JP2002179821A - 線膨張係数を制御したポリイミドフィルム及び積層体 - Google Patents
線膨張係数を制御したポリイミドフィルム及び積層体Info
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Abstract
テトラカルボン酸成分とp−フェニレンジアミン成分系
ポリイミドフィルムであって、銅張積層体などの回路用
銅−ポリイミドフィルム積層体を製造してもカ−ルの少
ない、特に銅箔を内側にしたカ−ルが生じない芳香族ポ
リイミドフィルムを提供する。 【解決手段】 3,3’,4,4’−ビフェニルテトラ
カルボン酸成分とp−フェニレンジアミン成分とのポリ
イミドからなり、厚みが35〜55μmで、50〜20
0℃における線膨張係数(TD)が17〜24×10-6
cm/cm/℃で、かつ引張弾性率(TD)が700k
gf/mm2以上であり、放電処理されてなるポリイミ
ドフィルム。
Description
4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物とp−フェ
ニレンジアミンとを必須成分として製造されるポリイミ
ドからなり、厚みが35〜55μm、50〜200℃に
おける線膨張係数(TD)が17〜24×10-6cm/
cm/℃以上であり、その表面が放電処理されてなる高
弾性率のポリイミドフィルムおよび積層体に関するもの
である。
耐寒性、耐薬品性、電気絶縁性、機械的強度等において
優れた特性を有することから、種々の分野で広く利用さ
れている。なかでも、3,3’,4,4’−ビフェニル
テトラカルボン酸成分とp−フェニレンジアミン成分と
からなる芳香族ポリイミドフィルム(以下、単にBPD
A−PPD系ポリイミドフィルムと略記することもあ
る。)は、特に高耐熱性で耐薬品性に優れ高弾性率であ
ることが知られている。従って、このようなタイプの芳
香族ポリイミドフィルムは、特にその優れた耐熱性、高
弾性率に着目した場合、高精度が求められるテ−プ・オ
−トメ−テッド・ボンディング(TAB)用フィルムキ
ャリアテ−プの製造に用いる支持体として適していると
いうことができる。
−プの製造に用いる支持体用のBPDA−PPD系ポリ
イミドフィルムとしては、75μmの厚みのものと12
5μmの厚みのものが主として使用されている。
を使用する場合には、ポリイミドフィルムの片面に耐熱
性接着剤で銅箔を接着・積層した後に成形加工の工程中
にカ−ルが問題となることはなかった。その理由とし
て、このような厚いポリイミドフィルムと回路用の銅箔
(通常は電解銅箔)との線膨張係数の差、すなわちTD
方向(長尺ポリイミドフィルムの幅方向を意味する。)
のポリイミドフィルムの線膨張係数:20×10-6cm
/cm/℃とTD方向の銅箔の線膨張係数:17×10
-6cm/cm/℃との差が小さいことが挙げられてい
る。さらに、剛性の高いポリイミドフィルムに対して銅
箔は厚み(通常35μm)が半分以下であり、例えばポ
リイミドフィルムの片面に耐熱性接着剤で電解銅箔を接
着・積層した銅張積層体に空気中の水分などの影響によ
ってカ−ルが生じても、ポリイミドフィルムを内側にし
たカ−ルがわずかに生じるのみで成形加工の工程上問題
とならないからである。
ムが使用される電子技術分野では、より高精度でより高
信頼性、低コストの要求から、ポリイミドフィルムの厚
みを小さくする要求が強くなっている。一方、ポリイミ
ドフィルムの線膨張係数に関して、BPDA−PPD系
ポリイミドフィルムの厚みを小さくすると線膨張係数が
小さくなることが知られている。これは、ポリイミド前
駆体のド−プを流延製膜する際に面配向が生じ、フィル
ム厚みが小さい程その傾向が強いためと考えられてい
る。
中でもCSPやBGAと呼ばれるICパッケ−ジ用の絶
縁材料用および積層多層回路基板用途に厚みが50μm
以下のBPDA−PPD系ポリイミドフィルムを使用す
ることが検討されているが、ポリイミドフィルムの片面
に耐熱性接着剤で電解銅箔を150〜180℃程度の温
度条件で接着・積層した後、室温に冷却したときに線膨
張係数の不一致により、あるいは室温で成形加工される
銅張積層体に空気中の水分などの影響によって銅箔を内
側にして比較的大きなカ−ルが生じやすく、成形加工の
工程上問題となる場合がある。
物性を改良する試みは種々なされており、例えば、特開
昭61−264027号公報にはビフェニルテトラカル
ボン酸二無水物とp−フェニレンジアミンとから得られ
るポリイミドフィルムを低張力下に再熱処理して寸法安
定なポリイミドフィルムを製造する方法が記載されてい
る。また、特公平4−6213号公報には線膨張係数比
(送り方向/直行方向)および送り方向の線膨張係数が
特定範囲内にあり寸法安定性に優れたポリイミドフィル
ムが記載されている。さらに、特公昭62−60416
号公報、特公昭63−5421号公報、特公昭63−5
422号公報には、流延法での製膜時の芳香族ポリアミ
ック酸フィルムの剥離性を改良する方法が記載されてい
る。また、特公平3−20130号公報にはビフェニル
テトラカルボン酸類およびピロメリット酸類とフェニレ
ンジアミンおよびジアミノジフェニルエ−テルとの3〜
4成分系ポリイミドフィルムが記載され、特開平4−1
98229号公報や特開平4−339835号公報には
置換もしくは非置換の含窒素複素環化合物を添加する製
造方法が記載されている。
BPDA−PPD系ポリイミドフィルムの線膨張係数は
むしろ小さくなる傾向にあり、35〜55μmのポリイ
ミドフィルムであって50〜200℃における線膨張係
数(TD)が17×10-6cm/cm/℃以上のものは
知られていない。また、他の種類の芳香族テトラカルボ
ン酸成分および/または芳香族ジアミン成分を組み合わ
せて共重合して得られるポリイミドフィルムは、線膨張
係数は17×10-6cm/cm/℃以上となるが、逆に
耐熱性や引張弾性率が低下し、高精度でより高信頼性の
要求を満足させることはできない。さらに、これらのポ
リイミドフィルムには接着性が不十分なものがある。
みが35〜55μmのBPDA−PPD系ポリイミドフ
ィルムであって、銅張積層体などの回路用銅−ポリイミ
ドフィルム積層体を製造してもカ−ル少なく、自己支持
性および接着性を有し、特に銅箔を内側にしたカ−ルが
生じない芳香族ポリイミドフィルムおよび該ポリイミド
フィルムを使用した積層体を提供することにある。
4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸成分とp−フェ
ニレンジアミン成分とを必須成分として有するポリイミ
ドからなり、厚みが35〜55μmで、50〜200℃
における線膨張係数(TD)が17〜24×10-6cm
/cm/℃で、かつ引張弾性率(TD)が700kgf
/mm2以上であり、その表面が放電処理されてなるポ
リイミドフィルムに関するものである。また、この発明
は、3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸
成分とp−フェニレンジアミン成分とを必須成分として
有するポリイミドからなり、50〜200℃における線
膨張係数(TD)が17〜24×10-6cm/cm/℃
で、剛性[厚み×厚み×引張弾性率(TD)]が0.8
5Kgf以上であり、その表面が表面処理、好適には放
電処理されてなるポリイミドフィルムに関するものであ
る。
ルムに熱硬化性接着剤シ−トが積層され、さらに該接着
剤層上に剥離フィルムが積層され、所望によりレ−ザ−
加工あるいはパンチング加工などの穴開け加工してなる
積層体に関するものである。さらに、この発明は、前記
のポリイミドフィルムに直接あるいは耐熱性接着剤、好
適には熱硬化性接着剤を介して金属層、好適には銅層が
積層されてなる積層体に関するものである。
列記する。 1)引張弾性率(TD)が750〜1100kgf/m
m2である上記のポリイミドフィルム。 2)FPCやTAB用の基板材料、中でもCSPやBG
Aと呼ばれるICパッケ−ジ用の絶縁材料用および積層
多層回路基板用等の半導体実装基板用である上記のポリ
イミドフィルム。
ビフェニルテトラカルボン酸成分としては、3,3’,
4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸、これらのハロ
ゲン化物、それらの二無水物、またはそれらのエステル
が挙げられるが、なかでも3,3’,4,4’−ビフェ
ニルテトラカルボン酸二無水物から好適に導かれる。
香族テトラカルボン酸成分を使用してもよい。このよう
な芳香族テトラカルボン酸成分としては、2,3,
3’,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、
3,3’,4,4’−ベンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物、ピロメリット酸二無水物などを挙げることが
できる。
て、p−フェニレンジアミンが使用される。この発明の
効果を損なわない範囲で他の芳香族ジアミンを使用して
もよい。このような芳香族ジアミン成分としては、4,
4’−ジアミノジフェニルエ−テル、4,4’−ジアミ
ノジフェニルプロパン、4,4’−ジアミノジフェニル
エタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、ビス
〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕プロパン、
2,2’−ビス〔4−(アミノフェノキシ)フェニル〕
1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、ビ
ス〔4−(4−アミノフェノキシ)フェニル〕エ−テル
などを挙げることができる。
は、厚みが35〜55μmであり、好ましくは約38〜
50μmである。ポリイミドフィルムの厚みがこの下限
より小さいと自己支持性が低く、また上限より大きいと
高精度の要求されるフィルム材料として好ましくない。
また、ポリイミドフィルムの引張弾性率の値が前記の範
囲外であると、高精度の要求されるフィルム材料として
好ましくない。
御したポリイミドフィルムは、例えば以下のようにして
製造することができる。好適には先ず前記3,3’,
4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸類とp−フェニ
レンジアミンとをN,N−ジメチルアセトアミドやN−
メチル−2−ピロリドンなどのポリイミドの製造に通常
使用される有機極性溶媒中で、好ましくは10〜80℃
で1〜30時間重合して、ポリマ−の対数粘度(測定温
度:30℃、濃度:0.5g/100ml溶媒、溶媒:
N−メチル−2−ピロリドン)が1.5〜5、ポリマ−
濃度が15〜25重量%であり、回転粘度(30℃)が
500〜4500ポイズであるポリアミック酸(イミド
化率:5%以下)溶液を得る。
ポリアミック酸溶液に、好適には、リン化合物を、好ま
しくはこのポリアミック酸100重量部に対して0.0
1〜5重量部、特に0.01〜3重量部、その中でも特
に0.01〜1重量部の割合で有機リン化合物、好適に
は(ポリ)リン酸エステル、リン酸エステルのアミン塩
あるいは無機リン化合物を添加し、さらに好適には無機
フィラ−を、特にポリアミック酸100重量部に対して
0.1〜3重量部のコロイダルシリカ、窒化珪素、タル
ク、酸化チタン、燐酸カルシウム(好適には平均粒径
0.005〜5μm、特に0.005〜2μm)を添加
してポリイミド前駆体溶液組成物を得る。
表面を有する金属製の支持体表面に連続的に流延して前
記溶液の薄膜を形成し、その薄膜を乾燥する際に、12
0〜170℃、2〜20分間程度加熱乾燥することによ
り、固化フィルム中、前記溶媒及び生成水分からなる揮
発分含有量が25〜40重量%程度の自己支持性フィル
ムを得る。この自己支持性フィルムにアミノシランカッ
プリング剤などの表面処理剤を塗布処理してもよいし、
これをさらに乾燥してもよい。
に沿って駆動するチェ−ンに取り付けたフィルム把持装
置に両端部を把持させて連続加熱炉の挿入し、その際に
自己支持性フィルムの乾燥に伴う収縮がほぼ完了する3
00℃までの工程において、フィルムの把持幅を把持部
の0.95倍まで徐々に狭くして処理し[好適には、フ
ィルム把持幅(300℃)/フィルム把持幅(室温)=
0.95〜0.99倍]、キュア炉内における最高加熱
温度:400〜525℃程度、特に475〜500℃程
度の温度が0.5〜30分間となる条件で該乾燥フィル
ムを加熱して乾燥およびイミド化して、残揮発物量0.
4重量%以下程度で、イミド化を完了することによって
長尺状の芳香族ポリイミドフィルムを好適に製造するこ
とができる。
ドフィルムを、好適には低張力下あるいは無張力下に2
00〜400℃程度の温度で加熱して応力緩和処理し
て、巻き取って、フィルム厚みが35〜55μm、特に
約38〜50μmであって、50〜200℃における線
膨張係数(TD)が17〜24×10-6cm/cm/℃
で、かつ引張弾性率(TD)が700kgf/mm2以
上であるポリイミドフィルムを得ることができる。
4’−ビフェニルテトラカルボン酸成分とp−フェニレ
ンジアミン成分とを必須成分として有するポリイミドか
らなり、50〜200℃における線膨張係数(TD)が
17〜24×10-6cm/cm/℃で、剛性[厚み×厚
み×引張弾性率(TD)]が0.85Kgf以上である
ポリイミドフィルムを得ることができる。
したポリイミドフィルムは、プラズマ放電処理(真空あ
るいは常圧プラズマ放電処理)、コロナ放電処理などの
少なくとも1つの放電処理、好適には真空プラズマ放電
処理を行って、絶縁材料として、例えばFPCやTAB
用の基板材料、中でもCSPやBGAと呼ばれるICパ
ッケ−ジ用の絶縁材料用および積層多層回路基板用とし
て好適に使用することができる。
ずあるいはアセトン、イソプロピルアルコ−ル、エチル
アルコ−ルなどの有機溶媒で処理した後行ってもよい。
の圧力は特に限定されないが、0.1〜1500Paの
範囲が好ましい。前記プラズマ処理を行う雰囲気のガス
組成としては、特に限定されないが酸素を含有すること
が好ましい。あるいは、希ガスを少なくとも20モル%
含有していてもよい。希ガスとしてはHe、Ne、A
r、Xeなどが挙げられるが、Arが好ましい。希ガス
にCO2、N2、H2、H2Oなどを混合して使用してもよ
い。前記プラズマ処理を行うプラズマ照射時間は1秒〜
10分程度が好ましい。
ドフィルムから銅張積層体を得るための接着剤として
は、熱硬化性でも熱可塑性でもよく、例えばエポキシ樹
脂、NBR−フェノ−ル系樹脂、フェノ−ル−ブチラ−
ル系樹脂、エポキシ−NBR系樹脂、エポキシ−フェノ
−ル系樹脂、ポリアミド−エポキシ系樹脂、エポキシ−
ポリエステル系樹脂、エポキシ−アクリル系樹脂、アク
リル系樹脂、ポリアミド−エポキシ−フェノ−ル系樹
脂、ポリイミド系樹脂、ポリイミド−エポキシ樹脂、ポ
リイミドシロキサン−エポキシ樹脂などの熱硬化性接着
剤、またはポリアミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポ
リイミド系接着剤、ポリイミドシロキサン系接着剤など
の熱可塑性接着剤が挙げられる。特に、ポリアミド−エ
ポキシ系樹脂、ポリイミド−エポキシ樹脂系接着剤、ポ
リイミドシロキサン−エポキシ樹脂系接着剤などの熱硬
化性接着剤、ポリイミド系接着剤、ポリイミドシロキサ
ン系接着剤などの熱可塑性接着剤が好適に使用される。
トを使用することが好ましい。この接着剤シ−トを積層
した後、好適にはPET(ポリエステルフィルム)であ
って剥離剤を処理した保護フィルムを積層することが好
ましい。通常は、この積層体をレ−ザ−加工やパンチン
グ加工などの穴明け加工を施した後、銅箔(銅層)と積
層して加熱圧着する。
5μm以上で10μm以下、特に7μm以下である電解
銅箔や圧延銅箔が使用される。このような銅箔はVL
P、LP(またはHTE)として知られている。銅箔の
厚さは特に制限はないが、5〜35μm、特に5〜20
μmであるものが好ましい。また、銅箔以外の金属層も
線膨張係数が銅箔と同等であれば同様に使用することが
できる。これらの金属(回路用)としては、銅、アルミ
ニウム、金、これら金属の合金が挙げられる。
銅箔との積層体(シ−ト)を形成するには、例えば、前
記のようにして形成された薄膜状の接着剤を介して、ポ
リイミドフィルムと金属箔とを80〜200℃、特に1
50〜180℃の温度で加圧(0.2〜30kg/cm
2)下にラミネ−ト(張り合わせ)して、積層体を何の
支障もなく容易に連続的に製造することができる。ま
た、このようにして得られる積層体は線膨張係数の不一
致によるカ−ルが少なく、銅箔のエッチングなどの工程
で問題となることがない。
行うことが好ましいが、蒸着および/または電気メッキ
などによっておこなってもよい。この場合には、金属蒸
着または金属蒸着と金属メッキ層とで金属層を形成する
ことが好ましい。この金属を蒸着する方法としては真空
蒸着法、スパッタリング法などの蒸着法を挙げることが
できる。真空蒸着法において、真空度が、10− 5〜1
Pa程度であり、蒸着速度が5〜500nm/秒程度で
あることが好ましい。スパッタリング法において、特に
DCマグネットスパッタリング法が好適であり、その際
の真空度が13Pa以下、特に0.1〜1Pa程度であ
り、その層の形成速度が0.05〜50nm/秒程度で
あることが好ましい。得られる金属蒸着膜の厚みは10
nm以上、1μm以下であり、そのなかでも0.1μm
以上、0.5μm以下であることが好ましい。この上に
好適には金属メッキにより肉厚の膜を形成することが好
ましい。その厚みは、約1〜20μm程度である。
せが可能である。金属蒸着膜として下地層と表面蒸着金
属層を有する2層以上の構造としてもよい。下地層とし
ては、クロム、チタン、パラジウム、亜鉛、モリブデ
ン、ニッケル、コバルト、ジルコニウム、鉄などを単独
で、あるいはこれらの金属の合金あるいはこれらの金属
と銅との合金等が挙げられる。表面層(あるいは中間
層)としては銅が挙げられる。蒸着層上に設ける金属メ
ッキ層の材質としては、銅が使用される。金属メッキ層
の形成方法としては、無電解メッキ法および電解メッキ
法のいずれでもよい。また、真空プラズマ放電処理した
ポリイミドフィルムの片面に、クロム、チタン、パラジ
ウム、亜鉛、錫、モリブデン、ニッケル、コバルト、ジ
ルコニウム、鉄などを単独で、あるいはこれらの金属の
合金あるいはこれらの金属と銅との合金の下地金属層を
形成し、その上に中間層として銅の蒸着層を形成した
後、銅の無電解メッキ層を形成し(無電解メッキ層を形
成することは発生したピンホ−ルをつぶすのに有効であ
る。)、あるいは、金属蒸着層の厚みを大きくして、例
えば0.1〜1.0μmとして銅などの無電解金属メッ
キ層を省略し、表面層として電解銅メッキ層を形成して
もよい。
において、ポリイミドフィルムの物性測定は以下の方法
によって行った。なお、以下の測定値は特記した場合を
除き25℃での測定値である。
0℃で30分加熱して応力緩和したサンプルをTMA装
置(引張りモ−ド、2g荷重、試料長10mm、20℃
/分)で測定した。 引張弾性率:ASTM D882に従って測定(MD) 加熱収縮率:JIS C2318に従って測定(200
℃)
(三井金属鉱業株式会社製、3EC−VLP、Rz約6
μm、幅40mm)とポリイミドフィルム(幅48m
m)とを厚み25μmのポリイミドシロキサン−エポキ
シ系接着剤シ−ト(宇部興産社製、ユピタイト)とを、
接着条件:予備加熱3分後180℃、360分間、20
kg/cm2プレスした銅張積層体を23℃で65%の
調湿した雰囲気で24時間放置後、一端を平板上に固定
し他端から平板までの高さをカ−ルとして評価した。 接着強度:上記のカ−ル測定前の銅張積層体について9
0°剥離強度を引張速度:50mm/分で測定した。
部に、p−フェニレンジアミン5.897重量部および
3,3’,4,4’−ビフェニルテトラカルボン酸二無
水物16.019重量部を加えて、窒素気流下、40℃
で3時間攪拌し、重合反応させてポリマ−濃度18重量
%、ポリマ−の対数粘度(測定温度:30℃、濃度:
0.5g/100ml溶媒、溶媒:N,N−ジメチルア
セトアミド)が1.8、溶液粘度1800ポイズ(30
℃、回転粘度計)のポリアミック酸溶液を得た。 この
ポリアミック酸溶液に、ポリアミック酸100重量部に
対して0.1重量部の割合でモノステアリルリン酸エス
テルトリエタノ−ルアミン塩および0.5重量部の割合
(固形分基準)で平均粒径0.08μmのコロイダルシ
リカを添加して均一に混合して、ポリイミド前駆体溶液
組成物を得た。
イのスリットより連続的に押出し、平滑な金属支持体上
に薄膜を形成した。この薄膜を120〜160℃で10
分間加熱後、支持体から剥離して、揮発分含有量が3
4.4重量%の自己支持性フィルムを形成し、さらにこ
れを乾燥し揮発分含有量を28.5重量%とした。
に沿って駆動するチェ−ンに取り付けたフィルム把持装
置に両端部を把持させて連続加熱炉の挿入し、その際に
自己支持性フィルムの乾燥に伴う収縮がほぼ完了する3
00℃までの工程において、フィルムの把持幅を把持部
の0.95倍[フィルム把持幅(300℃)/フィルム
把持幅(室温)=0.95]まで徐々に狭くして処理
し、キュア炉内における最高加熱温度:500℃程度の
温度が0.5分間となる条件で該乾燥フィルムを加熱し
て乾燥およびイミド化して、残揮発物量0.4重量%以
下で、イミド化が完了した厚み50μmの長尺状ポリイ
ミドフィルムを製造した。得られたポリイミドフィルム
について、Ar/He/H2/O2ガス流通下、放電密
度6.2kw・min/m2の条件でフィルムの両面を
低温プラズマ放電処理した。
ルムと剥離処理した厚み20μmのPETフィルムと厚
み25μmのポリイミドシロキサン−エポキシ熱硬化型
接着剤との積層シ−トとを積層して、接着剤積層体を得
た。この、接着剤積層体からPETフィルムを引き剥が
して、18μmの電解銅箔(三井金属鉱業株式会社製、
3EC−VLP、Rz約6μm、幅40mm)と、18
0℃、360分間、20kg/cm2プレスして、銅張
積層体を得た。また、この低温プラズマ放電処理ポリイ
ミドフィルムおよび銅張積層体の評価結果を次に示す。
0-6cm/cm/℃ 引張弾性率(TD):749kgf/mm2 銅張積層体のカ−ル:銅箔を外側にして1.0mm 接着強度:1.3kg/cm
様にして、揮発分含有量が34重量%の自己支持性フィ
ルムを形成した。次いで、この自己支持性フィルムをレ
−ルに沿って駆動するチェ−ンに取り付けたフィルム把
持装置に両端部を把持させて連続加熱炉の挿入し、その
際に実施例1と同様にして自己支持性フィルムの乾燥に
伴う収縮がほぼ完了する300℃までの工程において、
フィルムの把持幅を徐々に狭くして処理し[フィルム把
持幅(300℃)/フィルム把持幅(室温)=0.9
5]、キュア炉内における最高加熱温度:500℃程度
の温度が0.5分間となる条件で該乾燥フィルムを加熱
して乾燥およびイミド化して、残揮発物量0.4重量%
以下で、イミド化が完了した厚み50μmの長尺状ポリ
イミドフィルムを製造した。このポリイミドフィルムを
低温プラズマ放電処理した。このポリイミドフィルムを
使用した他は実施例1と同様にして、接着剤積層体およ
び銅張積層体を得た。この低温プラズマ放電処理ポリイ
ミドフィルムおよび銅張積層体の評価結果を次に示す。
0-6cm/cm/℃ 引張弾性率(TD):731kgf/mm2 銅張積層体のカ−ル:銅箔を外側にして1.0mm 接着強度:1.3kg/cm
支持性フィルムをレ−ルに沿って駆動するチェ−ンに取
り付けたフィルム把持装置に両端部を把持させて連続加
熱炉の挿入し、その際に自己支持性フィルムの乾燥に伴
う収縮がほぼ完了する300℃までの工程において、フ
ィルムの把持幅を変化させないようにして処理し、50
0℃程度の温度が0.5分間となる条件で該乾燥フィル
ムを加熱して乾燥およびイミド化して、残揮発物量0.
4重量%以下で、イミド化が完了した厚み50μmの長
尺状ポリイミドフィルムを製造した。このポリイミドフ
ィルムを低温プラズマ放電処理した。このポリイミドフ
ィルムを使用した他は実施例1と同様にして、接着剤積
層体および銅張積層体を得た。この低温プラズマ放電処
理ポリイミドフィルムおよび銅張積層体の評価結果を次
に示す。
0-6cm/cm/℃ 引張弾性率(TD):896kgf/mm2 銅張積層体のカ−ル:銅箔を内側にして20.0mm 接着強度:1.2kg/cm
ているので、以下に記載のような効果を奏する。この発
明ポリイミドフィルムは、銅張積層体を製造してもカ−
ルが少なく、特に銅箔を内側にしたカ−ルが生じない回
路用銅−ポリイミドフィルム積層体絶縁材料を提供する
ことが可能である。
Claims (6)
- 【請求項1】 3,3’,4,4’−ビフェニルテトラ
カルボン酸成分とp−フェニレンジアミン成分とを必須
成分として有するポリイミドからなり、厚みが35〜5
5μmで、50〜200℃における線膨張係数(TD)
が17〜24×10-6cm/cm/℃で、かつ引張弾性
率(TD)が700kgf/mm2以上であり、その表
面が放電処理されてなるポリイミドフィルム。 - 【請求項2】 引張弾性率(TD)が750〜1100
kgf/mm2である請求項1記載のポリイミドフィル
ム。 - 【請求項3】 FPCやTAB用の基板材料、中でもC
SPやBGAと呼ばれるICパッケ−ジ用の絶縁材料用
および積層多層回路基板用等の半導体実装基板用である
請求項1記載のポリイミドフィルム。 - 【請求項4】 3,3’,4,4’−ビフェニルテトラ
カルボン酸成分とp−フェニレンジアミン成分とを必須
成分として有するポリイミドからなり、50〜200℃
における線膨張係数(TD)が17〜24×10-6cm
/cm/℃で、剛性[厚み×厚み×引張弾性率(T
D)]が0.85Kgf以上であり、その表面が表面処
理されてなるポリイミドフィルム。 - 【請求項5】 請求項1または4に記載されたポリイミ
ドフィルムに熱硬化性接着剤シ−トが積層され、さらに
該接着剤層上に剥離フィルムが積層され、所望によりレ
−ザ−加工あるいはパンチング加工などの穴開け加工し
てなる積層体。 - 【請求項6】 請求項1または4に記載されたポリイミ
ドフィルムに直接あるいは耐熱性接着剤、好適には熱硬
化性接着剤を介して金属層、好適には銅層が積層されて
なる積層体。
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