JP2004001186A - Mems素子及びその製作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】MEMS素子の製作方法は、基板310上に駆動電極320を形成し、さらに駆動電極320上に絶縁層330を形成する。絶縁層330をパターニングにより固定部と接触部が形成される領域をエッチングし、その上に金属層340を形成する。金属層340を絶縁層330が露出するまでポリシングして平坦化する。このとき駆動電極320は絶縁層330に埋め込まれたままである。次いで、その上に犠牲層350を積層し、さらに犠牲層350のうち固定部が形成される領域をエッチングによってグループ状の空間とし、残った犠牲層350上にMEMS構造物層350を積層する。
【選択図】 図3f
Description
【発明の属する技術分野】
本発明はMEMS素子及びその製作方法に係り、さらに詳しくは駆動電極が埋め込み構造を有する静電駆動型MEMS素子及びその製作方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
MEMS(Micro electro mechanical system)は機械的、電気的部品を半導体工程を用いて具現する技術である。MEMS技術を用いて製作された素子が機械的な動作を行うためには、MEMS素子は通常基板上で揺動可能に浮き上がる駆動部を有する。
図1はこのようなMEMS素子の一例を概略的に示す図である。
MEMS素子は基板10、基板10上に固定された固定部30、及び固定部30から延びた駆動部40を有している。固定部30は通常アンカー(anchor)またはサポートと呼ばれ、駆動部40を基板10上に固定させる機能を果たす。
【0003】
駆動部40は基板10上に浮き上がるよう離隔されており、基板10上に形成された電極部20で発生する所定の駆動力により点線で示した通り上下方向に揺動可能になる。駆動部40は必要に応じて梁形状または薄膜形状に製造される。図2aないし図2eは一般の静電駆動型RF MEMS素子の製作工程の一例を順次に示す図である。
図2aに示すように、基板210上には静電駆動のために駆動電極層220をパターニングして形成した後、図2bに示すように基板210に固定される固定部であるアンカー部分とRF信号の入力及び/または出力端になるRFラインの形状に対応して金属層230を形成する。この際、金属層230は表皮深さ(skin depth)効果を考慮して2ないし3μmの厚膜で形成する。
【0004】
次いで、図2cに示すように基板210上に形成された駆動電極層220を取り囲む絶縁膜240を形成する。
その後、図2dに示した通り、基板210上に犠牲層250を積層し、所定のパターニングにより基板210上に固定されるアンカー部分の犠牲層をエッチングする。パターニングされた犠牲層250上には、MEMS構造物層を積層して駆動部260を形成する。
それから、駆動部260に所定のエッチングホール(図示せず)を形成し、エッチングホール(図示せず)を介して犠牲層250だけを選択的にエッチングするエッチング液(etchant)を供給する。これにより、図2eに示すように、犠牲層250が除去された後に駆動部260が基板210上に浮き上がった構造のMEMS素子が製作される。
【0005】
以上のように一般の製作工程では、RFラインである金属層230と駆動電極層220との段差を無視して製作工程を進行する。
従って、RFラインである金属層230と駆動電極層220の段差によって図2eに示した通り、以降の工程により形成される駆動部260は多少屈曲を有する構成となり信頼性に劣るMEMS素子が製作される。一方、設計上には駆動部260に発生する前述したような屈曲は予想されないため、設計上と製作工程上に大きい誤差が発生する。また、このような屈曲はMEMS素子の駆動上で不完全な駆動を引き起こす問題点に繋がる。
【0006】
また、図2dないし図2eに示された製作工程のように、アンカー部分に積層された駆動部260と基板210の連結部分261はアンカー部分及び駆動部260のMEMS構造物の厚さより相対的に薄くて曲がった形態で形成される。
従って、MEMS素子の一般の特性である駆動部260が揺動して動作する点を考慮してみる際、連結部分が薄くて曲がった形態で製作されるという点はMEMS素子の堅固性に悪影響を与える恐れもある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は前述したような問題点を解決するために案出されたもので、その目的は信頼性が向上され、かつ安定的な駆動性を有するMEMS素子及びその製作方法を提供するところにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前述した目的を達成するために本発明は、基板について固定される固定部と、該固定部と連結され前記基板上に浮き上がる駆動部と、前記駆動部を所定の駆動力により駆動させる駆動電極と、前記駆動部を選択的にスイッチングする接触部を備えたMEMS素子の製作方法において、前記基板上に前記駆動電極をパターニングする段階と、前記駆動電極が形成された前記基板上に絶縁層を形成する段階と、前記絶縁層をパターニングして前記固定部と前記接触部が形成される領域の前記絶縁層をエッチングする段階と、エッチングされた前記固定部と前記接触部の領域を含む前記基板上に金属層を形成する段階、及び前記絶縁層が露出される時点に対応して前記金属層を平坦化する段階とを備える。前記絶縁層を形成する段階において、前記絶縁層は少なくとも前記駆動電極より厚膜で形成し、前記駆動電極は前記絶縁層について埋め込み構造を有することを特徴とする。
【0009】
望ましくは、前記平坦化段階遂行後、前記基板上に犠牲層を積層する段階と、前記犠牲層をパターニングして前記固定部が形成される領域に対応する領域の少なくとも一部分を取り囲む空間を形成する段階と、前記犠牲層上にMEMS構造物層を積層して前記空間内に側壁を形成し、前記犠牲層上に前記固定部と前記駆動部を形成する段階、及び前記犠牲層をエッチング液で除去する段階をさらに備える。前記除去段階では、前記固定部に対応する前記犠牲層の一部分に前記側壁により前記エッチング液の供給が遮断され、前記犠牲層のうち前記側壁により取り囲まれた部分を除いた残り部分が除去される。
【0010】
一方、本発明によれば、基板について固定された固定部と、該固定部と連結され前記基板上に浮き上がる駆動部と、該駆動部を駆動させる電極部と、前記駆動部をスイッチングする接触部とを備え、前記電極部と前記接触部は前記基板上に平坦に形成されることを特徴とするMEMS素子が提供される。前記電極部は前記電極と、前記駆動部と前記電極が電気的に開放されるよう前記電極を取り囲む絶縁膜を含み、前記電極は前記絶縁膜について埋め込み構造で形成される。
望ましくは、前記MEMS素子は前記固定部と、前記基板の間に介され前記固定部を前記基板上に固定させるアンカーと、該アンカーの側面に少なくとも一部分を取り囲む側壁をさらに備える。
【0011】
従って、平坦化工程によりRFラインと駆動電極との段差を除去することにより、以降の工程である駆動電極の静電力により駆動される駆動部を形成するMEMS構造物層の変形を防ぐことができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、添付した図面に基づき本発明をさらに詳しく説明する。
下記の実施例のMEMS素子は静電駆動型RF MEMSリレーを例として説明する。
図3aないし図3fは本発明に係る静電駆動型MEMSリレーの一実施例に対する製作工程を順次に示す図である。
まず、図3aに示すように、基板310上に静電駆動のために駆動電極層320をパターニングして形成し、図3bに示すように、駆動電極層320が形成された基板310上に絶縁層で平坦化モールド330を形成する。絶縁層は一般にTEOS(Tetra−Ethyl−Ortho−Silicate)酸化膜が使われる。
【0013】
その後、絶縁層平坦化モールド330をパターニングしてMEMSリレーのアンカー部分AとRF信号の入力及び/または出力端子である接触部の領域をエッチングする。すなわち、平坦化モールドで形成された絶縁層330は駆動電極層320の絶縁膜になる。絶縁膜330は駆動電極層320と後述する駆動部が電気的に短絡されることを防ぐために形成される。
次いで、図3cに示すように、金属層340をアンカー部分Aと接触部の領域がエッチングされた基板上に所定の厚さで積層する。例えば、金属層340は伝導性に優れた金属材質である金(Au)などが使用されている。
【0014】
次に、図3cのように金属層340が所定の厚さで積層された基板を平坦化する工程がなされる。平坦化工程はポリシング(polishing)によりなされる。
ポリシングにより平坦化工程を進行する場合、金属層340の下に形成された絶縁層330が露出する時点をモニタリングして平坦化工程を進めるか否かを決定する。すなわち、図3dに示すように、絶縁層330が露出するまでポリシングを行う。
この際、RFラインである金属層340の厚さは表皮深さ(skin depth)効果を考慮して2ないし3μmの厚膜で形成されるべきなので、このためには絶縁層平坦化モールド330の厚さは少なくとも2ないし3μmの厚膜で形成すべきである。
【0015】
従って、アンカー部分AとRFライン部分に、前記形成された絶縁層モールドの厚さに対応する厚さの金属層340が形成され、駆動電極層320と絶縁層330が形成された電極部とRFラインの厚さが段差なしで平坦に形成される。
よって、静電駆動型MEMSリレーの駆動電極320は絶縁層330に埋め込み(embeded)構造で形成される。
次いで、図3eに示すように、平坦化された基板310上に犠牲層350を積層し、所定のパターニングによりアンカー部分Aの一部である縁部B(図3f参照)にのみグルーブ状の空間が形成されるよう犠牲層をエッチングする。犠牲層350はアルミニウム(Al)、銅(Cu)、オキシド(Oxide)、またはニッケル(Ni)などのような材質で製造できる。
【0016】
パターニングされた犠牲層350上に図3fに示すように、MEMS構造物層360を積層する。MEMS構造物層360は金(Au)のような材質の金属層を蒸着させて形成する。従って、アンカー部分の縁部Bに形成されたグルーブ状の空間内にMEMS構造物層360が積層され、犠牲層350が形成された基板310上にもMEMS構造物層360が積層される。
それから、駆動電極320により駆動される駆動部360が形成されるMEMS構造物層に所定のエッチングホール(図示せず)を形成して、エッチングホール(図示せず)を介して犠牲層350だけ選択的にエッチングできるエッチング液を供給する。従って、犠牲層350が除去され図3fに示したように駆動部360が基板310上に浮き上がったMEMSリレーが製作される。
【0017】
この際、アンカー部分の縁部Bに形成されたMEMS構造物層360によりアンカー部分と駆動部の連結部分に側壁Cが形成されることにより、図3fに示したように、連結部分と隣接した犠牲層350はエッチング液により除去されず残される。
前述した図3e及び図3fに示された工程の詳細な説明は本発明の出願人と同一な出願人が既出願した日本国特願2002−357674号(発明の名称:詰まった犠牲層支持台を有するMEMS構造物及びその製作方法)に詳しく記載されている。
【0018】
以上のように、接触部であるRFライン340と、電極部である絶縁層330に埋め込み構造で形成された駆動電極320間の段差を平坦化工程を通じて除去することにより、信頼性が向上し、かつ安定した駆動性を有するMEMSリレーを製作することができる。
また、従来に比べて駆動電極層320に絶縁膜330を形成する工程が省かれるので製作工程が簡単化される。
一方、アンカー部Aと駆動部360の連結部分に形成された側壁Cによりアンカー部分の犠牲層を残すことによりさらに堅固なMEMS素子を製作することができる。
【0019】
図4aないし図4gは本発明に係る静電駆動型MEMSリレーの他の実施例で、基板410上に形成され駆動電極層420の厚さをRFラインである金属層440の厚さと段差なしで形成して平坦化工程を進む製作工程を順次に示す図である。
まず、図4aに示すように、基板410上に静電駆動のためにパターニングされ形成される駆動電極層420を所定の厚さで形成し、図4bに示すように、絶縁層430を駆動電極層420が形成された基板410上に積層する。その後、MEMSリレーのアンカー部分AとRFラインである接触部の領域をパターニングしてエッチングする。
【0020】
次いで、図4cに示すように、金属層440をアンカー部分と接触部の領域がエッチングされた基板410上に所定の厚さで積層する。
金属層440が所定の厚さで積層された基板をポリシングにより平坦化工程を行う。図4dに示すように、駆動電極層420が露出するまでポリシングを行う。また、RFラインである金属層440の厚さは、表皮深さ効果を考慮して2ないし3μmの厚膜で形成されるようポリシングする。
次いで、図4eに示すように、駆動電極層420を取り囲む絶縁膜450を形成する。従って、接触部である金属層440と、駆動電極層420が従来に比べて平坦化して形成される。
【0021】
次いで、図4f及び図4gの製作工程は、前述した一実施例の図3e及び図3fの製作工程と同一な既に出願された韓国特許出願2001−80358に記載された内容と同じなので、その説明は省略する。
以上のように、RFライン440と駆動電極420との段差を除去することにより、以降の工程で製作されるMEMS構造物層470である駆動部の変形を防ぐことができ、さらに堅固なMEMS素子を製作することができる。
従って、信頼性が向上し、かつ安定した駆動性を有するMEMSリレーが製作できる。
【0022】
【発明の効果】
以上述べた通り、本発明によれば平坦化工程によりRFラインと駆動電極との段差を除去することにより、以降の工程である駆動電極の静電力により駆動する駆動部を形成するMEMS構造物層の変形を防ぐことができる。
また、アンカー部分と駆動部の連結部分に形成された側壁によりアンカー部分の犠牲層を残すことにより一層堅固なMEMS素子を製作することができる。
以上では本発明の望ましい実施例について示しかつ説明したが、本発明は前述した特定の実施例に限らず、請求の範囲で請求する本発明の要旨を逸脱せず当該発明の属する技術分野において通常の知識を持つ者ならば誰でも多様な変形実施が可能なことは勿論、そのような変更は請求の範囲の記載の範囲内にある。
【図面の簡単な説明】
【図1】一般のMEMS素子の概略的側断面図。
【図2a】一般の静電駆動型MEMS素子の製作工程を順次に示す図。
【図2b】一般の静電駆動型MEMS素子の製作工程を順次に示す図。
【図2c】一般の静電駆動型MEMS素子の製作工程を順次に示す図。
【図2d】一般の静電駆動型MEMS素子の製作工程を順次に示す図。
【図2e】一般の静電駆動型MEMS素子の製作工程を順次に示す図。
【図3a】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図3b】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図3c】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図3d】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図3e】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図3f】本発明に係る静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の一実施例を順次に示す図。
【図4a】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4b】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4c】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4d】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4e】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4f】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
【図4g】本発明に係る他の静電駆動型RF MEMSリレーの製作工程の他の実施例を順次に示す図。
Claims (20)
- 基板について固定される固定部と、該固定部と連結され前記基板上に浮き上がる駆動部と、該駆動部を所定の駆動力によって駆動させる駆動電極と、駆動力により駆動する前記駆動部を選択的にスイッチングする接触部とを備えたMEMS素子の製作方法において、
前記基板上に前記駆動電極をパターニングする段階と、
前記駆動電極が形成された前記基板上に絶縁層を形成する段階と、
前記絶縁層をパターニングして前記固定部と前記接触部が形成される領域の前記絶縁層をエッチングする段階と、
エッチングされた前記固定部と前記接触部の領域を含む前記基板上に金属層を形成する段階と、
前記絶縁層が露出される時点に対応して前記金属層を平坦化する段階と、を備えることを特徴とするMEMS素子の製作方法。 - 前記絶縁層を形成する段階において、前記絶縁層は少なくとも前記駆動電極より厚膜で形成し、前記駆動電極は前記絶縁層について埋め込み構造を有することを特徴とする請求項1に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記金属層を平坦化する段階遂行後、前記基板上に犠牲層を積層する段階と、前記犠牲層をパターニングして前記固定部が形成される領域に対応する領域の少なくとも一部分を取り囲む空間を形成する段階と、
前記犠牲層上にMEMS構造物層を積層して前記空間内に側壁を形成し、前記犠牲層上に前記固定部と前記駆動部を形成する段階と、
前記犠牲層をエッチング液で除去する段階をさらに備え、
前記除去段階では、前記固定部に対応する前記犠牲層の一部分に前記側壁により前記エッチング液の供給が遮断され、前記犠牲層のうち前記側壁により取り囲まれた部分を除いた残り部分が除去されることを特徴とする請求項1に記載のMEMS素子の製作方法。 - 前記空間形成段階において、前記空間は前記固定部と前記駆動部とを連結する連結部に対応する部位を除いた残り部位の実質的な全区間に亘って形成されることを特徴とする請求項3に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記連結部は前記固定部よりその幅が狭いことを特徴とする請求項3に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記除去段階遂行前、前記MEMS構造物層にエッチングホールを形成する段階をさらに備えることを特徴とする請求項3に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記エッチングホールは前記駆動部に形成されることを特徴とする請求項3に記載のMEMS素子の製作方法。
- 基板について固定される固定部と、該固定部と連結され前記基板上に浮き上がる駆動部と、該駆動部を所定の駆動力により駆動させる駆動電極と、前記駆動部を選択的にスイッチングする接触部を具備したMEMS素子の製作方法において、
前記基板上に前記駆動電極をパターニングして形成する段階と、
前記駆動電極が形成された前記基板上に絶縁層を形成する段階と、
前記絶縁層をパターニングして前記固定部と前記接触部が形成される領域の前記絶縁層をエッチングする段階と、
エッチングされた前記固定部と前記接触部の領域を含む前記基板上に金属層を形成する段階と、
前記駆動電極が露出される時点に対応して前記金属層を平坦化する段階と、
前記駆動電極と前記駆動部が電気的に開放されるよう前記駆動電極を取り囲む絶縁膜を形成する段階と、を備えることを特徴とするMEMS素子の製作方法。 - 前記絶縁膜を形成する段階遂行後、前記基板上に犠牲層を積層する段階と、
前記犠牲層をパターニングして前記固定部が形成される領域に対応する領域の少なくとも一部分を取り囲む空間を形成する段階と、
前記犠牲層上にMEMS構造物層を積層して前記空間内に側壁を形成し、前記犠牲層上に前記固定部と前記駆動部を形成する段階と、
前記犠牲層をエッチング液で除去する段階をさらに備え、
前記除去段階では、前記固定部に対応する前記犠牲層の一部分に前記側壁により前記エッチング液の供給が遮断され、前記犠牲層のうち前記側壁により囲まれた部分を除いた残り部分が除去されることを特徴とする請求項8に記載のMEMS素子の製作方法。 - 前記空間形成段階において、前記空間は前記固定部と前記駆動部とを連結する連結部に対応する部位を除いた残り部位の実質的な全区間に亘って形成されることを特徴とする請求項9に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記連結部は前記固定部よりその幅が狭いことを特徴とする請求項9に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記除去段階遂行前、前記MEMS構造物層にエッチングホールを形成する段階をさらに備えることを特徴とする請求項9に記載のMEMS素子の製作方法。
- 前記エッチングホールは前記駆動部に形成されることを特徴とする請求項9に記載のMEMS素子の製作方法。
- 基板について固定された固定部と、
該固定部と連結され前記基板上に浮き上がる駆動部と、
該駆動部を駆動させる電極部と、
前記駆動部をスイッチングする接触部を含み、
前記電極部と前記接触部は前記基板上に平坦に形成されることを特徴とするMEMS素子。 - 前記電極部は、
前記電極と、前記駆動部と前記電極が電気的に開放されるよう前記電極を取り囲む絶縁層を含み、
前記電極は前記絶縁層について埋め込み構造で形成されることを特徴とする請求項14に記載のMEMS素子。 - 前記固定部と、前記基板の間に介されて前記固定部を前記基板上に固定させるアンカーと、
前記アンカーの側面に少なくとも一部分を取り囲む側壁をさらに備えることをことを特徴とする請求項14に記載のMEMS素子。 - 前記側壁は、前記固定部と前記駆動部とを連結する連結部に対応する部位を除いた残り部位の実質的な全区間に亘って形成されることを特徴とする請求項15に記載のMEMS素子。
- 前記連結部は、前記固定部より狭幅であることをことを特徴とする請求項15に記載のMEMS素子。
- 前記側壁、前記固定部及び前記駆動部は一体に形成されることを特徴とする請求項15に記載のMEMS素子。
- 前記側壁は前記基板と接触することを特徴とする請求項15に記載のMEMS素子。
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