JP2002256234A - 半導体ウエハ加工用粘着シート - Google Patents

半導体ウエハ加工用粘着シート

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JP2002256234A
JP2002256234A JP2001055692A JP2001055692A JP2002256234A JP 2002256234 A JP2002256234 A JP 2002256234A JP 2001055692 A JP2001055692 A JP 2001055692A JP 2001055692 A JP2001055692 A JP 2001055692A JP 2002256234 A JP2002256234 A JP 2002256234A
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adhesive sheet
parts
radiation
pressure
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JP2001055692A
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English (en)
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Naoya Oda
直哉 織田
Yukinori Takeda
幸典 武田
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体ウエハ加工に際して、不純性が少な
くかつ耐チッピング特性に優れダイシングの際のチップ
飛びを防ぐ半導体ウエハ加工用粘着シートを提供するこ
と。 【解決手段】 紫外線及び/又は電子線に対し透過性を
有するフィルム基材面上にベース樹脂、放射線重合性化
合物、放射線重合性重合開始剤、及び架橋剤からなる粘
着剤層を塗布してなる半導体ウエハ加工用粘着シートに
おいて、ベース樹脂が0.5〜50重量%のアクリル酸
ブチルを主成分とする-COOH末端の重量平均分子量30
0000〜700000の共重合体と99.5〜50重
量%のアクリル酸2−エチルヘキシルとアクリル酸ブチ
ル、酢酸ビニル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチルと
を共重合して得られた-OH末端の重量平均分子量250
000〜350000の共重合体からなることを特徴と
する半導体ウエハ加工用粘着シート。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はシリコンやガリウム
ヒ素などの半導体ウエハを加工する際に使用するウエハ
加工用の粘着シートに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体ウエハに貼着し、ダイシン
グ、エキスパンティング等を行い、次いで該半導体ウエ
ハをピックアップすると同時にマウンティングする際に
用いる半導体ウエハ加工用シートとして、紫外線及び/
又は電子線に対し透過性を有する基材上に紫外線及び/
又は電子線により重合硬化反応をする粘着剤層が塗布さ
れた粘着シートを用い、ダイシング後に紫外線及び/又
は電子線を粘着剤層に照射し、粘着剤層を重合硬化反応
をさせ、粘着力を低下せしめて半導体ウエハ(チップ)
をピックアップする方法が知られている。
【0003】近年、電子機器分野では部品が小型化・軽
量化しており、また、半導体ウエハ上への精密加工が可
能となり、ダイシングの際のウエハのカットサイズ#が
小さくなってきている。しかし、200g/25mm以下の粘着
力のシートを用いた場合、小チップのダイシングの際、
粘着力が弱く、ウエハからチップが飛ぶという問題があ
った。特開昭62-59684号公報には、光照射前200〜1000g
/20mmであり、光照射後は150g/25mm以下となる接着フィ
ルムについての記載があるが、粘着特性の1つである凝
集力については検討がされていない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、半導
体ウエハ加工に際して、不純性が少なくかつ耐チッピン
グ特性に優れ、小チップのダイシングの際のチップ飛び
を防ぐ半導体ウエハ加工用粘着シートを提供することに
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、(1) 紫外
線及び/又は電子線に対し透過性を有するフィルム基材
面上にベース樹脂、放射線重合性化合物、放射線重合性
重合開始剤、及び架橋剤からなる粘着剤を塗布してなる
半導体ウエハ加工用粘着シートにおいて、ベース樹脂が
アクリル酸ブチルを主成分とする-COOH末端の重量平均
分子量300000〜700000の共重合体0.5〜
50重量%とアクリル酸2−エチルヘキシルとアクリル
酸ブチル、酢酸ビニル、メタクリル酸2−ヒドロキシエ
チルとを共重合して得られた-OH末端の重量平均分子量
250000〜350000の共重合体99.5〜50
重量%とからなることを特徴とする半導体ウエハ加工用
粘着シート、(2) 対シリコンウエハ鏡面に対しての
放射線照射前の粘着力が200〜2000gf/25mm、
放射線照射後の粘着力が10〜50gf/25mmであり、
かつJISZ0237保持力で規定される凝集力が5mm
以下である第(1)項記載の半導体ウエハ加工用粘着シ
ート、(3) 粘着剤が、ベース樹脂100重量部、放
射線重合性化合物30〜90重量部、放射線重合性重合
開始剤0.05〜20重量部及び架橋剤2〜12重量部
からなる粘着剤である第(1)項記載の半導体ウエハ加
工用粘着シート、(4) 放射線重合性化合物が、10
00以下の分子量を持つ多官能のアクリレートモノマー
10重量%〜90重量%と、5000以上の分子量を持
つ多官能のウレタンアクリレート90重量%〜10重量
%との混合物である第(1)項または第(3)項記載の
半導体ウエハ加工用粘着シートである。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
【0007】本発明において用いられる紫外線及び/又
は電子線に対して透過性を有するフィルム基材として
は、紫外線及び/又は電子線に対して透過性を有するも
のであれば特に限定されず、例えばポリエチレン、ポリ
プロピレン、ポリブテン、ポリブタジエン、ポリメチル
ペンテン、ポリ塩化ビニル、塩化ビニル共重合体、ポリ
エチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレー
ト、ポリウレタン、エチレン酢ビ共重合体、アイオノマ
ー、エチレン・(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン・
(メタ)アクリル酸エステル共重合体、ポリスチレン、ビ
ニルポリイソプレン、ポリカーボネート等の一般的な熱
可塑性樹脂からなる透明フィルムを用いることができ
る。さらに透明であればこれらの樹脂の混合物からなる
フィルムあるいはこれらの樹脂の積層フィルムでもあっ
てもよい。また粘着剤との密着性を上げるために、これ
ら基材の表面にコロナ処理を行ってもよい。本発明に用
いるベース樹脂は、アクリル酸ブチルを主成分とする-C
OOH末端の重量平均分子量300000〜700000
の共重合体0.5〜50重量%とアクリル酸2−エチル
ヘキシルとアクリル酸ブチル、酢酸ビニル、メタクリル
酸2−ヒドロキシエチルとを共重合して得られた-OH末
端の重量平均分子量250000〜350000の共重
合体99.5〜50重量%とからなる組成物である。ベ
ース樹脂にアクリル酸ブチルを主成分とする-COOH末端
の重量平均分子量300000〜700000の共重合
体を用いることで、硬化前の粘着力をアップすることが
でき、ダイシングの際のチップの飛散をなくすことがで
きる。
【0008】一方、ベース樹脂にアクリル酸2−エチル
ヘキシルとアクリル酸ブチル、酢酸ビニル、メタクリル
酸2−ヒドロキシエチルとを共重合して得られた重量平
均分子量250000〜350000の共重合体を用い
ることで、硬化前の粘着剤層に十分な凝集力を付与する
ことができ、エキスパンディング時にアルミリング等の
専用治具から粘着シートが剥離、脱落する恐れがなくな
る。更に硬化反応後の粘着剤層にも十分な凝集力を付与
することができ、ダイシング時にチッピングを抑えるこ
とができる。
【0009】アクリル酸ブチルを主成分とする-COOH末
端の重量平均分子量300000〜700000の共重
合体とアクリル酸2−エチルヘキシルとアクリル酸ブチ
ル、酢酸ビニル、メタクリル酸2−ヒドロキシエチルと
を共重合して得られた重量平均分子量250000〜3
50000の共重合体の重量比は0.5:99.5〜5
0:50の範囲であり、好ましく1:99〜45:55
の範囲である。アクリル酸ブチルを主成分とする-COOH
末端の重量平均分子量300000〜700000の共
重合体の比率が0.5未満になると放射線照射前の粘着
力が不足して、ダイシングの際にチップ飛びの原因とな
り、50を越えると粘着剤層の凝集力が不足し、チッピ
ングの原因になることや放射線照射後の粘着力が高く、
ピックアップ時のミスになる。
【0010】本発明に用いる放射線重合性化合物混合物
は、紫外線及び/又は電子線による硬化反応前には半導
体ウエハに対して十分な粘着力を有し、硬化反応後には
粘着力が低下し半導体ウエハ(チップ)のピックアップ
を容易に行うことができ、しかも高い凝集力を保つため
に5000以上、好ましくは8000以上、更に好まし
くは10000以上の分子量を持つ多官能ウレタンアク
リレートと1000以下の分子量を持つ多官能アクリレ
ートモノマーまたは2種類以上のアクリレートモノマー
とを混合することが好ましい。
【0011】5000以上の分子量を持つ多官能ウレタ
ンアクリレートを用いることで、硬化反応前の粘着剤層
に十分な凝集力を付与することができ、エキスパンディ
ング時にアルミリング等の専用治具から粘着シートが剥
離、脱落する恐れがなくなる。しかも蛍光灯下に長時間
暴露しても粘着力を安定することができ、更に硬化反応
後の粘着剤層にも十分な凝集力を付与することができ、
ダイシング時にチッピングを抑えることができる。分子
量が5000以下であると粘度が低くなり、粘着剤層の
凝集力が不足し、官能基数が1であると硬化後の粘着剤
層の架橋密度が十分に上がらず、硬化後の粘着力の低下
が不十分となる。
【0012】一方、5000以上の分子量を持つ多官能
のウレタンアクリレートのみでは粘度が高く取扱が困難
で、硬化後の粘着力の低下が十分でなくチップのピック
アップが困難になる。これを調整するために1000以
下の分子量を持つ多官能のアクリレートモノマーを併用
すると粘着物性のバランスが好適になる。多官能のアク
リレートモノマーを使用するのは硬化後の粘着剤層の架
橋密度を上げ、粘着力を十分に低下させるためのであ
り、これらの組み合わせ以外では硬化後の粘着力の低下
が十分でなくチップのピックアップが困難になる等とい
う問題が発生する。
【0013】本発明において用いる放射線重合性化合物
中の多官能のウレタンアクリレートとしては、ジイソシ
アネート、ポリオール及びヒドロキシ(メタ)アクリレ
ートとにより合成される化合物であり、好ましくは2個
のアクリロイル基を有するウレタンアクリレートが好適
に用いられる。前記のジイソシアネートとしては、例え
ばトルエンジイソシアネート、ジフェニルメタンジイソ
シアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、フェニ
レンジイソシアネート、ジシクロヘキシルメタンジイソ
シアネート、キシレンジイソシアネート、テトラメチル
キシレンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネー
ト等を挙げることができる。前記のポリオールとして
は、例えばエチレングリコール、プロピレングリコー
ル、ブタンジオール、ヘキサンジオール等を挙げること
ができる。前記のヒドロキシ(メタ)アクリレートとし
ては、例えば、2−ヒドルキシエチル(メタ)アクリレ
ート、2−ヒドルキシプロピル(メタ)アクリレート等
を挙げることができる。
【0014】また放射線重合性化合物中の多官能アクリ
レートモノマーとしては、例えばトリメチロールプロパ
ントリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリ
レート、ペンタエリスリトールトテトラアクリレート、
ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタアクリレ
ート、ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート等を
挙げることができる。放射線重合性化合物の多官能のウ
レタンアクリレートと多官能のアクリレートモノマーの
重量比は10:90〜90:10の範囲であり、好まし
く20:80〜80:20の範囲である。多官能ウレタ
ンアクリレートの重量比が10未満になると粘着剤層の
凝集力が不足し、90を越えると硬化後の粘着力の低下
が十分でなくチップのピックアップが困難になるという
問題が生じる。
【0015】放射線重合性重合開始剤としては、例え
ば、2-2-ジメトキシ-1,2-ジフェニルエタン-1-オン、ベ
ンゾフェノン、アセトフェノン、ベンゾイン、ベンゾイ
ンメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾ
インイソプロピルエーテル、ベンジルジフェニルサルフ
ァイド、テトラメチルチウラムモノサルファイド、アゾ
ビスイソブチロニトリル、ジベンジル、ジアセチル、β
-クロールアンスラキノンなどが挙げられる。
【0016】架橋剤としては、具体的には多価イソシア
ネートのポリイソシアネート化合物およびポリイソシア
ート化合物の三量体、上記ポリイソシアネート化合物と
ポリオール化合物とを反応させて得られる末端イソシア
ネート化合物の三量体または末端イソシアネートウレタ
ンプレポリマーをフェノール、オキシム類などで封鎖し
たブロック化ポリイソシアネート化合物が挙げられる。
【0017】多価イソシアネートの具体例としては、例
えば、2,4-トリレンジイソシアネート、2,6-トリレンジ
イソシアネート、1,3-キシリレンジイソシアネート、1,
4-キシレンジイソシアネート、ジフェニルメタン-4-4'-
ジイソシアネート、ジフェニルメタン-2-4'-ジイソシア
ネート、3-メチルジフェニルメタンジイソシアネート、
ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシ
アネート、ジシクロヘキシルメタン-4-4'-ジイソシアネ
ート、ジシキウロヘキシルメタン-2-4'-ジイソシアネー
ト、リジンイソシアネートなどがあげられる。
【0018】本発明に用いる粘着剤中の架橋剤の混合割
合は、ベース樹脂100重量部に対して、2〜12重量
部、好ましくは2.5〜7重量部である。2重量部より
少ないと、粘着剤層の凝集力が不足し、チッピング性が
悪くなる。また、12重量部を超える量で用いられる
と、放射線照射前の粘着力が不足し、チップ飛びの原因
となり、好ましくない。
【0019】本発明に用いる粘着剤中の放射線重合性化
合物、放射線重合性重合開始剤の混合割合は、ベース樹
脂100重量部に対して、放射線重合性化合物が30〜
90重量部、放射線重合性重合開始剤0.05〜20重
量部である。放射線重合性化合物の割合が30重量部未
満であると硬化後の粘着力の低下が十分でなくチップの
ピックアップが困難になり、90重量部を越えると粘着
剤層の凝集力が不足し好ましくない。放射線重合性重合
開始剤の割合が0.05重量部未満であると紫外線及び
/又は電子線照射における放射線重合性化合物の硬化反
応が乏しくなり粘着力の低下が不十分となりピックアッ
プ時にチップが取れなくなるので好ましくなく、20重
量部を越えると硬化時に架橋反応が短鎖で終点を迎え、
分子量の小さなものが残り、パーティクルの原因になる
ことや硬化の粘着力が低すぎるために、チップのピック
アップの際にチップがシートから外れるので好ましくな
い。
【0020】また本発明の粘着剤には、凝集力を高める
ためにロジン樹脂、テルペン樹脂、クマロン樹脂、フェ
ノール樹脂、スチレン樹脂、脂肪族系石油樹脂、芳香族
系石油樹脂、脂肪族芳香族共重合系石油樹脂等の粘着付
与剤等を添加しても構わない。
【0021】さらに上記の粘着剤中に帯電防止剤を添加
することもできる。帯電防止剤を添加することにより、
エキスパンド時あるいはピックアップ時に発生する静電
気を抑制できるため、チップの信頼性が向上する。帯電
防止剤としては、具体的にはアニオン性、カチオン性、
非イオン性、ないし両イオン性の一般に公知の界面活性
剤、カーボンブラック、銀、ニッケル、アンチモンドー
プスズ酸化物、スズドープインジウム酸化物などの粉体
が用いられる。帯電防止剤は、粘着剤中に0〜30重量
部、特には0〜20重量部の範囲で用いられることが好
ましい。
【0022】本発明において、前記粘着剤層の厚さは特
に限定されるものではないが、5〜35μm程度である
のが好ましい。本発明において、前記粘着剤層を前記基
材上に形成し、半導体ウエハ加工用粘着紙とを製造する
には、粘着剤層を構成する成分をそのまま、または適当
な有機溶剤により溶液化し、コンマコーター、グラビア
コーター、ダイコーター、リバースコーターなど一般に
公知の方法に従って適宜の厚みに塗布又は散布等により
基材上に塗工し、例えば80〜100℃、30秒〜10
分程度加熱処理等により乾燥させることにより得ること
ができる。
【0023】本発明の半導体ウエハ加工用粘着シートを
使用するには公知の方法を用いることができ、例えば半
導体ウエハ加工用粘着シートを半導体ウエハに貼り付け
て固定した後、回転丸刃で半導体ウエハを素子小片(以
下チップという)に切断する。その後、前記加工用粘着
シートの基材側から紫外線及び/又は電子線を照射し、
次いで専用治具を用いて前記ウエハ加工用粘着シート放
射状に拡大しチップ間を一定間隔に広げた後、チップを
ニードル等で突き上げるとともに、真空コレット、エア
ピンセット等で吸着する方法等によりピックアップする
と同時にマウンティングすればよい。
【0024】
【実施例】以下、本発明を実施例及び比較例により、更
に詳細に説明するが、本発明はこれらに限定するもので
はない。 《実施例1》アクリル酸ブチル70重量部とアクリル酸
2−エチルヘキシル25重量部と酢酸ビニル5重量部と
を共重合して得られた重量平均分子量500000の共
重合体(A)10重量部とアクリル酸2−エチルヘキシル
50重量部とアクリル酸ブチル10重量部、酢酸ビニル
37重量部、メタクリル酸2−ヒドロキシエチル3重量
部とを共重合して得られた重量平均分子量300000
の共重合体(B)90重量部からなるベース樹脂100重
量部に対し、放射線重合化合物として分子量が1100
0の2官能ウレタンアクリレート(C)を30重量部、分
子量が500の5官能アクリレートモノマー(D)を30
重量部、光重合開始剤(E)として2,2−ジメトキシ−
2−フェニルアセトフェノンを5重量部、ポリイソシア
ネート系架橋剤(F)を6重量部を配合した粘着剤層とな
る樹脂溶液を、剥離処理した厚さ38μmのポリエステ
ルフィルムに乾燥後の厚さが10μmになるように塗工
し、80℃5分間乾燥した。その後、基材として厚さ1
00μmのポリエチレンシート(タマポリ、SE-620N)を
ラミネートし、半導体加工用粘着シートを作製した。な
お以下の評価は、剥離処理したポリエステルフィルムを
剥離した後に実施した。
【0025】《実施例2》Eを1重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例3》 Eを15重量部に変えた以外は実施例1と同
様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例4》 Fを4重量部に変えた以外は実施例1と同
様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例5》 Fを10重量部に変えた以外は実施例1と
同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例6》 Cを20、 Dを20重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例7》 Cを40、 Dを40重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例8》 Cを45、 Dを15重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例9》 Cを15、 Dを45重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例10》 Aを5、 Bを95重量部に変えた以外は実
施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《実施例11》 Aを30、 Bを70重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。
【0026】《比較例1》 Eを0.02重量部に変えた以外
は実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価し
た。 《比較例2》 Eを25重量部に変えた以外は実施例1と
同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例3》 Fを1重量部に変えた以外は実施例1と同
様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例4》 Fを15重量部に変えた以外は実施例1と
同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例5》 Cを10、 Dを10重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例6》 Cを50、 Dを50重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例7》 Cを57、 Dを3重量部に変えた以外は実
施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例8》 Cを3、 Dを57重量部に変えた以外は実
施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。 《比較例9》Aを0.3、 Bを99.7重量部に変えた
以外は実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価
した。 《比較例10》 Aを70、 Bを30重量部に変えた以外は
実施例1と同様の方法でサンプルを作成し、評価した。
【0027】
【表1】
【0028】
【表2】
【0029】尚、実施例及び比較例の評価は、以下の評
価方法を用いた。 (1)放射線照射前粘着力 実施例あるいは比較例において得られた塗工後7日後の
粘着フィルムを23℃、65%RHの雰囲気下で、シリコ
ンウエハ鏡面に2kgゴムローラーを往復させることに
より貼り付け、20分放置した後、万能型引っ張り試験機
(TENSILON)を用いて剥離強度300mm/minで180゜剥離粘着
力を測定した。 JISZ0237準拠。 (2)放射線照射後粘着力 (1)と同様の条件で貼り付け、放置後、基材フィルム
側から高圧水銀灯で85mW/cm2ライン速度5m/minで紫外線
照射した後、同様に180゜剥離粘着力を測定した。 (3)凝集力 23℃、1時間保持でズレを測定する。JISZ023
7準拠 (4)チップ飛び 半導体ウエハを、粘着シートに保持固定し、ダイシング
ソー(DISCO製 DAD-2H6M)を用いてスピンドル回転数3
0,000rpm、カッティングスピード120mm/
min.で、5mm□のチップサイズにカット後、粘着シ
ートより剥離したチップの総数をカウントし、評価し
た。 評価基準 ○:5個以下 △:5〜10個 ×:10個以上 (5)チッピング特性 5インチサイズの半導体ウエハを、粘着シートに保持固
定し、ダイシングソー(DISCO製 DAD-2H6M)を用いてスピ
ンドル回転数30,000rpm、カッティングスピー
ド120mm/min.でチップサイズにカット後、チ
ップを粘着シートより剥離しその裏面の欠けの状態を実
体顕微鏡で観察することにより評価した。 評価基準 ○:チップの欠けの幅が最大で30mm以下のもの △:チップの欠けの幅が最大で30〜50mmのもの ×:チップの欠けの幅が最大で50mm以上のもの (6)パーティクル測定 5インチサイズの半導体ウエハを、粘着シートに保持固
定し、放射線を照射し、ウエハを粘着シートより剥離し
その裏面に付着している粒子を実体顕微鏡で観察するこ
とにより評価した。 評価基準 ○:3個以下 △:3〜10個 ×:10個以上
【0030】
【発明の効果】本発明によれば、半導体ウエハ加工に際
して優れたエキパンド性を示し、かつ耐チッピング特性
に優れた半導体ウエハ加工用粘着シートが得られる。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 紫外線及び/又は電子線に対し透過性を
    有するフィルム基材面上にベース樹脂、放射線重合性化
    合物、放射線重合性重合開始剤、及び架橋剤からなる粘
    着剤を塗布してなる半導体ウエハ加工用粘着シートにお
    いて、ベース樹脂がアクリル酸ブチルを主成分とする-C
    OOH末端の重量平均分子量300000〜700000
    の共重合体0.5〜50重量%とアクリル酸2−エチル
    ヘキシルとアクリル酸ブチル、酢酸ビニル、メタクリル
    酸2−ヒドロキシエチルとを共重合して得られた-OH末
    端の重量平均分子量250000〜350000の共重
    合体99.5〜50重量%とからなることを特徴とする
    半導体ウエハ加工用粘着シート。
  2. 【請求項2】 対シリコンウエハ鏡面に対しての放射線
    照射前の粘着力が200〜2000gf/25mm、放射線
    照射後の粘着力が10〜50gf/25mmであり、かつJ
    ISZ0237保持力で規定される凝集力が5mm以下で
    ある請求項1記載の半導体ウエハ加工用粘着シート。
  3. 【請求項3】 粘着剤が、ベース樹脂100重量部、放
    射線重合性化合物30〜90重量部、放射線重合性重合
    開始剤0.05〜20重量部及び架橋剤2〜12重量部
    からなる粘着剤である請求項1記載の半導体ウエハ加工
    用粘着シート。
  4. 【請求項4】 放射線重合性化合物が、1000以下の
    分子量を持つ多官能のアクリレートモノマー10重量%
    〜90重量%と、5000以上の分子量を持つ多官能の
    ウレタンアクリレート90重量%〜10重量%との混合
    物である請求項1または3記載の半導体ウエハ加工用粘
    着シート。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005019607A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Nitto Denko Corp ダイシング用粘着シートおよび半導体素子の製造方法
JP2005239878A (ja) * 2004-02-26 2005-09-08 Lintec Corp 感圧接着剤組成物並びにそれを用いた粘着シート及び粘着性光学部材
KR100885793B1 (ko) 2006-12-28 2009-02-26 제일모직주식회사 비닐기를 함유한 아크릴계 점착수지 조성물, 이를 포함하는광경화형 점착조성물 및 이를 포함하는 점착테이프
WO2009050786A1 (ja) * 2007-10-16 2009-04-23 Denki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha 粘着剤、粘着シート、多層粘着シート及び電子部品の製造方法
WO2010106849A1 (ja) * 2009-03-16 2010-09-23 電気化学工業株式会社 粘着剤及び粘着シート
KR101217907B1 (ko) * 2011-01-27 2013-01-02 도레이첨단소재 주식회사 표면 보호막을 구비하는 반도체 웨이퍼의 백그라인딩용 점착필름

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005019607A (ja) * 2003-06-25 2005-01-20 Nitto Denko Corp ダイシング用粘着シートおよび半導体素子の製造方法
JP4531355B2 (ja) * 2003-06-25 2010-08-25 日東電工株式会社 ダイシング用粘着シートおよび半導体素子の製造方法
JP2005239878A (ja) * 2004-02-26 2005-09-08 Lintec Corp 感圧接着剤組成物並びにそれを用いた粘着シート及び粘着性光学部材
JP4527417B2 (ja) * 2004-02-26 2010-08-18 リンテック株式会社 感圧接着剤組成物並びにそれを用いた粘着シート及び粘着性光学部材
KR101114638B1 (ko) 2004-02-26 2012-03-05 린텍 가부시키가이샤 감압 접착제 조성물, 및 그것을 이용한 점착 시트 및 점착성 광학 부재
KR100885793B1 (ko) 2006-12-28 2009-02-26 제일모직주식회사 비닐기를 함유한 아크릴계 점착수지 조성물, 이를 포함하는광경화형 점착조성물 및 이를 포함하는 점착테이프
WO2009050786A1 (ja) * 2007-10-16 2009-04-23 Denki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha 粘着剤、粘着シート、多層粘着シート及び電子部品の製造方法
JP5178733B2 (ja) * 2007-10-16 2013-04-10 電気化学工業株式会社 粘着剤、粘着シート、多層粘着シート及び電子部品の製造方法
WO2010106849A1 (ja) * 2009-03-16 2010-09-23 電気化学工業株式会社 粘着剤及び粘着シート
US8764933B2 (en) 2009-03-16 2014-07-01 Denki Kagaku Kogyo Kabushiki Kaisha Adhesive and adhesive sheet
KR101217907B1 (ko) * 2011-01-27 2013-01-02 도레이첨단소재 주식회사 표면 보호막을 구비하는 반도체 웨이퍼의 백그라인딩용 점착필름

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