JP3875139B2 - 不揮発性半導体記憶装置、そのデータ書き込み制御方法およびプログラム - Google Patents

不揮発性半導体記憶装置、そのデータ書き込み制御方法およびプログラム Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は不揮発性半導体記憶装置、そのデータ書き込み制御方法およびプログラムに係わり、特にコピー元である外部接続の記憶装置からコピー先である内部の不揮発性半導体記憶手段への連続した記憶領域の書き込み処理を改善した不揮発性半導体記憶装置、そのデータ書き込み制御方法およびプログラムに関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、半導体素子の微細化技術の進展に伴い、その半導体素子で構成するLSIも大規模化しており、特に半導体記憶装置の分野ではその傾向が顕著である。
【0003】
例えば、1チップに256メガビットの容量を有する半導体メモリとしてダイナミック型ランダムアクセスメモリ(DRAM)やシンクロナス・ダイナミック・ランダムアクセス・メモリ(SDRAM)も実用化されている。これらの揮発性半導体記憶装置に対し不揮発性半導体記憶装置の分野では、読み出し専用のリードオンリメモリ(ROM)があり、さらには、電気的な書き換えが可能なEEPROM、フラッシュメモリがあり、何れも大容量化が進んでいる。フラッシュメモリは、EEPROMとしてブロックごとのデータまたは全ビットのデータを一括消去することができるフラッシュ型EEPROMのことである。
【0004】
フラッシュメモリは大容量化に向いているので、コンピュータシステムや電子機器の制御プログラムの格納用という従来のEEPROM(UV−EPROM)的な使い方だけでなく、例えば、デジタルスチルカメラ、モバイル機器などで普及しているのも大容量という特徴を活かしているからである。
【0005】
また、EEPROMでは1byte単位で消去、書き込みができるが、フラッシュメモリはブロック単位の消去と1byte単位での書き込みが可能、という違いがある。書き込み時間はフラッシュメモリの方が1000倍程度速く、その高速な書き換え性能を活かして、ディスク的なデータ保存用途にも向いている。
【0006】
このフラッシュメモリに対して書込みや消去などを行なう場合は、書込み命令や消去命令などの設定コマンドをフラッシュメモリに対して与え、フラッシュメモリは、このコマンドに従って動作を実行する。
【0007】
一般的には、ある1つの機能動作に対して、動作モードのコマンドコードを入力するサイクルと、データ内容を入力するサイクルとの2回のコマンドサイクルにより指示を与えている。
【0008】
本発明に関わるこの種の従来のフラッシュメモリへの書き込みは、内部で自動書き込みを行い、かつその書き込みデータを確認するためにベリファイ動作を行うが、メモリセルへの書き込みの時間が一定ではないので、終了の時間も不定である。
【0009】
従来のフラッシュメモリへの書き込みを説明するためのタイミングチャートを示した図13を参照すると、自動書き込みコマンドのデータとして、例えばAAh,55h、A0h、PDの4つのサイクルで行われる。ここでは省略したが対応するアドレスはそれぞれ5555,2AAA,5555,PAとする。なお、PDはプログラムデータ、PAはプログラムアドレスである。
【0010】
フラッシュメモリの動作状態を示すReady/Busy#信号が論理レベルのハイレベル期間(Ready)に読み出し期間であり、ロウレベルの期間(Busy#)に書き込みが行われ、書き込み回数が予め決められた制限値に達した場合はメモリセルのデータとプログラムデータPDとが一致しないときでも書き込みを制限する必要がある。その書き込み期間は11μS〜200μS程度になり不定である。
【0011】
よって、連続したアドレスへの書き込みを行う際は外部で終了判断を行い、終了を確認出来た時点で次のアドレスへの書き込みを行っていた。これは、終了判断、書き込みコマンド、更にコントロール回路に負荷がかかることになる。
【0012】
また、近年マルチ・チップ・パッケージが提供されてきており、フラッシュメモリとSRAMの1パッケージ化も行われており、本発明による書き込み機能は有効になってくる。
【0013】
本発明に関わるこの種の従来のフラッシュメモリの例が特開2001−6379号公報に記載されている。同公報記載のフラッシュメモリの構成を示した図14を参照すると、例えばセルブロックCBL0−CBL3を4ブロックと、アドレスA0〜A19が供給されるアドレスバッファ910と、アドレスバッファ910を介してアドレスA0−A19をラッチするアドレスラッチ回路911とを有する。アドレスラッチ回路911は、それぞれのセルブロック毎に設けられ、各セルブロックに対応するアドレスが保持される。
【0014】
さらに、所定のコントロール信号CNTとアドレスバッファ910およびデータ入出力バッファ916を介して与えられるコマンド信号とを入力するコマンド入力回路912と、入力された所定数ビットのコマンド信号が与えられる制御回路913とを有する。
【0015】
制御回路913は、従来のフラッシュメモリが有している書き込み(プログラム)動作、消去動作、読み出し動作に加えて、後述する複写(コピー)動作、移動動作および統合動作を行うよう、内部回路を制御する。その他の構成要素はここでは省略する。
【0016】
この従来例のフラッシュメモリは、例えばコピー動作の場合はコマンド入力回路912にデータ複写命令コマンドが入力される。続けて複写元のセルブロックのアドレスが入力される。
【0017】
次に、データ複写命令コマンドが制御回路913に供給され、続けて複写元のセルブロックのアドレスが入力される。この複写先セルブロックのアドレスがアドレスラッチ回路911にラッチされる。
【0018】
制御回路913内のシーケンスプログラムに従って、複写先セルブロックのデータが次々に読み出され、セルブロック内のデータが全ビット消去状態(データ1)にあるか否かがチェックされる。消去状態にない場合は、従来の消去動作命令によって、該当するセルブロックのデータの消去が行われる。
【0019】
複写先のセルブロックが全て消去されると、複写元のセルブロックのデータが読み出される。読み出されたデータは、データラッチ回路915に保持され、保持された読み出しデータは、複写先のセルブロックに書き込まれる。
【0020】
複写元セルブロックからのデータ読み出しと複写先のセルブロックへのデータの書き込みとが、セルブロック内の全てのビットに対して行われるまで繰り返される。
【0021】
この複写動作は、複写先セルブロックの消去状態確認と、複写元と複写先セルブロック内のアドレスのインクリメントと、複写先セルブロックのインクリメントの制御を伴うが、それ以外は、従来の読み出し動作、消去動作、書き込み動作の組み合わせにより実現される、というものである。
【0022】
【発明が解決しようとする課題】
上述したように、従来の不揮発性半導体メモリへの書き込みは、内部で自動書き込みを行い、かつその書き込みデータを確認するためにベリファイ動作を行うが、メモリセルへの書き込みの時間が一定ではないので、終了の時間も不定であるという問題がある。
【0023】
また、連続したアドレスへの書き込みを行う際は外部で終了判断を行い、終了を確認出来た時点で次のアドレスへの書き込みを行っていたので、終了判断、書き込みコマンド、更にコントロール回路に負荷がかかるという問題があった。
【0024】
さらに、2001−6379号公報の例では、書き込み領域を指定する手段がないので、アドレスラッチ回路911は、それぞれのセルブロック毎に設けなければならず、構成要素が多くなり、チップサイズも大きくなる。
【0025】
本発明の目的は、上述した従来の欠点に鑑みなされたものであり、フラッシュメモリが自己判断でコピー元アドレス情報を出力し、コピー元である外部接続の記憶装置へのアクセスを行い、その情報をコピー先のフラッシュメモリへ書き込み、その書き込み完了を自己判断して次のコピーアドレス情報を出力することにより、コピー時間短縮およびコピー元の記憶装置の負荷低減を実現することにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】
本発明の不揮発性半導体記憶装置は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする際に、新に設けたコピーコマンドの実行に基づき保持したコピー領域情報と前記コピー元から読み出したアドレス情報とを比較し、一致するまでコピー元のコピー領域のデータをコピー先の対応する領域に自動でコピーする機能を有する書き込み制御手段を備えることを特徴とする。
【0027】
本発明の不揮発性半導体記憶装置の他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする際に、新に設けたコピーコマンドの実行に基づくコピー動作時に、外部接続のプロセッサにより1度だけ指示するコピー元アドレスからコピーデータの読み出し動作を開始し、読み出した前記コピーデータをコピー先のアドレスに書き込み、書き込みが終わると前記コピー元アドレスを1つインクリメントして次のコピーデータを読み出し、その読み出しが終わると前記コピー先アドレスを1つインクリメントして読み出したコピーデータをコピー先に書き込む動作を、前記コピー領域保持情報の示す値まで繰り返す書き込み終了確認機能を有する書き込み制御手段を備えることにある。
【0028】
また、前記外部接続のプロセッサが、前記コピー先および前記コピー元のメモリセルにアクセスする回数をコマンド実行時の1回に軽減しそれ以外の期間を他の任意の処理の実行に当てる手段として、前記書き込み制御手段を備える。
【0029】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のさらにまた他の特徴は、コピー元の外部記憶装置からコピー先内部の不揮発性メモリへ外部からのデータ書き込み終了確認信号および書き込みコマンドがともに供給されない条件下でデータコピーを実行する書込制御手段を備え、前記書込制御手段は、前記コピー元から前記コピー先への連続した記憶領域の書き込み実施時に、外部からのコピーコマンドに基づき、コピー元のアドレス情報、コピー先のアドレス情報およびコピー領域情報を保持情報としてそれぞれ内部の保持手段に保持するとともに、これらの保持情報に応答して前記コピー元から読み出したアドレス情報と前記コピー領域情報とを内部のアドレス発生手段で比較し、その比較結果を基に書き込みが終了したかを自己判断する機能を有する。
【0030】
コピー元の外部記憶装置からコピー先の内部不揮発性メモリに外部からのデータ書き込み終了確認信号および書き込みコマンドがともに供給されない条件下でデータコピーを実行する書込制御手段を備え、前記制御消去手段は、コピー元からコピー先への連続した記憶領域の書き込み実施前にコピー先のデータ消去を実施する際、外部からのコピーコマンドに基づくコピー元のアドレス情報、コピー先のアドレス情報およびコピー領域情報を保持情報としてそれぞれ内部の保持手段に保持するとともに、これらの保持情報に応答して前記コピー元から読み出したアドレス情報と前記コピー領域情報とを内部のアドレス発生手段で比較し、その比較結果を基にデータ消去が終了したかを自己判断する機能を有することにある。
【0031】
また、外部接続プロセッサからコピー開始時の1回のみ指示アドレスを入力しかつコピー元からコピーに必要なデータを読み出すためのアドレス情報を、最下位番地から順に出力する共用アドレス端子を備える。
【0032】
本発明の不揮発性半導体記憶装置の他の特徴は、外部からのコマンドをデコードするコマンドコントロール手段と、そのコマンドコントロール手段からの出力に応答して内部の制御処理を行う制御手段と、外部接続プロセッサからコピー開始時の1回のみ与えられるアドレス情報および外部接続の記憶装置から読み出したアドレス情報を入力する共用アドレス端子と、この共用アドレス端子を介して入力した前記プロセッサからのアドレス情報をコピー先アドレス情報とし、前記外部接続の記憶装置からのアドレスおよびデータサイズをそれぞれコピー元アドレス情報およびコピー領域情報として出力する第1の入力手段と、前記コピー元アドレス情報を保持するコピー元アドレス保持回路と、前記コピー先アドレス情報を保持するコピー先アドレス保持回路と、前記コピー領域情報を保持するコピー領域保持回路と、前記コピー元アドレス保持回路、前記コピー先アドレス保持回路および前記コピー領域保持回路からコピー先のアドレスおよびコピー元のアドレスを発生するアドレス発生回路と、前記コピー元のアドレスを前記アドレス端子に出力する第1の出力手段と、を備えることにある。
【0033】
また、コピー元である外部接続の記憶装置に対し回路電流を遮断して消費電流抑制用制御信号を制御回路から出力するための第2の出力手段をさらに有する。
【0034】
また、前記プロセッサがアドレスおよびデータバスを使用中の場合、前記プロセッサから出力する制御信号に応答して前記コピー先の不揮発性半導体記憶手段がコピー元の前記外部接続の記憶装置をアクセスすることを禁止するための前記制御信号の第2の入力手段を有する。
【0035】
さらに、コピー先の予め定める所定領域のメモリセルに対して所定のデータを書き込む前に、予め前記所定領域のメモリ消去を行ってからコピーを実行する機能を有する。
【0036】
さらにまた、前記プロセッサに対して前記制御回路からアドレスバスおよびデータバスの使用を要請するリクエスト信号を出力する第3の出力手段をさらに備え、前記第2の入力手段は前記要請を許可するアクノリッジ信号を入力するとともに、前記アクノリッジ信号に応じて前記外部接続の記憶装置からコピー元のアドレス情報を読み出す機能を有する。
【0037】
また、前記制御手段から与えられる書き込み制御信号を出力するための第3の出力手段をさらに設け、前記書き込み制御信号を前記外部記憶装置の他の制御端子に与えるように構成し、前記不揮発性メモリから前記外部記憶装置へのコピーデータの書き込みが出来る機能を有する。
【0038】
さらに、コピー先の予め定める所定領域のメモリセルに対して所定のデータを書き込む前に、予め前記所定領域のメモリ消去を行ってからコピーを実行する機能を有する。
【0039】
さらにまた、予めコピーコマンドを設定し、そのコピーコマンドの実行に応答して、コピー元のアドレス、領域およびコピー先のアドレスをそれぞれ指定して保持した後に、その保持したアドレスを基に前記アドレス発生手段から発生したコピー元のアドレスを前記第1の出力手段を介してコピー元に出力し、その出力されたアドレスを受けて自動でコピー元からデータ読み出しを行う機能を有する。
【0040】
また、ROMライターを介さずに前記コピー元のメモリセルから前記コピー先のメモリセルに自動で1チップ分のデータのコピーを作成する機能を有する。
【0041】
テスターによる前記コピー先へのデータ書き込みに代えて、前記コピー元のメモリセルから前記コピー先のメモリセルに自動で1チップ分のデータのコピーを作成する機能を有する。
【0042】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、予め設定したコピーコマンドに応答して、コピーデータが格納されたアドレスを示すコピー元アドレス情報、コピーデータのサイズを示すコピー領域情報およびコピー先のアドレスを示すコピー先アドレス情報からなる保持情報をコピー先の書き込み制御手段の保持手段に保持し、前記書き込み制御手段の指定するコピー元アドレスから前記コピーデータを読み出して前記コピー先の不揮発性メモリに自動で書き込む処理動作を前記コピー領域情報の値まで繰り返すことを特徴とする。
【0043】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法の他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、予め設定したコピーコマンドに応答して、コピーデータが格納されたアドレスを示すコピー元アドレス情報、コピーデータのサイズを示すコピー領域情報およびコピー先のアドレスを示すコピー先アドレス情報からなる保持情報がコピー先の書き込み制御手段の保持手段に保持され、コピー動作時に、コピーが完了したか否かを前記書き込み制御手段が自己判断し、その自己判断に基づき次のコピー処理で必要な情報を前記コピー元から呼び出すことにある。
【0044】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法のまた他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、コピー元アドレス情報、コピー先アドレス情報およびコピー領域情報をそれぞれ保持する書き込み制御手段の保持手段を用いて、コピー元からコピー先への連続した記憶領域の書き込みを実施する際、コピーするデータを前記保持手段で保持してから前記コピー先のメモリセルに対する書き込みを行い、書き込みが完了すると次のアドレスを読み出すための前記コピー元アドレス情報を出力して必要なコピーデータを読み出す処理動作を、前記コピー領域情報の値まで自動で繰り返し行うことにある。
【0045】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法のさらにまた他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、新に設けたコピーコマンドの実行に基づき、コピー元アドレス情報、コピー先アドレス情報およびコピー領域情報をそれぞれ保持する書き込み制御手段の保持手段を用いて、コピー領域情報と前記コピー元から読み出したアドレス情報とを比較し、一致するまでコピー元のコピー領域のデータをコピー先の対応する領域に自動でコピーすることにある。
【0046】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法の他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、新に設けたコピーコマンドの実行に基づき、コピー元アドレス情報、コピー先アドレス情報およびコピー領域情報をそれぞれ保持する書き込み制御手段の保持手段を用いて、前記コピー元から前記コピー先へデータをコピーする際に、外部接続のプロセッサにより1度だけ指示するコピー元アドレスからコピーデータの読み出し動作を開始し、読み出した前記コピーデータをコピー先のアドレスに書き込み、書き込みが終わると前記コピー元アドレスを1つインクリメントして次のコピーデータを読み出し、その読み出しが終わると前記コピー先アドレスを1つインクリメントして読み出したコピーデータをコピー先に書き込む動作を、前記コピー領域保持情報の示す値まで繰り返すことにある。
【0047】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法のまた他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、新に設けたコピーコマンドの実行に基づくコピー動作時に、外部接続のプロセッサからコピー開始時の1度だけ指示するコピー元アドレス情報、コピー先アドレス情報およびコピー領域情報をそれぞれ保持する書き込み制御手段の保持手段を用いて、前記コピーコマンドを実行する処理と、前記コピー元アドレス情報、前記コピー領域情報および前記コピー先アドレス情報を指定して保持する処理と、その保持処理後、前記書き込み制御手段から前記コピー元のアドレスを発生する処理と、その発生したアドレスに基づき自動で前記コピー元からコピーデータの読み出しを行う処理と、その読み出したコピーデータを前記不揮発性メモリの前記コピー先アドレス情報の指すアドレスに書き込みを行う処理と、その書き込み処理が終了すると前記コピー先および前記コピー元それぞれのアドレス値を1つインクリメントし、前記保持処理により保持された前記コピー領域情報と比較する処理と、比較結果が前記コピー領域情報の値内であれば前記コピー元からの読み出しを行い、さらに前記コピー先に書き込みを続ける処理と、前記比較結果が、前記コピー領域情報の値外であればコピー処理を終了する処理と、を有することにある。
【0048】
本発明の不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法のまたさらに他の特徴は、コピー元の外部記憶手段からコピー先内部の不揮発性メモリへデータをコピーする不揮発性半導体記憶装置のデータ書き込み制御方法において、新に設けたコピーコマンドの実行に基づくコピー動作時に、外部接続のプロセッサからコピー開始時の1度だけ指示するコピー元アドレス情報、コピー先アドレス情報およびコピー領域情報をそれぞれ保持する書き込み制御手段の保持手段を用いて、前記コピーコマンドを入力する処理と、前記コピー元アドレス情報、前記コピー領域情報および前記コピー先アドレス情報を指定して保持する処理と、前記コピー先のデータを読み出して消去状態を確認するとともに、未消去状態であればデータを全て消去する処理と、データを全て消去した後、前記書き込み制御手段から前記コピー元アドレス情報を前記コピー元に出力してコピーデータの読み出しを行う処理と、その読み出した前記コピーデータを前記コピー先の前記保持手段で保持し、保持したコピーデータを前記不揮発性メモリの前記インクリメントされたコピー先アドレス情報の指すアドレスに書き込む処理と、前記コピー領域情報の指す領域への書き込みが全て終了するまで前記コピー元アドレス情報のインクリメントを繰り返して書き込む処理と、を有することにある。
【0049】
【発明の実施の形態】
先ず本発明の不揮発性半導体記憶装置、ここではフラッシュメモリを例としてその第1の実施の形態を図面を参照しながら説明する。第1の実施の形態の主要部の構成をブロック図で示した図1を参照すると、フラッシュメモリ100は、コピーされるデータが記憶されているコピー元の記憶装置、例えばSRAM200と当該システム全体を制御するプロセッサ300とを外部に接続し、これらの装置間はアドレスバス400およびデータバス500で相互接続されている。
【0050】
また、フラッシュメモリ100からプロセッサ300へはReady/Busy#信号を出力する。このReady/Busy#信号は、書き込み動作中はロウレベル(Busy#)、書き込みを行っていないモードである非オートモード状態ではハイレベル(Ready)に変化する。ここでの記号#はロウレベルであることを示す。
【0051】
フラッシュメモリ100は、外部接続されたプロセッサ300から指示されるコマンドをアドレスバス400およびデータバス500を介して入力しデコード出力するコマンドコントロール回路111と、そのコマンドコントロール回路111からの出力制御信号に応答して、書き込み、読み出しを自動で実行するために内部の制御処理を行う制御回路112とを有する。
【0052】
また、フラッシュメモリ100は、外部接続されたプロセッサ300から入力するアドレス情報および外部接続のSRAM200へ出力するアドレス情報をそれぞれ入出力する共用アドレス端子113と、この共用アドレス端子113を介して与えられるプロセッサ300からのアドレス情報を、制御回路112の出力する入力制御信号に応答してコピー先アドレス情報、コピー元アドレス情報およびコピー領域情報(データサイズ)として出力する入力手段114とを有する。
【0053】
さらに、フラッシュメモリ100は、入力手段114からコピー元アドレス情報を受け取り保持するコピー元アドレス保持回路115と、入力手段114からコピー先アドレス情報を受け取り保持するコピー先アドレス保持回路116と、入力手段114からコピー領域情報を受け取り保持するコピー領域保持回路117とを有する。
【0054】
さらにまた、フラッシュメモリ100は、アドレス発生回路118と出力手段119とコピー先となるフラッシュメモリ120とを有する。アドレス発生回路118は、コピー元アドレス保持回路115、コピー先アドレス保持回路116およびコピー領域保持回路117からコピー先アドレス情報、コピー元アドレス情報およびコピー領域情報(データサイズ)をそれぞれ受け取り、制御回路112の制御信号に応答して、コピー先の書き込みアドレスを発生するとともにコピー元の読み出しアドレスを出力する。
【0055】
コピー先のフラッシュメモリ部120への書き込みが終了すると、制御回路112の制御信号に応答して、コピー先アドレス情報およびコピー元アドレス情報とコピー領域保持回路117に保持されているコピー領域情報とを比較し、比較結果が領域内であれば引き続きコピーアドレス情報を出力し、比較結果が領域外であればコピーアドレス情報の出力を止める。
【0056】
出力手段119は、アドレス発生回路118から出力されるコピー元アドレス情報を共用アドレス端子113を介してコピー元のSRAM200に出力する。
【0057】
ここで、上述した構成要素の機能を予め説明する。すなわち、コマンドコントロール回路111は、アドレスバス400およびデータバス500を用いて外部からコマンドを入力することによりフラッシュメモリ100内部にモード信号を発生する。
【0058】
制御回路112は、コマンドコントロール回路111から発生するモード信号を受け、フラッシュメモリ100内部で各種自動動作やフラッシュメモリ100の状態制御を行う。なお、フラッシュメモリでは、書き込み、消去は自動で行うが、その制御をここで示す制御回路で制御する。正常に書き込みが出来ているか、正常に消去が出来ているかの確認をしながらメモリセルに対して書き込みや消去を行う。
【0059】
入力手段114は、外部からの信号を共通アドレス端子113を通じて受けとる。なお、制御回路112からの制御信号が非アクティブ状態であれば内部には取り込まず、アクティブ状態の時に取り込む。
【0060】
コピー元アドレス保持回路115は、SRAM200のアドレス空間開始値を保持する。コマンド入力時にアドレスを外部プロセッサ300から入力する。フラッシュメモリ100の自動コピーモードが開始すると、このアドレス値から出力を行いSRAM200からデータを読み出す。コピー領域で設定した値まで自動でインクリメントされる。
【0061】
コピー先アドレス保持回路116は、フラッシュメモリ部120のアドレス空間開始値を保持し、コマンド入力時にアドレスを外部プロセッサ300から入力する。フラッシュメモリ100の自動コピーモードが開始すると、SRAM200を読み出した後、このアドレス値からフラッシュメモリ部120に対して書き込みを行い、コピー領域で設定した値まで自動でインクリメントされる。
【0062】
コピー領域保持回路117は、アドレスをインクリメントする回数(コピー領域)を保持する。
【0063】
アドレス発生回路118は、まず、SRAM200からコピーデータを読み出す際は、コピー元アドレスを出力する。SRAM200からコピーデータの読み出しが完了すると、フラッシュメモリ部120に書き込むためのアドレスを出力する。フラッシュメモリ部120への書き込みが完了すると、SRAM200を読み出すためにコピー元アドレスに1をインクリメントした値を出力する。
【0064】
SRAM200の読みだしが完了すれば、フラッシュメモリ部120に書き込むためにコピー先アドレスに1をインクリメントした値を出力する。これをコピー領域保持回路117で示す値まで繰り返す。
【0065】
出力手段119は、フラッシュメモリ100内部の信号を共用アドレス端子113を通じて外部へ出力する。なお、制御回路112からの制御信号が非アクティブ状態であれば外部には出力せず、アクティブ状態の時に出力する。
【0066】
上述した構成を備える本発明のフラッシュメモリ100は、外部接続のSRAM200からフラッシュメモリ部120へデータをコピーする際の書き込み動作において、書き込み完了を自己判断し、その判断に基づいて次に必要な情報(データ)を呼び出すものである。
【0067】
その自己判断とは、コピーコマンドが実行されると、フラッシュメモリ100は所望のコピー領域情報を記憶しておき、コピーが実行される度ごとに、実行するコピーアドレスと先に記憶したコピー領域情報とを比較し、その実行するコピーアドレスがコピー領域内かコピー領域外かを判断する。その結果コピー領域外なら書き込み完了と判断するものである。
【0068】
次に、第1の実施の形態における動作を説明する。
【0069】
第1の実施の形態を説明するためのタイミングチャートを示した図2を併せて参照すると、ここでは、SRAM200に記憶された、所定の領域内のデータをフラッシュメモリ100が内蔵するフラッシュメモリ部120の対応する領域にコピーする場合を示してあり、先ずプロセッサ300からフラッシュメモリ100に対してコピーコマンドとともにコピーアドレス情報がアドレスバス400を介して与えられる。コマンドコントロール回路111は与えられたコマンドを解析して制御回路112に与える。
【0070】
制御回路112は、与えられたコマンドに基づきReady/Busy#信号をロウレベルに変化させてプロセッサ300に書き込み状態であることを伝える。
【0071】
一方、アドレス情報は共用アドレス端子113を介して入力手段114に与えられ、入力手段114は、制御回路112からの入力制御信号に応答して、アドレス情報をコピー元アドレス情報とコピー先情報とコピー領域情報とをそれぞれ抽出し、対応するコピー元アドレス保持回路115とコピー先アドレス保持回路116とコピー領域保持回路117とに振り分けて出力する。
【0072】
それぞれの対応する情報を受けたコピー元アドレス保持回路115とコピー先アドレス保持回路116とコピー領域保持回路117とは、その受けた情報を保持するとともに、アドレス発生回路118に出力する。
【0073】
アドレス発生回路118は、実線の矢印で示す経路で、コピー先アドレス情報をフラッシュメモリ部120に与えるとともに、点線の矢印で示す経路で、コピー元アドレス情報を出力手段119を介してSRAM200に与える。
【0074】
SRAM200は、与えられたコピー元アドレス情報(ADD=n番地)に基づき対応するメモリセルに記憶されたADD=n番地のデータを、コピーデータとしてデータバス500を介してフラッシュメモリ100に与える。
【0075】
フラッシュメモリ100は、与えられたコピーデータを、予め取り込んでいるコピー先アドレス情報(ADD=n番地)に基づいて、フラッシュメモリ部120の対応するADD=n番地のメモリセルに書き込むことで、コピー動作(データプログラム)を実行する。
【0076】
ここではデータを連続してコピーする状態を示しているので、アドレス発生回路118では、コピーの度ごとにコピー元アドレス情報およびコピー先アドレス情報とコピー領域保持回路117に保持されているコピー領域情報とをそれぞれ比較する。
【0077】
比較した結果、コピー元アドレス情報およびコピー先アドレス情報がまだコピー領域内のアドレスであればそれぞれのアドレスをインクリメントし、コピー元アドレス情報およびコピー先アドレス情報がコピー領域内のアドレス情報と一致するまでコピー動作を繰り返し、コピー元アドレス情報およびコピー先アドレス情報がコピー領域内のアドレスを越えるとデータコピーを終了する。
【0078】
上述した動作を本発明のデータ書き込み制御方法としてフローチャートに示した図3を参照すると、まずプロセッサ300がコピーコマンドを実行する(処理ステップS10)。
【0079】
続いてコピー元のSRAM200のコピー対象となるアドレスとコピー領域とコピー先のアドレスとをコマンドコントロール回路111で解析し、制御回路112で指定してコピー元アドレス保持回路115とコピー先アドレス保持回路116とコピー領域保持回路117とにそれぞれ保持する(処理ステップS11〜S12)。
【0080】
その保持処理、つまり処理ステップS11〜S12を実行後、アドレス発生回路118からSRAM200に対してコピー元アドレス情報を発生する(処理ステップS14)。
【0081】
その発生したアドレスに基づき自動でコピー元のSRAM200のメモリセルからデータの読み出しを行う(処理ステップS15)。
【0082】
そのSRAM200から読み出したデータをコピー先のフラッシュメモリ部120に取り込み、その対応するコピー先のメモリアドレスへ書き込みを行う(処理ステップS17)。
【0083】
その書き込みが正しく行われたかの確認処理ステップS17が終了すると保持処理ステップS12により保持されたコピー領域と比較する(処理ステップS18)。
【0084】
比較結果がコピー領域内であればコピー元のSRAM200からの読み出しを行い、コピー先のフラッシュメモリ部120およびコピー元のSRAM200それぞれのアドレスをインクリメントし、さらに書き込みを続ける(処理ステップS19)。比較結果が、コピー領域外であればコピー処理を終了する。
【0085】
上述したように、SRAM200からフラッシュメモリ100のフラッシュメモリ部120へ連続した領域のコピーを実行する際に、コピー元のアドレス情報、コピー先のアドレス情報およびコピー領域をそれぞれ対応するコピー元アドレス保持回路115とコピー先アドレス保持回路116とコピー領域保持回路117に保持し、最下位番地から順に共用アドレス端子113を介してアドレスデータを出力し、SRAM200からコピーに必要なデータを読み出す。そのデータをフラッシュメモリ100内部でラッチした後、フラッシュメモリ部120のメモリセルに対して書き込みを行う。
【0086】
この時、フラッシュメモリ部120のメモリセルへのデータ書き込みの一般的な特徴として、一度の書き込みではデータを保証できないため、書き込みが出来たかどうかの確認作業が内部的に必要となる(データプログラム)。
【0087】
当該番地への書き込みが終わると、次の番地を読み出すために共用アドレス端子113からアドレス情報を出力し、SRAM200から書き込みに必要なデータを読み出す。この動作をコピー領域に対して自動で行っている。
【0088】
従って、フラッシュメモリ部120への書き込みには書き込み終了の確認後、次のアドレスへの書き込みが必要であったが、本発明を用いれば終了確認が必要無く、また確認および書き込みコマンドが不要なため、時間短縮という効果が得られる。
【0089】
すなわち、書き込み完了を自己判断し、その判断結果に基づいて次に必要なデータの読み出しを行うので、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが必要なくなり、コピー時間を短縮できるものである。
【0090】
例えば、上述した本発明のコピー手段を備えない場合のコピー動作を示した図4を参照すると、コマンドの実行に伴い、モードフラグがアクティブ状態になると、内部昇圧がかかる。
【0091】
さらに、書き込みベリファイが実行されるとともに、メモリセルへの書き込み信号がベリファイと交互にアクティブになる。メモリセルへの書き込みベリファイがパスし、書き込み終了判断信号がロウレベルとなると、内部昇圧信号がロウレベルとなり、内部昇圧を停止し同時に内部昇圧クールダウン信号がハイレベルとなり、内部クールダウンを開始する。
【0092】
クールダウン期間が終了するとモードフラグがロウレベルとなり、外部へReadyとなったことを示す。この信号がBusy#のハイレベルである。
【0093】
再び内部昇圧クールダウンを実行してモードフラグをインアクティブにし、モードフラグがロウレベル、Ready/Busy#信号がハイレベルでReady状態になると、次のコマンドが実行されると再び同様な動作が繰り返される。
【0094】
また、Ready状態となったことを外部から判断する必要があり、その判断後に、次のコマンドを入力する。
【0095】
それに対し、本発明による書き込み手段を用いた場合は、そのコピー動作を示した図5を参照すると、一度コマンドを実行すれば、書き込み終了を自己判断するので、その判断に従い、次のコピーデータを取り込みコピーする動作をくり返すことが出来ので、前述したように、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0096】
フラッシュメモリでは、一般的に、1アドレス書き込みに対する書き込み時間はおよそ10μs程度である。したがって、コマンドサイクルが100nsの時であれば、書き込みには2サイクルのコマンドが必要なため200nsとなり、1アドレスあたり1/50の時間を短縮出来る。もし、コマンドサイクルが1μsのシステムであれば、1/5の時間を短縮出来る。
【0097】
具体的な例で説明すると、例えば、4MByteの領域をSRAM200からフラッシュメモリに×16モードで書き移したとする。
【0098】
(書き込み完了判断)+(コマンド実行時間)=200nsとすれば、2M(回)×200(ns)=4.194E+08(ns)=419(ms)の時間短縮となる。
【0099】
さらに他の例で計算すると、コマンドサイクルが長いシステムの場合、1コマンドサイクル=約1μsほどかかるので、2M(回)×2(μs)=4194304(μs)=4(s)の時間短縮となる。
【0100】
また、コピー領域内のコピーを行っている期間は、図1におけるプロセッサ300はフラッシュメモリ100とSRAM200とにアクセスする必要が無く、他の処理を実行することが出来る。
【0101】
さらに、工場等で書き込みサービスを行う場合、ROMライターが必要であったが、本発明の機能を使うことにより、コピー元のフラッシュメモリを用意すれば、自動で1チップのコピーを作成することが出来る。
【0102】
さらにまた、ROMライターによる書き込み例の構成を示した図6の場合、コマンド発生装置600とコピー先のフラッシュメモリ700とコピー元のフラッシュメモリ800とがアドレスバス400とデータバス500とを介してそれぞれ接続されている。
【0103】
コマンド発生装置600から与えられるコピーコマンドに応答して、コピー先のフラッシュメモリ700からコピー元のフラッシュメモリ800へアドレスバス400を介してコピーすべきデータが記憶されたアドレス情報を与えるとともに、Ready状態にあったReady/Busy#信号をBusy状態にしてコマンド発生装置600に通知する。。
【0104】
フラッシュメモリ800は、与えられたアドレス情報に基づき、記憶されているデータをデータバス500を介してフラッシュメモリ700に転送する。転送されたデータをフラッシュメモリ700はメモリセルにコピーする。したがって、本発明の機能を使うことにより、ROMライターが不要となる。
【0105】
また、選別時等で、チェックパターンを書き込み、正常に動作したかのチェックが必要となる。その場合、従来はテスターで書き込みを行っており時間を要していた。
【0106】
すなわち、テスターによる書き込み例の構成を示した図7を参照すると、テスター900とコピー先のフラッシュメモリ700とコピー元のフラッシュメモリ800とがアドレスバス400とデータバス500とを介してそれぞれ接続されている。
【0107】
テスター900から与えられるコピーコマンドに応答して、コピー先のフラッシュメモリ700からアドレスバス400を介してコピー元のフラッシュメモリ800へコピーすべきデータの記憶されたアドレス情報を与えるとともに、Ready状態にあったReady/Busy#信号をBusy状態にしてテスター900に通知する。。
【0108】
フラッシュメモリ800は、与えられたアドレス情報に基づき、記憶されているデータをデータバス500を介してフラッシュメモリ700に転送する。転送されたデータをフラッシュメモリ700はメモリセルにコピーする。したがって、本発明の機能を使うことにより、コピー元のフラッシュメモリ800を用意すれば、自動で1チップのコピーを作成することが出来、選別時間の削減が可能となる。
【0109】
次に本発明の第2の実施の形態を説明する。
【0110】
第2の実施の形態の構成を示した図8を参照すると、第1の実施の形態との相違点は、フラッシュメモリ101に、制御回路112から与えられる制御信号を出力するための出力手段121および外部出力端子122をさらに設け、制御信号をSRAM200の制御端子に与えるように構成したことである。その他の構成は第1の実施の形態と同様であるからここでの説明は省略する。
【0111】
この実施の形態は、外部接続の記憶装置、例えばSRAM200からの読み出しについてさらに工夫したものである。
【0112】
すなわち、コピー元である外部接続の記憶装置SRAM200に対し回路電流を遮断して消費電流を抑制するための制御信号を制御回路120から出力し、出力手段121および外部出力端子122を介してSRAM200に与えることにより、所望のアクセス時のみ電流を与え、それ以外の時は回路電流を遮断するものである。
【0113】
上述した構成を適用することにより、SRAM200へのアクセスは必要な時だけ行い、それ以外の時はSRAM200の消費電力を抑える。
【0114】
また、この第2の実施の形態においても前述したように、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0115】
次に本発明の第3の実施の形態を説明する。
【0116】
第3の実施の形態の構成を示した図9を参照すると、第2実施の形態との相違点は、フラッシュメモリ102に、外部接続端子124とこの端子に入力端を接続し出力端をコマンドコントロール回路111に接続する入力手段123をさらに設け、外部のプロセッサ300からコマンドコントロール回路111を制御するようにしたものである。その他の構成は第2の実施の形態と同様であるからここでの説明は省略する。
【0117】
上述した構成により、プロセッサ300がアドレスバスおよびデータバスを使用中のときは、プロセッサ300から入力手段123を介してコマンドコントロール回路111を制御することによって、コマンドコントロール回路111から制御回路112を制御し、さらに制御回路112から出力制御信号をアクティブ状態にして、出力手段119をインアクティブ状態に制御する。このインアクティブ状態により、コマンドコントロール回路111は制御回路112と協働して、フラッシュメモリ102からSRAM200へのアクセスを行わないように制御するものである。
【0118】
この第3の実施の形態においても前述したように、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0119】
次に本発明の第4の実施の形態を説明する。
【0120】
第4の実施の形態の構成を示した図10を参照すると、第3実施の形態との相違点は、フラッシュメモリ103が、制御回路112の制御信号出力端に入力端を接続する出力手段125と、その出力手段125の出力端に接続される外部接続端子126とをさらに備えたことである。その他の構成は第3の実施の形態と同様であるからここでの説明は省略する。
【0121】
上述した構成により、フラッシュメモリ103は、制御回路112からアドレスおよびデータのバスラインへの使用許可のリクエスト信号を出力すると、出力手段125および外部接続端子126を介してプロセッサ300に通知する。リクエスト信号を受けたプロセッサ300は所定のタイミングでアドレスおよびデータのバスラインの使用を許可するアクノリッジ信号を、外部接続端子124および入力手段123を介してコマンドコントロール回路111に返す。なお、ここでの外部接続端子124および入力手段123は、新たに設けてもよいが第2の実施の形態における外部のプロセッサ300からコマンドコントロール回路111を制御するようにしたものを転用すればよい。
【0122】
アクノリッジ信号を受けたコマンドコントロール回路111は、制御回路112に対しコピー元アドレス情報を出力させるように制御信号を与える。
【0123】
制御回路112は出力制御信号を出力手段119に与えて出力手段119をアクティブ状態にし、アドレス発生回路118からコピー元アドレス情報をアドレスバス400に出力させ、SRAM200にアクセスすることによりコピーデータを読み出す。
【0124】
この第4の実施の形態においても前述したように、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0125】
次に本発明の第5の実施の形態を説明する。
【0126】
第5の実施の形態の構成を示した図11を参照すると、第4実施の形態との相違点は、フラッシュメモリ104に、制御回路112から与えられる書き込み制御信号を出力するための出力手段127および出力端子128をさらに設け、書き込み制御信号をSRAM200の他の制御端子に与えるように構成したことである。その他の構成は第1の実施の形態と同様であるからここでの説明は省略する。
【0127】
上述した構成により、前述した第4の実施形態における図10では、フラッシュメモリ103からSRAM200へ読み出し制御信号を供給してSRAM200からの読み出しを行ったが、図11のように新たにSRAM200への書き込み制御信号を設け、また、コピーコマンドもさらに追加し、フラッシュメモリ104からSRAM200への書き込みが出来るようにした。
【0128】
なお、SRAM200への書き込み時間は一定であるため、フラッシュメモリ104からはアドレスとデータおよび書き込み制御信号を出力していけばよい。
【0129】
すなわち、制御回路112からアドレスおよびデータのバスラインへの使用許可のリクエスト信号を出力すると、出力手段125および外部接続端子126を介してプロセッサ300に通知される。リクエスト信号を受けたプロセッサ300は所定のタイミングでアドレスおよびデータのバスラインの使用を許可するアクノリッジ信号を、外部接続端子124および入力手段123を介してコマンドコントロール回路111に返す。
【0130】
アクノリッジ信号を受けたコマンドコントロール回路111は、制御回路112に対しフラッシュメモリ104からデータSRAM200に書き込ませるための書き込み制御信号を与える。
【0131】
制御回路112は出力制御信号を出力手段119に与えて出力手段119をアクティブ状態にし、アドレス発生回路118からSRAM200の書き込みアドレス情報をアドレスバス400に出力させ、SRAM200にアクセスすることによりSRAM200にコピーデータを書き込む。
【0132】
この第5の実施の形態においても前述したように、外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0133】
次に本発明の第6の実施の形態を説明する。
【0134】
第6の実施の形態のフローチャートを示した図12を参照すると、第1の実施の形態のフローチャートとの相違点は、コピー先アドレス入力の処理S23とコピー元アドレス出力の処理S29との間に、コピー先の消去処理S24〜S28を設けたことである。
【0135】
すなわち、プロセッサ300からコピーコマンドを入力する(処理ステップS20)。そのコマンド入力後にコピー元アドレス情報入力、コピー領域(データサイズ)情報入力およびコピー先アドレス情報入力を行う(処理ステップS21〜S23)。
【0136】
次に、コピー先であるフラッシュメモリ部120のデータを読み出して消去状態を確認するとともに、未消去状態であれば所望するコピー領域のデータを全て消去する(処理ステップS24〜S28)。
【0137】
コピー領域のデータを全て消去した後、コピー先であるフラッシュメモリ100自身の内蔵するアドレス発生回路118から、出力手段119,共用アドレス端子113を介して、コピー元アドレス情報をコピー元のSRAM200に出力してコピーすべきデータの読み出しを行う(処理ステップS29、S30)。
【0138】
その読み出したデータをコピー先であるフラッシュメモリ100自身内部の保持手段、すなわち、コピー元アドレス保持回路115、コピー先アドレス保持回路116およびコピー領域保持回路117で保持する処理と、保持したデータをインクリメントされたコピー先のフラッシュメモリ120に書き込み、所定のコピー領域への書き込みが全て終了するまでコピー元アドレス情報のインクリメントを繰り返して書き込む(処理ステップS31〜S34)。
【0139】
上述した処理により、コピー元のアドレス、コピー領域およびコピー先のアドレスをそれぞれ指定して保持し、書き込みを行うものであるが、一般的に、フラッシュメモリにおいては、書き込みは“1”→“0”は可能であるが、“0”→“1”への書き込みは出来ない。
【0140】
したがって、上述の処理ステップS24〜S28に示すように、書き込む前に一旦コピー先の消去を行ってからコピーを行うようにした。
【0141】
【発明の効果】
上述したように、本発明の不揮発性半導体記憶装置およびそのデータ書き込み制御方法は、コピーコマンドが実行されると、フラッシュメモリ100は所望のコピー領域情報を記憶しておき、コピーが実行される度ごとに、実行するコピーアドレスと先に記憶したコピー領域情報とを比較し、その実行するコピーアドレスがコピー領域内かコピー領域外かを判断するその判断に基づいて次に必要な情報(データ)を呼び出す。その結果コピー領域外なら書き込み完了と判断する書き込み完了の自己判断機能を有するので、内部の電源クールダウンや、外部からの書き込み終了判断、および外部からの書き込みコマンドが不要となり、コピー時間を短縮できるものである。
【0142】
また、領域のコピーを行っている期間、プロセッサはフラッシュメモリとSRAMにアクセスする必要が無く、他の処理を実行することが出来る。
【0143】
さらに、工場等で書き込みサービスを行う場合、ROMライターが必要であったが、本発明の機能を使うことにより、コピー元のフラッシュメモリを用意すれば、自動で1チップのコピーを作成することが出来る。
【0144】
さらにまた、本発明の機能を使用すればROMライターが必要無くなる。
【0145】
また、選別時等、チェックパターンを書き込み、正常に動作したかのチェックをテスタで行っていたが、本発明の機能を使うことにより、自動で1チップのコピーを作成することが出来、選別時間の削減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明における第1の実施の形態を示す構成図である。
【図2】第1の実施の形態を説明するためのタイミングチャートである。
【図3】本発明のデータ書き込み制御方法のフローチャートである。
【図4】本発明のコピー手段を備えない場合のコピー動作を示した図である。本発明における第2の実施形態の図である。
【図5】本発明による書き込み手段を用いた場合のコピー動作を示した図
【図6】ROMライターによる書き込み例の構成を示した図である。
【図7】テスターによる書き込み例の構成を示した図である。
【図8】第2の実施の形態の構成を示した図である。
【図9】第3の実施の形態の構成を示した図である。
【図10】第4の実施の形態の構成を示した図である。
【図11】第5の実施の形態の構成を示した図である。
【図12】第6の実施の形態のフローチャートである。
【図13】従来のフラッシュメモリへの書き込みを説明するためのタイミングチャートである。
【図14】従来のフラッシュメモリの他の構成を示す図である。
【符号の説明】
100,120,700,800 フラッシュメモリ
111 コマンドコントロール回路
112 制御回路
113 共用アドレス端子
114,123 入力手段
115 コピー元アドレス保持回路
116 コピー先アドレス保持回路
117 コピー領域保持回路
118 アドレス発生回路
119,121,125 出力手段
122,124,126 外部接続端子
200 SRAM
300 プロセッサ
400 アドレスバス
500 データバス
600 コマンド発生装置
900 テスター

Claims (8)

  1. 外部からのコマンドをデコードするコマンドコントロール手段と、そのコマンドコントロール手段からの出力に応答して内部の制御処理を行う制御手段と、外部接続プロセッサからコピー開始時の1回のみ与えられるアドレス情報および外部接続の記憶装置から読み出したアドレス情報を入力する共用アドレス端子と、この共用アドレス端子を介して入力した前記プロセッサからのアドレス情報をコピー先アドレス情報とし、前記外部接続の記憶装置からのアドレスおよびデータサイズをそれぞれコピー元アドレス情報およびコピー領域情報として出力する第1の入力手段と、前記コピー元アドレス情報を保持するコピー元アドレス保持回路と、前記コピー先アドレス情報を保持するコピー先アドレス保持回路と、前記コピー領域情報を保持するコピー領域保持回路と、前記コピー元アドレス保持回路、前記コピー先アドレス保持回路および前記コピー領域保持回路からコピー先のアドレスおよびコピー元のアドレスを発生するアドレス発生回路と、前記コピー元のアドレスを前記アドレス端子に出力する第1の出力手段と、を備えることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。
  2. コピー元である外部接続の記憶装置に対し回路電流を遮断して消費電流抑制用制御信号を制御回路から出力するための第2の出力手段をさらに有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  3. 前記プロセッサがアドレスおよびデータバスを使用中の場合、前記プロセッサから出力する制御信号に応答して前記コピー先の不揮発性半導体記憶手段がコピー元の前記外部接続の記憶装置をアクセスすることを禁止するための前記制御信号の第2の入力手段を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  4. 前記プロセッサに対して前記制御回路からアドレスバスおよびデータバスの使用を要請するリクエスト信号を出力する第3の出力手段をさらに備え、
    前記第2の入力手段は前記要請を許可するアクノリッジ信号を入力するとともに、前記アクノリッジ信号に応じて前記外部接続の記憶装置からコピー元のアドレス情報を読み出す機能を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  5. 前記制御手段から与えられる書き込み制御信号を出力するための第3の出力手段をさらに設け、前記書き込み制御信号を前記外部記憶装置の他の制御端子に与えるように構成し、前記不揮発性メモリから前記外部記憶装置へのコピーデータの書き込みが出来る機能を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  6. コピー先の予め定める所定領域のメモリセルに対して所定のデータを書き込む前に、予め前記所定領域のメモリ消去を行ってからコピーを実行する機能を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  7. 予めコピーコマンドを設定し、そのコピーコマンドの実行に応答して、コピー元のアドレス、領域およびコピー先のアドレスをそれぞれ指定して保持した後に、その保持したアドレスを基に前記アドレス発生手段から発生したコピー元のアドレスを前記第1の出力手段を介してコピー元に出力し、その出力されたアドレスを受けて自動でコピー元からデータ読み出しを行う機能を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
  8. ROMライターを介さずに前記コピー元のメモリセルから前記コピー先のメモリセルに自動で1チップ分のデータのコピーを作成する機能を有する請求項記載の不揮発性半導体記憶装置。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10327284B4 (de) * 2003-06-17 2005-11-03 Infineon Technologies Ag Prüflesevorrichtung für Speicher
US20050182867A1 (en) * 2004-02-17 2005-08-18 Eddy Reynolds Systems and methods for signaling write status
US7240131B1 (en) * 2004-03-08 2007-07-03 Emc Corporation Method and apparatus for improving the process of making independent data copies in a data processing system
JP4955990B2 (ja) * 2005-12-14 2012-06-20 株式会社東芝 不揮発性半導体記憶装置
JP4954645B2 (ja) * 2006-09-07 2012-06-20 東芝テック株式会社 無線通信装置及び無線通信方法
KR100764749B1 (ko) * 2006-10-03 2007-10-08 삼성전자주식회사 멀티-칩 패키지 플래시 메모리 장치 및 그것의 카피 백방법
US7773441B2 (en) * 2008-06-18 2010-08-10 Micron Technology, Inc. Memory malfunction prediction system and method
US8347022B2 (en) * 2008-12-18 2013-01-01 International Business Machines Corporation Flash ROM programming
FR2970592B1 (fr) 2011-01-19 2013-02-15 Centre Nat Rech Scient Cellule mémoire volatile/non volatile programmable
FR2970589B1 (fr) 2011-01-19 2013-02-15 Centre Nat Rech Scient Cellule mémoire volatile/non volatile
FR2970593B1 (fr) 2011-01-19 2013-08-02 Centre Nat Rech Scient Cellule mémoire volatile/non volatile compacte
FR2976711B1 (fr) 2011-06-15 2014-01-31 Centre Nat Rech Scient Cellule memoire avec memorisation volatile et non volatile
FR3004576B1 (fr) 2013-04-15 2019-11-29 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Cellule memoire avec memorisation de donnees non volatile
FR3004577A1 (ja) 2013-04-15 2014-10-17 Commissariat Energie Atomique
FR3008219B1 (fr) 2013-07-05 2016-12-09 Commissariat Energie Atomique Dispositif a memoire non volatile
US10387046B2 (en) * 2016-06-22 2019-08-20 Micron Technology, Inc. Bank to bank data transfer
US10236038B2 (en) 2017-05-15 2019-03-19 Micron Technology, Inc. Bank to bank data transfer
JP7178916B2 (ja) 2019-01-29 2022-11-28 キオクシア株式会社 メモリシステムおよび制御方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5715423A (en) * 1994-04-18 1998-02-03 Intel Corporation Memory device with an internal data transfer circuit
EP0834812A1 (en) * 1996-09-30 1998-04-08 Cummins Engine Company, Inc. A method for accessing flash memory and an automotive electronic control system
US6040997A (en) * 1998-03-25 2000-03-21 Lexar Media, Inc. Flash memory leveling architecture having no external latch
JP2001006379A (ja) 1999-06-16 2001-01-12 Fujitsu Ltd 複写、移動機能を有するフラッシュメモリ
JP4017177B2 (ja) * 2001-02-28 2007-12-05 スパンション エルエルシー メモリ装置
US6809964B2 (en) * 2001-08-30 2004-10-26 Micron Technology, Inc. Nonvolatile semiconductor memory device capable of transferring data internally without using an external bus
JP2003281084A (ja) * 2002-03-19 2003-10-03 Fujitsu Ltd 外部バスへのアクセスを効率的に行うマイクロプロセッサ

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