JP2003142636A - 封止用樹脂、樹脂封止型半導体及びシステムインパッケージ - Google Patents
封止用樹脂、樹脂封止型半導体及びシステムインパッケージInfo
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Abstract
間)へ充填性の良いフィラー分布を持つ封止用樹脂の供
給を目的とする。 【解決手段】 充填性の悪い狭い隙間に対しては粒度の
小さなフィラー粒子13bを充填し、充填性が比較的よい
大きい隙間には粒度の大きなフィラー粒子13aを充填す
るような、複数の異なるフィラー分布を持つ樹脂封止用
フィラーを含有する封止用樹脂を提供する。
Description
域の異なった複数の異なった幅を有する空隙に応じて、
各空隙に対応したフィラー分布を持つ、換言すると複数
の異なったフィラー分布のピークを有するフィラー粒子
を含有する封止用樹脂並びにその封止用樹脂を用いた樹
脂封止型半導体及びシステムインパッケージに関する。
いられる封止用樹脂は主にエポキシ樹脂をベースとし、
特にシリカフィラーを主体とする充填材により組成され
る。この関係については多くの特許が公開されている。
特開昭57−212225号公報には結晶性シリカ粉末
と溶融性シリカ粉末との混合物を、特開昭62−261
161号公報には破砕シリカと球状シリカとの混合物を
フィラーとすることが開示されている。また、特開平2
−226615号公報には破砕シリカと微細溶融球状フ
ィラーの混合でその比表面積や形状について開示されて
いるが、複雑な構造をしている対象物の隙間を流れる充
填性に対して、フィラーの粒度分布組成の認識が成され
ておらず、特に異なった隙間(空隙)に対し、それぞれ
の隙間(空隙)にあったフィラー分布を構成することに
ついての開示がない。
ように、樹脂成形で封止しようとする対象物は複雑な構
造をしていく傾向にあり、現在においてはその樹脂充填
時に発生する隙間の間隔による差が樹脂未充填やボイド
の発生を引き起こし、問題となっている。
鑑みなされたものであり、樹脂成形で封止するための異
なった空隙(隙間)、特に成形時の溶融樹脂が流通可能
な幅が異なる複数の空隙へ充填性の良いフィラー分布を
持つ封止用樹脂を供給することを目的とする。
該樹脂成分に含有されるフィラー粒子を含んで成る封止
用樹脂において、前記フィラー粒子が複数の異なったフ
ィラー分布のピークを有することを特徴とする封止用樹
脂である。
ケージのように容器の内部空間を、フィラー粒子を分散
させた封止用樹脂で封止しながら樹脂成形する際には、
樹脂として熱可塑性樹脂を使用し、この熱可塑性樹脂を
加熱し溶融するとともに、該溶融樹脂中に粒状のフィラ
ー粒子を分散させる。そしてこの溶融樹脂を前記容器中
に供給すると容器の内部空間の形状に対して溶融樹脂が
進入し前記空間内に充填され、その後冷却されることに
より溶融樹脂が硬化して充填が完了する。
状ではなく、通路等が組み合わされた複雑な形状の内部
構造を有している。本発明の封止用樹脂を使用すると、
未充填部やボイドを形成することなく、このような複雑
な形状を有する容器等の内部空間を充填することができ
る。つまり本発明の封止用樹脂は、樹脂成形中のフィラ
ー粒子が複数の異なったフィラー分布のピークを有し、
例えば2個のピークを有する場合には、比較的大径のフ
ィラー粒子と比較的小径のフィラー粒子が樹脂成分中に
存在する。樹脂成形時には、通常は熱可塑性樹脂である
樹脂成分は、溶融状態にあり、大きな自由度で容器内の
通路内等を進行できる。一方フィラー粒子は固体であり
殆ど又は全く変形できないため、通路等の幅より大径の
粒子であるフィラー粒子が存在すると、前記通路等の封
止用樹脂による充填が良好に行えないことがある。
ィラー粒子が複数の異なったフィラー分布の粒径ピーク
を有するようにし、このようなフィラー分布を有するフ
ィラー粒子は複数の独立したフィラー分布を有する複数
のフィラー粒子を混合して調製できる。このような複数
の異なったフィラー分布のピークを有するフィラー粒子
を充填すべき容器等に供給すると、最も大きい粒径ピー
ク又はその近傍の粒径を有するフィラー粒子が内壁間の
幅の広い通路等に供給されて樹脂成分とともに充填さ
れ、最も小さい粒径ピーク又はその近傍の粒径を有する
フィラー粒子が内壁間の幅の狭い通路等に供給されて樹
脂成分とともに充填されて内部空間の充填が完了する。
ク)を持つ封止樹脂を用いて封止を行った場合幅の狭い
所と、主流れとなる幅の広い領域があるが、内部にボン
ディングワイヤなどが存在する様な流れの阻害要因とな
る構造部があると、フィラー粒子を偏在させた為による
粘度上昇や大きなフィラーの影響などを受けてワイヤ変
形を起こしてしまうといった欠点がある。そこで、その
様な構造物がある場合には、フィラーの分布を3種類の
独立したものにし(3種類のピークを有するフィラー粒
子とし)、ワイヤ同士の間を流れ易いようなフィラー粒
子の分布(ワイヤ間隔の70〜85%のフィラー最大粒
径頻度分布となるフィラー)を追加することで、ワイヤ
流れを抑制するという効果がある。ただし、この時にフ
ィラー粒子の粒径が狭い空間の幅の200%を割らない
ようにすることが望ましい。
等に供給されると、通路の開口内に進入する際の抵抗が
大きくなるため進入できず、進路が幅の広い通路等へ変
更されてその通路内に充填される。逆に粒径の小さいフ
ィラー粒子が幅の広い通路等に供給されると、そのまま
該通路内に進入して充填される。比較的粒径の小さいフ
ィラー粒子のみを含む封止用樹脂を前記容器等に供給す
ると、充填箇所の広狭にかかわらずほぼ均一に充填され
るが、充填箇所の幅に対するフィラー粒子の粒径が小さ
過ぎ、充填箇所の強度が十分に上昇せず、封止用樹脂に
よる充填の効果が発揮できなくなる。これに対し本発明
によると、各充填箇所の強度を十分に保持しながら、前
述した通り各充填箇所を過不足なく封止用樹脂で充填で
きる。
フィラーと球状フィラーを混合して用いられる。流動性
を向上させるためには球状フィラー量を増加させ、実装
時のリフローによるパッケージクラックを押さえるには
破砕フィラー量を増加させる。本発明により提供される
フィラー、好ましくはシリカフィラーは、前述の通り樹
脂を充填する隙間の間隙の大きさによりフィラーの粒度
分布を変更し、充填性を向上させるものである。つま
り、フィラーの形状を変更し、充填性の悪い狭い隙間に
対しては粒度の小さな球状フィラーを用い、大きな間隙
となる部分への充填性に関しては粒度の大きな破砕フィ
ラーを用いて充填することにある。また、それぞれのフ
ィラー粒子の最大粒径をそれぞれの空隙の幅の70〜8
5%とすることで、隙間でのシェルティングによる未充
填を防いでいる。
粉砕して作成されたものをいい、球状とは一般に火炎溶
融炉などで微粉砕された粒子を溶融球状化したものをい
う。外観上は破砕状とは破砕粒子が有する角のある任意
の形状を持つ粒子状態であるものをいい、球状とは真球
ないしは実質的に鋭角な角がない丸みのある粒子状態の
ものをいう。また、以上のシリカフィラーの形状は、容
易に電子顕微鏡や金属顕微鏡で確認することが出来る。
い領域への充填性においては、従来の全てのフィラー径
が入った樹脂ではその隙間よりも大きなフィラーが塞い
でしまい、充填性を悪化させるといった問題があった
が、本発明における封止用樹脂を用いることで狭い領域
へ樹脂が流れ込む流入位置をフィラーが塞ぐ事を防ぐた
めにそのサイズのフィラーをカットし、より大きなフィ
ラーを使用することでそれを防止することができる。つ
まり、隙間へ流入する樹脂の抵抗に対して他の領域へ流
れる樹脂流れによりフィラーが受ける抵抗が大きくなる
ようなフィラー径とすることにある。この抵抗値はベル
ヌイの方程式から容易に導き出すことが出来る。また、
境界層に影響されるようなフィラーは全体の分布の中で
比較的小さいことも新しい知見である。そして、分布の
中の大きな径のフィラーは流線にそって流れていく。
度が変動する。この粘度特性は全体としての比表面積や
硬化剤など他の組成を変更することで押さえることが可
能である。本発明の封止用樹脂を半導体封止用樹脂組成
物として使用する場合、その中に含まれる樹脂封止用フ
ィラーの充填率は70〜90重量%の範囲であることが
好ましく、これにより充填挙動の流れ制御を行い易くな
っている。また、ある粒径分布を有する複数粒子の前記
粒径分布の特性を表す指標としてロジン−ラムラー線図
がある。この線図においてフィラー分布のピーク値が等
しい場合、傾斜角(均等数)n値が大きいとピークの高
さ(頻度)が高くなって傾斜が急になり、傾斜角が小さ
いとピークの高さが低くなって傾斜が緩やかになる。
に基づいて説明する。図1は、本発明の封止用樹脂を使
用して容器内の内部空間を充填する第1実施態様を示す
縦断面図である。
脂12とその中に分散された多数のフィラー粒子13を有
し、例えば半導体パッケージのような容器中の内部空間
を「X」で示す方向に向けて流れている。前記フィラー
粒子13は、複数の独立したフィラー分布、つまり複数の
異なったフィラー分布のピークを有している。封止用樹
脂11が所定の距離進むとワイヤ14に衝突する。このと
き、ワイヤ14と下方の内壁15間に形成される狭い隙間
(A)には小さなフィラー粒子13bが充填されていき、
ワイヤ14と上方の内壁16間に形成される広い隙間(B)
には大きなフィラー13aと小さなフィラー粒子13bが充
填されていく。そして、大きなフィラー13aが狭い隙間
(A)に進入する位置にあっても矢印Yで示すように、
大きなフィラー13aは広い隙間(B)の方に移動する。
このように複数の独立したフィラー分布を持つフィラー
粒子13を含む封止用樹脂11を用いることで狭い隙間
(A)及び広い隙間(B)のいずれにも充填不良を招く
ことなく充填を完了することが可能になる。
半導体パッケージ内の内部空間を充填する第2実施態様
を示す平面図、図2bは、図2aのA−A線縦断面図で
ある。図2a及び2bに示すように、本実施形態の封止
用樹脂21は、半導体パッケージの樹脂注入ゲート口22か
ら注入され、半導体パッケージ内が充填されていく。図
2bに示すように、半導体素子24とパッケージ壁面25で
囲まれた隙間23には複数のワイヤ27が遍在しており、ワ
イヤ27同士の間やワイヤ27と半導体素子24との間の狭い
空間23bには小さなフィラー粒子28bが充填され、パッ
ケージ壁面25とワイヤ27との間の広い隙間23aには大き
なフィラー粒子28aと小さな粒子28bが充填される。
ラット・パッケージ)内でワイヤ間隔を150μmとし
た場合の、ワイヤ周辺とパッケージ中央における封止用
樹脂の断面中に含まれるフィラー粒子の断面積の封止用
樹脂の断面積に対する割合(断面占有率)を示すグラフ
である。グラフ中に示す通り、ワイヤ周辺のフィラー粒
子の断面占有率は約38%で、 パッケージ中央のフィラ
ー粒子の断面占有率は約43%であった。これらの結果
は、大きなフィラー粒子は狭い空間より広い空間に充填
され易いことを示している。又同じ広い空間、例えば図
2bの広い空間23b内でも、ワイヤ27周辺やパッケージ
壁面25周辺よりも、ワイヤ27とパッケージ壁面25のほぼ
中間の空間の方がフィラー粒子の断面占有率が高いこと
を意味している。つまり流れ易い(流速が速い)領域の
方が、流れ難い(流速が遅い)領域に比べ、フィラーの
断面占有率が高く、換言するとフィラーの量が多いこと
を示している。
を有するシリカフィラーの粒度分布例を示し、図5は図
4の粒径分布に対応するロジン−ラムラー線図を示して
いる。図5中の点線は図4の粒径分布の頻度の積分値で
この点線の傾斜がロジン−ラムラー線図の傾斜角n値で
ある。このような3種類の独立したフィラー分布を有す
る封止用樹脂は、より複雑な内部構造への充填に際し
て、各隙間に応じた適切な充填制御を可能にしており、
また、最も大きいフィラーの分布において破砕フィラー
を用い、充填の早い隙間(領域)で流れ制御を行うこと
を可能にしている。
大粒径頻度分布が1.8μm前後であり、ロジン−ラム
ラー線図の傾斜角n値が0.8〜1.4の範囲となる球
状シリカフィラーと、平均粒径が20μm前後であり、
ロジン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.6〜1.4と
なるようなフィラー分布を持つ破砕又は球状シリカフィ
ラーを含有していた。この封止用樹脂は一般に用いられ
ている半導体パッケージへの充填性に非常によい特性を
示した。
均粒径が0.75μm前後であり、ロジン−ラムラー線
図の傾斜角n値が0.8〜1.4の範囲となる球状シリ
カフィラーと、平均粒径が2.0μm前後であり、ロジ
ン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.8〜1.4の範囲
となる球状シリカフィラーと、平均粒径が20μm前後
であり、ロジン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.6〜
1.4の範囲となる球状又は破砕シリカフィラーとなる
ような分布を有していた。
フィラー粒子又は複数の粒径分布ピークを有するフィラ
ー粒子を封止用樹脂中で用いることで、充填性の悪い狭
い隙間に対しては粒度の小さいフィラーを充填し、充填
性の比較的よい大きな隙間には粒度の大きなフィラーを
充填することで複雑な内部構造に対してもそれぞれの隙
間の大きさに応じ充填性のよいフィラー分布を持つ封止
用樹脂を供給することが可能になる。また、狭い隙間で
はその隙間に対しての70〜85%の大きさの最大粒径
のフィラーを用いることで充填性の向上を図ることが可
能になる。
間を充填する第1実施態様を示す縦断面図である。
間を充填する第2実施態様を示すもので、図2aはその
平面図、図2bは、図2aのA−A線縦断面図である。
粒子の断面占有率を示すグラフである。
カフィラーの粒度分布例を示すグラフである。
図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 樹脂成分及び該樹脂成分に含有されるフ
ィラー粒子を含んで成る封止用樹脂において、前記フィ
ラー粒子が複数の異なったフィラー分布のピークを有す
ることを特徴とする封止用樹脂。 - 【請求項2】 フィラーが破砕及び/又は球状の形状を
有する請求項1記載の封止用樹脂。 - 【請求項3】 最大粒径頻度分布が1.0〜20μmに
あり、ロジン−ラムラー線図の傾斜角(均等数)n値が
0.8〜1.4の範囲となる分布を有する第1のフィラ
ー粒子と、最大粒径頻度分布が5〜15μmであり、ロ
ジン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.6〜1.4の範
囲となる分布を有する第2のフィラー粒子、及びこれら
のフィラー粒子を含有する樹脂成分を含んで成ることを
特徴とする封止用樹脂。 - 【請求項4】 最大粒径頻度分布が0.5〜1μmであ
り、ロジン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.8〜1.
4の範囲となる球状の第1フィラー粒子と、最大粒径頻
度分布が1.2〜5μmであり、ロジン−ラムラー線図
の傾斜角n値が0.8〜1.4の範囲となる球状の第2
フィラー粒子と、最大粒径頻度分布が15〜25μmで
あり、ロジン−ラムラー線図の傾斜角n値が0.6〜
1.4の範囲となる球状又は破砕された第3フィラー粒
子及びこれらのフィラー粒子を含有する樹脂成分を含ん
で成ることを特徴とする封止用樹脂。 - 【請求項5】 フィラー粒子全体のロジン−ラムラー線
図の傾斜角n値が0.6〜1.4である請求項1乃至3
のいずれかに記載の封止用樹脂。 - 【請求項6】 樹脂封止を行おうとする製品の最小断面
の隙間に対して、第1フィラー粒子の最大粒径頻度分布
が70〜85%である請求項2乃至4のいずれかに記載
の封止用樹脂。 - 【請求項7】 樹脂封止を行おうとする製品の異なる二
つ以上の断面の隙間に対して、それぞれの隙間の70〜
85%となる最大粒径頻度分布を持つフィラー粒子を含
有する請求項2乃至4のいずれかに記載の封止用樹脂。 - 【請求項8】 樹脂封止を行おうとする製品の最大断面
の隙間に対して、フィラー粒子の最大粒径が70〜85
%となる請求項1乃至4のいずれかに記載の封止用樹
脂。 - 【請求項9】 請求項1乃至8のいずれかに記載の封止
用樹脂を含有することを特徴とする半導体封止用樹脂組
成物。 - 【請求項10】 組成物中に含まれる封止用樹脂の充填
率が70〜90重量%の範囲である請求項9に記載の半
導体封止用樹脂組成物。 - 【請求項11】 請求項8又は9に記載の封止用樹脂組
成物を半導体パッケージに充填したことを特徴とする樹
脂封止型半導体。 - 【請求項12】 請求項1乃至8のいずれかに記載の封
止用樹脂とともに半導体素子及びその機能部を一括して
樹脂封止したことを特徴とするシステムインパッケー
ジ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002225456A JP2003142636A (ja) | 2001-08-02 | 2002-08-02 | 封止用樹脂、樹脂封止型半導体及びシステムインパッケージ |
Applications Claiming Priority (3)
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---|---|---|---|
JP2001-234324 | 2001-08-02 | ||
JP2001234324 | 2001-08-02 | ||
JP2002225456A JP2003142636A (ja) | 2001-08-02 | 2002-08-02 | 封止用樹脂、樹脂封止型半導体及びシステムインパッケージ |
Publications (1)
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---|---|
JP2003142636A true JP2003142636A (ja) | 2003-05-16 |
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ID=26619807
Family Applications (1)
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JP2002225456A Pending JP2003142636A (ja) | 2001-08-02 | 2002-08-02 | 封止用樹脂、樹脂封止型半導体及びシステムインパッケージ |
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-
2002
- 2002-08-02 JP JP2002225456A patent/JP2003142636A/ja active Pending
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