JP2003186739A - 半導体記憶装置、制御装置及び半導体記憶装置の制御方法 - Google Patents

半導体記憶装置、制御装置及び半導体記憶装置の制御方法

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JP2003186739A
JP2003186739A JP2001380230A JP2001380230A JP2003186739A JP 2003186739 A JP2003186739 A JP 2003186739A JP 2001380230 A JP2001380230 A JP 2001380230A JP 2001380230 A JP2001380230 A JP 2001380230A JP 2003186739 A JP2003186739 A JP 2003186739A
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copy
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semiconductor memory
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Takehito Kayano
岳人 茅野
Hiroshi Horiuchi
浩 堀内
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】メモリセル内の複写を行う場合一つのコマンド
で複写動作を実行する半導体記憶装置及びその制御方法
を提供する。 【解決手段】copyコマンドが与えられると、メモリ
セルのブロックAより1ページ分のデータを読み出し
て,ページバッファへ格納され、格納された1ページ分
のデータをブロックBに書き込む。この時、ブロックB
のアドレスは内部ロジックで自動生成する、また、この
書き込み動作が完了すると、外部からの消去コマンドを
受領しなくても、自動的に複写元であるブロックAのデ
ータは消去される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置、
制御装置及び半導体記憶装置の制御方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体記憶装置として、例えば、不揮発
性メモリとして良く知られているフラッシュメモリがあ
り、例えばデジタルカメラの画像データの記憶媒体とし
て利用される。このフラッシュメモリは、外部のメモリ
コントローラ側からの読み出しコマンド、書き込みコマ
ンド及び消去コマンドそれぞれに応答し、内部で自動的
に読み出し処理、書き込み処理、及び消去処理をそれぞ
れ独立して実行する。このため、フラッシュメモリに
は、外部からのコマンドをデコードし、それぞれのコマ
ンド(命令)に応じた内部の処理を行う制御回路が内蔵
される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
コマンドは、単にデータを読み出したり、又は書き込ん
だり、あるいはセルブロックの消去を行うといった程度
の単独動作にとどまる。前述したように、フラッシュメ
モリは、デジタルカメラの画像データの記録媒体として
利用されたり、あるいは、携帯端末などの記録媒体とし
て利用されたりなど、広範に利用される。その場合、例
えば、メモリ内部で、あるブロックの1ページ分のデー
タを他のセルブロックに移動する複写(コピー)する機
能が求められる。
【0004】従来のように、読み出し、書き込み、及び
消去といった程度のコマンドしか有しないフラッシュメ
モリでは、外部のメモリコントローラ側で非常に煩雑な
制御を行う必要がある。例えば、メモリ内でデータの複
写を行う場合は、図6に示すように、複写元のブロック
の指定したページのデータをページバッファ(データレ
ジスタ)及び内部ロジック経由で一旦外部に読み出し
(リード、read)て保持し(図中、〜)、更に複写
先のブロックのアドレスを指定して外部に保持したデー
タを書き込んだ(ライト、Write)後、複写元のブロッ
クを消去(イレース、Erase)する(図中、〜)こ
とが必要である。つまり、3種類のコマンドを順次発行
し、各動作の完了を待たねばならない。
【0005】しかも、複写先のブロックにデータが書き
込まれている場合には、そのブロックに対して一旦消去
命令を与える必要もある。メモリセル内の複写を行う場
合は、このような煩雑な処理をシステム側が行うことを
余儀なくされ、多くの時間と処理ステップが必要とな
る。
【0006】本発明は、主として、このような問題を解
決するものであり、その目的は、一つのコマンドだけで
複写動作を可能とすることにより、高速なデータ処理を
実現する半導体記憶装置及びその制御方法を提供するこ
とにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体記憶
装置にあっては、それぞれページ単位で区分された複数
のブロックを有するメモリと、このメモリに接続され、
前記ブロックの読み出しデータ及び書き込みデータをペ
ージ単位で保持するデータレジスタと、外部からの複写
コマンドを受領すると、複写元の前記ブロックの前記デ
ータをページ単位で読み出して前記データレジスタに保
持し、この保持された前記データを複写先のブロックに
書き込むまでの一連の複写動作を実行する制御回路部と
を備える。
【0008】また、本発明に係る制御装置にあっては、
それぞれページ単位で区分された複数のブロックを有す
るメモリへのアクセスを制御する制御装置であって、こ
のメモリに接続され、前記ブロックの読み出しデータ及
び書き込みデータをページ単位で保持するデータレジス
タと、外部からの複写コマンドを受領すると、複写元の
前記ブロックの前記データをページ単位で読み出して前
記データレジスタに保持し、この保持された前記データ
を複写先のブロックに書き込むまでの一連の複写動作を
実行する制御回路部とを備えたこととする。
【0009】さらに、本発明に係る半導体記憶装置の制
御方法にあっては、それぞれページ単位で区分された複
数のブロックを有するメモリと、このメモリに接続さ
れ、前記ブロックの読み出しデータ及び書き込みデータ
をページ単位で保持するデータレジスタとを有する半導
体記憶装置の制御方法であって、外部からの複写コマン
ドを受領すると、複写元の前記ブロックの前記データを
ページ単位で読み出すステップと、この読み出された前
記データを前記データレジスタに保持するステップと、
この保持された前記データを複写先のブロックに書き込
むステップとを含む一連の複写動作を実行することとす
る。
【0010】前述した本発明にあっては、次の通りとし
てもよい。好ましくは、前記複写動作は、前記データを
前記複写先ブロックに書き込んだ後、前記複写元ブロッ
クの前記データを消去するステップを更に備えることと
する。
【0011】また、前記複写動作は、前記データを前記
複写先ブロックに書き込むに先立ち、当該ブロックのア
ドレスを自動生成することが好ましい。
【0012】さらに、一つの前記複写コマンドの受領に
よって、前記複写動作を所定の回数繰り返すこととして
もよい。
【0013】さらにまた、前記メモリは不揮発性メモリ
でもよい。加えて、前記半導体記憶装置はフラッシュメ
モリでもよい。
【0014】本発明の他の特徴については、添付図面及
び以降の記載により明らかにされる。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を説明す
る。本形態では、半導体記憶装置として不揮発性メモリ
セルを有するフラッシュメモリを例に採り説明する。
【0016】前述した従来技術では、図6に示すよう
に、複写処理を実行するにあたり、3つのコマンドを外
部から受け、外部とのデータ送受も含め、同図中〜
のステップを経て完了していた。これに対し、本発明に
係る一例では、基本的に、図1に示すように、一つの複
写コマンドを外部から受けるだけで、外部とのデータ送
受を行うことなく、フラッシュメモリ内部における二つ
のステップのみで、複写処理を完了することができ
る。すなわち、図1に示すように、複写(Copy)コマン
ドが与えられると、メモリセルのブロックAより1ペー
ジ分のデータを読み出して(リード)ページバッファ
(データレジスタ)へ格納する(図中)。次に、格納
された1ページ分のデータをブロックBへ書き込む(図
中)。この際、複写先のブロックBのアドレスは内部
ロジックで自動生成する。もちろん、後述するように、
外部から入力されたアドレスも受け付けてもよい。この
書き込み動作が完了すると、あらためて外部から消去コ
マンドを受領するまでもなく、自動的に複写元のブロッ
クAのデータを消去(イレーズ)しておく。
【0017】より具体的な実施例につき、図2のブロッ
ク図、図3のフローチャート、図4(a)(b)のタイ
ミングチャートを参照にして説明する。図2のブロック
図には、フラッシュメモリの内部構造の主要部が示され
ており、フラッシュメモリは、内部ロジック100、デ
ータレジスタ200、及びメモリセル300を有する。
内部ロジック100は、コマンドレジスタ110、回数
カウンタ120、コピー元アドレスカウンタ130、コ
ピー先アドレスカウンタ140、及びステータスレジス
タ150を構成要素として有している。
【0018】このような構成において、図2及び図3に
示すように、コピーコマンド“CXh”がコマンドレジ
スタ110に入力される(図3中、S10)。ここで、
コピーコマンド“CXh”中の“X”の値は、図5の図
表に示すように、コピーコマンドにおける“X”の値を
決める3ビット(“bit0”、“bit1”、“bi
t2”)の論理値表に基づいて定まる。すなわち、1ビ
ット目の“bit0”において、コピー先のアドレスが
指定入力される場合にはゼロ(“0”)の値となる一
方、同アドレスが内部で自動生成される場合には“1”
の値となる。また、2ビット目の“bit1”におい
て、コピーの回数を指定入力する場合には(“0”)の
値となる一方、同回数が固定(例えば1回)の場合には
“1”の値となる。さらに、3ビット目の“bit2”
において、コピー後に複写元のデータを消去しない場合
には(“0”)の値となる一方、消去する場合には
“1”の値となる。このようにして“X”の値が定まる
コピーコマンド“CXh”に応じて、指定すべき場合に
はコピー回数を回数カウンタ120へ入力するととも
に、コピー先アドレスをコピー先アドレスカウンタ14
0へ入力する(図3中、S20)。加えて、当然なが
ら、外部から指定されるコピー元アドレスをコピー元ア
ドレスカウンタ130へ入力する。
【0019】例えば図4(a)の事例では、コピー元ア
ドレスは“A1”乃至“A4”であり、コピーコマンド
Cpは“C0h”としている。つまり、コピー先アドレ
スを指定(“B1”乃至“B4”)するとともに、コピ
ー回数Nmも指定され、消去動作を行わないこととな
る。この事例では、その後のコマンドNmが“01h
“であるためコピー回数は1回となる。
【0020】一方、図4(b)の事例では、コピー元ア
ドレスは“A1”乃至”A4”であり、コピーコマンド
Cpは“C1h”としている。つまり、コピー先アドレ
スは指定せず内部で自動生成するとともに、コピー回数
Nmは指定され、尚且つ消去動作を行わないこととな
る。この事例では、その後のコマンドNmが“08h
“であるためコピー回数は8回となる。なお、図4
(a)(b)の事例に限らず、一つの複写コマンドで実
行させる連続した複写動作には様々な変形例が考えられ
る。
【0021】次に、図2に示すように、コピー元アドレ
スカウンタ130からアドレスAが与えられ、メモリセ
ル300からコピー元のデータが1頁分読み出されて
(図3中、S30)データレジスタ200へ格納され
る。コピー元アドレスのA1乃至Anのそれぞれの値が
1ページ分のデータの格納先を表しており、値“n
“は、入力されたコピー回数Nm、あるいは、固定の回
数に等しい。そして、コピー先アドレスカウンタ140
から得られたコピー先アドレスに基づき、データレジス
タ200に格納されたデータをメモリセル300へ書き
込む(図3中、S40)。
【0022】次に、コピーコマンドが入力された当初は
指定入力値あるいは固定値であるコピー回数から“1”
減算してあらたなコピー回数とし(図3中、S50)、
そのコピー回数がゼロ(“0”)に至らない限り(図3
中、S60:NO)、前述したS30乃至S60迄の読
み出し、書き込み、及びコピー回数減算の処理を続け
る。
【0023】コピー回数がゼロ“0”に至ると(図3
中、S60:YES)、予め入力されたコピーコマンド
“CXh”に基づき、コピー元アドレス(A1乃至A
n)のデータを消去すべき場合(図2中、“イレーズO
n”)は、消去し(図3中、S70:YES→S8
0)、そうでなければ消去しない(図3中、S70:N
O)。
【0024】そして、最後に、図4(a)(b)に示す
ように、ステータスリードコマンドStとして“70
h”を入力して、一連の複写作業が成功したか否かを確
認する(図3中、S90)。その結果は、コマンドOw
の値として、ステータスレジスタ150を経て外部へス
テータス出力が送出される。コピー先アドレスを内部で
生成した場合は、これに続いて、コピー先のアドレス
(B1乃至B4)を外部へ報告すべく出力する。
【0025】以上説明した事例にあっては、外部との複
写データの送受がないため、前述した図6に示すような
従来例に比べ、1ブロック(32ページ)分のデータの
複写に要する時間を100分の1以下に抑えることが可
能となる。
【0026】以上説明した、半導体記憶装置における動
作を司る動作ロジックコントロール回路や制御回路など
の制御部、並びに各種デコーダ等の周辺回路は、例えば
CQ出版社発行の雑誌「Interface」の1999年12
月号110頁に掲載された図3に示されるように、周知
のハードウエア構成で実現される。
【0027】なお、本実施形態では、半導体記憶装置と
してフラッシュメモリを採り上げたが、本発明は、他の
不揮発性記憶装置に適用可能であるとともに、不揮発性
以外の半導体記憶装置にも応用が可能である。
【0028】
【発明の効果】一つのコマンドだけで複写動作を内部で
処理可能とすることにより、データの複写処理の高速化
が図れる。外部との複写データの送受がないため、複写
時間を格段に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態に係る半導体記憶装置の
複写動作を示す制御ブロック図である。
【図2】 本発明の一実施形態に係る半導体記憶装置の
具体的な複写動作を示す制御ブロック図である。
【図3】 本発明の一実施形態に係る半導体記憶装置の
複写動作を示すフローチャートである。
【図4】 本発明の一実施形態に係る半導体記憶装置の
複写動作の具体例を示すタイミングチャートである。
【図5】 本発明の一実施形態に係る半導体記憶装置
の複写動作を実行させるための複写コマンドの一実例を
示す図表である。
【図6】 従来の半導体記憶装置の複写動作を示す制御
ブロック図である。
【符号の説明】
100 内部ロジック 200 データレジスタ 300 メモリセル 110 コマンドレジスタ 120 回数カウンタ 130 コピー元アドレスカウンタ 140 コピー先アドレスカウンタ 150 ステータスレジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5B025 AD00 AD01 AD04 AD05 AD08 AD15 AE05 5B060 AB18 CA18 DA04 MM19

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれページ単位で区分された複数の
    ブロックを有するメモリと、 このメモリに接続され、前記ブロックの読み出しデータ
    及び書き込みデータをページ単位で保持するデータレジ
    スタと、 外部からの複写コマンドを受領すると、複写元の前記ブ
    ロックの前記データをページ単位で読み出して前記デー
    タレジスタに保持し、この保持された前記データを複写
    先のブロックに書き込むまでの一連の複写動作を実行す
    る制御回路部と、 を備えたことを特徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 前記制御回路部は、前記複写動作におい
    て、前記データを前記複写先ブロックに書き込んだ後、
    前記複写元ブロックの前記データを消去することを特徴
    とする請求項1記載の半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記制御回路部は、前記複写動作におい
    て、前記データを前記複写先ブロックに書き込むに先立
    ち、当該ブロックのアドレスを自動生成することを特徴
    とする請求項1または2に記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 前記制御回路部は、一つの前記複写コマ
    ンドの受領によって、前記複写動作を所定の回数繰り返
    すことを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の
    半導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 前記メモリは不揮発性メモリであること
    を特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の半導体
    記憶装置。
  6. 【請求項6】 前記メモリはフラッシュメモリであるこ
    とを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の半導
    体記憶装置。
  7. 【請求項7】 それぞれページ単位で区分された複数の
    ブロックを有するメモリへのアクセスを制御する制御装
    置であって、 このメモリに接続され、前記ブロックの読み出しデータ
    及び書き込みデータをページ単位で保持するデータレジ
    スタと、 外部からの複写コマンドを受領すると、複写元の前記ブ
    ロックの前記データをページ単位で読み出して前記デー
    タレジスタに保持し、この保持された前記データを複写
    先のブロックに書き込むまでの一連の複写動作を実行す
    る制御回路部と、 を備えたことを特徴とする制御装置。
  8. 【請求項8】 前記制御回路部は、前記複写動作におい
    て、前記データを前記複写先ブロックに書き込んだ後、
    前記複写元ブロックの前記データを消去することを特徴
    とする請求項7記載の制御装置。
  9. 【請求項9】 前記制御回路部は、前記複写動作におい
    て、前記データを前記複写先ブロックに書き込むに先立
    ち、当該ブロックのアドレスを自動生成することを特徴
    とする請求項7または8に記載の制御装置。
  10. 【請求項10】 前記制御回路部は、一つの前記複写コ
    マンドの受領によって、前記複写動作を所定の回数繰り
    返すことを特徴とする請求項7乃至9のいずれかに記載
    の制御装置。
  11. 【請求項11】 前記メモリは不揮発性メモリであるこ
    とを特徴とする請求項7乃至10のいずれかに記載の制
    御装置。
  12. 【請求項12】 前記メモリはフラッシュメモリである
    ことを特徴とする請求項7乃至11のいずれかに記載の
    制御装置。
  13. 【請求項13】 それぞれページ単位で区分された複数
    のブロックを有するメモリと、このメモリに接続され、
    前記ブロックの読み出しデータ及び書き込みデータをペ
    ージ単位で保持するデータレジスタとを有する半導体記
    憶装置の制御方法であって、 外部からの複写コマンドを受領すると、 複写元の前記ブロックの前記データをページ単位で読み
    出すステップと、 この読み出された前記データを前記データレジスタに保
    持するステップと、 この保持された前記データを複写先のブロックに書き込
    むステップとを含む一連の複写動作を実行することを特
    徴とする半導体記憶装置の制御方法。
  14. 【請求項14】 前記複写動作は、前記データを前記複
    写先ブロックに書き込んだ後、前記複写元ブロックの前
    記データを消去するステップを更に備えることを特徴と
    する請求項13記載の半導体記憶装置の制御方法。
  15. 【請求項15】 前記複写動作は、前記データを前記複
    写先ブロックに書き込むに先立ち、当該ブロックのアド
    レスを自動生成するステップを更に備えることを特徴と
    する請求項13または14に記載の半導体記憶装置の制
    御方法。
  16. 【請求項16】 一つの前記複写コマンドの受領によっ
    て、前記複写動作を所定の回数繰り返すことを特徴とす
    る請求項13乃至15のいずれかに記載の半導体記憶装
    置の制御方法。
  17. 【請求項17】 前記メモリは不揮発性メモリであるこ
    とを特徴とする請求項13乃至16のいずれかに記載の
    半導体記憶装置の制御方法。
  18. 【請求項18】 前記メモリはフラッシュメモリである
    ことを特徴とする請求項13乃至17のいずれかに記載
    の半導体記憶装置の制御方法。
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