JP2001276557A - 水素ガス分離ユニット - Google Patents

水素ガス分離ユニット

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JP2001276557A
JP2001276557A JP2000099674A JP2000099674A JP2001276557A JP 2001276557 A JP2001276557 A JP 2001276557A JP 2000099674 A JP2000099674 A JP 2000099674A JP 2000099674 A JP2000099674 A JP 2000099674A JP 2001276557 A JP2001276557 A JP 2001276557A
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Japan
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hydrogen gas
gas separation
separation unit
metal support
plate
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JP2000099674A
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Inventor
Kinji Saijo
謹二 西條
Shinji Osawa
真司 大澤
Hiroaki Okamoto
浩明 岡本
Kazuo Yoshida
一雄 吉田
Tsutomu Seki
務 関
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Tokyo Gas Co Ltd
Toyo Kohan Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Gas Co Ltd
Toyo Kohan Co Ltd
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  • Hydrogen, Water And Hydrids (AREA)
  • Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 耐熱性、機械的強度に優れ、高純度の水素ガ
スの分離が可能であり、かつ高温においても水素ガス分
離性能に優れる水素ガス分離ユニットを提供する。 【解決手段】 金属支持体11と水素ガス分離性を有す
る材料(パラジウム合金箔)13とをクラッド加工して
積層し、その後クラッド切板Kの金属支持体11の部分
を、エッチング液を使用して選択的にエッチングするこ
とによって、下層の水素ガス分離性を有する材料13を
露出させ、水素ガス分離ユニットAを得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水素含有ガス中の
水素ガスを分離する水素ガス分離ユニットに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、水素含有ガスから水素ガスを精製
回収する方法としては、吸着剤を利用した圧力スイング
吸着法(PSA法)で不純物を分離除去する方法や、有
機または無機の水素分離膜によって水素ガスを分離する
方法などがある。水素分離膜を用いる方法は、省エネル
ギー、分離効率、装置構成の簡易性、運転容易性などの
点で注目されている。
【0003】水素分離膜としては、ポリイミドやポリス
ルホンなどの有機高分子膜、多孔質ガラスや多孔質セラ
ミックスなどの無機多孔質膜、パラジウムまたはパラジ
ウム合金膜などがある。例えば、特開平7−12445
3号公報においては、金属支持体の片面にパラジウムと
他の金属の薄膜をそれぞれ電気メッキ法により交互積層
し、金属支持体の片面にエッチング法により細孔を多数
穿孔し、熱処理してパラジウム合金化し、さらに、第2
の金属板をエッチングして細孔を多数穿孔したものを別
に作成し、それらを積層して水素分離膜を形成する工程
が記載されている。
【0004】しかし、上記のようにステンレス鋼板等の
金属支持板上に直接密着性の良いめっき層を形成するこ
とは困難であるという問題点があり、最後に行う熱処理
工程でのパラジウムとニッケルとの合金層なども一定の
厚みに安定的に形成されないおそれがある。
【0005】さらに、めっき処理は、ピンホールなどの
欠陥が出やすく、パラジウムなどの金属薄膜に孔が形成
されたものができるという問題がある。特に複層めっき
処理の場合にはめっき浴組成及び電流、温度等のめっき
条件の管理も厳密にする必要があり煩雑な工程となる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、水素
分離膜と支持体とが極めて優れた密着性を有してた水素
ガス分離性ユニットを提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の水素ガス分離ユ
ニットは、金属支持体の少なくとも片面に水素ガス分離
性を有する材料をクラッド加工法により積層してクラッ
ド板を製造し、得られたクラッド板を切断してクラッド
切板とし、金属支持体にエッチング法により細孔を多数
穿孔してなることを特徴とする。この水素ガス分離ユニ
ットにおいては、水素ガス分離性を有する材料が、パラ
ジウムまたはパラジウム合金箔であることが望ましい。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の水素ガス分離ユニ
ットを図面を用いて説明する。図1は、金属支持体11
の片面に水素ガス分離性を有する材料(例えば、パラジ
ウム合金箔)13をクラッド加工して得られた水素ガス
分離ユニットAの断面図概略図を示す。
【0009】図1に示すように、水素ガス分離ユニット
Aは、直径が10〜500μm、好ましくは50〜20
0μmの円形状又は楕円形状の細孔bが形成されてい
る。直径が10μm未満ではガスの流通抵抗が大きく、
一方500μmを超えると、パラジウム合金箔13が細
孔b内に食い込み、パラジウム合金箔13に亀裂を生じ
やすくなる。なお、細孔bの形成密度は、150〜30
00個/cm2 程度が好ましい。
【0010】また、この細孔bの形状は、図2に示すよ
うに、一方の径が極めて長い長孔状であっても差し支え
ない。細孔bの配置状態は、どのような並べ方であって
も差し支えないが、千鳥状に並べると孔形成密度を高め
ることができ好ましい。
【0011】金属支持体11は、ステンレス鋼板、ニッ
ケル又はニッケル基合金板、銅又は銅合金板、鉄合金板
などの金属板が好ましい。金属支持体11は、材質とし
てセラミックスなどの多孔質の無機材料を用いることも
できる。後述するクラッド加工法によれば、セラミック
スなどの無機材料とパラジウム合金箔との接合も容易で
ある。
【0012】金属支持体11の厚みは、10〜500μ
mであるのが好ましく、50〜200μm程度であるの
がさらに好ましい。厚みが10μm未満であると支持体
としての機械的強度に欠け、一方500μmを超えると
エッチングに時間がかかり好ましくない。なお、金属支
持体11の形状は、図1に示すような板状であるのが好
ましいが、管状であってもよい。
【0013】パラジウム合金箔13は、パラジウムを主
体とする合金の薄い箔であり、パラジウムに、周期律表
第VIII族元素(例えば、コバルト、ニッケル)、IB族
(例えば、銅、銀、金)、IIIB族(例えば、イットリ
ウム)の群から選ばれた少なくとも1種の他の金属を合
金化させたものが好ましく用いられる。なかでも、パラ
ジウムと銀との合金箔、パラジウムと銀とホロニウムと
の合金箔がさらに好ましい。パラジウムに合金化させる
元素の含有量は、1〜50重量%であることが好まし
く、10〜30重量%であることがさらに好ましい。パ
ラジウム合金を用いる理由は、パラジウム単体では水素
脆化が生じ、合金元素の含有量を1重量%以上とする
と、水素脆化が防止できるからである。また、合金元素
の含有量が50重量%を超えると、水素の透過速度が遅
くなるので好ましくないからである。
【0014】パラジウム合金箔13の厚みは、クラッド
板19のハンドリングを鑑みて、3〜100μmとする
ことが好ましい。さらに好ましくは5〜50μmであ
る。パラジウム合金箔13の厚みが3μm未満では、パ
ラジウム合金箔13にピンホールが生じやすくなり、分
離水素の純度も低下することになる。一方厚みが100
μmを超えると、水素の透過速度が遅くなる。なお、水
素ガス分離性を有する材料として、パラジウム合金箔を
を好ましい材料として説明したが、それ以外の水素ガス
分離性を有する材料であれば、特にパラジウム合金箔に
こだわらない。なお、本発明で用いる「水素ガス分離性
を有する材料」とは、種種の混合ガスの中から、水素ガ
スのみを選択的に分離透過する機能を有する材料をい
う。材料の形態としては、板状(箔状)のものが好まし
い。
【0015】次に、本発明の水素ガス分離ユニットのエ
ッチング前の原板(クラッド板)の製造方法を説明す
る。図3は、水素ガス分離ユニット製造工程の一部を示
すクラッド板加工装置の概略図である。まず、金属支持
体11の片面にパラジウム合金箔13をクラッド加工し
て積層する。クラッド加工は、事前に表面清浄化処理し
た金属支持体11を、図3に示すクラッド板加工装置の
巻戻しリール12に巻き付ける。同様に、事前に表面清
浄化処理したパラジウム合金箔13を巻戻しリール14
に巻き付ける。巻戻しリール12,14から金属支持体
11とパラジウム合金箔13とを同時に巻戻し、エッチ
ングチャンバ15内に突出した電極ロール16,16に
巻付け、エッチングチャンバ15内において、それぞれ
の合わせ面をスパッタエッチング処理して活性化する。
【0016】このスパッタエッチング処理して活性化処
理する方法は、本出願人が先に特開平1−224184
号公報で開示したように、(1)1×10−1〜1×1
0−4 Torr の極低圧不活性ガス雰囲気中で、(2)金
属支持体11とパラジウム合金箔13とを、それぞれア
ース接地した一方の電極とし、絶縁支持された他の電極
との間に1〜50 MHzの交流を印加してグロー放電を行
わせ、(3)かつ、前記グロー放電によって生じたプラ
ズマ中に露出される電極の面積が、電極の面積の1/3
以下で、(4)スパッタエッチング処理することによっ
て行うことが好ましい。その後、真空槽100内に設け
た圧延ユニット17によってクラッド加工(冷間圧接)
し、二層構造を有するクラッド板19を巻き取りロール
18に巻き取り、2層の積層構造を有するクラッド板1
9を製造する。
【0017】このようにして作製したクラッド板19
を、適宜な縦横サイズに切断し、クラッド切板K(図2
参照)とし、水素ガス分離ユニットの原板に供する。
【0018】次に、前工程で得られた金属支持体11の
片面側から細孔bをエッチング穿孔する。エッチングす
る方法としては、金属支持体11面にネガ型レジスト2
1を塗布し(図4(a)参照)、ベーキング後、細孔b
に相当するパターンが形成されたマスクを介して紫外線
などの光を照射して露光する。露光後、現像して(図4
(b)参照)ポストベークし、エッチングし、残存する
レジスト21を除去する(図1参照)。
【0019】なお、金属支持体11上のレジスト密着性
を向上させるために、前処理として水酸化ナトリウム水
溶液であらかじめクラッド切板Kをアルカリ洗浄し、水
洗、中和、乾燥などを行い、レジスト塗布面の清浄化を
行っておくことが望ましい。レジストのタイプとして
は、カゼインタイプ、PVAタイプなどの水溶性タイ
プ、アクリルポリマー系の溶剤溶解性タイプなどが用い
られる。レジスト被覆の条件としては、例えば次のよう
なものが好ましい。 レジスト種類;PVA−重クロム酸系の水溶性タイプ
〔富士薬品工業(株)製、FR−14〕 塗布厚;7μm 洗浄化した金属支持体11へレジストを塗布する方法と
しては、ロールコート法、スピンコート法、ディップ引
き上げコート法などが用いられる。
【0020】塗布厚みは、レジスト粘度、引き上げスピ
ードなどで変わるが、解像度の面からは、3〜15μm
が好ましい。次に、レジスト21の皮膜にあらかじめパ
ターン画像が形成されたフィルムマスクを密着させて、
紫外線を60〜70秒程照射する。
【0021】次の現像工程で未露光部分のレジストが溶
解除去され、金属面が露出され、後の工程でエッチング
される部分となる(図4(b)参照)。現像は、水をス
プレー塗布した。細孔となるパターンが形成されたレジ
スト21皮膜は、エッチング工程に先立ち、塗膜密着性
などを高めるため、熱風や遠紫外線輻射などを用いてポ
ストベークを行うことが好ましい。通常、100〜12
0℃で15〜30分行う。
【0022】金属支持体11のエッチングは、45〜4
9°Be(ボーメ)の塩化第2鉄水溶液を対象物面にス
プレーすることが好ましい。塩化第2鉄水溶液の液温
は、45〜65℃が好ましい。エッチングされた金属支
持体11は、水洗洗浄、レジスト除去して水素ガス分離
ユニットAとなる。なお、このエッチング処理では、金
属板の孔径が200μmになるように、片面からエッチ
ング液を吹きつけて行った。レジスト除去は、5〜10
重量%の水酸化ナトリウム水溶液を、50〜70℃に加
温した液に浸漬する。
【0023】次に、図5に示すように、水素ガス分離ユ
ニットAを、金属支持体11面が内側になるようにレー
ザー溶接などでケース34に固定化して水素ガス分離体
Yとする。
【0024】次に、本発明の水素ガス分離ユニットAを
用いて水素を分離する方法の一例を図6を用いて説明す
る。図6に示すように、水素ガス分離機Xには、本発明
の水素ガス分離ユニットAを組み込んである水素ガス分
離体Yが設置されている。
【0025】原料ガスGgは、水素ガス分離機Xの上部
の原料ガス導入パイプ42から導入されると、原料ガス
Gg中の水素ガスが、水素ガス分離ユニットAのパラジ
ウム合金箔13を透過し、透過ガスGtとして下部の分
離ガス排出パイプ41から取り出される。一方、非透過
ガスGnは、水素ガス分離機Xの上方43より系外へ排
出される。
【0026】
【発明の効果】また、本発明の水素ガス分離ユニット
は、金属支持板と水素ガス分離性を有する材料をクラッ
ド加工によって密着性よく積層してあり、ピンホールの
ない水素ガス分離性を有する材料を効率良く使用するこ
とができるので、純度の優れた水素ガスが分離できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】金属支持体の片面に水素ガス分離性を有する材
料を積層した水素ガス分離ユニットAの断面図概略図を
示す。
【図2】本発明の水素ガス分離ユニットAの斜視図であ
る。
【図3】クラッド板加工装置の断面図である。
【図4】金属支持体をエッチングする方法を示す概略説
明図である。
【図5】水素ガス分離体Yを示す概略説明図である。
【図6】水素ガスを分離する一例を示す概略説明図であ
る。
【符号の説明】
10・・・真空槽 11・・・金属支持体 12,14・・・巻戻しリール 13・・・水素ガス分離性を有する材料(パラジウム合
金箔) 15・・・エッチングチャンバ 16・・・電極ロール 18・・・巻取りロール 19・・・クラッド板 21・・・ネガ型レジスト 34・・・ケース A・・・水素ガス分離ユニット b・・・細孔 K・・・クラッド切板 X・・・水素ガス分離機 Y・・・水素ガス分離体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大澤 真司 山口県下松市東豊井1296番地の1 東洋鋼 鈑株式会社技術研究所内 (72)発明者 岡本 浩明 山口県下松市東豊井1296番地の1 東洋鋼 鈑株式会社技術研究所内 (72)発明者 吉田 一雄 山口県下松市東豊井1296番地の1 東洋鋼 鈑株式会社技術研究所内 (72)発明者 関 務 東京都港区芝浦1丁目16番25号 東京ガス 株式会社内 Fターム(参考) 4D006 GA41 HA42 JB04 MA09 MA22 MA26 MA31 MB04 MC02X NA33 NA46 NA47 NA62 PB66 PC80 4G040 FA04 FC01 FD04 FE01

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属支持体の少なくとも片面に水素ガス
    分離性を有する材料をクラッド加工法により積層してク
    ラッド板を製造し、得られたクラッド板を切断してクラ
    ッド切板とし、金属支持体にエッチング法により細孔を
    多数穿孔してなる、水素ガス分離ユニット。
  2. 【請求項2】 前記水素ガス分離性を有する材料が、パ
    ラジウムまたはパラジウム合金箔である請求項1の水素
    ガス分離ユニット。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002052325A (ja) * 2000-08-09 2002-02-19 Toyo Kohan Co Ltd ガス分離ユニット及びその製造方法
JP2003305346A (ja) * 2002-04-11 2003-10-28 Toyo Kohan Co Ltd 分離膜積層体の製造方法および分離膜積層体を用いた部品の製造方法
JP2003311867A (ja) * 2002-04-24 2003-11-06 Toyo Kohan Co Ltd 分離膜積層材および分離膜積層材を用いた部品
JP2004174894A (ja) * 2002-11-27 2004-06-24 Toyo Kohan Co Ltd 保護層接合体および保護層接合体を用いた部品
JP2011156487A (ja) * 2010-02-02 2011-08-18 Noritake Co Ltd イオン伝導性膜材およびその製造方法

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