JP2004101819A5 - - Google Patents
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- (A)成分の樹脂が、一般式(a)で表される繰り返し単位を含有することを特徴とする請求項1又は2に記載のネガ型レジスト組成物。
- (B)成分の酸発生剤が、下記一般式(I)〜(III)で表わされる化合物のうち少なくとも1種を含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物。
X-は酸のアニオンである。アニオンを形成している酸は、ベンゼンスルホン酸、ナフタレンスルホン酸、又はアントラセンスルホン酸の中から選択される酸である。又はその酸は、アルキル基、アルコキシル基、アシル基、アシロキシル基、スルホニル基、スルホニルオキシ基、スルホニルアミノ基、アリール基、アラルキル基、アルコキシカルボニル基からなる群から選択された少なくとも1種の有機基を有する。〕 - 更に、架橋剤として酸により架橋する架橋剤が分子内にベンゼン環原子団を3〜5個含み、ヒドロキシメチル基及び/又はアルコキシメチル基をそのベンゼン環原子団に2個以上有するフェノール誘導体を含有することを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物。
- 請求項1〜5のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物によりレジスト膜を形成し、当該レジスト膜を露光、現像することを特徴とするパターン形成方法。
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JP2002262880A JP4079729B2 (ja) | 2002-09-09 | 2002-09-09 | ネガ型レジスト組成物 |
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- 2002-09-09 JP JP2002262880A patent/JP4079729B2/ja not_active Expired - Lifetime
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