JP2002237046A - 光ディスク記録装置及び光ディスク記録媒体 - Google Patents
光ディスク記録装置及び光ディスク記録媒体Info
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Abstract
光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制すること
ができる光ディスク記録装置を提供する。 【解決手段】 記録パワーを可変して書き換え可能型の
光ディスクのテスト記録領域に記録を行いテスト記録領
域を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適
記録パワー算出手段S40〜S60と、最適記録パワー
に応じた係数と最適記録パワーとから最適消去パワーを
求める最適消去パワー算出手段S62とを有し、最適記
録パワーと最適消去パワーを用いて光ディスクの記録を
行うことにより、記録パワーがばらつき大きくなった場
合においても、消去パワーが一定範囲より大きくならな
いため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光
ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することが
できる。
Description
及び光ディスク記録媒体に関し、特に、書き換え可能型
光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置及び光ディ
スク記録媒体に関する。
記型(Write Once)と、CD−RW等の書き
換え可能型(Erasable)とがある。このうち、
書き換え可能型光ディスクの上書き記録(オーバーライ
ト)には、図5に示すように、レーザパワーが記録パワ
ーPwと記録冷却パワーPcと消去パワーPeの3値で
変化するレーザビームが使用される。この場合、記録パ
ワーPwは記録膜(相変化膜)を融点まで上昇させるパ
ワーを与え、記録冷却パワーPcは記録膜を融点からア
モルファスを形成する温度まで急冷するための低パワー
を与え、消去パワーPeは記録膜をガラス転移点以上の
温度に上昇させるパワーを与えている。
録パワーPwoと最適消去パワーPeoは、光ディスク
の種類、記録装置、記録速度それぞれによって異なる。
従って、実際に記録を行う際の光ディスクの種類、記録
装置、記録速度の組み合わせにて最適記録パワーPwo
と最適消去パワーPeoを設定するために、情報の記録
に先立ってOPC(Optimum Power Co
ntrol)と呼ばれる記録パワーキャリブレーション
動作を行っている。
置におけるOPC動作について説明する。光ディスクの
記録面上には、図6に示すように、各種データを記憶す
るためのデータエリア、レーザビームの最適記録パワー
を設定するためのテスト記録領域であるPCA(Pow
er Calibration Area)が設けられ
ている。PCAはディスクの最内周に設けられており、
テストエリアとカウントエリアとから成り、テストエリ
アは100個のパーティションから構成されている。ま
た、それぞれのパーティションは15個のフレームで構
成されている。1回のOPC動作ではパーティションの
1つが使用され、パーティションを構成する15個のフ
レームに対して15段階のレーザパワーでテスト信号を
記録する。このテスト信号は、基準時間幅T(Tは標準
速度[1倍速]にて周波数4.32MHzの1周期で約
230nsec)の3倍〜11倍の時間幅を有するパル
ス列からなるEFM変調された信号であり、フレームに
は9通りの長さのピットが記録される。
射し、光ディスクからの反射光を検出することにより、
テスト信号を再生すると共に、それぞれの再生RF(高
周波)信号の振幅の大きさを示す指標としての変調度m
を測定する。変調度mの測定にはAC結合前段階の再生
RF信号が用いられる。
びランド(ピットとピットの間の部分)による再生RF
信号振幅、I3は3Tのピット及びランドによる再生R
F信号振幅、Itopはランド部分のミラー反射レベル
である。変調度mは記録パワーPwに応じて変化する。
なお、記録パワーが低い時は、再生RF信号の振幅が小
さいので変調度mは小さく、記録パワーPwが大きくな
るにつれて、再生RF信号の振幅が大きくなるので変調
度mは大きくなる。
定する場合、変調度mの特性から求められる次のパラメ
ータγを用いる。
のである。光ディスクにはATIP(Absolute
Time In Pregroove)情報としてパ
ラメータγの目標値γtargetが予め記録されてい
る。そこで、図8に示すように、変調度mの特性から上
式によりパラメータγの特性を求め、目標値γtarg
etが得られる記録パワー値Ptargetを求める。
て、Ptargetから最適記録パワーPwoを求める
係数ρが予め記録されているので、この係数ρを用いて
次式により最適記録パワーPwoを求めることができ
る。
用している。また、最適消去パワーPeoについては、
光ディスクにATIP情報として、固定値の係数ε(消
去/記録パワー比)を用いて、最適記録パワーPwoか
ら設定する。
によって最適記録パワーPwoを決定し、この最適記録
パワーPwoに対して固定値の係数εを乗算して最適消
去パワーPeoを求め、記録冷却パワーPcを一定パワ
ーとする方法は、パラメータが少なく設定が容易である
ものの、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせに
より記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが大き
くなった場合は消去パワーも大きくなり、記録パワーと
消去パワーの合計が大きくなるため、光ディスクの繰り
返し記録耐久性が悪化するという問題があった。逆に、
記録パワーがばらつく影響でこの記録パワーが小さくな
った場合は消去パワーも小さくなり、消去特性が悪化す
るという問題があった。なお、繰り返し記録耐久性は光
ディスクの同じ場所に何回記録できるかで表され、記録
後の再生においてジッタ値と変調度mが所定の規格を満
足する記録回数である。
で、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせで記録
パワーがばらつき大きくなった場合にも光ディスクの繰
り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、記録パ
ワーがばらつき小さくなった場合は消去パワーが一定範
囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制することがで
きる光ディスク記録装置及び光ディスク記録媒体を提供
することを目的とする。
は、書き換え可能型の光ディスクの記録を行う光ディス
ク記録装置において、記録パワーを可変して書き換え可
能型の光ディスクのテスト記録領域に記録を行い前記テ
スト記録領域を再生した信号に基づき最適記録パワーを
求める最適記録パワー算出手段と、前記最適記録パワー
に応じた係数と前記最適記録パワーとから最適消去パワ
ーを求める最適消去パワー算出手段とを有し、前記最適
記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光ディスクの
記録を行い、さらに、請求項2に記載の発明では、前記
係数が前記最適記録パワーが大きくなるほど小さな値と
なることにより、光ディスクと光ピックアップとの組み
合わせで記録パワーがばらつき大きくなった場合におい
ても、消去パワーが一定範囲より大きくならないため、
記録パワーと消去パワーの合計が抑えられ、光ディスク
の繰り返し記録耐久性の悪化を抑制することができ、逆
に、記録パワーがばらつき小さくなった場合は消去パワ
ーが一定範囲より小さくならず消去特性の悪化を抑制す
ることができる。
の光ディスク記録媒体において、最適記録パワーから最
適消去パワーを求めるための係数を前記最適記録パワー
に応じて記録してなり、さらに、請求項4記載の発明で
は前記係数が前記目標最適記録パワーが大きくなるほど
小さな値となることにより、この光ディスク記録媒体が
装着された光ディスク記録装置で、光ディスクと光ピッ
クアップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きく
なった場合においても、消去パワーが一定範囲より大き
くならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑え
られ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制す
ることができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなっ
た場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特
性の悪化を抑制することができる。
置の一実施例のブロック構成図を示す。同図中、光ディ
スク20はスピンドルモータにより駆動され軸22を中
心として回転する。CPU24は上位装置から供給され
る書き込み/読み出し命令に基づいてサーボ回路26に
命令を供給する。
CLV(線速度一定)サーボを行うと共に、光ピックア
ップ28のスレッドモータの回転制御を行って光ディス
ク20の所望のブロックに移動させ、かつ、光ピックア
ップ28のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行
う。
ビームは、光ディスク20の記録面上で反射され、反射
ビームが光ピックアップ28で検出される。光ピックア
ップ28で得られた再生RF信号は再生回路30に供給
され、ここで増幅された再生RF信号はサーボ回路26
に供給されると共に、再生回路30内でEFM復調を受
けた後、ATIP信号が分離されてATIPデコーダ3
2に供給される。また、同期が取られた復調信号は、デ
コーダ34に供給されてCIRC(クロスインターリー
ブリードソロモン符号)デコード、エラー訂正の後、再
生データとして出力される。ATIPデコーダ32はI
Dナンバや各種パラメータ等のATIP情報をデコード
してCPU24及びサーボ回路26に供給する。
変調度測定回路38に供給される。変調度測定回路38
はAC結合前段階の再生RF信号の変調度mを測定す
る。この変調度mはA/Dコンバータ40でディジタル
化されてCPU24に供給される。
パワー制御信号を生成し、この記録パワー制御信号はD
/Aコンバータ42でアナログ化されて記録パワー制御
電圧として記録回路44に供給する。エンコーダ46は
CPU24の制御に基づいて、入力される記録信号をC
IRC(クロスインターリーブリードソロモン符号)エ
ンコードを行って記録回路44に供給する。
から供給される信号をEFM変調し、この変調信号を記
録パワー制御電圧に応じた記録パワーに制御して光ピッ
クアップ28内のレーザダイオード(LD)に供給して
駆動する。これによりレーザビームが光ディスク20に
照射されて信号記録が行われる。
には過去OPC(記録パワーキャリブレーション)の履
歴、つまり、過去に測定された最適記録パワーが記憶さ
れている。このOPC履歴はある一定時間保持される。
は、光ディスクの種類(IDナンバ)毎に、記録速度
(1,2,4,6,8,12,16倍速等)に応じたO
PCのスタートパワーとステップパワーが設定されたテ
ーブルと、光ディスクの種類及び記録速度に応じた係数
Kのテーブルと、光ディスクの種類毎に最適記録パワー
Pwoに応じた係数εのテーブル等が設定されている。
また、動作モード指示部50からの指示入力はCPU2
4に供給される。
の一実施例のフローチャートを示す。同図中、ステップ
S40で記録速度を記録コマンドの指定する値に設定
し、ステップS42で光ディスク20からATIP情報
として記録されているIDナンバを取得し、光ディスク
の種類を判別する。次に、ステップS44で該当する光
ディスクの種類の記録速度に応じてROM24bからO
PCのスタートパワーとステップパワーのテーブルを選
択し、ステップS46で記録パワーPwを上記選択した
テーブルに設定されているスタートパワーからステップ
パワー単位で15段階変化させて光ディスク20のテス
ト記録領域にテスト信号を記録する。
部分を再生し、ステップS50で15段階の記録パワー
Pw毎に変調度mを測定する。そして、ステップS52
で図3に実線で示す特性を得る。そして、ステップS5
4で、図3に実線で示す特性から変調度mが最大となる
変調度mmaxを求める。次に、ステップS56でRO
M24bから光ディスクの種類及び記録速度に応じて読
み出した係数Kを上記最大変調度mmaxに乗算して目
標変調度mkを求める。ここで、係数Kは1未満の実数
であり、例えば0.8程度の値である。
す特性から目標変調度mkに対応する最適記録パワーP
woを求める。そして、ステップS60でこの最適記録
パワーPwoを実際の記録パワーとして設定し、CPU
24のRAM24aに記憶する。ここで、図3に示すよ
うに、記録パワーが低い時は再生RF信号の振幅が小さ
いので変調度mは小さく、記録パワーPwが大きくなる
につれて再生RF信号の振幅が大きくなるので変調度m
は大きくなる。最大変調度mmaxは変調度の飽和ポイ
ントにあるために、ドライブ装置やディスクの違いによ
るばらつきが小さい。また、この最大変調度mmaxに
係数Kを乗算して目標変調度mkを求めているため、ド
ライブ装置やディスクの違いによる変調度の誤差が最大
変調度mmaxによって正規化され、ドライブ装置やデ
ィスクの違いによる変調度の誤差を吸収することがで
き、最適記録パワーPwoを精度良く決定することが可
能となる。
類とステップS60で設定した最適記録パワーPwoと
に応じた係数εをROM24bのテーブルから読み出
し、この係数εを最適記録パワーPwoに乗算して最適
消去パワーPeoとして設定し、CPU24のRAM2
4aに記憶する。なお、記録冷却パワーPcは一定パワ
ーとする。そして、OPC動作を終了し、この後、記録
動作を開始する。
クの種類に対して最適記録パワーPwoが20.00か
ら27.00まで設定される場合、最適記録パワーPw
oが20.00から23.00未満の範囲は係数εが
0.37とされ、最適記録パワーPwoが23.00か
ら25.00未満の範囲は係数εが0.34とされ、最
適記録パワーPwoが25.00から27.00の範囲
は係数εが0.31とされる。この結果、最適記録パワ
ーPwoに対して最適消去パワーPeoは右端の欄に記
載のようになる。
大きくなるほど係数εは小さな値となり、最適記録パワ
ーPwoと係数εから最適消去パワーPeoを求めてい
るため、光ディスクと光ピックアップとの組み合わせに
より記録パワーがばらつく影響で記録パワーが大きくな
った場合においても、消去パワーが一定範囲より大きく
ならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えら
れ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制する
ことができる。なお、消去パワーは記録膜をガラス転移
点以上の温度に上昇させる所定値以上であれば、それ以
上大きなパワーとしても消去特性はあまり変化せず、所
定値近傍で有効な消去特性を得ることができる。
は、ATIP情報として図4に示すテーブルと同様に、
最適記録パワーから最適消去パワーを求めるための係数
εが最適記録パワーに応じて記録されている。この場
合、本発明の光ディスク記録装置では、光ディスク記録
媒体から上記最適記録パワーと係数εのテーブルを読み
取ってRAM24aに記憶しておき、OPC動作を行っ
て最適記録パワーPwoを求めたのち、この最適記録パ
ワーPwoでRAM24aのテーブルを参照して最適な
係数εを得て、この最適な係数εと最適記録パワーPw
oを用いて最適消去パワーを求める。なお、本発明の光
ディスク記録媒体では、前記テーブルを記録装置毎に記
録しておいてもよい。
ら最適記録パワーPwoを求めているが、従来と同様に
パラメータγの特性から記録パワー値Ptargetを
求め、係数ρを用いて最適記録パワーPwoを求める構
成であってもよく、上記実施例に限定されない。また、
図4に示すテーブルは、記録速度毎に設定してもよい。
載の最適記録パワー算出手段に対応し、ステップS62
が最適消去パワー算出手段に対応する。
装置は、記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディ
スクのテスト記録領域に記録を行い前記テスト記録領域
を再生した信号に基づき最適記録パワーを求める最適記
録パワー算出手段と、前記最適記録パワーに応じた係数
と前記最適記録パワーとから最適消去パワーを求める最
適消去パワー算出手段とを有し、前記最適記録パワーと
最適消去パワーを用いて前記光ディスクの記録を行い、
さらに、前記係数が前記最適記録パワーが大きくなるほ
ど小さな値となることにより、光ディスクと光ピックア
ップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくなっ
た場合においても、消去パワーが一定範囲より大きくな
らないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えら
れ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制する
ことができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった
場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性
の悪化を抑制することができる。
最適記録パワーから最適消去パワーを求めるための係数
を前記最適記録パワーに応じて記録してなり、さらに、
前記係数が前記目標最適記録パワーが大きくなるほど小
さな値となることにより、この光ディスク記録媒体が装
着された光ディスク記録装置で、光ディスクと光ピック
アップとの組み合わせで記録パワーがばらつき大きくな
った場合においても、消去パワーが一定範囲より大きく
ならないため、記録パワーと消去パワーの合計が抑えら
れ、光ディスクの繰り返し記録耐久性の悪化を抑制する
ことができ、逆に、記録パワーがばらつき小さくなった
場合は消去パワーが一定範囲より小さくならず消去特性
の悪化を抑制することができる。
ック構成図である。
の一実施例のフローチャートである。
す図である。
と最適消去パワーを示す図である。
ある。
図である。
係を示す図である。
Claims (4)
- 【請求項1】 書き換え可能型の光ディスクの記録を行
う光ディスク記録装置において、 記録パワーを可変して書き換え可能型の光ディスクのテ
スト記録領域に記録を行い前記テスト記録領域を再生し
た信号に基づき最適記録パワーを求める最適記録パワー
算出手段と、 前記最適記録パワーに応じた係数と前記最適記録パワー
とから最適消去パワーを求める最適消去パワー算出手段
とを有し、 前記最適記録パワーと最適消去パワーを用いて前記光デ
ィスクの記録を行うことを特徴とする光ディスク記録装
置。 - 【請求項2】 請求項1記載の光ディスク記録装置にお
いて、 前記係数は、前記最適記録パワーが大きくなるほど小さ
な値となることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 【請求項3】 書き換え可能型の光ディスク記録媒体に
おいて、 最適記録パワーから最適消去パワーを求めるための係数
を前記最適記録パワーに応じて記録してなることを特徴
とする光ディスク記録媒体。 - 【請求項4】 請求項3記載の光ディスク記録媒体にお
いて、 前記係数は、前記最適記録パワーが大きくなるほど小さ
な値となることを特徴とする光ディスク記録媒体。
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