JP2003098219A - Ｔｃｐ用ハンドラ及び先頭ｔｃｐ検出方法 - Google Patents
Ｔｃｐ用ハンドラ及び先頭ｔｃｐ検出方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＴＣＰ用ハンドラが自動的に先頭ＴＣＰを認
識する。 【解決手段】 ＴＣＰテープＸ上で先頭に位置する先頭
ＴＣＰを自動検出する先頭ＴＣＰ検出手段を具備する。
識する。 【解決手段】 ＴＣＰテープＸ上で先頭に位置する先頭
ＴＣＰを自動検出する先頭ＴＣＰ検出手段を具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のＴＣＰ（ta
pe carrier package）がテープ状に連接されたＴＣＰテ
ープを順次間欠移送して試験に供すると共に試験結果に
応じて各ＴＣＰを分類するＴＣＰ用ハンドラ及び先頭Ｔ
ＣＰ検出方法に関する。
pe carrier package）がテープ状に連接されたＴＣＰテ
ープを順次間欠移送して試験に供すると共に試験結果に
応じて各ＴＣＰを分類するＴＣＰ用ハンドラ及び先頭Ｔ
ＣＰ検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のようにＴＣＰは、ＴＡＢ（tape a
utomated bonding）技術を用いることによりフィルム上
にＩＣチップを実装したものであり、実際にプリント基
板に搭載される前の搬送段階では、複数が連接されたテ
ープ形態となっている。図３は、このようなテープ形態
のＴＣＰ（以下、ＴＣＰテープという。）の正面図であ
る。ＴＣＰテープＸは、複数連接されたＴＣＰ１の両側
に帯状の移送補助部１Ａが設けられている。各ＴＣＰ１
には、フィルム基板１ａの周縁に複数のテストパッド１
ｂが形成されると共にその中心にＩＣチップ１ｃが配置
され、各テストパッド１ｂとＩＣチップ１ｃ上の各パッ
ドとがエッチング形成されたリード線１ｄによって相互
接続されている。また、移送補助部１Ａは、上記フィル
ム基板１ａと同様のフィルムから構成されており、ＴＣ
ＰテープＸを長手方向に順次移送するためのスプロケッ
ト孔１ｅが一定間隔で形成されている。
utomated bonding）技術を用いることによりフィルム上
にＩＣチップを実装したものであり、実際にプリント基
板に搭載される前の搬送段階では、複数が連接されたテ
ープ形態となっている。図３は、このようなテープ形態
のＴＣＰ（以下、ＴＣＰテープという。）の正面図であ
る。ＴＣＰテープＸは、複数連接されたＴＣＰ１の両側
に帯状の移送補助部１Ａが設けられている。各ＴＣＰ１
には、フィルム基板１ａの周縁に複数のテストパッド１
ｂが形成されると共にその中心にＩＣチップ１ｃが配置
され、各テストパッド１ｂとＩＣチップ１ｃ上の各パッ
ドとがエッチング形成されたリード線１ｄによって相互
接続されている。また、移送補助部１Ａは、上記フィル
ム基板１ａと同様のフィルムから構成されており、ＴＣ
ＰテープＸを長手方向に順次移送するためのスプロケッ
ト孔１ｅが一定間隔で形成されている。
【０００３】このようなＴＣＰテープＸは、専用のＴＣ
Ｐ用ハンドラ（ＴＡＢハンドラとも言う。）によって長
手方向に順次間欠送りされつつ、各ＴＣＰ１のテストパ
ッド１ｂが半導体集積回路試験装置（通称、ＩＣテス
タ）の測定ピンに順次接触接続されて機能試験が行われ
る。また、上記ＴＣＰ用ハンドラには、ＩＣテスタによ
る試験結果に応じて各ＴＣＰ１を分類する分類装置が設
けられている。この分類装置は、不良品と判定されたＴ
ＣＰ１のみをパンチングによりＴＣＰテープＸから分離
・除去するものである。
Ｐ用ハンドラ（ＴＡＢハンドラとも言う。）によって長
手方向に順次間欠送りされつつ、各ＴＣＰ１のテストパ
ッド１ｂが半導体集積回路試験装置（通称、ＩＣテス
タ）の測定ピンに順次接触接続されて機能試験が行われ
る。また、上記ＴＣＰ用ハンドラには、ＩＣテスタによ
る試験結果に応じて各ＴＣＰ１を分類する分類装置が設
けられている。この分類装置は、不良品と判定されたＴ
ＣＰ１のみをパンチングによりＴＣＰテープＸから分離
・除去するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ＴＣＰテー
プＸ上の各ＴＣＰ１をＴＣＰ用ハンドラで移送してＩＣ
テスタで試験する場合、ＴＣＰテープＸ上で試験対象と
なる最初のＴＣＰ（先頭ＴＣＰ）を指定する必要があ
る。従来では、作業者が先頭ＴＣＰを決め、そのＴＣＰ
１をＴＣＰ用ハンドラが指定する位置までマニアル操作
にて搬送して試験を開始することによりＴＣＰ用ハンド
ラに先頭ＴＣＰを認識させている。
プＸ上の各ＴＣＰ１をＴＣＰ用ハンドラで移送してＩＣ
テスタで試験する場合、ＴＣＰテープＸ上で試験対象と
なる最初のＴＣＰ（先頭ＴＣＰ）を指定する必要があ
る。従来では、作業者が先頭ＴＣＰを決め、そのＴＣＰ
１をＴＣＰ用ハンドラが指定する位置までマニアル操作
にて搬送して試験を開始することによりＴＣＰ用ハンド
ラに先頭ＴＣＰを認識させている。
【０００５】しかしながら、このような先頭ＴＣＰの指
定方式は、作業者の操作と確認に基づいているため作業
ミスにより誤った先頭ＴＣＰをＴＣＰ用ハンドラに認識
させてしまう恐れがある。そして、このような事態が発
生した場合、未試験、未分類のＴＣＰがＴＣＰテープＸ
上に残されるという問題点がある。
定方式は、作業者の操作と確認に基づいているため作業
ミスにより誤った先頭ＴＣＰをＴＣＰ用ハンドラに認識
させてしまう恐れがある。そして、このような事態が発
生した場合、未試験、未分類のＴＣＰがＴＣＰテープＸ
上に残されるという問題点がある。
【０００６】本発明は、上述する問題点に鑑みてなされ
たもので、ＴＣＰ用ハンドラが自動的に先頭ＴＣＰを認
識することを目的とする。
たもので、ＴＣＰ用ハンドラが自動的に先頭ＴＣＰを認
識することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明では、ＴＣＰ用ハンドラに係わる第１の手段
として、ＴＣＰが複数連接されたＴＣＰテープを順次間
欠送りしつつ各ＴＣＰのテストパッドを半導体集積回路
試験装置の測定ピンに順次接触接続させて各ＴＣＰを半
導体集積回路試験装置による試験に順次供するＴＣＰ用
ハンドラであって、上記接触接続に先立って、ＴＣＰテ
ープ上で先頭に位置する先頭ＴＣＰを自動検出する先頭
ＴＣＰ検出手段を具備するという手段を採用する。
に、本発明では、ＴＣＰ用ハンドラに係わる第１の手段
として、ＴＣＰが複数連接されたＴＣＰテープを順次間
欠送りしつつ各ＴＣＰのテストパッドを半導体集積回路
試験装置の測定ピンに順次接触接続させて各ＴＣＰを半
導体集積回路試験装置による試験に順次供するＴＣＰ用
ハンドラであって、上記接触接続に先立って、ＴＣＰテ
ープ上で先頭に位置する先頭ＴＣＰを自動検出する先頭
ＴＣＰ検出手段を具備するという手段を採用する。
【０００８】また、ＴＣＰ用ハンドラに係わる第２の手
段として、上記第１の手段において、先頭ＴＣＰ検出手
段は、所定位置においてＴＣＰテープ上のＴＣＰの存在
を検出するＴＣＰ検出手段と、ＴＣＰテープを供給側か
ら収容側に移送した場合にＴＣＰ検出手段においてＴＣ
Ｐが検出されると、その後、ＴＣＰテープを収容側から
供給側に移送した場合に所定の判定値Ｈ以上連続してＴ
ＣＰが検出されないときに、ＴＣＰ検出手段によって検
出されたＴＣＰを先頭ＴＣＰと判断する判定手段とから
構成されるという手段を採用する。
段として、上記第１の手段において、先頭ＴＣＰ検出手
段は、所定位置においてＴＣＰテープ上のＴＣＰの存在
を検出するＴＣＰ検出手段と、ＴＣＰテープを供給側か
ら収容側に移送した場合にＴＣＰ検出手段においてＴＣ
Ｐが検出されると、その後、ＴＣＰテープを収容側から
供給側に移送した場合に所定の判定値Ｈ以上連続してＴ
ＣＰが検出されないときに、ＴＣＰ検出手段によって検
出されたＴＣＰを先頭ＴＣＰと判断する判定手段とから
構成されるという手段を採用する。
【０００９】ＴＣＰ用ハンドラに係わる第３の手段とし
て、上記第１または第２の手段において、ＴＣＰ検出手
段は、試験結果に基づいて不良のＴＣＰをＴＣＰテープ
上から除去する分別装置の動作を確認するために、各Ｔ
ＣＰにおけるＩＣチップの存在を検出する収容側ＩＣチ
ップ検出装置であるという手段を採用する。
て、上記第１または第２の手段において、ＴＣＰ検出手
段は、試験結果に基づいて不良のＴＣＰをＴＣＰテープ
上から除去する分別装置の動作を確認するために、各Ｔ
ＣＰにおけるＩＣチップの存在を検出する収容側ＩＣチ
ップ検出装置であるという手段を採用する。
【００１０】ＴＣＰ用ハンドラに係わる第４の手段とし
て、上記第１〜第２いずれかの手段において、判定値Ｈ
は、ＴＣＰテープ上にＴＣＰの欠落がないとした場合
に、試験に供されるＴＣＰ上のＩＣチップの存在を検出
する供給側ＩＣチップ検出装置と試験結果に基づいて不
良のＴＣＰを除去する分別装置の動作を確認するために
各ＴＣＰにおけるＩＣチップの存在を検出する収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置との間に存在し得るＴＣＰの個数であ
るという手段を採用する。
て、上記第１〜第２いずれかの手段において、判定値Ｈ
は、ＴＣＰテープ上にＴＣＰの欠落がないとした場合
に、試験に供されるＴＣＰ上のＩＣチップの存在を検出
する供給側ＩＣチップ検出装置と試験結果に基づいて不
良のＴＣＰを除去する分別装置の動作を確認するために
各ＴＣＰにおけるＩＣチップの存在を検出する収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置との間に存在し得るＴＣＰの個数であ
るという手段を採用する。
【００１１】一方、本発明では、先頭ＴＣＰ検出方法に
係わる第１の手段として、ＴＣＰテープを供給側から収
容側に移送した場合にＴＣＰが検出されると、その後、
ＴＣＰテープを収容側から供給側に移送した場合に所定
の判定値Ｈ以上連続してＴＣＰが検出されないときに、
先に検出されたＴＣＰを先頭ＴＣＰと判断するという手
段を採用する。
係わる第１の手段として、ＴＣＰテープを供給側から収
容側に移送した場合にＴＣＰが検出されると、その後、
ＴＣＰテープを収容側から供給側に移送した場合に所定
の判定値Ｈ以上連続してＴＣＰが検出されないときに、
先に検出されたＴＣＰを先頭ＴＣＰと判断するという手
段を採用する。
【００１２】また、先頭ＴＣＰ検出方法に係わる第２の
手段として、上記第１の手段において、判定値Ｈは、Ｔ
ＣＰテープ上にＴＣＰの欠落がないとした場合に、試験
に供されるＴＣＰ上のＩＣチップの存在を検出する供給
側ＩＣチップ検出装置と試験結果に基づいて不良のＴＣ
Ｐを除去する分別装置の動作を確認するために各ＴＣＰ
におけるＩＣチップの存在を検出する収容側ＩＣチップ
検出装置との間に存在し得るＴＣＰの個数であるという
手段を採用する。
手段として、上記第１の手段において、判定値Ｈは、Ｔ
ＣＰテープ上にＴＣＰの欠落がないとした場合に、試験
に供されるＴＣＰ上のＩＣチップの存在を検出する供給
側ＩＣチップ検出装置と試験結果に基づいて不良のＴＣ
Ｐを除去する分別装置の動作を確認するために各ＴＣＰ
におけるＩＣチップの存在を検出する収容側ＩＣチップ
検出装置との間に存在し得るＴＣＰの個数であるという
手段を採用する。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明に
係わるＴＣＰ用ハンドラ及び先頭ＴＣＰ検出方法の一実
施形態について説明する。
係わるＴＣＰ用ハンドラ及び先頭ＴＣＰ検出方法の一実
施形態について説明する。
【００１４】図１は、本実施形態に係わるＴＣＰ用ハン
ドラの要部構成図である。この図１において、符号Ｘは
ＴＣＰテープ、２Ａは供給リール、２Ｂは収容リール、
３はプッシャ、４は分類装置、５は供給側テンションガ
イド、６は収容側テンションガイド、７は供給側サブス
プロケット、８は収容側サブスプロケット、９は供給側
メインスプロケット、１０は収容側メインスプロケッ
ト、１１は供給側ＩＣチップ検出装置、１２は収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置（ＴＣＰ検出手段）、１３は演算装置
（判定手段）、１４は入力装置である。これら各構成要
素のうち、収容側ＩＣチップ検出装置１２及び演算装置
１３は、本実施形態における先頭ＴＣＰ検出手段を構成
している。
ドラの要部構成図である。この図１において、符号Ｘは
ＴＣＰテープ、２Ａは供給リール、２Ｂは収容リール、
３はプッシャ、４は分類装置、５は供給側テンションガ
イド、６は収容側テンションガイド、７は供給側サブス
プロケット、８は収容側サブスプロケット、９は供給側
メインスプロケット、１０は収容側メインスプロケッ
ト、１１は供給側ＩＣチップ検出装置、１２は収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置（ＴＣＰ検出手段）、１３は演算装置
（判定手段）、１４は入力装置である。これら各構成要
素のうち、収容側ＩＣチップ検出装置１２及び演算装置
１３は、本実施形態における先頭ＴＣＰ検出手段を構成
している。
【００１５】ＴＣＰテープＸは、図３で既に説明したＴ
ＣＰテープＸと同一であり、複数のＴＣＰ１を連接して
テープ状にしたものである。また、このＴＣＰテープＸ
の先端部及び後端部には、所定長さのリーダテープがそ
れぞれ装着されている。さらに、ＴＣＰテープＸ上には
ＴＣＰ１が連続して存在する訳ではなく、前工程の試験
等によって不良判定されたＴＣＰ１はパンチングにより
除去されている。
ＣＰテープＸと同一であり、複数のＴＣＰ１を連接して
テープ状にしたものである。また、このＴＣＰテープＸ
の先端部及び後端部には、所定長さのリーダテープがそ
れぞれ装着されている。さらに、ＴＣＰテープＸ上には
ＴＣＰ１が連続して存在する訳ではなく、前工程の試験
等によって不良判定されたＴＣＰ１はパンチングにより
除去されている。
【００１６】供給リール２Ａは、ＴＣＰテープＸを巻取
収納すると共に、回動することによりＴＣＰテープＸを
先端から順次送り出す。収容リール２Ｂは、上記供給リ
ール２Ａから送り出されると共に試験が終了したＴＣＰ
テープＸを順次巻き取る。すなわち、ＴＣＰテープＸの
試験時における移送方向（試験時移送方向Ａ）は、供給
リール２Ａから順時送り出されて収容リール２Ｂに巻き
取られる方向、つまり供給側サブスプロケット７から収
容側サブスプロケット８に向かう方向（紙面右方向）で
ある。
収納すると共に、回動することによりＴＣＰテープＸを
先端から順次送り出す。収容リール２Ｂは、上記供給リ
ール２Ａから送り出されると共に試験が終了したＴＣＰ
テープＸを順次巻き取る。すなわち、ＴＣＰテープＸの
試験時における移送方向（試験時移送方向Ａ）は、供給
リール２Ａから順時送り出されて収容リール２Ｂに巻き
取られる方向、つまり供給側サブスプロケット７から収
容側サブスプロケット８に向かう方向（紙面右方向）で
ある。
【００１７】プッシャ３は、ＴＣＰテープＸを押圧して
各ＴＣＰ１のテストパッド１ｂをＩＣテスタの測定ピン
に順次接触接続させる。各ＴＣＰ１は、テストパッド１
ｂが測定ピンに接触接続した状態でＩＣテスタによって
動作試験が行われる。分類装置４は、上記プッシャ３の
後段に設けられ、試験の結果不良品と判定されたＴＣＰ
１をパンチングによりＴＣＰテープＸから分離・除去す
る。
各ＴＣＰ１のテストパッド１ｂをＩＣテスタの測定ピン
に順次接触接続させる。各ＴＣＰ１は、テストパッド１
ｂが測定ピンに接触接続した状態でＩＣテスタによって
動作試験が行われる。分類装置４は、上記プッシャ３の
後段に設けられ、試験の結果不良品と判定されたＴＣＰ
１をパンチングによりＴＣＰテープＸから分離・除去す
る。
【００１８】供給側テンションガイド５は、供給側ＩＣ
チップ検出装置１１と供給側メインスプロケット９との
間に設けられ、上記プッシャ３によって押圧されるＴＣ
ＰテープＸにバックテンションを付加する。収容側テン
ションガイド６は、収容側メインスプロケット１０と分
類装置４との間に設けられ、上記プッシャ３によって押
圧されるＴＣＰテープＸにフォワード方向のテンション
を付加する。供給側サブスプロケット７は、供給リール
２Ａから送り出されたＴＣＰテープＸを供給側メインス
プロケット９に向けて送り出す。
チップ検出装置１１と供給側メインスプロケット９との
間に設けられ、上記プッシャ３によって押圧されるＴＣ
ＰテープＸにバックテンションを付加する。収容側テン
ションガイド６は、収容側メインスプロケット１０と分
類装置４との間に設けられ、上記プッシャ３によって押
圧されるＴＣＰテープＸにフォワード方向のテンション
を付加する。供給側サブスプロケット７は、供給リール
２Ａから送り出されたＴＣＰテープＸを供給側メインス
プロケット９に向けて送り出す。
【００１９】収容側サブスプロケット８は、収容側メイ
ンスプロケット１０から送り出されたＴＣＰテープＸを
収容リール２Ｂに向けて送り出す。供給側メインスプロ
ケット９は、上記試験時移送方向Ａに対して当該ＴＣＰ
テープＸの供給側に設けられ、上記供給側サブスプロケ
ット７から送り出されたＴＣＰテープＸを収容側メイン
スプロケット１０に向けて送り出す。収容側メインスプ
ロケット１０は、上記試験時移送方向Ａに対して当該Ｔ
ＣＰテープＸの収容側に設けられ、上記供給側サブスプ
ロケット７から送り出されたＴＣＰテープＸを収容側メ
インスプロケット１０に向けて送り出す。
ンスプロケット１０から送り出されたＴＣＰテープＸを
収容リール２Ｂに向けて送り出す。供給側メインスプロ
ケット９は、上記試験時移送方向Ａに対して当該ＴＣＰ
テープＸの供給側に設けられ、上記供給側サブスプロケ
ット７から送り出されたＴＣＰテープＸを収容側メイン
スプロケット１０に向けて送り出す。収容側メインスプ
ロケット１０は、上記試験時移送方向Ａに対して当該Ｔ
ＣＰテープＸの収容側に設けられ、上記供給側サブスプ
ロケット７から送り出されたＴＣＰテープＸを収容側メ
インスプロケット１０に向けて送り出す。
【００２０】供給側ＩＣチップ検出装置１１は、供給側
サブスプロケット７と供給側テンションガイド５との間
に設けられ、各ＴＣＰ１のＩＣチップ１ｃの有無を検出
し、その検出結果を演算装置１３に出力する。収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置１２は、分類装置４と収容側サブスプ
ロケット８との間に設けられ、各ＴＣＰ１のＩＣチップ
１ｃの有無、つまり分類装置４によって不良なＴＣＰ１
が除去された後のＴＣＰテープＸ上のＩＣチップ１ｃの
有無を検出し、その検出結果を演算装置１３に出力す
る。
サブスプロケット７と供給側テンションガイド５との間
に設けられ、各ＴＣＰ１のＩＣチップ１ｃの有無を検出
し、その検出結果を演算装置１３に出力する。収容側Ｉ
Ｃチップ検出装置１２は、分類装置４と収容側サブスプ
ロケット８との間に設けられ、各ＴＣＰ１のＩＣチップ
１ｃの有無、つまり分類装置４によって不良なＴＣＰ１
が除去された後のＴＣＰテープＸ上のＩＣチップ１ｃの
有無を検出し、その検出結果を演算装置１３に出力す
る。
【００２１】演算装置１３は、所定の制御プログラムに
基づいて上記供給側メインスプロケット９や収容側メイ
ンスプロケット１０等の各稼働部の動作を制御する。ま
た、この演算装置１３は、本実施形態の特徴である先頭
ＴＣＰの検出処理をも行うものである。入力装置１４
は、上記制御プログラムの実行に必要な各種操作情報を
演算装置１３に入力するためのものである。
基づいて上記供給側メインスプロケット９や収容側メイ
ンスプロケット１０等の各稼働部の動作を制御する。ま
た、この演算装置１３は、本実施形態の特徴である先頭
ＴＣＰの検出処理をも行うものである。入力装置１４
は、上記制御プログラムの実行に必要な各種操作情報を
演算装置１３に入力するためのものである。
【００２２】次に、このように構成された本ＴＣＰ用ハ
ンドラの動作について、図２を参照して説明する。
ンドラの動作について、図２を参照して説明する。
【００２３】まず最初に、試験に先立ってＴＣＰテープ
Ｘの架け回し作業が手作業によって行われる。この架け
回し作業では、供給リール２Ａから引き出されたＴＣＰ
テープ先端のリーダテープが図１に示すような既定経路
を経由して収容リール２Ｂに架け回される。リーダテー
プは、先端部が収容リール２Ｂに粘着固定され、さらに
所定長さだけ収容リール２Ｂに巻き取られた状態とされ
る。
Ｘの架け回し作業が手作業によって行われる。この架け
回し作業では、供給リール２Ａから引き出されたＴＣＰ
テープ先端のリーダテープが図１に示すような既定経路
を経由して収容リール２Ｂに架け回される。リーダテー
プは、先端部が収容リール２Ｂに粘着固定され、さらに
所定長さだけ収容リール２Ｂに巻き取られた状態とされ
る。
【００２４】このような架け回し作業が完了した状態
で、ＴＣＰテープＸ上の各ＴＣＰ１の動作試験がＴＣＰ
テープＸの間欠巻き取りと共に順次行われるが、本実施
形態ではこのような試験動作の前処理として、図２に示
す先頭ＴＣＰの検出処理が行われる。
で、ＴＣＰテープＸ上の各ＴＣＰ１の動作試験がＴＣＰ
テープＸの間欠巻き取りと共に順次行われるが、本実施
形態ではこのような試験動作の前処理として、図２に示
す先頭ＴＣＰの検出処理が行われる。
【００２５】すなわち、演算装置１３は、処理を開始す
ると、収容側にＩＣチップ１ｃがあるか、つまり収容側
ＩＣチップ検出装置１２がＩＣチップ１ｃを検出してい
るか否かを判断する（ステップＳ1）。そして、この判
断が「Ｙｅｓ」の場合、つまり収容側ＩＣチップ検出装
置１２がＩＣチップ１ｃを検出している場合は、自らの
内部に設定した連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値
をクリアして「０」に設定し（ステップＳ2）、一方、
上記判断が「Ｎｏ」の場合には、ＴＣＰテープＸを収容
方向に１ＴＣＰ分だけ移送させ（ステップＳ3）、さら
にステップＳ1の判断処理を繰り返す。
ると、収容側にＩＣチップ１ｃがあるか、つまり収容側
ＩＣチップ検出装置１２がＩＣチップ１ｃを検出してい
るか否かを判断する（ステップＳ1）。そして、この判
断が「Ｙｅｓ」の場合、つまり収容側ＩＣチップ検出装
置１２がＩＣチップ１ｃを検出している場合は、自らの
内部に設定した連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値
をクリアして「０」に設定し（ステップＳ2）、一方、
上記判断が「Ｎｏ」の場合には、ＴＣＰテープＸを収容
方向に１ＴＣＰ分だけ移送させ（ステップＳ3）、さら
にステップＳ1の判断処理を繰り返す。
【００２６】演算装置１３は、ステップＳ2の処理が終
了すると、ＴＣＰテープＸを供給方向に１ＴＣＰ分だけ
移送させ（ステップＳ4）、さらに収容側ＩＣチップ検
出装置１２がＩＣチップ１ｃを検出していないか否かを
判断する（ステップＳ5）。そして、この判断が「Ｎ
ｏ」の場合、つまり収容側ＩＣチップ検出装置１２がＩ
Ｃチップ１ｃを検出した場合は、上記ステップＳ2の処
理を繰り返して、連続ＩＣチップ無カウンタのカウント
値をクリアする。
了すると、ＴＣＰテープＸを供給方向に１ＴＣＰ分だけ
移送させ（ステップＳ4）、さらに収容側ＩＣチップ検
出装置１２がＩＣチップ１ｃを検出していないか否かを
判断する（ステップＳ5）。そして、この判断が「Ｎ
ｏ」の場合、つまり収容側ＩＣチップ検出装置１２がＩ
Ｃチップ１ｃを検出した場合は、上記ステップＳ2の処
理を繰り返して、連続ＩＣチップ無カウンタのカウント
値をクリアする。
【００２７】上記ステップＳ1〜Ｓ5に係わる一連処理に
より、収容側ＩＣチップ検出装置１２において収容方向
にＩＣチップ１ｃ（すなわちＴＣＰ１）が検出される度
に、連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値は、「０」
にクリアされる。ここで、収容側ＩＣチップ検出装置１
２によって検出されたＩＣチップ１ｃ（すなわちＴＣＰ
１）は、先頭ＴＣＰの候補であり、以下のステップＳ
6，Ｓ7に係わる処理によってこの候補を先頭ＴＣＰと認
定するか否かが連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値
に基づいて決定される。
より、収容側ＩＣチップ検出装置１２において収容方向
にＩＣチップ１ｃ（すなわちＴＣＰ１）が検出される度
に、連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値は、「０」
にクリアされる。ここで、収容側ＩＣチップ検出装置１
２によって検出されたＩＣチップ１ｃ（すなわちＴＣＰ
１）は、先頭ＴＣＰの候補であり、以下のステップＳ
6，Ｓ7に係わる処理によってこの候補を先頭ＴＣＰと認
定するか否かが連続ＩＣチップ無カウンタのカウント値
に基づいて決定される。
【００２８】すなわち、演算装置１３は、ステップＳ5
の判断が「Ｙｅｓ」の場合には、連続ＩＣチップ無カウ
ンタのカウント値をカウントアップして「１」とし（ス
テップＳ6）、さらにこのようにカウントアップされた
カウント値が予め記憶された判定値以上か否かを判断す
る（ステップＳ7）。そして、この判断が「Ｎｏ」の場
合は、上記ステップＳ4以下の処理を繰り返すことによ
り、ＴＣＰテープＸを供給方向に順次移送してＴＣＰ１
が連続的に検出されない個数を連続ＩＣチップ無カウン
タのカウント値として計数する。
の判断が「Ｙｅｓ」の場合には、連続ＩＣチップ無カウ
ンタのカウント値をカウントアップして「１」とし（ス
テップＳ6）、さらにこのようにカウントアップされた
カウント値が予め記憶された判定値以上か否かを判断す
る（ステップＳ7）。そして、この判断が「Ｎｏ」の場
合は、上記ステップＳ4以下の処理を繰り返すことによ
り、ＴＣＰテープＸを供給方向に順次移送してＴＣＰ１
が連続的に検出されない個数を連続ＩＣチップ無カウン
タのカウント値として計数する。
【００２９】そして、このカウント値が判定値以上とな
り、ステップＳ7の判断が「Ｙｅｓ」となり、全ての処
理が終了する。この場合、カウント値の基準となったＴ
ＣＰ１が先頭ＴＣＰとして最終的に判定される。
り、ステップＳ7の判断が「Ｙｅｓ」となり、全ての処
理が終了する。この場合、カウント値の基準となったＴ
ＣＰ１が先頭ＴＣＰとして最終的に判定される。
【００３０】なお、本実施形態では、ＴＣＰテープＸ上
にＴＣＰ１の欠落がないとした場合における供給側ＩＣ
チップ検出装置１１と収容側ＩＣチップ検出装置１２と
の間に存在し得るＴＣＰ１の個数を判定値としたが、こ
のような判定値の設定は、上記個数分ＩＣチップ１ｃが
ない状態は通常では起こり得ないという判断に基づくも
のである。
にＴＣＰ１の欠落がないとした場合における供給側ＩＣ
チップ検出装置１１と収容側ＩＣチップ検出装置１２と
の間に存在し得るＴＣＰ１の個数を判定値としたが、こ
のような判定値の設定は、上記個数分ＩＣチップ１ｃが
ない状態は通常では起こり得ないという判断に基づくも
のである。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
先頭ＴＣＰを自動検出する先頭ＴＣＰ検出手段を具備す
るので、従来のように誤った先頭ＴＣＰをＴＣＰ用ハン
ドラに認識させてしまう恐れがなくなり、したがって未
試験、未分類のＴＣＰがＴＣＰテープＸ上に残されると
いう事態を解消することができる。
先頭ＴＣＰを自動検出する先頭ＴＣＰ検出手段を具備す
るので、従来のように誤った先頭ＴＣＰをＴＣＰ用ハン
ドラに認識させてしまう恐れがなくなり、したがって未
試験、未分類のＴＣＰがＴＣＰテープＸ上に残されると
いう事態を解消することができる。
【図１】 本発明の一実施形態に係わるＴＣＰ用ハンド
ラの要部構成図である。
ラの要部構成図である。
【図２】 本発明の一実施形態に係わるＴＣＰ用ハンド
ラの先頭ＴＣＰ検出処理を示すフローチャートである。
ラの先頭ＴＣＰ検出処理を示すフローチャートである。
【図３】 本発明及び従来のＴＣＰテープの構成図であ
る。
る。
Ｘ……ＴＣＰテープ
１……ＴＣＰ
１ａ……フィルム基板
１ｂ……テストパッド
１ｃ……ＩＣチップ
１ｄ……リード線
１ｅ……スプロケット孔
１Ａ……移送補助部
２Ａ……供給リール
２Ｂ……収容リール
３……プッシャ
４……分類装置
５……供給側テンションガイド
６……収容側テンションガイド
７……供給側サブスプロケット
８……収容側サブスプロケット
９……供給側メインスプロケット
１０……収容側メインスプロケット
１１……供給側ＩＣチップ検出装置
１２……収容側ＩＣチップ検出装置（ＴＣＰ検出手段）
１３……演算装置（判定手段）
１４……入力装置
Claims (6)
- 【請求項１】 ＴＣＰ（１）が複数連接されたＴＣＰ
テープ（Ｘ）を順次間欠送りしつつ各ＴＣＰ（１）のテ
ストパッド（１ｂ）を半導体集積回路試験装置の測定ピ
ンに順次接触接続させて各ＴＣＰ（１）を半導体集積回
路試験装置による試験に順次供するＴＣＰ用ハンドラで
あって、 前記接触接続に先立って、ＴＣＰテープ（Ｘ）上で先頭
に位置する先頭ＴＣＰを自動検出する先頭ＴＣＰ検出手
段を具備することを特徴とするＴＣＰ用ハンドラ。 - 【請求項２】 先頭ＴＣＰ検出手段は、所定位置にお
いてＴＣＰテープ（Ｘ）上のＴＣＰ（１）の存在を検出
するＴＣＰ検出手段（１２）と、ＴＣＰテープ（Ｘ）を
供給側から収容側に移送した場合に前記ＴＣＰ検出手段
（１２）においてＴＣＰ（Ｘ）が検出されると、その
後、ＴＣＰテープ（Ｘ）を収容側から供給側に移送した
場合に所定の判定値Ｈ以上連続してＴＣＰ（１）が検出
されないときに、前記ＴＣＰ検出手段（１２）によって
検出されたＴＣＰ（１）を先頭ＴＣＰと判断する判定手
段（１３）とから構成されることを特徴とする請求項１
記載のＴＣＰ用ハンドラ。 - 【請求項３】 ＴＣＰ検出手段（１２）は、試験結果
に基づいて不良のＴＣＰ（１）をＴＣＰテープ（Ｘ）上
から除去する分別装置（４）の動作を確認するために、
各ＴＣＰ（１）におけるＩＣチップ（１ｃ）の存在を検
出する収容側ＩＣチップ検出装置（１２）であることを
特徴とする請求項１または２記載のＴＣＰ用ハンドラ。 - 【請求項４】 判定値Ｈは、ＴＣＰテープ（Ｘ）上に
ＴＣＰ（１）の欠落がないとした場合に、試験に供され
るＴＣＰ（１）上のＩＣチップ（１ｃ）の存在を検出す
る供給側ＩＣチップ検出装置（１１）と試験結果に基づ
いて不良のＴＣＰ（１）を除去する分別装置（４）の動
作を確認するために各ＴＣＰ（１）におけるＩＣチップ
（１ｃ）の存在を検出する収容側ＩＣチップ検出装置
（１２）との間に存在し得るＴＣＰ（１）の個数である
ことを特徴とする請求項１〜３いずれかに記載のＴＣＰ
用ハンドラ。 - 【請求項５】 ＴＣＰテープ（Ｘ）を供給側から収容
側に移送した場合にＴＣＰ（Ｘ）が検出されると、その
後、ＴＣＰテープ（Ｘ）を収容側から供給側に移送した
場合に所定の判定値Ｈ以上連続してＴＣＰ（１）が検出
されないときに、先に検出されたＴＣＰ（Ｘ）を先頭Ｔ
ＣＰと判断することを特徴とする先頭ＴＣＰ検出方法。 - 【請求項６】 判定値Ｈは、ＴＣＰテープ（Ｘ）上に
ＴＣＰ（１）の欠落がないとした場合に、試験に供され
るＴＣＰ（１）上のＩＣチップ（１ｃ）の存在を検出す
る供給側ＩＣチップ検出装置（１１）と試験結果に基づ
いて不良のＴＣＰ（１）を除去する分別装置（４）の動
作を確認するために各ＴＣＰ（１）におけるＩＣチップ
（１ｃ）の存在を検出する収容側ＩＣチップ検出装置
（１２）との間に存在し得るＴＣＰ（１）の個数である
ことを特徴とする請求項５記載の先頭ＴＣＰ検出方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001291055A JP4089193B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | Ｔｃｐ用ハンドラ及び先頭ｔｃｐ検出方法 |
| TW091117276A TW554458B (en) | 2001-09-25 | 2002-08-01 | Handler for TCP and method for detecting head TCP |
| KR1020020055648A KR100631266B1 (ko) | 2001-09-25 | 2002-09-13 | Ｔｃｐ용 핸들러 및 선두 ｔｃｐ검출방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001291055A JP4089193B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | Ｔｃｐ用ハンドラ及び先頭ｔｃｐ検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003098219A true JP2003098219A (ja) | 2003-04-03 |
| JP4089193B2 JP4089193B2 (ja) | 2008-05-28 |
Family
ID=19113260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001291055A Expired - Lifetime JP4089193B2 (ja) | 2001-09-25 | 2001-09-25 | Ｔｃｐ用ハンドラ及び先頭ｔｃｐ検出方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4089193B2 (ja) |
| KR (1) | KR100631266B1 (ja) |
| TW (1) | TW554458B (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007072853A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Renesas Technology Corp | 電子装置の製造方法 |
| JP2008157657A (ja) * | 2006-12-21 | 2008-07-10 | Advantest Corp | Ｔｃｐ試験装置及びｔｃｐ試験装置の段取方法 |
-
2001
- 2001-09-25 JP JP2001291055A patent/JP4089193B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-08-01 TW TW091117276A patent/TW554458B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-09-13 KR KR1020020055648A patent/KR100631266B1/ko active IP Right Grant
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007072853A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Renesas Technology Corp | 電子装置の製造方法 |
| JP2008157657A (ja) * | 2006-12-21 | 2008-07-10 | Advantest Corp | Ｔｃｐ試験装置及びｔｃｐ試験装置の段取方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100631266B1 (ko) | 2006-10-02 |
| KR20030026226A (ko) | 2003-03-31 |
| TW554458B (en) | 2003-09-21 |
| JP4089193B2 (ja) | 2008-05-28 |
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