JP2004037281A - 汚染検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】短冊状のシンチレータ2を挟むようにシンチレータからの光を集光する複数個の波長シフトファイバー3を汚染測定対象物1に沿って設け、シンチレータ2の両脇に位置する波長シフトファイバー3の同時性をとり汚染を測定する。
【選択図】 図1
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は原子力施設などにおける機器や身体などの放射性汚染を測定するための汚染検査装置に係わり、特にシンチレーション検出技術を利用した汚染検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
原子力発電プラントなどの原子力施設においては、原子炉のある建屋や機器、あるいは作業員の身体などの放射線による汚染が規定値以下の状態にあるかどうか、また、それらの放射線量あるいは放射能の強さを測定するために汚染検査装置が設けられている。このような汚染検査装置としては従来一般的にシンチレーション検出技術を利用したシンチレーション検出器あるいはシンチレーションカウンターなどと称される放射線検出器が用いられている。
【0003】
ここでシンチレーションとは、荷電粒子が入射すると電離や励起などのために安定状態に戻るときに光りを放出する蛍光体(シンチレータ)の発光を意味する。そして、この光を検出することにより放射線を検出する。
【0004】
従来の一般的な汚染検査装置の構成を図17に示す。1は汚染測定対象物で、この汚染測定対象物1に放射性汚染があった場合、汚染から発生する放射線をシンチレータ2から成る放射線検出器で検出することにより汚染の有無を検査している。シンチレータ2は放射線により発光し、シンチレータ2に取り付けた光電変換器4で光を電気パルスに変換する。電気パルスは種々のノイズと弁別するために波高弁別器(ディスクリミネータ)5にてある電圧(閾値)以上のパルスに対してのみ出力パルスを発生し、その出力パルスをカウンタ7で計数して表示器8で計数値などの検査結果を表示する。表示器8は演算処理機能を備えており、計数値に基づいて汚染強度を判定し、さらに汚染が規定値を超えたかどうかの判定処理も行っている。
【0005】
光電変換器4は変換器内でノイズパルスを発生するため、その出力はノイズパルスと放射線が入射した結果生じる電気パルスとが混在することになる。このノイズパルスを除去するため、シンチレータ2に光電変換器4を2個取り付け、それぞれの光電変換器4に対して波高弁別器5を接続し、その出力の同時性(コインシデンス:2個またはそれ以上の数の入力パルスの時間間隔が同時、あるいは一定の時間以内であれば計数する)を同時計数回路6(コインシデンス回路)でとっている。
【0006】
一方、汚染測定対象物1が大型の場合、放射性汚染の有無だけを検査するのではなく、汚染測定対象物1のどの位置に汚染があるかを特定する必要がある。そのために、図18に示すように、汚染測定対象物1に対してシンチレータ2を複数個設け、各シンチレータ2の計数を個別に計数し、それらの計数強度から汚染測定対象物1の汚染箇所または汚染分布を特定している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記のような従来の汚染検査装置においては、複数個のシンチレータ2を設け、汚染箇所または汚染分布を特定するようにしているので、シンチレータ2の数をn台とすると、その光を電気パルスに変換する光電変換器4、ならびにノイズと放射線で生じる電気パルスとを弁別するための波高弁別器5とはそれぞれはシンチレータ2の2倍の2n台必要となる。このため、部品点数が多くなって装置が大型化し、また、電子装置の数が増えることによる故障発生率が高くなり、信頼性の低下、保守が増大するという問題点があった。
また、装置の大型化に伴い放射線検出器を汚染測定対象物1の形状に応じて最適な測定位置に移動させるための駆動機構も大型化しなければならなかった。
【0008】
さらに、汚染測定対象物1の汚染箇所または汚染分布を特定するため複数のシンチレータ2で構成する場合、汚染個所がシンチレータとシンチレータとの間に存在する場合、一つのシンチレータに入射する放射線の量が減るため、汚染測定対象物1に規定値以上の汚染があっても正確に検出できない場合がある。また複数のシンチレータで汚染分布を特定する場合、特にシンチレータの数が増えるほど、規定値を超えた状態を表示器8に表示しても、汚染測定対象物1のどの位置に相当するのかを特定することは容易ではない。
【0009】
さらにまた、光電変換器4で発生する電気パルスの大きさは微小のため、波高弁別器5の閾値は極力低いレベルに設定される。このため外来ノイズ、例えば電磁波とか電源に重畳したノイズが閾値を超えるとパルスを発生してしまう。これらのパルスは時間的に各波高弁別器5に同時に入るため、後段の同時計数回路6では除去できず、汚染がないにもかかわらず汚染があるという誤判定をしてしまう恐れもあった。
本発明は以上の課題を解決し、信頼性を向上させた汚染検査装置を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項1に記載の汚染検査装置の発明は、汚染測定対象物に沿って配置され、汚染測定対象物の放射線を検出し発光する複数個のシンチレータと、前記シンチレータのそれぞれを挟むように該シンチレータと交互に並べて配置され、前記シンチレータの光を集光する波長シフトファイバーと、前記波長シフトファイバーの光を電気パルスに変換する光電変換器と、前記光電変換器からの電気パルスが閾値以上の時に出力パルスを発生する波高弁別器と、前記各シンチレータを挟むように隣接した前記波長シフトファイバーのそれぞれの光パルスの同時性をとって該シンチレータごとに光パルスを計数するカウンタと、前記カウンタの計数値に基づいた検査結果を表示する表示器とからなることを特徴とする。
【0011】
請求項2に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、複数個のシンチレータと波長シフトファイバーと光電変換器とから成る放射線検出器を汚染測定対象物と対向する方向に2層に重ねて配置しするようにしたことを特徴とする。
【0012】
請求項3に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、短冊状のシンチレータの長手方向の配置方向を放射線検出器の長さの短い方向に沿わせて配置したことを特徴とする。
【0013】
請求項4に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、隣接するシンチレータ、あるいは連続する複数のシンチレータからの計数値を合計し、その合計値を用いて汚染強度の判定をすることを特徴とする。
【0014】
請求項5に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、複数個の各シンチレータの近傍に、シンチレータと一対一に対応して表示器を設置し、各シンチレータの計数値が規定値を超えたときに表示器を点灯させることを特徴とする。
【0015】
請求項6に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、汚染測定対象物を撮影する手段と、撮影した画像を表示する手段とを備え、汚染測定対象物と各シンチレータの計数値とから得た判定結果をオバ−ラップして表示することを特徴とする。
【0016】
請求項7に記載の汚染検査装置の発明は、請求項1に記載の汚染検査装置の発明において、放射線検出器に接続しないカウンタを設けたことを特徴とする。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下本発明の第一の実施の形態を図1および図2を参照して説明する。1は汚染測定対象物で、この汚染測定対象物1に付着した汚染から発生する放射線を検出する複数個の短冊状のシンチレータ2(2a、2b、2c…2n)と、シンチレータ2からの発光を集光する複数個の波長シフトファイバー3(3a、3b、3c…3n+1)を設け、この波長シフトファイバー3でシンチレータ2を挟むように交互に並べて汚染測定対象物1に沿って配置している。図2はシンチレータ2を6枚配置した例である。また遮光やシンチレータ2を保持する容器が必要であるが、説明をわかりやすくするために省略してある。
【0018】
シンチレータ2からの光は波長シフトファイバー3で集光されるため、光を電気パルスに変換する光電変換器4(4a、4b、4c…4n+1)が各波長シフトファイバー3に取り付けられている。光電変換器4からの電気パルスはそれぞれ波高弁別器5(5a、5b、5c…5n+1)に入力され、設定した閾値以上の時に出力パルスが発生する。波高弁別器5の出力パルスの同時性をとる手段は、一つのシンチレータ2の両脇に設けた波長シフトファイバー3に対応する同時性をとることによりシンチレータ2に放射線が入射した時にのみ同時計数回路6(6a、6b、6c…6n)より出力パルスが発生する。この出力パルスをカウンタ7(7a、7b、7c…7n)で計数して表示器8で計数値などの検査結果を表示する。
【0019】
従来の技術で説明したように表示器8は演算処理機能を備えており、計数値に基づいて汚染強度を判定し、さらに規定値を超えたかどうかの判定処理を行っている。
【0020】
このように、本発明の第一の実施の形態による汚染検査装置であると、複数個のシンチレータ2を複数個の波長シフトファイバー3で挟むように交互に配置し、シンチレータ2に隣接する波長シフトファイバー3に光電変換器4を取り付けることで、シンチレータ2の数n個に対し、光電変換器4ならびに波高弁別器5の数は(n+1)個で済む。すなわち、従来のシンチレータに直接光電変換器をつける場合は、シンチレータの数n個に対し、光電変換器ならびに波高弁別器の数は2n個必要となるのに対して本発明によればn−1=(2n−(n+1))分減らすことができる。
【0021】
これにより部品点数を大幅に減らして小型化できると共に、電子装置の数が減ることによって故障発生率が低くなり、信頼性の向上、保守の手間が減る。
また、装置の小型化に伴って放射線検出器を汚染測定対象物の形状に応じて最適な測定位置に移動させるための駆動機構も小型、簡素化できる。
【0022】
次に本発明の第二の実施の形態について図3乃至図5を参照して説明する。なお、以下の各実施の形態において図1と同一部分については同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。本実施の形態においては、複数個のシンチレータ2を波長シフトファイバー3で挟むように交互に並べて配置し、シンチレータ2に隣接する各波長シフトファイバー3に光電変換器4を取り付けた第1の放射線検出器Aを設け、また、複数個のシンチレータ9を波長シフトファイバー3で挟むように交互に並べて配置し、シンチレータ9に隣接する各波長シフトファイバー3に光電変換器4を取り付けた第2の放射線検出器Bを設けている。そして、放射線検出器AとBとを汚染測定対象物1と対向するX方向に重ねて配置している。
【0023】
このような構成であると、汚染測定対象物1の表面汚染10からは遮蔽物がないので、透過力の弱いβ線、α線12は一層目の第1の放射線検出器Aのシンチレータ2に入射し、計数される。通常このシンチレータ2はバックグランドを下げるために厚みが薄いものを使用する。従って汚染測定対象物1から同時に放射されるγ線に対してはほとんど感度がない。一方、汚染測定対象物1の内部汚染11からは汚染測定対象物1自体がが遮蔽物となるので、透過力の強いγ線13が2層目の第2の放射線検出器Bのシンチレータ9に入射し、計数される。通常このシンチレータ9はγ線を測定するためシンチレータ2に比べて厚みが厚い。なお、光電変換器4以降の構成は第一の実施の形態と同じである。
【0024】
このように、本発明の第二の実施の形態による汚染検査装置であると、内部汚染11を測定する2層目の第2の放射線検出器Bも第一の実施の形態と同じ構成とすることで、第2の放射線検出器Bに必要な光電変換器4ならびに波高弁別器5の数を2nからn+1に減らすことができ、第一の実施の形態と同様の効果が得られる。
【0025】
図2、図3に示す実施の形態では1層目と2層目の放射線検出器A、Bのシンチレータ2と9の数が同じであるが、汚染検査装置の機能に応じて2層目の放射線検出器Bのシンチレータ9の数を変えてもよい。
【0026】
また図5に示すように、1層目の放射線検出器Aのシンチレータ2と2層目の放射線検出器Bのシンチレータ9の短冊状の方向を直角に交わる方向に配置しても良く、この場合には2層目の放射線検出器Bの各シンチレータ9の計数値をもとに1層目の放射線検出器Aのシンチレータ2で検出した汚染分布と直交する方向の汚染分布も求めることもできる。
【0027】
次に本発明の第三の実施の形態について図6を参照して説明する。本実施の形態においては、例えば、作業員の身体等細長い汚染測定対象物を測る場合、放射線検出器も対象物に応じて長方形の形状に構成する。このような放射線検出器形状の場合、シンチレータ2の短冊状の長手方向の配置方向を放射線検出器の長さの短い方向に沿わせて配置する。
【0028】
図7の例ではシンチレータ2の長手方向を横方向に配置することで分割数が12となり、分割数が増えて、シンチレータ2の長手方向を縦方向に配置する場合に比べ汚染の分布をより詳細に測定することができる。
【0029】
次に本発明の第四の実施の形態について図7乃至図9を参照して説明する。本実施の形態においては、第一の実施の形態、または第二の実施の形態で示した短冊状のシンチレータと波長シフトファイバーからなる放射線検出器14を複数個使用して汚染検査装置の検出器を構成する。図8、図9は3台の放射線検出器からなる例で、放射線検出器14を容器16に収納し、構造材15あるいは他の手段で組み立てる。このようにすると汚染検査装置が分割できるために、移動と設置が容易で、常時設置する必要はなく、必要な時に設置することが可能となる。
【0030】
次に本発明の第五の実施の形態について図10を参照して説明する。本実施の形態においては、互いに隣接するシンチレータ2aと2b、または2bと2cのシンチレータで検出した出力パルスを計数するために各シンチレータの計数のORをとるOR回路17と、OR回路17の出力を計数するカウンタ7d、7eを同時計数回路6の出力側に接続している。汚染測定対象物1の汚染10aのように汚染がシンチレータの中央付近にあるときはシンチレータ2aがその汚染を検出する。汚染10bのように汚染がシンチレータの端付近にあるときはシンチレータ2aとシンチレータ2bの両方ががその汚染10bを検出する。
【0031】
従来、シンチレータ2aの端付近にある汚染の計数値は汚染がシンチレータの中央にある場合に比べ減ることになり、シンチレータの中央付近で規定値に近い計数値を示す汚染でもシンチレータの端付近では規定値以下となり、検出されないような場合もある。しかし、本実施の形態によれば、シンチレータ2aと2bの計数値をOR回路17で合計し、計数することにより汚染がシンチレータの端にあった場合でも検出できるようになり、検出漏れを防ぐことができる。
【0032】
図10では2つのシンチレータの計数の合計をとったが、連続する2つ以上のシンチレータの計数の合計をとってもよい。汚染がスポット状ではなく、広範囲に広がっている場合に、複数のシンチレータの計数の合計をとることで汚染個所から放出される放射線を見落としなく検出できる。
【0033】
また、図10に示す実施の形態では、ハード的なOR回路17とカウンタ7d、7eで構成したが、汚染検査装置に計算機が組み込まれているのであれば、OR回路17とカウンタ7d、7eの機能は計算機が個々のシンチレータの計数値を計数するカウンタ7a、7b、7cの値を読み出して、加算することで達成できる。
【0034】
次に本発明の第六の実施の形態について図11および図12を参照して説明する。本実施の形態においては、シンチレータ2に対して一対一に対応してその近傍に表示器8(8a、8b、8c…)を設けている。シンチレータ2の計数値が規定値を超えて汚染が検出された場合、そのシンチレータ2に対応する表示器8を点灯する。シンチレータ2と離れた位置にある表示器8に各シンチレータ2に対応して汚染があるかどうかを表示しても、汚染測定対象物1が表示されないため汚染がどの位置にあるかがわからないが、本実施の形態によれば、汚染測定対象物1に近接しているシンチレータ2の近傍に表示器8を配置してあるため、表示器8が点灯した個所に汚染があることがわかり、汚染個所の特定が容易に行える。
【0035】
次に本発明の第七の実施の形態について図13乃至図15を参照して説明する。本実施の形態においては、汚染測定対象物1を撮影するカメラ18を設けている。あらかじめカメラ18の撮影範囲19、および画像中のシンチレータ2の位置20がどこに位置するかを把握しておく。シンチレータ2の計数値が規定値を超えて、汚染が検出された場合、画像上のそのシンチレータ2に対応する位置の表示、例えば色などをを変化させることで汚染個所の特定が容易に行える。
【0036】
次に本発明の第八の実施の形態について図16を参照して説明する。本実施の形態においては、シンチレータ2に接続しない波高選別器5aと、波高選別器5aの出力パルスを計数するカウンタ7fとを備えている。汚染測定時に外来ノイズ、電磁波や、電源ラインにノイズが重畳されて、波高選別器5aの閾値を超えた場合、カウンタ7fの計数はゼロでなくなる。カウンタ7fの計数がゼロ以外の時は外来ノイズが放射線検出器に印加され、シンチレータ2に接続されているカウンタ7もノイズで誤計数したとして除外する。カウンタ7fの計数がゼロの時は外来ノイズが放射線検出器に印加されず、シンチレータ2に接続されているカウンタ7はノイズで誤計数していないとしてカウンタの計数値から汚染が規定値を超えたかどうかを判定、表示する。
【0037】
本実施の形態によれば、放射線検出器に接続しないカウンタを設け、放射線検出器に接続しないカウンタの計数値がゼロの時のみ、放射線検出器に接続したカウンタの計数値から汚染が規定値を超えたかどうかを判定、表示することで、外来ノイズによる誤動作を防ぐことができる。
【0038】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、信頼性を向上させた汚染検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図2】本発明の第1の実施の形態における放射線検出器を示す斜視図。
【図3】本発明の第2の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図4】本発明の第2の実施の形態における2個重ねた放射線検出器を示す斜視図。
【図5】本発明の第2の実施の形態における2個重ねた別の形の放射線検出器を示す斜視図。
【図6】本発明の第3の実施の形態による汚染検査装置を示す斜視図。
【図7】本発明の第4の実施の形態による汚染検査装置を示す斜視図。
【図8】本発明の第4の実施の形態による汚染検査装置を示す分解斜視図。
【図9】本発明の第4の実施の形態による汚染検査装置を示す斜視図。
【図10】本発明の第5の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図11】本発明の第6の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図12】本発明の第6の実施の形態における放射線検出器を示す斜視図。
【図13】本発明の第7の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図14】本発明の第7の実施の形態における放射線検出器を示す正面図。
【図15】本発明の第7の実施の形態における放射線検出器を示す正面図。
【図16】発明の第8の実施の形態による汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図17】従来の汚染検査装置を示す機能ブロック図。
【図18】従来の汚染検査装置を示す平面図。
【符号の説明】
1…汚染測定対象物、2,9…シンチレータ、3…波長シフトファイバー、4…光電変換器、5…波高弁別回路、6…同時計数回路、7…カウンタ、8…表示器、10…表面汚染、11…内部汚染、12…β線、α線、13…γ線、17…OR回路、18…カメラ。
Claims (7)
- 汚染測定対象物に沿って配置され、汚染測定対象物の放射線を検出し発光する複数個のシンチレータと、前記シンチレータのそれぞれを挟むように該シンチレータと交互に並べて配置され、前記シンチレータの光を集光する波長シフトファイバーと、前記波長シフトファイバーの光を電気パルスに変換する光電変換器と、前記光電変換器からの電気パルスが閾値以上の時に出力パルスを発生する波高弁別器と、前記各シンチレータを挟むように隣接した前記波長シフトファイバーのそれぞれの光パルスの同時性をとって該シンチレータごとに光パルスを計数するカウンタと、前記カウンタの計数値に基づいた検査結果を表示する表示器とからなることを特徴とする汚染検査装置。
- 前記シンチレータと前記波長シフトファイバーと前記光電変換器とから成る放射線検出器を汚染測定対象物と対向する方向に2層に配置し、汚染測定対象物に近い放射線検出器で汚染測定対象物から放出されるβ線、α線を検出し、他方の放射線検出器で汚染測定対象物から放出されるγ線を検出するように構成したことを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
- 短冊状のシンチレータの長手方向の配置方向を放射線検出器の長さの短い方向に沿わせて配置したことを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
- 隣接するシンチレータ、あるいは連続する複数のシンチレータからの計数値を合計し、その合計値を用いて汚染強度の判定をすることを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
- 複数個の各シンチレータの近傍に、シンチレータと一対一に対応して表示器を設置し、各シンチレータの計数値が規定値を超えたときに表示器を点灯させることを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
- 汚染測定対象物を撮影する手段と、撮影した画像を表示する手段とを備え、汚染測定対象物と各シンチレータの計数値とから得た判定結果をオバ−ラップして表示することを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
- 放射線検出器に接続しないカウンタを設けて、放射線検出器に接続しないカウンタの計数値がゼロの時のみ、放射線検出器に接続したカウンタの計数値から汚染が規定値を超えたかどうかを判定することを特徴とする請求項1に記載の汚染検査装置。
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