JP2002222007A - コンピュータ援用製造測定解析のための方法および媒体 - Google Patents
コンピュータ援用製造測定解析のための方法および媒体Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 コンピュータ援用設計（ＣＡＤ）ファイルに
基づいて製造された複合面体に対する品質管理を容易に
するための方法を提供する。 【解決手段】 コンピュータを基礎とする方法であっ
て、１個のモデルのコンピュータ援用設計ファイルから
のデータを分解するステップと、前記分解されたデータ
を複数の小さいファイルに保存するステップであって、
前記小さいファイルの少なくとも１個は画像形成データ
を含まない解析ファイルであるステップと、前記解析フ
ァイルの少なくとも１個にアクセスするステップであっ
て、それによって前記モデルの表面の幾何学的形状を解
析するステップと、を含む。
基づいて製造された複合面体に対する品質管理を容易に
するための方法を提供する。 【解決手段】 コンピュータを基礎とする方法であっ
て、１個のモデルのコンピュータ援用設計ファイルから
のデータを分解するステップと、前記分解されたデータ
を複数の小さいファイルに保存するステップであって、
前記小さいファイルの少なくとも１個は画像形成データ
を含まない解析ファイルであるステップと、前記解析フ
ァイルの少なくとも１個にアクセスするステップであっ
て、それによって前記モデルの表面の幾何学的形状を解
析するステップと、を含む。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンピュータ援用
製造測定（ＣＡＭ２）解析のための方法とその方法を実
行するシステムを動作させるためのプログラムが含まれ
る媒体に関する。特に、本発明は、大規模なコンピュー
タ援用設計（ＣＡＤ）ファイルを管理し、これらの大規
模ＣＡＤファイルからのデータを小さくて管理し易く、
かつ速やかにアクセス可能なファイルに再編成するのを
助ける。さらに、本発明は、製造された複合表面を前記
ＣＡＤモデルに比較する場合、ＣＡＤモデル表面選択方
法を改善するものである。
製造測定（ＣＡＭ２）解析のための方法とその方法を実
行するシステムを動作させるためのプログラムが含まれ
る媒体に関する。特に、本発明は、大規模なコンピュー
タ援用設計（ＣＡＤ）ファイルを管理し、これらの大規
模ＣＡＤファイルからのデータを小さくて管理し易く、
かつ速やかにアクセス可能なファイルに再編成するのを
助ける。さらに、本発明は、製造された複合表面を前記
ＣＡＤモデルに比較する場合、ＣＡＤモデル表面選択方
法を改善するものである。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】製造
／工業市場では、通常、コンピュータ援用設計（ＣＡ
Ｄ）やコンピュータ援用製造（ＣＡＭ）を使用する。Ｃ
ＡＤのソフトウエアによって、技術者は、設計工程の最
初の段階において３次元（３Ｄ）画像を生成することが
出来、それによって生産のサイクルタイムを短縮し、生
産性の莫大な向上を獲得することが出来た。ＣＡＭのソ
フトウエアと設備によって、機械加工部品の加工効率と
品質が向上した。設計と製造の分野におけるこの様な技
術的進歩にも拘わらず、重要なあることが生産サイクル
から欠落していた。それは、生産物や部分品が本来のＣ
ＡＤ仕様に合致していることを確保するための高度に正
確で、効率良く、かつ便利な測定方法である。従来か
ら、前記ＣＡＤモデルに対して適用される多数の部品か
ら成る測定装置は、取り扱いが困難で、高価であり、か
つ信頼性が低かった。
／工業市場では、通常、コンピュータ援用設計（ＣＡ
Ｄ）やコンピュータ援用製造（ＣＡＭ）を使用する。Ｃ
ＡＤのソフトウエアによって、技術者は、設計工程の最
初の段階において３次元（３Ｄ）画像を生成することが
出来、それによって生産のサイクルタイムを短縮し、生
産性の莫大な向上を獲得することが出来た。ＣＡＭのソ
フトウエアと設備によって、機械加工部品の加工効率と
品質が向上した。設計と製造の分野におけるこの様な技
術的進歩にも拘わらず、重要なあることが生産サイクル
から欠落していた。それは、生産物や部分品が本来のＣ
ＡＤ仕様に合致していることを確保するための高度に正
確で、効率良く、かつ便利な測定方法である。従来か
ら、前記ＣＡＤモデルに対して適用される多数の部品か
ら成る測定装置は、取り扱いが困難で、高価であり、か
つ信頼性が低かった。
【０００３】従来から、製造工程においては、測定と品
質検査の機能は、いくつかの理由で、時間のかかるもの
であり、また装置の大きさ、範囲、有効性においても制
限を受けるものであった。パスや目盛尺のような手作業
測定工具は、おそらく測定速度が遅く、精度が低く、か
つ、常に１次元測定である。アナログ試験取付具は、高
価で融通性が低い。また、標準的座標測定機は、高精度
を提供するけれども、一般には品質管理試験室や測定設
備の中に配置され、製造現場からは離れた場所である。
部品は、１個ずつ取り外し、部分品用の測定室に運搬さ
れねばならない。このことは、しばしば生産ラインに対
して重大な「ダウンタイム」をもたらす。本質的に、従
来の測定技術（計測技術とも言われる）は、生産過程の
技術的発展よりも、はるかに遅れてしまった。
質検査の機能は、いくつかの理由で、時間のかかるもの
であり、また装置の大きさ、範囲、有効性においても制
限を受けるものであった。パスや目盛尺のような手作業
測定工具は、おそらく測定速度が遅く、精度が低く、か
つ、常に１次元測定である。アナログ試験取付具は、高
価で融通性が低い。また、標準的座標測定機は、高精度
を提供するけれども、一般には品質管理試験室や測定設
備の中に配置され、製造現場からは離れた場所である。
部品は、１個ずつ取り外し、部分品用の測定室に運搬さ
れねばならない。このことは、しばしば生産ラインに対
して重大な「ダウンタイム」をもたらす。本質的に、従
来の測定技術（計測技術とも言われる）は、生産過程の
技術的発展よりも、はるかに遅れてしまった。
【０００４】このＣＡＤ／ＣＡＭおよび計測技術の市場
は、製造工程の全ての面における品質に関する世界的な
強調と共に、欠落している分野、すなわちコンピュータ
援用製造測定（ＣＡＭ２）に対する必要性を駆り立てて
いる。言い換えれば、ＣＡＭ２は、ＣＡＤをベースとし
た総合品質保証技術である。今日まで、適応測定ハード
ウエアや使用可能ＣＡＤベース測定ソフトウエアは、製
造業においては未だ十分には実行されていない。
は、製造工程の全ての面における品質に関する世界的な
強調と共に、欠落している分野、すなわちコンピュータ
援用製造測定（ＣＡＭ２）に対する必要性を駆り立てて
いる。言い換えれば、ＣＡＭ２は、ＣＡＤをベースとし
た総合品質保証技術である。今日まで、適応測定ハード
ウエアや使用可能ＣＡＤベース測定ソフトウエアは、製
造業においては未だ十分には実行されていない。
【０００５】ごく最近においては、米国特許第５，４０
２，５８２号に記載されている様に、適応測定ハードウ
エアにおいていくつかの発展がなされた。その内容をこ
こに取り込んで参照とする。そのようなハードウエア
は、対象物上の点の測定と、それらの点の位置をＣＡＤ
の仕様と比較することを可能にする。全体の比較工程の
速度を早めるためには、このハードウエアはローカルコ
ンピュータに接続されねばならない。この代わりに、そ
の内容をここに取り入れて参照する米国特許第５，９７
８，７４８号に記載されている様に、このハードウエア
は、オンボードコンピュータを装備することが出来る。
このようなシステムでは、製造工程の各段階および如何
なる場所においても、複合面体の精密測定が可能であ
る。初期のシステムでは、測定される複合面体は品質管
理試験室内に取り込まれることが必要であった。
２，５８２号に記載されている様に、適応測定ハードウ
エアにおいていくつかの発展がなされた。その内容をこ
こに取り込んで参照とする。そのようなハードウエア
は、対象物上の点の測定と、それらの点の位置をＣＡＤ
の仕様と比較することを可能にする。全体の比較工程の
速度を早めるためには、このハードウエアはローカルコ
ンピュータに接続されねばならない。この代わりに、そ
の内容をここに取り入れて参照する米国特許第５，９７
８，７４８号に記載されている様に、このハードウエア
は、オンボードコンピュータを装備することが出来る。
このようなシステムでは、製造工程の各段階および如何
なる場所においても、複合面体の精密測定が可能であ
る。初期のシステムでは、測定される複合面体は品質管
理試験室内に取り込まれることが必要であった。
【０００６】図１は、一般に、手動多関節アーム１２
と、支持ベースまたは支柱１４と、コントローラまたは
シリアルボックス１６と、ホストコンピュータ１８とか
ら成る座標測定システム（ＣＭＭ）１０を含む座標測定
システムを有する従来の３次元測定システムの概略図で
ある。
と、支持ベースまたは支柱１４と、コントローラまたは
シリアルボックス１６と、ホストコンピュータ１８とか
ら成る座標測定システム（ＣＭＭ）１０を含む座標測定
システムを有する従来の３次元測定システムの概略図で
ある。
【０００７】上述した現在の技術の一つの重要な欠点
は、ＣＡＤのファイルが高能力のコンピュータを必要と
することである。このような訳で、前記ＣＡＭ２市場
は、入手可能な一般に市場に出回っているコンピュータ
の能力によって制限を受ける。ある会社において、１な
いし２台の高能力かつ高価なコンピュータを品質管理試
験室に配置するのは普通かもしれないけれども、その会
社が工場全体に多数の高価なコンピュータを配置するこ
とは有りそうもない。上述の適応測定ハードウエア装置
は、一般に製造工程の異なる点において割り当てられた
独特な場所であるから、費用が主要な関心事となる。従
って、ＣＡＤのファイルを処理するための必要条件が制
限因子となる。代表的なパーソナルコンピュータの能力
は、大規模なコンピュータファイルを処理するのに十分
であるが、そのファイルは、通常、もっと強力なワーク
ステーションによって取り扱われるに違いない。
は、ＣＡＤのファイルが高能力のコンピュータを必要と
することである。このような訳で、前記ＣＡＭ２市場
は、入手可能な一般に市場に出回っているコンピュータ
の能力によって制限を受ける。ある会社において、１な
いし２台の高能力かつ高価なコンピュータを品質管理試
験室に配置するのは普通かもしれないけれども、その会
社が工場全体に多数の高価なコンピュータを配置するこ
とは有りそうもない。上述の適応測定ハードウエア装置
は、一般に製造工程の異なる点において割り当てられた
独特な場所であるから、費用が主要な関心事となる。従
って、ＣＡＤのファイルを処理するための必要条件が制
限因子となる。代表的なパーソナルコンピュータの能力
は、大規模なコンピュータファイルを処理するのに十分
であるが、そのファイルは、通常、もっと強力なワーク
ステーションによって取り扱われるに違いない。
【０００８】製造された生産物の多くは、近年では、３
次元的に高度に湾曲している。そのような生産物の品質
管理検査は、対象物の表面上の点を測定し、それらをＣ
ＡＤファイル内の表面と比較する能力を必要とする。Ｃ
ＡＤファイルは、通常、これらの曲線、点、ベクトル、
種々の層の設定、およびその他の特徴点に関する情報
と、必ずしも測定には関係しないけれども特定のＣＡＤ
のフォーマットの各々にとっては重要な情報とを含むの
で通常極めて大規模なものになる。
次元的に高度に湾曲している。そのような生産物の品質
管理検査は、対象物の表面上の点を測定し、それらをＣ
ＡＤファイル内の表面と比較する能力を必要とする。Ｃ
ＡＤファイルは、通常、これらの曲線、点、ベクトル、
種々の層の設定、およびその他の特徴点に関する情報
と、必ずしも測定には関係しないけれども特定のＣＡＤ
のフォーマットの各々にとっては重要な情報とを含むの
で通常極めて大規模なものになる。
【０００９】さらに、ある複合面体上の測定値の比較を
行う時、ユーザは、比較を行うべきＣＡＤモデル上の一
つの表面を選定しなければならない。しばしば、ＣＡＤ
モデル内に含まれている多数の表面の複雑さのために、
表面を選定する基本的動作が困難かつ長時間必要とする
ことがある。単一のＣＡＤモデルが、数百ないし数千の
選定すべき表面を含むことも有り得る。たとえユーザが
モデルの特定の領域に対する探索範囲を狭めたとして
も、それらの表面は重なり合い、小さく、または密接に
寄せ集まっているので、区別するのが、しばしば困難に
なる。
行う時、ユーザは、比較を行うべきＣＡＤモデル上の一
つの表面を選定しなければならない。しばしば、ＣＡＤ
モデル内に含まれている多数の表面の複雑さのために、
表面を選定する基本的動作が困難かつ長時間必要とする
ことがある。単一のＣＡＤモデルが、数百ないし数千の
選定すべき表面を含むことも有り得る。たとえユーザが
モデルの特定の領域に対する探索範囲を狭めたとして
も、それらの表面は重なり合い、小さく、または密接に
寄せ集まっているので、区別するのが、しばしば困難に
なる。
【００１０】従来技術の上述した欠点やその他の欠点と
欠陥は、本発明によって克服または軽減することが出来
る。本発明は、コンピュータを基礎とする方法とシステ
ムを提供することによって製造された複合面体に対する
品質管理を容易にする。特に、本発明の方法とシステム
は、その様な複合面体の測定と、それらの測定値と大規
模なＣＡＤファイルとの比較とを支援する。
欠陥は、本発明によって克服または軽減することが出来
る。本発明は、コンピュータを基礎とする方法とシステ
ムを提供することによって製造された複合面体に対する
品質管理を容易にする。特に、本発明の方法とシステム
は、その様な複合面体の測定と、それらの測定値と大規
模なＣＡＤファイルとの比較とを支援する。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の一態様によれ
ば、大規模なＣＡＤファイルに伴う諸問題を、そのよう
なファイルの各々を多重ファイル形式に分解することよ
って軽減する。大規模なＣＡＤファイルは、この方法に
よって、その大規模なファイルに含まれた情報を組織化
する小さいファイルに分解される。この組織化は、測定
工程に関連する情報が、測定値を計算するのに必要でな
い情報とは異なる小さいファイルに分解される様に遂行
される。この様にして、計算を実行しているコンピュー
タは、必要な情報を高い割合で含む小さいファイルにア
クセスする。
ば、大規模なＣＡＤファイルに伴う諸問題を、そのよう
なファイルの各々を多重ファイル形式に分解することよ
って軽減する。大規模なＣＡＤファイルは、この方法に
よって、その大規模なファイルに含まれた情報を組織化
する小さいファイルに分解される。この組織化は、測定
工程に関連する情報が、測定値を計算するのに必要でな
い情報とは異なる小さいファイルに分解される様に遂行
される。この様にして、計算を実行しているコンピュー
タは、必要な情報を高い割合で含む小さいファイルにア
クセスする。
【００１２】さらに、測定中の物理表面とその表面に対
する適正な関連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時
に、ユーザを支援することによって、処理速度はさらに
早められる。特に、ある実施態様では、各表面に対して
選択領域を使用する。一つの選択領域は、各表面を指示
する。この様にして、測定点が選定されると、表面領域
のリストが自動的に走査され、どの領域がその点を含ん
でいるかが決定される。その測定点からその表面までの
対応する距離が、その後で計算される。
する適正な関連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時
に、ユーザを支援することによって、処理速度はさらに
早められる。特に、ある実施態様では、各表面に対して
選択領域を使用する。一つの選択領域は、各表面を指示
する。この様にして、測定点が選定されると、表面領域
のリストが自動的に走査され、どの領域がその点を含ん
でいるかが決定される。その測定点からその表面までの
対応する距離が、その後で計算される。
【００１３】
【発明の実施の形態】図２は、本実施形態における大規
模ファイルの取扱い方法を示す図である。この方法は、
コンピュータ利用方法であって、その中では、記憶媒体
内に含まれているコンピュータプログラムに応じて、マ
イクロプロセッサがそれぞれのステップを実行する。例
示の実施形態においては、ホストコンピュータがこの方
法を実行する。この代りに、あまり複雑でないアームベ
ースコントローラが、米国特許第５，９７８，７４８号
に記載されている様に、このプログラムを実行すること
も出来る。図示されている様に、ユーザは、識別された
複合面体のモデルを含む大規模ＣＡＤファイルを、ステ
ップ１００においてインポートすることによって、この
方法を開始する。標準的なＣＡＤファイルは、モデルの
設計段階では重要であるけれどもＣＡＭ２には完全には
関係しない情報の大量の貯蔵をそれぞれ有する多数の層
を含んでいる。この大規模ＣＡＤファイルは、それから
解析され、その中に含まれたデータの機能をステップ２
００において識別する。また、各データは、そのＣＡＤ
モデルに含まれた表面の実体にリンクすることが出来
る。このようにして、どのデータが各実体に関係するか
を見失わないために、各ファイルデータをＣＡＤモデル
内の関連する表面実体にリンクさせる指示ファイル（Ｆ
ＬＩファイル）が、ステップ３００で生成される。本実
施形態においては、ＣＡＤファイルデータの全機能は、
２グループに分解される。第１のグループは、観察デー
タファイル５００によってＣＡＤモデルを見るために用
いられるデータに関連し、第２のグループは、データ解
析ファイル６００によってＣＡＤモデルを解析するため
に用いられるデータに関連する。このようにして、この
ＣＡＤデータは、機能的区別によってステップ４００に
おいて、小さいファイルに分離される。これら２種類の
主な機能的区別の中においても、さらに機能的区別を付
けることが可能であることに留意することが重要であ
る。また、元のＣＡＤファイルデータは、分解され、再
構成されたけれども、それは常にＣＡＤモデル内の関連
した表面実体に、ＦＬＩファイルによって、リンクされ
たままである。
模ファイルの取扱い方法を示す図である。この方法は、
コンピュータ利用方法であって、その中では、記憶媒体
内に含まれているコンピュータプログラムに応じて、マ
イクロプロセッサがそれぞれのステップを実行する。例
示の実施形態においては、ホストコンピュータがこの方
法を実行する。この代りに、あまり複雑でないアームベ
ースコントローラが、米国特許第５，９７８，７４８号
に記載されている様に、このプログラムを実行すること
も出来る。図示されている様に、ユーザは、識別された
複合面体のモデルを含む大規模ＣＡＤファイルを、ステ
ップ１００においてインポートすることによって、この
方法を開始する。標準的なＣＡＤファイルは、モデルの
設計段階では重要であるけれどもＣＡＭ２には完全には
関係しない情報の大量の貯蔵をそれぞれ有する多数の層
を含んでいる。この大規模ＣＡＤファイルは、それから
解析され、その中に含まれたデータの機能をステップ２
００において識別する。また、各データは、そのＣＡＤ
モデルに含まれた表面の実体にリンクすることが出来
る。このようにして、どのデータが各実体に関係するか
を見失わないために、各ファイルデータをＣＡＤモデル
内の関連する表面実体にリンクさせる指示ファイル（Ｆ
ＬＩファイル）が、ステップ３００で生成される。本実
施形態においては、ＣＡＤファイルデータの全機能は、
２グループに分解される。第１のグループは、観察デー
タファイル５００によってＣＡＤモデルを見るために用
いられるデータに関連し、第２のグループは、データ解
析ファイル６００によってＣＡＤモデルを解析するため
に用いられるデータに関連する。このようにして、この
ＣＡＤデータは、機能的区別によってステップ４００に
おいて、小さいファイルに分離される。これら２種類の
主な機能的区別の中においても、さらに機能的区別を付
けることが可能であることに留意することが重要であ
る。また、元のＣＡＤファイルデータは、分解され、再
構成されたけれども、それは常にＣＡＤモデル内の関連
した表面実体に、ＦＬＩファイルによって、リンクされ
たままである。
【００１４】観察データには、ユーザにＣＡＤモデル上
の実体を観察し、選択させるのに必要な情報が含まれ
る。この観察システムの速度は、ＣＡＤ表面に対するコ
ア演算を観察時には実行しないことによって達成され
る。正規のＣＡＤプロセッサは、それらの表面に関連す
る演算を実行して、それらの表面を表示しなければなら
ない。これとは対照的に、解析データは、物理複合面体
モデルからの測定値とＣＡＤモデルとの比較を可能にす
るために必要な情報を含む。幾何学的比較を解析する時
には、画像形成データを処理しないことによって、さら
に速度の増大が達成される。
の実体を観察し、選択させるのに必要な情報が含まれ
る。この観察システムの速度は、ＣＡＤ表面に対するコ
ア演算を観察時には実行しないことによって達成され
る。正規のＣＡＤプロセッサは、それらの表面に関連す
る演算を実行して、それらの表面を表示しなければなら
ない。これとは対照的に、解析データは、物理複合面体
モデルからの測定値とＣＡＤモデルとの比較を可能にす
るために必要な情報を含む。幾何学的比較を解析する時
には、画像形成データを処理しないことによって、さら
に速度の増大が達成される。
【００１５】図３は、ＣＡＤファイルの小さいファイル
への分解と、それらの小さいファイルのリンク指示ファ
イル（ＦＬＩファイル）に対する関係とを示す図であ
る。上述した様に、これらの小さいファイルは、観察デ
ータファイル５００と解析データファイル６００の２グ
ループに分類される。観察データファイル５００は、さ
らに４種類の別個のファイル、ＷＩＦ５１０、ＤＲＥ５
２０、ＳＥＴ５３０、およびＢＭＰ５４０のファイルに
分解される。ＷＩＦファイル５１０は、ワイヤフレーム
モデルの視覚表現のための曲線を含む。ＤＲＥファイル
５２０は、そのモデルの陰影表示のための表面上の点と
ベクトルを含む。ＳＥＴファイル５３０は、実体をフィ
ルタするための層設定を含む。ＢＭＰファイル５４０
は、そのモデルのプレビューを含む。解析データファイ
ル６００は、２種類の小さいファイル、ＲＥＧＩＯＮ
（ＢＯＸ）６１０とＦＬＣ６２０のファイルだけに分解
される。ＲＥＧＩＯＮファイル６１０は、各表面を取り
囲むことが出来る最小可能３次元領域に関係する特定の
表面およびデータのリストを含む。選択領域は、個々の
表面の各々をちょうど取り囲むことが出来る大きさの３
次元直方体であって良い。その他の幾何学的形状もこの
選択領域に対して使用出来ることが理解されよう。ＦＬ
Ｃファイル６２０は、モデルの表面を表現する実際の演
算方法を含む。
への分解と、それらの小さいファイルのリンク指示ファ
イル（ＦＬＩファイル）に対する関係とを示す図であ
る。上述した様に、これらの小さいファイルは、観察デ
ータファイル５００と解析データファイル６００の２グ
ループに分類される。観察データファイル５００は、さ
らに４種類の別個のファイル、ＷＩＦ５１０、ＤＲＥ５
２０、ＳＥＴ５３０、およびＢＭＰ５４０のファイルに
分解される。ＷＩＦファイル５１０は、ワイヤフレーム
モデルの視覚表現のための曲線を含む。ＤＲＥファイル
５２０は、そのモデルの陰影表示のための表面上の点と
ベクトルを含む。ＳＥＴファイル５３０は、実体をフィ
ルタするための層設定を含む。ＢＭＰファイル５４０
は、そのモデルのプレビューを含む。解析データファイ
ル６００は、２種類の小さいファイル、ＲＥＧＩＯＮ
（ＢＯＸ）６１０とＦＬＣ６２０のファイルだけに分解
される。ＲＥＧＩＯＮファイル６１０は、各表面を取り
囲むことが出来る最小可能３次元領域に関係する特定の
表面およびデータのリストを含む。選択領域は、個々の
表面の各々をちょうど取り囲むことが出来る大きさの３
次元直方体であって良い。その他の幾何学的形状もこの
選択領域に対して使用出来ることが理解されよう。ＦＬ
Ｃファイル６２０は、モデルの表面を表現する実際の演
算方法を含む。
【００１６】図４は、単純な多重表面ＣＡＤ複合面体の
図面を示すものである。このような複合面体は、通常、
標準デカルト座標系において測定される。この様にし
て、複合面体上の任意の点は、任意の他の点に相対的に
測定することが出来る。一般に用いられるＣＡＤファイ
ルの様に、一般に基準または参照点が定義され、その点
を基準にしてその他の全ての点が測定される。言い換え
れば、複合面体の図面上の１点の距離は、前記基準点か
ら相対的に測定される。
図面を示すものである。このような複合面体は、通常、
標準デカルト座標系において測定される。この様にし
て、複合面体上の任意の点は、任意の他の点に相対的に
測定することが出来る。一般に用いられるＣＡＤファイ
ルの様に、一般に基準または参照点が定義され、その点
を基準にしてその他の全ての点が測定される。言い換え
れば、複合面体の図面上の１点の距離は、前記基準点か
ら相対的に測定される。
【００１７】図５は、図４の複合面体の中にあったねじ
の立体図である。また、図５は、ねじの頭部の頂上を取
り囲む表面選択領域が見える様に画かれている。製造
後、恐らく検査されるであろう複合面体の各表面は、そ
れ自身の表面選択領域によって取り囲まれねばならな
い。各領域は、それに対応する表面を最小可能３次元領
域によって取り囲まねばならない。図５に見られる様
に、ねじ頭部の外面は、一つの領域によって取り囲まれ
ている。この様にして、この領域は、ねじ頭部の面を形
成する多数の点のみならず、この表面付近の多くの他の
点をも含んでいる。
の立体図である。また、図５は、ねじの頭部の頂上を取
り囲む表面選択領域が見える様に画かれている。製造
後、恐らく検査されるであろう複合面体の各表面は、そ
れ自身の表面選択領域によって取り囲まれねばならな
い。各領域は、それに対応する表面を最小可能３次元領
域によって取り囲まねばならない。図５に見られる様
に、ねじ頭部の外面は、一つの領域によって取り囲まれ
ている。この様にして、この領域は、ねじ頭部の面を形
成する多数の点のみならず、この表面付近の多くの他の
点をも含んでいる。
【００１８】図６は、複合面体とそのＣＡＤモデルとの
間の表面測定値の比較の方法を示す図である。この方法
は、恐らく上述の様にコンピュータ利用の方法となるで
あろう。最初のステップ１０００においては、製造され
た複合面体の様な物理対象が検査のために識別される。
このシステムに関連させるため、この製造された複合面
体は、関連するＣＡＤファイル（１個またはそれ以上）
に含まれるパラメータを基礎としている。この様にし
て、測定値の比較が、物理モデルと仮想モデルとの間で
実行することが出来る。次に、関連するＣＡＤファイル
が、ステップ１１００においてＣＡＭ２フォーマットに
翻訳される。前述した様に、大規模なＣＡＤファイル
は、その後、分解され、その後、６個の小さいファイル
として保存される。次のステップは、各検査表面を取り
囲む３次元選択領域をステップ１２００において生成す
ることを含む。上述した様に、各選択領域に対応するデ
ータは、それが定義する容積と共に領域ファイル６１０
内に保存される。この領域ファイル６１０は、その後、
その容積内のいずれかの点を、特に定義した検査面に関
連させるのに用いられる。物理測定表面上のある点の相
対位置の測定は、その後、ステップ１４００において、
実行され、記録される。この様にして、モデルと同様
に、基準点が使用され、その結果、いずれの測定点もこ
の基準点に対して相対的に測定される。物理複合面体と
仮想モデルの両者に対する基準点は、同一である。物理
複合面体と仮想モデルは、測定された基準点に基づいて
実行される芯合わせアルゴリズムによって芯合わせする
ことが出来る。これらの基準点の相対位置に何等かの相
違があれば、この比較方法の品質または精度を変化させ
ることになる。この様にして、物理的に測定された点
は、仮想モデルの上または近傍に類似した点を有するで
あろう。機械加工における誤差のために、物理的に測定
した点に類似する点が仮想モデルの表面上に位置しない
かも知れない。しかし、その点は仮想モデルの表面上に
位置しないけれども、恐らくは、その表面近くに位置
し、従って前述した選択領域内に位置するであろう。コ
ンピュータは、このようにして、領域ファイル６１０を
使用して記録された点を含むか、または最も近接した選
択領域をステップ１５００において確認する。その選択
領域は、ソフトウエアによって自動的に選択される。も
し、ある点が多重領域内に来るならば、その時は、その
ソフトウエアは最も近接した表面を探索する場合に、両
方の表面を考慮する。選択領域の目的は、最も近接した
表面上の点を決定するために、ソフトウエアがＣＡＤモ
デル内の全表面に対する距離を計算する必要が無いよう
にするためである。これは、選択の組を制限するために
設計されている。ここに記述されている様に、ユーザに
対する出力は、単に表面までの距離だけである。
間の表面測定値の比較の方法を示す図である。この方法
は、恐らく上述の様にコンピュータ利用の方法となるで
あろう。最初のステップ１０００においては、製造され
た複合面体の様な物理対象が検査のために識別される。
このシステムに関連させるため、この製造された複合面
体は、関連するＣＡＤファイル（１個またはそれ以上）
に含まれるパラメータを基礎としている。この様にし
て、測定値の比較が、物理モデルと仮想モデルとの間で
実行することが出来る。次に、関連するＣＡＤファイル
が、ステップ１１００においてＣＡＭ２フォーマットに
翻訳される。前述した様に、大規模なＣＡＤファイル
は、その後、分解され、その後、６個の小さいファイル
として保存される。次のステップは、各検査表面を取り
囲む３次元選択領域をステップ１２００において生成す
ることを含む。上述した様に、各選択領域に対応するデ
ータは、それが定義する容積と共に領域ファイル６１０
内に保存される。この領域ファイル６１０は、その後、
その容積内のいずれかの点を、特に定義した検査面に関
連させるのに用いられる。物理測定表面上のある点の相
対位置の測定は、その後、ステップ１４００において、
実行され、記録される。この様にして、モデルと同様
に、基準点が使用され、その結果、いずれの測定点もこ
の基準点に対して相対的に測定される。物理複合面体と
仮想モデルの両者に対する基準点は、同一である。物理
複合面体と仮想モデルは、測定された基準点に基づいて
実行される芯合わせアルゴリズムによって芯合わせする
ことが出来る。これらの基準点の相対位置に何等かの相
違があれば、この比較方法の品質または精度を変化させ
ることになる。この様にして、物理的に測定された点
は、仮想モデルの上または近傍に類似した点を有するで
あろう。機械加工における誤差のために、物理的に測定
した点に類似する点が仮想モデルの表面上に位置しない
かも知れない。しかし、その点は仮想モデルの表面上に
位置しないけれども、恐らくは、その表面近くに位置
し、従って前述した選択領域内に位置するであろう。コ
ンピュータは、このようにして、領域ファイル６１０を
使用して記録された点を含むか、または最も近接した選
択領域をステップ１５００において確認する。その選択
領域は、ソフトウエアによって自動的に選択される。も
し、ある点が多重領域内に来るならば、その時は、その
ソフトウエアは最も近接した表面を探索する場合に、両
方の表面を考慮する。選択領域の目的は、最も近接した
表面上の点を決定するために、ソフトウエアがＣＡＤモ
デル内の全表面に対する距離を計算する必要が無いよう
にするためである。これは、選択の組を制限するために
設計されている。ここに記述されている様に、ユーザに
対する出力は、単に表面までの距離だけである。
【００１９】一旦、領域ファイル６１０が確認される
と、類似する表面上の点のその表面に対する相対位置を
解析するために、表面データをステップ１６００で抽出
することが出来る。最後に、測定された表面上の点とＣ
ＡＤモデル表面との間の距離を計算することによって、
距離の計算が実行される。この様にして、ユーザは、複
合されたモデルが元の設計モデルに比較してどれほど異
なるかの情報を提供される筈である。
と、類似する表面上の点のその表面に対する相対位置を
解析するために、表面データをステップ１６００で抽出
することが出来る。最後に、測定された表面上の点とＣ
ＡＤモデル表面との間の距離を計算することによって、
距離の計算が実行される。この様にして、ユーザは、複
合されたモデルが元の設計モデルに比較してどれほど異
なるかの情報を提供される筈である。
【００２０】上述した様に、本発明は、コンピュータ利
用方法およびそれらの方法を実行するための装置の形で
具体化することが出来る。本発明は、また、コンピュー
タプログラムコードの形で具体化することが出来、その
中にはフロッピィディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ハードドラ
イブ、またはその他いずれかのコンピュータで読み取れ
る記憶媒体の様な有形の媒体の中に具体化された命令が
含まれ、そのコンピュータプログラムコードがコンピュ
ータにロードされ、実行される時、そのコンピュータは
本発明を実行するための装置となる。本発明は、また、
例えば、記憶媒体に記憶されるか、コンピュータにロー
ドされるか、および／または、実行されるか、または電
気配線またはケーブルの様なある伝送媒体上に光ファイ
バ伝送技術によって、または電磁放射によって伝送され
る様なコンピュータコードの形で具体化することも出
来、そのコンピュータプログラムコードがコンピュータ
にロードされ、実行される時、そのコンピュータは本発
明を実行するための装置となる。汎用マイクロプロセッ
サ上に実施される場合は、コンピュータプログラムコー
ドセグメントは、特定の論理回路を生成する様にそのマ
イクロプロセッサを構成する。
用方法およびそれらの方法を実行するための装置の形で
具体化することが出来る。本発明は、また、コンピュー
タプログラムコードの形で具体化することが出来、その
中にはフロッピィディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ハードドラ
イブ、またはその他いずれかのコンピュータで読み取れ
る記憶媒体の様な有形の媒体の中に具体化された命令が
含まれ、そのコンピュータプログラムコードがコンピュ
ータにロードされ、実行される時、そのコンピュータは
本発明を実行するための装置となる。本発明は、また、
例えば、記憶媒体に記憶されるか、コンピュータにロー
ドされるか、および／または、実行されるか、または電
気配線またはケーブルの様なある伝送媒体上に光ファイ
バ伝送技術によって、または電磁放射によって伝送され
る様なコンピュータコードの形で具体化することも出
来、そのコンピュータプログラムコードがコンピュータ
にロードされ、実行される時、そのコンピュータは本発
明を実行するための装置となる。汎用マイクロプロセッ
サ上に実施される場合は、コンピュータプログラムコー
ドセグメントは、特定の論理回路を生成する様にそのマ
イクロプロセッサを構成する。
【００２１】以上説明したように、本発明は、大規模な
ＣＡＤファイルにおいて遭遇する諸問題を、その様なフ
ァイルの各々を多重ファイルフォーマットに分解するこ
とによって軽減する。これによって、大規模なＣＡＤフ
ァイルは、その中に含まれている情報を組織する小型の
ファイルに分解される。この組織化は、測定工程に関係
する情報が、測定値を計算するのに必要でない情報とは
異なる小型のファイルに分離される様に実行される。こ
の様にして、計算を実行しているコンピュータは、必要
な情報を高い割合で含む小規模なファイルにアクセスす
る。さらに、測定される物理表面とその表面の適正な関
連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時に、ユーザを
支援することによって、さらに処理速度が高められる。
特に、本発明では、各表面に対して選択領域を用いる。
選択領域は、個々の各表面をちょうど取り囲む大きさの
３次元直方体領域の表示から成る。一つの選択領域は各
表面を指示する。この様にして、ある測定点が定まる
と、表面領域のリストが自動的に走査され、どの領域が
その点を含むかが決定される。その測定点からその表面
までの対応する距離が、その後、計算される。
ＣＡＤファイルにおいて遭遇する諸問題を、その様なフ
ァイルの各々を多重ファイルフォーマットに分解するこ
とによって軽減する。これによって、大規模なＣＡＤフ
ァイルは、その中に含まれている情報を組織する小型の
ファイルに分解される。この組織化は、測定工程に関係
する情報が、測定値を計算するのに必要でない情報とは
異なる小型のファイルに分離される様に実行される。こ
の様にして、計算を実行しているコンピュータは、必要
な情報を高い割合で含む小規模なファイルにアクセスす
る。さらに、測定される物理表面とその表面の適正な関
連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時に、ユーザを
支援することによって、さらに処理速度が高められる。
特に、本発明では、各表面に対して選択領域を用いる。
選択領域は、個々の各表面をちょうど取り囲む大きさの
３次元直方体領域の表示から成る。一つの選択領域は各
表面を指示する。この様にして、ある測定点が定まる
と、表面領域のリストが自動的に走査され、どの領域が
その点を含むかが決定される。その測定点からその表面
までの対応する距離が、その後、計算される。
【００２２】以上、本発明を、その特定の実施形態に関
連させて、記述したが、上記の記述を参照すれば、多く
の代替案、変形案、および変更案の存在することは、当
業者にとって明白である。従って、本発明は、その精神
と広い範囲内に包含される様な代替案、変形案、および
変更案の全てを含むことが意図されたものである。
連させて、記述したが、上記の記述を参照すれば、多く
の代替案、変形案、および変更案の存在することは、当
業者にとって明白である。従って、本発明は、その精神
と広い範囲内に包含される様な代替案、変形案、および
変更案の全てを含むことが意図されたものである。
【図１】 従来の座標測定システムの概略図である。
【図２】 大規模なＣＡＤファイルを、分解と再構成の
手法を用いて、管理するための方法とシステムを示す図
である。
手法を用いて、管理するための方法とシステムを示す図
である。
【図３】 ＣＡＤファイルとＣＡＭ２フォーマットとの
関係および分解を示す図である。
関係および分解を示す図である。
【図４】 単純な多重表面ＣＡＤ複合面体の図面を示す
図である。
図である。
【図５】 図４に示されたＣＡＤ複合面体の立体図であ
り、ねじの頭部の頂上表面を取り囲む表面選択領域の視
覚化を示す図である。
り、ねじの頭部の頂上表面を取り囲む表面選択領域の視
覚化を示す図である。
【図６】 実施形態における複合面体とそのＣＡＤモデ
ルとの間の表面測定値の比較の方法とシステムを示す図
である。
ルとの間の表面測定値の比較の方法とシステムを示す図
である。
１０ 座標測定システム（ＣＭＭ）、１２ 手動多関節
アーム、１４ 支持ベースまたは支柱、１６ コントロ
ーラまたはシリアルボックス、１８ ホストコンピュー
タ。
アーム、１４ 支持ベースまたは支柱、１６ コントロ
ーラまたはシリアルボックス、１８ ホストコンピュー
タ。
フロントページの続き (72)発明者 フランク ファード オゥリステン ドイツ コーンウエストヘイム オーリッ ヒシュトラーセ 19 Ｆターム(参考） 2F069 AA04 AA66 GG07 GG72 HH30 JJ26 QQ10 5H269 AB01 AB19 BB08 CC02 DD01
Claims (24)
- 【請求項１】 コンピュータを基礎とする方法であっ
て、 １個のモデルのコンピュータ援用設計ファイルからのデ
ータを分解するステップと、 前記分解されたデータを複数の小さいファイルに保存す
るステップであって、前記小さいファイルの少なくとも
１個は画像形成データを含まない解析ファイルであるス
テップと、 前記解析ファイルの少なくとも１個にアクセスするステ
ップであって、それによって前記モデルの表面の幾何学
的形状を解析するステップと、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の方法において、 前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記モデルの画
像を表示するのに必要なデータを十分には含まないこと
を特徴とする方法。 - 【請求項３】 請求項１に記載の方法において、 前記解析ファイルの少なくとも１個は前記表面の幾何学
的形状を解析するのに必要なデータから成ることを特徴
とする方法。 - 【請求項４】 請求項１に記載の方法において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、画像形成デー
タを含むことを特徴とする方法。 - 【請求項５】 請求項１に記載の方法において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾
何学的形状を解析するのに必要なデータを十分には含ま
ないことを特徴とする方法。 - 【請求項６】 請求項１に記載の方法において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記モデル上
の指定された表面と、指定された表面の各々を取り囲む
ことが出来る最小可能３次元領域に関するデータとのリ
ストを含むことを特徴とする方法。 - 【請求項７】 請求項１に記載の方法において、 前記小さいファイルの少なくとも１個の少なくとも第２
番目のファイルは、前記表面データの数学的解析に必要
なデータのみを十分に含むことを特徴とする方法。 - 【請求項８】 請求項６に記載の方法であって、さら
に、 物理物体の検査表面上の表面点の位置を取得するステッ
プであって、前記物理物体上の少なくとも１個の物理検
査表面は前記モデル上の等価な表面に対応し、上記モデ
ル上の上記の面の各々は異なる限定された限定容積によ
って取り囲まれているステップと、 前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個
の目標容積を限定するステップと、 前記少なくとも１個の目標容積によって取り囲まれた前
記モデル上の表面と前記物理物体上の前記表面点との間
の距離を決定するステップと、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項９】 請求項８に記載の方法において、 前記限定容積の各々は、前記検査表面を取り囲むことが
出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする方
法。 - 【請求項１０】 コンピュータを基礎とする方法であっ
て、 物理物体のモデルを含むコンピュータ援用設計ファイル
を入力するステップであって、前記物理物体上の少なく
とも１個の検査表面は、前記モデル上の等価な表面に対
応し、上記モデル上の上記の面の各々は異なる限定され
た限定容積によって取り囲まれているステップと、 前記モデルと前記物理物体の両者に共通な基準点を含め
るステップと、 前記物理物体の検査表面上の表面点の位置を入力するス
テップと、 前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個
の目標容積を限定するステップと、 前記少なくとも１個の目標容積によって取り囲まれた前
記モデル上の表面と前記物理物体上の前記表面点との間
の距離を決定するステップと、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項１１】 請求項１０に記載の方法において、 限定容積が前記表面点を取り囲まない場合は、前記目標
容積は前記表面点に最も近接した容積を含むことを特徴
とする方法。 - 【請求項１２】 請求項１０に記載の方法において、 前記限定容積の少なくとも１個の各々は、前記検査表面
を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むこと
を特徴とする方法。 - 【請求項１３】 コンピュータ援用設計データを管理す
るための機械可読コンピュータプログラムコードを含む
媒体であって、 前記媒体は、 モデルのコンピュータ援用設計ファイルからのデータを
分解するステップと、 前記分解データを複数の小さいファイルに保存するステ
ップであって、前記小さいファイルの少なくとも１個
は、画像形成データを含まない解析ファイルであるステ
ップと、 前記解析ファイルの少なくとも１個にアクセスするステ
ップであって、それによって前記モデルの表面の幾何学
的形状を解析するステップと、 を含む方法をコンピュータに実行させる命令を含むこと
を特徴とする媒体。 - 【請求項１４】 請求項１３に記載の媒体において、 前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記モデルの画
像を表示するのに必要なデータを十分には含まないこと
を特徴とする媒体。 - 【請求項１５】 請求項１３に記載の媒体において、 前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾何
学的形状を解析するのに必要なデータから成ることを特
徴とする媒体。 - 【請求項１６】 請求項１３に記載の媒体において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、画像形成デー
タを含むことを特徴とする媒体。 - 【請求項１７】 請求項１３に記載の媒体において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾
何学的形状を解析するのに必要なデータを十分には含ま
ないことを特徴とする媒体。 - 【請求項１８】 請求項１３に記載の媒体において、 前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記モデル上
の指定された表面と、指定された表面の各々を取り囲む
ことが出来る最小可能３次元領域に関するデータとのリ
ストを含むことを特徴とする媒体。 - 【請求項１９】 請求項１３に記載の媒体において、 前記小さいファイルの少なくとも１個の少なくとも第２
番目のファイルは、前記表面データの数学的解析のため
に必要なデータのみを十分に含むことを特徴とする媒
体。 - 【請求項２０】 請求項１８に記載の媒体であって、さ
らに、 物理物体の検査表面上の表面点の位置を取得するステッ
プであって、前記物理物体上の少なくとも１個の物理検
査表面は前記モデル上の等価な表面に対応し、上記モデ
ル上の上記の面の各々は異なる限定された限定容積によ
って取り囲まれているステップと、 前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個
の目標容積を限定するステップと、 前記少なくとも１個の目標容積によって取り囲まれた前
記モデル上の表面と前記物理物体上の前記表面点との間
の距離を決定するステップと、 をコンピュータに実行させる命令を含むことを特徴とす
る媒体。 - 【請求項２１】 請求項２０に記載の媒体において、 前記限定容積の各々は、前記検査表面を取り囲むことが
出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする媒
体。 - 【請求項２２】 物理物体を測定する時に用いるための
機械可読コンピュータプログラムコードを含む媒体であ
って、 前記媒体は、 物理物体のモデルを含むコンピュータ援用設計ファイル
を入力するステップであって、前記物理物体上の少なく
とも１個の検査表面は、前記モデル上の等価な表面に対
応し、上記モデル上の上記の面の各々は異なる限定され
た限定容積によって取り囲まれているステップと、 前記モデルと前記物理物体の両者に共通な基準点を含め
るステップと、 前記物理物体の検査表面上の表面点の位置を入力するス
テップと、 前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個
の目標容積を限定するステップと、 前記少なくとも１個の目標容積によって取り囲まれた前
記モデル上の表面と前記物理物体上の前記表面点との間
の距離を決定するステップと、 を含む方法をコンピュータに実行させるための命令を含
むことを特徴とする媒体。 - 【請求項２３】 請求項２２に記載の媒体において、 限定容積が前記表面点を取り囲まない場合は、前記目標
容積は前記表面点に最も近接した容積を含むことを特徴
とする媒体。 - 【請求項２４】 請求項２２に記載の媒体において、 前記限定容積の少なくとも１個の各々は、前記検査表面
を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むこと
を特徴とする媒体。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/670,192 | 2000-09-26 | ||
| US09/670,192 US7006084B1 (en) | 2000-09-26 | 2000-09-26 | Method and system for computer aided manufacturing measurement analysis |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002222007A true JP2002222007A (ja) | 2002-08-09 |
| JP4933008B2 JP4933008B2 (ja) | 2012-05-16 |
Family
ID=24689379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001290597A Expired - Fee Related JP4933008B2 (ja) | 2000-09-26 | 2001-09-25 | コンピュータ援用製造測定解析のための方法および媒体 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7006084B1 (ja) |
| JP (1) | JP4933008B2 (ja) |
| CA (1) | CA2354919A1 (ja) |
| DE (1) | DE10146834B4 (ja) |
| FR (1) | FR2814565B1 (ja) |
| GB (1) | GB2369907B (ja) |
| IT (1) | ITMI20011987A1 (ja) |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
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| US10499040B2 (en) | 2014-09-10 | 2019-12-03 | Faro Technologies, Inc. | Device and method for optically scanning and measuring an environment and a method of control |
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|---|---|---|---|---|
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| US9551575B2 (en) | 2009-03-25 | 2017-01-24 | Faro Technologies, Inc. | Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver |
| DE102009015920B4 (de) | 2009-03-25 | 2014-11-20 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
| US8099877B2 (en) * | 2009-11-06 | 2012-01-24 | Hexagon Metrology Ab | Enhanced position detection for a CMM |
| US9529083B2 (en) | 2009-11-20 | 2016-12-27 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector |
| US9210288B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-12-08 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals |
| DE102009057101A1 (de) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
| US9113023B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-08-18 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector |
| US8630314B2 (en) | 2010-01-11 | 2014-01-14 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for synchronizing measurements taken by multiple metrology devices |
| US8832954B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-09-16 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
| US8276286B2 (en) * | 2010-01-20 | 2012-10-02 | Faro Technologies, Inc. | Display for coordinate measuring machine |
| US9879976B2 (en) | 2010-01-20 | 2018-01-30 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features |
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| CN102713776B (zh) | 2010-01-20 | 2015-04-22 | 法罗技术股份有限公司 | 利用了多总线臂技术的便携式铰接臂坐标测量机 |
| US9163922B2 (en) | 2010-01-20 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images |
| US8898919B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter used to establish frame of reference |
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