CN1246840C - 光盘装置 - Google Patents

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Abstract

提供一种光盘装置，能够以适当的擦除功率进行复写，以确保信号读取时的良好错误率，并且不会损及可擦写式光盘的寿命。在测试记录区域进行记录，并通过擦除功率光束所擦除的擦除区域的反射光的检测信号，计算出并保持基准擦除残余调变度，于记录情报数据时，检测出由擦除区域的反射光的检测信号其峰值与谷值，由峰值与谷值算出擦除残余调变度，并通过变更擦除功率以使计算出的擦除残余调变度接近基准擦除残余调变度，在擦除功率弱的场合提高擦除功率，以能够确保复写记录部分的信号读取错误率维持良好数值，并且在擦除功率强的场合降低擦除功率，以能够不损及可擦写式光盘的寿命。

Description

光盘装置
技术领域
本发明有关于一种光盘装置，且特别是有关于一种对可重复记录式光盘进行记录的光盘装置。
背景技术
写入式光盘装置有可记录式光盘(Compact Disc-Recordable，CD-R)等的一次写入式(Write Once)与可擦写式光盘(CompactDisc-ReWritdable，CD-RW)等的可擦写式(Erasable)。其中对可擦写式光盘的复写(Overwrite)，是使用激光功率以记录功率Pw与擦除功率Pe两数值变化的激光束。此场合以记录功率Pw将光盘片记录膜的状态，由结晶状态转变为非结晶状态以形成记录标记，而且，以擦除功率Pe将非结晶状态转变为结晶状态，以将完成记录的记录标记擦除。
光盘记录时的激光束其最佳记录功率Pw与最佳擦除功率Pe，依照个别的光盘种类、记录装置、记录速度而相异。因此，为了以实际进行记录时的光盘种类、记录装置、记录速度的组合以设定最佳记录功率Pw与最佳擦除功率Pe，在记录情报数据之前进行称为功率控制最佳化(Optimum Power Control，OPC)的记录功率分类动作。
接着对公知可擦写式光盘装置的功率控制最佳化动作进行说明。在光盘的记录面上如图6所示，设置有作为测试记录区域的功率分类区域(Power Calibration Area，PCA)，借以设定记忆各种数据的数据区域以及激光束的最佳记录功率。功率分类区域设置于光盘的最内周，由测试区域(Test Area)与计算区域(Count Area)所构成，测试区域由100个分割区(Partition)所构成。而且，个别的分割区由15个图框(Frame)所构成。进行一次的功率控制最佳化动作使用一个分割区，对构成分割区的15个图框，以15阶段的激光功率记录测试信号。此测试信号为具有基准时间幅宽T(T为在标准速度(1倍速)频率4.32MHz的1周期约230nsec)的3倍～11倍时间幅宽的脉冲列所构成的EFM调变信号，于图框以9程度的长度的记录标记加以记录。
以激光束照射对此些图框，并通过检测来自光盘的反射光，于再生测试信号的同时，测定个别的作为再生信号的振幅大小表示指针的调变度m。
m＝I11/I top
此处如图7所示，I11是由11T以及地面(Land，记录标记与记录标记之间的部分)形成检测信号振幅，I3是由3T记录标记与地面构成检测信号振幅，I top为地面部分的光反射率。且调变度m因应记录功率Pw而变化。
尚且在记录功率低时，再生信号的振幅小，调变度m也变小，随着记录功率变大，调变度m也随之变大。当记录功率变大至某程度时则使得调变度m饱和。由于此开始产生饱和所对应的记录功率Pw在记录时具有最少的跳动(Jitter)或错误(Error)，因此此时的记录功率值能够判定为最佳记录功率Pwo。
然后，设定此些信号记录时的记录功率并加以使用。而且，最佳擦除功率Peo，是使用绝对信息时间(Absolute Time In Pregroove，ATIP)内已记录的系数εo(擦除功率与记录功率之比)，并由最佳记录功率Pwo设定。
Peo＝εo×Pwo
擦写的方法有先擦除记录的信号再记录的方法与直接复写(Direct Overwrite)的方式。在实际使用上几乎不使用完全擦除再记录的方式，通常是使用直接复写的方式，然而直接复写的方式具有以下的问题。
通常记录功率的选择是使用功率控制最佳化，以选择光盘装置或光盘(媒体)的最佳记录功率，考虑适当的信号振幅(调变度)、复写性能、适度擦写耐久性等最佳记录功率条件以选择记录功率，并仅在任意的同一光盘装置内进行记录与再生的复写的话，通常并不会产生任何问题。
然而，由于CD-RW等擦写式光盘为互换式媒体，也可能会发生在其它公司的光盘装置记录数据，然后在不同的光盘装置上复写的情形。此时，如果完成记录功率以高记录功率(调变度强)进行记录的话，在复写时的擦除功率时会发生擦除残余的情形。
也即是在复写时，以将记录标记写入的记录功率与形成无记录标记部分(Space)的擦除功率两种功率的光进行照射，以于既存的记录区域上进行复写，然而在轨上既存的记录状态过强的情形下，由于此擦除功率无法完全的将其擦除，在擦除区域会显现既存的信号。此些会使得复写后的再生信号的载体/噪声比(Cartier to Noise Ratio，C/NRatio)恶化，并使错误率增大。
为了避免上述情形，也考虑使用将记录功率与擦除功率一并提高的方法，然而会使得光盘擦写耐久性变差而缩短盘片寿命，并且记录后的光盘加载其它光盘装置中记录时，会产生复写特性恶化而在读取信号之际使错误率增大等问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种光盘装置，能够以适当的擦除功率进行复写，以确保信号读取时的良好错误率，并且不会损及可擦写式光盘的寿命。
为实现上述目的，本发明提供的第1种光盘装置，其在对光盘照射光束以进行记录以及/或是再生的光盘装置中，具有：
一检测单元，于信息的记录动作进行中时，评价于前述光盘记录的信号的信号品质；
一功率控制单元，于信息的记录动作进行中时，基于前述检测单元的信号品质的评价结果，控制照射于前述光盘的光束的功率；以及
该检测单元基于由擦除区域的反射光的检测信号的峰值与谷值所得的一擦除残余调变度，以评价该该信号品质。
本发明提供的第2种光盘装置，为通过前述功率控制单元变更前述光束的功率，以使前述检测单元所检测出的前述擦除残余调变度接近预先设定的基准擦除残余调变度。
本发明提供的第3种光盘装置，其为通过前述功率控制单元，预先求得且成为基准的光束功率做为基准以变更光束功率。
依本发明的话，评价记录时的信号品质，并基于评价结果变更光束功率的最佳值。依此，即使在例如于进行复写时，之前记录的标记为过记录功率时或是偏轨(off-track)记录的场合，通过增加擦除功率，以能够确实的进行擦除。依此，能够避免地址错误等以正确的记录新的标记。而且，由于能够通过正确的记录标记以降低复写时的擦除功率，能够提高媒体的寿命。
本发明提供的第4种光盘装置，其为在对可复写式光盘进行记录的光盘装置中，具有：
一功率控制最佳化单元，此功率控制最佳化单元在加载光盘时，以可变的光束记录功率，在前述光盘的测试记录区域进行记录，并通过前述测试记录区域的再生信号求得最佳记录功率，
一基准擦除残余调变度计算单元，以前述功率控制最佳化单元所得的最佳记录功率，在前述光盘的测试记录区域上进行复写测试记录，通过擦除功率光束所擦除区域的反射光的检测信号检测出峰值与谷值，且由前述峰值与谷值计算出并保持抹基准除残余调变度，
一擦除功率变更单元，于情报数据的记录动作进行中时，检测出由擦除区域的反射光的检测信号所得的峰值与谷值，由峰值与谷值算出擦除残余调变度，并通过变更擦除功率以使计算出的擦除残余调变度接近基准擦除残余调变度。
依本发明的话，通过将擦除功率接近至适当的值，在擦除功率弱的场合提高擦除功率，以能够确保复写记录部分的信号读取错误率维持良好数值，并且在擦除功率强的场合降低擦除功率，以能够不损及可擦写式光盘的寿命。
本发明提供的第5种光盘装置，其为在上述第4种光盘装置中的擦除功率变更单元，求取对基准擦除残余调变度的计算出的擦除残余调变度的增加量，并求取此擦除残余调变度对前述基准擦除残余调变度的增加量所对应擦除功率与记录功率之比的增加量，并且由前述擦除功率与记录功率之比的增加量求取变更的擦除功率，
依本发明的话，能够使擦除功率接近适当的数值。
附图说明
图1为本发明的光盘装置的第一实施例的方框构成图；
图2A、图2B为第1次记录时的取样脉冲、检测信号个别的波形图；
图3A、图3B为复写记录时的取样脉冲、检测信号个别的波形图；
图4为功率控制最佳化动作处理时的一实施例的方框图；
图5为运转功率控制最佳化动作处理时的一实施例的方框图；
图6为光盘测试记录区域的说明图；
图7为调变度m的说明图；
图8为本发明第二实施例的擦除功率变更处理的流程图；
图9为第1擦除功率变更处理的流程图；
图10为第2擦除功率变更处理的流程图；
图11为第3擦除功率变更处理的流程图；以及
图12为本发明第三实施例之擦除功率变更处理的流程图。
30：主轴马达
32：光盘
34：线程马达
36：光读取头
38：激光驱动器
40：前方监视器
42：自动激光功率控制(ALPC)
43：功率控制电路
44：波动信号处理部
46：信号再生电路
48：聚焦/寻轨伺服电路
50：传送伺服电路
52：主轴伺服电路
54：光盘(CD)编码/译码电路
56：记录补偿电路
58：只读式光盘(CD-ROM)编码/译码电路
60：接口/缓冲控制器
62：CPU
66：模拟/数字(D/A)转换器
68：音频信号放大器
70：取样保持电路
72：峰值保持电路
74：谷值保持电路
76：模拟/数字(A/D)转换器
S10、S12、S14、S16、S20、S22、S24、S26、S28、S31、S32、S33、S34、S35、S41、S42、S43、S44、S45、S51、S52、S53、S54、S55、S61、S62、S63、S64、S65、S71、S72、S73、S74、S75、S76、S77：步骤
具体实施方式
图1为本发明的光盘装置的第一实施例的方框图。同图中，主轴马达(Spindle Motor)30以一定的回转速度回转驱动光盘32。线程马达34驱动光读取头36于盘片半径方向移动。光读取头36是由光学系统对物透镜、促动器(Actuator)、1/4波长板、准直透镜(Collimator lens)、分光器(Beam Splitter)、发光组件(Laser Diode)、光检测器所构成。
激光驱动器38使激光二极管发光以输出激光，并以前方监视器40检测激光束的光强度以输出。自动激光功率控制(Automatic LaserPower Control，ALPC)42是由CPU(Central Processing Unit，CPU)62控制，并基于前方监视器(Front Monitor)40的输出控制激光驱动器，以使激光束的功率最佳化。
功率控制电路43是基于工厂出货时所算出的功率射出光量对激光驱动器驱动电压的关系，计算出对应激光驱动器电压的功率射出光量，并重叠至记录用激光功率的记录功率。
波动信号处理器44进行绝对信息时间(ATIP)信号的解调处理。尚且，在记录式光盘上设置有导引用的沟(Pregroove)。沟以中心频率22.05kHz于半径(Radial)方向波动(Wobble)，称为绝对信息时间(Absolute Time In Pregroove，ATIP)记录时的地址信息，是以最大偏移±1kHz的移频键控(Frequency Shift Keying，FSK)变频多重记录。
信号再生电路46将光读取头36所供给的再生信号放大并且再生。此信号再生电路46包含矩阵放大器(Matrix Amp)，以将主信号的其它各种伺服信号取出并输出至各伺服电路。聚焦/寻轨伺服电路48驱动促动器，以进行聚焦伺服与寻轨伺服的控制。传送电路50驱动控制线程马达34。主轴伺服电路52驱动控制主轴马达30。
光盘(CD)编码/译码电路54进行交错插入六线读取码(CrossInterleaved Read-solomon Code，CIRC)的编码/译码、8到14调变(Eightto Fourteen Modulation，EFM)的调变/解调以及同步检测等处理。记录补偿电路对于由光盘编码/译码电路54所送至的记录数据，进行符合媒体记录时特性的数据补正处理。此时的补正量依照记录层的特性，记录激光的轮廓(Profile)、记录的进行线速度等而变化。
只读式光盘(CD-ROM)编码/译码电路58是进行只读式光盘固有的错误校正码(Error Correct Code，ECC)的编码/译码以及表头(Header)的检测等处理。接口/缓冲控制器60是控制与主计算机之间的数据传送接收以及数据缓冲。随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)59、61为暂时储存进行数据处理用数据的辅助存储器。
取样保持电路70是由光盘编码/译码电路54所供给的记录数据辨认擦除功率(Space)的时序(Timing)，并取样擦除功率的时序中由光读取头36供给的反射光的检测信号(为2分割面受光面的光电变换信号相加的信号，在再生时为再生信号)。
此处图2A、图2B所示的波形图，是个别为第一次记录时的取样脉冲(擦除功率的时序)以及由光读取头36供给的反射光的检测信号(为2分割面受光面的光电变换信号相加的信号，在再生时为再生信号)的波形图。而且图3A、图3B所示的波形图，是个别为复写时的取样脉冲与检测信号的波形图。
峰值保持电路72保持由取样保持电路70所供给的检测信号的峰值电平(Peak Level，最大值)。而且，谷值保持电路74保持由取样保持电路70所供给的检测信号的谷值电平(Bottom Level，最小值)。上述的峰值电平与谷值电平以模拟/数字变换器(A/D Converter)76数字化并供给至CPU62。
也即是，将擦除功率的时序中所取样的峰值电平与谷值电平供给至CPU62。CPU62则由此擦除功率时序的峰值电平(P)与谷值电平(B)，以得到擦除区域的擦除残余调变度mw[mw＝(P-B)/P]。
CPU62内藏有CPU62的存储器(ROM、RAM以及非挥发性RAM)，为负责控制包含机械动作CD-R/RW驱动全体的控制的微电脑。数字/模拟变换器66将只读式光盘编码/译码电路58所送出的音频信号数据变换为模拟信号。并由音频信号放大器68将经模拟变换的音频信号放大、输出。
而且，CPU62在擦除功率以及记录功率变更的场合对自动激光功率控制42进行控制。尚且，CPU62的存储器(ROM)预先登录调变度增加量x[％]对应擦除记录功率比ε(＝擦除功率/记录功率)的增加量[％]的对应表。
图4为CPU62进行功率控制最佳化动作时处理的一实施例的流程图。
在图4中，CPU62于步骤S10，在光盘加载后判别是否有最初的写入动作，如果有最初的写入动作，则于步骤S12中进行功率控制最佳化动作，对构成功率分类区域的测试区域中的一个分割区的15个图框，以15阶段的激光功率记录测试信号以决定最佳记录功率。其后于步骤S14对测试区域其它的分隔区以最佳记录功率进行记录，更于当该分割区以最佳记录功率进行复写记录，于步骤16计算出复写记录时擦除区域的擦除残余调变度mw(15图框的平均值)，以此擦除残余调变度mw作为基准擦除残余调变度mwo并储存于CPU62的内藏存储器(非挥发性RAM)。
尚且，也可以在功率分类区域的计算区域中的一个图框上进行复写记录，以取代在步骤S14时对测试区域其它的分隔区进行复写记录。在此场合不需耗费在测试区域的其它部分进行测试，因此进行复写记录的时间能够缩短，然而由于所检测出的擦除残余调变度mw仅有1图框的检测值，因此擦除残余调变度mw的精确度较低。
图5为CPU62进行运转(Running)功率控制最佳化动作处理的一实施例的流程图。尚且，运转功率控制最佳化动作是指记录情报数据时的来自记录标记的反射光强度，与前述功率控制最佳化时的最佳记录功率的来自记录标记的反射光强度做比较，并基于比较结果，以功率控制最佳化所求得的最佳记录功率为目标，随时对现在的记录进行补正并进行记录情报数据的动作。
在图5中，CPU62于步骤S20判别是否在进行记录动作中，在记录动作中则计算出步骤S22记录部分其擦除区域的擦除残余调变度mw，然后于步骤S24求取此擦除残余调变度mw，并与储存于CPU62的内藏存储器(非挥发性RAM)的基准擦除残余调变度mwo做比较。依此比较在mw＞mwo+α的场合。于步骤S26计算出擦除残余调变度mw对基准擦除残余调变度mwo的增加量x，由登录于CPU62的存储器(ROM)中的对应表，求取前述擦除残余调变度mw的增加量x所对应的擦除功率与记录功率之比的增加量y，由此擦除功率与记录功率之比的增加量y与现在的记录功率，求取新的擦除功率并加以更新。
另一方面，于步骤S24中，在mw＜mwo-α的场合。于步骤S28计算出擦除残余调变度mw对基准擦除残余调变度mwo的增加量-x，由登录于CPU62的存储器(ROM)中的对应表，求取前述擦除残余调变度mw的增加量x所对应的擦除功率与记录功率之比的增加量-y，由此擦除功率与记录功率之比的增加量-y与现在的记录功率，求取新的擦除功率并加以更新。前述擦除功率的更新是以CPU62控制自动激光功率控制42以进行。
依此将擦除功率的值接近至适当的值，在擦除功率弱的场合提高擦除功率，以能够确保复写记录部分的信号读取错误率维持良好数值，并且在擦除功率强的场合降低擦除功率，而能够不损及可擦写式光盘的寿命。
尚且，步骤S12对应功率控制最佳化单元，步骤S14、S16对应基准擦除残余调变度计算单元，步骤S20～步骤S28对应擦除功率变更单元。
尚且，于本实施例计算出擦除残余调变度mw，并基于擦除残余调变度mw变更擦除功率，然而也可以基于所取得的记录动作时地址的错误发生次数，以变更擦除功率。
图8为本发明第二实施例的擦除功率变更处理的流程图。
尚且，由于本实施例的构成与图1相同，故省略其说明。
本实施例的擦除功率变更处理动作，是在记录动作中进行。
首先，CPU62于步骤S31中判别是否于记录动作中。CPU62于步骤S31中判别为进行记录动作的场合，不变更擦除功率。而且，CPU62于步骤S31判定进行记录的场合，以步骤S32检测ATIP信号。
CPU62基于ATIP信号，于步骤S33进行第1擦除功率变更处理，于步骤S34进行第2擦除功率变更处理，于步骤S35进行第3擦除功率变更处理。尚且，擦除功率于每次记录开始时返回基准擦除功率。尚且，基准擦除功率是媒体插入时，通过OPC所预先得到的擦除功率。
首先，对第1擦除功率变更处理进行说明。第1擦除功率变更处理系基于ATIP信号中的循环重复检查(Cyclic Redundancy Check，CRC)的结果以变更擦除功率。
图9为第1擦除功率变更处理的流程图。
CPU62于步骤S41进行CRC检查，其次CPU62于步骤S42判断CRC的检查结果为“不佳(NG)”或是“良好(OK)”。
CPU62于步骤S42的CRC的检查结果为“不佳”时，于步骤S43判定是否连续两次检测出“不佳”。此判定结果即成为信号品质的评价结果。CPU62未连续两次检测出“不佳”的话，则结束第1擦除功率变更处理。
而且，CPU62于步骤S43连续两次检测出“不佳”的场合，于步骤S44判定擦除功率的增加量是否为已知基准擦除功率的10％。
CPU62于步骤S44擦除功率的增加量超过已知基准擦除功率10％的场合，结束第1擦除功率变更处理。而且，CPU62于步骤S44擦除功率的增加量未到达已知基准擦除功率10％的话，于步骤S45将擦除功率增加一阶段。尚且，若将连续错误次数的限度订为10次的话，则一阶段设定为基准消去功率的2％。
通过以上CRC的检查结果以检测出信号品质，在信号品质不佳时，通过增加擦除功率以变更擦除功率。
其次说明第2擦除功率变更处理。第2擦除功率变更处理为基于ATIP信号中的地址的错误以变更擦除功率。
图10为第2擦除功率变更处理的流程图。
CPU62于步骤S51检测出ATIP地址。其次CPU62于步骤S52判定ATIP的检测结果是否为“不佳”。CPU62于步骤S52判定为正常检测的场合，结束第2擦除功率变更处理。
CPU62于步骤S52判定为检测出“不佳”的场合，其次于步骤S53判定是否为过去20次的检测结果中的第二次检测出“不佳”。此判定结果即相当于信号品质的评价结果，通过此判定结果能够判定ATIP地址的错误发生率是否为10％。
CPU62在此次检测出的“错误”不是过去20次中的第二次的话，结束第2擦除功率变更处理。而且，CPU62于步骤53连续2次检测出“不佳”的场合，于步骤S54判断擦除功率增加量是否为基准擦除功率的10％。
CPU62于步骤S54判定擦除功率增加量超过已知基准擦除功率的10％时，结束第二擦除变更处理。而且，CPU62于步骤S54判定擦除功率增加量超过已知基准擦除功率的10％时，于步骤S55将擦除功率增加一阶段。尚且，若将连续错误次数的限度订为10次的话，则一阶段设定为基准消去功率的2％。
通过以上ATIP地址的检测结果以检测出信号品质，在信号品质不佳时，通过增加擦除功率以变更擦除功率。尚且，擦除功率的控制系通过与第一实施例相同的方法进行。
其次说明第3擦除功率变更处理。第3擦除功率变更处理是基于ATIP信号中的同步检测结果以变更擦除功率。
图11为第3擦除功率变更处理的流程图。
CPU62于步骤S61检测同步图案。其次CPU62于步骤S62判定是否未检测出同步图案。
CPU62于步骤S62正常检测出同步图案的场合，结束第3擦除功率变更处理。而且，CPU62于步骤S62未检测出同步图案的场合，于步骤S63判定是否连续两次未检测出同步图案。
CPU62于步骤S63判定未连续两次未检测出同步图案的场合，结束第三擦除功率处理。而且，CPU62于步骤S63判定连续两次未检测出同步图案的场合，于步骤S64判定擦除功率增加量是否为增加基准擦除功率的10％。
CPU62于步骤S64判定擦除功率增加量超过基准擦除功率的10％时，结束第三擦除变更处理。而且，CPU62于步骤S54判定擦除功率增加量超过基准擦除功率的10％时，于步骤S65将擦除功率增加一阶段。
通过以上的同步图案检测结果以检测信号品质，在信号品质不佳时，通过增加擦除功率以变更擦除功率。
尚且，第1擦除功率变更处理，是在CRC检查结果两次连续“不佳”时，将擦除功率增加一阶段，然而也可以如同ATIP地址在过去20次中第2次“不佳”时，将擦除功率增加一阶段。而且，第2擦除功率变更处理，是在ATIP地址的错误在过去20次中产生第2次时，将擦除功率增加一阶段，然而也可以与同步图案相同，于连续两次发生错误时，将擦除功率增加一阶段。再者，第1擦除功率变更处理，是在连续两次未检测出同步图案的场合将擦除功率增加一阶段，然而也可以如同ATIP地址在过去20次中第2次未检测出时，将擦除功率增加一阶段。
尚且，于本实施例是基于ATIP信号的品质变更擦除功率，然而也可以基于波动信号的品质变更擦除功率。
图12为本发明第三实施例的擦除功率变更处理的流程图。
尚且，由于本实施例的构成与第一实施例相同，故省略其说明。
CPU62供给2值化的波动信号。首先CPU62于步骤S71判定是否于记录动作中。CPU62于步骤S71判定未在记录动作中的场合，不进行擦除功率的变更。而且，CPU62于步骤S71判定在记录动作中的场合，于步骤S72判定是否检测出2值化波动信号。于步骤S72判定检测出2值化波动信号的场合，于步骤S73激活内藏定时器。
CPU62于定时器激活后，于步骤S74计算2值化的波动信号。CPU62于步骤S75判定是否到达波动信号的100脉冲份量的周期τ100。步骤S74在内藏定时器的计时时间到达波动信号的100脉冲份量的周期τ100为止，计算2值化的波动信号。
记录再生速度为1倍速的场合，波动信号的频率为22.05kHz。依此，其周期τ0成为45.3μs。而且，2值化波动信号的100脉冲的周期成为：
τ100＝100*τ0＝453μs
依此，若为品质良好的波动信号，453μs则应为略100脉冲。
CPU62于步骤S75当内藏定时器的计时时间到达波动信号的100脉冲周期的τ100时，则于步骤S76判定波动信号的计算值是否在96～104计数的范围内。CPU62于步骤S76当波动信号的计算值在96～104计数的范围时，由于能够判断波动信号的品质没有问题，返回步骤S71续行记录动作。
而且，CPU62于步骤S76判定波动信号的计算值未在96～104计数的范围内时，由于波动信号的品质产生问题，于步骤S77增加一阶段的擦除功率。
尚且，本实施例通过2值化波动信号的周期是否为预定的周期以评价信号品质，然而也可以通过检测出波动信号所包含的跳动(Chattering)以评价信号品质。而能够以：跳动多的话信号品质差，跳动少的话信号品质良好以进行评价。
但是，波动信号供给CPU62时，会通过信号处理去除跳动。依此需取得去除跳动之前的波动信号以检测跳动。
将包含跳动的波动信号脉冲化，并计算其边界。边界的计算值多的话能够判断为跳动多，计算值少的话能够判断为跳动少。依此计算值评价信号品质，当信号品质差，也即是计算值较预先设定的一定值大的话，将擦除功率增加一阶段。
依上述实施例的话，由于基于记录时的信号品质变更擦除功率，于复写时，即使之前的记录标记为过记录功率时或是偏轨记录时的场合，能够通过增加擦除功率确实的进行擦除。依此，能够避免地址错误等以记录新的标记。
而且，由于上述实施例是在记录时由信号品质检测出媒体状态，增加擦除功率，因此擦除功率不会成为不必要的过大设定。依此，记录时对光盘的伤害少，能够提高复写的耐久性。
尚且，上述实施例于检测出擦除功率的错误时，由基准擦除功率一阶段一阶段的逐渐增加，然而也可以于检测出擦除功率的错误时一次至最大擦除功率，其后通过未检测出错误，一阶段一阶段的逐渐减少。
尚且，上述实施例仅变更擦除功率，也可以同时变更记录功率。
依本发明的话，评价记录时的信号品质，并基于评价结果变更光束功率的最佳值。依此，即使在例如于进行复写时，之前记录的标记为过记录功率时或是偏轨记录的场合，通过增加擦除功率以能够确实的进行擦除。依此，能够避免地址错误等以正确记录新的标记。而且，由于能够通过正确的记录标记以降低复写时的擦除功率，而能够提高媒体的寿命。
而且，依本发明的话，在加载光盘时，通过：一功率控制最佳化单元，此功率控制最佳化单元在加载光盘时，以可变的光束记录功率，在光盘的测试记录区域进行记录，并通过测试记录区域的再生信号求得最佳记录功率。一基准擦除残余调变度计算单元，以功率控制最佳化单元所得的最佳记录功率，在光盘的测试记录区域上进行复写测试记录。以擦除功率光束所擦除区域的反射光的检测信号求取峰值与谷值，且由峰值与谷值计算出并保持擦除残余调变度。一擦除功率变更单元，于记录情报数据时，求取由擦除区域的反射光的检测信号其峰值与谷值，由峰值与谷值算出擦除残余调变度，通过变更擦除功率以使计算出的擦除残余调变度接近基准擦除残余调变度，通过将擦除功率接近至适当的值，在擦除功率弱的场合提高擦除功率，以能够确保复写记录部分的信号读取错误率维持良好数值，并且在擦除功率强的场合降低擦除功率，以能够不损及可擦写式光盘的寿命。
再者，依本发明的话，擦除功率变更单元求取对基准擦除残余调变度的计算出的擦除残余调变度的增加量，并求取此擦除残余调变度的增加量所对应擦除功率与记录功率之比的增加量，并且由擦除功率与记录功率之比的增加量求取变更的擦除功率，以使擦除功率能够接近适当的数值。

Claims (5)

1.一种光盘装置，该光盘装置是对一光盘照射一光束以进行记录以及/或是再生，其特征是，该装置具有：
一检测单元，于信息的记录动作进行中时，评价于该光盘记录的一信号的一信号品质；
一功率控制单元，于信息的记录动作进行中时，基于该检测单元的该信号品质的评价结果，控制照射于该光盘的该光束的功率；以及
该检测单元基于由擦除区域的反射光的检测信号的峰值与谷值所得的一擦除残余调变度，以评价该信号品质。
2.如权利要求1所述的光盘装置，其特征是，其中：
该功率控制单元变更该光束的功率，以使该检测单元所检测出的该擦除残余调变度接近预先设定的一基准擦除残余调变度。
3.如权利要求1或2所述的光盘装置，其特征是，该功率控制单元以预先求得且成为基准的一光束功率作为基准以变更光束功率。
4.一种光盘装置，能够进行可擦写式光盘的记录，其特征是，该光盘装置具备有：
一功率控制最佳化单元，该功率控制最佳化单元在加载一光盘时，以可变的一光束记录功率，在该光盘的一测试记录区域进行记录，并通过该测试记录区域的一再生信号求得一最佳记录功率；
一基准擦除残余调变度计算单元，以该功率控制最佳化单元所得的该最佳记录功率，在该光盘的该测试记录区域上进行复写的测试记录，并由以一擦除功率光束所擦除的擦除区域的反射光的检测信号，检测出一峰值与一谷值，且由该峰值与该谷值计算出并保持一基准擦除残余调变度；以及
一擦除功率变更单元，于情报数据的记录动作进行中时，检测出由擦除区域的反射光的检测信号所得的该峰值与该谷值，由该峰值与该谷值算出该擦除残余调变度，并通过变更该擦除功率以使计算出的该擦除残余调变度接近一基准擦除残余调变度。
5.如权利要求4所述的光盘装置，其特征是，其中的该擦除功率变更单元，是对该基准擦除残余调变度求取计算出的该擦除残余调变度的增加量，并求取该擦除残余调变度对该基准擦除残余调变度的增加量所对应一擦除功率与记录功率之比的增加量，并且由该擦除功率与记录功率之比的增加量求取变更的该擦除功率。
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