JP2003173986A - 2スピンドル切削装置における切削方法 - Google Patents
2スピンドル切削装置における切削方法Info
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Abstract
個のスピンドルユニットを互いに対向して配設した2ス
ピンドル切削装置において、被加工物の裏面に欠けを発
生させることなく良好に切断することができる切削方法
を提供する。 【解決手段】 チャックテーブルに保持された被加工物
を切削するための所定の切削条件でプリカットされた切
削ブレードをそれぞれ装着した2個のスピンドルユニッ
トを具備し、該2個のスピンドルユニットが切削ブレー
ドを互いに対向して配設されている2スピンドル切削装
置における切削方法であって、所定の切削条件と異なる
一方のスピンドルユニットに装着される所定の切削条件
によってプリカットされた切削ブレードによって、被加
工物に所定深さの切削溝を形成するハーフカット工程
と、所定の切削条件に設定された他方のスピンドルユニ
ットに装着される所定の切削条件によってプリカットさ
れた切削ブレードによって、ハーフカット工程によって
形成された切削溝に沿って被加工物を切断する切断工程
とを含んでいる。
Description
着した2個のスピンドルユニットが切削ブレードを互い
に対向して配設されている2スピンドル切削装置におけ
る切削方法に関する。
円板形状である半導体ウエーハの表面に格子状に配列さ
れた多数の領域にIC、LSI等の回路を形成し、該回
路が形成された各領域を所定のストリート(切断ライ
ン)に沿ってダイシングすることにより個々の半導体素
子を製造している。この半導体ウエーハのダイシングに
は一般にダイヤモンド砥粒からなる砥石ブレードによっ
て構成された切削ブレードを回転しつつストリートに沿
って相対的に移動させることにより切削する切削装置が
用いられている。
た切削ブレードは切削する半導体ウエーハ等の被加工物
との馴染みを良くために、予め切削装置等によってダミ
ーウエーハを切削してプリカットと称する仕上げ処理が
なされて出荷される。このプリカットは、実際に被加工
物を切削する際に設定された切削ブレードの回転方向お
よび切削送り方向等の切削条件と同じ条件で行うことに
より、切削ブレードの表面にその条件に合った癖を残存
させ、その癖によって被加工物と切削ブレードとの馴染
みを良好にしている。
ブレードを装着した2個のスピンドルユニットを互いに
対向して配設した2スピンドル切削装置が実用化されて
いる。
ブレードを互いに対向して配設した2スピンドル切削装
置においては、2個のスピンドルユニットにそれぞれ装
着された切削ブレードは互いに反転した状態となる。従
って、一方のスピンドルユニットに装着された切削ブレ
ードはプリカットと同じ切削条件で切削することになる
が、他方のスピンドルユニットに装着された切削ブレー
ドはプリカットと異なる切削条件で切削することにな
る。この結果、他方のスピンドルユニットに装着された
切削ブレードによって切断された被加工物の裏面に多く
の欠けが生ずるという問題がある。この問題は、特に基
台の外周に切れ刃が形成されたハブブレードにおいて顕
著に現れる。このような問題を解消するためには、一方
のスピンドルユニット用の切削条件に合わせてプリカッ
トした切削ブレードと、他方のスピンドルユニット用の
切削条件に合わせてプリカットした切削ブレードとを用
意することが考えられる。しかしながら、2個のスピン
ドルユニットの切削条件に対応してそれぞれプリカット
した切削ブレードを用意しそれぞれのスピンドルユニッ
トに区別して装着することは、切削ブレードの管理が煩
雑になるとともにスピンドルユニットに装着する際にそ
の都度確認しなければならず作業性にも問題が生ずる。
て切断するとともに切削面に面取りを形成する方法とし
て、ステップカットと称する切削方法が実施されてい
る。このステップカットは、先ずV溝切削用の切削ブレ
ードによって所定深さのV溝を形成するハーフカットを
行い、その後、切断用の切削ブレードによってハーフカ
ットされたV溝を完全切断する。このステップカットに
おいて、ハーフカットする場合には上記2スピンドル切
削装置における何れのスピンドルユニットに装着された
切削ブレードでも良好に切削することができる。しかる
に、ハーフカットされた切削溝を完全切断する場合に
は、プリカットと異なる切削条件で切削する他方のスピ
ンドルユニットに装着された切削ブレードによって切削
すると、被加工物の裏面に多くの欠けが生ずるという問
題がある。
あり、その主たる技術課題は、所定の切削条件でプリカ
ットした切削ブレードを装着した2個のスピンドルユニ
ットを互いに対向して配設した2スピンドル切削装置に
おいて、被加工物の裏面に欠けを発生させることなく良
好に切断することができる切削方法を提供することにあ
る。
決するため、本発明によれば、被加工物を保持するチャ
ックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加
工物を切削するための所定の切削条件でプリカットされ
た切削ブレードをそれぞれ装着した2個のスピンドルユ
ニットとを具備し、該2個のスピンドルユニットが切削
ブレードを互いに対向して配設されている2スピンドル
切削装置における切削方法であって、所定の切削条件と
異なる一方のスピンドルユニットに装着された切削ブレ
ードによって、被加工物に所定深さの切削溝を形成する
ハーフカット工程と、所定の切削条件に設定された他方
のスピンドルユニットに装着された切削ブレードによっ
て、該ハーフカット工程によって形成された切削溝に沿
って被加工物を切断する切断工程と、を含む、ことを特
徴とする2スピンドル切削装置における切削方法が提供
される。
砥石ブレードが形成されたハブブレードからなってい
る。また、上記一方のスピンドルユニットに装着される
切削ブレードの厚さは、上記他方のスピンドルユニット
に装着される切削ブレードの厚さより厚く設定されてい
る。
切削装置における切削方法について、添付図面を参照し
て詳細に説明する。
る2スピンドル切削装置の斜視図が示されている。図1
に示された切削装置は、略直方体状の装置ハウジング1
を具備している。この装置ハウジング1には、被加工物
である半導体ウエーハをストックするカセット機構2
と、該カセット機構2に収納された被加工物を搬出する
とともに切削作業終了後の被加工物をカセット機構2に
搬入する被加工物搬出・搬入機構3と、該被加工物搬出
・搬入機構3によって搬出された被加工物を保持するチ
ャックテーブル機構4と、該チャックテーブル機構4に
保持された被加工物を切削する切削機構5と、該切削機
構5によって切削された被加工物を洗浄する洗浄機構6
と、チャックテーブル機構4と洗浄機構6との間で被加
工物を搬送する被加工物搬送機構7が配設されている。
また、装置ハウジング1には、後述する光学手段によっ
て撮像された画像を表示するモニター8が配設されてい
る。
構4および切削機構5について、図2を参照して説明す
る。図示の実施形態における切削装置は、装置ハウジン
グ1内に配設され上記各機構を装着する静止基台10を
具備している。上記カセット機構2は、静止基台10の
側面に上下方向に設けられた2本のガイドレール21、
21に摺動可能に配設されたカセットテーブル22と、
該カセットテーブル22をガイドレール21に沿って上
下方向(矢印Zで示す方向)に移動させるための駆動手
段23を具備している。駆動手段23は、上記2本のガ
イドレール21と21の間に平行に配設された雄ネジロ
ッド231と、カセットテーブル22に装着され雄ネジ
ロッド231に螺合する図示しないナットと、雄ネジロ
ッド231を回転駆動するための図示しないパルスモー
タ等の駆動源を含んでいる。従って、図示しないパルス
モータによって雄ネジロッド231を回動することによ
り、カセットテーブル22が上下方向(矢印Zで示す方
向)に移動せしめられる。このように上下方向に移動可
能に構成されたカセットテーブル22上に複数段の収容
室を備えたカセット24が載置される。このカセット2
4の複数段の収容室に被加工物25が1枚ずつ収容され
る。なお、図示の実施形態においては、被加工物25は
フレーム251にテープ252によって装着され半導体
ウエーハ250が示されている。
10上に固定された支持台41と、該支持台41上に矢
印Xで示す方向に沿って平行に配設された2本のガイド
レール42、42と、該ガイドレール42、42上に矢
印Xで示す方向に移動可能に配設された被加工物を保持
する被加工物保持手段としてのチャックテーブル43を
具備している。このチャックテーブル43は、ガイドレ
ール42、42上に移動可能に配設された吸着チャック
支持台431と、該吸着チャック支持台431上に装着
された吸着チャック432とを具備しており、該吸着チ
ャック432の被加工物保持面432a上に被加工物で
ある例えば円盤状の半導体ウエーハを図示しない吸引手
段によって保持するようになっている。なお、チャック
テーブル機構4は、チャックテーブル43を2本のガイ
ドレール42、42に沿って矢印Xで示す切削送り方向
に移動させるための駆動手段44を具備している。駆動
手段44は、上記2本のガイドレール42、42の間に
平行に配設された雄ネジロッド441と、吸着チャック
支持台431に装着され雄ネジロッド441に螺合する
図示しないナットと、雄ネジロッド441を回転駆動す
るための図示しないパルスモータ等の駆動源を含んでい
る。従って、図示しないパルスモータによって雄ネジロ
ッド441を回動することにより、チャックテーブル4
3が矢印Xで示す切削送り方向に移動せしめられる。即
ち、チャックテーブル43は図1および図2で示す被加
工物載置領域101から切削領域102の間を移動する
ことができる。なお、上記チャックテーブル機構4は、
吸着チャック432を回転する図示しない回転機構を具
備している。
切削機構5は、上記静止基台10上に固定された門型の
支持台51を具備している。この門型の支持台51は、
上記切削領域102を跨ぐように配設されている。支持
台51の側壁には矢印Yで示す割り出し送り方向に沿っ
て平行に配設された2本のガイドレール511、511
が設けられているとともに、該2本のガイドレール51
1、511の間に平行に1本の雄ネジロッド52が固定
して配設されている。このガイドレール511、511
に沿って第1の移動基台53aおよび第2の移動基台5
3bがそれぞれ矢印Yで示す方向に摺動可能に配設され
ている。第1の移動基台53aおよび第2の移動基台5
3bにはそれぞれ上記共通の雄ネジロッド52に螺合す
る図示しない駆動ナットが装着されており、この駆動ナ
ットを図示しないパルスモータ等の駆動源によって回動
することにより、第1の移動基台53aおよび第2の移
動基台53bをガイドレール511、511に沿って矢
印Yで示す割り出し送り方向に移動するとができる。な
お、第1の移動基台53aおよび第2の移動基台53b
のそれぞれに対応して独立した雄ネジロッドを配設し、
このそれぞれ独立した雄ネジロッドをパルスモータ等に
よってそれぞれ回転させて、第1の移動基台53aおよ
び第2の移動基台53bをそれぞれ矢印Yで示す割り出
し送り方向に移動するように構成してもよい。
動基台53bにはそれぞれ一対のガイドレール531a
および531bが矢印Zで示す切り込み送り方向に沿っ
て設けられており、このガイドレール531aおよび5
31bに沿って第1の懸垂ブラケット54aおよび第2
の懸垂ブラケット54bがそれぞれ矢印Zで示す切り込
み送り方向に摺動可能に配設されている。第1の移動基
台53aおよび第2の移動基台53bにはそれぞれパル
スモータ55aおよび55b等の駆動源によって回動せ
しめられる図示しない雄ネジロッドが配設されており、
第1の懸垂ブラケット54aおよび第2の懸垂ブラケッ
ト54bにはそれぞれ上記雄ネジロッドに螺合するナッ
トが装着されている。従って、パルスモータ55aおよ
び55bにとって図示しない雄ネジロッドを回動するこ
とにより、第1の懸垂ブラケット54aおよび第2の懸
垂ブラケット54bをガイドレール531aおよび53
1bに沿って上記吸着チャック432の被加工物保持面
432aに垂直な矢印Zで示す切り込み送り方向に移動
するとができる。
2の懸垂ブラケット54bには、第1の切削手段として
の第1のスピンドルユニット56aおよび第2の切削手
段としての第2のスピンドルユニット56bが装着され
ている。この第1のスピンドルユニット56aおよび第
2のスピンドルユニット56bについて、簡略化して示
されている図3を参照して説明する。第1のスピンドル
ユニット56aおよび第2のスピンドルユニット56b
は、それぞれ第1の懸垂ブラケット54aおよび第2の
懸垂ブラケット54bに固定された第1のスピンドルハ
ウジング561aおよび第2のスピンドルハウジング5
61bと、該第1のスピンドルハウジング561aおよ
び第2のスピンドルハウジング561bにそれぞれ回転
可能に支持された第1の回転スピンドル562aおよび
第2の回転スピンドル562bと、該第1の回転スピン
ドル562aおよび第2の回転スピンドル562bの一
端部に装着された第1の切削ブレード563aおよび第
2の切削ブレード563bとからなっている。このよう
に構成された第1のスピンドルユニット56aおよび第
2のスピンドルユニット56bは、第1の切削ブレード
563aと第2の切削ブレード563bが互いに対向す
るように配設されている。即ち、第1のスピンドルユニ
ット56aと第2のスピンドルユニット56bは、それ
ぞれ軸芯が矢印Yで示す割り出し送り方向に向くように
一直線上に配設されている。上記第1の切削ブレード5
63aおよび第2の切削ブレード563bは、環状の基
板564aおよび564bの外周にダイヤモンド砥粒か
らなる砥石ブレード565aおよび565bが形成され
たハブブレードが用いられている。
スピンドルユニット56aおよび第2のスピンドルユニ
ット56bには、それぞれ顕微鏡やCCDカメラ等で構
成される第1の光学手段57aおよび第2の光学手段5
7bが設けられている。第1の光学手段57aは第1の
スピンドルハウジング561aに装着され、第2の光学
手段57bは第2のスピンドルハウジング561bに装
着されている。
動作について図1に基づいて簡単に説明する。先ず、カ
セット機構2の駆動手段23を作動してカセットテーブ
ル22に載置されたカセット24を適宜の高さに位置付
ける。カセット24が適宜の高さに位置付けられたら、
被加工物搬出・搬入機構3を作動しカセット24に収容
された被加工物25を挟持部31で搬出して、被加工物
載置領域101に位置付けられているチャックテーブル
機構4の吸着チャック432の被加工物保持面432a
上に載置する。吸着チャック432の被加工物保持面4
32a上に載置された被加工物25は、図示しない吸着
手段によって吸着チャック432上に吸引保持される。
に被加工物25が吸引保持されたら、チャックテーブル
43を矢印X方向に移動するとともに、図2に示すよう
に第1のスピンドルユニット56aおよび第2のスピン
ドルユニット56bを装着した第1の懸垂ブラケット5
4aおよび第2の懸垂ブラケット54bが取り付けられ
ている第1の移動基台53aおよび第2の移動基台53
bを矢印Y方向に移動し、吸着チャック432の被加工
物保持面432a上に載置された被加工物25を第1の
光学手段57aおよび第2の光学手段57bの直下に位
置付ける。そして、第1の光学手段57aおよび第2の
光学手段57bによって被加工物25である図5に示す
半導体ウエーハ250の表面が撮像され、半導体ウエー
ハ250の表面形成された切断ライン(ストリート)の
うち少なくとも1本がそれぞれ検出されて、このそれぞ
れ検出された切断ラインと第1の切削ブレード563a
および第2の切削ブレード563bの矢印Y方向の位置
合わせが行われる。このとき図示の実施形態において
は、第1の基部53aおよび第2の基部53bの矢印Y
方向の位置は、支持台51に配設された1本のリニアス
ケール58による計測値に基づいて精密制御される。な
お、図示の実施形態おいては、リニアスケールを1本に
して第1の移動基台53aと第2の移動基台53bとで
共用しているので、同じスケールで矢印Y方向の制御が
遂行されるため、スケールをそれぞれ個別に設けた場合
に比べ精度が向上する。このように、図示の実施形態に
おいては、第1のスピンドルユニット56aおよび第2
のスピンドルユニット56bに関連してそれぞれ第1の
光学手段57aおよび第2の光学手段57bが設けられ
ているので、第1の切削ブレード563aおよび第2の
切削ブレード563bの矢印Y方向の位置合わせ作業を
同時に効率的に行うことができる。
および第2のスピンドルユニット56bを支持した第1
の懸垂ブラケット54aおよび第2の懸垂ブラケット5
4bを切削位置まで下降せしめ、半導体ウエーハ250
を吸引保持したチャックテーブル43を切削送り方向で
ある矢印X方向に切削領域102まで移動することによ
り、高速回転する第1の切削ブレード563aおよび第
2の切削ブレード563bの作用を受けて、上述のよう
にして検出された切断ラインが切削される。このよう
に、第1のスピンドルユニット56aおよび第2のスピ
ンドルユニット56bを装着した第1の懸垂ブラケット
54aおよび第2の懸垂ブラケット54bが取り付けら
れている第1の移動基台53aおよび第2の移動基台5
3bの矢印Y方向の割り出し移動と、半導体ウエーハ2
50を吸引保持したチャックテーブル43の矢印X方向
切削送りを繰り返し実行することにより、半導体ウエー
ハ250に形成された複数の切断ラインが順次切削され
る。そして、半導体ウエーハ250に形成された同方向
の切断ラインが全て切削されたら、半導体ウエーハ25
0を吸引保持した吸着チャック332を90度回転させ
て、上記と同様の切削作業を実行することにより、半導
体ウエーハ250に格子状に形成された全ての切断ライ
ンが切削されて個々のペレットが形成される。
1に示す切削領域102に位置しているチャックテーブ
ル43を被加工物載置領域101に移動する。チャック
テーブル43が被加工物載置領域101に位置付けられ
たら、被加工物搬送機構7を作動しチャックテーブル4
3に保持された半導体ウエーハ250を装着したフレー
ム251を吸着パッド71によって吸着して洗浄機構6
のスピンナーテーブル611上に搬送する。スピンナー
テーブル611上に搬送され上述したように切削された
半導体ウエーハ250は、洗浄水供給ノズル612から
噴射される洗浄水によって洗浄され切削屑が除去される
とともに、スピンナーテーブル611が回転することに
よる遠心力によって乾燥せしめられる。このようにして
半導体ウエーハ250が洗浄されたならば、被加工物搬
送機構7を作動し半導体ウエーハ250を装着したフレ
ーム251を吸着パッド71によって吸着して被加工物
載置領域101に位置付けられているチャックテーブル
43の吸着チャック432上に載置する。そして、被加
工物搬出・搬入機構3を作動し、吸着チャック432上
に載置され洗浄済の半導体ウエーハ250およびフレー
ム251をカセット24の所定の収容室に収容する。
って被加工物である半導体ウエーハ250を切断する切
削方法について説明する。上記第1の切削手段としての
第1のスピンドルユニット56aおよび第2の切削手段
としての第2のスピンドルユニット56bを構成する第
1の切削ブレード563aおよび第2の切削ブレード5
63bは、被加工物である半導体ウエーハ250との馴
染みを良くために、予め切削装置等によってダミーウエ
ーハを切削してプリカットと称する仕上げ処理がなされ
て出荷されたものが用いられる。ここで、プリカットに
ついて図4を参照して説明する。図示の実施形態におけ
るプリカットは、通常の単スピンドル切削装置のスピン
ドルユニット56に第1の切削ブレード563aまたは
第2の切削ブレード563bを装着して実施される。即
ち、スピンドルユニット56に装着された第1の切削ブ
レード563aまたは第2の切削ブレード563bを矢
印で示す方向に回転しつつ、上記半導体ウエーハ250
の材質と同一の材質(シリコン)からなるダミーウエー
ハDWを図示しないチャックテーブル上に矢印Xで示す
切削送りすることによって、第1の切削ブレード563
aまたは第2の切削ブレード563bによるプリカット
が行われる。このとき、第1の切削ブレード563aお
よび第2の切削ブレード563bの回転速度は例えば3
0,000rpm、ダミーウエーハDWの矢印Xで示す
切削送り速度は50〜80mm/secで、この切削条
件は上述した2スピンドル切削装置における第2のスピ
ンドルユニット56bを構成する第2の切削ブレード5
63bの切削条件と同一である。なお、プリカットは例
えば幅6インチのダミーウエーハDWに対して500ラ
イン実施される。
切削ブレード563aおよび第2の切削ブレード563
bは、上述した2スピンドル切削装置に装着して切削す
る場合、第2のスピンドルユニット56bに装着して切
削する際には所定の切削条件とプリカットの切削条件と
が一致する。一方、上記のようにしてプリカットされた
第1の切削ブレード563aおよび第2の切削ブレード
563bは、上述した第1のスピンドルユニット56a
に装着して切削する際にはプリカットの切削条件と一致
しない。そこで、本発明による切削方法においては、所
定の切削条件と異なる第1のスピンドルユニット56a
に所定の切削条件でプリカットされたハーフカット用ブ
レードを装着することが重要である。図示の実施形態に
おいては、第1のスピンドルユニット56aに装着され
る第1の切削ブレード563aは、面取り用のV溝を形
成するハーフカット用ブレードからなっている。一方、
所定の切削条件である第2のスピンドルユニット56b
には、所定の切削条件でプリカットされた切断用ブレー
ドが装着される。即ち、第2のスピンドルユニット56
bに装着される第2の切削ブレード563bは、切断用
ブレードからなっている。なお、ハーフカット用の第1
の切削ブレード563aの砥石ブレード565aの厚さ
は例えば30μmで、切断用の第2の切削ブレード56
3bの砥石ブレード565bの厚さ(例えば15μm)
より厚く構成されている。
装着されたハーフカット用の第1の切削ブレード563
aと第2のスピンドルユニット56bに装着された切断
用の第2の切削ブレード563bによる半導体ウエーハ
250の切断について、図2、図5および図6を参照し
て説明する。半導体ウエーハ250を保持したチャック
テーブル43を矢印X方向に移動するとともに、第1の
スピンドルユニット56aを第2のスピンドルユニット
56b側に移動し、半導体ウエーハ250を第1の光学
手段57aの直下に位置付ける。そして、第1の光学手
段57aによって半導体ウエーハ250の表面が撮像さ
れ、図5に示す半導体ウエーハ250の表面に形成され
た切断ライン(ストリート)のうち最も第2のスピンド
ルユニット56b側(図5において最も右側)に位置す
る切断ラインL1を検出する。そして、切断ラインL1
と第1の切削ブレード563aの割り出し方向(矢印Y
方向)の位置合わせを行い、上述したように第1の切削
ブレード563aを回転しつつ半導体ウエーハ250を
切削送りすることにより、半導体ウエーハ250を切断
ラインL1に沿って切削する。このとき、第1の切削ブ
レード563aはV溝を形成するハーフカット用ブレー
ドであり、切削深さ即ち切り込み送り量が所定量に設定
されているので、切削溝は図6に示すようにV溝250
aにハーフカットされる(ハーフカット工程)。なお、
このハーフカット工程における第1の切削ブレード56
3aによる切削はプリカットされた切削条件と異なる
が、ハーフカットであるため欠けが生ずることなく切削
することができる。
63aにより数ラインがV溝250aにハーフカットさ
れ、第1の切削ブレード563aと第2のスピンドルユ
ニット56bに装着された第2の切削ブレード563b
とが干渉しない状態となったら、切断用の第2の切削ブ
レード563bをV溝250aにハーフカットされた上
記切断ラインL1に位置合わせを行い、第2の切削ブレ
ード563bを回転しつつ半導体ウエーハ250を切削
送りすることにより、V溝250aにハーフカットされ
た切削溝に沿って完全切断する(切断工程)。このよう
にしてハーフカット工程および切断工程を経て切断され
た半導体ウエーハ250の断面は図7に示すように、表
面側に面取り250bが形成された状態となる。この切
断工程における第2の切削ブレード563bによる切削
はプリカットされた切削条件と一致するため、裏面に欠
けが生ずることなく良好に切削することができる。なお
その後、第1の切削ブレード563aによるハーフカッ
ト工程と第2の切削ブレード563bによる切削工程
は、並行して順次実行される。
トする第1の切削ブレード563aはV溝を形成する形
状としたが、U溝或いは矩形状の溝が形成できる形状に
してもよい。
ける切削方法は、所定の切削条件と異なる一方のスピン
ドルユニットに装着される所定の切削条件によってプリ
カットされた切削ブレードによって、被加工物に所定深
さの切削溝を形成するハーフカット工程と、所定の切削
条件に設定された他方のスピンドルユニットに装着され
る所定の切削条件によってプリカットされた切削ブレー
ドによって、該ハーフカット工程によって形成された切
削溝に沿って被加工物を切断する切断工程とからなって
いるので、裏面に欠けが生ずることなく良好に切削する
ことができる。従って、2個のスピンドルの切削条件に
対応してそれぞれプリカットした切削ブレードを用意す
る必要がなく、切削ブレードの管理が容易となる。
図。
図。
1のスピンドルユニットと第2のスピンドルユニットを
簡略化して示す説明図。
1のスピンドルユニットおよび第2のスピンドルユニッ
トに装着する切削ブレードのプリカット状態を示す斜視
図。
物である半導体ウエーハの平面図。
半導体ウエーハをハーフカットした状態を示す断面図。
半導体ウエーハを切断した状態を示す断面図。
Claims (3)
- 【請求項1】 被加工物を保持するチャックテーブル
と、該チャックテーブルに保持された被加工物を切削す
るための所定の切削条件でプリカットされた切削ブレー
ドをそれぞれ装着した2個のスピンドルユニットとを具
備し、該2個のスピンドルユニットが切削ブレードを互
いに対向して配設されている2スピンドル切削装置にお
ける切削方法であって、 所定の切削条件と異なる一方のスピンドルユニットに装
着された切削ブレードによって、被加工物に所定深さの
切削溝を形成するハーフカット工程と、 所定の切削条件に設定された他方のスピンドルユニット
に装着された切削ブレードによって、該ハーフカット工
程によって形成された切削溝に沿って被加工物を切断す
る切断工程と、を含む、 ことを特徴とする2スピンドル切削装置における切削方
法。 - 【請求項2】 該切削ブレードは、環状の基板の外周に
砥石ブレードが形成されたハブブレードからなってい
る、請求項1記載の2スピンドル切削装置における切削
方法。 - 【請求項3】 該一方のスピンドルユニットに装着され
る該切削ブレードの厚さは、該他方のスピンドルユニッ
トに装着される該切削ブレードの厚さより厚く設定され
ている、請求項1記載の2スピンドル切削装置における
切削方法。
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---|---|---|---|
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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ID=19179570
Family Applications (1)
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Country | Link |
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