JP2002134878A - 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法 - Google Patents

配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法

Info

Publication number
JP2002134878A
JP2002134878A JP2000326114A JP2000326114A JP2002134878A JP 2002134878 A JP2002134878 A JP 2002134878A JP 2000326114 A JP2000326114 A JP 2000326114A JP 2000326114 A JP2000326114 A JP 2000326114A JP 2002134878 A JP2002134878 A JP 2002134878A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
forming
manufacturing
substrate
metal fine
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000326114A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4355436B2 (ja
Inventor
Toshihiko Oguchi
壽彦 小口
Keiki Suganami
敬喜 菅波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Morimura Chemicals Ltd
Original Assignee
Morimura Chemicals Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Morimura Chemicals Ltd filed Critical Morimura Chemicals Ltd
Priority to JP2000326114A priority Critical patent/JP4355436B2/ja
Publication of JP2002134878A publication Critical patent/JP2002134878A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4355436B2 publication Critical patent/JP4355436B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Ink Jet (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板等の上に直接ファインパターンを形成で
きる配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法およ
び遮光パターンの形成された透光体の製造方法を提供す
ること。 【解決手段】 基体上に、インクジェット装置を用い
て、平均粒子径が100nm以下の金属微粒子を水また
は有機溶剤中に分散させた金属微粒子インクにより、回
路パターンを描画し、次いで該基板を熱もしくは光線に
より処理して前記回路パターンに含まれる重合体または
界面活性剤を分解揮散させて所望の膜厚の導体パターン
とする。インクジェット装置を用いて直接パターンを描
画するので設備費や生産コストを安価にすることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線パターンの形
成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成
された透光体の製造方法に係り、特に、基体上に、イン
クジェットヘッドを用いて、金属ペーストにより直接回
路パターンを描画するようにした配線パターンの形成方
法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成され
た透光体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、回路基板の製造方法として、
例えば、次のような方法が知られている。 (1)銅張り積層板上に、レジストを被覆し、フォトリ
ソグフィ法により、回路パターンの露光、未露光レジス
トの溶解除去、レジスト除去部のエッチングにより銅線
パターンを形成する方法。 (2)セラミックス基板上にスクリーン印刷により導電
ペーストを所望の回路パターンに印刷し、非酸化雰囲気
中で熱処理して導電ペースト中の金属微粒子を焼結して
導電パターンを形成する方法。 (3)絶縁基板上に、導電金属の蒸着により薄膜の導電
層を形成し、この導電層上に、レジストを被覆し、フォ
トリソグフィ法により、回路パターンの露光、未露光レ
ジストの溶解除去、レジスト除去部のエッチングにより
銅線パターンを形成する方法。
【0003】しかしながら、(1)の銅張り積層板を用
いる方法は、幅広の配線パターンを形成する目的には適
しているが、ファインパターンの形成には不向きであ
り、しかもレジストの溶解や銅箔のエッチングが必要な
ため廃液処理の必要があり、環境上の問題が派生する虞
れがある。また、工程数が多いため設備費や生産コスト
がかさむ、という問題もある。
【0004】(2)のスクリーン印刷による方法は、ス
クリーンのメッシュを細かくするには強度の点から制約
があり、このためファインパターンの形成には不向きで
ある、という問題がある。
【0005】さらに、(3)の蒸着薄膜をエッチングす
る方法では、薄膜の導電層のエッチングが必要なため廃
液処理の必要があり、環境上の問題が派生する虞れがあ
る。また、工程数が多いため設備費や生産コストがかさ
む、という問題もある。
【0006】一方、オーバーヘッドプロジェクター(O
HP)のような画像投射装置の投射原稿は、透明フィル
ム上に文字や図形等のパターンを複写機により複写して
作成されているが、複写機のトナーは合成樹脂にカーボ
ンブラックを配合し造粒したものであって遮光性が十分
ではないため、投射された映像のコントラストが不十分
であるという問題がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】前述した通り、従来か
ら、回路基板の製造方法として、銅張り積層板を用いる
方法、スクリーン印刷による方法、蒸着薄膜をエッチン
グする方法等が知られているが、銅張り積層板を用いる
方法やスクリーン印刷による方法には、ファインパター
ンの形成ができない、廃液処理の必要がある、設備費や
生産コストがかさむという問題があり、蒸着薄膜をエッ
チングする方法には、廃液処理の必要があり、設備費や
生産コストがかさむという問題があった。
【0008】また、従来のOHPのような画像投射装置
の投射原稿は、遮光性が十分ではないため投射された映
像のコントラストが不十分であるという問題があった。
【0009】本発明はかかる従来の問題を解消するため
になされたもので、ファインパターンの形成が容易で、
廃液処理の必要がなく、生産工程が単純で設備費や生産
コストが少なくて済む配線パターンの形成方法および回
路基板の製造方法ならびに遮光性に優れコントラストの
良好な投射映像が得られる遮光パターンの形成された透
光体の製造方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】基体上に、インクジェッ
ト装置を用いて、平均粒子径が100nm以下の金属微
粒子を水または有機溶剤中に分散させた金属微粒子イン
クにより、回路パターンを描画し、次いで該基板を熱も
しくは光線により処理して前記回路パターンに含まれる
重合体または界面活性剤を分解揮散させて所望の膜厚の
導体パターンとすることを特徴とする。
【0011】本発明において導体パターンを形成する基
体としては、用途に応じて任意のものを使用することが
できる。
【0012】回路基板を製造する場合には、後述する熱
処理に耐え得る材質の基体であれば特に制限はない。
【0013】すなわち、本発明に用いられる気体として
は、ポリイミドフィルム、ポリアミドイミドフィルム、
ポリアミドフィルム、ポリエステルフィルム、ガラス−
エポキシ基板、紙−フェノール基板、シリコン基板、セ
ラミックス基板、ガラス基板等が例示される。
【0014】基体として有機質材料からなるフィルムや
基板を使用する場合には、金属微粒子インクの重合体と
しては、この基材の軟化点より低い温度で分解揮散す
る、例えばウレタン系の重合体が適している。
【0015】回路基板を製造する場合には、特に、耐熱
性、電気絶縁性の優れたポリイミドフィルム、ポリアミ
ドイミドフィルム、ガラス−エポキシ基板、紙−フェノ
ール基板、セラミックス基板、ガラス基板等が適してい
る。
【0016】また、OHPのような画像投射装置に用い
る遮光パターンの形成された透光体を製造する場合に
は、無色で透明度の高いポリエステルフィルムやガラス
基板等が適している。
【0017】本発明に用いられる金属微粒子としては、
Au、Pt、Ag、Cu、Ni、Cr、Rh、Pd、Z
n、Co、Mo、Ru、W、Os、Ir、Fe、Mn、
Ge、Sn、Ga、In等があげられるが、特に、A
u、Ag、Cuのような金属の微粒子を用いると、電気
抵抗が低く、かつ腐食に強い回路パターンを形成するこ
とができるので好ましい。
【0018】本発明において、金属微粒子インクに用い
られる重合体または界面活性剤は、金属微粒子の保護コ
ロイドとして作用するものであり、特に、ポリエステ
ル、ポリアクリルニトリル、ポリウレタンとアルカノー
ルアミンとのブロック共重合体が好適している。
【0019】本発明の金属微粒子インクは、水系用イン
クと油系用インクがある。
【0020】金属微粒子を、水を主体とする分散媒に分
散せしめてなる水性インクは、例えば、次のような方法
で調整することができる。
【0021】すなわち、塩化金酸や硝酸銀のような金属
イオンソース水溶液に水溶性の重合体を溶解させ、撹拌
しながらジメチルアミノエタノールのようなアルカノー
ルアミンを添加する。数10秒〜数分で金属イオンが還
元され、平均粒系100nm以下の金属微粒子が析出す
る。塩素イオンや硝酸イオンを限外ろ過などの方法で除
去した後、濃縮・乾燥することにより濃厚な金属微粒子
インクが得られる。この金属微粒子インクは、水やアル
コール系溶媒、テトラエトキシシランやトリエトキシシ
ランのようなゾルゲルプロセス用バインダーに安定に溶
解・混合することが可能である。
【0022】金属粒子を油を主体とする分散媒に分散せ
しめてなる油性インクは、例えば、次のような方法で調
整することができる。
【0023】すなわち、油溶解性のポリマーをアセトン
のような水混和性有機溶媒に溶解させ、この溶液を金属
イオンソース水溶液と混合する。混合物は不均一系であ
るが、これを撹拌しながらアルカノールアミンを添加す
ると金属微粒子は重合体中に分散した形で油相側に析出
してくる。これを繊条・濃縮・乾燥させると水系と同様
の濃厚な金属微粒子インクが得られる。この金属微粒子
インクは、芳香族系、ケトン系、エステル系などの溶媒
やポリエステル、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、ポリウ
レタン樹脂等に安定に溶解・混合することが可能であ
る。
【0024】金属微粒子インクの分散媒中における金属
微粒子の濃度は、最大80重量%とすることが可能であ
るが、用途に応じて適宜稀釈して使用する。
【0025】通常、金属微粒子インクにおける金属微粒
子の含有量は2〜50重量%、界面活性剤および樹脂の
含有量は0.3〜30重量%、粘度は3〜30センチポ
イズが適当である。
【0026】本発明に使用するインクジェット装置とし
ては、サーマル方式、ピエゾ方式のいずれも使用可能で
ある。ただ、前者は分散媒の突沸現象を利用して金属微
粒子インクを噴射するので、使用する金属微粒子インク
としては、油性インクよりも水系性インクの方が適して
いる。
【0027】現在、公知のインクジェット装置の解像度
は、2000DPIに達しているので、本発明によれば
6μmの線幅のパターンを形成することが可能である。
【0028】次に本発明において回路パターンを導電パ
ターンとして用いて回路基板を形成する方法について説
明する。
【0029】まず、用途に応じて選択された正常な絶縁
基板上に、インクジェット装置を用いて所定の厚さの回
路パターンを形成する。
【0030】次に、例えば100℃のオーブン中で3分
間程度加熱して乾燥させ、さらに150〜300℃のオ
ーブン中に15〜30分間程度置いて重合体を分解揮散
させるとともに金属微粒子を焼結させて導電パターンを
形成する。
【0031】以上の工程によってパターンを構成してい
る金属微粒子は相互に接着して導電性の皮膜膜に変化し
て導電回路が形成される。
【0032】また、必要に応じて上記工程で得られた導
電回路をメッキ核として、常法による電解メッキを施せ
ば、厚膜の導電回路パターンを形成することも可能であ
る。このようにして得られる導電パターンの比抵抗値は
10-5〜10-6Ωcmであり、回路基板として十分使用
することが可能である。
【0033】また、遮光パターンを形成するには、上記
の焼結工程を省略することも可能である。本発明により
形成された回路パターンは遮光性に優れており、コント
ラストの優れたOHP用の原稿やマスクを得ることがで
きる。
【0034】
【発明の実施の形態】次に本発明の実施例について説明
する。
【0035】実施例1 Ag含有率20重量%のAg微粒子インク(Agの平均
粒系10nm、保護コロイド樹脂5重量%含有のイソプ
ロピルアルコール分散体)をプロピレングリコールモノ
メチルアセテートに固形分濃度が15重量%となるよう
に溶解し、ピエゾ方式のインクジェット装置を用いてポ
リイミドフィルム上に線幅20μm、膜厚3μmの回路
パターンを描画し、150℃で15分間乾燥させた。
【0036】次に、200℃で40分間の焼き付けを行
って導体パターンを形成した。得られた導体パターンの
抵抗値は2×10-5Ωcmであり、回路基板として使用可
能であることが確認できた。
【0037】実施例2 Ag微粒子インクに変えてAu粒子インク(Au粒子平
均系100nm、Au粒子含有率30重量%護コロイド
含有率10重量%の水分散体)を用いて同様にピエゾ方
式インクジェットによりガラス板上に線幅50μm、膜
厚1μmの導電性回路パターンを作製し、同様に乾燥・
焼き付けを行ったところ、配線回路の電気抵抗が3×1
0-4Ωcmの配線パターンを形成できた。
【0038】実施例3 平均粒径20nmのAg微粒子5重量%(保護コロイド
1.5重量%を含む)平均粒径50nmのPd微粒子1
5重量%(保護コロイド3重量%を含む)を含む水系イ
ンクをサーマル式インクジェット装置を用いてポリイミ
ドフィルム上に線幅10μm、膜厚0.5μmの回路パ
ターンを形成し、100℃で15分間乾燥させた。得ら
れたパターンに紫外線を照射して保護コロイド樹脂を分
解揮散させたのち、銅の無電解メッキ浴に浸漬して銅膜
厚5μmの配線パターンを形成したところ、配線回路の
電気抵抗が3×10-5Ωcmの配線パターンを形成でき
た。
【0039】実施例4 この実施例は、本発明を多層配線基板のスルーホールに
適用した例である。
【0040】図1に示すように、ポリイミド絶縁層1内
に実施例3 で使用した水系インクおよび方法を用いて多
層に線幅10μm、膜厚0.5μmの回路パターン2を
形成したのち、各回路パターン2の層間接続部が露出す
るように逆円錐状の透孔3を形成し、この透孔内に同じ
水系インクを用いて、サーマル式インクジェット装置に
より膜厚0.5μmの塗膜4を形成し、100℃で15
分間乾燥させた。
【0041】得られた塗膜4に紫外線を照射して保護コ
ロイド樹脂を分解揮散させたのち、銅の無電解メッキ浴
に浸漬して膜厚5μmの銅膜からなるスルーホール5が
得られた。
【0042】実施例5 実施例2のインクおよび方法を用いて透明ポリエステル
フィルム上に描画して、OHP用の投射原稿を作成し
た。この投射原稿による投射像は通常のインクジェット
インクにより作成した投射原稿と比べてきわめて鮮明で
高い解像度とコントラストを有するものであり、高温高
湿下に長期間保存しても全く画像が劣化しなかった。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板等の上に従来達成出来なかった導電性のファインパタ
ーンを形成きわめて高精度にかつ迅速に形成することが
できる。また、回路の形成や投光画像の形成を完全なド
ライプロセスで行うことができる。本発明はまた、従来
必要とされていた、レジスト膜の塗布や露光、現像、メ
ッキなどのプロセスを経ずに廃液処理を必要とせずに導
電性の回路を形成できる。さらに本発明は、廃液処理な
どの問題を大幅に軽減できるので、設備費や生産コスト
の低減に著しく寄与するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、本発明の回路基板のスルーホールの
部分を模式的に示す断面図である。
【符号の説明】
1……ポリイミド絶縁層、2……回路パターン、3……
…逆円錐状の透孔、4……塗膜、5……スルーホール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C056 FB05 FC01 2H097 LA09 5E343 AA07 AA18 AA34 BB22 BB23 BB24 BB25 BB38 BB39 BB40 BB43 BB44 BB48 BB49 BB72 BB80 DD14 DD33 EE42 ER33 GG08

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基体上に、インクジェット装置を用い
    て、平均粒子径が100nm以下の金属微粒子を水また
    は有機溶剤中に分散させた金属微粒子インクにより、回
    路パターンを描画し、次いで該基板を熱もしくは光線に
    より処理して前記回路パターンに含まれる重合体または
    界面活性剤を分解揮散させて所望の膜厚の導体パターン
    とすることを特徴とする配線パターンの形成方法。
  2. 【請求項2】 基体上に、インクジェット装置を用い
    て、平均粒子径が100nm以下の金属微粒子を水また
    は有機溶剤中に分散させた金属微粒子インクにより、回
    路パターンを描画し、次いで該基板を熱もしは光線によ
    り処理して前記回路パターンに含まれる前記重合体また
    は界面活性剤を分解揮散させて所望の膜厚に足りない薄
    い導体パターンを形成し、しかる後前記薄い導体パター
    ンをメッキ核として導電金属による電解メッキを施し所
    望の膜厚の導体パターンとすることを特徴とする配線パ
    ターンの形成方法。
  3. 【請求項3】 前記金属微粒子が、Au、Pt、Ag、
    Cu、Ni、Cr、Rh、Pd、Zn、Co、Mo、R
    u、W、Os、Ir、Fe、Mn、Ge、Sn、Gaお
    よびInから選ばれた一種以上からなることを特徴とす
    る請求項1記載の配線パターンの形成方法。
  4. 【請求項4】 前記金属微粒子が重合体または界面活性
    剤で被覆されていることを特徴とする請求項1乃至3の
    いずれか一項記載の配線パターンの形成方法。
  5. 【請求項5】 前記金属微粒子が、ポリエステル、ポリ
    アクリルニトリル、ポリアクリル酸エステル、ポリウレ
    タンとアルカノールアミンとのブロック共重合体で被覆
    されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか
    一項記載の配線パターンの形成方法。
  6. 【請求項6】 絶縁基板上に、請求項1乃至4のいずれ
    か一項記載の方法により配線パターンを形成することを
    特徴とする回路基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 透明基板上に、平均粒子径が100nm
    以下の金属微粒子を重合体溶液中に分散させたペースト
    により、遮光パターンを描画することを特徴とする遮光
    パターンの形成された透光体の製造方法。
JP2000326114A 2000-10-25 2000-10-25 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法 Expired - Fee Related JP4355436B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000326114A JP4355436B2 (ja) 2000-10-25 2000-10-25 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000326114A JP4355436B2 (ja) 2000-10-25 2000-10-25 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法

Related Child Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006148912A Division JP2006229254A (ja) 2006-05-29 2006-05-29 透光体の製造方法
JP2006148911A Division JP2006270118A (ja) 2006-05-29 2006-05-29 回路基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002134878A true JP2002134878A (ja) 2002-05-10
JP4355436B2 JP4355436B2 (ja) 2009-11-04

Family

ID=18803361

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000326114A Expired - Fee Related JP4355436B2 (ja) 2000-10-25 2000-10-25 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4355436B2 (ja)

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005062355A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp バンクの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器
US6911837B2 (en) 2003-08-26 2005-06-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method and apparatus for evaluating and adjusting microwave integrated circuit
US6913947B2 (en) 2002-10-25 2005-07-05 Denso Corporation Multi-layer circuit board and method of manufacturing the same
WO2005067356A1 (en) * 2003-12-18 2005-07-21 3M Innovative Properties Company Printed circuits on shrink film
JP2005262598A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Asahi Kasei Corp 積層体およびその製造方法
JP2005531679A (ja) * 2002-07-03 2005-10-20 ナノパウダーズ インダストリーズ リミテッド 低温焼結導電性ナノインク及びその製造方法
US6974198B2 (en) 2002-07-31 2005-12-13 Seiko Epson Corporation Drive device of liquid droplet discharge head, film manufacturing apparatus, drive method of liquid droplet discharge head, film manufacturing method, and electronic equipment and device production method
JP2006135176A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Harima Chem Inc 導電性回路の形成方法
JP2006165198A (ja) * 2004-12-06 2006-06-22 Ricoh Co Ltd 三次元成形回路部品の製造方法およびこれにより製造された三次元成形回路部品
JP2006196791A (ja) * 2005-01-14 2006-07-27 Ricoh Co Ltd 配線形成体及びその製造方法
JP2006225712A (ja) * 2005-02-17 2006-08-31 Nippon Paint Co Ltd 無電解メッキ用触媒及び無電解メッキ方法
JP2006294983A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Ricoh Co Ltd 三次元成形回路部品及びその製造方法
JP2007049101A (ja) * 2005-08-12 2007-02-22 Morimura Chemicals Ltd 回路基板、回路基板形成用インキおよび回路基板の形成方法
US7226520B2 (en) 2003-04-01 2007-06-05 Seiko Epson Corporation Method for forming pattern and method for forming multilayer wiring structure by droplet discharge system
JP2007184408A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Nec Corp 電極接合方法
JP2008078310A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Toppan Printing Co Ltd 導電性パターンの形成方法、配線板の製造方法及び配線板
US7380690B2 (en) 2003-01-17 2008-06-03 Ricoh Company, Ltd. Solution jet type fabrication apparatus, method, solution containing fine particles, wiring pattern substrate, device substrate
CN100449697C (zh) * 2004-07-07 2009-01-07 Nec液晶技术株式会社 形成布线图案的方法
JP2009539593A (ja) * 2006-06-14 2009-11-19 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア 支持体上に導電性の表面を製造する方法
US7640659B2 (en) 2005-09-02 2010-01-05 Panasonic Corporation Method for forming conductive pattern and wiring board
US20100003781A1 (en) * 2008-02-28 2010-01-07 Van Duren Jeroen K J Roll-to-roll non-vacuum deposition of transparent conductive electrodes
US7683107B2 (en) 2004-02-09 2010-03-23 E.I. Du Pont De Nemours And Company Ink jet printable thick film compositions and processes
US7704783B2 (en) 2004-10-15 2010-04-27 Panasonic Corporation Method of manufacturing conductive pattern and electronic device, and electronic device
US7704414B2 (en) * 2004-05-07 2010-04-27 Canon Kabushiki Kaisha Image-forming method employing a composition
US7738261B2 (en) 2006-11-21 2010-06-15 Ricoh Company, Ltd. Functional device fabrication apparatus and functional device fabricated with the same
JP2011014947A (ja) * 2010-10-22 2011-01-20 Harima Chemicals Inc 導電性回路の形成方法
US7947328B2 (en) 2007-09-28 2011-05-24 Fujifilm Corporation Metal pattern forming method
JP2011198923A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Fujikura Ltd 回路基板の製造方法、その回路基板、及び回路基板の製造方法
US8414961B1 (en) 2006-12-13 2013-04-09 Nanosolar, Inc. Solution deposited transparent conductors
KR20150004354A (ko) * 2012-04-27 2015-01-12 디에스엠 아이피 어셋츠 비.브이. 전기전도성 폴리아미드 기재
KR20160113216A (ko) 2014-01-28 2016-09-28 코니카 미놀타 가부시키가이샤 도전성 패턴, 도전성 패턴을 구비한 기재, 도전성 패턴을 구비한 기재의 제조 방법, 표면에 도전성 패턴을 갖는 구조체 및 그 구조체의 제조 방법
JP2018134868A (ja) * 2018-03-19 2018-08-30 エックスジェット エルティーディー. インクジェットヘッドの保管及びクリーニング

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102169064B1 (ko) * 2019-03-18 2020-10-22 서울시립대학교 산학협력단 빛-유도 광열 대류를 통한 콜로이드성 금속 나노입자 조립체 제조방법

Cited By (41)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005531679A (ja) * 2002-07-03 2005-10-20 ナノパウダーズ インダストリーズ リミテッド 低温焼結導電性ナノインク及びその製造方法
US6974198B2 (en) 2002-07-31 2005-12-13 Seiko Epson Corporation Drive device of liquid droplet discharge head, film manufacturing apparatus, drive method of liquid droplet discharge head, film manufacturing method, and electronic equipment and device production method
US6913947B2 (en) 2002-10-25 2005-07-05 Denso Corporation Multi-layer circuit board and method of manufacturing the same
US7380690B2 (en) 2003-01-17 2008-06-03 Ricoh Company, Ltd. Solution jet type fabrication apparatus, method, solution containing fine particles, wiring pattern substrate, device substrate
US7226520B2 (en) 2003-04-01 2007-06-05 Seiko Epson Corporation Method for forming pattern and method for forming multilayer wiring structure by droplet discharge system
JP2005062355A (ja) * 2003-08-08 2005-03-10 Seiko Epson Corp バンクの形成方法及び配線パターンの形成方法、電気光学装置及び電子機器
US6911837B2 (en) 2003-08-26 2005-06-28 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method and apparatus for evaluating and adjusting microwave integrated circuit
WO2005067356A1 (en) * 2003-12-18 2005-07-21 3M Innovative Properties Company Printed circuits on shrink film
US7033667B2 (en) 2003-12-18 2006-04-25 3M Innovative Properties Company Printed circuits on shrink film
US7683107B2 (en) 2004-02-09 2010-03-23 E.I. Du Pont De Nemours And Company Ink jet printable thick film compositions and processes
JP2005262598A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Asahi Kasei Corp 積層体およびその製造方法
US7704414B2 (en) * 2004-05-07 2010-04-27 Canon Kabushiki Kaisha Image-forming method employing a composition
CN100449697C (zh) * 2004-07-07 2009-01-07 Nec液晶技术株式会社 形成布线图案的方法
US7704783B2 (en) 2004-10-15 2010-04-27 Panasonic Corporation Method of manufacturing conductive pattern and electronic device, and electronic device
JP2006135176A (ja) * 2004-11-08 2006-05-25 Harima Chem Inc 導電性回路の形成方法
JP4664046B2 (ja) * 2004-11-08 2011-04-06 ハリマ化成株式会社 導電性回路の形成方法
JP4675096B2 (ja) * 2004-12-06 2011-04-20 株式会社リコー 三次元成形回路部品の製造方法およびこれにより製造された三次元成形回路部品
JP2006165198A (ja) * 2004-12-06 2006-06-22 Ricoh Co Ltd 三次元成形回路部品の製造方法およびこれにより製造された三次元成形回路部品
JP2006196791A (ja) * 2005-01-14 2006-07-27 Ricoh Co Ltd 配線形成体及びその製造方法
JP4637591B2 (ja) * 2005-01-14 2011-02-23 株式会社リコー 配線形成体の製造方法
JP2006225712A (ja) * 2005-02-17 2006-08-31 Nippon Paint Co Ltd 無電解メッキ用触媒及び無電解メッキ方法
JP4632301B2 (ja) * 2005-02-17 2011-02-16 日本ペイント株式会社 無電解メッキ用触媒及び無電解メッキ方法
JP4590294B2 (ja) * 2005-04-13 2010-12-01 株式会社リコー 三次元成形回路部品の製造方法
JP2006294983A (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Ricoh Co Ltd 三次元成形回路部品及びその製造方法
JP2007049101A (ja) * 2005-08-12 2007-02-22 Morimura Chemicals Ltd 回路基板、回路基板形成用インキおよび回路基板の形成方法
US7640659B2 (en) 2005-09-02 2010-01-05 Panasonic Corporation Method for forming conductive pattern and wiring board
JP2007184408A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Nec Corp 電極接合方法
JP2009539593A (ja) * 2006-06-14 2009-11-19 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア 支持体上に導電性の表面を製造する方法
JP2008078310A (ja) * 2006-09-20 2008-04-03 Toppan Printing Co Ltd 導電性パターンの形成方法、配線板の製造方法及び配線板
US7738261B2 (en) 2006-11-21 2010-06-15 Ricoh Company, Ltd. Functional device fabrication apparatus and functional device fabricated with the same
US8414961B1 (en) 2006-12-13 2013-04-09 Nanosolar, Inc. Solution deposited transparent conductors
US7947328B2 (en) 2007-09-28 2011-05-24 Fujifilm Corporation Metal pattern forming method
US8530262B2 (en) * 2008-02-28 2013-09-10 Nanosolar, Inc. Roll-to-roll non-vacuum deposition of transparent conductive electrodes
US20100003781A1 (en) * 2008-02-28 2010-01-07 Van Duren Jeroen K J Roll-to-roll non-vacuum deposition of transparent conductive electrodes
JP2011198923A (ja) * 2010-03-18 2011-10-06 Fujikura Ltd 回路基板の製造方法、その回路基板、及び回路基板の製造方法
JP2011014947A (ja) * 2010-10-22 2011-01-20 Harima Chemicals Inc 導電性回路の形成方法
KR20150004354A (ko) * 2012-04-27 2015-01-12 디에스엠 아이피 어셋츠 비.브이. 전기전도성 폴리아미드 기재
JP2015520800A (ja) * 2012-04-27 2015-07-23 ディーエスエム アイピー アセッツ ビー.ブイ. 導電性ポリアミド基材
KR102066304B1 (ko) * 2012-04-27 2020-01-14 디에스엠 아이피 어셋츠 비.브이. 전기전도성 폴리아미드 기재
KR20160113216A (ko) 2014-01-28 2016-09-28 코니카 미놀타 가부시키가이샤 도전성 패턴, 도전성 패턴을 구비한 기재, 도전성 패턴을 구비한 기재의 제조 방법, 표면에 도전성 패턴을 갖는 구조체 및 그 구조체의 제조 방법
JP2018134868A (ja) * 2018-03-19 2018-08-30 エックスジェット エルティーディー. インクジェットヘッドの保管及びクリーニング

Also Published As

Publication number Publication date
JP4355436B2 (ja) 2009-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002134878A (ja) 配線パターンの形成方法、回路基板の製造方法および遮光パターンの形成された透光体の製造方法
US8999204B2 (en) Conductive ink composition, method for manufacturing the same, and method for manufacturing conductive thin layer using the same
JP2597453B2 (ja) 有機高分子膜にパタンを作成する方法
JP4563199B2 (ja) インクジェット印刷可能厚膜フィルムインク組成物および方法
KR100872162B1 (ko) 도전성 금속 나노입자 및 이를 포함하는 나노금속 잉크
US20060068173A1 (en) Methods for forming and patterning of metallic films
WO2003032084A2 (en) Low viscosity precursor compositions and methods for the deposition of conductive electronic features
WO2003035279A1 (en) Tape compositions for the deposition of electronic features
JP2005229109A (ja) インクジェット印刷可能な厚膜インク組成物および方法
JPS6361798B2 (ja)
JP2547938B2 (ja) 感光性樹脂絶縁材
JP2008078310A (ja) 導電性パターンの形成方法、配線板の製造方法及び配線板
JP2005267900A (ja) 導電性ペースト及びその製造方法
EP2775807A1 (en) Base material for forming electroconductive pattern, circuit board, and method for producing each
JP2006342380A (ja) 複合金属コロイド粒子、複合金属コロイド粒子被覆体、混合金属コロイド粒子分散液、導電膜の形成方法
DE2845891A1 (de) Duennfilmmikroschaltung, ihre herstellung und verwendung
JP2009081208A (ja) プリント配線板の製造方法
JP2006270118A (ja) 回路基板の製造方法
JP2006229254A (ja) 透光体の製造方法
JP2020113706A (ja) 導電性パターン領域付構造体及びその製造方法
JP2005203484A (ja) 導電回路装置および導電回路装置の製造方法
JP2007049101A (ja) 回路基板、回路基板形成用インキおよび回路基板の形成方法
JP2003229653A (ja) 導電性積層体及びその製造方法
JP2005057118A (ja) 印刷配線板の製造方法
JP5327107B2 (ja) プリント配線板用基板、プリント配線板、プリント配線板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060328

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060529

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061003

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061204

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070306

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070620

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090803

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4355436

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120807

Year of fee payment: 3

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060529

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150807

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees