CN1306493C - 光盘装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种光盘装置，是在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置，包括：具有利用峰值功率P1来设定激光束记录功率的记录功率设定单元；记录单元；再生单元；再生信号质量检测单元；以及控制单元。所述控制单元通过以下等式获得暂定峰值功率P2：P2＝K1×P1，其中K1＞1；通过以下等式获得上限P3：P3＝K2×P2，其中K2＞1；通过以下等式获得下限P4：P4＝K3×P2，其中K3＜1；以所述上限P3进行记录；以所述下限P4进行记录；确定是否获得了所规定的再生信号质量；以及当获得所规定的再生信号质量时，则将用于数据记录的记录功率设置为大于等于所述下限且小于等于所述上限的记录功率。

Description

光盘装置
本申请是2001年7月27日递交的申请号01813532.3的题为“光盘装置及其记录功率的确定方法”的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置。
背景技术
近年来，光盘装置作为大容量数据的记录再生手段得到了迅速地发展，并开发出各种方法以追求更高的记录密度，利用晶体-非晶体之间的可逆相变的相变光盘装置就是其中一种。
在相变光盘装置中，利用使晶体转变成非晶的峰值功率与使非晶转变成晶体的偏置功率这两种功率，将半导体激光照射到光盘媒体，在光盘媒体上形成标记(非晶部分)和标记之间的空白(晶体部分)。
由于标记和空白的反射率不同，再生时可以利用这种反射率的差异读出所记录的信号。
图14表示现有例的相变光盘装置的结构。图14中，1001为光盘，1002为光头，1003为再生单元，1004为再生信号质量检测单元，1005为最佳记录功率确定单元，1006为记录单元，1007为激光驱动电路，1008为记录功率设定单元。
图15为现有例的光盘1001的光道的结构图。光盘1001的沟状的光道(沟光道1101)与沟间的光道(面光道1102)上均有记录区域，上述沟光道和面光道相互隔开，连接成螺旋形状。
光盘1001安装在光盘装置上，当光盘类型识别或旋转控制等规定操作结束后，光头1002将移动到确定最佳照射功率的区域。还有，上述区域设在光盘的最内圈或最外圈，这一记录区域不属于用户用来记录数据的用户区域。
相变光盘装置中需要确定的功率有峰值功率和偏置功率，这里说明峰值功率的确定方法。
首先，通过记录功率设定单元1008，在激光驱动电路1007设置峰值功率和偏置功率的初始值。此时记录面光道时的功率和记录沟光道时的功率相等。
接着，通过记录单元1006，向激光驱动电路1007传送在规定的位置上记录一圈面光道和一圈沟光道的信号，并通过光头1002进行记录操作。此时，作为光头1002的元件的半导体激光器的输出光束在光盘1001上聚焦成光斑，并随着发光波形而形成记录标记。
面光道和沟光道的记录结束后，光头1002的半导体激光器以再生功率进行发光，再生刚才进行了记录操作的光道，将随着光盘1001上记录标记的有无而变化的信号1009作为再生信号输入到再生单元1003。再生信号1009在再生单元1003进行放大、波形等化、2值化等再生信号处理，然后将信号1010输入到再生信号质量检测单元1004。
再生信号质量检测单元1004对信号1010的质量进行检测，将检测结果输入到最佳记录功率确定单元1005。
这里，再生信号质量检测单元1004将检测再生记录信号时出现的BER(字节错误率)。此时检测的BER为所再生的光道的平均值。图16表示峰值功率与BER的关系。
图16中，横轴为峰值功率，纵轴为BER。再生条件相同时，一般来说BER越小，记录的正确性越高。当BER小于一个临界值时，检测结果为OK。当BER大于这个临界值时，检测结果为NG。
如果按照图17所示的流程，例如再生信号质量检测单元1004的第一次检测结果为NG，最佳记录功率确定单元1005将设定大于初始功率的峰值功率，如果检测结果为OK，设定小于初始功率的峰值功率，然后与前次一样，利用设定好的峰值功率进行面光道和沟光道的记录和再生操作。
如果再生信号质量检测单元1004的第一次检测结果为NG，第二次检测结果为OK，最佳记录功率确定单元1005将此次的峰值功率与前次的峰值功率的平均功率再加上一定的余量，确定为最佳记录功率。
如果再生信号质量检测单元1004的第一次检测结果为OK，第二次检测结果为NG，最佳记录功率确定单元1005将此次的峰值功率与前次的峰值功率的平均功率再加上一定的余量，确定为最佳记录功率。
发明内容
(本发明所要解决的技术问题)
在如上所述的现有技术中，确定最佳照射功率的区域和用户记录数据的用户区域分属不同的区域，由于光盘的弯曲和光头的固定状态等原因，上述2个区域会出现相对倾斜，从而会出现进行用户数据记录操作的功率低于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率的情况，或者出现进行用户数据记录操作的功率高于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率的情况。
如图13所示，利用较强的照射功率进行记录时，所得的标记幅度较宽。因此，如果在利用一台实际较强照射功率的记录装置记录了数据的光道上，再用另外一台实际较弱照射功率的记录装置进行重新记录，衬底上标记存在的区域就会出现消除残余。这样在再生时会产生噪音，从而降低再生性能。
考虑到上述问题，本发明的目的在于提供当实际照射功率出现离散分布时也能正确进行记录操作的光盘装置及其最佳记录功率确定方法。
(解决方法)
为了达成此目的，提出了一种光盘装置，是在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置，其特征在于包括：具有利用峰值功率P1来设定激光束记录功率的记录功率设定单元；进行记录操作的记录单元；进行再生操作的再生单元；检测再生信号质量的再生信号质量检测单元；以及控制单元；通过对所述记录功率设定单元、记录单元、再生单元、再生信号质量检测单元进行控制，所述控制单元通过以下等式获得暂定峰值功率P2∶P2＝K1×P1，其中K1＞1；通过以下等式获得上限P3∶P3＝K2×P2，其中K2＞1；通过以下等式获得下限P4∶P4＝K3×P2，其中K3＜1；以所述上限P3进行记录；以所述下限P4进行记录；确定是否获得了所规定的再生信号质量；以及当获得所规定的再生信号质量时，则将用于数据记录的记录功率设置为大于等于所述下限且小于等于所述上限的记录功率。
另外，为了达成此目的，本发明提出了一种光盘装置，是在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置，其特征在于包括：具有利用峰值功率P1来设定激光束记录功率的记录功率设定单元；进行记录操作的记录单元；进行再生操作的再生单元；检测再生信号质量的再生信号质量检测单元；以及控制单元；通过对所述记录功率设定单元、记录单元、再生单元、再生信号质量检测单元进行控制，所述控制单元：通过以下等式获得暂定峰值功率P2∶P2＝K1×P1，其中K1＞1；通过以下等式获得下限P4∶P4＝K3×P2，其中K3＜1；以所述暂定峰值功率P2进行记录；以所述下限P4进行记录；确定是否获得了所规定的再生信号质量；以及当获得所规定的再生信号质量时，则将用于数据记录的记录功率设置为大于等于所述下限且小于等于所述暂定峰值功率的记录功率。
(优于现有技术的效果)
利用与本发明有关的光盘装置，通过确保了预先设定的上下余量的记录功率进行记录，如果在利用其功率高于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率的光盘装置进行了记录的区域，利用其功率低于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率的光盘装置进行记录时，也能够正确地进行数据记录操作。
还有，利用已经考虑了在相邻光道上进行记录的情况的记录功率进行记录，所以更加能够正确地进行数据记录操作。
附图说明
图1为与本发明的实施方式有关的光盘装置的方框图。
图2为与本发明的实施方式有关的光盘的光道的结构图。
图3为峰值功率与BER的关系图。
图4为本发明的实施方式的流程图。
图5为本发明的实施方式的流程图。
图6为本发明的实施方式的流程图。
图7为本发明的实施方式的流程图。
图8为本发明的实施方式的流程图。
图9为本发明的实施方式的流程图。
图10为本发明的实施方式的流程图。
图11为本发明的实施方式的ECC方框结构图。
图12为峰值功率与抖动的关系图。
图13为峰值功率与记录标记宽度的关系图。
图14为现有例的光盘装置的方框图。
图15为现有例的光盘的光道的结构图。
图16为峰值功率与BER的关系图。
图17为现有例的流程图。
具体实施方式
以下参照图面，说明本发明实施方式的光盘装置。
图1表示本发明实施方式的相变光盘装置的结构。在图1中，100为控制单元，101为光盘，102为光头，103为再生单元，104为再生信号质量检测单元，105为最佳记录功率确定单元，106为记录单元，107为激光驱动电路，108为记录功率设定单元。
图2表示本实施方式的光盘101的光道的结构图。光盘101上的沟状的光道(沟光道202，203)和沟间的光道(面光道201，204)上均有记录区域，上述沟光道和面光道相互隔开，连接成连续螺旋形状。
光盘101安装在光盘装置上，当光盘类型识别或旋转控制等规定操作结束后，光头102将移动到确定最佳照射功率的测试区域。
还有，上述测试区域设为记录区域的一部分，位于光盘的最内圈或最外圈。在记录区域中还有用户用来记录数据的用户区域。下面说明确定记录用功率的过程。通过控制单元100，对光头102、再生单元103、再生信号质量检测单元104、最佳记录功率确定单元105、记录单元106、激光驱动电路107、记录功率设定单元108的一系列动作进行控制。
首先通过记录功率设定单元108在激光驱动电路107内设定峰值功率和偏置功率的初始值。此时记录面光道的功率与记录沟光道的功率相同。
接着，从记录单元106向激光驱动电路107传送对从测试区域的规定位置开始的一圈面光道和一圈沟光道的二者中至少一个进行连续测试记录的测试信号，利用光头102进行记录。现在说明此实施方式中的对一圈面光道和一圈沟光道进行连续测试记录的情况。在测试区域的一圈面光道上有大约30个扇区，在一圈沟光道上也有大约30个扇区。此时作为光头102的元件的半导体激光器的输出光束在光盘101上聚焦成光点，随着发光波形而形成记录标记。
测试记录结束后，光头102的半导体激光器以再生功率进行发光，连续再生刚才进行了测试记录的一圈面光道和一圈沟光道，将随着光盘101上记录标记的有无而变化的信号109作为再生信号输入到再生单元103。再生信号109在再生单元103进行放大、波形等化、2值化等再生信号处理，然后将信号110输入到再生信号质量检测单元104。
再生信号质量检测单元104对信号110的质量进行检测，将检测结果输入到最佳记录功率确定单元105。当再生的面光道的扇区数与沟光道的扇区数大致相等时，这一再生信号质量检测结果就作为面光道和沟光道两个光道的平均再生信号质量结果。
这里，再生信号质量检测单元104将检测再生记录信号时出现的BER(字节错误率)。图3表示峰值功率与BER的关系。图3中，横轴为峰值功率，纵轴为BER。再生条件相同时，一般来说BER越小，记录的正确性越高。
这里，对于进行了测试记录的一圈面光道和一圈沟光道中的大约60个扇区的每个扇区进行BER检测，当检测到的BER小于所规定的临界值时，该扇区为OK扇区(即正常进行了记录的扇区)。当BER大于所规定的临界值时，该扇区为NG扇区(即没有正常进行记录的扇区)。
控制单元100按照图4和图5所示的流程，进行功率确定的控制。
在步骤402，光头移动到测试区域。
在步骤403，确定峰值功率的初始值。这里可以使用再生装置中预先确定的值，可以使用再生装置在前次功率确定操作中确定了并保存在再生装置内的值，可以使用预先写入光盘的值，也可以使用别的再生装置在前次功率确定操作中确定了的并保存在光盘内的值。并且这一步骤403是利用记录功率设定单元108来进行的。
在步骤406，进行面光道和沟光道记录再生测试。这一测试如上所述，在测试区域的一圈面光道和一圈沟光道连续记录，接着在相同的一圈面光道和一圈沟光道连续再生。并且这一步骤406是利用记录单元106和再生单元103来进行的。
在步骤407A，检测每个扇区的BER，并判断该扇区是OK扇区，还是NG扇区。另外，对于进行了测试记录的一圈面光道和一圈沟光道的大约60个扇区，判断是否有半数以上的扇区为OK扇区。如果有半数以上的扇区为OK扇区(即检测结果为OK)，则进入步骤407B，如果半数以上的扇区为NG扇区(即检测结果为NG)，则进入步骤407C。
在步骤407B，设置表示检测结果OK的OK特征码，进入步骤408。
在步骤407C，设置表示检测结果NG的NG特征码，进入步骤409。并且，这些步骤407A、407B、407C是利用再生信号质量检测单元104来进行的。
在步骤408，判断是否设置了表示检测结果NG的NG特征码，即在以前的步骤407A(不是在刚刚结束的407A，而是在上一次的407A)是否出现了检测结果NG。如果出现了检测结果NG，则进入步骤410A。如果没有出现检测结果NG，则进入步骤404A。
在步骤404A，将现在设定的峰值功率降低一个规定量，例如降低初始设定功率的5％。
在步骤404B，判断所降低了的峰值功率是否小于预先确定的最低功率Pmin。如果小于最低功率，则停止记录操作。如果不小于最低功率，则回到步骤406，进行面光道的记录和再生测试。
在步骤409，判断是否设置了表示检测结果OK的OK特征码，即在以前的步骤407A(不是在刚刚结束的407A，而是在上一次的407A)是否出现了检测结果OK。如果出现了检测结果OK，则进入步骤410A。如果没有出现检测结果NG，则进入步骤405A。
在步骤405A，将现在设定的峰值功率增加一个规定量，例如增加初始设定功率的5％。
在步骤405B，判断所增加了的峰值功率是否大于预先确定的最高功率Pmax。如果大于最高功率，则停止记录操作。如果不大于最高功率，则回到步骤406，进行面光道和沟光道的记录再生测试。
在步骤410B，利用下式计算平均功率(P1)。
P1＝{Pn+P(n-1)}/2
这里，Pn为步骤404A之后或者步骤405A之后设定的选定峰值功率，P(n-1)为在选定峰值功率的过程中，在步骤404A之前或者步骤405A之前设定的前次峰值功率。
在步骤411，利用下式计算暂定峰值功率(P2)。
P2＝K1×P1
这里，系数K1满足K1＞1，对于P1增加一个余量。例如，当K1＝1.2，表示增加20％的余量。并且，步骤408、404A、404B、409、405A、405B是利用最佳记录功率确定单元105来进行的。
这样，在确定平均功率P1时，至少通过一次步骤407B后，在后面的过程通过步骤407C(或者至少通过一次步骤407C后，在后面的过程通过步骤407B)，在步骤410B确定平均功率P1。这是因为平均功率P1设定在获得OK特征码的功率区域和获得NG特征码的功率区域的中间附近，即图3的边界点PB附近。
接着，说明3种计算平均峰值功率(P1)和暂定峰值功率(P2)的情况。
如果再生信号质量检测单元104的第一次结果中有一半以上的扇区为NG扇区，第二次结果中有一半的扇区为OK扇区，最佳记录功率确定单元105将在第一次的峰值功率与第二次的峰值功率的平均功率(P1)上加上一定的余量，计算出暂定峰值功率(P2)。
如果再生信号质量检测单元104的第一次结果中有一半以上的扇区为OK扇区，第二次结果中也有一半的扇区为OK扇区，峰值功率将设定为小于第二次记录的峰值功率，并利用该峰值功率进行记录、再生，以及再生信号质量的检测。如果再生信号质量检测单元104的第三次结果中有一半以上的扇区为NG扇区，最佳记录功率确定单元105将在第二次的峰值功率与第三次的峰值功率的平均功率(P1)上加上一定的余量，计算出暂定峰值功率(P2)。
接着，利用图5的流程说明对在步骤411计算出的暂定峰值功率(P2)再进行修正，并求得峰值功率(P5)的方法。
由于产品的厂家不同，或者即使是相同厂家，但型号不同或生产时期不同，暂定峰值功率(P2)也会随产品取不同值，但是可以预计会在某一许可范围(余量)内。
在步骤412，预测暂定峰值功率的上限值(P3)，在步骤413，利用上限值进行面光道和沟光道的记录测试。上限值(P3)可以利用下式进行预测。
P3＝K2×P2
这里，系数K2满足K2＞1，例如K2＝1.05～1.10。
在步骤414，预测暂定峰值功率的下限值(P4)。在步骤415，在与步骤413进行的测试区域相同的区域，利用下限值进行面光道和沟光道的记录和再生测试。下限值(P4)可以利用下式进行预测。
P4＝K3×P2
这里，系数K3满足K3＜1，例如K3＝0.90～0.95。
图13(a)表示步骤413进行的记录测试的标记。此时，暂定峰值功率为上限值，标记比较粗。图13(c)中表示步骤415进行的记录测试的标记。此时，暂定峰值功率为下限值，标记比较细。在此较细的标记周围还残存着较粗的标记的消除残余。还有，图13(b)表示在未记录光道上以下限值的暂定峰值功率进行记录的情况。
为了检查这种消除残余是否对再生信号有不良影响，在步骤416检测每个扇区的BER，判断其是OK扇区，还是NG扇区。还有，对于进行了测试记录的一圈面光道和一圈沟光道的大约60个扇区，判断是否有三分之二以上的扇区为OK扇区。如果有三分之二以上的扇区为OK扇区(即检测结果为OK)，则进入步骤417。如果有三分之一以上的扇区为NG扇区(即检测结果为NG)，则进入步骤418。
在步骤417，利用下式计算最佳峰值功率(P5)
P5＝K4×P3+(1-K4)×P4
这里，系数K4满足K4＜1，例如K4＝0.5。
在许可范围内，利用低于暂定峰值功率的上限值和高于其下限值的功率进行重复记录，并调查再生信号质量时，发现其质量优于步骤416的再生信号质量，所以决定以P4与P3按所规定的比例内分的功率(P5)作为用户数据记录时的峰值功率。
在步骤418，增大K1。例如，增加原来的K1值的20％-25％。
还有，可以考虑在决定最佳照射功率的区域决定的照射功率与用户数据记录时的照射功率的平均偏差，来决定内分比例。当平均偏差较小时，如果步骤416的检测结果为OK，可以将在步骤411计算的P2直接作为P5。
还有，对于再生信号质量的检测方法，在步骤407和步骤416，可以采用相同的检测方法，而改变获得检测结果OK的检测标准。也可以采用后述的不同的检测方法。
还有，本实施方式中，一圈面光道和一圈沟光道作为连续记录和连续再生的区间。在以扇区为记录单位的光盘装置中，也可以以扇区为单位进行记录。
同样，本实施方式中，一圈面光道和一圈沟光道作为连续记录和连续再生的区间。在以块为记录单位的光盘装置中，也可以进行以块为单位进行记录。
例如，在再生信号质量的检测时，也可以记录ECC(Error CodeCorrection)块单位，对错误探测数进行计数。图11为DVD-RAM的ECC块的结构图，1个ECC块由128个字节×208个字节组成。这里，PI为横方向的奇偶校验码，PO为纵方向的奇偶校验码。通过再生这些校验码，可以进行错误检测。例如，在208列的纵方向中，可以认为被检测出错误的列为8列以上时为NG，不到8列时为OK。
和本实施方式一样，通过利用预先确保了上下功率余量的记录功率进行记录时，例如对于利用实际上高于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率进行了记录的区域，利用实际上低于在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率进行记录时，也能够正确地进行数据记录操作。
还有，作为在最佳照射功率确定区域所确定的照射功率与用户数据记录时的照射功率产生不一致的原因，可以有例如由于光盘的弯曲和光头的固定状态引起的2个区域的相对倾斜，光盘自身的记录灵敏度在半径方向的离散性，实际光头的输出激光功率相对设定功率的离散性，确定最佳照射功率区域的污染等。还有，除上述项目以外，上下的功率余量还与光盘的记录性能和错误纠正能力等各项有关，大致可以为±5％～±10％。反过来，当需要比这更大的余量时，就必须提高光盘或光盘装置的性能，减少这些性能的离散性。
另外，对于标记长度为0.5μm以下的高密度记录，由于光盘的微妙特性使得最佳功率也会出现微妙不同，通过对余量的相乘系数K1进行最优化处理，能够确保功率余量，进行最佳记录。
还有，余量的相乘系数K1、设定高功率时的系数K2、设定低功率的系数K3、设定最优化功率的系数K4可以存放在光盘装置，也可以记录在光盘上的特定区域。
还有，因为可能改变余量的相乘系数K1，改变后的K1值可以与光盘识别信息一起存放在光盘装置，也可以与光盘装置识别信息一起记录在光盘的特定区域。通过保存改变后的K1值，能够在下次记录时高效率地获得最佳记录功率。
还有，本实施方式中，虽然在步骤406的测试记录之后进行步骤413的测试记录，在高功率的测试记录之前，可以利用P2的功率进行测试记录，也可以利用偏置功率进行消除操作。这样通过确定P1之前的记录操作，可以减轻消除残余等的影响。
还有，对于确定光盘的最佳照射功率的区域，当基本上没有相对光轴的倾斜时，常常会在用户数据记录区域出现功率不足的现象，如图6和图7的流程所示，利用没有加余量的功率(P2)进行记录(步骤513)，然后设定减去了余量的功率(P4)(步骤514)，利用功率(P4)进行再生操作(步骤515)，检测再生信号质量(步骤516)。如果检测结果为OK，则将高于P4低于P2的所规定的功率(P5)作为用户数据记录时的峰值功率(步骤517)。
还有，在确定最佳照射功率的区域进行测试记录时，为了节约测试记录区域，缩短功率设定时间，常常只记录必需的最低限的光道。例如，图2中，在沟光道202的一部分与面光道204的一部分进行测试记录，至少也能够确定沟光道和面光道的最佳记录功率。但是，实际上记录用户数据时，大多数的场合相邻光道中也记录有数据，另外在其他机会时也可能在相邻光道中记录数据。这样会使得自身光道的再生信号质量变坏，通过连续记录面光道201、沟光道202、面光道204、沟光道203，求出最佳记录功率，可以进行适合用户数据记录的正确的记录操作。图8、图9和图10的流程图表示考虑了对相邻光道进行记录情况的功率确定方法。
还有，对于再生信号质量的检测方法，在步骤607与步骤616，622，可以采用相同的检测方法，而改变获得检测结果OK的检测标准。也可以采用不同的检测方法。
另外，本实施方式中，完成了图8和图9(与图4和图5相同)所示的功率余量确认的处理之后，对如图10所示的相邻光道记录的处理进行组合。即使没有包含功率余量确认，从获得考虑了相邻光道的最佳记录功率这点来看，也是有效果的。
在步骤619，进行功率设定。例如，将峰值功率设定为步骤617所获得的功率(P5)。
在步骤620，连续记录面光道201、沟光道202、面光道204、沟光道203等4个光道。
在步骤621，连续再生相同的4个光道。
在步骤622，进行与步骤607、616相同的检查，如果规定比例(例如三分之二)以上的扇区为OK扇区(即检测结果为OK)，则进入步骤623。如果规定比例(例如三分之一)以上的扇区为NG扇区(即检测结果为NG)，则进入步骤624。检测结果为NG是指峰值功率较大，记录的标记也较粗，再生时误读相邻光道的标记的情况。
在步骤624，减少K1。例如，当K1的值为1.2时，将其减少为1.18。减少的比例可以取例如K1的2％左右。
在步骤623，将峰值功率(P5)设定为最佳峰值功率(P6)。
还有，上述本实施方式中，虽然连续记录了4个光道，只要在再生信号质量检测的光道两侧的光道进行记录，也可以不限定为4个光道。另外，例如只是利用面光道来求得最佳记录功率时，可以在3个以上的光道进行记录。
还有，上述本实施方式中，虽然在步骤615的记录之后进行步骤620的连续光道记录，在连续光道记录之前，可以利用P2的功率进行记录，也可以利用偏置功率进行消除操作。这样通过确定功率余量，可以减轻消除残余等的影响。
还有，本实施方式中，虽然利用再生信号质量检测单元104来检测再生记录信号时的BER(字节错误率)，除了BER(字节错误率)，只要能够检测再生信号质量，也可以利用比特错误率或抖动等。
作为其他方法的一个例子，下面说明检测抖动的方法。图12表示峰值功率与抖动的关系。图12中，横轴为峰值功率，纵轴为抖动。
所谓抖动，指的是再生信号与原始信号的时间差，是由于激光照射功率不足所引起的再生信号振幅降低所造成的，当再生信号振幅增加时，抖动将减少，再生信号振幅饱和后，抖动量将维持一定。另外图13表示的消除残余也会引起抖动增加。如果再生条件相同，一般来说，抖动越小，越能够进行正确地记录。某个扇区的抖动小于临界值时，则为OK扇区。抖动大于临界值时，则为NG扇区。
作为抖动的检测方法，例如可以使2值化信号的基本周期同步，然后利用构成抽出同步信号的PLL(Phase Locked Loop)电路的位相比较器的输出信号。
还有，本实施方式的再生信号质量检测单元104在判定每个扇区时，对面光道和沟光道不进行区别。但是也可以在判定每个扇区时，对面光道和沟光道进行区别。通过对面光道和沟光道进行区别，当两种光道的记录特性不同时，可以分别确定适合各个光道的不同的记录功率。
另外，通过对面光道和沟光道进行区别来再生信号，在确定了一种光道的记录功率后，不需要另外再生一种光道，从而能够节约确定记录功率的时间。
还有，本实施方式中，记录功率设定单元108在设定记录功率时，对面光道和沟光道不进行区别。但是也可以在设定记录功率时，对面光道和沟光道进行区别。通过对面光道和沟光道进行区别，当两种光道的记录特性不同时，可以将分别适合各个光道的不同的记录功率作为初始设定功率，这样可以减少记录功率的设定次数，同时在确定了一种光道的记录功率后，不需要再记录另外一种光道，从而能够节约确定记录功率的时间，并且减少了反复记录造成的劣化。
还有，本实施方式中叙述了可以在面光道和沟光道双方进行记录的光盘，但对于只在一种光道进行记录的光盘同样适用。

Claims (6)

1.一种光盘装置，是在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置，其特征在于包括：
具有利用峰值功率P1来设定激光束记录功率的记录功率设定单元；
进行记录操作的记录单元；
进行再生操作的再生单元；
检测再生信号质量的再生信号质量检测单元；
以及控制单元；
通过对所述记录功率设定单元、记录单元、再生单元、再生信号质量检测单元进行控制，所述控制单元：
通过以下等式获得暂定峰值功率P2：
P2＝K1×P1，其中K1＞1；
通过以下等式获得上限P3：
P3＝K2×P2，其中K2＞1；
通过以下等式获得下限P4：
P4＝K3×P2，其中K3＜1；
以所述上限P3进行记录；
以所述下限P4进行记录；
确定是否获得了所规定的再生信号质量；以及
当获得所规定的再生信号质量时，则将用于数据记录的记录功率设置为大于等于所述下限且小于等于所述上限的记录功率。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：
当未获得所规定的再生信号质量时，则改变暂定峰值功率P2。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于：
利用由记录功率设定单元所设置的多个记录功率进行测试记录，然后根据各自的再生信号质量检测结果，确定所述暂定峰值功率P2。
4.一种光盘装置，是在具有螺旋状伸延的光道的光盘上进行记录操作的光盘装置，其特征在于包括：
具有利用峰值功率P1来设定激光束记录功率的记录功率设定单元；
进行记录操作的记录单元；
进行再生操作的再生单元；
检测再生信号质量的再生信号质量检测单元；
以及控制单元；
通过对所述记录功率设定单元、记录单元、再生单元、再生信号质量检测单元进行控制，所述控制单元：
通过以下等式获得暂定峰值功率P2：
P2＝K1×P1，其中K1＞1；
通过以下等式获得下限P4：
P4＝K3×P2，其中K3＜1；
以所述暂定峰值功率P2进行记录；
以所述下限P4进行记录；
确定是否获得了所规定的再生信号质量；以及
当获得所规定的再生信号质量时，则将用于数据记录的记录功率设置为大于等于所述下限且小于等于所述暂定峰值功率的记录功率。
5.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：
当未获得所规定的再生信号质量时，则改变暂定峰值功率P2。
6.根据权利要求4所述的光盘装置，其特征在于：
利用由记录功率设定单元所设置的多个记录功率进行测试记录，然后根据各自的再生信号质量检测结果，确定暂定峰值功率P2。
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