JP5643571B2 - 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 - Google Patents
蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5643571B2 JP5643571B2 JP2010183392A JP2010183392A JP5643571B2 JP 5643571 B2 JP5643571 B2 JP 5643571B2 JP 2010183392 A JP2010183392 A JP 2010183392A JP 2010183392 A JP2010183392 A JP 2010183392A JP 5643571 B2 JP5643571 B2 JP 5643571B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fluorescence
- spectral reflectance
- spectral
- ratio
- difference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N2021/6417—Spectrofluorimetric devices
- G01N2021/6421—Measuring at two or more wavelengths
Description
前記長波長域において、前記第1の分光反射率に対する前記第2の分光反射率の比率を算出する比率演算手段と、
前記第1の分光反射率に前記比率を乗じ、該乗算結果と前記第2の分光反射率との差分を算出する差分演算手段と、
該差分と前記比率から前記試料における蛍光の分光放射輝度率を算出する蛍光演算手段とを有し、
前記蛍光演算手段は、前記比率から1を減じた値で前記差分を除算することによって、前記蛍光の分光放射輝度率を算出することを特徴とする。
●システム構成
図1は、本実施形態における画像処理装置の構成を示すブロック図である。同図においてCPU101は、ROM102が記憶している制御プログラム、OS、アプリケーションプログラム、デバイスドライバ等に従って、以下に示す他の構成の制御を行う。107は入力デバイスであり、本発明に関る各種測定データを取得する測定装置を含む。108は出力デバイスであり、各種測定値や演算処理部105で算出された蛍光のデータを出力するプリンタ等を含む。RAM103は各種制御プログラムや操作部104から入力されるデータの作業領域及び一時待避領域として使用される。104は操作部であり、入力デバイス107で取得された測定データ等のデータ入力を行う。105は演算処理部であり、例えば本実施形態における蛍光の分光放射輝度率を推定するための演算処理を行う。106はモニタであり、出力デバイス108と同様に、演算処理部105の処理結果や操作部104で入力されたデータ等を表示する。
以下、本実施形態における蛍光の分光放射輝度率を推定する方法について、その原理を説明する。
分光反射率1402:n・R2(λ)+P(λ)
分光反射率1403:R2(λ)+P(λ)
すると、下式(1)により分光反射率1401と分光反射率1402の差分D(λ)が算出される。この差分D(λ)は、図14における斜線部1404に相当する。
=(n−1)・P(λ) ・・・(1)
式(1)を変形することによって下式(2)が得られる。式(2)に示されるように、試料における蛍光成分の分光反射率P(λ)は、2つの変角測定による分光反射率の差分D(λ)と、該測定値に基づく比率nから求められる。なお、蛍光成分のレンジ調整のため、下式(3)に示すように、式(2)に対して任意の係数αを乗じるようにしても良い。
P(λ)=(D(λ)/(n−1))・α ・・・(3)
以上のように算出された蛍光成分の分光反射率P(λ)がすなわち、蛍光の分光放射輝度率である。
図3に、本実施形態において試料の分光反射率を測定する測定装置のブロック構成を示す。なお、測定装置は図1に示す入力デバイス107に相当する。本実施形態の測定装置においては、試料に対して2種類の変角測定を行って2種類の分光反射率を取得する。測定角度設定部302は、試料に対する測定光源と分光放射輝度計303の位置について、それらがなす角度(測定角度)を2種類設定する。ここで設定される2種類の測定角度としては、それぞれで測定される試料の分光反射率の値に十分な差分が得られれば、任意の角度を設定して良い。本実施形態では、測定される分光反射率の差分が最も大きくなるように、2種類の測定角度を設定する。すなわち、第1の測定角度として光源の正反射成分を含まない拡散成分のみを測定する測定角度1(入射角:反射角=45°:0°)と、第2の測定角度として正反射成分を含めて測定する測定角度2(同、45°:45°)を設定する。以下、それぞれの測定角度を入射角と反射角によって(入射角:反射角)として表記する。例えば測定角度1は(45:0)であり、測定角度2は(45:45)である。
以下、試料に対する変角測定データである2種類の分光反射率から、試料から発せられる蛍光の分光放射輝度率を推定する蛍光推定処理について詳細に説明する。
差分演算部602は、分光反射率DA(λ)に比率演算部601によって算出された比率nを乗じた乗算結果と、分光反射率DB(λ)との差分である分光反射率DF(λ)を、下式(5)により求める。
蛍光演算部603は、差分演算部602で取得された差分の分光反射率DF(λ)と、比率演算部601で算出された比率nに基づいて、以下の式(6)により、試料における蛍光の分光放射輝度率P(λ)を求める。
式(6)においてαは、蛍光の分光放射輝度率P(λ)のレンジを調整するための任意の係数である。
以下、本発明に係る第2実施形態について説明する。一般に、記録媒体に塗布される色材は、その色によって蛍光物質の含有率が異なるため、色によって蛍光の発生の有無が分かれる。そこで第2実施形態においては、複数の試料について蛍光測定を行う際に、それぞれの試料における蛍光の発生の有無を、上述した第1実施形態で示した蛍光推定処理によって簡易に判定することを特徴とする。すなわち、複数の試料のそれぞれに対し、その蛍光の発生の有無を上記蛍光推定処理によって簡易に判定し、蛍光が発生していると判定された試料についてのみ、蛍光の詳細な測定を行なうように制御する。
なお、上述した第1実施形態では、試料における蛍光の分光放射輝度率を効率的に推定する例を示したが、該推定結果を所定のUIを用いてユーザに報知することも効果的である。特に第2実施形態においては該推定結果をUI表示することで、ユーザは蛍光の実測を行うべき試料を容易に把握することができる。
Claims (9)
- 蛍光物質を含む可能性のある試料について、該蛍光物質の励起波長域と、該蛍光物質の蛍光波長域、および該蛍光波長域外の長波長域を含む波長域の光を発する測定光源下において、第1の測定角度で測定された第1の分光反射率と、第2の測定角度で測定された、前記第1の分光反射率よりも大きい第2の分光反射率を取得する取得手段と、
前記長波長域において、前記第1の分光反射率に対する前記第2の分光反射率の比率を算出する比率演算手段と、
前記第1の分光反射率に前記比率を乗じ、該乗算結果と前記第2の分光反射率との差分を算出する差分演算手段と、
該差分と前記比率から前記試料における蛍光の分光放射輝度率を算出する蛍光演算手段とを有し、
前記蛍光演算手段は、前記比率から1を減じた値で前記差分を除算することによって、前記蛍光の分光放射輝度率を算出することを特徴とする蛍光推定装置。 - 前記第1の測定角度は、前記試料からの前記測定光源の正反射光を除く拡散反射光を測定する角度であり、
前記第2の測定角度は、前記試料からの前記測定光源の正反射光を測定する角度であることを特徴とする請求項1に記載の蛍光推定装置。 - 前記比率は、前記第1の分光反射率に乗じた際に、該乗算結果と前記第2の分光反射率との差が最小となる値であることを特徴とする請求項1または2に記載の蛍光推定装置。
- 前記蛍光演算手段は、算出した分光放射輝度率が負であった場合に該分光放射輝度率を0とすることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の蛍光推定装置。
- 前記差分演算手段は、算出した差分が負であった場合に該差分を0とすることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の蛍光推定装置。
- さらに、前記蛍光演算手段で算出された前記試料における蛍光の分光放射輝度率から、該試料における蛍光発生の有無を判定する判定手段を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の蛍光推定装置。
- 複数の試料について蛍光の分光放射輝度率を測定する蛍光測定装置であって、
前記複数の試料のそれぞれについて、蛍光の分光放射輝度率を推定する蛍光推定手段と、
前記複数の試料のそれぞれについて、前記蛍光推定手段で推定された蛍光の分光放射輝度率を予め定められた閾値と比較することで蛍光発生の有無を判定する判定手段と、
前記判定手段で蛍光が発生していると判定された試料について、蛍光の分光放射輝度率を実測する実測手段と、
前記判定手段で蛍光の発生がないと判定された試料について、蛍光の分光放射輝度率を0とする設定手段と、を有し、
前記蛍光推定手段は、
当該試料に含まれる可能性のある蛍光物質の励起波長域と、該蛍光物質の蛍光波長域、および該蛍光波長域外の長波長域を含む波長域の光を発する測定光源下において、第1の測定角度で測定された第1の分光反射率と、第2の測定角度で測定された、前記第1の分光反射率よりも大きい第2の分光反射率を取得する取得手段と、
前記長波長域において、前記第1の分光反射率に対する前記第2の分光反射率の比率を算出する比率演算手段と、
前記第1の分光反射率に前記比率を乗じ、該乗算結果と前記第2の分光反射率との差分を算出する差分演算手段と、
該差分と前記比率から当該試料における蛍光の分光放射輝度率を算出する蛍光演算手段とを有し、
前記蛍光演算手段は、前記比率から1を減じた値で前記差分を除算することによって、前記蛍光の分光放射輝度率を算出することを特徴とする蛍光推定装置。 - 取得手段、比率演算手段、差分演算手段および蛍光演算手段を有する蛍光推定装置における蛍光推定方法であって、
前記取得手段が、蛍光物質を含む可能性のある試料について、該蛍光物質の励起波長域と、該蛍光物質の蛍光波長域、および該蛍光波長域外の長波長域を含む波長域の光を発する測定光源下において、第1の測定角度で測定された第1の分光反射率と、第2の測定角度で測定された、前記第1の分光反射率よりも大きい第2の分光反射率を取得し、
前記比率演算手段が、前記長波長域において、前記第1の分光反射率に対する前記第2の分光反射率の比率を算出し、
前記差分演算手段が、前記第1の分光反射率に前記比率を乗じ、該乗算結果と前記第2の分光反射率との差分を算出し、
前記蛍光演算手段が、前記差分と前記比率から前記試料における蛍光の分光放射輝度率を算出し、当該蛍光演算手段は、前記比率から1を減じた値で前記差分を除算することによって、前記蛍光の分光放射輝度率を算出することを特徴とする蛍光推定方法。 - コンピュータ装置で実行されることにより、該コンピュータ装置を請求項1乃至6の何れか1項に記載の蛍光推定装置の各手段として機能させることを特徴とするプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010183392A JP5643571B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 |
US13/196,191 US8481973B2 (en) | 2010-08-18 | 2011-08-02 | Fluorescent estimating apparatus, fluorescent estimating method, and fluorescent measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010183392A JP5643571B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012042313A JP2012042313A (ja) | 2012-03-01 |
JP2012042313A5 JP2012042313A5 (ja) | 2013-09-12 |
JP5643571B2 true JP5643571B2 (ja) | 2014-12-17 |
Family
ID=45593318
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010183392A Expired - Fee Related JP5643571B2 (ja) | 2010-08-18 | 2010-08-18 | 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8481973B2 (ja) |
JP (1) | JP5643571B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102829872A (zh) * | 2012-08-14 | 2012-12-19 | 北京印刷学院 | 一种用接触式图像传感器测量颜色的方法及装置 |
WO2016114148A1 (ja) | 2015-01-16 | 2016-07-21 | 日本電気株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法、及び記録媒体 |
WO2018220636A1 (en) * | 2017-05-31 | 2018-12-06 | M/S Kothari Infotech Pvt. Limited | A method that uses the measured ink combination data/training set to compute the errors that can be universally applied to correct the output of a prediction model |
CN111860987A (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-30 | 江苏科慧半导体研究院有限公司 | 混合荧光材料发射光谱预测方法和装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4061765B2 (ja) * | 1999-02-09 | 2008-03-19 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 蛍光試料の分光特性測定装置及びその測定方法 |
JP2001235371A (ja) * | 2000-02-23 | 2001-08-31 | Jasco Corp | 蛍光物体色測定方法および装置 |
US6671050B2 (en) * | 2000-11-06 | 2003-12-30 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Color measuring method and device for printed matter |
JP4174707B2 (ja) * | 2002-05-16 | 2008-11-05 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 分光測定システム、色再現システム |
JP4483496B2 (ja) * | 2004-09-16 | 2010-06-16 | 凸版印刷株式会社 | 分光反射率予測装置及び分光反射率予測方法 |
JP4501634B2 (ja) * | 2004-10-29 | 2010-07-14 | 富士フイルム株式会社 | マトリクス係数決定方法及び画像入力装置 |
DE502006004095D1 (de) * | 2005-02-16 | 2009-08-13 | X Rite Europe Gmbh | Farbmessgerät und zugehöriger Messkopf |
JP4660691B2 (ja) * | 2005-04-08 | 2011-03-30 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 蛍光試料の光学特性測定方法及びこれを用いた光学特性測定装置 |
DE502005004038D1 (de) * | 2005-10-17 | 2008-06-19 | Rite Europ Ag X | Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern |
EP2003431B1 (de) * | 2007-06-13 | 2012-01-25 | X-Rite Europe GmbH | Verfahren zur Farbmessung von gedruckten Proben mit Aufhellern |
-
2010
- 2010-08-18 JP JP2010183392A patent/JP5643571B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-08-02 US US13/196,191 patent/US8481973B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012042313A (ja) | 2012-03-01 |
US8481973B2 (en) | 2013-07-09 |
US20120043478A1 (en) | 2012-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8598535B2 (en) | Ultraviolet protection effect evaluation method, evaluation apparatus, and recording medium | |
EP2204646B1 (en) | Ultraviolet protection effect evaluation method, evaluation device, evaluation program, and recording medium where the program is recorded | |
JP6829529B2 (ja) | 物体の反射率を決定するための方法及び関連するデバイス | |
JP5643571B2 (ja) | 蛍光推定装置および蛍光推定方法、および蛍光測定装置 | |
JP7412802B2 (ja) | 分光測定方法 | |
EP2756286B1 (en) | Spectrum analysis apparatus, fine particle measurement apparatus, and methods for spectrum analysis and spectrum chart display | |
Müller et al. | Recovering intrinsic fluorescence by Monte Carlo modeling | |
Peest et al. | Instrumentation-related uncertainty of reflectance and transmittance measurements with a two-channel spectrophotometer | |
JP3207882B2 (ja) | 分光蛍光光度計のスペクトル補正方法及びスペクトル補正機能付分光蛍光光度計 | |
JP6305623B2 (ja) | 混合物の光学的な組成解析 | |
JP2012042313A5 (ja) | ||
JP6061031B2 (ja) | 分光分析システムおよび該方法 | |
JP2001242075A (ja) | 塗布物の光線透過率の測定方法及び塗布物の光線透過率の測定装置 | |
JP2008070172A (ja) | 分光蛍光光度計及びその補正方法 | |
JP5629531B2 (ja) | 色処理装置およびその方法 | |
JP2001004460A (ja) | 温度測定方法及び温度測定装置及び感温塗料 | |
WO2017117320A1 (en) | Apparatus for analysis of irregular surface using electromagnetic energy | |
US20160202181A1 (en) | Optical computing device and method for compensating light fluctuations | |
JP6324201B2 (ja) | 分光データ処理装置、及び分光データ処理方法 | |
JP5456053B2 (ja) | 色処理装置および色処理方法 | |
JP5677123B2 (ja) | 色処理装置および色処理方法 | |
JP2013160651A (ja) | ライン分光測定装置 | |
Smith et al. | Multivariate Optical Computing for Biological Samples using a Digital Micromirror Device | |
JP2020003306A (ja) | 全反射蛍光x線分析装置及び測定方法 | |
JP2012127872A (ja) | 色処理装置および色処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130807 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130807 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140404 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140602 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141003 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141031 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5643571 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |