JP2002056561A - 光学ピックアップ装置 - Google Patents
光学ピックアップ装置Info
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1362—Mirrors
-
- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 一般に市販されている汎用的な光学部品を使
用して薄型化が可能な光学ピックアップ装置を提供する
こと。 【解決手段】 立上げミラー（ＭＩＲ’）は、半導体レ
ーザ（ＬＤ’）から出射されたレーザ光をその反射面で
反射して対物レンズ（ＯＬ’）によって光ディスク（Ｄ
ｉｓｃ）の信号記録面に集光させ、この信号記録面から
の戻り光をその反射面で反射して光検出器（ＰＤ）で検
出させる。光学ピックアップ装置のピックアップ下面に
対する立上げミラー（ＭＩＲ’）の反射面の立上げ角
（θ’）は、４５°より小さくなるように配置されて。
これにより、半導体レーザおよび光検出器を含む光学部
品を、ピックアップ下面から下方へはみださないよう
に、光学ベースに対して傾けた状態で配置することがで
きる。
用して薄型化が可能な光学ピックアップ装置を提供する
こと。 【解決手段】 立上げミラー（ＭＩＲ’）は、半導体レ
ーザ（ＬＤ’）から出射されたレーザ光をその反射面で
反射して対物レンズ（ＯＬ’）によって光ディスク（Ｄ
ｉｓｃ）の信号記録面に集光させ、この信号記録面から
の戻り光をその反射面で反射して光検出器（ＰＤ）で検
出させる。光学ピックアップ装置のピックアップ下面に
対する立上げミラー（ＭＩＲ’）の反射面の立上げ角
（θ’）は、４５°より小さくなるように配置されて。
これにより、半導体レーザおよび光検出器を含む光学部
品を、ピックアップ下面から下方へはみださないよう
に、光学ベースに対して傾けた状態で配置することがで
きる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク装置に
内蔵され、光学的記録媒体（光ディスク）の再生を行な
う光学ピックアップ装置に関する。
内蔵され、光学的記録媒体（光ディスク）の再生を行な
う光学ピックアップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】周知のように、光学ピックアップ装置
は、光源である半導体レーザから出射されたレーザ光を
対物レンズによって光ディスクの信号記録面に集光し、
その信号記録面からの戻り光を光検出手段である光検出
器で検出する装置である。
は、光源である半導体レーザから出射されたレーザ光を
対物レンズによって光ディスクの信号記録面に集光し、
その信号記録面からの戻り光を光検出手段である光検出
器で検出する装置である。
【０００３】以下、図面を参照して、従来の光学ピック
アップ装置について説明する。図３および図４は、それ
ぞれ、従来の光学ピックアップ装置の光学系を示す平面
図および正面図である。
アップ装置について説明する。図３および図４は、それ
ぞれ、従来の光学ピックアップ装置の光学系を示す平面
図および正面図である。
【０００４】光学ピックアップ装置は、半導体レーザ
（レーザダイオード）ＬＤと、回折格子ＧＲＴと、ビー
ムスプリッタＢＳと、コリメートレンズＣＬと、立上げ
ミラーＭＩＲと、対物レンズＯＬと、凹レンズ（拡大レ
ンズ）ＥＬと、光検出器（受光素子）ＰＤと、フォワー
ドセンサＦＳとを有する。尚、Ｄｉｓｋは光ディスクで
ある。
（レーザダイオード）ＬＤと、回折格子ＧＲＴと、ビー
ムスプリッタＢＳと、コリメートレンズＣＬと、立上げ
ミラーＭＩＲと、対物レンズＯＬと、凹レンズ（拡大レ
ンズ）ＥＬと、光検出器（受光素子）ＰＤと、フォワー
ドセンサＦＳとを有する。尚、Ｄｉｓｋは光ディスクで
ある。
【０００５】このような構成の光学ピックアップ装置に
おいて、手前に配置されている半導体レーザＬＤから水
平前方向へ出射された１本のレーザ光は、回折格子ＧＲ
Ｔで３本のレーザ光に分離され、ビームスプリッタＢＳ
で直角に折り曲げられて水平左方向へ進む。尚、ビーム
スプリッタＢＳは、入射したレーザ光を反射光と透過光
に一定割合で分離し、例えば入射したレーザ光の８０％
を反射し、２０％を透過するように構成される。フォワ
ードセンサＦＳは、フロントモニタとも呼ばれ、このビ
ームスプリッタＢＳを透過してきたレーザ光の光量をモ
ニタするためのものである。この水平左方向へ進むレー
ザ光は、コリメートレンズＣＬで平行光にされた後、立
上げミラーＭＩＲの反射面で反射されることにより直角
に折り曲げられて鉛直上方へ進み、対物レンズＯＬを介
して光ディスクＤｉｓｋの信号記録面へ集光（照射）さ
れる。
おいて、手前に配置されている半導体レーザＬＤから水
平前方向へ出射された１本のレーザ光は、回折格子ＧＲ
Ｔで３本のレーザ光に分離され、ビームスプリッタＢＳ
で直角に折り曲げられて水平左方向へ進む。尚、ビーム
スプリッタＢＳは、入射したレーザ光を反射光と透過光
に一定割合で分離し、例えば入射したレーザ光の８０％
を反射し、２０％を透過するように構成される。フォワ
ードセンサＦＳは、フロントモニタとも呼ばれ、このビ
ームスプリッタＢＳを透過してきたレーザ光の光量をモ
ニタするためのものである。この水平左方向へ進むレー
ザ光は、コリメートレンズＣＬで平行光にされた後、立
上げミラーＭＩＲの反射面で反射されることにより直角
に折り曲げられて鉛直上方へ進み、対物レンズＯＬを介
して光ディスクＤｉｓｋの信号記録面へ集光（照射）さ
れる。
【０００６】光ディスクＤｉｓｃの信号記録面からの反
射光（戻り光）は、鉛直下方向へ進み、対物レンズＯＬ
を通過し、立上げミラーＭＩＲの反射面で反射されるこ
とにより直角に折り曲げられて水平右方向へ進み、コリ
メートレンズＣＬ、ビームスプリッタＢＳ、凹レンズＥ
Ｌを通して光検出器ＰＤで検出される。
射光（戻り光）は、鉛直下方向へ進み、対物レンズＯＬ
を通過し、立上げミラーＭＩＲの反射面で反射されるこ
とにより直角に折り曲げられて水平右方向へ進み、コリ
メートレンズＣＬ、ビームスプリッタＢＳ、凹レンズＥ
Ｌを通して光検出器ＰＤで検出される。
【０００７】尚、図４から明らかなように、半導体レー
ザＬＤ、ビームスプリッタＢＳ、コリメートレンズＣ
Ｌ、立上げミラーＭＩＲ、および光検出器ＰＤは、ピッ
クアップ下面より上に配置されている。そして、半導体
レーザＬＤ、回折格子ＧＲＴ、ビームスプリッタＢＳ、
コリメートレンズＣＬ、立上げミラーＭＩＲ、凹レンズ
ＥＬ、光検出器ＰＤ、およびフォワードセンサＦＤなど
の光学部品は、図示しない光学ベースに保持されてい
る。また、対物レンズＯＬは、レンズホルダ（図示せ
ず）によって保持され、レンズホルダは、光学ベースに
対して微動可能に支持されている。ピックアップ下面
は、光学ベース下面である。とにかく、従来の光学ピッ
クアップ装置では、立上げミラーＭＩＲの反射面は、ピ
ックアップ下面に対して４５°傾けた状態で配置されて
いる。換言すれば、ピックアップ下面に対する立上げミ
ラーＭＩＲの反射面の立上げ角θは、４５°である。
ザＬＤ、ビームスプリッタＢＳ、コリメートレンズＣ
Ｌ、立上げミラーＭＩＲ、および光検出器ＰＤは、ピッ
クアップ下面より上に配置されている。そして、半導体
レーザＬＤ、回折格子ＧＲＴ、ビームスプリッタＢＳ、
コリメートレンズＣＬ、立上げミラーＭＩＲ、凹レンズ
ＥＬ、光検出器ＰＤ、およびフォワードセンサＦＤなど
の光学部品は、図示しない光学ベースに保持されてい
る。また、対物レンズＯＬは、レンズホルダ（図示せ
ず）によって保持され、レンズホルダは、光学ベースに
対して微動可能に支持されている。ピックアップ下面
は、光学ベース下面である。とにかく、従来の光学ピッ
クアップ装置では、立上げミラーＭＩＲの反射面は、ピ
ックアップ下面に対して４５°傾けた状態で配置されて
いる。換言すれば、ピックアップ下面に対する立上げミ
ラーＭＩＲの反射面の立上げ角θは、４５°である。
【０００８】このような構成の光学ピックアップ装置
は、図示しないピックアップ駆動部によって、光ディス
クＤｉｓｃに対して所定のディスク半径方向に移動され
る。すなわち、光学ピックアップ装置は、光ディスク装
置のシャーシ（図示せず）上に摺動可能に支持されてお
り、シャーシ上面とピックアップ下面とは互いにほんの
僅かな距離離間して配置されることになる。したがっ
て、上述した光学部品がピックアップ下面（光学ベース
下面）より下方へ突出することは好ましくない。また、
上述した光学部品としては、一般に市販されている汎用
的な光学部品を使用することができる。
は、図示しないピックアップ駆動部によって、光ディス
クＤｉｓｃに対して所定のディスク半径方向に移動され
る。すなわち、光学ピックアップ装置は、光ディスク装
置のシャーシ（図示せず）上に摺動可能に支持されてお
り、シャーシ上面とピックアップ下面とは互いにほんの
僅かな距離離間して配置されることになる。したがっ
て、上述した光学部品がピックアップ下面（光学ベース
下面）より下方へ突出することは好ましくない。また、
上述した光学部品としては、一般に市販されている汎用
的な光学部品を使用することができる。
【０００９】近年、光ディスク装置の薄型化が進んでい
る。これに伴って、光学ピックアップ装置も薄型化する
ことが要求されている。尚、光学ピックアップ装置の
「高さ寸法」とは、光学ベース下面から光ディスクＤｉ
ｓｃの下面までの寸法Ｈのことを言う。
る。これに伴って、光学ピックアップ装置も薄型化する
ことが要求されている。尚、光学ピックアップ装置の
「高さ寸法」とは、光学ベース下面から光ディスクＤｉ
ｓｃの下面までの寸法Ｈのことを言う。
【００１０】光学ピックアップ装置の薄型化を図るため
に、半導体レーザ、光検出器、回折格子、ホログラム素
子を一体化した送受光ユニットが良く用いられる。
に、半導体レーザ、光検出器、回折格子、ホログラム素
子を一体化した送受光ユニットが良く用いられる。
【００１１】また、これら送受光ユニットを使ってさら
に薄型化する手段は、例えば、特開平１０−１７７７３
３号公報や特開平８−３６７７９号公報に開示されてい
る。
に薄型化する手段は、例えば、特開平１０−１７７７３
３号公報や特開平８−３６７７９号公報に開示されてい
る。
【００１２】しかしながら、このような送受光ユニット
は高価であるという問題がある。これに対し、汎用的な
光学部品は、価格も安いので、これらを用いた光学ピッ
クアップ装置は、送受光ユニットを用いた光学ピックア
ップ装置と比較して価格的に有利であるという利点があ
る。
は高価であるという問題がある。これに対し、汎用的な
光学部品は、価格も安いので、これらを用いた光学ピッ
クアップ装置は、送受光ユニットを用いた光学ピックア
ップ装置と比較して価格的に有利であるという利点があ
る。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、半導
体レーザＬＤと光検出器ＰＤとが分離して配置されてい
る構造の、従来の光学ピックアップ装置においては、光
学ピックアップ装置の高さ寸法Ｈを小さくするには、ビ
ームスプリッタＢＳや立上げミラーＭＩＲおよび光検出
器ＰＤの高さを低く、対物レンズＯＬやコリメートレン
ズＣＬ、凹レンズＥＬおよびレーザダイオード（半導体
レーザ）ＬＤの外形を小さくしなければならない。
体レーザＬＤと光検出器ＰＤとが分離して配置されてい
る構造の、従来の光学ピックアップ装置においては、光
学ピックアップ装置の高さ寸法Ｈを小さくするには、ビ
ームスプリッタＢＳや立上げミラーＭＩＲおよび光検出
器ＰＤの高さを低く、対物レンズＯＬやコリメートレン
ズＣＬ、凹レンズＥＬおよびレーザダイオード（半導体
レーザ）ＬＤの外形を小さくしなければならない。
【００１４】これら光学部品の中で、ビームスプリッタ
ＢＳや立上げミラーＭＩＲの材質はガラスであることが
多く、カットする制約もほとんどないため、比較的容易
にそれらの高さを低くすることができる。また、対物レ
ンズＯＬやコリメートレンズＣＬおよび凹レンズＥＬの
材質はガラスやプラスチックであるのがほとんどで、プ
レス法やモールド法で形成される。したがって、対物レ
ンズＯＬやコリメートレンズＣＬおよび凹レンズＥＬ
も、それらの外形を小さくしたり、ピックアップ下面側
を切断して、それらの高さを低くすることができる。さ
らに、レーザダイオード（半導体レーザ）ＬＤは、通常
直径φ５．６ｍｍの外形を有しているが、その一部分を
切断したＤ形状の外形を有するレーザダイオードも市販
されているので、比較的容易にその高さを低くすること
ができる。
ＢＳや立上げミラーＭＩＲの材質はガラスであることが
多く、カットする制約もほとんどないため、比較的容易
にそれらの高さを低くすることができる。また、対物レ
ンズＯＬやコリメートレンズＣＬおよび凹レンズＥＬの
材質はガラスやプラスチックであるのがほとんどで、プ
レス法やモールド法で形成される。したがって、対物レ
ンズＯＬやコリメートレンズＣＬおよび凹レンズＥＬ
も、それらの外形を小さくしたり、ピックアップ下面側
を切断して、それらの高さを低くすることができる。さ
らに、レーザダイオード（半導体レーザ）ＬＤは、通常
直径φ５．６ｍｍの外形を有しているが、その一部分を
切断したＤ形状の外形を有するレーザダイオードも市販
されているので、比較的容易にその高さを低くすること
ができる。
【００１５】これに対して、光検出器ＰＤは、図５に示
されるように、信号取り出し用のピン（取出端子）が水
平に一定間隔（ピッチ）を空けて配置されている。よっ
て、光検出器ＰＤの高さＨPDを低くするには、ピンのピ
ッチを狭くするか、ピン数を減らさなくてはならない。
しかしながら、後で詳述するように、実装上の問題や特
性上の問題で、光検出器ＰＤは容易にピンピッチを狭く
したり、ピン数を減らして、その高さＨPDを低くするこ
とはできない。
されるように、信号取り出し用のピン（取出端子）が水
平に一定間隔（ピッチ）を空けて配置されている。よっ
て、光検出器ＰＤの高さＨPDを低くするには、ピンのピ
ッチを狭くするか、ピン数を減らさなくてはならない。
しかしながら、後で詳述するように、実装上の問題や特
性上の問題で、光検出器ＰＤは容易にピンピッチを狭く
したり、ピン数を減らして、その高さＨPDを低くするこ
とはできない。
【００１６】その結果、従来の光学ピックアップ装置を
単純に薄型化（小型化）した場合、図６に示されたよう
な構成にせざるを得ない。図６において、ＬＤ’、Ｂ
Ｓ’、ＣＬ’、ＭＩＲ’、ＯＬ’、およびＥＬ’は、そ
れぞれ、図４に示す対応するものを小型化した、半導体
レーザ、ビームスプリッタ、コリメートレンズ、立上げ
ミラー、対物レンズ、および凹レンズである。ピックア
ップ下面に対する立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立上
げ角θも４５°である。光学ピックアップ装置の高さ寸
法Ｈ’は、Ｈ’＜Ｈである。すなわち、前述したよう
に、光学部品の中で光検出器ＰＤのみ小型化（すなわ
ち、その高さＨPDを低く）できないので、光検出器ＰＤ
の下部がピックアップ下面より下方へ突出して（はみだ
して）しまう。前述したように、光学ピックアップ装置
は、光ディスク装置のシャーシ上に摺動可能に支持され
ており、シャーシ上面とピックアップ下面とは互いにほ
んの僅かな距離離間して配置される。そのため、結果と
して、光学ピックアップ装置を薄型化することが困難に
なってしまう。
単純に薄型化（小型化）した場合、図６に示されたよう
な構成にせざるを得ない。図６において、ＬＤ’、Ｂ
Ｓ’、ＣＬ’、ＭＩＲ’、ＯＬ’、およびＥＬ’は、そ
れぞれ、図４に示す対応するものを小型化した、半導体
レーザ、ビームスプリッタ、コリメートレンズ、立上げ
ミラー、対物レンズ、および凹レンズである。ピックア
ップ下面に対する立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立上
げ角θも４５°である。光学ピックアップ装置の高さ寸
法Ｈ’は、Ｈ’＜Ｈである。すなわち、前述したよう
に、光学部品の中で光検出器ＰＤのみ小型化（すなわ
ち、その高さＨPDを低く）できないので、光検出器ＰＤ
の下部がピックアップ下面より下方へ突出して（はみだ
して）しまう。前述したように、光学ピックアップ装置
は、光ディスク装置のシャーシ上に摺動可能に支持され
ており、シャーシ上面とピックアップ下面とは互いにほ
んの僅かな距離離間して配置される。そのため、結果と
して、光学ピックアップ装置を薄型化することが困難に
なってしまう。
【００１７】次に、光検出器ＰＤを小型化できない理由
について詳細に説明する。図５において、（Ａ）は光検
出器ＰＤの正面図、（Ｂ）は光検出器ＰＤの左側面図で
ある。
について詳細に説明する。図５において、（Ａ）は光検
出器ＰＤの正面図、（Ｂ）は光検出器ＰＤの左側面図で
ある。
【００１８】光検出器ＰＤの取出端子（ピン）は金属製
で、その材料としてはアルミニウムなどが良く用いられ
る。この取出端子（ピン）は、図３に示されるように、
およそ９０°に折り曲げられ、基板やフレキシブル基板
（ＦＰＣ）に挟んで取り付けられる。
で、その材料としてはアルミニウムなどが良く用いられ
る。この取出端子（ピン）は、図３に示されるように、
およそ９０°に折り曲げられ、基板やフレキシブル基板
（ＦＰＣ）に挟んで取り付けられる。
【００１９】光学ピックアップ装置では、この光検出器
ＰＤはＦＰＣ上の穴にこれら取付端子（ピン）を通し、
はんだ付けすることが多い。この場合、図７に示される
ように、ＦＰＣの穴径は、取付端子幅Ａ（公差含む）よ
り大きくし、かつはんだが付く金属部分が必要になる。
ＰＤはＦＰＣ上の穴にこれら取付端子（ピン）を通し、
はんだ付けすることが多い。この場合、図７に示される
ように、ＦＰＣの穴径は、取付端子幅Ａ（公差含む）よ
り大きくし、かつはんだが付く金属部分が必要になる。
【００２０】よって、隣接する取付端子間距離（ピッ
チ）を短くすると、ＦＰＣの金属部分（はんだが付く部
分）が重なってしまったり、はんだが隣接する取付端子
と接触したりして、短絡する可能性が高くなる。
チ）を短くすると、ＦＰＣの金属部分（はんだが付く部
分）が重なってしまったり、はんだが隣接する取付端子
と接触したりして、短絡する可能性が高くなる。
【００２１】一方、この取付端子の幅Ａを短くすると、
取付端子が細くなり十分な強度が得られず、ＦＰＣには
んだ付けした後に軽微な力が加わっただけでも、ズレが
発生する可能性が高くなる。
取付端子が細くなり十分な強度が得られず、ＦＰＣには
んだ付けした後に軽微な力が加わっただけでも、ズレが
発生する可能性が高くなる。
【００２２】以上述べたような理由から、簡単に取付端
子の幅Ａや隣接する取付端子間距離（ピッチ）を短くし
て、光検出器ＰＤの高さＨPDを低くすることが出来な
い。
子の幅Ａや隣接する取付端子間距離（ピッチ）を短くし
て、光検出器ＰＤの高さＨPDを低くすることが出来な
い。
【００２３】それ故に本発明の課題は、一般に市販され
ている汎用的な光学部品を使用して薄型化が可能な光学
ピックアップ装置を提供することにある。
ている汎用的な光学部品を使用して薄型化が可能な光学
ピックアップ装置を提供することにある。
【００２４】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、半導体
レーザ（ＬＤ’）から出射されたレーザ光を立上げミラ
ー（ＭＩＲ’）の反射面で反射して対物レンズ（Ｏ
Ｌ’）によって光ディスク（Ｄｉｓｃ）の信号記録面に
集光し、該信号記録面からの戻り光を前記立上げミラー
（ＭＩＲ’）の反射面で反射して光検出器（ＰＤ）で検
出する光学ピックアップ装置に於いて、当該光学ピック
アップ装置のピックアップ下面に対する前記立上げミラ
ー（ＭＩＲ’）の反射面の立上げ角（θ’）を４５°よ
り小さくし、これにより、前記半導体レーザおよび前記
光検出器を含む光学部品を、前記ピックアップ下面から
下方へはみださないように、光学ベースに対して傾けた
状態で配置したことを特徴とする光学ピックアップ装置
が得られる。
レーザ（ＬＤ’）から出射されたレーザ光を立上げミラ
ー（ＭＩＲ’）の反射面で反射して対物レンズ（Ｏ
Ｌ’）によって光ディスク（Ｄｉｓｃ）の信号記録面に
集光し、該信号記録面からの戻り光を前記立上げミラー
（ＭＩＲ’）の反射面で反射して光検出器（ＰＤ）で検
出する光学ピックアップ装置に於いて、当該光学ピック
アップ装置のピックアップ下面に対する前記立上げミラ
ー（ＭＩＲ’）の反射面の立上げ角（θ’）を４５°よ
り小さくし、これにより、前記半導体レーザおよび前記
光検出器を含む光学部品を、前記ピックアップ下面から
下方へはみださないように、光学ベースに対して傾けた
状態で配置したことを特徴とする光学ピックアップ装置
が得られる。
【００２５】なお、上記光学部品としては、前記半導体
レーザ（ＬＤ’）から出射された１本のレーザ光を３本
のレーザ光に分離する回折格子（ＧＲＴ）と、該回折格
子からのレーザ光を反射すると共に前記戻り光を透過す
るビームスプリッタ（ＢＳ’）と、該ビームススプリッ
タと前記立上げミラーとの間に配置されたコリメートレ
ンズ（ＣＬ’）と、前記ビームスプリッタと前記光検出
器との間に配置された凹レンズ（ＥＬ’）とを更に含
む。また、上記光学部品として、前記半導体レーザから
出射されかつ前記ビームスプリッタによって一部透過さ
れたレーザ光の光量をモニタするフォワードセンサ（Ｆ
Ｓ）を更に含んでも良い。
レーザ（ＬＤ’）から出射された１本のレーザ光を３本
のレーザ光に分離する回折格子（ＧＲＴ）と、該回折格
子からのレーザ光を反射すると共に前記戻り光を透過す
るビームスプリッタ（ＢＳ’）と、該ビームススプリッ
タと前記立上げミラーとの間に配置されたコリメートレ
ンズ（ＣＬ’）と、前記ビームスプリッタと前記光検出
器との間に配置された凹レンズ（ＥＬ’）とを更に含
む。また、上記光学部品として、前記半導体レーザから
出射されかつ前記ビームスプリッタによって一部透過さ
れたレーザ光の光量をモニタするフォワードセンサ（Ｆ
Ｓ）を更に含んでも良い。
【００２６】尚、上記括弧内の参照符号は、理解を容易
にするために付したものであり、一例にすぎず、これら
に限定されないのは勿論である。
にするために付したものであり、一例にすぎず、これら
に限定されないのは勿論である。
【００２７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【００２８】図１を参照して、本発明の一実施の形態に
係る光学ピックアップ装置について説明する。
係る光学ピックアップ装置について説明する。
【００２９】図示の光学ピックアップ装置は、構成部品
が図６に示されたものと同一であるが、後述するよう
に、立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’が異
なると共に、光学部品の配置の仕方が異なる。
が図６に示されたものと同一であるが、後述するよう
に、立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’が異
なると共に、光学部品の配置の仕方が異なる。
【００３０】すなわち、ピックアップ下面に対する立上
げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’を４５°より
小さくしている。そして、図１に示されるように、半導
体レーザＬＤ’、光検出器ＰＤ、回折格子ＧＲＴ、コリ
メートレンズＣＬ’、凹レンズＥＬ’、およびフォワー
ドセンサＦＳの光学部品を、ピックアップ下面から下方
へはみださないように、光学ベース（図示せず）に対し
て傾けた状態で配置している。
げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’を４５°より
小さくしている。そして、図１に示されるように、半導
体レーザＬＤ’、光検出器ＰＤ、回折格子ＧＲＴ、コリ
メートレンズＣＬ’、凹レンズＥＬ’、およびフォワー
ドセンサＦＳの光学部品を、ピックアップ下面から下方
へはみださないように、光学ベース（図示せず）に対し
て傾けた状態で配置している。
【００３１】図２に、従来における立上げミラーＭＩ
Ｒ’の反射面の立上げ角θ（図６）と本発明による立上
げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’との関係を図
示する。従来では、立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立
上げ角θが４５°であるので、立上げミラーＭＩＲ’に
入射するレーザ光およびこの立上げミラーＭＩＲ’から
反射する戻り光の光軸は、ピックアップ下面に対して平
行であった。
Ｒ’の反射面の立上げ角θ（図６）と本発明による立上
げミラーＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’との関係を図
示する。従来では、立上げミラーＭＩＲ’の反射面の立
上げ角θが４５°であるので、立上げミラーＭＩＲ’に
入射するレーザ光およびこの立上げミラーＭＩＲ’から
反射する戻り光の光軸は、ピックアップ下面に対して平
行であった。
【００３２】これに対して、本発明による立上げミラー
ＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’は４５°より小さいの
で、立上げミラーＭＩＲ’に入射するレーザ光およびこ
の立上げミラーＭＩＲ’から反射する戻り光の光軸は、
ピックアップ下面に対して角度αだけ上方に傾いてい
る。この角度αは、α＝９０°−２θ’で表される。
ＭＩＲ’の反射面の立上げ角θ’は４５°より小さいの
で、立上げミラーＭＩＲ’に入射するレーザ光およびこ
の立上げミラーＭＩＲ’から反射する戻り光の光軸は、
ピックアップ下面に対して角度αだけ上方に傾いてい
る。この角度αは、α＝９０°−２θ’で表される。
【００３３】これにより、たとえ光検出器ＰＤを小型化
することができなくとも、図１に示されるように、半導
体レーザＬＤ’、光検出器ＰＤ、回折格子ＧＲＴ、コリ
メートレンズＣＬ’、凹レンズＥＬ’、およびフォワー
ドセンサＦＳの光学部品を、ピックアップ下面から下方
へはみださないように、光学ベースに配置することがで
きる。従って、光学ピックアップ装置を薄型化すること
ができる。
することができなくとも、図１に示されるように、半導
体レーザＬＤ’、光検出器ＰＤ、回折格子ＧＲＴ、コリ
メートレンズＣＬ’、凹レンズＥＬ’、およびフォワー
ドセンサＦＳの光学部品を、ピックアップ下面から下方
へはみださないように、光学ベースに配置することがで
きる。従って、光学ピックアップ装置を薄型化すること
ができる。
【００３４】次に、図１に示した光学ピックアップ装置
の動作について説明する。
の動作について説明する。
【００３５】手前に配置されている半導体レーザＬＤ’
からの、水平面（ピックアップ下面）に対して角度αだ
け下方に傾いた状態で前方向へ出射された１本のレーザ
光は、回折格子ＧＲＴ（図３）で３本のレーザ光に分離
され、ビームスプリッタＢＳ’で直角に折り曲げられ
て、水平面に対して角度αだけ下方に傾いた状態で左方
向へ進む。尚、ビームスプリッタＢＳ’は、入射したレ
ーザ光を反射光と透過光に一定割合で分離し、例えば入
射したレーザ光の８０％を反射し、２０％を透過するよ
うに構成される。フォワードセンサＦＳ（図３）は、こ
のビームスプリッタＢＳ’を透過してきたレーザ光の光
量をモニタする。この水平面に対して角度αだけ下方に
傾いて左方向へ進むレーザ光は、コリメートレンズＣ
Ｌ’で平行光にされた後、立上げミラーＭＩＲ’の反射
面で反射されて鉛直上方へ進み、対物レンズＯＬを介し
て光ディスクＤｉｓｋの信号記録面へ集光（照射）され
る。
からの、水平面（ピックアップ下面）に対して角度αだ
け下方に傾いた状態で前方向へ出射された１本のレーザ
光は、回折格子ＧＲＴ（図３）で３本のレーザ光に分離
され、ビームスプリッタＢＳ’で直角に折り曲げられ
て、水平面に対して角度αだけ下方に傾いた状態で左方
向へ進む。尚、ビームスプリッタＢＳ’は、入射したレ
ーザ光を反射光と透過光に一定割合で分離し、例えば入
射したレーザ光の８０％を反射し、２０％を透過するよ
うに構成される。フォワードセンサＦＳ（図３）は、こ
のビームスプリッタＢＳ’を透過してきたレーザ光の光
量をモニタする。この水平面に対して角度αだけ下方に
傾いて左方向へ進むレーザ光は、コリメートレンズＣ
Ｌ’で平行光にされた後、立上げミラーＭＩＲ’の反射
面で反射されて鉛直上方へ進み、対物レンズＯＬを介し
て光ディスクＤｉｓｋの信号記録面へ集光（照射）され
る。
【００３６】光ディスクＤｉｓｃの信号記録面からの反
射光（戻り光）は、鉛直下方向へ進み、対物レンズＯＬ
を通過し、立上げミラーＭＩＲ’の反射面で反射され
て、水平面に対して角度αだけ上方に傾いた状態で（図
２）右方向へ進み、コリメートレンズＣＬ’、ビームス
プリッタＢＳ’、凹レンズＥＬ’を通して光検出器ＰＤ
で検出される。
射光（戻り光）は、鉛直下方向へ進み、対物レンズＯＬ
を通過し、立上げミラーＭＩＲ’の反射面で反射され
て、水平面に対して角度αだけ上方に傾いた状態で（図
２）右方向へ進み、コリメートレンズＣＬ’、ビームス
プリッタＢＳ’、凹レンズＥＬ’を通して光検出器ＰＤ
で検出される。
【００３７】本発明は上述した実施の形態に限定せず、
本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更・変形が
可能なのは勿論である。すなわち、本発明による光学ピ
ックアップ装置は、半導体レーザと光検出器とが分離し
て配置され、立上げミラーおよび対物レンズを備えた構
造のものであれば、どのような構成でも良いので、光学
部品としては上述したものに限定されないのは勿論であ
る。
本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更・変形が
可能なのは勿論である。すなわち、本発明による光学ピ
ックアップ装置は、半導体レーザと光検出器とが分離し
て配置され、立上げミラーおよび対物レンズを備えた構
造のものであれば、どのような構成でも良いので、光学
部品としては上述したものに限定されないのは勿論であ
る。
【００３８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ピックアップ下面に対する立上げミラーの反
射面の立上げ角を４５°より小さくしたので、たとえ光
検出器の小型化ができなくとも、光学ピックアップ装置
を薄型化することができる。
によれば、ピックアップ下面に対する立上げミラーの反
射面の立上げ角を４５°より小さくしたので、たとえ光
検出器の小型化ができなくとも、光学ピックアップ装置
を薄型化することができる。
【図１】本発明の一実施の形態による光学ピックアップ
装置の光学系を示す正面図である。
装置の光学系を示す正面図である。
【図２】従来における立上げミラーの反射面の立上げ角
と本発明による立上げミラーの反射面の立上げ角との関
係を示す図である。
と本発明による立上げミラーの反射面の立上げ角との関
係を示す図である。
【図３】従来の光学ピックアップ装置の光学系を示す平
面図である。
面図である。
【図４】図３に示す従来の光学ピックアップ装置の光学
系を示す正面図である。
系を示す正面図である。
【図５】光学ピックアップ装置に使用される光検出器の
構成を示す図で、（Ａ）は正面図、（Ｂ）は左側面図で
ある。
構成を示す図で、（Ａ）は正面図、（Ｂ）は左側面図で
ある。
【図６】光検出器を除く光学部品を小型化して薄型化を
図った、従来の光学ピックアップ装置の光学系を示す正
面図である。
図った、従来の光学ピックアップ装置の光学系を示す正
面図である。
【図７】図５に示した光検出器の取出端子と、フレキシ
ブル基板（ＦＰＣ）の穴径およびＦＰＣ金属部分を拡大
して示す図である。
ブル基板（ＦＰＣ）の穴径およびＦＰＣ金属部分を拡大
して示す図である。
ＬＤ，ＬＤ’ 半導体レーザ（レーザダイオード） ＧＲＴ 回折格子 ＢＳ，ＢＳ’ ビームスプリッタ ＣＬ，ＣＬ’ コリメートレンズ ＭＩＲ，ＭＩＲ’ 立上げミラー ＯＬ，ＯＬ’ 対物レンズ Ｄｉｓｃ 光ディスク ＥＬ，ＥＬ’ 凹レンズ（拡大レンズ） ＰＤ 光検出器（受光素子） ＦＳ フォワードセンサ θ，θ’ 立上げ角
Claims (3)
- 【請求項１】 半導体レーザから出射されたレーザ光を
立上げミラーの反射面で反射して対物レンズによって光
ディスクの信号記録面に集光し、該信号記録面からの戻
り光を前記立上げミラーの反射面で反射して光検出器で
検出する光学ピックアップ装置に於いて、 当該光学ピックアップ装置のピックアップ下面に対する
前記立上げミラーの反射面の立上げ角を４５°より小さ
くし、 これにより、前記半導体レーザおよび前記光検出器を含
む光学部品を、前記ピックアップ下面から下方へはみだ
さないように、光学ベースに対して傾けた状態で配置し
たことを特徴とする光学ピックアップ装置。 - 【請求項２】 前記光学部品として、前記半導体レーザ
から出射された１本のレーザ光を３本のレーザ光に分離
する回折格子と、該回折格子からのレーザ光を反射する
と共に前記戻り光を透過するビームスプリッタと、該ビ
ームススプリッタと前記立上げミラーとの間に配置され
たコリメートレンズと、前記ビームスプリッタと前記光
検出器との間に配置された凹レンズとを更に含む、請求
項１に記載の光学ピックアップ装置。 - 【請求項３】 前記光学部品として、前記半導体レーザ
から出射されかつ前記ビームスプリッタによって一部透
過されたレーザ光の光量をモニタするフォワードセンサ
を更に含む、請求項２に記載の光学ピックアップ装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000242648A JP2002056561A (ja) | 2000-08-10 | 2000-08-10 | 光学ピックアップ装置 |
| US09/925,675 US20020018436A1 (en) | 2000-08-10 | 2001-08-10 | Thin optical pickup unit comprising only general-purpose optical parts |
| EP01306848A EP1184857A3 (en) | 2000-08-10 | 2001-08-10 | Optical pickup unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000242648A JP2002056561A (ja) | 2000-08-10 | 2000-08-10 | 光学ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002056561A true JP2002056561A (ja) | 2002-02-22 |
Family
ID=18733646
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000242648A Withdrawn JP2002056561A (ja) | 2000-08-10 | 2000-08-10 | 光学ピックアップ装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20020018436A1 (ja) |
| EP (1) | EP1184857A3 (ja) |
| JP (1) | JP2002056561A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| GB2402507A (en) * | 2003-06-03 | 2004-12-08 | Canon Kk | A user input interpreter and a method of interpreting user input |
| JP2005244192A (ja) * | 2004-01-30 | 2005-09-08 | Sharp Corp | 半導体レーザ装置および光ピックアップ装置 |
| US20080231928A1 (en) * | 2004-12-22 | 2008-09-25 | Arima Devices Corporation Trustnet Chambers | Optical Scanning Device with Low Building Height |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0648543B2 (ja) * | 1985-12-04 | 1994-06-22 | 三菱電機株式会社 | 光学ヘツド装置 |
| JP2561668B2 (ja) * | 1987-06-22 | 1996-12-11 | 株式会社日立製作所 | ２レ−ザ光ヘッド |
| US5085496A (en) * | 1989-03-31 | 1992-02-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical element and optical pickup device comprising it |
| US5420848A (en) * | 1990-08-02 | 1995-05-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical system for optical information recording/reproducing apparatus having a galvano mirror |
| DE69328385T2 (de) * | 1992-06-19 | 2000-10-19 | Sony Corp | Optisches Abtastgerät |
| KR970000645B1 (ko) * | 1994-02-26 | 1997-01-16 | 엘지전자 주식회사 | 광픽업 시스템 |
| JPH07326083A (ja) * | 1994-06-01 | 1995-12-12 | Olympus Optical Co Ltd | 光情報再生装置 |
| JP3050752B2 (ja) * | 1994-07-21 | 2000-06-12 | ティアック株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JPH10177733A (ja) * | 1996-12-16 | 1998-06-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップ |
| MY114470A (en) * | 1996-12-16 | 2002-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Light pickup |
| US6072579A (en) * | 1998-08-27 | 2000-06-06 | Ricoh Company, Ltd. | Optical pickup apparatus having improved holographic optical element and photodetector |
-
2000
- 2000-08-10 JP JP2000242648A patent/JP2002056561A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-08-10 EP EP01306848A patent/EP1184857A3/en not_active Withdrawn
- 2001-08-10 US US09/925,675 patent/US20020018436A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1184857A2 (en) | 2002-03-06 |
| EP1184857A3 (en) | 2003-04-23 |
| US20020018436A1 (en) | 2002-02-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20071106 |