JP2003133470A - アレイ型ボンディングパッドを備える半導体チップおよびそのパッケージ - Google Patents

アレイ型ボンディングパッドを備える半導体チップおよびそのパッケージ

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JP2003133470A JP2002188887A JP2002188887A JP2003133470A JP 2003133470 A JP2003133470 A JP 2003133470A JP 2002188887 A JP2002188887 A JP 2002188887A JP 2002188887 A JP2002188887 A JP 2002188887A JP 2003133470 A JP2003133470 A JP 2003133470A
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bonding pad
row
bonding
bonding pads
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Wen-Lung Cheng
文隆 鄭
I-Feng Chang
▲逸▼鳳 張
Hung-Cheng Huang
宏政 黄
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Abstract

(57)【要約】 【課題】アレイ型ボンディングパッドを備える半導体チ
ップおよびそのパッケージを提供する。 【解決手段】半導体チップは、チップの上表面周辺に位
置する複数のボンディングパッドを備え、その特徴は、
ボンディングパッドは最内列ボンディングパッドと、内
列ボンディングパッドと、外列ボンディングパッド及び
最外列ボンディングパッドと、からなる、少なくとも4
列に配列され、最内列ボンディングパッド及び内列ボン
ディングパッドは信号パッドからなり、最外列ボンディ
ングパッド及び外列ボンディングパッドはパワーパッド
及び接地パッドからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体チップおよ
びチップパッケージに関するものであって、特に、少な
くとも4列のアレイ型ボンディングパッドのワイヤボン
ディング(wire−bonding)チップパッケージ、例えば
ボールグリッドアレイ(Ball Grid Array、BGA)構造
或いは、フリップチップ(Flip Chip)構造に関するも
のである。
【0002】半導体技術の発展に伴って、半導体チップ
の動作速度及びその設計の複雑度は日増しに高まってい
る。よって、半導体のパッケージ(packaging)も絶え
間なく創作され、パッケージの効率を向上させている。
【0003】半導体チップのワイヤボンディングのパッ
ケージ構造において、チップ上のボンディングパッド
(bonding pad)の配置は重要視されている。例えばボ
ールグリッドアレイパッケージ等の基板上の導電トレー
スはリソグラフィー技術により規定され、精細なピッチ
を達成することが出来る。しかし、ボンディングパッド
ピッチは一般に、ワイヤボンディングの作業スペースと
設計基準に制限されるため、導電トレースに見合う大き
さに設計することが出来ない。このように、ICボンディ
ングパッド配置の設計は、パッケージング効率を決定す
る重要な要素の一つとなっている。
【0004】一般的に、半導体チップの構造と性能は、
外部回路素子との接続数を決定する(入力/出力接続或
いはI/O接続)。更に具体的に言うと、高性能のチップ
は、更に多くのI/O接続を備える。これにより、ICボン
ディングパッド設計はその性能に応じて決定しなければ
ならない。
【0005】
【従来の技術】現在よく見られる公知のICボンディング
パッド配置設計は、一列(si ngle in line)ボンデ
ィングパッド設計及び交互型(staggered)ボンディン
グパッド設計である。チップの性能に応じて、チップ表
面に設計できる最大許容ボンディングパッド数を増加さ
せることが望ましいが、一列ボンディングパッド設計で
はこの要求を満たすことが出来ない。交互型ボンディン
グパッド設計は最大許容ボンディングパッド数を増加さ
せることが出来、幅広く用いられている。
【0006】図1及び図2は、公知の交互型BGAパッ
ケージ100を示している。パッケージ構造100は、
基板120の上表面に位置する交互型(つまり二列配
列)のボンディングパッド設計のチップ110を備え
る。更に、基板120の上表面には、接地リング13
0、パワーリング140、複数の導電トレース160を
備える。図2で示されるように、チップ110上の上表
面には、2列に配列された複数のボンディングパッドを
備える。チップ110上のボンディングパッド122
は、接地ポテンシャルを供給する接地パッドと、ソース
電圧を提供するパワーパッド及び信号を入力/出力する
信号パッド(或いはI/Oパッドと称する)とを備え
る。ボンディングパッド122は、ボンディングワイヤ
122a、122b、122c及び122dにより、そ
れぞれ、接地リング130、パワーリング140及び導
電トレース160に接続され、基板120の上表面の一
部はパッケージボディ150に封入されている。
【0007】図2で示されるように、ボンディングワイ
ヤ122aは、接地パッドとなる外列ボンディングパッ
ド122を接地リング130と接続する。ボンディング
ワイヤ122bは、パワーパッドとなる外列ボンディン
グパッド122をパワーリング140と接続する。ボン
ディングワイヤ122cと122dは、外列ボンディン
グパッドとI/Oパッドとなる内列ボンディングパッド
122を導電トレース160と接続する。この公知の交
互型BGAパッケージ100において、ボンディングパ
ッド122は更に多くのI/Oパッドを備えるため、接
地リング130とパワーリング140にチップ110近
くで接続される接地パッド及びパワーパッドは、外列ボ
ンディングパッド122として配置される。更に、少な
くとも4層のボンディングワイヤは異なるループ高さを
備え、ショートの発生を防ぐ。つまり、ワイヤ122a
と122bのループ高さ(loop height)は、ボンディ
ングワイヤ122cより低く、ボンディングワイヤ12
2cのループ高さはボンディングワイヤ122dより低
い。
【0008】しかし、公知の交互型BGAパッケージの
チップに設計できる最大許容ボンディングパッド数は限
りがあり、パッド数を増加させたければチップ面積を大
きくしなければならないため、チップが大きくなり、コ
ストや歩留まり率に影響を与える。
【0009】図3及び図4は3列型BGAパッケージ2
00を示している。パッケージ200は基板220の上
表面に設置された3列型ボンディングパッド設計のチッ
プ210を備える。更に、基板220の上表面には、接
地リング230と、パワーリング240及び複数の導電
トレース260を備える。図4で示されるように、チッ
プ210表面は3列に配列されたボンディングパッド2
22を備えている。チップ210上のボンディングパッ
ド222は、パワーパッド、接地パッド、I/Oパッド
を備え、外列ボンディングパッド222はパワーパッド
及び接地パッドからなり、中間と内列ボンディングパッ
ド222はI/Oパッドからなる。図3で示されるよう
に、ボンディングパッド222は3段のボンディングワ
イヤ222a、222b及び222cにより、それぞ
れ、接地リング230、パワーリング240、導電トレ
ース260に接続される。ボンディングワイヤ222a
は外列ボンディングパッド222を接地リング230或
いはパワーリング240に接続し、中間層ボンディング
ワイヤ222bと高層ボンディングワイヤ222cは、
中間と内側ボンディングパッド222を導電トレース2
60に接続する。なお、チップ210、ボンディングワ
イヤ222a、222b、222c及び基板220の上
表面の一部はパッケージボディ250に封入される。
【0010】公知の3列型BGAパッケージ200は、
チップ上に設計できる最大許容ボンディングパッド数を
増加させることができる。しかし、外列ボンディングパ
ッド222はパワーパッド及び接地パッドのみであるか
ら、パワーパッド及び接地パッドの数は列数に制限され
る。更に、パワーリング240又は接地リング230に
パワーパッド又は接地パッドを接続するボンディングワ
イヤ222aは近接して配置され、よって、ボンディン
グワイヤのインダクタンス効果により雑音を生じて、信
号伝達の品質に影響を与える。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、アレイ型ボ
ンディングパッドを備える半導体チップのパッケージに
関するものであって、チップ上に設計できる最大許容ボ
ンディングパッド数を増加させることを目的とする。つ
まり、本発明は、同じボンディングパッド数の時、チッ
プサイズを減少させることが出来、コストを抑制し、チ
ップのパッケージ品質を向上させる。
【0012】本発明は、アレイ型ボンディングパッドを
備える半導体チップのパッケージに関するものであっ
て、ボンディングパッドが生じるインダクタンス効果を
減少させて雑音を減少し、信号伝達の品質を向上させ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明はパッケージを開
示し、上表面を備え、上表面に接地リング、パワーリン
グ、複数の導電トレースが提供されている基板と、前記
基板上表面に設置され、最内列ボンディングパッドと、
内列ボンディングパッドと、外列ボンディングパッド及
び最外列ボンディングパッドとからなる前記ボンディン
グパッドが、周囲に少なくとも4列に配列されたチップ
と、からなり、前記最内列ボンディングパッド及び前記
内列ボンディングパッドは、信号パッドからなり、前記
外列ボンディングパッド及び前記最外列ボンディングパ
ッドは、パワーパッド及び接地パッドからなる。
【0014】前述のパッケージは、フリップチップ構造
である。
【0015】パッケージは、更に、チップの最外列ボン
ディングパッドを前記基板の対応する導電トレースに電
気的に接続する第一組ボンディングワイヤと、チップの
前記外列ボンディングパッドを前記基板の対応する導電
トレースに電気的に接続する第二組ボンディングワイヤ
と、チップの前記内列ボンディングパッドを前記基板の
対応する導電トレースに電気的に接続する第三組ボンデ
ィングワイヤと、チップの前記最内列ボンディングパッ
ドを前記基板の対応する導電トレースにそれぞれ電気的
に接続する第四組ボンディングワイヤと、チップ、ボン
ディングワイヤ及び基板上表面を覆うように形成された
パッケージボディと、からなる。パッケージはボールグ
リッドアレイ(BGA)パッケージである。
【0016】前記パッケージにおいて、前記最内列ボン
ディングパッドと前記内列ボンディングパッドは、前記
チップの側辺に垂直で、互い違いに配列され、前記外列
ボンディングパッドは、前記チップの側辺に垂直で、前
記最内列ボンディングパッドと一列であり、前記最外列
ボンディングパッドは、前記チップの側辺に垂直で、前
記内列ボンディングパッドと一列である。
【0017】また、前記ボンディングパッドは、好まし
くは複数のボンディングパッド組を構成し、各ボンディ
ングパッド組は、最内列ボンディングパッドと、内列ボ
ンディングパッドと、外列ボンディングパッドと、最外
列ボンディングパッドと、からなる。さらに、各ボンデ
ィングパッド組の幅は、ボンディングパッドピッチの幅
の2つ分に等しい。
【0018】本発明は更に、上表面周辺に位置する複数
のボンディングパッドを備える半導体チップを開示し、
半導体チップの特徴は、ボンディングパッドはチップの
各側辺に沿って、少なくとも4列に配列され、その4列
とは、最内列ボンディングパッドと、内列ボンディング
パッドと、外列ボンディングパッド及び最外列ボンディ
ングパッドと、であり、最内列ボンディングパッド及び
内列ボンディングパッドは信号パッドからなり、最外列
ボンディングパッド及び外列ボンディングパッドはパワ
ーパッド及び接地パッドからなる。
【0019】前記半導体チップにおいて、最内列ボンデ
ィングパッドと内列ボンディングパッドは、チップの側
辺に垂直で互い違いに配列され、外列ボンディングパッ
ドは、チップの側辺に垂直で最内列ボンディングパッド
と一列であり、最外列ボンディングパッドは、チップの
側辺に垂直で内列ボンディングパッドと一列である。
【0020】また、前記パッケージにおいて、ボンディ
ングパッドは好ましくは、複数のボンディングパッド組
を構成し、各ボンディングパッド組は、最内列ボンディ
ングパッドと、内列ボンディングパッドと、外列ボンデ
ィングパッドと、最外列ボンディングパッドと、からな
る。この他、各ボンディングパッド組の幅は、ボンディ
ングパッドピッチの幅の2つ分に等しい。
【0021】前記半導体チップは、フリップチップ構
造、或いは、ボールグリッドアレイ構造に適用すること
が出来る。
【0022】
【発明の実施の形態】上述した本発明の目的、特徴、及
び長所をより一層明瞭にするため、以下に本発明の好ま
しい実施の形態を挙げ、図を参照にしながらさらに詳し
く説明する。
【0023】図5は、本発明の一具体例によるチップ1
0を説明する。
【0024】具体例において、チップ10上にチップの
上表面周辺に位置する複数のボンディングパッド20が
配置される。本発明の特徴は、ボンディングパッドの設
計にあり、ボンディングパッド20は少なくとも4列以
上に配列され(具体例では4列)、内側から外側にそれ
ぞれ、最内列ボンディングパッド24、内列ボンディン
グパッド23、外列ボンディングパッド22及び最外列
ボンディングパッド21である。最内列ボンディングパ
ッド24及び内列ボンディングパッド23は信号パッド
となり、外列ボンディングパッド22及び最外列ボンデ
ィングパッド21はパワーパッド及び接地パッドとな
る。
【0025】本発明のボンディングパッド配列を具体的
に説明するため、図6を参照し、図5中のボンディング
パッド20配列に関する特徴を説明する。
【0026】図6において、最内列ボンディングパッド
24と内列パッド23(即ち、信号パッド)は、公知の
交互型ボンディングパッド配置の方法に類似しており、
チップ10の側辺に互い違いに配列され、外列ボンディ
ングパッド22は、チップ10の側辺に垂直で、最内列
ボンディングパッド24と一列であり、最外列ボンディ
ングパッド21は、チップ10の側辺に垂直で、内列ボ
ンディングパッド23と一列である。特に、外列ボンデ
ィングパッド22及び最外列ボンディングパッド21
(即ち接地パッドとパワーパッド)も、チップ10の側
辺に互い違いに配列されている。
【0027】注目すべきことは、隣接するボンディング
パッド20の間は、ボンディングパッドピッチPを有
し、更に、各列ボンディングパッド20は、最内列ボン
ディングパッド24、内列ボンディングパッド23、外
列ボンディングパッド22、及び最外列ボンディングパ
ッド21により、一組のボンディングパッド組25を構
成している。これにより、各ボンディングパッド25の
幅は、図6で示されるように、2つのボンディングパッ
ドピッチPの幅2Pに等しい。
【0028】図7と図8は、本発明の具体例によるアレ
イ型ボンディングパッドチップパッケージ1を説明す
る。
【0029】図7と図8で示されるように、アレイ型ボ
ンディングパッドを備える半導体チップパッケージ1
は、基板12を備え、基板12の上表面に接地リング3
0と、パワーリング40と、複数の導電トレース60
と、半導体チップ10と、を備えている。更に、チップ
10表面は上述したように、ボンディングパッド20が
設置され、チップ10の内から外へ、同様に、最内列ボ
ンディングパッド24、内列ボンディングパッド23、
外列ボンディングパッド22及び最外列ボンディングパ
ッド21である。
【0030】図7で示されるように、複数の第一組ボン
ディングワイヤ21aは最外列ボンディングパッド21
を接地リング30に接続し、ループ高さが第一組ボンデ
ィングワイヤ21aより高い複数の第二組ボンディング
ワイヤ22aは、外列ボンディングパッド22をパワー
リング40に接続し、内列ボンディングパッド23及び
最内列ボンディングパッド24は信号パッドとなり、複
数の第三組ボンディングワイヤ23a及び第四ボンディ
ングワイヤ24aは、内列ボンディングパッド23及び
最内列ボンディングパッド24を導電トレース60に接
続する。第三ボンディングワイヤ23aは第二ボンディ
ングワイヤ22aより高いループ高さを備え、第四ボン
ディングワイヤ24aはボンディングワイヤ間で、一番
高いループ高さを備える。更に、チップ10、ワイヤ2
1a、22a、23a、24a及び基板12上表面はパ
ッケージボディ50に封入される。前記第一組21a、
前記第二組22a、前記第三組23a、前記第四組ボン
ディングワイヤ24aは、それぞれ、異なるループ高さ
を備えて、ショートするのを防ぐ。
【0031】本発明は、半導体チップ上に設計できる最
大許容ボンディングパッド数を増加させることができ
る。つまり、チップサイズはチップ上に提供される同数
のボンディングパッドにより減少させることができ、コ
ストを抑制し、パッケージの品質を向上させることがで
きる。
【0032】更に、本発明において、パワーパッドと接
地パッドは最外列ボンディングパッドと外列ボンディン
グパッドに配置され、パワーパッドと接地パッドの数は
公知の3列型パッケージより増加する。これは、パワー
パッドと接地パッドをパワーリングと接地リングに接続
する更に多くのボンディングワイヤが必要である。つま
り、本発明は好ましい信号伝達品質を備える半導体チッ
プのパッケージを提供する。
【0033】ここで、注目すべきことは、本具体例にお
いて、最外列ボンディングパッド21は接地パッドと
し、第一ボンディングワイヤ21aにより、接地リング
30に接続し、外列ボンディングパッド22はパワーパ
ッドとし、第二ボンディングワイヤ22aにより、パワ
ーリング40に接続されることである。しかし、本発明
は、このような配置に限定するものではなく、各組ワイ
ヤが隔離されてショートが生じないようにすれば、最外
列ボンディングパッド21及び外列ボンディングパッド
22は、パワーパッド或いは接地パッドのどちらにもす
ることが出来る。
【0034】本発明の半導体チップ及びそのパッケージ
は、フリップチップ構造或いはボールグリッドアレイ構
造及びその他同類のパッケージに適用することが出来
る。また、本発明は、上述の具体例の4列のボンディン
グパッドに限定するものではなく、チップ設計の必要に
応じて、列数を増やすことが出来、チップの機能要求を
満たすことが出来る。
【0035】本発明では好ましい形態を前述の通り開示
したが、これらは決して本発明に限定するものではな
く、当該技術を熟知する者なら誰でも、本発明の精神と
領域を脱しない範囲内で各種の変更を加えることがで
き、本発明の保護範囲は特許請求の範囲で指定した内容
を基準とする。
【0036】
【発明の効果】コストの抑制、チップのパッケージ品質
の向上、雑音の減少、信号伝達の品質を向上させること
が出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】公知の交互型ボンディングパッドを備える公知
のBGAパッケージの断面図である。
【図2】図1のパッケージボディが取り除かれたパッケ
ージの上面図である。
【図3】3列型ボンディングパッドを備える公知のBGA
パッケージの断面図である。
【図4】図3のパッケージボディが取り除かれたパッケ
ージの上面図である。
【図5】本発明のアレイ型に配列されたボンディングパ
ッドを備えるチップの具体例を示す図である。
【図6】図5のボンディングパッドの配列を示す上面図
である。
【図7】本発明のパッケージの具体例を示す図である。
【図8】図7のパッケージボディが取り除かれたパッケ
ージの上面図である。
【符号の説明】
1…パッケージ 10…アレイ型ボンディングパッドを備える半導体チッ
プ 12、120、220…基板 20、122、222…ボンディングパッド 21…最外列ボンディングパッド 22…外列ボンディングパッド 23…内列ボンディングパッド 24…最内列ボンディングパッド 21a…第一組ボンディングワイヤ 22a…第二組ボンディングワイヤ 23a…第三組ボンディングワイヤ 24a…第四組ボンディングワイヤ 25…ボンディングパッド組 30、130、230…接地リング 40、140、240…パワーリング 50、150、250…パッケージボディ 60、160、260…導電トレース P…ボンディングパッドピッチ 100…交互型BGAのチップパッケージ 110…交互型ボンディングパッドチップ 122a、122b、122c、122d、222a、
222b、222c…ボンディングワイヤ 200…3層型BGAチップパッケージ 210…3列型ボンディングパッド設計のチップ

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】パッケージであって、 上表面を備え、前記上表面に接地リング、パワーリン
    グ、導電トレースを設置する基板と、 前記基板の上表面に設置され、周辺に複数のボンディン
    グパッドを備え、最内列ボンディングパッドと、内列ボ
    ンディングパッドと、外列ボンディングパッド及び最外
    列ボンディングパッドとからなる前記ボンディングパッ
    ドが、少なくとも4列に配列された半導体チップと、か
    らなり、 前記最内列ボンディングパッド及び前記内列ボンディン
    グパッドは、信号パッドからなり、前記外列ボンディン
    グパッド及び前記最外列ボンディングパッドは、パワー
    パッド及び接地パッドからなることを特徴とするパッケ
    ージ。
  2. 【請求項2】前記パッケージは、更に、 前記チップの前記最外列ボンディングパッドを前記基板
    の対応する前記導電トレースに電気的に接続する複数の
    第一組ボンディングワイヤと、 前記チップの前記外列ボンディングパッドを前記基板の
    対応する前記導電トレースに電気的に接続する複数の第
    二組ボンディングワイヤと、 前記チップの前記内列ボンディングパッドを前記基板の
    対応する前記導電トレースに電気的に接続する複数の第
    三組ボンディングワイヤと、 前記チップの前記最内列ボンディングパッドを前記基板
    の対応する前記導電トレースに電気的に接続する複数の
    第四組ボンディングワイヤと、 前記チップ、前記ボンディングワイヤ及び前記基板上表
    面を覆うパッケージボディと、からなることを特徴とす
    る請求項1に記載のパッケージ。
  3. 【請求項3】前記最内列ボンディングパッドと前記内列
    ボンディングパッドは、前記チップの側辺に互い違いに
    位置し、 前記外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に垂
    直で、前記最内列ボンディングパッドと一列に配列さ
    れ、 前記最外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に
    垂直で、前記内列ボンディングパッドと一列に配列され
    ることを特徴とする請求項2に記載のパッケージ。
  4. 【請求項4】前記ボンディングパッドは複数のボンディ
    ングパッド組を構成し、各ボンディングパッド組は、最
    内列ボンディングパッドと、内列ボンディングパッド
    と、外列ボンディングパッドと、最外列ボンディングパ
    ッドと、からなり、前記外列ボンディングパッドは前記
    最内列ボンディングパッドと一列に、前記最外列ボンデ
    ィングパッドは前記内列ボンディングパッドと一列に配
    列されていることを特徴とする請求項2に記載のパッケ
    ージ。
  5. 【請求項5】前記各ボンディングパッド組の幅は、ボン
    ディングパッドピッチの幅の2つ分に等しいことを特徴
    とする請求項4に記載のパッケージ。
  6. 【請求項6】前記パッケージは、ボールグリットアレイ
    パッケージであることを特徴とする請求項2に記載のパ
    ッケージ。
  7. 【請求項7】パッケージであって、 前記最内列ボンディングパッドと前記内列ボンディング
    パッドは、前記チップの側辺に互い違いに配列され、 前記外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に垂
    直で、前記最内列ボンディングパッドと一列に配列さ
    れ、 前記最外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に
    垂直で、前記内列ボンディングパッドと一列に配列され
    ることを特徴とする請求項1に記載のパッケージ。
  8. 【請求項8】前記ボンディングパッドは複数のボンディ
    ングパッド組を構成し、各ボンディングパッド組は、最
    内列ボンディングパッドと、内列ボンディングパッド
    と、外列ボンディングパッドと、最外列ボンディングパ
    ッドと、からなり、前記外列ボンディングパッドは前記
    最内列ボンディングパッドと一列で、前記最外列ボンデ
    ィングパッドは前記内列ボンディングパッドに一列で配
    列されることを特徴とする請求項1に記載のパッケー
    ジ。
  9. 【請求項9】各ボンディングパッド組の幅は、ボンディ
    ングパッドピッチの幅の2つ分に等しいことを特徴とす
    る請求項8に記載のパッケージ。
  10. 【請求項10】前記パッケージはフリップチップ構造で
    あることを特徴とする請求項1に記載のパッケージ。
  11. 【請求項11】上表面周辺に位置する複数のボンディン
    グパッドからなる半導体チップであって、その特徴は、 最内列ボンディングパッドと、内列ボンディングパッド
    と、外列ボンディングパッド及び最外列ボンディングパ
    ッドとからなるボンディングパッドが、チップの各側辺
    に沿って、少なくとも4列に配列され、 前記最内列ボンディングパッド及び前記内列ボンディン
    グパッドは、信号パッドからなり、前記外列ボンディン
    グパッド及び前記最外列ボンディングパッドは、パワー
    パッド及び接地パッドからなることを特徴とする半導体
    チップ。
  12. 【請求項12】半導体チップであって、 前記最内列ボンディングパッドと前記内列ボンディング
    パッドは、前記チップの側辺に互い違いに配列され、 前記外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に垂
    直で、前記最内列ボンディングパッドと一列であり、 前記最外列ボンディングパッドは、前記チップの側辺に
    垂直で、前記内列ボンディングパッドと一列であること
    を特徴とする請求項11に記載の半導体チップ。
  13. 【請求項13】前記ボンディングパッドは複数のボンデ
    ィングパッド組を構成し、各ボンディングパッド組は、
    最内列ボンディングパッドと、内列ボンディングパッド
    と、外列ボンディングパッドと、最外列ボンディングパ
    ッドと、からなり、前記外列ボンディングパッドは前記
    最内列ボンディングパッドに一列で、前記最外列ボンデ
    ィングパッドは前記内列ボンディングパッドに一列であ
    ることを特徴とする請求項11に記載の半導体チップ。
  14. 【請求項14】各ボンディングパッド組の幅は、ボンデ
    ィングパッドピッチの幅の2つ分に等しいことを特徴と
    する請求項13に記載の半導体チップ。
  15. 【請求項15】前記半導体チップはフリップチップ構造
    に適用することを特徴とする請求項11に記載の半導体
    チップ。
  16. 【請求項16】前記チップはボールグリッドアレイパッ
    ケージに適用することを特徴とする請求項11に記載の
    半導体チップ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005191447A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法
KR20170033964A (ko) * 2015-09-17 2017-03-28 삼성전자주식회사 재배선 패드를 갖는 반도체 소자

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000100814A (ja) * 1998-09-18 2000-04-07 Hitachi Ltd 半導体装置
US6987032B1 (en) 2002-07-19 2006-01-17 Asat Ltd. Ball grid array package and process for manufacturing same
US6979594B1 (en) 2002-07-19 2005-12-27 Asat Ltd. Process for manufacturing ball grid array package
AU2003302783A1 (en) * 2002-12-10 2004-06-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. High density package interconnect wire bond strip line and method therefor
TW571410B (en) * 2002-12-24 2004-01-11 Via Tech Inc BGA package with the same power ballout assignment for wire bonding packaging and flip chip packaging
JP3986989B2 (ja) * 2003-03-27 2007-10-03 松下電器産業株式会社 半導体装置
US6812580B1 (en) * 2003-06-09 2004-11-02 Freescale Semiconductor, Inc. Semiconductor package having optimized wire bond positioning
US7203916B2 (en) * 2003-06-24 2007-04-10 International Business Machines Corporation System, method and program product for positioning I/O pads on a chip
US7372151B1 (en) 2003-09-12 2008-05-13 Asat Ltd. Ball grid array package and process for manufacturing same
US20050073059A1 (en) * 2003-09-29 2005-04-07 Caruba James Frank Integrated circuit with dual electrical attachment PAD configuration
US20050285281A1 (en) * 2004-06-29 2005-12-29 Simmons Asher L Pad-limited integrated circuit
US7145782B2 (en) 2004-07-16 2006-12-05 Intel Corporation Reducing loadline impedance in a system
JP2006202866A (ja) * 2005-01-19 2006-08-03 Nec Electronics Corp 半導体装置
US7420286B2 (en) * 2005-07-22 2008-09-02 Seagate Technology Llc Reduced inductance in ball grid array packages
US7456505B2 (en) * 2005-07-29 2008-11-25 Infineon Technologies Ag Integrated circuit chip and integrated device
US7361977B2 (en) * 2005-08-15 2008-04-22 Texas Instruments Incorporated Semiconductor assembly and packaging for high current and low inductance
US7327043B2 (en) * 2005-08-17 2008-02-05 Lsi Logic Corporation Two layer substrate ball grid array design
US20070145607A1 (en) * 2005-12-28 2007-06-28 Mathew Ranjan J System to wirebond power signals to flip-chip core
JP2009164195A (ja) * 2007-12-28 2009-07-23 Panasonic Corp 半導体チップ
JP5779748B2 (ja) * 2010-11-02 2015-09-16 リコー電子デバイス株式会社 半導体パッケージ及び電子部品実装体
KR20160000953A (ko) 2014-06-25 2016-01-06 삼성전자주식회사 기판 및 반도체 패키지의 제조방법
US10262926B2 (en) * 2016-10-05 2019-04-16 Nexperia B.V. Reversible semiconductor die

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995028005A2 (en) * 1994-04-07 1995-10-19 Vlsi Technology, Inc. Staggered pad array
KR100276165B1 (ko) * 1995-01-24 2000-12-15 피터 엔. 데트킨 고성능집적회로패키지
JP3362545B2 (ja) * 1995-03-09 2003-01-07 ソニー株式会社 半導体装置の製造方法
US5751015A (en) * 1995-11-17 1998-05-12 Micron Technology, Inc. Semiconductor reliability test chip
US5691568A (en) * 1996-05-31 1997-11-25 Lsi Logic Corporation Wire bondable package design with maxium electrical performance and minimum number of layers
US5841191A (en) * 1997-04-21 1998-11-24 Lsi Logic Corporation Ball grid array package employing raised metal contact rings
US5962926A (en) * 1997-09-30 1999-10-05 Motorola, Inc. Semiconductor device having multiple overlapping rows of bond pads with conductive interconnects and method of pad placement
US6008532A (en) * 1997-10-23 1999-12-28 Lsi Logic Corporation Integrated circuit package having bond fingers with alternate bonding areas
US6410990B2 (en) * 1997-12-12 2002-06-25 Intel Corporation Integrated circuit device having C4 and wire bond connections
US6020631A (en) * 1998-01-06 2000-02-01 Intel Corporation Method and apparatus for connecting a bondwire to a bondring near a via
US6064113A (en) * 1998-01-13 2000-05-16 Lsi Logic Corporation Semiconductor device package including a substrate having bonding fingers within an electrically conductive ring surrounding a die area and a combined power and ground plane to stabilize signal path impedances
JP2000252363A (ja) * 1999-03-01 2000-09-14 Kawasaki Steel Corp 半導体集積回路
JP3516608B2 (ja) * 1999-04-27 2004-04-05 沖電気工業株式会社 半導体装置
US6414386B1 (en) * 2000-03-20 2002-07-02 International Business Machines Corporation Method to reduce number of wire-bond loop heights versus the total quantity of power and signal rings
US6291898B1 (en) * 2000-03-27 2001-09-18 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Ball grid array package
US6448639B1 (en) * 2000-09-18 2002-09-10 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Substrate having specific pad distribution
JP3825252B2 (ja) * 2000-12-21 2006-09-27 Necエレクトロニクス株式会社 フリップチップ型半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005191447A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Renesas Technology Corp 半導体装置およびその製造方法
JP4570868B2 (ja) * 2003-12-26 2010-10-27 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
KR20170033964A (ko) * 2015-09-17 2017-03-28 삼성전자주식회사 재배선 패드를 갖는 반도체 소자
KR102456667B1 (ko) * 2015-09-17 2022-10-20 삼성전자주식회사 재배선 패드를 갖는 반도체 소자

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