JP2001313793A - 画像読取装置、シェーディング補正方法、及び記憶媒体 - Google Patents

画像読取装置、シェーディング補正方法、及び記憶媒体

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JP2001313793A JP2000131646A JP2000131646A JP2001313793A JP 2001313793 A JP2001313793 A JP 2001313793A JP 2000131646 A JP2000131646 A JP 2000131646A JP 2000131646 A JP2000131646 A JP 2000131646A JP 2001313793 A JP2001313793 A JP 2001313793A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シェーディング補正板におけるゴミ等の欠陥
を検出し、それによる影響を除去する。 【解決手段】 シェーディング補正板上のホームポジシ
ョン以外の複数の変位位置において(S1,S5)、ラ
インセンサにシェーディング補正板をそれぞれ読み取ら
せ、この読取データに基づいて、各変位位置毎及び各光
電変換素子毎にシェーディング補正用データを算出する
(S2,S6)。算出されたシェーディング補正用デー
タを基に各変位位置に亘って各光電変換素子毎の平均値
を算出し、平均シェーディング補正用データを求める
(S9)。シェーディング補正板上のホームポジション
においてラインセンサにシェーディング補正板を読み取
らせ、得られた読取データに対して、前記平均シェーデ
ィング補正用データによりシェーディング補正を行い
(図10のS12)、この補正後データを基に、少なく
ともシェーディング補正板の欠陥位置を特定する(S1
7)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、画像読取装置、シ
ェーディング補正方法、及び記憶媒体に関し、特に、主
走査方向に沿って1次元配列された複数の光電変換素子
から成るラインセンサによって、一様な基準濃度を持ち
主走査方向に延びたシェーディング補正板を読み取り、
前記各光電変換素子の出力に基づいてシェーディング補
正用データを作成して記憶し、前記各光電変換素子によ
る原稿画像の読み取りデータに対して、前記シェーディ
ング補正用データによりシェーディング補正を行う画像
読取装置、該画像読取装置に適用されるシェーディング
補正方法、及び該シェーディング補正方法を実行するプ
ログラムを記憶した記憶媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】図1および図2は、一般的な画像読取装
置の概略構成を示す側断面図及び斜視図である。
【0003】原稿台10の上に、原稿12を保持した原
稿カバーが置かれる。原稿12の下部からは、光源15
によって光が照射される。原稿12に反射した光は、レ
ンズ14を介してラインセンサ20に与えられる。ライ
ンセンサ20は、主走査方向に沿って1次元配列された
光電変換素子(CCD)を有しており、各CCDは受け
た光を電気信号に変換する。これにより、原稿12の主
走査方向の画像(1走査線分)に対応する電気信号が得
られる。
【0004】1走査線分の原稿読み取りを終えると、モ
ータ62によって読み取りユニット13を矢印Xの方向
(副走査方向)に1走査線分だけ移動し、同様にして次
の1走査線分を読み取る。これを繰り返し、原稿12全
体の読み取りを行う。
【0005】ところで、ラインセンサ20によって読み
取られた画像信号は、各CCDの感度バラツキや、暗電
流変動、光学系による光量ムラの影響を受ける。つま
り、ラインセンサ20を構成するx個のCCDについ
て、光源15の光量と各CCDの出力との関係は図3
(A)のようになる。すなわち、各CCD毎に入出力特
性が異なる。そこで、これらの影響を排除して、x個全
てのCCDの入出力特性を図3(B)に示すように一致
させるべく、各CCDの出力補正(「シェーディング補
正」と呼ばれる)が行われている。
【0006】このシェーディング補正は、以下のように
して行う。
【0007】モータ62により読み取りユニット13を
移動し、原稿台10の端部に設けられたシェーディング
補正板(標準白色板)11を読み取る位置(以下、「ホ
ームポジション」と呼ぶ)に移動する。この位置におい
て、光源15を点灯してシェーディング補正板11を照
射した時にラインセンサ20の各CCDから得られた出
力を補正用データW(n)として記憶する。(n)はn
番目のCCDを意味する。そして次に、光源15を消灯
(もしくは、光を遮断)した時にラインセンサ20の各
CCDから得られた出力を補正用データB(n)として
記憶する。
【0008】次に、原稿12の画像を読み取った時に
は、これらの補正用データを読み出して、各CCD毎に
下式に示すようなシェーディング補正を行う。
【0009】SD(n)=k・〔(S(n)−B
(n)〕/〔W(n)−B(n)〕 ここで、S(n)はn番目のCCDの出力データ、B
(n)はn番目のCCDの消灯時補正用データ、W
(n)はn番目のCCDの点灯時補正用データ、k
(n)はn番目のCCDの係数、SD(n)はn番目の
CCDの出力データに対するシェーディング補正済デー
タである。
【0010】図4は、シェーディング補正回路を示すブ
ロック図である。
【0011】まずラインセンサ20のn番目のCCDか
ら出力されたアナログ信号を、アンプ31を介してA/
Dコンバータ32によってディジタル値S(n)に変換
する。次に、シェーディング補正回路33において、n
番目のCCDからのディジタル出力値S(n)からn番
目のCCDの消灯時補正用データB(n)を減じ、シェ
ーディング補正用データShC(n)を乗ずることによ
ってシェーディング補正済のデータSD(n)を得る。
シェーディング補正用データShC(n)は、k(n)
/〔W(n)−B(n)〕である。
【0012】なお、各画素(CCD)毎に消灯時補正用
データB(n)、点灯時補正用データW(n)、シェー
ディング補正用データShC(n)等が異なるので、本
補正はラインセンサの画素毎に実施される。
【0013】このようにして、各CCD間の出力ムラが
補正され、原稿12のより忠実な読み取りが実現され
る。
【0014】しかしながら、上記のような従来のシェー
ディング補正方法においては、次のような問題点があっ
た。
【0015】シェーディング補正板11にゴミやホコリ
が付着していると、点灯時補正用データW(n)が誤っ
たデータとなってしまう。すなわち、シェーディング補
正板11上のゴミやホコリ等の欠陥がある部分では、こ
れらの欠陥によってCCDの出力レベルが低下する。し
たがって、その部分で出力レベルが低下した点灯時補正
用データW(n)を使用してシェーディング補正を行う
と、ゴミやホコリのあった部分に対応するCCDの出力
が過剰に補正され、読取画像にスジ状のムラが発生して
しまう。
【0016】例えば、図5(A)に示すように、ゴミ2
1がシェーディング補正板11に付着していたと仮定す
る。このシェーディング補正板11を読み取って得られ
た点灯時補正用データW(n)は、図5(B)に示すよ
うに、ゴミ21の影響によって、位置βにおいてレベル
が低下する。シェーディング補正においては、この点灯
時補正用データW(n)を用いて、補正済のデータが、
図5(D)のように全てのCCDの位置において平坦に
なるように、補正が行われる。そのために、シェーディ
ング補正用データShC(n)は、図5(C)に示すよ
うな、ムラ部分γを持ったデータとなる。
【0017】ここで、濃度の一様な原稿を読み込んだと
すると、各CCDからは図6(A)に示すような出力デ
ータS(n)が得られる。この出力データS(n)に対
して、図6(B)(=図5(C))に示すシェーディン
グ補正用データShC(n)を乗算してシェーディング
補正を施すと、得られたシェーディング補正済のデータ
SD(n)は、図6(C)に示すような、突起δを有し
たデータとなってしまう。
【0018】つまり、ゴミ21によるシェーディング補
正用データShC(n)の過剰補正部分(図6(B)の
突起γ)の影響によって、シェーディング補正済のデー
タSD(n)にムラ部分δが生じてしまう。これが、読
取画像のスジ状のムラとなって現れるという問題があっ
た。
【0019】こうした問題を解決するための提案とし
て、例えば、画像読み取り前にシェーディング補正板を
読み取ってシェーディング補正用データを作成し、次に
副走査方向に変位した別の場所でシェーディング補正板
を読み取り、上記シェーディング補正用データを用いて
シェーディング補正を実施し、その結果から、先にシェ
ーディング補正板を読み取った箇所におけるシェーディ
ング補正板の欠陥の有無を検出している。欠陥が存在し
た場合は、副走査方向に変位し、欠陥の存在しない箇所
を探し出して、そこでシェーディング補正用データを作
成している。欠陥が存在しない箇所を探し当てることが
できなかった場合には、欠陥が最も少ない箇所でシェー
ディング補正用データを作成している。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、副走査
方向に変位した別の場所でシェーディング補正板を読み
取る方法の上記の従来のシェーディング補正では、下記
の問題があった。
【0021】(1)画像読み取り前にこのような作業を
毎回行うため、画像読み取りに長い時間を費やしてしま
う虞がある。
【0022】(2)シェーディング補正板に汚れが存在
しない副走査方向位置が存在することを前提とするた
め、シェーディング補正板に欠陥が少なくなるような厳
しい品質管理が必要とされる。
【0023】(3)シェーディング補正板に欠陥が存在
しない副走査方向位置が見つからなかった場合には、欠
陥が最も少ない箇所でシェーディング補正用データを作
成するので、どうしても欠陥の影響が画像に現れてしま
う。
【0024】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであって、シェーディング補正板におけるゴミ等
の欠陥を検出し、それによる影響を除去する画像読取装
置、シェーディング補正方法、及び記憶媒体を提供する
ことを目的とする。
【0025】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1記載の発明によれば、主走査方向に沿って
1次元配列された複数の光電変換素子から成るラインセ
ンサによって、一様な基準濃度を持ち主走査方向に延び
たシェーディング補正板を読み取り、前記各光電変換素
子の出力に基づいてシェーディング補正用データを作成
して記憶し、前記各光電変換素子による原稿画像の読み
取りデータに対して、前記シェーディング補正用データ
によりシェーディング補正を行う画像読取装置におい
て、前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位
置から副走査方向に変位した複数の異なる変位位置にお
いて前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそ
れぞれ読み取らせる第1の読取制御手段と、前記第1の
読取制御手段の制御によって前記ラインセンサの各光電
変換素子が出力する読取データに基づいて、前記各変位
位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェーディング補正
用データを算出する第1の算出手段と、前記第1の算出
手段が算出したシェーディング補正用データを基に前記
各変位位置に亘って前記各光電変換素子毎の平均値を算
出し、平均シェーディング補正用データとして記憶する
第2の算出手段と、前記シェーディング補正板上の前記
補正用データ作成位置において前記ラインセンサに前記
シェーディング補正板を読み取らせる第2の読取制御手
段と、前記第2の読取制御手段の制御によって前記ライ
ンセンサの各光電変換素子が出力する読取データに対し
て、前記平均シェーディング補正用データによりシェー
ディング補正を行う第1のシェーディング補正手段と、
前記第1のシェーディング補正手段によってシェーディ
ング補正を行われた読取データを基に、少なくとも前記
シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥
位置特定手段とを有することを特徴とする。
【0026】請求項18記載の発明によれば、主走査方
向に沿って1次元配列された複数の光電変換素子から成
るラインセンサによって、一様な基準濃度を持ち主走査
方向に延びたシェーディング補正板を読み取り、前記各
光電変換素子の出力に基づいてシェーディング補正用デ
ータを作成して記憶し、前記各光電変換素子による原稿
画像の読み取りデータに対して、前記シェーディング補
正用データによりシェーディング補正を行う画像読取装
置において、前記シェーディング補正板上の補正用デー
タ作成位置から副走査方向に変位した複数の異なる変位
位置において前記ラインセンサに前記シェーディング補
正板をそれぞれ読み取らせる第1の読取制御手段と、前
記第1の読取制御手段の制御によって前記ラインセンサ
の各光電変換素子が出力する読取データを、前記各変位
位置に亘って平均化して前記各光電変換素子毎の平均値
を算出する第1の算出手段と、前記第1の算出手段が算
出した平均値を基に前記各光電変換素子毎のシェーディ
ング補正用データを算出し、平均シェーディング補正用
データとして記憶する第2の算出手段と、前記シェーデ
ィング補正板上の前記補正用データ作成位置において前
記ラインセンサに前記シェーディング補正板を読み取ら
せる第2の読取制御手段と、前記第2の読取制御手段の
制御によって前記ラインセンサの各光電変換素子が出力
する読取データに対して、前記平均シェーディング補正
用データによりシェーディング補正を行う第1のシェー
ディング補正手段と、前記第1のシェーディング補正手
段によってシェーディング補正を行われた読取データを
基に、少なくとも前記シェーディング補正板の欠陥位置
を特定する第1の欠陥位置特定手段とを有することを特
徴とする。
【0027】また、請求項35記載の発明によれば、主
走査方向に沿って1次元配列された複数の光電変換素子
から成るラインセンサによって、一様な基準濃度を持ち
主走査方向に延びたシェーディング補正板を読み取り、
前記各光電変換素子の出力に基づいてシェーディング補
正用データを作成して記憶し、前記各光電変換素子によ
る原稿画像の読み取りデータに対して、前記シェーディ
ング補正用データによりシェーディング補正を行う画像
読取装置に適用されるシェーディング補正方法におい
て、前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位
置から副走査方向に変位した複数の異なる変位位置にお
いて前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそ
れぞれ読み取らせる第1の読取制御ステップと、前記第
1の読取制御ステップの実行によって前記ラインセンサ
の各光電変換素子が出力する読取データに基づいて、前
記各変位位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェーディ
ング補正用データを算出する第1の算出ステップと、前
記第1の算出ステップが算出したシェーディング補正用
データを基に前記各変位位置に亘って前記各光電変換素
子毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用デー
タとして記憶する第2の算出ステップと、前記シェーデ
ィング補正板上の前記補正用データ作成位置において前
記ラインセンサに前記シェーディング補正板を読み取ら
せる第2の読取制御ステップと、前記第2の読取制御ス
テップの実行によって前記ラインセンサの各光電変換素
子が出力する読取データに対して、前記平均シェーディ
ング補正用データによりシェーディング補正を行う第1
のシェーディング補正ステップと、前記第1のシェーデ
ィング補正ステップによってシェーディング補正を行わ
れた読取データを基に、少なくとも前記シェーディング
補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥位置特定ステッ
プとを有することを特徴とする。
【0028】請求項43記載の発明によれば、主走査方
向に沿って1次元配列された複数の光電変換素子から成
るラインセンサによって、一様な基準濃度を持ち主走査
方向に延びたシェーディング補正板を読み取り、前記各
光電変換素子の出力に基づいてシェーディング補正用デ
ータを作成して記憶し、前記各光電変換素子による原稿
画像の読み取りデータに対して、前記シェーディング補
正用データによりシェーディング補正を行う画像読取装
置に適用されるシェーディング補正方法において、前記
シェーディング補正板上の補正用データ作成位置から副
走査方向に変位した複数の異なる変位位置において前記
ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞれ読
み取らせる第1の読取制御ステップと、前記第1の読取
制御ステップの実行によって前記ラインセンサの各光電
変換素子が出力する読取データを、前記各変位位置に亘
って平均化して前記各光電変換素子毎の平均値を算出す
る第1の算出ステップと、前記第1の算出ステップが算
出した平均値を基に前記各光電変換素子毎のシェーディ
ング補正用データを算出し、平均シェーディング補正用
データとして記憶する第2の算出ステップと、前記シェ
ーディング補正板上の前記補正用データ作成位置におい
て前記ラインセンサに前記シェーディング補正板を読み
取らせる第2の読取制御ステップと、前記第2の読取制
御ステップの実行によって前記ラインセンサの各光電変
換素子が出力する読取データに対して、前記平均シェー
ディング補正用データによりシェーディング補正を行う
第1のシェーディング補正ステップと、前記第1のシェ
ーディング補正ステップによってシェーディング補正を
行われた読取データを基に、少なくとも前記シェーディ
ング補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥位置特定ス
テップとを有することを特徴とする。
【0029】さらに、請求項44記載の発明によれば、
主走査方向に沿って1次元配列された複数の光電変換素
子から成るラインセンサによって、一様な基準濃度を持
ち主走査方向に延びたシェーディング補正板を読み取
り、前記各光電変換素子の出力に基づいてシェーディン
グ補正用データを作成して記憶し、前記各光電変換素子
による原稿画像の読み取りデータに対して、前記シェー
ディング補正用データによりシェーディング補正を行う
画像読取装置に適用されるシェーディング補正方法をプ
ログラムとして記憶した、コンピュータにより読み出し
可能な記憶媒体において、前記シェーディング補正方法
が、前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位
置から副走査方向に変位した複数の異なる変位位置にお
いて前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそ
れぞれ読み取らせる第1の読取制御ステップと、前記第
1の読取制御ステップの実行によって前記ラインセンサ
の各光電変換素子が出力する読取データに基づいて、前
記各変位位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェーディ
ング補正用データを算出する第1の算出ステップと、前
記第1の算出ステップが算出したシェーディング補正用
データを基に前記各変位位置に亘って前記各光電変換素
子毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用デー
タとして記憶する第2の算出ステップと、前記シェーデ
ィング補正板上の前記補正用データ作成位置において前
記ラインセンサに前記シェーディング補正板を読み取ら
せる第2の読取制御ステップと、前記第2の読取制御ス
テップの実行によって前記ラインセンサの各光電変換素
子が出力する読取データに対して、前記平均シェーディ
ング補正用データによりシェーディング補正を行う第1
のシェーディング補正ステップと、前記第1のシェーデ
ィング補正ステップによってシェーディング補正を行わ
れた読取データを基に、少なくとも前記シェーディング
補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥位置特定ステッ
プとを有することを特徴とする。
【0030】請求項54記載の発明によれば、主走査方
向に沿って1次元配列された複数の光電変換素子から成
るラインセンサによって、一様な基準濃度を持ち主走査
方向に延びたシェーディング補正板を読み取り、前記各
光電変換素子の出力に基づいてシェーディング補正用デ
ータを作成して記憶し、前記各光電変換素子による原稿
画像の読み取りデータに対して、前記シェーディング補
正用データによりシェーディング補正を行う画像読取装
置に適用されるシェーディング補正方法をプログラムと
して記憶した、コンピュータにより読み出し可能な記憶
媒体において、前記シェーディング補正方法が、前記シ
ェーディング補正板上の補正用データ作成位置から副走
査方向に変位した複数の異なる変位位置において前記ラ
インセンサに前記シェーディング補正板をそれぞれ読み
取らせる第1の読取制御ステップと、前記第1の読取制
御ステップの実行によって前記ラインセンサの各光電変
換素子が出力する読取データを、前記各変位位置に亘っ
て平均化して前記各光電変換素子毎の平均値を算出する
第1の算出ステップと、前記第1の算出ステップが算出
した平均値を基に前記各光電変換素子毎のシェーディン
グ補正用データを算出し、平均シェーディング補正用デ
ータとして記憶する第2の算出ステップと、前記シェー
ディング補正板上の前記補正用データ作成位置において
前記ラインセンサに前記シェーディング補正板を読み取
らせる第2の読取制御ステップと、前記第2の読取制御
ステップの実行によって前記ラインセンサの各光電変換
素子が出力する読取データに対して、前記平均シェーデ
ィング補正用データによりシェーディング補正を行う第
1のシェーディング補正ステップと、前記第1のシェー
ディング補正ステップによってシェーディング補正を行
われた読取データを基に、少なくとも前記シェーディン
グ補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥位置特定ステ
ップとを有することを特徴とする。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面を参照して説明する。
【0032】本発明に係る画像読取装置の一実施の形態
の構成は、図1及び図2に示す画像読取装置と基本的に
同一であるので、本発明に係る画像読取装置の説明では
それらを流用する。
【0033】図7は、本発明の実施の形態におけるシェ
ーディング補正板11を示す図であり、ラインセンサ2
0側から見た図である。
【0034】図中22は、シェーディング補正板11上
のホームポジションであり、23〜25は、シェーディ
ング補正板11上のゴミ、汚れ等の欠陥部分である。従
来はホームポジション22でシェーディング補正用デー
タを得ていた。本発明では、シェーディング補正板11
のホームポジション22以外の複数の副走査方向位置で
シェーディング補正用データを得て、これを利用して、
ホームポジション22で得られたシェーディング補正板
11の画像に含まれるゴミ等の欠陥位置を特定し、さら
に欠陥位置におけるデータをホームポジション22以外
の位置で得たデータで置き換えることによって、欠陥の
影響を除去したシェーディング補正用データを得るよう
にしている。以下、本発明の手法を詳細に説明する。
【0035】図8は、本発明に係る画像読取装置に含ま
れるシェーディング補正回路33によって行われるシェ
ーディング補正用データの作成処理の手順を示すフロー
チャートである。この処理では、シェーディング補正板
11のホームポジション22以外の複数の副走査方向位
置でシェーディング補正用データを得て、これの各CC
D毎の平均値BShC(n)を算出する。
【0036】読み取りユニット13をモータ62で駆動
し(S1)、これによって、副走査方向においてホーム
ポジション22と異なったシェーディング補正板11上
の位置で、1主走査線分の画像を読み取り、これを基に
シェーディング補正用データShC(n)を算出し、こ
れをシェーディング補正回路33内のメモリ(図示せ
ず)に記憶する(S2)。そして、読み取られた1主走
査線分の画像のライン数Nを1とする(S3)。このと
き得られるシェーディング補正用データの一例は、図9
に示すようになる。
【0037】図9(A)は、ゴミの付着がないシェーデ
ィング補正板11を示す図であり、図9(B)は、この
シェーディング補正板11を読み取って得られた点灯時
補正用データW(n)を示す図であり、図9(C)は、
この場合のシェーディング補正用データShC(n)を
示す図であり、図9(D)は、シェーディング補正板1
1を読み取ったデータに対してシェーディング補正を行
った後のデータを示す図である。もし、シェーディング
補正板11にゴミ等が付着していれば、図5に示すよう
になる。
【0038】さらに、読み取りユニット13をモータ6
2で駆動して、副走査方向においてホームポジション2
2と異なったシェーディング補正板11上の位置で、1
主走査線分の画像を読み取ってシェーディング補正用デ
ータShC(n)を作成するか否かを判断する(S
4)。さらに作成するならば、ホームポジション22と
異なる副走査方向の未だ読み取っていない箇所に変位し
(S5)、1主走査線分の画像を読み取り、これを基に
シェーディング補正用データShC(n)を算出する。
そして、算出されたシェーディング補正用データShC
(n)を、既にメモリに記憶されているシェーディング
補正用データデータShC(n)に各CCD毎に加算す
る(S6)。ここで、ライン数Nをインクリメントし
(S7)、ステップS4へ戻る。
【0039】ステップS4で、さらに副走査方向におけ
る別のシェーディング補正板11上の位置で、1主走査
線分の画像を読み取ってシェーディング補正用データS
hC(n)を作成することは行わないと判断した場合、
メモリに記憶されているシェーディング補正用データの
各CCD毎の加算値を、ライン数N(加算回数相当)で
除算して(S8)、各CCD毎の平均値BShC(n)
を決定する(S9)。すなわち、平均値BShC(n)
は、シェーディング補正板11上のホームポジション2
2以外の各位置におけるシェーディング補正用データS
hC(n)を平均化して得られたシェーディング補正用
データである。
【0040】なおここでは、シェーディング補正用デー
タShC(n)の平均値をシェーディング補正用データ
BShC(n)としたが、これに代わって、シェーディ
ング補正用データShC(n)を作成するためのデータ
(図9(B)に示すデータ)の平均値からシェーディン
グ補正用データBShC(n)を作成してもよい。
【0041】図10及び図11は、シェーディング補正
回路33によって行われる、ホームポジション22で得
られるシェーディング補正用データの欠陥位置を特定し
て、該欠陥位置における補正係数を作成する処理の手順
を示すフローチャートである。
【0042】読み取りユニット13をホームポジション
22に移動させて(S11)シェーディング補正板11
を読み取り、平均されたシェーディング補正用データB
ShC(n)によってシェーディング補正を実施する
(S12)。
【0043】ホームポジション22でシェーディング補
正板11を読み取ったときに欠陥部分26があった場
合、得られたデータは図12(B)に示すようになる。
また、図12(C)に示すように、平均化シェーディン
グ補正用データBShC(n)に不適切な部分γがあっ
たとする。この場合に、図12(B)に示す読み取りデ
ータを、図12(C)に示す平均化シェーディング補正
用データBShC(n)でシェーディング補正した場
合、そのシェーディング補正された後のデータは図12
(D)のようになる。本来データが平坦になるべき図1
2(D)において、シェーディング補正板11のホーム
ポジション22に存在する欠陥部分26に起因して出力
レベルの低下部分ηが発生し、平均化シェーディング補
正用データBShC(n)の不適切な部分γに起因して
出力レベルの上昇部分ξが発生する。
【0044】これらの欠陥部分26や不適切な部分γを
検出するために、各画素(各CCD出力)に着目し(S
13)、補正後のデータ(図12(D)に示すデータ)
を上側基準値及び下側基準値と比較する(S14,S1
6)。上側基準値及び下側基準値は、本来得られるべき
平坦な出力レベルに対し、所定値だけ大きいレベル及び
小さいレベルである。そして、着目画素における補正後
データが上側基準値よりも大きいとき、着目画素位置に
おいて平均化シェーディング補正用データBShC
(n)に不適切な部分が存在すると判断し、その画素位
置と、不適切な部分が存在する旨を記憶する(S1
5)。また、着目画素における補正後データが下側基準
値よりも小さいとき、着目画素位置においてシェーディ
ング補正板11のホームポジション22に欠陥が存在す
ると判断し、その画素位置と、ホームポジションの欠陥
が存在する旨を記憶する(S17)。以上のステップS
13〜S17の処理を、全部の画素(全CCD)に対し
て実行する(S18)。
【0045】ところで、シェーディング補正板11に含
まれる欠陥部分26の大きさは、読み取りユニット13
をホームポジション22の位置に制御する際の位置制御
精度に比べて小さいことが多い。そのため、読み取りユ
ニット13をホームポジション22の位置に移動して
も、欠陥部分26を検出できる場合と、検出できない場
合とがある。そこで、欠陥部分26を必ず検出できるよ
うにするため、ホームポジション22付近の副走査方向
の複数ラインにわたってシェーディング補正板11を読
み取り、欠陥位置およびその種別を、すでに検出され記
憶されている情報に加える(S19,S20)。こうす
ることによって、ホームポジション22の位置制御精度
による影響を低減することができる。
【0046】次に、欠陥(ここでは欠陥部分26及び不
適切な部分γの両方を意味する)の位置を中心として主
走査方向両側に向かって、欠陥と判断されない画素(C
CD)を探す(S21)。最初に見つかった画素の位置
を「右側位置、左側位置」と設定する。なお、最初に見
つかった画素の位置から所定画素数だけ欠陥から離れた
位置を「右側位置、左側位置」と設定してもよい。
【0047】「右側位置」及び「左側位置」の各画素に
おけるシェーディング補正用データBShC(右側位
置)及びBShC(左側位置)を用いて、次の式(1)
に従って、「欠陥位置」の画素におけるシェーディング
補正用データBShC(欠陥位置)の補正係数(欠陥位
置)を求める(S22)。
【0048】 補正係数(欠陥位置)=BShC(欠陥位置)/{BShC(右側位置)+B ShC(左側位置)} …(1) なお、次の式(2)に従って、「欠陥位置」の画素にお
けるシェーディング補正用データBShC(欠陥位置)
の補正係数(欠陥位置)を求めてもよい。
【0049】 補正係数(欠陥位置)=BShC(欠陥位置)/{(BShC(右側位置)+ BShC(左側位置))/2} …(2) そして、欠陥位置、欠陥の種別に加えて補正係数、右側
位置、左側位置をひとまとまりにしてメモリに記憶する
(S23)。
【0050】ステップS21〜S23の処理を、ステッ
プS15、S17で特定された全ての欠陥(不適切な部
分)に対して実行する(S24)。
【0051】なお上記実施の形態では、欠陥(不適切な
部分)を全て特定し、補正係数を算出し、補正係数を含
めた各種情報をメモリに記憶することを説明したが、例
えばメモリ容量が少ないような場合は、欠陥の種別を情
報から外して欠陥位置、補正係数、右側位置、左側位置
をひとまとまりにしてメモリに記憶してもよい。また、
全ての欠陥に関する情報をメモリに記憶するのではな
く、ホームポジションまたはその近辺の欠陥のみに関す
る情報をメモリに記憶するようにしてもよい。
【0052】なお、図8及び図10に示す各処理は、図
13に示す後述の画像読み取り前処理に先だって実行さ
れる。
【0053】図13は、シェーディング補正回路33に
よって行われる、ホームポジション22で得られるシェ
ーディング補正用データを修正する処理の手順を示すフ
ローチャートである。
【0054】従来の画像読み取り前処理と同様にして、
読み取りユニット13をホームポジション22に移動し
て(S31)シェーディング補正板11を読み取り(S
32)、各画素(各CCD)毎のシェーディング補正用
データRShC(n)を作成する(S33)。
【0055】次に、メモリに記憶した欠陥毎のひとまと
まりの欠陥位置、補正係数、右側位置、左側位置の情報
のうちから1つを取り出す。そして、次の式(3)に基
づき、欠陥の画素におけるシェーディング補正用データ
RShC(欠陥位置)を算出する(S35)。下式
(3)は補正係数に前記式(1)を採用した場合であ
る。
【0056】 RShC(欠陥位置)={RShC(右側位置)+RShC(左側位置)}* 補正係数(欠陥位置) …(3) もし、補正係数に前記式(2)を採用した場合には、次
の式(4)に基づき、欠陥の画素におけるシェーディン
グ補正用データRShC(欠陥位置)を算出する。
【0057】 RShC(欠陥位置)={(RShC(右側位置)+RShC(左側位置)) /2}*補正係数(欠陥位置) …(4) ステップS35の処理を、メモリに記憶されている全て
の欠陥に対して実施する(S36)。
【0058】以上説明したように、シェーディング補正
板11のホームポジション22以外でシェーディング補
正用のデータを得、これを利用して、シェーディング補
正板11のホームポジション22におけるゴミ等の欠陥
位置を特定する。そして、欠陥の位置におけるシェーデ
ィング補正用データをホームポジション22以外の位置
で得たシェーディング補正用データを利用して修正し、
最終的なシェーディング補正用データを得るようにして
いる。
【0059】本実施の形態では、シェーディング補正用
データの修正をシェーディング補正板11の画像読み取
り時に行っているが、多くの時間を要する欠陥検知をシ
ェーディング補正板11の画像読み取り時よりも前に実
施するようにする。これによって、前記課題に示した
(1)画像読み取りに長い時間を費やしてしまう問題が
解決する。
【0060】また本実施の形態では、シェーディング補
正板11に欠陥箇所が多く含まれていても、欠陥がない
箇所のシェーディング補正データを利用して、欠陥のあ
るシェーディング補正データを修正してしまうため、前
記課題に示した(2)シェーディング補正板に欠陥が少
なくなるような厳しい品質管理が必要でなくなる。
【0061】さらに本発明では、同様に、シェーディン
グ補正板11に欠陥箇所が多く含まれていても、欠陥が
ない箇所のシェーディング補正データを利用して、欠陥
のあるシェーディング補正データを修正してしまうた
め、前記課題に示した(3)欠陥が最も少ない箇所でシ
ェーディング補正用データを作成することによって欠陥
の影響が画像に現れてしまうという問題も回避される。
【0062】なお、本発明を、複数の機器(例えば、ホ
ストコンピュータ、インタフェース機器、リーダ、プリ
ンタ等)から構成されるシステムに適用しても、あるい
は1つの機器からなる装置(例えば、複写機、ファクシ
ミリ装置等)に適用してもよい。
【0063】また、前述した実施形態の機能を実現する
ソフトウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体
を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムある
いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記
憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出して実行
することによっても、本発明が達成されることは言うま
でもない。
【0064】この場合、記憶媒体から読み出されたプロ
グラムコード自体が、前述の実施形態の機能を実現する
ことになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体
が本発明を構成することになる。
【0065】プログラムコードを供給するための記憶媒
体として、例えば、フロッピィディスク、ハードディス
ク、光ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、CD
−R、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ROMな
どを用いることができる。
【0066】また、コンピュータが読み出したプログラ
ムコードを実行することにより、前述した実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指
示に基づき、コンピュータ上で稼働しているOSなどが
実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって
前述した実施形態の機能が実現される場合も、本発明に
含まれることは言うまでもない。
【0067】さらに、記憶媒体から読み出されたプログ
ラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボー
ドやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わ
るメモリに書き込まれた後、そのプログラムコードの指
示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに
備わるCPUなどが実際の処理の一部または全部を行
い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現さ
れる場合も、本発明に含まれることは言うまでもない。
【0068】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、シ
ェーディング補正板のホームポジション以外でシェーデ
ィング補正用のデータを得、これを利用して、シェーデ
ィング補正板のホームポジションにおけるゴミ等の欠陥
位置を特定する。そして、欠陥の位置におけるシェーデ
ィング補正用データをホームポジション以外の位置で得
たシェーディング補正用データを利用して修正し、最終
的なシェーディング補正用データを得るようにしてい
る。
【0069】これにより、特別な装置を付加することな
く、欠陥の影響を受けないシェーディング補正用データ
が得られ、その結果、欠陥に起因する画像むら等を除去
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一般的な画像読取装置の概略構成を示す側断面
図である。
【図2】一般的な画像読取装置の概略構成を示す斜視図
である。
【図3】(A)は、入出力特性が異なるx個のCCD
の、光源の光量に対する出力特性を示す図であり、
(B)は、シェーディング補正によって、x個全てのC
CDの入出力特性を一致させるようにした場合のCCD
の出力特性を示す図である。
【図4】シェーディング補正回路を示すブロック図であ
る。
【図5】(A)は、ゴミが付着したシェーディング補正
板を示す図であり、(B)は、このシェーディング補正
板を読み取って得られた点灯時補正用データW(n)を
示す図であり、(C)は、この場合のシェーディング補
正用データShC(n)を示す図であり、(D)は、シ
ェーディング補正板を読み取ったデータに対してシェー
ディング補正を行った後のデータを示す図である。
【図6】(A)は、均一な濃度の原稿を読み取って得ら
れた各CCDの出力データS(n)を示す図であり、
(B)は、図5(C)に示すシェーディング補正用デー
タShC(n)を示す図であり、(C)は、出力データ
S(n)に対してシェーディング補正を行った後のデー
タSD(n)を示す図である。
【図7】本発明の実施の形態におけるシェーディング補
正板を示す図である。
【図8】本発明に係る画像読取装置に含まれるシェーデ
ィング補正回路によって行われるシェーディング補正用
データの作成処理の手順を示すフローチャートである。
【図9】(A)は、ゴミの付着がないシェーディング補
正板を示す図であり、(B)は、このシェーディング補
正板を読み取って得られた点灯時補正用データW(n)
を示す図であり、(C)は、この場合のシェーディング
補正用データShC(n)を示す図であり、(D)は、
シェーディング補正板を読み取ったデータに対してシェ
ーディング補正を行った後のデータを示す図である。
【図10】シェーディング補正回路によって行われる、
ホームポジションで得られるシェーディング補正用デー
タの欠陥位置を特定して、該欠陥位置における補正係数
を作成する処理の手順を示すフローチャート(1/2)
である。
【図11】シェーディング補正回路によって行われる、
ホームポジションで得られるシェーディング補正用デー
タの欠陥位置を特定して、該欠陥位置における補正係数
を作成する処理の手順を示すフローチャート(2/2)
である。
【図12】(A)は、ホームポジションに欠陥部分があ
るシェーディング補正板を示す図であり、(B)は、こ
のシェーディング補正板をホームポジションで読み取っ
た場合に得られるデータを示す図であり、(C)は、不
適切な部分γを含む平均化シェーディング補正用データ
BShC(n)を示す図であり、(D)は、図12
(B)に示す読み取りデータを、図12(C)に示す平
均化シェーディング補正用データBShC(n)でシェ
ーディング補正した場合に得られるシェーディング補正
された後のデータを示す図である。
【図13】シェーディング補正回路によって行われる、
ホームポジションで得られるシェーディング補正用デー
タを修正する処理の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10:原稿台ガラス 11:シェーディング補正板 12:原稿 13:読み取りユニット 14:レンズ 15:照明 20:ラインセンサ 21:ゴミ 22:ホームポジション 23〜26:欠陥部分 62:モータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 本保 綱男 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 2H108 AA01 CA03 CB01 2H110 AC02 AC06 AC11 AC14 CC02 5B047 AA01 DA06 DC06 5C072 AA01 BA15 DA12 FB12 FB25 RA16 UA02 XA01 5C077 LL04 LL13 MM03 MM27 PP06 PP46 PP71 PQ12 PQ22 SS01

Claims (54)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 主走査方向に沿って1次元配列された複
    数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一様
    な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング補
    正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づいて
    シェーディング補正用データを作成して記憶し、前記各
    光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置において、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御手段と、 前記第1の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに基づいて、
    前記各変位位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェーデ
    ィング補正用データを算出する第1の算出手段と、 前記第1の算出手段が算出したシェーディング補正用デ
    ータを基に前記各変位位置に亘って前記各光電変換素子
    毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用データ
    として記憶する第2の算出手段と、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御手段と、 前記第2の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに対して、前
    記平均シェーディング補正用データによりシェーディン
    グ補正を行う第1のシェーディング補正手段と、 前記第1のシェーディング補正手段によってシェーディ
    ング補正を行われた読取データを基に、少なくとも前記
    シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥
    位置特定手段とを有することを特徴とする画像読取装
    置。
  2. 【請求項2】 前記シェーディング補正板上の前記補正
    用データ作成位置近傍において前記ラインセンサに前記
    シェーディング補正板を読み取らせる第3の読取制御手
    段と、 前記第3の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに対して、前
    記平均シェーディング補正用データによりシェーディン
    グ補正を行う第2のシェーディング補正手段と、 前記第2のシェーディング補正手段によってシェーディ
    ング補正を行われた読取データを基に、少なくとも前記
    シェーディング補正板の前記補正用データ作成位置近傍
    の欠陥位置を特定する第2の欠陥位置特定手段とを更に
    有することを特徴とする請求項1記載の画像読取装置。
  3. 【請求項3】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記第
    2のシェーディング補正手段によってシェーディング補
    正を行われた各光電変換素子毎の読取データを所定値範
    囲と比較し、前記読取データが前記所定値範囲を超えて
    いるとき、少なくとも該超えている読取データに対応す
    る前記シェーディング補正板上に欠陥が存在すると判断
    することを特徴とする請求項2記載の画像読取装置。
  4. 【請求項4】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記第
    1のシェーディング補正手段によってシェーディング補
    正を行われた各光電変換素子毎の読取データを所定値範
    囲と比較し、前記読取データが前記所定値範囲を超えて
    いるとき、少なくとも該超えている読取データに対応す
    る前記シェーディング補正板上に欠陥が存在すると判断
    することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか
    に記載の画像読取装置。
  5. 【請求項5】 前記第1の欠陥位置特定手段によって特
    定された前記シェーディング補正板の欠陥位置に最も近
    く、前記欠陥位置の主走査両側の2つの非欠陥位置を検
    出する検出手段を更に有することを特徴とする請求項1
    乃至請求項4のいずれかに記載の画像読取装置。
  6. 【請求項6】 前記第1のシェーディング補正手段によ
    ってシェーディング補正を行われた読取データのうち、
    前記検出手段によって検出された両側特定位置における
    データを基に補正係数を算出する補正係数算出手段を更
    に有することを特徴とする請求項5記載の画像読取装
    置。
  7. 【請求項7】 前記補正係数は、前記平均シェーディン
    グ補正データのうち、前記欠陥位置におけるデータを、
    前記検出手段によって検出された非欠陥位置におけるデ
    ータの和で除算して得られる値であることを特徴とする
    請求項6記載の画像読取装置。
  8. 【請求項8】 前記補正係数は、前記平均シェーディン
    グ補正データのうち、前記欠陥位置におけるデータを、
    前記検出手段によって検出された非欠陥位置におけるデ
    ータの平均値で除算して得られる値であることを特徴と
    する請求項6記載の画像読取装置。
  9. 【請求項9】 前記シェーディング補正板上の前記補正
    用データ作成位置において前記ラインセンサに前記シェ
    ーディング補正板を読み取らせる第4の読取制御手段
    と、 前記第4の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに基づいて、
    前記各光電変換素子毎にシェーディング補正用データを
    算出する第3の算出手段と、 前記第3の算出手段によって算出されたシェーディング
    補正用データを、前記補正係数により修正する修正手段
    とを更に有することを特徴とする請求項6記載の画像読
    取装置。
  10. 【請求項10】 前記修正手段は、前記第3の算出手段
    によって算出された各光電変換素子毎のシェーディング
    補正用データのうち、前記両側特定位置における各デー
    タの和に、前記欠陥位置における前記補正係数を乗算す
    ることを特徴とする請求項9記載の画像読取装置。
  11. 【請求項11】 前記修正手段は、前記第3の算出手段
    によって算出された各光電変換素子毎のシェーディング
    補正用データのうち、前記両側特定位置における各デー
    タの平均値に、前記欠陥位置における前記補正係数を乗
    算することを特徴とする請求項9記載の画像読取装置。
  12. 【請求項12】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記
    平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位置
    と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作
    成位置に存在する欠陥位置を特定することを特徴とする
    請求項1記載の画像読取装置。
  13. 【請求項13】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記
    平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位置
    と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作
    成位置近傍に存在する欠陥位置を特定することを特徴と
    する請求項2記載の画像読取装置。
  14. 【請求項14】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記
    読取データが前記所定値範囲の上側基準よりも大きい場
    合に前記平均シェーディング補正用データに欠陥が存在
    すると判断し、前記読取データが前記所定値範囲の下側
    基準よりも小さい場合に前記シェーディング補正板上の
    前記補正用データ作成位置近傍に欠陥が存在すると判断
    することを特徴とする請求項3記載の画像読取装置。
  15. 【請求項15】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記
    読取データが前記所定値範囲の上側基準よりも大きい場
    合に前記平均シェーディング補正用データに欠陥が存在
    すると判断し、前記読取データが前記所定値範囲の下側
    基準よりも小さい場合に前記シェーディング補正板上の
    前記補正用データ作成位置に欠陥が存在すると判断する
    ことを特徴とする請求項4記載の画像読取装置。
  16. 【請求項16】 前記検出手段により検出された前記非
    欠陥位置から主走査方向両側に所定距離だけ離れた位置
    を新たに非欠陥位置と定義することを特徴とする請求項
    5記載の画像読取装置。
  17. 【請求項17】 前記非欠陥位置を前記欠陥位置ととも
    に記憶することを特徴とする請求項5または請求項16
    に記載の画像読取装置。
  18. 【請求項18】 主走査方向に沿って1次元配列された
    複数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一
    様な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング
    補正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づい
    てシェーディング補正用データを作成して記憶し、前記
    各光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置において、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御手段と、 前記第1の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データを、前記各変
    位位置に亘って平均化して前記各光電変換素子毎の平均
    値を算出する第1の算出手段と、 前記第1の算出手段が算出した平均値を基に前記各光電
    変換素子毎のシェーディング補正用データを算出し、平
    均シェーディング補正用データとして記憶する第2の算
    出手段と、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御手段と、 前記第2の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに対して、前
    記平均シェーディング補正用データによりシェーディン
    グ補正を行う第1のシェーディング補正手段と、 前記第1のシェーディング補正手段によってシェーディ
    ング補正を行われた読取データを基に、少なくとも前記
    シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の欠陥
    位置特定手段とを有することを特徴とする画像読取装
    置。
  19. 【請求項19】 前記シェーディング補正板上の前記補
    正用データ作成位置近傍において前記ラインセンサに前
    記シェーディング補正板を読み取らせる第3の読取制御
    手段と、 前記第3の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに対して、前
    記平均シェーディング補正用データによりシェーディン
    グ補正を行う第2のシェーディング補正手段と、 前記第2のシェーディング補正手段によってシェーディ
    ング補正を行われた読取データを基に、少なくとも前記
    シェーディング補正板の前記補正用データ作成位置近傍
    の欠陥位置を特定する第2の欠陥位置特定手段とを更に
    有することを特徴とする請求項18記載の画像読取装
    置。
  20. 【請求項20】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記
    第2のシェーディング補正手段によってシェーディング
    補正を行われた各光電変換素子毎の読取データを所定値
    範囲と比較し、前記読取データが前記所定値範囲を超え
    ているとき、少なくとも該超えている読取データに対応
    する前記シェーディング補正板上に欠陥が存在すると判
    断することを特徴とする請求項19記載の画像読取装
    置。
  21. 【請求項21】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記
    第1のシェーディング補正手段によってシェーディング
    補正を行われた各光電変換素子毎の読取データを所定値
    範囲と比較し、前記読取データが前記所定値範囲を超え
    ているとき、少なくとも該超えている読取データに対応
    する前記シェーディング補正板上に欠陥が存在すると判
    断することを特徴とする請求項18乃至請求項20のい
    ずれかに記載の画像読取装置。
  22. 【請求項22】 前記第1の欠陥位置特定手段によって
    特定された前記シェーディング補正板の欠陥位置に最も
    近く、前記欠陥位置の主走査両側の2つの非欠陥位置を
    検出する検出手段を更に有することを特徴とする請求項
    18乃至請求項21のいずれかに記載の画像読取装置。
  23. 【請求項23】 前記第1のシェーディング補正手段に
    よってシェーディング補正を行われた読取データのう
    ち、前記検出手段によって検出された両側特定位置にお
    けるデータを基に補正係数を算出する補正係数算出手段
    を更に有することを特徴とする請求項22記載の画像読
    取装置。
  24. 【請求項24】 前記補正係数は、前記平均シェーディ
    ング補正データのうち、前記欠陥位置におけるデータ
    を、前記検出手段によって検出された非欠陥位置におけ
    るデータの和で除算して得られる値であることを特徴と
    する請求項23記載の画像読取装置。
  25. 【請求項25】 前記補正係数は、前記平均シェーディ
    ング補正データのうち、前記欠陥位置におけるデータ
    を、前記検出手段によって検出された非欠陥位置におけ
    るデータの平均値で除算して得られる値であることを特
    徴とする請求項23記載の画像読取装置。
  26. 【請求項26】 前記シェーディング補正板上の前記補
    正用データ作成位置において前記ラインセンサに前記シ
    ェーディング補正板を読み取らせる第4の読取制御手段
    と、 前記第4の読取制御手段の制御によって前記ラインセン
    サの各光電変換素子が出力する読取データに基づいて、
    前記各光電変換素子毎にシェーディング補正用データを
    算出する第3の算出手段と、 前記第3の算出手段によって算出されたシェーディング
    補正用データを、前記補正係数により修正する修正手段
    とを更に有することを特徴とする請求項23記載の画像
    読取装置。
  27. 【請求項27】 前記修正手段は、前記第3の算出手段
    によって算出された各光電変換素子毎のシェーディング
    補正用データのうち、前記両側特定位置における各デー
    タの和に、前記欠陥位置における前記補正係数を乗算す
    ることを特徴とする請求項26記載の画像読取装置。
  28. 【請求項28】 前記修正手段は、前記第3の算出手段
    によって算出された各光電変換素子毎のシェーディング
    補正用データのうち、前記両側特定位置における各デー
    タの平均値に、前記欠陥位置における前記補正係数を乗
    算することを特徴とする請求項26記載の画像読取装
    置。
  29. 【請求項29】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記
    平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位置
    と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作
    成位置に存在する欠陥位置を特定することを特徴とする
    請求項18記載の画像読取装置。
  30. 【請求項30】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記
    平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位置
    と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作
    成位置近傍に存在する欠陥位置を特定することを特徴と
    する請求項19記載の画像読取装置。
  31. 【請求項31】 前記第2の欠陥位置特定手段は、前記
    読取データが前記所定値範囲の上側基準よりも大きい場
    合に前記平均シェーディング補正用データに欠陥が存在
    すると判断し、前記読取データが前記所定値範囲の下側
    基準よりも小さい場合に前記シェーディング補正板上の
    前記補正用データ作成位置近傍に欠陥が存在すると判断
    することを特徴とする請求項20記載の画像読取装置。
  32. 【請求項32】 前記第1の欠陥位置特定手段は、前記
    読取データが前記所定値範囲の上側基準よりも大きい場
    合に前記平均シェーディング補正用データに欠陥が存在
    すると判断し、前記読取データが前記所定値範囲の下側
    基準よりも小さい場合に前記シェーディング補正板上の
    前記補正用データ作成位置に欠陥が存在すると判断する
    ことを特徴とする請求項21記載の画像読取装置。
  33. 【請求項33】 前記検出手段により検出された前記非
    欠陥位置から主走査方向両側に所定距離だけ離れた位置
    を新たに非欠陥位置と定義することを特徴とする請求項
    22記載の画像読取装置。
  34. 【請求項34】 前記非欠陥位置を前記欠陥位置ととも
    に記憶することを特徴とする請求項22または請求項3
    3に記載の画像読取装置。
  35. 【請求項35】 主走査方向に沿って1次元配列された
    複数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一
    様な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング
    補正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づい
    てシェーディング補正用データを作成して記憶し、前記
    各光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置に適用されるシェーディン
    グ補正方法において、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御ステップと、 前記第1の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに基づい
    て、前記各変位位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェ
    ーディング補正用データを算出する第1の算出ステップ
    と、 前記第1の算出ステップが算出したシェーディング補正
    用データを基に前記各変位位置に亘って前記各光電変換
    素子毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用デ
    ータとして記憶する第2の算出ステップと、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御ステップと、前記第2
    の読取制御ステップの実行によって前記ラインセンサの
    各光電変換素子が出力する読取データに対して、前記平
    均シェーディング補正用データによりシェーディング補
    正を行う第1のシェーディング補正ステップと、 前記第1のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の
    欠陥位置特定ステップとを有することを特徴とするシェ
    ーディング補正方法。
  36. 【請求項36】 前記シェーディング補正板上の前記補
    正用データ作成位置近傍において前記ラインセンサに前
    記シェーディング補正板を読み取らせる第3の読取制御
    ステップと、 前記第3の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに対し
    て、前記平均シェーディング補正用データによりシェー
    ディング補正を行う第2のシェーディング補正ステップ
    と、 前記第2のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の前記補正用データ作成位置
    近傍の欠陥位置を特定する第2の欠陥位置特定ステップ
    とを更に有することを特徴とする請求項35記載のシェ
    ーディング補正方法。
  37. 【請求項37】 前記第1の欠陥位置特定ステップによ
    って特定された前記シェーディング補正板の欠陥位置に
    最も近く、前記欠陥位置の主走査両側の2つの非欠陥位
    置を検出する検出ステップを更に有することを特徴とす
    る請求項35または請求項36に記載のシェーディング
    補正方法。
  38. 【請求項38】 前記平均シェーディング補正データの
    うち、前記検出ステップによって検出された非欠陥位置
    におけるデータを基に補正係数を算出する補正係数算出
    ステップを更に有することを特徴とする請求項37記載
    のシェーディング補正方法。
  39. 【請求項39】 前記シェーディング補正板上の前記補
    正用データ作成位置において前記ラインセンサに前記シ
    ェーディング補正板を読み取らせる第4の読取制御ステ
    ップと、 前記第4の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに基づい
    て、前記各光電変換素子毎にシェーディング補正用デー
    タを算出する第3の算出ステップと、 前記第3の算出ステップによって算出されたシェーディ
    ング補正用データを、前記補正係数により修正する修正
    ステップとを更に有することを特徴とする請求項38記
    載のシェーディング補正方法。
  40. 【請求項40】 前記第2の欠陥位置特定ステップは、
    前記平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位
    置と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ
    作成位置近傍に存在する欠陥位置を特定することを特徴
    とする請求項36記載の画像読取方法。
  41. 【請求項41】 前記検出ステップにより検出された前
    記非欠陥位置から主走査方向両側に所定距離だけ離れた
    位置を新たに非欠陥位置と定義することを特徴とする請
    求項37記載の画像読取方法。
  42. 【請求項42】 前記非欠陥位置を前記欠陥位置ととも
    に記憶することを特徴とする請求項37または請求項4
    1に記載の画像読取方法。
  43. 【請求項43】 主走査方向に沿って1次元配列された
    複数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一
    様な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング
    補正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づい
    てシェーディング補正用データを作成して記憶し、前記
    各光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置に適用されるシェーディン
    グ補正方法において、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御ステップと、 前記第1の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データを、前記
    各変位位置に亘って平均化して前記各光電変換素子毎の
    平均値を算出する第1の算出ステップと、 前記第1の算出ステップが算出した平均値を基に前記各
    光電変換素子毎のシェーディング補正用データを算出
    し、平均シェーディング補正用データとして記憶する第
    2の算出ステップと、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御ステップと、前記第2
    の読取制御ステップの実行によって前記ラインセンサの
    各光電変換素子が出力する読取データに対して、前記平
    均シェーディング補正用データによりシェーディング補
    正を行う第1のシェーディング補正ステップと、 前記第1のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の
    欠陥位置特定ステップとを有することを特徴とするシェ
    ーディング補正方法。
  44. 【請求項44】 主走査方向に沿って1次元配列された
    複数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一
    様な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング
    補正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づい
    てシェーディング補正用データを作成して記憶し、前記
    各光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置に適用されるシェーディン
    グ補正方法をプログラムとして記憶した、コンピュータ
    により読み出し可能な記憶媒体において、 前記シェーディング補正方法が、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御ステップと、 前記第1の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに基づい
    て、前記各変位位置毎及び前記各光電変換素子毎にシェ
    ーディング補正用データを算出する第1の算出ステップ
    と、 前記第1の算出ステップが算出したシェーディング補正
    用データを基に前記各変位位置に亘って前記各光電変換
    素子毎の平均値を算出し、平均シェーディング補正用デ
    ータとして記憶する第2の算出ステップと、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御ステップと、 前記第2の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに対し
    て、前記平均シェーディング補正用データによりシェー
    ディング補正を行う第1のシェーディング補正ステップ
    と、 前記第1のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の
    欠陥位置特定ステップとを有することを特徴とする記憶
    媒体。
  45. 【請求項45】 前記シェーディング補正方法が、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置近傍において前記ラインセンサに前記シェーディング
    補正板を読み取らせる第3の読取制御ステップと、 前記第3の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに対し
    て、前記平均シェーディング補正用データによりシェー
    ディング補正を行う第2のシェーディング補正ステップ
    と、 前記第2のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の前記補正用データ作成位置
    近傍の欠陥位置を特定する第2の欠陥位置特定ステップ
    とを更に有することを特徴とする請求項44記載の記憶
    媒体。
  46. 【請求項46】 前記シェーディング補正方法が、 前記第1の欠陥位置特定ステップによって特定された前
    記シェーディング補正板の欠陥位置に最も近く、前記欠
    陥位置の主走査両側の2つの非欠陥位置を検出する検出
    ステップを更に有することを特徴とする請求項44また
    は請求項45に記載の記憶媒体。
  47. 【請求項47】 前記シェーディング補正方法が、 前記平均シェーディング補正データのうち、前記検出ス
    テップによって検出された非欠陥位置におけるデータを
    基に補正係数を算出する補正係数算出ステップを更に有
    することを特徴とする請求項46記載の記憶媒体。
  48. 【請求項48】 前記シェーディング補正方法が、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第4の読取制御ステップと、 前記第4の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに基づい
    て、前記各光電変換素子毎にシェーディング補正用デー
    タを算出する第3の算出ステップと、 前記第3の算出ステップによって算出されたシェーディ
    ング補正用データを、前記補正係数により修正する修正
    ステップとを更に有することを特徴とする請求項47記
    載の記憶媒体。
  49. 【請求項49】 前記第2の欠陥位置特定ステップは、
    前記平均シェーディング補正用データに存在する欠陥位
    置と、前記シェーディング補正板上の前記補正用データ
    作成位置近傍に存在する欠陥位置を特定することを特徴
    とする請求項45記載の記憶媒体。
  50. 【請求項50】 前記非欠陥位置を前記欠陥位置ととも
    に記憶することを特徴とする請求項46記載の記憶媒
    体。
  51. 【請求項51】 前記非欠陥位置から所定距離だけ離れ
    た位置を前記欠陥位置とともに記憶することを特徴とす
    る請求項46記載の記憶媒体。
  52. 【請求項52】 前記検出ステップにより検出された前
    記非欠陥位置から主走査方向両側に所定距離だけ離れた
    位置を新たに非欠陥位置と定義することを特徴とする請
    求項46記載の記憶媒体。
  53. 【請求項53】 前記非欠陥位置を前記欠陥位置ととも
    に記憶することを特徴とする請求項46または請求項5
    2に記載の記憶媒体。
  54. 【請求項54】 主走査方向に沿って1次元配列された
    複数の光電変換素子から成るラインセンサによって、一
    様な基準濃度を持ち主走査方向に延びたシェーディング
    補正板を読み取り、前記各光電変換素子の出力に基づい
    てシェーディング補正用データを作成して記憶し、前記
    各光電変換素子による原稿画像の読み取りデータに対し
    て、前記シェーディング補正用データによりシェーディ
    ング補正を行う画像読取装置に適用されるシェーディン
    グ補正方法をプログラムとして記憶した、コンピュータ
    により読み出し可能な記憶媒体において、 前記シェーディング補正方法が、 前記シェーディング補正板上の補正用データ作成位置か
    ら副走査方向に変位した複数の異なる変位位置において
    前記ラインセンサに前記シェーディング補正板をそれぞ
    れ読み取らせる第1の読取制御ステップと、 前記第1の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データを、前記
    各変位位置に亘って平均化して前記各光電変換素子毎の
    平均値を算出する第1の算出ステップと、 前記第1の算出ステップが算出した平均値を基に前記各
    光電変換素子毎のシェーディング補正用データを算出
    し、平均シェーディング補正用データとして記憶する第
    2の算出ステップと、 前記シェーディング補正板上の前記補正用データ作成位
    置において前記ラインセンサに前記シェーディング補正
    板を読み取らせる第2の読取制御ステップと、 前記第2の読取制御ステップの実行によって前記ライン
    センサの各光電変換素子が出力する読取データに対し
    て、前記平均シェーディング補正用データによりシェー
    ディング補正を行う第1のシェーディング補正ステップ
    と、 前記第1のシェーディング補正ステップによってシェー
    ディング補正を行われた読取データを基に、少なくとも
    前記シェーディング補正板の欠陥位置を特定する第1の
    欠陥位置特定ステップとを有することを特徴とする記憶
    媒体。
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