JP2003115509A - はんだジョイント及びその製造方法 - Google Patents

はんだジョイント及びその製造方法

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豪正 文
Dong-Kil Shin
東吉 申
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップと印刷回路基板間の接続信頼性を向上
させることができるはんだジョイント及びその製造方法
を提供する。 【解決手段】 平面要素14の導電パッド30を平面要
素18の導電パッド32に電気的且つ機械的に接続する
はんだジョイントにおいて、第1体積を形成する屈曲し
た外部表面を有するはんだ付け手段と、第2体積を有す
るキャビティ28とを含む。はんだ構造26は、円柱状
外壁と、前記円柱状外壁を導電パッド30に連結する上
部胴体と、前記円柱状外壁を導電パッド32に連結する
下部胴体とを含む。キャビティ28の第2体積は、はん
だジョイントの総体積である第1体積の1%から90%の
範囲にある。コンパウンドは、はんだ、銀、錫及びフラ
ックスよりなる群から選ばれた1種以上の物質の混合物
を含む。フラックスは、ロジン、レジン、活性剤、チキ
ソトロープ剤及び高沸点溶媒よりなる群から選ばれた1
種以上の物質を含む。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、外部接続端子とし
てはんだボールを有する半導体装置に関し、さらに詳し
くは、ボールグリッドアレイ(Ball Grid Array;BGA、以
下ボールグリッドアレイを「BGA」という)半導体装置に
設けられる信頼性が高いはんだジョイント及びその製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路に通常的に使われる実装
及び電気的接続メカニズムは、ボールグリッドアレイ(B
all Grid Array;BGA)方式であって、はんだボールが集
積回路の複数の接触パッドに各々形成され、はんだボー
ルと対向する金属接触パッドを有する実装基板とはんだ
接合する。熱が加えられると、はんだボールは液化し、
はんだコンパウンドに含まれたフラックス剤(fluxing a
gent)によって、接触パッドの露出した金属面に流れる
ことになり、各実装パッドと信頼性ある電気的接続をな
す。冷却後に硬化したはんだは、集積回路を基板に機械
的に支持する堅固な実装構造を形成する。
【0003】一般に、集積回路を実装するパッケージの
サイズは、半導体チップサイズ程度に縮小することがで
きるが、これをチップサイズパッケージ(Chip Size Pac
kage;CSP)、またはチップスケールパッケージ(Chip Sca
le Package;CSP、以下チップサイズパッケージまたはチ
ップスケールパッケージを「CSP」という)と呼ぶ。従来
のワイヤーボンディングされた末端リードを有するパッ
ケージとは異なって、CSPでは、外部端子アレイとBGAは
んだボールとが集積回路の表面全体にわたって配設され
ており、パッケージを印刷回路基板に直接接続させる。
その後、完成されたはんだ構造は、非弾性的(inelasti
c)であるので、アセンブリーに一層堅固な実装メカニズ
ムを付与する。
【0004】しかしながら、チップの組成物と、対向す
る従来の印刷回路基板のエポキシ-ガラス物質(epoxy-gl
ass material)とは、熱膨張係数(Coefficient of Therm
alExpansion;CTE)が互いに異なるため、関連回路のオン
及びオフ動作と関連した熱サイクリング効果(thermal c
ycling effect)により、対向している二つの平面要素が
異なる膨脹運動をする。このため、はんだジョイント部
位に水平剪断応力(lateral shearing stress)が生じ、
この応力ははんだボール、より具体的には、はんだボー
ルと金属接触パッドとの接合部分により吸収される。熱
サイクリングが繰り返されると、この接合部での金属の
疲労破壊(metal fatigue)ははんだ構造の破壊を招く可
能性があり、ひいては回路基板が作動できなくなる。言
い換えれば、チップが使用中に過熱されれば、チップと
基板が膨脹し、熱が除去されれば、チップと基板が収縮
することになる。熱膨張係数の差異によってチップと基
板が異なる割合で膨脹し収縮するので、チップと基板を
接続する接続部またははんだボールに応力が加えられ
る。
【0005】図1は、複数のはんだボール12を有する
従来のボールグリッドアレイ(BGA)インタフェース構造
10の断面図である。図1に示されたように、BGAイン
タフェース構造10は、上部平面要素14及び下部平面
要素18で構成される。上部平面要素14は、はんだボ
ール12を介して下部平面要素18に連結される第1金
属導電パッド16を含み、下部平面要素18は第2金属
導電パッド20を含み、平面要素それぞれの電子回路の
間を電気的且つ機械的に連結する。導電体は、隣り合う
導電体との間に隔離空間22をもって各平面要素の上部
面に適切に配置されている。二つの平面要素14、18
は、各々互いに異なる熱膨張係数(CTE)を有する。熱膨
張係数(CTE)間の過度な不均衡に起因して、前述したよ
うにはんだジョイント部位の破壊により熱サイクリング
不良が生ずる。
【0006】時に、気化したフラックスは、工程過程及
びはんだコンパウンドの不充分な濡れ性等の要因のた
め、完璧に気体除去(out-gassing)がなされず、導電体-
はんだ界面に微細な気泡(voids)を発生させる。このよ
うな気泡は、完成された接合構造において疲労破壊強度
を弱化させる。
【0007】図2は、不充分な濡れ(wetting)によって
導電パッド16とはんだボール12間の接合部位で微細
気泡24が発生した状態を示し、従来のBGA構造の断面
図である。このような微細気泡24は、溶融されたはん
だボール12が各々導電パッド16に流れる時に形成さ
れ、はんだペーストコンパウンドにおけるフラックス
は、導電パッド16の中心から外部に向かって流れる。
はんだコンパウンドの温度が上昇すれば、フラックスは
気化し、フラックス蒸気の大部分は大気中に蒸発する。
しかし、蒸気の一部は、はんだボールが冷却された後に
もはんだボール12に閉じ込められ、はんだボール12
内部に微細気泡24を形成させる。
【0008】図1及び図2に示された構造は、互いに反
対の応力が適用され、2つの平面要素14、18におい
て導電パッド16及びはんだボール12を連結する各ジ
ョイント部位での破壊(cracking)を発生させ易い。この
ような電気的接続及び機械的実装メカニズムにおける不
良は、信頼性ある基板材質としてのエポキシ-ガラス(ep
oxy-glass)の使用を排除し、チップの熱膨張係数に一層
近い熱膨張係数を有する高価なセラミック材質の使用を
助長する。従来のBGAタイプ半導体装置実装構造に用い
られるはんだボールのジョイント界面に関する説明は、
米国特許第6,122,177号及び日本国特開平9-209591号に
詳細に記載されている。また、International Busines
s Machines Corporationの製造アセンブリー技術報告
書である"Doubled-Sided 4Mb SRAM Coupled Cap P
BGA Card Assembly Guide"及びTaxas Instrument
Corporationの報告書"MicroStar BGA Packaging Ref
erence Guide"にも記載されている。
【0009】従来技術によるはんだボール内部のこのよ
うな微細気泡の存在、ならびにそれによるジョイント部
位の脆化は、重要な問題点である。このような気体物質
が冷却されたはんだ構造内部に残存することになるの
で、この微細気泡は、低温はんだフラックス溶媒の熱膨
張によるはんだボールの内部での気体容積変位(gaseous
volumetric displacement)として定義される。一般に、
従来のはんだ工程は、このような溶媒のガス除去(de-ga
ssing)のための時間であるウォームアップ期間(warm-up
period)を含むので、そのような気泡は最小化され、は
んだ構造全体の容積の0.1%未満の総気体容積を有する
ことになる。しかしながら、このようなウォームアップ
期間のヒーティングは、はんだボールに含まれたはんだ
ペーストを早期に乾燥させる可能性があり、それによる
電気的接続の低下を招く。このため、従来のBGA構造
は、特にエポキシ-ガラス基板が使われる場合、はんだ
ボール接続の破壊または破裂を防止するには不充分であ
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、はんだボール構造にキャビティを形成したり、環状
の金属パターンのボードランド構造での気泡を除去する
ことで、チップと印刷回路基板間の接続信頼性を向上さ
せることができるはんだジョイント及びその製造方法を
提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、第1平面要素の第1金属接触パッドを第
2平面要素の第2金属接触パッドに電気的且つ機械的に
接続するはんだジョイントにおいて、第1体積を形成し
ている屈曲した外部表面を有するはんだ付け手段と、第
2体積を有する内部キャビティとを備えることを特徴と
するはんだジョイントを提供する。また、はんだジョイ
ントは、空洞の円柱状または空洞の円形はんだ構造を有
する。空洞の円柱状はんだ構造は、円柱状外壁と、前記
円柱状外壁を前記第1金属接触パッドに連結する上部胴
体と、前記円柱状外壁を前記第2金属接触パッドに連結
する下部胴体とを含む。前記空洞の円形はんだ構造は、
ほぼ円形の外壁と、前記円形外壁を前記第1金属接触パ
ッドに連結する上部胴体と、前記円形外壁を前記第2金
属接触パッドに連結する下部胴体とを含む。内部キャビ
ティの第2体積は、はんだジョイントの総体積である第
1体積の1%から90%の範囲にある。はんだ構造を維持
するために用いられるはんだコンパウンドは、はんだ(s
older)、銀(silver)、錫(tin)及びフラックスよりなる
群から選ばれた1種以上の物質の混合物を含む。この
際、フラックスは、ロジン(rosin)、レジン(resin)、活
性剤(activator)、チキソトロープ剤(thixotropic age
nt)及び高沸点溶媒(high temperature boiling solven
t)よりなる群から選ばれた1種以上の物質を含む。
【0012】本発明の他の様態によれば、本発明は、加
熱(heating)及び冷却(cooling)工程によりはんだボール
にキャビティを形成するための触媒手段の構造を提供す
る。触媒手段は、平面要素表面上に形成された環状の金
属ランドパターンと、はんだ物質及びフラックス物質を
含み、前記環状のランドパターンに接触するように配置
されたはんだボールとを含む。環状の金属ランドパター
ンは、内部孔により定義される内径及び外径を有し、前
記内径は前記環状の金属ランドパターンの外径の90%以
下である。はんだボールの直径は、前記環状の金属ラン
ドパターンの外径より大きい。はんだ物質の質量は、前
記フラックス物質の質量より小さいか、またははんだ物
質の重量比がフラックス物質の重量比より小さい。
【0013】本発明のさらに他の様態によれば、本発明
は、第1平面要素の第1金属接触部を第2平面要素の第
2金属接触部に電気的且つ機械的に接続するための空洞
のはんだジョイントの製造方法を提供し、この製造方法
は、(a)環状のランドパターンを有する第1金属接触部
をエッチングする段階と、(b)円形のランドパターンを
有する第2金属接触部をエッチングする段階と、(c)前
記環状のランドパターンと接触するはんだ付け手段を配
列する段階と、(d)前記第1平面要素に平行するよう
に、前記はんだ付け手段と接触する前記第2金属接触部
を有する第2平面要素を配置する段階と、(e)前記はん
だ付け手段を溶融状態に変化させるために熱を加える段
階と、(f)溶融されたはんだが前記第1金属接触部及び
前記第2金属接触部表面上にリフローされるように、所
定の時間温度を制御する段階と、(g)前記はんだ付け手
段を固体状態に戻すために、熱を除去する段階とを含
む。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付の図面を参照して本発
明の実施例を詳細に説明する。図3は、本発明の一実施
例によるはんだジョイントにおいて、キャビティ28を
有するバレル型(barrel-shaped)はんだ構造26の断面
図である。上部平面要素14に円形(circular)の導電パ
ッドでない環状(annular)の導電パッド30を形成する
ことによって、非導電性/非濡れ性(non-conductive/non
-wetting)を有する環状の中心部位に気化したフラック
スを蓄積するための第1根源点(seedingpoint)が形成さ
れる。はんだの加熱及び液化工程のあいだ、蒸気が膨脹
しながら、溶融されたはんだの表面張力及び粘度によっ
て第1内部キャビティが形成される。対向する下部平面
要素18も環状の導電パッド32及び第2根源点を含む
ので、第2内部キャビティが第1内部キャビティと結合
し始め、キャビティ28を形成する。表面張力特性は、
液化した構造において外部凸型の形状を形成させ、冷却
すれば、図3に示されたようなバレル型の形状に凝固さ
せる。これは、内部の気化したフラックスが収縮する前
に、外壁がまず凝固されるからである。
【0015】ヒーティングされる間、エポキシ樹脂(ま
たはポリイミドテープ)とはんだボール26との接触角
が180゜であるので、はんだコンパウンドは、エポキシ
樹脂(またはポリイミドテープ)下部の環状の導電パッド
30、32のランド孔34、36に流れない。ランド孔
34、36の直径は、約0.1mmである。ランド孔34、
36を囲む微細気泡は、併合され中心部分に集中し、巨
大な気泡、すなわちキャビティ28が中心部分に形成さ
れる。このキャビティの総体積は、はんだ構造の総体積
の1%から90%の範囲である。キャビティの体積は、は
んだのヒーティング期間中の温度及び時間を制御するこ
とによって調節できる。はんだの組成は、はんだと、は
んだ合金と、フラックス蒸気とからなる。すなわち、は
んだコンパウンドは、はんだ(solder)、銀(silver)及び
錫(tin)のような一般的なはんだ付け物質のいずれか一
つと、ロジン(rosin)、レジン(resin)、活性剤(activat
or)、チキソトロープ剤(thixotropic agent)及び高温沸
点を有する溶媒(high temperature boiling solvent)よ
りなる群から選ばれた1種以上の物質を選択してなるフ
ラックス剤とで構成される。
【0016】図4は、図3の分解組立図である。ランド
孔34を有する環状の導電パッド30は、エッチングさ
れて上部平面要素14に塗布され、ランド孔36を有す
る環状の導電パッド32は、エッチングされて下部平面
要素18に塗布される。フレキシブルバレル型(flexibl
e barrel-shaped)のはんだ構造26及びキャビティ28
は、二つの平面要素14、18を連結する。図4に示さ
れた構造の相対的サイズをよく理解するために、例示的
寸法を挙げると、環状の孔の直径は約0.1mm、環状のリ
ングの外径は約0.4mm、はんだボールの最初の直径は約
0.45mmである。このような数値は、ただ例示的なものに
過ぎず、本発明の範囲を制限するものではない。粘着力
(cohesive force)及び接着力(adhesive force)だけでな
く、表面実装によってはんだが孔の中心から流れ出すよ
うに、孔直径は十分に大きい必要がある。また、溶融は
んだが環状のリングの露出した金属のあらゆる部分と接
触してリフローし、金属疲労破壊の開始点になり得る非
連続部分や断絶部分がない連続的な外壁を形成するよう
に、はんだボールは環状のリングの外径より十分に大き
い必要がある。
【0017】図5は、図3に示されたはんだ構造におい
て、2つの平面要素14、18が互いに反対方向に動く
ように側方応力(lateral stress force)が加えられた場
合の断面図である。バレル型のはんだ構造26の傾き
は、はんだ構造26のフレキシブル外壁の屈曲運動を示
すものであり、これにより、潜在的破壊応力が中和さ
れ、あるいは減少し、または接合部分38、40から除
去される。
【0018】図6は、本発明の他の実施例によるはんだ
ジョイント42において、上部平面要素14が円形の導
電パッド44を含み、下部平面要素18が環状の導電パ
ッド46を有する場合の断面図である。このような配列
は、円形の、または涙滴型(tear-drop shape)のはんだ
構造48を形成し、このようなはんだ構造48は、薄膜
のフレキシブル外壁50を保持する。環状の導電パッド
は、上部平面要素14または下部平面要素18の一方に
位置することができ、キャビティが環状の孔に対応して
位置するように、対向する平面要素に円形の導電パッド
を配置する。
【0019】図7は、図5に示されたものと類似な側方
応力に反応する図6のはんだ構造の屈曲動作を示す断面
図である。図5に示された構造と同様に、潜在的な破壊
応力がはんだ構造のフレキシブル外壁により吸収または
中和され、はんだ構造48と平面要素14、18間の接
合部44により減少または除去される。図7に示された
はんだ構造は厚い外壁を有するように見えるが、はんだ
組成の操作、ならびに温度と時間のバラツキを含む熱的
変数によって所望の数値の厚みを有する外壁を形成する
ことができる。
【0020】キャビティ28のサイズは、いくつかの物
理的及び化学的要因によるが、その要因として、はんだ
コンパウンドを構成するフラックス-はんだの重量比
率、はんだコンパウンドに含まれたはんだ成分のタイプ
及び特性、使われたフラックスのタイプと蒸発または沸
点、環状の導電パッド30、32の直径に対するランド
孔34、36の中心孔の相対的サイズ、球状のはんだ構
造26、48の最初の直径に対する環状の導電パッド3
0、32の相対的サイズ、球状のはんだ構造26、48
の直径に対する平面要素14、18の相対的隔離距離、
ならびにアセンブリーでの温度変化率、温度変化量及び
温度変化のドウェルタイム(dwell time)などを挙げるこ
とができる。そして、多様な定性測定法(qualitative m
easurements)が用いられることができる。例えば、はん
だコンパウンドを重量比で混合することが各要素の量を
決定するための便利な測定方法であるとしても、体積測
定法(volumetric measure)も使うことができる。はんだ
構造の測定は、はんだ体積に対する気体の比率、はんだ
構造の幅の総直径に対する外壁厚み、または平面要素の
隔離距離に対するキャビティ直径としてアドレスされる
ことができ、これも本発明の範囲に属するものである。
【0021】図8は、固相表面上で濡れ平衡状態(wetti
ng equilibrium)に置かれている液滴を示す。図6の球
状キャビティの形状、ならびに図3のバレル型キャビテ
ィの形状は、液状はんだの表面張力及び濡れ性により決
定される。例えば、図3のバレル型のキャビティ28
は、ランド孔34、36の端部から所定の接触角で成長
が始まる濡れ性を用いて容易に製造することができる。
固相表面での濡れ平衡に対する詳細な内容は、Kinloch,
A. J.のAdhesion and Adhesives: Science andTechnol
ogy, Chapman and Hall, 1987及びKitano, M. and Hond
a, M.の"Shape prediction of solder bump joint by s
urface tension analysis and fatigue strength evalu
ation, "Advanced in Electronic Packaging, ASME, 19
97, pp 1407-1412に記載されている。
【0022】表面張力を平衡接触角θと関連させたヤン
グ(Young)の式(1)は、3相(液状はんだ、銅ランド及
び気泡)の接触点での濡れ平衡を示し、これは、次の通
りである。 ΓSVSLLVCOSθ…………(1)
【0023】ここで、ΓSLとΓLVは、各々固体(銅ラン
ド)/液体(はんだ)及び液体(はんだ)/気体(気泡)での表
面張力を示す。ΓSVは、液体から蒸気の吸収の結果から
生じる固体基板の表面自由エネルギー(surface free en
ergy)を意味し、真空での固体の表面自由エネルギーΓS
より非常に低い値を有する。
【0024】例えば、はんだと空気との間、または水と
油との間のように、密度が不連続的な場合、表面張力は
常に存在することになる。図3及び図6に示されたはん
だ構造の内部及び外部表面の形状は、ラプラス(Laplac
e)方程式(2)とベルヌーイ(Bernoulli)方程式(3)に
よって数学的に説明することができる。圧力差ΔPと表
面張力Γの関係を示すラプラス(Laplace)方程式は、
次の通りである。
【0025】ΔP=Γ(1/R1+1/R2)…………(2) ここで、R1とR2は、表面の曲線の半径である。ベルヌー
イ(Bernoulli)方程式(3)は、重力の効果を考慮して
おり、次の通りである。 P=P0-ρgh…………(3)
【0026】ここで、液状はんだ内部の圧力Pは、基準
圧力P0と、はんだ密度ρ、重力加速度g及び基準点から
の高さhの積とで表される。図9及び図10は、完成さ
れたはんだ構造の代表的な熱分析(thermal analysis)結
果を示す。図9は、傾斜によるバレル型はんだ構造26
において異なる地点A、B、Cでの等価焼成変形を示すダ
イヤグラムである。
【0027】
【表1】
【0028】表1は、図9に示されたダイヤグラムに対
応する数値を示す。例えば、バレル型はんだ構造の0.35
mm直径を有するランドは、0.30mmまたは0.40mm直径と比
べて、より良好な変形抵抗特性(strain resistance cha
racteristics)を有する。図10は、図1から図6に示
された異なる構造に対する蓄積等価焼成変形(accumulat
ed equivalent plastic strain)を示すダイヤグラムで
ある。
【0029】
【表2】
【0030】表2は、図10に示されたダイヤグラムに
対応する数値を示す。図3に示されたバレル型はんだ構
造26は、図1に示された従来のはんだボール12(表
2の"普通形状")、または図6に示された涙滴型はんだ
ジョイント42(表2の上部及び下部ボイド)に比べて極
めて高い変形吸収特性(strain absorption characteris
tics)を有する。涙滴型はんだ構造がバレル型はんだ構
造26程度の明確な弾性許容力(resiliency)をもたない
としても、図1の従来技術に示された従来のはんだボー
ル12より向上した構造を示す。したがって、本発明の
望ましい実施例を使用することによって、多様なジョイ
ントに加えられる応力を低減させたり、除去することが
できる。したがって、本発明によれば、接続信頼性を大
きく向上することができる。
【0031】前記した通り、2種類の平面要素の機械的
結合のための、弾性許容を有するはんだジョイントの望
ましい製造方法は、(1)第1平面要素に少なくとも1つ
の円形金属接触パッドを形成する段階と、(2)第2平面
要素に少なくとも1つの環状金属接触パッドを形成する
段階と、(3)環状金属パッドの中心部分に球形はんだ要
素を配置する段階と、(4)各平面要素の金属接触パッド
が水平に整列され、互いに接触するように、第2平面要
素に対して第1平面要素を水平に配置する段階と、(5)
はんだコンパウンドが溶融するように、所定の温度で結
合アセンブリーを加熱する段階と、(6)平面要素が互い
に整列され、2つの平面要素が良好なはんだ結合を維持
するように、結合アセンブリーの溶融/リフロー温度を
所定の時間維持させる段階と、(7)内部キャビティを有
するはんだが固形化するように、温度を低くする段階と
を含む。
【0032】はんだ要素は、はんだコンパウンドを形成
するために、所定の割合で混合されたはんだ剤及びフラ
ックス剤を含む。はんだコンパウンドは、溶融及び再固
形化した後、完成されたはんだ構造が次のような基準中
の少なくとも一つを満足させる内部気泡を有することを
特徴とする。
【0033】(a)内部キャビティの体積がはんだジョイ
ントの総体積の少なくとも1%であること。 (b)内部気泡と外部表面の間が最も薄い地点でのはんだ
外壁の厚みが、2つの平面要素間の中間地点でのはんだ
構造を通過して切断された断面の最大横方向距離の10%
未満であること。
【0034】上部及び下部導電パッドの異なる構造及び
相対的なサイズによって異なる多様な形状のはんだ構造
が形成され、これは、本発明の範囲に属する。本発明
は、本発明の技術的思想から逸脱することなく、他の種
々の形態で実施することができる。前述の実施例は、あ
くまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであっ
て、そのような具体例のみに限定して狭義に解釈される
べきものではなく、本発明の精神と特許請求の範囲内
で、いろいろと変更して実施することができるものであ
る。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、はんだボール構造内部
に一つの巨大キャビティを形成することによって、BGA
半導体装置でのはんだボール接続の信頼性を高めること
ができる。このようなキャビティは、揮発性フラックス
剤を有するはんだボールと接触する環状リングの形態の
接触パッドを用いて形成することができる。はんだボー
ルが溶融される間、気化したフラックス剤は、環状リン
グの非導電性孔の周囲に蓄積され、效果的にはんだボー
ルを膨脹させ、冷却されると、フレキシブルな薄膜の外
壁を有する空洞のはんだ構造を形成させる。このような
フレキシブルな薄膜の外壁を有する空洞のはんだ構造
は、対向する平面要素の水平運動を吸収して、はんだジ
ョイント部位での不良発生を防止する。したがって、空
洞のはんだボールと下部構造間のジョイントは、破壊さ
れたり弱化することなく、熱サイクリングが繰り返され
る間に形成される熱応力(thermal stress)が效果的に吸
収され放出される。
【0036】したがって、本発明のはんだ構造は、はん
だ構造の内部に一つのキャビティを形成するため、全体
的なはんだボンドに弾性(resiliency)を付与与する。こ
のようなキャビティは、水平応力(lateral stress)が加
えられたはんだボンドに、充分な弾性を有するフレキシ
ブル薄膜の外壁を有するバレル型はんだ構造を提供し、
導電パッドとはんだボール間のジョイントに発生する応
力を除去する。
【0037】すなわち、半導体集積回路を基板表面に電
気的且つ機械的に連結するために、空洞のはんだボール
構造を利用するので、このようなはんだボール構造の焼
成及び弾性特性によって2つの平面要素間の潜在的破壊
応力が吸収され、はんだジョイント部位での破裂などの
ような不良を防止し、チップと印刷回路基板間の接続信
頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】複数のはんだボールを有する従来のボールグリ
ッドアレイ(BGA)インタフェース構造を示す断面図であ
る。
【図2】従来のボールグリッドアレイ(BGA)構造におい
て、不充分な濡れ性(wetting)によって導電パッドとは
んだボール間の接合部分で微細気泡が発生する状態を示
す断面図である。
【図3】本発明の一実施例による巨大気泡を有するバレ
ル型(barrel-shaped)はんだジョイントを示す断面図で
ある。
【図4】本発明の一実施例によるはんだジョイントを示
す分解斜視図である。
【図5】本発明の一実施例によるはんだジョイントにお
いて、平面要素が互いに反対方向に動くように側方応力
(lateral stress force)が加えられた場合を示す断面図
である。
【図6】本発明の他の実施例によるはんだジョイントに
おいて、一方の平面要素が環状の導電パッドを含み、他
方の平面要素が円形の導電パッドを有する場合を示す断
面図である。
【図7】本発明の他の実施例によるはんだジョイントが
図5と類似な側方応力に反応して屈曲動作を行う状態を
示す断面図である。
【図8】固相表面上で濡れ平衡状態(wetting equilibri
um)に置かれている液滴を示す模式図である。
【図9】本発明の実施例によるバレル型はんだジョイン
トの異なる地点での等価焼成変形(equivalent plastic
strain)を示す図である。
【図10】図1から図6に示された異なる構造での蓄積
等価焼成変形(accumulated equivalent plastic strai
n)を示す図である。
【符号の説明】
14、18 平面要素 26 はんだ構造 28 キャビティ 30、32 導電パッド 34、36 ランド孔
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成15年1月20日(2003.1.2
0)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
【請求項】 前記はんだ付け手段は、はんだ、銀、錫
及びはんだフラックスよりなる群から選ばれた1種以
上の物質の混合物を含むことを特徴とする請求項1に記
載のはんだジョイント。
【請求項】 前記はんだフラックスは、ロジン、レ
ジン、活性剤、チキソトロープ剤及び高沸点溶媒よりな
る群から選ばれた1種以上の物質を含むことを特徴とす
る請求項に記載のはんだジョイント。
【請求項】 加熱及び冷却工程によりはんだボールに
キャビティを形成するための触媒手段において、 平面要素の表面上に形成された環状の金属ランドパター
ンと、 はんだ物質及びフラックス物質を含み、前記環状のラン
ドパターンに接触するように配置されたはんだボール
と、 を備えることを特徴とする触媒手段。
【請求項】 前記環状の金属ランドパターンは、内部
孔により定義される内径及び外径を有し、前記内径は前
記環状の金属ランドパターンの外径の90%以下であるこ
とを特徴とする請求項に記載の触媒手段。
【請求項】 前記はんだボールの直径は、前記環状の
金属ランドパターンの外径より大きいことを特徴とする
請求項に記載の触媒手段。
【請求項】 前記はんだ物質の質量は、前記フラック
ス物質の質量より小さいことを特徴とする請求項に記
載の触媒手段。
【請求項10】 前記はんだ物質の重量比は、前記フラ
ックス物質の重量比より小さいことを特徴とする請求項
に記載の触媒手段。
【請求項11】 第1平面要素の第1金属接触部を第2
平面要素の第2金属接触部に電気的且つ機械的に接続す
るための空洞のはんだジョイントの製造方法において、 (a)環状のランドパターンを有する第1金属接触部をエ
ッチングする段階と、 (b)円形のランドパターンを有する第2金属接触部をエ
ッチングする段階と、 (c)前記環状のランドパターンと接触するはんだ付け手
段を配列する段階と、 (d)前記第1平面要素に平行するように、前記はんだ付
け手段と接触する前記第2金属接触部を有する第2平面
要素を配置する段階と、 (e)前記はんだ付け手段を溶融状態に変化させるために
熱を加える段階と、 (f)溶融されたはんだが前記第1金属接触部及び前記第
2金属接触部の表面上にリフローするように、所定の時
間温度を制御する段階と、 (g)前記はんだ付け手段を固体状態に戻すために熱を除
去する段階と、 を含むことを特徴とする製造方法。
【請求項12】 前記はんだ付け手段は、はんだ、銀、
錫及びはんだフラックスよりなる群から選ばれた1種
以上の物質の混合物で形成されたはんだボールであるこ
とを特徴とする請求項11に記載の製造方法。
【請求項13】 前記はんだフラックスは、ロジン、レ
ジン、活性剤、チキソトロープ剤及び高沸点溶媒よりな
る群から選ばれた1種以上の物質を含むことを特徴とす
る請求項12に記載の製造方法。
【請求項14】 前記段階(b)は、前記第2金属接触部
が環状リングを構成するようにエッチングする段階を含
むことを特徴とする請求項11に記載の製造方法。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 3/34 503 H05K 3/34 505A 505 H01L 21/92 602J 602G (72)発明者 申 東吉 大韓民国大田広域市儒城区魚隠洞ハンビッ トアパート121棟803号 (72)発明者 睦 承坤 大韓民国京畿道水原市八達区霊通洞住公ア パート151棟1403号 Fターム(参考) 5E319 AA03 AB05 AC01 AC12 BB04 CC33 CD04 GG03 GG11 5F044 KK01 KK17 KK19 LL04

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1平面要素の第1金属接触パッドを第
    2平面要素の第2金属接触パッドに電気的且つ機械的に
    接続するはんだジョイントにおいて、 第1体積を形成している屈曲した外部表面を有するはん
    だ付け手段と、 第2体積を有する内部キャビティと、 を備えることを特徴とするはんだジョイント。
  2. 【請求項2】 前記はんだ付け手段は、空洞の円柱状は
    んだ構造を有し、 前記空洞の円柱状はんだ構造は、円柱状外壁と、前記円
    柱状外壁を前記第1金属接触パッドに連結する上部胴体
    と、前記円柱状外壁を前記第2金属接触パッドに連結す
    る下部胴体とを有することを特徴とする請求項1に記載
    のはんだジョイント。
  3. 【請求項3】 前記はんだ付け手段は、空洞の円形はん
    だ構造を有し、 前記空洞の円形はんだ構造は、ほぼ円形の外壁と、前記
    円形の外壁を前記第1金属接触パッドに連結する上部胴
    体と、前記円形の外壁を前記第2金属接触パッドに連結
    する下部胴体とを有することを特徴とする請求項1に記
    載のはんだジョイント。
  4. 【請求項4】 前記第2体積は、前記第1体積の1%以
    上であることを特徴とする請求項1に記載のはんだジョ
    イント。
  5. 【請求項5】 前記第2体積は、前記第1体積の90%以
    下であることを特徴とする請求項1に記載のはんだジョ
    イント。
  6. 【請求項6】 前記はんだ付け手段は、はんだ、銀、錫
    及びはんだフラックスよりなる群から選ばれた1種以上
    の物質の混合物を含むことを特徴とする請求項1に記載
    のはんだジョイント。
  7. 【請求項7】 前記はんだフラックスは、ロジン、レジ
    ン、活性剤、チキソトロープ剤及び高沸点溶媒よりなる
    群から選ばれた1種以上の物質を含むことを特徴とする
    請求項6に記載のはんだジョイント。
  8. 【請求項8】 加熱及び冷却工程によりはんだボールに
    キャビティを形成するための触媒手段において、 平面要素の表面上に形成された環状の金属ランドパター
    ンと、 はんだ物質及びフラックス物質を含み、前記環状のラン
    ドパターンに接触するように配置されたはんだボール
    と、 を備えることを特徴とする触媒手段。
  9. 【請求項9】 前記環状の金属ランドパターンは、内部
    孔により定義される内径及び外径を有し、前記内径は前
    記環状の金属ランドパターンの外径の90%以下であるこ
    とを特徴とする請求項8に記載の触媒手段。
  10. 【請求項10】 前記はんだボールの直径は、前記環状
    の金属ランドパターンの外径より大きいことを特徴とす
    る請求項8に記載の触媒手段。
  11. 【請求項11】 前記はんだ物質の質量は、前記フラッ
    クス物質の質量より小さいことを特徴とする請求項8に
    記載の触媒手段。
  12. 【請求項12】 前記はんだ物質の重量比は、前記フラ
    ックス物質の重量比より小さいことを特徴とする請求項
    8に記載の触媒手段。
  13. 【請求項13】 第1平面要素の第1金属接触部を第2
    平面要素の第2金属接触部に電気的且つ機械的に接続す
    るための空洞のはんだジョイントの製造方法において、 (a)環状のランドパターンを有する第1金属接触部をエ
    ッチングする段階と、 (b)円形のランドパターンを有する第2金属接触部をエ
    ッチングする段階と、 (c)前記環状のランドパターンと接触するはんだ付け手
    段を配列する段階と、 (d)前記第1平面要素に平行するように、前記はんだ付
    け手段と接触する前記第2金属接触部を有する第2平面
    要素を配置する段階と、 (e)前記はんだ付け手段を溶融状態に変化させるために
    熱を加える段階と、 (f)溶融されたはんだが前記第1金属接触部及び前記第
    2金属接触部の表面上にリフローするように、所定の時
    間温度を制御する段階と、 (g)前記はんだ付け手段を固体状態に戻すために熱を除
    去する段階と、を含むことを特徴とする製造方法。
  14. 【請求項14】 前記はんだ付け手段は、はんだ、銀、
    錫及びはんだフラックスよりなる群から選ばれた1種以
    上の物質の混合物で形成されたはんだボールであること
    を特徴とする請求項13に記載の製造方法。
  15. 【請求項15】 前記はんだフラックスは、ロジン、レ
    ジン、活性剤、チキソトロープ剤及び高沸点溶媒よりな
    る群から選ばれた1種以上の物質を含むことを特徴とす
    る請求項14に記載の製造方法。
  16. 【請求項16】 前記段階(b)は、前記第2金属接触部
    が環状リングを構成するようにエッチングする段階を含
    むことを特徴とする請求項13に記載の製造方法。
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