JP2001336987A - 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置 - Google Patents

温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置

Info

Publication number
JP2001336987A
JP2001336987A JP2000155289A JP2000155289A JP2001336987A JP 2001336987 A JP2001336987 A JP 2001336987A JP 2000155289 A JP2000155289 A JP 2000155289A JP 2000155289 A JP2000155289 A JP 2000155289A JP 2001336987 A JP2001336987 A JP 2001336987A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bias voltage
input terminal
temperature
liquid crystal
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000155289A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3558959B2 (ja
Inventor
Tadahiro Nakamura
渡弘 中村
Masahiko Monomoushi
正彦 物申
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2000155289A priority Critical patent/JP3558959B2/ja
Priority to US09/835,417 priority patent/US6831626B2/en
Priority to TW090109651A priority patent/TW526326B/zh
Priority to KR10-2001-0023470A priority patent/KR100386812B1/ko
Publication of JP2001336987A publication Critical patent/JP2001336987A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3558959B2 publication Critical patent/JP3558959B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/01Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using semiconducting elements having PN junctions
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/04Maintaining the quality of display appearance
    • G09G2320/041Temperature compensation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 相互に異なる温度特性を有する2つのバイア
ス電圧Vin,Vbiasに対して、反転増幅器11が
それらの差に対応した電圧を出力することで、略2つの
バイアス電圧源B1,B2の相対精度で温度検出を行う
ことができる温度検出回路であって、さまざまな温度特
性および出力Dレンジに対応可能とする。 【解決手段】 温度特性の急峻なバイアス電圧Vinを
反転増幅器11の反転入力端に抵抗R1を介して与え、
反転増幅器11の反転入力端と出力端との間には抵抗R
2を介在し、出力を非反転増幅器12の非反転入力端に
与え、その反転入力端は抵抗R3を介して基準電位に接
続するとともに抵抗R4を介して出力端と接続する。し
たがって、抵抗R1,R2の抵抗値を適宜設定すること
で、所望の温度特性を得ることができ、抵抗R3,R4
の抵抗値を適宜設定することで、前記反転増幅器11で
得られた温度特性を所望の出力電圧値とすることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、温度検出回路に関
し、特に、半導体集積回路中の回路素子の温度−電圧特
性を利用して温度検出を行なう温度検出回路に関し、ま
たその検出結果に基づいて液晶素子の温度特性を駆動電
圧で補償する液晶駆動装置に関する。
【0002】
【従来の技術】前記半導体集積回路中の回路素子の温度
−電圧特性を利用して温度検出を行なう回路として、典
型的な従来技術は、特開平3−48737号公報に示さ
れている。図7は、その従来技術の温度検出回路の電気
的構成を示すブロック図である。この従来技術では、電
源ライン1,2間に、定電流源f1と複数段のダイオー
ドd11,…,d1nとの直列回路が接続されて構成さ
れる第1のバイアス電圧源b1と、前記電源ライン1,
2間に、定電流源f2と複数段のダイオードd21,
…,d2mとの直列回路が接続されて構成される第2の
バイアス電圧源b2と、前記第1および第2のバイアス
電圧源b1,b2からの第1および第2のバイアス電圧
の差を増幅して出力する増幅器3とを備えて構成され
る。前記定電流源f1とダイオードd1nとの接続点が
第1のバイアス電圧の出力端となって前記増幅器3の一
方の入力端に与えられ、前記定電流源f2とダイオード
d2mとの接続点が第2のバイアス電圧の出力端となっ
て前記増幅器3の他方の入力端に与えられる。
【0003】n≠mであるので、定電流源f1,f2の
電流値が相互に等しいとき、ダイオード1個当りのアノ
ード−カソード間の電圧をVac〔V〕とし、電源ライ
ン1の電位を基準とすると、増幅器3の一方の入力端に
は−n×Vac〔V〕の電圧が生じ、他方の入力端には
−m×Vac〔V〕の電圧が生じる。したがって、2つ
の入力端間には(m−n)×Vac〔V〕のオフセット
を生じることになる。したがって、ダイオード1個当り
のアノード−カソード間の電圧の温度依存を△Vac
〔V/℃〕とすると、温度がT〔℃〕変動した場合、増
幅器3の入力端間のオフセットはT×(m−n)×△V
ac〔V〕変動し、該増幅器3の利得をAとすると、A
×T×(m−n)×△Vac〔V〕が得られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のような従来技術
では、第1のバイアス電圧源b1のダイオードd11〜
d1nの端子間電圧と、第2のバイアス電圧源b2のダ
イオードd21〜d2mの端子間電圧との差を検出温度
の出力としているので、それぞれのダイオードd11〜
d1n;d21〜d2mの素子特性が揃っていれば、略
前記第1および第2のバイアス電圧源b1,b2の相対
精度で温度検出を行うことができ、個々の素子に高い精
度を必要とすることなく、高い精度で温度検出を行うこ
とができる。
【0005】しかしながら、温度検出感度を任意に調整
することができず、また所望とする出力電圧に増幅でき
ないという問題がある。特に、液晶パネルは、周囲温度
によって、液晶材料の印加電圧−光透過特性の傾きや閾
値電圧Vth等の特性が大きく変動するので、常に最適
なコントラストで表示させるためには、駆動電圧を前記
周囲温度に適応して変化させる必要がある。また、使用
する液晶素子の材料によっても前記閾値電圧Vth等の
特性が異なり、さらに同じ材料であっても液晶層の厚さ
によって前記特性が異なることになる。
【0006】本発明の目的は、さまざまな温度特性およ
び出力ダイナミックレンジに対応することができる温度
検出回路を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の温度検出回路
は、相対的に急峻な温度特性を有する第1のバイアス電
圧源からの第1のバイアス電圧と、相対的に緩やかな温
度特性を有する第2のバイアス電圧源からの第2のバイ
アス電圧とに対して、反転増幅器がそれらの差に対応し
た電圧を出力することで、略前記第1および第2のバイ
アス電圧源の相対精度で温度検出を行うことができる温
度検出回路であって、前記第1のバイアス電圧を前記反
転増幅器の反転入力端に与える第1の抵抗と、前記反転
増幅器の前記反転入力端と出力端との間に介在される第
2の抵抗と、前記反転増幅器の出力が非反転入力端に与
えられる非反転増幅器と、予め定める基準電位を前記非
反転増幅器の反転入力端に与える第3の抵抗と、前記非
反転増幅器の前記反転入力端と出力端との間に介在され
る第4の抵抗とを含むことを特徴とする。
【0008】上記の構成によれば、相対的に急峻な温度
特性を有する第1のバイアス電圧源からの第1のバイア
ス電圧Vinを反転増幅器の反転入力端に与え、相対的
に緩やかな温度特性を有する第2のバイアス電圧源から
の第2のバイアス電圧Vbiasを反転増幅器の非反転
入力端に与え、前記第1のバイアス電圧源と反転入力端
との間に第1の抵抗R1を介在し、該反転入力端と出力
端との間に第2の抵抗R2を介在することで、反転増幅
器の出力電圧Vout1は、 Vout1=−(Vin−Vbias)×R2/R1+
Vbias となり、相対的に緩やかな温度勾配の第2のバイアス電
圧Vbiasに、第2および第1のバイアス電圧Vbi
as,Vinの差が第2および第1の抵抗比倍されて加
算されることになる。したがって、略前記第1および第
2のバイアス電圧源の相対精度で温度検出を行うことが
できる。そして、前記第1および第2の抵抗の抵抗値を
適宜設定することで、所望の温度特性を得ることができ
る。
【0009】また、前記反転増幅器の出力電圧Vout
1を、反転入力端に第3の抵抗を介して基準電位が与え
られるとともに第4の抵抗を介して出力が帰還される非
反転増幅器の非反転入力端に与えて増幅する。
【0010】したがって、前記第3および第4の抵抗の
抵抗値を適宜設定することで、前記反転増幅器で得られ
た温度特性を所望の出力電圧値とすることができる。
【0011】また、本発明の温度検出回路では、前記第
1および第2のバイアス電圧源は、それぞれ、定電流源
と、1または複数段のダイオードとの直列回路が電源ラ
イン間に接続され、前記定電流源とダイオードとの接続
点から前記反転増幅器の入力端へバイアス電圧を与える
ように構成され、前記温度特性の差を前記ダイオードの
素子面積の差によって生じさせることを特徴とする。
【0012】上記の構成によれば、ダイオード1個当り
の面積を、前記第1のバイアス電圧源と第2のバイアス
電圧源とで異なるように形成したり、同じ面積のダイオ
ードの並列接続段数を、前記第1のバイアス電圧源と第
2のバイアス電圧源とで異なるように形成するなどして
作成した電流能力の相互に異なるダイオードに、定電流
源からの一定電流によって動作点を固定し、動作させる
ことで、相互に異なる温度特性とすることができ、同じ
半導体集積回路内に、容易に形成することができる。
【0013】さらにまた、本発明の液晶駆動装置は、前
記請求項1または2記載の温度検出回路を搭載し、前記
非反転増幅器の出力電圧が液晶素子の駆動に用いられる
液晶駆動装置であって、前記第1および第2の抵抗によ
って決定される反転増幅器のゲインを液晶パネルの温度
特性に適合させ、前記第3および第4の抵抗ならびに基
準電位によって決定される出力電圧レベルを液晶素子の
駆動に必要な電圧に適合させることを特徴とする。
【0014】上記の構成によれば、液晶素子の材料や液
晶層の厚さによって異なる印加電圧−光透過特性の傾き
や閾値電圧Vth等の液晶パネルの温度特性に、第1お
よび第2の抵抗の抵抗値を設定することで反転増幅器の
ゲインを適合させ、第3および第4の抵抗ならびに基準
電位を設定することで、出力電圧レベルを液晶素子の駆
動に必要な電圧に適合させる。
【0015】したがって、第1〜第4の抵抗ならびに基
準電位を設定することで、使用される液晶パネルに適合
した任意の温度特性で、任意の駆動電圧を得ることがで
き、常に最適なコントラストで表示させることができ
る。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について、
図1および図2に基づいて説明すれば、以下のとおりで
ある。
【0017】図1は、本発明の実施の一形態の温度検出
回路の電気的構成を示すブロック図である。この温度検
出回路は、大略的に、温度勾配を発生する第1および第
2のバイアス電圧源B1,B2と、前記バイアス電圧源
B1,B2からの第1および第2のバイアス電圧Vi
n,Vbiasの差を増幅して出力する反転増幅器11
および非反転増幅器12と、前記反転増幅器11のゲイ
ン設定のための第1および第2の抵抗R1,R2と、前
記非反転増幅器12のゲイン設定および基準電位設定の
ための第3および第4の抵抗R3,R4とを備えて構成
され、半導体集積回路内に作込まれる。
【0018】前記バイアス電圧源B1は、電源ライン1
3,14間に、第1の定電流源F1と複数段のダイオー
ドD11,…,D1nとの直列回路が接続されて構成さ
れ、前記定電流源F1とダイオードD11との接続点P
1が第1のバイアス電圧Vinの出力端となる。前記第
2のバイアス電圧源B2は、前記電源ライン13,14
間に、第2の定電流源F2と複数段のダイオードD2
1,…,D2mとの直列回路が接続されて構成され、前
記定電流源F2とダイオードD21との接続点P2が第
2のバイアス電圧Vbiasの出力端となる。ダイオー
ドD11〜D1n;D21〜D2mと、定電流源F1,
F2とは、相互に入替えられてもよい。
【0019】ここで、ダイオードD11〜D1nとダイ
オードD21〜D2mとの素子特性および素子面積は相
互に等しく、かつn>mである。したがって、図2で示
すように、素子数の多いバイアス電圧源B1からのバイ
アス電圧Vinは相対的に急峻な温度特性を有し、素子
数の少ないバイアス電圧源B2からのバイアス電圧Vb
iasは相対的に緩やかな温度特性を有することにな
る。
【0020】前記バイアス電圧Vinは、抵抗R1を介
して反転増幅器11の反転入力端に与えられ、前記バイ
アス電圧Vbiasは、直接、反転増幅器11の非反転
入力端に与えられる。反転増幅器11の出力電圧Vou
t1は、直接、非反転増幅器12の非反転入力端に与え
られるとともに、帰還用の抵抗R2を介して前記反転入
力端に与えられている。前記非反転増幅器12の反転入
力端には、抵抗R3を介して予め定める基準電位(図1
の例では接地電位)が与えられるとともに、帰還用の抵
抗R4を介してその出力電圧Vout2が与えられる。
【0021】したがって、定電流源F1,F2の電流値
が相互に等しいとき、ダイオード1個当りのアノード−
カソード間の電圧をVac〔V〕とし、電源ライン14
の電位を基準とすると、反転増幅器11の反転入力端に
はn×Vac〔V〕の電圧が生じ、非反転入力端にはm
×Vac〔V〕の電圧が生じる。したがって、2つの入
力端間には(n−m)×Vac〔V〕のオフセットを生
じることになる。したがって、ダイオード1個当りのア
ノード−カソード間の電圧の温度依存を△Vac〔V/
℃〕とすると、温度がT〔℃〕変動した場合、反転増幅
器11の入力端間のオフセットはT×(n−m)×△V
ac〔V〕変動し、該反転増幅器11の利得をA(=R
2/R1)とすると、A×T×(n−m)×△Vac
〔V〕が得られる。また、前記出力電圧Vout1は、 Vout1=−(Vin−Vbias)×R2/R1+
Vbias となり、相対的に緩やかな温度勾配の第2のバイアス電
圧Vbiasに、第2および第1のバイアス電圧Vbi
as,Vinの差が第2および第1の抵抗比倍されて加
算されることになる。したがって、略前記第1および第
2のバイアス電圧源B1,B2の相対精度で温度検出を
行うことができる。そして、前記第1および第2の抵抗
の抵抗値R1,R2を適宜設定することで、所望の温度
特性(温度勾配)を得ることができる。
【0022】また、前記反転増幅器11の出力電圧Vo
ut1を、反転入力端に第3の抵抗を介して基準電位が
与えられるとともに第4の抵抗を介して出力が帰還され
る非反転増幅器12の非反転入力端に与えて増幅するの
で、非反転増幅器12の出力電圧Vout2は、 Vout2=〔(1+R3/R4)〕×Vout1 Vout2=−〔(1+R3/R4)〕×(Vin−V
bias)×R2/R1+〔(1+R3/R4)〕×V
bias〕 となり、前記第3および第4の抵抗R3,R4の抵抗値
を適宜設定することで、前記反転増幅器11で得られた
温度特性を所望の出力電圧値とすることができる。
【0023】なお、ダイオードD11〜D1n;D21
〜D2mの素子面積をそのままとし、定電流源F1,F
2の電流値を相互に異なるようにすると、前記図2で示
すバイアス電圧Vin,Vbiasの温度勾配は一定の
ままで、電圧レベルを変化することができ、たとえば定
電流源F1の電流値を大きくすると、前記図2において
参照符Vinaで示すようになり、前記反転増幅器11
の入力端間のオフセットを拡大することができる。ま
た、ダイオードに代えて、前記図2で示すような線形の
温度特性を有する他の素子が用いられてもよい。ダイオ
ードは、半導体集積回路内に容易に作成することがで
き、ダイオードを用いることによって、該温度検出回路
の1チップ化が容易である。
【0024】本発明の実施の他の形態について、図3に
基づいて説明すれば、以下のとおりである。
【0025】図3は、本発明の実施の他の形態の温度検
出回路の電気的構成を示すブロック図である。この温度
検出回路は、前述の図1で示す温度検出回路に類似し、
対応する部分には、同一の参照符号を付して、その説明
を省略する。注目すべきは、この温度検出回路では、バ
イアス電圧源B1aとバイアス電圧源B2とは、ダイオ
ードの直列段数はm個で相互に等しく、かつバイアス電
圧源B1a側とバイアス電圧源B2側との素子面積が相
互に異なることである。この図3の例では、バイアス電
圧源B1aには、前記ダイオードD11〜D1mとそれ
ぞれ並列に、ダイオードD11a〜D1maが設けられ
ている。ダイオードD11〜D1m,D11a〜D1m
a;D21〜D2mの素子面積は相互に等しく、したが
ってバイアス電圧源B1a側はバイアス電圧源B2側の
2倍の素子面積となっている。
【0026】このように作成された電流能力の相互に異
なるダイオードD11〜D1m,D11a〜D1ma;
D21〜D2mに、定電流源F1,F2からの一定電流
によって動作点を固定し、動作させることで、相互に異
なる温度特性とすることができる。これによって、バイ
アス電圧源B1a側では前記ダイオード1段当りのアノ
ード−カソード間の電圧の温度依存△Vac〔V/℃〕
が大きくなり、前述の図1で示す温度検出回路と同様
に、該バイアス電圧源B1aの温度特性を比較的急峻に
することができる。
【0027】このように素子面積の差で温度特性を異な
らせることによって、同じ半導体集積回路内に、温度特
性の相互に異なるバイアス電圧源B1a,B2を容易に
形成することができる。
【0028】なお、上記のように同じ面積のダイオード
の並列接続段数でダイオード1段当りの素子面積を異な
るようにするのではなく、ダオード1個当りの面積を、
前記第1のバイアス電圧源B1と第2のバイアス電圧源
B2とで異なるように形成してもよい。
【0029】本発明の実施のさらに他の形態について、
図4〜図6に基づいて説明すれば、以下のとおりであ
る。
【0030】図4は、本発明の実施のさらに他の形態の
温度検出回路の電気的構成を示すブロック図である。こ
の温度検出回路は、前述の図1および図3で示す温度検
出回路に類似し、対応する部分には、同一の参照符号を
付して、その説明を省略する。注目すべきは、この温度
検出回路では、前記抵抗R1,R2および抵抗R3,R
4が、それぞれ多段に接続された直列抵抗R10,R1
1,…,R1iおよび直列抵抗R20,R21,…,R
2jで構成され、各直列抵抗R10〜R1i;R20〜
R1jの接続点間に、スイッチS10〜S1i;S20
〜S1jが設けられていることである。
【0031】この温度検出回路は、液晶駆動装置におけ
る電源回路として実現され、前記スイッチS10〜S1
i;S20〜S1jは、使用する液晶パネルの種類など
に適合して、図示しない外部機器によって増幅率調整レ
ジスタ21に設定された増幅率データ(スイッチングデ
ータ)がデコーダ22でデコードされて、前記スイッチ
S10〜S1iの内の何れか1つ、および前記スイッチ
S20〜S2jの内の何れか1つがONされる。
【0032】たとえば、スイッチS12とスイッチS2
jとがONされると、R1=R10+R11、R2=R
12+…+R1i、R3=R20+…+R2j−1、R
4=R2jとなる。スイッチS10〜S1i;S20〜
S2jは、たとえばMOSトランジスタやトランスミッ
ションゲート等のアナログスイッチで実現され、制御端
子が前記デコーダ22からのハイレベルまたはローレベ
ルの出力でON/OFF制御される。
【0033】前記スイッチS10〜S1i;S20〜S
2jは、前記バイアス電圧源B1,B2等とともに半導
体集積回路内に形成可能であるけれども、外付けとされ
てもよい。また、前記増幅率調整レジスタ21は、前記
増幅率データをラッチしておくために設けられ、前記増
幅率データは、前記スイッチS10〜S1i;S20〜
S2jの数に対応したビット数のパラレルデータまたは
シリアルデータの何れであってもよい(図4はパラレル
で示している)。
【0034】図5および図6は、上述のような温度検出
回路を前記液晶駆動装置における電源回路として搭載す
る液晶表示装置を説明するための図である。図5の例
は、パーソナルコンピュータ等に搭載される大画面の液
晶表示装置であり、図6の例は、携帯電話の端末装置等
に搭載される小画面の液晶表示装置である。図5の例で
は、液晶パネル31を駆動する駆動回路32,33に電
源供給を行う電源回路34として、該温度検出回路が用
いられている。図6の例では、液晶パネル41にTCP
42が接続され、そのTCP42上に実装される駆動回
路43内に、前記のように1チップ化に好適な該温度検
出回路が、電源回路44として用いられている。
【0035】前記液晶パネル31,41における液晶素
子の材料や液晶層の厚さによって異なる印加電圧−光透
過特性の傾きや閾値電圧Vth等の液晶パネルの温度特
性に対応して抵抗R1〜R4の抵抗値を設定することに
よって、さまざまな温度特性の液晶パネルに対応するこ
とができ、常に最適なコントラストで表示させることが
できる。
【0036】
【発明の効果】本発明の温度検出回路は、以上のよう
に、相互に異なる2つの温度特性のバイアス電圧源から
のバイアス電圧の差に対応した電圧を出力するようにし
た温度検出回路において、前記バイアス電圧の差を求め
る反転増幅器に対して、第1のバイアス電圧を反転入力
端に与える第1の抵抗と、前記反転入力端と出力端との
間に介在される第2の抵抗とを設け、前記反転増幅器の
出力を増幅する非反転増幅器と、予め定める基準電位を
その反転入力端に与える第3の抵抗と、反転入力端と出
力端との間に介在される第4の抵抗とを設ける。
【0037】それゆえ、前記第1および第2の抵抗の抵
抗値を適宜設定することで所望の温度特性を得ることが
でき、また第3および第4の抵抗の抵抗値を適宜設定す
ることで所望の出力電圧値を得ることができる。
【0038】また、本発明の温度検出回路は、以上のよ
うに、前記2つのバイアス電圧源を、それぞれ、定電流
源と、1または複数段のダイオードとの直列回路で構成
し、前記温度特性の差を前記ダイオードの素子面積の差
によって生じさせる。
【0039】それゆえ、同じ半導体集積回路内に、容易
に形成することができる。
【0040】さらにまた、本発明の液晶駆動装置は、以
上のように、前記請求項1または2記載の温度検出回路
を搭載し、前記非反転増幅器の出力電圧が液晶素子の駆
動に用いられる液晶駆動装置であって、前記第1および
第2の抵抗によって決定される反転増幅器のゲインを液
晶パネルの温度特性に適合させ、前記第3および第4の
抵抗ならびに基準電位によって決定される出力電圧レベ
ルを液晶素子の駆動に必要な電圧に適合させる。
【0041】それゆえ、前記第1〜第4の抵抗ならびに
基準電位を設定することで、使用される液晶パネルに適
合した任意の温度特性で、任意の駆動電圧を得ることが
でき、常に最適なコントラストで表示させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態の温度検出回路の電気的
構成を示すブロック図である。
【図2】図1で示す温度検出回路に用いられる2つのバ
イアス電圧源からのバイアス電圧の温度特性を示すグラ
フである。
【図3】本発明の実施の他の形態の温度検出回路の電気
的構成を示すブロック図である。
【図4】本発明の実施のさらに他の形態の温度検出回路
の電気的構成を示すブロック図である。
【図5】上述のような温度検出回路を液晶駆動装置にお
ける電源回路として搭載した大画面の液晶表示装置を説
明するための図である。
【図6】上述のような温度検出回路を液晶駆動装置にお
ける電源回路として搭載した小画面の液晶表示装置を説
明するための図である。
【図7】典型的な従来技術の温度検出回路の電気的構成
を示すブロック図である。
【符号の説明】
11 反転増幅器 12 非反転増幅器 13,14 電源ライン 21 増幅率調整レジスタ 22 デコーダ 31 液晶パネル 32,33 駆動回路 34 電源回路 41 液晶パネル 42 TCP 43 駆動回路 44 電源回路 B1,B1a 第1のバイアス電圧源 B2 第2のバイアス電圧源 D11,…,D1n;D21,…,D2m ダイオー
ド D11a〜D1ma ダイオード F1 第1の定電流源 F2 第2の定電流源 P1,P2 接続点 R1 第1の抵抗 R2 第2の抵抗 R3 第3の抵抗 R4 第4の抵抗 S10〜S1i;S20〜S1j スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09G 3/20 G09G 3/20 J 3/36 3/36 G01K 7/00 391C Fターム(参考) 2F056 JT01 JT08 2H093 NC57 NC63 ND02 ND44 5C006 AF51 AF52 AF53 AF54 AF78 BB01 BB11 BF25 BF36 BF42 FA19 5C080 AA10 BB01 BB05 DD20 FF01 FF03 JJ01 JJ02 JJ03 JJ05

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】相対的に急峻な温度特性を有する第1のバ
    イアス電圧源からの第1のバイアス電圧と、相対的に緩
    やかな温度特性を有する第2のバイアス電圧源からの第
    2のバイアス電圧とに対して、反転増幅器がそれらの差
    に対応した電圧を出力することで、略前記第1および第
    2のバイアス電圧源の相対精度で温度検出を行うことが
    できる温度検出回路であって、 前記第1のバイアス電圧を前記反転増幅器の反転入力端
    に与える第1の抵抗と、 前記反転増幅器の前記反転入力端と出力端との間に介在
    される第2の抵抗と、 前記反転増幅器の出力が非反転入力端に与えられる非反
    転増幅器と、 予め定める基準電位を前記非反転増幅器の反転入力端に
    与える第3の抵抗と、 前記非反転増幅器の前記反転入力端と出力端との間に介
    在される第4の抵抗とを含むことを特徴とする温度検出
    回路。
  2. 【請求項2】前記第1および第2のバイアス電圧源は、
    それぞれ、定電流源と、1または複数段のダイオードと
    の直列回路が電源ライン間に接続され、前記定電流源と
    ダイオードとの接続点から前記反転増幅器の入力端へバ
    イアス電圧を与えるように構成され、前記温度特性の差
    を前記ダイオードの素子面積の差によって生じさせるこ
    とを特徴とする請求項1記載の温度検出回路。
  3. 【請求項3】前記請求項1または2記載の温度検出回路
    を搭載し、前記非反転増幅器の出力電圧が液晶素子の駆
    動に用いられる液晶駆動装置であって、 前記第1および第2の抵抗によって決定される反転増幅
    器のゲインを液晶パネルの温度特性に適合させ、前記第
    3および第4の抵抗ならびに基準電位によって決定され
    る出力電圧レベルを液晶素子の駆動に必要な電圧に適合
    させることを特徴とする液晶駆動装置。
JP2000155289A 2000-05-25 2000-05-25 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置 Expired - Fee Related JP3558959B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000155289A JP3558959B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置
US09/835,417 US6831626B2 (en) 2000-05-25 2001-04-17 Temperature detecting circuit and liquid crystal driving device using same
TW090109651A TW526326B (en) 2000-05-25 2001-04-23 Temperature detecting circuit and liquid crystal driving device using same
KR10-2001-0023470A KR100386812B1 (ko) 2000-05-25 2001-04-30 온도검출회로 및 이를 사용한 액정구동장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000155289A JP3558959B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001336987A true JP2001336987A (ja) 2001-12-07
JP3558959B2 JP3558959B2 (ja) 2004-08-25

Family

ID=18660257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000155289A Expired - Fee Related JP3558959B2 (ja) 2000-05-25 2000-05-25 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6831626B2 (ja)
JP (1) JP3558959B2 (ja)
KR (1) KR100386812B1 (ja)
TW (1) TW526326B (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006071564A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Nec Corp 薄膜半導体素子及びその駆動回路並びにそれらを用いた装置
JP2007187559A (ja) * 2006-01-13 2007-07-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
WO2008038439A1 (fr) * 2006-09-28 2008-04-03 Sharp Kabushiki Kaisha Panneau d'affichage et dispositif d'affichage
KR20130123315A (ko) * 2012-05-02 2013-11-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 온도 센서 회로, 및 온도 센서 회로를 사용한 반도체 장치

Families Citing this family (50)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050052437A1 (en) * 2002-08-14 2005-03-10 Elcos Microdisplay Technology, Inc. Temperature sensor circuit for microdisplays
US7492344B2 (en) * 2004-08-13 2009-02-17 Himax Technologies Limited Temperature sensor for liquid crystal display device
US20060192597A1 (en) * 2005-02-04 2006-08-31 Johns Charles R Temperature sensing circuits, and temperature detection circuits including same
KR100714621B1 (ko) * 2006-01-24 2007-05-07 삼성전기주식회사 온도보상기능을 갖는 led 구동 장치
JP5099505B2 (ja) * 2008-02-15 2012-12-19 セイコーインスツル株式会社 ボルテージレギュレータ
US9509525B2 (en) * 2008-09-05 2016-11-29 Ketra, Inc. Intelligent illumination device
US20110063214A1 (en) * 2008-09-05 2011-03-17 Knapp David J Display and optical pointer systems and related methods
US8886047B2 (en) * 2008-09-05 2014-11-11 Ketra, Inc. Optical communication device, method and system
US10210750B2 (en) 2011-09-13 2019-02-19 Lutron Electronics Co., Inc. System and method of extending the communication range in a visible light communication system
US9276766B2 (en) * 2008-09-05 2016-03-01 Ketra, Inc. Display calibration systems and related methods
US8773336B2 (en) * 2008-09-05 2014-07-08 Ketra, Inc. Illumination devices and related systems and methods
US8159448B2 (en) * 2008-12-19 2012-04-17 Analog Devices, Inc. Temperature-compensation networks
US9386668B2 (en) 2010-09-30 2016-07-05 Ketra, Inc. Lighting control system
USRE49454E1 (en) 2010-09-30 2023-03-07 Lutron Technology Company Llc Lighting control system
US8749172B2 (en) 2011-07-08 2014-06-10 Ketra, Inc. Luminance control for illumination devices
JP2014130099A (ja) * 2012-12-28 2014-07-10 Toshiba Corp 温度検出回路、温度補償回路およびバッファ回路
US9237620B1 (en) 2013-08-20 2016-01-12 Ketra, Inc. Illumination device and temperature compensation method
USRE48955E1 (en) 2013-08-20 2022-03-01 Lutron Technology Company Llc Interference-resistant compensation for illumination devices having multiple emitter modules
US9769899B2 (en) 2014-06-25 2017-09-19 Ketra, Inc. Illumination device and age compensation method
US9360174B2 (en) 2013-12-05 2016-06-07 Ketra, Inc. Linear LED illumination device with improved color mixing
US9332598B1 (en) 2013-08-20 2016-05-03 Ketra, Inc. Interference-resistant compensation for illumination devices having multiple emitter modules
US9155155B1 (en) 2013-08-20 2015-10-06 Ketra, Inc. Overlapping measurement sequences for interference-resistant compensation in light emitting diode devices
US9578724B1 (en) 2013-08-20 2017-02-21 Ketra, Inc. Illumination device and method for avoiding flicker
US9247605B1 (en) 2013-08-20 2016-01-26 Ketra, Inc. Interference-resistant compensation for illumination devices
US9345097B1 (en) 2013-08-20 2016-05-17 Ketra, Inc. Interference-resistant compensation for illumination devices using multiple series of measurement intervals
USRE48956E1 (en) 2013-08-20 2022-03-01 Lutron Technology Company Llc Interference-resistant compensation for illumination devices using multiple series of measurement intervals
US9651632B1 (en) 2013-08-20 2017-05-16 Ketra, Inc. Illumination device and temperature calibration method
US9736895B1 (en) 2013-10-03 2017-08-15 Ketra, Inc. Color mixing optics for LED illumination device
US9146028B2 (en) 2013-12-05 2015-09-29 Ketra, Inc. Linear LED illumination device with improved rotational hinge
US9736903B2 (en) 2014-06-25 2017-08-15 Ketra, Inc. Illumination device and method for calibrating and controlling an illumination device comprising a phosphor converted LED
US9557214B2 (en) 2014-06-25 2017-01-31 Ketra, Inc. Illumination device and method for calibrating an illumination device over changes in temperature, drive current, and time
US9392663B2 (en) 2014-06-25 2016-07-12 Ketra, Inc. Illumination device and method for controlling an illumination device over changes in drive current and temperature
US10161786B2 (en) 2014-06-25 2018-12-25 Lutron Ketra, Llc Emitter module for an LED illumination device
US9510416B2 (en) 2014-08-28 2016-11-29 Ketra, Inc. LED illumination device and method for accurately controlling the intensity and color point of the illumination device over time
US9392660B2 (en) 2014-08-28 2016-07-12 Ketra, Inc. LED illumination device and calibration method for accurately characterizing the emission LEDs and photodetector(s) included within the LED illumination device
US9485813B1 (en) 2015-01-26 2016-11-01 Ketra, Inc. Illumination device and method for avoiding an over-power or over-current condition in a power converter
US9237612B1 (en) 2015-01-26 2016-01-12 Ketra, Inc. Illumination device and method for determining a target lumens that can be safely produced by an illumination device at a present temperature
US9237623B1 (en) 2015-01-26 2016-01-12 Ketra, Inc. Illumination device and method for determining a maximum lumens that can be safely produced by the illumination device to achieve a target chromaticity
JP2016183932A (ja) 2015-03-26 2016-10-20 株式会社東芝 温度センサ回路
US11030942B2 (en) 2017-10-13 2021-06-08 Jasper Display Corporation Backplane adaptable to drive emissive pixel arrays of differing pitches
US11272599B1 (en) 2018-06-22 2022-03-08 Lutron Technology Company Llc Calibration procedure for a light-emitting diode light source
US10951875B2 (en) 2018-07-03 2021-03-16 Raxium, Inc. Display processing circuitry
US11710445B2 (en) 2019-01-24 2023-07-25 Google Llc Backplane configurations and operations
US11637219B2 (en) 2019-04-12 2023-04-25 Google Llc Monolithic integration of different light emitting structures on a same substrate
US11238782B2 (en) 2019-06-28 2022-02-01 Jasper Display Corp. Backplane for an array of emissive elements
US11626062B2 (en) 2020-02-18 2023-04-11 Google Llc System and method for modulating an array of emissive elements
CN115362491A (zh) 2020-04-06 2022-11-18 谷歌有限责任公司 显示组件
US11538431B2 (en) 2020-06-29 2022-12-27 Google Llc Larger backplane suitable for high speed applications
EP4371104A1 (en) 2021-07-14 2024-05-22 Google LLC Backplane and method for pulse width modulation
CN113884208B (zh) * 2021-09-09 2023-10-10 芯原微电子(成都)有限公司 一种高精度过温检测电路

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1202895B (it) * 1979-02-27 1989-02-15 Ates Componenti Elettron Dispositivo di protezione termica per un componente elettronico a semiconduttore
DE3145245C2 (de) * 1980-11-18 1985-11-14 Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha, Shinjuku, Tokio/Tokyo Thermometer mit einem Quarzkristallschwinger
US4721636A (en) * 1984-11-01 1988-01-26 Southwall Technologies, Inc. Multiple pane glass unit with electrically conductive transparent film for use as radiation shield
JPS62102231A (ja) * 1985-10-29 1987-05-12 Casio Comput Co Ltd 液晶光シャッタの温度制御装置
JPH01266514A (ja) 1988-04-18 1989-10-24 Casio Comput Co Ltd 液晶パネル駆動回路
JPH0348737A (ja) 1989-07-17 1991-03-01 Nec Corp 温度検出回路
US5025248A (en) * 1989-09-01 1991-06-18 Microthermo Automatic temperature monitoring system
DE69319943T2 (de) * 1992-02-28 1999-02-11 Canon K.K., Tokio/Tokyo Flüssigkristallanzeigegerät
US5383083A (en) * 1992-05-19 1995-01-17 Pioneer Electronic Corporation Protective apparatus for power transistor
DE69213224T2 (de) * 1992-06-25 1997-02-20 Sgs Thomson Microelectronics Programmierbarer Ausgangsspannungsregler
DE4236333A1 (de) * 1992-10-28 1994-05-05 Bosch Gmbh Robert Monolithich integriertes MOS-Endstufenbauteil mit einer Übertemperatur-Schutzeinrichtung
US5723915A (en) * 1992-12-04 1998-03-03 Texas Instruments Incorporated Solid state power controller
JPH06258140A (ja) 1993-03-05 1994-09-16 Nikon Corp 温度補償回路
JP3584536B2 (ja) 1995-03-31 2004-11-04 セイコーエプソン株式会社 出力電圧の温度特性を変化させる機構を有する電圧源回路、およびその機構を有する液晶用安定化電源回路
JPH09229778A (ja) 1996-02-26 1997-09-05 Hitachi Ltd Ic化温度センサ
DE19742930C1 (de) * 1997-09-29 1998-11-19 Siemens Ag Leistungsschalter mit Überlastschutz
JP3892591B2 (ja) 1998-09-22 2007-03-14 東芝テック株式会社 液晶表示装置
JP3656805B2 (ja) * 1999-01-22 2005-06-08 パイオニア株式会社 温度補償機能を有する有機el素子駆動装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006071564A (ja) * 2004-09-06 2006-03-16 Nec Corp 薄膜半導体素子及びその駆動回路並びにそれらを用いた装置
US8009162B2 (en) 2004-09-06 2011-08-30 Nec Corporation Thin-film semiconductor device, display device including the same, and method of driving display device
US8399951B2 (en) 2004-09-06 2013-03-19 Nec Corporation Thin-film semiconductor device
JP2007187559A (ja) * 2006-01-13 2007-07-26 Ricoh Co Ltd 温度検出回路
WO2008038439A1 (fr) * 2006-09-28 2008-04-03 Sharp Kabushiki Kaisha Panneau d'affichage et dispositif d'affichage
US8102486B2 (en) 2006-09-28 2012-01-24 Sharp Kabushiki Kaisha Display panel and display device
KR20130123315A (ko) * 2012-05-02 2013-11-12 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 온도 센서 회로, 및 온도 센서 회로를 사용한 반도체 장치
JP2013250262A (ja) * 2012-05-02 2013-12-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 温度センサ回路、及び温度センサ回路を用いた半導体装置
US10001414B2 (en) 2012-05-02 2018-06-19 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Temperature sensor circuit and semiconductor device including temperature sensor circuit
KR102025722B1 (ko) * 2012-05-02 2019-09-26 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 온도 센서 회로, 및 온도 센서 회로를 사용한 반도체 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US20010048421A1 (en) 2001-12-06
KR20010107561A (ko) 2001-12-07
US6831626B2 (en) 2004-12-14
JP3558959B2 (ja) 2004-08-25
KR100386812B1 (ko) 2003-06-09
TW526326B (en) 2003-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001336987A (ja) 温度検出回路およびそれを用いる液晶駆動装置
US8963640B2 (en) Amplifier for output buffer and signal processing apparatus using the same
JP2003017954A (ja) 高周波電力増幅回路
JP3360025B2 (ja) 定電圧回路
CN112787640B (zh) 使用具有不同栅极工作功能的fet器件的参考发生器
EP2005582B1 (en) Converter with parallel coupled differential input pairs
EP1955437B1 (en) Small signal amplifier with large signal output boost stage
US6795052B2 (en) Voltage reference with controllable temperature coefficients
JP4598729B2 (ja) 増幅回路、および、増幅される信号の増幅方法
US20060245521A1 (en) DC stabilization circuit for organic electroluminescent display device and power supply using the same
JP2010017013A (ja) チャージポンプ回路
CN109933117B (zh) 基准电压发生器
JPH1141040A (ja) 差動増幅回路および負荷駆動回路
US6175265B1 (en) Current supply circuit and bias voltage circuit
US11257442B2 (en) Control circuit, light source driving device and display apparatus
JP2004185426A (ja) 定電圧発生回路
US6278324B1 (en) Analog amplifier with monotonic transfer function
US6411154B1 (en) Bias stabilizer circuit and method of operation
EP0903847A1 (en) Amplifier circuit
JP2000284754A (ja) 電源装置
US6639451B2 (en) Current reference circuit for low supply voltages
JP2000134045A (ja) 電圧・電流変換回路
JPS58194417A (ja) ダイオ−ド
JP2004118331A (ja) 電源供給回路
JP2003298349A (ja) 電圧制御型発振回路

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040518

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040519

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080528

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140528

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees