JP5759232B2 - 測定装置 - Google Patents
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Description
(装置全体構成)
図1は、レーザ走査光学系の測定装置に適用した実施形態を示したもので、同図においてX方向をデフォーカス方向、Y方向を像高方向と呼ぶものとする。又、被検光学系の特性を表現するにあたり、光束の中心線を主光線と呼び、この主光線を含み、紙面に平行な方向を主走査方向、紙面に垂直な方向を副走査方向と呼ぶものとする。
6、7は各々X方向、Y方向の駆動手段であるところのステージであり、図示しない制御部の指示に従い、カメラ4を像高方向位置Ym、及び評価面5をデフォーカス方向位置Xmに駆動する。
光学特性の測定に関して、図4を用いて説明する。図4(a)は測定装置で認識される光束25の結像状態であり、評価面5上のY,Z面上の結像スポットの強度分布、ポイントスプレッドファンクション(=点像強度関数、以後PSFと略記)が示される。図4(b)は、副走査方向の結像状態を示すグラフであり、軸Iz方向の各点の値は図4(a)に於ける同一Z座標の各点の強度を加算したものである。このグラフを副走査方向のラインスプレッドファンクション(=線像強度関数、以後LSFと略記)と称する。
LSFは、スリットを用いた線入力により得られる線広がり分布に相当する。
本実施形態では、測定値を以下のように補正する測定値補正手段を備える。即ち、Dy,Dzを測定した後に、本実施形態においては評価面から射出瞳までの距離に応じて測定値を補正する。主走査方向、副走査方向の射出瞳と評価基準面3とのX軸に沿った距離を夫々Tm、Tsとする。Tm、Tsは実測しても良いが、被検光学系のばらつきによって大きく動くことが無ければ、設計値を用いても良い。Dya、Dzaを主走査方向、副走査方向のLSF幅に係わる補正値とすると、測定値に比べ対称性が向上した夫々の補正値は、以下の算出式で算出される。
Dza = Ts/(Ts−Xm)×Dz (式2)
ここで、主走査方向及び副走査方向の評価基準面から射出瞳までの距離をK、射出瞳と評価面までの距離をL、補正前の測定値をDo、補正後の補正値をDとした場合、
(式1)(式2)は、共に以下の形で表現される。
これは、測定値補正手段が、評価面5が射出瞳に近づくときは補正値は測定値に対して大きくなる一方、射出瞳から遠ざかるときは補正値は測定値に対して小さくなるように出力することを示している。
ここで補正に係わる算出原理について図5で説明を行う。図5は射出瞳と評価面並びに評価基準面を示す図である。同図において500は射出瞳、501は評価基準面、502は評価面であり、Aは射出瞳の直径、Tは評価基準面から射出瞳までを光路に沿った距離、Defは評価面の評価基準面からのデフォーカス量である。評価基準面から射出瞳を見た場合のFナンバーをFoとすると、
Fo=|T|/Aであり、Defだけデフォーカスした評価面から射出瞳を見た場合のFナンバーをFdとすると
Fd=|T−Def|/Aとなる。
Fd/Fo=(T−Def)/T (式3)
だけ変化する。即ち、評価面502で測定を行ったライン幅は、その位置に於ける回折限界の値が評価基準面501における値と(式3)だけ変化していることを考慮して評価しなくてはならない。そこで測定値を(式3)で除した値をもって評価を行えば良い。図5においてT,DEFは光路に沿って測った距離を用いているが、これらは別の方向に沿って測ってもその比は変わらないため、(式1)、(式2)を用いれば正しく測定を行うことができる。
この様にして得られる副走査方向のライン幅のデフォーカス特性を図6に示す。図6において、黒丸で示された点が補正後の補正値であり、△の点が補正前の測定値である。このとき、副走査方向の射出瞳位置Tsは−50.3mm(結像面より上流側)の位置に存在している。図6より定性的に認識できるところであるが、補正前の測定値がデフォーカス方向の正負で非対称な特性を示しているのに対し、補正後の補正値は良い対称性を見せている。
主走査方向の射出瞳位置Tmは−300mmであり、この値を用いて主走査方向において副走査方向と同様の補正を行う。但し、10mm程度の許容デフォーカス範囲では式1は5%以下(10/300)の補正となる為、主走査方向の補正は行わずに副走査方向の補正のみで評価を行っても良い。
第1の実施形態では、測定値が主走査方向、副走査方向のLSFライン幅であったが、本実施形態では測定値が図4に於けるLSFの強度最大値Py,Pzである。第1の実施形態では結像面である基準面の前後に評価面を設けて光束の幅を測定するとき、像倍率を考慮した補正を行ったが、光束の光強度を測定するときは、光束の幅に関する補正係数とは逆数となる補正係数で補正する。これは、どのデフォーカス状態にあっても光強度の積分値即ちエネルギーは一定であって、光束の幅と光束の光強度の積が一定に保たれることに起因する。
Pza = (Ts−Xm)/Ts×Pz (式5)
ここで、主走査方向及び副走査方向の評価基準面から射出瞳までの距離をK、射出瞳と評価面までの距離をL、測定値をDo、変換後の測定値をDとした場合、(式4)(式5)は共に以下の形で表現される。
図7に副走査LSFの強度最大値Pyの測定結果を示す。測定ユニット20、及び被検光学系1は第1の実施形態と同じものを用いている。図7において、黒丸で示された点が補正を行ったLSF最大強度Pyのデフォーカス特性に関する補正値であり、△の点が補正前のデフォーカス特性に関する測定値である。
第2の実施形態では、測定値がLSFの最大強度であったが、本実施形態ではPSFの最大強度を測定値とする。本実施形態では、第1の実施形態における主走査方向、副走査方向夫々の光束径の補正と反比例する光束の光強度補正を主走査方向、副走査方向に同時に行えば良い。即ち、
Ioを補正前の測定値(PSFの最大強度)、Iaを補正後の補正値とすると、
Ia=(Tm−Xm)/Tm×(Ts−Xm)/Ts×Io (式6)
となる。ここで、主走査方向の評価基準面から射出瞳までの距離Tmと副走査方向の評価基準面から射出瞳までの距離Tsとの積をKyz、主走査方向の射出瞳と評価面までの距離をLy、副走査方向の射出瞳と評価面までの距離をLzとする。また、測定値をDo、変換後の測定値をDとする。すると、(式6)は以下の形で表現される。
被検光学系がアナモフィックな特性を有していない場合は、
L=Ly=Lz
T=Tm=Tz
Kyz=Tm×Ts
K=T×Tとして式7は以下のように簡単に表現できる。
D=(L×L/K)×Do (式7)
(変形例)
第1の実施形態ではLSFの幅を測定値とし、第2の実施形態ではLSFの最大強度を測定値とし、第3の実施形態ではPSFの最大強度を測定値としたが、この他にPSFの幅を測定値とすることもできる。PSFの幅を測定値とする場合は、測定値の補正に関し、第1の実施形態と同様に(式1)(式2)を用いれば良い。
Claims (10)
- 被検光学系の結像面近傍の複数の評価面において前記被検光学系の像特性を測定し、その測定値に基づいて前記被検光学系の光学特性を取得する測定装置であって、
前記複数の評価面における前記被検光学系を介する光束の広がり分布の測定値を補正する補正手段を有し、
前記補正手段により補正された前記測定値に基づいて前記被検光学系の光学特性を取得することを特徴とする測定装置。 - 前記補正手段は、前記測定値が前記広がり分布の幅の値である場合、前記評価面が前記結像面よりも前記被検光学系に近づく場合はその近づく量に応じて前記測定値を大きくし、前記評価面が前記結像面よりも前記被検光学系から離れる場合はその離れる量に応じて前記測定値を小さくするように補正値を出力することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記補正手段は、前記測定値が前記広がり分布の光強度の値である場合、前記評価面が前記結像面よりも前記被検光学系に近づく場合はその近づく量に応じて前記測定値を小さくし、前記評価面が前記結像面よりも前記被検光学系から離れる場合はその離れる量に応じて前記測定値を大きくするように補正値を出力することを特徴とする請求項1に記載の測定装置。
- 前記光強度は前記広がり分布における最大強度であることを特徴とする請求項3に記載の測定装置。
- 前記補正手段は、前記被検光学系の射出瞳と前記評価面との距離に応じて前記補正値を出力することを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の測定装置。
- 前記被検光学系は、第一の方向とそれに直交する第二の方向とで互いに異なる位置に射出瞳を備えるアナモフィックな光学系であり、前記補正手段は、前記第一の方向と前記第二の方向とで異なる補正値を出力することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の測定装置。
- 前記測定値をDo、前記被検光学系の射出瞳と前記結像面との距離をK、前記射出瞳と前記評価面との距離をL、前記補正値をD、とするとき、
D=(K/L)×Do
なる式を満足することを特徴とする請求項2に記載の測定装置。 - 測定値をDo、前記被検光学系の射出瞳と前記結像面との距離をK、前記射出瞳と前記評価面との距離をL、前記補正値をD、とするとき、
D=(L/K)×Do
なる式を満足することを特徴とする請求項3又は4に記載の測定装置。 - 前記測定値をDo、前記被検光学系の射出瞳と前記結像面との距離をK、前記射出瞳と前記評価面との距離をL、前記補正値をD、とするとき、
D=(L×L/K)×Do
なる式を満足することを特徴とする請求項3又は4に記載の測定装置。 - 前記測定値をDo、第一の方向における前記被検光学系の射出瞳と前記結像面との距離と、前記第一の方向に直交する第二の方向における前記被検光学系の射出瞳と前記結像面の距離との積をKyz、前記第一の方向における前記射出瞳と前記評価面との距離をLy、前記第二の方向における前記射出瞳と前記評価面との距離をLz、前記補正値により補正された前記測定値をD、とするとき、
D=(Ly×Lz/Kyz)×Do
なる式を満足することを特徴とする請求項3又は4に記載の測定装置。
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