JP2002171013A - 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド - Google Patents

磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド

Info

Publication number
JP2002171013A
JP2002171013A JP2000368930A JP2000368930A JP2002171013A JP 2002171013 A JP2002171013 A JP 2002171013A JP 2000368930 A JP2000368930 A JP 2000368930A JP 2000368930 A JP2000368930 A JP 2000368930A JP 2002171013 A JP2002171013 A JP 2002171013A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
layer
magnetic
detection
free layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000368930A
Other languages
English (en)
Inventor
Akio Furukawa
昭夫 古川
Satoshi Ishii
聡 石井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2000368930A priority Critical patent/JP2002171013A/ja
Priority to CNB018066119A priority patent/CN1263175C/zh
Priority to US10/203,126 priority patent/US7027272B2/en
Priority to PCT/JP2001/010592 priority patent/WO2002047182A1/ja
Publication of JP2002171013A publication Critical patent/JP2002171013A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y25/00Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/09Magnetoresistive devices
    • G01R33/093Magnetoresistive devices using multilayer structures, e.g. giant magnetoresistance sensors
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3909Arrangements using a magnetic tunnel junction
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/16Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/02Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
    • G11C11/16Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
    • G11C11/161Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect details concerning the memory cell structure, e.g. the layers of the ferromagnetic memory cell
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/32Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
    • H01F10/324Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
    • H01F10/3254Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the spacer being semiconducting or insulating, e.g. for spin tunnel junction [STJ]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01FMAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
    • H01F10/00Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
    • H01F10/32Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
    • H01F10/324Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
    • H01F10/3268Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices
    • H10N50/10Magnetoresistive devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B2005/3996Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects large or giant magnetoresistive effects [GMR], e.g. as generated in spin-valve [SV] devices
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3912Arrangements in which the active read-out elements are transducing in association with active magnetic shields, e.g. magnetically coupled shields

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Thin Magnetic Films (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 安定した高出力の磁気抵抗効果素子および磁
気抵抗効果型磁気ヘッドを提供する。 【解決手段】 相対向する軟磁性材より成る第1、第2
の磁気シールド21、22間に、磁気抵抗効果素子本体
11とバイアス磁界を印加する硬磁性層12とを配置す
る。本体11は外部磁界に応じて磁化が回転する自由層
と、固定層と、固定層の磁化を固定する反強磁性層と、
スペーサ層とが積層された構造物で、積層膜の膜面と交
叉する方向にセンス電流を通電するCPP型とし、積層
膜の膜面方向に沿って検出磁界を導入し、バイアス磁界
が検出磁界の導入方向と交叉し、膜面に沿う方向に印加
される。この構成で検出磁界が印加されない状態で、検
出磁界の導入側の前方端と後方端において実質的に与え
られる磁界を、同じ向きとなるように設定して、自由層
における安定した単磁区化を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気抵抗効果素子
および磁気抵抗効果型磁気ヘッドに係わる。
【0002】
【従来の技術】スピンバルブ型抵抗効果(以下SV型G
MRという)素子あるいはトンネル型磁気抵抗効果(以
下TN型MR)素子を用いた磁気センサーや、磁気ヘッ
ドでは、軟磁性材から成る自由層の磁化が外部磁界に応
じて回転する際、反強磁性層などによって磁化が固定さ
れた固定層との間の相対角の変化により生じる磁気抵抗
の変化によって外部磁界の変化を検知する。
【0003】この場合、効率良く外部磁界を検知するた
めには、磁場中成膜や、磁場中アニールなどの手法によ
って、自由層には外部磁界が入る方向に直交する方向に
一軸の磁気異方性が付与される。これによって自由層の
磁化は、この磁気異方性に沿う2つの向き(異方性付与
磁界に順方向または逆方向)を向く傾向を持つが、外部
磁界が無いときに、両方向のうちのどの方向に向くかは
規定されない。このため、再現性良く、外部磁界の変化
を検知することができない。
【0004】一方、自由層の前述した磁気異方性の方向
と直交する端部(以下側端部という)では、反磁界によ
り磁化が磁気異方性方向を向きにくくなるために磁区が
発生し、外部磁界に応答する際の磁化回転が不連続にな
る、いわゆるバルクハウゼンノイズの原因となる。そこ
で、通常、自由層の側端部に対向して、自由層の上述し
た磁気異方性方向の一方の向きにバイアス磁界を印加し
て、自由層に他の磁界が印加されていない状態で、その
磁化方向を一定の向きに規定して、自由層の単磁区化を
図り、上述した自由層端部での磁区発生を回避してバル
クハウゼンノイズの回避と、検出磁界による抵抗変化の
再現性、安定化を図るようになされている。
【0005】1バイアス磁界は、上述したように、自由
層を単磁区化するのに充分な磁界強度を必要とするもの
であるが、その強度が過剰であると、外部磁界に応じた
自由層の磁化の回転角が小さくなってしまい、感度の低
下を招くため、適切な感度となるように、硬磁性層材料
や膜厚の選定がなされている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、図12に示
すように、磁気抵抗効果素子本体の膜面、すなわち自由
層1の膜面に垂直な方向にセンス電流Isを通ずるいわ
ゆるCPP(Current Perpendicular to Plane) 構成に
よる場合、このセンス電流Isによって自由層に発生す
る電流磁界HI は 、膜面に沿って周回するように発生
する。このとき、検出磁界が導入される側の、自由層1
の前方端1F、とこれとは反対側の後方端1Rの各中心
部では、バイアス磁界HB の印加方向に平行で、互いに
逆向きとなる。したがって、前述したように、バイアス
磁界HB が、磁気抵抗効果素子MRの自由層に印加され
ている場合、電流磁界Hiは、自由層の先端中心および
後端中心のいずれか一方でバイアス磁界HB を強める方
向に働き、他方で弱める方向に働く。
【0007】したがって、自由層を単磁区化するために
は、電流磁界Hiがバイアス磁界を弱める方向に働く部
分においてバイアス磁界が打ち消されない程度の強度の
バイアス磁界を印加する必要がある。ところが、このバ
イアス磁界は、電流磁界がバイアス磁界を強める方向に
働く部分においては過剰となってしまい、この部分にお
ける感度の低下、したがって、出力の安定性の低下を招
いてしまう。
【0008】本発明は、上述したようにセンス電流によ
る電流磁界に起因する感度の低下を回避し、出力の安定
化を図ることができるようにした磁気抵抗効果素子と、
磁気抵抗効果素子を感磁部とする磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドを提供するものである。すなわち、本発明において
は、バイアス磁界が印加される磁気抵抗効果素子にセン
ス電流をその膜面と交叉例えば垂直方向に通電する通電
方向に係わる向きを、特定の同一向きに規定することに
より、バイアス磁界で電流磁界の不均衡を打ち消すこと
による部分的な感度の低下を減少させ、安定して高出力
の磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッドを
構成するものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による磁気抵抗効
果素子においては、相対向する軟磁性材より成る第1お
よび第2の磁気シールド間に、磁気抵抗効果素子本体
と、これにバイアス磁界を印加する硬磁性層とが配置さ
れて成る。磁気抵抗効果素子本体は、少なくとも、外部
磁界に応じて磁化が回転する自由層と、固定層と、この
固定層の磁化を固定する反強磁性層と、自由層と固定層
との間に介在されるスペーサ層とが積層された積層構造
部より構成される。そして、磁気抵抗効果素子本体に、
その積層膜の膜面と交叉する方向にセンス電流を通電す
るCPP型構成とされ、また、積層膜の膜面方向に沿っ
て検出磁界を導入するようになされ、かつバイアス磁界
が、上述の検出磁界のほぼ導入方向と交叉し、かつ膜面
に沿う方向に印加するようになされる。本発明において
は、この構成にあって、特にその自由層において、検出
磁界が印加されない状態で、この検出磁界の導入側の前
方端とこれより後方端において実質的にこれに与えられ
る磁界、具体的には、主として上述したセンス電流によ
る誘導磁界(以下電流磁界HI という)とバイアス磁界
HB とによって決まる磁界を、同じ向きとなるように設
定するものである。
【0010】また、本発明による磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドは、その感磁部が、上述した本発明による磁気抵抗
効果素子による構成とされるものである。
【0011】上述したように、本発明においては、第1
および第2の磁気シールド間に磁気抵抗効果素子が配置
された、磁気シールド型構成とし、かつCPP型構成と
し、これに検出磁界が与えられない状態で、自由層の、
前方端と後方端とで、実際にはこれら前方端と後方端と
の中心部で、この自由層に与えられる磁界の向きHFお
よびHR が、同一向きとされたことによって自由層の側
端部のほぼ全域において磁区の発生を回避できることか
ら、効果的にバルクハウゼンノイズの改善、したがっ
て、安定して、再現性に優れた磁気抵抗効果素子および
磁気対向効果型磁気ヘッドを構成できる。そして、この
構成において、基本的には、|HF |>|HR |とする
ことにより、すなわち検出磁束量の大きい前方におい
て、検出磁界と直交する方向の磁界が大とされた構成で
は、安定化が図られるものであり、また、逆に|HF |
<|HR |においては、感度が高められることになる。
しかしながら、例えば後述するように、磁束ガイドを設
ける構造とするなどによって、HF とHR とを同一向き
に選定した状態で、その磁界HF とHR と、感度や安定
性の関係の設定を任意に選定することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明による磁気抵抗効果(M
R)素子と、これによるMR型磁気ヘッドを説明する。
図1および図2は、それぞれ本発明によるMR素子10
およびこれを用いたMR型磁気ヘッド100の概略斜視
図を示す。MR素子10は、相対向する第1および第2
の磁気シールド、例えば電極を兼ねる導電性を有する軟
磁性の第1および第2の電極兼磁気シールド21および
22間に、MR素子本体11と、これにバイアス磁界を
印加する硬磁性層12とが配置されて成る。
【0013】図1に示す例においては、そのMR素子本
体11が、検出磁界導入面、すなわち前方面13に臨ん
で配置された場合で、図2は、MR素子本体11が、こ
の前方面13より奥行き方向に後退した位置に配置さ
れ、前方面13から導入される検出磁界、すなわち磁気
ヘッドにおいては、磁気記録媒体(図示せず)の記録部
からの信号磁界が、磁束ガイド層14によってMR素子
本体11に導入する構成とされた場合である。この磁束
ガイド層14は、自由層兼磁束ガイド層とすることもで
きるし、自由層に接合して形成することもできる。ま
た、これら図1および2において、各MR素子本体11
の後方においても、磁束ガイド層14が配置もしくは延
長して設けられた構成とすることが望ましい。また、第
1および第2電極兼磁気シールド21および22間に
は、例えばAl 2 3 より成る非磁性の絶縁層15を埋
め込む。
【0014】〔第1の実施形態〕この実施形態において
は、シングルSV型GMR構成による場合で、この場
合、そのMR素子本体11は、図3にその概略断面図を
示すように、少なくとも、検出磁界に応じて磁化が回転
する自由層1と、固定層2と、この固定層2の磁化を固
定する反強磁性層3と、自由層1と固定層2との間に介
在されるスペーサ層4とが積層される。図示の例では、
反強磁性層3の下面に下地層5が形成され、自由層1上
には、磁束ガイド層14と、磁気ギャップ層6と、キャ
ップ層7とが形成された構成を有する。
【0015】このMR素子本体11は、図1あるいは図
2に示すように、第1および第2の電極兼磁気シールド
21および22間に、MR素子本体10の各層の面方向
が、これらシールド21および22に平行となるように
配置される。この場合、例えば厚さ100μmより成る
アルチック(AlTiC)より成る基板16上に、例え
ばメッキによって厚さ2μmにNiFeより成る第1の
電極兼磁気シールド21を形成し、この上に下地層5を
スパッタし、続いて図3で示した、MR素子10を構成
する反強磁性層3、固定層2、スペーサ層4、自由層1
を順次スパッタして形成し、これら反強磁性層3、固定
層2、スペーサ層4、自由層1による積層膜を形成し、
この積層膜を例えばトラック幅方向に延在するストライ
プ状にパターニングして第1のストライプ部を形成す
る。
【0016】この第1のストライプ部を埋込むように、
例えばSiO2 あるいはAl2 3による絶縁層15を
形成し、自由層1が臨む平坦化表面を形成し、この上
に、例えば磁束ガイド層14を構成する例えばNiFe
層を形成し、この層と、下層の上述したストライプ部と
を含んで厚さ方向に、前述のストライプ方向と直交する
方向に延在するストライプ状にパターニングを行い第2
のストライプ部を形成する。
【0017】このようにして、第1および第2ストライ
プ部の交叉部においてのみ、上述した積層膜が残されて
例えば1辺が100nmの正方形の、上述した反強磁性
層3、固定層2、スペーサ層4、自由層1の積層構造部
によるMR素子本体11を構成する。
【0018】そして、ストライプ状の磁束ガイド層14
が形成され、この下に上述した積層構造部によるMR素
子本体11が構成された第2のストライプ部を埋込むよ
うに、先ず例えばこの第2のストライプ部の両側面に被
着されるように、例えばSiO2 あるいはAl2 3
りなる絶縁層15と、硬磁性層12と、同様の絶縁層1
5とを積層し、例えばリフトオフ法によって、第2のス
トライプ部上のこれら絶縁層15と硬磁性層12を選択
的に除去して表面平坦化を行い、この平坦化面上に、ギ
ャップ層6やキャップ層7を形成し、更に、この上に、
例えば厚さ2μmのNiFeメッキ層による第2の電極
兼磁気シールド22を形成する。
【0019】このように、第1および第2の電極兼磁気
シールド21および22間に形成したMR素子本体11
は、その自由層1および磁束ガイド層14が、第1およ
び第2の電極兼磁気シールド21および22間のほぼ中
央に位置するように、例えば図3に示したギャップ層7
の厚さが選定される。そして、この自由層1の両側端部
に対向する位置に、硬磁性層12が対向するように配置
される。
【0020】自由層1および固定層2は、それぞれ例え
ば厚さ5nmのCoFeによって構成することができ
る。自由層1には、例えば500〔Oe〕の磁界による
磁場中成膜および200℃、1000〔Oe〕、1時間
の真空中アニールによって、例えば図1中矢印aで示す
膜面方向に異方性磁界5〔Oe〕程度の一軸異方性を付
与する。
【0021】これら自由層1および固定層2間に介在さ
れるスペーサ層4は、例えば厚さ3nmのCuによって
構成することができる。また、反強磁性層3は、例えば
厚さ34.5nmを有する例えばPtMnによって構成
することができる。
【0022】硬磁性層12は、図1および図2で示すよ
うに、自由層の異方性磁界と同方向の一方の向きに矢印
bをもって示す着磁がなされる。この硬磁性層12は、
絶縁層15によって埋め込まれて、MR素子本体11と
電気的に分離される場合は、導電性を有する例えば厚さ
40nmを有するCoCrPtより構成することができ
る。このCoCrPtより成る硬磁性層12の残留磁化
は670〔emu/cm3 〕とされる。また、この硬磁性層1
2が、MR素子本体11と電気的に分離されない場合
は、高抵抗のCo−Fe2 3 によって構成することが
できる。
【0023】下地層5およびキャップ層7は、それぞれ
例えば厚さ3nmのTaより構成することができる。磁
気ギャップ層6は、厚さ34.5nmの非磁性の例えば
Cuによって構成できる。この構成において、磁束ガイ
ド層14をもって自由層1を兼ねる構造とすることもで
きる。
【0024】そして、その前方面13を形成する研磨が
なされ、これに、図1に示すように、直接的にMR素子
本体11を臨ましめ、これより後方に磁束ガイド層14
が延在された構成とするか、あるいは図2に示すよう
に、この前方面13に磁束ガイド層14の前方端が臨
み、これより奥行き方向に後退した位置にMR素子本体
11が配置された構成とすることができる。
【0025】このMR素子10による磁気ヘッド100
においては、その前方面13が磁気記録媒体との対接な
いしは対向面を構成する。例えば浮上型磁気ヘッドにお
いては、この前方面が、磁気記録媒体例えば磁気ディス
クの磁気ヘッドとの相対的移行による空気流によって記
録媒体面から所要スペーシングをもって浮上するいわゆ
るABS面(Air Bearing Surface)となる。
【0026】そして、本発明においては、この構成にお
いて、第1および第2の電極兼磁気シールド21および
22間に、すなわちMR素子本体11に、その積層膜の
膜面と交叉する方向にセンス電流を通電するCPP型構
成とする。また、積層膜の膜面方向に沿って検出磁界を
導入するようになされ、かつ硬磁性層12によるバイア
ス磁界HB が、図1および図2中矢印bで示すように、
上述の検出磁界のほぼ導入方向と交叉し、かつ膜面に沿
う、すなわち自由層の矢印aで示す異方性磁界方向に沿
う例えば矢印bで示す向きに印加するようになされる。
【0027】そして、本発明においては、例えばこのよ
うな構成にあって、特にその自由層において、後に詳述
するが、検出磁界が印加されない状態で、この検出磁界
の導入側の前方端とこれより後方端において実質的にこ
れに与えられる磁界、具体的には、主として上述したセ
ンス電流による誘導磁界、すなわち電流磁界HI と、上
述したバイアス磁界HB とによって決まる磁界が、同じ
向きとなるように設定するものである。
【0028】〔第2の実施形態〕この実施形態において
は、図5および図6に図1および図2の概略縦断面図を
示すように、共通の磁束ガイド層もしくは自由層兼磁束
ガイド層14を挟んで対称的に対のSV型GMR構成に
よるMR素子本体11Aおよび11Bが積層された構成
とした、いわゆるデュアル型SV型GMR素子10構成
とした場合である。
【0029】すなわち、この場合、図4にそのMR素子
本体11の概略断面図を示すように、自由層1Aおよび
1Bを兼ねる自由層兼磁束ガイド層14を挟んでその両
面に各素子本体11Aおよび11Bを構成するスペーサ
4Aおよび4B、固定層2Aおよび2B、反強磁性層3
Aおよび3Bが配置された構成とされる。図4におい
て、図3と対応する部分には同一符号を付して重複説明
を省略する。自由層兼磁束ガイド層14、スペーサ層4
Aおよび4B、固定層2Aおよび2B、反強磁性層3A
および3Bは、例えば前述した第1の実施形態における
各自由層1もしくは磁束ガイド層14、スペーサ層4、
固定層2、反強磁性層3と同様の構成とすることができ
る。
【0030】また、この実施形態においても、このMR
素子10による磁気ヘッド100においては、その前方
面13が磁気記録媒体との対接ないしは対向面を構成す
る。例えば浮上型磁気ヘッドにおいては、この前方面
が、磁気記録媒体例えば磁気ディスクの磁気ヘッドとの
相対的移行による空気流によって記録媒体面から所要ス
ペーシングをもって浮上するいわゆるABS面(Air Be
aring Surface)となる。
【0031】また、この場合においても、第1および第
2の電極兼磁気シールド21および22間に、すなわち
MR素子本体11に、その積層膜の膜面と交叉する方向
にセンス電流を通電するCPP型構成とする。また、積
層膜の膜面方向に沿って検出磁界を導入するようになさ
れ、かつ硬磁性層12によるバイアス磁界HB が、上述
の検出磁界のほぼ導入方向と交叉し、かつ膜面に沿う、
すなわち自由層の矢印aで示す異方性磁界方向に沿う例
えば矢印bで示す一つの向きに印加するようになされ
る。
【0032】そして、本発明においては、例えばこのよ
うな構成にあって、特にその自由層において、後に詳述
するが、検出磁界が印加されない状態で、この検出磁界
の導入側の前方端とこれより後方端において実質的にこ
れに与えられる磁界、具体的には、主として上述したセ
ンス電流による誘導磁界、すなわち電流磁界HI と、上
述したバイアス磁界HB とによって決まる磁界が、同じ
向きとなるように設定するものである。
【0033】〔第3の実施形態〕この実施形態において
は、TN型MR構成とした場合で、この実施形態におい
ては、前述の第1の実施形態におけるスペーサ層4を、
例えば厚さ0.6のAlを陽極酸化することによって形
成したAl2 3 によって構成していわゆるトンネルバ
リア層によって形成するほかは、第1の実施形態と同様
の構成とするものである。
【0034】〔第4の実施形態〕この実施形態において
は、TN型MR構成とした場合で、この実施形態におい
ては、前述の第2の実施形態におけるスペーサ層4を、
例えば厚さ0.6のAlを陽極酸化することによって形
成したAl2 3 によって構成していわゆるトンネルバ
リア層によって形成するほかは、第2の実施形態と同様
の構成とするものである。
【0035】前述したように、本発明によるMR素子1
0あるいは磁気ヘッド100は、その自由層において、
後に詳述するが、検出磁界が印加されない状態で、この
検出磁界の導入側の前方端とこれより後方端において実
質的にこれに与えられる磁界、具体的には、主として上
述したセンス電流による誘導磁界、すなわち電流磁界H
I と、上述したバイアス磁界HB とによって決まる磁界
が、同じ向きとなるように設定するものであるが、これ
について説明する。
【0036】図7は、自由層1に印加されるバイアス磁
界の方向HB と、有限要素法による数値計算によって求
められた膜面内の電流磁界(矢印c)とを示している。
図7においては、紙面と直交する上方にセンス電流Is
を通電した状態を示している。本発明においては、この
自由層1の前方端と1F と後方端1R の、各中央部にお
いて、この自由層1に与えられる磁界の向きが、自由層
1の異方性磁界に沿いかつ同一向きとなるようにするも
のである。
【0037】これについて説明する。ビオ・サバールの
法則と、図8に示すように定義した座標系から導かれる
下記数1から、自由層の外部磁界(検出磁界)Hsig に
平行な中心線A上の電流磁界HI の、外部磁界Hsig と
垂直な方向xの成分Hxを算出すると、図9A中、破線
のように算出される。この場合、磁界成分Hxにおい
て、バイアス磁界HB と同方向の極性を正として示し
た。
【0038】
【数1】
【0039】この場合、先端、すなわち前方端1F にお
ける電流磁界成分Hxは、−120〔Oe〕で、磁気異
方性磁界より大となることから、自由層1の単磁区化に
は、バイアス磁界HB の印加が不可欠であることが分か
る。そして、この場合、磁界成分Hxが最も大きくなる
中心線Aにおいて、電流磁界成分Hxとバイアス磁界H
B の合成磁界の向きが同一の向きとなるようなバイアス
磁界の強度が最低限必要である。そこで、中心線A上に
印加されるバイアス磁界が、120〔Oe〕を越える例
えば130〔Oe〕になるように、硬磁性層12の材料
特性および膜厚を調整する。その結果、中心線A上の合
成磁界が、同図9A中、実線曲線となるようにする。
【0040】このようにすることにより、中心線A上の
みならず、自由層1の全域において電流磁界HI とバイ
アス磁界HB との合成磁界が、外部磁界(検出磁界)H
sigの方向と交叉例えば直交する方向の、同一向きとな
り、自由層1は、その全域において単磁区化することが
できる。
【0041】しかしながら、このとき、自由層1の後端
1R においては、270〔Oe〕という大きな合成磁界
が印加されることになり、自由層1の後端で感度の低下
が生じると考えられる。ところが、上述した本発明構成
においては、MR素子10を、第1および第2の磁気シ
ールド21および22によって挟み込んだ構成、いわゆ
るシールド型構成としたことにより、検出磁界の導入領
域、すなわち検知空間が制限されて、その分解能が高め
られている。このシールド型構成とされる場合、検出磁
界の磁束が自由層の前方端(先端)から後方端に伝搬す
るに際し、一般に隣接するシールド21および22への
磁束漏洩によって磁界の減衰が生じる。
【0042】この磁界の減衰の度合は、下記数2に定義
される磁束進入特性長λを使って下記数3で表せること
が知られている。
【0043】
【数2】
【0044】
【数3】
【0045】上述の本発明構成においては、図9Cのよ
うに求められ、この図9Cから、自由層1の後方端部で
は磁束が減衰してしまっていることが分かる。すなわ
ち、自由層1において、その前方端1F に比し、後端部
1R における磁気抵抗変化への寄与は、きわめて小さい
ことが分かる。したがって、前述したように、自由層1
の後端部において著しくx方向成分の磁界が大きくなっ
ても、これによる不都合は回避される。
【0046】一方、図7に示すセンス電流Isの通電方
向とは逆向きの通電方向とした場合は、同様の中心線A
における外部磁界Hsig と垂直な方向xの成分Hxを算
出すると、図9B中、破線のように算出される。また、
自由層1を単磁区化するために必要なバイアス磁界を印
加すると、図9B中実線のようになる。そして、この場
合は、感度の高くなるのは自由層1の後端部1R 付近と
なるが、上述した磁束の減衰の効果により、その利益を
享受することは殆どできない。
【0047】つまり、本発明においては、バイアス磁界
HB の向きおよび強さと、センス電流の通電方向および
通電電流量すなわち電流磁界HI の向きおよび強さとの
相対関係の選定によって、より効率良く、検出磁界Hsi
g の磁界変化を検知すること、すなわち高い再生出力を
実現できることになる。
【0048】更に、図10を参照して説明するに、この
図においては、対のMR素子本体11Aおよび11B
が、自由層1兼磁束ガイド層14を挟んで配置されたデ
ュアル型MR素子における磁界分布を示したものであ
る。図10中、曲線31は、センス電流の通電のみによ
る、すなわちバイアス磁界が印加されない状態での電流
磁界HI の磁界分布を示し、曲線32は、この電流磁界
HI に対し、自由層1の前方端1Fにおける磁界HI と
同じ向きのバイアス磁界HB を印加した場合で、前方端
側および後方端側のそれぞれの電流磁界HI とバイアス
磁界HB との各総和(以下総磁界という)の磁界HF お
よびHR は同一向きとするものの、これら、電流磁界の
大きさを、|HF |>|HR |とした場合である。ま
た、曲線33は、曲線32の場合とは、逆向きのバイア
ス磁界HB を印加して同様に、後方端側の磁界HR と前
方端側HF を同一向きとするものの、|HF|<|HB
|とした場合である。
【0049】前述したように、素子の感度の向上を図る
上では、|HF |<|HR |となる曲線33の状態の方
が好ましい。しかし、図10に示すような、磁束ガイド
層14を備えた磁気抵抗効果素子の場合、磁束ガイド層
14に印加される電流磁界HI およびバイアス磁界HB
が素子の再生出力に影響を及ぼす。すなわち、曲線33
の状態においては、|HF |が小さいために、磁束効率
の高い前方端で感度が高くすることができるが、|HR
|が大きいために、磁束ガイド層14の、素子本体11
Aおよび11Bの後方にある部分での磁束引き出し効果
が小さくなり、素子本体11Aおよび11Bから磁気シ
ールドに直接漏洩する磁束が増えてしまう。一方、曲線
32の状態においては、|HF |が大きいために、磁束
効率の高い前方端で感度が低くなってしまうが|HR |
が小さいために磁束ガイド層14の素子本体11Aおよ
び11Bの後方にある部分での磁束引き出し効果が大き
くなり、素子本体11Aおよび11Bから磁気シールド
に直接漏洩する磁束を減らすことができる。つまり、素
子感度は大きいが磁束漏洩が多い曲線33の状態と、素
子感度は小さいが磁束漏洩が少ない曲線32の状態とで
は、どちらの再生出力が高いとは一概には言えず、素子
の構造によって変わってくる。したがって、素子の構造
や、寸法に応じて、どちらの構成を選択するかが決定さ
れる。更に、曲線32の状態と曲線33の状態における
再生出力の差が余り大きくない場合には、再生出力への
寄与が高い前方端において電流磁界HI とバイアス磁界
HB の和が大きく、安定性に優れた曲線32の状態にな
るような構成を選択することが好ましい。
【0050】すなわち、本発明構成によれば、自由層1
の前方および後方の全域に渡って、総磁界を同一向きと
したことにより、単磁区化が全域に渡ってなされること
から、バルクハウゼンノイズを効果的に改善でき、しか
も、この総磁界の大きさを前方端で大きく、あるいは後
方端で大きくすることによって、より感度の向上、ある
いは安定性を高めるという効果を奏することができるも
のである。
【0051】また、本発明による磁気ヘッド100は、
磁気記録媒体からの信号検出すなわち再生ヘッドとして
用いることができるが、記録再生ヘッドを構成する場合
においては、例えば図1あるいは図2における例えば第
2の磁気シールド兼電極22上に誘導型薄膜記録ヘッド
を配置して一体化した構成とすることができる。
【0052】図11は、その一例の概略斜視図を示すも
ので、この例においては、本発明によるMR素子を感磁
部とする本発明による磁気ヘッド100上に、例えば電
磁誘導型の薄膜磁気記録ヘッド130を積層することに
よって磁気記録再生ヘッドとして構成することができ
る。そして、前方面13に臨む部分において記録ヘッド
130の磁気ギャップを構成する例えばSiO2 等より
成る非磁性層131を形成する。そして、後方部上に、
例えば導電層がパターニングされて成るコイル132が
形成され、このコイル132上には、絶縁層が被覆さ
れ、このコイル132の中心部には、絶縁層および非磁
性層131に透孔133が穿設されて第2のシールド兼
電極2を露出する。
【0053】一方、非磁性層131上に、前方面3の前
方端を臨ぞませ、コイル132の形成部上を横切って透
孔133を通じて露出する第2のシールド兼電極層22
上に接触して磁気コア層134を形成する。このように
して磁気コア層134の前方端と第2のシールド兼電極
層2との間に非磁性層131の厚さによって規定された
磁気ギャップgが形成された電磁誘導型の薄膜記録磁気
ヘッド130を構成する。この磁気ヘッド130上に
は、鎖線図示のように、絶縁層による保護層135が形
成される。
【0054】このようにして、本発明による磁気抵抗効
果型の再生磁気ヘッド100と、薄膜型の記録ヘッド1
30とが積層されて一体化されてなる記録再生磁気ヘッ
ドを構成することができる。
【0055】尚、本発明は、上述した例に限定されるも
のではなく、例えば固定層を積層フェリ構造としたいわ
ゆるシンセティック型、シングルあるいはデュアル型構
成とするなど、また、各層の構成材料、厚さも、上述し
た例に限定されることなく種々の構成に変更することが
できる。
【0056】
【発明の効果】上述したように、本発明に構成では、第
1および第2の磁気シールド間に磁気抵抗効果素子が配
置された、磁気シールド型構成とし、かつCPP型構成
とし、これに検出磁界が与えられない状態で、自由層
の、前方端と後方端とで、実際にはこれら前方端と後方
端とに渡って、この自由層に与えられる磁界の向き、す
なわち総磁界を同一向きとしたことによって自由層の側
端部の全域に渡って単磁区構成とすることができること
から、効果的にバルクハウゼンノイズの改善が図られ
る。更に、自由層の前方端と後方端における各総磁界|
HF |および|HR |を、|HF |<|HR |あるいは
|HF |>|HR |とすることにより、より安定化ある
いはより感度の向上を図ることができるものであり、再
現性にすぐれた磁気抵抗効果素子、またこれを感磁部と
する磁気ヘッドを構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による磁気抵抗効果素子および磁気ヘッ
ドの一例の概略斜視図である。
【図2】本発明による磁気磁気抵抗効果素子および磁気
ヘッドの他の一例の概略斜視図である。
【図3】本発明の磁気抵抗効果素子本体の一例の概略断
面図である。
【図4】本発明の磁気抵抗効果素子本体の他の一例の概
略断面図である。
【図5】本発明による磁気抵抗効果素子および磁気ヘッ
ドの一例の概略概略斜視図である。
【図6】本発明による磁気磁気抵抗効果素子および磁気
ヘッドの他の一例の概略断面図である。
【図7】本発明の構成の説明に供する自由層のセンス電
流による誘導電流を示す図である。
【図8】本発明の説明に供する座標系を示す図である。
【図9】A,BおよびCは、磁気抵抗効果素子の自由層
の奥行き方向の磁界分布曲線図および規格化した磁束分
布曲線図である。
【図10】磁気抵抗効果素子の奥行き方向の磁界分布を
示す図である。
【図11】本発明による磁気ヘッドを用いた記録再生磁
気ヘッドの一例の概略斜視図である。
【図12】センス電流と電流磁界を示す図である。
【符号の説明】
1・・・自由層、1F ・・・前方端、1R ・・・後方
端、2,2A,2B・・・固定層、3,3A,3B・・
・反強磁性層、4,4A,4B・・・スペーサ層、5・
・・下地層、6・・・磁気ギャップ層、7・・・キャッ
プ層、10・・・MR素子層、11・・・MR素子本
体、12・・・硬磁性層、13・・・前方面、14・・
・磁束ガイド層、15・・・絶縁層、16・・・基板、
100・・・MR型磁気ヘッド、130・・・磁気誘導
型薄膜磁気ヘッド、131・・・非磁性層、132・・
・コイル、133・・・透孔、134・・・磁気コア
層、135・・・保護層
フロントページの続き Fターム(参考) 2G017 AA10 AC01 AD55 5D034 BA04 BA05 BA08 BA12 BA15 CA04 CA08 5E049 AA04 AC05 BA12 DB12

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相対向する軟磁性材より成る第1および
    第2の磁気シールド間に、 少なくとも、外部磁界に応じて磁化が回転する自由層
    と、固定層と、該固定層の磁化を固定する反強磁性層
    と、上記自由層と上記固定層との間に介在されるスペー
    サ層とが積層された磁気抵抗効果素子本体と、 該磁気抵抗効果素子本体にバイアス磁界を印加する硬磁
    性層とが配置され、 上記磁気抵抗効果素子本体に、その積層膜の膜面と交叉
    する方向にセンス電流を通電し、上記積層膜の膜面方向
    に沿って検出磁界を導入するようになされ、 上記バイアス磁界を、ほぼ上記検出磁界の導入方向と交
    叉し、かつ上記膜面に沿う方向に印加するようになさ
    れ、 上記自由層において、上記検出磁界が印加されない状態
    で、上記検出磁界の導入側の前方端とこれより後方端に
    おいて実質的に与えられる磁界の向きが同じ向きとなる
    ように設定されたことを特徴とする磁気抵抗効果素子。
  2. 【請求項2】 上記自由層における上記検出磁界が印加
    されない状態での上記検出磁界の導入側の前方端とこれ
    より後方端において実質的に与えられる磁界が、上記後
    方端側で大となるように設定されたことを特徴とする請
    求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
  3. 【請求項3】 上記自由層における上記検出磁界が印加
    されない状態での上記検出磁界の導入側の前方端とこれ
    より後方端において実質的に与えられる磁界が、上記前
    方端側で大となるように設定されたことを特徴とする請
    求項1に記載の磁気抵抗効果素子。
  4. 【請求項4】 上記磁気抵抗効果素子本体が、 そのスペーサ層が、非磁性層より成るスピンバルブ型構
    成とされたことを特徴とする請求項1、2または3に記
    載の磁気抵抗効果素子。
  5. 【請求項5】 上記磁気抵抗効果素子本体が、 そのスペーサ層が、トンネルバリア層より成るトンネル
    型構成とされたことを特徴とする請求項1、2または3
    に記載の磁気抵抗効果素子。
  6. 【請求項6】 磁気抵抗効果型磁気ヘッドの感磁部が、
    磁気抵抗効果素子より構成され、 該磁気抵抗効果素子が、相対向する軟磁性材より成る第
    1および第2の磁気シールド間に、 少なくとも、外部磁界に応じて磁化が回転する自由層
    と、固定層と、該固定層の磁化を固定する反強磁性層
    と、上記自由層と上記固定層との間に介在されるスペー
    サ層とが積層された磁気抵抗効果素子本体と、 該磁気抵抗効果素子本体にバイアス磁界を印加する硬磁
    性層とが配置され、 上記磁気抵抗効果素子本体に、その積層膜の膜面と交叉
    する方向にセンス電流を通電し、上記積層膜の膜面方向
    に沿って検出磁界を導入するようになされ、 上記バイアス磁界を、ほぼ上記検出磁界の導入方向と交
    叉し、かつ上記膜面に沿う方向に印加するようになさ
    れ、 上記自由層において、上記検出磁界が印加されない状態
    で、上記検出磁界の導入側の前方端とこれより後方端に
    おいて実質的に与えられる磁界の向きが同じ向きとなる
    ように設定されたことを特徴とする磁気抵抗効果型磁気
    ヘッド。
  7. 【請求項7】 上記自由層における上記検出磁界が印加
    されない状態での上記検出磁界の導入側の前方端とこれ
    より後方端において実質的に与えられる磁界が、上記後
    方端側で大となるように設定されたことを特徴とする請
    求項6に記載の磁気抵抗効果型磁気ヘッド。
  8. 【請求項8】 上記自由層における上記検出磁界が印加
    されない状態での上記検出磁界の導入側の前方端とこれ
    より後方端において実質的に与えられる磁界が、上記前
    方端側で大となるように設定されたことを特徴とする請
    求項6に記載の磁気抵抗効果型磁気ヘッド。
  9. 【請求項9】 上記磁気抵抗効果素子本体が、 そのスペーサ層が、非磁性層より成るスピンバルブ型構
    成とされたことを特徴とする請求項6、7または8に記
    載の磁気抵抗効果型磁気ヘッド。
  10. 【請求項10】 上記磁気抵抗効果素子本体が、 そのスペーサ層が、トンネルバリア層より成るトンネル
    型構成とされたことを特徴とする請求項6、7または8
    に記載の磁気抵抗効果効果型磁気ヘッド。
JP2000368930A 2000-12-04 2000-12-04 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド Pending JP2002171013A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000368930A JP2002171013A (ja) 2000-12-04 2000-12-04 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド
CNB018066119A CN1263175C (zh) 2000-12-04 2001-12-04 磁阻效应元件和磁阻效应型磁头
US10/203,126 US7027272B2 (en) 2000-12-04 2001-12-04 Magnetoresistance effect device, and magnetoresistance effect magnetic head
PCT/JP2001/010592 WO2002047182A1 (fr) 2000-12-04 2001-12-04 Dispositif a effet magnetoresistif, et tete magnetique a effet magnetoresistif

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000368930A JP2002171013A (ja) 2000-12-04 2000-12-04 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002171013A true JP2002171013A (ja) 2002-06-14

Family

ID=18839051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000368930A Pending JP2002171013A (ja) 2000-12-04 2000-12-04 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7027272B2 (ja)
JP (1) JP2002171013A (ja)
CN (1) CN1263175C (ja)
WO (1) WO2002047182A1 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079723A1 (ja) * 2003-03-06 2004-09-16 Fujitsu Limited 磁気抵抗ヘッド
WO2004088763A1 (ja) * 2003-03-27 2004-10-14 Fujitsu Limited Cpp構造磁気抵抗効果素子およびヘッドスライダ
US7826179B2 (en) 2007-09-17 2010-11-02 Tdk Corporation Magneto-resistive effect device of the CPP structure and magnetic disk system
US7869166B2 (en) 2007-02-20 2011-01-11 Tdk Corporation Thin film magnetic head having a bias magnetic layer provided with antiferromagnetic layer and a pinned layer provided with hard magnetic layer
US7869165B2 (en) 2007-07-30 2011-01-11 Tdk Corporation Magnetic field detecting element having stack with a plurality of free layers and side shield layers
US7876534B2 (en) 2008-01-15 2011-01-25 Tdk Corporation Magneto-resistive effect device of the CPP type, and magnetic disk system
US7881021B2 (en) 2008-01-30 2011-02-01 Tdk Corporation CPP type magnetoresistive device with biasing arrangement for ferromagnetic layers having respective magnetizations orthogonal to one another, and magnetic disk system using same
US8098464B2 (en) 2008-02-19 2012-01-17 Tdk Corporation CPP-type magneto resistance element having a pair of free layers and spacer layer sandwiched therebetween

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7154716B2 (en) * 2003-05-30 2006-12-26 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Tunnel valve free layer stabilization system and method using additional current in lead
US6909674B2 (en) * 2003-06-11 2005-06-21 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Thermally assisted magnetic write head system utilizing multilayer thermal barrier coatings
JP2005086112A (ja) * 2003-09-10 2005-03-31 Toshiba Corp 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、ヘッドサスペンションアッセンブリ、および磁気再生装置
JP2007513502A (ja) * 2003-11-24 2007-05-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 磁界センサを有するmramチップの不均一シールド
US7356909B1 (en) * 2004-09-29 2008-04-15 Headway Technologies, Inc. Method of forming a CPP magnetic recording head with a self-stabilizing vortex configuration
US20070279969A1 (en) * 2006-06-02 2007-12-06 Raytheon Company Intrusion detection apparatus and method
JP4649433B2 (ja) * 2007-03-27 2011-03-09 株式会社東芝 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、磁気記憶装置及び磁気メモリ
TWI363359B (en) * 2007-07-03 2012-05-01 Nat Univ Tsing Hua Inductor with exchange-coupling film
US7961440B2 (en) * 2007-09-27 2011-06-14 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Current perpendicular to plane magnetoresistive sensor with reduced read gap
US8395867B2 (en) * 2009-03-16 2013-03-12 Dimitar Velikov Dimitrov Magnetic sensor with a recessed reference layer assembly and a front shield
US8194366B1 (en) 2009-10-14 2012-06-05 Western Digital (Fremont), Llc TMR read head structures with differential stripe heights
CN104600192B (zh) * 2013-11-01 2017-11-07 中国科学院物理研究所 具有电荷轨道有序转变及各向异性场致电阻效应的异质结构材料及其制备方法和用途
JP6658823B2 (ja) * 2018-08-24 2020-03-04 Tdk株式会社 磁気センサおよび磁気センサシステム
JP6791237B2 (ja) * 2018-12-28 2020-11-25 Tdk株式会社 磁気センサ装置
JP6806133B2 (ja) * 2018-12-28 2021-01-06 Tdk株式会社 磁気センサ装置
JP7172939B2 (ja) * 2019-10-01 2022-11-16 Tdk株式会社 磁気センサ装置
US11372029B2 (en) * 2019-12-11 2022-06-28 Tdk Corporation Magnetic field detection apparatus and current detection apparatus

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US634495A (en) 1898-03-04 1899-10-10 Richard Brunnee Scale-beam.
FR2773277B1 (fr) * 1997-12-31 2000-03-10 Sgs Thomson Microelectronics Protection d'un transistor mos vertical associe a des cellules de mesure
JP3227128B2 (ja) 1998-06-30 2001-11-12 アルプス電気株式会社 薄膜導体層及び前記薄膜導体層を用いた磁気抵抗効果素子並びに薄膜導体層の製造方法
JP2000030223A (ja) 1998-07-08 2000-01-28 Tdk Corp 磁気抵抗効果素子及び薄膜磁気ヘッド
JP2000228004A (ja) * 1998-11-30 2000-08-15 Nec Corp 磁気抵抗効果素子、再生ヘッド、および記録再生システム
JP3987226B2 (ja) 1999-02-05 2007-10-03 富士通株式会社 磁気抵抗効果型デバイス
US6473279B2 (en) * 2001-01-04 2002-10-29 International Business Machines Corporation In-stack single-domain stabilization of free layers for CIP and CPP spin-valve or tunnel-valve read heads

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004079723A1 (ja) * 2003-03-06 2004-09-16 Fujitsu Limited 磁気抵抗ヘッド
WO2004088763A1 (ja) * 2003-03-27 2004-10-14 Fujitsu Limited Cpp構造磁気抵抗効果素子およびヘッドスライダ
US7355825B2 (en) 2003-03-27 2008-04-08 Fujitsu Limited Current-perpendicular-to-the-plane structure magnetoresistive element and head slider
US7869166B2 (en) 2007-02-20 2011-01-11 Tdk Corporation Thin film magnetic head having a bias magnetic layer provided with antiferromagnetic layer and a pinned layer provided with hard magnetic layer
US7869165B2 (en) 2007-07-30 2011-01-11 Tdk Corporation Magnetic field detecting element having stack with a plurality of free layers and side shield layers
US7826179B2 (en) 2007-09-17 2010-11-02 Tdk Corporation Magneto-resistive effect device of the CPP structure and magnetic disk system
US7876534B2 (en) 2008-01-15 2011-01-25 Tdk Corporation Magneto-resistive effect device of the CPP type, and magnetic disk system
US7881021B2 (en) 2008-01-30 2011-02-01 Tdk Corporation CPP type magnetoresistive device with biasing arrangement for ferromagnetic layers having respective magnetizations orthogonal to one another, and magnetic disk system using same
US8098464B2 (en) 2008-02-19 2012-01-17 Tdk Corporation CPP-type magneto resistance element having a pair of free layers and spacer layer sandwiched therebetween

Also Published As

Publication number Publication date
WO2002047182A1 (fr) 2002-06-13
CN1263175C (zh) 2006-07-05
US7027272B2 (en) 2006-04-11
US20030133234A1 (en) 2003-07-17
CN1418381A (zh) 2003-05-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002171013A (ja) 磁気抵抗効果素子および磁気抵抗効果型磁気ヘッド
JP3657875B2 (ja) トンネル磁気抵抗効果素子
US6137662A (en) Magnetoresistive sensor with pinned SAL
Tsang et al. Design, fabrication, and performance of spin-valve read heads for magnetic recording applications
JP3592140B2 (ja) トンネル磁気抵抗効果型ヘッド
CN1838246B (zh) 具有叠层内偏置的磁传感器
JP2001006127A (ja) トンネル磁気抵抗効果型ヘッド
US6621666B2 (en) Magnetoresistive-effect element having electrode layers oppositely disposed on main surfaces of a magnetoresistive-effect thin film having hard magnetic bias layers with a particular resistivity
JP2002175611A (ja) Cpp磁気抵抗効果型再生ヘッド、cpp巨大磁気抵抗効果型再生ヘッドおよびバイアス磁界印加方法
JP2004039869A (ja) 磁気抵抗センサ、磁気ヘッド、ならびに磁気記録装置
US8422177B2 (en) Reader shield with tilted magnetization
US5491606A (en) Planar magnetoresistive head with an improved gap structure
JP2001134910A (ja) 磁気抵抗センサ及び薄膜磁気ヘッド
JPH1041562A (ja) 磁気抵抗効果素子
JP2003229612A (ja) 磁気抵抗効果センサーおよび磁気ディスク装置
US20050028352A1 (en) Method of manufacturing thin-film magnetic head
JP2746226B2 (ja) 磁気抵抗効果素子を用いた磁界の検出方法
JPH1125431A (ja) 磁気抵抗効果型再生ヘッドならびに磁気記録再生装置
JP2002305338A (ja) 垂直通電型磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記録再生装置
JP4005957B2 (ja) 薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、及びハードディスク装置
US9153250B2 (en) Magnetoresistive sensor
JP3367488B2 (ja) 磁気抵抗効果センサ、薄膜磁気ヘッド及び該薄膜磁気ヘッドを備えた薄膜ウエハ
JPH0836715A (ja) 磁気抵抗効果型磁気ヘッド
JP2003263708A (ja) 磁気抵抗効果型ヘッド
JPH06267029A (ja) 磁気抵抗効果型ヘッド