JP2003504894A - デバイスを封入するためのラミネート - Google Patents

デバイスを封入するためのラミネート

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Abstract

(57)【要約】 電気デバイスの封入を開示する。該封入は、電気デバイスの表面にラミネーティングされるプラスチック基板からなる。ラミネーティングされたプラスチックの使用は、特に有機LEDのようなフレキシブル電気デバイスのために有用である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】発明の分野 本発明は、デバイスの製造に関する。より詳細には、本発明は、デバイスのパ
ッケージングに関する。
【0002】発明の背景 デバイス製造の際には、単数又は複数のデバイス層が基板上に形成される。該
層は、基板の表面上に順番に堆積されかつパターンを形成するためにパターン化
される。該層は、所望のパターンを形成するために個別に及び/又は層の組合せ
としてパターン化することができる。該パターンは、デバイスを作る所望の機能
を実施する構成成分として働く。
【0003】 特別の重要性を有する1つのタイプのデバイスは、発光ダイオード(LED)
である。LEDは、多種多様な用途を有することができる。例えば、複数のLE
Dセル又はピクセルを、電話、コンピュータディスプレイ、TVスクリーン、及
び同種のもののためのフラットパネルディスプレイ(FPD)のような、ディス
プレイとして使用するためのピクセル化LEDを作るために基板上に形成するこ
とができる。
【0004】 典型的には、LEDピクセルは、機能スタックを形成するために2つの電極の
間に挟まれた1つ以上の機能層を有する。電荷キャリアは、両者の電極から注入
される。これらの電荷キャリアは、単数又は複数の機能層内で再結合し、可視放
射を放出させる。最近では、有機発光ダイオード(OLED)を形成するために
有機機能層を利用することが重要な利点を有するようになった。
【0005】 OLEDピクセルは、環境に対して極めて敏感である。湿気及び/又は空気に
曝されるとOLEDの急速な分解が惹起され、信頼性の問題が生じる。該層を形
成するために使用される物質の幾つかは、敏感な有機化合物及びカルシウム及び
マグネシウムのような若干の反応性金属である。これらの材料は、酸素及び/又
は湿気の存在下での酸化によって惹起される損傷を極端に受けやすい。従って、 OLEDを環境から適当に保護するパッケージが必要である。さらに、このパ
ッケージは総合的製造コスト及び時間を軽減させるために高い処理量のためにコ
スト的に有利でありかつ可能にすべきである。
【0006】発明の総括 本発明は、デバイスのパッケージングに関する。本発明によれば、デバイスを
ラミネートを使用してパッケージングする。1実施例においては、ラミネートを
デバイス上の上面及び底面上に配置する。該ラミネートをデバイスに対してプレ
スし、かつラミネートをデバイスに付着させるシーラントを活性化するために加
熱する。実施例においては、ラミネートをローラを使用してプレスしかつ加熱す
る。
【0007】本発明の有利な実施例 本発明は一般的に、デバイスの製造に関する。特に、本発明は、デバイス、特
にフレキシブル又は薄い基体上に形成されたデバイスを封入するためのコスト的
に有効なパッケージを提供する。
【0008】 図1は、本発明の1実施例に基づくデバイス110の断面図を示す。該デバイ
スは、例えば電気、機械、電気化学デバイスであってよい。またマイクロエレク
トロ機械的系(MEMS)も使用可能である。該デバイスは、基板上に形成され
た単数又は複数の能動素子を有する。能動素子は、所望の電気的及び/又は機械
的機能を提供する。
【0009】 デバイスの全体的厚さを減少させるために、能動素子は0.3mm未満のよう
な薄い基板上に形成することができる。薄いフレキシブル基板上に能動素子を形
成することもフレキシブルデバイスを提供するために使用可能である。基板は、
例えばプラスチック、ポリマー、シリコン、セラミック、ガラス又は石英ガラス
からなる。半導体基板のような、別のタイプの基板を使用することもできる。薄
い基板は、処理中の及びその後に構成素子を支持するために適切な機械的統合を
提供すべきである。典型的には、薄い基板は約20〜300μmである。
【0010】 1実施例においては、デバイス101はピクセル化されたOLEDデバイスの
ような電気デバイスからなる。能動素子に対する電気的接続を可能にする端子又
はピン(図示せず)が設けられている。OLEDデバイスは、例えば米国特許第
4,720,732号明細書及びBurrouges et. al, Nature 347 (1990) 539に記
載されており、これらは全ての目的のために引用することにより本願発明に組み
込まれる。OLEDデバイスは、FPDを形成するために配列されていてもよい
。FPDは、セルラー・フォーン、セルラー・スマート・フォーン、パーソナル
・オルガナイザー、ページャー、公告パネル、タッチ・スクリーン・ディスプレ
イ、テレコンフェレンシング装置、マルチメディア装置、虚像リアリティ製品、
及びディスプレイ・キオスクを含む種々の消費者電子製品において使用される。
1実施例においては、有機LEDデバイスは、例えばフレキシブルFPDを作る
、曲げを提供するためのフレキシブル基板からなる。
【0011】 OLEDピクセルは、基板105上に形成された材料である。1実施例におい
ては、基板は透明な基板からなりかつディスプレイ表面として働く。基板をラミ
ネート120を支持するためにする。例えばラミネートを支持するためにOLE
Dを包囲する支柱130を設ける。ラミネートはデバイスをカバーしかつ構成素
子を気密にシールし、それらを環境から保護する。デバイスは、ラミネートのた
めの支柱を提供するために不活性領域内に支持ポスト(図示せず)を有すること
もできる。これはラミネートが構成素子上につぶれかつデバイスの機能に影響を
及ぼすのを阻止する。支持ポストは、特にフレキシブルデバイスのために有用で
ある。不活性領域に支持ポストを設けるために、該デバイスは、名称「デバイス
の封入(Encapsulation of a Device)」(代理人整理番号99E1975)の
同時に出願した国際特許出願に記載されており、これは全ての目的のために引用
することにより本願発明に組み込まれる。
【0012】 デバイスの反対側116をカバーするために、第2のラミネート121をこと
ができる。図示されているように、反対側は基板の底面からなる。第2のラミネ
ートは基板をシールし、空気及び/又は湿気の拡散を阻止する。該ラミネートは
、有機ディスプレイ表面を例えば引掻から保護することもできる。ディスプレイ
に可視性を提供するためには、透明なラミネートを使用する。
【0013】 1実施例においては、ラミネートはフレキシブル材料からなる。フレキシブル
ラミネートは、フレキシブル基板上に形成されるようなフレキシブルデバイスと
共に特に有用である。光学的要求に基づき、透明又は不透明なラミネートを使用
することができる。例えば、有機OLEDのディスプレイ面は、透明なラミネー
トで封入する。非ディスプレイ面のためと同様に、ラミネートの光学特性は重要
でない。
【0014】 ラミネートをデバイスに付着させ、湿気及び空気から構成素子を保護するため
に該構成素子をシールするシーラントを使用する。シーラントは、1実施例にお
いては、デバイスの完全なシーリングを保証するために所定の温度(活性化温度
)で流動することができる。シーラントの活性化温度は、デバイスの構成素子が
損傷するのを十分に回避するために十分な低さであるべきである。
【0015】 図2は、本発明の1実施例に基づきデバイスを封入するためのラミネート20
0を示す。図示されているように、ラミネート基板は有利には付着工程中にその
機械的統合を維持するために十分な熱的安定性を有する材料からなる。ラミネー
ト基板の厚さは、基板材料に依存する。典型的には、ラミネート基板の厚さは、
約10〜400μmである。ラミネート基板の厚さは、全体的装置厚さを減少さ
せるために可能な限り薄いべきである。
【0016】 1実施例においては、基板は、プラスチックフィルムのようなフレキシブル材
料からなる。種々の市販のプラスチックフィルムが使用可能である。このような
フィルムは、例えば透明なポリ(エチレンテレフタレート)(PET)、ポリ(
ブチレンテレフタレート)(PBT)、ポリ(エチレンナフフタレート)(PE
N)、ポリカーボネート(PC)、ポリイミド(PI)、ポリスルホン(PSO
)、及び(p−フェニレンエーテルスルホン)(PES)を包含する。ポリエチ
レン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリ(ビニルクロリド)、ポリスチレ
ン(PS)及びポリ(メチルメチレアクリレート)(PMMA)のような別のフ
ィルムも使用することもできる。
【0017】 酸素及び/又は湿気の拡散を阻止するために基板の表面上にバリア層220を
形成し、それによりデバイスを保護する。基板材料が酸素及び/又は湿気の拡散
を阻止することができれば、バリア層の使用は回避することができる。有利には
、バリアはラミネートの内部表面(デバイスに面する表面)に形成する。このよ
うにして、基板はバリア層を損傷から保護する。バリア層の厚さは、酸素及び/
又は湿気の拡散を阻止するために十分であるべきである。フレキシブルな適用の
ためには、バリア層はデバイスの可撓性を阻害しないようにできる限り薄いべき
である。典型的には、バリア層の厚さは約5〜5000nmである。1実施例に
おいては、バリア層を一層十分な保護のために両面で被覆する。
【0018】 1実施例においては、バリア層は、銅又はアルミニウムのような金属フィルム
からなる。酸素及び/又は湿気バリアとして働く別の金属フィルム、例えばセラ
ミックも使用可能である。金属バリア層は、基板に種々の堆積技術、例えば熱蒸
着、スパッタリング、化学気相成長(CVD)又はプラズマCVD(PEVD)
によって被覆することができる。選択的には、バリア被膜は、基板表面に直接的
に接着又は積層することができる。透明な適用のためには、バリア層は、誘電性
材料、例えば一酸化シリコン(SiO)、酸化シリコン(SiO)、二酸化シ
リコン(SiO)、窒化シリコン(Si)、又は金属酸化物、例えば酸
化アルミニウム(Al)からなっていてもよい。酸素及び/又は湿気の拡
散を阻止する別の誘電性材料を、バリア層として働かすことも有効である。誘電
性バリア層は、熱酸化、CVD又はPECVDのような種々の堆積により基板上
に形成することができる。
【0019】 バリア層の上に、シーラント又は接着剤層230を設ける。シーラント層は、
加熱条件下で圧縮すれば、電気デバイスの表面に付着力を提供する。有利には、
シーラントは、高めた温度で活性化し、ラミネートをデバイスの表面に付着させ
かつ構成素子をシールすべきである。ラミネートとデバイスとの間の良好なシー
リングを保証するために、シーラントは活性化温度で僅かに流動すべきである。
活性化温度は、能動素子の化学及び/又は物理特性を変化させるような、デバイ
スに損傷を与える温度よりも低いべきである。有利には、シーラントの活性化温
度は、可能な限り低いべきである。例えば、活性化温度は約80〜140℃であ
る。
【0020】 1実施例においては、シーラントはホットメルトタイプ接着剤である。異なっ
たポリマー及び/又は添加物を含むポリマー混合物も使用可能である。有利には
、シーラントは、エチレンビニルアセテート樹脂、エチレンエチルアクリレート
樹脂からなる。別のタイプのシーラント、例えば低密度ポリエチレン、エチレン
−ビニルアセテート樹脂、エチレン−エチルアクリレート樹脂を含むコポリマー
も使用可能である。シーラントは、通常の技術を使用してラミネートの表面に被
覆することができる。
【0021】 場合により、ラミネートの外表面上に保護層240を形成することができる。
保護層は、例えば基板が引掻傷を受けることから保護する硬質被膜として働くポ
リマー樹脂からなる。選択的に、さらなる処理、例えば基板付加的な層を付着さ
せるために、基板の外表面上にに付着層を形成することができる。これらの付加
的層は、例えばカラーフィルタ、偏光子又はグレア防止フィルムを包含すること
ができる。
【0022】 図3〜5は、本発明の1実施例に基づくデバイスを封入する方法を示す。図3
について言及すれば、デバイス301が示されている。該デバイスは、例えばピ
クセル化OLEDデバイスからなる。別の電気デバイス、例えばセンサアレイ又
はMEMSも使用可能である。有利には、デバイスはフレキシブル又は薄い基板
上に形成する。
【0023】 能動素子をカバーするためにデバイス上に第1のラミネート310を配置する
。必要により、デバイスの底面上に第2のラミネート320を配置する。光学的
要求に基づき、ラミネートは透明又は不透明であってもよい。例えば、OLED
デバイスのディスプレイ表面上では透明ラミネートを使用する。ラミネートの内
部表面は、デバイスの表面に対してラミネートをシールするためのシーラントか
らなる。
【0024】 図4について言及すれば、ラミネーティング工具401を準備する。該ラミネ
ーティング工具401は、例えば第1及び第2のローラ420及び425からな
る。これらのローラはゴムから製造することができる。シリコーンのような別の
材料も使用することができる。操作中に、ローラを加熱されかつ回転させる。ロ
ーラは、矢印により示されているように、デバイスをその上のラミネートと一緒
にローラにより引き込むように反対方向に回転する。
【0025】 デバイスはローラによって引き込まれるので、ラミネートは加熱されかつデバ
イスの上に圧縮される。ローラにより及ぼされる圧力は、デバイスをクラッシュ
するか又は損傷を及ぼすことなく適切にシールするために十分であるべきである
。典型的には、ローラにより及ぼされる圧力は約1〜500kN/mである。
ラミネートをシーラントの活性化温度より高い温度に加熱する。処理温度は、可
能な限り低く、例えばシーラントの活性化温度よりも僅かに高く保つべきである
。ローラの速度は、デバイスへのラミネートの完全なシーリングを保証するため
に調節することができる。
【0026】 図5に関して言及すれば、デバイスはローラにより引き込まれた後に、図示さ
れているようにデバイス500を形成すために封入工程を実施する。本発明は、
記載のように、デバイスの封入を如何なる気化可能の化学物質をも含まない環境
内で実施する。このことは、活性素子の化学物質からの腐食の可能性が回避され
、ひいては歩留りが改善されるので有利である。さらに、封入工程を、処理量を
増大させかつロープロセス時間(raw process time)を減少させる連続的及び平
行処理を提供するように変更することができる。例えば、大きなラミネートを使
用し、それらの間に複数のデバイスを挟むことができる。そうして、ラミネート
をローラを通して処理し、複数のデバイスを封入する。次いで、デバイスを封入
後に分離することができる。
【0027】 本発明を特に種々の実施例を参照して示しかつ記載してきたが、当業者によれ
ば、本発明の思想及び範囲を逸脱することなく本発明に修正及び変更を加えるこ
とができることは自明のことである。従って、本発明の範囲は、前記発明の詳細
な説明の記載により制限されるものではなく、特許請求の範囲とそれらの等価思
想の全範囲を加えたものより制限されるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の1実施例を示す図である。
【図2】 本発明の1実施例に基づく電気デバイスを封入するためのラミネートを示す図
である。
【図3】 電気デバイスの封入法を示す図である。
【図4】 電気デバイスの封入法を示す図である。
【図5】 電気デバイスの封入法を示す図である。
【符号の説明】
105 基板、 110,301,500 デバイス、 デバイスの背面、
12,200 ラミネート、150 支柱、 121 第2のラミネート、 1
16 デバイスの背面、 210 ラミネート基板、 220 バリア層、 2
30 接着剤層、 240 保護層、 310 第1のデバイス、320 第2
のデバイス、 401 ラミネーティング工具、 420 第1のローラ、 4
25 第2のローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,UG,ZW),E A(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU,TJ ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ,BA ,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,CU, CZ,DE,DK,EE,ES,FI,GB,GE,G H,GM,HR,HU,ID,IL,IN,IS,JP ,KE,KG,KP,KR,KZ,LC,LK,LR, LS,LT,LU,LV,MD,MG,MK,MN,M W,MX,NO,NZ,PL,PT,RO,RU,SD ,SE,SG,SI,SK,SL,TJ,TM,TR, TT,UA,UG,US,UZ,VN,YU,ZA,Z W (72)発明者 エヴァルト カール ミヒャエル ギュン ター シンガポール国 シンガポール メープル ウッズ ブキート ティマー ロード ナ ンバー03−11 991 (72)発明者 ウェイ ワン シンガポール国 ダネラン ロード 408 ダナーン ロッジ ナンバー03−03 (72)発明者 スー チン チュア シンガポール国 シンガポール チェン スーン クレセント 37 Fターム(参考) 4M109 AA01 BA05 CA22 DB16 EA01 EE03 GA01 5F061 AA01 BA05 CA22 CB02 CB06 DE03 FA01

Claims (85)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板、 基板の上面に形成された少なくとも1つの能動素子、及び デバイスを封入する、基板の上表面の上の第1のラミネート からなるデバイス。
  2. 【請求項2】 デバイスがOLEDデバイスからなる請求項1記載のデバイ
    ス。
  3. 【請求項3】 基板が能動素子を支持する請求項2記載のデバイス。
  4. 【請求項4】 基板がフレキシブル基板からなる請求項3記載のデバイス。
  5. 【請求項5】 基板材料が、ポリマー、ガラス、セラミック、又は半導体材
    料からなる材料の群から選択される請求項4記載のデバイス。
  6. 【請求項6】 基板が透明な基板からなる請求項3記載のデバイス。
  7. 【請求項7】 基板材料が、ポリマー又はガラスからなる材料の群から選択
    される請求項6記載のデバイス。
  8. 【請求項8】 基板が透明なフレキシブル基板からなる請求項3記載のデバ
    イス。
  9. 【請求項9】 基板材料が、ポリマー又はガラスから選択される材料からな
    る請求項8記載のデバイス。
  10. 【請求項10】 基板が能動素子を支持する請求項1記載のデバイス。
  11. 【請求項11】 基板がフレキシブル基板からなる請求項10記載のデバイ
    ス。
  12. 【請求項12】 基板材料が、ポリマー、ガラス、セラミック、又は半導体
    材料からなる材料の群から選択される請求項11記載のデバイス。
  13. 【請求項13】 基板が透明な基板からなる請求項10記載のデバイス。
  14. 【請求項14】 基板材料が、ポリマー又はガラスからなる材料の群から選
    択される請求項13記載のデバイス。
  15. 【請求項15】 基板が透明なフレキシブル基板からなる請求項10記載の
    デバイス。
  16. 【請求項16】 基板材料が、ポリマー又はガラスから選択される材料から
    なる請求項15記載のデバイス。
  17. 【請求項17】 さらに底面上に第2のラミネートを有し、その際第2のラ
    ミネートが透明なラミネートからなる請求項6,7,8,9,13,14,15
    又は16記載の方法。
  18. 【請求項18】 ラミネートが ラミネート基板、及び デバイスに接触する、前記ラミネート基板上のシーラントからなる請求項17記
    載のデバイス。
  19. 【請求項19】 ラミネート基板が、処理中に機械的統合を維持するために
    十分な熱安定性を有する請求項18記載のデバイス。
  20. 【請求項20】 ラミネート基板がプラスチック材料からなる請求項19記
    載のデバイス。
  21. 【請求項21】 プラスチックラミネート基板が、ポリ(エチレンテレフタ
    レート)、ポリ(ブチレンテレフタレート)、ポリ(エチレンナフタレート)、
    ポリカーボネート、ポリイミド、ポリスルホン、ポリ(p−フェニレンエーテル
    スルホン)、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ(ビニルクロリド)、ポリス
    チレン、又はポリ(メチルメチレアクリレート)から選択される請求項20記載
    のデバイス。
  22. 【請求項22】 シーラントが、ラミネートとデバイスの間の良好なシール
    を保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項21記載の
    デバイス。
  23. 【請求項23】 活性化温度が、デバイスを損傷する温度未満である請求項
    22記載のデバイス。
  24. 【請求項24】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項23記載のデバイス。
  25. 【請求項25】 バリア層が、金属もしくは誘電性材料からなる群から選択
    される請求項24記載のデバイス。
  26. 【請求項26】 金属材料が銅又はアルミニウムからなりかつ誘電性材料が
    一酸化シリコン、酸化シリコン、二酸化シリコン、窒化シリコン(Si
    、金属酸化物からなる請求項25記載のデバイス。
  27. 【請求項27】 シーラントが、ラミネートとデバイスのあいだの良好なシ
    ールを保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項26記
    載のデバイス。
  28. 【請求項28】 活性化温度が、デバイスを損傷する温度未満である請求項
    27記載のデバイス。
  29. 【請求項29】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項18記載のデバイス。
  30. 【請求項30】 バリア層が、金属もしくは誘電性材料からなる群から選択
    される請求項29記載のデバイス。
  31. 【請求項31】 さらに基板の底面上の第2のラミネートを有する請求項3
    ,4,5,10,11又は12記載のデバイス。
  32. 【請求項32】 ラミネートが、 ラミネート基板及び デバイスに接触する、ラミネート基板の表面上のシーラント からなる請求項31記載のデバイス。
  33. 【請求項33】 ラミネート基板が、処置中に機械的統合を維持するために
    十分な熱安定性を有する材料からなるる請求項32記載のデバイス。
  34. 【請求項34】 ラミネート基板がプラスチック材料からなる請求項33記
    載のデバイス。
  35. 【請求項35】 プラスチックラミネート基板が、ポリ(エチレンテレフタ
    レート)、ポリ(ブチレンテレフタレート)、ポリ(エチレンナフタレート)、
    ポリカーボネート、ポリイミド、ポリスルホン、ポリ(p−フェニレンエーテル
    スルホン)、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ(ビニルクロリド)、ポリス
    チレン、又はポリ(メチルメチレアクリレート)から選択される請求項34記載
    のデバイス。
  36. 【請求項36】 シーラントが、ラミネートとデバイスの間の良好なシール
    を保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項35記載の
    デバイス。
  37. 【請求項37】 活性化温度が、デバイスを損傷する温度未満である請求項
    36記載のデバイス。
  38. 【請求項38】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項37記載のデバイス。
  39. 【請求項39】 バリア層が、金属もしくは誘電性材料からなる群から選択
    される請求項38記載のデバイス。
  40. 【請求項40】 金属材料が銅又はアルミニウムからなりかつ誘電性材料が
    一酸化シリコン、酸化シリコン、二酸化シリコン、窒化シリコン(Si
    、金属酸化物からなる請求項39記載のデバイス。
  41. 【請求項41】 シーラントが、ラミネートとデバイスの間の良好なシール
    を保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項32記載の
    デバイス。
  42. 【請求項42】 活性化温度が、デバイスを損傷する温度未満である請求項
    41記載のデバイス。
  43. 【請求項43】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項32記載のデバイス。
  44. 【請求項44】 バリア層が、金属もしくは誘電性材料からなる群から選択
    される請求項43記載のデバイス。
  45. 【請求項45】 ラミネートが、 ラミネート基板及び デバイスに接触する、ラミネート基板の表面上のシーラント からなる請求項2,3又は10記載のデバイス。
  46. 【請求項46】 ラミネート基板が、処置中に機械的統合を維持するために
    十分な熱安定性を有する材料からなる請求項45記載のデバイス。
  47. 【請求項47】 シーラントが、ラミネートとデバイスの間の良好なシール
    を保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項46記載の
    デバイス。
  48. 【請求項48】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項47記載のデバイス。
  49. 【請求項49】 シーラントが、ラミネートとデバイスの間の良好なシール
    を保証するためのシーラントを流動させる活性化温度を有する請求項45記載の
    デバイス。
  50. 【請求項50】 ラミネートがラミネート上にバリア層を有し、該バリア層
    が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項45記載のデバイス。
  51. 【請求項51】 デバイスを製造する方法において、パッケージングする方
    法が、 上面に形成された少なくとも1つの能動素子を有する基板からなるデバイスを準
    備し、 基板の上面にラミネートを配置し、かつ ラミネートをデバイスに付着させるシーラントを活性化するためにデバイスに対
    してラミネートをプレスする ことからなること特徴とするデバイスの製造方法。
  52. 【請求項52】 デバイスがOLEDからなる請求項51記載の方法。
  53. 【請求項53】 基板がポリマー又はガラスから選択された材料からなる請
    求項52記載の方法。
  54. 【請求項54】 デバイスがフレキシブルOLEDからなる請求項51記載
    の方法。
  55. 【請求項55】 基板がポリマー又はガラスから選択される材料からなる請
    求項54記載の方法。
  56. 【請求項56】 デバイスがフレキシブルデバイスからなる請求項51記載
    の方法。
  57. 【請求項57】 さらにデバイスの底面上に第2のラミネートを配置するこ
    とよりなり、その際プレスがラミネートをデバイスに付着させるためにシーラン
    トを活性化する請求項51,52,53,54,55又は56記載の方法。
  58. 【請求項58】 シーラントが、デバイスに接触するラミネートの内部表面
    上に位置する請求項57記載の方法。
  59. 【請求項59】 さらにシーラントを活性化するためにラミネートを加熱す
    ることよりなる請求項58記載の方法。
  60. 【請求項60】 シーラントを流動させるためにためにラミネートを加熱す
    る請求項59記載の方法。
  61. 【請求項61】 ラミネートのプレスが、デバイスをラミネートと一緒に、
    ラミネートをデバイスに対してプレスするローラを通過させることよりなる請求
    項60記載の方法。
  62. 【請求項62】 ローラがラミネートを加熱してシーラントを活性化する請
    求項61記載の方法。
  63. 【請求項63】 ラミネートがバリア層を有する請求項62記載の方法。
  64. 【請求項64】 バリア層が空気又は湿気の拡散を阻止する請求項63記載
    の方法。
  65. 【請求項65】 ラミネートがフレキシブルラミネートからなる請求項64
    記載の方法。
  66. 【請求項66】 ラミネートのプレスが、デバイスをラミネートと一緒に、
    ラミネートをデバイスに対してプレスするローラを通過させることよりなる請求
    項58記載の方法。
  67. 【請求項67】 ローラがラミネートを加熱してシーラントを活性化する請
    求項66記載の方法。
  68. 【請求項68】 ラミネートの加熱がシーラントを流動させる請求項67記
    載の方法。
  69. 【請求項69】 ラミネートがフレキシブルラミネートからなる請求項68
    記載の方法。
  70. 【請求項70】 ラミネートがバリア層を有する請求項62記載の方法。
  71. 【請求項71】 シーラントが、デバイスに接触するラミネートの内部表面
    上に位置する請求項51,52,53,54,55又は56記載の方法。
  72. 【請求項72】 さらにシーラントを活性化するために加熱することよりな
    る請求項71記載の方法。
  73. 【請求項73】 ラミネートの加熱がシーラントを流動させる請求項72記
    載の方法。
  74. 【請求項74】 ラミネートのプレスが、デバイスをラミネートと一緒に、
    ラミネートをデバイスに対してプレスするローラを通過させることよりなる請求
    項73記載の方法。
  75. 【請求項75】 ローラがラミネートを加熱してシーラントを活性化する請
    求項74記載の方法。
  76. 【請求項76】 ラミネートがバリア層を有する請求項75記載の方法。
  77. 【請求項77】 ラミネートがフレキシブルラミネートからなる請求項76
    記載の方法。
  78. 【請求項78】 ラミネートのプレスが、デバイスをラミネートと一緒に、
    ラミネートをデバイスに対してプレスするローラを通過させることよりなる請求
    項71記載の方法。
  79. 【請求項79】 ローラがラミネートを加熱してシーラントを活性化する請
    求項78記載の方法。
  80. 【請求項80】 ラミネートの加熱がシーラントを流動させる請求項79記
    載の方法。
  81. 【請求項81】 ラミネートがフレキシブルラミネートからなる請求項80
    記載の方法。
  82. 【請求項82】 ラミネートがバリア層を有する請求項71記載の方法。
  83. 【請求項83】 ラミネートのプレスが、デバイスをラミネートと一緒に、
    ラミネートをデバイスに対してプレスするローラを通過させることよりなる請求
    項51記載の方法。
  84. 【請求項84】 ローラがラミネートを加熱してシーラントを活性化する請
    求項83記載の方法。
  85. 【請求項85】 ラミネートの加熱がシーラントを流動させる請求項84記
    載の方法。
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