JP2003090761A - 分光特性測定装置および同装置の分光感度の波長シフト補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 白色校正以上の手間がかからず、ユーザが実
際に使用する環境で日常的に波長方向のシフト補正を行
えるようにする。 【解決手段】 ランプ１２からの光を受光したときに試
料光センサアレイ３６から出力される分光プロファイル
と、センサアレイ３６の回折格子３５に対する相対位置
が波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトした場合
に、各シフト位置においてセンサアレイ３６から出力さ
れるべき複数の分光プロファイルとが格納されたメモリ
６１と、試料２として校正用白色板が配置された状態で
ランプ１２を発光させ、そのときにセンサアレイ３６か
ら出力される補正用分光プロファイルとメモリ６１に格
納されている上記各分光プロファイルとをそれぞれ比較
し、補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
ァイルに対応するシフト量を波長シフト補正量として求
めるＣＰＵ６２とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分光測色計などの
分光特性測定装置に係り、特に、経時劣化や周囲温度変
化などによって受光手段の分光感度に生じる波長方向の
シフトを補正する技術に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】分光測色計などの分光特性測定装置は、
製造時に、レーザなどの輝線スペクトルや温度管理され
た色基準板を用いて受光手段の分光感度の振幅や中心波
長、半値幅を校正した上で出荷される。ところが、出荷
後に、経時劣化や周囲温度変化などによって受光手段の
分光感度が振幅方向に変化したり波長方向にシフトして
しまうと、測定精度が低下してしまう。

【０００３】例えば、一般に受光手段として、分光手段
の波長分散方向に所定間隔で配列され、それぞれ異なる
波長の光を受光して光強度に応じた電気信号を出力する
複数の光電変換素子を有するものが用いられるが、その
場合、経時劣化などによって受光手段と分光手段との相
対位置が波長方向に変化すると、受光手段の分光感度が
波長方向にシフトしてしまうこととなる。

【０００４】分光感度の振幅方向の変化については、測
定前に日常的に行われる校正用白色板を用いた白色校正
により比較的簡単に、従って十分な頻度で、しかも実際
の測定環境条件下で補正することが可能である。

【０００５】これに対して、分光感度の波長方向のシフ
トについては、現状では一般に、分光反射率が既知の基
準色サンプルを測定し、得られた測定データと既知デー
タとの差からシフト量を推定して補正することが行われ
ている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、基準色サンプ
ルは、温度依存特性の大きいものが多く、特に波長方向
のシフトを補正するのに有効な急峻な分光特性を有する
赤色、オレンジ色、黄色などの高彩度色の基準色サンプ
ルは、温度依存特性として１℃当たり0.1nm以上の値を
持つ。

【０００７】従って、基準色サンプルを用いて精度良く
補正を行うために、既知の分光反射率が求められたとき
と同一の周囲温度で補正作業を行うか、または補正時に
おける基準色サンプルの温度を測定して既知の分光反射
率に温度補正を施すことが行われている。

【０００８】ところが、前者は、温度管理された部屋で
補正作業を行う必要があるので経費がかさむとともに、
当該測定装置がその温度と異なる周囲温度の場所で使用
される場合には、補正が実用的な意味を持たないという
欠点があり、後者は、基準色サンプルの分光反射率の温
度依存特定を予め測定しておき、補正時に、基準色サン
プルの温度を測定して既知データを補正しなければなら
ないので、時間と手間を要するという欠点がある。特
に、ポータブル分光測色計は、試験室を離れて周囲温度
が異なる種々の環境で使用されるので、いずれの補正方
法も現実的ではない。

【０００９】このような問題点に加えて、基準色サンプ
ルの測定や保管という手間を要するため、分光感度の波
長方向のシフトの補正がユーザ側で日常的に行われるこ
とは殆どなく、メーカの工場に返送して行われることが
多い。

【００１０】このように、分光手段の分光感度の波長方
向のシフトの補正については、その煩雑さから日常的に
は行われず、測定データの一貫性を保つのに大きな阻害
要因になっている。

【００１１】本発明は、上記課題を解決するもので、ユ
ーザが実際に使用する環境で日常的に波長方向のシフト
補正を行えるようにした分光特性測定装置および同装置
の分光感度の波長シフト補正方法を提供することを目的
とする。

【００１２】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、測定
試料を照明する照明手段と、この照明手段を発光させる
照明制御手段と、照明された上記測定試料からの光を波
長ごとに分光する分光手段と、上記分光手段の波長分散
方向に所定間隔で配列され、それぞれ異なる波長の光を
受光して光強度に応じた受光信号を出力する複数の光電
変換素子を有し、当該複数の受光信号からなる分光プロ
ファイルを出力する受光手段と、上記各光電変換素子の
分光感度が格納された分光感度記憶手段と、上記分光プ
ロファイルと上記各光電変換素子の分光感度とを用いて
所定の測定波長域における上記測定試料の分光特性を算
出する分光特性演算手段とを備えた分光特性測定装置に
おいて、初期状態で特定波長に強度のピークを持つ所定
光源からの光を受光したときに上記受光手段から出力さ
れる少なくとも上記特定波長を含む特定波長域の分光プ
ロファイルと、上記受光手段の上記分光手段に対する相
対位置が波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトし
た場合に、各シフト位置において当該受光手段から出力
されるべき上記特定波長域の複数の分光プロファイルと
からなる基準分光プロファイル群が格納された基準分光
プロファイル群記憶手段と、上記初期状態以後に上記所
定光源を校正可能な状態で発光させる補正制御手段と、
上記所定光源が発光したときに上記受光手段から出力さ
れる補正用分光プロファイルと上記基準分光プロファイ
ル群記憶手段に格納されている上記各分光プロファイル
とを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記補正
用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プロフ
ァイル群記憶手段に格納されている分光プロファイルに
対応するシフト量を上記初期状態からのシフト量である
波長シフト補正量として求める補正量演算手段とを備え
たことを特徴としている。

【００１３】この構成によれば、特定波長に強度のピー
クを持つ所定光源からの光を受光したときに上記受光手
段から出力される少なくとも上記特定波長を含む特定波
長域の分光プロファイルと、上記受光手段の上記分光手
段に対する相対位置が波長分散方向に所定ピッチで複数
段階シフトした場合に、各シフト位置において当該受光
手段から出力されるべき上記特定波長域の複数の分光プ
ロファイルとからなる基準分光プロファイル群が、初期
状態、例えば装置の製造工程で求められ、基準分光プロ
ファイル群記憶手段に格納されている。

【００１４】そして、初期状態以後に所定光源が校正可
能な状態で発光したときに上記受光手段から出力される
補正用分光プロファイルと上記基準分光プロファイル群
記憶手段に格納されている上記各分光プロファイルとが
上記特定波長域においてそれぞれ比較され、補正用分光
プロファイルに最も近似する分光プロファイルに対応す
るシフト量が初期状態からのシフト量である波長シフト
補正量として求められる。

【００１５】これによって、受光手段の分光手段に対す
る相対位置が波長分散方向に変化して各光電変換素子の
分光感度が波長方向にシフトした場合でも、従来のよう
に基準色サンプルを用いることなく、波長シフト補正量
が求められることとなる。その結果、使用者に注意を喚
起したり、必要な補正を行うことがユーザ側において容
易に可能になる。

【００１６】なお、上記所定光源としては、レーザのよ
うに特定波長の光を出力する光源や、例えばタングステ
ンランプにディディミウムフィルタ、ホロミウムフィル
タなどの特定波長を吸収するフィルタを付加することに
より特定波長にピーク（谷）を持たせたものなどを採用
することができる。

【００１７】また、上記所定光源は、連続スペクトルお
よび上記特定波長の輝線スペクトルからなる分光強度分
布を有するもので、上記照明手段として兼用されている
場合には（請求項２）、所定光源を別途準備する必要が
なく構成が簡素化される。この所定光源としては、例え
ばキセノンランプ、水銀ランプ、クリプトンランプ、ヘ
リウムランプ等の輝線スペクトルを有する光源を採用す
ることができる。

【００１８】また、上記所定光源は、パルス状に発光す
るフラッシュランプからなるもので、上記照明制御手段
は、上記フラッシュランプを所定時間だけ発光させるも
ので、上記補正制御手段は、上記フラッシュランプを上
記所定時間より短い時間だけ発光させるものであるとす
ると（請求項３）、フラッシュランプの分光強度分布に
おいて、発光時間が短くなると連続スペクトルに対する
輝線スペクトルの相対強度が増大することから、補正用
分光プロファイルと基準分光プロファイル群の分光プロ
ファイルを比較したときに連続スペクトルによる影響が
軽減され、補正用分光プロファイルに最も近似する分光
プロファイルを求める上で波長シフトへの感度を高める
ことができる。

【００１９】上記フラッシュランプとしてキセノンフラ
ッシュランプを採用すると、測定試料の分光反射特性や
分光透過特性の測定が好適に行える。この場合におい
て、上記特定波長を700nm以上の波長域における輝線ス
ペクトルに対応する波長であるとすると、短波長域で顕
著なキセノンフラッシュランプの発光光率の経時劣化や
分光手段、受光手段や照明手段などの光学素子の経時劣
化による影響を受けることなく波長シフト補正量が求め
られる。

【００２０】また、上記所定光源は、キセノンフラッシ
ュランプからなるもので、上記特定波長は、700nm以上
の波長域における輝線スペクトルに対応する波長であ
り、上記受光手段の上記分光手段に対する相対位置が上
記初期状態から波長分散方向にシフトしたときの、700n
m以上の波長域における輝線スペクトルの波長方向のシ
フト量と上記測定波長域全体における平均的な波長シフ
ト量との関係が格納されたシフト量記憶手段をさらに備
え、上記補正量演算手段は、上記シフト量記憶手段に格
納されている上記関係を用いて、上記補正用分光プロフ
ァイルに最も近似する分光プロファイルに対応するシフ
ト量から上記測定波長域全体における平均的な波長シフ
ト量を求め、これを上記波長シフト補正量とするもので
あるとしてもよい（請求項４）。

【００２１】この構成によれば、上記受光手段の上記分
光手段に対する相対位置が初期状態から波長分散方向に
シフトしたときの、700nm以上の波長域における輝線ス
ペクトルの波長方向のシフト量と、上記測定波長域全体
における平均的な波長シフト量との関係を用いて、上記
補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロファイ
ルに対応するシフト量から上記測定波長域全体における
平均的な波長シフト量が求められ、これが波長シフト補
正量とされることにより、測定波長域全体に亘って波長
シフトの補正を適正に行うことが可能になる。

【００２２】また、上記補正量演算手段は、上記補正用
分光プロファイルの波長に対する差分データと上記基準
分光プロファイル群記憶手段に格納されている各分光プ
ロファイルの波長に対する差分データとの相関が最も大
きい分光プロファイルに対応するシフト量を上記波長シ
フト補正量として求めるものであるとしてもよい（請求
項５）。

【００２３】この構成によれば、上記補正用分光プロフ
ァイルと上記各分光プロファイルの波長に対する差分デ
ータを用いているので、連続スペクトルによる影響が抑
制されることから、相関値の波長シフトに対する感度が
向上し、波長シフト補正量が高精度で得られることとな
る。

【００２４】なお、上記構成において、基準分光プロフ
ァイル群記憶手段には、基準分光プロファイル群の各分
光プロファイルの波長に対する差分データのみを格納し
ておくようにしてもよい。

【００２５】また、上記補正量演算手段は、上記補正用
分光プロファイルの波長に対する差分データと上記基準
分光プロファイル群記憶手段に格納されている各分光プ
ロファイルの波長に対する差分データとの相関値をそれ
ぞれ求め、上記シフト量を変数として各相関値を所定の
関数で近似し、当該近似関数の極大値を与えるシフト量
を上記波長シフト補正量として求めるものであるとして
もよい（請求項６）。

【００２６】この構成によれば、補正用分光プロファイ
ルと各分光プロファイルの波長に対する差分データの相
関値がそれぞれ求められ、シフト量を変数として各相関
値が所定の関数で近似され、その近似関数の極大値を与
えるシフト量が波長シフト補正量として求められること
から、基準分光プロファイル群の全ての分光プロファイ
ルとの相関値を用いて、補正用分光プロファイルに対応
する波長シフト補正量を求めているので、相関値データ
が含む誤差の影響が軽減される。

【００２７】上記近似関数としては、例えば２次関数を
採用することができる。

【００２８】また、上記基準分光プロファイル群記憶手
段に格納されている上記各シフト位置において上記受光
手段から出力されるべき上記特定波長域の複数の分光プ
ロファイルは、上記所定光源の分光強度分布を測定し、
上記各光電変換素子の分光感度を測定し、当該分光感度
を波長方向に所定ピッチで複数段階シフトすることで複
数の分光感度を数値的に合成し、当該合成された複数の
分光感度と測定によって得られた上記所定光源の分光強
度分布とを用いて求めたものであるとしてもよい（請求
項７）。

【００２９】この構成によれば、上記各シフト位置にお
いて上記受光手段から出力されるべき上記特定波長域の
複数の分光プロファイルは、測定によって得られる上記
各光電変換素子の分光感度を波長方向に所定ピッチで複
数段階シフトすることで複数の分光感度を数値的に合成
し、当該合成された複数の分光感度と測定によって得ら
れた上記所定光源の分光強度分布とを用いて求められる
ことにより、分光手段と複数の光電変換素子との相対位
置を実際に機械的に波長方向にシフトさせることなく、
基準分光プロファイル群が容易に得られることとなる。

【００３０】また、上記補正用分光プロファイルは、上
記初期状態以後における測定試料の分光特性測定に先立
ち、上記分光手段が上記測定試料からの反射光を分光す
るものであるときは校正用白色板を上記測定試料に代え
て配置した校正可能な状態で求められ、上記分光手段が
上記測定試料からの透過光を分光するものであるときは
上記測定試料を配置せずに光が透過する校正可能な状態
で求められるとしてもよい（請求項８）。

【００３１】この構成によれば、補正用分光プロファイ
ルは、初期状態以後における測定試料の分光特性測定に
先立ち、分光手段が測定試料からの反射光を分光するも
のであるときは校正用白色板が測定試料に代えて配置さ
れた校正可能な状態で求められ、分光手段が測定試料か
らの透過光を分光するものであるときは測定試料を配置
せずに光が透過する校正可能な状態で求められることか
ら、使用者が白色校正を行う際に、現在の分光プロファ
イルを測定して波長シフト補正量を求めることが可能に
なるので、使用者側において、新たな手間を要すること
なく容易に波長シフト補正量が求められる。なお、上記
光が透過する校正可能な状態は、透明板を配置したり、
何も配置しないことによって実現される。

【００３２】なお、請求項１の構成において、上記補正
量演算手段により求められた波長シフト補正量を格納す
るための補正量記憶手段をさらに備えるようにすると、
補正量演算手段により一旦求められた波長シフト補正量
を補正量記憶手段に格納しておくことにより、測定ごと
に波長シフト補正量を求めることなく波長シフト補正が
行えることとなる。

【００３３】また、上記補正量演算手段により求められ
た波長シフト補正量を格納するための補正量記憶手段を
さらに備え、上記分光特性演算手段は、上記補正量記憶
手段に上記波長シフト補正量が格納されているときは、
上記各光電変換素子の分光感度を上記波長シフト補正量
だけシフトした分光感度を用いて上記測定試料の分光特
性を算出するものであるとしてもよい（請求項９）。

【００３４】この構成によれば、補正量記憶手段に格納
されている波長シフト補正量だけ各光電変換素子の分光
感度を波長方向にシフトした分光感度を用いて測定試料
の分光特性が算出されることから、受光手段の分光手段
に対する相対位置が変化して各光電変換素子の分光感度
が波長方向にシフトした場合でも、測定試料の分光特性
が精度良く求められることとなる。

【００３５】また、上記補正量演算手段により求められ
た波長シフト補正量を格納するための補正量記憶手段を
さらに備え、上記分光特性演算手段は、上記補正量記憶
手段に格納されている上記波長シフト補正量が所定値以
上のときのみ、上記各光電変換素子の分光感度を上記波
長シフト補正量に基づき設定された量だけシフトした分
光感度を用いて上記測定試料の分光特性を算出するもの
であるとしてもよい（請求項１０）。

【００３６】この構成によれば、補正量記憶手段に格納
されている波長シフト補正量が所定値以上のときのみ、
各光電変換素子の分光感度を波長シフト補正量に基づき
設定された量だけ波長方向にシフトした分光感度を用い
て測定試料の分光特性が算出されることにより、波長シ
フト補正量が所定値未満のときは、分光感度記憶手段に
格納されている各光電変換素子の分光感度をそのまま用
いて測定試料の分光特性が算出されることから、測定値
としての連続性が保持されることとなる。また、波長シ
フト補正量が所定値以上のときは波長シフト補正量に基
づき設定された量、例えば上記所定値または当該所定値
を超えない程度だけ波長方向にシフトした分光感度が用
いられることから、測定値の連続性が損なわれるのを防
止することが可能になる。

【００３７】なお、請求項１０の構成において、外部か
らの操作により上記所定値を設定する設定手段をさらに
備えるようにすると、測定値の連続性保持と波長シフト
補正との優先度合いを任意に設定することが可能にな
る。

【００３８】また、請求項１の構成において、上記補正
量演算手段により求められた上記波長シフト補正量が所
定値以上のときはその旨を報知する報知手段をさらに備
えるようにすると、波長シフト補正量が所定値以上であ
ることが使用者に報知されることとなり、装置のメーカ
にメンテナンスを依頼するなどの対応策をとることが可
能になる。この所定値は、補正するよりもメンテナンス
を行うべきであるような、ある程度大きい値に設定して
おけばよい。

【００３９】請求項１１の発明は、測定試料を照明する
照明手段と、この照明手段を発光させる照明制御手段
と、照明された上記測定試料からの光を波長ごとに分光
する分光手段と、上記分光手段の波長分散方向に所定間
隔で配列され、それぞれ異なる波長の光を受光して光強
度に応じた受光信号を出力する複数の光電変換素子を有
し、当該複数の受光信号からなる分光プロファイルを出
力する受光手段と、上記各光電変換素子の分光感度が格
納された分光感度記憶手段と、上記分光プロファイルと
上記各光電変換素子の分光感度とを用いて所定の測定波
長域における上記測定試料の分光特性を算出する分光特
性演算手段とを備えた分光特性測定装置において、初期
状態で特定波長に強度のピークを持つ所定光源からの光
を受光したときに上記受光手段から出力される少なくと
も上記特定波長を含む特定波長域の分光プロファイル
と、上記受光手段の上記分光手段に対する相対位置が波
長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトした場合に、
各シフト位置において当該受光手段から出力されるべき
上記特定波長域の複数の分光プロファイルとからなる基
準分光プロファイル群を記憶しておき、上記初期状態以
後に上記所定光源を校正可能な状態で発光したときに上
記受光手段から出力される補正用分光プロファイルと、
上記基準分光プロファイル群に含まれる各分光プロファ
イルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記
補正用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プ
ロファイル群内の分光プロファイルに対応するシフト量
を上記初期状態からのシフト量である波長シフト補正量
として求めるようにしたものである。

【００４０】この構成によれば、照明手段により測定試
料が照明され、照明された測定試料からの光が分光手段
により波長ごとに分光され、分光手段の波長分散方向に
所定間隔で配列された複数の光電変換素子を有する受光
手段により上記分光手段で分光された光が受光され、上
記各光電変換素子からそれぞれ波長ごとに光強度に応じ
た受光信号からなる分光プロファイルが出力されて、こ
の分光プロファイルと各光電変換素子の分光感度とを用
いて所定の測定波長域における測定試料の分光特性が算
出される。

【００４１】そして、特定波長に強度のピークを持つ所
定光源からの光を受光したときに上記受光手段から出力
される少なくとも上記特定波長を含む特定波長域の分光
プロファイルと、上記受光手段の上記分光手段に対する
相対位置が波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフト
した場合に、各シフト位置において当該受光手段から出
力されるべき上記特定波長域の複数の分光プロファイル
とからなる基準分光プロファイル群が、初期状態、例え
ば装置の製造工程において求められて記憶されている。

【００４２】そして、例えばユーザ側において、初期状
態以後に所定光源を校正可能な状態で発光したときに受
光手段から出力される補正用分光プロファイルと、上記
基準分光プロファイル群に含まれる各分光プロファイル
とが特定波長域においてそれぞれ比較され、上記補正用
分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プロファ
イル群内の分光プロファイルに対応する上記受光手段の
シフト量が初期状態からのシフト量である波長シフト補
正量として求められる。

【００４３】これによって、受光手段の分光手段に対す
る相対位置が波長分散方向に変化して各光電変換素子の
分光感度が波長方向にシフトした場合でも、従来のよう
に基準色サンプルを用いることなく、波長シフト補正量
が求められることとなる。その結果、使用者に注意を喚
起したり、必要な補正を行うことがユーザ側において容
易に可能になる。

【００４４】この場合において、上記各シフト位置にお
いて上記受光手段から出力されるべき上記特定波長域の
複数の分光プロファイルは、上記所定光源の分光強度分
布を測定し、上記各光電変換素子の分光感度を測定し、
当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シフト
することで複数の分光感度を数値的に合成し、当該合成
された複数の分光感度と測定によって得られた上記所定
光源の分光強度分布とを用いて求めるようにしてもよい
（請求項１２）。

【００４５】この構成によれば、上記各シフト位置にお
いて上記受光手段から出力されるべき上記特定波長域の
複数の分光プロファイルは、測定によって得られる上記
各光電変換素子の分光感度を波長方向に所定ピッチで複
数段階シフトすることで複数の分光感度を数値的に合成
し、当該合成された複数の分光感度と測定によって得ら
れた上記所定光源の分光強度分布とを用いて求められる
ことにより、実際に複数の光電変換素子を分光手段に対
して波長分散方向に機械的にシフトさせることなく、容
易に基準分光プロファイル群が得られることとなる。

【００４６】請求項１３の発明は、連続スペクトルおよ
び特定波長の輝線スペクトルからなる分光強度分布を有
し、測定試料を照明する照明手段と、この照明手段を発
光させる照明制御手段と、照明された上記測定試料から
の光を波長ごとに分光する分光手段と、上記分光手段の
波長分散方向に所定間隔で配列され、それぞれ異なる波
長の光を受光して光強度に応じた受光信号を出力する複
数の光電変換素子を有し、当該複数の受光信号からなる
分光プロファイルを出力する受光手段と、上記分光プロ
ファイルを用いて所定の測定波長域における上記測定試
料の分光特性を算出する分光特性演算手段とを備えた分
光特性測定装置の分光感度の波長シフト補正方法であっ
て、複数の上記分光特性測定装置の上記各照明手段の分
光強度分布をそれぞれ測定し、それらの測定結果に基づ
き少なくとも１つの分光強度分布を選択し、初期状態の
補正対象の分光特性測定装置について、上記各光電変換
素子の分光感度を測定し、当該分光感度を波長方向に所
定ピッチで複数段階シフトすることで複数の分光感度を
数値的に合成し、当該合成された複数の分光感度および
上記測定された分光感度と選択された上記分光強度分布
とを用いて上記受光手段から出力されるべき上記特定波
長域の複数の分光プロファイルからなる分光プロファイ
ル群を求め、上記照明手段を校正可能な状態で発光した
ときに上記受光手段から出力される補正用分光プロファ
イルと、上記分光プロファイル群に含まれる各分光プロ
ファイルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、
上記補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
ァイルを与える分光強度分布について求められた上記特
定波長域の分光プロファイル群を、当該補正対象の分光
特性測定装置の基準分光プロファイル群として予め記憶
しておき、上記初期状態以後に補正対象の分光特性測定
装置において波長シフト補正を行う際に、上記照明手段
を校正可能な状態で発光したときに上記受光手段から出
力される補正用分光プロファイルと、上記記憶されてい
る基準分光プロファイル群に含まれる各分光プロファイ
ルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記補
正用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プロ
ファイル群内の分光プロファイルに対応するシフト量を
上記初期状態からのシフト量である波長シフト補正量と
して求めるようにしたものである。

【００４７】この構成によれば、まず、複数の分光特性
測定装置の各照明手段の分光強度分布がそれぞれ測定さ
れ、それらの測定結果に基づき少なくとも１つの分光強
度分布が選択される。例えば典型的な、または平均的な
分光強度分布が選択される。また、上記複数の分光特性
測定装置の分光強度分布の全てを選択するようにしても
よい。

【００４８】次いで、初期状態の補正対象の分光特性測
定装置について、上記各光電変換素子の分光感度を測定
し、当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シ
フトすることで複数の分光感度を数値的に合成し、当該
合成された複数の分光感度および測定された分光感度と
選択された分光強度分布とを用いて受光手段から出力さ
れるべき特定波長域の複数の分光プロファイルからなる
分光プロファイル群が求められる。

【００４９】次いで、校正可能な状態で上記照明手段を
発光したときに上記受光手段から出力される補正用分光
プロファイルと、上記分光プロファイル群に含まれる各
分光プロファイルとが上記特定波長域においてそれぞれ
比較され、上記補正用分光プロファイルに最も近似する
分光プロファイルを与える分光強度分布について求めら
れた上記特定波長域の分光プロファイル群が、当該補正
対象の分光特性測定装置の基準分光プロファイル群とし
て予め記憶される。

【００５０】そして、初期状態以後に補正対象の分光特
性測定装置において波長シフト補正を行う際には、照明
手段を校正可能な状態で発光したときに受光手段から出
力される補正用分光プロファイルと、上記記憶されてい
る基準分光プロファイル群に含まれる各分光プロファイ
ルとが特定波長域においてそれぞれ比較され、上記補正
用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プロフ
ァイル群内の分光プロファイルに対応するシフト量が初
期状態からのシフト量である波長シフト補正量として求
められる。

【００５１】従って、補正対象の分光特性測定装置につ
いて個々に照明手段の分光強度分布を測定する必要がな
いので、基準分光プロファイル群を容易に求めることが
可能になる。また、予め複数の分光特性測定装置の照明
手段について分光強度分布を測定し、そのうちから補正
対象の分光特性測定装置の補正用分光プロファイルに最
も近似する分光プロファイルを与える分光強度分布によ
る分光プロファイル群を基準分光プロファイル群として
いるので、補正対象の分光特性測定装置の照明手段の分
光強度分布がそれぞればらついていても、そのばらつき
による波長シフト補正の精度低下が抑制される。

【００５２】また、複数の上記分光特性測定装置の上記
各照明手段の分光強度分布をそれぞれ測定したときの測
定結果において、典型的な分光強度分布を与える１つの
分光特性測定装置を選択し、選択された分光特性測定装
置について、上記照明手段の発光時間を所定時間から所
定ピッチで複数段階変化させたときの分光強度分布をそ
れぞれ測定し、初期状態の補正対象の分光特性測定装置
について、上記各光電変換素子の分光感度を測定し、当
該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シフトす
ることで複数の分光感度を数値的に合成し、当該合成さ
れた複数の分光感度および上記測定された分光感度と各
発光時間での上記分光強度分布とを用いて上記受光手段
から出力されるべき上記特定波長域の複数の分光プロフ
ァイルからなる分光プロファイル群を求め、上記照明手
段を校正可能な状態で発光したときに上記受光手段から
出力される補正用分光プロファイルと、上記分光プロフ
ァイル群に含まれる各分光プロファイルとを上記特定波
長域においてそれぞれ比較し、上記補正用分光プロファ
イルに最も近似する分光プロファイルを与える発光時間
について求められた上記特定波長域の分光プロファイル
群を、当該補正対象の分光特性測定装置の基準分光プロ
ファイル群として予め記憶しておくようにしてもよい
（請求項１４）。

【００５３】この構成によれば、複数の分光特性測定装
置の各照明手段の分光強度分布をそれぞれ測定したとき
の測定結果において、典型的な分光強度分布を与える１
つの分光特性測定装置が選択される。

【００５４】そして、選択された分光特性測定装置につ
いて、照明手段の発光時間を所定時間から所定ピッチで
複数段階変化させたときの分光強度分布がそれぞれ測定
される。

【００５５】また、初期状態の補正対象の分光特性測定
装置について、上記各光電変換素子の分光感度を測定
し、当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シ
フトすることで複数の分光感度を数値的に合成し、当該
合成された複数の分光感度と各発光時間での上記分光強
度分布とを用いて求めた上記受光手段から出力されるべ
き上記特定波長域の複数の分光プロファイルからなる分
光プロファイル群が求められる。

【００５６】さらに、照明手段を校正可能な状態で発光
したときに受光手段から出力される補正用分光プロファ
イルと、上記分光プロファイル群に含まれる各分光プロ
ファイルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、
上記補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
ァイルを与える発光時間について求められた特定波長域
の分光プロファイル群が、当該補正対象の分光特性測定
装置の基準分光プロファイル群として予め記憶される。

【００５７】これによって、照明手段の発光時間が変化
すると連続スペクトルに対する輝線スペクトルの相対強
度が変化することから、補正対象である個々の分光特性
測定装置の照明手段が持つ上記相対強度がそれぞれ異な
る場合でも、それぞれに最も近い上記相対強度の分光プ
ロファイル群を基準分光プロファイル群として用いるこ
とが可能になり、その結果、波長シフト補正量を精度良
く求めることが可能になる。

【００５８】また、求めた上記波長シフト補正量を記憶
しておき、その波長シフト補正量だけ上記各光電変換素
子の分光感度をシフトした分光感度を用いて上記測定試
料の分光特性を算出するようにすると（請求項１５）、
受光手段の分光手段に対する相対位置が波長分散方向に
変化して各光電変換素子の分光感度が波長方向にシフト
した場合でも、測定試料の分光特性が精度良く求められ
ることとなる。

【００５９】

【発明の実施の形態】（分光測色計の構成）図１は本発
明に係る分光特性測定装置の一実施形態である分光測色
計を模式的に示す構成図、図２は同分光測色計の発光回
路の電気的構成を示す図である。

【００６０】この分光測色計１は、積分球１０、発光回
路２０、試料光測定部３０、参照光測定部４０、操作パ
ネル部５０、制御部６０を備えており、試料２として配
置された測定試料の分光反射特性を測定するものであ
る。

【００６１】積分球１０は、その内壁１１に高拡散性、
高反射率の例えば酸化マグネシウムや硫酸バリウム等の
白色拡散反射塗料が塗布された中空の球で、内部に光源
としてキセノンフラッシュランプ（以下単に「ランプ」
ともいう。）１２を備え、ランプ１２からの光線を内壁
１１で多重反射して拡散光を生成するものである。

【００６２】図１は積分球１０の側面断面図を示してお
り、積分球１０は、下端に穿設された試料用開口１３
と、この試料用開口１３の開口面の法線１３ｎに対して
８°傾斜した方向に穿設された受光用開口１４とを有す
る。なお、図１に示すように、ランプ１２の下方には遮
光壁１５が配置されており、ランプ１２からの光線が直
接試料用開口１３を照射しないように構成されている。

【００６３】発光回路２０はランプ１２を発光させるも
ので、図２に示すように、数百Ｖの直流高電圧をランプ
１２の電極に印加するためのメインコンデンサ２１、こ
のメインコンデンサを充電するための充電回路２２、ラ
ンプ１２に密着して巻かれた金属ワイヤからなるトリガ
電極１２ａに数万Ｖの交流高電圧を印加するためのトリ
ガ発生回路２３、ダイオード２４、例えばＩＧＢＴから
なる半導体スイッチ素子２５、この半導体スイッチ素子
２５に駆動電圧を印加するための駆動回路２６を備えて
いる。

【００６４】そして、半導体スイッチ素子２５をオンに
しておき、メインコンデンサ２１によりランプ１２の両
端電極に直流高電圧を印加した状態で、トリガ発生回路
２３のトリガコンデンサによりトリガトランスを介して
トリガ電極１２ａに交流高電圧を瞬間的に印加すると、
ランプ１２がトリガされ、メインコンデンサ２１から直
流電流が流れて発光することとなる。ランプ１２の発光
開始後に半導体スイッチ素子２５をオフにするタイミン
グを制御することで、ランプ１２の発光時間を制御する
ことが可能になっている。

【００６５】試料光測定部３０は、受光光学系３１、光
ファイバ３２、試料光分光部３３を備えている。受光光
学系３１は、積分球１０の受光用開口１４の近傍に配設
され、試料用開口１３に配設され、拡散照明された試料
２からの反射光（以下「試料光」という。）のうちで法
線１３ｎに対する８°方向の成分１４ａを集束して光フ
ァイバ３２の入射端に結像させるもので、試料２の反射
光像は、光ファイバ３２により試料光分光部３３に導か
れる。

【００６６】試料光分光部３３は、赤外光遮断フィルタ
３４、回折格子３５、試料光センサアレイ３６を備えて
いる。赤外光遮断フィルタ３４は、光ファイバ３２の射
出端に近接して配設され、例えば800nm以上の波長域の
光を遮断する。回折格子３５は、赤外光遮断フィルタ３
４を介して入射する試料光を波長ごとに分光して反射す
るものである。なお、本実施形態では反射型凹面回折格
子を用いているが、透過型回折格子を用いてもよい。

【００６７】試料光センサアレイ３６は、回折格子３５
により分光される波長方向に配列された複数の光電変換
素子からなり、それぞれ異なる波長の光を受光して光強
度に応じた電気信号を出力するものである。試料光セン
サアレイ３６の詳細な構成については後述する。

【００６８】積分球１０および試料光測定部３０によ
り、ｄ／８ジオメトリの分光測色計１が構成されてい
る。

【００６９】参照光測定部４０は、光ファイバ４１、参
照光分光部４２を備えている。光ファイバ４１の入射端
は、積分球１０の適所（例えばランプ１２からの光線や
試料光が直射しない位置）に配設され、積分球１０内の
拡散光が参照光として光ファイバ４１により参照光分光
部４２に導かれる。

【００７０】参照光分光部４２は、試料光分光部３３と
ほぼ同様の構成になっている。すなわち例えば800nm以
上の波長域の光を遮断する赤外光遮断フィルタ４３、こ
の赤外光遮断フィルタ４３を介して入射する参照光を波
長ごとに分光して反射する凹面回折格子４４、凹面回折
格子４４により分光される波長方向に配列された複数の
光電変換素子からなる参照光センサアレイ４５を備えて
いる。なお、凹面回折格子４４に代えて透過型回折格子
を用いてもよい。

【００７１】操作パネル部５０は、計測器本体の表面に
配設され、電源スイッチ５１、測定スイッチ５２、ダー
ク校正スイッチ５３、白色校正スイッチ５４、測定結果
などを表示するためのＬＣＤなどからなる表示部５５を
備えている。

【００７２】制御部６０は、メモリ６１、ＣＰＵ６２、
Ａ／Ｄ変換器、その他の電子回路などを備え、この分光
測色計１全体の動作を制御するものである。

【００７３】メモリ６１は、予め求められた基準分光プ
ロファイル（後述）や制御プログラムなどが格納された
ＲＯＭまたはＥＥＰＲＯＭと、データを一時的に保管す
るためのＲＡＭなどの書換え可能なメモリとを備えてい
る。ＣＰＵ６２は、メモリ６１に格納された制御プログ
ラムに従って動作するもので、以下に示す機能を有す
る。なお、詳細な手順は後述する。

【００７４】・操作パネル部５０の測定スイッチ５２、
ダーク校正スイッチ５３、白色校正スイッチ５４が押さ
れると、発光回路２０に制御信号を送出してランプ１２
の発光を制御する機能。なお、ランプ１２の発光時間
は、基準分光プロファイルを求めるときや波長シフト補
正を行うときは所定時間τ（本実施形態では例えばτ＝
40μｓ）とし、ダーク校正、白色校正、試料の測定を行
うときは所定時間Ｔ（Ｔ＞τ、本実施形態では例えばＴ
＝200μｓ）とする。キセノンフラッシュランプ１２の
発光時間に対する相対発光強度を示す図３に示すよう
に、所定時間τが終了するときには既に発光強度はピー
クを過ぎており、所定時間τでも十分な発光強度が得ら
れることが分かる。

【００７５】・センサアレイ３６，４５から出力される
分光強度信号に基づき試料用開口１３に配置された試料
２の分光反射率を求める分光特性演算機能。

【００７６】・試料光センサアレイ３６の分光感度の波
長方向の波長シフト補正量を求める補正量演算機能。

【００７７】・求めた波長シフト補正量が所定値以上か
否かを判別し、所定値以上のときは、その旨を表示部５
５に表示して使用者に報知する報知制御機能。

【００７８】・求めた測定結果などを表示部５５に表示
する表示制御機能。

【００７９】このような構成の分光測色計１において、
経時劣化や周囲温度変化などによって回折格子３５や試
料光センサアレイ３６の光学的配置が変化し、回折格子
３５による試料光の分光像と試料光センサアレイ３６と
の相対位置が変化すると、試料光センサアレイ３６の分
光感度が波長方向にシフトしてしまう。そこで、本実施
形態の分光測色計１では、白色校正を行う際に当該シフ
ト量を求め、これを用いて補正するようにしている。

【００８０】ここで、本実施形態の分光測色計１の仕様
について説明する。この分光測色計１は、測定波長域が
380nm〜780nm、測定ピッチが10nmピッチで、試料２とし
て配置された測定試料の分光反射特性を測定するもの
で、試料光センサアレイ３６は、４１個の光電変換素子
（以下「センサ」という。）を備えている。

【００８１】本実施形態では、試料光センサアレイ３６
の各センサに付された番号としてセンサ番号ｉと、測定
波長域内の波長に付された番号として波長番号ｊとを用
いて、各センサおよび波長を特定する。

【００８２】従って、試料光センサアレイ３６は、セン
サ番号ｉ＝０からセンサ番号ｉ＝４０まで４１個のセン
サを備えていることとなる。また、測定波長域は波長番
号ｊ＝０から波長番号ｊ＝４０まで10nmピッチで測定す
ることとなり、波長番号ｊの波長をλ_jと表わすと、λ_j
の値は10nmピッチとなり、例えばλ₀＝380nm、λ₄₀＝78
0nmとなる。

【００８３】（分光感度の校正）次に、分光測色計１の
製造時に工場において行われる試料光センサアレイ３６
の分光感度の校正について説明する。図４は試料光セン
サアレイ３６の分光感度を示す図である。

【００８４】一般に、試料光センサアレイ３６を構成す
る各センサの製造ばらつきの問題で、各センサの分光感
度の振幅が互いに一致しておらず、また、回折格子３５
や試料光センサアレイ３６の配置精度の問題で、10nmピ
ッチの分散光が各センサ上に等間隔で正確に結像しな
い。

【００８５】本実施形態でも、図４に示すように、セン
サ番号ｉの分光感度ｇ_i(λ)の振幅および半値幅は互い
にばらついており、それぞれの中心波長は必ずしも波長
番号ｊに一致していない。

【００８６】そこで、本実施形態では、分光測色計１の
製造時に工場において、一般の分光測色計と同様の公知
の手順で、各センサの分光感度の振幅（感度）および中
心波長の校正を行っている。

【００８７】（感度の校正）まず、公知の手順でセンサ
番号ｉの分光感度ｇ_i(λ)を測定する。例えば積分球１
０の試料用開口１３に定出力モノクロメータを配置し、
試料用開口１３から受光用開口１４に向けて単色光を例
えば１nmごとに射出し、各センサから出力される受光信
号によって、図４に示すようなセンサ番号ｉの分光感度
ｇ_i(λ)が得られることとなる。

【００８８】次いで、本実施形態では、測定値である分
光感度ｇ_i(λ)の中心波長λ_Cおよび半値幅dλに合致す
るガウス関数Ｇ_i(λ)をセンサ番号ｉの分光感度Ｇ_i(λ)
とする。これによって後述する波長シフトの補正を容易
に行えるようにしている。なお、上記公知の手順で求め
たセンサ番号ｉの分光感度Ｇ_i(λ)も、メモリ６１に格
納しておく。

【００８９】（中心波長の校正）図５はセンサ番号ｉの
分光感度Ｇ_i(λ)を示す図である。分光測色計１におい
て、分光特性Ｐ_jの入射光を測定したときに、センサ番
号ｉの分光プロファイルＯ_iは、センサ番号ｉのセンサ
の分光感度を波長番号ｊごとの分光感度で表わす行列を
Ａ_j,iとすると、 Ｏ_i＝Ａ_j,i・Ｐ_j …(1) で表わされる。

【００９０】逆に、この分光特性Ｐ_jは、 Ｐ_j＝Ａ_j,i ^-1・Ｏ_i …(2) で与えられることとなる。ここで、Ａ_j,i ^-1は行列Ａ_j,i
の逆行列である。

【００９１】上述したように、一般にセンサ番号ｉのセ
ンサの中心波長は波長番号ｊ＝ｉの波長λ_jとは一致し
ない。実際に観察される測定値は各センサからの出力信
号であるが、変換行列Ａ_j,i ^-1で処理することにより、
センサ番号ｉごとのデータを波長番号ｊごとのデータに
変換し、これによって10nmごとのデータを得るようにし
ている。

【００９２】例えば上記図４において分光感度ｇ₂(λ)
の中心波長が少し短波長側にずれている場合は、分光感
度ｇ₂(λ)から分光感度ｇ₁(λ)を少し減算し、分光感度
ｇ₃(λ)を少し加算することによって長波長側にシフト
することができる。変換行列Ａ_j,i ^-1の各要素は、この
ような処理のための重み付けである。

【００９３】この行列Ａ_j,iは、図５に示すように、分
光感度Ｇ_i(λ)を10nm幅で積分することによって求め
る。すなわち、 Ａ_j,i＝∫Ｇ_i(λ)ｄλ …(3) によって求められる。但し、λは(λ_j−5)nm〜(λ_j＋5)
nmである。なお、波長λ _jは10nmピッチであるので、図
４において、λ_j+1−λ_j＝λ_j−λ_j-1＝10nmである。ま
た、(λ_j＋5)＝(λ_j+1−5)、(λ_j−5)＝(λ_j-1＋5)にな
る。

【００９４】そして、求めた行列Ａ_j,iの逆行列Ａ_j,i ^-1
をメモリ６１に格納しておく。これによって、上記式
(2)により試料光センサアレイ３６への入射光の分光特
性を10nmピッチで求めることができる。

【００９５】なお、感度および中心波長の校正手順は、
上記実施形態に限られず、特公平８−２７２１５号公報
に記載されている手順など、他の公知の手順を採用する
ようにしてもよい。

【００９６】（基準分光プロファイル群）次に、図６、
図７を用いて、後述する「波長シフト補正」に用いられ
る基準分光プロファイル群を求める手順について説明す
る。図６はランプの分光強度分布を測定するときの構成
例を示す図、図７は基準分光プロファイル群を求める手
順を示すフローチャートである。この基準分光プロファ
イル群は、分光測色計１の製造時に工場において求めら
れ、メモリ６１に予め格納されている。

【００９７】図７の＃５において、まず、対象とする分
光測色計１の積分球１０の試料用開口１３に拡散透過板
３を配置する（図６参照）。この状態で、ランプ１２を
所定時間τだけ発光させ（＃１０）、波長分解能が１nm
程度の分光輝度計４により分光強度分布Ｉ(λ)を測定す
る（＃１５）。

【００９８】次いで、上記感度の校正において求めら
れ、メモリ６１に格納されている試料光センサアレイ３
６の分光感度Ｇ_i(λ)を、±１nmの範囲内で0.1nmずつ段
階的に波長方向にシフトすることで仮想的な分光感度Ｇ
_i,m(λ＋0.1・ｍ)を求める（＃２０）。ここで、ｍは−1
0〜＋10の整数である。

【００９９】これらの分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)で上
記分光強度Ｉ(λ)を観察したときの分光プロファイル(X
_i,m)₀を下記式(4)によって求め、これらを基準分光プロ
ファイル(X_i,m)₀としてメモリ６１に格納しておく（＃
２５）。 (X_i,m)₀＝∫Ｇ_i,m(λ＋0.1・m)・Ｉ(λ)dλ…(4) 但し、ｍは−10〜＋10の整数である。

【０１００】さらに、この基準分光プロファイル(X_i,m)
₀の差分d(X_i,m)₀／diを求めてメモリ６１に格納してお
く（＃３０）。

【０１０１】（ユーザ側で行われる動作）次に、分光測
色計１のユーザ側で行われるダーク校正、白色校正、試
料測定および波長シフト補正について説明する。

【０１０２】ダーク校正はダーク校正スイッチ５３が押
されたときに行われ、白色校正および波長シフト補正は
白色校正スイッチ５４が押されたときに行われるもの
で、定期的（例えば１日１回）に、あるいは測定ごとに
行われる。ダーク校正および白色校正は一般的に行われ
ている公知の制御である。

【０１０３】（ダーク校正）通常、測色計においては、
光電変換素子の暗電流や試料からの測定したい光以外の
迷光が存在するため、反射率０％の試料の反射率を測定
した場合でも、微小レベルのオフセットが出力されて０
％とならない。この迷光は、例えば試料を照明するため
の光源からの光が直接光電変換素子に到達してしまうも
のや、レンズなどの光学系による散乱光などからなる。

【０１０４】この暗電流や迷光等による余分な出力を除
去するために、本実施形態では、反射特性の測定を行う
前にダーク校正を行い、その結果をダーク校正値として
メモリ６１に格納しておく。そして、白色校正、波長シ
フト補正や試料測定など、センサアレイ３６，４５から
出力される分光プロファイルを用いて演算処理を行う際
に、当該分光プロファイルからオフセット分であるダー
ク校正値を差し引くようにしている。

【０１０５】本実施形態におけるダーク校正の手順を説
明する。積分球１０の試料用開口１３に何も配置しない
状態、または、内壁が黒色で塗装され、内壁によって反
射された照明光が直接積分球１０内に光が戻らないよう
に形成された光トラップ（図示省略）を配置した状態
で、ダーク校正スイッチ５３が押されると、ランプ１２
が所定時間Ｔ（本実施形態ではＴ＝200μｓ）だけ発光
され、センサアレイ３６，４５から試料光および参照光
に応じた分光プロファイルが出力される。

【０１０６】そして、上記式(2)により10nmピッチの試
料光分光強度(Ｓ_d)_jおよび参照光分光強度(Ｒ_d)_jを求
め、 ｄ_j＝(Ｓ_d)_j／(Ｒ_d)_j …(5) によってダーク校正値ｄ_jを求め、メモリ６１に格納す
る。但し、ｊは波長番号である。

【０１０７】このようにダーク校正を行うことにより、
ランプ１２の経時変化や外乱などによって迷光量が変化
した場合でも、その悪影響を適正に除去することがで
き、これによって測定結果に誤差が生じるのを防止する
ことができる。

【０１０８】（白色校正）白色校正は、図１において、
試料２として校正用白色板を積分球１０の試料用開口１
３に配置した状態で行われる。校正用白色板は、10nmピ
ッチで分光反射率Ｗ_jが既知の白色面、例えば「ＪＩＳ
Ｚ ８７２２ 色の測定方法−反射及び透過物体色
４．３．４節」にあるような白色面を有する板である。

【０１０９】この校正用白色板が試料２として試料用開
口１３に配置された状態で、白色校正スイッチ５４が押
されると、ランプ１２を所定時間Ｔ（本実施形態ではＴ
＝200μｓ）だけ発光され、センサアレイ３６，４５か
ら試料光および参照光に応じた分光プロファイルが出力
される。

【０１１０】次いで、上記式(2)により10nmピッチの試
料光分光強度(Ｓ_W)_jおよび参照光分光強度(Ｒ_W)_jが求め
られる。

【０１１１】次いで、白色校正係数Ｃ_jが、 Ｃ_j＝Ｗ_j／[(Ｓ_W)_j／(Ｒ_W)_j−ｄ_j] …(6) に従って算出され、メモリ６１に格納される。

【０１１２】このように白色校正を行うことにより、経
時変化や環境変化などによってセンサアレイ３６，４５
の感度が変化した場合でも、その悪影響を適正に除去す
ることができ、これによって測定結果に誤差が生じるの
を防止することができる。

【０１１３】（試料の測定）試料２として配置された測
定試料の分光反射率ｒ_jは、センサアレイ３６，４５か
ら試料光および参照光に応じて出力される分光プロファ
イルから上記式(2)により求められた10nmピッチの試料
光分光強度Ｓ_jおよび参照光分光強度Ｒ_jと、ダーク校正
値ｄ_jおよび白色校正係数Ｃ_jとから、 ｒ_j＝Ｃ_j・(Ｓ_j／Ｒ_j−ｄ_j) …(7) によって求められる。

【０１１４】（波長シフト補正）次に、図８〜図１１を
用いて波長シフト補正について説明する。図８はキセノ
ンフラッシュランプの発光スペクトル分布を示す図で、
分布は発光時間が40μｓのとき、分布は発光時間が
200μｓのときである。

【０１１５】キセノンフラッシュランプの発光スペクト
ルは、輝線スペクトルと連続スペクトルとで構成されて
おり、輝線スペクトルは、原子のエネルギー準位に由来
するもので波長安定性が高い。

【０１１６】図８に示すように、発光時間が40μｓのと
きは200μｓのときに比べて連続スペクトルに対する輝
線スペクトルの相対強度が大きい。一般に、分光特性の
測定では発光時間を200μｓ程度として行われるが、波
長シフト補正を行うときには、本実施形態では、発光時
間を40μｓ程度に短くしている。

【０１１７】また、図８の分布に示すように、700nm
以上の波長域において連続スペクトルに対して強度の大
きい輝線スペクトルが複数個存在し、764nm付近に、そ
の近傍の波長域における輝線スペクトルに対して特に強
度の大きい輝線スペクトルが存在しており、本実施形態
では、この輝線スペクトルを用いて波長シフト補正を行
っている。

【０１１８】なお、キセノンフラッシュランプ１２は、
図外の800nm以上に強い輝線スペクトルを持っている
が、試料光分光部３３および参照光分光部４２の入射部
にそれぞれ赤外光遮断フィルタ３４，４３を配置して
（図１）、800nm以上の波長成分を遮断しているので、
これらの輝線スペクトルによる悪影響が及ぼされること
はない。

【０１１９】図９は波長シフト補正の手順を示すフロー
チャート、図１０(ａ)は764nm近傍の波長域の分光プロ
ファイルX_iの一例を示す図、(ｂ)は(ａ)の差分波形を示
す図である。

【０１２０】図９において、白色校正スイッチ５４が押
されて白色校正が行われ（＃１００）、続いて、校正用
白色板を試料用開口１３に配置したままで、ランプ１２
を所定時間τ（本実施形態ではτ＝40μｓ）だけ発光す
る（＃１０５）。そして、試料光センサアレイ３６から
の出力信号により、中心波長が764nm近傍の波長域に配
置されるセンサ番号ｉ（例えばｉ＝３４〜４０）の分光
プロファイルX_iが求められ（＃１１０）、その差分波形
dX_i／diが求められる（＃１１５）。

【０１２１】図１０(ａ)では波長域720〜800nmの分光プ
ロファイルX_iを波形として実線で示しており、同図
(ｂ)では差分値[X_i(730)−X_i(720)]〜[X_i(800)−X_i(79
0)]の差分波形dX_i／diを波形として実線で示してい
る。

【０１２２】図９に戻り、続いて、この求めた差分波形
dX_i／diと、上述したようにメモリ６１に格納されてい
る基準分光プロファイル群(X_i,m)₀の差分波形d(X_i,m)₀
／diとの相関Ｃ_mが、 Ｃ_m＝[Σ(dX_i／di)・[d(X_i,m)₀／di]]² ／[Σ(dX_i／di)²・Σ[d(X_i,m)₀／di]²]…(8) によって、中心波長が764nm近辺に配置されるセンサ番
号ｉ、例えばセンサ番号ｉ＝３４〜４０について求めら
れる（＃１２０）。但し、ｍは−10〜＋10の整数であ
る。

【０１２３】そして、相関Ｃ_mが最大値をとるｍ＝Ｍを
求め、(0.1・Ｍ)を波長シフト補正量とする（＃１２
５）。

【０１２４】次いで、求めた波長シフト補正量(0.1・Ｍ)
を用いて、メモリ６１に格納されているセンサ番号ｉの
分光感度Ｇ_i(λ)を補正分光感度Ｇ_i(λ＋0.1・Ｍ)に補正
し、これを用いて、 Ａ_j,i'＝∫Ｇ_i(λ＋0.1・Ｍ)ｄλ …(9) によって行列Ａ_j,i'を求める（＃１３０）。但し、ｄλ
は(λ_j−5)nm〜(λ_j＋5)nmである。

【０１２５】次いで、行列Ａ_j,i'の逆行列(Ａ_j,i'）^-1
を求めてメモリ６１に格納する（＃１３５）。

【０１２６】そして、以降の試料測定では、上記式(2)
のＡ_j,i ^-1に代えて(Ａ_j,i'）^-1を用いて測定試料の分光
感度Ｐ_jを求めることとなる。

【０１２７】このように、本実施形態によれば、分光プ
ロファイルの差分波形を用いて相関を求めるようにして
いるので、連続スペクトルによる影響が相殺されること
となり、これによって連続スペクトルに対する輝線スペ
クトルの相対強度が変化した場合でも、波長シフト補正
に及ぼす影響を軽減することができる。

【０１２８】また、本実施形態によれば、輝線スペクト
ルとして比較的長波長域に属する764nmの輝線スペクト
ルを用いて波長シフト補正を行っているので、短波長域
で顕著な光学素子の透過率・反射率の経時変化（波長が
短くなるほど低下する）による影響を阻止することがで
きる。

【０１２９】また、積分球１０を備えた分光測色計１に
おいて、特に反射特性を測定する場合には、試料光だけ
でなく参照光の発光スペクトルも試料２として配置され
た測定試料の反射特性の影響を受けることになるが、本
実施形態によれば、試料２として校正用白色板を積分球
１０の試料用開口１３に配置した状態で波長シフト補正
（現在の分光プロファイルの測定）を行っているので、
上述したような影響を防止することができる。

【０１３０】また、本実施形態によれば、試料２として
既に校正用白色板が積分球１０の試料用開口１３に配置
されている白色校正に引き続いて波長シフト補正を行っ
ているので、感度（振幅）方向の校正と波長方向の補正
とを一連の動作として行うことができ、波長シフト補正
を行う際に試料用開口１３に別の基準試料を配置するな
どの新たな作業は不要である。また、波長シフト補正を
開始させるために新たなスイッチを設けることなく白色
校正スイッチ５４で兼用することができる。従って、分
光測色計１の構成が複雑化したり、操作性が低下するこ
とがない。

【０１３１】また、本実施形態によれば、予め試料光セ
ンサアレイ３６の分光感度が波長方向にシフトしたとき
の仮想的な分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)を求め、これに
基づき基準分光プロファイル(X_i,m)₀を求めてメモリ６
１に格納しておき、波長シフト補正時の分光プロファイ
ルX_iと上記基準分光プロファイルとの比較により波長シ
フト補正量を求めているので、従来のような基準色サン
プルを測定する必要がないことから、基準色サンプルの
保管や温度管理が不要となり、その結果、波長シフト補
正量をユーザ側において容易に求めることができる。従
って、波長シフト補正のためにメーカに返送するなどの
手間をなくすことができる。

【０１３２】また、本実施形態によれば、個々の分光測
色計１ごとに、製造工程における分光感度を校正する際
にキセノンフラッシュランプ１２の発光による基準分光
プロファイルをメモリ６１に格納しておき、経時変化後
の分光プロファイルとの相関を求めるようにしているの
で、基本的な波形の相関が高く、波長シフトに対する感
度が高いという利点を有する。

【０１３３】なお、図１０(ａ)では、試料光センサアレ
イ３６の分光感度が−1nmシフトした場合の分光プロフ
ァイルX_iを波形として破線で示し、＋1nmシフトした
場合の分光プロファイルX_iを波形として点線で示して
おり、同図(ｂ)では、(ａ)の波形の差分波形dX_i／di
を波形として破線で示し、(ａ)の波形の差分波形dX
_i／diを波形として点線で示している。

【０１３４】図１１はシフト量に対する相関値の一例を
示す図で、(ａ)はランプ１２の発光時間が所定時間τ＝
40μｓのとき、(ｂ)は発光時間が所定時間Ｔ＝200μｓ
のときを示している。

【０１３５】図１１(ａ)(ｂ)では、シフト量Δλ＝0.1・
ｍ＝＋0.2nmで最大の相関値が得られているが、(ｂ)に
比べて(ａ)の方がシフト量の変化に対して相関値の変化
が大きくなっているので、発光時間を短くする方が、相
関値が最大となる点を容易に求められることが分かる。

【０１３６】（参照光センサアレイの分光感度の中心波
長の校正）次に、図１２のフローチャートを用いて、上
記実施形態において行われる参照光センサアレイ４５の
分光感度の中心波長の校正について説明する。

【０１３７】分光測色計において精度良く測定を行うた
めには、センサアレイを構成する各センサの分光感度、
特に中心波長を正確に求めておく必要がある。試料光を
受光するセンサアレイの場合には、十分な強度の単色光
を入射したり基準色サンプルを測定することで、比較的
容易に各センサの分光感度を求めることができるが、参
照光を受光するセンサアレイの場合には、単色光の入射
や基準色サンプルの測定が一般に困難であることから、
各センサの分光感度の中心波長を正確に求めるのが困難
になっている。従って、一般に、試料光を受光するセン
サアレイの分光感度を正確に求めておき、参照光を受光
するセンサアレイの分光感度は、試料光を受光するセン
サアレイの分光感度と同一であるとされている。

【０１３８】ところが、実際には両者の分光感度の中心
波長は一致していないので、試料を照明する光源として
輝線スペクトルを有するランプを用いる場合には、測定
精度が低下してしまう。例えば照明光源としてキセノン
フラッシュランプを用いる場合には、上記図８に示すよ
うに、波長域450nm〜550nmに輝線スペクトルが特に多い
ので、その波長域450nm〜550nmでの輝線強度の変化を十
分補正できないため、測定精度が低下することとなる。

【０１３９】そこで、上記実施形態では、工場で分光測
色計１を製造する際に、参照光を受光するセンサアレイ
の分光感度の中心波長の校正を行っている。

【０１４０】図１２において、試料用開口１３に校正用
白色板が配置された状態で（＃２００）、ランプ１２を
所定時間τだけ発光させ（＃２０５）、試料光・参照光
センサアレイ３６，４５から出力される分光プロファイ
ルをメモリ６１に格納する（＃２１０）。

【０１４１】次いで、一方（例えば試料光センサアレイ
３６）の分光プロファイルを0.1nmずつ波長方向にシフ
トし（＃２１５）、それぞれ差分波形を求め（＃２２
０）、この差分波形により両者を比較して（＃２２
５）、相関値が最大となるときの波長シフト量を試料光
センサアレイ３６と参照光センサアレイ４５の波長差と
して求め（＃２３０）、この波長差Δλだけ試料光セン
サアレイ３６の各センサの分光感度を波長シフトして得
られる分光感度Ｇ_i(λ＋Δλ)を参照光センサアレイ４
５の分光感度としてメモリ６１に格納する（＃２３
５）。

【０１４２】このように、参照光センサアレイ４５の分
光感度を校正することにより、測定をさらに精度良く行
うことができる。また、ランプ１２の発光を試料光セン
サアレイ３６と参照光センサアレイ４５とで同時に測定
しているので、発光の分光強度の変化を受けにくい。

【０１４３】（基準分光プロファイルの異なる求め方
(ｉ)）次に、分光測色計１の製造時に工場において求め
られ、メモリ６１に格納される基準分光プロファイルの
異なる求め方について説明する。

【０１４４】まず、例えば図６に示すような状態で、複
数の分光測色計１について、キセノンフラッシュランプ
１２を所定時間τ（例えばτ＝40μｓ）だけ発光させて
発光スペクトル分布Ｉ(λ)を測定し、典型的な分布を与
える１台を選択する。

【０１４５】その選択した１台の分光測色計１につい
て、発光時間を１μｓピッチで変化させて発光させ、各
発光時間(τ＋ｎ)での発光スペクトル分布Ｉ_0,n(λ)を
求める。ここで、ｎは−5〜＋5の整数である。

【０１４６】次いで、補正対象の分光測色計１につい
て、測定された分光感度Ｇ_i(λ)に基づいて上記実施形
態と同様にして仮想的な分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)を
求める。ここで、ｍは−10〜＋10の整数である。

【０１４７】次いで、この分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)
で発光スペクトル分布Ｉ_0,n(λ)を観察したときの分光
プロファイル群X_i,m,nを、 X_i,m,n＝∫Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)・Ｉ_0,n(λ)ｄλ…(10) により求める。但し、ｍは−10〜＋10の整数、ｎは−5
〜＋5の整数である。

【０１４８】次いで、補正対象の分光測色計１のランプ
１２を所定時間τ（例えばτ＝40μｓ）だけ発光させ、
その分光測色計１内の試料光センサアレイ３６により測
定した分光プロファイルＰ_iと、上記分光プロファイル
群X_i,m,nの各分光プロファイルとの相関をとり、最も高
い相関を与えるｎ＝Ｎを求め、その分光プロファイル群
X_i,m,Nを基準分光プロファイル群(X_i,m)₀としてメモリ
６１に格納する。

【０１４９】この手順は、キセノンフラッシュランプ１
２の発光スペクトル分布を764nmの輝線スペクトルと、
これを除去した連続スペクトルとに分離して考えたと
き、それぞれ個別の変化による影響は無視できるが、連
続スペクトルに対する輝線スペクトルの相対強度の変化
による影響は無視できないことに基づいている。

【０１５０】典型的な発光スペクトル分布を与えるラン
プ１２の発光時間を所定時間τを中心として変化させる
ことで、連続スペクトルに対する輝線スペクトルの相対
強度が異なる発光スペクトル分布（発光時間が短くなる
ほど輝線スペクトルの相対強度が大きくなる）を得てい
る。

【０１５１】そして、試料光センサアレイ３６の波長シ
フト量の初期値とランプ１２の発光時間の双方をパラメ
ータとして、実測分光プロファイルに最も近い算出分光
プロファイルを求めており、この算出分光プロファイル
を与える発光時間での発光スペクトル分布について、試
料光センサアレイ３６の分光感度を0.1nmずつシフトさ
せた基準分光プロファイル群を得ている。

【０１５２】この異なる求め方(ｉ)によれば、補正対象
とする分光測色計１のランプ１２の発光スペクトル分布
を個々に測定する必要がないので、容易に基準分光プロ
ファイル群を求めることができる。

【０１５３】なお、「典型的な分布」とは、発光スペク
トル分布を測定した複数のキセノンフラッシュランプ１
２のうちで平均的な分布に最も近い分布を持つ分光特性
測定装置のキセノンフラッシュランプの発光スペクトル
分布としている。

【０１５４】（上記異なる求め方(ｉ)の変形形態）基準
分光プロファイルの異なる求め方(ｉ)において、工場に
おいて上記分光プロファイル群X_i,m,nの全てを基準分光
プロファイル群X_i,m,nとしてメモリ６１に格納してお
き、ユーザ側において波長シフト補正を行う際には、求
められたその時点での分光プロファイルX_iと、基準分光
プロファイル群X_i,m,nの全分光プロファイルとの相関を
とり、最も高い相関を与える基準分光プロファイルX
_i,m,nのシフト量0.1・ｍを波長シフト補正量としてもよ
い。

【０１５５】このようにすれば、連続スペクトルに対す
る輝線スペクトルの相対強度が経時変化した場合でも、
その影響を受けずに波長シフト補正量を精度良く求める
ことができる。

【０１５６】（基準分光プロファイルの異なる求め方(i
i)）次に、基準分光プロファイルのさらに異なる求め方
について説明する。まず、例えば図６に示すような状態
で、ｈ個（本変形形態ではｈは２以上の整数）の分光測
色計１について、キセノンフラッシュランプ１２を所定
時間τ（例えばτ＝40μｓ）だけ発光させて発光スペク
トル分布Ｉ_h(λ)を測定する。

【０１５７】次いで、補正対象の分光測色計１につい
て、求められた分光感度Ｇ_i(λ)を基に上記実施形態と
同様にして仮想的な分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)をそれ
ぞれ求める。ここで、ｍは−10〜＋10の整数である。

【０１５８】次いで、この分光感度Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)
で発光スペクトル分布Ｉ_h(λ)を観察したときの分光プ
ロファイル群X_i,m,hを、 X_i,m,h＝∫Ｇ_i,m(λ＋0.1・ｍ)・Ｉ_h(λ)ｄλ により求める。但し、ｍは−10〜＋10の整数である。

【０１５９】次いで、補正対象の分光測色計１のランプ
１２を所定時間τ（例えばτ＝40μｓ）だけ発光させ、
その分光測色計１内の試料光センサアレイ３６により測
定した分光プロファイルＰ_iと、上記分光プロファイル
群X_i,m,hの各分光プロファイルとの相関をとり、最も高
い相関を与えるｈ＝Ｈを求め、その分光プロファイル群
X_i,m,Hを基準分光プロファイル群(X_i,m)₀としてメモリ
６１に格納する。

【０１６０】この異なる求め方(ii)によれば、補正対象
とする分光測色計１のランプ１２の発光スペクトル分布
を個々に測定する必要がないので、容易に基準分光プロ
ファイル群を求めることができる。

【０１６１】また、補正対象とする分光測色計１のラン
プ１２の発光スペクトル分布がばらついたとしても、ｈ
個の発光スペクトル分布から最も高い相関を与える発光
スペクトル分布を選択しているので、波長シフト補正の
精度低下を抑制することができる。

【０１６２】（異なる構成の分光部（ｉ）を備えた変形
形態）次に、図１３〜図１６を参照して、試料光分光部
および参照光分光部として異なる構成の分光部を備えた
変形形態について説明する。図１３はダブルチャネル分
光部の機械的構成を示す斜視図、図１４は赤外光遮断フ
ィルタの取付構成を示す側面図である。

【０１６３】この変形形態は、図１３に示すように、試
料光分光部３３および参照光分光部４２（図１）に代え
て、ダブルチャネル分光部７０を備えている。このダブ
ルチャネル分光部７０は、例えば合成樹脂製のハウジン
グ７１を備え、このハウジング７１に、赤外光遮断フィ
ルタ７２、コリメータレンズ７３、反射型回折格子７
４、試料光センサアレイ７５Ｓおよび参照光センサアレ
イ７５Ｒが取り付けられている。

【０１６４】また、ハウジング７１には、試料光入射ス
リット７６Ｓおよび参照光入射スリット７６Ｒが穿設さ
れており、それぞれ光ファイバ３２，４１（図１）の射
出端からの光が入射するように構成されている。なお、
光ファイバ３２，４１（図１）は、それぞれ入射スリッ
ト７６Ｓ，７６Ｒの形状に合うように、断面が細長い矩
形の束で構成されている。

【０１６５】ハウジング７１は、コスト、重量、成形性
などの点から合成樹脂が用いられているが、その結果、
経時的な寸法変化が避けられず、精度維持のためには、
それに伴う波長シフトの補正が欠かせない。

【０１６６】赤外光遮断フィルタ７２は、例えば平行平
面ガラスからなり、入射スリット７６Ｓ，７６Ｒの直ぐ
内側に配設されており、図１４に示すように、フィルタ
ホルダ８１に取り付けられ、ハウジング７１の外部から
の操作によって、入射スリット７６Ｓ，７６Ｒの長さ方
向に平行な軸７２ａの周りに数度の範囲で回転させるこ
とができ、回転した位置で固定することが可能になって
いる。

【０１６７】すなわち、固定ねじ８３，８４を緩め、フ
ィルタホルダ８１に刻まれた指標８２とハウジング７１
に刻まれた１°刻みの目盛８５を目安にフィルタホルダ
８１を回転させ、所望の位置で再び固定ねじ８３，８４
を締結して固定することができ、この回転によって入射
スリット７６Ｓ，７６Ｒからの光線７７Ｓ，７７Ｒの赤
外光遮断フィルタ７２への入射角度を変化させることが
できる。

【０１６８】光ファイバ３２，４１（図１）によって導
かれた試料光および参照光は、入射スリット７６Ｓ，７
６Ｒを通り、光線７７Ｓ，７７Ｒとなる。この光線７７
Ｓ，７７Ｒは、赤外光遮断フィルタ７２を透過した後、
コリメータレンズ７３によって平行光線となって反射型
回折格子７４に入射して反射・分散され、再度コリメー
タレンズ７３を通って、センサアレイ７５Ｓ，７５Ｒの
受光面に入射スリット７６Ｓ，７６Ｒの分散像が結像す
る。

【０１６９】センサアレイ７５Ｓ，７５Ｒは、上記実施
形態と同様に、各々、分散光の波長でおよそ10nmに相当
する間隔で配列された複数の光電変換素子（センサ）か
らなり、各センサから出力される受光強度に応じた電気
信号は、制御部６０（図１）によって処理される。

【０１７０】赤外光遮断フィルタ７２に入射した光線７
７Ｓ，７７Ｒは、図１５に示すように、スネルの法則に
従って、入射面で入射角に応じて屈折し、射出面で再び
屈折して入射光線に平行な光線となって射出するので、
射出光線は、入射光線から式(11)で表わされる距離ｄだ
け平行に変位する。 ｄ＝Ｌ・sin(α−β)／cosβ …(11) ここで、Ｌは赤外光遮断フィルタ７２の厚さ（本実施形
態では例えばＬ＝3mm）、αは入射角（赤外光遮断フィ
ルタ７２の法線Ｎと入射光軸との間のなす角度、本実施
形態では例えばα＝3，4，5，6，7°）、βは射出角
で、 β＝sin^-1(sinα／ｎ) …(12) と表わされる。但し、ｎは赤外光遮断フィルタ７２の屈
折率（本実施形態では例えばｎ＝1.5）である。

【０１７１】この赤外光遮断フィルタ７２による変位
は、試料光および参照光が入射する回折格子７４から見
ると、入射スリット７６Ｓ，７６Ｒの位置がスリットの
幅方向（波長の分散方向）に平行に変位することと等価
である。従って、変位量ｄを変化させることによって、
センサアレイ７５Ｓ，７５Ｒの波長シフトを人為的に生
じさせることができる。

【０１７２】この形態では、入射角α≒5°を基準位置
とし、約±１°，±２°だけ赤外光遮断フィルタ７２を
回転させると、それぞれ基準位置から約±0.5nm，±1nm
の波長シフトが生じるように構成されている。

【０１７３】ここで、この形態における基準プロファイ
ルの求め方および波長シフト補正の手順について説明す
る。図１６は基準試料の分光反射率および差分波形を示
す特性図である。

【０１７４】積分球１０の試料用開口１３（図１）にオ
レンジ色の基準試料を配置する。この基準試料は、例え
ば図１６の特性曲線に示すような測定波長域（380〜7
80nm）のほぼ中央の570nm付近で急峻に立ち上がる分光
反射率を持つものである。この状態で、赤外光遮断フィ
ルタ７２の取付角度を、基準位置（入射角α＝5°）を
中心として所定角度ずつ（本形態では例えば入射角α
_-10＝3°，α_-5＝4°，α₀＝5°，α₅＝6°，α₁₀＝7°
の５種類）変化させてランプ１２を発光させ、そのとき
の試料光センサアレイ７５Ｓおよび参照光センサアレイ
７５Ｒから出力される受光信号Ｓ_i,k，Ｒ_i,kをメモリ６
１に格納する。ここで、ｉはセンサ番号である。また、
ｋは赤外光遮断フィルタ７２への光線７７Ｓ，７７Ｒの
入射角α _kを与えるもので、ｋ＝−10，−5，0，5，10で
ある。

【０１７５】赤外光遮断フィルタ７２の取付角度を変化
させる際には、入射角α₀＝5°での測定を最後に行い、
その位置で赤外光遮断フィルタ７２を固定する。

【０１７６】上述した実施形態と同様に、各センサの分
光感度ｇ_i(λ)を例えばモノクロメータなどを用いて測
定し、これをガウス関数で近似した分光感度Ｇ_i(λ)
を、 Ｇ_i(λ)＝Ｂ_i・exp[ｃ・[(λ−λc_i)／dλ_i]²]…(13) によって求める。但し、Ｂ_iは振幅、ｃは係数、λc_iは
中心波長、dλ_iは半値幅である。

【０１７７】次いで、この式(13)および上記式(3)によ
り行列Ａ_j,iを求め、さらにその逆行列Ａ_j,i ^-1を求め、
次いで、ダーク校正を行って上記式(5)によりダーク校
正値を求め、白色校正を行って上記式(6)により白色校
正係数を求める。

【０１７８】次いで、メモリ６１に格納されている上記
受光信号Ｓ_i,k，Ｒ_i,kを上記逆行列Ａ_j,i ^-1を用いて上
記式(2)により処理して10nmピッチのデータに変換し、
求めたダーク校正値および白色校正係数を用いて、上記
式(7)により赤外光遮断フィルタ７２の各角度位置での
オレンジ色の基準試料の分光反射率ｒ_k,0(λ)を求め
る。但し、ｋ＝−10，−5，0，5，10である。

【０１７９】ここで、ｋ＝−10での分光反射率ｒ
_-10,0(λ)とｋ＝0での分光反射率ｒ_0,0(λ)との反射率
差Δｒ_-10,0(λ)を、 Δｒ_-10,0(λ)＝ｒ_-10,0(λ)−ｒ_0,0(λ)…(14) により求めると、図１６の特性曲線に示すように、基
準試料の立上り波長付近でピークを持つ波形が得られ
る。この例では、ｒ_-10,0(λ)は、ｒ_0,0(λ)より長波長
側にシフトしている。

【０１８０】そこで、先に求めた上記式(13)の分光感度
Ｇ_i(λ)の中心波長λc_i(λ)を少しずつシフトさせて上
記手順により分光反射率ｒ_-10,0(λ)を求める動作を繰
り返し、それぞれ反射率差Δｒ_-10,0(λ)を求めて上記
ピーク値を互いに比較し、ピーク値が最も０に近くなる
シフト量Δλc_-10を求める。

【０１８１】ｋ＝−5，5，10についても同様の処理を行
って、シフト量Δλc_-5，Δλc₅，Δλc₁₀を求め、メモ
リ６１に格納しておく。

【０１８２】また、既にメモリ６１に格納されている参
照光センサアレイ７５Ｒから出力された受光信号Ｒ_i,k
のうちで764nm近傍の波長域に対応するセンサ群（例え
ばセンサ番号ｉ＝３４〜４０）のデータをピーク値で規
格化して、上述のシフト量Δλc_kに対応する基準分光プ
ロファイル(X_i,k)₀とする。但し、ｋ＝−10，−5，0，
5，10である。さらに、これら５点のデータからシフト
量とセンサ番号ｉごとの分光プロファイルを内挿して0.
1nmごとのシフト量Δλc_m＝0.1ｍに対応する基準分光プ
ロファイル群(X_i,m)₀を求め、メモリ６１に格納してお
く。但し、ｍ＝−10〜＋10である。また、差分波形d(X
_i,m)₀／diを求め、メモリ６１に格納しておく。

【０１８３】ユーザ側で行われる波長シフト補正につい
て説明すると、白色校正に続いてランプ１２を発光さ
せ、参照光センサアレイ７５Ｒから出力される受光信号
Ｒ_i,kにより764nm近傍の波長域の分光プロファイルX_iを
求め、上記実施形態と同様に差分波形を比較することに
より、最大の相関を与える基準分光プロファイル(X_{i, M})
₀を求める。そして、その基準分光プロファイル(X_i,M)₀
のＭに対応するシフト量Δλc_Mを波長シフト補正量と
し、その補正量だけ上記式(13)における分光感度Ｇ
_i(λ)の中心波長λc_iをシフトした分光感度Ｇ_i(λ)を用
いて上記式(3)により行列Ａ_j,iを求め、さらにその逆行
列Ａ_j,i ^-1を求めてメモリ６１に格納しておく。そし
て、以降の試料測定では、逆行列Ａ_j,i ^-1を用いて式(2)
による演算を行うことで、波長シフトが補正されること
となる。

【０１８４】この変形形態によれば、上記実施形態と同
様に参照光センサアレイの波長シフト補正量を求めるこ
とができる。

【０１８５】また、図１３に示すように、ハウジング７
１に取り付けられている試料光センサアレイ７５Ｓおよ
び参照光センサアレイ７５Ｒの回折格子７４に対する波
長方向における相対位置がほぼ等しいので、試料光セン
サアレイ７５Ｓの波長シフト量と参照光センサアレイ７
５Ｒの波長シフト量は等しいものとして、求めた波長シ
フト補正量を試料光センサアレイ７５Ｓおよび参照光セ
ンサアレイ７５Ｒの双方に適用する。

【０１８６】なお、上記説明では、参照光センサアレイ
７５Ｒの受光信号を用いて基準分光プロファイルおよび
波長シフト補正量を求めているが、試料光センサアレイ
７５Ｓの受光信号を用いてもよい。

【０１８７】（異なる構成の分光部（ｉｉ）を備えた変
形形態）図１３に示すダブルチャネル分光部では、赤外
光遮断フィルタ７２を回転させることによって人為的に
波長シフトを生じさせたが、波長シフトを生じさせる方
法は、これに限るものではない。例えば、光束の一部を
遮蔽する遮蔽手段によっても人為的に波長シフトを生じ
させることができる。

【０１８８】図１８は、遮蔽物によって波長シフトを生
じさせる原理を説明するための図である。図１８（ａ）
は、光束を遮蔽物で遮蔽する前における光束のスポット
の重心位置を示す図であり、図１８（ｂ）は、光束を遮
蔽物で遮蔽した後における光束のスポットの重心位置を
示す図であり、図１８（ｃ）は、図１８（ｂ）における
スポットの部分の拡大図である。図１８における○は、
光束を遮蔽物で遮蔽する前における光束のスポットの重
心位置を示し、●は、光束を遮蔽物で一部遮蔽する後に
おける光束のスポットの重心位置を示す。

【０１８９】図１８（ａ）において、光束は、開口絞り
９１に入射され、凸レンズ９２を介してセンサアレイ９
３で受光される。センサアレイ９３上には光束が凸レン
ズ９２の集光によりスポットを生じる。このスポット
は、凸レンズ９２の収差によって、輝度の高い部分とこ
の部分の周りのハロの部分とが生じる。光束を遮断する
前では凸レンズ９２に均等に光束が入射するので、スポ
ットの重心位置は、スポットの略中心になる。

【０１９０】ここで、例えば板状の、遮蔽物９４を開口
絞り９１の一方端から光束を遮断するように挿入する
と、図１８（ｂ）（ｃ）に示すように凸レンズ９２に入
射する光束の一部が無くなるので、凸レンズの収差によ
ってセンサアレイ９３のスポットの重心位置が移動する
ことになる。例えば、遮蔽前の光束のスポットにおける
重心位置○９７−１が、遮蔽後の光束のスポットにおけ
る重心位置●９６−１に、遮蔽前の光束のスポットにお
ける重心位置○９７−２が、遮蔽後の光束のスポットに
おける重心位置●９６−２に移動する。遮蔽物９４の挿
入前後におけるスポットの重心位置の移動量である、シ
フト量Ｚsは、遮蔽量に応じて決定される。そして、遮
蔽物９４の挿入方向は、像を分散方向に移動させるため
に、分散方向に設定される。ここで、収差は、遮蔽によ
ってスポットの重心位置におけるシフトを生じさせ得る
ので球面収差、コマ収差および非点収差などが利用可能
であるが、遮蔽量の増加に対して単調にシフト量Ｚsが
増加する観点から球面収差が主であることが好ましい。

【０１９１】次に、このような収差を利用した人為的な
波長シフトを生じさせるための具体的な一構成例とし
て、図１９に示す試料光分光部について説明する。この
試料光分光部は、例えば図１に示す試料光分光部３３の
代わりに用いられる。図１９は、遮蔽によって波長シフ
トを生じさせる試料光分光部の構成を示す図である。

【０１９２】図１９において、本変形形態における試料
光分光部は、凸レンズ１０２、スリット１０３、凸レン
ズ１０４、開口絞り１０５、回折格子１０６および試料
光センサアレイ１０７を備えて構成される。

【０１９３】試料光測定部３０の光ファイバ３２から射
出された光束は、凸レンズ１０２によってスリット１０
３のスリットに合焦され、凸レンズ１０４を介して回折
格子１０６に入射される。

【０１９４】回折格子１０６は、回折格子が形成されて
いる面上に開口絞り１０５が配置されており、凸レンズ
１０４を介して入射する光束を波長ごとに分光して試料
光センサアレイ１０７の方向に反射する。反射した光束
は、再び凸レンズ１０４に入射され、試料光センサアレ
イ１０７に入射される。

【０１９５】試料光センサアレイ１０７は、試料光セン
サアレイ３６と同様に構成され、回折格子１０６により
分光される波長方向に配列された複数の光電変換素子か
らなり、それぞれ異なる波長の光を受光して光強度に応
じた電気信号を出力する。この電気信号は、制御部６０
に入力され、制御部６０で処理される。

【０１９６】光束を遮蔽する遮蔽物１０１は、試料光分
光部の外部の凸レンズ１０２の開口に近い位置に配置さ
れる。このように遮蔽物１０１は、試料光分光部とは別
体の補助装置として用意することが好ましく、別体の補
助装置として用意することによって、調整工程ですべて
の分光測色計に対して共通に使用することが可能とな
り、分光測色計のコストアップを抑えることが可能であ
る。もちろん、遮蔽物１０１を試料光分光部に組み込ん
でもよい。

【０１９７】このような構成において、遮蔽物１０１を
光束を遮蔽するように挿入することで、凸レンズ１０４
の収差によって回折格子１０６のある開口絞り１０５で
人為的に波長シフトを生じさせ得る。収差の大きさは、
想定する遮蔽量と人為的に生じさせたい波長シフトの最
大量によって決定される。

【０１９８】なお、試料光分光部を遮蔽によって波長シ
フトを生じさせるように構成したが、参照光分光部を同
様に構成することによって遮蔽により波長シフトを生じ
させてもよい。

【０１９９】次に、この変形形態における基準分光プロ
ファイルの求め方および波長シフト補正の手順について
説明する。

【０２００】図２０は、基準分光プロファイルと波長シ
フト量との対応関係を求める場合のフローチャートを示
す図である。

【０２０１】本変形形態において、基準分光プロファイ
ルと波長シフト量との対応関係は、遮蔽量と基準分光プ
ロファイルとの対応関係を求め、遮蔽量と波長シフト量
との対応関係を求め、これらから求めるものである。

【０２０２】図２０において、まず遮蔽物１０１によっ
て光束が所定の遮蔽量だけ遮蔽され（＃３００）、キセ
ノンフラッシュランプの５３０ｎｍと５４２ｎｍの分光
プロファイルが測定される（＃３０５）。ここで、５３
０ｎｍと５４２ｎｍの輝線は、発光時間をそれほど短く
しなくとも連続光に対して光量が大きいという長所があ
るが、前述のように光学素子の劣化が影響する波長域に
ある。

【０２０３】次に、輝線の存在する波長域に急峻な分光
特性を持つシャープカットフィルタの透過率またはタイ
ルの反射率を測定し、測定値から波長シフト量を計算す
る。より具体的に説明すると、まず、シャープカットフ
ィルタを凸レンズ１０２の開口部近傍に配置し、遮蔽前
のシャープカットフィルタの透過率と、遮蔽後のシャー
プカットフィルタの透過率とを測定する。本変形形態で
は、５３０ｎｍと５４２ｎｍとの２本の輝線を使用する
ので、この波長域に急峻な立上りを持つシャープカット
フィルターを用いている。そして、前後の透過率に差が
ある場合には、初期状態の分光プロファイルから中心波
長をシフトさせた行列Ａ_j,iを用いて透過率差を最も零
に近いシフト量を探すことによって、波長シフト量を求
める（＃３１０）。

【０２０４】次に、＃３０５で求めた基準分光プロファ
イルと＃３１０で求めた波長シフト量とを対応付けて、
メモリ６１に保存する（＃３１５）。

【０２０５】次に、測定すべきすべての波長シフト量に
対して、基準分光プロファイルと波長シフト量との対応
関係が求められたか判断し（＃３２０）、すべて終了し
ている場合には処理を終了し、終了していない場合に
は、遮蔽量を変更して（＃３２５）、＃３００の処理に
戻る。このように所定の遮蔽量を変更しながら（＃３２
５）、上述の＃３００から＃３２０を基準分光プロファ
イルと波長シフト量との対応関係が完成するまで繰り返
す。

【０２０６】ここで、波長シフト補正の精度を上げるた
めには、波長シフト量と基準分光プロファイルとの対応
関係を細かいピッチ（例えば、０．１ｎｍピッチ）で作
成することが好ましく、短時間で波長シフト量と基準分
光プロファイルとの対応関係を作成するには大まかなピ
ッチ（例えば０．５ｎｍピッチ）で測定し、その間は補
間により求めることが好ましい。この補間を利用する方
法は、メモリ容量を節約する観点からも好ましい。例え
ば、０ｎｍ、＋０．５ｎｍ、＋１．１ｎｍ、−０．５ｎ
ｍ、−１．１ｎｍの５通りの波長シフト量のテーブルを
作る場合では、まず、予め何通りかの遮蔽量でシャープ
カットフィルタの透過率を１回測定して遮蔽量と波長シ
フト量との対応関係を求める。この５通りの波長シフト
量を与える遮蔽量は、求めた遮蔽量と波長シフト量との
対応関係を用いて補間によって求める。そして、これら
５通りの波長シフト量に対応するそれぞれの遮蔽量に対
して、基準分光プロファイルとシャープカットフィルタ
の透過率との対応関係を測定する。測定結果から基準分
光プロファイルと波長シフト量との対応関係を求めて、
この対応関係をメモリ６１に保存する。なお、求められ
た波長シフト量が前述の５通りの波長シフト量に一致し
ていない場合は近似する。

【０２０７】なお、デュアルチャネルポリクロメータの
場合には、試料光分光部と参照光分光部との波長シフト
量が略等しいと考え得るため、波長シフト量を試料光側
および参照光側の一方で、基準分光プロファイルを他方
で同時に測定することによって、作業時間を短縮するこ
とができる。

【０２０８】また、キセノンフラッシュランプの発光ス
ペクトルは、完全に安定しているとは言い難いので、精
度を高める観点から、複数回測定を行い、その平均を求
めることが好ましい。

【０２０９】次に、ユーザ側が行う波長シフト補正につ
いて説明する。

【０２１０】図２１は、波長シフト補正の方法を示すフ
ローチャートである。

【０２１１】図２１において、白色校正スイッチ５４が
押されて白色校正が行われ（＃４００）、続いて、校正
用白色板を試料用開口１３に配置したままで、ランプ１
２を所定時間τだけ発光させ、センサアレイ１０７から
の出力信号により、５３０ｎｍ〜５５０ｎｍ付近の波長
域に配置されるセンサ番号iの分光プロファイルＸiを求
める（＃４０５）。そして、求めたＸiより差分波形ｄ
Ｘi／ｄiを求める（＃４１０）。

【０２１２】次に、メモリ６１に格納されている補間前
の基準分光プロファイルを波長シフト量に対して補間を
行う（＃４１５）。例えば、−１ｎｍから＋１ｎｍまで
の波長シフト範囲で０．０５ｎｍピッチで基準分光プロ
ファイルのデータを作成すると、このデータは、４１個
作成される。

【０２１３】次に、作成された基準分光プロファイルの
データを差分データに変換する（＃４２０）、そして、
変換した差分データと上述の差分波形ｄＸi／ｄiとの相
関値を順次に計算して最大の相関値を求める。この最大
の相関値を与える基準分光プロファイルに対応する波長
シフト量を求める（＃４２５）。

【０２１４】次に、この波長シフト補正量から行列Ａ”
_j,iを求め（＃４３０）、行列Ａ”_{j ,i}の逆行列
(Ａ”_j,i)^-1を求めてメモリ６１に格納する（＃４３
５）。

【０２１５】そして、以後の試料測定では、上記式(2)
の行列Ａ_j,i ^-1に代えて逆行列(Ａ”_{j ,i})^-1を用いて測定
試料の分光感度Ｐ_jを求めることとなる。

【０２１６】このような遮蔽手段による波長シフト方法
は、試料光分光部または参照光分光部のレンズの開口部
近傍の光束を遮蔽物で一部遮蔽するだけで済むので、赤
外光遮断フィルタ７２を回転させる機械的な機構を設け
る必要がある、上述の赤外光遮断フィルタ７２の回転に
よる波長シフト方法に較べて、コスト的に有利である。

【０２１７】ここで、上述では、メモリ６１に格納され
る波長シフト量と分光プロファイルとの対応テーブルに
は補間前のデータのみが登録されるが、このようなユー
ザ側で行われる波長シフト補正の実行時間を短縮する観
点から、予め補完したデータもこの対応テーブルに登録
するようにしてもよいし、基準分光プロファイルの差分
データを保存するようにしてもよい。

【０２１８】なお、本発明は、上記実施形態に限られ
ず、以下の変形形態を採用することができる。

【０２１９】（１）上記実施形態では求められた波長シ
フト補正量を用いて必ず分光感度を補正するようにして
いるが、これに限られない。例えば制御部６０により波
長シフト補正量が所定値（例えば0.2nm）に達したか否
かを判別し、所定値に達するまでは波長シフトの補正を
行わないようにしてもよい。これによって測定データの
連続性を優先することができる。

【０２２０】また、この場合において、波長シフト補正
量が所定値以上のときは、分光感度のシフト量として、
波長シフト補正量に代えて、波長シフト補正量に基づき
設定された量、例えば上記所定値または当該所定値を超
えない程度を用いるようにしてもよい。波長シフト補正
量が所定値以上のときに、そのまま波長シフト補正量だ
け補正すると測定値の連続性が損なわれることになる
が、波長シフト補正量に基づき設定された量だけ補正す
るようにすると、測定値の連続性を保つことが可能にな
る。

【０２２１】また、波長シフト補正量が所定値に達する
と表示部５５にその旨を表示し、波長シフトの補正を行
わずに使用者への報知のみを行うようにしてもよい。ま
た、波長シフト補正量が所定値に達すると、表示部５５
にその旨を表示して使用者に再測定を促し、結果が同じ
であれば補正を行うようにしてもよい。

【０２２２】また、これらにおいて、操作パネル部５０
に上記所定値を設定する設定スイッチを備え、ＣＰＵ６
２は設定スイッチで設定された値を上記所定値とする機
能を備え、上記所定値を使用者が変更設定できるように
してもよい。また、操作パネル部５０に波長シフト補正
を行うか否かの選択スイッチを備え、ＣＰＵ６２は選択
スイッチの操作結果に応じて波長シフト補正を行うか否
かを決定する機能を備え、使用者が補正を行うか否かを
選択できるようにしてもよい。

【０２２３】（２）上記実施形態では、全測定波長域に
対して一律に波長シフト補正量を適用しているため、大
きな波長シフトに対しては誤差が残ることがある。そこ
で、波長シフト補正量が所定値（例えば1.0nm）以上の
場合には、表示部５５に警告メッセージなどを表示し
て、使用者に対してメーカの工場での再校正を促すよう
にしてもよい。

【０２２４】この形態によれば、必要になったときにの
み分光測色計１がメーカに返送されることとなり、適正
な間隔でメンテナンスを施すことができる。

【０２２５】（３）上記実施形態では、波長シフト補正
をキセノンフラッシュランプ１２の764nmの輝線スペク
トルを用いて行っているが、これに限られない。上記図
８に示すように、発光時間が40μｓの分光強度分布で
は700nm以上に急峻なピークを持つ輝線スペクトルが存
在しており、これらを用いてもよい。なお、同図に示す
ように、波長域450〜550nmにも急峻なピークを持つ輝線
スペクトルが存在しているが、上述したように光学素子
の経時変化の影響を受けるので、これらを用いるのは好
ましくない。

【０２２６】（４）上記実施形態では、分光特性測定用
の光源と波長シフト補正量測定用の光源を兼用している
が、これに限られず、分光特性測定用の光源とは別に波
長シフト補正量測定用の光源を備えるようにしてもよ
い。この場合、波長シフト補正量測定用の光源は、キセ
ノンフラッシュランプに限られない。

【０２２７】例えば水銀ランプ、クリプトンランプ、ヘ
リウムランプ等の輝線スペクトルを有する光源、レーザ
のように特定波長の光を出力する光源などを採用するこ
とができる。また、例えばタングステンランプにディデ
ィミウムフィルタ、ホロミウムフィルタなどの特定波長
を吸収するフィルタを付加することにより特定波長にピ
ーク（谷）を持たせたものを採用することができる。

【０２２８】（５）上記実施形態および変形形態におい
て、764nmでの波長シフト量と測定波長域全体の平均波
長シフト量との関係を予め求めておくようにしてもよ
い。

【０２２９】例えば図１において、回折格子３５などか
らなる分光手段による分散光に対する試料光センサアレ
イ３６の相対位置の変化は、それがハウジング（例えば
図１３に示すハウジング７１）の変形など、機械的変化
によるものである限り、試料光センサアレイ３６の各セ
ンサに対して一律に生ずる。

【０２３０】このような一律の相対位置変化により各セ
ンサの中心波長に生ずる波長シフト量は、ＣＯＤＥＶな
どの公知の光学シミュレーションソフトウェアを用いて
容易に求めることができる。

【０２３１】そこで、このようにして求められた各セン
サの波長シフト量に基づき、700nm以上の波長域の輝線
スペクトル（例えば764nm）近傍に生ずる波長シフト量
と、測定波長域全体に平均的に生ずる波長シフト量との
関係を予め調べてメモリ６１に格納しておく。

【０２３２】そして、波長シフト補正を行う際には、70
0nm以上（例えば764nm）の輝線スペクトルを用いて求め
られた波長シフト補正量と、メモリ６１に格納されてい
る上記関係とから、測定波長域の平均的な波長シフト補
正量を求める。

【０２３３】この形態によれば、測定波長域全体に亘っ
て、適正な波長シフト補正を行うことができる。但し、
オレンジ色の基準試料を用いて測定域中心部の波長シフ
ト量を実測する形態では必要ない。

【０２３４】（６）上記実施形態では、分光測色計１は
試料２の分光反射特性を測定するものとしているが、こ
れに限られず、試料２の分光透過特性を測定するものと
してもよい。この場合には、試料２の透過光を試料光分
光部３３に導くように構成すればよい。

【０２３５】（７）上記実施形態では、波長シフト補正
量を求めるのに、現在の分光プロファイルの差分波形
と、基準分光プロファイル群の各分光プロファイルの差
分波形との相関値を求め、最も相関値の高い分光プロフ
ァイルを抽出し、その波長シフト量を波長シフト補正量
としているが、これに限られない。

【０２３６】図１７は波長シフト補正量の異なる求め方
を説明する図である。まず、上記実施形態と同様に、各
差分波形の相関値を求める。図１７では、求めた各相関
値を○でプロットしている。次いで、波長シフト量Δλ
と相関値との関係を波長シフト量Δλを変数とする２次
関数で近似することとし、 ｆ(Δλ)＝ａ(Δλ−ｂ)²＋ｃ …(15) を与える定数ａ，ｂ，ｃを最小自乗法で決定し、この２
次関数が極大となる定数ｂを波長シフト補正量として求
める。

【０２３７】上記実施形態では極大を与える分光プロフ
ァイルとの相関値のみを用いているが、この形態によれ
ば、基準分光プロファイル群の全ての分光プロファイル
との相関値を用いて、現在の分光プロファイルに対応す
る波長シフト補正量を求めているので、相関値データが
含む誤差の影響を軽減することができる。また、図１７
に示すように、相関値の極大近傍において波長シフト量
の変化に対する相関値の変化率が小さくなることによっ
て生じる誤差を抑えることができる。

【０２３８】なお、ここでは２次関数で説明したが、近
似する関数はこれに限られず、波長シフト量を変数とす
る適切な関数で近似して、その関数が極大となる波長シ
フト量を波長シフト補正量とすればよい。

【０２３９】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１，１１の
発明によれば、初期状態で特定波長に強度のピークを持
つ所定光源からの光を受光したときに受光手段から出力
される少なくとも上記特定波長を含む特定波長域の分光
プロファイルと、受光手段の分光手段に対する相対位置
が波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトした場合
に、各シフト位置において当該受光手段から出力される
べき上記特定波長域の複数の分光プロファイルとからな
る基準分光プロファイル群を記憶しておき、初期状態以
後に上記照明手段を校正可能な状態で発光したときに上
記受光手段から出力される補正用分光プロファイルと、
上記基準分光プロファイル群に含まれる各分光プロファ
イルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記
補正用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プ
ロファイル群内の分光プロファイルに対応する上記受光
手段のシフト量を初期状態からのシフト量である波長シ
フト補正量として求めるようにしているので、受光手段
の分光手段に対する相対位置が変化して各光電変換素子
の分光感度が波長方向にシフトした場合でも、従来のよ
うに基準色サンプルを用いることなく、波長シフト補正
量を求めることができる。その結果、使用者に注意を喚
起したり、必要な補正を行うことがユーザ側において容
易にできることとなる。

【０２４０】請求項２の発明によれば、所定光源は、連
続スペクトルおよび特定波長の輝線スペクトルからなる
分光強度分布を有するもので、照明手段として兼用する
ようにしているので、所定光源を別途準備する必要がな
く、構成を簡素化することができる。

【０２４１】請求項３の発明によれば、所定光源は、パ
ルス状に発光するフラッシュランプからなるもので、照
明制御手段は、フラッシュランプを所定時間だけ発光さ
せるもので、補正制御手段は、フラッシュランプを所定
時間より短い時間だけ発光させるようにしているので、
フラッシュランプの分光強度分布において、発光時間が
短くなると連続スペクトルに対する輝線スペクトルの相
対強度が増大することから、補正用分光プロファイルと
基準分光プロファイル群の分光プロファイルを比較した
ときに連続スペクトルによる影響を軽減することがで
き、補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
ァイルを容易に求める上で波長シフトへの感度を高める
ことができる。

【０２４２】請求項４の発明によれば、上記所定光源
は、キセノンフラッシュランプからなるもので、上記特
定波長は、700nm以上の波長域における輝線スペクトル
に対応する波長であり、上記受光手段の上記分光手段に
対する相対位置が波長分散方向にシフトしたときの、70
0nm以上の波長域における（輝線スペクトルの波長方向
の）シフト量と測定波長域全体における平均的な波長シ
フト量との関係を記憶しておき、この関係を用いて、補
正用分光プロファイルに最も近似する分光プロファイル
に対応するシフト量から上記測定波長域全体における平
均的な波長シフト量を求め、これを波長シフト補正量と
するようにしているので、測定波長域全体に亘って波長
シフトの補正を適正に行うことができる。

【０２４３】請求項５の発明によれば、補正用分光プロ
ファイルの波長に対する差分データと記憶されている各
分光プロファイルの波長に対する差分データとの相関が
最も大きい分光プロファイルに対応するシフト量を波長
シフト補正量として求めるようにしているので、連続ス
ペクトルによる影響が抑制されることから、相関値の波
長シフトに対する感度が向上し、波長シフト補正量を高
精度で得ることができる。

【０２４４】請求項６の発明によれば、補正用分光プロ
ファイルの波長に対する差分データと記憶されている各
分光プロファイルの波長に対する差分データとの相関値
をそれぞれ求め、シフト量を変数として各相関値を所定
の関数で近似し、当該近似関数の極大値を与えるシフト
量を波長シフト補正量として求めるようにしているの
で、近似関数の極大値を与えるシフト量が波長シフト補
正量として求められることから、基準分光プロファイル
群の全ての分光プロファイルとの相関値を用いて、補正
用分光プロファイルに対応する波長シフト補正量を求め
ることとなり、これによって相関値データが含む誤差の
影響を軽減することができる。

【０２４５】請求項７，１２の発明によれば、記憶され
ている各シフト位置において受光手段から出力されるべ
き特定波長域の複数の分光プロファイルは、所定光源の
分光強度分布を測定し、各光電変換素子の分光感度を測
定し、当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階
シフトすることで複数の分光感度を数値的に合成し、当
該合成された複数の分光感度と測定によって得られた所
定光源の分光強度分布とを用いて求めるようにしている
ので、分光手段と複数の光電変換素子との相対位置を実
際に機械的に波長方向にシフトさせることなく、基準分
光プロファイル群を容易に得ることができる。

【０２４６】請求項８の発明によれば、補正用分光プロ
ファイルは、初期状態以後における測定試料の分光特性
測定に先立ち、分光手段が測定試料からの反射光を分光
するものであるときは校正用白色板を測定試料に代えて
配置した校正可能な状態で求め、分光手段が測定試料か
らの透過光を分光するものであるときは測定試料を配置
せずに光が透過する校正可能な状態で求めるようにして
いるので、使用者が白色校正を行う際に、現在の分光プ
ロファイルを測定して波長シフト補正量を求めることが
可能になることから、使用者側において、新たな手間を
要することなく容易に波長シフト補正量を求めることが
できる。

【０２４７】請求項９，１５の発明によれば、求められ
た波長シフト補正量を記憶しておき、波長シフト補正量
が記憶されているときは、各光電変換素子の分光感度を
波長シフト補正量だけシフトした分光感度を用いて測定
試料の分光特性を算出するようにしているので、受光手
段の分光手段に対する相対位置が変化して各光電変換素
子の分光感度が波長方向にシフトした場合でも、測定試
料の分光特性を精度良く求めることができる。

【０２４８】請求項１０の発明によれば、求められた波
長シフト補正量を格納するための補正量記憶手段をさら
に備え、補正量記憶手段に格納されている波長シフト補
正量が所定値以上のときのみ、各光電変換素子の分光感
度を波長シフト補正量に基づき設定された量だけシフト
した分光感度を用いて測定試料の分光特性を算出するよ
うにしているので、波長シフト補正量が所定値未満のと
きは、記憶されている各光電変換素子の分光感度をその
まま用いて測定試料の分光特性が算出されることから、
測定値としての連続性を保持することができる。また、
波長シフト補正量が所定値以上のときは波長シフト補正
量に基づき設定された量だけ波長方向にシフトした分光
感度が用いられることから、測定値の連続性が損なわれ
るのを防止することができる。

【０２４９】請求項１３の発明によれば、複数の分光特
性測定装置の各照明手段の分光強度分布をそれぞれ測定
し、それらの測定結果に基づき少なくとも１つの分光強
度分布を選択し、初期状態の補正対象の分光特性測定装
置について、各光電変換素子の分光感度を測定し、当該
分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シフトする
ことで複数の分光感度を数値的に合成し、当該合成され
た複数の分光感度および測定された分光感度と選択され
た分光強度分布とを用いて受光手段から出力されるべき
上記特定波長域の複数の分光プロファイルからなる分光
プロファイル群を求め、照明手段を校正可能な状態で発
光したときに受光手段から出力される補正用分光プロフ
ァイルと、上記分光プロファイル群に含まれる各分光プ
ロファイルとを上記特定波長域においてそれぞれ比較
し、上記補正用分光プロファイルに最も近似する分光プ
ロファイルを与える分光強度分布について求められた上
記特定波長域の分光プロファイル群を、当該補正対象の
分光特性測定装置の基準分光プロファイル群として予め
記憶しておき、初期状態以後に補正対象の分光特性測定
装置において波長シフト補正を行う際に、照明手段を校
正可能な状態で発光したときに受光手段から出力される
補正用分光プロファイルと、上記記憶されている基準分
光プロファイル群に含まれる各分光プロファイルとを上
記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記補正用分光
プロファイルに最も近似する上記基準分光プロファイル
群内の分光プロファイルに対応するシフト量を初期状態
からのシフト量である波長シフト補正量として求めるよ
うにしているので、補正対象の分光特性測定装置につい
て個々に照明手段の分光強度分布を測定する必要がない
ことから、基準分光プロファイル群を容易に求めること
ができる。また、予め複数の分光特性測定装置の照明手
段について分光強度分布を測定し、そのうちから補正対
象の分光特性測定装置の補正用分光プロファイルに最も
近似する分光プロファイルを与える分光強度分布による
分光プロファイル群を基準分光プロファイル群としてい
るので、補正対象の分光特性測定装置の照明手段の分光
強度分布がそれぞればらついていても、そのばらつきに
よる波長シフト補正の精度低下を抑制することができ
る。

【０２５０】請求項１４の発明によれば、複数の分光特
性測定装置の各照明手段の分光強度分布をそれぞれ測定
したときの測定結果において、典型的な分光強度分布を
与える１つの分光特性測定装置を選択し、選択された分
光特性測定装置について、照明手段の発光時間を所定時
間から所定ピッチで複数段階変化させたときの分光強度
分布をそれぞれ測定し、初期状態の補正対象の分光特性
測定装置について、各光電変換素子の分光感度を測定
し、当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シ
フトすることで複数の分光感度を数値的に合成し、当該
合成された複数の分光感度および測定された分光感度と
各発光時間での上記分光強度分布とを用いて受光手段か
ら出力されるべき特定波長域の複数の分光プロファイル
からなる分光プロファイル群を求め、照明手段を校正可
能な状態で発光したときに受光手段から出力される補正
用分光プロファイルと、上記分光プロファイル群に含ま
れる各分光プロファイルとを上記特定波長域においてそ
れぞれ比較し、上記補正用分光プロファイルに最も近似
する分光プロファイルを与える発光時間について求めら
れた上記特定波長域の分光プロファイル群を、当該補正
対象の分光特性測定装置の基準分光プロファイル群とし
て予め記憶しておくようにしているので、照明手段の発
光時間が変化すると連続スペクトルに対する輝線スペク
トルの相対強度が変化することから、補正対象である個
々の分光特性装置の照明手段が持つ上記相対強度がそれ
ぞれ異なる場合でも、それぞれに最も近い上記相対強度
の分光プロファイル群を基準分光プロファイル群として
用いることが可能になり、その結果、波長シフト補正量
を精度良く求めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る分光特性測定装置の一実施形態で
ある分光測色計を模式的に示す構成図である。

【図２】同分光測色計の発光回路の電気的構成を示す図
である。

【図３】キセノンフラッシュランプの発光時間に対する
相対発光強度を示す図である。

【図４】センサアレイの分光感度を示す図である。

【図５】センサ番号ｉの分光感度Ｇ_i(λ)を示す図であ
る。

【図６】分光輝度計によりランプの分光強度を測定する
ときの構成を示す図である。

【図７】基準分光プロファイル群を求める手順を示すフ
ローチャートである。

【図８】キセノンフラッシュランプの発光スペクトル分
布図である。

【図９】波長シフト補正の手順を示すフローチャートで
ある。

【図１０】(ａ)は764nm近傍の波長域の分光プロファイ
ルX_iの一例を示す図、(ｂ)は(ａ)の差分波形を示す図で
ある。

【図１１】(ａ)(ｂ)はシフト量に対する相関値の一例を
示す図である。

【図１２】参照光センサアレイの分光感度の中心波長の
校正手順を示すフローチャートである。

【図１３】ダブルチャネル分光部の機械的構成を示す斜
視図である。

【図１４】赤外光遮断フィルタの取付構成を示す側面図
である。

【図１５】赤外光遮断フィルタの入射光線および射出光
線の屈折を示す断面図である。

【図１６】基準試料の分光反射率および差分波形を示す
特性図である。

【図１７】波長シフト補正量の異なる求め方を説明する
図である。

【図１８】遮蔽物によって波長シフトを生じさせる原理
を説明するための図である。

【図１９】遮蔽によって波長シフトを生じさせる試料光
分光部の構成を示す図である。

【図２０】基準分光プロファイルと波長シフト量との対
応関係を求める場合のフローチャートを示す図である。

【図２１】波長シフト補正の方法を示すフローチャート
である。

【符号の説明】

１０ 積分球（照明手段） １２ キセノンフラッシュランプ（照明手段、所定光
源） １３ 試料用開口 ２０ 発光回路（照明制御手段、補正制御手段） ３５，４４ 回折格子（分光手段） ３６ 試料光センサアレイ（受光手段） ４５ 参照光センサアレイ ５０ 操作パネル部 ５５ 表示部 ６０ 制御部 ６１ メモリ（分光感度記憶手段、基準分光プロファイ
ル群記憶手段、シフト量記憶手段、補正量記憶手段） ６２ ＣＰＵ（照明制御手段、分光特性演算手段、補正
制御手段、補正量演算手段、報知手段） ９１、１０５ 開口絞り ９４、１０１ 遮蔽物

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G020 AA04 AA08 CA03 CB05 CB32 CB43 CC02 CD31 CD34 CD36 CD37 CD38 CD39 CD53 DA12 DA22 DA31 DA34

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定試料を照明する照明手段と、 この照明手段を発光させる照明制御手段と、 照明された上記測定試料からの光を波長ごとに分光する
   分光手段と、 上記分光手段の波長分散方向に所定間隔で配列され、そ
   れぞれ異なる波長の光を受光して光強度に応じた受光信
   号を出力する複数の光電変換素子を有し、当該複数の受
   光信号からなる分光プロファイルを出力する受光手段
   と、 上記各光電変換素子の分光感度が格納された分光感度記
   憶手段と、 上記分光プロファイルと上記各光電変換素子の分光感度
   とを用いて所定の測定波長域における上記測定試料の分
   光特性を算出する分光特性演算手段とを備えた分光特性
   測定装置において、 初期状態で特定波長に強度のピークを持つ所定光源から
   の光を受光したときに上記受光手段から出力される少な
   くとも上記特定波長を含む特定波長域の分光プロファイ
   ルと、上記受光手段の上記分光手段に対する相対位置が
   波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトした場合
   に、各シフト位置において当該受光手段から出力される
   べき上記特定波長域の複数の分光プロファイルとからな
   る基準分光プロファイル群が格納された基準分光プロフ
   ァイル群記憶手段と、 上記初期状態以後に上記所定光源を校正可能な状態で発
   光させる補正制御手段と、 上記所定光源が発光したときに上記受光手段から出力さ
   れる補正用分光プロファイルと上記基準分光プロファイ
   ル群記憶手段に格納されている上記各分光プロファイル
   とを上記特定波長域においてそれぞれ比較し、上記補正
   用分光プロファイルに最も近似する上記基準分光プロフ
   ァイル群記憶手段に格納されている分光プロファイルに
   対応するシフト量を上記初期状態からのシフト量である
   波長シフト補正量として求める補正量演算手段とを備え
   たことを特徴とする分光特性測定装置。
2. 【請求項２】 上記所定光源は、連続スペクトルおよび
   上記特定波長の輝線スペクトルからなる分光強度分布を
   有するもので、上記照明手段として兼用されていること
   を特徴とする請求項１記載の分光特性測定装置。
3. 【請求項３】 上記所定光源は、パルス状に発光するフ
   ラッシュランプからなるもので、上記照明制御手段は、
   上記フラッシュランプを所定時間だけ発光させるもの
   で、上記補正制御手段は、上記フラッシュランプを上記
   所定時間より短い時間だけ発光させるものであることを
   特徴とする請求項２記載の分光特性測定装置。
4. 【請求項４】 上記所定光源は、キセノンフラッシュラ
   ンプからなるもので、上記特定波長は、700nm以上の波
   長域における輝線スペクトルに対応する波長であり、 上記受光手段の上記分光手段に対する相対位置が上記初
   期状態から波長分散方向にシフトしたときの、700nm以
   上の波長域における輝線スペクトルの波長方向のシフト
   量と上記測定波長域全体における平均的な波長シフト量
   との関係が格納されたシフト量記憶手段をさらに備え、 上記補正量演算手段は、上記シフト量記憶手段に格納さ
   れている上記関係を用いて、上記補正用分光プロファイ
   ルに最も近似する分光プロファイルに対応するシフト量
   から上記測定波長域全体における平均的な波長シフト量
   を求め、これを上記波長シフト補正量とするものである
   ことを特徴とする請求項２または３記載の分光特性測定
   装置。
5. 【請求項５】 上記補正量演算手段は、上記補正用分光
   プロファイルの波長に対する差分データと上記基準分光
   プロファイル群記憶手段に格納されている各分光プロフ
   ァイルの波長に対する差分データとの相関が最も大きい
   分光プロファイルに対応するシフト量を上記波長シフト
   補正量として求めるものであることを特徴とする請求項
   ２〜４のいずれかに記載の分光特性測定装置。
6. 【請求項６】 上記補正量演算手段は、上記補正用分光
   プロファイルの波長に対する差分データと上記基準分光
   プロファイル群記憶手段に格納されている各分光プロフ
   ァイルの波長に対する差分データとの相関値をそれぞれ
   求め、上記シフト量を変数として各相関値を所定の関数
   で近似し、当該近似関数の極大値を与えるシフト量を上
   記波長シフト補正量として求めるものであることを特徴
   とする請求項２〜４のいずれかに記載の分光特性測定装
   置。
7. 【請求項７】 上記基準分光プロファイル群記憶手段に
   格納されている上記各シフト位置において上記受光手段
   から出力されるべき上記特定波長域の複数の分光プロフ
   ァイルは、上記所定光源の分光強度分布を測定し、上記
   各光電変換素子の分光感度を測定し、当該分光感度を波
   長方向に所定ピッチで複数段階シフトすることで複数の
   分光感度を数値的に合成し、当該合成された複数の分光
   感度と測定によって得られた上記所定光源の分光強度分
   布とを用いて求めたものであることを特徴とする請求項
   １〜６のいずれかに記載の分光特性測定装置。
8. 【請求項８】 上記補正用分光プロファイルは、上記初
   期状態以後における測定試料の分光特性測定に先立ち、
   上記分光手段が上記測定試料からの反射光を分光するも
   のであるときは校正用白色板を上記測定試料に代えて配
   置した校正可能な状態で求められ、上記分光手段が上記
   測定試料からの透過光を分光するものであるときは上記
   測定試料を配置せずに光が透過する校正可能な状態で求
   められることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記
   載の分光特性測定装置。
9. 【請求項９】 上記補正量演算手段により求められた波
   長シフト補正量を格納するための補正量記憶手段をさら
   に備え、上記分光特性演算手段は、上記補正量記憶手段
   に上記波長シフト補正量が格納されているときは、上記
   各光電変換素子の分光感度を上記波長シフト補正量だけ
   シフトした分光感度を用いて上記測定試料の分光特性を
   算出するものであることを特徴とする請求項１〜８記載
   の分光特性測定装置。
10. 【請求項１０】 上記補正量演算手段により求められた
    波長シフト補正量を格納するための補正量記憶手段をさ
    らに備え、上記分光特性演算手段は、上記補正量記憶手
    段に格納されている上記波長シフト補正量が所定値以上
    のときのみ、上記各光電変換素子の分光感度を上記波長
    シフト補正量に基づき設定された量だけシフトした分光
    感度を用いて上記測定試料の分光特性を算出するもので
    あることを特徴とする請求項１〜８記載の分光特性測定
    装置。
11. 【請求項１１】 測定試料を照明する照明手段と、 この照明手段を発光させる照明制御手段と、 照明された上記測定試料からの光を波長ごとに分光する
    分光手段と、 上記分光手段の波長分散方向に所定間隔で配列され、そ
    れぞれ異なる波長の光を受光して光強度に応じた受光信
    号を出力する複数の光電変換素子を有し、当該複数の受
    光信号からなる分光プロファイルを出力する受光手段
    と、 上記各光電変換素子の分光感度が格納された分光感度記
    憶手段と、 上記分光プロファイルと上記各光電変換素子の分光感度
    とを用いて所定の測定波長域における上記測定試料の分
    光特性を算出する分光特性演算手段とを備えた分光特性
    測定装置において、 初期状態で特定波長に強度のピークを持つ所定光源から
    の光を受光したときに上記受光手段から出力される少な
    くとも上記特定波長を含む特定波長域の分光プロファイ
    ルと、上記受光手段の上記分光手段に対する相対位置が
    波長分散方向に所定ピッチで複数段階シフトした場合
    に、各シフト位置において当該受光手段から出力される
    べき上記特定波長域の複数の分光プロファイルとからな
    る基準分光プロファイル群を記憶しておき、 上記初期状態以後に上記所定光源を校正可能な状態で発
    光したときに上記受光手段から出力される補正用分光プ
    ロファイルと、上記基準分光プロファイル群に含まれる
    各分光プロファイルとを上記特定波長域においてそれぞ
    れ比較し、 上記補正用分光プロファイルに最も近似する上記基準分
    光プロファイル群内の分光プロファイルに対応するシフ
    ト量を上記初期状態からのシフト量である波長シフト補
    正量として求めるようにしたことを特徴とする分光特性
    測定装置の分光感度の波長シフト補正方法。
12. 【請求項１２】 上記各シフト位置において上記受光手
    段から出力されるべき上記特定波長域の複数の分光プロ
    ファイルは、 上記所定光源の分光強度分布を測定し、 上記各光電変換素子の分光感度を測定し、 当該分光感度を波長方向に所定ピッチで複数段階シフト
    することで複数の分光感度を数値的に合成し、 当該合成された複数の分光感度と測定によって得られた
    上記所定光源の分光強度分布とを用いて求めるようにし
    たことを特徴とする請求項１１記載の分光特性測定装置
    の分光感度の波長シフト補正方法。
13. 【請求項１３】 連続スペクトルおよび特定波長の輝線
    スペクトルからなる分光強度分布を有し、測定試料を照
    明する照明手段と、 この照明手段を発光させる照明制御手段と、 照明された上記測定試料からの光を波長ごとに分光する
    分光手段と、 上記分光手段の波長分散方向に所定間隔で配列され、そ
    れぞれ異なる波長の光を受光して光強度に応じた受光信
    号を出力する複数の光電変換素子を有し、当該複数の受
    光信号からなる分光プロファイルを出力する受光手段
    と、 上記分光プロファイルを用いて所定の測定波長域におけ
    る上記測定試料の分光特性を算出する分光特性演算手段
    とを備えた分光特性測定装置の分光感度の波長シフト補
    正方法であって、 複数の上記分光特性測定装置の上記各照明手段の分光強
    度分布をそれぞれ測定し、それらの測定結果に基づき少
    なくとも１つの分光強度分布を選択し、 初期状態の補正対象の分光特性測定装置について、上記
    各光電変換素子の分光感度を測定し、当該分光感度を波
    長方向に所定ピッチで複数段階シフトすることで複数の
    分光感度を数値的に合成し、当該合成された複数の分光
    感度および上記測定された分光感度と選択された上記分
    光強度分布とを用いて上記受光手段から出力されるべき
    上記特定波長域の複数の分光プロファイルからなる分光
    プロファイル群を求め、 上記照明手段を校正可能な状態で発光したときに上記受
    光手段から出力される補正用分光プロファイルと、上記
    分光プロファイル群に含まれる各分光プロファイルとを
    上記特定波長域においてそれぞれ比較し、 上記補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
    ァイルを与える分光強度分布について求められた上記特
    定波長域の分光プロファイル群を、当該補正対象の分光
    特性測定装置の基準分光プロファイル群として予め記憶
    しておき、 上記初期状態以後に補正対象の分光特性測定装置におい
    て波長シフト補正を行う際に、 上記照明手段を校正可能な状態で発光したときに上記受
    光手段から出力される補正用分光プロファイルと、上記
    記憶されている基準分光プロファイル群に含まれる各分
    光プロファイルとを上記特定波長域においてそれぞれ比
    較し、 上記補正用分光プロファイルに最も近似する上記基準分
    光プロファイル群内の分光プロファイルに対応するシフ
    ト量を上記初期状態からのシフト量である波長シフト補
    正量として求めるようにしたことを特徴とする分光特性
    測定装置の分光感度の波長シフト補正方法。
14. 【請求項１４】 複数の上記分光特性測定装置の上記各
    照明手段の分光強度分布をそれぞれ測定したときの測定
    結果において、典型的な分光強度分布を与える１つの分
    光特性測定装置を選択し、 選択された分光特性測定装置について、上記照明手段の
    発光時間を所定時間から所定ピッチで複数段階変化させ
    たときの分光強度分布をそれぞれ測定し、 初期状態の補正対象の分光特性測定装置について、上記
    各光電変換素子の分光感度を測定し、当該分光感度を波
    長方向に所定ピッチで複数段階シフトすることで複数の
    分光感度を数値的に合成し、当該合成された複数の分光
    感度および上記測定された分光感度と各発光時間での上
    記分光強度分布とを用いて上記受光手段から出力される
    べき上記特定波長域の複数の分光プロファイルからなる
    分光プロファイル群を求め、 上記照明手段を校正可能な状態で発光したときに上記受
    光手段から出力される補正用分光プロファイルと、上記
    分光プロファイル群に含まれる各分光プロファイルとを
    上記特定波長域においてそれぞれ比較し、 上記補正用分光プロファイルに最も近似する分光プロフ
    ァイルを与える発光時間について求められた上記特定波
    長域の分光プロファイル群を、当該補正対象の分光特性
    測定装置の基準分光プロファイル群として予め記憶して
    おくようにしたことを特徴とする請求項１３記載の分光
    特性測定装置の分光感度の波長シフト補正方法。
15. 【請求項１５】 求めた上記波長シフト補正量を記憶し
    ておき、その波長シフト補正量だけ上記各光電変換素子
    の分光感度をシフトした分光感度を用いて上記測定試料
    の分光特性を算出するようにしたことを特徴とする請求
    項１１〜１４のいずれかに記載の分光特性測定装置の分
    光感度の波長シフト補正方法。