JP2002093153A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2002093153A5 JP2002093153A5 JP2000274222A JP2000274222A JP2002093153A5 JP 2002093153 A5 JP2002093153 A5 JP 2002093153A5 JP 2000274222 A JP2000274222 A JP 2000274222A JP 2000274222 A JP2000274222 A JP 2000274222A JP 2002093153 A5 JP2002093153 A5 JP 2002093153A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cell
- bit line
- terminal
- block
- cell block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 10
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims 2
- 230000001808 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000003071 parasitic Effects 0.000 claims 1
- 230000003334 potential Effects 0.000 claims 1
Claims (5)
- セルトランジスタのソース、ドレイン間に強誘電体キャパシタを接続してユニットセルが構成され、第1の端子と第2の端子の間に複数個のユニットセルが直列接続されてセルブロックが構成され、各セルブロックの第1の端子がブロック選択トランジスタを介してビット線に接続され、各セルブロックの第2の端子がプレート線に接続され、前記各セルトランジスタのゲートがワード線に接続されたメモリセルアレイと、
前記ユニットセルの強誘電体キャパシタから前記ビット線に読み出される信号を検知増幅するセンスアンプ回路と、
前記プレート線を駆動するプレート線駆動回路と、
データ読み出し時、前記センスアンプ回路の活性化前に、前記ビット線に対して前記セルブロック内の選択されたユニットセルの位置に応じて異なるオフセット電圧を印加するオフセット電圧印加回路とを備え、
前記オフセット電圧印加回路は、選択されたユニットセルが接続されるビット線に対して、選択されたユニットセルのセルブロック内の位置がビット線から遠いほど高くなるオフセット電圧を与える
ことを特徴とする強誘電体メモリ。 - セルトランジスタのソース、ドレイン間に強誘電体キャパシタを接続してユニットセルが構成され、第1の端子と第2の端子の間に複数個のユニットセルが直列接続されてセルブロックが構成され、各セルブロックの第1の端子がブロック選択トランジスタを介してビット線に接続され、各セルブロックの第2の端子がプレート線に接続され、前記各セルトランジスタのゲートがワード線に接続されたメモリセルアレイと、
前記ユニットセルの強誘電体キャパシタから前記ビット線に読み出される信号を検知増幅するセンスアンプ回路と、
前記プレート線を駆動するプレート線駆動回路と、
データ読み出し時、前記センスアンプ回路の活性化前に、前記ビット線に対して前記セルブロック内の選択されたユニットセルの位置に応じて異なるオフセット電圧を印加するオフセット電圧印加回路とを備え、
前記オフセット電圧印加回路は、選択されたユニットセルが接続されるビット線と対をなす参照側のビット線に対して、選択されたユニットセルのセルブロック内の位置がビット線から遠いほど低くなるオフセット電圧を与える
ことを特徴とする強誘電体メモリ。 - 前記オフセット電圧発生回路は、一端がビット線に接続された少なくとも一つのキャパシタの他端に駆動電圧を与えて、容量カップリングによりビット線にオフセット電圧を印加する
ことを特徴とする請求項1記載の強誘電体メモリ。 - セルトランジスタのソース、ドレイン間に強誘電体キャパシタを接続してユニットセルが構成され、第1の端子と第2の端子の間に複数個のユニットセルを直列接続してセルブロックが構成され、各セルブロックの第1の端子がブロック選択トランジスタを介してビット線に接続され、各セルブロックの第2の端子がプレート線に接続され、前記各セルトランジスタのゲートがワード線に接続されたメモリセルアレイと、
前記ユニットセルの強誘電体キャパシタから前記ビット線に読み出される信号を検知増幅するセンスアンプ回路と、
前記プレート線を駆動するプレート線駆動回路と、
スタンバイ時に前記セルブロックの内部ノードを、前記ビット線に読み出される二値データの信号電位の間にある第1の電位に設定するプリチャージ回路とを備え、
前記プリチャージ回路は、前記プレート線を介して各セルブロックの内部ノードを前記第1の電位にプリチャージするものであり、且つ前記プレート線駆動回路とプリチャージ回路とは、スタンバイ時に前記第1の電位を発生し、アクティブ時に選択されたユニットセルの強誘電体キャパシタに順次印加される、前記第1の電位より高い第2の電位及び前記第1の電位より低い第3の電位を発生する電圧発生回路として一体構成されている
ことを特徴とする強誘電体メモリ。 - セルトランジスタのソース、ドレイン間に強誘電体キャパシタを接続してユニットセルが構成され、第1の端子と第2の端子の間に複数個のユニットセルを直列接続してセルブロックが構成され、各セルブロックの第1の端子がブロック選択トランジスタを介してビット線に接続され、各セルブロックの第2の端子がプレート線に接続され、前記各セルトランジスタのゲートがワード線に接続されたメモリセルアレイと、
前記ユニットセルの強誘電体キャパシタから前記ビット線に読み出される信号を検知増幅するセンスアンプ回路と、
前記プレート線を駆動するプレート線駆動回路と、
データ読み出し時、選択されたセルブロックが接続されるビット線と対をなす参照ビット線に、選択されるユニットセルの位置に応じて異なる寄生容量を付加するように配置されたダミーセルブロックとを備えた
ことを特徴とする強誘電体メモリ。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000274222A JP4040243B2 (ja) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | 強誘電体メモリ |
TW090121591A TW523906B (en) | 2000-09-08 | 2001-08-31 | Ferroelectric memory |
KR10-2001-0055082A KR100444116B1 (ko) | 2000-09-08 | 2001-09-07 | 강유전체 메모리 |
US09/948,038 US6493251B2 (en) | 2000-09-08 | 2001-09-07 | Ferroelectric memory device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000274222A JP4040243B2 (ja) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | 強誘電体メモリ |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002093153A JP2002093153A (ja) | 2002-03-29 |
JP2002093153A5 true JP2002093153A5 (ja) | 2005-05-12 |
JP4040243B2 JP4040243B2 (ja) | 2008-01-30 |
Family
ID=18760015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000274222A Expired - Fee Related JP4040243B2 (ja) | 2000-09-08 | 2000-09-08 | 強誘電体メモリ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6493251B2 (ja) |
JP (1) | JP4040243B2 (ja) |
KR (1) | KR100444116B1 (ja) |
TW (1) | TW523906B (ja) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6972983B2 (en) | 2002-03-21 | 2005-12-06 | Infineon Technologies Aktiengesellschaft | Increasing the read signal in ferroelectric memories |
US6584009B1 (en) * | 2002-03-21 | 2003-06-24 | Infineon Technologies Aktiengesellschaft | Memory integrated circuit with improved reliability |
US6867997B2 (en) * | 2002-03-27 | 2005-03-15 | Texas Instruments Incorporated | Series feram cell array |
JP3984090B2 (ja) * | 2002-04-01 | 2007-09-26 | 株式会社東芝 | 強誘電体メモリ装置 |
US6856560B2 (en) * | 2002-04-26 | 2005-02-15 | Infineon Technologies Aktiengesellschaft | Redundancy in series grouped memory architecture |
KR100449953B1 (ko) * | 2002-05-16 | 2004-09-30 | 주식회사 하이닉스반도체 | 강유전체 메모리 장치의 셀어레이 |
US6885597B2 (en) * | 2002-09-10 | 2005-04-26 | Infineon Technologies Aktiengesellschaft | Sensing test circuit |
US6898104B2 (en) * | 2002-11-12 | 2005-05-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device having semiconductor memory with sense amplifier |
US6920059B2 (en) * | 2002-11-29 | 2005-07-19 | Infineon Technologies Aktiengesellschaft | Reducing effects of noise coupling in integrated circuits with memory arrays |
JP3806084B2 (ja) | 2002-12-25 | 2006-08-09 | 株式会社東芝 | 強誘電体メモリ及びそのデータ読み出し方法 |
KR100510510B1 (ko) * | 2002-12-28 | 2005-08-26 | 삼성전자주식회사 | 센싱속도 저하를 방지할 수 있는 비트라인 커플링 스킴을갖는 반도체 메모리장치 |
JP4250143B2 (ja) * | 2003-02-27 | 2009-04-08 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | 半導体記憶装置 |
US6822891B1 (en) * | 2003-06-16 | 2004-11-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Ferroelectric memory device |
US7193880B2 (en) * | 2004-06-14 | 2007-03-20 | Texas Instruments Incorporated | Plateline voltage pulsing to reduce storage node disturbance in ferroelectric memory |
KR100506457B1 (ko) * | 2003-07-30 | 2005-08-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 강유전체 메모리 셀 어레이 블럭 및 그 메모리셀 어레이 블럭을 이용하는 불휘발성 강유전체 메모리 장치 |
JP3990334B2 (ja) * | 2003-09-12 | 2007-10-10 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置およびその動作方法 |
JP4041054B2 (ja) * | 2003-11-06 | 2008-01-30 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
US7009864B2 (en) * | 2003-12-29 | 2006-03-07 | Texas Instruments Incorporated | Zero cancellation scheme to reduce plateline voltage in ferroelectric memory |
JP4061651B2 (ja) * | 2004-03-15 | 2008-03-19 | セイコーエプソン株式会社 | 強誘電体メモリ装置及び電子機器 |
US7133304B2 (en) * | 2004-03-22 | 2006-11-07 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus to reduce storage node disturbance in ferroelectric memory |
US6970371B1 (en) * | 2004-05-17 | 2005-11-29 | Texas Instruments Incorporated | Reference generator system and methods for reading ferroelectric memory cells using reduced bitline voltages |
JP2007018600A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2008102982A (ja) * | 2006-10-17 | 2008-05-01 | Toshiba Corp | 強誘電体メモリ |
US7561458B2 (en) * | 2006-12-26 | 2009-07-14 | Texas Instruments Incorporated | Ferroelectric memory array for implementing a zero cancellation scheme to reduce plateline voltage in ferroelectric memory |
US7920404B2 (en) * | 2007-12-31 | 2011-04-05 | Texas Instruments Incorporated | Ferroelectric memory devices with partitioned platelines |
KR101004514B1 (ko) * | 2008-06-09 | 2010-12-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Rfid 장치 |
JP2010009687A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP5060413B2 (ja) * | 2008-07-15 | 2012-10-31 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
JP2010102793A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
US8441853B2 (en) | 2010-09-30 | 2013-05-14 | Sandisk Technologies Inc. | Sensing for NAND memory based on word line position |
US9111622B2 (en) * | 2012-05-09 | 2015-08-18 | Everspin Technologies, Inc. | Self referencing sense amplifier for spin torque MRAM |
US9082502B2 (en) | 2013-10-10 | 2015-07-14 | Sandisk Technologies Inc. | Bit line and compare voltage modulation for sensing nonvolatile storage elements |
KR20170076093A (ko) * | 2015-12-24 | 2017-07-04 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 반도체 장치 |
JP6860411B2 (ja) * | 2017-04-27 | 2021-04-14 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
CN112908387B (zh) * | 2021-03-04 | 2021-12-17 | 长江存储科技有限责任公司 | 三维非易失性存储器及其控制方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3196829B2 (ja) * | 1997-12-26 | 2001-08-06 | 日本電気株式会社 | 強誘電体メモリ装置 |
US6198652B1 (en) * | 1998-04-13 | 2001-03-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor integrated memory device |
JP3875416B2 (ja) * | 1998-11-11 | 2007-01-31 | 富士通株式会社 | 強誘電体記憶装置 |
KR100339415B1 (ko) * | 1999-09-08 | 2002-05-31 | 박종섭 | 불휘발성 강유전체 메모리 장치 |
-
2000
- 2000-09-08 JP JP2000274222A patent/JP4040243B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-08-31 TW TW090121591A patent/TW523906B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-09-07 KR KR10-2001-0055082A patent/KR100444116B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-09-07 US US09/948,038 patent/US6493251B2/en not_active Expired - Lifetime
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2002093153A5 (ja) | ||
JP4421009B2 (ja) | 強誘電体メモリ | |
US6873536B2 (en) | Shared data buffer in FeRAM utilizing word line direction segmentation | |
KR100314491B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
US20050135143A1 (en) | Ferroelectric RAM device and driving method | |
KR930014588A (ko) | 반도체 기억장치 | |
CN109390008B (zh) | 用于读取存储器单元的设备和方法 | |
CN115171750B (zh) | 存储器及其访问方法、电子设备 | |
KR890008826A (ko) | 다이나믹 랜덤 액세스 메모리에 있어서의 센스앰프 구동장치 및 센스앰프 구동방법 | |
JP3688232B2 (ja) | 強誘電体記憶装置 | |
KR100504315B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
JP4264758B2 (ja) | 強誘電体記憶装置および電子機器 | |
JP2003297078A5 (ja) | ||
KR100400048B1 (ko) | 강유전체 메모리 장치 | |
US5666306A (en) | Multiplication of storage capacitance in memory cells by using the Miller effect | |
JP4336212B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100805998B1 (ko) | 강유전체 메모리 장치 및 표시용 구동 집적회로 | |
JP3777611B2 (ja) | 強誘電体メモリ装置及び電子機器 | |
US6487128B2 (en) | Integrated memory having memory cells and reference cells, and operating method for such a memory | |
JP2000048576A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
JP4585667B2 (ja) | 強誘電体メモリのデータ読み出し方法および強誘電体メモリ | |
US6917535B2 (en) | Column select circuit of ferroelectric memory | |
TWI792833B (zh) | 存取記憶體晶片的頁資料之裝置 | |
KR100318629B1 (ko) | 강유전 메모리 | |
US6754110B2 (en) | Evaluation circuit for a DRAM |