JP2008152860A - 光ディスク装置および光ディスク記録再生方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】再生信号のPLL回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができるようにする。
【解決手段】本発明に係る光ディスク装置1においては、特定パターン発生器36は、光ディスク42に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生し、評価指標測定回路35は、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク42に記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する。
【選択図】 図1
【解決手段】本発明に係る光ディスク装置1においては、特定パターン発生器36は、光ディスク42に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生し、評価指標測定回路35は、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク42に記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する。
【選択図】 図1
Description
本発明は光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に係り、特に、再生信号のアシンメトリを測定することができるようにした光ディスク装置および光ディスク記録再生方法に関する。
近年、CD(Compact Disc)−R/RWやDVD(Digital Versatile Disc)−R/RW、HD(High Definition)−DVD−R/RWなどの記録可能な光ディスクにデータを記録する際、光ディスクの所定の領域(PCA(Power Calibration Area))に記録パラメータ(例えば記録パワーやライト・ストラテジなど)を変化させてテストデータを試し書きし、試し書きされたテストデータを再生することでそれぞれのディスクに最適な記録パラメータ(例えば記録パワーやライト・ストラテジなど)を決定する技術が提案されている。
最適な記録パラメータを決定する技術には、例えば、再生信号のアシンメトリ(非対称性)やジッタを用いて最適な記録パラメータを決定する技術が知られている。
一般的に、記録パラメータを決定する際には、光ディスクにユーザデータを記録する際に用いられるすべての符号長(例えば2Tや3Tなど)を含むランダムなパターンのテストデータが用いられる。
例えば一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録パラメータを決定する技術が知られている(例えば特許文献1参照)。
特許文献1に提案されている技術によれば、オーバライト可能な光ディスクなどの記録媒体の記録の際に一時記憶メモリの書き込み期間に光ピックアップにテスト信号を供給して記録領域近傍に記録し、これを評価した結果に基づいて光ピックアップのレーザビームの強度を最適化することができる。これにより、相変化型光ディスクなどの記録媒体において最適記録条件で記録することができる。
特開2001−209940号公報
光ディスク装置の中には、アシンメトリを測定するためのアシンメトリ測定回路自体が実装されていない場合もあるが、仮に光ディスク装置内にアシンメトリ測定回路が実装されている場合であっても、一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、前もって、再生信号に対して周波数検波を行うとともに、再生信号に対して符号長(例えば2Tや3Tなど)分別を行う必要がある。
ところが、再生信号に対して良好に符号分別を行うには、PLL回路において再生信号を良好にロックする(同期させる)ことが必要となる。しかし、光ピックアップの条件変更や記録媒体(メディア)の種類の変更に伴う記録パラメータ(例えば記録パワーやライト・ストラテジなど)の調整作業では、調整の初期段階で再生信号がPLL回路にロック(同期)されない場合が多い。このような場合、再生信号のアシンメトリの測定自体することが困難となってしまうという課題があった。
勿論、再生信号がPLL回路においてロック(同期)されるまで、ユーザが初期設定される記録パラメータを選ぶようにしてもよいが、このような記録パラメータの選択作業には多くの時間がかかってしまい、効率が悪いだけでなく、ユーザにとって大変煩わしい。
このような課題は、特許文献1に提案されている技術では解決することはできない。
本発明は、このような状況に鑑みてなされてものであり、再生信号のPLL回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる光ディスク装置および光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
本発明の光ディスク装置は、上述した課題を解決するために、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生手段と、発生手段により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段とを備えることを特徴とする。
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法は、上述した課題を解決するために、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生ステップと、発生ステップの処理により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップとを含むことを特徴とする。
本発明の光ディスク装置においては、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンが発生され、発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定される。
本発明の光ディスク装置の光ディスク記録再生方法においては、ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンが発生され、発生ステップの処理により発生された特定パターンのテストデータをディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリが測定される。
本発明によれば、再生信号のPLL回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
図1は、本発明に係る光ディスク装置1の構成を表している。
光ディスク装置1は、例えばDVD(Digital Versatile Disc)−R/RW、HD(High Definition)−DVD−R/RWなど情報記録媒体としての光ディスク42に対して情報の記録及び再生を行う。光ディスク42は、同心円状または螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をランド、凸部をグルーブと呼び、グループまたはランドの一周をトラックと呼ぶ。ユーザデータは、このトラック(グルーブのみ、またはグルーブおよびランド)に沿って、強度変調されたレーザ光が照射されて記録マークが形成されることにより光ディスク42上に記録される。データ再生は、記録時より弱いリードパワー(Read Power)のレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にある記録マークによる反射光強度の変化を検出することにより行われる。記録されたデータの消去は、リードパワーより強いイレースパワー(Erase Power)のレーザ光をトラックに沿って照射し、記録層を結晶化することにより行われる。
光ディスク42はスピンドルモータ2によって回転駆動される。スピンドルモータ2に付設されたロータリエンコーダ2aからスピンドルモータ駆動回路3に回転角信号が出力される。スピンドルモータ2が1回転すると、回転角信号は例えば5パルス発生する。これにより、スピンドルモータ制御回路4は、スピンドルモータ駆動回路3を介してロータリエンコーダ2aから入力された回転角信号に基づいて、スピンドルモータ2の回転角度および回転数を判定することができる。このスピンドルモータ2はスピンドルモータ制御回路4により制御される。
光ディスク42に対する情報の記録または再生は、光ピックアップ5によって行われる。光ピックアップ5は、ギア18およびスクリューシャフト19を介して送りモータ20と連結されており、この送りモータ20は送りモータ駆動回路21により制御される。送りモータ20が送りモータ駆動回路21から供給された送りモータ駆動電流によって回転することで、光ピックアップ5が光ディスク42の半径方向に移動する。
光ピックアップ5には、図示しないワイヤあるいは板バネによって支持された対物レンズ6が設けられる。対物レンズ6はフォーカスアクチュエータ8の駆動によりフォーカシング方向(レンズの光軸方向)への移動が可能であり、また、トラッキングアクチュエータ7の駆動によりトラッキング方向(レンズの光軸と直交する方向)への移動が可能である。
レーザ駆動回路17は、情報記録時(マーク形成時)に、ホスト装置43からインタフェース回路41を介して供給される記録データに基づいて、書き込み用信号をレーザダイオード(レーザ発光素子)9に供給する。また、レーザ駆動回路17は、情報読取り時に、書き込み信号より小さい読取り用信号をレーザダイオード9に供給する。
フロントモニタ・フォトダイオード10は、レーザダイオード9が発生するレーザ光の一部をハーフミラー11により一定比率だけ分岐し、光量すなわち照射パワーに比例した受光信号を検出し、検出された受光信号をレーザ駆動回路17に供給する。レーザ駆動回路17はフロントモニタ・フォトダイオード10から供給された受光信号を取得し、取得された受光信号に基づいて、CPU(Central Processing Unit)38により予め設定された再生時のレーザパワー(照射パワー)、記録時のレーザパワー、および消去時のレーザパワーで発光するようにレーザダイオード9を制御する。
レーザダイオード9は、レーザ駆動回路17から供給される信号に応じてレーザ光を発光する。レーザダイオード9から発光されるレーザ光は、コリメータレンズ12、ハーフプリズム13、および対物レンズ6を介して光ディスク39上に照射される。光ディスク42からの反射光は、対物レンズ6、ハーフプリズム13、集光レンズ14、およびシリンドリカルレンズ15を介して、光検知器16に導かれる。
光検知器16は、例えば4分割の光検知セルからなり、検知信号を生成し、生成された検知信号をRFアンプ23に出力する。RFアンプ23は、光検知器16からの検知信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカス誤差信号(FE)、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキング誤差信号(TE)、および検知信号の全加算信号である再生信号(RF)を生成し、生成されたフォーカス誤差信号(FE)、トラッキング誤差信号(TE)、および再生信号(RF)をA/D変換器30に供給する。
フォーカス制御回路25は、RFアンプ23からA/D変換器30を介して取り込まれたフォーカス誤差信号(FE)に応じてフォーカス制御信号を生成し、生成されたフォーカス制御信号をフォーカスアクチュエータ駆動回路24に供給する。フォーカスアクチュエータ駆動回路24は、フォーカス制御回路25から供給されたフォーカス制御信号に基づいて、フォーカスアクチュエータ8を駆動するためのフォーカスアクチュエータ駆動電流をフォーカシング方向のフォーカスアクチュエータ8に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク42の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボが行われる。
トラック制御回路27は、RFアンプ23からA/D変換器30を介して取り込まれたトラッキング誤差信号(TE)に応じてトラッキング制御信号を生成し、生成されたトラッキング制御信号をトラッキングアクチュエータ駆動回路26に供給する。トラッキングアクチュエータ駆動回路26は、トラッキング制御回路27から供給されたトラッキング制御信号に基づいて、トラッキングアクチュエータ7を駆動するためのトラッキングアクチュエータ駆動電流をトラッキング方向のトラッキングアクチュエータ7に供給する。これにより、レーザ光が光ディスク42上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボが行われる。
このようなフォーカスサーボおよびトラッキングサーボがなされることで、光検知器16(各光検知セル)からの検知信号の全加算信号である再生信号(RF)には、記録情報に対応して光ディスク42のトラック上に形成されたピットなどからの反射光の変化が反映される。この再生信号は微弱なアナログ信号であり、RFアンプ23により増幅されて、A/D変換器30において一定周波数でサンプリングされた後、データ再生回路31に供給される。データ再生回路31は、A/D変換器30から供給される再生信号に応じて1もしくは0の2値化信号を生成し、生成された2値化信号を等化器32に出力する。また、データ再生回路31は、2値化信号を等化器32に出力すると同時に、PLL(Phase Locked Loop)回路29から供給される再生クロック信号と、この2値化信号との位相差をPLL位相比較信号として生成し、生成されたPLL位相比較信号をPLL回路29に出力する。
等化器32は、任意のPR特性を用いて、データ再生回路31から入力された2値化再生信号を任意のPR特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号を評価指標測定回路35に出力する。
評価指標測定回路35は、等化器32からそれぞれ入力された等化再生信号に基づいて、再生信号の評価指標として例えばPRSNR(Partial Response Signal to Noise Ratio)やSbER(Simulated Bit Error Rate)、アシンメトリなどを算出し、算出されたPRSNRやSbER、アシンメトリなどに関するデータをバス37を介してCPU38に供給する。
CPU38は、RFアンプ23から出力された後にA/D変換器30を介してディジタル信号に変換されたフォーカス誤差信号(FE)およびトラッキング誤差信号(TE)などのディジタル信号に種々の演算処理を施し、スピンドルモータ制御回路4、送りモータ制御回路22、フォーカス制御回路25、およびトラッキング制御回路27の制御を行う。
特定パターン発生器36は、CPU38の制御に従い、光ディスク42に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長(例えば2Tや3Tなど)により形成される特定パターンを発生し、発生された特定パターンをCPU38に供給する。その後、CPU38は、特定パターン発生器36から供給された特定パターンを取得し、取得された特定パターンに基づいて特定パターンのテストデータを生成するとともに、レーザ駆動回路17を制御するためのレーザ制御信号を生成し、生成されたレーザ制御信号とともに特定パターンのテストデータをレーザ駆動回路17に出力する。
また、レーザ駆動回路17、PLL回路29、A/D変換器30、エラー訂正回路34、および特定パターン発生器36などは、バス37を介してCPU38によって制御される。CPU38は、インタフェース回路41を介してホスト装置43から供給される動作コマンドに従うとともに、ROM(Read Only Memory)39に記憶されているプログラムおよびROM39からRAM(Random Access Memory)40にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行し、種々の制御信号を生成し、各部に供給することにより光ディスク装置1を統括的に制御する。
ところで、光ディスク装置1の中には、アシンメトリを測定するためのアシンメトリ測定回路(すなわち、評価指標測定回路35)自体が実装されていない場合もあるが、アシンメトリ測定回路が光ディスク装置1に実装されている場合には、すべての符号長(例えば2Tや3Tなど)を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、例えば図2に示されるようにテストデータに含まれる各符号長(例えば2Tや3Tなど)のアシンメトリが測定される。
図2の例の場合、[数1]に従い、2T(2Tマークおよび2Tスペース)のアシンメトリが測定される。
[数1]
2Tアシンメトリ
={(I11H+I11L)/2−(I2H+I2L)/2}/(I11H−I11L)
ここで、I11Hはテストデータに含まれる11Tマークの再生信号レベル、I11Lはテストデータに含まれる11Tスペースの再生信号レベル、I2Hはテストデータに含まれる2Tマークの再生信号レベル、および、I2Lはテストデータに含まれる2Tスペースの再生信号レベルを示している。
[数1]
2Tアシンメトリ
={(I11H+I11L)/2−(I2H+I2L)/2}/(I11H−I11L)
ここで、I11Hはテストデータに含まれる11Tマークの再生信号レベル、I11Lはテストデータに含まれる11Tスペースの再生信号レベル、I2Hはテストデータに含まれる2Tマークの再生信号レベル、および、I2Lはテストデータに含まれる2Tスペースの再生信号レベルを示している。
また、図2の例の場合、[数2]に従い、3T(3Tマークおよび3Tスペース)のアシンメトリが測定される。
[数2]
3Tアシンメトリ
={(I11H+I11L)/2−(I3H+I3L)/2}/(I11H−I11L)
ここで、I11Hはテストデータに含まれる11Tマークの再生信号レベル、I11Lはテストデータに含まれる11Tスペースの再生信号レベル、I3Hはテストデータに含まれる3Tマークの再生信号レベル、および、I3Lはテストデータに含まれる3Tスペースの再生信号レベルを示している。
[数2]
3Tアシンメトリ
={(I11H+I11L)/2−(I3H+I3L)/2}/(I11H−I11L)
ここで、I11Hはテストデータに含まれる11Tマークの再生信号レベル、I11Lはテストデータに含まれる11Tスペースの再生信号レベル、I3Hはテストデータに含まれる3Tマークの再生信号レベル、および、I3Lはテストデータに含まれる3Tスペースの再生信号レベルを示している。
しかし、仮に光ディスク装置1内にアシンメトリ測定回路が実装されている場合であっても、一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定するときには、前もって、再生信号に対して周波数検波を行うとともに、再生信号に対して符号長(例えば2Tや3Tなど)分別を行う必要がある。
ところが、再生信号に対して良好に符号分別を行うには、PLL回路29において再生信号を良好にロックする(同期させる)ことが必要となる。しかし、光ピックアップ5の条件変更や記録媒体(メディア)の種類の変更に伴う記録パラメータ(例えば記録パワーやライト・ストラテジなど)の調整作業では、調整の初期段階で再生信号がPLL回29路にロック(同期)されない場合が多い。このような場合、再生信号のアシンメトリの測定自体することが困難となってしまう。
勿論、再生信号がPLL回路29においてロック(同期)されるまで、ユーザが初期設定される記録パラメータを選ぶようにしてもよいが、このような記録パラメータの選択作業には多くの時間がかかってしまい、効率が悪いだけでなく、ユーザにとって大変煩わしい。
そこで、例えば図3に示されるように、2つの符号長xTとyT(最短符号長≦x、y≦最長符号長)に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、DSV(Digital Sum Value)が0となる特定パターンを発生し、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク42に記録した後、記録された特定パターンのテストデータを再生し、その再生信号のアシンメトリを測定するようにする。
なお、2つの符号長xTとyTにより形成される特定パターンには、図3の特定パターンA乃至Dに示されるように複数個(4つ)の同位体が存在し、2つの符号長xTとyTにより特定パターンを形成する場合には3連続以上の符号間干渉を考慮していないため、4つの同位体の特定パターンの間で多少なりともアシンメトリに分散が生じる。そのため、4つの特定パターンのテストデータを用いてアシンメトリを測定した後、測定された4つのアシンメトリの平均値を算出するようにする。
これにより、再生信号に対して符号長(例えば2Tや3Tなど)分別を行う必要がなくなり、再生信号のPLL回路29におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することが可能となる。
以下、この方法を用いた記録パラメータ決定処理について説明する。
図4のフローチャートを参照して、図1の光ディスク装置1における記録パラメータ決定処理について説明する。この記録パラメータ決定処理は、ユーザにより光ディスク装置1に光ディスク42が挿入され、ホスト装置43の図示せぬ操作部が操作されることにより記録処理を開始するとの指示がなされることで光ディスク42にユーザデータを記録する際に、予め開始される。
ステップS1において、CPU38は、光ディスク42にユーザデータを記録する際に用いる記録パラメータ(例えば記録パワーやライト・ストラテジなど)の初期値をROM39から読み出し、読み出された記録パラメータの初期値に基づいて、光ディスク42にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを初期設定する。
ステップS2において、特定パターン発生器36は、CPU38の制御に従い、光ディスク42に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長(例えば2Tや3Tなど)により形成される特定パターンを設定するとともに、設定された特定パターンを発生する。具体的には、図3に示されるように、2つの符号長xTとyT(最短符号長≦x、y≦最長符号長)に関してすべての符号間干渉を含み、かつ、DSV(Digital Sum Value)が0となる特定パターン(例えば特定パターンA乃至Dのうち、特定パターンAなど)が発生される。
特定パターン発生器36は、発生された特定パターンをCPU38に供給する。その後、CPU38は、特定パターン発生器36から供給された特定パターンを取得し、取得された特定パターンに基づいて特定パターンのテストデータを生成するとともに、レーザ駆動回路17を制御するためのレーザ制御信号を生成し、生成されたレーザ制御信号とともに特定パターンのテストデータをレーザ駆動回路17に出力する。
ステップS3において、CPU38は、バス37を介して光ピックアップ5、RFアンプ23、フォーカス制御回路25、およびトラッキング制御回路27などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて光ディスク42の所定の領域(PCA(Power Calibration Area))に特定パターンのテストデータの記録動作を行う。これにより、初期設定された記録パラメータを用いて、光ディスク42に所定の特定パターンのデータが記録される。
ステップS4おいて、CPU38は、バス37を介して光ピックアップ5、RFアンプ23、フォーカス制御回路25、およびトラッキング制御回路27などを制御し、初期設定された記録パラメータを用いて記録された所定の特定パターンのテストデータの再生動作を行う。
ステップS5において、CPU38は、データ再生回路31、等化器32、および評価指標測定回路35を制御し、所定の特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリを測定する。
具体的には、等化器32は、任意のPR特性を用いて、データ再生回路31から入力された2値化再生信号を任意のPR特性に近い等化再生信号に変換し、変換された等化再生信号を評価指標測定回路35に出力する。
評価指標測定回路35は、等化器32から入力された等化再生信号に基づいて、再生信号の評価指標としてアシンメトリを算出(測定)する。すなわち、評価指標測定回路35は、図5に示されるように、Duty検波により入力された等化再生信号のDC成分VDCを検出し、さらに、ピーク検波およびボトム検波によりVHおよびVLを検出し、検出されたVDC、VH、およびVLに基づいて特定パターンのテストデータの再生信号におけるアシンメトリを「数3」を用いて算出する。
[数3]
再生信号のアシンメトリ
=[{(VH−VDC)+(VL−VDC)}/2]/(VH−VL)
[数3]
再生信号のアシンメトリ
=[{(VH−VDC)+(VL−VDC)}/2]/(VH−VL)
評価指標測定回路35は、算出(測定)されたアシンメトリに関するデータをバス37を介してCPU38に供給する。CPU38は、評価指標測定回路35から供給されたアシンメトリ(特定パターンのテストデータを記録再生した際の再生信号のアシンメトリ)に関するデータを取得する。なお、評価指標測定回路35において検出されたVDC、VH、およびVLを用いて、CPU38が、特定パターンのテストデータの再生信号におけるアシンメトリを「数3」を用いて算出するようにしてもよい。
ステップS6において、CPU38は、特定パターン発生器36に、すべての特定パターン(例えば図3の例の場合、4つの特定パターンA乃至D)を発生させたか否かを判定する。
ステップS6においてすべての特定パターン(例えば図3の例の場合、4つの特定パターンA乃至D)を発生させていないと判定された場合(すなわち、特定パターンのうち特定パターン発生器36により発生されていない特定パターンが存在すると判定された場合)、処理はステップS2に戻り、ステップS2以降の処理が繰り返される。これにより、特定パターン発生器36によりすべての特定パターンが順次発生され、それぞれの特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作が行われ、再生信号のアシンメトリが測定される。
勿論、複数存在する同位体のうち、1つだけの特定パターンのテストデータを記録するようにしてもよい。
ステップS6においてすべての特定パターン(例えば図3の例の場合、4つの特定パターンA乃至D)を発生させたと判定された場合、CPU38はステップS7で、すべての特定パターンのテストデータを記録再生した際に算出されたアシンメトリに関するデータを順次取得し、取得されたアシンメトリに関するデータに基づいて、すべての特定パターンにおけるアシンメトリの平均値を算出する。
これにより、2つの符号長xTとyTにより特定パターンを形成する場合に3連続以上の符号間干渉を考慮していないことから、4つの同位体の特定パターンの間で生じるアシンメトリの分散を低減することができる。
ステップS8において、CPU38は、算出されたアシンメトリの平均値に基づいて、光ディスク42にユーザデータを記録する際の記録パラメータ(記録パワーとライト・ストラテジ)を決定する。
図6[A]および[B]は、すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合と、特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定した場合における測定結果を示している。
図6[A]は、2つの特定の符号長として2Tおよび11Tを使用して2T(2Tマークと2Tスペース)のアシンメトリを測定した場合における測定結果であり、図6[B]は、2つの特定の符号長として3Tおよび11Tを使用して3T(3Tマークと3Tスペース)のアシンメトリを測定した場合における測定結果である。
図6[A]および[B]に示されるように、最終的には例えばピーク記録パワーが10mWにおいて、特定パターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って測定した再生信号のアシンメトリは、すべての符号長を含む一連のランダムなパターンのテストデータを用いて記録再生動作を行って測定した再生信号のアシンメトリと比較的近似した値になることが分かった。
本発明の実施形態においては、光ディスク42に最適な記録パラメータを決定する際に、光ディスク42に対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長(例えば2Tや3Tなど)により形成される特定パターンを発生し、発生された特定パターンのテストデータを光ディスク42の所定の領域(PCA領域)に記録して再生し、その再生信号のアシンメトリを測定することができる。
これにより、再生信号に対して符号長(例えば2Tや3Tなど)分別を行う必要がなくなり、再生信号のPLL回路におけるロック状態に影響されることなく、再生信号のアシンメトリを測定することができる。従って、調整の初期段階で再生信号がPLL回路にロック(同期)されない場合であっても。再生信号のアシンメトリを測定することができる。
また、複数同位体が存在する特定パターンのテストデータごとに再生信号のアシンメトリを測定するとともに、測定された再生信号のアシンメトリの平均値を算出し、算出されたアシンメトリの平均値に基づいて、光ディスク42にユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを決定することができる。
従って、複数の同位体の特定パターンの間で生じるアシンメトリの分散を低減することができるとともに、光ディスク42にユーザデータを記録した場合における記録品質(品位)を向上させることができる。
なお、本発明の実施形態においては、2連続符号間干渉を考慮した特定パターンを用いるようにしたが、このような場合に限られず、3連続符号間干渉や4連続符号間干渉なども考慮した特定パターンを発生して用いるようにしてもよい。2連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が8で、同位体数が4であるが、3連続符号間干渉を考慮した特定パターンは符号長が16で、同位体数が32となる。これにより、同位体間での再生信号のアシンメトリのばらつきをより小さくすることができる。
なお、本発明の実施形態において説明した一連の処理は、ソフトウェアにより実行させることもできるが、ハードウェアにより実行させることもできる。
また、本発明の実施形態では、フローチャートのステップは、記載された順序に沿って時系列的に行われる処理の例を示したが、必ずしも時系列的に処理されなくとも、並列的あるいは個別実行される処理をも含むものである。
1…光ディスク装置、2…スピンドルモータ、2a…ロータリエンコーダ、3…スピンドルモータ駆動回路、4…スピンドル制御回路、5…光ピックアップ、6…対物レンズ、7…トラッキングアクチュエータ、8…フォーカスアクチュエータ、9…レーザダイオード、10…フロントモニタ・フォトダイオード、11…ハーフミラー、12…コリメータレンズ、13…ハーフプリズム、14…集光レンズ、15…シリンドリカルレンズ、16…光検出器、17…レーザ駆動回路、18…ギア、19…スクリューシャフト、20…送りモータ、21…送りモータ駆動回路、22…送りモータ制御回路、23…RFアンプ、24…フォーカスアクチュエータ駆動回路、25…フォーカスアクチュエータ制御回路、26…トラッキングアクチュエータ駆動回路、27…トラッキング制御回路、28…水晶、29…PLL回路、30…A/D変換器、31…データ再生回路、32…等化器、35…評価指標測定回路、36…特定パターン発生器、37…バス、38…CPU、39…ROM、40…RAM、41…インタフェース回路、42…光ディスク、43…ホスト装置。
Claims (5)
- ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生手段と、
前記発生手段により発生された前記特定パターンのテストデータを前記ディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。 - 前記測定手段により測定された再生信号のアシンメトリに基づいて、前記ディスクにユーザデータを記録する際に用いられる記録パラメータを決定する決定手段をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。
- 前記発生手段によりすべての特定パターンが発生されたか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によりすべての特定パターンが発生されていないと判定された場合、前記発生手段によりすべての特定パターンが発生されるように制御する制御手段とをさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の光ディスク装置。 - 前記特定パターンは、少なくとも2つの異なる符号長により形成されることを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
- ディスクに対して記録再生動作を行って再生信号のアシンメトリを測定する際に用いられるテストデータが有する、特定の符号長により形成される特定パターンを発生する発生ステップと、
前記発生ステップの処理により発生された前記特定パターンのテストデータを前記ディスクに記録再生した際の、再生信号のアシンメトリを測定する測定ステップとを含むことを特徴とする光ディスク装置の光ディスク記録再生方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006339951A JP2008152860A (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 光ディスク装置および光ディスク記録再生方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006339951A JP2008152860A (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 光ディスク装置および光ディスク記録再生方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008152860A true JP2008152860A (ja) | 2008-07-03 |
Family
ID=39654863
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006339951A Pending JP2008152860A (ja) | 2006-12-18 | 2006-12-18 | 光ディスク装置および光ディスク記録再生方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2008152860A (ja) |
-
2006
- 2006-12-18 JP JP2006339951A patent/JP2008152860A/ja active Pending
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