JPWO2005073961A1 - 光ディスク - Google Patents

Abstract

情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定方法は、複数のテスト記録パワーで情報記録媒体にテストデータをそれぞれ記録する工程と、各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する信号の変調度をそれぞれ測定する工程と、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、第１の記録パワーに基づいて記録パワーを計算する工程とを包含する。

Description

本発明は、情報記録媒体にデータを記録する際の記録パワーを決定する記録パワー決定方法および記録パワー決定装置に関する。

データを記録するための情報記録媒体として光ディスクが知られている。光ディスク装置は、光ディスクに光ビームを照射して、データを記録し、光ディスクに記録されたデータを再生する。光ディスクや光ディスク装置を同じように製造した場合であっても、光ディスクや光ディスク装置には個体差が生じるので、その個体差に起因して、光ディスクにデータを適切に記録できず、また、光ディスクに記録されたデータを適切に再生できないといった問題が生じることがある。

このような問題を防ぐための一つの方法として、光ディスクの装填時などに、個々の光ディスクおよび光ディスク装置にとって適切な記録パワーを決定することが知られている。

図１６は、一般的な光ディスク６０１を示す模式図である。図１６に示すように、光ディスク６０１にはトラック６０２がスパイラル状に形成されている。記録パワーが変調された光ビームがトラック６０２に照射されることにより、トラック６０２に複数のマークおよび複数のスペースが形成され、これにより、データの記録が行われる。光ディスク６０１には、ユーザがデータを記録するときに用いられるユーザデータ領域と、光ビームの記録パワーを決定するときに用いられる記録パワー決定領域とが設けられている。記録パワー決定領域は、ユーザデータ領域以外の領域（具体的には、光ディスク６０１の最内周領域または最外周領域）に設けられている。

図１７は、従来の光ディスク装置７００を示す模式図である。光ディスク装置７００は、光ヘッド７０２と、再生部７０４と、復調・ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）回路７０６と、記録パワー決定部７０８と、記録パワー設定部７１０と、レーザ駆動回路７１２と、記録データ生成部７１４とを備える。

光ディスク６０１が光ディスク装置７００に装填されると、光ディスク６０１のタイプが識別され、光ディスク６０１は回転される。光ヘッド７０２は半導体レーザ（図示せず）を有しており、光ディスク６０１が回転しているとき、光ヘッド７０２の半導体レーザから出射された光ビームによって、光ディスク６０１は照射される。

光ディスク６０１にデータを記録するとき、光ヘッド７０２は所定の記録パワーを有する光ビームで光ディスク６０１を照射して、光ディスク６０１にマークを形成する。ここでは、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する。この場合、光ディスク６０１には、最短の２Ｔから最長の８Ｔまでの基準周期Ｔ毎に７種類のマークおよびスペースが形成される。

また、光ディスク６０１からデータを読み出すとき、光ヘッド７０２は、記録パワーよりもパワーの小さい再生パワーの光ビームで光ディスク６０１を照射し、光ディスク６０１によって反射された光を受け取る。光ヘッド７０２は、受け取った光を光電変換することによって、光ディスク６０１に記録されたデータを示す信号を生成する。再生部７０４は、光ヘッド７０２によって生成された信号の変調度を測定するとともに、光ヘッド７０２によって生成された信号をデジタル化する。変調度については、図１９を参照して後述する。

復調・ＥＣＣ回路７０６は、再生部７０４によってデジタル化された信号を復調し、エラー訂正する。記録パワー決定部７０８は、再生部７０４によって測定された変調度に基づいてデータを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー設定部７１０は、記録パワー決定部７０８によって決定された記録パワーをレーザ駆動回路７１２に設定する。記録データ生成部７１４は、光ディスク６０１に記録すべきデータを生成する。レーザ駆動回路７１２は、光ヘッド７０２が記録データ生成部７１４において生成されたデータを記録パワー設定部７１０によって設定された記録パワーで光ディスク６０１に記録するように、光ヘッド７０２を駆動する。

図１８は、従来の光ディスク装置７００における再生部７０４を示す模式図である。図１８に示すように、再生部７０４は、プリアンプ８０１と、サンプルホールド回路８０２と、ＡＤ変換器８０３と、演算器８０４と、二値化データ生成部８０５とを備える。

二値化データ生成部８０５は、光ヘッド７０２によって生成された信号をデジタル化して、デジタル化されたデータ（二値化データ）を生成し、二値化データを示す信号７０５を復調・ＥＣＣ回路７０６および記録パワー決定部７０８に出力する。

プリアンプ８０１は、光ヘッド７０２によって生成された信号を増幅する。サンプルホールド回路８０２は、プリアンプ８０１によって増幅された信号をサンプリングして、信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器８０３は、サンプルホールド回路８０２によってホールドされたピーク値およびボトム値をデジタル化する。演算器８０４は、デジタル化されたピーク値およびボトム値を演算して変調度を得る。

図１９は、プリアンプ８０１から出力された信号波形を示す模式図である。図１９に示すように、光ヘッド７０２の半導体レーザの消光時の信号レベルまたは光ヘッド７０２の半導体レーザから再生パワーの光ビームを照射した場合であっても光ディスク６０１によって反射された光の影響を受けないときの信号レベルからマークに対応する信号の信号レベルまでを振幅Ａとし、光ヘッド７０２の半導体レーザの消光時の信号レベルからスペースに対応する信号の信号レベルまでを振幅Ｂとすると、変調度は（Ａ−Ｂ）／Ａで表される。

再び図１７を参照して、従来の記録パワー決定方法を説明する。

光ディスク６０１には、記録パワーの決定に用いられる定数パラメータが記録されている。光ヘッド７０２は、光ディスク６０１から読み出した定数パラメータ（以下、所定の値と称する）を示す信号７０３を生成し、信号７０３を再生部７０４に出力する。再生部７０４の二値化データ生成部８０５は、所定の値を示す信号７０３を二値化した信号７０５を生成し、信号７０５を記録パワー決定部７０８に出力する。

記録パワー設定部７１０は、光ビームのテスト記録パワーをレーザ駆動回路７１２に設定する。記録パワー設定部７１０は、異なる８つのテスト記録パワーＡ〜Ｈを設定する。ここでは、テスト記録パワーＡが最もテスト記録パワーが大きく、テスト記録パワーＢ〜Ｈの順にテスト記録パワーが小さくなっている。

記録データ生成部７１４は、テストデータを生成し、生成したテストデータを示す信号７１５をレーザ駆動回路７１２に出力する。レーザ駆動回路７１２は、光ヘッド７０２が光ディスク６０１の記録パワー決定領域において所定の位置からトラックのほぼ１周にわたって連続してテストデータを記録するように、光ヘッド７０２を駆動する。記録データ生成部７１４は、光ヘッド７０２によって光ディスク６０１に８Ｔマークおよび８Ｔスペースが連続して形成されるように、テストデータを生成している。光ディスク６０１には、光ディスク６０１のほぼ１周にわたって、テスト記録パワーＡ〜Ｈで繰り返し記録される。図２０には、光ディスク６０１において、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する領域をＡ〜Ｈで示している。

テストデータの記録が終了すると、光ヘッド７０２は再生パワーの光ビームを光ディスク６０１に照射する。これにより、トラックに記録されているテストデータが読み出され、テストデータを示す信号が生成される。光ヘッド７０２によって生成された信号の振幅は、光ディスク６０１上にマークが形成されているか否かに応じて変化する。光ヘッド７０２によって生成された信号７０３は再生部７０４に入力される。

再び図１８を参照する。図１８に示した再生部７０４において、プリアンプ８０１は信号７０３を増幅する。サンプルホールド回路８０２は、プリアンプ８０１によって増幅された信号のピーク値およびボトム値をホールドする。Ａ／Ｄ変換器８０３は、サンプルホールド回路８０２によってホールドされた信号のピーク値とボトム値とをデジタル化する。演算器８０４は、デジタル化されたピーク値とボトム値とを演算して、信号の変調度を得る。テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて信号７０３の振幅は異なるので、テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて変調度は異なる。演算器８０４は、信号の変調度を示す信号７０７を生成し、信号７０７を記録パワー決定部７０８に出力する。

記録パワー決定部７０８は、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度に基づいて、以下に示す従来の２つの記録パワー決定方法のうちのいずれかの方法で、記録パワーを決定する。

図２１は、従来の第１の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。従来の第１の記録パワー決定方法では、記録パワー決定部７０８は、複数のテスト記録パワーと複数のテスト記録パワーに対応する変調度との相関関係から、変調度がＭ０となる記録パワーＰ０を選択する。記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰ０と光ディスク６０１から読み出した所定の値との積を計算して、データを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー決定部７０８は、計算された記録パワーを示す信号７０９を記録パワー設定部７１０に出力する。

図２２は、従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。従来の第２の記録パワー決定方法では、記録パワー決定部７０８は、複数のテスト記録パワーに対応する変調度と複数のテスト記録パワーとの積をそれぞれ計算して、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰｔｈｒを計算する。次いで、記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰｔｈｒと光ディスク６０１から読み出した所定の値との積を計算して、データを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー決定部７０８は、計算した値を示す信号７０９を記録パワー設定部７１０に出力する。

しかしながら、従来の第１の記録パワー決定方法および従来の第２の記録パワー決定方法のいずれによっても、適切な記録パワーを決定できない。

記録パワー決定部７０８が、従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、例えば、光ディスク６０１と光ヘッド７０２との間に相対的にチルトが発生していると、適切な記録パワーを決定できない。以下、図２３を参照して、チルトが発生している場合の記録パワーについて説明する。

図２３は、記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。図２３のグラフにおいて、記録時および記録されたデータを読み出した時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１１０１で示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１１０２で示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１１０３で示している。チルトが発生していた場合の変調度は、チルトが発生していなかった場合の変調度よりも小さくなっている。読み出し時にチルトが発生していなかったが、記録時にチルトが発生していた場合、８つの記録パワーのうち最も記録パワーの低い記録パワーＨの変調度は測定不能である。同様に、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合も、記録パワーＨの変調度は測定不能である。

テストデータの記録およびテストデータの読み出しは、ユーザデータを記録する前に行われ、テストデータを記録した後すぐに記録されたテストデータは読み出される。したがって、相対的なチルトが発生した状態でテストデータを記録し、テストデータを読み出すと、図２３において実線１１０３で示すような結果が得られる。従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、記録パワー決定部７０８は、変調度Ｍ０に対応する記録パワーＰ１１０３を選択する。この結果には、テストデータ記録時におけるチルトの影響に加えて、テストデータを読み出した時（以下、テストデータ読み出し時と称する）におけるチルトの影響も加わっている。

しかしながら、テストデータ記録時にチルトが発生している場合は、ユーザデータを記録する時にもチルトが発生すると考えられるが、このユーザデータを読み出すときにチルトが発生しているとは限らない。ユーザデータは、記録した後、すぐに読み出されることはほとんどなく、多くの場合、ユーザデータは、別の光ディスク装置または光ディスクが再装填された光ディスク装置において読み出され、ユーザデータを読み出すときにはチルトは発生していない。したがって、記録パワーを決定する際には、テストデータ読み出し時のチルトの影響を考慮することなく、テストデータ記録時のチルトの影響のみを考慮すればよい。したがって、相対的なチルトが発生しているときに選択されるべき記録パワーは、記録パワーＰ１１０３ではなく、図２３に示された記録パワーＰ１１０２である。従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰ１１０２よりも大きな記録パワーＰ１１０３を選択するため、光ヘッド７０２は、不必要に大きな記録パワーでデータを記録する。したがって、従来の第１の記録パワー決定方法では、記録を繰り返すことによって光ディスク６０１は早く劣化することになる。

また、記録パワー決定部７０８が、従来の第２の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、図２４に示すように、８つのテスト記録パワーのうちテスト記録パワーの大きい４つのテスト記録パワーを選択し、この４つのテスト記録パワーについて、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成すると、近似直線において積が０となる記録パワーは、記録パワーＰｔｈｒ１となる。一方、８つのテスト記録パワーのうちテスト記録パワーの小さい４つのテスト記録パワーを選択し、この４つのテスト記録パワーについて、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成すると、近似直線において積が０となる記録パワーは、記録パワーＰｔｈｒ２となる。

図２４から明らかであるように、テスト記録パワーに応じて、近似直線において積が０となる記録パワーは大きく異なる。すなわち、従来の第２の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、どのテスト記録パワーでテストデータを記録するか、および、どのテスト記録パワーの結果を用いて記録パワーを決定するかに応じて、決定される記録パワーが大きく異なることになる。したがって、従来の第２の記録パワー決定方法に従う場合、記録パワー決定部７０８は適切な記録パワーを一義的に決定することができない。また、記録パワー決定部７０８が適切な記録パワーよりも大きな記録パワーを決定する場合、光ディスクは早く劣化することになり、一方、記録パワー決定部７０８が適切な記録パワーよりも小さな記録パワーを決定する場合、光ディスクにデータを適切に記録することができない。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、適切な記録パワーを決定する記録パワー決定方法および記録パワー決定装置を提供することを目的とする。

情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定方法は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータをそれぞれ記録する工程と、各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定する工程と、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する工程とを包含する。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の積を得る工程において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、前記べき指数ｎの値が記録されており、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程は、前記べき指数ｎの値を読み出す工程を含み、前記複数の積を得る工程は、前記読み出したべき指数ｎの値を用いる工程を含む。

ある実施形態において、前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、変調された光ビームによって、複数のマークと複数のスペースとが形成され、前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、複数のトラックが同心円状またはスパイラル状に形成されている。

ある実施形態において、前記複数の積を得る工程は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程を含み、前記記録パワー決定方法は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程をさらに包含し、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数の値のうち直線性の最も高い値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記記録パワーを計算する工程は、前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算する工程と、前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算する工程と、前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得る工程と、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算する工程と、前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算する工程と、前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得る工程と、前記第１の比と前記第２の比とを比較する工程とを含む。

ある実施形態において、前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含む。

ある実施形態において、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算する工程と、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算する工程とをさらに含み、前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する工程をさらに包含する。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、前記記録パワー決定方法は、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納する工程をさらに包含する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出す工程をさらに包含し、前記複数の積を得る工程は、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる工程を含む。

ある実施形態において、前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む。

本発明のプログラムは、上記の記録パワー決定方法の各工程を情報記録装置に実行させる。

記録部が情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定装置は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号が入力される入力部と、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する計算部と、前記計算部によって計算された記録パワーを示す信号を前記記録部に出力する出力部とを備える。

ある実施形態において、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記入力部には、Ｐｉｎｄの値と、ρの値と、κの値とを示す信号が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算することによって、前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記入力部には、前記べき指数ｎの値を示す信号が入力され、前記計算部は、前記べき指数ｎの値を用いる。

ある実施形態において、前記計算部は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応する値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である。

ある実施形態において、前記入力部には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とを示す信号が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記計算部は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定し、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算し、前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定し、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算し、前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得て、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定し、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算し、前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定し、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算し、前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得て、前記第１の比と前記第２の比とを比較することによって、前記第１の値および前記第２の値のうち直線性の高い値を決定する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択し、前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算し、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算し、前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する。

ある実施形態において、前記出力部は、前記記録部が前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録するように前記記録部に信号を出力する。

本発明の情報記録装置は、光ビームを用いて情報記録媒体にデータを記録する記録部と、前記情報記録媒体に記録されたデータを読み出す読み出し部と、前記記録部が前記情報記録媒体にデータを記録する際の前記光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置とを備え、前記記録部は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録し、前記読み出し部は、各テスト記録パワーで前記情報記録媒体に記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定し、前記記録パワー決定装置は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する。

ある実施形態において、前記記録部は、変調された光ビームによって、前記情報記録媒体に複数のマークと複数のスペースとを形成し、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、前記記録部は、前記複数の値のうち、前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、直線性の最も高い値を記憶するメモリを含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、前記読み出し部は、前記識別情報を読み出し、前記メモリには、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納するための識別情報格納部が設けられ、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とが、識別情報格納部に格納され、前記記録パワー決定装置は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる。

ある実施形態において、前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む。

本発明の情報記録媒体は、複数のテスト記録パワーのうちの各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積とに基づいて、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、べき指数ｎの複数の値について得て、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応するべき指数ｎの値を格納するための領域を有する。

情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体には、Ｍｉｎｄの値とρの値とが記録されており、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程であって、前記Ｍｉｎｄの値および前記ρの値を読み出す工程を含む、工程と、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録した後、各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の複数の変調度のそれぞれを測定して、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認する工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する工程とを包含する。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいか否かを判定し、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいと判定された場合、前記Ｍｉｎｄの値よりも大きな変調度が測定されるまで、より大きな複数のテスト記録パワーで記録を繰り返す工程と、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいか否かを判定し、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいと判定された場合、前記Ｍｉｎｄの値よりも小さな変調度が測定されるまで、より小さな複数のテスト記録パワーで記録を繰り返す工程と、を含む。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程とを含む。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１である。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出す工程を含み、前記確認する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出す工程を含み、前記確認する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算する工程と、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を設定する工程とを含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算する工程と、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を設定する工程とを含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記生成する信号が複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、変調された光ビームによって、複数のマークと複数のスペースとが形成され、前記確認する工程は、前記生成する信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成されている。

本発明のプログラムは、上記の記録パワー決定方法の各工程を情報記録装置に実行させる。

記録部が情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定装置は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度と、Ｍｉｎｄの値と、ρの値とを示す信号が入力される入力部と、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する計算部と、前記計算部によって計算された記録パワーを示す信号を記録部に出力する出力部とを備える。

ある実施形態において、前記計算部は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値との積を計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１であり、前記入力部に、Ｐｉｎｄの値と、κの値とが入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記入力部に、Ｐｉｎｄの値およびκの値が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーの最小値が前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーを設定し、前記出力部は、前記設定された複数のテスト記録パワー示す信号を前記記録部に出力する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーの最大値が前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーを設定し、前記出力部は、前記設定された複数のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力する。

本発明の情報記録装置は、光ビームを用いて情報記録媒体にデータを記録する記録部と、前記情報記録媒体に記録されたデータを読み出す読み出し部と、前記記録部が前記情報記録媒体にデータを記録する際の前記光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置とを備え、前記情報記録媒体には、Ｍｉｎｄの値とρの値とが記録されており、前記読み出し部は、前記Ｍｉｎｄの値および前記ρの値を読み出し、前記記録部は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録し、前記読み出し部は、各テスト記録パワーで前記情報記録媒体に記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、前記複数のテスト記録パワーのそれぞれに対応する前記信号の複数の変調度を測定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいか否かを判定し、前記記録パワー決定装置が前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいと判定した場合、前記読み出し部が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きな変調度を測定するまで、前記記録パワー決定装置は、より大きな複数のテスト記録パワーを決定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいか否かを判定し、前記記録パワー決定装置が、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいと判定した場合、前記読み出し部が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さな変調度を測定するまで、前記記録パワー決定装置は、より小さな複数のテスト記録パワーを決定する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワー対してそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値と前記κの値とを読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を決定する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を決定する。

ある実施形態において、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する。

ある実施形態において、前記記録部は、変調された光ビームによって、前記情報記録媒体に複数のマークと複数のスペースとを形成し、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する。

本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明のプログラムによれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明の情報記録装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明の情報記録媒体によれば、情報記録媒体に記録されたべき指数の複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

［図１］本発明における光ディスクを示す模式図である。
［図２］本発明による光ディスク装置の実施形態を示す模式図である。
［図３］本発明において二値化信号波形とマークを形成するためのパルス波形との関係を説明するための模式図である。
［図４］本発明による光ディスク装置における再生部の実施形態を示す模式図である。
［図５］本発明による光ディスク装置における記録パワー決定装置の実施形態を示す模式図である。
［図６］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するためのフローチャートである。
［図７］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。
［図８］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
［図９］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）は記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）は記録パワーと（変調度と記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
［図１０］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
［図１１］本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
［図１２］本発明による記録パワー決定方法の第２の実施形態におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフであり、（ｃ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との関係を示すグラフである。
［図１３］本発明による記録パワー決定方法の第３の実施形態を説明するためのフローチャートである。
［図１４］本発明による記録パワー決定方法の第３の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
［図１５］本発明による記録パワー決定方法の第４の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
［図１６］一般的な光ディスクを示す模式図である。
［図１７］従来の光ディスク装置を示す模式図である。
［図１８］従来の光ディスク装置において再生部を示す模式図である。
［図１９］変調度を説明するための模式図である。
［図２０］従来の記録パワー決定方法において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。
［図２１］従来の第１の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
［図２２］従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
［図２３］従来の第１の記録パワー決定方法におけるチルトの影響を説明するための図であり、記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
［図２４］従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。

符号の説明

１００ 光ディスク装置
１０１ 光ディスク
１０２ 光ヘッド
１０４ 再生部
１０６ 復調・ＥＣＣ回路
１０８ 記録パワー決定装置
１１０ 記録パワー設定部
１１２ レーザ駆動回路
１１４ 記録データ生成部
２１０ 記録部
２２０ 読み出し部

（実施形態１）
以下に、図１〜図１１を参照して、本発明による記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第１の実施形態を説明する。

図１は、本実施形態における光ディスク１０１を示す模式図である。光ディスク１０１にはトラック３０１がスパイラル状に形成されており、記録パワーが変調された光ビームがトラック３０１に照射されることにより、トラック３０１に複数のマークおよび複数のスペースが形成され、これにより、データの記録が行われる。光ディスク１０１には、ユーザがデータを記録するときに用いられるユーザデータ領域と、光ビームの記録パワーを決定するときに用いられる記録パワー決定領域とが設けられている。記録パワー決定領域は、ユーザデータ領域以外の領域（具体的には、光ディスク１０１の最内周領域または最外周領域）に設けられている。

図２は、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００を示す模式図である。光ディスク装置１００は、光ビームを用いて光ディスク１０１にデータを記録する記録部２１０と、光ディスク１０１に記録されたデータを読み出す読み出し部２２０と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置１０８と、復調・ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）回路１０６とを備える。記録部２１０は、光ヘッド１０２と、記録パワー設定部１１０と、レーザ駆動回路１１２と、記録データ生成部１１４とを備える。読み出し部２２０は、光ヘッド１０２と、再生部１０４とを備える。

光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装填されると、光ディスク１０１のタイプが識別され、光ディスク１０１は回転される。光ヘッド１０２は半導体レーザ（図示せず）を有しており、光ディスク１０１が回転しているとき、光ヘッド１０２の半導体レーザから出射される光ビームによって、光ディスク１０１は照射される。

光ディスク１０１にデータを記録するとき、光ヘッド１０２は所定の記録パワーを有する光ビームで光ディスク１０１を照射して、光ディスク１０１にマークを形成する。ここでは、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する。この場合、光ディスク１０１には、最短の２Ｔから最長の８Ｔまでの基準周期Ｔ毎に７種類のマークおよびスペースが形成される。

また、光ディスク１０１からデータを読み出すとき、光ヘッド１０２は、記録パワーよりもパワーの小さい再生パワーの光ビームで光ディスク１０１を照射し、光ディスク１０１によって反射された光を受け取る。光ヘッド１０２は、受け取った光を光電変換することによって、光ディスク１０１に記録されたデータを示す信号を生成する。

図３は、二値化信号波形とマークを形成するためのパルス波形との関係を説明するための模式図である。図３には、２Ｔマークに対応する二値化信号波形および２Ｔマークを形成するためのパルス波形、３Ｔマークに対応する二値化信号波形および３Ｔマークを形成するためのパルス波形、ならびに、４Ｔマークに対応する二値化信号波形および４Ｔマークを形成するためのパルス波形を示している。

記録パワーのパラメータは、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）およびボトムパワー（Ｐｂｗ）である。本実施形態では、ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定である。図３に示すように、Ｐｐを示すパルスは、２Ｔマークに１つ、３Ｔマークに２つであり、マーク長がＴ長くなる毎に１つずつ増えている。

パルス波形の時間的なパラメータは、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ＴｍｐおよびｄＴｅである。図３において、Ｔｔｏｐは一番目のパルスがＰｐを示している時間を意味し、ｄＴｔｏｐは二値化信号波形における立ち上がり時刻の１Ｔ後から、一番目のパルスの立ち上がり時刻までの時間を意味し、Ｔｍｐは一番目以外のパルスがＰｐを示している時間を意味し、ｄＴｅは二値化信号波形における立ち下がり時刻から、最後のパルスがＰｂｗからＰｅに立ち上がる時刻までの時間を意味する。

本実施形態では、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク（２Ｔ〜８Ｔ）に共通して同じである。また、Ｔｍｐも全マークに共通して同じである。Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類されて設定されている。

再び図２を参照する。図２に示した光ディスク装置１００の再生部１０４は、光ヘッド１０２によって生成された信号の変調度を測定するとともに、光ヘッド１０２によって生成された信号をデジタル化する。復調・ＥＣＣ回路１０６は、再生部１０４によってデジタル化された信号を復調し、エラー訂正する。記録パワー決定装置１０８は、再生部１０４によって測定された変調度に基づいてデータを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー設定部１１０は、記録パワー決定装置１０８によって決定された記録パワーをレーザ駆動回路１１２に設定する。記録データ生成部１１４は、光ディスク１０１に記録すべきデータを生成する。レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が記録データ生成部１１４において生成されたデータを記録パワー設定部１１０によって設定された記録パワーで光ディスク１０１に記録するように、光ヘッド１０２を駆動する。

図４は、本実施形態の光ディスク装置１００における再生部１０４を示す模式図である。図４に示すように、再生部１０４は、プリアンプ２０１と、サンプルホールド回路２０２と、ＡＤ変換器２０３と、演算器２０４と、二値化データ生成部２０５とを備える。

二値化データ生成部２０５は、光ヘッド１０２によって生成された信号をデジタル化して、デジタル化されたデータ（二値化データ）を生成し、二値化データを示す信号１０５を復調・ＥＣＣ回路１０６および記録パワー決定部１０８に出力する。

プリアンプ２０１は、光ヘッド１０２によって生成された信号を増幅する。サンプルホールド回路２０２は、プリアンプ２０１によって増幅された信号をサンプリングして、信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器２０３は、サンプルホールド回路２０２によってホールドされたピーク値およびボトム値をデジタル化する。演算器２０４は、デジタル化されたピーク値およびボトム値を演算して変調度を得て、変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図５は、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を示す模式図である。図５に示すように、記録パワー決定装置１０８は、変調度を示す信号１０７が入力される入力部４０１と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを計算する計算部４０２と、記録部２１０の記録パワー設定部１１０に出力する出力部４０３と、メモリ４０４とを備える。

以下に、図６を参照して、本実施形態の記録パワー決定方法を説明する。

光ディスク１０１には、記録パワーの決定に用いられる定数パラメータが記録されている。図６のＳ１２に示すように、光ヘッド１０２は、光ディスク１０１から読み出した定数パラメータ（以下、所定の値と称する）を示す信号１０３を生成し、信号１０３を再生部１０４に出力する。再生部１０４の二値化データ生成部２０５は、所定の値を示す信号１０３を二値化した信号１０５を生成し、信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図６のＳ１４に示すように、複数のテスト記録パワーで光ディスク１０１にテストデータを記録する。このとき、記録パワー決定装置１０８は、予め決定された８つの異なるテスト記録パワーＡ〜Ｈを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力し、記録パワー設定部１１０は、テスト記録パワーＡ〜Ｈをレーザ駆動回路１１２に設定する。ここでは、テスト記録パワーＡが最もテスト記録パワーが大きく、テスト記録パワーＢ〜Ｈの順にテスト記録パワーが小さくなっている。

記録データ生成部１１４は、テストデータを生成し、生成したテストデータを示す信号１１５をレーザ駆動回路１１２に出力する。レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１の記録パワー決定領域において所定の位置からトラックのほぼ１周にわたって連続してテストデータを記録するように、光ヘッド１０２を駆動する。記録データ生成部１１４は、光ヘッド１０２によって光ディスク１０１に８Ｔマークおよび８Ｔスペースが連続して形成されるように、テストデータを生成している。光ディスク１０１には、光ディスク１０１のほぼ１周にわたって、テスト記録パワーＡ〜Ｈで繰り返し記録される。図７には、光ディスク１０１において、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する領域をＡ〜Ｈで示している。このように、光ディスク１０１のほぼ１周にわたって記録を複数回繰り返していることにより、光ディスク１０１の周方向にチルトがばらつく影響を取り除くことができる。

再び図６を参照する。テストデータの記録が終了すると、図６のＳ１６に示すように、光ヘッド１０２は、再生パワーで光ビームを光ディスク１０１に照射する。これにより、光ディスク１０１のトラックに記録されているテストデータが読み出され、信号が生成される。光ヘッド１０２によって生成された信号の振幅は、光ディスク１０１上にマークが形成されているか否かに応じて変化する。光ヘッド１０２によって生成された信号１０３は再生部１０４に入力される。

図３に示したように、再生部１０４において、プリアンプ２０１は信号１０３を増幅する。サンプルホールド回路２０２は、プリアンプ２０１によって増幅された信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器２０３は、サンプルホールド回路２０２によってホールドされた信号のピーク値とボトム値をデジタル化する。演算器２０４は、デジタル化されたピーク値とボトム値とを演算して、信号の変調度を得る。テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて信号７０３の振幅は異なるので、テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて変調度は異なる。演算器２０４は、信号の変調度を示す信号１０７を生成し、信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図５に示したように、記録パワー決定装置１０８の入力部４０１には、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度を示す信号１０７が、再生部１０４の演算器２０４から入力される。

図６のＳ１８に示すように、記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの２乗との積を計算する。また、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの２乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

次いで、図６のＳ２０に示すように、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーＡ〜Ｈと複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する。具体的には、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを上述した第１の記録パワーとする。以下に、図８を参照してこの詳細を説明する。

図８（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図８（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。図８（ａ）および図８（ｂ）から明らかなように、テスト記録パワーと変調度との相関関係の直線性は低いのに対して、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性は高く、図８（ｂ）のグラフにおいて、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する８つの点はほぼ直線状に並んでいる。

計算部４０２は、図８（ｂ）のグラフに示された近似直線において変調度とテスト記録パワーの２乗との積が０となる記録パワーＰ５００を計算する。

次いで、図６のＳ２２に示すように、計算部４０２は、記録パワーＰ５００に基づいて記録パワーを計算する。具体的には、計算部４０２は、記録パワーＰ５００と光ディスク１０１に記録された所定の値とを演算することによって、記録パワーを計算する。

出力部４０３は、計算部４０２によって計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

なお、プログラムを用いて、ＣＰＵ（図示せず）が光ディスク装置１００の各部を上述した手順で制御するように実行させてもよく、また、そのプログラムは、図示しないＥＥＰＲＯＭやＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスク、磁気記録媒体などのコンピータ読み取りが可能な記録媒体に記録しておいてもよい。

次に、図９を参照して、光ディスク１０１と光ヘッド１０２との間に相対的にチルトが発生している場合の記録パワーと変調度との関係を説明する。

図９（ａ）は、記録パワーと記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図２３のグラフと同様のグラフである。図９（ａ）のグラフにおいて、記録時および記録されたデータを読み出した時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０１Ａで示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０２Ａで示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１２０３Ａで示している。チルトが発生していた場合の変調度は、チルトが発生していなかった場合の変調度よりも小さくなっている。読み出し時にチルトが発生していなかったが、記録時にチルトが発生していた場合、８つの記録パワーのうち最も記録パワーの低いテスト記録パワーＨの変調度は測定不能である。同様に、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合も、テスト記録パワーＨの変調度は測定不能である。

図９（ｂ）は、図９（ａ）に示した記録パワーおよび変調度において、記録パワーと（変調度と記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。図９（ｂ）のグラフにおいて、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０１Ｂで示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０２Ｂで示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１２０３Ｂで示している。

上述したように、テストデータの記録およびテストデータの読み出しは、ユーザデータを記録する前に行われ、テストデータを記録した後すぐにテストデータは読み出される。したがって、相対的なチルトが発生した状態でテストデータを記録し、テストデータを読み出すと、実線１２０３Ａおよび実線１２０３Ｂに示すような結果が得られる。

本実施形態によれば、記録パワー決定装置１０８は、図９（ｂ）のグラフに示されるように、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーＰ１２０３を計算し、記録パワーＰ１２０３と光ディスク１０１に記録されている所定の値とに基づいて記録パワーを計算し、計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

このとき、実線１２０３Ｂに示された結果には、記録時におけるチルトの影響に加えて、読み出し時におけるチルトの影響も加わっている。上述したように、記録パワーを決定する際には記録時におけるチルトの影響のみを考慮すればよいので、このときに選択されるべき記録パワーは本質的には記録パワーＰ１２０２であるが、図９（ｂ）に示すように、本実施形態の記録パワー決定方法に従って選択された記録パワーＰ１２０３は、本来選択されるべき記録パワーＰ１２０２と実験的にほぼ等しいことが確認されている。

すなわち、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、０でない変調度が測定されるので、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

以上のように、本実施形態によれば、光ディスクと光ヘッドとの間に相対的にチルトが発生している場合でも、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、本実施形態によれば、繰り返し記録を行ったときに光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。

さらに、本実施形態によれば、チルトに限定されず、記録時における変調度の劣化および再生時における変調度の劣化といった両方の劣化が生じるようなストレスに対して、適切な記録パワーを決定することができる。

また、本実施形態は、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

ＢＤ規格に準拠した光ディスクを製造するディスクメーカーは、光ディスクを出荷する前に、光ディスクにデータを記録するときに推奨する記録パワーＰｗｏを予め決定している。理想的な光ディスク装置が、この記録パワーＰｗｏで理想的な光ディスクにデータを記録した後、データを読み出すと適切な変調度が測定されるようにこの記録パワーＰｗｏは決められているが、光ディスクおよび光ディスク装置には個体差があるため、光ディスク装置が記録パワーＰｗｏでデータを記録しても、読み出した際に適切な変調度が測定されないことがある。

したがって、光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録する際に、複数のテスト記録パワーと変調度との関係を調べて、適切な記録パワーを決定する。ディスクメーカーは、適切な記録パワーを決定するときに用いられる定数パラメータを光ディスクに予め記録している。この定数パラメータは、Ｐｉｎｄ、ρ、κ、Ｍｉｎｄである。詳細は後述するが、光ディスクにデータを記録するための適切な記録パワーは、記録パワーＰｗｏよりも小さい記録パワーＰｉｎｄおよび記録パワーＰｉｎｄと変調度Ｍｉｎｄとの関係を用いて決定される。記録パワーＰｗｏを直接的に決定しようとすると、（１）記録パワーＰｗｏの近傍では変調度が飽和してしまうので、図９を参照したようにチルトなどの外乱に伴う最適な記録パワーの変化を検出しにくい、（２）記録パワーの決定を繰り返すと、光ディスク１０１が劣化してしまうからである。

以下に、図１０および図１１を参照して、ディスクメーカーが推奨する記録パワーＰｗｏと、Ｐｉｎｄ、ρ、κ、Ｍｉｎｄとの関係について説明する。

ディスクメーカーは、記録パワーＰｗｏを決定した後、続いて記録パワーＰｉｎｄを決定し、ρ＝（記録パワーＰｗｏ）／（記録パワーＰｉｎｄ）の関係から、ρを決定する。

ディスクメーカーは、図１０に示すように、８Ｔマークを形成するように記録パワーＰｉｎｄで記録されたデータを読み出して、そのデータに対応する信号の変調度を、変調度Ｍｉｎｄとする。

また、ディスクメーカーは、図１１に示すように、８Ｔマークを形成するように、記録パワーＰｉｎｄの０．９倍から１．１倍の範囲内にある複数のテスト記録パワーで記録されたテストデータを読み出して、信号を生成し、信号の複数の変調度を測定する。複数の変調度は、複数のテスト記録パワーにそれぞれ対応している。

ディスクメーカーは、変調度とテスト記録パワーとの積を各テスト記録パワーについてそれぞれ計算して、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係に基づいて記録パワーＰｔｈｒを計算する。具体的には、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを記録パワーＰｔｈｒとする。次いで、κ＝（記録パワーＰｉｎｄ）／（記録パワーＰｔｈｒ）の関係から、κを決定する。

ディスクメーカーは、Ｐｉｎｄの値と、ρの値と、κの値と、Ｍｉｎｄの値とを光ディスク１０１に予め記録している。

本実施形態では、テスト記録パワーと変調度との関係から変調度が０になる記録パワーＰｔｈｒに相当する値を計算し、記録パワーＰｔｈｒとκの値とから記録パワー（すなわち、Ｐｉｎｄに相当する値）を計算し、その記録パワーとρの値とから記録パワーＰｗを計算する。

以下に、光ディスクがＢＤ規格に準拠する場合における本実施形態の光パワー決定方法を説明する。

再生部１０４は、光ディスク１０１に記録されたκの値とρの値とを読み出し、再生部１０４は、κの値とρの値とを示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

光ディスク装置１００の記録部２１０がテスト記録パワーＡ〜Ｈでテストデータを記録した後、再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を測定する。再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

テストデータを読み出して、図８（ａ）に示すような結果が得られたとき、記録パワー決定装置１０８は、図８（ｂ）に示すように、変調度とテスト記録パワーの２乗との積が０となる記録パワーＰ５００を計算し、以下に示す（式１）に従って、データを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ５００×（−１／κ＋２）×ρ ・・・（式１）

記録パワー決定装置１０８は、計算された記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

以上のように、本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

なお、上述した説明では、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）を用いて、すなわち、テスト記録パワーのべき指数ｎの値が２の場合の積を用いて、第１の記録パワー（Ｐ５００）を計算したが、本発明はこれに限定されない。光ディスクの構造または記録膜の特性の違いに起因して、べき指数ｎの値が２以外の値のときに、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなることがある。したがって、べき指数ｎの値は２に限定されない。

ただし、上述したように、図２２を参照して説明したように、べき指数の値が１の場合、すなわち、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係の直線性は低く、すなわち、図２２のグラフでは、プロットされた点が直線から外れている。

したがって、べき指数ｎの値は、１以外の実数であればよい。べき指数ｎの値について、既存のいくつかの光ディスクで対して実験したところ、例えば、べき指数ｎの値が１．５〜２．５のとき、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなった。しかし、べき指数ｎの値はこれに限定されず、べき指数ｎの値は例えば０．５であってもよいし、０や−１であってもよい。

本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くすることができるので、テスト記録パワーによらず、変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積が０となる記録パワーを計算することができる。

また、図７に示すように、８つのテスト記録パワーＡ〜Ｈで記録をしなくても、例えば、４つのテスト記録パワーＡ〜Ｄで記録しても、４つのテスト記録パワーＥ〜Ｈで記録しても、あるいは、４つのテスト記録パワーＣ〜Ｆで記録しても、適切に記録パワーＰ５００を得ることができる。所定の広さの領域を用いて記録パワーを決定する場合、テスト記録パワーの数を減らすことによって、繰り返し回数を多くすることができ、決定する記録パワーの精度を向上させることができる。

また、光ディスク１０１にべき指数ｎの値が記録されていることが好ましい。べき指数ｎの値が光ディスク１０１に記録されていることにより、光ディスク１０１の構造や、光ディスク１０１内の記録膜の設計の自由度を広げることができる。

本実施形態の記録パワー決定方法は、ＢＤ規格に準拠する光ディスク装置のように、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求される光ディスク装置において特に有効である。

（実施形態２）
以下に、図１２を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第２の実施形態について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、べき指数ｎの複数の値のそれぞれについて変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積を計算し、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性を計算し、複数の値のうち直線性の最も高い値を用いて記録パワーを決定する点で、実施形態１において説明した記録パワー決定装置とは異なる。

以下に、図２および図５を参照して、べき指数ｎの値が２および３である場合の記録パワー決定方法を説明する。

再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。記録パワー決定装置１０８において、入力部４０１には、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度を示す信号１０７が、再生部１０４の演算器２０４から入力される。

計算部４０２は、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの２乗との積を計算する。また、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの２乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、べき指数ｎが２の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

計算部４０２は、また、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの３乗との積を計算する。同様に、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの３乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、べき指数ｎが３の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

図１２（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図１２（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフであり、図１２（ｃ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との関係を示すグラフである。

計算部４０２は、べき指数ｎの値が２の場合の直線性とべき指数ｎの値が３の場合の直線性を比較して、値２および値３のうち直線性が高い値を決定する。直線性の比較については後述する。ここでは、例えば、値２の直線性が値３の直線性よりも高いとすると、計算部４０２は、先に計算した、べき指数ｎが２の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を用いて、複数のテスト記録パワーＡ〜Ｈと複数の積との相関関係に基づいて記録パワーＰ５００を計算する。具体的には、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ５００を計算し、計算部４０２は、記録パワーＰ５００と光ディスク１０１から読み出された所定の値とを演算することによって、記録パワーを計算する。出力部４０３は、計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力し、記録パワー設定部１１０は、レーザ駆動回路１１２に記録パワーを設定する。

ここで、図１２（ｂ）および図１２（ｃ）を参照して直線性の比較について説明する。

計算部４０２は、べき指数の値が２の場合において、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性を計算する。計算部４０２は、例えば、テスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も大きい２つ（テスト記録パワーＡとテスト記録パワーＢ）およびテスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も小さい２つ（テスト記録パワーＧとテスト記録パワーＨ）を選択する。計算部４０２は、図１２（ｂ）のグラフにおいてテスト記録パワーＡに対応する点とテスト記録パワーＢに対応する点を結ぶ直線（以下、第１の直線と称する）を作成し、第１の直線の傾き（以下、第１の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、また、図１２（ｂ）のグラフにおいてテスト記録パワーＧに対応する点とテスト記録パワーＨに対応する点を結ぶ直線（以下、第２の直線と称する）を作成し、第２の直線の傾き（以下、第２の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、第１の傾きと第２の傾きとの比（以下、第１の比と称する）を計算する。

計算部４０２は、べき指数の値が３の場合においても、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との相関関係の直線性を計算する。計算部４０２は、例えば、テスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も大きい２つ（テスト記録パワーＡとテスト記録パワーＢ）およびテスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も小さい２つ（テスト記録パワーＧとテスト記録パワーＨ）を選択する。計算部４０２は、図１２（ｃ）のグラフにおいてテスト記録パワーＡに対応する点とテスト記録パワーＢに対応する点を結ぶ直線（以下、第３の直線と称する）を作成し、第３の直線の傾き（以下、第３の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、また、図１２（ｃ）のグラフにおいてテスト記録パワーＧに対応する点とテスト記録パワーＨに対応する点を結ぶ直線（以下、第４の直線と称する）を作成し、第４の直線の傾き（以下、第４の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、第３の傾きと第４の傾きとの比（以下、第２の比と称する）を計算する。

次いで、計算部４０２は、第１の比と第２の比とを比較して、第１の比と第２の比のうち比１に近い方に対応する値の直線性が高いと判定し、計算部４０２は、上述したように、直線性が高い値に対応する相関関係に基づいて、記録パワーを計算する。このように、計算部４０２は、より直線性の高い相関関係に基づいて記録パワーを決定するので、より適切な記録パワーを決定することができる。

ただし、直線性の比較方法は、これに限定されない。上述した説明では、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーの最大値付近の傾きと最小値付近の傾きを比較しているが、計算部４０２は、別の方法で、複数のテスト記録パワーの最大値付近の傾きと、最小値付近の傾きとを比較してもよい。

計算部４０２は、べき指数ｎが２の場合について、複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算する。次いで、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちのある組（以下、第１のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第１の平均パワーよりも大きくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第１のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第１の直線を作成し、第１の直線の第１の傾きを計算する。計算部４０２は、また、複数のテスト記録パワーのうちの別の組（以下、第２のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第１の平均パワーよりも小さくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第２のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第２の直線を作成し、第２の直線の第２の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第１の傾きと第２の傾きとから第１の比を計算する。

計算部４０２は、べき指数ｎが３の場合についても、同様に、複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算する。次いで、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちのある組（以下、前記３のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第２の平均パワーよりも大きくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第３のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第３の直線を作成し、第３の直線の第３の傾きを計算する。また、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちの別の組（以下、第４のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第２の平均パワーよりも小さくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第４のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第４の直線を作成し、第４の直線の第４の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第３の傾きと第４の傾きとから第２の比を計算する。

次いで、計算部４０２は、第１の比と第２の比のうち比１に近い方に対応する値の直線性が高いと判定する。

以上のように、べき指数ｎの値のうち直線性の高い値を選択してもよい。

また、本実施形態における直線性の比較方法は、これらに限定されない。計算部４０２は、複数の値のそれぞれについて、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、あるテスト記録パワー群を設定し、前記あるテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーから選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、別のテスト記録パワー群を設定して、異なるテスト記録パワー群ごとに直線を形成し、直線の傾きを計算して、直線性を比較してもよい。

より詳細には、計算部４０２は、値２について、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定し、第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、第１の直線の第１の傾きを計算する。また、計算部４０２は、値２について、第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定し、第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、第２の直線の第２の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第１の傾きおよび第２の傾きに基づいて、第１の比を計算する。

計算部４０２は、値３についても同様に、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定し、第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、第３の直線の第３の傾きを計算する。また、計算部４０２は、値３について、第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定し、第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、第４の直線の第４の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第３の傾きおよび第４の傾きに基づいて、第２の比を計算する。

計算部４０２は、第１の比と第２の比とを比較することによって、第１の値および第２の値のうち直線性が高い値を決定する。

複数の比較方法を上述したが、いずれの比較方法においても、計算部４０２は、一方の比が１以上、他方の比が１以下となる場合には、１以上となった比の逆数を計算して、いずれの比も１以下にした状態で比が１に近いほうを選択してもよい。あるいは、計算部４０２は、一方の比が１以上、他方の比が１以下となる場合には、１以下となった比の逆数を計算して、いずれの比も１以上にした状態で比が１に近い方を選択してもよい。

また、上述した複数の比較方法は、直線性の比較方法の例示にすぎず、相関関係の直線性を比較できるのであれば、任意の方法を用いてもよい。

また、実施形態１において説明したのと同様に、べき指数ｎの値が３の場合も、（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、変調度が測定されるので、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

また、近年、複数の記録膜を有する光ディスクが開発されているが、本実施形態によれば、１枚の光ディスクの複数の記録膜ごとに、べき指数ｎの値を適切に決定することができる。

また、本実施形態の記録パワー決定装置１０８において、出力部４０２は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録するように、記録部２１０に信号を出力し、記録部２１０は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録する。光ディスク１０１には、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を記録するための領域が予め設けられていてもよいし、あるいは、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値は、光ディスク１０１のユーザデータ領域に記録されてもよい。このように、光ディスク１０１の所定の領域にべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値が記録されている場合、その光ディスク１０１を装填された光ディスク装置１００は、記録パワーを決定するときに、光ディスク１０１に記録されたべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

あるいは、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値は、光ディスク装置１００に記録されてもよい。

本実施形態において、光ディスク１０１には、光ディスク１０１を識別するための識別情報が記録されている。識別情報は、例えば、光ディスク１０１を製造したディスクメーカーに関する情報であり、あるいは、光ディスク１０１のロットに関する情報である。

再生部１０４は、光ディスク１０１に記録された識別情報を読み出し、再生部１０４は、識別情報を示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

記録パワー決定装置１０８の入力部４０１には、識別情報を示す信号１０５が入力される。記録パワー決定装置１０８のメモリ４０４には、識別情報格納部が設けられている。計算部４０２は、光ディスク１０１の識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を決定した後、光ディスク１０１の識別情報と、その識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値とをメモリ４０４の識別情報格納部に格納する。

メモリ４０４には、光ディスク１０１の識別情報と、その識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値とが格納されているため、光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装填されると、再生部１０４は、装填された光ディスク１０１の識別情報を読み出し、記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、読み出した識別情報が識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定する。計算部４０２が、読み出した識別情報が識別情報格納部に格納された識別情報と同一であると判定する場合、計算部４０２は、メモリ４０４に格納されたべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、複数の値について直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

なお、本実施形態も、実施形態１と同様に、ＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

実施形態１でも説明したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスクには、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とＭｉｎｄの値とが予め記録されており、再生部１０４は、ρの値とκの値とを読み出す。

計算部４０２が、べき指数ｎの値が２の場合の直線性が高いと判定する場合、計算部４０２は、図１２（ｂ）に示した記録パワーＰ５００を計算し、以下に示す（式１）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

一方、計算部４０２が、べき指数ｎの値が３の場合の直線性が高いと判定する場合、計算部４０２は、図１２（ｃ）に示した記録パワーＰ６００を計算し、以下に示す（式２）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

出力部４０３は、記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

なお、上述した説明では、べき指数ｎの値は２および３であったが、光ディスクの構造や光ディスクの記録膜の特性の違いにより、２および３以外の値のときに、直線性が高くなる場合がある。本実施形態において、べき指数ｎの値は２および３に限定されず、べき指数の値は１以外の実数であれば、任意の値であってもよい。記録パワーを計算するとき、κおよびρに関する係数はべき指数ｎの値に応じて変化する。例えば、べき指数ｎの値が０の場合、計算部４０２は、以下に示す（式２’）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

ここで、Ｐ７００は、べき指数ｎが０の場合に複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを計算したものである。

参考のために、べき指数ｎの値が１の場合、図２２を参照して説明したように、記録パワーＰｗ１は、以下に示す式にしたがって計算されている。

ここで、Ｐｔｈｒは、べき指数ｎが１の場合に複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを計算したものである。

また、上述した説明では、２つの値に対して直線性を比較したが、本実施形態はこれに限定されない。本実施形態は、３つ以上の値に対して直線性を比較してもよく、例えば、べき指数の値は、２、２．５、３の３つの値から直線性の高い値を決定してもよい。

本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗（ｎは１以外の実数）との積）との相関関係に基づいて、べき指数ｎの少なくとも２つの値のうち直線性の高い値を計算することで、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

（実施形態３）
以下に、図１４を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第３の実施形態について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

以下に、図１３を参照して、本実施形態の記録パワー決定方法を説明する。

上述したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスク１０１の所定の領域には、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値が記録されており、図１３のＳ３２に示すように、再生部１０４は、光ディスク１０１からＰｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値を読み出す。再生部１０４は、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値を示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図１３のＳ３４に示すように、複数の変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、複数の変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。

このとき、記録パワー決定部１０８は、テストデータを記録するときに、隣接するテスト記録パワーの差がＰｉｎｄの値の少なくとも１０％以下となるようにテスト記録パワーＡ〜Ｈを決定する。

テスト記録パワーＡ〜Ｈでテストデータを記録した後、再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を測定する。再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、複数の変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、複数の変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。具体的には、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいか否かを判定する。最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいと計算部４０２が判定した場合、計算部４０２は、前のテスト記録パワーよりも大きなテスト記録パワーを設定し、出力部４０３は、新たに設定されたテスト記録パワーを示す信号１０９を記録部２１０に出力する。記録部２１０は、新たに設定されたテスト記録パワーでテストデータを記録する。再生部１０４は、新たに記録されたテストデータを読み出し、計算部４０２は、再び、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいか否かを判定する。計算部４０２は、再生部１０４がＭｉｎｄの値よりも大きな変調度を測定するまで、より大きな複数のテスト記録パワーを設定する。

また、計算部４０２は、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいか否かを判定する。計算部４０２が、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいと判定した場合、計算部４０２は、前のテスト記録パワーよりも小さなテスト記録パワーを設定する。出力部４０３は、新たに設定されたテスト記録パワーを示す信号１０９を記録部２１０に出力する。記録部２１０は、新たに設定されたテスト記録パワーでテストデータを記録する。再生部１０４は、新たに記録されたテストデータを読み出し、計算部４０２は、再び、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいか否かを判定する。計算部４０２は、再生部１０４がＭｉｎｄの値よりも小さな変調度を測定するまで、より小さな複数のテスト記録パワーを設定する。

このようにして、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。

図１４（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。計算部４０２は、図１４（ａ）に示すように、最も小さいテスト記録パワーＨの変調度がＭｉｎｄ以下であり、最も大きいテスト記録パワーＡの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認する。

次いで、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認した後、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度と複数のテスト記録パワーの２乗との積を計算する。

図１４（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。

次いで、図１３のＳ３６において、計算部４０２は、図１４（ｂ）に示すように、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ５００を計算する。

次いで、図１３のＳ３８に示すように、計算部４０２は、記録パワーＰ５００に基づいて、以下に示す（式１）に従って、ユーザデータを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

出力部４０３は、記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

本実施形態によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定する際に用いたテスト記録パワーの範囲に近いテスト記録パワーの範囲で記録を行うことになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより適切に求めることができる。

なお、上述した説明では、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認しているが、複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であるという条件をさらに追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲で記録することになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以内であるという条件をさらに追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近いテスト記録パワーの範囲で記録することになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、最も小さいテスト記録パワーが、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であり、かつ、最も大きいテスト記録パワーが、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であることにより、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定する際に用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録するのであれば、変調度がＭｉｎｄとなる記録パワーに対する前後のマージンは１０％でなくてもよい。

また、図１４（ａ）のグラフから推察されるように、記録パワーが大きくなるにつれて光ディスク１０１に形成されるマークの幅が太くなり、結果として変調度が増加するが、記録パワーがある程度以上大きくなると、トラックの幅による制限の影響が大きくなって、マークの幅は飽和し、それに伴い、変調度も飽和する。記録パワーと変調度との関係では、記録パワーの大きさを３つの範囲に分類することができる。１つめの範囲は、トラックの影響を全く受けずに変調度が増加する範囲（テスト記録パワーＨよりも小さい範囲）であり、２つめの範囲は、トラックの影響を受けながら変調度が増加する範囲（テスト記録パワーＨからテスト記録パワーＡの範囲）であり、３つ目の範囲は、トラックの影響を受けて変調度が飽和する範囲（テスト記録パワーＡよりも大きい範囲）である。

図１４（ｂ）に示すように、テスト記録パワーＡ〜Ｈの範囲では、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係は、高い直線性を示すが、テスト記録パワーＡよりも大きい記録パワーおよびテスト記録パワーＨよりも小さい記録パワーでは、マークの幅を決定する要因が異なるため、高い直線性を示すとは限らない。

さらに、マークが形成される臨界的な記録パワーからテスト記録パワーＨまでの記録パワーの範囲は非常に狭い。また、テスト記録パワーＡよりも大きい記録パワーでは変調度は飽和しているので、外乱に伴う最適な記録パワーの変化を検出することが難しい。したがって、記録パワーを決定するときに用いる変調度の範囲は、トラックの影響を受けながら変調度が増加する範囲であることが妥当である。

記録パワーがトラックの影響を全く受けずに変調度が増加する範囲になるケースとしては、光ディスク１０１や光ヘッド１０２に埃が付着したケース、光ディスク１０１と光ヘッド１０２の間に相対的なチルトやデフォーカス等の外乱が生じているケースや、あるいは、光ヘッド１０２の温度変化によって、光ヘッド１０２から出射される光ビームの強度が減少しているケースがあり、また、記録パワーがトラックの影響を受けて変調度が飽和する範囲になるケースとしては、光ヘッド１０２の温度変化に応じて、光ヘッド１０２から出射される光ビームの強度が増加しているケースがある。

上述した説明では、テスト記録パワーＨの変調度がＭｉｎｄの値よりも大きい場合には、前のテスト記録パワーよりも小さいテスト記録パワーを再設定して、再度テストデータを記録し、同様に、テスト記録パワーＡの変調度がＭｉｎｄの値よりも小さい場合には、前のテスト記録パワーよりも大きいテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録しているが、本実施形態はこれに限定されない。テスト記録パワーの範囲を広くして、所定の変調度の範囲のみを用いて、記録パワーを決定してもよい。

しかしながら、テスト記録パワーの範囲を広くするためには、隣接する記録パワーの差を大きくするか、記録パワーを決定するために用いる領域を広くするかのいずれかを行う必要があるが、前者は精度が悪くなり、後者は記録パワーを決定するまでの時間が増加するという問題、あるいは、記録パワーを決定するために用いる領域の消耗を早めるという問題が生じる。特に、追加型の光ディスクには上書きができないため、記録パワーを決定するために用いる領域を広くすることは好ましくない。したがって、隣接するテスト記録パワーの差をＰｉｎｄの値の１０％以下にし、１トラック以下の記録領域で、８Ｔマークを形成するようにテストデータを記録し、所定の変調度の範囲に入らなかった場合にのみ再度テスト記録パワーの範囲を設定してテストデータを記録することが好ましい。これにより、短時間で精度の高い記録パワーを決定することができる。

以上のように、本実施形態の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができる。

（実施形態４）
以下に、図１５を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第４の実施形態について説明する。

実施形態３では、複数のテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係に基づいて第１の記録パワーを計算したが、本発明は、これに限定されない。

本実施形態では、べき指数が１の場合について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

上述したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスク１０１の所定の領域には、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値が記録されている。本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認することは、実施形態３において説明した記録パワー決定装置と同様であるので、本実施形態の記録パワー決定装置１０８のうち実施形態３の記載と重複する部分を省略する。

図１５（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフである。記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、図１５（ａ）に示すように、最も小さいテスト記録パワーＨの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きいテスト記録パワーＡの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認する。

次いで、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認した後、複数の変調度と複数のテスト記録パワーとの積を計算する。

図１５（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。

計算部４０２は、図１５（ｂ）に示すように、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ１５００を計算する。次いで、計算部４０２は、以下に示す（式３）に従って、データを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

本実施形態によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより正確に求めることができる。

なお、上述した説明では、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認しているが、最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であるという条件を追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

同様に、最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であるという条件を追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であり、かつ、最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であることにより、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近いテスト記録パワーの範囲で記録すれば、変調度がＭｉｎｄとなる記録パワーに対する前後のマージンは１０％でなくてもよい。

べき指数の値が１の場合には、図１５（ｂ）に示すように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が、べき指数の値が２であるときの相関関係の直線性ほどにはよくない場合があり、設定するテスト記録パワーの範囲の違いに応じて、積が０となる記録パワーＰｔｈｒの値がやや変動する場合があるので、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が高い第３の実施形態よりも、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することが好ましい。

なお、上述した説明では、テスト記録パワーＨの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きい場合には、前のテスト記録パワーよりも低いテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録し、同様に、記録パワーＡの変調度がＭｉｎｄの値よりも小さい場合には、前に記録したときのテスト記録パワーよりも大きいテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録しているが、テスト記録パワーの範囲を広くして、所定の変調度の範囲のみを用いて記録パワーを決定してもよい。

しかしながら、テスト記録パワーの範囲を広くするためには、隣接するテスト記録パワーの差を大きくするか、記録パワーを決定するために用いる領域を広くするかのいずれかを行う必要があるが、前者は精度が悪くなり、後者は記録パワーを決定するまでの時間が増加するという問題がある。第３の実施形態と同様に、テスト記録パワーの差をＰｉｎｄの値の１０％以下にし、１トラック以下の記録領域でテストデータを記録し、記録パワーを決定できない場合にのみ再度テスト記録パワーの範囲を設定してテストデータを記録することが好ましい。これにより、短時間で精度の高い記録パワーを決定することができる。

なお、上述した実施形態３〜４では、べき指数の値が１の場合と２の場合について説明したが、べき指数は、実数であれば、任意の値であってもよい。また、実施形態３〜４においても、実施形態２において説明したように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなるようにべき指数ｎの値を選択してもよい。この場合、べき指数ｎの値に対応する相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲が広くても、積が０となる記録パワーがほぼ一義的に決定されるので、より短時間で適切な記録パワーを決定することができる。また、この場合も選択されたべき指数ｎの値を光ディスクに記録することが好ましい。べき指数ｎの値を光ディスクに記録することにより、ディスクメーカーが記録膜を設計する自由度を拡大することができる。

以上のように、実施形態３〜４によれば、（Ｍｉｎｄの値）を光ディスク１０１から読み出し、Ｍｉｎｄの値を参照して、変調度と記録パワーのｎ乗との積を計算することにより、データを記録する際の記録パワーを適切に決定することができる。

なお、上述した実施形態１〜４の光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録し、光ディスクに記録されたデータを再生したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、データを記録する前に複数のテスト記録パワーで記録する情報記録装置に適用可能である。

また、上述した実施形態１〜４は、情報記録媒体として光ディスクを用いたが本発明はこれに限定されない。本発明は、記録パワーを決定する任意の情報記録媒体に適用することができる。

また、上述した実施形態１〜４では、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式でデータを記録したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、他の記録方式を用いてもよい。Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式以外の変調方式を用いる場合には、その方式における最長マークと最長スペースが連続した信号を多く含む信号に対応するテストデータを記録することが好ましい。また、本発明は、任意の単一周期の信号を用いてもよい。任意の単一周期の信号を用いる場合、信号の振幅が、最長マークと最長スペースの信号の振幅と同程度であることが好ましい。

また、上述した実施形態１〜４では、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク共通であり、Ｔｍｐは全マーク共通であるとしたが、本発明はこれに限定されない。記録パワーを決定するためのパラメータとして、別のパラメータを用いてもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類して設定したが、本発明はこれに限定されない。分類は、別の分類方法を用いてもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、本実施形態ではピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定としたが、本発明はこれに限定されない。ピークパワーやバイアスパワーやボトムパワーをそれぞれ独立に決定してもよい。例えば、ピークパワーを決定する際には、バイアスパワー、ボトムパワーを固定にするというように、それぞれのパワーを個別に決定してもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、８つのテスト記録パワーでテストデータを記録したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、複数のテスト記録パワーで記録する場合に適用することができる。

なお、上述した実施形態１〜４では、記録パワー決定装置１０８はテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していたが、本発明はこれに限定されない。記録パワー決定装置１０８がテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していなくてもよく、記録パワー設定部１１０は、レーザ駆動回路１１２に設定したテスト記録パワーＡ〜Ｈを示す信号を記録パワー決定装置１０８に出力してもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、記録パワー決定装置１０８が記録パワーを決定したが、記録パワー決定装置および周辺の構成要素がＩＣに組み込まれている場合でも同様の効果を有する。

本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。また、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

本発明は、情報記録媒体にデータを記録する際の記録パワーを決定する記録パワー決定方法および記録パワー決定装置に関する。

データを記録するための情報記録媒体として光ディスクが知られている。光ディスク装置は、光ディスクに光ビームを照射して、データを記録し、光ディスクに記録されたデータを再生する。光ディスクや光ディスク装置を同じように製造した場合であっても、光ディスクや光ディスク装置には個体差が生じるので、その個体差に起因して、光ディスクにデータを適切に記録できず、また、光ディスクに記録されたデータを適切に再生できないといった問題が生じることがある。

このような問題を防ぐための一つの方法として、光ディスクの装填時などに、個々の光ディスクおよび光ディスク装置にとって適切な記録パワーを決定することが知られている。

図１６は、一般的な光ディスク６０１を示す模式図である。図１６に示すように、光ディスク６０１にはトラック６０２がスパイラル状に形成されている。記録パワーが変調された光ビームがトラック６０２に照射されることにより、トラック６０２に複数のマークおよび複数のスペースが形成され、これにより、データの記録が行われる。光ディスク６０１には、ユーザがデータを記録するときに用いられるユーザデータ領域と、光ビームの記録パワーを決定するときに用いられる記録パワー決定領域とが設けられている。記録パワー決定領域は、ユーザデータ領域以外の領域（具体的には、光ディスク６０１の最内周領域または最外周領域）に設けられている。

図１７は、従来の光ディスク装置７００を示す模式図である。光ディスク装置７００は、光ヘッド７０２と、再生部７０４と、復調・ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）回路７０６と、記録パワー決定部７０８と、記録パワー設定部７１０と、レーザ駆動回路７１２と、記録データ生成部７１４とを備える。

光ディスク６０１が光ディスク装置７００に装填されると、光ディスク６０１のタイプが識別され、光ディスク６０１は回転される。光ヘッド７０２は半導体レーザ（図示せず）を有しており、光ディスク６０１が回転しているとき、光ヘッド７０２の半導体レーザから出射された光ビームによって、光ディスク６０１は照射される。

光ディスク６０１にデータを記録するとき、光ヘッド７０２は所定の記録パワーを有する光ビームで光ディスク６０１を照射して、光ディスク６０１にマークを形成する。ここでは、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する。この場合、光ディスク６０１には、最短の２Ｔから最長の８Ｔまでの基準周期Ｔ毎に７種類のマークおよびスペースが形成される。

また、光ディスク６０１からデータを読み出すとき、光ヘッド７０２は、記録パワーよりもパワーの小さい再生パワーの光ビームで光ディスク６０１を照射し、光ディスク６０１によって反射された光を受け取る。光ヘッド７０２は、受け取った光を光電変換することによって、光ディスク６０１に記録されたデータを示す信号を生成する。再生部７０４は、光ヘッド７０２によって生成された信号の変調度を測定するとともに、光ヘッド７０２によって生成された信号をデジタル化する。変調度については、図１９を参照して後述する。

復調・ＥＣＣ回路７０６は、再生部７０４によってデジタル化された信号を復調し、エラー訂正する。記録パワー決定部７０８は、再生部７０４によって測定された変調度に基づいてデータを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー設定部７１０は、記録パワー決定部７０８によって決定された記録パワーをレーザ駆動回路７１２に設定する。記録データ生成部７１４は、光ディスク６０１に記録すべきデータを生成する。レーザ駆動回路７１２は、光ヘッド７０２が記録データ生成部７１４において生成されたデータを記録パワー設定部７１０によって設定された記録パワーで光ディスク６０１に記録するように、光ヘッド７０２を駆動する。

図１８は、従来の光ディスク装置７００における再生部７０４を示す模式図である。図１８に示すように、再生部７０４は、プリアンプ８０１と、サンプルホールド回路８０２と、ＡＤ変換器８０３と、演算器８０４と、二値化データ生成部８０５とを備える。

二値化データ生成部８０５は、光ヘッド７０２によって生成された信号をデジタル化して、デジタル化されたデータ（二値化データ）を生成し、二値化データを示す信号７０５を復調・ＥＣＣ回路７０６および記録パワー決定部７０８に出力する。

プリアンプ８０１は、光ヘッド７０２によって生成された信号を増幅する。サンプルホールド回路８０２は、プリアンプ８０１によって増幅された信号をサンプリングして、信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器８０３は、サンプルホールド回路８０２によってホールドされたピーク値およびボトム値をデジタル化する。演算器８０４は、デジタル化されたピーク値およびボトム値を演算して変調度を得る。

図１９は、プリアンプ８０１から出力された信号波形を示す模式図である。図１９に示すように、光ヘッド７０２の半導体レーザの消光時の信号レベルまたは光ヘッド７０２の半導体レーザから再生パワーの光ビームを照射した場合であっても光ディスク６０１によって反射された光の影響を受けないときの信号レベルからマークに対応する信号の信号レベルまでを振幅Ａとし、光ヘッド７０２の半導体レーザの消光時の信号レベルからスペースに対応する信号の信号レベルまでを振幅Ｂとすると、変調度は（Ａ−Ｂ）／Ａで表される。

再び図１７を参照して、従来の記録パワー決定方法を説明する。

光ディスク６０１には、記録パワーの決定に用いられる定数パラメータが記録されている。光ヘッド７０２は、光ディスク６０１から読み出した定数パラメータ（以下、所定の値と称する）を示す信号７０３を生成し、信号７０３を再生部７０４に出力する。再生部７０４の二値化データ生成部８０５は、所定の値を示す信号７０３を二値化した信号７０５を生成し、信号７０５を記録パワー決定部７０８に出力する。

記録パワー設定部７１０は、光ビームのテスト記録パワーをレーザ駆動回路７１２に設定する。記録パワー設定部７１０は、異なる８つのテスト記録パワーＡ〜Ｈを設定する。ここでは、テスト記録パワーＡが最もテスト記録パワーが大きく、テスト記録パワーＢ〜Ｈの順にテスト記録パワーが小さくなっている。

記録データ生成部７１４は、テストデータを生成し、生成したテストデータを示す信号７１５をレーザ駆動回路７１２に出力する。レーザ駆動回路７１２は、光ヘッド７０２が光ディスク６０１の記録パワー決定領域において所定の位置からトラックのほぼ１周にわたって連続してテストデータを記録するように、光ヘッド７０２を駆動する。記録データ生成部７１４は、光ヘッド７０２によって光ディスク６０１に８Ｔマークおよび８Ｔスペースが連続して形成されるように、テストデータを生成している。光ディスク６０１には、光ディスク６０１のほぼ１周にわたって、テスト記録パワーＡ〜Ｈで繰り返し記録される。図２０には、光ディスク６０１において、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する領域をＡ〜Ｈで示している。

テストデータの記録が終了すると、光ヘッド７０２は再生パワーの光ビームを光ディスク６０１に照射する。これにより、トラックに記録されているテストデータが読み出され、テストデータを示す信号が生成される。光ヘッド７０２によって生成された信号の振幅は、光ディスク６０１上にマークが形成されているか否かに応じて変化する。光ヘッド７０２によって生成された信号７０３は再生部７０４に入力される。

再び図１８を参照する。図１８に示した再生部７０４において、プリアンプ８０１は信号７０３を増幅する。サンプルホールド回路８０２は、プリアンプ８０１によって増幅された信号のピーク値およびボトム値をホールドする。Ａ／Ｄ変換器８０３は、サンプルホールド回路８０２によってホールドされた信号のピーク値とボトム値とをデジタル化する。演算器８０４は、デジタル化されたピーク値とボトム値とを演算して、信号の変調度を得る。テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて信号７０３の振幅は異なるので、テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて変調度は異なる。演算器８０４は、信号の変調度を示す信号７０７を生成し、信号７０７を記録パワー決定部７０８に出力する。

記録パワー決定部７０８は、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度に基づいて、以下に示す従来の２つの記録パワー決定方法のうちのいずれかの方法で、記録パワーを決定する。

図２１は、従来の第１の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。従来の第１の記録パワー決定方法では、記録パワー決定部７０８は、複数のテスト記録パワーと複数のテスト記録パワーに対応する変調度との相関関係から、変調度がＭ０となる記録パワーＰ０を選択する。記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰ０と光ディスク６０１から読み出した所定の値との積を計算して、データを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー決定部７０８は、計算された記録パワーを示す信号７０９を記録パワー設定部７１０に出力する。

図２２は、従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。従来の第２の記録パワー決定方法では、記録パワー決定部７０８は、複数のテスト記録パワーに対応する変調度と複数のテスト記録パワーとの積をそれぞれ計算して、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰｔｈｒを計算する。次いで、記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰｔｈｒと光ディスク６０１から読み出した所定の値との積を計算して、データを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー決定部７０８は、計算した値を示す信号７０９を記録パワー設定部７１０に出力する。

しかしながら、従来の第１の記録パワー決定方法および従来の第２の記録パワー決定方法のいずれによっても、適切な記録パワーを決定できない。

記録パワー決定部７０８が、従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、例えば、光ディスク６０１と光ヘッド７０２との間に相対的にチルトが発生していると、適切な記録パワーを決定できない。以下、図２３を参照して、チルトが発生している場合の記録パワーについて説明する。

図２３は、記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。図２３のグラフにおいて、記録時および記録されたデータを読み出した時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１１０１で示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１１０２で示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１１０３で示している。チルトが発生していた場合の変調度は、チルトが発生していなかった場合の変調度よりも小さくなっている。読み出し時にチルトが発生していなかったが、記録時にチルトが発生していた場合、８つの記録パワーのうち最も記録パワーの低い記録パワーＨの変調度は測定不能である。同様に、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合も、記録パワーＨの変調度は測定不能である。

テストデータの記録およびテストデータの読み出しは、ユーザデータを記録する前に行われ、テストデータを記録した後すぐに記録されたテストデータは読み出される。したがって、相対的なチルトが発生した状態でテストデータを記録し、テストデータを読み出すと、図２３において実線１１０３で示すような結果が得られる。従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、記録パワー決定部７０８は、変調度Ｍ０に対応する記録パワーＰ１１０３を選択する。この結果には、テストデータ記録時におけるチルトの影響に加えて、テストデータを読み出した時（以下、テストデータ読み出し時と称する）におけるチルトの影響も加わっている。

しかしながら、テストデータ記録時にチルトが発生している場合は、ユーザデータを記録する時にもチルトが発生すると考えられるが、このユーザデータを読み出すときにチルトが発生しているとは限らない。ユーザデータは、記録した後、すぐに読み出されることはほとんどなく、多くの場合、ユーザデータは、別の光ディスク装置または光ディスクが再装填された光ディスク装置において読み出され、ユーザデータを読み出すときにはチルトは発生していない。したがって、記録パワーを決定する際には、テストデータ読み出し時のチルトの影響を考慮することなく、テストデータ記録時のチルトの影響のみを考慮すればよい。したがって、相対的なチルトが発生しているときに選択されるべき記録パワーは、記録パワーＰ１１０３ではなく、図２３に示された記録パワーＰ１１０２である。従来の第１の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、記録パワー決定部７０８は、記録パワーＰ１１０２よりも大きな記録パワーＰ１１０３を選択するため、光ヘッド７０２は、不必要に大きな記録パワーでデータを記録する。したがって、従来の第１の記録パワー決定方法では、記録を繰り返すことによって光ディスク６０１は早く劣化することになる。

また、記録パワー決定部７０８が、従来の第２の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、図２４に示すように、８つのテスト記録パワーのうちテスト記録パワーの大きい４つのテスト記録パワーを選択し、この４つのテスト記録パワーについて、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成すると、近似直線において積が０となる記録パワーは、記録パワーＰｔｈｒ１となる。一方、８つのテスト記録パワーのうちテスト記録パワーの小さい４つのテスト記録パワーを選択し、この４つのテスト記録パワーについて、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係を示す近似直線を作成すると、近似直線において積が０となる記録パワーは、記録パワーＰｔｈｒ２となる。

図２４から明らかであるように、テスト記録パワーに応じて、近似直線において積が０となる記録パワーは大きく異なる。すなわち、従来の第２の記録パワー決定方法に従って記録パワーを決定する場合、どのテスト記録パワーでテストデータを記録するか、および、どのテスト記録パワーの結果を用いて記録パワーを決定するかに応じて、決定される記録パワーが大きく異なることになる。したがって、従来の第２の記録パワー決定方法に従う場合、記録パワー決定部７０８は適切な記録パワーを一義的に決定することができない。また、記録パワー決定部７０８が適切な記録パワーよりも大きな記録パワーを決定する場合、光ディスクは早く劣化することになり、一方、記録パワー決定部７０８が適切な記録パワーよりも小さな記録パワーを決定する場合、光ディスクにデータを適切に記録することができない。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、適切な記録パワーを決定する記録パワー決定方法および記録パワー決定装置を提供することを目的とする。

情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定方法は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータをそれぞれ記録する工程と、各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定する工程と、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する工程とを包含する。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の積を得る工程において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、前記べき指数ｎの値が記録されており、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程は、前記べき指数ｎの値を読み出す工程を含み、前記複数の積を得る工程は、前記読み出したべき指数ｎの値を用いる工程を含む。

ある実施形態において、前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、変調された光ビームによって、複数のマークと複数のスペースとが形成され、前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、複数のトラックが同心円状またはスパイラル状に形成されている。

ある実施形態において、前記複数の積を得る工程は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程を含み、前記記録パワー決定方法は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程をさらに包含し、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数の値のうち直線性の最も高い値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記記録パワーを計算する工程は、前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算する工程と、前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算する工程と、前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得る工程と、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算する工程と、前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定する工程と、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算する工程と、前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得る工程と、前記第１の比と前記第２の比とを比較する工程とを含む。

ある実施形態において、前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含む。

ある実施形態において、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算する工程と、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算する工程とをさらに含み、前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含む。

ある実施形態において、前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する工程をさらに包含する。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、前記記録パワー決定方法は、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納する工程をさらに包含する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出す工程をさらに包含し、前記複数の積を得る工程は、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる工程を含む。

ある実施形態において、前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む。

本発明のプログラムは、上記の記録パワー決定方法の各工程を情報記録装置に実行させる。

記録部が情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定装置は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号が入力される入力部と、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する計算部と、前記計算部によって計算された記録パワーを示す信号を前記記録部に出力する出力部とを備える。

ある実施形態において、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記入力部には、Ｐｉｎｄの値と、ρの値と、κの値とを示す信号が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算することによって、前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記入力部には、前記べき指数ｎの値を示す信号が入力され、前記計算部は、前記べき指数ｎの値を用いる。

ある実施形態において、前記計算部は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応する値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である。

ある実施形態において、前記入力部には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とを示す信号が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、前記計算部は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定し、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算し、前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定し、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算し、前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得て、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定し、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算し、前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定し、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算し、前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得て、前記第１の比と前記第２の比とを比較することによって、前記第１の値および前記第２の値のうち直線性の高い値を決定する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択し、前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算し、前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算し、前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する。

ある実施形態において、前記出力部は、前記記録部が前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録するように前記記録部に信号を出力する。

本発明の情報記録装置は、光ビームを用いて情報記録媒体にデータを記録する記録部と、前記情報記録媒体に記録されたデータを読み出す読み出し部と、前記記録部が前記情報記録媒体にデータを記録する際の前記光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置とを備え、前記記録部は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録し、前記読み出し部は、各テスト記録パワーで前記情報記録媒体に記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定し、前記記録パワー決定装置は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する。

ある実施形態において、前記記録部は、変調された光ビームによって、前記情報記録媒体に複数のマークと複数のスペースとを形成し、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、前記記録部は、前記複数の値のうち、前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、直線性の最も高い値を記憶するメモリを含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、前記読み出し部は、前記識別情報を読み出し、前記メモリには、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納するための識別情報格納部が設けられ、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とが、識別情報格納部に格納され、前記記録パワー決定装置は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる。

ある実施形態において、前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む。

本発明の情報記録媒体は、複数のテスト記録パワーのうちの各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積とに基づいて、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、べき指数ｎの複数の値について得て、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応するべき指数ｎの値を格納するための領域を有する。

情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体には、Ｍｉｎｄの値とρの値とが記録されており、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程であって、前記Ｍｉｎｄの値および前記ρの値を読み出す工程を含む、工程と、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録した後、各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の複数の変調度のそれぞれを測定して、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認する工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する工程とを包含する。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいか否かを判定し、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいと判定された場合、前記Ｍｉｎｄの値よりも大きな変調度が測定されるまで、より大きな複数のテスト記録パワーで記録を繰り返す工程と、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいか否かを判定し、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいと判定された場合、前記Ｍｉｎｄの値よりも小さな変調度が測定されるまで、より小さな複数のテスト記録パワーで記録を繰り返す工程と、を含む。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程とを含む。

ある実施形態において、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１である。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出す工程を含み、前記確認する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２である。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出す工程を含み、前記確認する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する工程を含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算する工程と、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を設定する工程とを含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算する工程と、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を設定する工程とを含む。

ある実施形態において、前記確認する工程は、前記生成する信号が複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、変調された光ビームによって、複数のマークと複数のスペースとが形成され、前記確認する工程は、前記生成する信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する工程を含む。

ある実施形態において、前記情報記録媒体には、複数のトラックが同心円状あるいはスパイラル状に形成されている。

本発明のプログラムは、上記の記録パワー決定方法の各工程を情報記録装置に実行させる。

記録部が情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する本発明の記録パワー決定装置は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度と、Ｍｉｎｄの値と、ρの値とを示す信号が入力される入力部と、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する計算部と、前記計算部によって計算された記録パワーを示す信号を記録部に出力する出力部とを備える。

ある実施形態において、前記計算部は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値との積を計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１であり、前記入力部に、Ｐｉｎｄの値と、κの値とが入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記入力部に、Ｐｉｎｄの値およびκの値が入力され、前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーの最小値が前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーを設定し、前記出力部は、前記設定された複数のテスト記録パワー示す信号を前記記録部に出力する。

ある実施形態において、前記計算部は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーの最大値が前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーを設定し、前記出力部は、前記設定された複数のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力する。

本発明の情報記録装置は、光ビームを用いて情報記録媒体にデータを記録する記録部と、前記情報記録媒体に記録されたデータを読み出す読み出し部と、前記記録部が前記情報記録媒体にデータを記録する際の前記光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置とを備え、前記情報記録媒体には、Ｍｉｎｄの値とρの値とが記録されており、前記読み出し部は、前記Ｍｉｎｄの値および前記ρの値を読み出し、前記記録部は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録し、前記読み出し部は、各テスト記録パワーで前記情報記録媒体に記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、前記複数のテスト記録パワーのそれぞれに対応する前記信号の複数の変調度を測定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きく、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいことを確認し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の変調度とに基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値とに基づいて前記記録パワーを計算する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいか否かを判定し、前記記録パワー決定装置が前記複数の変調度のうち最も大きい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さいと判定した場合、前記読み出し部が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きな変調度を測定するまで、前記記録パワー決定装置は、より大きな複数のテスト記録パワーを決定し、前記記録パワー決定装置は、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいか否かを判定し、前記記録パワー決定装置が、前記複数の変調度のうち最も小さい変調度が前記Ｍｉｎｄの値よりも大きいと判定した場合、前記読み出し部が前記Ｍｉｎｄの値よりも小さな変調度を測定するまで、前記記録パワー決定装置は、より小さな複数のテスト記録パワーを決定する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワー対してそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと前記ρの値との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は１であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値および前記κの値を読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（κの値）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記べき指数ｎの値は２であり、前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値およびκの値が記録されており、前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値と前記κの値とを読み出し、前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの０．９倍よりも大きくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を決定する。

ある実施形態において、前記記録パワー決定装置は、前記変調度が前記Ｍｉｎｄの値となる所定の記録パワーを計算し、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーが前記所定の記録パワーの１．１倍よりも小さくなるように前記複数のテスト記録パワーの範囲を決定する。

ある実施形態において、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する。

ある実施形態において、前記記録部は、変調された光ビームによって、前記情報記録媒体に複数のマークと複数のスペースとを形成し、前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する。

本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明のプログラムによれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明の情報記録装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、情報記録媒体が早く劣化することを防ぐことができる。

また、本発明の情報記録媒体によれば、情報記録媒体に記録されたべき指数の複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

（実施形態１）
以下に、図１〜図１１を参照して、本発明による記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第１の実施形態を説明する。

図１は、本実施形態における光ディスク１０１を示す模式図である。光ディスク１０１にはトラック３０１がスパイラル状に形成されており、記録パワーが変調された光ビームがトラック３０１に照射されることにより、トラック３０１に複数のマークおよび複数のスペースが形成され、これにより、データの記録が行われる。光ディスク１０１には、ユーザがデータを記録するときに用いられるユーザデータ領域と、光ビームの記録パワーを決定するときに用いられる記録パワー決定領域とが設けられている。記録パワー決定領域は、ユーザデータ領域以外の領域（具体的には、光ディスク１０１の最内周領域または最外周領域）に設けられている。

図２は、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００を示す模式図である。光ディスク装置１００は、光ビームを用いて光ディスク１０１にデータを記録する記録部２１０と、光ディスク１０１に記録されたデータを読み出す読み出し部２２０と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置１０８と、復調・ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）回路１０６とを備える。記録部２１０は、光ヘッド１０２と、記録パワー設定部１１０と、レーザ駆動回路１１２と、記録データ生成部１１４とを備える。読み出し部２２０は、光ヘッド１０２と、再生部１０４とを備える。

光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装填されると、光ディスク１０１のタイプが識別され、光ディスク１０１は回転される。光ヘッド１０２は半導体レーザ（図示せず）を有しており、光ディスク１０１が回転しているとき、光ヘッド１０２の半導体レーザから出射される光ビームによって、光ディスク１０１は照射される。

光ディスク１０１にデータを記録するとき、光ヘッド１０２は所定の記録パワーを有する光ビームで光ディスク１０１を照射して、光ディスク１０１にマークを形成する。ここでは、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式のデータをマークエッジ記録方式で記録する。この場合、光ディスク１０１には、最短の２Ｔから最長の８Ｔまでの基準周期Ｔ毎に７種類のマークおよびスペースが形成される。

また、光ディスク１０１からデータを読み出すとき、光ヘッド１０２は、記録パワーよりもパワーの小さい再生パワーの光ビームで光ディスク１０１を照射し、光ディスク１０１によって反射された光を受け取る。光ヘッド１０２は、受け取った光を光電変換することによって、光ディスク１０１に記録されたデータを示す信号を生成する。

図３は、二値化信号波形とマークを形成するためのパルス波形との関係を説明するための模式図である。図３には、２Ｔマークに対応する二値化信号波形および２Ｔマークを形成するためのパルス波形、３Ｔマークに対応する二値化信号波形および３Ｔマークを形成するためのパルス波形、ならびに、４Ｔマークに対応する二値化信号波形および４Ｔマークを形成するためのパルス波形を示している。

記録パワーのパラメータは、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）およびボトムパワー（Ｐｂｗ）である。本実施形態では、ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定である。図３に示すように、Ｐｐを示すパルスは、２Ｔマークに１つ、３Ｔマークに２つであり、マーク長がＴ長くなる毎に１つずつ増えている。

パルス波形の時間的なパラメータは、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ＴｍｐおよびｄＴｅである。図３において、Ｔｔｏｐは一番目のパルスがＰｐを示している時間を意味し、ｄＴｔｏｐは二値化信号波形における立ち上がり時刻の１Ｔ後から、一番目のパルスの立ち上がり時刻までの時間を意味し、Ｔｍｐは一番目以外のパルスがＰｐを示している時間を意味し、ｄＴｅは二値化信号波形における立ち下がり時刻から、最後のパルスがＰｂｗからＰｅに立ち上がる時刻までの時間を意味する。

本実施形態では、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク（２Ｔ〜８Ｔ）に共通して同じである。また、Ｔｍｐも全マークに共通して同じである。Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類されて設定されている。

再び図２を参照する。図２に示した光ディスク装置１００の再生部１０４は、光ヘッド１０２によって生成された信号の変調度を測定するとともに、光ヘッド１０２によって生成された信号をデジタル化する。復調・ＥＣＣ回路１０６は、再生部１０４によってデジタル化された信号を復調し、エラー訂正する。記録パワー決定装置１０８は、再生部１０４によって測定された変調度に基づいてデータを記録する際の記録パワーを決定する。記録パワー設定部１１０は、記録パワー決定装置１０８によって決定された記録パワーをレーザ駆動回路１１２に設定する。記録データ生成部１１４は、光ディスク１０１に記録すべきデータを生成する。レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が記録データ生成部１１４において生成されたデータを記録パワー設定部１１０によって設定された記録パワーで光ディスク１０１に記録するように、光ヘッド１０２を駆動する。

図４は、本実施形態の光ディスク装置１００における再生部１０４を示す模式図である。図４に示すように、再生部１０４は、プリアンプ２０１と、サンプルホールド回路２０２と、ＡＤ変換器２０３と、演算器２０４と、二値化データ生成部２０５とを備える。

二値化データ生成部２０５は、光ヘッド１０２によって生成された信号をデジタル化して、デジタル化されたデータ（二値化データ）を生成し、二値化データを示す信号１０５を復調・ＥＣＣ回路１０６および記録パワー決定部１０８に出力する。

プリアンプ２０１は、光ヘッド１０２によって生成された信号を増幅する。サンプルホールド回路２０２は、プリアンプ２０１によって増幅された信号をサンプリングして、信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器２０３は、サンプルホールド回路２０２によってホールドされたピーク値およびボトム値をデジタル化する。演算器２０４は、デジタル化されたピーク値およびボトム値を演算して変調度を得て、変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図５は、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を示す模式図である。図５に示すように、記録パワー決定装置１０８は、変調度を示す信号１０７が入力される入力部４０１と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを計算する計算部４０２と、記録部２１０の記録パワー設定部１１０に出力する出力部４０３と、メモリ４０４とを備える。

以下に、図６を参照して、本実施形態の記録パワー決定方法を説明する。

光ディスク１０１には、記録パワーの決定に用いられる定数パラメータが記録されている。図６のＳ１２に示すように、光ヘッド１０２は、光ディスク１０１から読み出した定数パラメータ（以下、所定の値と称する）を示す信号１０３を生成し、信号１０３を再生部１０４に出力する。再生部１０４の二値化データ生成部２０５は、所定の値を示す信号１０３を二値化した信号１０５を生成し、信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図６のＳ１４に示すように、複数のテスト記録パワーで光ディスク１０１にテストデータを記録する。このとき、記録パワー決定装置１０８は、予め決定された８つの異なるテスト記録パワーＡ〜Ｈを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力し、記録パワー設定部１１０は、テスト記録パワーＡ〜Ｈをレーザ駆動回路１１２に設定する。ここでは、テスト記録パワーＡが最もテスト記録パワーが大きく、テスト記録パワーＢ〜Ｈの順にテスト記録パワーが小さくなっている。

記録データ生成部１１４は、テストデータを生成し、生成したテストデータを示す信号１１５をレーザ駆動回路１１２に出力する。レーザ駆動回路１１２は、光ヘッド１０２が光ディスク１０１の記録パワー決定領域において所定の位置からトラックのほぼ１周にわたって連続してテストデータを記録するように、光ヘッド１０２を駆動する。記録データ生成部１１４は、光ヘッド１０２によって光ディスク１０１に８Ｔマークおよび８Ｔスペースが連続して形成されるように、テストデータを生成している。光ディスク１０１には、光ディスク１０１のほぼ１周にわたって、テスト記録パワーＡ〜Ｈで繰り返し記録される。図７には、光ディスク１０１において、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する領域をＡ〜Ｈで示している。このように、光ディスク１０１のほぼ１周にわたって記録を複数回繰り返していることにより、光ディスク１０１の周方向にチルトがばらつく影響を取り除くことができる。

再び図６を参照する。テストデータの記録が終了すると、図６のＳ１６に示すように、光ヘッド１０２は、再生パワーで光ビームを光ディスク１０１に照射する。これにより、光ディスク１０１のトラックに記録されているテストデータが読み出され、信号が生成される。光ヘッド１０２によって生成された信号の振幅は、光ディスク１０１上にマークが形成されているか否かに応じて変化する。光ヘッド１０２によって生成された信号１０３は再生部１０４に入力される。

図３に示したように、再生部１０４において、プリアンプ２０１は信号１０３を増幅する。サンプルホールド回路２０２は、プリアンプ２０１によって増幅された信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器２０３は、サンプルホールド回路２０２によってホールドされた信号のピーク値とボトム値をデジタル化する。演算器２０４は、デジタル化されたピーク値とボトム値とを演算して、信号の変調度を得る。テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて信号７０３の振幅は異なるので、テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて変調度は異なる。演算器２０４は、信号の変調度を示す信号１０７を生成し、信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図５に示したように、記録パワー決定装置１０８の入力部４０１には、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度を示す信号１０７が、再生部１０４の演算器２０４から入力される。

図６のＳ１８に示すように、記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの２乗との積を計算する。また、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの２乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

次いで、図６のＳ２０に示すように、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーＡ〜Ｈと複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する。具体的には、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを上述した第１の記録パワーとする。以下に、図８を参照してこの詳細を説明する。

図８（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図８（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。図８（ａ）および図８（ｂ）から明らかなように、テスト記録パワーと変調度との相関関係の直線性は低いのに対して、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性は高く、図８（ｂ）のグラフにおいて、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する８つの点はほぼ直線状に並んでいる。

計算部４０２は、図８（ｂ）のグラフに示された近似直線において変調度とテスト記録パワーの２乗との積が０となる記録パワーＰ５００を計算する。

次いで、図６のＳ２２に示すように、計算部４０２は、記録パワーＰ５００に基づいて記録パワーを計算する。具体的には、計算部４０２は、記録パワーＰ５００と光ディスク１０１に記録された所定の値とを演算することによって、記録パワーを計算する。

出力部４０３は、計算部４０２によって計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

なお、プログラムを用いて、ＣＰＵ（図示せず）が光ディスク装置１００の各部を上述した手順で制御するように実行させてもよく、また、そのプログラムは、図示しないＥＥＰＲＯＭやＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスク、磁気記録媒体などのコンピータ読み取りが可能な記録媒体に記録しておいてもよい。

次に、図９を参照して、光ディスク１０１と光ヘッド１０２との間に相対的にチルトが発生している場合の記録パワーと変調度との関係を説明する。

図９（ａ）は、記録パワーと記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図２３のグラフと同様のグラフである。図９（ａ）のグラフにおいて、記録時および記録されたデータを読み出した時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０１Ａで示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０２Ａで示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１２０３Ａで示している。チルトが発生していた場合の変調度は、チルトが発生していなかった場合の変調度よりも小さくなっている。読み出し時にチルトが発生していなかったが、記録時にチルトが発生していた場合、８つの記録パワーのうち最も記録パワーの低いテスト記録パワーＨの変調度は測定不能である。同様に、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合も、テスト記録パワーＨの変調度は測定不能である。

図９（ｂ）は、図９（ａ）に示した記録パワーおよび変調度において、記録パワーと（変調度と記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。図９（ｂ）のグラフにおいて、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０１Ｂで示し、記録時にチルトが発生していたが、読み出し時にチルトが発生していなかった場合の結果を実線１２０２Ｂで示し、記録時および読み出し時の両方でチルトが発生していた場合の結果を実線１２０３Ｂで示している。

上述したように、テストデータの記録およびテストデータの読み出しは、ユーザデータを記録する前に行われ、テストデータを記録した後すぐにテストデータは読み出される。したがって、相対的なチルトが発生した状態でテストデータを記録し、テストデータを読み出すと、実線１２０３Ａおよび実線１２０３Ｂに示すような結果が得られる。

本実施形態によれば、記録パワー決定装置１０８は、図９（ｂ）のグラフに示されるように、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーＰ１２０３を計算し、記録パワーＰ１２０３と光ディスク１０１に記録されている所定の値とに基づいて記録パワーを計算し、計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

このとき、実線１２０３Ｂに示された結果には、記録時におけるチルトの影響に加えて、読み出し時におけるチルトの影響も加わっている。上述したように、記録パワーを決定する際には記録時におけるチルトの影響のみを考慮すればよいので、このときに選択されるべき記録パワーは本質的には記録パワーＰ１２０２であるが、図９（ｂ）に示すように、本実施形態の記録パワー決定方法に従って選択された記録パワーＰ１２０３は、本来選択されるべき記録パワーＰ１２０２と実験的にほぼ等しいことが確認されている。

すなわち、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、０でない変調度が測定されるので、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

以上のように、本実施形態によれば、光ディスクと光ヘッドとの間に相対的にチルトが発生している場合でも、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、本実施形態によれば、繰り返し記録を行ったときに光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。

さらに、本実施形態によれば、チルトに限定されず、記録時における変調度の劣化および再生時における変調度の劣化といった両方の劣化が生じるようなストレスに対して、適切な記録パワーを決定することができる。

また、本実施形態は、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

ＢＤ規格に準拠した光ディスクを製造するディスクメーカーは、光ディスクを出荷する前に、光ディスクにデータを記録するときに推奨する記録パワーＰｗｏを予め決定している。理想的な光ディスク装置が、この記録パワーＰｗｏで理想的な光ディスクにデータを記録した後、データを読み出すと適切な変調度が測定されるようにこの記録パワーＰｗｏは決められているが、光ディスクおよび光ディスク装置には個体差があるため、光ディスク装置が記録パワーＰｗｏでデータを記録しても、読み出した際に適切な変調度が測定されないことがある。

したがって、光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録する際に、複数のテスト記録パワーと変調度との関係を調べて、適切な記録パワーを決定する。ディスクメーカーは、適切な記録パワーを決定するときに用いられる定数パラメータを光ディスクに予め記録している。この定数パラメータは、Ｐｉｎｄ、ρ、κ、Ｍｉｎｄである。詳細は後述するが、光ディスクにデータを記録するための適切な記録パワーは、記録パワーＰｗｏよりも小さい記録パワーＰｉｎｄおよび記録パワーＰｉｎｄと変調度Ｍｉｎｄとの関係を用いて決定される。記録パワーＰｗｏを直接的に決定しようとすると、（１）記録パワーＰｗｏの近傍では変調度が飽和してしまうので、図９を参照したようにチルトなどの外乱に伴う最適な記録パワーの変化を検出しにくい、（２）記録パワーの決定を繰り返すと、光ディスク１０１が劣化してしまうからである。

以下に、図１０および図１１を参照して、ディスクメーカーが推奨する記録パワーＰｗｏと、Ｐｉｎｄ、ρ、κ、Ｍｉｎｄとの関係について説明する。

ディスクメーカーは、記録パワーＰｗｏを決定した後、続いて記録パワーＰｉｎｄを決定し、ρ＝（記録パワーＰｗｏ）／（記録パワーＰｉｎｄ）の関係から、ρを決定する。

ディスクメーカーは、図１０に示すように、８Ｔマークを形成するように記録パワーＰｉｎｄで記録されたデータを読み出して、そのデータに対応する信号の変調度を、変調度Ｍｉｎｄとする。

また、ディスクメーカーは、図１１に示すように、８Ｔマークを形成するように、記録パワーＰｉｎｄの０．９倍から１．１倍の範囲内にある複数のテスト記録パワーで記録されたテストデータを読み出して、信号を生成し、信号の複数の変調度を測定する。複数の変調度は、複数のテスト記録パワーにそれぞれ対応している。

ディスクメーカーは、変調度とテスト記録パワーとの積を各テスト記録パワーについてそれぞれ計算して、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係に基づいて記録パワーＰｔｈｒを計算する。具体的には、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを記録パワーＰｔｈｒとする。次いで、κ＝（記録パワーＰｉｎｄ）／（記録パワーＰｔｈｒ）の関係から、κを決定する。

ディスクメーカーは、Ｐｉｎｄの値と、ρの値と、κの値と、Ｍｉｎｄの値とを光ディスク１０１に予め記録している。

本実施形態では、テスト記録パワーと変調度との関係から変調度が０になる記録パワーＰｔｈｒに相当する値を計算し、記録パワーＰｔｈｒとκの値とから記録パワー（すなわち、Ｐｉｎｄに相当する値）を計算し、その記録パワーとρの値とから記録パワーＰｗを計算する。

以下に、光ディスクがＢＤ規格に準拠する場合における本実施形態の光パワー決定方法を説明する。

再生部１０４は、光ディスク１０１に記録されたκの値とρの値とを読み出し、再生部１０４は、κの値とρの値とを示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

光ディスク装置１００の記録部２１０がテスト記録パワーＡ〜Ｈでテストデータを記録した後、再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を測定する。再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

テストデータを読み出して、図８（ａ）に示すような結果が得られたとき、記録パワー決定装置１０８は、図８（ｂ）に示すように、変調度とテスト記録パワーの２乗との積が０となる記録パワーＰ５００を計算し、以下に示す（式１）に従って、データを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ５００×（−１／κ＋２）×ρ ・・・（式１）

記録パワー決定装置１０８は、計算された記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

以上のように、本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

なお、上述した説明では、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）を用いて、すなわち、テスト記録パワーのべき指数ｎの値が２の場合の積を用いて、第１の記録パワー（Ｐ５００）を計算したが、本発明はこれに限定されない。光ディスクの構造または記録膜の特性の違いに起因して、べき指数ｎの値が２以外の値のときに、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなることがある。したがって、べき指数ｎの値は２に限定されない。

ただし、上述したように、図２２を参照して説明したように、べき指数の値が１の場合、すなわち、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との相関関係の直線性は低く、すなわち、図２２のグラフでは、プロットされた点が直線から外れている。

したがって、べき指数ｎの値は、１以外の実数であればよい。べき指数ｎの値について、既存のいくつかの光ディスクで対して実験したところ、例えば、べき指数ｎの値が１．５〜２．５のとき、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなった。しかし、べき指数ｎの値はこれに限定されず、べき指数ｎの値は例えば０．５であってもよいし、０や−１であってもよい。

本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くすることができるので、テスト記録パワーによらず、変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積が０となる記録パワーを計算することができる。

また、図７に示すように、８つのテスト記録パワーＡ〜Ｈで記録をしなくても、例えば、４つのテスト記録パワーＡ〜Ｄで記録しても、４つのテスト記録パワーＥ〜Ｈで記録しても、あるいは、４つのテスト記録パワーＣ〜Ｆで記録しても、適切に記録パワーＰ５００を得ることができる。所定の広さの領域を用いて記録パワーを決定する場合、テスト記録パワーの数を減らすことによって、繰り返し回数を多くすることができ、決定する記録パワーの精度を向上させることができる。

また、光ディスク１０１にべき指数ｎの値が記録されていることが好ましい。べき指数ｎの値が光ディスク１０１に記録されていることにより、光ディスク１０１の構造や、光ディスク１０１内の記録膜の設計の自由度を広げることができる。

本実施形態の記録パワー決定方法は、ＢＤ規格に準拠する光ディスク装置のように、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求される光ディスク装置において特に有効である。

（実施形態２）
以下に、図１２を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第２の実施形態について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、べき指数ｎの複数の値のそれぞれについて変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積を計算し、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性を計算し、複数の値のうち直線性の最も高い値を用いて記録パワーを決定する点で、実施形態１において説明した記録パワー決定装置とは異なる。

以下に、図２および図５を参照して、べき指数ｎの値が２および３である場合の記録パワー決定方法を説明する。

再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。記録パワー決定装置１０８において、入力部４０１には、テスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する変調度を示す信号１０７が、再生部１０４の演算器２０４から入力される。

計算部４０２は、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの２乗との積を計算する。また、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの２乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、べき指数ｎが２の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

計算部４０２は、また、テスト記録パワーＡに対応する変調度とテスト記録パワーＡの３乗との積を計算する。同様に、計算部４０２は、テスト記録パワーＢ〜Ｈのそれぞれに対して、テスト記録パワーに対応する変調度とテスト記録パワーの３乗との積を計算する。このようにして、計算部４０２は、べき指数ｎが３の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を得る。

図１２（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフであり、図１２（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフであり、図１２（ｃ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との関係を示すグラフである。

計算部４０２は、べき指数ｎの値が２の場合の直線性とべき指数ｎの値が３の場合の直線性を比較して、値２および値３のうち直線性が高い値を決定する。直線性の比較については後述する。ここでは、例えば、値２の直線性が値３の直線性よりも高いとすると、計算部４０２は、先に計算した、べき指数ｎが２の場合についてのテスト記録パワーＡ〜Ｈに対応する複数の積を用いて、複数のテスト記録パワーＡ〜Ｈと複数の積との相関関係に基づいて記録パワーＰ５００を計算する。具体的には、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ５００を計算し、計算部４０２は、記録パワーＰ５００と光ディスク１０１から読み出された所定の値とを演算することによって、記録パワーを計算する。出力部４０３は、計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力し、記録パワー設定部１１０は、レーザ駆動回路１１２に記録パワーを設定する。

ここで、図１２（ｂ）および図１２（ｃ）を参照して直線性の比較について説明する。

計算部４０２は、べき指数の値が２の場合において、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性を計算する。計算部４０２は、例えば、テスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も大きい２つ（テスト記録パワーＡとテスト記録パワーＢ）およびテスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も小さい２つ（テスト記録パワーＧとテスト記録パワーＨ）を選択する。計算部４０２は、図１２（ｂ）のグラフにおいてテスト記録パワーＡに対応する点とテスト記録パワーＢに対応する点を結ぶ直線（以下、第１の直線と称する）を作成し、第１の直線の傾き（以下、第１の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、また、図１２（ｂ）のグラフにおいてテスト記録パワーＧに対応する点とテスト記録パワーＨに対応する点を結ぶ直線（以下、第２の直線と称する）を作成し、第２の直線の傾き（以下、第２の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、第１の傾きと第２の傾きとの比（以下、第１の比と称する）を計算する。

計算部４０２は、べき指数の値が３の場合においても、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との相関関係の直線性を計算する。計算部４０２は、例えば、テスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も大きい２つ（テスト記録パワーＡとテスト記録パワーＢ）およびテスト記録パワーＡ〜Ｈのうち最も小さい２つ（テスト記録パワーＧとテスト記録パワーＨ）を選択する。計算部４０２は、図１２（ｃ）のグラフにおいてテスト記録パワーＡに対応する点とテスト記録パワーＢに対応する点を結ぶ直線（以下、第３の直線と称する）を作成し、第３の直線の傾き（以下、第３の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、また、図１２（ｃ）のグラフにおいてテスト記録パワーＧに対応する点とテスト記録パワーＨに対応する点を結ぶ直線（以下、第４の直線と称する）を作成し、第４の直線の傾き（以下、第４の傾きと称する）を計算する。計算部４０２は、第３の傾きと第４の傾きとの比（以下、第２の比と称する）を計算する。

次いで、計算部４０２は、第１の比と第２の比とを比較して、第１の比と第２の比のうち比１に近い方に対応する値の直線性が高いと判定し、計算部４０２は、上述したように、直線性が高い値に対応する相関関係に基づいて、記録パワーを計算する。このように、計算部４０２は、より直線性の高い相関関係に基づいて記録パワーを決定するので、より適切な記録パワーを決定することができる。

ただし、直線性の比較方法は、これに限定されない。上述した説明では、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーの最大値付近の傾きと最小値付近の傾きを比較しているが、計算部４０２は、別の方法で、複数のテスト記録パワーの最大値付近の傾きと、最小値付近の傾きとを比較してもよい。

計算部４０２は、べき指数ｎが２の場合について、複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算する。次いで、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちのある組（以下、第１のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第１の平均パワーよりも大きくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第１のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第１の直線を作成し、第１の直線の第１の傾きを計算する。計算部４０２は、また、複数のテスト記録パワーのうちの別の組（以下、第２のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第１の平均パワーよりも小さくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第２のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第２の直線を作成し、第２の直線の第２の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第１の傾きと第２の傾きとから第１の比を計算する。

計算部４０２は、べき指数ｎが３の場合についても、同様に、複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算する。次いで、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちのある組（以下、前記３のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第２の平均パワーよりも大きくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第３のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第３の直線を作成し、第３の直線の第３の傾きを計算する。また、計算部４０２は、複数のテスト記録パワーのうちの別の組（以下、第４のテスト記録パワー群と称する）に属するテスト記録パワーの平均が、第２の平均パワーよりも小さくなるように、複数のテスト記録パワーのうちから第４のテスト記録パワー群に属する少なくとも２つのテスト記録パワーを選択し、第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーおよびこれらのテスト記録パワーに対応する積との相関関係を示す第４の直線を作成し、第４の直線の第４の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第３の傾きと第４の傾きとから第２の比を計算する。

次いで、計算部４０２は、第１の比と第２の比のうち比１に近い方に対応する値の直線性が高いと判定する。

以上のように、べき指数ｎの値のうち直線性の高い値を選択してもよい。

また、本実施形態における直線性の比較方法は、これらに限定されない。計算部４０２は、複数の値のそれぞれについて、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、あるテスト記録パワー群を設定し、前記あるテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーから選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、別のテスト記録パワー群を設定して、異なるテスト記録パワー群ごとに直線を形成し、直線の傾きを計算して、直線性を比較してもよい。

より詳細には、計算部４０２は、値２について、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定し、第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、第１の直線の第１の傾きを計算する。また、計算部４０２は、値２について、第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定し、第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、第２の直線の第２の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第１の傾きおよび第２の傾きに基づいて、第１の比を計算する。

計算部４０２は、値３についても同様に、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定し、第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、第３の直線の第３の傾きを計算する。また、計算部４０２は、値３について、第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定し、第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、第４の直線の第４の傾きを計算する。次いで、計算部４０２は、第３の傾きおよび第４の傾きに基づいて、第２の比を計算する。

計算部４０２は、第１の比と第２の比とを比較することによって、第１の値および第２の値のうち直線性が高い値を決定する。

複数の比較方法を上述したが、いずれの比較方法においても、計算部４０２は、一方の比が１以上、他方の比が１以下となる場合には、１以上となった比の逆数を計算して、いずれの比も１以下にした状態で比が１に近いほうを選択してもよい。あるいは、計算部４０２は、一方の比が１以上、他方の比が１以下となる場合には、１以下となった比の逆数を計算して、いずれの比も１以上にした状態で比が１に近い方を選択してもよい。

また、上述した複数の比較方法は、直線性の比較方法の例示にすぎず、相関関係の直線性を比較できるのであれば、任意の方法を用いてもよい。

また、実施形態１において説明したのと同様に、べき指数ｎの値が３の場合も、（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、変調度が測定されるので、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

また、近年、複数の記録膜を有する光ディスクが開発されているが、本実施形態によれば、１枚の光ディスクの複数の記録膜ごとに、べき指数ｎの値を適切に決定することができる。

また、本実施形態の記録パワー決定装置１０８において、出力部４０２は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録するように、記録部２１０に信号を出力し、記録部２１０は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録する。光ディスク１０１には、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を記録するための領域が予め設けられていてもよいし、あるいは、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値は、光ディスク１０１のユーザデータ領域に記録されてもよい。このように、光ディスク１０１の所定の領域にべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値が記録されている場合、その光ディスク１０１を装填された光ディスク装置１００は、記録パワーを決定するときに、光ディスク１０１に記録されたべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

あるいは、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値は、光ディスク装置１００に記録されてもよい。

本実施形態において、光ディスク１０１には、光ディスク１０１を識別するための識別情報が記録されている。識別情報は、例えば、光ディスク１０１を製造したディスクメーカーに関する情報であり、あるいは、光ディスク１０１のロットに関する情報である。

再生部１０４は、光ディスク１０１に記録された識別情報を読み出し、再生部１０４は、識別情報を示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

記録パワー決定装置１０８の入力部４０１には、識別情報を示す信号１０５が入力される。記録パワー決定装置１０８のメモリ４０４には、識別情報格納部が設けられている。計算部４０２は、光ディスク１０１の識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を決定した後、光ディスク１０１の識別情報と、その識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値とをメモリ４０４の識別情報格納部に格納する。

メモリ４０４には、光ディスク１０１の識別情報と、その識別情報に対応するべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値とが格納されているため、光ディスク１０１が光ディスク装置１００に装填されると、再生部１０４は、装填された光ディスク１０１の識別情報を読み出し、記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、読み出した識別情報が識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定する。計算部４０２が、読み出した識別情報が識別情報格納部に格納された識別情報と同一であると判定する場合、計算部４０２は、メモリ４０４に格納されたべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、複数の値について直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

なお、本実施形態も、実施形態１と同様に、ＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

実施形態１でも説明したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスクには、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とＭｉｎｄの値とが予め記録されており、再生部１０４は、ρの値とκの値とを読み出す。

計算部４０２が、べき指数ｎの値が２の場合の直線性が高いと判定する場合、計算部４０２は、図１２（ｂ）に示した記録パワーＰ５００を計算し、以下に示す（式１）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ５００×（−１／κ＋２）×ρ ・・・（式１）

一方、計算部４０２が、べき指数ｎの値が３の場合の直線性が高いと判定する場合、計算部４０２は、図１２（ｃ）に示した記録パワーＰ６００を計算し、以下に示す（式２）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ６００×（３κ−２）／（２κ−１）×ρ ・・・（式２）

出力部４０３は、記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

なお、上述した説明では、べき指数ｎの値は２および３であったが、光ディスクの構造や光ディスクの記録膜の特性の違いにより、２および３以外の値のときに、直線性が高くなる場合がある。本実施形態において、べき指数ｎの値は２および３に限定されず、べき指数の値は１以外の実数であれば、任意の値であってもよい。記録パワーを計算するとき、κおよびρに関する係数はべき指数ｎの値に応じて変化する。例えば、べき指数ｎの値が０の場合、計算部４０２は、以下に示す（式２'）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ７００×（１／（２−κ））×ρ ・・・（式２'）

ここで、Ｐ７００は、べき指数ｎが０の場合に複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを計算したものである。

参考のために、べき指数ｎの値が１の場合、図２２を参照して説明したように、記録パワーＰｗ１は、以下に示す式にしたがって計算されている。

Ｐｗ１＝Ｐｔｈｒ×κ×ρ

ここで、Ｐｔｈｒは、べき指数ｎが１の場合に複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーを計算したものである。

また、上述した説明では、２つの値に対して直線性を比較したが、本実施形態はこれに限定されない。本実施形態は、３つ以上の値に対して直線性を比較してもよく、例えば、べき指数の値は、２、２．５、３の３つの値から直線性の高い値を決定してもよい。

本実施形態によれば、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗（ｎは１以外の実数）との積）との相関関係に基づいて、べき指数ｎの少なくとも２つの値のうち直線性の高い値を計算することで、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

（実施形態３）
以下に、図１４を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第３の実施形態について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

以下に、図１３を参照して、本実施形態の記録パワー決定方法を説明する。

上述したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスク１０１の所定の領域には、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値が記録されており、図１３のＳ３２に示すように、再生部１０４は、光ディスク１０１からＰｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値を読み出す。再生部１０４は、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値を示す信号１０５を記録パワー決定装置１０８に出力する。

図１３のＳ３４に示すように、複数の変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、複数の変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。

このとき、記録パワー決定部１０８は、テストデータを記録するときに、隣接するテスト記録パワーの差がＰｉｎｄの値の少なくとも１０％以下となるようにテスト記録パワーＡ〜Ｈを決定する。

テスト記録パワーＡ〜Ｈでテストデータを記録した後、再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を測定する。再生部１０４は、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、複数の変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、複数の変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。具体的には、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいか否かを判定する。最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいと計算部４０２が判定した場合、計算部４０２は、前のテスト記録パワーよりも大きなテスト記録パワーを設定し、出力部４０３は、新たに設定されたテスト記録パワーを示す信号１０９を記録部２１０に出力する。記録部２１０は、新たに設定されたテスト記録パワーでテストデータを記録する。再生部１０４は、新たに記録されたテストデータを読み出し、計算部４０２は、再び、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいか否かを判定する。計算部４０２は、再生部１０４がＭｉｎｄの値よりも大きな変調度を測定するまで、より大きな複数のテスト記録パワーを設定する。

また、計算部４０２は、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいか否かを判定する。計算部４０２が、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいと判定した場合、計算部４０２は、前のテスト記録パワーよりも小さなテスト記録パワーを設定する。出力部４０３は、新たに設定されたテスト記録パワーを示す信号１０９を記録部２１０に出力する。記録部２１０は、新たに設定されたテスト記録パワーでテストデータを記録する。再生部１０４は、新たに記録されたテストデータを読み出し、計算部４０２は、再び、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいか否かを判定する。計算部４０２は、再生部１０４がＭｉｎｄの値よりも小さな変調度を測定するまで、より小さな複数のテスト記録パワーを設定する。

このようにして、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認する。

図１４（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。計算部４０２は、図１４（ａ）に示すように、最も小さいテスト記録パワーＨの変調度がＭｉｎｄ以下であり、最も大きいテスト記録パワーＡの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認する。

次いで、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認した後、複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度と複数のテスト記録パワーの２乗との積を計算する。

図１４（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。

次いで、図１３のＳ３６において、計算部４０２は、図１４（ｂ）に示すように、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ５００を計算する。

次いで、図１３のＳ３８に示すように、計算部４０２は、記録パワーＰ５００に基づいて、以下に示す（式１）に従って、ユーザデータを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ５００×（−１／κ＋２）×ρ ・・・（式１）

出力部４０３は、記録パワーＰｗ１を示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

本実施形態によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定する際に用いたテスト記録パワーの範囲に近いテスト記録パワーの範囲で記録を行うことになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより適切に求めることができる。

なお、上述した説明では、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認しているが、複数のテスト記録パワーのうち最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であるという条件をさらに追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲で記録することになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、複数のテスト記録パワーのうち最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以内であるという条件をさらに追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近いテスト記録パワーの範囲で記録することになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、最も小さいテスト記録パワーが、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であり、かつ、最も大きいテスト記録パワーが、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であることにより、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定する際に用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録するのであれば、変調度がＭｉｎｄとなる記録パワーに対する前後のマージンは１０％でなくてもよい。

また、図１４（ａ）のグラフから推察されるように、記録パワーが大きくなるにつれて光ディスク１０１に形成されるマークの幅が太くなり、結果として変調度が増加するが、記録パワーがある程度以上大きくなると、トラックの幅による制限の影響が大きくなって、マークの幅は飽和し、それに伴い、変調度も飽和する。記録パワーと変調度との関係では、記録パワーの大きさを３つの範囲に分類することができる。１つめの範囲は、トラックの影響を全く受けずに変調度が増加する範囲（テスト記録パワーＨよりも小さい範囲）であり、２つめの範囲は、トラックの影響を受けながら変調度が増加する範囲（テスト記録パワーＨからテスト記録パワーＡの範囲）であり、３つ目の範囲は、トラックの影響を受けて変調度が飽和する範囲（テスト記録パワーＡよりも大きい範囲）である。

図１４（ｂ）に示すように、テスト記録パワーＡ〜Ｈの範囲では、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係は、高い直線性を示すが、テスト記録パワーＡよりも大きい記録パワーおよびテスト記録パワーＨよりも小さい記録パワーでは、マークの幅を決定する要因が異なるため、高い直線性を示すとは限らない。

さらに、マークが形成される臨界的な記録パワーからテスト記録パワーＨまでの記録パワーの範囲は非常に狭い。また、テスト記録パワーＡよりも大きい記録パワーでは変調度は飽和しているので、外乱に伴う最適な記録パワーの変化を検出することが難しい。したがって、記録パワーを決定するときに用いる変調度の範囲は、トラックの影響を受けながら変調度が増加する範囲であることが妥当である。

記録パワーがトラックの影響を全く受けずに変調度が増加する範囲になるケースとしては、光ディスク１０１や光ヘッド１０２に埃が付着したケース、光ディスク１０１と光ヘッド１０２の間に相対的なチルトやデフォーカス等の外乱が生じているケースや、あるいは、光ヘッド１０２の温度変化によって、光ヘッド１０２から出射される光ビームの強度が減少しているケースがあり、また、記録パワーがトラックの影響を受けて変調度が飽和する範囲になるケースとしては、光ヘッド１０２の温度変化に応じて、光ヘッド１０２から出射される光ビームの強度が増加しているケースがある。

上述した説明では、テスト記録パワーＨの変調度がＭｉｎｄの値よりも大きい場合には、前のテスト記録パワーよりも小さいテスト記録パワーを再設定して、再度テストデータを記録し、同様に、テスト記録パワーＡの変調度がＭｉｎｄの値よりも小さい場合には、前のテスト記録パワーよりも大きいテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録しているが、本実施形態はこれに限定されない。テスト記録パワーの範囲を広くして、所定の変調度の範囲のみを用いて、記録パワーを決定してもよい。

しかしながら、テスト記録パワーの範囲を広くするためには、隣接する記録パワーの差を大きくするか、記録パワーを決定するために用いる領域を広くするかのいずれかを行う必要があるが、前者は精度が悪くなり、後者は記録パワーを決定するまでの時間が増加するという問題、あるいは、記録パワーを決定するために用いる領域の消耗を早めるという問題が生じる。特に、追加型の光ディスクには上書きができないため、記録パワーを決定するために用いる領域を広くすることは好ましくない。したがって、隣接するテスト記録パワーの差をＰｉｎｄの値の１０％以下にし、１トラック以下の記録領域で、８Ｔマークを形成するようにテストデータを記録し、所定の変調度の範囲に入らなかった場合にのみ再度テスト記録パワーの範囲を設定してテストデータを記録することが好ましい。これにより、短時間で精度の高い記録パワーを決定することができる。

以上のように、本実施形態の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができる。

（実施形態４）
以下に、図１５を参照して、本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の第４の実施形態について説明する。

実施形態３では、複数のテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係に基づいて第１の記録パワーを計算したが、本発明は、これに限定されない。

本実施形態では、べき指数が１の場合について説明する。

本実施形態の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本実施形態の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本実施形態の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

上述したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスク１０１の所定の領域には、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値が記録されている。本実施形態の記録パワー決定装置１０８は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認することは、実施形態３において説明した記録パワー決定装置と同様であるので、本実施形態の記録パワー決定装置１０８のうち実施形態３の記載と重複する部分を省略する。

図１５（ａ）は、テスト記録パワーとテスト記録パワーに対応する変調度との関係を示すグラフである。記録パワー決定装置１０８の計算部４０２は、図１５（ａ）に示すように、最も小さいテスト記録パワーＨの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きいテスト記録パワーＡの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認する。

次いで、計算部４０２は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認した後、複数の変調度と複数のテスト記録パワーとの積を計算する。

図１５（ｂ）は、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。

計算部４０２は、図１５（ｂ）に示すように、複数のテスト記録パワーと複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、近似直線において積が０となる記録パワーＰ１５００を計算する。次いで、計算部４０２は、以下に示す（式３）に従って、データを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

Ｐｗ１＝Ｐ１５００×κ×ρ ・・・（式３）

本実施形態によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより正確に求めることができる。

なお、上述した説明では、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認しているが、最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であるという条件を追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

同様に、最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であるという条件を追加することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲により近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、最も小さいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの０．９倍以上であり、かつ、最も大きいテスト記録パワーは、変調度が略Ｍｉｎｄとなる記録パワーの１．１倍以下であることにより、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをさらに正確に求めることができる。

また、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近いテスト記録パワーの範囲で記録すれば、変調度がＭｉｎｄとなる記録パワーに対する前後のマージンは１０％でなくてもよい。

べき指数の値が１の場合には、図１５（ｂ）に示すように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が、べき指数の値が２であるときの相関関係の直線性ほどにはよくない場合があり、設定するテスト記録パワーの範囲の違いに応じて、積が０となる記録パワーＰｔｈｒの値がやや変動する場合があるので、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が高い第３の実施形態よりも、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することが好ましい。

なお、上述した説明では、テスト記録パワーＨの変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きい場合には、前のテスト記録パワーよりも低いテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録し、同様に、記録パワーＡの変調度がＭｉｎｄの値よりも小さい場合には、前に記録したときのテスト記録パワーよりも大きいテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録しているが、テスト記録パワーの範囲を広くして、所定の変調度の範囲のみを用いて記録パワーを決定してもよい。

しかしながら、テスト記録パワーの範囲を広くするためには、隣接するテスト記録パワーの差を大きくするか、記録パワーを決定するために用いる領域を広くするかのいずれかを行う必要があるが、前者は精度が悪くなり、後者は記録パワーを決定するまでの時間が増加するという問題がある。第３の実施形態と同様に、テスト記録パワーの差をＰｉｎｄの値の１０％以下にし、１トラック以下の記録領域でテストデータを記録し、記録パワーを決定できない場合にのみ再度テスト記録パワーの範囲を設定してテストデータを記録することが好ましい。これにより、短時間で精度の高い記録パワーを決定することができる。

なお、上述した実施形態３〜４では、べき指数の値が１の場合と２の場合について説明したが、べき指数は、実数であれば、任意の値であってもよい。また、実施形態３〜４においても、実施形態２において説明したように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなるようにべき指数ｎの値を選択してもよい。この場合、べき指数ｎの値に対応する相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲が広くても、積が０となる記録パワーがほぼ一義的に決定されるので、より短時間で適切な記録パワーを決定することができる。また、この場合も選択されたべき指数ｎの値を光ディスクに記録することが好ましい。べき指数ｎの値を光ディスクに記録することにより、ディスクメーカーが記録膜を設計する自由度を拡大することができる。

以上のように、実施形態３〜４によれば、（Ｍｉｎｄの値）を光ディスク１０１から読み出し、Ｍｉｎｄの値を参照して、変調度と記録パワーのｎ乗との積を計算することにより、データを記録する際の記録パワーを適切に決定することができる。

なお、上述した実施形態１〜４の光ディスク装置は、光ディスクにデータを記録し、光ディスクに記録されたデータを再生したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、データを記録する前に複数のテスト記録パワーで記録する情報記録装置に適用可能である。

また、上述した実施形態１〜４は、情報記録媒体として光ディスクを用いたが本発明はこれに限定されない。本発明は、記録パワーを決定する任意の情報記録媒体に適用することができる。

また、上述した実施形態１〜４では、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式でデータを記録したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、他の記録方式を用いてもよい。Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式以外の変調方式を用いる場合には、その方式における最長マークと最長スペースが連続した信号を多く含む信号に対応するテストデータを記録することが好ましい。また、本発明は、任意の単一周期の信号を用いてもよい。任意の単一周期の信号を用いる場合、信号の振幅が、最長マークと最長スペースの信号の振幅と同程度であることが好ましい。

また、上述した実施形態１〜４では、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク共通であり、Ｔｍｐは全マーク共通であるとしたが、本発明はこれに限定されない。記録パワーを決定するためのパラメータとして、別のパラメータを用いてもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類して設定したが、本発明はこれに限定されない。分類は、別の分類方法を用いてもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、本実施形態ではピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定としたが、本発明はこれに限定されない。ピークパワーやバイアスパワーやボトムパワーをそれぞれ独立に決定してもよい。例えば、ピークパワーを決定する際には、バイアスパワー、ボトムパワーを固定にするというように、それぞれのパワーを個別に決定してもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、８つのテスト記録パワーでテストデータを記録したが、本発明はこれに限定されない。本発明は、複数のテスト記録パワーで記録する場合に適用することができる。

なお、上述した実施形態１〜４では、記録パワー決定装置１０８はテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していたが、本発明はこれに限定されない。記録パワー決定装置１０８がテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していなくてもよく、記録パワー設定部１１０は、レーザ駆動回路１１２に設定したテスト記録パワーＡ〜Ｈを示す信号を記録パワー決定装置１０８に出力してもよい。

また、上述した実施形態１〜４では、記録パワー決定装置１０８が記録パワーを決定したが、記録パワー決定装置および周辺の構成要素がＩＣに組み込まれている場合でも同様の効果を有する。

本発明の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。また、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

本発明における光ディスクを示す模式図である。 本発明による光ディスク装置の実施形態を示す模式図である。 本発明において二値化信号波形とマークを形成するためのパルス波形との関係を説明するための模式図である。 本発明による光ディスク装置における再生部の実施形態を示す模式図である。 本発明による光ディスク装置における記録パワー決定装置の実施形態を示す模式図である。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するためのフローチャートである。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）は記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）は記録パワーと（変調度と記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第１の実施形態を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第２の実施形態におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフであり、（ｃ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第３の実施形態を説明するためのフローチャートである。 本発明による記録パワー決定方法の第３の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。 本発明による記録パワー決定方法の第４の実施形態を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。 一般的な光ディスクを示す模式図である。 従来の光ディスク装置を示す模式図である。 従来の光ディスク装置において再生部を示す模式図である。 変調度を説明するための模式図である。 従来の記録パワー決定方法において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。 従来の第１の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。 従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。 従来の第１の記録パワー決定方法におけるチルトの影響を説明するための図であり、記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。 従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。

符号の説明

１００ 光ディスク装置
１０１ 光ディスク
１０２ 光ヘッド
１０４ 再生部
１０６ 復調・ＥＣＣ回路
１０８ 記録パワー決定装置
１１０ 記録パワー設定部
１１２ レーザ駆動回路
１１４ 記録データ生成部
２１０ 記録部
２２０ 読み出し部

本発明は、光ディスクに関する。

本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、適切な記録パワーを決定することのできる光ディスクを提供することを目的とする。

本発明の光ディスクは、光ビームの照射によってデータの記録が行われる光ディスクであって、前記光ディスクには、データを記録する際の光ビームの記録パワーを決定するためのべき指数が記録されており、前記べき指数は、テスト記録パワーとの相関関係を求めるための情報であって、前記テスト記録パワーのｎ乗（ｎは０，１以外の実数）と対応する変調度との積の情報における前記ｎである。

本発明の光ディスクによれば、光ディスクに記録されたべき指数を読み出し、その値を用いることにより、適切な記録パワーを決定することができる。

（実施形態１）
以下に、図１〜図１１を参照して、本発明による光ディスクの第１の実施形態を説明する。

図２は、記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００を示す模式図である。光ディスク装置１００は、光ビームを用いて光ディスク１０１にデータを記録する記録部２１０と、光ディスク１０１に記録されたデータを読み出す読み出し部２２０と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置１０８と、復調・ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ Ｃｏｒｅｃｔｉｎｇ Ｃｏｄｅ）回路１０６とを備える。記録部２１０は、光ヘッド１０２と、記録パワー設定部１１０と、レーザ駆動回路１１２と、記録データ生成部１１４とを備える。読み出し部２２０は、光ヘッド１０２と、再生部１０４とを備える。

記録パワーのパラメータは、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）およびボトムパワー（Ｐｂｗ）である。ここでは、ピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定である。図３に示すように、Ｐｐを示すパルスは、２Ｔマークに１つ、３Ｔマークに２つであり、マーク長がＴ長くなる毎に１つずつ増えている。

ここでは、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク（２Ｔ〜８Ｔ）に共通して同じである。また、Ｔｍｐも全マークに共通して同じである。Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類されて設定されている。

図４は、光ディスク装置１００における再生部１０４を示す模式図である。図４に示すように、再生部１０４は、プリアンプ２０１と、サンプルホールド回路２０２と、ＡＤ変換器２０３と、演算器２０４と、二値化データ生成部２０５とを備える。

図５は、記録パワー決定装置１０８を示す模式図である。図５に示すように、記録パワー決定装置１０８は、変調度を示す信号１０７が入力される入力部４０１と、記録部２１０が光ディスク１０１にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを計算する計算部４０２と、記録部２１０の記録パワー設定部１１０に出力する出力部４０３と、メモリ４０４とを備える。

以下に、図６を参照して、記録パワー決定方法を説明する。

図４に示したように、再生部１０４において、プリアンプ２０１は信号１０３を増幅する。サンプルホールド回路２０２は、プリアンプ２０１によって増幅された信号のピーク値およびボトム値をホールドする。ＡＤ変換器２０３は、サンプルホールド回路２０２によってホールドされた信号のピーク値とボトム値をデジタル化する。演算器２０４は、デジタル化されたピーク値とボトム値とを演算して、信号の変調度を得る。テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて信号７０３の振幅は異なるので、テスト記録パワーＡ〜Ｈに応じて変調度は異なる。演算器２０４は、信号の変調度を示す信号１０７を生成し、信号１０７を記録パワー決定装置１０８に出力する。

記録パワー決定装置１０８は、図９（ｂ）のグラフに示されるように、近似直線において（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーＰ１２０３を計算し、記録パワーＰ１２０３と光ディスク１０１に記録されている所定の値とに基づいて記録パワーを計算し、計算された記録パワーを示す信号１０９を記録パワー設定部１１０に出力する。

このとき、実線１２０３Ｂに示された結果には、記録時におけるチルトの影響に加えて、読み出し時におけるチルトの影響も加わっている。上述したように、記録パワーを決定する際には記録時におけるチルトの影響のみを考慮すればよいので、このときに選択されるべき記録パワーは本質的には記録パワーＰ１２０２であるが、図９（ｂ）に示すように、記録パワー決定方法に従って選択された記録パワーＰ１２０３は、本来選択されるべき記録パワーＰ１２０２と実験的にほぼ等しいことが確認されている。

すなわち、近似直線において（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、０でない変調度が測定されるので、近似直線において（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

以上のように、光ディスクと光ヘッドとの間に相対的にチルトが発生している場合でも、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、繰り返し記録を行ったときに光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。

さらに、チルトに限定されず、記録時における変調度の劣化および再生時における変調度の劣化といった両方の劣化が生じるようなストレスに対して、適切な記録パワーを決定することができる。

また、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ）規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

テスト記録パワーと（テスト記録パワーの２乗と変調度との積）との関係から変調度が０に相当する記録パワーＰｔｈｒに相当する値を計算し、記録パワーＰｔｈｒとκの値とから記録パワー（すなわち、Ｐｉｎｄに相当する値）を計算し、その記録パワーとρの値とから記録パワーＰｗを計算する。

以下に、光ディスクがＢＤ規格に準拠する場合における記録パワー決定方法を説明する。

テストデータを読み出して、図８（ａ）に示すような結果が得られたとき、記録パワー決定装置１０８は、図８（ｂ）に示すように、近似直線において変調度とテスト記録パワーの２乗との積が０となる記録パワーＰ５００を計算し、以下に示す（式１）に従って、データを記録するための記録パワーＰｗ１を計算する。

以上のように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

なお、上述した説明では、（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）を用いて、すなわち、テスト記録パワーのべき指数ｎの値が２の場合の積を用いて、第１の記録パワー（Ｐ５００）を計算したが、これに限定されない。光ディスクの構造または記録膜の特性の違いに起因して、べき指数ｎの値が２以外の値のときに、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなることがある。したがって、べき指数ｎの値は２に限定されない。

したがって、べき指数ｎの値は、１以外の実数であればよい。べき指数ｎの値について、既存のいくつかの光ディスクで対して実験したところ、例えば、べき指数ｎの値が１．５〜２．５のとき、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなった。しかし、べき指数ｎの値はこれに限定されず、べき指数ｎの値は例えば０．５であってもよいし、−１であってもよい。また、従来技術にて説明したように、べき指数ｎが０の場合、テスト記録パワーと変調度との相関関係の直線性が低いため、べき指数ｎは０を含まない。

テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くすることができるので、テスト記録パワーによらず、近似直線において変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積が０となる記録パワーを計算することができる。

また、光ディスク１０１にべき指数ｎの値が記録されていることが好ましい。

記録パワー決定方法は、ＢＤ規格に準拠する光ディスク装置のように、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求される光ディスク装置において特に有効である。

（参考例１）
以下に、図１２を参照して、記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の参考例１について説明する。

本参考例の記録パワー決定装置１０８は、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本参考例の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本参考例の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

本参考例の記録パワー決定装置１０８は、べき指数ｎの複数の値のそれぞれについて変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積を計算し、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性を計算し、複数の値のうち直線性の最も高い値を用いて記録パワーを決定する点で、実施形態１において説明した記録パワー決定装置とは異なる。

また、本参考例における直線性の比較方法は、これらに限定されない。計算部４０２は、複数の値のそれぞれについて、複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、あるテスト記録パワー群を設定し、前記あるテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、複数のテスト記録パワーから選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる、別のテスト記録パワー群を設定して、異なるテスト記録パワー群ごとに直線を形成し、直線の傾きを計算して、直線性を比較してもよい。

また、実施形態１において説明したのと同様に、べき指数ｎの値が３の場合も、近似直線において（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）が０となる記録パワーは、光ディスク１０１にマークを形成するために必要な臨界的な記録パワーであり、この記録パワーより大きな記録パワーで記録する場合は、読み出し時におけるチルトの発生の有無にかかわらず、変調度が測定されるので、近似直線において（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）が０となる記録パワーは、読み出し時におけるチルトの発生にかかわらず、等しくなると考えられる。

また、近年、複数の記録膜を有する光ディスクが開発されているが、本参考例によれば、１枚の光ディスクの複数の記録膜ごとに、べき指数ｎの値を適切に決定することができる。

また、本参考例の記録パワー決定装置１０８において、出力部４０２は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録するように、記録部２１０に信号を出力し、記録部２１０は、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を光ディスク１０１に記録する。光ディスク１０１には、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を記録するための領域が予め設けられていてもよいし、あるいは、べき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値は、光ディスク１０１のユーザデータ領域に記録されてもよい。このように、光ディスク１０１の所定の領域にべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値が記録されている場合、その光ディスク１０１を装填された光ディスク装置１００は、記録パワーを決定するときに、光ディスク１０１に記録されたべき指数ｎの複数の値のうち直線性の最も高い値を読み出し、その値を用いることによって、直線性の比較を行うことなく、適切な記録パワーを速やかに決定することができる。

本参考例において、光ディスク１０１には、光ディスク１０１を識別するための識別情報が記録されている。識別情報は、例えば、光ディスク１０１を製造したディスクメーカーに関する情報であり、あるいは、光ディスク１０１のロットに関する情報である。

なお、実施形態１と同様に、ＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

なお、上述した説明では、べき指数ｎの値は２および３であったが、光ディスクの構造や光ディスクの記録膜の特性の違いにより、２および３以外の値のときに、直線性が高くなる場合がある。べき指数ｎの値は２および３に限定されず、べき指数の値は１以外の実数であれば、任意の値であってもよい。記録パワーを計算するとき、κおよびρに関する係数はべき指数ｎの値に応じて変化する。例えば、べき指数ｎの値が０の場合、計算部４０２は、以下に示す（式２'）にしたがって記録パワーＰｗ１を計算する。

また、上述した説明では、２つの値に対して直線性を比較したが、これに限定されない。本参考例は、３つ以上の値に対して直線性を比較してもよく、例えば、べき指数の値は、２、２．５、３の３つの値から直線性の高い値を決定してもよい。

テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗（ｎは１以外の実数）との積）との相関関係に基づいて、べき指数ｎの少なくとも２つの値のうち直線性の高い値を計算することで、テスト記録パワーの範囲に依存することなく、適切な記録パワーを決定することができる。

（参考例２）
以下に、図１４を参照して、記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の参考例２について説明する。

本参考例の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本参考例の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本参考例の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

以下に、図１３を参照して、本参考例の記録パワー決定方法を説明する。

本参考例によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定する際に用いたテスト記録パワーの範囲に近いテスト記録パワーの範囲で記録を行うことになり、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより適切に求めることができる。

上述した説明では、テスト記録パワーＨの変調度がＭｉｎｄの値よりも大きい場合には、前のテスト記録パワーよりも小さいテスト記録パワーを再設定して、再度テストデータを記録し、同様に、テスト記録パワーＡの変調度がＭｉｎｄの値よりも小さい場合には、前のテスト記録パワーよりも大きいテスト記録パワーを再設定して再度テストデータを記録しているが、本参考例はこれに限定されない。テスト記録パワーの範囲を広くして、所定の変調度の範囲のみを用いて、記録パワーを決定してもよい。

以上のように、本参考例の記録パワー決定方法および記録パワー決定装置によれば、適切な記録パワーを決定することができる。

（参考例３）
以下に、図１５を参照して、記録パワー決定方法および記録パワー決定装置の参考例３について説明する。

参考例２では、複数のテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係に基づいて第１の記録パワーを計算したが、これに限定されない。

本参考例では、べき指数が１の場合について説明する。

本参考例の記録パワー決定装置１０８も、図５を参照して実施形態１において説明した記録パワー決定装置と同様の構成を備えており、本参考例の記録パワー決定装置１０８を備えた光ディスク装置１００も図２を参照して実施形態１において説明した光ディスク装置と同様の構成を備えている。したがって、冗長さを避けるために、本参考例の記録パワー決定装置１０８および光ディスク装置１００の記載のうち実施形態１の記載と重複する部分を省略する。

上述したように、ＢＤ規格に準拠した光ディスク１０１の所定の領域には、Ｐｉｎｄの値、ρの値、κの値、Ｍｉｎｄの値が記録されている。本参考例の記録パワー決定装置１０８は、最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きく、最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さいことを確認することは、参考例２において説明した記録パワー決定装置と同様であるので、本参考例の記録パワー決定装置１０８のうち参考例２の記載と重複する部分を省略する。

本参考例によれば、変調度と（Ｍｉｎｄの値）との関係を確認し、変調度のうち最も小さい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも小さく、変調度のうち最も大きい変調度が（Ｍｉｎｄの値）よりも大きいことを確認することにより、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することができ、ディスクメーカーの推奨する記録パワーをより正確に求めることができる。

べき指数の値が１の場合には、図１５（ｂ）に示すように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が、べき指数の値が２であるときの相関関係の直線性ほどにはよくない場合があり、設定するテスト記録パワーの範囲の違いに応じて、近似直線において積が０となる記録パワーＰｔｈｒの値がやや変動する場合があるので、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）の相関関係の直線性が高い参考例２よりも、ディスクメーカーがＰｉｎｄを決定するときに用いたテスト記録パワーの範囲に近い範囲のテスト記録パワーで記録することが好ましい。

しかしながら、テスト記録パワーの範囲を広くするためには、隣接するテスト記録パワーの差を大きくするか、記録パワーを決定するために用いる領域を広くするかのいずれかを行う必要があるが、前者は精度が悪くなり、後者は記録パワーを決定するまでの時間が増加するという問題がある。参考例２と同様に、テスト記録パワーの差をＰｉｎｄの値の１０％以下にし、１トラック以下の記録領域でテストデータを記録し、記録パワーを決定できない場合にのみ再度テスト記録パワーの範囲を設定してテストデータを記録することが好ましい。これにより、短時間で精度の高い記録パワーを決定することができる。

なお、上述した参考例２〜３では、べき指数の値が１の場合と２の場合について説明したが、べき指数は、実数であれば、任意の値であってもよい。また、参考例２〜３においても、参考例１において説明したように、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーのｎ乗との積）との相関関係の直線性が高くなるようにべき指数ｎの値を選択してもよい。この場合、べき指数ｎの値に対応する相関関係の直線性が高いので、テスト記録パワーの範囲が広くても、近似直線において積が０となる記録パワーがほぼ一義的に決定されるので、より短時間で適切な記録パワーを決定することができる。また、この場合も選択されたべき指数ｎの値を光ディスクに記録することが好ましい。

以上のように、参考例２〜３によれば、（Ｍｉｎｄの値）を光ディスク１０１から読み出し、Ｍｉｎｄの値を参照して、変調度と記録パワーのｎ乗との積を計算することにより、データを記録する際の記録パワーを適切に決定することができる。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３では、Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式でデータを記録したが、これに限定されない。他の記録方式を用いてもよい。Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ（１，７）変調方式以外の変調方式を用いる場合には、その方式における最長マークと最長スペースが連続した信号を多く含む信号に対応するテストデータを記録することが好ましい。また、任意の単一周期の信号を用いてもよい。任意の単一周期の信号を用いる場合、信号の振幅が、最長マークと最長スペースの信号の振幅と同程度であることが好ましい。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３では、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）、ボトムパワー（Ｐｂｗ）は全マーク共通であり、Ｔｍｐは全マーク共通であるとしたが、これに限定されない。記録パワーを決定するためのパラメータとして、別のパラメータを用いてもよい。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３では、Ｔｔｏｐ、ｄＴｔｏｐ、ｄＴｅは２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ以上の３つに分類して設定したが、これに限定されない。分類は、別の分類方法を用いてもよい。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３ではピークパワー、バイアスパワー、ボトムパワーの比は一定としたが、これに限定されない。ピークパワーやバイアスパワーやボトムパワーをそれぞれ独立に決定してもよい。例えば、ピークパワーを決定する際には、バイアスパワー、ボトムパワーを固定にするというように、それぞれのパワーを個別に決定してもよい。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３では、８つのテスト記録パワーでテストデータを記録したが、これに限定されない。複数のテスト記録パワーで記録する場合に適用することができる。

なお、上述した実施形態１および参考例１〜３では、記録パワー決定装置１０８はテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していたが、これに限定されない。記録パワー決定装置１０８がテスト記録パワーＡ〜Ｈを予め決定していなくてもよく、記録パワー設定部１１０は、レーザ駆動回路１１２に設定したテスト記録パワーＡ〜Ｈを示す信号を記録パワー決定装置１０８に出力してもよい。

また、上述した実施形態１および参考例１〜３では、記録パワー決定装置１０８が記録パワーを決定したが、記録パワー決定装置および周辺の構成要素がＩＣに組み込まれている場合でも同様の効果を有する。

本発明の光ディスクによれば、適切な記録パワーを決定することができ、それにより、データを適切に記録することができる。また、光ディスクが早く劣化することを防ぐことができる。また、高密度に記録するために、より高精度に記録パワーを制御することが要求されるＢＤ規格に準拠した光ディスク装置において特に有効である。

【図面の簡単な説明】
【図１】本発明における光ディスクを示す模式図である。
【図２】 光ディスク装置を示す模式図である。
【図３】 二値化信号波形とマークを形成するためのパルス波形との関係を説明するための模式図である。
【図４】 光ディスク装置における再生部を示す模式図である。
【図５】 光ディスク装置における記録パワー決定装置を示す模式図である。
【図６】 記録パワー決定方法を説明するためのフローチャートである。
【図７】 記録パワー決定方法において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。
【図８】 記録パワー決定方法を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
【図９】 記録パワー決定方法におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）は記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）は記録パワーと（変調度と記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
【図１０】 記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
【図１１】 記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
【図１２】 記録パワー決定方法の参考例１におけるチルトの影響を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフであり、（ｃ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの３乗との積）との関係を示すグラフである。
【図１３】 記録パワー決定方法の参考例２を説明するためのフローチャートである。
【図１４】 記録パワー決定方法の参考例２を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーの２乗との積）との関係を示すグラフである。
【図１５】 記録パワー決定方法の参考例３を説明するための図であり、（ａ）はテスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフであり、（ｂ）はテスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
【図１６】一般的な光ディスクを示す模式図である。
【図１７】従来の光ディスク装置を示す模式図である。
【図１８】従来の光ディスク装置において再生部を示す模式図である。
【図１９】変調度を説明するための模式図である。
【図２０】従来の記録パワー決定方法において光ディスクに複数のテスト記録パワーでテストデータを記録することを説明するための模式図である。
【図２１】従来の第１の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
【図２２】従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。
【図２３】従来の第１の記録パワー決定方法におけるチルトの影響を説明するための図であり、記録パワーと変調度との関係を示すグラフである。
【図２４】従来の第２の記録パワー決定方法を説明するための図であり、テスト記録パワーと（変調度とテスト記録パワーとの積）との関係を示すグラフである。

Claims (42)

1. 情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定方法であって、
   複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータをそれぞれ記録する工程と、
   各テスト記録パワーで記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定する工程と、
   各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程と、
   前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算する工程と、
   前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する工程と
   を包含する、記録パワー決定方法。
2. 前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
3. 前記複数の積を得る工程において、前記べき指数ｎの値は２である、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
4. 前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、
   前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、
   前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、
   前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、
   前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含み、
   前記記録パワーを計算する工程は、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する工程を含む、請求項３に記載の記録パワー決定方法。
5. 前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、
   前記情報記録媒体には、前記べき指数ｎの値が記録されており、
   前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程は、前記べき指数ｎの値を読み出す工程を含み、
   前記複数の積を得る工程は、前記読み出したべき指数ｎの値を用いる工程を含む、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
6. 前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する工程を含む、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
7. 前記情報記録媒体には、変調された光ビームによって、複数のマークと複数のスペースとが形成され、
   前記テストデータを記録する工程は、前記変調度を測定する工程において生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する工程を含む、請求項６に記載の記録パワー決定方法。
8. 前記情報記録媒体には、複数のトラックが同心円状またはスパイラル状に形成されている、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
9. 前記複数の積を得る工程は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得る工程を含み、
   前記記録パワー決定方法は、
   前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程をさらに包含し、
   前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数の値のうち直線性の最も高い値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する工程を含む、請求項１に記載の記録パワー決定方法。
10. 前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、
    前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である、請求項９に記載の記録パワー決定方法。
11. 前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された値を読み出す工程をさらに包含し、
    前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、
    前記読み出す工程は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出す工程を含み、
    前記記録する工程は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に設定する工程を含み、
    前記第１の記録パワーを計算する工程は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する工程を含む、請求項１０に記載の記録パワー決定方法。
12. 前記記録パワーを計算する工程は、
    前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、
    前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する工程を含む、請求項１１に記載の記録パワー決定方法。
13. 前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、
    前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定する工程は、
    前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定する工程と、
    前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算する工程と、
    前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定する工程と、
    前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算する工程と、
    前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得る工程と、
    前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定する工程と、
    前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算する工程と、
    前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定する工程と、
    前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算する工程と、
    前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得る工程と、
    前記第１の比と前記第２の比とを比較する工程と
    を含む、請求項９に記載の記録パワー決定方法。
14. 前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する工程を含む、請求項１３に記載の記録パワー決定方法。
15. 前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算する工程と、
    前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算する工程と
    をさらに含み、
    前記第１のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第２のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第３のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含み、
    前記第４のテスト記録パワー群を設定する工程は、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する工程を含む、請求項１３に記載の記録パワー決定方法。
16. 前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する工程をさらに包含する、請求項９に記載の記録パワー決定方法。
17. 前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、
    前記記録パワー決定方法は、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納する工程をさらに包含する、請求項９に記載の記録パワー決定方法。
18. 前記記録パワー決定方法は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出す工程をさらに包含し、
    前記複数の積を得る工程は、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる工程を含む、請求項１７に記載の記録パワー決定方法。
19. 前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む、請求項１７に記載の記録パワー決定方法。
20. 請求項１から１９のいずれかに記載の記録パワー決定方法の各工程を情報記録装置に実行させるためのプログラム。
21. 記録部が情報記録媒体にデータを記録する際の光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置であって、
    複数のテスト記録パワーに対応する複数の変調度を示す信号が入力される入力部と、
    各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する計算部と、
    前記計算部によって計算された記録パワーを示す信号を前記記録部に出力する出力部と
    を備える、記録パワー決定装置。
22. 前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する、請求項２１に記載の記録パワー決定装置。
23. 前記べき指数ｎの値は２である、請求項２１に記載の記録パワー決定装置。
24. 前記入力部には、Ｐｉｎｄの値と、ρの値と、κの値とを示す信号が入力され、
    前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、
    前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算することによって、前記記録パワーを計算する、請求項２３に記載の記録パワー決定装置。
25. 前記入力部には、前記べき指数ｎの値を示す信号が入力され、
    前記計算部は、前記べき指数ｎの値を用いる、請求項２１に記載の記録パワー決定装置。
26. 前記計算部は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応する値についての前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を用いて、前記第１の記録パワーを計算する、請求項２１に記載の記録パワー決定装置。
27. 前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、
    前記第１の値は２であり、前記第２の値は３である、請求項２６に記載の記録パワー決定装置。
28. 前記入力部には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とを示す信号が入力され、
    前記出力部は、前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍の範囲内のテスト記録パワーを示す信号を前記記録部に出力し、
    前記計算部は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算する、請求項２７に記載の記録パワー決定装置。
29. 前記計算部は、
    前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算し、
    前記べき指数ｎの値が３の場合の直線性が前記べき指数ｎの値が２の場合の直線性よりも高い場合、前記第１の記録パワーと（３×（κの値）−２）／（２×（κの値）−１）と（ρの値）との積を計算する、請求項２８に記載の記録パワー決定装置。
30. 前記複数の値は、第１の値と第２の値とを含み、
    前記計算部は、
    前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第１のテスト記録パワー群を設定し、
    前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第１のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第１の直線を作成し、前記第１の直線の第１の傾きを計算し、
    前記第１の値について、前記第１のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第２のテスト記録パワー群を設定し、
    前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第２のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第２の直線を作成し、前記第２の直線の第２の傾きを計算し、
    前記第１の傾きおよび前記第２の傾きに基づいて、前記第１の値に対応する第１の比を得て、
    前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第３のテスト記録パワー群を設定し、
    前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第３のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第３の直線を作成し、前記第３の直線の第３の傾きを計算し、
    前記第２の値について、前記第３のテスト記録パワー群のテスト記録パワーと完全に同一にならないように、前記複数のテスト記録パワーのうち少なくとも２つのテスト記録パワーを選択して、前記選択された少なくとも２つのテスト記録パワーからなる第４のテスト記録パワー群を設定し、
    前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーと、前記第４のテスト記録パワー群の全てのテスト記録パワーに対応する積とに基づいて第４の直線を作成し、前記第４の直線の第４の傾きを計算し、
    前記第３の傾きおよび前記第４の傾きに基づいて、前記第２の値に対応する第２の比を得て、
    前記第１の比と前記第２の比とを比較することによって、前記第１の値および前記第２の値のうち直線性の高い値を決定する、請求項２６に記載の記録パワー決定装置。
31. 前記計算部は、
    前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、
    前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択し、
    前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も大きい２つの記録パワーを選択し、
    前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記複数のテスト記録パワーのうち最も小さい２つの記録パワーを選択する、請求項３０に記載の記録パワー決定装置。
32. 前記計算部は、
    前記第１の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第１の平均パワーを計算し、
    前記第２の値について、前記複数のテスト記録パワーの全ての平均を示す第２の平均パワーを計算し、
    前記第１のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第１のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、
    前記第２のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第１の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第２のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、
    前記第３のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも大きくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第３のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択し、
    前記第４のテスト記録パワー群を設定するときに、前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーの平均が、前記第２の平均パワーよりも小さくなるように、前記複数のテスト記録パワーのうちから前記第４のテスト記録パワー群に属するテスト記録パワーを選択する、請求項３０に記載の記録パワー決定装置。
33. 前記出力部は、前記記録部が前記複数の値のうち前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録するように前記記録部に信号を出力する、請求項２６に記載の記録パワー決定装置。
34. 光ビームを用いて情報記録媒体にデータを記録する記録部と、
    前記情報記録媒体に記録されたデータを読み出す読み出し部と、
    前記記録部が前記情報記録媒体にデータを記録する際の前記光ビームの記録パワーを決定する記録パワー決定装置と
    を備える、情報記録装置であって、
    前記記録部は、複数のテスト記録パワーで前記情報記録媒体にテストデータを記録し、
    前記読み出し部は、各テスト記録パワーで前記情報記録媒体に記録されたテストデータをそれぞれ読み出して、信号を生成し、各テスト記録パワーに対応する前記信号の変調度をそれぞれ測定し、
    前記記録パワー決定装置は、各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係に基づいて第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーに基づいて前記記録パワーを計算する、情報記録装置。
35. 前記べき指数ｎの値は２であり、
    前記情報記録媒体には、Ｐｉｎｄの値とρの値とκの値とが記録されており、
    前記読み出し部は、前記Ｐｉｎｄの値と前記ρの値と前記κの値とを読み出し、
    前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーの範囲を前記Ｐｉｎｄの値の０．９倍から１．１倍に決定し、
    前記記録パワー決定装置は、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係を示す近似直線を作成し、前記近似直線において前記積が０となる前記第１の記録パワーを計算し、前記第１の記録パワーと（−１／（κの値）＋２）と（ρの値）との積を計算する、請求項３４に記載の情報記録装置。
36. 前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号が、複数の単一周期の信号を含むように前記テストデータを記録する、請求項３４に記載の情報記録装置。
37. 前記記録部は、変調された光ビームによって、前記情報記録媒体に複数のマークと複数のスペースとを形成し、
    前記記録部は、前記読み出し部によって生成される前記信号の振幅が、前記情報記録媒体に形成されるマークうちの最も長いマークの振幅とほぼ同じになるように複数のマークを形成する、請求項３６に記載の情報記録装置。
38. 前記記録パワー決定装置は、前記べき指数ｎが複数の値であり、前記複数の値のそれぞれについて、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、複数の値のそれぞれについて計算することによって、前記複数の値に対応する複数の直線性を計算し、前記複数の値のうち直線性の最も高い値を決定し、
    前記記録部は、前記複数の値のうち、前記直線性の最も高い値を前記情報記録媒体に記録する、請求項３４に記載の情報記録装置。
39. 前記記録パワー決定装置は、直線性の最も高い値を記憶するメモリを含む、請求項３４に記載の情報記録装置。
40. 前記情報記録媒体には、前記情報記録媒体を識別するための識別情報が記録されており、
    前記読み出し部は、前記識別情報を読み出し、
    前記メモリには、前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とを識別情報格納部に格納するための識別情報格納部が設けられ、
    前記識別情報と、前記識別情報に対応する前記複数の値のうち直線性の最も高い値とが、識別情報格納部に格納され、
    前記記録パワー決定装置は、前記情報記録媒体に記録された識別情報を読み出し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一か否かを判定し、前記読み出した識別情報が前記識別情報格納部に格納された識別情報と同一と判定された場合、前記識別情報格納部に格納された前記識別情報に対応する値を用いる、請求項３９に記載の情報記録装置。
41. 前記識別情報は、前記情報記録媒体の製造業者またはロットを示すデータを含む、請求項４０に記載の情報記録装置。
42. 複数のテスト記録パワーのうちの各テスト記録パワーのｎ乗（べき指数ｎは１以外の実数）と、対応する変調度との積を、各テスト記録パワーについてそれぞれ計算することによって、前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積を得て、前記複数のテスト記録パワーと前記複数のテスト記録パワーに対応する複数の積とに基づいて、前記複数のテスト記録パワーと前記複数の積との相関関係の直線性を、べき指数ｎの複数の値について得て、前記複数の直線性のうち最も高い直線性に対応するべき指数ｎの値を格納するための領域を有する、情報記録媒体。

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