JP4061765B2 - 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 - Google Patents
蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4061765B2 JP4061765B2 JP03181599A JP3181599A JP4061765B2 JP 4061765 B2 JP4061765 B2 JP 4061765B2 JP 03181599 A JP03181599 A JP 03181599A JP 3181599 A JP3181599 A JP 3181599A JP 4061765 B2 JP4061765 B2 JP 4061765B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- intensity distribution
- standard
- light
- fluorescent sample
- spectral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 title claims description 548
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 307
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 206
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 114
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 27
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 claims description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 16
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 13
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 6
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 4
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 3
- 238000004737 colorimetric analysis Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 2,4-D Chemical compound OC(=O)COC1=CC=C(Cl)C=C1Cl OVSKIKFHRZPJSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CNGYZEMWVAWWOB-VAWYXSNFSA-N 5-[[4-anilino-6-[bis(2-hydroxyethyl)amino]-1,3,5-triazin-2-yl]amino]-2-[(e)-2-[4-[[4-anilino-6-[bis(2-hydroxyethyl)amino]-1,3,5-triazin-2-yl]amino]-2-sulfophenyl]ethenyl]benzenesulfonic acid Chemical compound N=1C(NC=2C=C(C(\C=C\C=3C(=CC(NC=4N=C(N=C(NC=5C=CC=CC=5)N=4)N(CCO)CCO)=CC=3)S(O)(=O)=O)=CC=2)S(O)(=O)=O)=NC(N(CCO)CCO)=NC=1NC1=CC=CC=C1 CNGYZEMWVAWWOB-VAWYXSNFSA-N 0.000 description 1
- 238000004164 analytical calibration Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000005282 brightening Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000001506 fluorescence spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000006081 fluorescent whitening agent Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
- G01N21/276—Calibration, base line adjustment, drift correction with alternation of sample and standard in optical path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/44—Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、蛍光物質を含む試料の分光特性を測定する蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、蛍光物質を含む試料(以下、「蛍光試料」という。)の視覚的な特性は、ある条件で照明、観察された試料からの放射光の、同一条件で照明、観察された完全拡散反射面からの放射光に対する波長毎の比、すなわち全分光放射輝度率によって表わすことができる。全分光放射輝度率Bt(λ)は、下記数7により表わされる。
【0003】
【数7】
Bt(λ)=Br(λ)+Bf(λ)
但し、Br(λ)は蛍光試料からの反射光成分による反射分光放射輝度率、Bf(λ)は蛍光試料からの蛍光成分による蛍光分光放射輝度率である。
【0004】
分光励起効率F(μ,λ)の蛍光試料は、通常、照明光の紫外域の波長μによって励起されるので、蛍光分光放射輝度率Bf(λ)は下記数8で表わされる。
【0005】
【数8】
Bf(λ)=∫UVI(μ)・F(μ,λ)dμ/L(λ)
ここで、I(λ)は照明光の分光強度分布、L(λ)は基準化された照明光の分光強度分布である。上記数8に示すように、蛍光分光放射輝度率Bf(λ)は照明光の分光強度分布に依存する。
【0006】
反射分光放射輝度率BrW(λ)が既知の非蛍光白色標準試料を測色計で測定したときの放射光及び参照光の分光強度をそれぞれSw(λ),Rw(λ)とし、また被測定蛍光試料を測色計で測定したときの放射光及び参照光の分光強度をそれぞれS(λ),R(λ)とすると、被測定蛍光試料の全分光放射輝度率Bt(λ)は、
【0007】
【数9】
Bt(λ)=BrW(λ)・{S(λ)/R(λ)}/{Sw(λ)/Rw(λ)}
で求められる。
【0008】
上述のように、蛍光試料の全分光放射輝度率は、照明光の分光強度に依存するため、照明光の分光強度は想定する測色用の照明光の分光強度に一致している必要がある。
【0009】
測色用の標準的な照明光には、D65(昼光)、A(白熱光源)の標準の光のほか、昼光D50,D55,D75、蛍光灯F1,F3,F11などがあり、いずれもCIE(国際照明委員会)によって分光強度分布が定義されている。
【0010】
蛍光試料の評価には、標準の光D65が用いられることが多いが、この標準の光D65に近似した光源を人工的に作成することはかなり困難であるため、従来、図9に示すGaetner-Griesserの方法によって、照明光の紫外域強度の可視域強度に対する比である相対紫外強度を校正するものが多い(「Assessment of Whiteness and Tint of Fluorescent Substrates with Good Instrument Correlation」Rolf Griesser,「The Calibration of Instruments for the Measurement of Paper Whiteness」Anthony Bristow/COLOR Research and Application誌Vol.19 No.6 Dec.1994)。
【0011】
図9において、蛍光試料1は積分球2の試料用開口21に配置される。クセノンランプ等の紫外域に十分な強度を持つ光源101は、発光回路104によって駆動され、その光束102は開口23を通って積分球2に入射する。ここで、光束102を部分的に遮断するように、紫外カットフィルタ103が挿入されており、入射光束のうちで紫外カットフィルタ103を通過した部分は紫外成分が除去されるので、紫外カットフィルタ103の挿入度を調整することで照明光の相対紫外強度が校正されるようになっている。
【0012】
積分球2内に入った光束102は、その内部で拡散反射され、混合されて蛍光試料1を拡散照明する。照明された試料からの所定方向への放射光11が観察用開口24を通って試料用分光手段105に入射し、分光強度分布S(λ)が測定される。同時に、照明光とほぼ同一の分光強度分布を持つ参照光62が参照用光ファイバ61に入射し、参照用分光手段106に導かれて、分光強度分布R(λ)が測定される。
【0013】
相対紫外強度を校正するには、まず、反射分光放射輝度率BrW(λ)が既知の非蛍光白色標準試料12を測定し、次に、測色用の標準の光(例えばD65)で照明したときの一つの色彩値、例えばCIE白色度が既知の標準蛍光試料13を測定し、上記数9によって求められた全分光放射輝度率Bt(λ)から算出されたCIE白色度が、上記既知のCIE白色度に一致するように、紫外カットフィルタ103の挿入度を調整する。このとき、上記数8は、下記数10となる。
【0014】
【数10】
Bf(λ)=∫UVp・I(μ)・E(μ,λ)dμ/L(λ)
但し、pは紫外域の減衰度である。
【0015】
このGaetner-Griesserの方法は、紫外カットフィルタ103の移動が必要であるために機械的に複雑な構成になっている。また、相対紫外強度の校正には紫外カットフィルタ103の移動及び測定を繰り返す必要があるので測定に時間を要する。そこで、これらの問題点を解決するものとして、図10に示すような測定装置が提案されている(USP5,636,015)。
【0016】
図10において、第1の光源部111により、紫外域を含む光束を出力するランプ112からの光束113が開口22から積分球2に入射する。また、第2の光源部121により、紫外域を含む光束を出力するランプ122からの光束のうちで紫外成分が紫外カットフィルタ123により除去された光束124が積分球2に入射する。
【0017】
このような構成において、まず、試料用開口21に、分光反射率W(λ)が既知の非蛍光白色標準試料12を配置し、ランプ112を点灯して非蛍光白色標準試料12からの放射光11及び参照光62の分光強度分布Sw1(λ),Rw1(λ)を測定し、メモリ108に記憶する。次いでランプ122を点灯し、同様に非蛍光白色標準試料12からの放射光11及び参照光62の分光強度分布Sw2(λ),Rw2(λ)を測定し、メモリ108に記憶する。
【0018】
次に、標準の光D65で照明したときの全分光放射輝度率BtS(λ)が既知の標準蛍光試料13を試料用開口21に配置し、ランプ112を点灯して標準蛍光試料13からの放射光11及び参照光62の分光強度分布S1(λ),R1(λ)を測定し、メモリ108に記憶する。次いでランプ122を点灯し、同様に標準蛍光試料13からの放射光11及び参照光62の分光強度分布S2(λ),R2(λ)を測定し、メモリ108に記憶する。
【0019】
そして、重み係数a1(λ),a2(λ)が与えられたとき、メモリ108に記憶された分光強度分布の各データSw1(λ),Rw1(λ),Sw2(λ),Rw2(λ),S1(λ),R1(λ),S2(λ),R2(λ)を用いて下記数11で算出される全分光放射輝度率Bt(λ)が、標準蛍光試料13の既知の全分光放射輝度率BtS(λ)に等しくなるように重み係数a1(λ),a2(λ)を波長毎に算出する。これによって、相対紫外強度の校正が行われる。
【0020】
【数11】
Bt(λ)
=W(λ)・{S'(λ)/R'(λ)}/{SW'(λ)/RW'(λ)}
但し、
【0021】
【数12】
S'(λ)=a1(λ)・S1(λ)+a2(λ)・S2(λ)
R'(λ)=a1(λ)・R1(λ)+a2(λ)・R2(λ)
SW'(λ)=a1(λ)・SW1(λ)+a2(λ)・SW2(λ)
RW'(λ)=a1(λ)・RW1(λ)+a2(λ)・RW2(λ)
a1(λ)+a2(λ)=1
である。
【0022】
そして、この算出された重み係数a1(λ),a2(λ)と、蛍光試料1を試料用開口21に配置したときの測定データとを用いて、上記数11に従って蛍光試料1の全分光放射輝度率Bt(λ)が求められる。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】
上記図9、図10に示す従来例は、以下の条件(1)〜(3)を満足することを前提としている。
(1) 測定対象は、照明光の紫外域成分で励起され、可視域の蛍光を発する蛍光増白剤を含む蛍光試料である。
(2) 測定対象の蛍光試料は、相対紫外強度の校正に用いた標準蛍光試料と同一又は類似の蛍光増白剤を含んでいる。
(3) 照明光(図10の場合には第1の光源部111の光束113)の相対紫外強度は、相対紫外強度の校正時から試料測定時まで変化していない。
【0024】
これらの前提条件(1)〜(3)のうちで、条件(1),(2)については、測定対象を制限することで満足することができる。しかし、条件(3) が満足されることを前提とするのは、以下に示す要因[1],[2]により現実的ではない。
【0025】
[1]試料からの反射光又は試料が発する蛍光(蛍光増白剤は通常450nm付近にピークを持つ)が積分球内で照明光に混合付加される、いわゆる積分球効果が存在すること。 [2]光源が経時的に劣化することにより、通常、紫外域強度が低下すること。
【0026】
校正時と測定時とで照明光の相対紫外強度が変化すると、上記数8から明らかなように蛍光分光放射輝度率に誤差が生じ、これは、求められる全分光放射輝度率の誤差につながる。
【0027】
上記要因[2]に起因する誤差は、相対紫外強度の校正を行う頻度を上げることによって低減することができるが、上記要因[1]に起因する誤差は、被測定試料に依存するので、この誤差を低減するのは困難である。
【0028】
本発明は、上記問題を解決するもので、上記要因[1],[2]による照明光の相対紫外強度の変化を補正することにより、この変化に起因する誤差を低減して測定精度を向上することができる蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法を提供することを目的とする。
【0029】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明は、紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段と、紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段と、測定位置に配置された試料を上記第1、第2の照明手段によって照明したときの当該試料からの放射光の分光強度分布を測定する試料用分光手段と、上記測定位置に配置された試料を上記第1、第2の照明手段によって照明したときの照明光に近似する参照光の分光強度分布を測定する参照用分光手段と、予め所定の標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて求められた特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数を記憶するとともに、上記第1の標準参照光分光強度分布を記憶する記憶手段と、被測定蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該被測定蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の測定放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記被測定蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の測定放射光分光強度分布を測定する測定制御手段と、上記第1の測定放射光分光強度分布及び上記第1の測定参照光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の測定放射光分光強度分布及び上記第2の測定参照光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求める第1の演算手段と、下記数13に従って上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求める第2の演算手段と、下記数14に従って上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求める第3の演算手段とを備えたことを特徴としている。
【0030】
【数13】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+{Bt1(λ)−Bt2(λ)}・{k(λ)/k0(λ)−1}
ここに、Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
【0031】
【数14】
Bt(λ)=α・Bt01(λ)+(1−α)・Bt2(λ)
ここに、 Bt(λ):上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
この構成によれば、測定位置に配置された被測定蛍光試料が、紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明され、第1の放射光分光強度分布及び第1の参照光分光強度分布が測定され、これらを用いて蛍光試料の第1の全分光放射輝度率が求められる。また、被測定蛍光試料が紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明され、第2の放射光分光強度分布及び第2の参照光分光強度分布が測定され、これらを用いて蛍光試料の第2の全分光放射輝度率が求められる。
【0032】
一方、予め所定の標準蛍光試料を測定位置に配置した状態で第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数が求められており、この重み係数と第1の標準参照光分光強度分布とが記憶されている。
【0033】
そして、上記数13に従って被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率が求められることにより、上記重み係数を求めたときの相対紫外強度分布を持つ第1の照明手段の照明光で被測定蛍光試料が照明された場合の全分光放射輝度率に近似した全分光放射輝度率が求められ、これによって光源の劣化や積分球効果に起因する重み係数設定時からの照明光の相対紫外強度の変化による測定誤差が低減され、測定精度が向上することとなる。
【0034】
また、上記数14に従って被測定蛍光試料の全分光放射輝度率が求められることにより、可動部分のない簡易な構成で、精度良く、かつ短時間で蛍光試料の全分光放射輝度率が求められることとなる。
【0035】
なお、記憶手段には、波長ごとに求められた重み係数を記憶しておくようにしてもよい。
【0036】
また、請求項2の発明は、請求項1記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、さらに、上記重み係数を求める第4の演算手段と、求めた上記重み係数を上記記憶手段に記憶させる記憶制御手段とを備え、上記記憶手段は、さらに、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率が既知の標準蛍光試料における当該全分光放射輝度率を記憶するもので、上記測定制御手段は、さらに、上記標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の標準放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の標準放射光分光強度分布を測定するもので、上記第1の演算手段は、さらに、上記第1の標準放射光分光強度分布及び上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の標準放射光分光強度分布及び上記第2の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求めるもので、上記第4の演算手段は、波長ごとに設定される上記重み係数を下記数15を満足するように求めるもので、上記記憶制御手段は、さらに、上記第1の標準参照光分光強度分布を上記記憶手段に記憶させるものであることを特徴としている。
【0037】
【数15】
BtS(λ)=A(λ)・BtS1(λ)+{1−A(λ)}・BtS2(λ)
ここに、 BtS(λ):上記標準蛍光試料の既知の全分光放射輝度率
A(λ):波長ごとに設定される上記重み係数α
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
この構成によれば、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率が既知の標準蛍光試料における当該全分光放射輝度率が記憶されており、標準蛍光試料が測定位置に配置された状態で第1の照明手段によって照明され、第1の標準参照光分光強度分布及び第1の標準放射光分光強度分布が測定され、これらを用いて標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率が求められる。また、標準蛍光試料が第2の照明手段によって照明され、第2の標準参照光分光強度分布及び第2の標準放射光分光強度分布が測定され、これらを用いて標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率が求められる。
【0038】
そして、波長ごとに設定される重み係数が上記数15を満足するように求められ、この求められた重み係数と、第1の標準参照光分光強度分布とが記憶手段に記憶される。
【0039】
これによって、標準蛍光試料に類似する蛍光染料又は蛍光顔料を含む蛍光試料については、この重み係数を用いて算出される全分光放射輝度率は、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの蛍光試料の全分光放射輝度率にほぼ一致することとなる。
【0040】
なお、上記数15は、左辺と右辺が完全に等しい場合だけでなく、左辺と右辺が近似的に等しい場合も含むものであり、そのような場合であっても、実用上問題はない。
【0041】
また、請求項3の発明は、請求項1記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、さらに、上記重み係数を求める第5の演算手段と、求めた上記重み係数を上記記憶手段に記憶させる記憶制御手段とを備え、上記記憶手段は、さらに、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率から算出される所定の指標値が既知の標準蛍光試料における当該指標値を記憶するもので、上記測定制御手段は、さらに、上記標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の標準放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の標準放射光分光強度分布を測定するもので、上記第1の演算手段は、さらに、上記第1の標準放射光分光強度分布及び上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の標準放射光分光強度分布及び上記第2の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求めるもので、上記第5の演算手段は、下記数16で表わされる上記標準蛍光試料の全分光放射輝度率から算出される上記指標値が上記既知の値に一致するように上記重み係数を求めるもので、上記記憶制御手段は、さらに、上記第1の標準参照光分光強度分布を上記記憶手段に記憶させるものであることを特徴としている。
【0042】
【数16】
BtS(λ)=α・BtS1(λ)+(1−α)・BtS2(λ)
ここに、 α:上記重み係数
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
この構成によれば、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率から算出される所定の指標値が既知の標準蛍光試料における当該指標値が記憶されており、標準蛍光試料が測定位置に配置された状態で第1の照明手段によって照明され、第1の標準参照光分光強度分布及び第1の標準放射光分光強度分布が測定され、これらを用いて標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率が求められる。また、標準蛍光試料が第2の照明手段によって照明され、第2の標準参照光分光強度分布及び第2の標準放射光分光強度分布が測定され、これらを用いて標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率が求められる。
【0043】
そして、上記数16で表わされる標準蛍光試料の全分光放射輝度率から算出される指標値が上記既知の値に一致するように重み係数が求められ、この求められた重み係数と、第1の標準参照光分光強度分布とが記憶手段に記憶される。
【0044】
これによって、標準蛍光試料に類似する蛍光染料又は蛍光顔料を含む蛍光試料については、この重み係数を用いて求められる全分光放射輝度率は、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの蛍光試料の指標値にほぼ一致することとなる。
【0045】
なお、上記数16は、左辺と右辺が完全に等しい場合だけでなく、左辺と右辺が近似的に等しい場合も含むものであり、そのような場合であっても、実用上問題はない。また、上記指標値は、1つでも複数でもよく、色彩値やCIE白色度などを用いることができる。また、重み係数は、波長に依存するものであってもよい。
【0046】
また、請求項4の発明は、請求項1〜3のいずれかに記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、上記第2の照明手段は、可視光の最短波長より長波長の光束を出力するものであることを特徴としている。
【0047】
この構成によれば、第2の照明手段からは可視光の最短波長より長波長の光束、すなわち紫外域の波長域を含まない光束が出力されるので、第1、第2の照明手段及び重み係数によって紫外域の相対強度が等価的に調整されることとなる。
【0048】
また、請求項5の発明は、測定位置に配置された被測定蛍光試料を紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求める第1の工程と、上記被測定蛍光試料を紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求める第2の工程と、予め所定の標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数を求めたときの上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて、下記数17に従って上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求める第3の工程と、予め求められた上記重み係数を用いて、下記数18に従って上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求める第4の工程とを備えたことを特徴としている。
【0049】
【数17】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+{Bt1(λ)−Bt2(λ)}・{k(λ)/k0(λ)−1}
ここに、Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
【0050】
【数18】
Bt(λ)=α・Bt01(λ)+(1−α)・Bt2(λ)
ここに、 Bt(λ):上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
この方法によれば、測定位置に配置された被測定蛍光試料が、紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明され、第1の放射光分光強度分布及び第1の参照光分光強度分布が測定され、これらを用いて蛍光試料の第1の全分光放射輝度率が測定される。また、被測定蛍光試料が紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明され、第2の放射光分光強度分布及び第2の参照光分光強度分布が測定され、これらを用いて蛍光試料の第2の全分光放射輝度率が測定される。
【0051】
一方、予め所定の標準蛍光試料を測定位置に配置した状態で第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて重み係数が求められている。
【0052】
そして、上記数17に従って被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率が求められることにより、重み係数を求めたときの相対紫外強度分布を持つ第1の照明手段の照明光で被測定蛍光試料が照明された場合の全分光放射輝度率に近似した全分光放射輝度率が求められ、これによって光源の劣化や積分球効果に起因する照明光の相対紫外強度の変化による測定誤差が低減され、測定精度が向上することとなる。
【0053】
また、上記数18に従って被測定蛍光試料の全分光放射輝度率が求められることにより、可動部分のない簡易な構成で、精度良く、かつ短時間で蛍光試料の全分光放射輝度率が求められることとなる。
【0054】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明に係る蛍光試料の分光特性測定装置の第1実施形態の構成図である。この蛍光試料の分光特性測定装置は、蛍光試料1の全分光放射輝度率などを求めるもので、積分球2、第1の照明手段3、第2の照明手段4、試料用分光手段5、参照用分光手段6、表示部7及び制御部8を備えている。
【0055】
積分球2は、入射光束を多重拡散反射して拡散照明光を生成するもので、その内壁20には、MgOやBaSO4などの白色拡散反射塗料が塗布されており、適所に配設された試料用開口21、光源用開口22,23及び観察用開口24を備えている。蛍光試料1は、蛍光物質を含む繊維や紙製品等からなる測定対象となる試料で、積分球2の試料用開口21(測定位置)に配置される。
【0056】
積分球2の試料用開口21には、また、反射率の校正を行うために反射分光放射輝度率BrW(λ)が既知の非蛍光白色標準試料12が配置され、更に、相対紫外強度の校正を行うために、特定の測色用の光で照明したときの全分光放射輝度率BtS(λ)が既知の標準蛍光試料13が配置される。
【0057】
第1の照明手段3は、ランプ31及び発光回路32からなる。ランプ31は、例えばクセノンフラッシュランプ等の紫外域を含む光束を出力するものからなり、積分球2の光源用開口22の近傍に配置されている。発光回路32は、ランプ31を駆動してパルス点灯させるもので、紫外域を含むパルス状の光束33が、光源用開口22を通って積分球2内に入射するようになっている。
【0058】
第2の照明手段4は、ランプ41、発光回路42及び遮断フィルタ43からなる。ランプ41は、例えばクセノンフラッシュランプ等からなり、積分球2の光源用開口23に配置されている。遮断フィルタ43は、ランプ41と光源用開口23の間に配置され、所定の遮断波長λC1(本実施形態では例えばλC1=400nm)より長い波長域の光束のみを透過するもので、ランプ41からの入射光束から波長がλC1以下の紫外域の光束を除去するものである。発光回路42は、ランプ41を駆動してパルス点灯させるもので、遮断フィルタ43により紫外域が除去されたパルス状の光束44が、光源用開口23を通って積分球2内に入射するようになっている。
【0059】
積分球2内に入射した光束33,44は、内壁で多重拡散反射され、試料用開口21に配置された試料、すなわち蛍光試料1、非蛍光白色標準試料12又は標準蛍光試料13を拡散照明する。照明された試料1,12,13の表面からの放射光の内の所定方向成分の放射光11が観察用開口24を通って積分球2から出射し、観察用開口24に配置された試料用分光手段5に入射する。試料用分光手段5は、放射光11の分光強度分布を測定するもので、得られた分光強度分布データは後述する制御部8に送出される。
【0060】
また、積分球2の試料用開口21の近傍には、参照用光ファイバ61の入射端が配置されている。参照用光ファイバ61の出射端は、参照用分光手段6に接続され、入射端に入射する参照光62を参照用分光手段6に導くものである。参照用分光手段6は、参照光62の分光強度分布を測定するもので、得られた分光強度分布データは制御部8に送出される。参照用光ファイバ61の入射端が積分球2の試料用開口21の近傍に配置されることにより、参照光62は試料の照明光とほぼ同一の分光強度分布を有するものとなり、参照用分光手段6によって照明光がモニタされることとなる。
【0061】
表示部7は、例えばCRT等からなり、制御部8で算出された全分光放射輝度率などの演算結果を表示するものである。
【0062】
制御部8は、表示部7の表示内容を制御するなど本測定装置全体の動作を制御するもので、ROM81、RAM82及びCPU83を備えている。CPU83は、試料用分光手段5、参照用分光手段6、表示部7及び発光回路32,42に接続され、機能ブロックとして、測定制御手段84及び演算手段85を備えている。
【0063】
ROM81は、CPU83の制御プログラムや、非蛍光白色標準試料12の既知の反射分光放射輝度率BrW(λ)、標準蛍光試料13の既知の全分光放射輝度率BtS(λ)などの予め設定されたデータを記憶するものである。
【0064】
RAM(記憶手段)82は、測定結果などのデータを保管するもので、RAM82には、後述するように、算出された重み係数A(λ)や、重み係数A(λ)を算出すべく標準蛍光試料13を測定したときの第1の照明手段3の参照光62の分光強度分布などが格納される。
【0065】
測定制御手段84は、試料用開口21に試料1,12,13が配置されているときに、発光回路32,42の駆動を制御してランプ31,41の点灯を制御するとともに、試料用分光手段5及び参照用分光手段6で得られた分光強度分布などのデータをRAM82に記憶させるものである。
【0066】
演算手段85は、以下の機能を有する。
(1) 後述する手順により、試料用分光手段5及び参照用分光手段6で得られた分光強度分布等のデータから、蛍光試料1を第1の照明手段3により照明したときの第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)及び第2の照明手段4により照明したときの第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)を算出する第1の演算手段としての機能。さらに、この算出結果をRAM82に格納する機能を有している。
【0067】
(2) 後述する手順により、第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)を補正した補正全分光放射輝度率Bt10(λ)を求める第2の演算手段としての機能。さらに、この求めた補正全分光放射輝度率Bt10(λ)をRAM82に格納する機能を有している。
【0068】
(3) 後述する手順により、第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)の重み係数A(λ)を算出する第4の演算手段としての機能。
(4) 算出した重み係数A(λ)をRAM82に記憶させる記憶制御手段としての機能。
【0069】
(5) 後述する手順により、重み係数A(λ)を用いて、補正全分光放射輝度率Bt10(λ)及び第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)を線形結合することによって、蛍光試料1の全分光放射輝度率Bt(λ)を算出する第3の演算手段としての機能。
【0070】
なお、CPU83は、算出された全分光放射輝度率Bt(λ)から、色彩値、CIE白色度その他の色に関する指標値を算出する指標演算手段を備えるようにしてもよい。
【0071】
次に、図1を参照しながら、図2にしたがって重み係数A(λ)を求める手順について説明する。図2は同手順を示すフローチャートである。まず、蛍光物質を含まない非蛍光白色標準試料12を用いて反射率の校正を行う。すなわち、反射分光放射輝度率BrW(λ)が既知の非蛍光白色標準試料12が試料用開口21に配置され(#100)、この状態で測定制御手段84によりランプ31がパルス点灯され、非蛍光白色標準試料12からの放射光11の分光強度分布Sw1(λ)が測定されるとともに、そのときの参照光62の分光強度分布Rw1(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#110)。
【0072】
次いで、測定制御手段84によりランプ41がパルス点灯され、同様に、非蛍光白色標準試料12からの放射光11及びそのときの参照光62の分光強度分布Sw2(λ),Rw2(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#120)。
【0073】
次に、特定の測色用の光(本実施形態では、例えば標準の光D65)で照明したときの全分光放射輝度率BtS(λ)が既知の標準蛍光試料13を用いて、紫外域の相対強度の校正を行う。
【0074】
すなわち、標準蛍光試料13が試料用開口21に配置され(#130)、この状態で測定制御手段84によりランプ31がパルス点灯され、標準蛍光試料13からの放射光11及びそのときの参照光62の分光強度分布S01(λ),R01(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#140)。
【0075】
次いで、測定制御手段84によりランプ41がパルス点灯され、同様に標準蛍光試料13からの放射光11及びその時の参照光62の分光強度分布S02(λ),R02(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#150)。
【0076】
次いで、RAM82に記憶された分光強度分布の各データSw1(λ),Rw1(λ),Sw2(λ),Rw2(λ),S01(λ),R01(λ),S02(λ),R02(λ)と、ROM81に記憶されている既知の反射分光放射輝度率BrW(λ)とを用いて、演算手段85により、下記数19により第1、第2の全分光放射輝度率BtS1(λ),BtS2(λ)が算出される(#160)。
【0077】
【数19】
BtS1(λ)=BrW(λ)・{S01(λ)/R01(λ)}/{Sw1(λ)/Rw1(λ)}
BtS2(λ)=BrW(λ)・{S02(λ)/R02(λ)}/{Sw2(λ)/Rw2(λ)}
次いで、演算手段85により、下記数20を満足するように、すなわち第1、第2の全分光放射輝度率BtS1(λ),BtS2(λ)を重み係数A(λ)により重み付けして線形結合した値が、ROM81に記憶されている標準蛍光試料13の既知の全分光放射輝度率BtS(λ)に等しくなるように、重み係数A(λ)が波長ごとに求められ、RAM82に記憶される(#170)。
【0078】
【数20】
BtS(λ)
=A(λ)・BtS1(λ)+{1−A(λ)}・BtS2(λ)
以上の手順によって、重み係数A(λ)が波長ごとに求められ、RAM82に記憶される。この重み係数A(λ)の設定は、蛍光試料の測定に先立って予め行っておく。
【0079】
ここで、本発明は、紫外域を含む第1の照明手段3による照明光の相対紫外強度分布が、試料測定時には重み係数A(λ)の設定時から変化しているという前提に立つものである。そして、この前提のもとに、測定された試料の第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)を、重み係数A(λ)設定時の第1の照明手段3の照明光で測定した場合の第1の全分光放射輝度率に近似した、第1の全分光放射輝度率に補正するものである。
【0080】
そこで、次に、図3、図4を用いて、相対紫外強度分布の変化を補正する原理について説明する。
【0081】
図3(a)(b)は第1の照明手段3の照明光の分光強度分布を示す図で、(a)は重み係数A(λ)設定時の分光強度分布を示し、(b)は試料測定時の分光強度分布を示している。また、図3(c)(d)は第2の照明手段4の照明光の分光強度分布を示す図で、(c)は重み係数A(λ)設定時の分光強度分布を示し、(d)は試料測定時の分光強度分布を示している。図4は第1の照明手段3の照明光に近似する参照光62の分光強度分布を示す図で、(a)は重み係数A(λ)設定時の参照光62の分光強度分布を示し、(b)は試料測定時の参照光62の分光強度分布を示している。
【0082】
ここで、図3(a)に示す第1の照明手段3の照明光の重み係数A(λ)設定時の分光強度分布と、図3(b)に示す第1の照明手段3の照明光の試料測定時の分光強度分布とにおいて、可視域部分の各波長の強度を紫外域部分の積分値で相対化した値を相対紫外強度分布とし、この相対紫外強度分布の変化によってもたらされる蛍光分光放射輝度率Bf(λ)の変化に注目するものとする。そして、紫外域部分における相対的な分光強度分布の変化によってもたらされる蛍光分光放射輝度率Bf(λ)の変化は、無視するものとする。
【0083】
この場合には、上記数8に示される蛍光の分光強度分布
【0084】
【数21】
∫UVI(μ)・F(μ,λ)dμ
は、照明光の紫外域での積分値∫UVI(μ)・dμ=Eと、一定の蛍光分光強度分布F(λ)との積として表わすことができる。
【0085】
図3(a)、(b)に示すように、重み係数A(λ)設定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布をI01(λ)とし、試料測定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布をI1(λ)とし、重み係数A(λ)設定時の紫外域の積分値をE0とし、試料測定時の紫外域の積分値をEとする。
【0086】
このとき、重み係数A(λ)設定時に同一試料を測定したときの第1の全分光放射輝度率Bt01(λ)は、その可視域部分について、下記数22で表わされ、試料測定時の第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)は、その可視域部分について、下記数23で表わされる。
【0087】
【数22】
Bt01(λ)
=Br(λ)+Bf0(λ)
=Br(λ)+E0・F(λ)/L01(λ)
=Br(λ)+E0・F(λ)/{c(λ)・I01(λ)}
【0088】
【数23】
Bt1(λ)
=Br(λ)+Bf(λ)
=Br(λ)+E・F(λ)/L1(λ)
=Br(λ)+E・F(λ)/{c(λ)・I1(λ)}
ここで、c(λ)は、基準化された照明光L01(λ),L1(λ)を
【0089】
【数24】
L01(λ)=c(λ)・I01(λ)
L1(λ)=c(λ)・I1(λ)
で与える定数である。
【0090】
一方、紫外域を含まない照明光を出力する第2の照明手段4による重み係数A(λ)設定時の第2の全分光放射輝度率Bt02(λ)と、試料測定時の第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)とは、蛍光分光放射輝度率Bf(λ)を含まないので、照明光の分光強度分布に依存せず、
【0091】
【数25】
Bt02(λ)=Bt2(λ)=Br(λ)
となる。
【0092】
上記数22、数23の左右両辺をそれぞれ減算すると、
【0093】
【数26】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+F(λ)/c(λ)・{E0/I01(λ)−E/I1(λ)}
が得られる。
【0094】
ここで、下記数27に示すように、重み係数設定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布I01(λ)を紫外域部分の積分値E0で相対化した相対紫外強度分布k0(λ)と、試料測定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布I1(λ)を紫外域部分の積分値Eで相対化した相対紫外強度分布k(λ)とを導入する。
【0095】
【数27】
k0(λ)=I01(λ)/E0
k(λ)=I1(λ)/E
上記数27を上記数26に代入すると、
【0096】
【数28】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+F(λ)/c(λ)・{1/k0(λ)−1/k(λ)}
また、上記数25、数27を上記数23に代入すると、
【0097】
【数29】
F(λ)
={Bt1(λ)−Bt2(λ)}・c(λ)・I1(λ)/E
={Bt1(λ)−Bt2(λ)}・c(λ)・k(λ)
が得られる。上記数29を上記数28に代入すると、
【0098】
【数30】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+{Bt1(λ)−Bt2(λ)}・{k(λ)/k0(λ)−1}
が得られる。
【0099】
このように、重み係数設定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布I01(λ)を紫外域部分の積分値E0で相対化した相対紫外強度分布k0(λ)と、試料測定時の第1の照明手段3の照明光の分光強度分布I1(λ)を紫外域部分の積分値Eで相対化した相対紫外強度分布k(λ)とを導入し、比k(λ)/k0(λ)を導入することによって、試料測定時の第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)を用いて、重み係数A(λ)設定時の分光強度分布を有する照明光で同一試料を測定した場合の第1の全分光放射輝度率に近似する補正全分光放射輝度率Bt01(λ)を求めることができる。
【0100】
比k(λ)/k0(λ)は、重み係数A(λ)設定時の相対紫外強度分布k0(λ)から、試料測定時の相対紫外強度分布k(λ)への変化率に相当するので、相対紫外強度分布k0(λ),k(λ)の各絶対値が高精度である必要はない。
【0101】
また、第1の照明手段3の照明光の分光強度分布I01(λ),I1(λ)に代えて、図4に示すように、第1の照明手段3の照明光の参照光62の分光強度分布R01(λ),R1(λ)を用いても、同様に、参照光62の分光強度分布R01(λ),R1(λ)の各絶対値が高精度である必要はなく、参照光62の分光強度分布R01(λ),R1(λ)を用いることによって比k(λ)/k0(λ)の誤差が増大することはない。
【0102】
次に、図1、図4を参照しながら、図5にしたがって、測定対象である蛍光試料1の全分光放射輝度率Bt(λ)を求める手順について説明する。図5は同手順を示すフローチャートである。まず、図2の#140でRAM82に記憶された第1の照明手段3の照明光に近似する参照光62の分光強度分布R01(λ)の可視域部分を紫外域部分の積算値で相対化した相対紫外強度分布k0(λ)が算出され、RAM82に記憶される(#200)。
【0103】
すなわち、まず、分光強度分布R01(λ)の紫外域部分(本実施形態では例えばλ<400nm)の積算値E0が求められる。本実施形態では、この積算値E0は、図4(a)に斜線で示す範囲を表わす
【0104】
【数31】
E0=R01(360)+R01(370)+R01(380)+R01(390)
によって求められる。そして、
【0105】
【数32】
k0(λ)=R01(λ)/E0(λ≧400nm)
によって可視域部分の相対紫外強度分布k0(λ)が求められ、RAM82に記憶される。
【0106】
続く#210〜#230は、#100〜#120と同様の手順で、非蛍光白色標準試料を用いて白色校正が行われ、分光強度分布の各データがRAM82に記憶される。
【0107】
次いで、測定対象である蛍光試料1が試料用開口21に配置され(#240)、測定制御手段84によりランプ31がパルス点灯され、蛍光試料1からの放射光11の分光強度分布S1(λ)が測定されるとともに、そのときの参照光62の分光強度分布R1(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#250)。
【0108】
次いで、測定制御手段84によりランプ41がパルス点灯され、同様に、蛍光試料1からの放射光11及びそのときの参照光62の分光強度分布S2(λ),R2(λ)が測定され、RAM82に記憶される(#260)。
【0109】
次いで、RAM82に記憶された分光強度分布の各データSw1(λ),Rw1(λ),Sw2(λ),Rw2(λ),S01(λ),R01(λ),S02(λ),R02(λ)と、ROM81に記憶されている既知の反射分光放射輝度率BrW(λ)とを用いて、演算手段85により、下記数33により第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)が算出される(#270)。
【0110】
【数33】
Bt1(λ)=BrW(λ)・{S1(λ)/R1(λ)}/{Sw1(λ)/Rw1(λ)}
Bt2(λ)=BrW(λ)・{S2(λ)/R2(λ)}/{Sw2(λ)/Rw2(λ)}
次いで、#250でRAM82に記憶された第1の照明手段3の照明光に近似する参照光62の分光強度分布R1(λ)の可視域部分を紫外域部分の積算値で相対化した相対紫外強度分布k(λ)が算出され、RAM82に記憶される(#280)。
【0111】
すなわち、まず、分光強度分布R1(λ)の紫外域部分(本実施形態では例えばλ<400nm)の積算値Eが求められる。本実施形態では、この積算値Eは、図4(b)に斜線で示す範囲を表わす
【0112】
【数34】
E=R1(360)+R1(370)+R1(380)+R1(390)
によって求められる。そして、
【0113】
【数35】
k(λ)=R1(λ)/E(λ≧400nm)
によって可視域部分の相対紫外強度分布k(λ)が求められ、RAM82に記憶される。
【0114】
次いで、演算手段85により、上記数30にしたがって、第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)を補正した補正全分光放射輝度率Bt01(λ)が算出され、RAM82に記憶される(#290)。
【0115】
すなわち、相対紫外強度分布k0(λ),k(λ)の比k(λ)/k0(λ)と、#270で求められた第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)とから、重み係数A(λ)設定時の第1の照明手段3の照明光で、同一の蛍光試料1を測定した場合の第1の全分光放射輝度率に近似する補正全分光放射輝度率Bt01(λ)が求められ、RAM82に記憶される。
【0116】
次いで、下記数36にしたがって、補正全分光放射輝度率Bt01(λ)と、第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)とをRAM82に記憶されている重み係数A(λ)により重み付けして線形結合した合成全分光放射輝度率Bt(λ)が、蛍光試料1の全分光放射輝度率として求められる(#300)。
【0117】
【数36】
Bt(λ)
=A(λ)・Bt01(λ)+{1−A(λ)}・Bt2(λ)
このように、第1実施形態によれば、重み係数設定時及び試料測定時の第1の照明手段3の照明光の相対紫外強度分布k0(λ),k(λ)の比k(λ)/k0(λ)を導入することにより、第1の全分光放射輝度率Bt1(λ)を、重み係数A(λ)設定時の第1の照明手段3の照明光で、同一の蛍光試料を測定した場合の第1の全分光放射輝度率に近似する補正全分光放射輝度率Bt01(λ)に補正することができる。
【0118】
従って、第1の照明手段3の照明光の相対紫外強度が、重み係数設定時から試料測定時に変化することに起因する誤差を大幅に低減することができ、これによって、測定精度を向上することができる。
【0119】
その結果、重み係数A(λ)の設定、すなわち相対紫外強度の校正を行う頻度を低減でき、これによって装置の使い勝手を向上することができる。さらに、重み係数A(λ)の設定に用いた標準蛍光試料13と大きく異なる全分光放射輝度率Bt(λ)を持つ蛍光試料についても、積分球効果による照明光の変化に起因する誤差を低減することができる。
【0120】
また、全分光放射輝度率BtS(λ)が既知の標準蛍光試料13を用いることによって、紫外域の相対強度の校正を精度良く行うことができる。
【0121】
また、上記数33に示すように、第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)は、それぞれ標準蛍光試料13からの放射光及びその時の参照光の比を要素として有しているので、ランプ31,41の分光強度分布の相対的な変動による影響を除去することができ、これによって、重み係数A(λ)を精度良く求めることができる。
【0122】
また、装置に機械的な可動部分がないので、一旦、標準蛍光試料13を用いて重み係数A(λ)を求めて、重み係数A(λ)及びそのときの第1の照明手段3の参照光62の分光強度分布R01(λ)をRAM82に記憶しておくことにより、その標準蛍光試料13と同様の特性を有する蛍光試料1については、極めて短時間で測定を行うことができる。
【0123】
また、測定対象の蛍光試料1が標準蛍光試料13と同一又は類似の特性を有する場合、例えば蛍光試料1が標準蛍光試料13と同一又は類似の蛍光染料又は顔料を含む場合に、全分光放射輝度率Bt(λ)が特定の測色用の光で照明したときの全分光放射輝度率にほぼ一致しているため、この全分光放射輝度率Bt(λ)から算出される全ての色彩値は、特定の測色用の光(本実施形態では、例えば標準の光D65)で照明したときの色彩値に一致させることができる。
【0124】
ところで、反射分光放射輝度率Br(λ)は、照明光の分光強度分布に依存していない。一方、蛍光分光放射輝度率Bf(λ)は、照明光の分光強度分布、特に紫外域での照明光の光強度に依存しており、その光強度が第1の照明手段3と第2の照明手段4とで異なっている。
【0125】
従って、波長に依存する重み係数A(λ)を用いた補正全分光放射輝度率Bt01(λ)と第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)との線形結合は、蛍光が存在する可視域の波長λにおける蛍光分光放射輝度率Bf(λ)の反射分光放射輝度率Br(λ)に対する相対強度を、照明光のこの波長での強度に対する紫外域強度を調整することで、波長毎に調整することを意味することとなる。
【0126】
これは、上記図9を用いて説明した紫外カットフィルタの挿入度合いによる紫外域の相対強度の調整を可視域の波長毎に行うことと等価で、この場合には上記数10は下記数37となる。
【0127】
【数37】
Bf(λ)=∫UVP(λ)・I(μ)E(μ,λ)dμ/L(λ)
但し、P(λ)は可視域の観察波長λに依存する紫外強度の減衰度である。
【0128】
図6は第1の照明手段3による補正全分光放射輝度率Bt01(λ)と、第2の照明手段4による第2の全分光放射輝度率Bt2(λ)とを重み係数A(λ)により重み付けして線形結合することで等価的に合成される照明光を示すが、簡単のため、ここでは重み係数A(λ)を波長に依らない一定値としている。(a)は第1の照明手段3の分光強度分布I1(λ)を示し、(b)は第2の照明手段4の分光強度分布I2(λ)を示している。
【0129】
また、(c)は重み係数A(λ)=A1<1による、合成照明光の分光強度分布A1・I1(λ)+(1−A1)・I2(λ)を示している。
また、(d)は重み係数A(λ)=A2>1による、合成照明光の分光強度分布A2・I1(λ)+(1−A2)・I2(λ)を示している。
また、(e)は重み係数A(λ)=A3<A1<1による、合成照明光の分光強度分布A3・I1(λ)+(1−A3)・I2(λ)を示している。
【0130】
本実施形態では、ある波長λ2には重み係数A(λ2)=A2を用いて、合成照明光のλ2での分光強度A(λ2)・I1(λ)+{1−A(λ2)}・I2(λ)を得、別の波長λ3には重み係数A(λ3)=A3を用いて、合成照明光のλ3での分光強度A(λ3)・I1(λ)+{1−A(λ3)}・I2(λ)を得るというように、波長毎に適切に重み係数A(λ)を設定して、目標とする全分光放射輝度率を与える照明光の分光強度分布を合成する。
【0131】
なお、SUVは波長400nm以下の分光強度分布の面積で、全紫外域の分光強度分布を表している。
【0132】
図7(a)〜(d)はそれぞれ図6の(a)〜(d)における全分光放射輝度率Bt(λ)を示す図で、(a)は第1の照明手段3で試料を照明したときの補正全分光放射輝度率Bt01(λ)、(b)は第2の照明手段4で試料を照明したときの全分光放射輝度率Bt2(λ)である。
【0133】
また、(c)は図6(c)の重み係数A(λ)=A1を図6(a)の全分光放射輝度率Bt01(λ)及び図6(b)の全分光放射輝度率Bt2(λ)に適用して上記数36により求められた合成全分光放射輝度率Bt(λ)を示している。
【0134】
また、(d)は図6(d)の重み係数A(λ)=A2を図6(a)の全分光放射輝度率Bt01(λ)及び図6(b)の全分光放射輝度率Bt2(λ)に適用して上記数36により求められた合成全分光放射輝度率Bt(λ)を示している。
【0135】
なお、実際には合成照明光が求められることはなく、合成全分光放射輝度率が求められる。
【0136】
図6において、合成照明光の可視域の波長λでの分光強度分布I(λ)に対する全紫外域の分光強度の積分値A1・SuvおよびA2・Suvの比A1・Suv/I(λ)およびA2・Suv/I(λ)を、図6(a)に示す第1の照明手段3の分光強度分布I1(λ)における比Suv/I1(λ)と比較すると、図6(c)では、{A1・Suv/I(λ)}<{Suv/I1(λ)}となっており、図6(d)では、{A2・Suv/I(λ)}>{Suv/I1(λ)}となっている。
【0137】
このように、第1実施形態によれば、第1、第2の照明手段3,4及び重み係数A(λ)を用いることによって、可視域の波長λの分光強度分布に対する紫外域全体の分光強度の比を任意の値に調整した合成照明光を構成することができる。
【0138】
図8は本発明に係る蛍光試料の分光特性測定装置の第2実施形態の構成図である。第2実施形態は、第1実施形態の第1、第2の照明手段3,4に代えて、単一の照明手段9を備えている。照明手段9は、ランプ91、発光回路92、遮断フィルタ93及びその駆動部94からなる。
【0139】
ランプ91は、例えばクセノンランプのような十分な紫外強度を有する光束を出力するものからなり、積分球2の光源用開口25に配置されている。発光回路92は、ランプ91を駆動してパルス点灯させるもので、パルス状の光束95が光源用開口25を通って積分球2内に入射するようになっている。
【0140】
遮断フィルタ93は、所定の遮断波長λC1(本実施形態では例えばλC1=400nm)より長い波長域の光束のみを透過するもので、光束95の光路上に挿入された挿入位置と、この光路から退避した退避位置との間で移動可能に配設されている。駆動部94は、遮断フィルタ93を挿入位置と退避位置との間で移動させるもので、CPU83に接続されている。
【0141】
そして、遮断フィルタ93が退避位置にあるときは紫外域を含む光束95が積分球2内に入射することにより、第1実施形態における第1の照明手段3と同一機能を果たし、遮断フィルタ93が挿入位置にあるときは波長が400nm以下の紫外域が除去された光束95が積分球2内に入射することにより、第1実施形態における第2の照明手段4と同一機能を果たす。
【0142】
測定制御手段84は、駆動部94を制御して遮断フィルタ93を退避位置及び挿入位置に移動させ、各位置において発光回路92を制御してランプ91をパルス点灯させて、試料用分光手段5及び参照用分光手段6からの分光強度分布のデータをRAM82に記憶させるものである。
【0143】
そして、演算手段85により、紫外域を含む照明光及び紫外域を含まない照明光における全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)を求め、第1実施形態と同様に、紫外域を含む照明光における全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率Bt01(λ)を求めることによって、蛍光試料の全分光放射輝度率が算出される。
【0144】
このように、第2実施形態は、上記図9を用いて説明した従来の紫外カットフィルタの挿入度を調整する方式と同様の構造を備えている。従って、従来の構造を有する装置において、測定及び算出を第1実施形態で説明した手法に置き換えることのみによって、容易に、全分光放射輝度率などを精度良く求めることができる。
【0145】
また、第2実施形態では、第1実施形態の第1、第2照明手段3,4に代えて単一のランプ91を備える照明手段9により同一機能を果たせるように構成したので、積分球2に設ける光源用の開口数を第1実施形態に比べて低減できるため、積分球2の内部でより良好な拡散光を形成することができる。これによって、測定精度を向上することができる。また、第1実施形態に比べて積分球2の周囲の部材の点数を削減でき、より簡易な構成の分光特性測定装置を実現できる。
【0146】
なお、本発明は、重み係数を設定するとともに、重み係数設定時と同一の相対紫外強度を持つ照明光で試料を測定した場合の補正全分光放射輝度率Bt01(λ)を求めるものであり、その他は上記実施形態に限られず、例えば、以下の変形形態を採用することができる。
【0147】
(1)蛍光増白剤を含む繊維、紙などの白色蛍光試料の視覚的な特性は、しばしば、簡便にCIE白色度及び色みで表わされ、標準蛍光試料にもCIE白色度及び色みのみが与えられているものが多い。
【0148】
そこで、本変形形態では、測色用の光(例えば標準の光D65)で照明したときのCIE白色度WI及び色みTintが既知の標準蛍光試料13を用いる。そして、図1において、ROM81には、測色用の光(例えば標準の光D65)で照明したときの当該標準蛍光試料13の既知のCIE白色度WI及び色みTintが格納されている。
【0149】
CIE白色度と色みは、下記数38及び数39に基づいて、下記数40によって算出される。
【0150】
【数38】
X=∫x(λ)・Bt(λ)dλ
Y=∫y(λ)・Bt(λ)dλ
Z=∫z(λ)・Bt(λ)dλ
ここで、x(λ),y(λ),z(λ)はCIEの定義する標準観察者の等色関数、Bt(λ)は試料の全分光放射輝度率、X,Y,Zは試料の三刺激値である。
【0151】
【数39】
x=X/(X+Y+Z)
y=Y/(X+Y+Z)
xn=Xn/(Xn+Yn+Zn)
yn=Yn/(Xn+Yn+Zn)
ここで、Xn,Yn,Znは照明光の三刺激値、x,yは試料の色彩値、xn,ynは照明光の色彩値である。
【0152】
【数40】
WI=Y+800(xn−x)+1700(yn−y)
Tint=900(xn−x)−650(yn−y)
ここで、WIはCIE白色度、Tintは色みである。
【0153】
この場合には、重み係数A(λ)を下記数41に示すように定義し、上記数36によって求められる全分光放射輝度率Bt(λ)から算出されるCIE白色度及び色みが、標準蛍光試料13の既知の各値に一致又は近似するように定数a,bを定めることによって、重み係数A(λ)を算出することができる。
【0154】
【数41】
A(λ)=F(λ,a,b)
ここで、F(λ,a,b)は2つの定数a,bで定まる波長λの関数を表わしている。
【0155】
関数F(λ,a,b)としては、例えば下記数42に示すように単純な1次関数を用いることができる。
【0156】
【数42】
F(λ,a,b)=a・λ+b
このように単純な1次関数を用いることによって、重み係数A(λ)を簡易な演算で容易に求めることができる。
【0157】
なお、本変形形態は、標準蛍光試料の全分光放射輝度率Bt(λ)が測色用の光での既知の全分光放射輝度率BtS(λ)に一致するように重み係数A(λ)を求めたものではないので、全分光放射輝度率Bt(λ)から求められる他の色彩値、例えば、CIEの色彩値やL*a*b*の色彩値が精度良く求められるとは限らない。
【0158】
しかしながら、関数F(λ,a,b)として、第1、第2の照明手段3,4による照明光と、特定の測色用の光(例えば標準の光D65)の分光強度分布の相違に応じた適切な関数を用いることにより、全分光放射輝度率Bt(λ)を測色用の光での既知の全分光放射輝度率BtS(λ)に近づけることができる。従って、この場合には他の色彩値を精度良く求めることができる。
【0159】
(2)上記実施形態では、重み係数を波長に依存する重み係数A(λ)としているが、これに限られず、測色用の光(例えば標準の光D65)で照明したときの1つあるいは複数の指標値、例えばCIE白色度や色彩値が既知の標準蛍光試料を測定し、波長に依存しない重み係数αを求めるようにしてもよい。
【0160】
この場合には、上記数20に代えて、下記数43によって得られる全分光放射輝度率BtS(λ)から算出される上記指標値が上記既知の値に近づくように重み係数αを算出すればよい。
【0161】
【数43】
BtS(λ)
=α・BtS1(λ)+{1−α}・BtS2(λ)
この形態によれば、重み係数の算出の方式は、上記図9を用いて説明した従来のフィルタの挿入度による調整とほぼ同様であるが、従来の装置に比べて、可動部分がなく簡易な構成で、かつ調整に殆ど時間を要しない点で優れており、これによって測定の作業性を向上することができる。
【0162】
(3)本発明による相対紫外強度の調整は、重み係数によって数値的に行われるので、予め複数の測色用の光、例えば標準の光D65,A及び蛍光燈の光F11に対応する重み係数AD(λ),AA(λ),AF(λ)を算出して記憶しておくことによって、1回の測定で、上記の全ての測色用の光で照明したときの全分光放射輝度率や色彩値を算出することができる。これによって、1つの蛍光試料を複数の測色用の光によって評価することができる。
【0163】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項1の発明によれば、測定位置に配置された被測定蛍光試料を、紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明し、第1の放射光分光強度分布及び第1の参照光分光強度分布を測定して、蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、被測定蛍光試料を紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明し、第2の放射光分光強度分布及び第2の参照光分光強度分布を測定して、蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求め、予め所定の標準蛍光試料を測定位置に配置した状態で第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて求められた特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数と第1の標準参照光分光強度分布とを記憶しておき、下記数44に従って被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求めるようにしたので、重み係数を求めたときの相対紫外強度分布を持つ第1の照明手段の照明光で被測定蛍光試料が照明された場合の全分光放射輝度率を求めることができ、これによって光源の劣化や積分球効果に起因する重み係数設定時からの照明光の相対紫外強度の変化による測定誤差を低減することができ、測定精度を向上することができる。
【0164】
また、下記数45に従って被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求めるようにしたので、可動部分のない簡易な構成で、精度良く、かつ短時間で蛍光試料の全分光放射輝度率を求めることができる。
【0165】
【数44】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+{Bt1(λ)−Bt2(λ)}・{k(λ)/k0(λ)−1}
ここに、Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
【0166】
【数45】
Bt(λ)=α・Bt01(λ)+(1−α)・Bt2(λ)
ここに、 Bt(λ):上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
また、請求項2の発明によれば、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率が既知の標準蛍光試料における当該全分光放射輝度率を記憶しておき、標準蛍光試料を測定位置に配置した状態で第1の照明手段によって照明し、第1の標準参照光分光強度分布及び第1の標準放射光分光強度分布を測定して、標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、標準蛍光試料を第2の照明手段によって照明し、第2の標準参照光分光強度分布及び第2の標準放射光分光強度分布を測定して、標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求め、波長ごとに設定される重み係数を下記数46を満足するように求め、この求めた重み係数と、第1の標準参照光分光強度分布とを記憶手段に記憶することにより、標準蛍光試料に類似する蛍光染料又は蛍光顔料を含む蛍光試料については、この重み係数を用いて算出される全分光放射輝度率を、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの蛍光試料の全分光放射輝度率にほぼ一致させることができ、これによって高精度で測定を行うことができる。
【0167】
【数46】
BtS(λ)=A(λ)・BtS1(λ)+{1−A(λ)}・BtS2(λ)
ここに、 BtS(λ):上記標準蛍光試料の既知の全分光放射輝度率
A(λ):波長ごとに設定される上記重み係数α
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
また、請求項3の発明によれば、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率から算出される所定の指標値が既知の標準蛍光試料における当該指標値を記憶しておき、標準蛍光試料を測定位置に配置した状態で第1の照明手段によって照明し、第1の標準参照光分光強度分布及び第1の標準放射光分光強度分布を測定して、標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、標準蛍光試料を第2の照明手段によって照明し、第2の標準参照光分光強度分布及び第2の標準放射光分光強度分布を測定して、標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求め、下記数47で表わされる標準蛍光試料の全分光放射輝度率から算出される指標値が上記既知の値に一致するように重み係数を求め、この求めた重み係数と、第1の標準参照光分光強度分布とを記憶手段に記憶することにより、標準蛍光試料に類似する蛍光染料又は蛍光顔料を含む蛍光試料については、この重み係数を用いて算出される全分光放射輝度率から算出される指標値を、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの蛍光試料の全分光放射輝度率から算出される指標値にほぼ一致させることができ、これによって高精度で測定を行うことができる。
【0168】
【数47】
BtS(λ)=α・BtS1(λ)+(1−α)・BtS2(λ)
ここに、 α:上記重み係数
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
また、請求項4の発明によれば、上記第2の照明手段が可視光の最短波長より長波長の光束を出力するものとすることにより、紫外域の波長域を含まない光束が出力され、第1、第2の照明手段及び重み係数によって紫外域の相対強度を等価的に調整することができる。
【0169】
また、請求項5の発明によれば、測定位置に配置された被測定蛍光試料を紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、上記被測定蛍光試料を紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求め、予め所定の標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数を求めたときの上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて、下記数48に従って被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求めるようにしたので、重み係数を求めたときの相対紫外強度分布を持つ第1の照明手段の照明光で被測定蛍光試料が照明された場合の全分光放射輝度率に近似した全分光放射輝度率を求めることができ、これによって光源の劣化や積分球効果に起因する重み係数設定時からの照明光の相対紫外強度の変化による測定誤差を低減することができ、測定精度を向上することができる。
【0170】
また、下記数49に従って被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求めるようにしたので、可動部分のない簡易な構成で、精度良く、かつ短時間で蛍光試料の全分光放射輝度率を求めることができる。
【0171】
【数48】
Bt01(λ)
=Bt1(λ)+{Bt1(λ)−Bt2(λ)}・{k(λ)/k0(λ)−1}
ここに、Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
【0172】
【数49】
Bt(λ)=α・Bt01(λ)+(1−α)・Bt2(λ)
ここに、 Bt(λ):上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る蛍光試料の分光特性測定装置の第1実施形態の構成図である。
【図2】 重み係数を求める手順を示すフローチャートである。
【図3】 (a)(b)は第1の照明手段の照明光の分光強度分布を示す図で、(a)は重み係数設定時の分光強度分布を示し、(b)は試料測定時の分光強度分布を示している。(c)(d)は第2の照明手段の照明光の分光強度分布を示す図で、(c)は重み係数設定時の分光強度分布を示し、(d)は試料測定時の分光強度分布を示している。
【図4】 第1の照明手段の照明光に近似する参照光の分光強度分布を示す図で、(a)は重み係数設定時の参照光の分光強度分布を示し、(b)は試料測定時の参照光の分光強度分布を示している。
【図5】 測定対象である蛍光試料の全分光放射輝度率を求める手順を示すフローチャートである。
【図6】 (a)〜(e)は第1、第2の照明手段による第1、第2の全分光放射輝度率Bt1(λ),Bt2(λ)を重み係数A(λ)により重み付けして線形結合することで等価的に合成される照明光を示す図である。
【図7】 (a)〜(d)はそれぞれ図6の(a)〜(d)における全分光放射輝度率Bt(λ)を示す図である。
【図8】 本発明に係る蛍光試料の分光特性測定装置の第2実施形態の構成図である。
【図9】 従来の蛍光試料の分光特性測定装置の構成図である。
【図10】 従来の蛍光試料の分光特性測定装置の構成図である。
【符号の説明】
1 蛍光試料
2 積分球
3 第1の照明手段
31 ランプ
32 発光回路
4 第2の照明手段
41 ランプ
42 発光回路
43 遮断フィルタ
5 試料用分光手段
6 参照用分光手段
61 参照用光ファイバ
62 参照光
7 表示部
8 制御部
81 ROM
82 RAM
83 CPU
84 測定制御手段
85 演算手段
9 照明手段
91 ランプ
92 発光回路
93 遮断フィルタ
94 駆動部
Claims (5)
- 紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段と、
紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段と、
測定位置に配置された試料を上記第1、第2の照明手段によって照明したときの当該試料からの放射光の分光強度分布を測定する試料用分光手段と、
上記測定位置に配置された試料を上記第1、第2の照明手段によって照明したときの照明光に近似する参照光の分光強度分布を測定する参照用分光手段と、
予め所定の標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて求められた特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数を記憶するとともに、上記第1の標準参照光分光強度分布を記憶する記憶手段と、
被測定蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該被測定蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の測定放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記被測定蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の測定放射光分光強度分布を測定する測定制御手段と、
上記第1の測定放射光分光強度分布及び上記第1の測定参照光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の測定放射光分光強度分布及び上記第2の測定参照光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求める第1の演算手段と、
下記数1に従って上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求める第2の演算手段と、
下記数2に従って上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求める第3の演算手段とを備えたことを特徴とする蛍光試料の分光特性測定装置。
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率 - 請求項1記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、さらに、上記重み係数を求める第4の演算手段と、求めた上記重み係数を上記記憶手段に記憶させる記憶制御手段とを備え、
上記記憶手段は、さらに、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率が既知の標準蛍光試料における当該全分光放射輝度率を記憶するもので、
上記測定制御手段は、さらに、上記標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の標準放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の標準放射光分光強度分布を測定するもので、
上記第1の演算手段は、さらに、上記第1の標準放射光分光強度分布及び上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の標準放射光分光強度分布及び上記第2の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求めるもので、
上記第4の演算手段は、波長ごとに設定される上記重み係数を下記数3を満足するように求めるもので、
上記記憶制御手段は、さらに、上記第1の標準参照光分光強度分布を上記記憶手段に記憶させるものであることを特徴とする蛍光試料の分光特性測定装置。
A(λ):波長ごとに設定される上記重み係数α
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率 - 請求項1記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、さらに、上記重み係数を求める第5の演算手段と、求めた上記重み係数を上記記憶手段に記憶させる記憶制御手段とを備え、
上記記憶手段は、さらに、特定の相対紫外強度を有する照明光で照明したときの全分光放射輝度率から算出される所定の指標値が既知の標準蛍光試料における当該指標値を記憶するもので、
上記測定制御手段は、さらに、上記標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の標準放射光分光強度分布を測定し、また上記第2の照明手段によって上記標準蛍光試料を照明し、そのときの照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の標準放射光分光強度分布を測定するもので、上記第1の演算手段は、さらに、上記第1の標準放射光分光強度分布及び上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求め、また上記第2の標準放射光分光強度分布及び上記第2の標準参照光分光強度分布を用いて上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求めるもので、上記第5の演算手段は、下記数4で表わされる上記標準蛍光試料の全分光放射輝度率から算出される上記指標値が上記既知の値に一致するように上記重み係数を求めるもので、
上記記憶制御手段は、さらに、上記第1の標準参照光分光強度分布を上記記憶手段に記憶させるものであることを特徴とする蛍光試料の分光特性測定装置。
BtS1(λ):上記標準蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
BtS2(λ):上記標準蛍光試料の第2の全分光放射輝度率 - 請求項1〜3のいずれかに記載の蛍光試料の分光特性測定装置において、上記第2の照明手段は、可視光の最短波長より長波長の光束を出力するものであることを特徴とする蛍光試料の分光特性測定装置。
- 測定位置に配置された被測定蛍光試料を紫外域を含む波長域の光束を出力する第1の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を求める第1の工程と、
上記被測定蛍光試料を紫外域よりも長波長の光束を出力する第2の照明手段によって照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第2の測定参照光分光強度分布及び上記被測定蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第2の測定放射光分光強度分布を用いて上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率を求める第2の工程と、
予め所定の標準蛍光試料を上記測定位置に配置した状態で上記第1、第2の照明手段によって当該標準蛍光試料を照明したときの、照明光に近似する参照光の分光強度分布である第1、第2の標準参照光分光強度分布及び上記標準蛍光試料からの放射光の分光強度分布である第1、第2の標準放射光分光強度分布を用いて特定の紫外強度を有する照明光による全分光放射輝度率を合成するための重み係数を求めたときの上記第1の標準参照光分光強度分布を用いて、下記数5に従って上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率を補正した補正全分光放射輝度率を求める第3の工程と、
予め求められた上記重み係数を用いて、下記数6に従って上記被測定蛍光試料の全分光放射輝度率を求める第4の工程とを備えたことを特徴とする蛍光試料の分光特性測定方法。
Bt1(λ):上記被測定蛍光試料の第1の全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
k(λ):上記第1の測定参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
k0(λ):上記第1の標準参照光分光強度分布の可視域部分を紫外域部分の積分値で相対化した相対紫外強度分布
α:上記重み係数
Bt01(λ):上記被測定蛍光試料の補正全分光放射輝度率
Bt2(λ):上記被測定蛍光試料の第2の全分光放射輝度率
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03181599A JP4061765B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 |
US09/500,481 US6535278B1 (en) | 1999-02-09 | 2000-02-09 | Apparatus and method for measuring spectral property of fluorescent sample |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03181599A JP4061765B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000230861A JP2000230861A (ja) | 2000-08-22 |
JP4061765B2 true JP4061765B2 (ja) | 2008-03-19 |
Family
ID=12341601
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03181599A Expired - Lifetime JP4061765B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6535278B1 (ja) |
JP (1) | JP4061765B2 (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6583424B2 (en) * | 2001-06-25 | 2003-06-24 | Agilent Technologies Inc. | Scanning system with calibrated detection and method |
JP3925301B2 (ja) * | 2001-07-12 | 2007-06-06 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 分光特性測定装置および同装置の分光感度の波長シフト補正方法 |
JP2003315153A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Minolta Co Ltd | 測色装置 |
GB2389176C (en) * | 2002-05-27 | 2011-07-27 | Kidde Ip Holdings Ltd | Smoke detector |
KR100571825B1 (ko) * | 2003-11-28 | 2006-04-17 | 삼성전자주식회사 | 가변형 스펙트럼의 분해능 향상을 위한 분광 성분 분석방법 및 그 장치 |
US7304724B2 (en) * | 2004-04-13 | 2007-12-04 | The Regents Of The University Of California | Method and apparatus for quantification of optical properties of superficial volumes |
JP2008145225A (ja) * | 2006-12-08 | 2008-06-26 | Konica Minolta Sensing Inc | 光学特性測定方法及び光学特性測定装置 |
JP2009008509A (ja) * | 2007-06-27 | 2009-01-15 | Shinshu Univ | 発光量子効率測定装置 |
JP5239442B2 (ja) * | 2008-03-25 | 2013-07-17 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | 蛍光試料の光学特性測定方法および装置 |
US7889987B2 (en) * | 2009-01-15 | 2011-02-15 | Sony Ericsson Mobile Communications Ab | Camera auto UV filter mode |
US8401809B2 (en) | 2010-07-12 | 2013-03-19 | Honeywell International Inc. | System and method for adjusting an on-line appearance sensor system |
JP5609377B2 (ja) * | 2010-07-27 | 2014-10-22 | コニカミノルタ株式会社 | 測定装置 |
JP5643571B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-12-17 | キヤノン株式会社 | 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 |
JP5652188B2 (ja) * | 2010-12-15 | 2015-01-14 | ソニー株式会社 | 表示装置 |
JP5696463B2 (ja) * | 2010-12-15 | 2015-04-08 | ソニー株式会社 | 表示装置及び表示装置の駆動方法 |
JP5625864B2 (ja) * | 2010-12-15 | 2014-11-19 | ソニー株式会社 | 表示装置及び表示装置の駆動方法 |
JP5759232B2 (ja) * | 2011-04-04 | 2015-08-05 | キヤノン株式会社 | 測定装置 |
US8760645B2 (en) | 2011-05-24 | 2014-06-24 | Idexx Laboratories Inc. | Method of normalizing a fluorescence analyzer |
JP6080410B2 (ja) * | 2012-07-13 | 2017-02-15 | キヤノン株式会社 | 分光測色装置 |
US9291564B2 (en) | 2013-04-05 | 2016-03-22 | Datacolor Holding Ag | Method and apparatus for aligning measured spectral radiance factors among different instruments |
US10330530B2 (en) * | 2015-03-24 | 2019-06-25 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Reference light source device used for calibration of spectral luminance meter and calibration method using same |
EP3605066A4 (en) * | 2017-03-21 | 2020-03-18 | Konica Minolta, Inc. | METHOD FOR MEASURING SPECTRAL RADIATION CHARACTERISTICS OF A FLUORESCENT BLANCHED SAMPLE AND DEVICE FOR MEASURING SPECTRAL RADIATION CHARACTERISTICS OF A FLUORESCENCE BLANCHED SAMPLE |
EP3774166A4 (en) * | 2018-06-05 | 2022-01-19 | Electro Scientific Industries, Inc. | LASER PROCESSING DEVICE, METHOD OF OPERATION THEREOF AND METHOD OF PROCESSING WORKPIECES USING SAME |
CN111983831A (zh) * | 2020-08-07 | 2020-11-24 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 一种液晶面板反射率检测装置和检测方法 |
CN114252157A (zh) * | 2021-12-09 | 2022-03-29 | 杭州彩谱科技有限公司 | 一种改善荧光颜色测量台间差的分光测色仪及方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3346095B2 (ja) | 1995-05-17 | 2002-11-18 | ミノルタ株式会社 | 分光光度計 |
-
1999
- 1999-02-09 JP JP03181599A patent/JP4061765B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-02-09 US US09/500,481 patent/US6535278B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6535278B1 (en) | 2003-03-18 |
JP2000230861A (ja) | 2000-08-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4061765B2 (ja) | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 | |
US6020959A (en) | Apparatus and method for measuring spectral characteristics of fluorescent sample | |
JP3346095B2 (ja) | 分光光度計 | |
JP4660691B2 (ja) | 蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置 | |
JP3925301B2 (ja) | 分光特性測定装置および同装置の分光感度の波長シフト補正方法 | |
JP5239442B2 (ja) | 蛍光試料の光学特性測定方法および装置 | |
US7675620B2 (en) | Optical property measuring method and optical property measuring apparatus | |
US7466417B2 (en) | Process for the colour measurement of printed samples including brighteners | |
FI94177B (fi) | Väri-ilmaisin näytteen fluoresenssin tai fluoresoivan näytteen havaitsemiseksi | |
JP3555400B2 (ja) | 反射特性測定装置 | |
KR970011803A (ko) | 스펙트럼식 반사측정 및 투과측정을 위한 방법 및 장치 | |
JP2001050817A (ja) | マルチアングル測色計 | |
EP2301412A1 (en) | Endoscope apparatus and illumination control method of endoscope apparatus | |
CA2633253A1 (en) | Apparatus and method for illuminator-independent color measurements | |
JP2006300632A (ja) | 蛍光分光光度計における励起スペクトル補正方法 | |
JPH0961243A (ja) | 反射特性測定装置 | |
JPH11241949A (ja) | 反射特性測定装置 | |
US6597439B1 (en) | Method and apparatus for measurement of light from illuminated specimen eliminating influence of background light | |
CN114252157A (zh) | 一种改善荧光颜色测量台间差的分光测色仪及方法 | |
Vik et al. | Influence of SPD on Whiteness value of FWA treated samples | |
WO2018173680A1 (ja) | 蛍光増白試料の分光放射特性の測定方法、および、蛍光増白試料の分光放射特性の測定装置 | |
WO2022220196A1 (ja) | 補正装置、測定器、補正方法及びプログラム | |
ITBZ970019A1 (it) | Sistema di rilevamenti densitometrici e spettrometrici. | |
CN112014069B (zh) | 一种成像测量装置 | |
Gärtner et al. | A device for measuring fluorescent white samples with constant UV excitation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20050615 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050922 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20051006 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20051006 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070301 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070403 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070601 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20071204 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20071217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110111 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120111 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130111 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |