JPH0230653B2 - Kosokukurikaeshiparusuhikarikeisokuyodenshikansochi - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は被計測光が実質的に同一の波形および
周期で繰返されるパルス光を計測するための高速
繰返しパルス光計測用電子管装置に関する。

〔従来技術〕

高速で変化する光の強度分布を観察する装置と
してストリークカメラが知られている。

このストリークカメラで使用されるストリーク
管は光電面と螢光面との間に偏向電極を配置した
電子管である。

ストリーク管の光電面に光が入射させられる
と、光電面が光電子を放出する。この光電子が螢
光面方向に移動する過程で、前記偏向電極で電界
を作用させると（掃引すると）入射光の強さの変
化が螢光面上の一方向（時間軸方向）の輝度の変
化として現れる。

この輝度の変化により得られる像をストリーク
像と呼んでいる。

ストリークカメラは前記のようなストリーク管
とこのストリーク管の光電面に被計測光を投影す
る光学系、このストリーク管に電圧を加える電源
等から構成されている。

前記ストリーク像を解析する方法として、螢光
面上のストリーク像ををテレビジヨンカメラで撮
像し、得られた映像信号を処理する方法が知られ
ている。この解析方法によつて高速繰返しパルス
光のストリーク像を撮像すると１フイールド期間
にわたつてストリーク像が多数回重なることにな
るから、大きな映像信号が得られると言う利点が
ある。

しかしながら当然この期間中テレビジヨンカメ
ラの撮像管固有の暗電流も蓄積されるので低い輝
度レベルの計計測が不正確になると言う問題があ
る。またデータのコントラストは映像増幅時のダ
イナミツクレンジにより制限され、それ以上のダ
イナミツクレンジを期待できない。

高速繰返しパルス光を10⁴〜10⁶のような大きな
ダイナミツクレンジで解析したいと言う要請があ
るが、前記方法では到底この要請を満たすことが
できない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は被計測光が実質的に同一の波形
および周期で繰返されるパルス光を大きなダイナ
ミツクレンジで計測するのに適した新規な電子管
装置を提供することにある。

〔発明の構成および作用〕

前記目的を達成するために本発明による高速繰
返しパルス光計測用電子管装置の第１の発明は、
被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返
されるパルス光を計測するための高速繰返しパル
ス光計測用電子管装置において、光電面、集束電
極、偏向電極、前記偏向電極の偏向電界の方向と
垂直方向にスリツトを持つスリツト電極、前記ス
リツトを通過した電子を増倍するダイノード群、
前記ダイノード群で増倍された電子を捕集するコ
レクタ電極がこの順で真空容器内に収容されてい
る電子管と、前記光電面に対して集束電極、スリ
ツト電極の順に高い電圧を供給するとともに前記
ダイノード群に増倍用の電圧を供給する電源装置
と、前記偏向電極に被計測光に同期しておき、さ
らに順次位相が変化するようにした偏向電圧を供
給する偏向電圧発生装置からなり、高速繰返しパ
ルス光から順次位相の異なる部分を取り出すよう
に構成されている。

前記構成によれば繰返し入射するパルス光は光
電面で光電変換されて、前記入射に同期する偏向
電圧で偏向される。前記偏向電圧は入射ごとに順
次位相が異なるから前記スリツト電極のスリツト
から光パルスの位相の異なる部分が順次取り出さ
れ前記ダイノード群で増倍され、コレクタ電極で
捕集されとりだされる。

この出力を処理することにより、単一パルスの
プロフアイルを高い精度で再現することができ
る。

前記目的を達成するために本発明による高速繰
返しパルス光計測用電子管装置の第２の発明は、
被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返
されるパルス光を計測するための高速繰返しパル
ス光計測用電子管装置において、光電面、集束電
極、偏向電極、前記偏向電極の偏向電界の方向と
垂直方向にスリツトを持つスリツト電極、前記ス
リツトを通過した電子で発光させられる螢光面が
この順で真空容器内に収容されている第１の電子
管と、前記螢光面に光電面が対応するように配置
される２次電子増倍管よりなる第２の電子管と、
前記光電面に対して集束電極、スリツト電極の順
に高い電圧を供給する第１の電子管の電源装置
と、前記第２の電子管の電源装置と、前記偏向電
極に被計測光に同期しておき、さらに順次位相が
変化する偏向電圧を供給する偏向電圧発生装置か
らなり、高速繰返しパルス光から順次位相の異な
る部分を取り出すように構成されている。

前記構成によれば繰返し入射するパルス光は光
電面で光電変換されて、前記入射に同期する偏向
電圧で偏向される。前記偏向電圧は入射ごとに順
次位相が異なるから前記スリツト電極のスリツト
から光パルスの位相の異なる部分が順次取り出さ
れ螢光面を励起する。この螢光面の輝きは第２の
電子管である２次電子増倍管で増倍され、コレク
タ電極で捕集され取り出される。

この出力を処理することにより、前記発明と同
様に単一パルスのプロフアイルを高い精度で再現
することができる。

〔実施例の説明〕

以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説
明する。第１図は本発明による高速繰返しパルス
光計測用電子管装置の電子管の断面図および接続
図である。第２図は前記電子管の集束電極、アパ
ーチヤ電極、偏向電極およびスリツト電極を取り
出して展開的に示した斜視図である。

電子管３の気密容器３０の入射面の内壁には、
光電面３１が形成されている。この光電面３１に
続いて網状電極３５、集束電極３６、アパーチヤ
電極３７、偏向電極３３、マイクロチヤンネルプ
レート３２が順次配置されている。

マイクロチヤンネルプレート３２は、32.7mmの
外径、27mmの内径をもつ枠の中にチヤンネル（二
次電子増倍器）が平行に配列してある。各チヤン
ネル（二次電子増倍器）は、内径25μｍで隣接す
る２つのチヤンネルの中心の間は32μｍである。

各チヤンネル（二次電子増倍器）の長さと内径
の比は50：１である。

前記マイクロチヤンネルプレート３２の入力側
電極を接地し、出力側電極に900ボルトを印加し
て、入力側に１個の電子が入射すると約10³個の
数の電子が出力側から送出される。

マイクロチヤンネルプレート３２の入力側電極
およびアパーチヤ電極３７は接地されている。電
源２１と分割抵抗２２，２３，２４によつて光電
面３１に−4000ボルト、網状電極３５に−3000ボ
ルト、集束電極３６に−3100ボルトの電位が与え
られている。スリツト電極３４は電源２５により
マイクロチヤンネルプレート３２の出力側電極よ
り3000ボルト高い電位が与えられている。マイク
ロチヤンネルプレート３２の出力側電極は、電源
２６により1500ボルトの電位が与えられている。

スリツト電極３４に設けられているスリツトの
方向は偏向電極３３の偏向の方向に直角方向であ
る（第２図参照）。

前記スリツト電極３４の材料として、例えばス
テンレススチールのように比較的２次電子放出能
の小さい金属板、またはチタン被覆を形成して２
次電子放出能が小さくなるよう表面処理した金属
板を用いる。

後述するように前記スリツト電極３４には、前
記スリツトに直角方向に被測定パルスのスペクト
ラムに対応する電子の分布がわずかにずれて順次
現れる。前記電子の分布の内前記スリツトに対応
する部分はスリツト電極３４を透過して、ダイノ
ード１１により増倍されて、捕集電極１２から出
力される。

次に前記電子装置の動作をヘマトポルフイリン
誘導体４をダイレーザ発振器１の出力パルス光に
より照射したときに得られる螢光発光パルスの計
測装置に応用した例につき詳細に説明する。

第４図は前記電子管装置を用いた高速繰返しパ
ルス光計測装置の実施例を示すブロツク図であ
る。ダイレーザ発振器１は波長約600nano ｍ、
パルス幅1p secのレーザ光を周波数80〜200MHz
の範囲の任意の繰返し周期で発光可能に構成され
ている。

このダイレーザ発振器１の出力は半透明鏡２に
より分岐され、分岐された一方は、この実施例装
置の観測対象物に励起信号を前記周期で繰返し送
出し、対応する螢光発光をさせる励起信号源を形
成し、他方は前記螢光発光に同期する偏向電界を
発生させるための同期信号源を形成している。

ヘマトポルフイリン誘導体４はパルスレーザ光
によつて励起されて前記パルスレーザ光に同期し
た螢光パルスを発生する。

前記螢光発光は電子管３の光電面３１に被計測
光を入力する光学手段１５により入力される。前
記光学手段１５によりヘマトポルフイリン誘導体
４からの螢光パルスは、光電面３１の一定の位置
に、極めて狭い幅となるように投影される。

前記半透明鏡２により分岐させられた他方のパ
ルスレーザ光はPINフオトダイオード５に入射さ
せられる。

PINフオトダイオード５は極めて応答速度が速
い光電素子で、パルスレーザ光の入射に応答して
パルス電流を出力する。PINフオトダイオード５
の出力は増幅器６により増幅され同期信号が形成
される。増幅器６の出力端は遅延回路７に接続さ
れており、同期信号は庭延回路７で遅延させられ
る。

遅延回路７は、遅延時間制御信号発生器１０か
らの信号に基づいて前記同期信号を適当な時間遅
延するため、および順次位相を遅ららせるために
設けたものである。

前記遅延させられた同期信号によつて光電面３
１からの光電子が偏向電極３３の近くを通過して
いるときに加える掃引電圧の位相を順次遅らせ
る。遅延時間制御信号発生器１０は第５図に示す
鋸歯状波電圧を出力している。

遅延回路７の出力は同調増幅器８に接続されて
おり、前記同調増幅器８は前記遅延させられた同
期信号と同一の周波数の正弦波が発生させられ
る。同調増幅器８は80〜200MHzの範囲で任意の
周波数を中心周波数として動作可能であり、その
中心周波数はダイレーザの発振器１の周波数と等
しく設定されている。

同調増幅器８の出力は駆動増幅器９により増幅
され前記電子管３の偏向電極３３に接続される。
この偏向電極３３に印加される正弦波の振幅は−
575ボルトから＋575ボルトまで、尖頭値間電圧
1150ボルトの正弦波（正確には正弦波に極めて類
似した交流波）であり、この波形の＋100ボルト
から−100ボルトまで有効な掃引に利用される。

遅延時間制御信号発生器１０の出力は前記の遅
延回路７および、出力装置であるXYプロツタ１
４のＸ軸座標入力端に接続されている。

前記電子管３のスリツト電極のスリツトに直角
な方向（以下時間軸方向と言う）に形成された電
子像の内前記スリツトに対応する部分のみが増倍
されて出力され、増幅器１３を介してXYプロツ
タ１４のＹ軸座標入力端に接続される。

次に前記螢光発光パルス計測装置の動作を説明
する。

まず、遅延時間制御信号発生器１０は起動す
る。この遅延時間制御信号発生器１０は第５図に
示すように振幅10V、周波数１Hzの鋸歯状波を繰
返し出力する。

次にダイレーサ発振器１を起動する。

このダイレーザ発振器１は100MHzでレーザパ
ルス光を発射する。このレーザパルス光は半透明
鏡であるビームスプリツタ２を介してヘマトポル
フイリン誘導体４に入射させられる。

これによりヘマトポルフイリン誘導体４は励起
され、螢光を発光する。この螢光は前記レーザパ
ルス光に正確に同期させられている。

この螢光は光学系１５により、電子管３の光電
面３１（第１図参照）に投影される。

光電面３１は入射像に対応する電子が放出し、
放出された電子は電界によつて加速されて偏向電
極３３、スリツト電極３４（第１図参照）の方向
に移動させられる。

他方半透明鏡２で分岐したレーザパルス光は
PINフオトダイオードによつて電気信号に変換さ
れ増幅器６を介して遅延回路７に入力されてい
る。前記遅延回路７は入力信号を制御信号0Vで
固定遅延時間ｔだけ遅延し、制御信号10Vでｔ＋
3nano sec遅延する。

この遅延時間は0Vから10Vの間で一次関数的
に変化させられている。

また前述したようにレーザ光パルスに同期した
入力信号が100MHzの周波数（従つて10nano sec
の周期）で遅延回路７に入力させられている。遅
延時間制御信号は連続する２つの入力信号の間す
なわち10nano sec間に 10V×10nano sec／1sec＝100nanoV変化する。

したがつて、可制御遅延回路７に印加される信
号はその間（10nano sec間）に 3nano sec×100nanoV／10V ＝３×10^-17sec 遅延させられる。

遅延回路７で遅延させられた信号は同調増幅器
８で正弦波に変換され、駆動増幅器９で振幅が−
575ボルトから＋575ボルトまでの尖頭値間電圧
1150ボルトに増幅して偏向電極３３に加えられ
る。

この電圧のうち−100ボルトから＋100ボルトま
でが掃引に利用される。

前述の動作の結果、ヘマトポルフイリン誘導体
４の螢光に対応する電子が10nano secごとに偏
向電極３３のつくる偏向電界に入射するのに対
し、前記偏向電界は位相が３×10^-17sec／パルス
ずつ遅れる。

次に前記被測定対照の螢光パルスに対応する電
子と偏向電界の時間関係からスリツト板３４上に
生ずる電子像の状態について説明する。

いま、理解を容易にするため、ヘマトポルフイ
リン誘導体４の発生するパルス列に含まれる単一
の螢光パルスの強度変化のプロフアイルが第６図
に示すようなものであるとする。

一番目の螢光パルスに対応する電子群の先頭部
分が偏向電界へ入射したとき偏向電界が0V／ｍ
であり（第１図の偏向電極３３で下から上へ向か
う電界を正、上から下へ向かう電界を負とする。）
正から負へ変化しているものとする。

また電子群の先頭は電子管３の中心、つまりス
リツト電極３４のスリツトの中心を通る水平線上
に入射するものとしこの水平線（スリツト）を第
７図にｘで示す。

電子群の先頭から尾部へ進むに従つて第７図の
ｘから下に順次入射する。

そして先頭から280p sec遅れた電子は＋100ボ
ルトで偏向され螢光面３４の下端に入射する。こ
のストリーク像の変化を第７図のＡに示す。この
曲線の時間軸は、前述した時間軸と一致してお
り、輝度を直線Ｙからの距離で示してある。

この電子の分布のうち第７図のａで示す部分が
スリツトを通過して第１図に示すダイノード１１
で増倍されて捕集電極１２で捕集され増幅器１３
に接続される。

２番目の螢光パルスに対応する電子群は、１番
目の螢光パルスから10nano sec遅れて偏向電界
に入射する。これに対する、二周期目の偏向電界
は１周期目の偏向電界から（10nano sec＋３×
10^-17sec）遅れて加えられる。

これを一番目の螢光に対応する電子群と対比す
ると相対的に偏向電界の位相が３×10^-17secだけ
遅く加えられることになる。

すなわち電子群の先頭は約−10μVで偏向され
る。

２番目の螢光パルスに原因するスリツト電極３
４上の電子の分布を第７図のＢに示す。

この電子の分布の内第７図のｂに示すこの電子
群の先頭から３×10^-17secだけ遅れた部分がスリ
ツトを通過して第１図に示すダイノード１１で増
倍されて捕集電極１２で捕集され増幅器１３に接
続される。

このように繰返し螢光パルスが入射するたびに
螢光に対応する電子群が偏向電界に入射する時刻
に対して偏向電圧が加えられる時刻は３×
10^-17secずつ遅くなる。そして順次３×10^-17sec
だけずれた部分の電子がスリツトから取り出され
る。

引き続く電子群のスリツト電極上の分布を第７
図Ｃ…Ｘ，Ｙ，Ｚに示してある。ただし、連続す
る電子群のピツチは理解を容易にするため誇張し
て示してある。

以上の説明から明らかなように当初の電子群の
先頭とこの先頭部から３×10^-17secずつ遅れた部
分が10nano secごとにスリツトを通過して第１
図に示すダイノード１１で増倍されて捕集電極１
２で捕集され増幅器１３に接続される。そして
XYプロツタ１４のＹ軸座標入力端へは前記電子
像の各部分に対応する出力が前記増幅器１３から
供給される。

次にXYブロツタ１４に入力される遅延時間制
御信号発生器１０の出力信号と増幅器１３の出力
信号による表示について説明する。

いま理解を容易にするため、前述の１番目の螢
光パルスに対応する電子群は遅延時間制御信号発
生器１０の出力が0Vによつて制御された偏向電
圧によつて偏向されたものとする。そしてその時
刻を０とする。

第８図は出力装置であるXYプロツタ１４のＸ
軸座標入力とＹ軸座標入力との相関を示す図であ
る。これは言うまでもなくXYプロツタ１４に表
示される図形である。XYプロツタ１４のＸ軸座
標は入力電圧に比例し、入力電圧は基準時刻から
の時間に比例する。そして、入力電圧10Vが時間
１秒に対応する。この入力電圧と時間を第８図に
横軸で示してある。

Ｙ軸座標は電子管３の出力電流に比例する。

まず一番目の螢光パルスの入射に対応する電子
群の先頭部分に対応する電流がXYプロツタ１４
のＹ軸座標入力端から入力され、この電流を０と
する。このときＸ軸座標端の入力電圧は０ボルト
である。これは第８図の原点に相当する。２番目
の螢光パルスの入射に対応して電子群の第６図ｂ
に対応する電流がXYプロツタ１４のＹ軸座標か
ら入力される。この電流をi₂とする。Ｘ軸座標の
入力は100nanoVである。

以下同様にして、ｎ番目の螢光の入射に対応し
て第６図に示すと同じ螢光の先頭より（ｎ−１）
×３×10^-17sec遅れた部分の螢光強度inをＹ軸座
標入力として、（ｎ−１）×100nanoVをＸ軸座標
入力として同時に入力しXYプロツタ１４にプロ
ツトすると、XYプロツタ１４に螢光パルスの先
頭から3nano secまでの強度分布を10⁸のサンプ
リング数で描くことができる。

このようなサンプリング数は電子管のスリツト
電極３４の有効な径が30mm程度でスリツト幅が
0.01mm〜0.1mmであることから十分なものである。

第３図は本発明による高速繰返しパルス光計測
用電子管装置のさらに他の電子管の断面図および
接続図である。先に第１図に示した電子管の構成
部分と同一の機能を持つ部分については同一の数
字を付してある。

この電子管装置は前記電子管と同じ機能を光電
面と螢光面を持つ第１の電子管と、前記螢光面の
輝度を増倍する光電子増倍管からなる第２の電子
管により実現している。

前記第１の電子管３Ａは、光電面３１、網状電
極３５、集束電極３６、アパーチヤ電極３７、偏
向電極３３、前記電極で偏向された電子を増倍す
るマイクロチヤンネルプレート３２、前記偏向電
極の偏向電界の方向と垂直方向にスリツトを持つ
スリツト電極３４、前記スリツトを通過した電子
で発光させられる螢光面４０をこの順で真空容器
内に収容している。

集束電極３６、偏向電極３７、スリツト電極３
４の配置は前記第２図に示した配置と同じであ
る。第２の電子管３Ｂは光電面４１、ダイノード
１１、捕集電極１２を持つ光電子増倍管である。

第１の電子管の電源装置１７は前記第１の電子
管３Ａの光電面３１に対して集束電極３６、スリ
ツト電極３４、螢光面４０の順に高い電圧を供給
す電源装置である。

第２の電子管の電源装置１８は第２の電子管に
動作電圧を供給する電源装置である。

これらの電源装置は機能的には前記第１図に示
した電源と大きい差はないが第１および第２の電
子管の電源を弧立して設けることができるという
差がある。

駆動増幅器９は、前記偏向電極に被計測光に同
期してかつ順次位相が変化する偏向電圧を供給す
る偏向電圧発生装置の最終段の増幅器である。

この電子管装置も前記第１図に示した電子管装
置と同様に、第４図に示したブロツク図と同じ接
続で繰り返しパルス光の観測に使用可能である。

〔発明の効果の説明〕

以上説明したように、本発明による高速繰返し
パルス光計測用電子管装置は、偏向電界と垂直方
向にスリツトをもつスリツト電極を設けてあるか
ら、このスリツトにより電子像を切り出すことが
できる。

時間分解能は、このスリツトの幅と掃引速度で
正確に決められ、前後のエネルギーが混入する余
地はない。スリツト通過後の電子が散乱しても、
ダイノードに到達しさえすれば問題にならない。
第３図に示した実施例のように、螢光面４０に入
射した電子によりストリーク像のかぶり（螢光体
や窓材の中で光が乱反射して電子が入射した部分
以外の領域が僅かに発光すること）が発生して
も、それは切り出された電子に原因するものであ
るから時間分解を低下させる要因にはならない。

このようにして本発明により、従来問題となつ
ていた螢光面のかぶりの問題は完全に解決され
た。

前記各装置のダイノードによる電子の増倍は、
極めて大きいダイナミツクレンジの増倍を提供で
きるので、本発明による装置は従来のテレビジヨ
ン撮像管を使つてストリーク像を撮像する場合に
比べて数千倍という極めて大きなダイナミツクレ
ンジの計測データが得られる。

〔変形例の説明〕

前記各実施例では、マイクロチヤンネルプレー
トを用いて電子を増倍するようにしたが、被計測
光が微弱でないときには、マイクロチヤンネルプ
レートは必ずしも必要ではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による高速繰返しパルス光計測
用電子管装置の電子管の第１の実施例を示す断面
図および接続図である。第２図は前記電子管の集
束電極、アパーチヤ電極、偏向電極およびスリツ
ト電極を取り出して展開的に示した斜視図であ
る。第３図は本発明による高速繰返しパルス光計
測用電子管装置のさらに他の電子管の第２の実施
例を示す断面図および接続図である。第４図は第
１図に示した高速繰返しパルス光計測用電子管装
置を用いた高速繰返しパルス光計測装置の実施例
を示すブロツク図である。第５図は遅延時間制御
信号発生器の出力信号波形を示す波形図である。
第６図はレーザ光により励起された被測定光源の
パルスのプロフアイルを示すグラフである。第７
図はスリツト電極上を順次移動する電子像とスリ
ツトの関係を示した説明図である。第８図はXY
プロツタのＸ軸座標入力とＹ軸座標入力との相関
を説明する説明図である。 １……ダイレーザ発振器、２……ビームスプリ
ツタ（半透明鏡）、３……電子管、３Ａ……第１
の電子管、３Ｂ……第２の電子管、３０……気密
容器、３１……光電面、３２……マイクロチヤン
ネルプレート、３３……偏向電極、３４……スリ
ツト電極、３５……網状電極、３６……集束電
極、３７……アパーチヤ電極、４……ヘマトポル
フイリン誘導体（被測定発光源）、５……PINホ
トダイオード、６，１３……増幅器、７……遅延
回路、８……同調増幅器、９……駆動増幅器、１
０……遅延時間制御信号発生器、１１……ダイノ
ード、１２……捕集電極、１３……増幅器、１４
……XYプロツタ、１７，１８……電源装置、２
１，２５，２６……電源、２２，２３，２４……
抵抗器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被計測光が実質的に同一の波形および周期で
   繰返されるパルス光を計測するための高速繰返し
   パルス光計測用電子管装置において、光電面、集
   束電極、偏向電極、前記偏向電極の偏向電界の方
   向と垂直方向にスリツトを持つスリツト電極、前
   記スリツトを通過した電子を増倍するダイノード
   群、前記ダイノード群で増倍された電子を捕集す
   るコレクタ電極がこの順で真空容器内に収容され
   ている電子管と、前記光電面に対して集束電極、
   スリツト電極の順に高い電圧を供給するとともに
   前記ダイノード群に増倍用の電圧を供給する電源
   装置と、前記偏向電極に被計測光に同期してお
   き、さらに順次位相が変化する偏向電圧を供給す
   る偏向電圧発生装置からなり、高速繰返しパルス
   光から順次位相の異なる部分を取り出すように構
   成したことを特徴とする高速繰返しパルス光計測
   用電子管装置。 ２ 被計測光が実質的に同一の波形および周期で
   繰返されるパルス光を計測するための高速繰返し
   パルス光計測用電子管装置において、光電面、集
   束電極、偏向電極、前記偏向電極の偏向電界の方
   向と垂直方向にスリツトを持つスリツト電極、前
   記スリツトを通過した電子で発光させられる螢光
   面がこの順で真空容器内に収容されている第１の
   電子管と、前記螢光面に光電面が対応するように
   配置される２次電子増倍管よりなる第２の電子管
   と、前記光電面に対して集束電極、スリツト電極
   の順に高い電圧を供給する第１の電子管の電源装
   置と、前記第２の電子管の電源装置と、前記偏向
   電極に被計測光に同期しておき、さらに順次位相
   が変化する偏向電圧を供給する偏向電圧発生装置
   からなり、高速繰返しパルス光から順次位相の異
   なる部分を取り出すように構成したことを特徴と
   する高速繰返しパルス光計測用電子管装置。