JPS59134538A - 高速繰返しパルス光計測用電子管装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰
返されるパルス光を計測するための高速繰返しパルス光
計測用電子管装置に関する。

〔従来技術〕

高速で変化する先の強度分布を観察する装置としてスト
リークカメラが知られている。

このス）・リークカメラで使用されるストリーク管は光
電面と螢光面との間に偏向電極を配置した電子管である
。

ストリーク管の光電面に光が入射させられると、光電面
が光電子を放出する。この光電子が螢光面方向に移動す
る過程で、前記偏向電極で電界を作用させると（掃引す
ると）入射光の強さの変化が螢光面上の一方向（時間軸
方向）の輝度の変化として現れる。

この輝度の変化により得られる像をストリーク像と呼ん
でいる。

ストリークカメラは前記のようなストリーク管とこのス
トリーク管の光電面に被計測光を投影する光学系、この
ストリーク管に電圧を加える電源等から構成されている
。

前記ストリーク像を解析する方法として、螢光面上のス
トリーク像をテレビジョンカメラで撮像し、得られた映
像信号を処理する方法が知られている。

この解析方法によって高速繰返しパルス光のストリーク
像を撮像すると１フイ一ルド期間にわたってストリーク
像が多数回重なることになるから、大きな映像信号が得
られると言う利点がある。

しかしながら当然この期間中テレビジョンカメラの撮像
管固有の暗電流も蓄積されるので低い輝度レベルの計測
が不正確になると言う問題がある。

またデータのコントラストば１３！像増幅時のダイナミ
ックレンジにより制限され、それ以上のダイナミックレ
ンジを期待できない。

高速繰返しパルス光を１０４〜１０”のような大きなダ
イナミックレンジで解析したいと言う要請があるが、前
記方法では側底この要請を満たすことができない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は被計測光が実質的に同一の波形および周
期で繰返されるパルス光を大きなダイナミックレンジで
計測するのに適した新規な電子管装置を提供することに
ある。

〔発明の構成および作用〕

前記目的を達成するために本発明による高速繰返しパル
ス光計測用電子管装置の第１の発明は、被計測光が実質
的に同一の波形および周期で繰返されるパルス光を計測
するための高速繰返しパルス光計測用電子管装置におい
て、光電面、集束電極、偏向電極、前記偏向電極の偏向
電界の方向と垂直方向にスリットを持つスリット電極、
前記スリットを通過した電子を増倍するダイノード群、
前記ダイノード群で増倍された電子を捕集するコレクタ
電極がこの順で真空容器内に収容されている電子管と、
前記光電面に対して集束電極、スリット電極の順に高い
電圧を供給するとともに前記ダイノード群に増倍用の電
圧を供給する電源装置と、前記偏向電極に被計測光に同
期しておき、さらに順次位相が変化するようにした偏向
電圧を供給する偏向電圧発生装置からなり、高速繰返し
パルス光から順次位相の異なる部分を取り出すように構
成されている。

前記構成によれば繰返し入射するパルス光は光電面で光
電変換されて、前記入射に同期する偏向電圧で偏向され
る。前記偏向電圧は入射ごとに順次位相が異なるから前
記スリット電極のスリットから光パルスの位相の異なる
部分が順次取り出され前記ダイノード群で増倍され、コ
レクタ電極で捕集されとりだされる。

この出力を処理することにより、単一パルスのプロファ
イルを高い精度で再現することができる。

前記目的を達成するために本発明による高速繰返しパル
ス光計測用電子管装置の第２の発明は、被計測光が実質
的に同一の波形および周期で繰返されるパルス光を計測
するための高速繰返しパルス光計測用電子管装置におい
て、光電面、集束電極、偏向電極、前記偏向電極の偏向
電界の方向と垂直方向にスリットを持つスリット電極、
前記スリットを通過した電子で発光させられる螢光面が
この順で真空容器内に収容されている第１の電子管と、
前記螢光面に光電面が対応するように配置される２次電
子増倍管よりなる第２の電子管と、前記光電面に対して
集束電極、スリット電極の順に高い電圧を供給する第１
の電子管の電源装置と、前記第２の電子管の電源装置と
、前記偏向電極に被計測光に同期しておき、さらに順次
位相が変化する偏向電圧を供給する偏向電圧発生装置か
らなり、高速繰返しパルス光から順次位相の異なる部分
を取り出すように構成されている。

前記構成によれば繰返し入射するパルス光は光電面で光
電変換されて、前記入射に同期する偏向電圧で偏向され
る。前記偏向電圧は入射ごとに順次位相が異なるから前
記スリン１−電極のスリットから光パルスの位相の異な
る部分が順次取り出され螢光面を励起する。この螢光面
の輝きは第２の電子管である２次電子増倍管で増倍され
、コレクタ電極で捕集され取り出される。

この出力を処理することにより、前記発明と同様に単一
パルスのプロファイルを高い精度で再現することができ
る。

〔実施例の説明〕

以下図面等を参照して本発明をさらに詳しく説明する。

第１図は本発明による高速繰返しパルス光計測用電子管
装置の電子管の断面図および接続図である。第２図は前
記電子管の集束電極、アパーチャ電極、偏向電極および
スリット電極を取り出して展開的に示した斜視図である
。

電子管３の気密容器３０の入射面の内壁には、光電面３
１が形成されている。この光電面３１に続いて網状電極
３５．集束電極３６．アパーチャ電極３７．偏向電極３
３．マイクロチャンネルプレート３２が順次配置されて
いる。

マイクロチャンネルプレート３２は、３２．７＋ｎの外
径、２７鶴の内径をもつ枠の中にチャンネル（二次電子
増倍器）が平行に配列しである。各チャンネル（二次電
子増倍器）は、内径２５μｍで隣接する２つのチャンネ
ルの中心の間は３２μｍである。

各チャンネル（二次電子増倍器）の長さと内径の比は５
０：１である。

前記マイクロチャンネルプレート３２０入力側電極を接
地し、出力側電極に９００ボルトを印加して、入力側に
１個の電子が入射すると約１０３個の数の電子が出力側
から送出される。

マイクロチャンネルプレート３２の入力側電極およびア
パーチャ電極３７は接地されている。電源２１と分割抵
抗２２，２３．２４によって光電面３１に一４０００ボ
ルト、網状電極３５に一３０００ボルト、集束電極３６
に一３１００ボルトの電位が与えられている。スリット
電極３４ば電源２５によりマイクロチャンネルプレート
３２の出力側電極より３０００ボルト高い電位が与えら
れている。マイクロチャンネルプレート３２の出力側電
極は、電源２６により１５００ボルトの電位が与えられ
ている。

スリット電極３４に設けられているスリットの方向は偏
向電極３３の偏向の方向に直角方向である（第２図参照
）。

前記スリット電極３４の材料として、例えばステンレス
スチールのように比較的２次電子放出能の小さい金属板
、またはチタン被覆を形成して２次電子放出能が小さく
なるよう表面処理した金属板を用いる。

後述するように前記スリット電極３４には、前記スリッ
トに直角方向に被測定パルスのスペクトラムに対応する
電子の分布がわずかにずれてＪｌｌｌｆｆ次現れる。前
記電子の分布の内前記スリットに対応する部分はスリッ
ト電極３４を透過して、ダイノード１１により増倍され
て、捕集電極１２から出力される。

次に前記電子装置の動作をヘマトポルフィリン誘導体４
をダイレーザ発振器１の出力パルス光により照射したと
きに得られる螢光発光パルスの計測装置に応用した例に
つき詳細に説明する。

第４図は前記電子管装置を用いた高速繰返しパルス光計
測装置の実施例を示すブロック図である。

ダイレーザ発振器１は波長約６００　ｎａｎｏ　　ｍ、
パルス幅１ｐｓｅｃのレーザ光を周波数８０〜２００Ｍ
）ｌｚの範囲の任意の繰返し周期で発光可能に構成され
ている。

このダイレーザ発振器１の出力は半透明鏡２により分岐
され、分岐された一方は、この実施例装置の観測対象物
に励起信号を前記周期で繰返し送出し、対応する螢光発
光をさせる励起信号源を形成し、他方は前記螢光発光に
同期する偏向電界を発生させるための同期信号源を形成
している。

ヘマトポルフィリン誘導体４はパルスレーザ光によって
励起されて前記パルスレーザ光に同期した螢光パルスを
発生する。

前記螢光発光は電子管３の光電面３１に被計測光を入力
する光学手段１５により入力される。前記光学手段１５
によりヘマトポルフィリン誘導体４からの螢光パルスは
、光電面３１の一定の位置に、極めて狭い幅となるよう
に投影される。

前記半透明鏡２により分岐させられた他方のパルスレー
ザ光ばＰＩＮフォトダイオード５に入射させられる。

ＰＩＮフォトダイオード５は極めて応答速度が速い光電
素子で、パルスレーザ光の入射に応答してパルス電流を
出力する。ＰＩＮフォトダイオード５の出力は増幅器６
により増幅され同期信号が形成される。増幅器６の出力
端は遅延回路７に接続されており、同期信号は遅延回路
７で遅延させられる。

遅延回路７は、遅延時間制御信号発生器１０からの信号
に基ついて前記同期信号を適当な時間遅延するため、お
よび順次位相を遅らせるために設けたものである。

前記遅延させられた同期信号によって光電面３１からの
光電子が偏向電極３３の近くを通過しているときに加え
る掃引電圧の位相を順次遅らせる。

遅延時間制御信号発生器１０は第５図に示す鋸歯状波電
圧を出力している。

遅延回路７の出力は同調増幅器８に接続されており、前
記同門増幅器８は前記遅延させられた同期信号と同一の
周波数の正弦波が発生させられる。

同調増幅器８は８０〜２００　ＭＨｚの範囲で任意の周
波数を中心周波数として動作可能であり、その中心周波
数はダイレーザの発振器１の周波数と等しく設定されて
いる。

同調増幅器８の出力は駆動増幅器９により増幅され前記
電子管３の偏向電極３３に接続される。

この偏向電極３３に印加される正弦波の振幅は＝５７５
ボルトから＋５７５ボルトまで、尖頭値開電圧１１５０
ボルトの正弦波（正確には正弦波に極めて類似した交流
波）であり、この波形の＋１００ポル１〜から一１００
ボルトまで有効な掃引に利用される。

遅延時間制御信号発生器１０の出力は前記の遅延回路７
および、出力装置であるＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入
力端に接続されている。

前記電子管３のスリット電極のスリットに直角な方向（
以下時間軸方向と言う）に形成された電子像の内前記ス
リットに対応する部分のみが増倍されて出力され、増幅
器１３を介してＸＹブロック１４のＹ軸座標入力端に接
続される。

次に前記螢光発光パルス計測装置の動作を説明する。

まず、遅延時間制御信号発生器１０を起動する。

この遅延時間制御信号発生器１０は第５図に示すように
振幅１０Ｖ、周波数Ｉ　Ｈｚの鋸歯状波を繰返し出力す
る。

次にダイレーザ発振器１を起動する。

このダイレーザ発振器１ば１００　　ＭＨｚでレーザパ
ルス光を発射する。このレーザパルス光は半透明鏡であ
るビームスプリッタ２を介してヘマトポルフィリン誘導
体４に入射させられる。

これによりヘマトポルフィリン誘導体４は励起され、螢
光を発光する。この螢光は前記レーザパルス光に正確に
同期させられている。

この螢光は光学系１５により、電子管３の光電面３１に
投影される。

光電面３１は入射像に対応する電子が放出し、放出され
た電子は電界によって加速されて偏向電極３３、螢光面
３４の方向に移動させられる。

他方半透明鏡２で分岐したレーザパルス光ばＰＩＮフォ
トダイオードによって電気信号に変換され増幅器６を介
して遅延回路７に入力されている。

前記遅延回路７は入力信号を制御信号０■で固定遅延時
間ｔだけ遅延し、制御信号１０Ｖでｊ＋３ｎａｎｏ　Ｓ
ｅＣ遅延する。

この遅延時間はＯＶからＩＯＶの間で一次関数的に変化
させられている。

また前述したようにレーザ光パルスに同期した入力信号
がｌｏＯＭＩＩｚの周波数（従って１０　ｎａｎｏ　ｓ
ｅＣの周期）で遅延回路７に入力させられている。

遅延時間制御信号は連続する２つの入力信号の間−４−
なわら１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃ間に１０　Ｖ　ｘ　］、
　Ｏｎａｎｏ　ｓｅｃ／　１　ｓｅｃ　＝　１００　ｎ
ａｎｏＶ変化する。

したかって、可制御遅延回路７に印加される信号はその
間（１０ｎａｎｏ　ｓｅｃ間）に３　ｎａｎｏ　５ｅｃ
Ｘ　１００　ｎａｎｏＶ　／　１０　Ｖ＝　３　Ｘ　１
０　　ｓｅｃ 遅延させられる。

遅延回路７で遅延させられた信号は同調増幅器８で正弦
波に変換され、駆動増幅器９で振幅が一５７５ポルＩ−
から＋５７５ボルトまでの尖頭値開電圧１１５０ボルト
に増幅して偏向電極３３に加えられる。

この電圧のうち一１００ボルトから＋１００ボルトまで
が掃引に利用される。

前述の動作の結果、ヘラ１−ポルフィリン誘導体４の螢
光に対応する電子が１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃごとに偏向
電極３３のつくる偏向電界に入射するのに対し、前記偏
向電界は位相が３　Ｘ　Ｌ　Ｏ−”ｓｅｃ　／パルスず
つ遅れる。

次に前記被測定対照の螢光パルスに対応する電子と偏向
電界の時間関係からスリット板３４上に生ずる電子像の
状態について説明する。

いま、理解を容易にするため、ヘマトポルフィリン誘導
体４の発生するパルス列に含まれる単一の螢光パルスの
強度変化のプロファイルが第６図に示すようなものであ
るとする。

一番目の螢光パルスに対応する電子群の先頭部分が偏向
電界へ入射したとき偏向電界がＯＶ　／　ｍであり（第
１図の偏向電極３３で下から上へ向かう電界を正、上か
ら下へ向かう電界を負とする。）正から負へ変化してい
るものとする。

また電子群の先頭は電子管３の中心、つまりスリン）・
電極３４のスリットの中心を通る水平線上に入射するも
のとしこの水平線（スリット）を第７図にＸで示ずＩ 電子群の先頭から尾部へ進むに従って第７図のＸから下
に順次入射する。

そして先頭から２８０　ｐ　ｓｅｃ遅れた電子は＋１０
０ボルトで偏向され螢光面３４の下端に入射する。

このストリーク像の変化を第７図のＡに示す。この曲線
の時間軸は、前述した時間軸と一致しており、輝度を直
線Ｙからの距離で示しである。

この電子の分布のうち第７図のａで示す部分かスリット
を通過して第１図に示すダイノードＩＸで増倍されて捕
集電極１２で捕集され増幅器１３に接続される。

２番目の螢光パルスに対応する電子群は、１番目の螢光
パルスからＩ　Ｑ　ｎａｎｏ　ｓｅｃ遅れて偏向電界に
入射する。これに対する、二周期目の偏向電界は１周期
目の偏向電昇から（１０ｎａｎｏ　ｓｅｃ＋　３　ｘ　
ｌＯ’−１７ｓｅｃ）遅れて加えられる。

これを一番目の螢光に対応する電子群と対比すると相対
的に偏向電界の位相が３　Ｘ　１０＝７ｓｅｃだけ遅く
加えられることになる。

すなわち電子群の先頭は約−１０μＶで偏向される。

２番目の螢光パルスに原因するスリット電極３４上の電
子の分布を第７図のＢに示す。

この電子の分布の内箱７図のｂに示すこの電子群の先頭
から３×１０−“７ｓｅｃだけ遅れた部分がスリットを
通過して第１図に示すダイノード１１で増倍されて捕集
電極１２で捕集され増幅器１３に接続される。

このように繰返し螢光パルスが入射するたびに螢光に対
応する電子群が偏向電界に入射する時刻に対して偏向電
圧が加えられる時刻は３　Ｘ　１０””７ｓｅＣずつ遅
くなる。そして順次３　Ｘ　１０−１７ｓｅｃだけずれ
た部分の電子がスリットから取り出される。

引き続く電子群のスリット電極上の分布を第７図Ｃ・・
Ｘ、Ｙ、Ｚに示しである。ただし、連続する電子群のピ
ンチは理解を容易にするため誇張して示しである。

以上の説明から明らかなように当初の電子群の先頭とこ
の先頭部から３　Ｘ　１０−”ｓｅｃずつ遅れた部分が
１０　ｎａｎｏ　ｓｅｃごとにスリットを通過して第１
図に示すダイノード１１で増倍されて捕集電極１２で捕
集され増幅器１３に接続される。そしてＸＹプロ、り１
４のＹ軸座標入力端へは前記電子像の各部分に対応する
出力が前記増幅器１３から供給される。

次にＸＹプロッタ１４に入力される遅延時間制御信号発
生器１０の出力信号と増幅器１３の出力信号による表示
について説明する。

いま理解を容易にするため、前述の１番目の螢光パルス
に対応する電子群は遅延時間制御信号発生器１０の出力
が０■によって制御された偏向電圧によって偏向された
ものとする。そしてその時刻を０とする。

第８図は出力装置であるＸＹプロッタ１４のＸ軸座標入
力とＹ軸座標入力との相関を示す図である。

これは言うまでもなくＸＹプロッタ１４に表示される図
形である。ＸＹブロック１４のＸ軸座標は入力電圧に比
例し、入力電圧は基準時刻からの時間に比例する。そし
て、入力電圧１０Ｖが時間１秒に対応する。この入力電
圧と時間を第８図に横軸で示しである。

Ｙ軸座標は電子管３の出力電流に比例する。

まず一番目の螢光パルスの入射に対応する電子群の先頭
部分に対応する電流がＸＹプロッタ１４のＹｉｌＩＩ座
標入力端から入力され、この電流をＯとする。このとき
Ｘ軸座標入力端の入力電圧は０ポルトである。これは第
８図の原点に相当する。２番目の螢光パルスの入射に対
応して電子群の第６図すに対応する電流がＸＹプロッタ
１４のＹ軸座標から入力される。この電流を１２とする
。Ｘ軸座標の入力ば１００　ｎａｎｏＶである。

以下同様にして、ｎ番目の螢光の入射に対応して第２図
に示すと同じ螢光の先頭より　（ｎ−１）Ｘ３　Ｘ　１
０＝７ｓｅｃ遅れた部分の螢光強度ｉｎをＹ軸座標入力
として、（ｎ　　１）　Ｘ　１００ｎａｎｏＶをＸ軸座
標入力として同時に入力しＸＹプロッタ１４にプロット
すると、ＸＹプロッタ１４に螢光パルスの先頭から３　
ｎａｎｏ　ｓｅｃまでの強度分布像を１０８のサンプリ
ング数で描くことができる。

このようなサンプリング数は電子管のスリット電極３４
の有効な径が３０鮪程度でスリット幅が０゜０１　ｙａ
ｌｌ−０，１Ｉｖｓ程度であることから十分なものであ
る。

第３図は本発明による高速繰返しパルス光計測用電子管
装置のさらに他の電子管の断面図および接続図である。

先に第２図に示した電子管の構成部分と同一の機能を持
つ部分については同一の数字を付しである。

この電子管装置は前記電子管と同じ機能を光電面と螢光
面を持つ第１の電子管と、前記螢光面の輝度を増倍する
光電子増倍管からなる第２の電子管により実現している
。

前記第１の電子管３Ａは、光電面３１、網状電極３５、
集束電極３６、アパーチャ電極３７、偏向電極３３、前
記電極で偏向された電子を増倍するマイクロチャンネル
プレート３２、前記偏向電極の偏向電界の方向と垂直方
向にスリットを持っスリット電極３４、前記スリットを
通過した電子で発光させられる螢光面４０をこの順で真
空容器内に収容している。

集束電極３６、偏向電極３７、スリット電極３４の配置
は前記第２図に示した配置と同じである。

第２の電子管３Ｂは光電面４１、ダイノード１１、捕集
電極１２を持つ光電子増倍管である。

第１の電子管の電源装置１７は前記第１の電子管３Ａの
光電面３１に対して集束電極３６、スリット電極３４、
螢光面４０の順に高い電圧を供給す電源装置である。

第２の電子管の電源装置１８は第２の電子管に動作電圧
を供給する電源装置である。

これらの電源装置は機能的には前記第１図に示した電源
と大きい差はないが第１および第２の電子管の電源を独
立して設りることができるという差がある。

駆動増幅器９は、前記偏向電極に被計測光に同期してか
つ順次位相が変化する偏向電圧を供給する偏向電圧発生
装置の最終段の増幅器である。

この電子管装置も前記第１図に示した電子管装置と同様
に、第４図に示したブロック図と同じ接続で繰り返しパ
ルス光の観測に使用可能である。

〔発明の詳細な説明〕

以上説明したように本発明による電子管装置を用いると
、被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返され
るパルス光の計測が可能となる。

前記各装置のダイノードによる電子の増倍ば、極めて大
きいダイナミックレンジの増倍を提供できるので、本発
明による装置は従来のテレビジョン撮像管を使ってスト
リーク像を撮像する場合に比べて数千倍という極めて大
きなダイナミックレンジの計測データが得ら、れる。

〔変形例の説明〕

前記各実施例では、マイクロチャンネルプレートを用い
て電子を増倍するようにしたが、被計測光が微弱でない
ときには、マイクロチャンネルプレートは必ずしも必要
ではない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による高速繰返しパルス光計測用電子管
装置の電子管の断面図および接続図である。 第２図は前記電子管の集束電極、アパーチャ電極、偏向
電極およびスリット電極を取り出して展開的に示した斜
視図である。 第３図は本発明による高速繰返しパルス光計測用電子管
装置のざらに他の電子管の断面図および接続図である。 第４図は第１図に示した高速繰返しパルス光計測用電子
管装置を用いた高速繰返しパルス光計測装置の実施例を
示すブロック図である。 第５図は遅延時間制御信号発生器の出力信号波形を示す
波形図である。 第６図はレーザ光により励起された被測定光源のパルス
のプロファイルを示すグラフである。 第７図はスリット電極上を順次移動する電子像とスリッ
トの関係を示した説明図である。 第８図はｘｙブロックのｘ！＋ｔ＋Ｊ！標入力とＹ軸座
標入力との相関を説明する説明図である。 ■・・・ダイレーザ発振器 ２・・・ビームスプリンタ（半透明鏡）３・・・電子管 ３Ａ・・・第１の電子管 ３Ｂ・・・第２の電子管 ３０・・・気密容器　　３１・・・光電面３２・・・マ
イクロチャンネルプレート３３・・・偏向電極　　３４
・・・スリット電極３５・・・網状電極　　３６・・・
集束電極３７・・・アパーチャ電極 ４・・・ヘマトポルフィリン誘導体 （被測定発光源） ５・・・ＰＩＮホトダイオード ６．１３・・・増幅器　　　７・・・遅延回路８・・・
同調増幅器　　　　９・・・駆動増幅器１０・・・遅延
時間制御信号発生器 １１　・　・　・ダイノード １２・・・捕集電極　　１３・・・増幅器１４・　・　
・ＸＹプロッタ １７、．１８・・・電源装置 ２１．２５．２６・・・電源 ２２．２３．２４・・・抵抗器 特許出願人　　　浜松テレビ株式会社 代理人　弁理士　　井　ノ　ロ　　壽 ２５図 オ６図 ２７図 オ８図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返
   されるパルス光を計測するための高速繰返しパルス光計
   測用電子管装置において、光電面、集束電極、偏向電極
   、前記偏向電極の偏向電界の方向と垂直方向にスリット
   を持つスリ・ノ）電極、前記スリットを通過した電子を
   増倍するダイノード群、前記ダイノード群で増倍された
   電子を捕集するコレクタ電極がこの順で真空容器内に収
   容されている電子管と、前記光電面に対して集束電極、
   スリット電極の順に高い電圧を供給するとともに前記ダ
   イノード群に増倍用の電圧を供給する電源装置と、前記
   偏向電極に被計測光に同期しておき、さらに順次位相が
   変化する偏向電圧を供給する偏向電圧発生装置からなり
   、高速繰返しパルス光から順次位相の異なる部分を取り
   出すように構成したことを特徴とする高速繰返しパルス
   光計測用電子管装置。
2. （２）被計測光が実質的に同一の波形および周期で繰返
   されるパルス光を計測するための高速繰返しパルス光計
   測用電子管装置において、光電面、集束電極、偏向電極
   、前記偏向電極の偏向電界の方向と垂直方向にスリット
   を持つスリット電極、前記スリットを通過した電子で発
   光させられる螢光面がこの順で真空容器内に収容されて
   いる第１の電子管と、前記螢光面に光電面が対応するよ
   うに配置される２次電子増倍管よりなる第２の電子管と
   、前記光電面に対して集束電極、スリット電極の順に高
   い電圧を供給する第１の電子管の電源装置と、前記第２
   の電子管の電源装置と、前記偏向電極に被計測光に同期
   しておき、さらに順次位相が変化する偏向電圧を供給子
   る偏向電圧発生装置からなり、高速繰返しパルス光から
   順次位相の異なる部分を取り出すように構成したことを
   特徴とする高速繰返しパルス光計測用電子管装置。