JP2004142097A - 化学的自己組織化の方法を利用したカーボンナノチューブパターン形成方法およびカーボンナノチューブ層形成方法 - Google Patents

化学的自己組織化の方法を利用したカーボンナノチューブパターン形成方法およびカーボンナノチューブ層形成方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 所望の部位に選択的に化学的結合力を有するようにして、より容易にカーボンナノチューブパターンを形成する手段を提供し、また、表面接合力に優れたカーボンナノチューブ層を提供する。
【解決手段】 表面処理された基材上にフォトリソグラフィ方法によりパターンを形成し、その上に化学的自己組織化の方法を利用してカーボンナノチューブを単層および多層に積層してカーボンナノチューブのパターンを形成させる方法である。
【選択図】なし

Description

 本発明は、化学的自己組織化の方法を利用したカーボンナノチューブパターン形成方法およびカーボンナノチューブ層形成方法に関し、さらに詳細には、表面処理された基材上にフォトリソグラフィ方法でパターンを形成し、その上に化学的自己組織化の方法を利用してカーボンナノチューブを単層および多層に積層してカーボンナノチューブのパターンを形成させる方法に関する。
 カーボンナノチューブは、日本明治大学の飯島博士が、1991年に電子顕微鏡を取り扱う際に発見して以来、盛んな研究がなされている。カーボンナノチューブは、黒鉛面を丸く巻いた構造であり、直径は1〜20nmが一般的である。黒鉛は独特な結合配列を有し、堅固で平坦な六角形の板状膜構造を形成している。この膜の上下部は自由電子で埋められており、電子は離散状態で膜と平行運動をする。黒鉛層が螺旋状に巻かれてカーボンナノチューブとなるため、相異なる地点において角部の結合がなされる。チューブの螺旋形またはキラリティー(chirality)を変更すると、自由電子の運動方式が変わる。そのため、自由電子の運動が完全に自由になってナノチューブが金属のように反応するか、場合によっては半導体のようにバンドギャップ(bandgap)を克服しなければならない。バンドギャップの大きさはチューブの径によって決定されており、チューブの径が最も小さい場合にはバンドギャップを1eVとすることも可能である。カーボンナノチューブは、このように力学的堅固性と化学的安全性に優れており、半導体と導体のいずれの性質をも帯びることができる。また、細長く中空であるといった特性から、平板表示素子、トランジスタ、エネルギー貯蔵体などの素材として優れた性質を示し、ナノ寸法の各種電子素子への応用性が極めて大きい。
 近来、カーボンナノチューブを基材上に配列する方法として、中国の北京大学のZhongfan Liu等により、金の上にカーボンナノチューブの末端を硫黄で置換することにより配列する方法(非特許文献1を参照)、および、アミンで処理された基材上にカーボンナノチューブのカルボキシル基をアミド反応させて垂直に配列する方法(非特許文献2を参照)が報告されている。そして、カーボンナノチューブをパタニングする従来の技術としては、シリコン基板上にトリメチルシリル(Trimethylsilyl)基の自己組織化単分子層(Self Assembled Monolayer)を形成した後に、電子ビーム(e−beam)を利用してパタニングを行い、そのパターンにアミノ基を吸着させ、再度ここにカーボンナノチューブを吸着させる方法(非特許文献3を参照)や、界面特性を利用した単純吸着方法(非特許文献4を参照)などがある。
 しかし、このような従来の技術ではカーボンナノチューブを単層にしか積層できず、表面で積層されるカーボンナノチューブの密度が低いため、表面における電気伝導特性が期待し難かった。また、従来のパターン形成技術では、カーボンナノチューブを単純吸着させるため、基材表面との接合力が弱く、形成されたパターンが不安定となる問題点があった。また、パターン形成工程が複雑で生産性が低いため、大量生産を要求する工程には不向きであるという問題点もあった。
Langmuir,16,p.3569(2000) Chem Phys Chem 2002,No.10 Chemical Physics Letters 303,p.125(1999) Advanced materials 2002,14,No.12,p.899
 本発明は、前述のような従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、フォトリソグラフィの手法を用いてアミンパターンを形成させることにより、所望の部位に選択的に化学的結合力を有するようにすることでより容易にカーボンナノチューブパターンを形成しうる手段を提供することにある。
 本発明の他の目的は、前記のように形成されたカーボンナノチューブパターン上に化学的自己組織化の方法によりジアミン単分子層を形成させ、再びカーボンナノチューブを反応させる段階を繰り返して多層構造の高密度カーボンナノチューブパターンを形成しうる手段を提供することにある。
 本発明のさらに他の目的は、カーボンナノチューブと基材表面とを特定のカップリング剤の存在下で結合させて、表面接合力に優れたカーボンナノチューブ層を形成しうる手段を提供することにある。
 本発明のさらに他の目的は、前記のように形成されたカーボンナノチューブ層上に化学的自己組織化の方法によりジアミン単分子層を形成させ、再びカーボンナノチューブを反応させる段階を繰り返して多層構造の高密度カーボンナノチューブ層を形成しうる手段を提供することにある。
 上記の課題を解決するために、本発明の一実施態様は、下記の段階を含むカーボンナノチューブパターン形成方法を提供する:
(a)基材を表面処理して表面にアミノ基が露出した基材を提供する段階;
(b)前記基材を、カップリング剤の存在下で、リンカーとして下記の化学式(1)のアミノアルキルカルボン酸を用いて処理し、前記基材上のアミノ基と前記アミノアルキルカルボン酸のカルボキシル基との間にアミド結合を形成させる段階;
(式中、Rは酸により解離可能な作用基であり、nは1〜50の整数である);
(c)前記基材上に光酸発生剤を塗布し、パターンの形成されたフォトマスクを通してUV光を照射した後、アルカリ現像液で現像して、反応性アミノ基が基材表面に露出したポジティブパターンを形成させる段階;および
(d)前記基材をカップリング剤の存在下にカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
 本発明の他の態様によれば、前記カーボンナノチューブパターン形成方法において、前記(d)段階の後に、下記(e)および(f)段階を1回以上行ってカーボンナノチューブを多層に形成させることを特徴とする方法を提供する:
(e)前記基材上に形成されたカーボンナノチューブパターンの末端カルボキシル基をジアミン系有機化合物と反応させてカーボンナノチューブパターン上にジアミン単分子層を形成させる段階;および
(f)カップリング剤の存在下で前記ジアミン単分子層をカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
 本発明のさらに他の態様は、下記の段階を含むカーボンナノチューブ層形成方法を提供する:
(i)基材を表面処理して表面にアミノ基が露出した基材を提供する段階;および
(ii)前記基材を、カップリング剤のO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートと触媒のアルキルまたはアリールアミンの存在下で、カルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
 本発明のさらに他の態様は、前記カーボンナノチューブ層形成方法において、(ii)段階の後に、下記の(iii)および(iv)段階を1回以上行ってカーボンナノチューブを多層に形成させることを特徴とする方法を提供する:
(iii)前記基材上に形成されたカーボンナノチューブ層の末端カルボキシル基をジアミン系有機化合物と反応させてカーボンナノチューブ層上にジアミン単分子層を形成させる段階;および
(iv)カップリング剤の存在下で前記ジアミン単分子層をカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
 本発明によれば、通常のフォトリソグラフィ工程を通じて単層および多層構造のカーボンナノチューブパターン膜を容易に形成させることができる。したがって、本発明の方法は、将来、太陽電池やバッテリーのようなエネルギー貯蔵体、平板ディスプレイ、トランジスタ、化学センサ、バイオセンサおよび半導体素子などの製造工程における、伝導性に優れたカーボンナノチューブのパターン化された膜の形成工程に応用することが可能である。
 以下、本発明をさらに詳細に説明する。
 本発明の第1の実施態様は、基材上にフォトリソグラフィ法によりポジティブパターンを形成した後、カルボキシル化されたカーボンナノチューブをカップリング剤の存在下で反応させて、パターン化されたカーボンナノチューブの積層構造を得る方法である。これを段階別にさらに詳細に説明すると、下記の通りとなる。
 (基材の表面処理)
 本発明において、基材としては、具体的に、ガラス、シリコンウエハまたはプラスチックなどからなるものを使用可能であるが、これに制限されない。
 前記基材の表面を、アミノアルキルアルコキシシラン(aminoalkylalkoxysilane)、アミノアリールアルコキシシラン(aminoarylalkoxysilane)などで処理し、アミノ基を基材表面に露出させる。基材の表面処理物質としては、好ましくはアミノプロピルアルコキシシラン、アミノフェニルアルコキシシランが使用され、さらに好ましくは、アミノプロピルトリエトキシシランが使用される。
 基材の表面処理工程は、具体的には、スピンコーティング、ディップコーティング、噴霧コーティング、流動コーティングまたはスクリーン印刷などで前記表面処理物質をコーティングした後に、10〜150℃で、真空または不活性気体雰囲気で乾燥させる過程からなる。好ましくは、ディップコーティング法が用いられる。
 (基材上へのリンカー導入)
 次いで、基材上のアミノ基をカップリング剤の存在下で適当な炭素数のリンカーとアミド結合で連結させるが、この際、リンカー物質としては、下記化学式(1)で表されるようにアミノ基が酸に不安定な作用基(acid−labile group)で保護されているアミノアルキルカルボン酸を使用する:
(式中、Rは酸により解離可能な作用基であり、nは1〜50の整数である。)
 前記Rは、酸により解離可能な作用基であって、具体的には−CHR−O−R、t−ブトキシカルボニル基、トリメチルシリルオキシカルボニル基などが挙げられ、ここで、Rは水素原子、またはC1〜20(炭素数1〜20)の飽和炭化水素基、不飽和炭化水素基または芳香族有機基であり、Rは C1〜20(炭素数1〜20)の飽和炭化水素基、不飽和炭化水素基または芳香族有機基であり、RおよびRはお互い結合して環化合物を形成することができる。
 前記Rの好ましい例を、下記化学式(2)に示す:
 前記リンカー物質の付着時に使用されるカップリング剤としては、好ましくは、1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド(1,3−dicyclohexylcarbodiimide)、1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド(1−ethyl−3−(3−dimethylaminopropyl)carbodiimide)、ベンゾトリアゾール-1-イルオキシトリス(ジメチルアミノ)ホスホニウムヘキサフルオロホスフェート(benzotriazol−1−yloxytris(dimethylamino)phosphonium hexafluorophosphate)およびO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェート(O−(7−azabenzotriazol−1−yl)−N,N,N’,N’−tetramethyluronium hexafluorophosphate)よりなる群から選択される1種以上の物質を使用し、より好ましくは、O−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートが用いられる。
 前記カップリング剤に加えて、カップリング反応の促進のために触媒としてアルキルまたはアリールアミンなどが添加されてもよく、より好ましくは、N,N−ジイソプロピルエチルアミンが添加される。
 前記リンカー物質の基材への付着は、例えば1〜500mMのリンカーおよび1〜500mMのカップリング剤が添加された溶液中に表面処理された基材を浸した後に、10〜100℃で充分な時間、好ましくは0.5〜15時間攪拌することにより行われる。この際、溶媒としては、N−メチル−2−ピロリドン(NMP)、ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルホルムアミド(DMF)、シクロヘキサノンなどを使用することができるが、これに制限されない。
 (フォトリソグラフィによるパターン形成)
 上記のように酸に不安定なリンカー物質が表面に結合した基材上に、光酸発生剤を塗布した後、予備乾燥(prebaking)して溶媒を揮発させ、基材上に層を形成させる。次に、パターンの形成されたフォトマスクを通して紫外線を照射する。照射時、露光量は50〜1000mJ/μm程度が好ましく、露光後に、100℃程度で30〜300秒間PEB(post exposure baking)工程を行う。このような一連の工程により露光部では光酸発生剤により生成した酸によりリンカー物質から保護基が脱離し、アルカリ現像液で現像することで光酸発生剤と共に露光部の酸に不安定な保護基(acid−labile group)が除去されて、目的とするパターンが形成される。現像液による現像工程後、形成されたパターンを蒸留水または有機溶剤で洗浄し、乾燥過程を行うことで、露光部において反応性アミノ基が表面に露出したポジティブパターンが得られる。
 前記パターン形成工程における光酸発生剤としては、PhAsF 、PhPF 、PhTosO(TosO:tosylate(p−toluene sulfonate))、PhSbF 、PhTosO、PhTfO(TfO:triflate(trifluoromethane sulfonate))、RO−C−N SbF 、下記化学式(3)に例示したようなヒドロキシル基を有する芳香族スルホン酸のジフェニルヨードニウム塩類などのイオン性光酸発生剤;下記化学式(4)に例示したようなジアゾナフトキノン(DNQ:diazonaphthoquinone)類および下記化学式(5)に例示したようなニトロベンジルスルホン酸類などの非イオン性光酸発生剤;並びに高分子形態の光酸発生剤の中から任意のものを選択して使用可能である:
(式中、R、RおよびRは、それぞれ独立してアルキル基、アルコキシ基またはヒドロキシル基であり;Rは、それぞれ独立してアルキル基、好ましくはメチル基またはエチル基であり;Ar、ArおよびArは、それぞれ独立してフェニル基、ナフタレン基またはアントラセン基である。)
(式中、QおよびQはそれぞれ1価以上のアルキル基またはアリール基であり、gおよびhは1以上の整数である。)
(式中、Rはアルキル基またはアリール基であって、異種原子(heteroatom)を含んでもよく;jは1〜3の整数である。)
 「高分子型光酸発生剤」とは、分子量が500〜1,000,000の高分子であって、主鎖または側鎖にスルホニウム塩またはヨードニウム塩を持つか、側鎖に有機光酸発生基を持つことによって光により酸を発生させる物質を意味する。
 本発明においては、前記光酸発生剤のうち1種だけを単独で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。
 本発明の現像工程において使用されるアルカリ現像液は、有機溶剤と比較して環境親和性および経済性の面でより有利であり、好ましいアルカリ現像液の具体的な例としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)のような水酸化第4級アンモニウム水溶液、エタノールアミンのようなアミン系水溶液などが挙げられ、そのなかでも特にTMAHの2.38%水溶液が最も多く使用される。
 (カーボンナノチューブの積層)
 前述の工程により反応性アミノ基のポジティブパターンが形成された基材を、カップリング剤の存在下でカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させると、パターン化されたカーボンナノチューブの単層が得られる。
 本発明に使用されるカーボンナノチューブは、本発明の目的を阻害しない限り特に制限されず、市販の製品を購入して使用することができる。例えば、通常のアーク放電法、レーザアブレーション(Laser ablation)法、高温フィラメントプラズマ化学気相蒸着法、マイクロウエーブプラズマ化学気相蒸着法、熱化学気相蒸着法、熱分解法等で製造されたものを使用するとよい。
 上記の方法により合成されたカーボンナノチューブには、カーボンナノチューブの他に、不純物として非晶質炭素、フラーレン(fullerenes)、黒鉛(graphite)などの炭素含有物質と、成長のための触媒として使用されるニッケル(Ni)、鉄(Fe)のような遷移金属が含まれており、好ましくはこれを除去するための別途の精製工程を行う。その一つの方法としては、例えば、カーボンナノチューブを2〜3M HNO水溶液で48時間還流させた後、混合液を遠心分離機を用いて2000rpmで30分間遠心分離することにより沈殿物と酸溶液を分離し、上澄み液を除去して、得られた沈殿物を再び蒸留水に分散させて遠心分離し、上澄み液を除去する洗浄過程を3回以上繰り返す方法が例示される。洗浄された沈殿物は再び界面活性剤を溶解させた水溶液に分散させ、水酸化ナトリウム(NaOH)を使用してpHを10以上に調整する。この混合液を10時間にわたって超音波処理(sonication)した後、過量の塩酸(HCl)を添加して単層カーボンナノチューブ(SWNT)を沈殿させ、この溶液を遠心分離機で処理して分離された酸水溶液を除去し、沈殿したスラリーを1μm孔径(pore size)のメンブレンフィルターでろ過して精製された単層カーボンナノチューブを得る方法が例示される。しかしこれに制限されず、従来公知の技術を用いてカーボンナノチューブを精製してもよい。
 このようにして得られた純粋なカーボンナノチューブを本発明に使用するためには、チューブの表面および両端がカルボキシル化されるように化学的な方法を用いてカーボンナノチューブを切断(cutting)しなければならない。カーボンナノチューブを切断する方法としては、例えば、硫酸と硝酸の3:1(v/v)混合液中で24時間超音波処理(sonicating)して化学的に酸化させ、これを遠心分離する方法が例示されるが、これに限定されず、いずれの周知の技術も適用可能である。
 本発明において、カルボキシル化されたカーボンナノチューブと基材上の反応性アミノ基を結合させるためのカップリング剤としては、好ましくは、1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド、1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド、ベンゾトリアゾール−1−イルオキシトリス(ジメチルアミノ)ホスホニウムヘキサフルオロホスフェートおよびO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートよりなる群から選択される1種以上の物質を使用し、より好ましくは、O−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートを使用する。
 前記カップリング剤に加えて、カップリング反応の促進のためにアルキルまたはアリールアミンなどの触媒が添加されてもよく、より好ましくは、N,N−ジイソプロピルエチルアミンが添加される。
 カルボキシル化されたカーボンナノチューブをカップリング剤の存在下で基材上のアミノ基と反応させる方法としては、例えば、カルボキシル化されたカーボンナノチューブが0.00001〜1質量%分散した溶液中にカップリング剤およびアルキルまたはアリールアミンをそれぞれ1〜500mMの濃度で添加し、この溶液中に基材を浸して10〜100℃で0.5〜15時間反応させた後に洗浄する過程からなる方法が例示される。この際、前記カーボンナノチューブの濃度が0.00001質量%未満であると、カーボンナノチューブが基材上のアミノ基と結合しない虞があり、一方、1質量%を超えると、カーボンナノチューブの溶媒中における分散性が低下する虞がある。また、前記カップリング剤の濃度が1mM未満であると、ジアミン単分子層とカーボンナノチューブとの間の結合が形成されない虞があり、一方、500mMを超えると、カップリング剤を含有する溶液の粘度が上昇する結果、基材上に被膜が形成されない虞がある。また、溶媒としては、N−メチル−2−ピロリドン(NMP)、ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルホルムアミド(DMF)、シクロヘキサノンなどを使用することができるが、これに制限されない。
 本発明の第2の実施態様は、前記第1の実施態様により得られたカーボンナノチューブパターンに、化学的自己組織化の方法を利用して多層構造の高密度カーボンナノチューブパターンを形成させる方法である。これをさらに詳細に説明すると、下記の通りである。
 (アミン化合物の単分子層の形成)
 まず、本発明の第1の実施態様で得られたカーボンナノチューブパターンに、ジアミン系有機化合物を反応させて基材上に積層されたカーボンナノチューブ表面にジアミン単分子層を形成させることにより、カーボンナノチューブ層表面のカルボキシル基をアミノ基に転換させる。
 前記ジアミン系有機化合物としては、1,3−ジアミノ−4−ジヒドロキシベンゼン、1,3−ジアミノ−5−ジヒドロキシベンゼン、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシビフェニル、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)エーテル、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、m−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミンジフェニルメタン、4,4’−ジアミンジフェニルエーテル、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、4,4’−ジアミノフェニルスルホン、3,3’−4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]過フルオロプロパンよりなる群から選択される1種以上の芳香族ジアミン、または、N,N−ジメチル−1,3−プロパンジアミン、5−ペンタンジアミン、ジエチレントリアミン、(2−アミノエチル)−1,3−プロパンジアミン、3,3’−ジアミノ−N−メチルジプロピルアミン、(3−アミノプロピル)−1,3−プロパンジアミン、スペルミジン(spermidine)、スペルミジントリヒドロクロリド、(ヘキサメチレン)トリアミン、4,4’−メチレン−ビス(シクロヘキシルアミン)、4’−メチレン−ビス(2−メチルシクロヘキシルアミン)、2,2’−(エチレンジオキシ)−ビス−9−エチルアミン、9−ジオキサ−1,12−ドデカンジアミン、4,7,10−トリオキサ−1,13−トリデカンジアミン、4−ジアミノピペラジンヒドロクロリドよりなる群から選択される1種以上のアルキルジアミンを使用することができる。
 前記ジアミン系有機化合物を基材上のカルボキシル基と反応させる方法としては、溶媒中にジアミン系有機化合物を0.1〜0.5Mの濃度に溶解させ、この溶液中に基材を浸して0〜60℃で0.5〜10時間反応させた後に洗浄する方法が例示される。この際、溶媒にはN−メチル−2−ピロリドン(NMP)、ジメチルアセトアミド(DMAc)、ジメチルホルムアミド(DMF)、シクロヘキサノンなどを使用することができるが、これに制限されない。
 (カーボンナノチューブの積層)
 前記ジアミン単分子層により提供されるアミノ基を再びカップリング剤の存在下でカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させることにより、初めに形成されたカーボンナノチューブの単層上にもう一層のカーボンナノチューブ層を積層することができる。
 上記のような本発明の第2の実施態様において、ジアミン単分子層を形成する過程と、カルボキシル化されたカーボンナノチューブをジアミン単分子層と反応させる過程とを交互に繰り返し行うと、カーボンナノチューブ層を幾層(layer by layer)にも積み重ねることができ、パターン化されたカーボンナノチューブの多重層を得ることができる。
 本発明の第3の実施態様は、アミン処理された基材上に化学的自己組織化の方法によりカーボンナノチューブを積層する際に、カップリング剤を使用することでカーボンナノチューブと基材表面との接合力に優れたカーボンナノチューブ層を形成させる方法である。
 (基材の表面処理)
 基材の表面を処理してアミノ基を導入する方法は、上述した本発明の第1の実施態様における方法と同様であるので記載を省略する。
 (カーボンナノチューブの積層)
 本実施態様では、基材上に導入されたアミノ基をフォトリソグラフィ過程を行わずに直接カルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させて単層カーボンナノチューブ(SWNT)を得る。本段階で使用されるカーボンナノチューブの積層方法は、上記の本発明の第1の実施態様における方法と同一であるので記載を省略する。
 一方、本段階では、カップリング剤として、O−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートを使用するが、さらに、反応を促進させる触媒としてN,N−ジイソプロピルエチルアミンを添加してもよい。このようなカップリング剤を使用することによりカーボンナノチューブ単層と基材表面との接着力を向上させ、形成されたカーボンナノチューブ層の物性を安定化させることができる。
 本発明の第4の実施態様は、前記第3の実施態様により得られたカーボンナノチューブ単層に化学的自己組織化の方法を利用して高密度のカーボンナノチューブ多層構造を形成させる方法である。本実施態様においては、本発明の第2の実施態様で説明した過程と同様の過程を経てジアミン単分子層を形成することでカーボンナノチューブを積層し、このような過程を繰り返すことによりカーボンナノチューブの多重層構造を得ることができる。
 以下、実施例を用いて本発明をより詳細に説明するが、これらの実施例は、本発明を説明するためのものであって、本発明の保護範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。
 実施例1:カーボンナノチューブの精製
 還流管付きの2Lのフラスコ内で、5gのカーボンナノチューブを2.6M HNO水溶液700mlに分散させて100℃で48時間還流させた。混合液を遠心分離機を用いて2,000rpmで30分間遠心分離して沈殿物と酸溶液とに分離して上澄み液を除去し、得られた沈殿物を再び蒸留水に分散させて遠心分離し上澄み液を除去する洗浄過程を3回以上繰り返した。洗浄された沈殿物を、界面活性剤であるトリトン(Triton)X−100(Aldrich Co.)が5質量%の濃度で溶解した水溶液に分散させ、水酸化ナトリウム(NaOH)を使用してpHを10以上に調整した。この混合液を10時間にわたって超音波処理(sonication)した後、塩酸(HCl)10gを添加して単層カーボンナノチューブ(SWNT)を沈殿させた。この溶液を遠心分離機で2,000rpmで30分間処理して分離された酸水溶液を除去し、沈殿したスラリーを1μm孔径(pore size)のメンブレンフィルター(membrane filter)でろ過し、真空オーブンに入れて40℃で24時間乾燥させて、精製された単層カーボンナノチューブを得た。
 実施例2:カーボンナノチューブの切断(cutting)
 前記実施例1で得られたカーボンナノチューブ1gを、硫酸と硝酸とを3:1の比率(v/v)に混合した混合酸溶液100ml中に分散させ、ソニケータにて24時間還流させた。この溶液を蒸留水500mlに注ぎ入れて希釈した後、0.1μmポリカーボネートフィルターでろ過し、減圧乾燥および切断して、カルボキシル基の形成されたカーボンナノチューブを得た。
 実施例3:カーボンナノチューブ単層構造の形成
 ガラス基板を0.1%(v/v)アミノプロピルトリエトキシシランのアルコール溶液に浸して常温で5分間攪拌した後、エチルアルコールに3回浸して洗浄し、120℃真空オーブンで20分間乾燥させた。次いで、乾燥させたガラス基板をアルゴンガス環境下で12時間放置した後、DMFに浸してから取り出してジクロロメタンで十分に洗浄した。次に、実施例2で得られたカルボキシル化されたカーボンナノチューブ2mgをDMF200mlにソニケータを利用して分散させ、このカーボンナノチューブ分散液にN,N−ジイソプロピルエチルアミン(DIEA)2gを滴下し、10分間攪拌した。攪拌後、O−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェート(HATU)2.5gを溶解させたDMF50ml溶液を、前記カーボンナノチューブ分散液に混合して20分間攪拌した。この溶液に前記ガラス基板を垂直に立てて浸し、6時間にわたって60℃で反応させた。その後、前記ガラス基板を取り出し、DMF200mlの入っているビーカーで各15分ずつ3回反復洗浄し、次いでメチレンクロリド200mlの入っているビーカーで各15分ずつ3回反復洗浄した。その後、40℃で15分間乾燥させて、カーボンナノチューブが単層に積層されたガラス基板を得た。図1に示した走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Microscope)による表面写真から、前記ガラス基板上にカーボンナノチューブの単層が形成されたことが確認できた。
 実施例4:カーボンナノチューブ多層構造の形成
 前記実施例3で得たカーボンナノチューブ単層の形成されたガラス基板を、ジアミノフェニルエーテル4gをDMF200mlに溶解させた溶液中で2時間にわたって60℃で反応させた。その後、前記ガラス基板を取り出し、DMF200mlの入っているビーカーで各15分ずつ3回反復洗浄し、再びメチレンクロリド200mlの入っているビーカーで各15分ずつ3回反復洗浄して、前記カーボンナノチューブ単層上にジアミノフェニルエーテルが単層に積層されたガラス基板を得た。得られたガラス基板上に、再び実施例3の方法と同様の方法を用いて、カーボンナノチューブを積層し、洗浄して2層構造のカーボンナノチューブを基材上に形成させた。ジアミノフェニルエーテルの反応および洗浄過程並びにカーボンナノチューブの反応および洗浄過程を繰り返して多層構造の高密度カーボンナノチューブ層を基材上に形成させた。図2は、2回反復後の基材表面のSEM写真であり、図3は3回、図4は6回、図5は9回反復後のSEM写真である。各反応段階別に4ポイントプローブ(point probe)を用いて比抵抗を測定して、反応回数に伴う比抵抗およびカーボンナノチューブの積層厚の変化を図6に示した。
 実施例5:カーボンナノチューブ単層および多層パターンの形成
 ガラス基板を0.1%(v/v)アミノプロピルトリエトキシシランのアルコール溶液に浸して常温で5分間攪拌した。その後、エチルアルコールに3回浸して洗浄し、120℃の真空オーブンで20分間乾燥させた。次いで、乾燥したガラス基板をアルゴンガス雰囲気下で12時間放置した後、DMFに浸してから取り出してジクロロメタンで十分に洗浄した。次に、25mMの6−(ブトキシカルボニル−アミノ)カプロン酸(6−(butoxycarbonyl−amino)caproic acid)が溶解したDMF溶液に対して25mMの1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC)を添加し、ここに前記基板を浸して40℃で4時間攪拌して反応させた。
 前記ガラス基板上に光酸発生剤のジフェニルヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート0.3gと界面活性剤であるトリトン(Triton)X−200(Aldrich Co.)との混合物をスピンコーティングし、100℃で2分間乾燥させた後、UV露光器で所望のパターンのフォトマスクを通して300mJ/μmの露光量で露光を行った。露光後、100℃の温度で2分間PEB(post exposure baking)工程を行い、アルカリ現像液として2.38%TMAH水溶液を利用して現像を行った。次いで、前記ガラス基板をエタノールで洗浄し、真空オーブンに入れて40℃で15分間乾燥させた。このようにパターンが形成された基板に対して前記実施例3と同様の方法でカーボンナノチューブを積層し、洗浄して、パターン化されたカーボンナノチューブ層を形成させた。
 次いで、実施例4と同様の方法でジアミノフェニルエーテルの反応および洗浄過程並びにカーボンナノチューブの反応および洗浄過程を2回繰り返し、洗浄過程を行った後に真空オーブンに入れて40℃で15分間乾燥させて、パターン化されたカーボンナノチューブ3層構造をガラス基板上に形成させた。このようにして得られたカーボンナノチューブパターンの光学顕微鏡写真および走査型電子顕微鏡写真を図7に示した。図7(a)より、多数の平行線の集合したパターンが、3本平行に形成されていることがわかる。図7(b)は、3本のパターンのうちの1本を拡大した写真であり、図7(c)は、図7(b)に示された多数の平行線の一部をさらに拡大した写真である。
 実施例6:カーボンナノチューブ多層パターンの形成
 80×80μmの大きさの菱形が配列されたパターン、並びにラインおよびスペースの幅が1〜4μmの大きさのライン/スペース(line/space)パターンを形成し、前述の実施例5と同様の方法でカーボンナノチューブの積層を5回繰り返して6層構造のカーボンナノチューブ多層パターンを製造した。図8は80×80μmの大きさの菱形が配列されたパターンのSEM写真であり、図9はラインおよびスペースの幅が1〜4μmの大きさのライン/スペースパターンのSEM写真である。
本発明の実施例3においてカーボンナノチューブの単層が形成された基材表面の、走査型電子顕微鏡(SEM:Scanning Electron Miscrope)写真(倍率:100000倍)である。 本発明の実施例4においてカーボンナノチューブの積層を2回実施し、カーボンナノチューブが3層に積層された基材表面のSEM写真(倍率:100000倍)である。 本発明の実施例4においてカーボンナノチューブの積層を3回実施し、カーボンナノチューブが4層に積層された基材表面のSEM写真(倍率:100000倍)である。 本発明の実施例4においてカーボンナノチューブの積層を6回実施し、カーボンナノチューブが7層に積層された基材表面のSEM写真(倍率:100000倍)である。 本発明の実施例4においてカーボンナノチューブの積層を9回実施し、カーボンナノチューブが10層に積層された基材表面のSEM写真(倍率:100000倍)である。 本発明の実施例4におけるカーボンナノチューブ積層回数に対する、基材表面での厚さ、および比抵抗の変化を表すグラフである。 図7(a)は、本発明の実施例5において形成したカーボンナノチューブパターンの光学顕微鏡写真(倍率:300倍)であり、図7(b)は、図7(a)の写真の一部を拡大した光学顕微鏡写真であり、図7(c)は、図7(b)の写真の一部を拡大したSEM写真である。 本発明の実施例6で基材表面にアミンを80×80μmの菱形にパタニングした後、パターン上にカーボンナノチューブを5回積層して形成したパターンのSEM写真(倍率:50倍)である。 本発明の実施例6で基材表面にアミンを線幅1〜4μmにパタニングした後、カーボンナノチューブを5回積層して形成したパターンのSEM写真(倍率:50倍)である。

Claims (17)

  1.  下記の段階を含むカーボンナノチューブパターン形成方法:
    (a)基材を表面処理して表面にアミノ基が露出した基材を提供する段階;
    (b)前記基材を、カップリング剤の存在下で、リンカーとして下記化学式(1)のアミノアルキルカルボン酸を用いて処理し、前記基材上のアミノ基と前記アミノアルキルカルボン酸のカルボキシル基との間にアミド結合を形成させる段階;
    (式中、Rは酸により解離可能な作用基であり、nは1〜50の整数である);
    (c)前記基材上に光酸発生剤を塗布し、パターンの形成されたフォトマスクを通してUV光を照射した後、アルカリ現像液で現像し、反応性アミノ基が基材表面に露出したポジティブパターンを形成させる段階;および
    (d)前記基材をカップリング剤の存在下にカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
  2.  前記(d)段階の後に、下記の(e)および(f)段階を1回以上行ってカーボンナノチューブを多層に形成させることを特徴とする請求項1に記載の方法:
    (e)前記基材上に形成されたカーボンナノチューブパターンの末端カルボキシル基をジアミン系有機化合物と反応させてカーボンナノチューブパターン上にジアミン単分子層を形成させる段階;および
    (f)カップリング剤の存在下で前記ジアミン単分子層をカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
  3.  前記(d)段階および(f)段階において使用されるカップリング剤が、1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド、1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド、ベンゾトリアゾール−1−イルオキシトリス(ジメチルアミノ)ホスホニウムヘキサフルオロホスフェート、およびO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートよりなる群から選択される1種以上の物質であることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
  4.  前記カップリング剤に加えて、触媒としてアルキルまたはアリールアミンをさらに添加することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
  5.  前記(b)段階は、1〜500mMのリンカーおよび1〜500mMのカップリング剤が添加された溶液中に前記表面処理された基材を浸した後に、10〜100℃で0.5〜15時間反応させる過程からなることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の方法。
  6.  前記化学式(1)のRは、−CHR−O−R、t−ブトキシカルボニル基またはトリメチルシリルオキシカルボニル基であって、ここで、Rは水素原子、またはC1〜20の飽和炭化水素基、不飽和炭化水素基または芳香族有機基であり、RはC1〜20の飽和炭化水素基、不飽和炭化水素基または芳香族有機基であり、RおよびRはお互い結合して環化合物を形成することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。
  7.  前記光酸発生剤は、イオン性光酸発生剤または非イオン性光酸発生剤であることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
  8.  下記の段階を含むカーボンナノチューブ層形成方法:
    (i)基材を表面処理して表面にアミノ基が露出した基材を提供する段階;および
    (ii)前記基材を、カップリング剤としてO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートと触媒としてのアルキルまたはアリールアミンの存在下で、カルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
  9.  前記(ii)段階の後に、下記の(iii)および(iv)段階を1回以上行ってカーボンナノチューブを多層に形成させることを特徴とする請求項8に記載の方法:
    (iii)前記基材上に形成されたカーボンナノチューブ層の末端カルボキシル基をジアミン系有機化合物と反応させてカーボンナノチューブ層上にジアミン単分子層を形成させる段階;および
    (iv)カップリング剤の存在下で前記ジアミン単分子層をカルボキシル化されたカーボンナノチューブと反応させてカーボンナノチューブ層を形成させる段階。
  10.  前記(iv)段階において使用されるカップリング剤が、1,3−ジシクロヘキシルカルボジイミド、1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド、ベンゾトリアゾール−1−イルオキシトリス(ジメチルアミノ)ホスホニウムヘキサフルオロホスフェート、およびO−(7−アザベンゾトリアゾール−1−イル)−N,N,N’,N’−テトラメチルウロニウムヘキサフルオロホスフェートよりなる群から選択される1種以上の物質であることを特徴とする請求項9に記載の方法。
  11.  前記(iv)段階においては、前記カップリング剤に加えて、触媒としてアルキルまたはアリールアミンをさらに添加することを特徴とする請求項9または10に記載の方法。
  12.  前記基材が、ガラス、シリコンウエハまたはプラスチックであることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の方法。
  13.  前記(a)または(i)段階における基材の表面処理工程は、スピンコーティング、ディップコーティング、噴霧コーティング、流動コーティングまたはスクリーン印刷を用いて表面処理物質でコーティングした後に、10〜150℃で、真空または不活性気体雰囲気中で乾燥させる過程からなることを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
  14.  前記表面処理物質が、アミノアルキルアルコキシシランまたはアミノアリールアルコキシシランであることを特徴とする請求項13に記載の方法。
  15.  前記カーボンナノチューブとして、アーク放電法、レーザアブレーション法、高温フィラメントプラズマ化学気相蒸着法、マイクロウエーブプラズマ化学気相蒸着法、熱化学気相蒸着法、または熱分解法で製造されたものを使用することを特徴とする請求項1〜14のいずれか1項に記載の方法。
  16.  前記(d)、(f)、(ii)および(iv)段階において、カルボキシル化されたカーボンナノチューブを反応させる段階は、カルボキシル化されたカーボンナノチューブが0.00001〜1質量%分散した溶液中にカップリング剤およびアルキルまたはアリールアミンをそれぞれ1〜500mMの濃度で添加し、この溶液中に前記基材を浸して10〜100℃で0.5〜15時間反応させた後に洗浄する過程からなることを特徴とする請求項1〜15のいずれか1項に記載の方法。
  17.  前記ジアミン系有機化合物が、1,3−ジアミノ−4−ジヒドロキシベンゼン、1,3−ジアミノ−5−ジヒドロキシベンゼン、3,3’−ジアミノ−4,4’−ジヒドロキシビフェニル、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジヒドロキシビフェニル、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)エーテル、ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)エーテル、2,2−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス(4−アミノ−3−ヒドロキシフェニル)ヘキサフルオロプロパン、m−フェニレンジアミン、p−フェニレンジアミン、4,4’−ジアミンジフェニルメタン、4,4’−ジアミンジフェニルエーテル、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)プロパン、4,4’−ジアミノフェニルスルホン、3,3’−4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、4,4’−ジアミノジフェニルスルホン、1,4−ビス(3−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4−ビス(p−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、1,4−ビス(m−アミノフェニルスルホニル)ベンゼン、2,2−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[3,5−ジメチル−4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]メタン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]スルホン、および2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]過フルオロプロパンよりなる群から選択される1種以上の芳香族ジアミン、または、N,N−ジメチル−1,3−プロパンジアミン、5−ペンタンジアミン、ジエチレントリアミン、(2−アミノエチル)−1,3−プロパンジアミン、3,3’−ジアミノ−N−メチルジプロピルアミン、(3−アミノプロピル)−1,3−プロパンジアミン、スペルミジン、スペルミジントリヒドロクロリド、(ヘキサメチレン)トリアミン、4,4’−メチレン−ビス(シクロヘキシルアミン)、4’−メチレン−ビス(2−メチルシクロヘキシルアミン)、2,2’−(エチレンジオキシ)−ビス−9−エチルアミン、9−ジオキサ−1,12−ドデカンジアミン、4,7,10−トリオキサ−1,13−トリデカンジアミン、および4−ジアミノピペラジンヒドロクロリドよりなる群から選択される1種以上のアルキルジアミンであることを特徴とする請求項2〜7または9〜16のいずれか1項に記載の方法。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025391A1 (ja) * 2004-08-31 2006-03-09 Kyoto University 分子デバイス及びその製造方法
JP2007008803A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Samsung Electronics Co Ltd 炭素ナノチューブの炭素質不純物の除去方法
JP2008100895A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Sony Corp 単層カーボンナノチューブの製造方法、単層カーボンナノチューブおよび単層カーボンナノチューブ応用装置の製造方法
JP2008201635A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Hokkaido Univ 微小カーボン単分子膜の形成方法及び表面コーティング方法並びにコーティング体
JP2008204872A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Hokkaido Univ 透明導電性膜基材及び透明積層体
JP2010251293A (ja) * 2009-04-15 2010-11-04 Korea Inst Of Science & Technology メタルワイヤを利用した導電性フィルム製造方法及び導電性フィルム
JP2011506671A (ja) * 2007-12-14 2011-03-03 コーロン インダストリーズ,インコーポレイテッド 伝導性材料およびその製造方法
KR101319499B1 (ko) * 2008-02-22 2013-10-17 엘지디스플레이 주식회사 화학적 자기조립 방법을 이용한 나노선 혹은탄소나노튜브의 적층 및 패턴형성 방법과, 이를 적용한액정표시장치의 제조방법
CN106413874A (zh) * 2014-03-11 2017-02-15 Les创新材料公司 用于制备二氧化硅‑碳同素异形体复合材料及其使用方法
WO2021149582A1 (ja) * 2020-01-24 2021-07-29 国立大学法人東海国立大学機構 積層体、積層体の製造方法、および、積層体を備えるデバイス
JP7360161B2 (ja) 2020-01-24 2023-10-12 国立大学法人東海国立大学機構 積層体、積層体の製造方法、および、積層体を備えるデバイス

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070122622A1 (en) * 2002-04-23 2007-05-31 Freedman Philip D Electronic module with thermal dissipating surface
US6969690B2 (en) * 2003-03-21 2005-11-29 The University Of North Carolina At Chapel Hill Methods and apparatus for patterned deposition of nanostructure-containing materials by self-assembly and related articles
US7670831B2 (en) * 2003-06-13 2010-03-02 Korea Advanced Institute Of Science And Technology Conductive carbon nanotubes dotted with metal and method for fabricating a biosensor using the same
JP4927319B2 (ja) * 2003-07-24 2012-05-09 韓国科学技術園 高密度カーボンナノチューブフィルムまたはパターンを用いたバイオチップの製造方法
US7416993B2 (en) 2003-09-08 2008-08-26 Nantero, Inc. Patterned nanowire articles on a substrate and methods of making the same
KR100557338B1 (ko) * 2003-11-27 2006-03-06 한국과학기술원 자기조립 물질로 랩핑된 탄소나노튜브의 제조방법
KR100533316B1 (ko) * 2004-03-27 2005-12-02 한국과학기술원 포토리쏘그래피법과 드라이 에칭법을 이용한 탄소나노튜브다층막 패턴의 제조방법
CN1746105B (zh) * 2004-09-08 2011-03-30 中国科学院化学研究所 层层组装技术构造多组分纳米管
KR100642719B1 (ko) * 2004-12-16 2006-11-10 고려대학교 산학협력단 탄소 나노 패턴의 제조방법 및 이에 의해 제조된 탄소 나노 패턴
CN100340479C (zh) * 2005-06-30 2007-10-03 复旦大学 一种富勒烯衍生物在硅系介孔材料中的组装方法
KR100691806B1 (ko) * 2005-08-04 2007-03-12 삼성전자주식회사 비드 및 나노포어를 이용한 핵산 검출방법 및 검출장치
KR100809694B1 (ko) * 2005-08-12 2008-03-06 삼성전자주식회사 탄소나노튜브 제조 방법
KR100730350B1 (ko) * 2005-10-17 2007-06-19 삼성전자주식회사 표면처리된 나노포어를 이용한 dna 검출방법 및검출장치
KR100754984B1 (ko) * 2005-11-16 2007-09-04 한국과학기술원 탄소나노튜브 분산액을 이용한 고순도 탄소나노튜브 필름의 제조방법
US7644512B1 (en) * 2006-01-18 2010-01-12 Akrion, Inc. Systems and methods for drying a rotating substrate
US7790560B2 (en) * 2007-03-12 2010-09-07 Board Of Regents Of The Nevada System Of Higher Education Construction of flash memory chips and circuits from ordered nanoparticles
US8000084B2 (en) * 2007-07-25 2011-08-16 Honeywell International, Inc. High voltage electrolytes
KR100899396B1 (ko) * 2008-01-29 2009-05-27 주식회사 하이닉스반도체 블랭크 마스크 및 그 형성방법 및 기판 표면 개질 방법
US20100132771A1 (en) * 2008-10-06 2010-06-03 The Regents Of The University Of California 3D Carbon Nanotubes Membrane as a Solar Energy Absorbing Layer
CN101794841A (zh) * 2010-03-03 2010-08-04 上海交通大学 基于碳纳米管增效的太阳电池制备方法
US8878157B2 (en) 2011-10-20 2014-11-04 University Of Kansas Semiconductor-graphene hybrids formed using solution growth
BR112014032285B1 (pt) * 2012-06-21 2021-04-20 Tesla Nanocoatings, Inc. materiais ajustáveis
US20150318070A1 (en) * 2014-05-01 2015-11-05 Wisconsin Alumni Research Foundation Transparent conducting films containing single-walled carbon nanotubes dispersed in an azo dye
DE102014212077A1 (de) * 2014-06-24 2015-12-24 Technische Universität Dresden Verfahren zum Wachstum von vertikal ausgerichteten einwandigen Kohlenstoffnanoröhren mit gleichen elektronischen Eigenschaften sowie zum Vervielfältigen von einwandigen Kohlenstoffnanoröhren mit gleichen elektronischen Eigenschaften
CN104085879A (zh) * 2014-07-16 2014-10-08 哈尔滨工业大学 一种高浓度碳纳米管分散液的制备方法
CN106145944A (zh) * 2015-04-01 2016-11-23 合肥杰事杰新材料股份有限公司 一种高导电、导热和高强度碳材料薄膜及其制备方法
CN105609638B (zh) 2016-03-07 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种半导体层和tft的制备方法、tft、阵列基板

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4728591A (en) 1986-03-07 1988-03-01 Trustees Of Boston University Self-assembled nanometer lithographic masks and templates and method for parallel fabrication of nanometer scale multi-device structures
US6426134B1 (en) * 1998-06-30 2002-07-30 E. I. Du Pont De Nemours And Company Single-wall carbon nanotube-polymer composites
WO2001003208A1 (en) * 1999-07-02 2001-01-11 President And Fellows Of Harvard College Nanoscopic wire-based devices, arrays, and methods of their manufacture
US6566983B2 (en) 2000-09-02 2003-05-20 Lg Electronics Inc. Saw filter using a carbon nanotube and method for manufacturing the same
KR100801820B1 (ko) * 2002-11-19 2008-02-11 삼성전자주식회사 표면수식된 탄소나노튜브를 이용한 패턴 형성방법
US7491428B2 (en) * 2002-12-04 2009-02-17 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Controlled deposition and alignment of carbon nanotubes
JP4918352B2 (ja) * 2003-01-22 2012-04-18 イー・アイ・デュポン・ドウ・ヌムール・アンド・カンパニー 厚いフィルムペースト層のポリマー拡散によるパターン化方法
KR100947702B1 (ko) * 2003-02-26 2010-03-16 삼성전자주식회사 경화성 작용기로 표면수식된 탄소나노튜브를 이용한패턴박막 형성방법 및 고분자 복합체의 제조방법
US6969690B2 (en) * 2003-03-21 2005-11-29 The University Of North Carolina At Chapel Hill Methods and apparatus for patterned deposition of nanostructure-containing materials by self-assembly and related articles

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006025391A1 (ja) * 2004-08-31 2006-03-09 Kyoto University 分子デバイス及びその製造方法
JP4714881B2 (ja) * 2004-08-31 2011-06-29 国立大学法人京都大学 分子デバイス及びその製造方法
JP2007008803A (ja) * 2005-06-28 2007-01-18 Samsung Electronics Co Ltd 炭素ナノチューブの炭素質不純物の除去方法
JP2008100895A (ja) * 2006-10-20 2008-05-01 Sony Corp 単層カーボンナノチューブの製造方法、単層カーボンナノチューブおよび単層カーボンナノチューブ応用装置の製造方法
JP2008201635A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Hokkaido Univ 微小カーボン単分子膜の形成方法及び表面コーティング方法並びにコーティング体
JP2008204872A (ja) * 2007-02-21 2008-09-04 Hokkaido Univ 透明導電性膜基材及び透明積層体
JP2011506671A (ja) * 2007-12-14 2011-03-03 コーロン インダストリーズ,インコーポレイテッド 伝導性材料およびその製造方法
JP2013243109A (ja) * 2007-12-14 2013-12-05 Kolon Industries Inc 伝導性材料およびその製造方法
KR101319499B1 (ko) * 2008-02-22 2013-10-17 엘지디스플레이 주식회사 화학적 자기조립 방법을 이용한 나노선 혹은탄소나노튜브의 적층 및 패턴형성 방법과, 이를 적용한액정표시장치의 제조방법
US8592820B2 (en) 2008-02-22 2013-11-26 Lg Display Co., Ltd. Layers and patterns of nanowire or carbon nanotube using chemical self assembly and fabricating method in liquid crystal display device thereby
JP2010251293A (ja) * 2009-04-15 2010-11-04 Korea Inst Of Science & Technology メタルワイヤを利用した導電性フィルム製造方法及び導電性フィルム
CN106413874A (zh) * 2014-03-11 2017-02-15 Les创新材料公司 用于制备二氧化硅‑碳同素异形体复合材料及其使用方法
CN106413874B (zh) * 2014-03-11 2020-05-15 Les创新材料公司 用于制备二氧化硅-碳同素异形体复合材料及其使用方法
WO2021149582A1 (ja) * 2020-01-24 2021-07-29 国立大学法人東海国立大学機構 積層体、積層体の製造方法、および、積層体を備えるデバイス
JP7360161B2 (ja) 2020-01-24 2023-10-12 国立大学法人東海国立大学機構 積層体、積層体の製造方法、および、積層体を備えるデバイス

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