ軸座標から
入力する。この電流i₂とする。Ｘ軸座標の入力は
100nanoVである。

以下同様にして、ｎ番目の螢光の入射に対応し
て第３図に示すと同じ螢光の先頭より（ｎ−１）
×３×10^-17sec遅れた部分の螢光強度をinをＹ軸
座標入力として（ｎ−１）×100nanoVをＸ軸座
標入力として同時に入力しXYプロツタ１４にプ
ロツトすると、XYプロツタ１４に螢光の先頭か
ら3nano secまでのストリーク像の輝度分布図を
10⁸のサンプリング数で描くことができる。この
ようなサンプリング数は通常ストリーク管の螢光
面の有効な径が30mm程度でスリツト板１１のスリ
ツト幅が0.1mm程度であることから十分なもので
ある。

〔発明の効果の説明〕

以上説明したように本発明による装置によれ
ば、入射光の繰返し速度と少しずつ位相をずらし
た偏向電界を加えることによつてストリーク像を
僅かずつずらしストリーク像の掃引方向に狭いス
リツトで螢光面の一部のみの像を通過し、光検出
器で検出してその出力を一定速度で掃引しながら
プロツトしてストリーク像の輝度分布図を描くこ
とができる。

実施例に示したように光検出器として光電子増
倍管を用いると光電子増倍管は、極めて大きいダ
イナミツクレンジを提供できるので、本発明によ
る装置は従来のテレビジヨン撮像管を使つてスト
リーク像を撮像する場合に比べて数千倍という極
めて大きなダイナミツクレンジの計測データが得
られる。

〔変形例の説明〕

以上１実施例に付き本発明の装置の構造、およ
び動作を詳細に述べた。

前記実施例に付き本発明の範囲で種々の変形を
施すことができる。

前述の実施例では理解を容易にするために、光
電子増倍管の出力を単に増幅してXYプロツタ１
４のＹ軸に入力した。

しかし前記増幅器１３を対数圧縮増幅器とし
て、XYプロツタ１４のＹ軸を対数目盛にした方
が良い場合が多い。

この対数圧縮増幅器に置き換える変形は、大き
いダイナミツクレンジの入力信号を表示すること
ができると言う点で本発明の目的に合致する。

前記実施例ではストリーク像の一部を透過させ
るサンプリング手段として、光電子増倍管側にス
リツト板を配置する例を示したが、ストリークカ
メラ側からスリツト形状の螢光像を出すように構
成することも可能である。

すなわち、前記ストリーク管３の螢光面３４を
光学フアイバープレートからなる気密容器壁に形
成し、スリツト部分を残し他を不透明にしてスト
リーク管の出射面からスリツト状の像を出力する
ようにすることも可能である。

このスリツト状の像は適宜な光学手段で前記光
電子増倍管の光電面に伝達できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による高速繰返しパルス光計測
装置の実施例を示すブロツク図である。第２図は
遅延時間制御信号発生器の出力信号波形を示す波
形図である。第３図はレーザ光により励起された
ヘマトポルフイリン誘導体が発生する螢光パルス
トレイン中の一つの螢光パルスのプロフアイルを
示すグラフである。第４図は順次移動するストリ
ーク像とストリーク管の螢光面の関係を示した説
明図である。第５図はXYプロツタのＸ軸座標入
力とＹ軸座標入力との相関を説明する説明図であ
る。 １…ダイレーザ発振器、２…ビームスプリツタ
（半透明鏡）、３…ストリーク管、２１，２５，２
６…電源装置、２２，２３，２４…抵抗器、３０
…ストリーク管の気密容器、３１…ストリーク管
の光電面、３２…ストリーク管のマイクロチヤン
ネルプレート、３３…ストリーク管の偏向電極、
３４…ストリーク管の螢光面、３５…ストリーク
管の網状電極、３６…ストリーク管の集束電極、
３７…ストリーク管のアパーチヤ電極、４…ヘマ
トポルフイリン誘導体（被測光発光源）、５…
PINホトダイオード、６…増幅器、７…遅延回
路、８…同調増幅器、９…駆動増幅器、１０…遅
延時間制御信号発生器、１１…スリツト板、１２
…光電子増倍管、１３…増幅器、１４…XYプロ
ツタ、１５…スリツト板、１６，１７，１８…レ
ンズ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被計測光が実質的に同一の波形および周期で
   繰返されるパルス光の計測装置であつて、 ストリーク管、前記ストリーク管の光電面に前
   記被計測光を入力する光学手段、前記被計測光と
   同期した同期信号を発生する同期信号発生器、前
   記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる制御信
   号を発生する遅延時間制御信号発生器、前記同期
   信号発生器の出力を前記制御信号により遅延させ
   る遅延回路、前記遅延回路の出力を偏向電圧に変
   換してストリーク管の偏向電極に接続する偏向電
   圧接続手段、からなるストリークカメラと、 前記螢光面上のストリーク像の一部を前記螢光
   面の時間軸方向に垂直に細い幅で取り出すサンプ
   リング手段と、 前記サンプリング手段で取り出したストリーク
   像を光電変換して検出する光検出器と、 前記光電検出器の出力を前記遅延時間制御信号
   発生器の出力との関係で出力する出力装置から構
   成した高速繰返しパルス光計測装置。 ２ 前記同期信号発生器は前記被計測光を発生す
   る物体を励起する信号に基づいて同期信号を発生
   する特許請求の範囲第１項記載の高速繰り返しパ
   ルス光計測装置。 ３ 前記同期信号を順次一定時間だけ遅延させる
   制御信号は前記同期信号の多数倍の周期の鋸歯状
   波信号であり前記同期信号は前記遅延回路により
   その時点の前記鋸歯状波信号の振幅に対応する時
   間だけ遅延させられる特許請求の範囲第１項記載
   の高速繰り返しパルス光計測装置。 ４ 偏向電圧接続手段は前記遅延回路出力に同調
   して正弦波を発生する同調増幅器と前記同調増幅
   器の出力を増幅して前記ストリーク管の偏向電極
   に接続する駆動増幅器から構成される特許請求の
   範囲第１項記載の高速繰り返しパルス光計測装
   置。 ５ 前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリ
   ング手段はストリーク像を前記光検出器の検出面
   の前に結像させる光学装置と前記結像面に配置さ
   れたスリツト板である特許請求の範囲第１項記載
   の高速繰返しパルス光計測装置。 ６ 前記ストリーク像の一部を取り出すサンプリ
   ング手段は前記ストリーク管の螢光面が形成され
   る光学フアイバープレートからなる気密容器壁に
   形成されているスリツトと前記スリツトの像を前
   記光検出器の検出面に形成する光学装置である特
   許請求の範囲第１項記載の高速繰返しパルス光計
   測装置。 ７ 前記出力装置は前記遅延時間制御信号発生器
   の出力を第１の軸、前記光検出器出力を第２の軸
   として出力するプロツタである特許請求の範囲第
   １項記載の高速繰返しパルス光計測装置。 ８ 前記ブロツタの第２の軸には前記光検出器の
   検出出力を対数圧縮した信号が接続され、前記第
   ２の軸の目盛は対数目盛である特許請求の範囲第
   ７項記載の高速繰返しパルス光計測装置。 ９ 前記被計測光はダイレーザ発振器の出力で励
   起されるヘマトポルフイリイン誘導体の螢光発光
   パルストレインである特許請求の範囲第１項記載
   の高速繰返しパルス光計測装置。 １０ 前記光検出器は光電子増倍管である特許請
   求の範囲第１項記載の高速繰返しパルス光計測装
   置。