JP2003036674A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2003036674A5 JP2003036674A5 JP2002126981A JP2002126981A JP2003036674A5 JP 2003036674 A5 JP2003036674 A5 JP 2003036674A5 JP 2002126981 A JP2002126981 A JP 2002126981A JP 2002126981 A JP2002126981 A JP 2002126981A JP 2003036674 A5 JP2003036674 A5 JP 2003036674A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input terminal
- buffer
- signal
- input
- logic circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 1
Claims (1)
- 前記クロック選択回路は、
一端が1供給電圧に接続され、ゲートが前記選択信号に接続された第1PMOSトランジスタと、
第1入力端子に前記データストローブ信号が印加され、第2入力端子に基準電圧が印加され、第3入力端子に前記第1PMOSトランジスタの他端が接続される第1バッファと、
一端が前記第1バッファの出力端子に接続され、他端が接地に接続され、ゲートに前記選択信号が印加される第1NMOSトランジスタと、
第1クロック信号が印加される第1入力端子と、反転されたクロック信号を受け入れる第2入力端子を備えた第2バッファと、
前記第1バッファの前記出力端子に接続された入力端子を備えたインバータと、
前記選択信号と前記第2バッファの出力信号とを入力として論理演算をする第1ロジック回路と、
前記第1ロジック回路の出力信号と前記インバータの出力信号とを入力として論理演算をする第2ロジック回路とを含むことを特徴とする請求項1に記載の半導体メモリ装置の入力回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0022982A KR100425446B1 (ko) | 2001-04-27 | 2001-04-27 | 캘리브레이션 될 소정의 클럭신호를 선택하는클럭선택회로를 구비하는 반도체 메모리 장치의 입력회로및 소정의 클럭신호를 선택하는 방법 |
KR2001-022982 | 2001-04-27 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003036674A JP2003036674A (ja) | 2003-02-07 |
JP2003036674A5 true JP2003036674A5 (ja) | 2005-06-02 |
JP4027709B2 JP4027709B2 (ja) | 2007-12-26 |
Family
ID=19708808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002126981A Expired - Fee Related JP4027709B2 (ja) | 2001-04-27 | 2002-04-26 | 半導体メモリ装置の入力回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6696862B2 (ja) |
JP (1) | JP4027709B2 (ja) |
KR (1) | KR100425446B1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7406646B2 (en) * | 2002-10-01 | 2008-07-29 | Advantest Corporation | Multi-strobe apparatus, testing apparatus, and adjusting method |
JP4002811B2 (ja) * | 2002-10-04 | 2007-11-07 | 株式会社アドバンテスト | マルチストローブ生成装置、試験装置、及び調整方法 |
KR100626375B1 (ko) | 2003-07-21 | 2006-09-20 | 삼성전자주식회사 | 고주파로 동작하는 반도체 메모리 장치 및 모듈 |
DE102004013929B3 (de) * | 2004-03-22 | 2005-08-11 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Steuern des Einlesens eines Datensignals sowie eine Eingangsschaltung für eine elektronische Schaltung |
JP4583088B2 (ja) * | 2004-06-29 | 2010-11-17 | 株式会社リコー | ストローブ信号遅延装置及び同装置を備える半導体装置 |
KR100567908B1 (ko) | 2004-12-30 | 2006-04-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 보정 회로 및 그 구동 방법 |
CN101617371B (zh) * | 2007-02-16 | 2014-03-26 | 莫塞德技术公司 | 具有多个外部电源的非易失性半导体存储器 |
KR100863010B1 (ko) * | 2007-04-11 | 2008-10-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적 회로 |
KR20100034030A (ko) * | 2007-06-27 | 2010-03-31 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 검출 장치 및 시험 장치 |
KR101252698B1 (ko) * | 2009-04-29 | 2013-04-09 | 퀄컴 인코포레이티드 | 클록 게이팅 시스템 및 방법 |
US9672881B2 (en) * | 2014-05-23 | 2017-06-06 | Macronix International Co., Ltd. | Memory device with variable strobe interface |
US11569805B2 (en) * | 2021-03-15 | 2023-01-31 | Mediatek Inc. | Minimum intrinsic timing utilization auto alignment on multi-die system |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3695902B2 (ja) * | 1997-06-24 | 2005-09-14 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
TW400635B (en) * | 1998-02-03 | 2000-08-01 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device reconciling different timing signals |
JP3270831B2 (ja) * | 1998-02-03 | 2002-04-02 | 富士通株式会社 | 半導体装置 |
US6061292A (en) * | 1998-08-21 | 2000-05-09 | Winbond Electronics Corporation | Method and circuit for triggering column select line for write operations |
US6069829A (en) * | 1998-09-29 | 2000-05-30 | Texas Instruments Incorporated | Internal clock multiplication for test time reduction |
KR100335503B1 (ko) | 2000-06-26 | 2002-05-08 | 윤종용 | 서로 다른 지연 특성을 동일하게 하는 신호 전달 회로,신호 전달 방법 및 이를 구비하는 반도체 장치의 데이터래치 회로 |
-
2001
- 2001-04-27 KR KR10-2001-0022982A patent/KR100425446B1/ko active IP Right Grant
-
2002
- 2002-03-27 US US10/108,668 patent/US6696862B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-04-26 JP JP2002126981A patent/JP4027709B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2003036674A5 (ja) | ||
US6492848B1 (en) | Power-on reset circuit generating reset signal for different power-on signals | |
JP3953691B2 (ja) | 集積回路及び同期型半導体メモリ装置 | |
US5841702A (en) | Output circuit for memory device | |
JP3567601B2 (ja) | 入出力バッファ回路及び出力バッファ回路 | |
KR100464937B1 (ko) | 반도체 메모리의 테스트 모드 플래그 신호 발생 장치 | |
JP2001015687A5 (ja) | ||
JP2002124853A (ja) | エッジトリガ形dフリップフロップ回路 | |
JP4510271B2 (ja) | パルス発生器 | |
JP2928739B2 (ja) | パルス発生器 | |
US6242940B1 (en) | Data input buffer circuit | |
JP3751733B2 (ja) | ローアドレスストローブ信号用入力バッファ | |
US7120083B2 (en) | Structure and method for transferring column address | |
JPH0690161A (ja) | 入力回路、及び半導体集積回路 | |
JP4779473B2 (ja) | マルチチップモジュール | |
JPH10276069A (ja) | データラッチ回路 | |
JPH10135818A (ja) | 入力回路 | |
KR0182981B1 (ko) | 외부신호를 샘플링하는 레지스터회로 | |
KR100224694B1 (ko) | 마이크로 콘트롤러의 모드 선택회로 | |
KR100418399B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 입출력 기준신호출력방법 | |
JP3467936B2 (ja) | 半導体装置 | |
KR101036511B1 (ko) | 입/출력 패드 장치 | |
KR100239714B1 (ko) | 데이타 출력버퍼 | |
KR100248802B1 (ko) | 클럭신호 드라이브 회로 | |
TW202336934A (zh) | 半導體積體電路 |