JP2002285134A - 半導体加工用粘着シート - Google Patents
半導体加工用粘着シートInfo
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Abstract
し、該帯電による半導体デバイスの破壊および製の劣化
を防ぐことのできる半導体加工用粘着シートを提供する 【解決手段】 紫外線及び/又は電子線に対し透過性を
有する基材面上にベースポリマーと放射線重合性化合物
と放射線重合性重合開始剤からなる粘着剤層を塗布して
なる半導体加工用粘着シートにおいて、帯電防止効果を
有し、帯電時の電圧の半減期が1秒以下である半導体加
工用粘着シートである。
Description
を備え且つ帯電防止効果を有する半導体加工用粘着シー
トに関するものである。
たパッケージに貼着し、ダイシング、エキスパンティン
グ等を行い、次いでピックアップすると同時にマウンテ
ィングする(パッケージの場合はトレイに収納される)
際に用いる半導体加工用シートとして、紫外線及び/又
は電子線に対し透過性を有する基材上に紫外線及び/又
は電子線により重合硬化反応をする粘着剤層が塗布され
た粘着シートを用い、ダイシング後に紫外線及び/又は
電子線を粘着剤層に照射し、粘着剤層を重合硬化反応を
させ、粘着力を低下せしめて半導体ウエハまたは切断さ
れたパッケージをピックアップする方法が知られてい
る。例えば、特開昭60−196956号公報、特開昭
60−223139号公報には、粘着剤層を構成する光
重合性開始剤として、トリメチロールプロパントリアク
リレート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ポ
リエチレングリコールジアクリレート、オリゴエステル
アクリレート等の分子内に紫外線及び/又は電子線重合
性炭素−炭素二重結合を少なくとも2個以上有するアク
リル樹脂系化合物を用いることが提案されている。
積化に伴い回路が高詳細化し、帯電による製品破壊や作
業上の不具合が問題が生じている。工程中懸念される帯
電としては、シートをセパレータより剥離する際の剥離
による帯電、ダイシング時のブレードとシートと摩擦に
よる帯電、ダイシング後シートを吸着テーブルより取り
外す際の剥離帯電、洗浄時に高圧吐出される洗浄液とシ
−トとの摩擦による帯電、洗浄後乾燥時にテーブルを高
速回転することによる発生する帯電、チップおよびパッ
ケージをピックアップする際の剥離による帯電等などが
ある。これら帯電により半導体デバイスの破壊や性能劣
化が生じたり、以降の作業に不具合を生じるという問題
が発生している。
問題点を解決し、半導体製造工程中における帯電の発生
を防止し、該帯電による半導体デバイスの破壊および製
の劣化を防ぐことのできる半導体加工用粘着シートを提
供することにある。
に対し透過性を有する基材面上にベースポリマーと放射
線重合性化合物と放射線重合性重合開始剤からなる粘着
剤層を塗布してなる半導体加工用粘着シートにおいて、
帯電防止効果があり、帯電時の電圧の半減期が1秒以下
であることを特徴とする半導体加工用粘着シートであ
り、半導体製造工程中における帯電の発生を防止し、該
帯電による半導体デバイスの破壊および製品の劣化を防
ぐことができる
発明において、半導体加工用粘着シートは帯電時の電圧
の半減期が1秒以下になるように設定する。帯電防止の
処理の処理方法については、特に限定するものではな
く、例えば粘着剤層への帯電防止剤の練り込み、粘着剤
層と基材界面へのアンカー処理、基材への練り込み、基
材の粘着剤を有する面と反対側の面への塗布処理、また
はこれらを組み合わせる処理などが挙げられる。
は、例えばアルファオレフィンスルホン酸塩、アルキル
硫酸エステル塩、メチルタウリン酸塩、アルキルベンゼ
ンスルホン酸塩、エーテルカルボン酸塩等に代表される
アニオン系界面活性剤、第四級アンモニウム、アミン塩
類等に代表されるカチオン系界面活性剤、ノニルフェノ
ール系、高級アルコール系、脂肪酸エステル系、アルキ
ルアミンエチレンオキサイド付加体等に代表されるノニ
オン系界面活性剤などがある。または、これらを複合し
て用いてもよい。またポリピロール系、ポリアニリン
系、ポリチオフェン系等のπ電子共役系や金属イオンを
ドーピングした導電性ポリマーや、或いは酸化錫、酸化
インジウム、酸化亜鉛、酸化チタン、カーボンブラック、珪素
系有機化合物があげられる。これらを単体で使用しても
効果は得られるがこれら2種以上を組み合わせて使用し
ても差し支えない。また、ポリアルキレングリコールと
過塩素酸リチウムなどの過塩素酸塩との複合体等の導電
性フィラーや帯電防止性を上げる為に導電性フィラーに
アンチモン等をドーピングしたものを使用してもよい。
また上記の界面活性剤、金属酸化物、導電ポリマーを複
合して用いてもよい。
紫外線及び/又は電子線に対して透過性を有するもので
あれば特に限定されず、例えば、塩化ビニル、ポリエチ
レンテレフタレート、ポリエチレン、ポリプロピレン、
ポリウレタン、エチレン酢酸ビニル共重合体、エチレン
−ヘキセン共重合体、エチレン−ブテン共重合体または
エチレン−プロピレン−ブテン共重合体等が用いられ
る。
としては、特に限定されるものではなく、例えば、アク
リル酸、メタクリル酸及びそれらのエステルからなるポ
リマー、アクリル酸、メタクリル酸及びそれらのエステ
ルと共重合可能な不飽和単量体、例えば、酢酸ビニル、
スチレン、アクリロニトリルなどとの共重合体が用いら
れる。また本発明の粘着剤には、凝集力を高めるために
ロジン樹脂、テルペン樹脂、クマロン樹脂、フェノール
樹脂、スチレン樹脂、脂肪族系石油樹脂、芳香族系石油
樹脂、脂肪族芳香族共重合系石油樹脂等の粘着付与剤等
を添加しても構わない。
としては特に限定されるものではなく、例えばウレタン
アクリレートやアクリルモノマーなどが用いられる。
2〜4個のアクリロイル基を有するウレタンアクリレー
トで、ジイソシアネート、ポリオール及びヒドロキシ
(メタ)アクリレートとにより合成される化合物であ
り、好ましくは2個のアクリロイル基を有するウレタン
アクリレートである。前記のイソシアネートとしては、
例えばトルエンジイソシアネート、ジフェニルメタンジ
イソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、フ
ェニレンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタンジ
イソシアネート、キシレンジイソシアネート、テトラメ
チルキシレンジイソシアネート、ナフタレンジイソシア
ネート等を挙げることができる。前記のポリオールとし
ては、例えばエチレングリコール、プロピレングリコー
ル、ブタンジオール、ヘキサンジオール等を挙げること
ができる。前記のヒドロキシ(メタ)アクリレートとし
ては、例えば、2−ヒドルキシエチル(メタ)アクリレ
ート、2−ヒドルキシプロピル(メタ)アクリレート等
を挙げることができる。
リメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリス
リトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトテ
トラアクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロ
キシペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールヘキ
サアクリレート等を挙げることができる。
合開始剤としては、特に限定されるものではなく、例え
ば、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノ
ン、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニルケト
ン、2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕
−2−モンフォニルプロパンなどが用いられる。放射線
重合性化合物、放射線重合性重合開始剤の混合割合は、
粘着剤100重量部に対して、放射線重合性化合物が5
0〜200重量部、放射線重合性重合開始剤0.03〜
22.5重量部の混合割合である。放射線重合性化合物
の割合が50重量部未満であると硬化後の粘着力の低下
が十分でなくデバイスのピックアップが困難になり、2
00重量部を越えると粘着剤層の凝集力が不足し好まし
くない。放射線重合性重合開始剤の割合が0.03重量
部未満であると紫外線及び/又は電子線照射における放
射線重合性化合物の硬化反応が乏しくなり粘着力の低下
が不十分となり好ましくなく、22.5重量部を越える
と熱あるいは蛍光灯下での安定性が悪くなり好ましくな
い。
に限定されるものではないが、5〜35μm程度である
のが好ましい。本発明において、前記粘着剤層を前記基
材上に形成し、半導体ウエハ加工用粘着紙とを製造する
には、粘着剤層を構成する成分をそのまま、または適当
な有機溶剤により溶液化し、塗布又は散布等により基材
上に塗工し、例えば80〜100℃、30秒〜10分程
度加熱処理等により乾燥させることにより得ることがで
きる。
は公知の方法を用いることができ、例えば半導体加工用
粘着シートを半導体ウエハに貼り付けて固定した後、回
転丸刃で半導体デバイスを素子小片に切断する。その
後、前記加工用粘着シートの基材側から紫外線及び/又
は電子線を照射し、次いで専用治具を用いて前記加工用
粘着シート放射状に拡大しチップ間を一定間隔に広げた
後、デバイスをニードル等で突き上げるとともに、真空
コレット、エアピンセット等で吸着する方法等によりピ
ックアップすると同時にマウンティングまたはトレイに
収納すればよい。
詳細に説明するが、本発明はこれらに限定するものでは
ない。 《実施例1》アクリル酸2−エチルヘキシル50重量
部、アクリル酸ブチル10重量部、酢酸ビニル37重量
部および、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル3重量部
とを共重合して得られた重量平均分子量500000の
共重合体100重量部に対し、放射線重合化合物として
ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレ
ートを100重量部、放射線重合開始剤として2,2−
ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノンを8.3重量
部、ポリイソシアネート系架橋剤(コロネートL[日本
ポリウレタン製])6重量部、帯電防止剤としてエーテ
ル系導電高分子(PEL−100[日本カーリット製])
10重量部を配合した粘着剤層となる樹脂溶液を、剥離
処理した厚さ38μmのポリエステルフィルムに乾燥後
の厚さが10μmになるように塗工し、80℃5分間乾
燥した。その後、基材として厚さ80μmのポリ塩化ビ
ニル(PVC)フィルムをラミネートし、半導体加工用
粘着シートを作製した。得られた半導体加工用粘着シー
トを室温で7日以上成熟後、帯電時の半減期の測定、ま
た実際に該シートを用いパッケージを組み立てパッケー
ジ破壊状況の有無を評価した。その結果を表1に示す。
分子(PEL−100[日本カーリット製])を塗布して
いること以外は実施例1と同様の方法で試料を作製し、
実施例1と同様の項目について試験した。その結果を表
1に示す。 《実施例3》実施例1において帯電防止剤としてエーテ
ル系導電高分子(PEL−100[日本カーリット製])
に代えて脂肪酸エステル系界面活性剤(カデナックスS
O−80C[ライオン製])を用いた以外は、実施例1と
同様の方法で試料を作製し、実施例1と同様の項目につ
いて試験した。その結果を表1に示す。 《実施例4》実施例1において帯電防止剤としてエーテ
ル系導電高分子(PEL−100[日本カーリット製])
に代えて酸化錫を用いた以外は、実施例1と同様の方法
で試料を作製し、実施例1と同様の項目について試験し
た。その結果を表1に示す。 《実施例5》実施例1において、基材としてポリ塩化ビ
ニル(PVC)フィルムに代えて、ポリアニリン系導電
ポリマーが練り込まれた厚さ80μmのポリ塩化ビニル
(PVC)フィルムを用いたこと以外は、実施例1と同
様の方法で試料を作製し、実施例1と同様の項目につい
て試験した。その結果を表1に示す。
となる樹脂溶液に帯電防止剤が含まれていないこと以外
は、実施例1と同様の方法で試料を作製し、実施例1と
同様の項目について試験した。その結果を表1に示す。
価方法を用いた。 ・半減期の測定 electo−tech system社製のSTAT
IC DECAY METERを用いシートに5kVの
帯電処理を行い、その帯電が半減する時間を測定するこ
とにより評価を行った。
の電圧の半減期が1秒以下であることを特徴としてお
り、半導体製造工程中における帯電の発生を防止し、該
帯電による半導体デバイスの破壊および製の劣化を防ぐ
ことができる。
Claims (2)
- 【請求項1】 紫外線及び/又は電子線に対し透過性を
有する基材面上にベースポリマーと放射線重合性化合物
と放射線重合性重合開始剤とからなる粘着剤層を塗布し
てなる半導体加工用粘着シートにおいて、半導体加工用
粘着シートが帯電防止効果を有し、帯電時の電圧の半減
期が1秒以下であることを特徴とする半導体加工用粘着
シート。 - 【請求項2】 該粘着剤層がベースポリマー100重量
部に対して、放射線重合性化合物50〜200重量部、
放射線重合性重合開始剤0.03〜22.5重量部を含
有してなる粘着層である請求項1記載の半導体加工用粘
着シート。
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---|---|---|---|
JP2001088538A JP2002285134A (ja) | 2001-03-26 | 2001-03-26 | 半導体加工用粘着シート |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090526 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091020 |