JP2002530640A - 検出回路 - Google Patents

検出回路

Info

Publication number
JP2002530640A
JP2002530640A JP2000582775A JP2000582775A JP2002530640A JP 2002530640 A JP2002530640 A JP 2002530640A JP 2000582775 A JP2000582775 A JP 2000582775A JP 2000582775 A JP2000582775 A JP 2000582775A JP 2002530640 A JP2002530640 A JP 2002530640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
impedance
transimpedance amplifier
detection circuit
connection point
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000582775A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4472874B2 (ja
Inventor
トンプソン、ジョン
フィリッピイ、レイモンド
バングス、ヨアキム
Original Assignee
テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) filed Critical テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル)
Publication of JP2002530640A publication Critical patent/JP2002530640A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4472874B2 publication Critical patent/JP4472874B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035272Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/03529Shape of the potential jump barrier or surface barrier
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/446Photodiode
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44Electric circuits
    • G01J2001/4446Type of detector
    • G01J2001/4473Phototransistor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Air Bags (AREA)
  • Electrophonic Musical Instruments (AREA)
  • Lock And Its Accessories (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】 トランスインピーダンス増幅器回路を用いたフォトダイオード検出回路が開示される。フォトダイオードからの過負荷電流が、フォトダイオードと直列に接続された過負荷保護ダイオードを通って、増幅器からそれて電圧源、例えばアース、に流れる。差動構造体がまた開示される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (発明の技術分野) 本発明は検出回路に関する。さらに詳細に言えば、本発明は入射光信号の光強
度に応じて電圧信号を発生する回路に関する。
【0002】 (発明の背景) フォトダイオード検出器を有しそして入射光の強度に比例する電流を発生する
検出回路は、よく知られている。この回路はさらに、この電流を出力電圧に変換
するトランスインピーダンス増幅器回路を有する。例えば、米国特許第 5,030,9
25号はこの形式の検出回路を開示している。
【0003】 この形式の検出回路の場合に認識されている1つの問題点は、入力光信号の強
度およびこの入力光信号の強度に比例するフォトダイオード電流が、非常に広い
ダイマミック・レンジにわたって変わることである。例えば、大きさが数桁にわ
たって変化する入力信号を取り扱うことが必要である。増幅器の入力におけるイ
ンピーダンスの設計値に特別の配慮をしなければ、増幅器に対する入力のダイマ
ミック・レンジが大きいことが原因となって、低い信号レベルにおいて有用であ
る程に十分に大きい出力信号を生ずるために種々の問題点が生じ、一方、回路が
飽和または制限を起こさないで取り扱うことができる大きな入力信号レベルに対
して出力信号を生ずるためになお種々の問題点が生ずる。
【0004】 米国特許第 5,708,392号は、限定用トランスインピーダンス増幅器(TIA、
transimpedance amplifier)を開示している。この増幅器回路は、抵抗器の両端
に接続されたダイオードを備えたフィードバック抵抗器を有している。したがっ
て、高い信号レベルでは、ダイオードに入力電流が流れ、そして増幅器の出力段
階の飽和を引き起こすレベルより低いレベルに、出力電圧を制限する。それらの
入力/出力の両端にダイオードを用いているTIA増幅器は、それらの出力段階
において、過負荷電流を取り扱わなければならない。このことは、さらに大きな
容量を有する大型のトランジスタを必要とする。したがって、これらの設計はさ
らに複雑になり、そして集積回路の中に組込む時にはシリコンのさらに大きな面
積領域が必要になる。
【0005】 さらに、欧州特許出願第A−0745868 号は、フォトダイオード検出器およびト
ランスインピーダンス増幅器を有する検出回路を開示している。初期の検出段階
の間に過剰な入力電流を取り扱うことができるために、光ダイオードはまた別の
ダイオードを通してアースに接続され、またRC回路網を通して正電圧源に接続
される。
【0006】 (発明の要約) 本発明は検出回路に関する。この検出回路は、好ましい実施例では、大きな過
負荷電流を取り扱うことができる。さらに詳細に言えば、本発明は持続する大き
な過負荷電流を取り扱うことができる検出回路に関する。
【0007】 本発明の検出回路は、利点として、過負荷保護ダイオードを有し、検出用フォ
トダイオードと直列に接続され、かつ低い交流インピーダンスによる電源電圧に
接続され、平坦周波数応答接続体のものである。この過負荷保護ダイオードと検
出用フォトダイオードとの間の接続点がトランスインピーダンス増幅器に接続さ
れ、そしてこのトランスインピーダンス増幅器の入力インピーダンスは、カット
オフ信号電流において、過負荷保護ダイオードのインピーダンスと整合するよう
に調整されることが好ましい。カットオフ電流よりも低い信号電流に対しては、
電流の大部分がトランスインピーダンス増幅器に送られ、一方、カットオフ電流
よりも高い信号電流に対しては、電流の大部分が過負荷保護ダイオードを通って
トランスインピーダンス増幅器をそれて流れる。
【0008】 この検出回路は、増幅器の設計を簡単にすることができるという利点を有して
いる。
【0009】 (好ましい実施例の詳細な説明) 図1は、検出回路2を示した図である。入射光信号を検出するために、検出用
フォトダイオード4が配置される。この入射光信号は、例えば、光ファイバから
出力される光に含まれる信号であってもよい。典型的な場合には、光ファイバは
論理値「1」および「0」で構成されるディジタル信号を伝送することができる
。論理値「1」の光強度は、論理値「0」の光強度の10倍であってもよい。けれ
ども、光の強度レベルは非常に広い範囲にわたって変わり得る。検出回路は、広
い範囲で変化するパワーを有する送信器に接続された光ファイバからの信号を受
け取ることができる。さらに、検出回路は長い光ファイバと一緒に用いることが
でき、または短い光ファイバと一緒に用いることもできる。したがって、このこ
とは光信号の減衰の程度が変化することに対応する。よって、これらの2つの事
柄を考慮するならば、論理値「0」の光強度は数桁の範囲で変わり得る。
【0010】 検出用フォトダイオード4は、この例示された実施例では正電圧源Vccに逆バ
イアスの方向に直接に接続されているが、しかし原理的には、直流および交流で
低いインピーダンスを有し、かつ全体的に平坦な周波数特性を有する任意の接続
体によって電源に接続することができる。
【0011】 検出用フォトダイオードの作用は、入射光強度に正比例する信号電流Is を生
ずることである。
【0012】 検出用フォトダイオード4の陽極は、トランスインピーダンス増幅器回路6に
接続される。トランスインピーダンス増幅器回路6は、トランスインピーダンス
増幅器8およびフィードバック抵抗器10を有する。トランスインピーダンス増
幅器回路6を構成する回路の形式それ自体は、よく知られている。増幅器8は利
得A1を有し、そして抵抗器10は抵抗値Rt を有する。トランスインピーダン
ス増幅器回路6の出力は、出力端子12において検出回路出力を形成する。
【0013】 この増幅器の利得は入力信号のレベルによって変わることはほとんどないが、
一方において前記で説明したように、信号電流Is は極めて広い範囲で変わり得
る。例えば、信号電流は数ナノアンペアという低い値から数ミリアンペアという
高い値まで変化できる。したがって、増幅器が受け入れ可能な広いダイナミック
・レンジを有するべきであるならば、検出回路2は高い入力信号レベルにおいて
過負荷電流を処理できることが必要である。
【0014】 本発明に従い、過負荷電流は過負荷保護ダイオードによって処理される。本発
明のこの例示された実施例では、過負荷保護ダイオードはNPNトランジスタ1
4の形式を有する。NPNトランジスタ14のコレクタ端子とベース端子とは共
通に接続され、そしてフォトダイオード4の陽極に接続される。NPNトランジ
スタ14のエミッタ端子はアースに接続される。
【0015】 トランジスタ14のコレクタ・エミッタ導電路の抵抗値Re は、それを流れる
電流Ic の逆関数である。したがって、電流が低い場合にはトランジスタ14は
高い抵抗値を有するが、しかし電流が高い場合には抵抗値は小さい。さらに詳細
に言えば、抵抗値は下記の式により与えられる。
【0016】
【数1】
【0017】 ここで、Vt はダイオードの熱電圧であり、室温において約25mVである。
【0018】 ところで、トランスインピーダンス増幅器回路6は入力インピーダンスRa を
有する。入力インピーダンスRa は一般的には一定であり、そして増幅器8の利
得A1と抵抗器10の抵抗値Rtとによって主として決定される。第1近似では
、この入力インピーダンス下記の式により与えられる。
【0019】
【数2】
【0020】 信号電流の一部分Ia はトランスインピーダンス増幅器回路6の中に流れ、そ
して残りの部分Ic は過負荷保護ダイオード14の中に流れる。これらの電流の
大きさの比は、トランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスRa と
過負荷保護ダイオードの動的抵抗値Re との相対的な大きさに応じて定まる。
【0021】 場合によっては、フォトダイオード4の陽極と増幅器6の入力との間にコンデ
ンサを挿入すると有利である。これによって、回路の作成と利用できる電源とを
適合させるために、増幅器を分離してバイアスすることができる。
【0022】 抵抗値Rt と増幅器の利得A1とを適切に選定することにより、一定のレベル
を越えた過負荷電流が過負荷保護ダイオードを優先して流れるように、トランス
インピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスを調整することができる。例え
ば、その時にカットオフ電流として作用する特定の電流において、入力インピー
ダンスがダイオードの抵抗値に等しくなるように設計することができる。電流が
低い場合には、信号電流の大部分は増幅器に流れる。電流が高い場合には、信号
電流の大部分は過負荷保護ダイオードを通ってアースに流れる。
【0023】 1つの好ましい実施例では、Rt =6kΩおよびA1=30であり、これは入力
インピーダンス 200Ωを与える。Ic = 125μAの時Re = 200Ωである。
【0024】 光信号レベルが低い場合には、またはフォトダイオードの電流が低い場合には
、フォトダイオードの電流の大部分は増幅器を流れる。この場合、「1」および
「0」を表す光信号の間のフォトダイオード電流の変化から生ずる差動出力電圧
Vout は、増幅器の入力電流とフィードバック抵抗器10の抵抗値Rtとに応じ
て定まる。「1」を表す光信号に対するフォトダイオード電流をIs1で表し、そ
して「0」を表す光信号に対するフォトダイオード電流をIs0で表すことにする
。フォトダイオード電流の全部が増幅器の入力に流れる極端な場合には、差動出
力電圧は下記の式により与えられる。
【0025】
【数3】
【0026】 ここで例えば、「1」を表す光信号に対するフォトダイオード電流は10μAで
あり、そして「0」を表す光信号に対するフォトダイオード電流は1μAである
。ここで、Rt =6kΩ、Vout =54mVである。
【0027】 さらに高い信号レベルの場合には、または高いフォトダイオード電流の場合に
は、過負荷保護ダイオードの抵抗値がトランスインピーダンス増幅器の入力イン
ピーダンスよりも低いので、フォトダイオード電流の大部分は過負荷保護ダイオ
ードを流れる。例えば、「1」を表す光信号に対するフォトダイオード電流は5
mAであり、そして「0」を表す光信号に対するフォトダイオード電流は 500μ
Aにできる。(過負荷保護ダイオードの電流が5mAである場合、その抵抗値は
5Ωである。この値は、前記で説明した例の増幅器のインピーダンス 200Ωと比
較される。)その場合には、「1」を表す光信号と「0」を表す光信号との間の
フォトダイオード電流の変化から生ずる差動出力電圧Vout は、トランジスタの
ベース・エミッタを流れる電流が増大することにより生ずるこのトランジスタの
ベース・エミッタ電圧の増大に応じて変化する。この時、この増大したベース・
エミッタ電圧が増幅器によって増幅される。
【0028】 ここで再び、「1」を表す光信号に対するフォトダイオード電流をIs1で表し
、そして「0」を表す光信号に対するフォトダイオード電流をIs0で表し、そし
てフォトダイオード電流の全部が過負荷保護ダイオードを流れる極端な場合を考
えるならば、差動出力電圧は下記の式により与えられる。
【0029】
【数4】
【0030】 「1」を表す光信号に対するフォトダイオード電流は、前記で説明したように
、「0」を表す光信号に対するフォトダイオード電流の一般的に10倍であるから
、前記のようにA1=30である場合には、室温においてVout =1800mVである
【0031】 したがって、入力信号のレベルが(5mA/10μA)= 500の因子だけ増大し
ているけれども、前記で説明した2つの場合の間で、出力信号のレベルは(1800
mV/54mV)=33の因子だけ増大する。
【0032】 したがって、高い信号電流の場合には、ダイオードの抵抗値が低下し、そして
信号電流のさらに多くの部分がトランスインピーダンス増幅器回路を流れるより
もむしろダイオードを流れる。信号電流が変化する時、この調整が自動的に行わ
れる。このように過負荷保護が得られ、検出回路のダイナミック・レンジが増大
する。その上、電源に対する接続体は交流と直流との両方において低いインピー
ダンスを有するために、検出回路は高い周波数の一時的な過大負荷と、持続する
過大負荷、すなわち低い周波数の過大負荷、との両方を取り扱うことができる。
【0033】 図2は、本発明のまた別の検出回路22を示した図である。検出回路22では
、検出用フォトダイオード24が、正電圧源Vccとアースとの間に逆バイアスに
接続され、そして再び、入射光の強度に応ずる信号電流Is が流れる。
【0034】 けれどもこの実施例では、差動トランスインピーダンス増幅器構造体が用いら
れる。さらに詳細に言えば、第1トランスインピーダンス増幅器回路26がフォ
トダイオード24の陰極に接続され、かつ第2トランスインピーダンス増幅器回
路28がフォトダイオード24の陽極に接続される。第1トランスインピーダン
ス増幅器回路26は増幅器30と抵抗器32とを有し、そして第2トランスイン
ピーダンス増幅器回路28は増幅器34と抵抗器36とを有する。これら2つの
トランスインピーダンス増幅器は整合していて、同じ配線および整合したレイア
ウトを有する。第1トランスインピーダンス増幅器回路からの出力と第2トラン
スインピーダンス増幅器回路からの出力とが差動回路利得ブロック38に送られ
る。差動回路利得ブロック38は差動出力信号を生ずる。
【0035】 それらのベースとコレクタとが共通接続されているNPNトランジスタ40、
42で再び形成されるそれぞれの過負荷保護ダイオードは、フォトダイオード2
4のそれぞれ陰極および陽極に接続される。ダイオード40は正電圧源Vccに直
接に接続され、一方、ダイオード42はアースに直接に接続される。
【0036】 さらに、2つの増幅器回路26、28の入力は同じ直流電圧になければならな
いから、フォトダイオードからのそれぞれの入力信号は、増幅器回路の入力にお
いてそれぞれのコンデンサ44、46を通して交流的に結合される。
【0037】 利点として、図2に示された回路22は単一のチップの上に集積することがで
きる。また、それとは異なって、過負荷保護ダイオードは検出回路のその他の部
分を含むチップに対して外部にあるダイオードであり得る。
【0038】 したがって前記で説明したように、高い信号電流の場合には、過負荷保護ダイ
オード40、42の抵抗値が低下し、そして信号電流Is のさらに多くの部分が
トランスインピーダンス増幅器回路26、28を流れるよりもむしろ過負荷保護
ダイオードを流れる。
【0039】 図1および図2の回路は、本発明の好ましい実施例を表している。一般的に言
えば、1個または複数個の過負荷保護ダイオードを、それを流れる電流と共にイ
ンピーダンスが変化する任意の回路ブロックまたは任意の回路部品で置き換える
ことができる。
【0040】 図3は、図1のデバイスと全体的には同様であるデバイスの回路図(この図に
おいて、同じ参照番号は同じ部品であることを示している)である。図3では、
過負荷保護ダイオード14が保護回路60によって置き換えられている。
【0041】 前記で説明したように、場合によっては、フォトダイオード4の陽極と増幅器
6の入力との間にコンデンサを挿入すると有利である。この場合には、増幅器を
分離してバイアスすることができ、それにより回路の作成と利用できる電源とを
適合させることができる。
【0042】 同様に図4は、図2のデバイスと全体的には同様であるデバイスの回路図(こ
の図において、同じ参照番号は同じ部品であることを示している)である。図4
では、過負荷保護ダイオード40、42が保護回路62、64によって置き換え
られている。
【0043】 例えば場合によっては、トランスインピーダンス増幅器回路に対して利用可能
であるヘッドルームを増加すると有利である。この場合には図5に示されている
ように、保護回路62、64は直列に接続されたダイオード66、68およに7
0、72のそれぞれの対の形式を取ることができる。
【0044】 図6および図7はまた別の回路の図であって、これらの回路では保護回路は異
なる形式を有している。図6および図7の両方の場合、これらの回路は図3の回
路に基づいている。これらの図において、図3の部品と同じである部品は同じ参
照番号で示されており、そしてこれ以上に詳しく説明することはしない。
【0045】 図6の回路では、保護回路60はNPNトランジスタ80を有している。NP
Nトランジスタ80は、フォトダイオード4の陽極に接続されたコレクタ端子と
、アースに接続されたエミッタ端子とを有する。また別のNPNトランジスタ8
2は、トランジスタ80のコレクタに接続されたベース端子と、トランジスタ8
0のベースに接続されたエミッタ端子とを有する。トランジスタ82のエミッタ
端子はまた、電流源84を通してアースに接続される。この回路により、フォト
ダイオード電流が高い場合に、電流の大部分をアースに流すようにバイアスのレ
ベルを設定することができる。
【0046】 図7の回路では、保護回路60はNPNトランジスタ90を有する。NPNト
ランジスタ90は、フォトダイオード4の陽極に接続されたコレクタ端子と、ア
ースに接続されたエミッタ端子とを有する。低インピーダンスの基準電圧源92
が、トランジスタ90のベース端子とコレクタ端子との間に接続される。このこ
とにより、フォトダイオード4の陽極の電圧を要求されたレベルに設定すること
ができる。その上さらに、回路に要求された温度係数を与えるように基準電圧源
92を設計することができる。
【0047】 図8は、本発明によるさらに別の検出回路を示した図である。このデバイスは
図1のデバイスと全体的には同様(この図において、同じ参照番号は同じ部品で
あることを示している)である。この場合には回路は、フォトダイオード4の陽
極と増幅器6の入力との間に接続された交流結合コンデンサ70を有している。
この交流結合コンデンサは前記で説明されたが、しかし図には示されなかった。
【0048】 さらにそれに加えて、一定電流Ib を流す定電流源72が、正電圧源とフォト
ダイオード4の陽極との間に接続される。バイアス電流Ib は、フォトダイオー
ド電流には関係なく、過負荷保護ダイオード14の中の電流を増加させる。この
ことは、入力「1」と入力「0」を比較するならば、過負荷保護ダイオード(差
動出力電圧)の中の電流の比が過負荷の場合に小さくなることを意味する。
【0049】 この同じ原理を2重終端回路に用いることができる。例えば、図2の回路にお
いて、電流源をフォトダイオード24と並列に接続することができる。またはそ
れとは異なって、第1電流源を正電圧源とフォトダイオード24の陽極との間に
接続することができ、一方、第2電流源をアース電源とフォトダイオード24の
陰極との間に接続することができる。
【0050】 検出回路は、これまではバイポーラ・トランジスタで作成されたダイオードを
用いるとして説明してきた。BiCMOSまたはCMOSを用いても同様に可能
であることが理解されるであろう。
【0051】 したがって、広いダイナミック・レンジを有する検出回路を達成するために、
高い入力信号レベルにまで動的に反応して過負荷電流を増幅器からそらして流す
回路が説明された。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に従う第1検出回路の回路概要図。
【図2】 本発明に従う第2検出回路の回路概要図。
【図3】 本発明に従う第3検出回路の回路概要図。
【図4】 本発明に従う第4検出回路の回路概要図。
【図5】 本発明に従う第5検出回路の回路概要図。
【図6】 本発明に従う第6検出回路の回路概要図。
【図7】 本発明に従う第7検出回路の回路概要図。
【図8】 本発明に従う第8検出回路の回路概要図。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 EP(AT,BE,CH,CY, DE,DK,ES,FI,FR,GB,GR,IE,I T,LU,MC,NL,PT,SE),OA(BF,BJ ,CF,CG,CI,CM,GA,GN,GW,ML, MR,NE,SN,TD,TG),AP(GH,GM,K E,LS,MW,SD,SL,SZ,TZ,UG,ZW ),EA(AM,AZ,BY,KG,KZ,MD,RU, TJ,TM),AE,AL,AM,AT,AU,AZ, BA,BB,BG,BR,BY,CA,CH,CN,C R,CU,CZ,DE,DK,DM,EE,ES,FI ,GB,GD,GE,GH,GM,HR,HU,ID, IL,IN,IS,JP,KE,KG,KP,KR,K Z,LC,LK,LR,LS,LT,LU,LV,MA ,MD,MG,MK,MN,MW,MX,NO,NZ, PL,PT,RO,RU,SD,SE,SG,SI,S K,SL,TJ,TM,TR,TT,TZ,UA,UG ,UZ,VN,YU,ZA,ZW (72)発明者 バングス、ヨアキム イギリス国 ウイルトシャー、スウィンド ン、ミドルリーズ、ライ クロース 14 Fターム(参考) 2G065 AA04 BA09 BC03 CA30 5F049 MA01 UA12 UA17 UA20

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入射する光信号の強度に応じて電流を生ずるフォトダイオー
    ドを有し、 前記フォトダイオードと直列に接続され、かつ1つの接続点において前記フォ
    トダイオードに接続された可変インピーダンス回路を有し、該可変インピーダン
    ス回路のインピーダンスはそれを流れる電流に依存し、 トランスインピーダンス増幅器とフィードバック回路とを有し、かつ入力と出
    力のあるトランスインピーダンス増幅器回路を有し、該トランスインピーダンス
    増幅器回路の前記入力は前記接続点に接続され、かつ前記トランスインピーダン
    ス増幅器回路の前記出力は検出回路の出力を形成し、 前記可変インピーダンス回路と前記フォトダイオードとの直列接続体が交流お
    よび直流において低いインピーダンスを有する接続体によって1対の電圧供給レ
    ールの間に接続され、ここで 前記トランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスがカット・オフ
    電流において前記可変インピーダンス回路のインピーダンスに整合し、かつ前記
    トランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスが過負荷電流において
    前記可変インピーダンス回路のインピーダンスに比べて高い、検出回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の検出回路において、前記トランスインピーダ
    ンス増幅器回路のフォードバック回路が抵抗器を有する検出回路。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の検出回路において、前記トランスインピーダ
    ンス増幅器回路の入力と前記接続点との間に接続されたコンデンサをさらに有す
    る検出回路。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の検出回路において、前記可変インピーダンス
    回路が過負荷保護ダイオードを有する検出回路。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイオー
    ドがベースとコレクタとが共通接続されたバイポーラ・トランジスタを有する検
    出回路。
  6. 【請求項6】 請求項4記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイオー
    ドが1つの電圧供給レールに直接に接続される検出回路。
  7. 【請求項7】 入射する光信号の強度に応じて電流を生ずるフォトダイオー
    ドを有し、該フォトダイオードは第1接続点と第2接続点との間に接続され、 交流および直流において低いインピーダンスを有する接続体によって前記第1
    接続点と第1電圧供給レールとの間に接続された第1可変インピーダンス回路と
    、 交流および直流において低いインピーダンスを有する接続体によって前記第2
    接続点と第2電圧供給レールとの間に接続された第2可変インピーダンス回路を
    有し、 各々が入力と出力のある第1トランスインピーダンス増幅器回路および第2ト
    ランスインピーダンス増幅器回路を設けた差動トランスインピーダンス増幅器回
    路を有し、前記第1トランスインピーダンス増幅器回路の入力が第1コンデンサ
    を通して前記第1接続点に接続され、かつ前記第2トランスインピーダンス増幅
    器回路の入力が第2コンデンサを通して前記第2接続点に接続され、かつ前記第
    1および第2トランスインピーダンス増幅器回路の出力が差動増幅器に対する入
    力を形成することによって検出回路の出力を設け、 前記トランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスが過負荷電流に
    おいて前記可変インピーダンス回路のインピーダンスに比べて高い、検出回路。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の検出回路において、前記トランスインピーダ
    ンス増幅器回路の各々が抵抗器を備えたフィードバック回路を有する検出回路。
  9. 【請求項9】 請求項7記載の検出回路において、前記可変インピーダンス
    回路の各々が過負荷保護ダイオードを有する検出回路。
  10. 【請求項10】 請求項9記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイオ
    ードの各々がそれぞれのベースとコレクタとで共通接続されたバイポーラ・トラ
    ンジスタを有する検出回路。
  11. 【請求項11】 請求項9記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイオ
    ードの各々がそれぞれの電圧供給レールに直接に接続された検出回路。
  12. 【請求項12】 入射する光信号の強度に応じて電流を生じ、かつ第1接続
    点と第2接続点との間に接続されたフォトダイオードを有し、 交流および直流において低いインピーダンスを有する接続体によって前記第1
    接続点と第1電圧供給レールとの間に接続された第1可変インピーダンス回路を
    有し、該第1可変インピーダンス回路のインピーダンスはそれを流れる電流に依
    存し、 交流および直流において低いインピーダンスを有する接続体によって前記第2
    接続点と第2電圧供給レールとの間に接続された第2可変インピーダンス回路を
    有し、該第2可変インピーダンス回路のインピーダンスはそれを流れる電流に依
    存し、 各々が入力と出力のある第1トランスインピーダンス増幅器回路および第2ト
    ランスインピーダンス増幅器回路を設けた差動トランスインピーダンス増幅器回
    路を有し、前記第1トランスインピーダンス増幅器回路の入力が第1コンデンサ
    を通して前記第1接続点に接続され、かつ前記第2トランスインピーダンス増幅
    器回路の入力が第2コンデンサを通して前記第2接続点に接続され、かつ前記第
    1および第2トランスインピーダンス増幅器回路の出力が差動増幅器に対する入
    力を形成することによって検出回路の出力を設け、 前記トランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスがカットオフ電
    流において前記可変インピーダンス回路のインピーダンスに整合し、かつ前記ト
    ランスインピーダンス増幅器回路の入力インピーダンスが過負荷電流において前
    記可変インピーダンス回路のインピーダンスに比べて高い、検出回路。
  13. 【請求項13】 請求項12記載の検出回路において、前記トランスインピ
    ーダンス増幅器回路の各々が抵抗器を備えたフィードバック回路を有する検出回
    路。
  14. 【請求項14】 請求項12記載の検出回路において、前記可変インピーダ
    ンス回路の各々が過負荷保護ダイオードを有する検出回路。
  15. 【請求項15】 請求項14記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイ
    オードの各々がそれぞれのベースとコレクタとで共通接続されたバイポーラ・ト
    ランジスタを有する検出回路。
  16. 【請求項16】 請求項14記載の検出回路において、前記過負荷保護ダイ
    オードの各々がそれぞれの電圧供給レールに直接に接続された検出回路。
JP2000582775A 1998-11-18 1999-11-17 検出回路 Expired - Fee Related JP4472874B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB9825304A GB2343943B (en) 1998-11-18 1998-11-18 Detection circuit
GB9825304.0 1998-11-18
PCT/EP1999/008820 WO2000029821A1 (en) 1998-11-18 1999-11-17 Detection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002530640A true JP2002530640A (ja) 2002-09-17
JP4472874B2 JP4472874B2 (ja) 2010-06-02

Family

ID=10842668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000582775A Expired - Fee Related JP4472874B2 (ja) 1998-11-18 1999-11-17 検出回路

Country Status (12)

Country Link
US (1) US6307196B1 (ja)
EP (1) EP1137916B1 (ja)
JP (1) JP4472874B2 (ja)
KR (1) KR100701741B1 (ja)
CN (1) CN1229633C (ja)
AT (1) ATE288074T1 (ja)
AU (1) AU1553800A (ja)
CA (1) CA2351518C (ja)
DE (1) DE69923475T2 (ja)
GB (1) GB2343943B (ja)
TW (1) TW437157B (ja)
WO (1) WO2000029821A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022049495A (ja) * 2020-09-16 2022-03-29 株式会社東芝 保護回路

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000216733A (ja) * 1997-11-28 2000-08-04 Kokusai Electric Co Ltd 光電気変換方法及び受光回路及び光通信システム
JP3668926B2 (ja) * 1999-08-27 2005-07-06 株式会社ルネサステクノロジ 光インタコネクション受信モジュール
US6433638B1 (en) * 2000-09-06 2002-08-13 International Business Machines Corporation Fully balanced transimpedance amplifier for high speed and low voltage applications
US6525305B2 (en) * 2000-09-11 2003-02-25 Perkinelmer Canada, Inc. Large current watchdog circuit for a photodetector
US6756578B1 (en) * 2002-01-17 2004-06-29 Trimble Navigation Limited Photocell bias circuit
KR100444911B1 (ko) * 2002-01-29 2004-08-21 한국과학기술원 광수신기용 차동 트랜스임피던스 증폭기
JP3813516B2 (ja) * 2002-02-27 2006-08-23 株式会社東芝 光検出回路
TWI222755B (en) * 2004-02-06 2004-10-21 Ind Tech Res Inst Optical receiving device
US7385170B1 (en) * 2004-08-24 2008-06-10 Semiconductor Components Industries, Llc Ambient light suppression circuit for photodiode receiver applications
US7361882B2 (en) * 2005-04-14 2008-04-22 Sensors Unlimited, Inc. Method and apparatus for providing non-linear, passive quenching of avalanche currents in Geiger-mode avalanche photodiodes
JP2006303668A (ja) * 2005-04-18 2006-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 出力インピーダンス可変回路
DE102005044679A1 (de) * 2005-09-19 2007-03-22 Vishay Semiconductor Gmbh Schaltungsanordnung zur Versorgung einer Photodiode mit einer Vorspannung
JP5320841B2 (ja) * 2008-06-17 2013-10-23 住友電気工業株式会社 増幅器および光モジュール
KR101183986B1 (ko) 2008-12-19 2012-09-19 한국전자통신연구원 고입력 임피던스를 갖는 리드아웃 회로
US8357889B2 (en) * 2010-01-21 2013-01-22 Intersil Americas Inc. Circuits, systems and methods for vertical and horizontal light beam alignment
JP5186546B2 (ja) * 2010-11-12 2013-04-17 アンリツ株式会社 光電変換回路
US20130092843A1 (en) * 2011-10-18 2013-04-18 Marcos de Azambuja Turqueti Miniature Radiation Detector Module Configured as Smart Mobile Device/Phone Ad-On
WO2013162552A1 (en) * 2012-04-25 2013-10-31 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Open-gain trans-impedance amplifier with programmable input impedance
CN104508976A (zh) * 2012-08-13 2015-04-08 惠普发展公司,有限责任合伙企业 与光模块热隔离的跨阻抗放大器(tia)
CN103178748A (zh) * 2013-02-05 2013-06-26 天津大学 一种光电转换电路
US9863808B2 (en) * 2014-01-08 2018-01-09 Asahi Kasei Microdevices Corporation Output-current detection chip for diode sensors, and diode sensor device
EP2896940B1 (en) * 2014-01-20 2019-04-24 Molecular Devices, LLC Differential photodiode integrator circuit for absorbance measurements
KR101667305B1 (ko) * 2014-07-30 2016-10-19 전자부품연구원 버스트 모드에서 고속으로 외란 광을 제거할 수 있는 tia
CN104535179B (zh) * 2015-01-06 2016-09-28 山西大学 一种光电探测器
US9754981B2 (en) * 2015-06-05 2017-09-05 General Electric Company Solid state photomultiplier having an intermediate region coupled between high and low voltage regions and associated detector
EP3324609A4 (en) * 2015-07-13 2018-08-01 Sharp Kabushiki Kaisha Radiation detector
US9882638B2 (en) * 2015-07-28 2018-01-30 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Optical receiver signal strength indicator (RSSI) circuit having a variable supply voltage filter impedance
WO2017059880A1 (en) * 2015-10-05 2017-04-13 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Amplification device incorporating limiting
US10145736B2 (en) * 2016-04-19 2018-12-04 Texas Instruments Incorporated Bias currents to reverse-bias photodiode in light detection system
CN106130491B (zh) * 2016-06-28 2023-05-23 杭州思泰微电子有限公司 一种实现tia自动匹配输出阻抗的电路
CN107765075B (zh) * 2016-08-16 2021-08-24 中兴通讯股份有限公司 一种电流信号处理装置
CN109285846B (zh) * 2017-07-20 2023-10-13 松下知识产权经营株式会社 光传感器及使用它的光检测装置
EP3666180B1 (en) 2018-12-14 2021-07-14 Stichting IMEC Nederland A device for read-out of a photoplethysmography signal and a wearable sensor
KR102219713B1 (ko) * 2019-04-19 2021-02-24 한화시스템 주식회사 레이저 탐색기
CN112449126B (zh) 2019-09-05 2023-02-10 昇佳电子股份有限公司 光感测器电路
CN113008748A (zh) * 2021-03-10 2021-06-22 深圳市汇投智控科技有限公司 一种红外检测电路
CN113949449B (zh) * 2021-09-24 2023-11-17 昂纳科技(深圳)集团股份有限公司 光电二极管检测电路、光模块及其监控系统、监控方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4415803A (en) * 1980-10-22 1983-11-15 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Optical receiver with improved dynamic range
DE3218439A1 (de) 1982-05-15 1983-12-01 kabelmetal electro GmbH, 3000 Hannover Schaltungsanordnung fuer einen opto/elektrischen wandler
US4623786A (en) * 1984-11-07 1986-11-18 At&T Bell Laboratories Transimpedance amplifier with overload protection
NL8602408A (nl) * 1986-09-24 1988-04-18 Philips Nv Voorversterker voor een optische ontvanger.
JP2564133B2 (ja) * 1987-04-17 1996-12-18 オリンパス光学工業株式会社 固体撮像装置
GB2233525B (en) * 1989-06-09 1994-02-16 Stc Plc Optical receivers
DE3938097A1 (de) 1989-11-16 1991-05-23 Standard Elektrik Lorenz Ag Optischer empfaenger
GB2247798B (en) * 1990-09-06 1994-10-26 Stc Plc Optical receiver
US5130667A (en) 1991-04-11 1992-07-14 Bell Communications Research Inc. Differential transimpedance amplifier
US5442321A (en) 1993-07-08 1995-08-15 Anadigics, Inc. Automatic transimpedance control amplifier
EP0643496A1 (de) 1993-09-10 1995-03-15 Siemens Aktiengesellschaft Optischer Empfänger mit grosssignalfestem Transimpedanzverstärker
JP3335455B2 (ja) 1994-01-19 2002-10-15 富士通株式会社 電流電圧変換回路
US5532471A (en) 1994-12-21 1996-07-02 At&T Corp. Optical transimpedance amplifier with high dynamic range
US5565672A (en) 1994-12-30 1996-10-15 Lucent Technologies Inc. Optical transimpedance receiver with compensation network
US5696657A (en) 1995-06-02 1997-12-09 Hughes Electronics Temperature compensated APD detector bias and transimpedance amplifier circuitry for laser range finders
US5592124A (en) 1995-06-26 1997-01-07 Burr-Brown Corporation Integrated photodiode/transimpedance amplifier
US5679953A (en) * 1996-08-05 1997-10-21 International Business Machines Corporation Automatic threshold setting circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022049495A (ja) * 2020-09-16 2022-03-29 株式会社東芝 保護回路
JP7467298B2 (ja) 2020-09-16 2024-04-15 株式会社東芝 保護回路

Also Published As

Publication number Publication date
GB2343943A (en) 2000-05-24
KR100701741B1 (ko) 2007-03-29
AU1553800A (en) 2000-06-05
DE69923475T2 (de) 2005-07-07
EP1137916B1 (en) 2005-01-26
DE69923475D1 (de) 2005-03-03
CA2351518A1 (en) 2000-05-25
CN1229633C (zh) 2005-11-30
CA2351518C (en) 2009-05-05
GB2343943B (en) 2003-11-26
US6307196B1 (en) 2001-10-23
KR20010081014A (ko) 2001-08-25
WO2000029821A1 (en) 2000-05-25
CN1326545A (zh) 2001-12-12
EP1137916A1 (en) 2001-10-04
GB9825304D0 (en) 1999-01-13
TW437157B (en) 2001-05-28
JP4472874B2 (ja) 2010-06-02
ATE288074T1 (de) 2005-02-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002530640A (ja) 検出回路
JP3418654B2 (ja) プリアンプ
AU679791B2 (en) Transimpedance amplifier circuit with feedback and load resistor variable circuits
US6323734B1 (en) Trans-impedance amplifier
US5867062A (en) DC-offset canceler circuit and differential amplifier circuit equipped therewith
EP0846369A1 (en) Variable-gain amplifier with pseudo-logarithmic gain control
JPH0818394A (ja) 電流センサ回路およびその作動方法
US6087819A (en) Current mirror circuit with minimized input to output current error
JPH045949B2 (ja)
US4524330A (en) Bipolar circuit for amplifying differential signal
US6768384B1 (en) High-speed differential preamplifier
JP3415986B2 (ja) 光受信用増幅器
JPS634961B2 (ja)
US6759900B1 (en) High bandwidth and wide dynamic range preamplifier with high stability
US6788144B2 (en) Variable-gain amplifier
JPH0438567Y2 (ja)
JPH10335957A (ja) 光受信用増幅器
JPH0425724B2 (ja)
CN208538007U (zh) 跨阻放大电路及通讯装置
JP2596125Y2 (ja) 演算増幅回路
JPS626361B2 (ja)
JP3753670B2 (ja) バースト信号増幅装置及びこれを用いたバースト光信号受信装置
JPH04369113A (ja) 主信号通路とハイパスフィルター特性の補助的な信号通路を有するノイズ減衰回路
JPH0626291B2 (ja) 利得制御装置
JPH07170130A (ja) 増幅回路及びこれを用いた半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060912

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20061114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090911

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20091210

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20091217

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100222

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100304

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140312

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees