JP2002170993A - 発光素子及びその製造方法、可視光発光装置 - Google Patents
発光素子及びその製造方法、可視光発光装置Info
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Abstract
少なく、かつ比較的低温で成長でき、しかも青色光領域
さらには紫外線領域にて高輝度発光が可能な発光素子を
提供する。 【解決手段】 発光素子1は、p型クラッド層2、活性
層33及びn型クラッド層34がこの順序にて積層され
た発光層部を有し、かつp型クラッド層2がp型Mgx
Zn1−xO(ただし、0<x≦1)層からなる。そし
て、その層形成をMOVPE法にて行なうことにより、
成膜中の酸素欠損発生を効果的に抑制でき、良好な特性
のp型MgxZn1−xO層を得ることが可能となる。
Description
光素子、特に青色光あるいは紫外線の発光に適した発光
素子とその製造方法、ならびに紫外線発光素子を用いた
可視光発光装置に関する。
発光素子が永らく要望されていたが、最近になってAl
GaInN系材料を用いることにより、このような発光
素子が実現している。また、赤色ないし緑色の高輝度発
光素子と組み合わせることにより、フルカラー発光装置
や表示装置などへの応用を図ることも急速に進みつつあ
る。
aInN系材料は比較的希少な金属であるGaとInと
が主成分となるため、コストアップが避けがたい。ま
た、成長温度が700〜1000℃と高く、製造時に相
当のエネルギーが消費されるのも大きな問題の一つであ
る。これはコスト低減の観点においてはもちろん、省エ
ネルギーや地球温暖化抑制に関する議論が喧しい昨今で
は、時流に逆行するという意味においても望ましくな
い。
希少金属の使用量が少なく、かつ比較的低温で成長で
き、しかも青色光領域さらには紫外線領域にて高輝度発
光が可能な発光素子とその製造方法、ならびに半導体紫
外線発光素子を用いた可視光発光装置を提供することに
ある。
題を解決するために、本発明の発光素子は、n型クラッ
ド層、活性層及びp型クラッド層がこの順序にて積層さ
れた発光層部を有し、かつp型クラッド層がp型Mgx
Zn1−xO(ただし、0<x≦1)層からなることを
特徴とする。
記の発光素子を製造するために、p型MgxZn1−x
O層を、有機金属気相成長法により形成することを特徴
とする。
lGaInNの代替材料候補としてはZnOが考えられ
る。しかしながら、ZnO系酸化物半導体材料は酸素欠
損を生じやすいため、本質的にn型導電性となりやす
く、発光素子を構成する上で不可欠なp型導電性を示す
ものを製造することは困難とみなされていた。また、仮
にp型ZnOが得られたと仮定しても、ZnOの価電子
帯上端のエネルギーレベルが比較的高いため、活性層と
の間にp型キャリアに対する障壁を十分な高さにて形成
できず、発光効率の低下につながる場合もある。
の一部をMgで置換した複合酸化物、すなわち、Mgx
Zn1−xO(0<x≦1:以下、該複合酸化物をMg
ZnOと略記することがあるが、これは、Mg:Zn:
O=1:1:1であることを意味するものではない)を
p型クラッド層の構成材料として用いる。MgZnOに
おいてはMgの含有により、酸化物のバンドギャップエ
ネルギーEgが、価電子帯上端のエネルギーレベルEv
を低下させる形で増大する。これにより、活性層との間
のp型キャリアに対する障壁高さが高くなり、発光効率
を高めることができる。
は、p型MgxZn1−xO層中の酸素欠損濃度を10
個/cm3以下に留めることが望ましい。そのために
は、p型MgxZn1−xO層を形成するための気相成
長法としては、有機金属気相成長法(MOVPE(Meta
l Organic Vapour Phase Epitaxy)法)を採用すること
が有効である。他の気相成長法である高周波スパッタリ
ングや分子線エピタキシ(MBE(Molecular Beam Epi
taxy))は、成長雰囲気の圧力が10−4〜10 −2t
orrと低いため、酸素欠損の発生を抑制することが非
常に困難であり、p型MgxZn1−xO層の形成が事
実上不可能である。しかしながら、MOVPE法を用い
た気相成長法は、成長中の酸素分圧を自由に変化させる
ことができるため、雰囲気圧力をある程度上昇させるこ
とで酸素離脱ひいては酸素欠損の発生を効果的に抑制で
きる。その結果、従来不可能であったp型MgxZn
1−xO層、特に、酸素欠損濃度を10個/cm3以下
としたp型MgxZn1−xO層を実現できるようにな
る。酸素欠損濃度は低ければ低いほどよい(つまり、0
個/cm3となることを妨げない)。
は、上記AlGaInN系材料からなる発光層部、ある
いはZn及びMgの酸化物あるいはその混晶から構成さ
れる発光層部を用いた二次元アレー面型発光装置が開示
されている。該公報には、上記発光層部を可視光発光源
として用いる態様のほか、発光層部を紫外線発光部とし
て構成し、紫外線により各色の蛍光体層を励起発光させ
るフルカラーディスプレイも開示されている。しかしな
がら、特開平11−168262号公報には、Zn及び
Mgの酸化物あるいはその混晶から構成される発光層部
を、基板上へのエピタキシャル成長により形成すると記
載されているのみで、p型MgxZn1 −xO層を含む
発光層部の構成、及びp型MgxZn1−xO層の具体
的な形成方法に関しては記載も示唆もなされていない。
による層形成は、10torr以上の圧力を有した雰囲
気中で行なうことにより、成膜中の酸素欠損発生をより
効果的に抑制でき、良好な特性のp型MgxZn1−x
O層を得ることができる。この場合、より望ましくは、
酸素分圧(O2以外の酸素含有分子も、含有される酸素
をO2に換算して組み入れるものとする)が10tor
r以上とするのがよい。
型クラッド層として用いることで、青色光領域あるいは
紫外線領域にて高輝度発光が可能な発光素子を容易に形
成できる。また、p型クラッド層が、GaやInのよう
な希少金属を主成分としないため、発光層部全体におけ
る希少金属の使用量が少なくなり、ひいては発光素子を
安価に製造できる。また、MgxZn1−xO層は比較
的低温で気相成長できるので、省エネルギーを図る上で
も有効である。
は、適当なp型ドーパントを添加する必要がある。この
ようなp型ドーパントとしては、N、Ga、Al、I
n、Li、Si、C、Seの一種又は2種以上を用いる
ことができる。これらのうち、特にNを使用すること
が、良好なp型特性を得る上で有効である。また、金属
元素ドーパントとしてはGa、Al、In及びLiの1
種又は2種以上、特にGaを使用することが有効であ
る。これらは、Nと共添加することにより、良好なp型
特性をより確実に得ることができる。なお、GaやIn
等を使用する場合も、その使用量はごくわずかであるか
ら、コストアップ等の問題は生じない。
型MgxZn1−xO層中のp型キャリア濃度が1×1
016個/cm3〜8×1018個/cm3となってい
るのがよい。p型キャリア濃度が1×1016個/cm
3未満になると十分な発光輝度を得ることが困難となる
場合がある。他方、p型キャリア濃度が8×1018個
/cm3を超えると、活性層に注入されるp型キャリア
の量が過剰となり、p型MgxZn1−xO層への逆拡
散したり、あるいは障壁を乗り越えてn型クラッド層へ
流入したりして発光に寄与しなくなるp型キャリアが増
え、発光効率の低下につながる場合がある。
紫外線発光素子として構成された上記本発明の発光素
子、つまり、n型クラッド層、活性層及びp型クラッド
層がこの順序にて積層された発光層部を有し、かつ前記
p型クラッド層がp型MgxZn1−xO(ただし、0
<x≦1)層からなる半導体紫外線発光素子と、その半
導体紫外線発光素子からの紫外線照射を受けて可視光を
発光する蛍光体とを有することを特徴とする。
プが一般的に広く使用されている。しかし蛍光ランプに
は以下のような欠点がある。 ・陰極放電を利用して紫外線を発生させるため、電極の
蒸発消耗により比較的早期に寿命がつきやすい。 ・高電圧を必要とする上、消費電力も大きい。 ・安定器やスタータなどの余分な周辺回路が必要であ
る。 ・ランプ廃棄に伴い、紫外線放射源としてガラス管内に
封入された水銀が放出されるため、環境保護上の観点に
おいても今後は敬遠されてゆくことが予想される。
よると、紫外線源として半導体発光素子を用いるので経
時的な劣化が小さく長寿命であり、また、基本的に発光
素子への通電回路さえあれば連続発光可能であるから回
路構成も簡略化できる。さらに、高電圧を必要とせず、
抵抗損失も小さいので消費電力が少なくて済む。また、
水銀などの環境保護上望ましくない物質が使用されない
ので、エコロジカルにクリーンな発光装置が実現でき
る。そして、半導体紫外線発光素子として、本発明の発
光素子を使用すれば安価であり、また、紫外線発光効率
も高いので、より省エネルギーを図ることができる。
面を用いて説明する。図1は、本発明に係る発光素子の
要部の積層構造を模式的に示すものであり、n型クラッ
ド層34、活性層33及びp型クラッド層2がこの順序
にて積層された発光層部を有している。そして、p型ク
ラッド層2がp型MgxZn1−xO層(0<x≦1:
以下、p型MgZnO層2と略記する場合がある)とし
て形成されている。該p型MgZnO層2には、p型ド
ーパントとして、例えばN、Ga、Al、In、Liの
一種又は2種以上が微量含有されている。また、p型キ
ャリア濃度は前述の通り1×1016個/cm3〜8×
1018個/cm3、例えば1017個/cm3〜10
18/cm3程度の範囲で調整される。
で、いわゆるウルツ鉱型構造を有する。該構造では、酸
素イオン充填面と金属イオン(ZnイオンまたはMgイ
オン)充填面とがc軸方向に交互に積層される形となっ
ており、図3に示すように、p型MgZnO層2はc軸
が層厚方向に沿うように形成される。酸素イオンが欠落
して空孔を生ずると酸素欠損となり、n型キャリアであ
る電子を生ずる。従って、このような酸素欠損が多く形
成されすぎると、n型キャリアが増加してp型導電性を
示さなくなる。そこで、p型MgZnO層を形成する際
には、酸素欠損の発生を如何に抑制するかが重要とな
る。
MOVPE法により形成される。MOVPE法の成長原
理自体は公知である。この気相成長の際に前述したp型
ドーパントの添加を行なう。そして、該気相成長を、1
0torr以上の雰囲気圧力下にて行なうことにより、
図4に示すように、酸素イオンの離脱が抑制され、酸素
欠損の少ない良好なp型MgZnO層2が得られる。
ル成長により図5(a)に示すように単結晶層として形
成されていることが理想的であるが、c軸が層厚方向に
配向した構造が得られるのであれば、図5(b)に示す
ような多結晶層となっていても比較的良好な発光効率が
得られる。MgZnOの場合、例えば層成長を行なう基
板厚さ方向に熱勾配を付与する等により、このような構
造が比較的得やすいので好都合であるといえる。
光波長に応じて適宜のバンドギャップを有するものが使
用される。例えば、可視光発光に使用するものは、波長
400〜570nmにて発光可能なバンドギャップエネ
ルギーEg(3.10〜2.18eV程度)を有するも
のを選択する。これは、紫から緑色までをカバーする発
光波長帯であるが、特に青色発光に使用する場合は、波
長450〜500nmにて発光可能なバンドギャップエ
ネルギーEg(2.76〜2.48eV程度)を有する
ものを選択する。また、紫外線発光に使用するものは、
波長280〜400nmのにて発光可能なバンドギャッ
プエネルギーEg(4.43〜3.10eV程度)を有
するものを選択する。
1−xO層2との間にタイプIIのバンドラインナップを
形成する半導体により形成することができる。このよう
な活性層としては、例えば図6に示す発光素子1あるい
は図7に示す発光素子100のように、InGaN層
(以下、InGaN活性層という)3とすることができ
る。ここで、「活性層とp型MgxZn1−xO層との
間にタイプIIのバンドラインナップが形成される」と
は、図8に示すように、p型クラッド層(p型MgxZ
n1−xO層2)の伝導体底及び価電子帯上端の各エネ
ルギーレベルEcp,Evpと、活性層の伝導体底及び
価電子帯上端の各エネルギーレベルEci,Eviとの
間に次のような大小関係が成立している接合構造をい
う: Eci>Ecp ‥‥(1) Evi>Evp ‥‥(2)
ド層への電子(n型キャリア)の順拡散に関しては特に
障壁を生じないが、活性層からp型クラッド層への正孔
(p型キャリア)の逆拡散については比較的高いポテン
シャル障壁が形成されるので、活性層におけるキャリア
再結合が促進され、高い発光効率を実現することができ
る。なお、InNの混晶比をαとしてInαGa1−α
Nと表したとき、青色可視光発光を狙う場合は0.34
≦α≦0.47とするのがよく、紫外線発光を狙う場合
は0≦α≦0.19とするのがよい。
層との間でタイプIのバンドラインナップを形成する半
導体を使用することが望ましい。このような活性層とし
ては、例えば図6に示す発光素子1あるいは図7に示す
発光素子100のように、n型AlGaN(AlβGa
1−βN)層4とすることができる。「n型クラッド層
と活性層との間にタイプIのバンドラインナップが形成
される」とは、図8に示すように、活性層の伝導体底及
び価電子帯上端の各エネルギーレベルEci,Evi
と、n型クラッド層(n型AlGaN層4)の伝導体底
及び価電子帯上端の各エネルギーレベルEcn,Evn
との間に次のような大小関係が成立している接合構造を
いう: Eci<Ecn ‥‥(3) Evi>Evn ‥‥(4)
の電子の逆拡散に対して比較的高い障壁を生じるととも
に、価電子帯上端には活性層の位置に量子井戸が形成さ
れるので、正孔に対する閉じ込め効果が高められる。こ
れは、いずれも活性層におけるキャリア再結合促進ひい
ては発光効率向上に寄与する。
ッド層への正孔逆拡散の抑制効果は、価電子帯上端にお
けるエネルギー障壁高さ(Evi−Evp)を大きくす
ることにより高められる。そのためには、p型クラッド
層を構成するp型MgxZn 1−xO層2のMgO混晶
比、すなわちxの値)を増加させることが有効である。
混晶比xは、必要とされる電流密度に応じて、キャリア
のp型クラッド層への過剰な溢れ出しが生じないように
定められる。例えば活性層をInGaN層3とする場
合、混晶比xは、発光ダイオードでは0.05〜0.2
程度、半導体レーザー光源では0.1〜0.4程度とす
るのがよい。
層に向けて階段状に下がっているため、活性層中での発
光再結合に寄与しなかった電子はキャリア濃度の高いp
型クラッド層に流れ込むので、オージェ再結合等により
発光にはもはや寄与しなくなる。従って、発光効率を高
めるためには、p型クラッド層に流入する前になるべく
多くの電子が正孔と再結合することが必要である。その
ためには、活性層の厚さtを一定以上(例えば30nm
以上)に大きくすることが有効である。図8(b)に示
すように、活性層の厚さtが小さすぎると、p型クラッ
ド層に流れ込んで発光に寄与しなくなる電子が増大し、
発光効率の低下を招くことにつながる。他方、活性層の
厚さtを必要以上に大きくすることは、活性層内でのキ
ャリア密度の低下を招くので、発光効率が却って低下す
ることにつながるので、例えば2μm以下の値とする。
を用いた場合のように、Ecp>Eviとなっているこ
と、つまりp型クラッド層と活性層との間で禁止帯がオ
ーバーラップしていることが、接合界面での非発光再結
合を抑制する上で有利である。
1−xO層2の活性層(InGaN層)3に接している
のと反対側の表面は、導電性材料又は半導体材料からな
る保護層35により覆うことができる。MgZnOは水
分との反応により水酸化物等に転じて性能劣化しやすい
性質があるので、p型MgxZn1−xO層2に対して
上記のような保護層35を設けることは、このような不
具合を防止する上で極めて効果的である。
ように、層厚方向にc軸が向いた構造、つまり、酸素イ
オン充填層と金属イオン充填層とが層厚方向に交互に積
層された構造を有するものとなっている。この場合、電
気的中性条件を考慮すれば、層の片側が金属イオン充填
層の露出面(以下、金属イオン充填面という)となって
いる場合、他方の側は必ず酸素イオン充填層の露出面
(以下、酸素イオン充填面という)となっている。そし
て、水分吸着による反応を生じやすいのは、この酸素イ
オン充填層の露出面側である。
の接触側が金属イオン充填面となっていれば、反対側が
酸素イオン充填面となるため、これを前述の保護層35
にて覆うことが有効となる。この場合、保護層35は酸
素イオン充填面にてp型Mg xZn1−xO層2と接触
する形となる。他方、活性層33との接触側を酸素イオ
ン充填面とすれば、反対側は水分との反応に対して比較
的不活性な金属イオン充填面となる。この場合は、保護
層35を省略することも可能であるが、保護層35を設
ければより耐候性に優れた素子構造を得ることができ
る。
明導電材料層12とされている。透明導電材料層12す
なわち材質の透明な保護層を設けることは、p型Mgx
Zn 1−xO層2側を光取出し面とする場合に、その光
取出し効率の向上に寄与する。この場合、透明導電材料
層12を発光通電用の電極に兼用することが可能であ
る。このようにすると、金属電極を設ける場合と異な
り、電極自体が光を透過させることができるので、電極
の周囲に光取出のための電極非形成領域を積極的に形成
する必要がなくなり、光取出し効率を低下させることな
く電極の大面積化を図ることができる。また、電流拡散
層の形成等も不要となるので、素子の簡略化を図ること
ができる。
は、In2O3:Sn(スズドープ酸化インジウム:I
TOと通称される)やSnO2:Sb(アンチモンドー
プ酸化スズ:ネサ(Nesa)と通称される)を好適に使用
することができる。ITOは導電性に優れ、素子駆動電
圧の低減にも寄与できる。他方、ネサは、導電性はIT
Oよりもやや劣るがより安価な利点がある。また、耐熱
性が高いので、透明導電材料層12を形成した後に、高
温の処理工程が必要となる場合などにおいても有効であ
る。ITO膜はスパッタリングあるいは真空蒸着により
製造でき、また、ネサ膜はCVD法により製造できる。
また、これら透明導電材料層12をゾルゲル法により形
成してもよい。
のような構造を有している。すなわち、サファイア(単
結晶アルミナ)基板10上にGaNからなるバッファ層
11が形成され、その上にn型クラッド層としてのn型
AlGaN層4、活性層としてのInGaN層(以下、
InGaN活性層という)3、及びp型クラッド層とし
てのp型MgZnO層2がこの順序にてエピタキシャル
成長されることによりダブルへテロ構造をなす発光層部
が形成されている。また、p型MgZnO層2の表面が
例えばITOからなる透明導電材料層12にて覆われる
一方、n型AlGaN層4とInGaN活性層3とは一
部が除去され、露出したn型AlGaN層4の表面に金
属電極13が形成されている。そして、透明導電材料層
12側を正として金属電極13との間で通電することに
より、発光層部からの光(青色光又は紫外線)が透明導
電材料層12側から、あるいはサファイア基板10側か
ら取り出される。なお、金属電極13(あるいは後述の
金属反射層22あるいは金属電極21)は、Au、N
i、TiあるいはBeの1種又は2種以上を含有する金
属、例えばAu−Be合金等にて構成できる。
保護層がp型化合物半導体層20とされている。p型化
合物半導体層20は電流拡散層に兼用することができ
る。この場合、該p型化合物半導体層20よりも小面積
の金属電極21を形成することにより、その周囲からの
光取出しを可能としつつ該電極21からの電流をp型M
gZnO層2の全面に拡散させることで光取出し効率を
改善することが可能となる。この場合、p型化合物半導
体層20は、光取出しを行なう上で十分な透光性を有し
ていることが必要である。本実施形態では、p型化合物
半導体層20はp型AlGaN層であり、その上に金属
電極21が形成されている。他の部分は図6の発光素子
1と同じであるので、共通する要素に同一の符号を付与
して詳細な説明は省略する。なお、p型化合物半導体層
20が十分な導電性を有している場合、金属電極21を
省略することも可能である。
の一例を図9により説明する。まず、図9(a)に示す
ように、サファイア基板10の一方の主表面にGaNバ
ッファ層11を形成し、次いでn型AlGaN層(n型
クラッド)層4を例えば層厚50nmにて、さらにIn
GaN(ノンドープ)活性層3を層厚例えば30nmに
てエピタキシャル成長させる。これらの層の形成は公知
のMOVPE法あるいはMBE法にて行なうことができ
る。なお、本明細書においてMBEは、金属元素成分源
と非金属元素成分源との両方を固体とする狭義のMBE
に加え、金属元素成分源を有機金属とし非金属元素成分
源を固体とするMOMBE(Metal Organic Molecular
Beam Epitaxy)、金属元素成分源を固体とし非金属元素
成分源を気体とするガスソースMBE、金属元素成分源
を有機金属とし非金属元素成分源を気体とする化学ビー
ムエピタキシ(CBE(Chemical Beam Epitaxy))を
概念として含む。
ZnO層(p型クラッド層)2を例えば層厚100nm
にてエピタキシャル成長させる。p型ドーパントとして
金属元素ドーパントを使用する場合、金属元素ドーパン
トを、アルキル基を少なくとも一つ含む有機金属の形で
供給することができる。
成する場合、主原料としては次のようなものを用いるこ
とができる: ・酸素源:NO2など; ・Zn源:ジメチル亜鉛(DMZn)、ジエチル亜鉛
(DEZn)など; ・Mg源:ビスシクロペンタジエニルマグネシウム(C
p2Mg)など。
なものを用いることができる; ・Li源:ノルマルブチルリチウムなど; ・Si源:モノシランなどのシリコン水素化物など; ・C源:炭化水素(例えばCを1つ以上含むアルキルな
ど); ・Se源:セレン化水素など。
以上は、Nとの共添加により良好なp型ドーパントとし
て機能させることができる。原料としては以下のような
ものを使用できる; ・Al源;トリメチルアルミニウム(TMAl)、トリ
エチルアルミニウム(TEAl)など; ・Ga源;トリメチルガリウム(TMGa)、トリエチ
ルガリウム(TEGa)など; ・In源;トリメチルインジウム(TMIn)、トリエ
チルインジウム(TEIn)など。 p型ドーパントとして金属元素(Ga)とともにNが使
用される場合、p型MgZnO層の気相成長を行なう際
に、N源となる気体を、Ga源となる有機金属とともに供
給するようにする。例えば、本実施形態では、酸素源と
して使用するNO2がN源としても機能する形となる。
気相成長は、基板の配置された成長炉内を例えば300
〜700℃に昇温し、ここに上記の原料を気体状態にて
キャリアガスとともに送り込むことにより実施できる。
キャリアガスとしては、例えば窒素ガスあるいはアルゴ
ンガスを使用することができる。
部空間115aに配置された基板110の主表面111
上に、p型MgxZn1−xO層2がMOVPE法によ
り形成される。基板110は図9(a)に示す状態のも
のであり、主表面111は図9(a)の活性層3の表面
である。この場合、内部空間115aに対し、酸素源ガ
ス噴出口116aより酸素源ガスOQを供給し、また、
主表面111までの距離が酸素源ガス噴出口116aよ
り近くなるように形成された有機金属噴出口117aよ
りMg及び/又はZn源となる有機金属MOを供給する
ことが、酸素欠損の少ない(具体的には10個/cm3
以下の)p型MgxZn1−xO層2を得る上で有効で
ある。このとき、成長容器115に供給する酸素源(VI
族)ガスOQのモル濃度を有機金属(II族)MOのモル
濃度の2000〜3000倍程度に高くする(すなわ
ち、供給II/VI比を2000〜3000にする)とさら
に効果的である。
内蔵されたヒータ118により基板110が加熱される
ようになっている。また、成長容器115に接続された
酸素源ガス供給配管116の開口部が酸素源ガス噴出口
116aを形成している。さらに、成長容器115内に
進入する有機金属供給配管117の先端部が、p型Mg
xZn1−xO層2を形成すべき主表面111の上方近
傍に位置し、該先端部に有機金属噴出口117aが形成
されて、有機金属ガスを主表面111に向けて吹き付け
るようになっている。
上に保持して気相成長を行なうようにすることが有効で
ある。これにより酸素の離脱が抑制され、酸素欠損の少
ない良好なp型特性を有したMgZnO層を合成するこ
とができる。特に酸素源としてNO2を使用する場合、
上記の圧力設定によりNO2の解離が急激に進行するこ
とが防止され、酸素欠損の発生をより効果的に抑制する
ことが可能となる。
制効果は高められるが、760torr(1気圧)程度
までの圧力でも効果は十分顕著である。例えば、760
torr以下であれば、反応容器内が常圧又は減圧とな
るので容器シール構造が比較的簡略なもので済む利点が
ある。他方、760torrを超える圧力を採用する場
合は、容器内が加圧となるので内部の気体が漏れ出さな
いようにやや強固なシール構造を、また、圧力が相当高
い場合には耐圧構造等を考慮する必要があるが、酸素離
脱抑制効果は一層顕著となる。この場合、圧力の上限
は、装置コストと達成できる酸素離脱抑制効果との兼ね
合いにより適当な値に定めるべきである(例えば、76
00torr(10気圧)程度)。
基板を反応容器から取り出し、図9(c)に示すよう
に、透明導電材料層12を形成する。ITO膜を使用す
る場合は、高周波スパッタリングあるいは真空蒸着等に
より形成することが可能である。そして、図9(d)に
示すように、p型MgZnO層2及びInGaN活性層
3の一部をガスエッチング等により除去してn型AlG
aN層4を露出させ、ここに真空蒸着等にて金属電極1
3を形成することにより、図6に示す発光素子1が完成
する。なお、適当な大きさの素子とするために、工程
(c)の後、基板をダイシングし、その後ダイシングさ
れた個々の基板に対し(d)の工程が実施される。ま
た、最終製品となるまでには、通電用リード線のボンデ
ィングや樹脂モールド等の工程が続くが、常識的な事項
なので詳細な説明は省略する(以下の他の実施形態にお
いても同じ)。また、図7に示す発光素子100の場合
は、p型MgZnO層2の後、さらにp型AlGaN層
をMOVPE法等により気相成長し、その上に金属電極
21を形成する点を除いては、図9と同様の工程により
製造できる。
11に示す発光素子101のように、金属層22とする
ことも可能である。この場合、金属層22は、n型クラ
ッド層4側から光取出しを行なう際の光反射層(以下、
金属反射層22という)に兼用することができる。この
ようにすれば、発光層部からp型クラッド層2側に向か
う光をn型クラッド層(n型AlGaN層)4側に反射
させることで、光取出し効率を一層向上させることがで
きる。この場合、例えばn型クラッド層4側に電極を取
り付けることで、金属反射層(金属層)22は発光通電
用の電極に兼用することが当然可能となる。図11に示
す発光素子では、n型クラッド層4と直接接する形でそ
の表面を部分的に覆う金属電極23が形成されている。
光はこの金属電極23の周囲から取り出される形とな
る。また、図6あるいは図7の発光素子1,100と異
なり、サファイア基板10は除去されている。
の一例を示すものである。サファイア基板上10上にバ
ッファ層11と、発光層部となる各層4,3,2とを形
成する(a)及び(b)の工程は、図9と同じである。
そして図10(c)では、ITO膜を形成する代わりに
Au層などの金属反射層22を真空蒸着等により形成す
る。また、図10(d)ではサファイア基板10の除去
を行なう。例えばGaNバッファ層11が用いられてい
る場合、サファイア基板10の裏面側からエキシマレー
ザーを照射することによりGaNバッファ層11が溶解
し、サファイア基板10を簡単に剥離除去することがで
きる。なお、工程(c)と工程(d)とは入れ替えても
よい。そして、図11に示すように、サファイア基板1
0の除去されたn型クラッド層4の裏面側に金属電極2
3を真空蒸着等により形成し、さらにダイシングするこ
とにより発光素子101が得られる。なお、バッファ層
又はバッファ層とは別に設けられた剥離層を化学エッチ
ング等により溶解してサファイア基板10の除去を行な
うようにしてもよい。
金属電極23とn型AlGaN層との間に電流拡散層2
4(例えばn型AlGaN層)を挿入してもよい。ま
た、図13に示す発光素子98のように、金属電極23
に代えてITO膜のような透明導電材料層25を形成し
てもよい。
層との間にタイプIのバンドラインナップを形成する半
導体により形成することもできる。このような活性層
は、例えばMgyZn1−yO層(ただし、0≦y<
1、x>y)として形成することができる。「活性層と
p型MgxZn1−xO層との間にタイプIのバンドラ
インナップが形成される」とは、図17に示すように、
p型クラッド層(p型Mg xZn1−xO層2)の伝導
体底及び価電子帯上端の各エネルギーレベルEcp,E
vpと、活性層の伝導体底及び価電子帯上端の各エネル
ギーレベルEci,Eviとの間に次のような大小関係
が成立している接合構造をいう: Eci<Ecp ‥‥(5) Evi>Evp ‥‥(6)
ドラインナップと異なり、活性層からp型クラッド層へ
の電子(n型キャリア)の順拡散に関してもポテンシャ
ル障壁が生ずる。そして、活性層とn型クラッド層との
間に図8と同様のタイプI型バンドラインナップが形成
されるようn型クラッド層の材質選択を行なえば、活性
層の位置には、伝導帯底及び価電子帯上端の両方に量子
井戸が形成され、電子と正孔との双方に対して閉じ込め
効果が高められる。その結果、キャリア再結合促進ひい
ては発光効率向上が一層顕著となる。n型クラッド層の
材質は、図6に示すようなAlGaNなどでもよいが、
n型MgzZn1−zO層(ただし、0≦z<1)を使
用すれば、発光層部をなす全ての層がMgZnO系の酸
化物材料にて構成できるため(以下、このような発光層
部を「全酸化物型発光層部」という)、前記したGaや
Inなどの希少金属を使用する必要がなくなり(ドーパ
ントを除く)、大幅なコスト削減が可能となる。ここ
で、x=yとすれば、量子井戸の両側のポテンシャル障
壁高さは等しくなる。
ャリア密度の低下を招かず、かつトンネル効果にて活性
層を通過するキャリアが増加し過ぎないように、例えば
30〜1000nmの値とする。
下、MgyZn1−yO活性層という:ただしy=0の
場合を含む)において、yの値は、バンドギャップエネ
ルギーEgを決める因子ともなる。例えば、波長280
〜400nmの紫外線発光を行なわせる場合は0≦y≦
0.5の範囲にて選択する。また、形成される井戸障壁
の高さは、発光ダイオードでは0.1〜0.3eV程
度、半導体レーザー光源では0.25〜0.5eV程度
とするのがよい。この値は、p型MgxZn1− xO
層、MgyZn1−yO活性層及びn型MgzZn
1−zOの組成、すなわちx、y、zの数値の選択によ
り決定できる。そして、量子井戸構造の形成を前提とし
て考えれば、活性層はMgの含有は必須とはならないが
(つまりZnOを使用できる)、p型及びn型クラッド
層はMgの含有が必須となる。
示すものである。該発光素子102においては、n型ク
ラッド層としてのn型MgzZn1−zO層54、Mg
yZn1−yO活性層53、及びp型クラッド層として
のp型MgxZn1−xO層52がこの順序にてエピタ
キシャル成長されることによりダブルへテロ構造をなす
発光層部が形成されている。他の構造は図6の発光素子
1と同じであるため、共通する部分に同一の符号を付与
して詳細な説明は省略する。また、図15の発光素子1
03は、図12の発光素子99において発光層部を上記
のダブルへテロ構造と置き換えたものに相当する。さら
に、図16の発光素子104は図13の発光素子98の
発光層部を上記のダブルへテロ構造にて置き換えたもの
に相当する。
型MgzZn1−zO層54とを、n型キャリア濃度が
異なるのみで同一組成(すなわちy=z)とし、図17
において両層間の接合をホモ接合とした発光素子の構造
も可能である。この場合、ポテンシャル障壁が、p型M
gxZn1−xO層52とMgyZn1−yO活性層5
3(z>y)との間にのみ生ずるシングルへテロ構造と
なる。
層部を有した発光素子の製造工程の一例を、図16の発
光素子104の場合を例にとって説明する。まず、図1
8(a)に示すように、サファイア基板10上にGaN
バッファ層11をエピタキシャル成長し、次いでn型M
gzZn1−zO層54(層厚例えば50nm)、Mg
yZn1−yO活性層53(層厚例えば30nm)及び
p型MgxZn1−xO層52(層厚例えば50nm)
をこの順序にて形成する(形成順序を逆転させてもよ
い)。これら各層のエピタキシャル成長は、図6あるい
は図7の発光素子1,100と同様、MOVPE法にて
形成できる。MOVPE法を用いる場合は原料も同様で
あるが、n型MgzZn1−zO層54、MgyZn
1−yO活性層53及びp型MgxZn1−xO層52
を全て同じ原料を用いて同一の反応容器内にて連続的に
形成できる利点がある。他方、本構成では、GaNバッ
ファ層11との反応性を低減し、格子整合性を高めるた
めに、多少低めの温度、例えば300〜400度℃にて
成長を行なうことが望ましい。
り、層毎にMg源及びZn源となる有機金属の流量比を
マスフローコントローラ等により制御する。また、Mg
yZn 1−yO活性層53及びp型MgxZn1−xO
層52を形成する際は、酸素欠損発生を抑制するため
に、図32を用いてすでに説明したものと同様の方法を
採用することが望ましい。他方、n型MgzZn1−z
O層54の形成に際しては酸素欠損を積極的に生じさせ
てn型とする方法を採用できる。MgyZn1−yO活
性層53及びp型MgxZn1−xO層52を形成する
場合よりも雰囲気圧力を下げる(例えば10torr未
満とする)ことが有効である。また、n型ドーパントを
別途導入する形で層形成を行なってもよい。あるいは、
供給原料のII族とVI族との比(供給II/VI比)を大きく
しても良い。
能である。まず、NO2、DEZn及びCp2Mgを用
いたMOVPE法により、厚さ50nmのn型MgzZ
n1 −zO層54を、雰囲気圧力5torrで温度約3
00℃にて形成する。次に、雰囲気圧力を760〜76
00torrとして温度約300℃にてMgyZn1
−yO活性層53を形成する。最後に、例えばノルマル
ブチルリチウムをドーパントガスとして導入することに
より、温度300〜400℃にて厚さ50nmのp型M
gxZn1−xO層52を形成する。
ば、図18(b)に示すようにp型MgxZn1−xO
層52上に保護層としての金属反射層22を形成し、図
18(c)に示すようにサファイア基板10を剥離した
後、n型MgzZn1−zO層54側に保護層としての
透明導電材料層25(例えばITO膜)を形成する。こ
れらの工程は、既に説明したものと同様である。その
後、図18(d)に示すように、ダイシングすれば発光
素子104が得られる。この例からもわかるように、p
型クラッド層とn型クラッド層の両方がMgZnOにて
構成されるため、両層とも活性層に接しない側を保護層
で覆うことが望ましいといえる。なお、図14に示す発
光素子102のように、サファイア基板などの成長基板
を剥離せず、そのまま素子の一部として流用する場合
は、該成長基板が保護層の役割を兼ねるものとなる。
MgZnO単結晶層としてMOVPE法によりヘテロエ
ピタキシャル成長させる形にしていたが、MgZnO層
のみからなる発光層部は、図5(b)に示すような、層
厚方向にc軸配向した多結晶体層であっても良好な発光
特性を示すことができるので、多結晶基板や、図27に
示す発光素子105のように、ガラス基板9上に各層5
2〜54を成長させることもできる(この実施形態で
は、ガラス基板9の上に薄いn型ZnOバッファ層8形
成してから、発光層部をなす各層52〜54を成長させ
ている)。例えば、図28(a)に示すように、ガラス
基板上9上に、例えばレーザービームスパッタリングな
どの低温型気相成長方法を用いることにより、n型Zn
Oバッファ層8、発光層部をなす各層52〜54を形成
し、さらに金属反射層22を形成した後、素子分離のた
めダイシングする。そして、図28(b)に示すよう
に、n型MgzZn1−zO層54の一部を露出させて
金属電極13を形成すれば、発光素子105が得られ
る。該発光素子105は、発光層部からの光を、金属反
射層22からの反射光も含めてガラス基板9を介して取
り出すことができる。なお、各層52〜54を、c軸配
向層として形成する方法としては、他に、ゾルゲル法を
用いた方法も可能である。
部をなすp型MgxZn1−xO層、活性層及びn型ク
ラッド層を、基板上に順次積層形成する形で製造してい
たが、いわゆる貼り合せ技術を用いて同様の積層構造を
得るようにすることも可能である。例えば、p型Mgx
Zn1−xO層、活性層及びn型クラッド層の積層構造
を、活性層の片側にて2つに分割したものに相当する第
一部分と第二部分とをそれぞれ基板上に個別に形成し、
それら第一部分と第二部分とを互いに張り合わせる。図
19に、その具体的な例を示している。図19(a)に
示すように、第一部分PPはp型MgxZn1−xO層
2を含む。本実施形態では、サファイア基板10上にG
aNバッファ層11を介してp型MgxZn1−xO層
2をエピタキシャル成長させている。他方、第二部分S
Pは活性層53とn型クラッド層54との積層体を含
む。サファイア基板10上にGaNバッファ層11を介
してn型MgzZn1−zO層54とMgyZn1−y
O活性層53とをエピタキシャル成長させている。これ
ら第一部分PPと第二部分SPとを、図19(b)に示
すように、MgyZn1−yO活性層53とp型Mgx
Zn1−xO層2との間で重ね合わせ、適当な温度(例
えば300〜500℃程度)で熱処理することにより、
貼り合わせを行なう。
説明する。すでに説明したように、本発明の発光素子は
活性層のバンドギャップの選択により、図20(a)に
示すように可視光発光素子200とすることもできる
し、同図(b)に示すように、紫外線発光素子201と
することもできる。図20には、活性層203,20
3’にて発生した光を、n型クラッド層204側に形成
された金属反射層22にて反射させつつ、p型クラッド
層202側に形成された透明導電材料層25側から取り
出すようにしているが、電極等の形成形態や光の取出し
形態はもちろんこれに限定されるものではなく、図6、
図7、図11、図12、図27等、種々の形態が可能で
あることはいうまでもない。
は、一般表示用に使用できることはもちろんである。特
に、高輝度の青色発光が実現することで、高性能で低消
費電力かつコンパクトなフルカラー表示器あるいはフル
カラーLEDディスプレイを実現することができる。ま
た、紫外線発光素子201として使用する場合も含め、
光ファイバ通信用発光源やフォトカプラ用点光源などと
して使用することが可能である。前者においては、高輝
度の短波長発光が可能となることで情報伝送密度を飛躍
的に向上させることができる利点がある。また、本発明
の発光素子はレーザー光源として使用することも可能で
あるが、小型・軽量の短波長レーザー出射ユニットを構
成することが可能となり、例えば、光記録用のレーザー
光源として用いることで、記録密度を飛躍的に高めるこ
とができるようになる。
現することで、電極放電を利用した従来の紫外線光源よ
りも圧倒的な軽量・小型化、省エネルギー化及び長寿命
化を図ることが可能となる。
層202、活性層203’及びn型クラッド層204が
この順序にて積層された構造の発光層部201mを有す
る半導体紫外線発光素子を蛍光体210と組み合わせる
ことで、新しいタイプの可視光発光装置を実現すること
ができる。具体的には、半導体紫外線発光素子からの紫
外線照射を受けて、光励起された蛍光体210が可視光
を放射する。これは、原理としては、蛍光ランプやCR
T(Cathode Ray Tube)等と基本的には同じであるが、
紫外線光源として半導体発光素子を使用する点に決定的
な違いがある。これによりもたらされる効果について
は、すでに「課題を解決するための手段及び作用・効
果」の欄にて述べた。以下、その具体的な実施形態につ
いてさらに詳しく説明する。
発光素子(以下、単に発光素子ともいう)201からの
紫外線は、基体209上に形成された蛍光体層210に
照射されるように構成することができる。このような基
体209を用いることで、装置の発光部分の形状を基体
209の形状に応じて自由に選択することができ、種々
の目的に応じて装置外観形態を柔軟に設計できる利点が
ある。例えば、図22の発光装置250では、基体20
9及び蛍光体層210がいずれも平面的に形成されてい
る。これは、省スペース化に大きく寄与する。例えば、
基体209を薄板状に形成し、これに蛍光体層210を
形成する形とすれば、発光層部が本来非常に薄くできる
ため、図24に示すように極薄型(例えば厚さtdが1
0mm以下あるいは5mm以下のようなもの;場合によ
っては1mm程度まで薄型化することも可能である)で
光輝度の発光装置251を実現することが可能である。
また、用途に応じて、図25に示すように、曲面状の基
体210を用いることもできる。
250、251及び252は、個々の構成要素は形状の
違いを除いて共通しているので、以下、より詳しい構造
に付き、図22の発光装置250で代表させて説明す
る。まず、発光素子201は複数個設けられ、各発光素
子201からの紫外線により、対応する蛍光体層210
を発光させるようにしている。このようにすることで、
装置の発光面積を容易に大型化できる利点がある。本発
光装置250は、複数の発光素子210により、対応す
る蛍光体層を同時発光させる照明装置として構成されて
おり、大面積で薄型かつ長寿命の照明装置が実現されて
いる。
210に対応する部分210aが、横方向に連なって一
体に形成されているが、このようにすれば蛍光体層部分
210aを単一の蛍光体層210として一括形成できる
ので製造が容易である。この場合、蛍光体層部分210
aを発光素子210により覆われる部分と考えたとき、
発光素子210と蛍光体層部分210aとの距離関係に
より、発光素子201からの紫外線が外方に広がって蛍
光体層部分210aの外側に漏れ出し、結果的に蛍光体
層部分210aよりも広い領域で発光を生じさせること
も可能である。従って、蛍光体層210と発光素子20
1との距離を適当に調整することによって、隣接する発
光素子201,201間に多少の隙間ができていても、
個々の発光素子201,201からの紫外線による蛍光
体層210の可視光発光領域が互いに接続され、蛍光体
層210の全面に渡ってムラの少ない均一な発光を生じ
させることができるようになる。
盤209として構成され、該透明基盤209の片面に蛍
光体層210が形成されている。これと反対側の面に発
光素子201の光取出し面が対向するように配置され
(ここでは密着して配置されている)、透明基盤209
を介して蛍光体層210に発光素子201(半導体紫外
線発光素子)からの紫外線が照射されるようになってい
る。この構成によると、透明基盤209の両面を利用し
て発光素子201(半導体紫外線発光素子)と蛍光体層
210とを振り分けて配置することができ、装置のコン
パクト化と構成の簡略化とを図る上で一層効果的であ
る。
ラスチック(例えばアクリル樹脂など)を使用できる。
発光素子201は透明基盤209に対し、光取出し面側
を例えば接着剤等により貼り付けて配置することができ
るが、例えばガラス板を用いる場合は、発光素子201
の発光層部を該ガラス板上に成長させることも可能であ
る。なお、個々の発光素子201,201による蛍光体
層210の可視光発光領域を互いに接続したい場合は、
このような接続が生ずる程度に紫外線が広がるよう、透
明基盤209の厚さを調整しておけばよい。逆に、発光
素子201を蛍光体層210に近づけるほど紫外線の広
がりが少なくなり、後述する表示装置等への用途におい
ては、画素の鮮明化等において有利となる。
体層210の表面が透明プラスチック等で構成された透
明保護層211により覆われている。また、透明基盤2
09の発光素子201の配置側をケース212で覆って
いる。なお、ムラの少ない均一な発光を生じさせるため
の別の方法としては、図23に示すように、光分散板2
12を介して光を取り出すようにする構成も可能であ
る。本実施形態では、蛍光体層210と光分散板212
との間に透明保護層211を設けている。
発光が可能なものであればどのようなものを用いてもよ
い。例えば、白色光を発光させたい場合は、蛍光ランプ
等にて使用されている公知の蛍光体材料、例えばハロリ
ン酸カルシウム(3Ca3(PO4)2・CaFCl/
Sb,Mn)を使用でき、例えばFとCl,SbとMn
のそれぞれの量を調整することにより、種々の色温度の
白色光を得ることができる。なお、赤・緑・青(RG
B)の3波長領域での幅の狭い発光を組み合わせれば、
より演色性の優れた照明を実現できる。この場合、各色
の蛍光体を混ぜて使うことになるが、代表的なものとし
て、例えばY2O3:Eu3+(R:中心波長611n
m)、CeMgAl11O19:Tb3+(G:中心波
長543nm)、BaMg2Al16O27:Eu2+
(B:中心波長452nm)の組合せがある。
発光素子201に対応するもの(210R,210G,
210B)を個別に分離して設けてもよい。この構成
は、照明装置においても採用可能であるが、表示装置と
しての応用を図る上でより重要である。この場合、発光
素子201は紫外線発光状態を個別に制御可能としてお
き、各発光素子201に対応する蛍光体層との組(20
1/210R,201/210G,201/210B)
を表示単位として、表示面DP(透明基盤209の板面
にて形成されている)に沿ってこれを複数配列してお
く。図26(b)は、カラー表示の場合を示しており、
RGBの蛍光体層210R,210G,210Bが、同
一色のものが隣接しないように配置されている。そし
て、各表示単位の蛍光体層210R,210G,210
Bを画素として、それらの発光状態の組合せに基づき画
像表示を行なうことができる。
点がある。 ・CRTやプラズマディスプレーなどと異なり、紫外線
源としてフィラメントや電極あるいは電子銃を使用しな
いため長寿命であり、また駆動電圧が低いため消費電力
が小さい。 ・液晶ディスプレイと同程度の薄型化が図れ、かつ発光
型であるためバックライト等が不要である。さらに、視
認方向性の問題もほとんど生じない。 ・全酸化物型発光層部(図16等)を用いる構成では、
MgZnOを希酸やアルカリを用いて簡単に溶解できる
ので、化学エッチングにより画素に対応した発光層部の
パターニングが簡単に行なえる。従って、微細な画素を
有した高解像度のディスプレイを容易に実現できる。な
お、蛍光体を用いず、図20(a)に示す可視光発光素
子200を直接画素として用いるLEDディスプレイを
構成することも可能であるが、全酸化物型発光層部の使
用により、従来のものよりもはるかに小型で高解像度の
LEDディスプレイを実現できる。
用する発光素子201への通電配線も含めて、種々の構
成形態が可能であるが、以下、いくつかの例を示す。図
29は薄型の照明装置260を構成したもので、アクリ
ル板等の透明板74の裏面側に蛍光体層10を形成し、
その上に、図27に示す発光素子105(ガラス基板9
を用いたもの:製造方法は図28を用いてすでに説明し
た)を、複数個接着剤を用いて貼り付けてある(発光層
部の厚さを誇張して描いてあり、実際にはもっと薄
い)。そして、各素子105の電極13及び22に対
し、通電配線71,72と電極端子13a,22aを形
成した配線板を重ね合わせて全体をケース73によりモ
ールドしている(本実施形態では、配線板がモールド用
のケース73の一部に兼用されている)。そして、ケー
ス73には、通電配線71,72の末端を取り出す形で
コネクタ75が形成されている。ここに電源76を接続
することで、各素子105が通電される。
ことができるが、交流を整流したのみの脈流にて駆動す
ることも可能であり、さらに、半波波形となることが問
題にならなければ、交流電源にて直接駆動することも可
能である。
を付加するには、電極保温と交流位相制御とを同時に行
なう必要があったため回路構成の複雑化が避けがたく、
高級な照明設備以外には搭載しにくい事情があった(な
お、直列インピーダンス切り換えにより調光を行なうも
のもあるが、非常に不経済である)。しかしながら、本
発明の照明装置260によれば、発光素子105への供
給電圧を変化させる方式、あるいはデューティ比制御に
より平均電流を変化させる方式等により、複雑な回路構
成を用いなくとも簡単に調光を行なうことができる利点
がある。
光素子106の発光層部53,54,52を成長させた
タイプの照明装置261を示すものである。ガラス基板
209の片面に蛍光体層210及び透明保護膜211を
形成し、反対側には、各発光素子106の形成領域に対
応する形で、ITO等の透明導電材料からなる電極層2
20のパターンを、フォトリソグラフィー等を用いて形
成する。そして、その上に、例えば適当なバッファ層2
21を介して全酸化物型の発光層部54,53,52を
順次形成し、次いで各電極層220の一部が露出するよ
うに化学エッチングによりパターニングして、個々の素
子106の発光層部に分離する。最後に、それら発光層
部のそれぞれに金属反射膜22を形成し、必要な配線部
71,72を設ければ、照明装置262が完成する。
ものである。ガラス基板209の片面には、画素を構成
するRGBの蛍光体層210R,210G,210Bが
形成され、透明保護層211により覆われている。他
方、ガラス基板209の反対側の面には、各蛍光体層2
10R,210G,210Bに対応する位置に、図30
の照明装置261と同様の発光素子106が形成されて
いる(図30との共通部分に同一の符号を付与してい
る)。各発光素子は、個別の画像制御信号により制御回
路75により通電制御される。本実施形態では、ごく簡
単な例として、トランジスタ75aにより各発光素子1
06のスイッチングを行なう形態としているが、画素の
発光輝度を階調的に変化させる場合は、各発光素子10
6の通電電圧を個別に制御するものとして制御回路75
を構成しておけばよい。
列形態を示す模式図。
を、雰囲気圧力により抑制する様子を表す説明図。
として形成する例を示す模式図。
断面模式図。
断面模式図。
の接合構造を用いた発光素子のバンド模式図。
図。
説明図。
す断面模式図。
面模式図。
面模式図。
す断面模式図。
用いた発光素子のバンド模式図。
説明図。
する方法の一例を示す工程説明図。
成した第一の例を示す断面模式図。
原理説明図。
す断面模式図。
説明図。
成した第二の例を示す断面模式図。
成した第三の例を示す断面模式図。
成した第一の例を示す模式図。
装置の一例を概念的に示す図。
層) 21 金属電極 22 金属反射層(保護層) 23 金属電極 33 活性層 34 n型クラッド層 35 保護層 52 p型MgxZn1−xO層(p型クラッド層) 53 MgyZn1−yO活性層 54 n型MgzZn1−zO層(n型クラッド層) 202 p型クラッド層 203,203’ 活性層 204 n型クラッド層 209 透明基盤(基体) 210 蛍光体層 250〜252,260,261 可視光発光装置(照
明装置) 262 可視光発光装置(表示装置)
Claims (35)
- 【請求項1】 n型クラッド層、活性層及びp型クラッ
ド層がこの順序にて積層された発光層部を有し、かつ前
記p型クラッド層がp型MgxZn1−xO(ただし、
0<x≦1)層からなることを特徴とする発光素子。 - 【請求項2】 前記p型MgxZn1−xO層がp型ド
ーパントとしてNと、Ga、Al及びInの一種又は2
種以上とを含有することを特徴とする請求項1記載の発
光素子。 - 【請求項3】 前記活性層は、前記p型MgxZn
1−xO層との間にタイプIIのバンドラインナップを形
成する半導体により形成されていることを特徴とする請
求項1又は2に記載の発光素子。 - 【請求項4】 前記活性層はInGaN層であることを
特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の発光素
子。 - 【請求項5】 前記活性層は、前記p型MgxZn
1−xO層との間にタイプIのバンドラインナップを形
成する半導体により形成されていることを特徴とする請
求項1又は2に記載の発光素子。 - 【請求項6】 前記活性層は、MgyZn1−yO層
(ただし、0≦y<1、x>y)であることを特徴とす
る請求項1、2及び5のいずれかに記載の発光素子。 - 【請求項7】 前記n型クラッド層はn型MgzZn
1−zO層(ただし、0≦z<1)であることを特徴と
する請求項6記載の発光素子。 - 【請求項8】 前記p型MgxZn1−xO層の前記活
性層に接しているのと反対側の表面が、導電性材料又は
半導体材料からなる保護層により覆われていることを特
徴とする請求項1ないし7のいずれかに記載の発光素
子。 - 【請求項9】 前記p型MgxZn1−xO層は、層厚
方向に酸素イオン充填層と金属イオン充填層とが交互に
積層された構造を有するとともに、前記保護層は前記酸
素イオン充填層にて接触していることを特徴とする請求
項8記載の発光素子。 - 【請求項10】 前記保護層は透明導電材料層であるこ
とを特徴とする請求項8又は9に記載の発光素子。 - 【請求項11】 前記透明導電材料層は発光通電用の電
極に兼用されることを特徴とする請求項10記載の発光
素子。 - 【請求項12】 前記保護層はp型化合物半導体層であ
ることを特徴とする請求項8又は9に記載の発光素子。 - 【請求項13】 前記p型化合物半導体層は電流拡散層
に兼用されることを特徴とする請求項12記載の発光素
子。 - 【請求項14】 前記保護層は金属層であることを特徴
とする請求項8又は9に記載の発光素子。 - 【請求項15】 前記金属層は、前記n型クラッド層側
から光取出しを行なう際の光反射層に兼用されている請
求項14記載の発光素子。 - 【請求項16】 前記金属層は発光通電用の電極に兼用
されることを特徴とする請求項14又は15に記載の発
光素子。 - 【請求項17】 前記活性層を構成する半導体として、
波長400〜570nmの可視光にて発光可能なバンド
ギャップエネルギーを有するものが選択されている請求
項1ないし16のいずれかに記載の発光素子。 - 【請求項18】 前記活性層を構成する半導体として、
波長280〜400nmの紫外線にて発光可能なバンド
ギャップエネルギーを有するものが選択されている請求
項1ないし16のいずれかに記載の発光素子。 - 【請求項19】 請求項1ないし18のいずれかに記載
の発光素子を製造するための方法であって、前記p型M
gxZn1−xO層を有機金属気相成長法により形成す
ることを特徴とする発光素子の製造方法。 - 【請求項20】 前記有機金属気相成長法を、10to
rr以上の圧力を有した雰囲気中で行なうことを特徴と
する請求項19記載の発光素子の製造方法。 - 【請求項21】 p型ドーパントとして金属元素ドーパ
ントが使用され、前記p型MgxZn1−xO層の気相
成長を行なう際に、前記金属元素ドーパントを、アルキ
ル基を少なくとも一つ含む有機金属の形で供給すること
を特徴とする請求項19又は20に記載の発光素子の製
造方法。 - 【請求項22】 前記金属元素ドーパントがGa、A
l、In及びLiの1種又は2種以上であることを特徴
とする請求項21記載の発光素子の製造方法。 - 【請求項23】 p型ドーパントとしてGa、Al、I
n及びLiの1種又は2種以上からなる金属元素ドーパ
ントとともにNが使用され、前記p型MgxZn1−x
O層の気相成長を行なう際に、N源となる気体を、金属元
素ドーパント源となる有機金属とともに供給することを
特徴とする請求項22に記載の発光素子の製造方法。 - 【請求項24】 前記n型クラッド層、前記活性層及び
p型MgxZn1− xO層を、基板上に順次積層形成す
ることを特徴とする請求項19ないし23のいずれかに
記載の発光素子の製造方法。 - 【請求項25】 成長容器の内部空間に配置された基板
の主表面上に前記p型MgxZn1−xO層を前記有機
金属気相成長法により形成するに際して、前記内部空間
に対し、酸素源ガス噴出口より酸素源ガスを供給し、ま
た、前記主表面までの距離が前記酸素源ガス噴出口より
近くなるように形成された有機金属噴出口よりMg及び
/又はZn源となる有機金属を供給することを特徴とす
る請求項19ないし24のいずれかに記載の発光素子の
製造方法。 - 【請求項26】 前記n型クラッド層、前記活性層及び
前記p型MgxZn 1−xO層の積層構造を、前記活性
層の片側にて2つに分割したものに相当する第一部分と
第二部分とをそれぞれ基板上に個別に形成し、それら第
一部分と第二部分とを互いに張り合わせることを特徴と
する請求項19ないし24のいずれかに記載の発光素子
の製造方法。 - 【請求項27】 前記第一部分はp型MgxZn1−x
O層を含み、前記第二部分は前記n型クラッド層と前記
活性層との積層体を含むことを特徴とする請求項26に
記載の発光素子の製造方法。 - 【請求項28】 n型クラッド層、活性層及びp型クラ
ッド層がこの順序にて積層された発光層部を有し、かつ
前記p型クラッド層がp型MgxZn1−xO(ただ
し、0<x≦1)層からなる半導体紫外線発光素子と、
その半導体紫外線発光素子からの紫外線照射を受けて可
視光を発光する蛍光体とを有することを特徴とする可視
光発光装置。 - 【請求項29】 基体上に形成された蛍光体層に前記半
導体紫外線発光素子からの紫外線が照射されることを特
徴とする請求項28記載の可視光発光装置。 - 【請求項30】 前記半導体紫外線発光素子が複数個設
けられ、各半導体紫外線発光素子からの紫外線により対
応する蛍光体層を発光させることを特徴とする請求項2
9に記載の可視光発光装置。 - 【請求項31】 複数の前記半導体紫外線発光素子によ
り、対応する蛍光体層を同時発光させる照明装置として
構成されたことを特徴とする請求項30に記載の可視光
発光装置。 - 【請求項32】 前記複数の前記半導体紫外線発光素子
に対応する蛍光体層が、横方向に連なって一体に形成さ
れていることを特徴とする請求項31に記載の可視光発
光装置。 - 【請求項33】 紫外線発光状態が個別に制御可能とさ
れた前記半導体紫外線発光素子と、対応する蛍光体層と
の組からなる表示単位が表示面に沿って複数配列され、
各表示単位の蛍光体層を画素として、それら画素の発光
状態の組合せに基づき画像表示を行なう表示装置として
構成されたことを特徴とする請求項30記載の可視光発
光装置。 - 【請求項34】 前記基体及び前記蛍光体層は平面的に
形成されていることを特徴とする請求項30ないし33
に記載の可視光発光装置。 - 【請求項35】 前記基体は透明基盤として構成され、
該透明基盤の片面に前記蛍光体層が形成される一方、こ
れと反対側の面に前記半導体紫外線発光素子の光取出し
面が対向するように配置され、前記透明基盤を介して前
記蛍光体層に前記半導体紫外線発光素子からの紫外線が
照射されるようになっていることを特徴とする請求項2
8ないし34のいずれかに記載の可視光発光装置。
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