JP2008226245A - フラッシュメモリに基づくメモリシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】フラッシュメモリと、中央処理装置と、コピーバックプログラムの動作時に中央処理装置によって設定されるアドレス及び制御レジスタを具備し、ファームウエアの介入なしにレジスタに格納された情報に応じてフラッシュメモリのコピーバックプログラムの動作をハードウェア的に制御するフラッシュコントローラと、を備える。
【選択図】図1
Description
本発明の他の目的は、ハードウェアを介してコピーバック動作を制御できるフラッシュメモリに基づくメモリシステムを提供することにある。
例示的な実施の形態において、前記フラッシュコントローラは、前記コピーバックプログラムの動作の間に一連の命令、アドレス、及びデータをファームウエアの介入なしに生成する。
例示的な実施の形態において、前記ソースデータからエラーが検出されないとき、前記フラッシュコントローラは、前記アドレスレジスタに設定された情報に応じて、デスティネイションアドレス及び命令を前記フラッシュメモリに出力する。
例示的な実施の形態において、前記フラッシュコントローラは、前記制御レジスタに設定された情報に応じて、前記フラッシュメモリのコピーバックプログラムの動作を反復的に行う。
例示的な実施の形態において、前記コピーバックプログラムの動作の間に、前記フラッシュメモリの相異するプランでページデータが同時に複写される。
例示的な実施の形態において、前記コピーバックプログラムの動作の間に、前記フラッシュメモリの第1プランから第2プランへページデータが複写される。
例示的な実施の形態において、前記フラッシュコントローラは、前記制御レジスタのハードウェアコピーバックプログラム開始情報が設定される時に前記コピーバックプログラムの動作を制御する。
例示的な実施の形態において、前記フラッシュメモリに格納されるデータを一時格納する第1RAMをさらに含む。
例示的な実施の形態において、前記フラッシュコントローラ、前記中央処理装置、及び前記第1RAMは、システムバスに電気的に接続される。
例示的な実施の形態において、前記第2RAMは、前記システムバスと電気的に分離される。
例示的な実施の形態において、前記メモリシステムは、メモリカードを含む。
例示的な実施の形態において、前記繰り返しレジスタは、ソースページに対する読み出し動作が遂行される以前に繰り返し命令と共に入力される前記繰り返しデータを設定する。
例示的な実施の形態において、前記繰り返しレジスタは、ソースページに対する読み出し動作が行われた後にデスティネイションアドレスに対するプログラムの動作が行われる以前に繰り返し命令と共に入力される前記繰り返しデータを設定する。
例示的な実施の形態において、繰り返し命令が入力されるとき、前記制御ロジックは、コピーバックプログラムの動作を反復的に行うように、前記繰り返しレジスタに格納された前記繰り返しデータに応じて前記読み出し/プログラム回路を制御する。
例示的な実施の形態において、前記繰り返し命令は、ソースページに対する読み出し動作が遂行される以前に入力される。
例示的な実施の形態において、前記繰り返し命令は、ソースページに対する読み出し動作が行われた後に、デスティネイションアドレスに対するプログラムの動作が行われる以前に入力される。
例示的な実施の形態において、前記繰り返しデータは、ソースアドレスの入力を表す命令とデスティネイションアドレスの入力を表す命令との組み合わせによって前記繰り返しレジスタに設定される。
例示的な実施の形態において、前記コピーバックプログラムの動作の繰り返し時にエラーを検出するように構成されるエラー検出ブロックをさらに備える。
例示的な実施の形態において、前記コピーバックプログラムの動作の繰り返し時にエラーが検出されるとき、前記制御ロジックは、前記コピーバックプログラムの動作を終了し、状態読み出し命令に応じてフェイルされたページ情報を外部に出力する。
参照符号は、本発明の好ましい実施の形態に詳細に表示されており、その例が参照図面に表示されている。同一参照番号は、同一又は類似の部分を参照するために説明及び図面中で使用される。
図1に示すように、本発明の例示的な実施の形態によるフラッシュメモリに基づくメモリシステムは、フラッシュメモリ100、フラッシュコントローラ200、中央処理装置300、及びRAM400を備え、このような構成200、300、400は、システムバスに電気的に接続されている。
図11に示すように、フラッシュメモリ500は、メモリセルアレイ510、行デコーダ回路520、ページバッファ回路530、列デコーダ回路540、制御ロジック550、及び繰り返しレジスタ560を備える。メモリセルアレイ510、行デコーダ回路520、ページバッファ回路530、列デコーダ回路540、及び制御ロジック550は、この分野における通常の知識を有した者にとって周知であるから、それについての説明は省略する。繰り返しレジスタ560には、ハードウェアコピーバック繰り返し回数情報、ソースアドレスの増加/減少情報、そしてデスティネイションアドレスの増加/減少情報が格納される。繰り返しレジスタ560に格納された情報に応じて、すなわち、ハードウェアコピーバック繰り返し回数情報分だけコピーバックプログラムの動作が反復的に行われる。コピーバックプログラムの動作は、この分野における通常の知識を有した者にとって自明であり、それについての説明は省略する。
200 フラッシュコントローラ
210、400 RAM
220 アドレスレジスタ
230 制御レジスタ
240 ECC
250 ステートマシン
300 中央処理装置
Claims (30)
- フラッシュメモリと、
中央処理装置と、
コピーバックプログラムの動作時に前記中央処理装置によって設定されるアドレス及び制御レジスタを具備し、ファームウエアの介入なしに前記レジスタに格納された情報に応じて前記フラッシュメモリのコピーバックプログラムの動作をハードウェア的に制御するフラッシュコントローラと、を備えることを特徴とするメモリシステム。 - 前記フラッシュコントローラは、前記フラッシュメモリのコピーバックプログラムの動作が終了したか否かを割込みを介して前記中央処理装置に知らせることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、前記コピーバックプログラムの動作の間に一連の命令、アドレス、及びデータをファームウエアの介入なしに生成することを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、前記コピーバックプログラムの動作の間にソースデータに対するエラー訂正及び検出動作を行うことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記ソースデータからエラーが検出されないとき、前記フラッシュコントローラは、前記アドレスレジスタに設定された情報に応じて、デスティネイションアドレス及び命令を前記フラッシュメモリに出力することを特徴とする請求項4に記載のメモリシステム。
- 前記ソースデータからエラーが検出されるとき、前記フラッシュコントローラは、エラー訂正されたデータと共に、前記アドレスレジスタに設定された情報に応じてデスティネイションアドレス及び命令を前記フラッシュメモリに出力することを特徴とする請求項4に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、前記制御レジスタに設定された情報に応じて、前記フラッシュメモリのコピーバックプログラムの動作を反復的に行うことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記コピーバックプログラムの動作の間に前記フラッシュメモリの同一プランでページデータが複写されることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記コピーバックプログラムの動作の間に、前記フラッシュメモリの相異するプランでページデータが同時に複写されることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記コピーバックプログラムの動作の間に、前記フラッシュメモリの第1プランから第2プランへページデータが複写されることを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記制御レジスタは、ハードウェアコピーバックプログラム開始情報、割込みイネーブル情報、割込み状態情報、ECC自動訂正情報、ハードウェアコピーバック繰り返し回数情報、ソースアドレスの増加/減少情報、デスティネイションアドレスの増加/減少情報、及びプラン選択情報のいずれかの制御情報を含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、前記制御レジスタのハードウェアコピーバックプログラム開始情報が設定される時に前記コピーバックプログラムの動作を制御することを特徴とする請求項11に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、前記ハードウェアコピーバック繰り返し回数情報、前記ソースアドレスの増加/減少情報、そしてデスティネイションアドレスの増加/減少情報に応じて、コピーバックプログラムの動作を反復的に行うことを特徴とする請求項11に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュメモリに格納されるデータを一時格納する第1RAMをさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラ、前記中央処理装置、及び前記第1RAMは、システムバスに電気的に接続されることを特徴とする請求項14に記載のメモリシステム。
- 前記フラッシュコントローラは、
前記コピーバックプログラムの動作時に前記フラッシュメモリから読み出されたソースデータを一時格納する第2RAMと、
前記ソースデータに対するエラーを検出及び訂正するエラー検出訂正回路と、
前記アドレス及び制御レジスタに設定された情報に応じて、前記コピーバックプログラムの動作に必要な一連の命令及びアドレスを生成するステートマシンと、
をさらに備えることを特徴とする請求項15に記載のメモリシステム。 - 前記第2RAMは、前記システムバスと電気的に分離されることを特徴とする請求項16に記載のメモリシステム。
- 前記メモリシステムは、メモリカードを含むことを特徴とする請求項1に記載のメモリシステム。
- 複数のページを含むメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイに対する読み出し及びプログラムの動作を行う読み出し/プログラム回路と、
繰り返しデータを格納する繰り返しレジスタと、
前記繰り返しレジスタに格納された繰り返しデータに応じて、コピーバックプログラムの動作を反復的に行うように前記読み出し/プログラム回路を制御する制御ロジックと、を備えることを特徴とするフラッシュメモリ装置。 - 前記繰り返しデータは、前記コピーバック繰り返し回数情報、前記ソースアドレスの増加/減少情報、そして上記のデスティネイションアドレスの増加/減少情報を含むことを特徴とする請求項19に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返しレジスタは、ソースページに対する読み出し動作が遂行される以前に繰り返し命令と共に入力される前記繰り返しデータを設定することを特徴とする請求項20に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返しレジスタは、ソースページに対する読み出し動作が行われた後にデスティネイションアドレスに対するプログラムの動作が行われる以前に繰り返し命令と共に入力される前記繰り返しデータを設定することを特徴とする請求項20に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返しレジスタは、前記繰り返しデータを格納するように構成された不揮発性格納回路であることを特徴とする請求項20に記載のフラッシュメモリ装置。
- 繰り返し命令が入力されるとき、前記制御ロジックは、コピーバックプログラムの動作を反復的に行うように、前記繰り返しレジスタに格納された前記繰り返しデータに応じて前記読み出し/プログラム回路を制御することを特徴とする請求項23に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返し命令は、ソースページに対する読み出し動作が遂行される以前に入力されることを特徴とする請求項24に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返し命令は、ソースページに対する読み出し動作が行われた後に、デスティネイションアドレスに対するプログラムの動作が行われる以前に入力されることを特徴とする請求項24に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返し命令は、ソースアドレスの入力を表す命令とデスティネイションアドレスの入力を表す命令のうちのいずれか一つであることを特徴とする請求項24に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記繰り返しデータは、ソースアドレスの入力を表す命令とデスティネイションアドレスの入力を表す命令との組み合わせによって前記繰り返しレジスタに設定されることを特徴とする請求項19に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記コピーバックプログラムの動作の繰り返し時にエラーを検出するエラー検出ブロックをさらに備えることを特徴とする請求項19に記載のフラッシュメモリ装置。
- 前記コピーバックプログラムの動作の繰り返し時にエラーが検出されるとき、前記制御ロジックは、前記コピーバックプログラムの動作を終了し、状態読み出し命令に応じてフェイルされたページ情報を外部に出力することを特徴とする請求項29に記載のフラッシュメモリ装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070024090A KR100918707B1 (ko) | 2007-03-12 | 2007-03-12 | 플래시 메모리를 기반으로 한 메모리 시스템 |
KR10-2007-0024090 | 2007-03-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008226245A true JP2008226245A (ja) | 2008-09-25 |
JP5427360B2 JP5427360B2 (ja) | 2014-02-26 |
Family
ID=39763818
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008059901A Expired - Fee Related JP5427360B2 (ja) | 2007-03-12 | 2008-03-10 | フラッシュメモリに基づくメモリシステム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7941586B2 (ja) |
JP (1) | JP5427360B2 (ja) |
KR (1) | KR100918707B1 (ja) |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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