JP4660691B2 - 蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置 - Google Patents

Description

本発明は、蛍光現象を伴う測定試料の分光特性を測定する蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置に関する。

近年、生産されている紙や繊維の多くは、蛍光増白剤によって蛍光増白されており、蛍光の影響を無視して白さ（白色度、ブライトネス）や色彩を評価することができないという事情から、蛍光の影響を配慮した当該紙や繊維に対する測色技術の向上が求められている。

一般的に、反射試料の視覚的な光学特性は、白色との相対比、すなわち或る照明・受光条件において照明、受光された該反射試料からの放射光の、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する波長λ毎の比である「全分光放射輝度率（Ｂ（λ））」で表される。

ところで、蛍光は自発光するので光源色であるが、上記蛍光増白された、つまり蛍光物質を含む試料（以降、蛍光試料という）では、蛍光は反射光に重畳されて物体色として観察される。すなわち、蛍光試料からの放射光は、該蛍光試料からの反射光（反射光成分）と蛍光（蛍光成分）との和として与えられることから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、上記と同様、或る照明・受光条件において照明、受光された蛍光試料からの反射光及び蛍光それぞれの、同一条件で照明、受光された完全拡散反射体からの放射光に対する比である反射分光放射輝度率Ｒ（λ）と蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）との和として与えられる。これは以下の式（１）で示される。
Ｂ（λ）＝Ｒ（λ）＋Ｆ（λ）…（１）

ただし、上記完全拡散反射体は蛍光を放射せず、その反射率は照明光の波長に依存しないので、比例定数を別にすれば、これら全分光放射輝度率Ｂ（λ）、反射分光放射輝度率Ｒ（λ）、及び蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、それぞれ波長λの放射光、反射光、及び蛍光の、同じ波長の照明光に対する比として表される。なお、当該測色の目的は目視に準じる測定値を得ることにあり、物体色として感じられる蛍光試料の場合、求められるべきは全分光放射輝度率Ｂ（λ）であり、このＢ（λ）から色彩値が導かれる。

測色用の照明光としては、ＣＩＥ（国際照明委員会）が分光分布（分光強度）を定義しているＤ６５（昼光）やＡ（白色光源）、或いはＤ５０、Ｄ７５、Ｆ１１、Ｃなどの標準照明光が用いられる（蛍光試料には通常、標準照明光Ｄ６５が用いられる）。照明光により照明された蛍光試料（蛍光物質）の励起・蛍光特性は、該蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの励起光（入射光）、すなわち単位エネルギーをもつ単波長光により励起される波長λの蛍光の強度を表すマトリクスデータ、二分光蛍光放射輝度率（Bispectral Luminescent Radiance Factor）Ｆ（μ，λ）によって記述される。

上記マトリクスデータは、例えば図８に示す３次元データであり、特定の蛍光波長λに沿った断面（例えばλ＝５５０ｎｍの断面）は、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率である分光励起効率を表し、励起波長μに沿った断面（例えばμ＝４５０ｎｍの断面）は、４５０ｎｍの照明光により励起される、蛍光の分光強度を表す。このことからも、蛍光現象は波長μから波長λへの波長変換を伴う現象であると言える。したがって、分光分布Ｉ（μ）を有する照明光Ｉで照明された、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を有する蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、比例定数を別にすれば、以下の式（２）により求められる。
Ｆ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２）
つまり、Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。また、Ｉ（λ）は、比例定数を別にすれば、前記完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。また、式中、「・」、「／」及び「∫」の記号は、それぞれ乗算、除算及び積分を示すものとする（以降も同様）。

上記式（２）が示すように、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）は、照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存するため、この蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）と、それ自身は照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）に依存しない反射分光放射輝度率Ｒ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂ（λ）も分光分布Ｉ（μ）に依存する。つまり、蛍光試料に対する照明光の違いによって、測定される全分光放射輝度率Ｂ（λ）及びこれから導かれる色彩値も異なるものとなる。

したがって、蛍光試料に対する光学特性の評価においては、照明光（以降、Ｆ（λ）やＢ（λ）等の光学特性の評価に用いる照明光のことを評価用照明光という）の分光分布を特定する必要があり、実際の測定では、測定装置の照明光の分光分布をこの特定の評価用照明光と一致させる必要がある。しかしながら、当該特定の評価用照明光に一致させること、すなわち評価用照明光として一般的に用いられる上記標準照明光（Ｄ６５やＣ等）と同じ分光分布の照明光を実現することは非常に困難である。

そこで、他の方法として、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）或いは二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）を求め、このＦ（μ，λ）あるいはＢ（μ，λ）と、数値的に与えた評価用照明光の分光分布Ｉ（λ）とから、上記式（２）を用いて、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に求める方法がある。ただし、この二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、上記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と同様、蛍光試料面を単位強度で照明する波長μの照明光による、波長λの蛍光と反射光との和として与えられる波長λの全放射光の強度を表すマトリクスデータであり、全分光放射輝度率Ｂ（λ）は、以下の式（２-１）に示すように照明光Ｉの分光分布Ｉ（μ）と二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）との畳み込み積分とＩ（λ）との比で与えられる。
Ｂ（λ）＝∫Ｂ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）…（２-１）

しかしながら、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）や二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）の測定は、照明、受光系の双方に分光手段を備え、大掛かりで測定時間のかかる二分光器法測定器（ダブルモノクロメーター）を必要とすることから実用的ではなく、例えば、代表的な蛍光試料である蛍光増白紙等の品質管理などには、専ら以下の２つの簡易手法が採られる。

＜Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法＞
例えば図１０の光学特性測定装置６００に示すように、蛍光試料６０１が積分球６０２の試料用開口６０３に配設される。キセノンランプなど紫外域（ＵＶ域）に十分な強度を有する光源６０４からの光束６０５は、光源用開口を通って積分球６０２内に入射される。この光束６０５中には紫外カットフィルタ６０６が所定長挿入される。光束６０５のうちの紫外カットフィルタ６０６を通過した部分は紫外成分が除去されるので、紫外カットフィルタ６０６の挿入の程度を調節することで、照明光の可視域に対する紫外域（励起域）強度の相対比（相対紫外強度）が調整される。紫外カットフィルタ６０６を透過した光束と透過しなかった光束とは、それぞれ積分球６０２の内部で拡散多重反射され、合成されて蛍光試料６０１を拡散照明する。そして、当該合成された照明光によって照明されることで得られる蛍光試料６０１からの試料放射光の所定方向の成分（放射光成分６０７）が、放射光分光部６０８に入射し、該放射光成分６０７の分光分布Ｓｘ（λ）が測定される。一方、照明光と略同じ分光分布を有する光束６０９が、参照用光ファイバ６１０に入射してさらにこの参照用光ファイバ６１０を経て照明光分光部６１１に入射し、該光束６０９の分光分布Ｍｘ（λ）が測定される。そして、これらＳｘ（λ）及びＭｘ（λ）の測定情報に基づいて演算制御部６１２により全分光放射輝度率Ｂｘ（λ）が求められる（例えば、特許文献１の図４参照）。

上記相対紫外強度の校正は、蛍光試料６０１に近似した励起・蛍光特性（二分光蛍光放射輝度率）を有し、評価用照明光で照明したときの色彩値（例えばＣＩＥの白色度ＷＩ）が既知である蛍光基準試料を用い、該蛍光基準試料を試料用開口６０３に配設してこれに対する全分光放射輝度率Ｂ（λ）を測定し、この全分光放射輝度率Ｂ（λ）から算出した白色度ＷＩが上記既知の白色度ＷＩｓと一致するように、紫外カットフィルタ６０６の挿入度を調節することで行われる。

しかしながら、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの方法は、機械的に複雑であり信頼性に問題があるだけでなく、上記白色度ＷＩが既知の白色度ＷＩｓと一致するまで、紫外カットフィルタ６０６の挿入度の調節と測定とを繰り返し行う煩雑な校正作業が必要となる。また、自由度が「１」であるため、白色度ＷＩや色度Ｔｉｎｔなどの２つ以上の色彩値を同時に校正したり、或いは全分光放射輝度率Ｂ（λ）そのものを既知の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と一致させるような校正を行うことは原理的に不可能である。

＜特許文献１の方法＞
上記Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法では、紫外カットフィルタ６０６の挿入度に応じて照明光を合成し、結果的に全分光放射輝度率Ｂ（λ）を合成するが、特許文献１の方法は、原理はＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法と同様であり、また自由度も「１」であるものの、まず全分光放射輝度率Ｂ（λ）を数値的に合成し、結果的にこれを与える照明光を合成するという点で異なる。具体的に説明すると、例えば図１１の光学特性測定装置７００に示すように、積分球７０２に、紫外強度をもつ光束７０３を出力する第1照明部７０４、紫外強度をもたない光束７０５を出力する第２照明部７０６、試料用開口７０７に配設された蛍光試料７０１からの放射光（放射光成分７０８）の分光分布を測定する放射光分光部７０９、そのときの照明光の光束７１０の分光分布を光ファイバ７１１を介して測定する照明光分光部７１２、及び演算制御部７１３を備える。そして、蛍光試料７０１を第１及び第２照明部７０４、７０６で照明して、該試料からの放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と、そのときの照明光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とを測定し、これらＳｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから蛍光試料７０１に対する第１及び第２照明部７０４、７０６での全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。そして、この全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）及びＢｘ２（λ）を、以下の式（３）に示すように、予め波長毎に設定して記憶しておいた重み係数Ｗ（λ）（以降、重み係数のことを「重み」と表現する）を用いて線形結合することで合成分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）を求め、このＢｘｃ（λ）を、評価用照明光で照明された蛍光試料７０１の全分光放射輝度率とする。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（３）

但し、上記重みＷ（λ）は、蛍光試料７０１に近似した励起・蛍光特性を有し、評価用照明光で照明された場合の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）が既知である蛍光基準試料を用いて設定される。すなわち、重みＷ（λ）は、蛍光基準試料を第１及び第２照明部７０４、７０６により照明して測定した分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を該重みＷ（λ）により線形結合させて得られるＷ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）の値が、上記既知の全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように、波長毎に数値的に求められる（例えば、特許文献１の図１参照）。

この方法は、上述のＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法による相対紫外強度の校正を、全分光放射輝度率Ｂ（λ）をパラメータとして波長毎に数値的に行うことに相当する。したがって、全分光放射輝度率Ｂ（λ）について校正されるので、これから算出される全ての色彩値に対しても校正がなされるという特徴がある。また、測定に際しての機械的可動部や、煩雑な紫外カットフィルタ挿入度の調節作業が不要になるなど、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法の多くの欠点を解決するが、蛍光基準試料を必要とすることには変わりがなく、蛍光基準試料を用いた相対紫外強度の校正後に、蛍光試料に対する測定を行うので、校正時と測定時との照明光に分光分布の差があると測定誤差が生じてしまうといった問題は依然として存在する。

ところで、印刷用紙が蛍光増白されていると、該印刷用紙（蛍光増白基材）上の印刷色は蛍光の影響を免れない。印刷用紙におけるインクで覆われた部分は、インクの分光透過率に応じた励起光しか蛍光増白紙に到達しないので、測定域の分光的な励起・蛍光特性（分光励起効率及び分光蛍光強度）は、印刷用紙の励起・蛍光特性だけでなく、インクの分光透過特性及び測定域内のインク付着部分の面積率（面積比率）に依存する。また、1種類以上のインクで印刷する場合は、印刷用紙は各インク及びこれら各インク同士の重なりで覆われることになるので、測定域の分光的な励起・蛍光特性は、当該各インク及びこれらの重なり部分の分光透過特性と面積率つまり印刷色とに依存する。

透過特性に波長依存性がないインクは、インクを透過した照明光の相対的な分光分布を変えないため、上記特許文献１の方法で合成された照明光の分光積分励起効率と評価用照明光の分光積分励起効率とに対して同じ影響を及ぼす。したがって、印刷面の当該合成照明光による全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）は、印刷されていない面とは異なるものの、評価用照明光による全分光放射輝度率と同じであり、評価用照明光で照明されたときの印刷面の全分光放射輝度率とすることができる。ここで、分光積分励起効率Ｅ（λ）は、照明光が、全体として蛍光の各波長成分にもたらす励起効率であり、照明光の分光分布をＩ（μ）とすると、以下、式（４）で表される。
Ｅ（λ）＝∫Ｑ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ …（４）
但し、Ｑ（μ，λ）は、二分光励起効率、すなわち波長μ、波長幅ｄμの単位強度の励起光成分の、蛍光の波長λの成分に対する励起効率を示す。
特開平８−３１３３４９号公報

上述したように、特許文献１の方法やＧａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの測定方法といった簡易法であっても蛍光基準試料は必要とされるが、この蛍光基準試料は、被測定試料に近似の励起・蛍光特性を有する必要性から、紙や繊維などの試料と同じ材質で、同じ蛍光増白剤が用いられるため、経時変化が避けられず、頻繁な更新或いは経時変化に対する管理等が必要となる。また、測定装置における照明光の分光分布の変化（長期又は短期での変化）に起因する誤差を避けることができず、その経時変化の影響を抑えるべく頻繁な校正作業が必要となる。これらのことから、当該測定に際して蛍光基準試料を用いることなく、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることが求められる。

また、上述の印刷色の測定に関しても、透過特性に波長依存性がない（吸収特性が波長に依存しない）インクはＫ（黒）インクくらいであり、波長依存性を有する一般的なＹＭＣインクを用いたカラー印刷に対しては、上記方法ではＹＭＣインク等に対する蛍光の影響を考慮した測色を行うことができない。したがって、蛍光増白基材上の印刷色に対する蛍光の影響を考慮した、つまり各インクの分光透過率や面積率などを考慮した測色が求められ、さらに、その場合にも蛍光基準試料や煩雑な校正作業を不要とすることが求められる。

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、蛍光基準試料を用いることなく、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を行うことなしに、評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性を精度良く求めることができる蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置を提供することを目的とする。

本発明の請求項１に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、蛍光試料の光学特性測定方法であって、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明された前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を以下の第１〜第４の工程で算出することを特徴とする。第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。第２の工程：前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）による蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）が、前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。第３の工程：前記重みＷ（λ）と前記放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、前記合成照明光Ｉｃにより照明されたときの前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）を算出する。第４の工程：前記合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）、前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）及び校正定数Ｃ（λ）から、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｓｘｃ（λ）／Ｉｃ（λ）を算出する。

上記構成によれば、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が上記第１〜第４の工程によって数値演算により求められるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。なお、本発明の方法（上記数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、従来の蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、これによって従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。

本発明の請求項２に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、蛍光試料の光学特性測定方法であって、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明された前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を以下の第１〜第４の工程で算出することを特徴とする。第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。第２の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を算出する。第３の工程：前記蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）の重みつき線形結合によって合成される合成蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）又は合成全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）が前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。第４の工程：前記重みＷ（λ）と前記実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）を算出する。

上記構成によれば、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が上記第１〜第４の工程によって数値演算により求められるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができる。さらに、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の線形結合によって求められるので、演算処理が簡略化（演算処理時間が短縮）される。ただし、当該実照明光による全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）及びＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の算出を可能とするには、実照明光が波長λに強度を有する（Ｉ１（λ）＞０、Ｉ２（λ）＞０）、すなわち、全可視域において強度を有する必要がある。

請求項３記載に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、請求項１又は２において、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される前記蛍光試料に対し、前記第１〜第４の工程の前段階において、前記蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、前記着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、該測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を算出することを特徴とする。

この構成によれば、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される蛍光試料に対し、第１〜第４の工程の前段階において、蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が算出され、当該前段階で算出された実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を用いて、上記請求項１又は２記載の測定方法により、着色された蛍光増白基材（蛍光試料）の光学特性が求められるので、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材（例えば蛍光増白紙）上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる。

請求項４記載に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、請求項１又は２において、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される前記蛍光試料に対し、前記第１〜第４の工程の前段階において、前記蛍光増白基材と前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された前記蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、該測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を算出することを特徴とする。

この構成によれば、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される蛍光試料に対し、第１〜第４の工程の前段階において、蛍光増白基材と着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が算出され、当該前段階で算出された実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を用いて、上記請求項１又は２記載の測定方法により、着色された蛍光増白基材（蛍光試料）の光学特性が求められるので、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材（例えば蛍光増白紙）上の印刷色に対する測色を正確に行うことができ、さらには、このように蛍光増白基材や着色された蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に基づいて実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が求められるので、より精度の高い測定が可能となる。

請求項５記載に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、請求項３又は４において、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の少なくとも一方から、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出することを特徴とする。この構成によれば、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の少なくとも一方から、測定域における組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎが算出されるので、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

請求項６記載に係る蛍光試料の光学特性測定方法は、請求項５において、前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであることを特徴とする。この構成によれば、組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであるので、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

本発明の請求項７記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、蛍光試料の光学特性測定装置であって、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により試料を照明するための第１及び第２の照明手段と、前記試料からの放射光の分光分布を測定する放射光分光手段と、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布を測定する照明光分光手段と、前記試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報を記憶する記憶手段と、前記第１及び第２の照明手段を順次点灯し、前記放射光分光手段及び照明光分光手段により測定して得た情報に基づいて、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２それぞれによる前記試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）又は試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、該第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とを算出するとともに、当該算出した情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する演算制御手段とを備えることを特徴とする。

上記構成によれば、第１及び第２の照明手段によって分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により試料が照明され、放射光分光手段によって試料からの放射光の分光分布が測定され、照明光分光手段によって第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布が測定され、記憶手段によって試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報が記憶され、演算制御手段によって、第１及び第２の照明手段が順次点灯されて、放射光分光手段及び照明光分光手段により測定して得た情報に基づいて、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２それぞれによる試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）又は試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、該第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが算出されるとともに、当該算出された情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。

なお、本発明の装置（数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、当該従来での蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、これによって、従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。また、本装置では、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白製品に対する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項８記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項７において、前記記憶手段は、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、前記蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報をさらに記憶し、前記演算制御手段は、当該さらに記憶される情報と前記評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出することを特徴とする。

この構成によれば、記憶手段によって、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報がさらに記憶され、演算制御手段によって、当該さらに記憶される情報と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。ただし、当該面積率は予めデータとして与えてもよいし、公知の方法で測定してもよい。なお、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白基材（用紙）の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と着色料（インク）の分光透過率等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項９記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項７において、前記記憶手段は、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された前記蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報をさらに記憶し、前記演算制御手段は、当該さらに記憶される情報と前記評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出することを特徴とする。

この構成によれば、記憶手段によって、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報がさらに記憶され、演算制御手段によって、当該さらに記憶される情報と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。なお、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせで着色された蛍光増白基材のものとにそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項１０記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項８又は９において、前記演算制御手段は、前記第１及び第２の照明手段を点灯して測定した前記試料の実測全分光放射輝度率の少なくとも一方から、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出することを特徴とする。この構成によれば、演算制御手段によって、第１及び第２の照明手段を点灯して測定した試料の実測全分光放射輝度率の少なくとも一方から、測定域における組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎが算出されるので、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

請求項１１記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項１０において、前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであることを特徴とする。この構成によれば、組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであるので、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

請求項１２記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項１１において、前記第１の照明手段は白熱光源であり、前記第２の照明手段は紫外域に強度を有する紫外光源であることを特徴とする。この構成によれば、第１の照明手段が白熱光源（例えば白熱ランプ）とされ、第２の照明手段が紫外域に強度を有する紫外光源（例えば紫外ＬＥＤ）とされるので、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができる。

請求項１３記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項１２において、前記第１の実照明光を第１の照明手段の照明光で構成し、前記第２の実照明光を第１の照明手段及び第２の照明手段の双方の照明光で構成することを特徴とする。この構成によれば、第１の実照明光が第１の照明手段の照明光で構成され、第２の実照明光が第１の照明手段及び第２の照明手段の双方の照明光で構成されるので、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができるとともに、第１及び第２の実照明光がともに可視域に強度を有するので、当該特性を利用して演算処理の簡略化を図ることができる。

請求項１４記載に係る蛍光試料の光学特性測定装置は、請求項７〜９のいずれかにおいて、前記第１及び第２の実照明光は、少なくとも短波長域において、前記照明光分光手段の測定範囲を超える波長域に強度を有さないことを特徴とする。この構成によれば、第１及び第２の実照明光が、少なくとも短波長域において、照明光分光手段の測定範囲を超える波長域に強度を有さないものとされるので、演算制御手段による演算において、第１及び第２の実照明光の励起及び蛍光に関わる波長域の分光強度を漏れなく把握する（演算処理で扱う）ことができ、各照明光の蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を正確に求めることが可能となる。

請求項１記載の発明によれば、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が上記第１〜第４の工程によって数値演算により求められるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。なお、本発明の方法（上記数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、当該従来の蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、これによって従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。

請求項２記載の発明によれば、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が上記第１〜第４の工程によって数値演算により求められるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができる。さらに、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の線形結合によって求められるので、演算処理が簡略化（演算処理時間が短縮）される。

請求項３記載の発明によれば、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材（例えば蛍光増白紙）上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる。

請求項４記載の発明によれば、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材（例えば蛍光増白紙）上の印刷色に対する測色を正確に行うことができ、さらには、このように蛍光増白基材や着色された蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に基づいて実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が求められるので、より精度の高い測定が可能となる。

請求項５記載の発明によれば、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

請求項６記載の発明によれば、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

請求項７記載の発明によれば、第１及び第２の照明手段によって分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により試料が照明され、放射光分光手段によって試料からの放射光の分光分布が測定され、照明光分光手段によって第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布が測定され、記憶手段によって試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報が記憶され、演算制御手段によって、第１及び第２の照明手段が順次点灯されて、放射光分光手段及び照明光分光手段により測定して得た情報に基づいて、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２それぞれによる試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）又は試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、該第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが算出されるとともに、当該算出された情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。

また、本発明の装置（数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、当該従来での蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、これによって、従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。また、本装置では、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白製品に対する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項８記載の発明によれば、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。また、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白製品に対する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）、或いは着色料（インク）の分光透過率等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項９記載の発明によれば、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。また、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせで着色された蛍光増白基材のものとにそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

請求項１０記載の発明によれば、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

請求項１１記載の発明によれば、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

請求項１２記載の発明によれば、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができる。

請求項１３記載の発明によれば、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができるとともに、第１及び第２の実照明光がともに可視域に強度を有するので、当該特性を利用して演算処理の簡略化を図ることができる。

請求項１４記載の発明によれば、演算制御手段による演算において、第１及び第２の実照明光の励起及び蛍光に関わる波長域の分光強度を漏れなく把握する（演算処理で扱う）ことができ、各照明光の蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を正確に求めることが可能となる。

（光学特性測定装置の全体的な説明）
図1は、本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。図１に示すように、光学特性測定装置１０は、被測定試料１、第１照明部２、第２照明部３、参照面部４、受光部５、２チャンネル分光部６及び制御部７を備えて構成されている。被測定試料１は、蛍光物質を含む繊維や紙製品等からなる測定対象となる試料である。被測定試料１は、所定の測定位置に配置される。第１照明部２は、被測定試料１を照明するものであり、光源としての白熱ランプ２１と、該白熱ランプ２１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第１駆動回路２２とを備える。第２照明部３は、第１照明部２と同様、被測定試料１を照明するものであり、紫外域の光束を出力する光源（紫外光源）としての紫外ＬＥＤ３１と、該紫外ＬＥＤ３１を駆動して点灯（例えばパルス点灯）させるための第２駆動回路３２とを備える。なお、第２照明部３の光源は、紫外ＬＥＤ３１に限定されず、紫外域の光束が出力可能であれば、キセノンフラッシュランプなど、いずれの光源でもよい。

参照面部４は、白色拡散面からなる参照面（反射面）を有するものであり、被測定試料１の測定域の近傍に配設されている。受光部５（受光系）は、光学レンズ（又はレンズ群）からなり、第１及び第２照明部２、３によって照明された被測定試料１の放射光、及び参照面部４からの反射光における法線方向の成分を受光するとともに、該受光した光束を後述の２チャンネル分光部６へ向けて入射させるものである。

２チャンネル分光部６は、受光部５からの入射光に対する分光測定を行うものである。２チャンネル分光部６は、第1入射スリット６１及び第２入射スリット６２を備える。後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光は、第1入射スリット６１に入射し、一方、この照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された参照面部４（参照面）からの反射光は第２入射スリット６２に入射する。２チャンネル分光部６は、この第1入射スリット６１に入射した試料放射光に対する分光測定を行い、第１チャンネル出力として当該試料放射光の分光分布データを出力するとともに、第２入射スリット６２に入射した参照面反射光（参照光）、すなわち後述の照明光ＬＡ又は照明光ＬＢに対する分光測定を行い、第２チャンネル出力として当該照明光の分光分布データを出力する。このように、２チャンネル分光部６は、放射光分光手段及び照明光分光手段として機能する。

制御部７は、各制御プログラム等を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）、演算処理や制御処理用のデータを格納するＲＡＭ（Random Access Memory）、及び当該制御プログラム等をＲＯＭから読み出して実行するＣＰＵ（中央演算処理装置）等からなり、光学特性測定装置１０全体の動作制御を司るものである。具体的には、第１及び第２照明部２、３の点灯動作や２チャンネル分光部６の受光・分光動作に関する駆動制御を行ったり、２チャンネル分光部６からの情報（分光情報）に基づいて、被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する各種演算処理を実行する。制御部７のこれら各種演算機能等については後に詳述する。

このような各部を備える光学特性測定装置１０において、制御部７が第１駆動回路２２を介して（駆動させて）白熱ランプ２１を点灯させると、白熱ランプ２１は、被測定試料１を、該被測定試料１の法線に対して約４５°の方向から（入射角度で）光束２３で照明する。同様に、制御部７が第２駆動回路３２を駆動させて紫外ＬＥＤ３１を点灯すると、紫外ＬＥＤ３１は、被測定試料１を、上記４５°よりも法線に近い位置での方向（符号αに示す入射角度の方向）から光束３３により照明する。

ここで、本実施形態において、第１照明部２を照明部Ａとし、第１照明部２と第２照明部３とを合わせたものを照明部Ｂと表現するものとする。白熱ランプ２１（白熱光源）のみを光源とする照明部Ａによる照明光ＬＡは、励起域（紫外域）に殆ど強度を有さず、一方、白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを光源とする照明部Ｂの照明光ＬＢ、すなわち白熱ランプ２１と紫外ＬＥＤ３１とを同時に点灯させた場合の照明光ＬＢは、励起域に十分な強度を有する。照明部Ａ、Ｂは、いずれも白熱光源を備えて可視域に強度を有し、励起強度を可視域の各波長の強度で相対化することができるため、蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を求めることができる（可視域に分光強度をもたない照明光を用いた測定では、上記相対化の演算が行えず、蛍光分光放射輝度率や全分光放射輝度率を求めることができない）。

上記照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明された被測定試料１からの放射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第1入射スリット６１に入射して分光測定され、第１チャンネル出力としてその分光分布Ｓｘ１（λ）又はＳｘ２（λ）が制御部７に出力される。一方、被測定試料１の測定域の近傍に配置された参照面部４が、被測定試料１の試料面と同時に照明光ＬＡ又は照明光ＬＢによって照明される。そして、この参照面からの反射光のうち、略法線方向の成分が受光部５によって２チャンネル分光部６の第２入射スリット６２に入射して分光測定され、第２チャンネル出力としてその分光分布Ｍｘ１（λ）又はＭｘ２（λ）が制御部７に出力される。

なお、第２照明部３における紫外ＬＥＤ３１の中心波長は約３７５ｎｍであり、図９の白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布図に示すように（符号Ａは白熱光源の分光分布、符号Ｌは紫外ＬＥＤの分光分布を示す）、該紫外ＬＥＤ３１の中心波長３０１は一般的な蛍光増白剤の分光励起効率（相対分光励起効率）３０２のピーク近傍に位置する。分光励起効率とは、波長λの蛍光を励起する励起光の波長毎の励起効率を示し、照明光の分光分布との畳み込み積分によって、その照明光により励起される波長λの蛍光強度（積分励起）が求められるものである。なお、符号３０３に示すグラフは、上記蛍光増白剤の蛍光分光分布（相対蛍光分光分布）を示している。

また、本発明の技術は、照明光の分光分布を把握する必要性があるので、２チャンネル分光部６は、紫外ＬＥＤ３１による放射光の波長域を含む、約３６０ｎｍから７４０ｎｍの波長域をカバーする（この波長域の分光が可能である）。白熱ランプ２１及び紫外ＬＥＤ３１を光源とする照明部Ｂは、強い短パルス光で蛍光物質を照明したときに発生して問題となる（目視との互換性を崩す要因となる）トリプレット効果を生じない発光時間で発光する。このトリプレット効果とは、概略的に説明すると、発光時間が短く励起エネルギーの高い照明光により、分子の電子状態におけるＳ（Singlet）準位とＴ（Triplet）準位との間での遷移が起こるが（通常はこのＳ準位及びＴ準位間の遷移の確率は極めて低い）、これに伴って生じる励起（吸収）現象のことを言う。

また、光学特性測定装置１０での光学系は、上述のように第１照明部２と受光部５との組み合わせ（配置）により、４５／０ジオメトリー（反射特性の測定ジオメトリー４５°／０°）を構成している。このようなジオメトリーの目的は、被測定試料１からの正反射光の制御にあるが、可視域に分布をもたない第２照明部３による正反射光は測色に影響を与えることがないので、この第２照明部３は、ジオメトリーの制約を受けることなく任意に配置することができる。

ここで、制御部７における各機能部の詳細について説明する。制御部７は、図１に示すように、ＣＰＵ７０、分光データメモリ７１、評価用照明光データメモリ７２、二分光データメモリ７３、係数メモリ７４及び面積率メモリ７５等を備えている。ＣＰＵ７０は、第１及び第２照明部２、３、並びに２チャンネル分光部６の駆動制御に関する演算、或いは被測定試料１に対する全分光放射輝度率の算出や相対分光感度の校正等に関する演算等の各種演算処理を行う上記中央演算処理装置（ＣＰＵ）である。分光データメモリ７１は、２チャンネル分光部６で分光測定され、該２チャンネル分光部６から送信されてきた放射光及び照明光の分光分布データを記憶するものである。評価用照明光データメモリ７２は、予め与えられた評価用照明光の分光分布データを記憶するものである。二分光データメモリ７３は、予め求められた、被測定試料１（蛍光試料）と近似の二分光蛍光放射輝度率データを記憶するものである。

係数メモリ７４は、２チャンネル分光部６の相対分光感度を校正する感度校正係数、参照面部４からの反射光（以降、参照面反射光という）の分光分布を、被測定試料１に対する照明光（以降、試料面照明光という）の分光分布に変換する変換係数、及び被測定試料１からの放射光（以降、試料放射光という）と参照面反射光との分光分布から、被測定試料１の全分光放射輝度率を求める校正係数等の係数データを記憶するものである。面積率メモリ７５は、後述の印刷面の測色で用いられる各インクとそれらの組み合わせによる印刷部分の面積率（面積率データ）を記憶するものである。

制御部７は、上記各メモリ部に記憶された、放射光及び照明光の分光分布データ、評価用照明の分光分布データ、二分光蛍光放射輝度率データ、感度校正係数、変換係数及び校正係数等のデータに基づいて、以下、（Ａ）、（Ｂ）に関する測定制御（演算）を行う。

（Ａ）評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率
＜測定の原理＞
一般に、蛍光試料は、或る評価用照明光Ｉｓで照明したときの該蛍光試料の分光放射輝度率を得るために、上記二分光器法測定器、或いは評価用照明光Ｉｓと同じ分光分布の照明光をもつ測定器を用いなければならないが、本実施形態においては、特定の二分光蛍光放射輝度率に近似した励起・蛍光特性を有する蛍光試料について、特定の評価用照明光と同じ蛍光分光放射輝度率を与える仮想的な照明光を数値的に合成する。すなわち、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率をＦ（μ，λ）とし、評価用照明光Ｉｓと、上記数値的に合成される照明光（以降、合成照明光という）Ｉｃとの分光分布をそれぞれＩｓ（λ）、Ｉｃ（λ）とすると、上記式（２）から、各照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）（＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ））が以下の式（５）となる合成照明光Ｉｃを、分光分布、特に励起域と蛍光域の相対強度の異なる２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の線形結合による合成によって求める。ただし、分光分布Ｉ（λ）は、上述で説明したように比例定数を別にすれば、完全拡散反射体（面）からの反射光と等価である。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）…（５）

この照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合による合成においては、波長毎に設定される線形結合の重みをＷ（λ）及び１−Ｗ（λ）とすると、合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）は、照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）を用いて以下の式（６）で表される。
Iｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（６）

これにより、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、以下の式（７）で表され、
Ｆｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（７）

したがって、上記式（５）は以下の式（８）に書き換えられる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・［Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）］ｄμ／［Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）］…（８）

そして、上記式（８）から重みＷ（λ）を算出する、すなわち式（８）の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）とを予め数値データとして与えておき（設定して記憶しておき）、一方、照明光（実照明光）Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）は実測により求めておき（具体的には、実測した参照面反射光の分光分布から変換してＩ１（λ）、Ｉ２（λ）を求める）、演算処理のみによって重みＷ（λ）を算出する。そして、この重みＷ（λ）を用いて、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料を同じ評価用照明光Ｉｓで照明したときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する。すなわち、蛍光試料を照明光Ｉ１、Ｉ２で照明したときの試料面放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と当該照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とを、それぞれ重みＷ（λ）、（１−Ｗ（λ））による線形結合によって合成する以下の式（９）、（１０）が与えるＳｘｃ（λ）及びＩｃ（λ）と、
Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）…（９）
Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）…（１０）
（但し、Ｓｘｃ（λ）は合成照明光Ｉｃで照明されるときの前記試料の放射光の分光分布を、Ｉｃ（λ）は照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布を示す。）
校正定数Ｃ（λ）とによって、以下の式（１１）により全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が求められる。
Ｂｘｓ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｓｘｃ（λ）／Ｉｃ（λ）…（１１）

ところで、上述での各演算処理は、本発明のように照明光Ｉ１、Ｉ２が共に可視域に強度を有するものとすることにより（具体的には、例えば照明光Ｉ１を上記照明光ＬＡ、照明光Ｉ２を照明光ＬＢとする）、簡略化することが可能となる。すなわち、照明光Ｉ１、Ｉ２を可視域における波長λでの強度で相対化した、照明光Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を想定し、Ｉ１_λ（μ）、Ｉ２_λ（μ）とする（Ｉ１_λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）、Ｉ２_λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）。したがって、Ｉ１_λ（λ）＝Ｉ２_λ（λ）＝１）。このことで、可視域での波長λ毎に異なる光源が想定されことになる。この場合、上記式（８）の右辺の分母は［Ｗ（λ）・Ｉ１_λ（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２_λ（λ）］となり、その値は常に「１」となる。したがって、式（７）は以下の式（１２）に示すように書き換えられ、合成照明光Ｉｃによる蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）は、各照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率の線形結合で表されるものとなる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｃ（μ）ｄμ／Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１_λ（μ）ｄμ＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２_λ（μ）ｄμ＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１２）

これにより、上記式（５）は以下の式（１３）に書き換えることができる。
∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）＝Ｗ（λ）・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ） …（１３）

なお、式（１２）は、蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）が、波長λでの強度が共に「１」で波長λ毎に異なる２つの仮想的な照明光、Ｉ１_λ（μ）＝Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）とＩ２_λ（μ）＝Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）を重みＷ（λ）、１−Ｗ（λ）で加算した、以下の式（１２’）に示す可視域の波長λ毎に異なる合成照明光Ｉｃ（μ）によって得られることを示している。
Ｉｃ（μ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（μ）／Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（μ）／Ｉ２（λ）…（１２’）

上述における式（８）から重みＷ（λ）を求めた場合と同様、上記式（１３）についても、蛍光試料の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、２つの照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが与えられれば、重みＷ（λ）を演算処理だけで求めることができる。

なお、従来（特許文献１）の方法では、実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が未知であるため、式（１３）の右辺の積分を、蛍光基準試料の全分光放射輝度率の実測に置き換えているものと考えることができる。

このようにして式（１３）から算出したＷ（λ）を、当該算出に用いた二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と近似の二分光蛍光放射輝度率をもつ蛍光試料に対して用い、合成照明光Ｉｃによる蛍光試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）を、各照明光Ｉ１、Ｉ２（照明光ＬＡ、ＬＢ）による試料の蛍光分光放射輝度率Ｆｘ１（λ）、Ｆｘ２（λ）の線形結合で表すことができる（以下、式（１４）参照）。
Ｆｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆｘ２（λ）…（１４）

また、蛍光分光放射輝度率Ｆｘｃ（λ）と照明光に依存しない反射分光放射輝度率Ｒｘｃ（λ）との和である全分光放射輝度率Ｂｘｃ（λ）についても、上記と同じ重みＷ（λ）を用いて、各照明光Ｉ１、Ｉ２により蛍光試料を実測して得た全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）とＢｘ２（λ）との線形結合により求めることができる（以下、式（１５）参照）。
Ｂｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（１５）

上述では、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）を与えて式（８）或いは式（１３）によって重みＷ（λ）を求めているが、式（１）からＦｃ（λ）＝Ｆｓ（λ）であればＢｃ（λ）＝Ｂｓ（λ）であるので、式（８）或いは式（１３）のＦ（μ，λ）を二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）に置き換え、上述と同様に重みＷ（λ）を求めることができる。

ところで、上記蛍光試料の光学特性測定に先立って２種類の校正が必要となる。これら校正について以下に説明する。
＜１．分光手段の相対分光感度校正＞
上述したように本実施形態の方法では、測定器の実照明光の分光分布を把握することが必要であり、そのために、製造時等において予め放射光分光手段（ここでは２チャンネル分光部６）の相対分光感度の校正が行われる。まず、放射光分光手段を公知の方法によって波長校正し、更にＡ光源など既知の分光分布Ａ（λ）を有する光源からの光束を入射させて得た出力Ｓａ（λ）から、感度校正係数Ｇ（λ）が求められる（以下、式（１６）参照）。
Ｇ（λ）＝Ａ（λ）／Ｓａ（λ）…（１６）

＜２．白色校正＞
測定に先立って（前段階で）行われる白色校正では、反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり、蛍光特性をもたない白色校正板を、照明光Ｉ１及びＩ２（照明光ＬＡ及び照明光ＬＢ）で照明したときの、試料放射光（白色校正板からの放射光）の分光分布Ｓｗ１（λ） 、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光（参照面部４からの反射光）の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下、＜１＞、＜２＞に示す２種類の係数が求められる。

＜１＞参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）。

この場合、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）を有する白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの、当該試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と、参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、以下の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を求める。
Ｄ１（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ１（λ）］／［Ｍｗ１（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１７）
Ｄ２（λ）＝［Ｇ（λ）・Ｓｗ２（λ）］／［Ｍｗ２（λ）・Ｒｗ（λ）］…（１８）

これにより、蛍光試料測定時、参照面反射光の分光分布がＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）であるとすると、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）が、該変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を用いて以下の式（１９）、（２０）により求められる。
Ｉ１（λ）＝Ｄ１（λ）・Ｍｘ１（λ）…（１９）
Ｉ２（λ）＝Ｄ２（λ）・Ｍｘ２（λ）…（２０）

＜２＞測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明した試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とから、蛍光試料の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求めるための校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）。

この場合、上記＜１＞における、既知の反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）と、白色校正板を照明光Ｉ１及びＩ２で照明したときの試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）とから、以下の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を求める。
Ｃ１（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ１（λ）／Ｍｗ１（λ）] …（２１）
Ｃ２（λ）＝ Ｒｗ（λ）／[Ｓｗ２（λ）／Ｍｗ２（λ）] …（２２）

これにより、蛍光試料測定時、照明光Ｉ１及びＩ２で照明された試料面放射光及び参照面反射光の分光分布が、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）、及びＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）とすれば、試料面の全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）は以下の式（２３）、（２４）により求められる。
Ｂｘ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（２３）
Ｂｘ２（λ）＝Ｃ２（λ）・Ｓｘ２（λ）／Ｍｘ２（λ）…（２４）

なお、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ａ１．任意の照明光で照明された蛍光試料が放射する蛍光の分光特性は、照明光の分光分布と試料の二分光蛍光放射輝度率によって求められる（式（２）参照）。
ａ２．したがって、照明光の分光分布が既知であれば、既知の二分光蛍光放射輝度率をもつ仮想的な蛍光基準試料の全分光放射輝度率を算出でき、現実の蛍光基準試料に置き換えることができる。
ａ３．仮想的な蛍光基準試料について、上述の特許文献１の方法を適用する。
ａ４．評価用照明光の分光分布は予めデータとして与えておき、測定装置の照明光（実照明光）の分光分布は実測で求める。

＜蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置１０による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定手順としては、予め行われる図３のフローに示す白色校正後、図４に示すフローに沿って当該全分光放射輝度率の測定を行う。図３は、白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、制御部７は、測定開口に配設した白色校正用の試料、すなわち反射分光放射輝度率Ｒｗ（λ）が既知であり蛍光特性のない白色校正板に対して、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯させて照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料反射光（ここでは、蛍光特性のない白色校正板に対する試料放射光であるので、試料反射光となる）の分光分布Ｓｗ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）を測定し、これらＳｗ１（λ）及びＭｗ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ２）。

続いて、制御部７は、上記ステップＳ１での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、その結果、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３）、ステップＳ２と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料反射光の分光分布Ｓｗ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｗ２（λ）を測定し、これらＳｗ２（λ）及びＭｗ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ４）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ５）。

そして、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上述の式（１６）に示す感度校正係数Ｇ（λ）とから、上述の式（１７）、（１８）によって、測定時の参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換するための変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）を算出する（ステップＳ６）。

さらに、上記ステップＳ２及びＳ４において求めた試料面反射光の分光分布Ｓｗ１（λ）、Ｓｗ２（λ）と参照面反射光の分光分布Ｍｗ１（λ）、Ｍｗ２（λ）と、上記既知の反射分光輝度率Ｒｗ（λ）とから、上述の式（２１）、（２２）によって校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）を算出する（ステップＳ７）。そして、上記ステップＳ６において算出した変換係数Ｄ１（λ）、Ｄ２（λ）及びステップＳ７において算出した校正係数Ｃ１（λ）、Ｃ２（λ）のデータを所定の記憶部、例えば係数メモリ７４に記憶しておく（ステップＳ８）。

図４は、光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ１１）。続いて、被測定試料１のタイプ（種類）を選択する。すなわち制御部７（ＣＰＵ７０）は、二分光データメモリ７３から、被測定試料に近似するタイプの二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）のデータを読み出す（ステップＳ１２）。次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ１３）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１４）。

続いて、制御部７は、上記ステップＳ１３での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ１５）、ステップＳ１４と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ１６）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ１７）。

次に、制御部７は、上記ステップＳ１１、Ｓ１２においてそれぞれ読み出した分光分布データＩｓ（λ）＝Ｉｓ（μ）と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２５）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ１８）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（２５）

そして、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換し（ステップＳ１９）、当該変換して求めた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）（すなわち分光分布Ｉ１（μ）、Ｉ２（μ））と二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）とから、以下の式（２６）、（２７）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ２０）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（２６）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（２７）

次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ１８で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（２８）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ２１）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（２８）
そして、上記ステップＳ１４、１６において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出し（ステップＳ２２）、当該算出されたＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ２１において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（２９）によって評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ２３）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（２９）

（Ｂ）蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率
＜測定の原理＞
通常、印刷の着色は、Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋの４種のインクが用紙の上に大きさの異なるドットとして付着することによる。Ｋインクは吸収特性が波長に依存しないため、蛍光増白紙に到達する照明光の相対分光分布に影響しないので、ここでは図１２（ａ）に示すように、ＹＭＣインクについて考える。この場合、例えば図１２（ｂ）に示すように、インクは互いに重なることがあり、印刷面は、Ｙ、Ｍ及びＣと、各インクの重なり部分のＹＭ、ＭＣ、ＣＹ、及びＹＭＣと、非印刷面とで構成される。蛍光増白紙における印刷面も上述のように各インクが付着しているので、測定域の励起は、各インク及び各インクの重なり部分の分光透過率、及び測定域に占めるそれらによる印刷部分の面積率、つまり色に依存する。

ここで、図２を用いて、上記各インク及び各インクの重なりについての概念を説明する。ここでは、ＹＭＣインクのうちのＹ、Ｍインクの場合について説明する。図２（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図であり、図２（ｂ）は、図２（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。

照明光の単位面積あたりの分光強度をＩ（λ）とし、また、Ｙインク及びＭインクの分光透過率をそれぞれＴｙ（λ）、Ｔｍ（λ）とすると、非印刷部Ｗでは、Ｉ（λ）がそのまま蛍光増白紙に到達するが、Ｙインクのみの部分であるＹインク印刷部Ｐｙでは、このＩ（λ）の一部であるＩ（λ）・Ｔｙ（λ）が蛍光増白紙に到達する。同様に、Ｍインクのみの部分であるＭインク印刷部Ｐｍと、ＹインクとＭインクとの重なり部分であるＹＭインク印刷部Ｐｙｍに入射した照明光も、それぞれＩ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）が蛍光増白紙に到達する。

したがって、測定域全体で、蛍光増白紙の単位面積に到達する実効的な照明光の分光強度Ｉｅ（λ）は、上記Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）、Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）、及びＩ（λ）に対し、図２（ｂ）に示す各印刷部Ｐｙ、Ｐｍ、Ｐｙｍ及び非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｙｍ、及びＰ％ｗ（＝１−（Ｐ％ｙ＋Ｐ％ｍ＋Ｐ％ｙｍ））に応じた重みをつけて合計したものとなる（以下、式（３０）参照）。
Ｉｅ（λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）＋Ｐ％ｍ・Ｉ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｉ（λ）・Ｔｙ（λ）・Ｔｍ（λ）＋Ｐ％ｗ・Ｉ（λ）］…（３０）

上記式（２）の関係から、この照明光によって励起される蛍光の分光分布Ｆ（λ）は以下の式（３１）で与えられるが、
Ｆ（λ）＝∫Ｉｅ（μ）・Ｆ（μ，λ）ｄμ
＝Ｉ（λ）・［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３１）

上記式（３１）の右辺の［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）を、実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）とすると、以下の式（３２）で表される。
Ｆ（λ）＝∫Ｉ（μ）・Ｆｅ（μ，λ）ｄμ…（３２）

ここで、インクの種類を上記Ｙ、Ｍの２種類から、実際の測色におけるＹ、Ｍ、Ｃ、Ｋの全インク（４種類）に拡張する。当該各インクとそれらの組み合わせ（ｙ、ｍ、ｃ、ｙｍ、ｍｃ、ｃｙ、ｙｍｃ及びｋで表す）の面積率を上記と同様に、Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋとすると、これらの面積率を、白熱ランプ２１を光源とする第１照明部２の照明による実測の全分光放射輝度率から公知の方法で求める。

白熱ランプ２１は相対紫外強度が極めて低いため、この実測全分光放射輝度率から求めた面積率は蛍光の影響に起因する誤差を殆ど含まない。この面積率算出の基準として、非印刷部と各インク及び各インクの組み合わせによって面積率１００％で印刷した面（基準印刷面）の第１照明部２による全分光放射輝度率Ｂｗ１（λ）とＢｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）及びＢｋ１（λ）とを予め測定して、例えば二分光データメモリ７３に記憶しておく。

上記公知の方法で求めた印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋと、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗ＝１−ΣＰ％（但し、ΣＰ％は全ての印刷部の面積率の合計）と、予め設定、記憶されている印刷用紙の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）とから、被測定印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率（以降、実効二分光蛍光放射輝度率という）Ｆｅ（μ，λ）を以下の式（３３）によって推定（算出）する。ただし、当該各インクの分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）も予め設定、記憶（例えば面積率メモリ７５に記憶）されている（数値データとして与えられている）。また、分光透過率に波長依存性がないＫインクは、非印刷部Ｗの面積率Ｐ％ｗにのみ影響するので、ＹＭＣインクのような処理は必要ない。
Ｆｅ（μ，λ）＝［Ｐ％ｙ・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｍ・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｃ・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｔｃ（μ）・Ｔｙ（μ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｔｙ（μ）・Ｔｍ（μ）・Ｔｃ（μ）＋Ｐ％ｗ］・Ｆ（μ，λ）…（３３）

また、上述では各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を、各インク分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）の積で求めているが、各インクの組み合わせの分光透過率Ｔｙｍ（λ）、Ｔｍｃ（λ）、Ｔｃｙ（λ）及びＴｙｍｃ（λ）を設定・記憶してもよい。

このように推定した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）に基づき、上述の（Ａ）における測定の場合と同様の手順によって、評価用照明光で照明したときの被測定印刷面の全分光放射輝度率を算出する。

また、上記ＹＭＣＫ各インクの面積率と、予め求められたＹＭＣ各インク及びそれらの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の二分光蛍光放射輝度率Ｆｙ（μ，λ）、Ｆｍ（μ，λ）、Ｆｃ（μ，λ）、Ｆｙｍ（μ，λ）、Ｆｍｃ（μ，λ）、Ｆｃｙ（μ，λ）及びＦｙｍｃ（μ，λ）とから、上記実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を求めてもよい（以下、式（３４）参照）。
Ｆｅ（μ，λ）＝Ｐ％ｙ・Ｆｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｍ・Ｆｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｃ・Ｆｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍ・Ｆｙｍ（μ，λ）＋Ｐ％ｍｃ・Ｆｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｃｙ・Ｆｃｙ（μ，λ）＋Ｐ％ｙｍｃ・Ｆｙｍｃ（μ，λ）＋Ｐ％ｗ・Ｆ（μ，λ）…（３４）

なお、上述の蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率の測定原理は、以下のように要約されるものであると言うこともできる。
ｂ１．蛍光増白基材上の印刷面の実効的な二分光蛍光放射輝度率を、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率と各インクの分光透過特性及び面積率とから推定する。
ｂ２．推定した実効二分光蛍光放射輝度率に対し、上述の評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率の測定原理の要約のａ１．〜ａ４．の項目を適用する。
ｂ３．殆ど励起エネルギーのない照明光による、つまり蛍光の影響を殆ど受けない実測全分光放射輝度率から面積率を推定する。

＜蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順＞
光学特性測定装置による蛍光増白紙（蛍光試料）上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定手順としては、予め校正として行われる図５のフローに示す基準印刷面の測定後、図６に示すフローに沿って当該蛍光増白紙の印刷面の測定を行う。図５は、基準印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。図３に示すフローチャートによる白色校正後、まず、測定開口に配設されたＹインクの面積率Ｐ％ｙが１００％の印刷面を有する試料に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ５１）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、このＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存し（ステップＳ５２）、第１照明部２を消灯する（ステップＳ５３）。

そして、上記ステップＳ５２において保存されたＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）から、上述の式（２３）に対応する以下の式（３５）によって、照明光ＬＡにより照明された当該面積率Ｐ％ｙが１００％の印刷面（基準印刷面）に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）を算出し、これを所定の記憶部、例えば面積率メモリ７５に記憶する（ステップＳ５４）。
Ｂｙ１（λ）＝Ｃ１（λ）・Ｓｘ１（λ）／Ｍｘ１（λ）…（３５）

同様に、面積率Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋが１００％の印刷面と非印刷面とに対し、上記ステップＳ５１〜Ｓ５５の動作を繰り返し、全分光放射輝度率Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）、Ｂｋ１（λ）及びＢｗ１（λ）を算出し、これを面積率メモリ７５等に記憶する（ステップＳ５５）。

図６は、光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。まず、測定に先立って評価用照明光Ｉｓを選択する。すなわち制御部７は、評価用照明光データメモリ７２から、選択する評価用照明光Ｉｓの分光分布データＩｓ（λ）（すなわち分光分布Ｉｓ（μ））を読み出す（ステップＳ３１）。次に、印刷用紙のタイプとＹＭＣＫインクセットとを選択する。すなわち制御部７は、二分光データメモリ７３から、被測定印刷面の印刷用紙（蛍光増白紙）に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）と、使用されているＹＭＣＫインクで被測定面と同じ方法で印刷した印刷面のインク層の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３２）。また、面積率メモリ７５から、面積率算出の基準として、ＹＭＣＫインク及び当該各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面（基準印刷面）を第１照明部２で照明して測定して記憶しておいた全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）、Ｂｍ１（λ）、Ｂｃ１（λ）、Ｂｙｍ１（λ）、Ｂｍｃ１（λ）、Ｂｃｙ１（λ）、Ｂｙｍｃ１（λ）、Ｂｋ１（λ）及びＢｗ１（λ）のデータを読み出す（ステップＳ３３）。

次に、制御部７は、測定開口に配設された被測定試料１（ここでは、上記印刷面をもつ蛍光増白紙）に対し、第１照明部２（白熱ランプ２１）を点灯して照明光ＬＡ（照明光Ｉ１）によって照明する（ステップＳ３４）。そして、２チャンネル分光部６（放射光分光手段）によって、当該照明光ＬＡによる試料放射光の分光分布Ｓｘ１（λ）を測定するとともに、照明光ＬＡの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）を測定し、これらＳｘ１（λ）及びＭｘ１（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３５）。続いて、制御部７は、上記ステップＳ３４での第１照明部２の点灯を維持した状態で、第２照明部３（紫外ＬＥＤ３１）を点灯して、第１及び第２照明部２、３による照明光ＬＢ（照明光Ｉ２）によって被測定試料１を照明し（ステップＳ３６）、ステップＳ３５と同様に、２チャンネル分光部６によって、当該照明光ＬＢによる試料放射光の分光分布Ｓｘ２（λ）を測定するとともに、照明光ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ２（λ）を測定し、これらＳｘ２（λ）及びＭｘ２（λ）の分光分布情報を分光データメモリ７１に保存する（ステップＳ３７）。そして、第１及び第２照明部２、３を消灯する（ステップＳ３８）。

次に、上述の式（１９）、（２０）によって、それぞれ照明光ＬＡ、ＬＢの参照面反射光の分光分布Ｍｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）を、試料面照明光（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）に変換する（ステップＳ３９）（なお、この変換により得られた分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）のデータは所定の記憶部、例えば分光データメモリ７１に保存される）。そして、上記ステップＳ３５、３７において保存されたＭｘ１（λ）、Ｍｘ２（λ）と、Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、上述の式（２３）、（２４）を用いて、照明光ＬＡ、ＬＢによる全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を算出する（ステップＳ４０）。

次に、制御部７は、当該測定（算出）したＢｘ１（λ）と、上記ステップＳ３３において読み出した基準印刷面に対する全分光放射輝度率Ｂｙ１（λ）〜Ｂｗ１（λ）とから、ＹＭＣＫ各インク及びこれらの組み合わせによる印刷部分の面積率Ｐ％ｙ、Ｐ％ｍ、Ｐ％ｃ、Ｐ％ｙｍ、Ｐ％ｍｃ、Ｐ％ｃｙ、Ｐ％ｙｍｃ及びＰ％ｋを算出する。そして、当該算出したＰ％ｙ〜Ｐ％ｋと、上記ステップＳ３２において二分光データメモリ７３から読み出した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＹ、Ｍ、Ｃ各インク印刷面の分光透過率Ｔｙ（λ）、Ｔｍ（λ）及びＴｃ（λ）から、被測定試料１の実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）を上記式（３３）によって算出する（ステップＳ４２）。さらに、この算出した実効二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３１において評価用照明光データメモリ７２から読み出した評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、以下の式（３６）によって評価用照明光による蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）を算出する（ステップＳ４３）。
Ｆｓ（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉｓ（μ）ｄμ／Ｉｓ（λ）…（３６）

次に、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）と、上記ステップＳ３９において求めた（分光データメモリ７１から読み出した）分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、以下の式（３７）、（３８）によって照明光ＬＡ、ＬＢ（照明光Ｉ１、Ｉ２）による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）を算出する（ステップＳ４４）。
Ｆ１（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ１（μ）ｄμ／Ｉ１（λ）…（３７）
Ｆ２（λ）＝∫Ｆｅ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）…（３８）

そして、当該算出した蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）と、上記ステップＳ４３で求めた蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）とによる以下の式（３９）を波長毎に解くことで、重みＷ（λ）を求める（ステップＳ４５）。
Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋［１−Ｗ（λ）］・Ｆ２（λ）＝Ｆｓ（λ）…（３９）
そして、上記ステップＳ４０において算出した全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、上記ステップＳ４５において算出した重みＷ（λ）とから、以下の式（４０）によって、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する（ステップＳ４６）。
Ｂｘｓ（λ）＝ Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）…（４０）

上述のように、本発明の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置によって蛍光増白紙上の印刷面を含む蛍光試料の光学特性が測定される、すなわち評価用照明光で照明したときの全分光放射輝度率が測定されるが、当該測定方法及び測定装置は、以下に要約される効果をもたらすものであると言うこともできる。

すなわち、本発明では照明光の分光分布を把握することで、従来用いられてきた蛍光標準試料を、試料に近似の二分光蛍光放射輝度率データに置き換えることができ、したがって、ｃ１．蛍光基準試料の経時変化による誤差が、はるかに小さい照明光分光手段の経時変化による誤差に置き換わる。ｃ２．蛍光基準試料間の差に起因する誤差がない。ｃ３．蛍光基準試料の経時変化の影響を抑えるための蛍光標準試料の更新が不要となり、これに伴う管理、手間或いはコストを抑えることができる。ｃ４．従来の相対紫外強度の校正にあたる照明光の合成は測定時に数値的に行われるので、事前の校正作業が不要になる。ｃ５．照明光の合成は、測定時の照明光に基づいて行われるので、照明光の変化に起因する誤差がない。ｃ６．測定可能性のある1つ以上の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率データや1つ以上の評価用照明光の分光分布を、生産時あるいは測定サイトに出荷する前に予め記憶しておくことで、通常、測定サイトではそれらを選択するだけで、蛍光試料の全分光放射輝度率を容易に求めることができる。ｃ７．二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率データはインターネット（Ｗｅｂ）を通じて適宜、追加、更新することができる。ｃ８．想定する評価用照明光で照明した蛍光増白紙上の印刷面の分光放射輝度率を求めることができ、印刷色を蛍光の影響を含んで測定できる。ｃ９．プリンタや複写機（コピアー）等の開発、生産において、印刷品質を評価するために多くの測色計が用いられるが、測色計に使用される蛍光増白紙とインクとの情報を記憶しておけば、相対紫外強度校正など何らの追加作業を行うことなしに、個々の測色計を用いて蛍光の影響を含んだ評価が可能となる。

以上のように本発明の光学特性測定方法によれば、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２（照明光ＬＡ、ＬＢ）の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が以下の第１〜第４の工程によって数値演算により求められる。すなわち、

第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。
第２の工程：前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）による蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）が、前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。
第３の工程：前記重みＷ（λ）と前記放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、前記合成照明光Ｉｃにより照明されたときの前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）を算出する。
第４の工程：前記合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）と前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する。

これにより、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。なお、本発明の方法（上記数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、従来の蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。

また、試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、評価用照明光Ｉｓにより照明された試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が以下の第１〜第４の工程によって数値演算により求められる。すなわち、

第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。
第２の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を算出する。
第３の工程：前記蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）の重みつき線形結合によって合成される合成蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）又は合成全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）が前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。
第４の工程：前記重みＷ（λ）と前記実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）を算出する。

これにより、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができるとともに、重み（Ｗ（λ））が測定時の実際の照明光の分光分布に基づいて求められることから従来の測定方法では避けられなかった照明光の分光分布の変化に起因する誤差の発生を防止することができる。さらに、評価用照明光による全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の線形結合によって求められるので、演算処理が簡略化（演算処理時間が短縮）される。ただし、当該実照明光による全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）及びＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の算出を可能とするには、実照明光が波長λに強度を有する（Ｉ１（λ）＞０、Ｉ２（λ）＞０）、すなわち、全可視域において強度を有する必要がある。

また、蛍光増白基材（蛍光増白紙）と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料（ここではＹＭＣＫインク）とで構成される蛍光試料に対し、上記第１〜第４の工程の前段階において、蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、前記着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）（上記Ｔｙ、Ｔｍ及びＴｃに相当）、あるいは着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（上記各印刷部Ｐｙ〜Ｐｙｍｃに相当（ｎ≧ｍ））の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）（上記Ｔｙ（λ）〜Ｔｙｍｃ（λ）に相当）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎ（上記面積率Ｐ％ｙ〜Ｐ％ｋに相当）とから、測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が算出され、当該前段階で算出された実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を用いて、本発明の測定方法により、着色された蛍光増白基材（蛍光試料）の光学特性が求められるので、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる。

また、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される蛍光試料に対し、第１〜第４の工程の前段階において、蛍光増白基材と着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）が算出され、当該前段階で算出された実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を用いて、本発明の測定方法により、着色された蛍光増白基材（蛍光試料）の光学特性が求められるので、煩雑な蛍光基準試料の管理や該蛍光基準試料を用いた校正作業を行うことなしに、蛍光増白基材（例えば蛍光増白紙）上の印刷色に対する測色を正確に行うことができる。

また、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２によって照明された試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の少なくとも一方から、測定域における組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎが算出されるので、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

また、組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであるので、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

また、本発明の光学特性測定装置によれば、第１及び第２の照明手段（第１照明部２、３）によって、分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２（照明光ＬＡ、ＬＢ）により試料が照明され、放射光分光手段（２チャンネル分光部６）によって試料からの放射光の分光分布が測定され、照明光分光手段（２チャンネル分光部６）によって第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布が測定され、記憶手段（各メモリ７２、７３）によって試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報が記憶され、演算制御手段（制御部７）によって、第１及び第２の照明手段が順次点灯されて、放射光分光手段及び照明光分光手段により測定して得た情報に基づいて、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２それぞれによる試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）又は試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、該第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とが算出されるとともに、当該算出された情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、従来の測定方法で用いられていた蛍光基準試料、或いはこれを用いた煩雑な校正作業を不要とすることができ、測定方法の簡略化或いは測定作業の高効率化を図ることができる。また、蛍光基準試料が不要となることで、従来における蛍光基準試料の更新に起因する誤差や、更新までに生じる蛍光基準試料の経時変化による誤差等を排除することができ、ひいては評価用照明光で照明された蛍光試料の光学特性（全分光放射輝度率）を精度良く求めることが可能となる。

なお、本発明の装置（数値演算）で用いられる、試料と近似した二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）は、当該従来での蛍光基準試料の値付けの基準として測定されるものが使用でき、これによって、従来の光学特性測定装置との互換性を維持することができる。また、本装置では、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白製品に対する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット（Ｗｅｂ）経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

また、記憶手段によって、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報がさらに記憶され、演算制御手段によって、当該さらに記憶される情報と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。ただし、当該面積率は予めデータとして与えてもよいし、公知の方法で測定してもよい。なお、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白製品に対する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）、或いは着色料（インク）の分光透過率等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

また、記憶手段によって、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、測定域における該組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報がさらに記憶され、演算制御手段によって、当該さらに記憶される情報と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）が算出されるので、蛍光増白基材上の印刷色を、煩雑な蛍光基準試料の管理やそれを用いた校正作業や追加の作業を行うことなしに、正確に測色することができる。なお、数値演算のベースとして、評価用照明光の分光分布Ｉｓ（λ）や、測定対象となり得る蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせで着色された蛍光増白基材のものとにそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）等の数値データを装置（記憶手段）に複数記憶しておき、測定条件や測定対象に応じてこれらを選択することができる。これら数値データは、工場出荷時などに装置に予め記憶させることができるのは勿論のこと、出荷後、インターネット経由で追加したり、最新の数値データに更新するべく配信したりするといったことも可能となる。

また、演算制御手段によって、第１及び第２の照明手段を点灯して測定した試料の実測全分光放射輝度率の少なくとも一方から、測定域における組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎが算出されるので、面積率データを試料毎に設定（装置に入力）するという煩雑な作業を行うことなく、蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を測定することができる。

また、演算制御手段により組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであるので、蛍光の影響を受けることなく正確に面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを求めることができ、ひいては蛍光増白基材の着色部分の全分光放射輝度率を正確に測定することができる。

また、第１の照明手段が白熱光源（例えば白熱ランプ２１）とされ、第２の照明手段が紫外域に強度を有する紫外光源（例えば紫外ＬＥＤ３１）とされるので、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができる。

また、第１の実照明光（照明光ＬＡ）が第１の照明手段（白熱ランプ２１）の照明光で構成され、第２の実照明光（照明光ＬＢ）が第１の照明手段（白熱ランプ２１）及び第２の照明手段（紫外ＬＥＤ３１）の双方の照明光で構成されるので、フィルターなどを用いることなく、低コストかつ単純な構成で、励起域に殆ど強度を有さない照明光と励起域に十分な強度を有する照明光とを得ることができるとともに、第１及び第２の実照明光がともに可視域に強度を有するので、当該特性を利用して（励起強度を可視域の各波長の強度で相対化することにより）、演算処理の簡略化を図ることができる。

さらに、第１及び第２の実照明光が、少なくとも短波長域（紫外域）において、照明光分光手段の測定範囲を超える波長域に強度を有さないものとされるので、演算制御手段による演算において、第１及び第２の実照明光の励起及び蛍光に関わる波長域の分光強度を漏れなく把握する（演算処理で扱う）ことができ、各照明光の蛍光分光放射輝度率又は全分光放射輝度率を正確に求めることが可能となる。

なお、本発明は、以下の態様をとることができる。
（１）蛍光の各波長成分（波長λ）に対する、照明光全体の励起効率を分光積分励起効率Ｅ（λ）とすると、上記実施形態における特徴点は、評価用照明光と同じ分光積分励起効率をもたらす照明光を、照明光ＬＡ（第１照明部２の照明光）と照明光ＬＢ（第１及び第２照明部２、３の照明光）とから数値的に合成することにある。これが達成されていると、合成照明光（Ｉｃ）で照明されたときの試料の全分光放射輝度率は、評価用照明光（Ｉｓ）で照明されたときの全分光放射輝度率と同じとなる。この照明光の合成には、評価用照明光と実際の照明光ＬＡ、ＬＢとが蛍光試料にもたらす分光積分励起効率を算出する必要があり、そのためには各照明光の分光分布とともに、蛍光試料に少なくとも近似する二分光励起効率の情報が必要である。上記実施形態では、二分光励起効率Ｑ（μ，λ）として、現在の校正システムから入手し易い二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は２分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）を用いている。この場合、分光積分励起効率Ｅ（λ）＝∫Ｑ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）は、蛍光分光放射輝度率Ｆ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ（λ）に置き換えられる。ただし、本発明の目的としては、二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）が有する蛍光の分光分布の情報は必要ではなく、上述のように蛍光波長λに対する励起波長μの相対的な励起効率である二分光励起効率Ｑ（μ，λ）を用いることができる。二分光励起効率Ｑ（μ，λ）の、蛍光波長λへの依存性を無視できる場合は、分光励起効率をＱ（μ）とすることができる。これらを用いる方法も上記実施形態に含まれる。

（２）上記実施形態は、白熱光源（白熱ランプ２１）を光源とする第１照明部２と、紫外ＬＥＤ３１を光源とする第２照明部３とを備え、第１照明部２の照明光を照明光ＬＡ、第１及び第２照明部２、３の照明光を照明光ＬＢとしているが、第１照明部２及び第２照明部３を個別に発光させ、各々の試料面放射光の分光分布Ｓｘ’１（λ）、Ｓｘ’２（λ）と、照明光の分光分布Ｉ’１（λ）、Ｉ’２（λ）とを測定した後、照明光ＬＡを、第１照明部２の照明光とし、照明光ＬＢを、第１照明部２と第２照明部３との照明光を数値的に合成したものとしてもよい。すなわち、照明光ＬＡによる試料面放射光と照明光との分光分布をそれぞれＳｘ１＝Ｓｘ’１（λ）、Ｉ１＝Ｉ’１（λ）とし、照明光ＬＢによる試料面放射光と照明光との分光分布をそれぞれＳｘ２＝Ｓｘ’１（λ）＋Ｓｘ’２（λ）、Ｉ２＝Ｉ’１（λ）＋Ｉ’２（λ）としてもよい。

（３）上記実施形態では、照明光ＬＡ、ＬＢの２つの実照明光を用いているが、２つ以上の実照明光を用いてもよい。この場合、照明光を合成するための重みは、照明光毎に与えられる（但し、重みの合計は「１」となる）。

（４）照明光ＬＡ、ＬＢは、１つの光源からの光束に異なる分光透過特性（素通しを含む）を有する２つのフィルターを順次挿入することで得てもよい。

（５）上記実施形態における（Ｂ）で説明した式（３４）による蛍光増白紙上の印刷色の測定方法を、蛍光物質を含むインクに対して適応してもよい。この場合、蛍光物質を含むインクを含む各インクと各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）を予め求めて記憶しておけばよい。

（６）評価用照明光データメモリ７２に、Ｄ６５、Ｄ５０、Ｃなどの昼光や各種Ｆ（蛍光灯）光など複数の評価用照明光の分光分布データを記憶し、これらの中から１つ或いは複数の評価用照明光の分光分布データを選択して用いる構成としてもよい。この場合、制御部７は、当該選択された１つ或いは複数の評価用照明光についての全分光放射輝度率や、これに基づく色彩値を求めて出力する。

（７）二分光データメモリ７３に、評価を行う可能性のある蛍光増白製品に近似する二分光蛍光放射輝度率データや二分光放射輝度率データを予め複数記憶しておき、測定に先立ってこれらデータから所要のデータを選択して用いる構成であってもよい。この場合、制御部７は、当該選択された二分光蛍光放射輝度率データ又は二分光放射輝度率データに基づいて、測定試料の全分光放射輝度率や、これに基づく色彩値を求めて出力する。同様に、蛍光増白紙の印刷色の測定においては、通常使用される印刷用紙及びインクセット（例えばＹＭＣＫインク）について、（ａ）複数の印刷用紙の二分光蛍光放射輝度率データ又は二分光放射輝度率データとともに、当該インクセットにおける各インクあるいは各インクと各インクの組み合わせによる印刷面のインク層の分光透過率データを記憶しておくか、或いは、（ｂ）印刷用紙とインクセットとの複数の実施可能な組み合わせについて、各インク及び各インクの組み合わせによる面積率１００％の印刷面の二分光蛍光放射輝度率データ又は二分光放射輝度率データを記憶しておき、測定に先立ってこれら（ａ）又は（ｂ）で記憶したデータから所要の印刷用紙及びインクセットに対応するデータを選択して用いる構成としてもよい。（ａ）の方法は印刷用紙とインクとの情報が独立しているので扱うデータ数が少なくて済み、（ｂ）の方法は、印刷用紙とインクとの組み合わせ毎のデータを用いるので精度が高いという特徴がある。

（８）例えば特許文献１に示すような、蛍光基準試料を用いて評価用照明光の場合と同じ全分光放射輝度率を与える照明光を合成する従来の測定方法（装置）に対しても、照明光ＬＡ、ＬＢの分光分布さえ把握することができれば、被測定試料に近似の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率を与えることで、本発明の方法を適用することができる。この場合について説明する。図７は、本発明の方法を、特許文献１の方法による従来の光学特性測定装置に適用した一例を示す概略構成図である。同図の光学特性測定装置２００に示すように、通常、蛍光試料の測定を行うための測定装置は、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）１１０といった情報処理装置を含んでいる。このＰＣ１１０では、制御部１２０を介して照明手段（第１及び第２照明部１３０、１４０）や分光手段（分光部１５０）を制御するとともに、照明光及び試料面放射光の分光分布を受け取り、この情報に基づいて照明光を合成したり、試料の全分光放射輝度率を求めている。従来の測定装置では、実照明光の励起及び蛍光に関与する全波長域の分光分布を得ることができないため、当該照明光の分光分布を測定する分光分布測定手段を別途設ける必要があり、これに対応して分光分布測定部１００を設けている。この分光分布測定部１００は、測定に先立って試料用開口（後述の開口部１７１）に配設され、第１及び第２照明部１３０、１４０の照明に基づく照明光ＬＡ及びＬＢの分光分布を実測する。当該実測された照明光ＬＡ、ＬＢの分光分布情報はＰＣ１１０へ送られる。そして、ＰＣ１１０において、当該実照明光の分光分布情報と、予め該ＰＣ１１０に数値データとして記憶しておいた二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率及び評価用照明光の分光分布の情報と合わせて、上述の実施形態と同じ手順で照明光が合成され、評価用照明光で照明したときの試料の全分光放射輝度率が求められる。

なお、図７の光学特性測定装置２００に示す制御部１２０、第１照明部１３０、第２照明部１４０、及び分光部１５０は、それぞれ図１に示す光学特性測定装置１０の制御部７、第１照明部２、第２照明部３、及び２チャンネル分光部６に相当する。ただし、第１照明部１３０及び第２照明部１４０の光源１３１、１４１は、いずれも紫外域に十分なエネルギーをもつキセノンフラッシュ光源であり、第２照明部１４０にのみ紫外カットフィルタ１４３が備えられている。また、分光部１５０の第１及び第２入射スリット１５１、１５２は、それぞれ２チャンネル分光部６の第１入射スリット６１、第２入射スリット６２に相当する。光学特性測定装置２００は、この他に、受光部１６０や、内壁に高拡散、高反射率の白色塗料を塗布した積分球１７０を備えている。受光部１６０は、図１の受光部５（レンズ）に相当する。なお、符号１３２、１４２は光源１３１、１４１を点灯させるための駆動回路である。また、積分球１７０は、試料用開口としての開口部１７１を備えるとともに、図１に示す参照面部４に相当する積分球１７０の内壁の一部である参照面部１７２を備えている。

ところで、上記照明光の分光分布測定部１００は、少なくとも相対分光感度が校正されている必要があり、第１及び２照明部の照明光が励起及び蛍光に関与する全波長域（蛍光増白試料の場合であれば例えば約３００ｎｍ〜６００ｎｍの波長域）をカバーしなければならない。また、この測定方法によって、安定性に欠ける蛍光基準試料を、上記照明光の分光分布測定部１００に置き換える（蛍光基準試料の代わりに分光分布測定部１００を用いる）ことができるものの、照明光の合成を測定に先立って行う必要があり、これに伴って、照明光の変動による誤差を排除できなくなる。ここでの変形態様（８）に示す方法は、Ｇａｅｒｔｎｅｒ−Ｇｒｉｓｓｅｒの方法に対しても適用可能である。この場合には、蛍光基準試料の測色値（例えば白色度）を実測する代わりに、分光分布測定部１００で測定された照明光の分光分布データと二分光蛍光放射輝度率あるいは二分光放射輝度率データとから全分光放射輝度率を求めて白色度を算出し、この算出した白色度が評価用照明光の分光分布と二分光蛍光放射輝度率あるいは二分光放射輝度率データとから同様に算出される評価用照明光に対する白色度に一致するようにフィルターの挿入度調整が行われる構成となる。以上のように本発明を従来の方法に適用した場合、測定における所定の制限があり、また、校正作業はなくならないものの、広く普及している通常の測定装置を有効活用することができるともに、安定性に欠け、頻繁な更新作業が必要となる蛍光基準試料を排除することが可能となる。

（９）上記実施形態では、合成照明光による分光放射輝度率Ｂｃ（λ）と評価用照明光による分光放射強度率Ｂｓ（λ）とが一致するように重みＷ（λ）を求めているが、２つの分光放射輝度率から算出される色彩値（例えば白色度）が一致するように重みＷ（λ）を求めてもよい。この場合、重みＷ（λ）は波長毎に求める必要はなく、波長に依存しない一定の重みＷとして求めることができる。

本発明に係る蛍光試料の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。 各色のインク及びこれら各インクの重なりについて説明する図であり、（ａ）は、蛍光増白紙上にＹ、Ｍインクが付着している場合を概略的に示す断面図、（ｂ）は、（ａ）に示すＹ、Ｍインクが付着した蛍光増白紙の上面図である。 白色校正に関する動作の一例を示すフローチャートである。 光学特性測定装置による蛍光試料の全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。 基準印刷面の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。 光学特性測定装置による蛍光増白紙上の印刷面に対する全分光放射輝度率の測定に関する動作の一例を示すフローチャートである。 本発明の方法を、従来の測定方法に適用した場合の光学特性測定装置の一例を示す概略構成図である。 二分光蛍光放射輝度率の強度マトリクスの一例を示すグラフ図である。 白熱光源及び紫外ＬＥＤの分光分布を示すグラフ図である。 従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。 従来の光学特性測定装置を示す概略構成図である。 蛍光増白紙上の各色のインクの重なりについて説明する概念図である。

符号の説明

１ 被測定試料（蛍光試料、試料）
２ 第１照明部（第１の照明手段）
２１ 白熱ランプ（白熱光源）
２２ 第１駆動回路
３ 第２照明部（第２の照明手段）
３１ 紫外ＬＥＤ（紫外光源）
３２ 第２駆動回路
４ 参照面部
５ 受光部
６ ２チャンネル分光部（放射光分光手段、照明光分光手段）
６１ 第１入射スリット
６２ 第２入射スリット
７ 制御部（演算制御手段）
７０ ＣＰＵ
７１ 分光データメモリ
７２ 評価用照明光データメモリ（記憶手段）
７３ 二分光データメモリ（記憶手段）
７４ 係数メモリ（記憶手段）
７５ 面積率メモリ（記憶手段）
１０ 光学特性測定装置

Claims (14)

1. 蛍光試料の光学特性測定方法であって、
   試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、
   評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、
   分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、
   前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、
   前記評価用照明光Ｉｓにより照明された前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を以下の第１〜第４の工程で算出することを特徴とする蛍光試料の光学特性測定方法。
   第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。
   第２の工程：前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の重みつき線形結合によって合成される合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｉ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｉ２（λ）による蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）が、前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。
   第３の工程：前記重みＷ（λ）と前記放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）とから、前記合成照明光Ｉｃにより照明されたときの前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｓｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｓｘ２（λ）を算出する。
   第４の工程：前記合成照明光Ｉｃの分光分布Ｉｃ（λ）、前記試料の放射光の分光分布Ｓｘｃ（λ）及び校正定数Ｃ（λ）から、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）＝Ｃ（λ）・Ｓｘｃ（λ）／Ｉｃ（λ）を算出する。
   
2. 蛍光試料の光学特性測定方法であって、
   試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、
   評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）と、
   分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）と、
   前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、
   前記評価用照明光Ｉｓにより照明された前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を以下の第１〜第４の工程で算出することを特徴とする蛍光試料の光学特性測定方法。
   第１の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）とから、評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）を算出する。
   第２の工程：前記二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とから、前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２による蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）を算出する。
   第３の工程：前記蛍光分光放射輝度率Ｆ１（λ）、Ｆ２（λ）又は全分光放射輝度率Ｂ１（λ）、Ｂ２（λ）の重みつき線形結合によって合成される合成蛍光分光放射輝度率Ｆｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｆ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｆ２（λ）又は合成全分光放射輝度率Ｂｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂ２（λ）が前記評価用照明光Ｉｓによる蛍光分光放射輝度率Ｆｓ（λ）又は全分光放射輝度率Ｂｓ（λ）と等しくなるように重みＷ（λ）を波長毎に算出する。
   第４の工程：前記重みＷ（λ）と前記実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）とから、前記評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの前記試料の全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）を算出する。
3. 蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される前記蛍光試料に対し、前記第１〜第４の工程の前段階において、
   前記蛍光増白基材に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、
   前記着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、
   測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、該測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を算出することを特徴とする請求項１又は２記載の蛍光試料の光学特性測定方法。
4. 蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料とで構成される前記蛍光試料に対し、前記第１〜第４の工程の前段階において、
   前記蛍光増白基材と前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された前記蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、
   測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとから、該測定域の実効的な二分光蛍光放射輝度率Ｆｅ（μ，λ）又は実効的な二分光放射輝度率Ｂｅ（μ，λ）を算出することを特徴とする請求項１又は２記載の蛍光試料の光学特性測定方法。
5. 前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により照明された前記試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）の少なくとも一方から、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出することを特徴とする請求項３又は４記載の蛍光試料の光学特性測定方法。
6. 前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであることを特徴とする請求項５記載の蛍光試料の光学特性測定方法。
7. 蛍光試料の光学特性測定装置であって、
   分光分布が異なる第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２により試料を照明するための第１及び第２の照明手段と、
   前記試料からの放射光の分光分布を測定する放射光分光手段と、
   前記第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布を測定する照明光分光手段と、
   前記試料に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報を記憶する記憶手段と、
   前記第１及び第２の照明手段を順次点灯し、前記放射光分光手段及び照明光分光手段により測定して得た情報に基づいて、第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２それぞれによる前記試料の放射光の実測分光分布Ｓｘ１（λ）、Ｓｘ２（λ）又は試料の実測全分光放射輝度率Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、該第１及び第２の実照明光Ｉ１、Ｉ２の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）とを算出するとともに、当該算出した情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出する演算制御手段とを備えることを特徴とする蛍光試料の光学特性測定装置。
8. 前記記憶手段は、蛍光増白基材の二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率に近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）と、
   前記蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料Ｐ１〜Ｐｍの分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｍ（λ）、あるいは前記着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎ（ｎ≧ｍ）の分光透過率Ｔ１（λ）〜Ｔｎ（λ）と、
   測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報をさらに記憶し、
   前記演算制御手段は、当該さらに記憶される情報と前記評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出することを特徴とする請求項７記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
9. 前記記憶手段は、蛍光増白基材と該蛍光増白基材を着色する１種類以上の着色料及び該着色料の組み合わせＰ１〜Ｐｎで着色された前記蛍光増白基材との二分光蛍光放射輝度率又は二分光放射輝度率にそれぞれ近似する二分光蛍光放射輝度率Ｆ（μ，λ）及びＦ１（μ，λ）〜Ｆｎ（μ，λ）、又は二分光放射輝度率Ｂ（μ，λ）及びＢ１（μ，λ）〜Ｂｎ（μ，λ）と、
   測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎとの情報をさらに記憶し、
   前記演算制御手段は、当該さらに記憶される情報と前記評価用照明光Ｉｓの分光分布Ｉｓ（λ）との情報に基づいて前記試料が評価用照明光Ｉｓにより照明されたときの全分光放射輝度率Ｂｘｓ（λ）を算出することを特徴とする請求項７記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
10. 前記演算制御手段は、前記第１及び第２の照明手段を点灯して測定した前記試料の実測全分光放射輝度率の少なくとも一方から、測定域における前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出することを特徴とする請求項８又は９記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
11. 前記組み合わせＰ１〜Ｐｎに対する面積率Ｐ％１〜Ｐ％ｎを算出するための実測全分光放射輝度率が、励起域に殆ど強度を有さない照明光によるものであることを特徴とする請求項１０記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
12. 前記第１の照明手段は白熱光源であり、前記第２の照明手段は紫外域に強度を有する紫外光源であることを特徴とする請求項１１記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
13. 前記第１の実照明光を第１の照明手段の照明光で構成し、前記第２の実照明光を第１の照明手段及び第２の照明手段の双方の照明光で構成することを特徴とする請求項１２記載の蛍光試料の光学特性測定装置。
14. 前記第１及び第２の実照明光は、少なくとも短波長域において、前記照明光分光手段の測定範囲を超える波長域に強度を有さないことを特徴とする請求項７〜９のいずれかに記載の蛍光試料の光学特性測定装置。

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