JPH08263842A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ビームを照射する事により光ディスクに情
報の記録、消去叉は再生を行い、かつ光ディスク上に試
験的に記録及び再生を行う事により最適記録条件を検出
する光ディスク装置に於いて、試験記録時と実際の情報
記録時の記録密度が同じ場合はもちろんの事たとえ異な
る場合であっても最適記録条件を決定する事を可能とす
る。 【構成】 記録レーザーパワーを変化させたときに信号
の記録が可能である最小記録レーザーパワーを立ち上が
りパワーとし、信号の記録が可能である最大記録レーザ
ーパワーを立ち下がりパワーとしたとき、立ち上がりパ
ワーまたは立ち下がりパワーまたはその両方を判定する
手段を有し、立ち上がりパワーまたは立ち下がりパワー
またはその両方に基づいて最適記録条件を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクに光ビーム
を照射し情報の記録再生を行う光ディスク装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクに光ビームを照射し情報の記
録を行う光ディスク装置に於いて最適記録条件は、装置
の製造ばらつき及び経年変化、ディスクの製造ばらつき
及びメーカー間の記録感度の違い及び汚れや経年変化、
使用環境温度など種々の条件により異なる。この為情報
を記録する前に光ディスクに試験的に記録、再生を行っ
て最適記録条件を決定する（試し書きにより最適記録条
件を決定する）手段を有する光ディスク記録再生装置
は、従来種々提案されている。例えば、特開平０４−２
１２５０が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述の特
開平０４−２１２５０に於ける試し書きによる最適記録
条件を決定する方法は、試し書き時と実際の情報記録時
における記録密度が同一である事が前提である。ところ
が、実際の光ディスク記録再生装置において試し書き時
と実際の情報記録時の記録密度が異ならざるを得ない場
合がある。例えば、ＩＳＯ規格3.5インチ230MB光磁気デ
ィスクには、ディスク装置が試し書きを行うエリアとし
てテストゾーンが用意されているが、このテストゾーン
に記録できるのは128MB光磁気ディスクの記録密度（１
μｍ／ｂｉｔ）のみであり、230MB光磁気ディスクの記
録密度（0.87μｍ／ｂｉｔ）では記録不可能である。従
ってＩＳＯ規格230MB光磁気ディスク装置では、記録密
度0.87μｍ／ｂｉｔの最適記録条件を求める為には記録
密度１μｍ／ｂｉｔで試し書きを行わなければならず、
前述の特開平０４−２１２５０に於ける試し書き方法で
は最適記録条件を決定する事が出来ない。そこで本発明
は上記の欠点を改善したものであり、その目的とすると
ころは、試し書き時と実際の情報記録時の記録密度が同
じ場合はもちろんの事たとえ異なる場合に於いても最適
記録条件決定可能な光ディスク装置を提供する事にあ
る。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスク装置
は、記録レーザーパワーを変化させたときに信号の記録
が可能である最小記録レーザーパワーを立ち上がりパワ
ーとし、信号の記録が可能である最大記録レーザーパワ
ーを立ち下がりパワーとしたとき、立ち上がりパワーま
たは立ち下がりパワーまたはその両方を判定する手段を
有し、立ち上がりパワーまたは立ち下がりパワーまたは
その両方に基づいて最適記録条件を決定する事を特徴と
する。

【０００５】本発明の光ディスク装置は、記録レーザー
パルス幅を変化させたときに情報の記録が可能である最
小記録レーザーパルス幅を立ち上がりパルス幅とし、情
報の記録が可能である最大記録レーザーパルス幅パワー
を立ち下がりパルス幅としたとき、立ち上がりパルス幅
または立ち下がりパルス幅またはその両方を判定する手
段を有し、立ち上がりパルス幅または立ち下がりパルス
幅またはその両方に基づいて最適記録条件を決定する事
を特徴とする。

【０００６】本発明の光ディスク装置は、前記立ち上が
りパワーと立ち下がりパワーの差が予め決められた値よ
り小さい場合に、最適記録条件が存在しないと判断する
事を特徴とする。

【０００７】本発明の光ディスク装置は、前記立ち上が
りパルス幅と立ち下がりパルス幅の差が予め決められた
値より小さい場合に、最適記録条件が存在しないと判断
する事を特徴とする。

【０００８】本発明の光ディスク装置は、最適記録条件
を検出する際に試験的に記録された信号の品質の良否を
判定する工程が、一つの記録条件に対して一つ以上のセ
クターへの試験的な記録が行われかつ試験的に記録され
た信号の良否判定をセクターごとに行い、良と判定され
たセクター数と否と判定されたセクター数の割合に基づ
いて試験的に記録された信号の品質の良否を判定する工
程である事を特徴とする。

【０００９】

【実施例】

（実施例１）以下本発明の実施例１を図面を参照して詳
細に説明する。図１は、請求項１，３，５における本発
明実施例１の基本的な構成を示すブロック図である。図
１に於いて、１は情報の記録媒体である光ディスク、２
は光ヘッド、３は試験記録及びその再生を行うために光
ヘッドの制御を行う試験記録／再生制御手段、４は再生
された試験記録信号から立上がりパワー及び立ち下がり
パワーの判定を行う立上がりパワー／立ち下がりパワー
判定手段、５は判定された立上がり及び立ち下がりパワ
ーに基づき記録条件の導出を行う最適記録条件導出手
段、６は試験記録を行うエリアとして光ディスク１上に
設けられたテストゾーンである。

【００１０】図２は立上がりパワーについて概念的に説
明したものである。図２（ａ）は再生信号振幅の記録レ
ーザーパワー依存性を、図２（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比
の記録レーザーパワー依存性を、図２（ｃ）は再生信号
のバイトエラーレート（以下，ＢＥＲと記す）の記録レ
ーザーパワー依存性を示す。図２に示すように記録レザ
ーパルス幅を一定として記録レザーパワーを変化させた
ときレーザーパワーが大きくなるに従って再生信号振幅
及びＣ／Ｎ比は大きくＢＥＲは小さくなり、更に記録レ
ーザーパワーが大きくなると飽和する。従って再生信号
振幅叉はＣ／Ｎ比に対する閾値を適当に設定し、再生信
号振幅叉はＣ／Ｎ比が閾値になる記録レーザーパワーの
値を信号の記録が可能な最小記録レーザーパワーとし、
このパワーの値を立ち上がりパワーと定義する。同様に
ＢＥＲに対する閾値を適当に設定し、ＢＥＲが閾値にな
る記録レーザーパワーの値を信号の記録が可能な最小記
録レーザーパワーとし、このパワーの値を立ち上がりパ
ワーと定義する。

【００１１】次に立ち下がりパワーの説明を行う。図２
に於いて飽和状態から更に記録パワーを大きくすると、
再生信号振幅及びＣ／Ｎ比は徐々に低下しＢＥＲは徐々
に増加する。但しこのときの記録レーザーパワーは比較
的大きな値であり出力する事が困難な事もある。そこで
立ち下がりパワーを判定する場合、例えば記録レーザー
パルス幅を比較的大きな値に選ぶ事により、出力可能な
レーザーパワーで立ち下がりパワーの判定が可能とな
る。図３（ａ）は再生信号振幅の記録レーザーパワー依
存性を、図３（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比の記録レーザー
パワー依存性を、図３（ｃ）は再生信号ＢＥＲ（バイト
エラーレート）の記録レーザーパワー依存性を示す。図
３に示すように記録レザーパルス幅を比較的大きな値と
し記録レザーパワーを変化させたとき記録レーザーパワ
ーが飽和領域より大きくなるに従って再生信号振幅及び
Ｃ／Ｎ比は徐々に小さく、ＢＥＲは大きくなる。従って
再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比に対する閾値を適当に設定
し、再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比が閾値になる記録レーザ
ーパワーの値を信号の記録が可能な最大記録レーザーパ
ワーとし、このパワーの値を立ち下がりパワーと定義す
る。同様にＢＥＲに対する閾値を適当に設定し、ＢＥＲ
が閾値になる記録レーザーパワーの値を信号の記録が可
能な最大記録レーザーパワーとし、このパワーの値を立
ち下がりパワーと定義する。以上が立ち上がりパワー及
び立ち下がりパワーの概念的説明である。

【００１２】次に、図１の光ディスク装置の最適記録条
件決定手段ブロック図における各ブロックの説明を行
う。試験記録／再生制御手段３は、光ヘッド２を駆動し
て光ディスク１のテストゾーン６に最短パターンを試験
記録する。このとき立ち上がりパワーを判定するための
試験記録条件として、例えば４ｍＷから０．５ｍＷ刻み
に７ｍＷまでの７段階の試験記録パワーを設定する。そ
して各試験記録パワーに対して、例えば１０個のセクタ
ーづつの試験記録を行う。従って立ち上がりパワーを判
定するために試験記録されるセクター数は、７段階の試
験記録パワーにおいて１０個のセクターづつ７０個のセ
クターとなる。また同様に、立ち下がりパワーを判定す
るための試験記録条件として、例えば８ｍＷから０．５
ｍＷ刻みに１１ｍＷまでの７段階の試験記録パワーを設
定する。そして各試験記録パワーに対して、例えば１０
個のセクターづつ７０個のセクターへの試験記録を行
う。但し光ディスク装置が出射可能なレーザーパワーの
範囲内に立ち下がりパワーが存在するようにするため
に、記録レーザーパルス幅を立ち上がりパワー判定のた
めの試験記録時に比べて例えば２倍の幅に設定する。

【００１３】上記の試験記録されたセクターに対して、
立ち上がりパワー／立ち下がりパワー判定手段４は、信
号の記録が可能である最小記録レーザーパワー（立ち上
がりパワー）及び信号の記録が可能である最大記録レー
ザーパワー（立ち下がりパワー）の判定を行う。判定
は、例えば以下のように行われる。試験記録／再生制御
手段３は、光ヘッド２を駆動して光ディスク１のテスト
ゾーン６に試験記録された最短パターンを再生する。立
ち上がりパワー／立ち下がりパワー判定手段４は、セク
ターごとに例えばエラーバイト数をカウントしそのエラ
ーバイト数がある閾値以下ならそのセクターの再生信号
の品質を良好と判断し、７段階の試験記録レーザーパワ
ーのうちのある試験記録パワーに於いて試験記録された
１０個のセクターのうち例えば６個のセクター以上を再
生信号品質良好と判断した場合に、その試験記録パワー
で記録された信号品質が良好であると判断し、その試験
記録パワーは信号の記録が可能な記録パワーであると判
断する。そして、立ち上がりパワーを判定するための試
験記録に於いて信号の記録が可能な記録パワーの最小値
つまり再生信号の品質が良好と判断されたセクターが６
個のセクター以上となる記録レーザーパワーの最小値を
立ち上がりパワーと判定する。

【００１４】また立ち上がりパワー／立ち下がりパワー
判定手段４は、立ち下がりパワーを判定するための試験
記録に於いて信号の記録が可能な記録パワーの最大値つ
まり再生信号の品質が良好と判断されたセクターが６個
のセクター以上となる記録レーザーパワーの最大値を立
ち下がりパワーと判定する。図４は、立ち上がりパワー
を判定する際の記録レーザーパワーに対する再生信号品
質良好セクター数測定例を示す。図４の測定例によると
再生信号品質良好数は、記録レーザーパワーが５．５ｍ
Ｗ以下で５個のセクター以下、６ｍＷ以上で６個のセク
ター以上であるから、このとき立ち上がりパワー／立ち
下がりパワー判定手段４は６ｍＷを立ち上がりパワーと
判定する。同様に図５は、立ち下がりパワーを判定する
際の記録レーザーパワーに対する再生信号品質良好セク
ター数測定例を示す。図５の測定例によると再生信号品
質良好数は、記録レーザーパワーが９ｍＷ以下で６個の
セクター以上、９．５ｍＷ以上で６個のセクター以下で
あるから、このとき立ち上がりパワー／立ち下がりパワ
ー判定手段４は９ｍＷを立ち下がりパワーと判定する。
この様にセクター毎に再生信号品質の判定を行ないかつ
１０個のセクターに於ける判定結果を考慮する事で、決
定された最適記録条件の信頼性がとても高くなる。最適
記録条件導出手段５は、立上がりパワー／立ち下がりパ
ワー判定手段４により判定された立上がりパワーＰｒ及
び立ち下がりパワーＰｆの両方またはどちらかに基づき
最適記録条件の導出を行う。最適記録条件を導出する方
法としては、例えば数１、数２、叉は数３を用いて最適
記録レーザーパワーＰｗｏを算出する。但し、Ｋ１〜Ｋ
４は定数であり予め実験により定められた値である。

【００１５】

【数１】 Ｐｗｏ＝Ｋ１＊Ｐｒ＋Ｋ２＊Ｐｆ

【００１６】

【数２】 Ｐｗｏ＝Ｋ３＊Ｐｒ

【００１７】

【数３】 Ｐｗｏ＝Ｋ４＊Ｐｆ また別の方法として例えば表１に示す最適記録条件テー
ブルを用いる。表１は最適記録条件テーブルの一例であ
り予め実験により求めた値である。最適記録条件導出手
段５は立ち上がりパワーＰｒと立ち下がりパワーＰｆ及
び最適記録条件テーブルに基づき最適記録レザーパワー
Ｐｗｏ及び最適記録レザーパルス幅Ｗｗｏを導出する。
そして本発明の光ディスク装置は、最適記録条件導出手
段５により導出された最適記録条件で情報の記録を行
う。

【００１８】

【表１】

【００１９】また最適記録条件導出手段５は、最適記録
条件導出手段５は立ち上がりパワーＰｒと立ち下がりパ
ワーＰｆの差が例えば１ｍＷ以下の場合に最適記録条件
が存在しないと判定する。このとき情報の記録は行われ
ず、信頼性の低い条件下での情報の記録を未然に防ぐ事
が出来る。

【００２０】最適記録条件決定工程を実行するのに要す
る時間は、光ディスク装置を操作するオペレーター叉は
ホストコンピューターから見れば無駄な待ち時間であり
極力短縮する必要があり、その時間は１秒以下が望まし
い。何故なら、１秒以下ならオペレーターが待たされて
不快感をあまり感じないし、転送レート200ＫＢ／ｓ程
度のデータ転送を想定した場合に光ディスク装置上に50
0ＫＢ程度のメモリーが搭載されていれば最適記録条件
決定工程がデータ転送を中断する事はない。そこで最適
記録条件決定工程を実行するのに必要な時間の計算を以
下に記す。但し、光ディスク６の回転数を３６００ｒｐ
ｍとし、１回転あたりのセクター数を３５セクター／回
転、シーク時間を４０ｍｓと仮定する。まず一つのセク
ターを記録叉は再生するのにかかる時間は０．４８ｍｓ
（＝６０ｓ／３６００ｒｏｔ／３５）であり、立ち上が
りパワーの判定、立ち下がりパワーの判定それぞれに於
いて１０個のセクターづつ７段階の記録レザーパワーで
記録を行うのに必要な時間は８０ｍｓ（＝２＊０．４８
ｍｓ＊（１０＋２）セクター＊７）である。セクター数
が１０ではなく１２としてある理由は記録レーザーパワ
ーを変えるのに必要な時間を２セクター分と仮定したた
めである。再生のために記録を行なったセクターの先頭
へシークするのに４０ｍｓ、再生にかかる時間は記録時
と同じ８０ｍｓである。従って最適記録条件決定工程を
実行するのに掛かる時間は０．２秒、もし消去工程が必
要な場合でも０．３２秒であり、１秒以下という目標値
を達成している。

【００２１】（実施例２）以下本発明の実施例２を図面
を参照して詳細に説明する。図６は、請求項２，４，５
における本発明実施例２の基本的な構成を示すブロック
図である。図６に於いて、２１は情報の記録媒体である
光ディスク、２２は光ヘッド、２３は試験記録及びその
再生を行うために光ヘッドの制御を行う試験記録／再生
制御手段、２４は再生された試験記録信号から立上がり
パルス幅及び立ち下がりパルス幅の判定を行う立上がり
パルス幅／立ち下がりパルス幅判定手段、２５は判定さ
れた立上がり及び立ち下がりパルス幅に基づき記録条件
の導出を行う最適記録条件導出手段、２６は試験記録を
行うエリアとして光ディスク２１上に設けられたテスト
ゾーンである。

【００２２】図７は立上がりパルス幅について概念的に
説明したものである。図７（ａ）は再生信号振幅の記録
レーザーパルス幅依存性を、図７（ｂ）は再生信号Ｃ／
Ｎ比の記録レーザーパルス幅依存性を、図７（ｃ）は再
生信号のバイトエラーレート（以下，ＢＥＲと記す）の
記録レーザーパルス幅依存性を示す。図７に示すように
記録レザーパワーを一定として記録レザーパルス幅を変
化させたときレーザーパルス幅が大きくなるに従って再
生信号振幅及びＣ／Ｎ比は大きくＢＥＲは小さくなり、
更に記録レーザーパルス幅が大きくなると飽和する。従
って再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比に対する閾値を適当に設
定し、再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比が閾値になる記録レー
ザーパルス幅の値を信号の記録が可能な最小記録レーザ
ーパルス幅とし、そのパルス幅を立ち上がりパルス幅と
定義する。同様にＢＥＲに対する閾値を適当に設定し、
ＢＥＲが閾値になる記録レーザーパルス幅の値を信号の
記録が可能な最小記録レーザーパルス幅とし、そのパル
ス幅を立ち上がりパルス幅と定義する。

【００２３】次に立ち下がりパルス幅の説明を行う。図
７に於いて飽和状態から更に記録パルス幅を大きくする
と、再生信号振幅及びＣ／Ｎ比は徐々に低下しＢＥＲは
徐々に増加する。図８（ａ）は再生信号振幅の記録レー
ザーパルス幅依存性を、図８（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比
の記録レーザーパルス幅依存性を、図８（ｃ）は再生信
号ＢＥＲ（バイトエラーレート）の記録レーザーパルス
幅依存性を示す。図８に示すように記録レザーパルス幅
を比較的大きな値とし記録レザーパルス幅を変化させた
とき記録レーザーパルス幅が飽和領域より大きくなるに
従って再生信号振幅及びＣ／Ｎ比は徐々に小さく、ＢＥ
Ｒは大きくなる。従って再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比に対
する閾値を適当に設定し、再生信号振幅叉はＣ／Ｎ比が
閾値になる記録レーザーパルス幅の値を信号の記録が可
能な最大記録レーザーパルス幅とし、そのパルス幅を立
ち下がりパルス幅と定義する。同様にＢＥＲに対する閾
値を適当に設定し、ＢＥＲが閾値になる記録レーザーパ
ルス幅の値を信号の記録が可能な最大記録レーザーパル
ス幅とし、そのパルス幅を立ち下がりパルス幅と定義す
る。以上が立ち上がりパルス幅及び立ち下がりパルス幅
の概念的説明である。

【００２４】次に、図６の光ディスク装置の最適記録条
件決定手段ブロック図における各ブロックの説明を行
う。試験記録／再生制御手段２３は、光ヘッド２２を駆
動して光ディスク２１のテストゾーン２６に最短パター
ンを試験記録する。このとき立ち上がりパルス幅を判定
するための試験記録条件として、例えば１０ｎｓから５
ｎｓ刻みに４０ｎｓまでの７段階の試験記録パルス幅を
設定する。そして各試験記録パルス幅に対して、例えば
１０個のセクターづつの試験記録を行う。従って立ち上
がりパルス幅を判定するために試験記録されるセクター
数は、７段階の試験記録パルス幅において１０個のセク
ターづつ７０個のセクターとなる。また同様に、立ち下
がりパルス幅を判定するための試験記録条件として、例
えば５０ｎｓから５ｎｓ刻みに８０ｎｓまでの７段階の
試験記録パルス幅を設定する。そして各試験記録パルス
幅に対して、例えば１０個のセクターづつ７０個のセク
ターへの試験記録を行う。

【００２５】上記の試験記録されたセクターに対して、
立ち上がりパルス幅／立ち下がりパルス幅判定手段２４
は、信号の記録が可能である最小記録レーザーパルス幅
（立ち上がりパルス幅）及び信号の記録が可能である最
大記録レーザーパルス幅（立ち下がりパルス幅）の判定
を行う。判定は、例えば以下のように行われる。試験記
録／再生制御手段２３は、光ヘッド２２を駆動して光デ
ィスク２１のテストゾーン２６に試験記録された最短パ
ターンを再生する。立ち上がりパルス幅／立ち下がりパ
ルス幅判定手段２４は、セクターごとに例えばエラーバ
イト数をカウントしそのエラーバイト数がある閾値以下
ならそのセクターの再生信号の品質を良好と判断し、７
段階の試験記録レーザーパルス幅のうちのある試験記録
パルス幅に於いて試験記録された１０個のセクターのう
ち例えば６個のセクター以上を再生信号品質良好と判断
した場合に、その試験記録パルス幅で記録された信号品
質が良好であると判断し、その試験記録パルス幅は信号
の記録が可能な記録パルス幅であると判断する。そし
て、立ち上がりパルス幅を判定するための試験記録に於
いて信号の記録が可能な記録パルス幅の最小値つまり再
生信号の品質が良好と判断されたセクターが６個のセク
ター以上となる記録レーザーパルス幅の最小値を立ち上
がりパルス幅と判定する。

【００２６】また立ち上がりパルス幅／立ち下がりパル
ス幅判定手段２４は、立ち下がりパルス幅を判定するた
めの試験記録に於いて信号の記録が可能な記録パルス幅
の最大値つまり再生信号の品質が良好と判断されたセク
ターが６個のセクター以上となる記録レーザーパルス幅
の最大値を立ち下がりパルス幅と判定する。図９は、立
ち上がりパルス幅を判定する際の記録レーザーパルス幅
に対する再生信号品質良好セクター数測定例を示す。図
９の測定例によると再生信号品質良好数は、記録レーザ
ーパルス幅が２５ｎｓ以下で５個のセクター以下、３０
ｎｓ以上で６個のセクター以上であるから、このとき立
ち上がりパルス幅／立ち下がりパルス幅判定手段２４は
３０ｎｓを立ち上がりパルス幅と判定する。同様に図１
０は、立ち下がりパルス幅を判定する際の記録レーザー
パルス幅に対する再生信号品質良好セクター数測定例を
示す。図１０の測定例によると再生信号品質良好数は、
記録レーザーパルス幅が６０ｎｓ以下で６個のセクター
以上、６５ｎｓ以上で６個のセクター以下であるから、
このとき立ち上がりパルス幅／立ち下がりパルス幅判定
手段２４は６０ｎｓを立ち下がりパルス幅と判定する。
この様にセクター毎に再生信号品質の判定を行ないかつ
１０個のセクターに於ける判定結果を考慮する事で、決
定された最適記録条件の信頼性がとても高くなる。最適
記録条件導出手段２５は、立上がりパルス幅／立ち下が
りパルス幅判定手段２４により判定された立上がりパル
ス幅Ｗｒ及び立ち下がりパルス幅Ｗｆの両方またはどち
らかに基づき最適記録条件の導出を行う。最適記録条件
を導出する方法としては、例えば数４、数５、叉は数６
を用いて最適記録レーザーパルス幅Ｗｗｏを算出する。
但し、Ｋ５〜Ｋ８は定数であり予め実験により定められ
た値である。

【００２７】

【数４】 Ｗｗｏ＝Ｋ５＊Ｗｒ＋Ｋ６＊Ｗｆ

【００２８】

【数５】 Ｗｗｏ＝Ｋ７＊Ｗｒ

【００２９】

【数６】 Ｗｗｏ＝Ｋ８＊Ｗｆ また別の方法として例えば表２に示す最適記録条件テー
ブルを用いる。表２は最適記録条件テーブルの一例であ
り予め実験により求めた値である。最適記録条件導出手
段２５は立ち上がりパルス幅Ｗｒと立ち下がりパルス幅
Ｗｆ及び最適記録条件テーブルに基づき最適記録レザー
パワーＰｗｏ及び最適記録レザーパルス幅Ｗｗｏを導出
する。そして本発明の光ディスク装置は、最適記録条件
導出手段２５により導出された最適記録条件で情報の記
録を行う。

【００３０】

【表２】

【００３１】また最適記録条件導出手段２５は、最適記
録条件導出手段２５は立ち上がりパルス幅Ｗｒと立ち下
がりパルス幅Ｗｆの差が例えば１０ｎｓ以下の場合に最
適記録条件が存在しないと判定する。このとき情報の記
録は行われず、信頼性の低い条件下での情報の記録を未
然に防ぐ。

【００３２】最適記録条件決定工程を実行するのに要す
る時間は、光ディスク装置を操作するオペレーター叉は
ホストコンピューターから見れば無駄な待ち時間であり
極力短縮する必要があり、その時間は１秒以下が望まし
い。何故なら、１秒以下ならオペレーターが待たされて
不快感をあまり感じないし、転送レート200ＫＢ／ｓ程
度のデータ転送を想定した場合に光ディスク装置上に50
0ＫＢ程度のメモリーが搭載されていれば最適記録条件
決定工程がデータ転送を中断する事はない。そこで最適
記録条件決定工程を実行するのに必要な時間の計算を以
下に記す。但し、光ディスク６の回転数を３６００ｒｐ
ｍとし、１回転あたりのセクター数を３５セクター／回
転、シーク時間を４０ｍｓと仮定する。まず一つのセク
ターを記録叉は再生するのにかかる時間は０．４８ｍｓ
（＝６０ｓ／３６００ｒｏｔ／３５）であり、立ち上が
りパワーの判定、立ち下がりパワーの判定それぞれに於
いて１０個のセクターづつ７段階の記録レザーパワーで
記録を行うのに必要な時間は８０ｍｓ（＝２＊０．４８
ｍｓ＊（１０＋２）セクター＊７）である。セクター数
が１０ではなく１２としてある理由は記録レーザーパワ
ーを変えるのに必要な時間を２セクター分と仮定したた
めである。再生のために記録を行なったセクターの先頭
へシークするのに４０ｍｓ、再生にかかる時間は記録時
と同じ８０ｍｓである。従って最適記録条件決定工程を
実行するのに掛かる時間は０．２秒、もし消去工程が必
要な場合でも０．３２秒であり、１秒以下という目標値
を達成している。

【００３３】尚、本発明はこれらの実施例に限定される
と考えるべきではなく、本発明の主旨を逸脱しない限り
種々の変更は可能である。例えば、セクター毎の再生信
号の良否を判断する際にセクター毎のエラー数により良
否の判断を行なったが、振幅によって良否の判断を行っ
ても同様の効果が得られる。

【００３４】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、立ち上が
りパワー、立ち下がりパワー、立ち上がりパルス幅叉は
立ち下がりパルス幅を用いて最適記録条件を導出する事
により、試し書き時と実際の情報記録時の記録密度が同
じ場合はもちろんの事たとえ異なる場合であっても最適
記録条件を決定する事が可能である。更に一つの試験記
録条件に対して一つ以上のセクターへ試験記録を行いか
つ試験的に記録された信号の良否判定をセクターごとに
行い、良と判定されたセクター数と否と判定されたセク
ター数の割合に基づいて試験的に記録された信号の品質
の良否を判定する事により最適記録条件を決定する工程
の所要時間が短時間となる。またセクター毎に判定を行
ないかつ複数のセクターに於ける判定結果を考慮する事
で、決定された最適記録条件の信頼性がとても高い。し
かも立ち上がりパワーと立ち下がりパワーの差叉は立ち
上がりパルス幅と立ち下がりパルス幅の差がある一定値
以上ない場合に最適記録条件が存在しないと判断する事
により信頼性の低い条件下での情報の記録を防止出来
る。

【００３５】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例１の基本的な構成を示すブロッ
ク図である。

【図２】本発明の立ち上がりパワーの概念を示す特性図
である。ここで、（ａ）は再生信号振幅の記録レーザパ
ワー依存性を、（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比の記録パワー
依存性を、(ｃ）は再生信号のＢＥＲの記録パワー依存
性を示す。

【図３】本発明の立ち下がりパワーの概念を示す特性図
である。ここで、（ａ）は再生信号振幅の記録レーザパ
ワー依存性を、（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比の記録パワー
依存性を、(ｃ）は再生信号のＢＥＲの記録パワー依存
性を示す。

【図４】本発明の立ち上がりパワーを求める際の記録レ
ーザーパワーに対する再生信号品質良好セクター数を示
す特性図である。

【図５】本発明の立ち下がりパワーを求める際の記録レ
ーザーパワーに対する再生信号品質良好セクター数を示
す特性図である。

【図６】本発明の実施例２の基本的な構成を示すブロッ
ク図である。

【図７】本発明の立ち上がりパルス幅の概念を示す特性
図である。ここで、（ａ）は再生信号振幅の記録レーザ
パルス幅依存性を、（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比の記録パ
ルス幅依存性を、(ｃ）は再生信号のＢＥＲの記録パル
ス幅依存性を示す。

【図８】本発明の立ち下がりパルス幅の概念を示す特性
図である。ここで、（ａ）は再生信号振幅の記録レーザ
パルス幅依存性を、（ｂ）は再生信号Ｃ／Ｎ比の記録パ
ルス幅依存性を、(ｃ）は再生信号のＢＥＲの記録パル
ス幅依存性を示す。

【図９】本発明の立ち上がりパルス幅を求める際の記録
レーザーパルス幅に対する再生信号品質良好セクター数
を示す特性図である。

【図１０】本発明の立ち下がりパルス幅を求める際の記
録レーザーパルス幅に対する再生信号品質良好セクター
数を示す特性図である。

【符号の説明】

１・・光ディスク ２・・光ヘッド ３・・試験記録／再生制御手段 ４・・立ち上がりパワー／立ち下がりパワー判定手段 ５・・最適記録条件導出手段 ６・・テストゾーン ２１・光ディスク ２２・光ヘッド ２３・試験記録／再生制御手段 ２４・立ち上がりパルス幅／立ち下がりパルス幅判定手
段 ２５・最適記録条件導出手段 ２６・テストゾーン

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを照射する事により光ディスク
   に情報の記録、消去叉は再生を行い、かつ光ディスク上
   に試験的に記録及び再生を行う事により最適記録条件を
   検出する光ディスク装置であって、記録レーザーパワー
   を変化させたときに信号の記録が可能である最小記録レ
   ーザーパワーを立ち上がりパワーとし、信号の記録が可
   能である最大記録レーザーパワーを立ち下がりパワーと
   したとき、立ち上がりパワーまたは立ち下がりパワーま
   たはその両方を判定する手段を有し、立ち上がりパワー
   または立ち下がりパワーまたはその両方に基づいて最適
   記録条件を決定する事を特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 光ビームを照射する事により光ディスク
   に情報の記録、消去叉は再生を行い、かつ光ディスク上
   に試験的に記録及び再生を行う事により最適記録条件を
   検出する光ディスク装置であって、記録レーザーパルス
   幅を変化させたときに情報の記録が可能である最小記録
   レーザーパルス幅を立ち上がりパルス幅とし、情報の記
   録が可能である最大記録レーザーパルス幅パワーを立ち
   下がりパルス幅としたとき、立ち上がりパルス幅または
   立ち下がりパルス幅またはその両方を判定する手段を有
   し、立ち上がりパルス幅または立ち下がりパルス幅また
   はその両方に基づいて最適記録条件を決定する事を特徴
   とする光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記立ち上がりパワーと立ち下がりパワ
   ーの差が予め決められた値より小さい場合に、最適記録
   条件が存在しないと判断する事を特徴とする前記請求項
   １に記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 前記立ち上がりパルス幅と立ち下がりパ
   ルス幅の差が予め決められた値より小さい場合に、最適
   記録条件が存在しないと判断する事を特徴とする前記請
   求項２に記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 光ビームを照射する事により光ディスク
   に情報の記録、消去叉は再生を行い、かつ光ディスク上
   に試験的に記録及び再生を行う事により最適記録条件を
   検出する光ディスク装置であって、最適記録条件を検出
   する際に試験的に記録された信号の品質の良否を判定す
   る工程が、一つの記録条件に対して一つ以上のセクター
   への試験的な記録が行われかつ試験的に記録された信号
   の良否判定をセクターごとに行い、良と判定されたセク
   ター数と否と判定されたセクター数の割合に基づいて試
   験的に記録された信号の品質の良否を判定する工程であ
   る事を特徴とする光ディスク装置。