CN1806278A - 信息记录方法及信息记录装置 - Google Patents

Abstract

在将记录功率利用附加记录功率进行多值电平化的方式中，可以求各个记录功率的最佳值，并进行精度高的记录。该方式包括：第一试写步骤(S1～S3)，一边分级改变记录功率，一边试写规定的第一测试数据，并根据其再现信号计算最佳记录功率；以及第二试写步骤(S4～S6)，将记录功率设定为计算出的所述最佳记录功率，并且一边分级地改变对该记录功率照射期间中的一部分期间内附加的附加记录功率，一边试写规定的第二测试数据，并根据其再现信号计算最佳附加记录功率，从而通过试写而分别单独计算记录功率以及附加记录功率，并由此进行信息的记录，所以可以高精度地形成记录标记形状以及标记位置，并可以进行精度高的记录。

Description

信息记录方法及信息记录装置

技术领域

本发明涉及对于CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM、DVD+RW等各种记录介质的信息记录方法以及信息记录装置。

背景技术

近年来，例如CD-R驱动装置这样的可记录的光盘驱动装置被实用化，进而正在进行目标在于大容量化、高速记录化的研究。作为可记录的光盘介质，可以举出使用染料类介质的追记型光盘，或使用光磁介质或相变介质等的可重写的盘等。

在一般的光盘记录装置中，以半导体激光器作为光源，对记录介质照射通过记录信息进行了脉冲调制的该激光，并形成记录标记。此时，由于记录标记的形成状态根据记录的激光的功率而改变，因此，以往为了求出适于记录介质的特性的记录功率，使用以下方法，即作为记录开始的准备，一边对预定的区域(PCA：Power Calibration Area＝试写区)改变记录功率一边进行试写，在试写之后，将记录了该区域的再现信号的质量最好的区域的功率作为最佳记录功率来求的所谓OPC(Optimum Power Control，最佳功率控制)的方法。在实际的数据的记录时保持这样求出的最佳记录功率，同时进行记录。

这里，作为再现信号的质量评价方法，虽然提出了几个方法，但作为代表性的方法，以下的方法被实用化。

第一是根据再现信号的不对称性β进行评价的方法(以下适当称为“β法”)。即，如图3所示，检测对于再现信号的DC电平的正侧峰值A(＝Ipk-Idc)和负侧峰值B(＝Idc-Ibt)，并根据

β＝((Ipk-Idc)-(Idc-Ibt))/(Ipk-Ibt)

计算不对称性β，将该不对称性β为规定值(例如，0)的再现信号设为良好的信号。

第二是使用再现信号的调制度m进行评价的方法(以下适当称为“γ法”)。首先，如图6所示，检测再现信号的最大值Ipk和最小值Ibt，并根据

 m＝(Ipk-Ibt)/Ipk

计算调制度m。接着，根据计算出的调制度m和此时的记录功率P，根据

γ＝(dm/dP)·(P/m)

计算记录功率对于调制度的改变率γ。然后，求改变率γ为规定值γt的记录功率Pt，将对其乘以规定的系数k所得的值决定为最佳记录功率。

另一方面，在CD或DVD等多种光盘的记录方法中，使用适于高密度化的标记的长度负担信息的标记边缘记录方法，为了准确地再现数据，需要标记的形状或边缘位置的准确的控制。进而，即使标记长度不同，也一样地调整标记形状，因此以分割为多个记录脉冲的脉冲串形成记录标记的多脉冲记录方法被广泛使用。即，通过重复进行加热、冷却的循环来连接形成标记，从而形成一样的长度标记。该方法也适用于染料类追记型的介质。

另外，伴随近年来的高速记录化、大容量化的要求而提出各种记录方法，作为其中之一，可以举出记录功率的多值电平化。

例如，在CD-R等中，例如图4(c)所示，通过将附加记录功率Pwex的脉冲附加在记录脉冲的前边缘部分，在刚进行记录功率照射之后，由于对记录介质的蓄热效果不充分，因此校正标记形状的不规则(参照图4(d))。

此外，如图8(c)所示，有不仅在前边缘部分，而且还在后边缘部分加上了附加记录功率Pwex的附加记录脉冲的方法，或如图8(d)(e)所示，也有对多脉冲的特定的脉冲(例如，最先脉冲或最后脉冲)的记录功率附加了附加记录功率Pwex的方法。这些都是适用于记录标记边缘位置控制或记录标记形状控制的方法。

从而，在这些多值电平化的记录方法中，当然如果附加记录功率Pwex也不是对于该记录介质的适当值，则记录功率Pw不能形成准确的形状、位置的标记。

因此，为了提高记录介质和记录装置的适应性而最好进行如前所述的OPC控制。但是，以往，附加记录功率Pwex以与记录功率Pw保持规定的比例关系的状态(Pwex/Pw＝一定)，或以保持规定的值的状态(Pwex＝一定)一边改变记录功率Pw，一边进行试写，求其中最佳的记录功率Pw。

但是，在这样的OPC方法中，在存在记录介质或记录装置的偏差(即，LD驱动部的偏差引起的记录脉冲波形的偏差)的情况下，记录功率Pw和附加记录功率Pwex的关系也不是保持为一定，如上述那样计算出的附加记录功率Pwex不是适当值，由此，损害标记形状或标记位置的精度，其结果产生成为数据错误的原因的问题。此外，即使是同一记录介质，如果记录速度不同则适当的记录功率Pw和附加记录功率Pwex的关系也不同。

发明内容

本发明的目的在于提供一种信息记录方法以及信息记录装置，在利用附加记录功率将记录功率多值电平化的信息记录方法或信息记录装置中，可以求各个记录功率的最佳值，并由此进行精度高的记录。

为了实现上述目的，根据本发明的一个特征，在通过从光源对记录介质照射基于记录信息进行了调制的光而形成记录标记从而进行信息的记录的信息记录方法中，包括：第一试写步骤，对于所述记录介质的试写区，一边分级改变照射的记录功率，一边试写规定的第一测试数据，并根据记录的试写数据的再现信号计算最佳记录功率；以及第二试写步骤，将记录功率设定为计算出的所述最佳记录功率，同时一边分级地改变对该记录功率照射期间中的一部分期间附加的附加记录功率，一边对所述记录介质的试写区试写规定的第二测试数据，根据记录的试写数据的再现信号计算最佳附加记录功率，基于计算出的这些最佳记录功率和最佳附加记录功率，进行信息的记录。

从而，通过试写记录功率以及附加记录功率来分别单独进行计算，由此进行信息的记录，所以可以高精度地形成记录标记形状以及标记位置，并可以进行精度高的记录。

根据本发明的其它的特征，在上述信息记录方法中，规定的所述第一测试数据是所述记录信息中除了规定的特定模式(pattern)的数据串。

从而，由于第一测试数据是除了特定模式的数据串，所以可以抑制在第一试写时附加记录功率没有被最佳化而引起的再现信号的平均值电平的变动，并可以高精度地计算最佳记录功率。

根据本发明的其它的特征，在上述信息记录方法中，所述第二测试数据是将由所述第一测试数据构成的第一数据串和重复规定的特定模式的第二数据串进行重复的数据串。

从而，可以分离各数据串的再现信号的平均值而容易地且高精度地进行检测，所以最佳附加记录功率的计算精度提高。

根据本发明的其它的特征，在上述信息记录方法中，第一试写步骤中的所述最佳记录功率根据进行了第一试写的区域的再现信号的调制度或调制度的改变率来进行计算，所述第二试写步骤中的所述最佳附加功率根据进行了第二试写的区域的再现信号的不对称性来进行计算。

在本发明以及以下的发明中，不对称性表示正侧峰值和负侧峰值相对于再生信号的平均值电平的比例。

从而，可以根据各测试数据或记录介质来高精度地计算最佳记录功率以及最佳附加记录功率。

根据本发明的其它的特征，在上述信息记录方法中，所述第二试写步骤中的所述最佳附加记录功率根据第一数据串的再现信号的正侧峰值和负侧峰值对于进行了第二试写的区域的第二数据串的再现信号的平均值电平的比例来进行计算。

从而，可以根据各测试数据或记录介质来高精度地计算最佳记录功率以及最佳附加记录功率。

根据本发明的其它的特征，在上述信息记录方法中，所述规定的特定模式是所述记录信息中的最小标记长度。

从而，由于重复再现信号平均值相对于附加记录功率的变动灵敏度大的最小标记长度，所以可以容易地且高精度地计算最佳附加记录功率。

根据本发明的其它特征，通过上述信息记录装置也同样可以起到上述信息记录方法的作用。

根据技术方案1、7记载的发明，由于通过试写来分别单独计算记录功率以及附加记录功率，并由此进行信息的记录，所以可以高精度地形成记录标记形状以及标记位置，并可以高精度进行记录。

根据本发明的一特征，由于将第一测试数据设为除了特定模式的数据串，所以可以抑制第一试写时附加记录功率没有被最佳化而引起的再现信号的平均值电平的变动，并可以高精度地计算最佳记录功率。

根据本发明一个特征，在上述发明中，由于将第二测试数据设为将由第一测试数据构成的第一数据串和重复规定的特定模式的第二数据串进行重复的数据串，所以可以将各数据串的再现信号的平均值分离而容易地且高精度地进行检测，并可以提高最佳附加记录功率的计算精度。

根据本发明一个特征，在上述发明中，可以根据各测试数据或记录介质来高精度地计算最佳记录功率以及最佳附加记录功率。

根据本发明一个特征，在上述发明中，可以根据各测试数据或记录介质来高精度地计算最佳记录功率以及最佳附加记录功率。

根据本发明一个特征，在上述发明中，由于重复再生信号相对于附加记录功率的平均值的变动灵敏度大的最小标记长度，所以可以容易地且高精度地计算最佳附加记录功率。

附图说明

图1是表示本发明的一实施方式的光信息记录装置的概略结构例的方框图。

图2是关于PCA区域以及试写方式的说明图。

图3是表示再现信号的眼图的特性图。

图4是表示发光波形例的波形图。

图5是表示记录功率Pw是最佳，附加记录功率Pwex不是最佳的情况下的记录标记以及此时的再现信号Srf的特性图。

图6是表示试写处理控制例的概略流程图。

图7是表示测试模式例的说明图。

图8是表示可应用的发光波形的变形例的波形图。

具体实施方式

基于附图说明本发明的一实施方式。本实施方式的信息记录装置是对光信息记录装置的应用例，图1是表示该光信息记录装置的概略结构例的方框图。

在该光信息记录装置中使用的记录介质1是可记录的记录介质(例如，CD-R、CD-RW、DVD-R、DVD-RW、DVD+R、DVD+RW、DVD-RAM、MD、MO等光盘等)。对这样的记录介质1进行旋转驱动的主轴电机2根据从伺服控制器3供给的信号而被控制为线速度一定(CLV)或角速度一定(CAV)。光拾取器(PU)4对记录介质1照射来自作为光源的半导体激光器(LD)的出射光并进行信息的记录，或接收来自记录介质1的反射光并变换为接收光信号，它包括：光源、接收反射光并变换为接收光信号的光接收元件、光学系统、致动器等。此外，光拾取器4中配置监视光源的出射光的一部分的监视光接收部，通过作为该输出的监视信号控制光源的出射光量变动。此外，也有配置了用于检测对于记录介质1的照射光的倾斜(tilt)的倾斜检测光接收部等的情况。

接收光信号处理部5被输入来自配置在光拾取器4中的各种光接收部的接收光信号，进行各种信号处理。根据接收光信号生成再现信号Srf，或与伺服控制器3一起对致动器驱动并控制(聚焦伺服控制以及追踪伺服控制)，以便对于伴随记录介质1的旋转的表面振动或轨道的半径方向的振动等变动，通常在规定的误差内照射光。因此，根据接收光信号生成伺服误差信号Ssv并供给伺服控制器3。此外，光拾取器4可沿记录介质1的半径方向移动，并进行搜索用作，以便光点照射到要求的位置。伺服控制器3根据记录介质1中预先记录的地址信息等，担负搜索控制或记录介质1的旋转控制、倾斜控制等功能。

记录介质1上预先形成记录轨道以规定的频率弯曲的摆动，也由接收光信号处理部5生成提取了该摆动分量的摆动信号Swbl。基于该摆动信号Swbl，由信号处理部6进行旋转控制、地址信息的检测、成为记录时的基准时钟的记录时钟WCK的生成。

再现信号处理部7按照根据再现信号Srf再现的记录介质1的规定的调制方式规则来进行解调。此外，通过内置的PLL电路来提取再现时钟。解调的数据供给控制器8。

编码器9按照规定的调制方式规则对从控制器8供给的记录信息进行调制，并供给记录数据Wdata。此时，基于记录时钟WCK而生成。例如，DVD记录装置中使用EFM+调制方式，记录数据Wdata的脉冲长度为3T～11T、14T(T是记录时钟WCK的周期)。

LD驱动部10根据记录数据Wdata以及记录时钟WCK，以规定的光波形调制光源LD。照射功率或光波形信息等由控制器8设定。此外，从接收光信号处理部5输入监视接收光信号，基于该监视接收光信号进行控制，以使光源LD的出射光量成为要求的值(进行所谓APC(Automatic Power Control，自动功率控制)控制)。

这里，如图2(a)所示，记录介质1中在规定的区域(例如，最内周部)设置有PCA(Power Calibration Area＝试写区)21，并进行在开始本来的记录之前在该区域进行试写并求最佳记录功率，在实际的记录时以该求出的记录功率进行记录的OPC(Optimum Power Control)控制。此外，如图2(b)所示，一次的试写例如使用作为记录信息单位的1ECC块进行(该1ECC块由16扇区构成)，对每一扇区一边改变记录功率一边进行试写。

于是，进行了该试写的区域的再现信号Srf如图2(c)所示，所以OPC检测部11检测再现信号Srf的各扇区的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。图3是再现信号Srf的眼图的一例。控制器8执行进行了试写的区域的再现并检测这些值，根据这些值进行规定的运算并计算最佳的记录功率。后面叙述该计算动作的细节。

测试信号生成部12在进行试写时生成试写数据(测试模式)。该试写数据被供给编码部9，在试写时选择它并供给LD驱动部10。

控制器8除了上述的功能、后述的处理控制之外，还进行与主机(未图示)的记录再现信息的交换或命令通信并进行装置整体的控制。

这里，作为记录介质1，图4例示了假设了例如CD-R等染料类追记型记录介质的情况下的光源LD的发光波形例。图4(a)表示记录时钟WCK，图4(b)表示记录数据Wdata，图4(c)表示记录数据Wdata的标记长度为3T时的光波形。照射功率被设定分别成为基础(bottom)功率Pb、记录功率Pw以及附加记录功率Pwex。此外，图4(b)(c)中的虚线是标记长度为4T～11T的情况。图4(d)是由图4(c)的光波形形成的记录标记，①是在前边缘附加了附加记录功率Pwex的脉冲的情况，②是不附加的情况。通过适当地设定附加记录功率Pwex，记录标记形状如图4(d)中的①所示一样地形成，记录标记边缘位置也可以高精度地控制。

图5(a)是表示记录功率Pw是最佳，附加记录功率Pwex不是最佳的情况下(设为过少)的记录标记，图5(b)表示此时的再现信号Srf。由于记录标记的前边缘的形状不规则，再现信号Srf从理想状态(虚线)成为如图所示，再现信号的平均值如Idc’(点划线)那样变动。另一方面，最大值Ipk、最小值Ibt几乎不变动。

在这样的条件下，参照图6所示的流程图说明由微型计算机构成的控制器8执行的适于记录介质1的记录方法的处理控制例。图6是表示与记录动作关联的处理控制中，伴随试写处理来计算最佳记录功率Pw(opt)以及最佳附加记录功率Pwex(opt)的算法的流程图。这样的记录功率的计算作为信息的记录开始的准备来进行，由计算最佳记录功率Pw(opt)的第一试写步骤或第一试写部件，和计算最佳附加记录功率Pwex(opt)的第二试写步骤或第二试写部件进行。

首先，在第一试写步骤(第一试写部件)中，由步骤S1生成该第一试写步骤中使用的第一测试模式。第一测试模式是由编码器9对通常的数据(例如，任意的数据或从控制器8提供的固定数据)进行了调制后的记录数据Wdata即可。

在步骤S2中，一边对每个扇区改变记录功率，一边在试写区记录第一测试模式。此时，附加记录功率Pwex以与记录功率Pw保持规定的比例关系的状态(Pwex/Pw＝一定)改变，或设为以保持规定的值的状态(Pwex＝一定)。

在步骤S3中，再现步骤S2中试写的区域，将记录了得到最好的再现信号Srf的扇区的功率作为最佳记录功率Pw(opt)计算出。

对于该再现信号的质量的评价可以应用如下的例子。

第一，如参照图3进行的说明那样，检测各扇区中的再现信号Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、平均值(DC值)Idc。然后，对每个扇区进行

β＝((Ipk-Idc)-(Idc-Ibt))/(Ipk-Ibt)......(1)

的运算并计算不对称性β。

通常，得到最好的再现信号的是β＝0时，将记录了最接近0的扇区的功率作为最佳记录功率Pw(opt)计算即可。或者，计算记录功率Pw和不对称性β的近似值，并计算β＝0的记录功率也可以。

第二，是将再现信号的调制度m对于记录功率的改变率γ作为指标的方法。与所述同样地检测各扇区中的再现信号Srf的最大值Ipk、最小值Ibt。然后根据

m＝(Ipk-Ibt)/Ipk.......(2)

计算调制度m。

接着，根据计算出的调制度m和此时的记录功率Pw，按照

γ＝(dm/dP)·(P/m)......(3)

计算记录功率对于调制度的改变率γ。然后，求改变率γ为规定值γt的记录功率Pt，将对其乘以规定的系数k所得的值决定为最佳记录功率Pw。这些规定值γt以及系数k对每个记录介质1的种类或记录装置使用预定的值。

以下说明更详细的计算方法。首先，根据再现试写区而检测出的调制度m和记录功率Pw的多个数据，计算

m＝a·Pw2+b·Pw+c(a、b、c是常数)......(4)的二次近似式。作为近似方法，使用多项式近似等一般的近似方法即可，二次以上的近似式与预测值非常一致。

然后，根据所述(3)式，由于dm/dPw＝2a·Pw+b，所以得到

Pw＝{-b(γ-1)±SQRT[b2(γ-1)2-4a(γ-2)cγ]}/2a(γ-2)的(5)式。进行这些运算，通过计算(5)式的正的解Pw+，从而计算最佳记录功率Pw(opt)。

此外，可以是这些方法的组合，进而也可以设置抖动(jitter)检测部，并计算抖动最小的记录功率。

接着，进行步骤S4～S6的第二试写步骤(第二试写部件)。

在步骤S4中，生成该第二试写步骤中使用的第二测试模式。第二测试模式，如图7所示，是将除去作为特定模式的3T模式的第一数据串(第一测试模式＝TP1)和通过作为特定模式的3T模式的重复产生的第二数据串(3T重复模式＝3TP)交替地重复了的模式的例子。这样的第二测试模式作为记录数据Wdata由编码器9供给。

在步骤S5中，记录功率Pw设定为在步骤S3中计算出的最佳记录功率Pw(opt)，对每个扇区一边改变附加记录功率Pwex，一边在试写区记录第二测试模式。此时，附加记录功率Pwex的可变范围最好以与最佳记录功率Pw(opt)对应的值为中心。此外，例如在记录介质为可重写的介质的情况下，该试写区可以覆盖步骤S2的第一试写区，或者也可以在一次擦除后进行第二试写。此外，也可以在可使用一次的试写区(例如1ECC块)的前半部分进行第一试写，在后半部分进行第二试写。而且，这里，由于作为记录介质1而假设了染料类追记型记录介质，所以设为接着步骤S2的试写区的区域。

在步骤S6中，再现步骤S5中试写的区域，将记录了得到最好的再现信号Srf的扇区的功率作为最佳附加功率Pwex(opt)来计算。再现信号Srf如图7(b)所示地得到。

为了评价再现信号的质量，与步骤S3的第一方法同样，检测各扇区中的再现信号Srf的最大值Ipk、最小值Ibt、以及3T重复区域的平均值(DC值)Idc3，并通过

B3＝[(Ipk-Idc3)-(Idc3-Ibt)]/(Ipk-Ibt)......(6)计算不对称性β3。

然后，将记录了不对称性β3最接近0的扇区的功率作为最佳附加功率Pwex(opt)计算即可。或者，计算附加记录功率Pwex和不对称性β3的近似式，并计算β3＝0的记录功率也可以。

如前所述，如附加记录功率Pwex不是适当值，则再现信号Srf的平均值Idc变动，不对称性β也变动。通常，如标记长度为越短的模式则该平均值的变动越显著地表现。因此，通过将作为最小标记长度的3T重复模式作为测试模式使用，可以容易地且高灵敏度地检测步骤S6中的检测，并可以提高最佳附加记录功率的计算精度。此外，由于与通常数据(第一测试模式)交替地重复，所以即使反射光量由于再现功率或记录介质的反射率变动等而变动，最大值Ipk以及最小值Ibt也以同样的比率受到变动，由(6)式计算的不对称性β3可以不受该影响地检测。

此外，在第一试写模式TP1和3T重复模式3TP进行试写时，由于与扇区同步以规定的周期进行重复，所以如果在再现时也与扇区同步地检测平均值，则可以容易地检测平均值Idc3。另外，第一测试模式TP1和3T重复模式3TP的重复周期考虑再现信号的平均值检测频带来设定即可。

这样，通过计算最佳记录功率Pw(opt)以及最佳附加记录功率Pwex(opt)，从而结束试写步骤。在通常的信息记录时，如通过这样求出的最佳记录功率进行记录，则可以高精度地形成记录标记形状以及标记位置，并可以进行高精度的记录。

此外，在步骤S3中，也可以将第一测试模式设为以规定长度以上的标记长度(例如4T以上的标记长度)构成的数据串。特别适合对再现信号的评价基准使用不对称性β时，这样，附加记录功率Pwex不是最佳值引起的平均值电平的变动微小，并可以准确地计算最佳记录功率Pw(opt)。

另外，在上述说明中，说明了以如图4所示的记录波形进行记录的情况，但在以多个记录功率进行记录的记录方法中也同样可以良好的应用本发明的OPC方法。例如，即使是以如图8(c)～(e)所示的记录波形(图8(c)的光波形1是对记录脉冲的前边缘部分以及后边缘部分附加附加记录功率Pwex的脉冲的波形，图8(d)的光波形2是在多脉冲中的最先以及最后的脉冲附加附加记录功率Pwex的波形，图8(e)的光波形3是将附加记录功率Pwex附加到也利用擦除功率Pe的多脉冲发光波形的最先脉冲的后半部以及最后的脉冲的波形)进行记录的情况下，同样也可以计算记录功率Pw和附加记录功率Pwex的最佳值。

Claims (12)

1.一种信息记录方法，通过从光源对记录介质照射基于记录信息调制的光而形成记录标记，从而进行信息的记录，其特征在于该方法包括：

第一试写步骤，对于所述记录介质的试写区，一边分级地改变照射的记录功率，一边试写规定的第一测试数据，并根据记录的试写数据的再现信号计算最佳记录功率；以及

第二试写步骤，将记录功率设定为计算出的所述最佳记录功率，同时一边分级地改变在该记录功率照射期间中的一部分期间内附加的附加记录功率，一边对所述记录介质的试写区试写规定的第二测试数据，并根据记录的试写数据的再现信号计算最佳附加记录功率，

基于照射被计算出的这些最佳记录功率和最佳附加记录功率的记录信息，进行信息的记录。

2.如权利要求1所述的信息记录方法，其特征在于，规定的所述第一测试数据是所述记录信息中除了规定的特定模式的数据串。

3.如权利要求1所述的信息记录方法，其特征在于，所述第二测试数据是将由所述第一测试数据构成的第一数据串和重复规定的特定模式的第二数据串进行重复的数据串。

4.如权利要求1所述的信息记录方法，其特征在于，所述第一试写步骤中的所述最佳记录功率根据进行了第一试写的区域的再现信号的调制度或调制度的改变率来进行计算，

所述第二试写步骤中的所述最佳附加功率根据进行了第二试写的区域的再现信号的不对称性来进行计算。

5.如权利要求3所述的信息记录方法，其特征在于，所述第二试写步骤中的所述最佳附加记录功率根据第一数据串的再现信号的正侧峰值和负侧峰值相对于进行了第二试写的区域的第二数据串的再现信号的平均值电平的比例来进行计算。

6.如权利要求2所述的信息记录方法，其特征在于，所述规定的特定模式是所述记录信息中的最小标记长度。

7.一种信息记录装置，通过从光源对记录介质照射基于记录信息进行了调制的光而形成记录标记，从而进行信息的记录，其特征在于，该装置包括：

第一试写部件，对于所述记录介质的试写区，一边分级地改变照射的记录功率，一边试写规定的第一测试数据，并根据记录的试写数据的再现信号计算最佳记录功率；以及

第二试写部件，将记录功率设定为计算出的所述最佳记录功率，同时一边分级地改变对该记录功率照射期间中的一部分期间内附加的附加记录功率，一边对所述记录介质的试写区试写规定的第二测试数据，根据记录的试写数据的再现信号计算最佳附加记录功率，

基于照射被计算出的这些最佳记录功率和最佳附加记录功率的记录信息，进行信息的记录。

8.如权利要求7所述的信息记录装置，其特征在于，规定的所述第一测试数据是所述记录信息中除了规定的特定模式的数据串。

9.如权利要求7所述的信息记录装置，其特征在于，所述第二测试数据是将由所述第一测试数据构成的第一数据串和重复规定的特定模式的第二数据串进行重复的数据串。

10.如权利要求7所述的信息记录装置，其特征在于，所述第一试写部件根据进行了第一试写的区域的再现信号的调制度或调制度的改变率来计算所述最佳记录功率，

所述第二试写部件根据进行了第二试写的区域的再现信号的不对称性来计算所述最佳附加功率。

11.如权利要求9所述的信息记录装置，其特征在于，所述第二试写部件根据第一数据串的再现信号的正侧峰值和负侧峰值相对于进行了第二试写的区域的第二数据串的再现信号的平均值电平的比例来计算所述最佳附加记录功率。

12.如权利要求8至11的任何一项所述的信息记录装置，其特征在于，所述规定的特定模式是所述记录信息中的最小标记长度。

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