JP2005004905A - 情報記録方法及び情報記録装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】付加記録パワーを利用して記録パワーを多値レベル化する方式において、各々の記録パワーの最適値を求め、精度よい記録を行えるようにする。
【解決手段】記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、その再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と（Ｓ１〜Ｓ３）、記録パワーを算出された最適記録パワーに設定し、かつ、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら所定の第２のテストデータを試し書きし、その再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き工程と（Ｓ４〜Ｓ６）、を備えることで、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うので、記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【選択図】 図６
【解決手段】記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、その再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と（Ｓ１〜Ｓ３）、記録パワーを算出された最適記録パワーに設定し、かつ、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら所定の第２のテストデータを試し書きし、その再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き工程と（Ｓ４〜Ｓ６）、を備えることで、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うので、記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【選択図】 図６
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ＋ＲＷ等の各種記録媒体に対する情報記録方法及び情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、例えばＣＤ−Ｒドライブ装置のような記録可能な光ディスクドライブ装置が実用化され、さらに大容量化・高速記録化を目指した研究がなされている。記録可能な光ディスク媒体としては、色素系メディア等を用いた追記型光ディスクや、光磁気メディアや相変化メディア等を用いた書換え可能なディスクなどが挙げられる。
【０００３】
一般の光ディスク記録装置では、半導体レーザを光源とし、記録情報によりパルス変調されたこのレーザ光を記録媒体に照射し、記録マークを形成する。この時、記録するレーザ光のパワーにより記録マークの形成状態が変化するため、従来では、記録媒体の特性に適した記録パワーを求めるために、記録開始の準備として予め所定の領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ＝試し書き領域）に対して記録パワーを変化させながら試し書きを行い、試し書き後、その領域の再生信号の品質が最も良好である領域を記録したパワーを最適記録パワーとして求めるという、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）という方法が用いられている。実際のデータの記録時にはこのようにして求めた最適記録パワーを保ちながら記録を行う。
【０００４】
ここに、再生信号の品質評価方法としては、幾つかの方法が提案されているが、代表的な方法として以下の方法が実用化されている。
【０００５】
第１には、再生信号のアシンメトリβから評価する方法である（以下、適宜“β法”と称する）。即ち、図３に示すように、再生信号のＤＣレベルに対する正側ピーク値Ａ（＝Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）と負側ピーク値Ｂ（＝Ｉｄｃ−Ｉｂｔ）を検出し、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）
に従いアシンメトリβを算出し、このアシンメトリβが所定値（例えば、０）となる再生信号を良好とするものである。
【０００６】
第２には、再生信号の変調度ｍを用いて評価する方法である（以下、適宜“γ法”と称する）。まず、図６のように再生信号の最大値Ｉｐｋと最小値Ｉｂｔとを検出し、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ
に従い変調度ｍを算出する。次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰとから、変調度の記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰ）・（Ｐ／ｍ）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーとして決定する。
【０００７】
一方、ＣＤやＤＶＤなどの多くの光ディスクの記録方法においては、高密度化に適したマークの長さが情報を担うマークエッジ記録方法が採用されており、正確にデータを再生するためにはマークの形状やエッジ位置の正確な制御が必要となっている。さらには、マーク長が異なっても一様にマーク形状を整えるため、複数の記録パルスに分割したパルス列で記録マークを形成するマルチパルス記録方法が広く用いられている。即ち、加熱・冷却のサイクルを繰返してマークを繋げて形成することにより一様な長マークを形成するものである。この方法は色素系追記型の媒体でも適用されている。
【０００８】
ところで、近年の高速記録化・大容量化の要求に伴い様々な記録方法が提案されており、その一つとして記録パワーの多値レベル化が挙げられる。
【０００９】
例えば、ＣＤ−Ｒなどでは図４（ｃ）に示すように記録パルスの前縁部に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加することで、記録パワー照射直後で記録媒体への畜熱効果が不十分のため生じるマーク形状の不整を補正している（図４（ｄ）参照）。
【００１０】
その他にも、図８（ｃ）に示すように前縁部だけでなく後縁部にも付加記録パワーＰｗｅｘの付加記録パルスを加えたものや、図８（ｄ）（ｅ）に示すようにマルチパルスの特定のパルス（例えば、先頭パルスや最終パルス）の記録パワーに付加記録パワーＰｗｅｘを付加したものなどもある。これらも記録マークエッジ位置制御や記録マーク形状制御のため適用されているものである。
【００１１】
よって、これらの多値レベル化した記録方法においては、当然ながら記録パワーＰｗはもちろん付加記録パワーＰｗｅｘもその記録媒体に対する適正値でないと正確な形状・位置のマークが形成できない。
【００１２】
そのため記録媒体と記録装置との適合性を向上させるために前述のようなＯＰＣ制御を行うとよい。しかしながら、従来では、付加記録パワーＰｗｅｘは、記録パワーＰｗと所定の比例関係を保ったまま（Ｐｗｅｘ／Ｐｗ＝一定）、或いは、所定の値を保ったまま（Ｐｗｅｘ＝一定）記録パワーＰｗを変化させながら試し書きを行い、その中で最適な記録パワーＰｗを求めるようにしている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようなＯＰＣの方法では、記録媒体や記録装置のバラツキ（即ち、ＬＤ駆動部のバラツキによる記録パルス波形のバラツキ）があった場合に、記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの関係も一定に保たれるわけではなく、上述のようにして算出した付加記録パワーＰｗｅｘは適正値とはならなくなり、これによりマーク形状やマーク位置の精度が損なわれ、結果としてデータエラーの原因となるという問題が生じる。また、同一の記録媒体であっても記録速度が異なれば適正な記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの関係も異なる。
【００１４】
本発明の目的は、付加記録パワーを利用して記録パワーを多値レベル化する情報記録方法や情報記録装置において、各々の記録パワーの最適値を求め、これにより精度よい記録を行うことができる情報記録方法及び情報記録装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、記録パワーを算出された前記最適記録パワーに設定するとともに、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、を備え、算出されたこれらの最適記録パワーと最適付加記録パワーとに基づき情報の記録を行うようにした。
【００１６】
従って、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うので、記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００１７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の情報記録方法において、所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち所定の特定パターンを除いたデータ列である。
【００１８】
従って、第１のテストデータが特定パターンを除いたデータ列であるので、第１の試し書きの際に付加記録パワーが最適化されてないことによる再生信号の平均値レベルの変動を抑制することができ、精度よく最適記録パワーを算出できる。
【００１９】
請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記第２のテストデータは、前記第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列である。
【００２０】
従って、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易にかつ精度よく検出できるので、最適付加記録パワーの算出精度が向上する。
【００２１】
請求項４記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記第１の試し書き工程における前記最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する。
【００２２】
本発明及び以下の発明において、アシンメトリとは、再生信号の平均値レベルに対する正側ピーク値と負側ピーク値との割合を意味する。
【００２３】
従って、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出できる。
【００２４】
請求項５記載の発明は、請求項３記載の情報記録方法において、前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の第２データ列の再生信号の平均値レベルに対する第１データ列の再生信号の正側ピーク値と負側ピーク値との割合から算出する。
【００２５】
従って、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出できる。
【００２６】
請求項６記載の発明は、請求項２ないし５の何れか一記載の情報記録方法において、前記所定の特定パターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長である。
【００２７】
従って、付加記録パワーに対する再生信号平均値の変動感度の大きな最小マーク長を繰り返すようにしているので、最適付加記録パワーが容易かつ精度よく算出できる。
【００２８】
これらの請求項１ないし６記載の情報記録方法による作用は、請求項７ないし１２記載の情報記録装置によっても同様に奏することができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。本実施の形態の情報記録装置は、光情報記録装置への適用例であり、図１はこの光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である。
【００３０】
この光情報記録装置において用いられる記録媒体１は、記録可能な記録媒体（例えば、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＭＤ，ＭＯなどの光ディスク等）である。このような記録媒体１を回転駆動させるスピンドルモータ２は、サーボコントローラ３から供給される信号に従い線速度一定（ＣＬＶ）或いは角速度一定（ＣＡＶ）となるように制御される。光ピックアップ（ＰＵ）４は光源である半導体レーザ（ＬＤ）からの出射光を記録媒体１に照射し情報の記録を行ったり、記録媒体１からの反射光を受光し受光信号に変換するものであり、光源、反射光を受光し受光信号に変換する受光素子、光学系、アクチュエータなどから構成されている。また、光ピックアップ４には光源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、この出力であるモニタ信号により光源の出射光量変動が制御される。また、記録媒体１の照射光に対する傾き（チルト）を検知するためのチルト検出受光部などが配置される場合もある。
【００３１】
受光信号処理部５は光ピックアップ４に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様々な信号処理を行う。受光信号から再生信号Ｓｒｆの生成や、サーボコントローラ３とともに記録媒体１の回転に伴う面振れやトラックの半径方向の振れなどの変動に対し常に所定の誤差内で光を照射するようアクチュエータを駆動し制御（フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御）する。このため受光信号からサーボエラー信号Ｓｓｖを生成し、サーボコントローラ３へ供給する。また、光ピックアップ４は記録媒体１の半径方向に可動し、所望の位置に光スポットが照射されるようシーク動作を行う。サーボコントローラ３は記録媒体１に予め記録されたアドレス情報などに従いこのシーク制御や記録媒体１の回転制御、チルト制御などの機能も担う。
【００３２】
記録媒体１には記録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルが予め形成されており、受光信号処理部５ではこのウォブル成分を抽出したウォブル信号Ｓｗｂｌも生成する。このウォブル信号Ｓｗｂｌを基に回転制御、アドレス情報の検出、記録の際の基準クロックとなる記録クロックＷＣＫの生成をウォブル信号処理部６で行う。
【００３３】
再生信号処理部７は再生信号Ｓｒｆから再生している記録媒体１の所定の変調方式規則に則り復調を行う。また、内蔵されたＰＬＬ回路により再生クロックを抽出する。復調したデータはコントローラ８に供給する。
【００３４】
エンコーダ９はコントローラ８から供給される記録情報を所定の変調方式規則に則り変調を行い、記録データＷｄａｔａを供給する。この時、記録クロックＷＣＫを基準に生成している。例えば、ＤＶＤ記録装置では、ＥＦＭ＋変調方式が用いられており、記録データＷｄａｔａのパルス長は３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ（Ｔは記録クロックＷＣＫの周期）となる。
【００３５】
ＬＤ駆動部１０は記録データＷｄａｔａ及び記録クロックＷＣＫに従い、光源ＬＤを所定の光波形で変調する。照射パワーや光波形情報などはコントローラ８から設定される。また、受光信号処理部５からモニタ受光信号が入力され、このモニタ受光信号に基づき光源ＬＤの出射光量が所望の値となるように制御する（いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う）。
【００３６】
ここで、記録媒体１には、図２（ａ）に示すように、所定の領域（例えば、最内周部）にＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ＝試し書き領域）２１が設けられており、本来の記録を開始する前にこの領域に試し書きを行い最適な記録パワーを求め、実際の記録時にはこの求めた記録パワーで記録を行うＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う。また、図２（ｂ）に示すように、一度の試し書きは、例えば、記録情報単位である１ＥＣＣブロックを用いて行われ（この１ＥＣＣブロックは１６セクタからなる）、１セクタ毎に記録パワーを変化させながら試し書きを行う。
【００３７】
すると、この試し書きを行った領域の再生信号Ｓｒｆは、図２（ｃ）に示すようになるので、ＯＰＣ検出部１１は、再生信号Ｓｒｆの各セクタの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。図３は再生信号Ｓｒｆのアイダイアグラムの一例である。コントローラ８では、試し書きを行った領域の再生を行ってこれらの値を検出し、これらの値から所定の演算を行い最適な記録パワーを算出する。この算出動作の詳細については後述する。
【００３８】
テスト信号生成部１２は、試し書きを行う際に試し書きデータ（テストパターン）を生成する。この試し書きデータはエンコーダ９に供給され、試し書きの際にはこれを選択出力してＬＤ駆動部１０に供給する。
【００３９】
コントローラ８は、前述した機能、後述する処理制御の他、ホストコンピュータ（図示せず）との記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行い装置全体の制御を行う。
【００４０】
ここで、記録媒体１として例えばＣＤ−Ｒ等の色素系追記型記録媒体を想定した場合の光源ＬＤの発光波形例を図４に例示する。図４（ａ）は記録クロックＷＣＫ、図４（ｂ）は記録データＷｄａｔａ、図４（ｃ）は記録データＷｄａｔａのマーク長が３Ｔの時の光波形を示している。照射パワーは各々ボトムパワーＰｂ、記録パワーＰｗ及び付加記録パワーＰｗｅｘとなるように設定される。また、図４（ｂ）（ｃ）中の破線はマーク長が４Ｔ〜１１Ｔの場合である。図４（ｄ）は図４（ｃ）の光波形で形成した記録マークであり、▲１▼は前縁に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加した場合であり、▲２▼は付加しない場合である。付加記録パワーＰｗｅｘを適正に設定することで記録マーク形状が図４（ｄ）中の▲１▼に示すように一様に形成され、記録マークエッジ位置も精度よく制御できる。
【００４１】
図５（ａ）は、記録パワーＰｗが最適で、付加記録パワーＰｗｅｘが最適でなかった場合（過少であったとする）の記録マークを示し、図５（ｂ）はその時の再生信号Ｓｒｆを示している。記録マーク前縁の形状不整により、再生信号Ｓｒｆは理想状態（点線）から図示したようになり、再生信号の平均値はＩｄｃ’（一点鎖線）のように変動する。一方、最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔはほとんど変動しない。
【００４２】
このような条件下に、マイクロコンピュータ構成のコントローラ８により実行される記録媒体１に好適な記録方法の処理制御例を図６に示すフローチャートを参照して説明する。図６は記録動作に関連する処理制御のうち、試し書き処理に伴い最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及び最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出するアルゴリズムを示すフローチャートである。このような記録パワーの算出は情報の記録開始の準備として行われ、最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する第１の試し書き工程又は第１の試し書き手段と、最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出する第２の試し書き工程又は第２の試し書き手段とで成り立つ。
【００４３】
まず、第１の試し書き工程（第１の試し書き手段）において、ステップＳ１では、この第１の試し書き工程で使用する第１のテストパターンを生成する。第１のテストパターンは通常のデータ（例えば、任意のデータや固定データをコントローラ８から供給したデータ）をエンコーダ９で変調した記録データＷｄａｔａでよい。
【００４４】
ステップＳ２では、セクタ毎に記録パワーＰｗを変化させながらこの第１のテストパターンを試し書き領域に記録する。この時、付加記録パワーＰｗｅｘは、記録パワーＰｗと所定の比例関係を保ったまま（Ｐｗｅｘ／Ｐｗ＝一定）変化させ、或いは、所定の値を保ったまま（Ｐｗｅｘ＝一定）とする。
【００４５】
ステップＳ３では、ステップと２で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出する。
【００４６】
この再生信号の品質を評価するには以下のような例が適用できる。
【００４７】
第１には、図３を参照して説明したように、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。そして、各セクタ毎に、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）………（１）
なる演算を行いアシンメトリβを算出する。
【００４８】
通常、最も良好な再生信号が得られるのはβ＝０の時であり、最も０に近いセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、記録パワーＰｗとアシンメトリβとの近似式を算出し、β＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００４９】
第２には、再生信号の変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを指標とする方法である。前述と同様に各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔを検出する。そして、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ …………（２）
に従い変調度ｍを算出する。
【００５０】
次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰｗとから、変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）・（Ｐｗ／ｍ） …………（３）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーＰｗとして決定する。これらの所定値γｔ及び係数ｋは記録媒体１の種類や記録装置毎に予め定められた値を用いる。
【００５１】
より詳細な算出方法を以下に説明する。まず、試し書き領域を再生して検出した変調度ｍと記録パワーＰｗとの複数のデータから、
ｍ＝ａ・Ｐｗ２＋ｂ・Ｐｗ＋ｃ （ａ，ｂ，ｃは定数）……（４）
なる２次近似式を算出する。近似方法としては多項式近似などの一般的な近似方法を用いればよく、２次以上の近似式が測定値とよく一致する。
【００５２】
そして、前述の（３）式より、ｄｍ／ｄＰｗ＝２ａ・Ｐｗ＋ｂであるから、
Ｐｗ＝｛−ｂ（γ−１）±ＳＱＲＴ［ｂ２（γ−１）２−４ａ（γ−２）ｃγ］｝／２ａ（γ−２）………………………………（５）
なる（５）式が得られる。これらの演算を行い、（５）式の正の解Ｐｗ＋を算出することで最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する。
【００５３】
また、これらの方法を組み合わせたものであってもよく、さらにはジッタ検出部を設け、最小のジッタとなる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００５４】
次に、ステップＳ４〜Ｓ６の第２の試し書き工程（第２の試し書き手段）を行う。
【００５５】
ステップＳ４では、この第２の試し書き工程で使用する第２のテストパターンを生成する。第２のテストパターンは、図７に示すように、特定パターンである３Ｔパターンを除いた第１データ列（第１テストパターン＝ＴＰ１）と特定パターンである３Ｔパターンの繰返しによる第２データ列（３Ｔ繰返しパターン＝３ＴＰ）とを、交互に繰り返したパターンとする例である。このような第２のテストパターンが記録データＷｄａｔａとしてエンコーダ９より供給される。
【００５６】
ステップＳ５では、記録パワーＰｗはステップＳ３で算出した最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に設定し、セクタ毎に付加記録パワーＰｗｅｘを変化させながら、第２のテストパターンを試し書き領域に記録する。この時、付加記録パワーＰｗｅｘの可変範囲は最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に対応した値を中心とするようにするとよい。また、例えば記録媒体１が書換え可能な媒体である場合にはこの試し書き領域はステップＳ２の第１の試し書き領域に上書きしてもよく、或いは、一度消去した後に第２の試し書きを行ってもよい。また、一度に使用できる試し書き領域（例えば１ＥＣＣブロック）の前半部分に第１の試し書きを、後半部分に第２の試し書きを行うものであってもよい。もっとも、ここでは記録媒体１として色素系追記型記録媒体を想定しているので、ステップＳ２の試し書き領域に続いた領域とする。
【００５７】
ステップＳ６では、ステップＳ５で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出する。再生信号Ｓｒｆは図７（ｂ）に示すように得られる。
【００５８】
再生信号の品質を評価するにはステップＳ３の第１の方法と同様に、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、及び３Ｔ繰返し領域の平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃ３を検出し、
β３＝［（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ３）−（Ｉｄｃ３−Ｉｂｔ）］／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）………（６）
によりアシンメトリβ３を算出する。
【００５９】
そして、アシンメトリβ３が最も０に近いセクタを記録したパワーを最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、付加記録パワーせｗｅｘとアシンメトリβ３との近似式を算出し、β３＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００６０】
前述したように付加記録パワーＰｗｅｘが適正値でないと再生信号Ｓｒｆの平均値Ｉｄｃは変動し、アシンメトリβも変動する。通常、この平均値の変動はマーク長が短いパターンほど顕著に現れる。このため、最小マーク長である３Ｔ繰返しパターンをテストパターンとして用いることにより、ステップＳ６での検出を容易にしかつ感度よく検出できるようにし、最適付加記録パワーの算出精度を向上させている。また、通常データ（第１のテストパターン）と交互に繰返すようにしているので、再生パワーや記録媒体の反射率変動などにより反射光量が変動しても最大値Ｉｐｋ及び最小値Ｉｂｔも同様の比率で変動を受け、（６）式で算出するアシンメトリβ３はこの影響を受けずに検出できる。
【００６１】
また、第１のテストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰは試し書きする際、セクタに同期して所定の周期で繰り返すようにするので、再生時にもセクタに同期して平均値を検出するようにすれば、平均値Ｉｄｃ３が容易に検出できる。なお、第１のテストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰとの繰返し周期は再生信号の平均値検出帯域を考慮して設定するようにすればよい。
【００６２】
このようにして最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及び最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出することにより、試し書き工程を終了する。通常の情報記録時には、このようにして求めた最適記録パワーで記録をすると記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００６３】
また、ステップＳ３において、第１のテストパターンを所定長以上のマーク長で（例えば、４Ｔ以上のマーク長で）構成したデータ列としてもよい。特に、アシンメトリβを再生信号の評価基準に用いる時に好適であり、このようにすれば付加記録パワーＰｗｅｘが最適値でないことによる平均値レベルの変動が微少となり、正確に最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出できるようになる。
【００６４】
なお、上述の説明では、図４に示したような記録波形で記録を行う場合について説明したが、複数の記録パワーで記録する記録方法においても同様に本発明のＯＰＣ方法が好適に適用できる。例えば、図８（ｃ）〜（ｅ）に示すような記録波形（図８（ｃ）の光波形１は記録パルスの前縁部及び後縁部に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加するもの、図８（ｄ）の光波形２はマルチパルス中の先頭及び最後尾のパルスに付加記録パワーＰｗｅｘを付加するもの、図８（ｅ）の光波形３はイレースパワーＰｅも利用するマルチパルス発光波形に加えて先頭パルスの後半部及び最後尾のパルスに付加記録パワーＰｗｅｘを付加するもの）で記録する場合であっても、同様にして記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの最適値を算出できる。
【００６５】
【発明の効果】
請求項１，７記載の発明によれば、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うようにしたので、記録マーク形状及びマーク位置を精度よく形成することができ、精度のよい記録を行うことができる。
【００６６】
請求項２，８記載の発明によれば、請求項１，７記載の発明において、第１のテストデータを特定パターンを除いたデータ列としたので、第１の試し書きの際に付加記録パワーが最適化されてないことによる再生信号の平均値レベルの変動を抑制することができ、精度よく最適記録パワーを算出することができる。
【００６７】
請求項３，９記載の発明によれば、請求項１，２，７，８記載の発明において、第２のテストデータを、第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列としたので、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易にかつ精度よく検出することができ、最適付加記録パワーの算出精度を向上させることができる。
【００６８】
請求項４，１０記載の発明によれば、請求項１，２，７，８記載の発明において、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出することができる。
【００６９】
請求項５，１１記載の発明によれば、請求項３，９記載の発明において、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出することができる。
【００７０】
請求項６，１２記載の発明によれば、請求項２ないし５，８ないし１１の何れか一記載の発明において、付加記録パワーに対する再生信号平均値の変動感度の大きな最小マーク長を繰り返すようにしているので、最適付加記録パワーが容易かつ精度よく算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である。
【図２】ＰＣＡ領域及び試し書き方式に関する説明図である。
【図３】再生信号のアイダイアグラムを示す特性図である。
【図４】発光波形例を示す波形図である。
【図５】記録パワーＰｗが最適で、付加記録パワーＰｗｅｘが最適でなかった場合の記録マーク及びその時の再生信号Ｓｒｆを示す特性図である。
【図６】試し書き処理制御例を示す概略フローチャートである。
【図７】テストパターン例を示す説明図である。
【図８】適用可能な発光波形の変形例を示す波形図である。
【符号の説明】
Ｓ１〜Ｓ３ 第１の試し書き工程、第１の試し書き手段
Ｓ４〜Ｓ６ 第２の試し書き工程、第２の試し書き手段
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＤＶＤ＋ＲＷ等の各種記録媒体に対する情報記録方法及び情報記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、例えばＣＤ−Ｒドライブ装置のような記録可能な光ディスクドライブ装置が実用化され、さらに大容量化・高速記録化を目指した研究がなされている。記録可能な光ディスク媒体としては、色素系メディア等を用いた追記型光ディスクや、光磁気メディアや相変化メディア等を用いた書換え可能なディスクなどが挙げられる。
【０００３】
一般の光ディスク記録装置では、半導体レーザを光源とし、記録情報によりパルス変調されたこのレーザ光を記録媒体に照射し、記録マークを形成する。この時、記録するレーザ光のパワーにより記録マークの形成状態が変化するため、従来では、記録媒体の特性に適した記録パワーを求めるために、記録開始の準備として予め所定の領域（ＰＣＡ：Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ＝試し書き領域）に対して記録パワーを変化させながら試し書きを行い、試し書き後、その領域の再生信号の品質が最も良好である領域を記録したパワーを最適記録パワーとして求めるという、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）という方法が用いられている。実際のデータの記録時にはこのようにして求めた最適記録パワーを保ちながら記録を行う。
【０００４】
ここに、再生信号の品質評価方法としては、幾つかの方法が提案されているが、代表的な方法として以下の方法が実用化されている。
【０００５】
第１には、再生信号のアシンメトリβから評価する方法である（以下、適宜“β法”と称する）。即ち、図３に示すように、再生信号のＤＣレベルに対する正側ピーク値Ａ（＝Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）と負側ピーク値Ｂ（＝Ｉｄｃ−Ｉｂｔ）を検出し、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）
に従いアシンメトリβを算出し、このアシンメトリβが所定値（例えば、０）となる再生信号を良好とするものである。
【０００６】
第２には、再生信号の変調度ｍを用いて評価する方法である（以下、適宜“γ法”と称する）。まず、図６のように再生信号の最大値Ｉｐｋと最小値Ｉｂｔとを検出し、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ
に従い変調度ｍを算出する。次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰとから、変調度の記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰ）・（Ｐ／ｍ）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーとして決定する。
【０００７】
一方、ＣＤやＤＶＤなどの多くの光ディスクの記録方法においては、高密度化に適したマークの長さが情報を担うマークエッジ記録方法が採用されており、正確にデータを再生するためにはマークの形状やエッジ位置の正確な制御が必要となっている。さらには、マーク長が異なっても一様にマーク形状を整えるため、複数の記録パルスに分割したパルス列で記録マークを形成するマルチパルス記録方法が広く用いられている。即ち、加熱・冷却のサイクルを繰返してマークを繋げて形成することにより一様な長マークを形成するものである。この方法は色素系追記型の媒体でも適用されている。
【０００８】
ところで、近年の高速記録化・大容量化の要求に伴い様々な記録方法が提案されており、その一つとして記録パワーの多値レベル化が挙げられる。
【０００９】
例えば、ＣＤ−Ｒなどでは図４（ｃ）に示すように記録パルスの前縁部に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加することで、記録パワー照射直後で記録媒体への畜熱効果が不十分のため生じるマーク形状の不整を補正している（図４（ｄ）参照）。
【００１０】
その他にも、図８（ｃ）に示すように前縁部だけでなく後縁部にも付加記録パワーＰｗｅｘの付加記録パルスを加えたものや、図８（ｄ）（ｅ）に示すようにマルチパルスの特定のパルス（例えば、先頭パルスや最終パルス）の記録パワーに付加記録パワーＰｗｅｘを付加したものなどもある。これらも記録マークエッジ位置制御や記録マーク形状制御のため適用されているものである。
【００１１】
よって、これらの多値レベル化した記録方法においては、当然ながら記録パワーＰｗはもちろん付加記録パワーＰｗｅｘもその記録媒体に対する適正値でないと正確な形状・位置のマークが形成できない。
【００１２】
そのため記録媒体と記録装置との適合性を向上させるために前述のようなＯＰＣ制御を行うとよい。しかしながら、従来では、付加記録パワーＰｗｅｘは、記録パワーＰｗと所定の比例関係を保ったまま（Ｐｗｅｘ／Ｐｗ＝一定）、或いは、所定の値を保ったまま（Ｐｗｅｘ＝一定）記録パワーＰｗを変化させながら試し書きを行い、その中で最適な記録パワーＰｗを求めるようにしている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このようなＯＰＣの方法では、記録媒体や記録装置のバラツキ（即ち、ＬＤ駆動部のバラツキによる記録パルス波形のバラツキ）があった場合に、記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの関係も一定に保たれるわけではなく、上述のようにして算出した付加記録パワーＰｗｅｘは適正値とはならなくなり、これによりマーク形状やマーク位置の精度が損なわれ、結果としてデータエラーの原因となるという問題が生じる。また、同一の記録媒体であっても記録速度が異なれば適正な記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの関係も異なる。
【００１４】
本発明の目的は、付加記録パワーを利用して記録パワーを多値レベル化する情報記録方法や情報記録装置において、各々の記録パワーの最適値を求め、これにより精度よい記録を行うことができる情報記録方法及び情報記録装置を提供することである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、記録パワーを算出された前記最適記録パワーに設定するとともに、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、を備え、算出されたこれらの最適記録パワーと最適付加記録パワーとに基づき情報の記録を行うようにした。
【００１６】
従って、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うので、記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００１７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の情報記録方法において、所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち所定の特定パターンを除いたデータ列である。
【００１８】
従って、第１のテストデータが特定パターンを除いたデータ列であるので、第１の試し書きの際に付加記録パワーが最適化されてないことによる再生信号の平均値レベルの変動を抑制することができ、精度よく最適記録パワーを算出できる。
【００１９】
請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記第２のテストデータは、前記第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列である。
【００２０】
従って、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易にかつ精度よく検出できるので、最適付加記録パワーの算出精度が向上する。
【００２１】
請求項４記載の発明は、請求項１又は２記載の情報記録方法において、前記第１の試し書き工程における前記最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する。
【００２２】
本発明及び以下の発明において、アシンメトリとは、再生信号の平均値レベルに対する正側ピーク値と負側ピーク値との割合を意味する。
【００２３】
従って、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出できる。
【００２４】
請求項５記載の発明は、請求項３記載の情報記録方法において、前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の第２データ列の再生信号の平均値レベルに対する第１データ列の再生信号の正側ピーク値と負側ピーク値との割合から算出する。
【００２５】
従って、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出できる。
【００２６】
請求項６記載の発明は、請求項２ないし５の何れか一記載の情報記録方法において、前記所定の特定パターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長である。
【００２７】
従って、付加記録パワーに対する再生信号平均値の変動感度の大きな最小マーク長を繰り返すようにしているので、最適付加記録パワーが容易かつ精度よく算出できる。
【００２８】
これらの請求項１ないし６記載の情報記録方法による作用は、請求項７ないし１２記載の情報記録装置によっても同様に奏することができる。
【００２９】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態を図面に基づいて説明する。本実施の形態の情報記録装置は、光情報記録装置への適用例であり、図１はこの光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である。
【００３０】
この光情報記録装置において用いられる記録媒体１は、記録可能な記録媒体（例えば、ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＭＤ，ＭＯなどの光ディスク等）である。このような記録媒体１を回転駆動させるスピンドルモータ２は、サーボコントローラ３から供給される信号に従い線速度一定（ＣＬＶ）或いは角速度一定（ＣＡＶ）となるように制御される。光ピックアップ（ＰＵ）４は光源である半導体レーザ（ＬＤ）からの出射光を記録媒体１に照射し情報の記録を行ったり、記録媒体１からの反射光を受光し受光信号に変換するものであり、光源、反射光を受光し受光信号に変換する受光素子、光学系、アクチュエータなどから構成されている。また、光ピックアップ４には光源の出射光の一部をモニタするモニタ受光部も配置され、この出力であるモニタ信号により光源の出射光量変動が制御される。また、記録媒体１の照射光に対する傾き（チルト）を検知するためのチルト検出受光部などが配置される場合もある。
【００３１】
受光信号処理部５は光ピックアップ４に配置された各種受光部からの受光信号が入力され、様々な信号処理を行う。受光信号から再生信号Ｓｒｆの生成や、サーボコントローラ３とともに記録媒体１の回転に伴う面振れやトラックの半径方向の振れなどの変動に対し常に所定の誤差内で光を照射するようアクチュエータを駆動し制御（フォーカスサーボ制御及びトラックサーボ制御）する。このため受光信号からサーボエラー信号Ｓｓｖを生成し、サーボコントローラ３へ供給する。また、光ピックアップ４は記録媒体１の半径方向に可動し、所望の位置に光スポットが照射されるようシーク動作を行う。サーボコントローラ３は記録媒体１に予め記録されたアドレス情報などに従いこのシーク制御や記録媒体１の回転制御、チルト制御などの機能も担う。
【００３２】
記録媒体１には記録トラックが所定の周波数で蛇行したウォブルが予め形成されており、受光信号処理部５ではこのウォブル成分を抽出したウォブル信号Ｓｗｂｌも生成する。このウォブル信号Ｓｗｂｌを基に回転制御、アドレス情報の検出、記録の際の基準クロックとなる記録クロックＷＣＫの生成をウォブル信号処理部６で行う。
【００３３】
再生信号処理部７は再生信号Ｓｒｆから再生している記録媒体１の所定の変調方式規則に則り復調を行う。また、内蔵されたＰＬＬ回路により再生クロックを抽出する。復調したデータはコントローラ８に供給する。
【００３４】
エンコーダ９はコントローラ８から供給される記録情報を所定の変調方式規則に則り変調を行い、記録データＷｄａｔａを供給する。この時、記録クロックＷＣＫを基準に生成している。例えば、ＤＶＤ記録装置では、ＥＦＭ＋変調方式が用いられており、記録データＷｄａｔａのパルス長は３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ（Ｔは記録クロックＷＣＫの周期）となる。
【００３５】
ＬＤ駆動部１０は記録データＷｄａｔａ及び記録クロックＷＣＫに従い、光源ＬＤを所定の光波形で変調する。照射パワーや光波形情報などはコントローラ８から設定される。また、受光信号処理部５からモニタ受光信号が入力され、このモニタ受光信号に基づき光源ＬＤの出射光量が所望の値となるように制御する（いわゆるＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う）。
【００３６】
ここで、記録媒体１には、図２（ａ）に示すように、所定の領域（例えば、最内周部）にＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ＝試し書き領域）２１が設けられており、本来の記録を開始する前にこの領域に試し書きを行い最適な記録パワーを求め、実際の記録時にはこの求めた記録パワーで記録を行うＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御を行う。また、図２（ｂ）に示すように、一度の試し書きは、例えば、記録情報単位である１ＥＣＣブロックを用いて行われ（この１ＥＣＣブロックは１６セクタからなる）、１セクタ毎に記録パワーを変化させながら試し書きを行う。
【００３７】
すると、この試し書きを行った領域の再生信号Ｓｒｆは、図２（ｃ）に示すようになるので、ＯＰＣ検出部１１は、再生信号Ｓｒｆの各セクタの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。図３は再生信号Ｓｒｆのアイダイアグラムの一例である。コントローラ８では、試し書きを行った領域の再生を行ってこれらの値を検出し、これらの値から所定の演算を行い最適な記録パワーを算出する。この算出動作の詳細については後述する。
【００３８】
テスト信号生成部１２は、試し書きを行う際に試し書きデータ（テストパターン）を生成する。この試し書きデータはエンコーダ９に供給され、試し書きの際にはこれを選択出力してＬＤ駆動部１０に供給する。
【００３９】
コントローラ８は、前述した機能、後述する処理制御の他、ホストコンピュータ（図示せず）との記録再生情報の受け渡しやコマンド通信を行い装置全体の制御を行う。
【００４０】
ここで、記録媒体１として例えばＣＤ−Ｒ等の色素系追記型記録媒体を想定した場合の光源ＬＤの発光波形例を図４に例示する。図４（ａ）は記録クロックＷＣＫ、図４（ｂ）は記録データＷｄａｔａ、図４（ｃ）は記録データＷｄａｔａのマーク長が３Ｔの時の光波形を示している。照射パワーは各々ボトムパワーＰｂ、記録パワーＰｗ及び付加記録パワーＰｗｅｘとなるように設定される。また、図４（ｂ）（ｃ）中の破線はマーク長が４Ｔ〜１１Ｔの場合である。図４（ｄ）は図４（ｃ）の光波形で形成した記録マークであり、▲１▼は前縁に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加した場合であり、▲２▼は付加しない場合である。付加記録パワーＰｗｅｘを適正に設定することで記録マーク形状が図４（ｄ）中の▲１▼に示すように一様に形成され、記録マークエッジ位置も精度よく制御できる。
【００４１】
図５（ａ）は、記録パワーＰｗが最適で、付加記録パワーＰｗｅｘが最適でなかった場合（過少であったとする）の記録マークを示し、図５（ｂ）はその時の再生信号Ｓｒｆを示している。記録マーク前縁の形状不整により、再生信号Ｓｒｆは理想状態（点線）から図示したようになり、再生信号の平均値はＩｄｃ’（一点鎖線）のように変動する。一方、最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔはほとんど変動しない。
【００４２】
このような条件下に、マイクロコンピュータ構成のコントローラ８により実行される記録媒体１に好適な記録方法の処理制御例を図６に示すフローチャートを参照して説明する。図６は記録動作に関連する処理制御のうち、試し書き処理に伴い最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及び最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出するアルゴリズムを示すフローチャートである。このような記録パワーの算出は情報の記録開始の準備として行われ、最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する第１の試し書き工程又は第１の試し書き手段と、最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出する第２の試し書き工程又は第２の試し書き手段とで成り立つ。
【００４３】
まず、第１の試し書き工程（第１の試し書き手段）において、ステップＳ１では、この第１の試し書き工程で使用する第１のテストパターンを生成する。第１のテストパターンは通常のデータ（例えば、任意のデータや固定データをコントローラ８から供給したデータ）をエンコーダ９で変調した記録データＷｄａｔａでよい。
【００４４】
ステップＳ２では、セクタ毎に記録パワーＰｗを変化させながらこの第１のテストパターンを試し書き領域に記録する。この時、付加記録パワーＰｗｅｘは、記録パワーＰｗと所定の比例関係を保ったまま（Ｐｗｅｘ／Ｐｗ＝一定）変化させ、或いは、所定の値を保ったまま（Ｐｗｅｘ＝一定）とする。
【００４５】
ステップＳ３では、ステップと２で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出する。
【００４６】
この再生信号の品質を評価するには以下のような例が適用できる。
【００４７】
第１には、図３を参照して説明したように、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃを検出する。そして、各セクタ毎に、
β＝（（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ）−（Ｉｄｃ−Ｉｂｔ））／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）………（１）
なる演算を行いアシンメトリβを算出する。
【００４８】
通常、最も良好な再生信号が得られるのはβ＝０の時であり、最も０に近いセクタを記録したパワーを最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、記録パワーＰｗとアシンメトリβとの近似式を算出し、β＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００４９】
第２には、再生信号の変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを指標とする方法である。前述と同様に各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔを検出する。そして、
ｍ＝（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ …………（２）
に従い変調度ｍを算出する。
【００５０】
次に、算出された変調度ｍとそのときの記録パワーＰｗとから、変調度ｍの記録パワーに対する変化率γを
γ＝（ｄｍ／ｄＰｗ）・（Ｐｗ／ｍ） …………（３）
に従い算出する。そして、変化率γが所定値γｔとなる記録パワーＰｔを求め、これに所定の係数ｋを掛けたものを最適記録パワーＰｗとして決定する。これらの所定値γｔ及び係数ｋは記録媒体１の種類や記録装置毎に予め定められた値を用いる。
【００５１】
より詳細な算出方法を以下に説明する。まず、試し書き領域を再生して検出した変調度ｍと記録パワーＰｗとの複数のデータから、
ｍ＝ａ・Ｐｗ２＋ｂ・Ｐｗ＋ｃ （ａ，ｂ，ｃは定数）……（４）
なる２次近似式を算出する。近似方法としては多項式近似などの一般的な近似方法を用いればよく、２次以上の近似式が測定値とよく一致する。
【００５２】
そして、前述の（３）式より、ｄｍ／ｄＰｗ＝２ａ・Ｐｗ＋ｂであるから、
Ｐｗ＝｛−ｂ（γ−１）±ＳＱＲＴ［ｂ２（γ−１）２−４ａ（γ−２）ｃγ］｝／２ａ（γ−２）………………………………（５）
なる（５）式が得られる。これらの演算を行い、（５）式の正の解Ｐｗ＋を算出することで最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出する。
【００５３】
また、これらの方法を組み合わせたものであってもよく、さらにはジッタ検出部を設け、最小のジッタとなる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００５４】
次に、ステップＳ４〜Ｓ６の第２の試し書き工程（第２の試し書き手段）を行う。
【００５５】
ステップＳ４では、この第２の試し書き工程で使用する第２のテストパターンを生成する。第２のテストパターンは、図７に示すように、特定パターンである３Ｔパターンを除いた第１データ列（第１テストパターン＝ＴＰ１）と特定パターンである３Ｔパターンの繰返しによる第２データ列（３Ｔ繰返しパターン＝３ＴＰ）とを、交互に繰り返したパターンとする例である。このような第２のテストパターンが記録データＷｄａｔａとしてエンコーダ９より供給される。
【００５６】
ステップＳ５では、記録パワーＰｗはステップＳ３で算出した最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に設定し、セクタ毎に付加記録パワーＰｗｅｘを変化させながら、第２のテストパターンを試し書き領域に記録する。この時、付加記録パワーＰｗｅｘの可変範囲は最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）に対応した値を中心とするようにするとよい。また、例えば記録媒体１が書換え可能な媒体である場合にはこの試し書き領域はステップＳ２の第１の試し書き領域に上書きしてもよく、或いは、一度消去した後に第２の試し書きを行ってもよい。また、一度に使用できる試し書き領域（例えば１ＥＣＣブロック）の前半部分に第１の試し書きを、後半部分に第２の試し書きを行うものであってもよい。もっとも、ここでは記録媒体１として色素系追記型記録媒体を想定しているので、ステップＳ２の試し書き領域に続いた領域とする。
【００５７】
ステップＳ６では、ステップＳ５で試し書きした領域を再生し、再生信号Ｓｒｆが最も良好に得られるセクタを記録したパワーを最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出する。再生信号Ｓｒｆは図７（ｂ）に示すように得られる。
【００５８】
再生信号の品質を評価するにはステップＳ３の第１の方法と同様に、各セクタにおける再生信号Ｓｒｆの最大値Ｉｐｋ、最小値Ｉｂｔ、及び３Ｔ繰返し領域の平均値（ＤＣ値）Ｉｄｃ３を検出し、
β３＝［（Ｉｐｋ−Ｉｄｃ３）−（Ｉｄｃ３−Ｉｂｔ）］／（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）………（６）
によりアシンメトリβ３を算出する。
【００５９】
そして、アシンメトリβ３が最も０に近いセクタを記録したパワーを最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）として算出すればよい。或いは、付加記録パワーせｗｅｘとアシンメトリβ３との近似式を算出し、β３＝０となる記録パワーを算出するようにしてもよい。
【００６０】
前述したように付加記録パワーＰｗｅｘが適正値でないと再生信号Ｓｒｆの平均値Ｉｄｃは変動し、アシンメトリβも変動する。通常、この平均値の変動はマーク長が短いパターンほど顕著に現れる。このため、最小マーク長である３Ｔ繰返しパターンをテストパターンとして用いることにより、ステップＳ６での検出を容易にしかつ感度よく検出できるようにし、最適付加記録パワーの算出精度を向上させている。また、通常データ（第１のテストパターン）と交互に繰返すようにしているので、再生パワーや記録媒体の反射率変動などにより反射光量が変動しても最大値Ｉｐｋ及び最小値Ｉｂｔも同様の比率で変動を受け、（６）式で算出するアシンメトリβ３はこの影響を受けずに検出できる。
【００６１】
また、第１のテストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰは試し書きする際、セクタに同期して所定の周期で繰り返すようにするので、再生時にもセクタに同期して平均値を検出するようにすれば、平均値Ｉｄｃ３が容易に検出できる。なお、第１のテストパターンＴＰ１と３Ｔ繰返しパターン３ＴＰとの繰返し周期は再生信号の平均値検出帯域を考慮して設定するようにすればよい。
【００６２】
このようにして最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）及び最適付加記録パワーＰｗｅｘ（ｏｐｔ）を算出することにより、試し書き工程を終了する。通常の情報記録時には、このようにして求めた最適記録パワーで記録をすると記録マーク形状及びマーク位置が精度よく形成でき、精度のよい記録が行える。
【００６３】
また、ステップＳ３において、第１のテストパターンを所定長以上のマーク長で（例えば、４Ｔ以上のマーク長で）構成したデータ列としてもよい。特に、アシンメトリβを再生信号の評価基準に用いる時に好適であり、このようにすれば付加記録パワーＰｗｅｘが最適値でないことによる平均値レベルの変動が微少となり、正確に最適記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を算出できるようになる。
【００６４】
なお、上述の説明では、図４に示したような記録波形で記録を行う場合について説明したが、複数の記録パワーで記録する記録方法においても同様に本発明のＯＰＣ方法が好適に適用できる。例えば、図８（ｃ）〜（ｅ）に示すような記録波形（図８（ｃ）の光波形１は記録パルスの前縁部及び後縁部に付加記録パワーＰｗｅｘのパルスを付加するもの、図８（ｄ）の光波形２はマルチパルス中の先頭及び最後尾のパルスに付加記録パワーＰｗｅｘを付加するもの、図８（ｅ）の光波形３はイレースパワーＰｅも利用するマルチパルス発光波形に加えて先頭パルスの後半部及び最後尾のパルスに付加記録パワーＰｗｅｘを付加するもの）で記録する場合であっても、同様にして記録パワーＰｗと付加記録パワーＰｗｅｘの最適値を算出できる。
【００６５】
【発明の効果】
請求項１，７記載の発明によれば、記録パワー及び付加記録パワーを試し書きにより各々別個に算出し、これにより情報の記録を行うようにしたので、記録マーク形状及びマーク位置を精度よく形成することができ、精度のよい記録を行うことができる。
【００６６】
請求項２，８記載の発明によれば、請求項１，７記載の発明において、第１のテストデータを特定パターンを除いたデータ列としたので、第１の試し書きの際に付加記録パワーが最適化されてないことによる再生信号の平均値レベルの変動を抑制することができ、精度よく最適記録パワーを算出することができる。
【００６７】
請求項３，９記載の発明によれば、請求項１，２，７，８記載の発明において、第２のテストデータを、第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列としたので、各データ列の再生信号の平均値を分離して容易にかつ精度よく検出することができ、最適付加記録パワーの算出精度を向上させることができる。
【００６８】
請求項４，１０記載の発明によれば、請求項１，２，７，８記載の発明において、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出することができる。
【００６９】
請求項５，１１記載の発明によれば、請求項３，９記載の発明において、各テストデータや記録媒体に応じて最適記録パワー及び最適付加記録パワーを精度よく算出することができる。
【００７０】
請求項６，１２記載の発明によれば、請求項２ないし５，８ないし１１の何れか一記載の発明において、付加記録パワーに対する再生信号平均値の変動感度の大きな最小マーク長を繰り返すようにしているので、最適付加記録パワーが容易かつ精度よく算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の光情報記録装置の概略構成例を示すブロック図である。
【図２】ＰＣＡ領域及び試し書き方式に関する説明図である。
【図３】再生信号のアイダイアグラムを示す特性図である。
【図４】発光波形例を示す波形図である。
【図５】記録パワーＰｗが最適で、付加記録パワーＰｗｅｘが最適でなかった場合の記録マーク及びその時の再生信号Ｓｒｆを示す特性図である。
【図６】試し書き処理制御例を示す概略フローチャートである。
【図７】テストパターン例を示す説明図である。
【図８】適用可能な発光波形の変形例を示す波形図である。
【符号の説明】
Ｓ１〜Ｓ３ 第１の試し書き工程、第１の試し書き手段
Ｓ４〜Ｓ６ 第２の試し書き工程、第２の試し書き手段
Claims (12)
- 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き工程と、
記録パワーを算出された前記最適記録パワーに設定するとともに、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き工程と、
を備え、
算出されたこれらの最適記録パワーと最適付加記録パワーとを照射する記録情報に基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。 - 所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち所定の特定パターンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
- 前記第２のテストデータは、前記第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列であることを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。
- 前記第１の試し書き工程における前記最適記録パワーは、第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録方法。 - 前記第２の試し書き工程における前記最適付加記録パワーは、第２の試し書きを行った領域の第２データ列の再生信号の平均値レベルに対する第１データ列の再生信号の正側ピーク値と負側ピーク値との割合から算出する、
ことを特徴とする請求項３記載の情報記録方法。 - 前記所定の特定パターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長であることを特徴とする請求項２ないし５の何れか一記載の情報記録方法。
- 記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録装置において、
前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第１のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適記録パワーを算出する第１の試し書き手段と、
記録パワーを算出された前記最適記録パワーに設定するとともに、当該記録パワー照射期間中の一部の期間に付加する付加記録パワーを段階的に可変しながら前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第２のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から最適付加記録パワーを算出する第２の試し書き手段と、
を備え、
算出されたこれらの最適記録パワーと最適付加記録パワーとを照射する記録情報に基づき情報の記録を行うことを特徴とする情報記録装置。 - 所定の前記第１のテストデータは、前記記録情報のうち所定の特定パターンを除いたデータ列であることを特徴とする請求項７記載の情報記録装置。
- 前記第２のテストデータは、前記第１のテストデータからなる第１データ列と、所定の特定パターンを繰返した第２データ列とを繰返したデータ列であることを特徴とする請求項７又は８記載の情報記録装置。
- 前記第１の試し書き手段は、前記最適記録パワーを第１の試し書きを行った領域の再生信号の変調度或いは変調度の変化率から算出し、
前記第２の試し書き手段は、前記最適付加記録パワーを第２の試し書きを行った領域の再生信号のアシンメトリから算出する、
ことを特徴とする請求項７又は８記載の情報記録装置。 - 前記第２の試し書き手段は、前記最適付加記録パワーを第２の試し書きを行った領域の第２データ列の再生信号の平均値レベルに対する第１データ列の再生信号の正側ピーク値と負側ピーク値との割合から算出する、
ことを特徴とする請求項９記載の情報記録装置。 - 前記所定の特定パターンは、前記記録情報のうちの最小マーク長であることを特徴とする請求項８ないし１１の何れか一記載の情報記録装置。
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