JP2001240960A - 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット - Google Patents

光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット

Info

Publication number
JP2001240960A
JP2001240960A JP2000378033A JP2000378033A JP2001240960A JP 2001240960 A JP2001240960 A JP 2001240960A JP 2000378033 A JP2000378033 A JP 2000378033A JP 2000378033 A JP2000378033 A JP 2000378033A JP 2001240960 A JP2001240960 A JP 2001240960A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal
film
sputtering
article
photocatalytic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000378033A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiaki Anzaki
利明 安崎
Daisuke Arai
大介 新井
Yoshibumi Kijima
義文 木島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
Priority to JP2000378033A priority Critical patent/JP2001240960A/ja
Priority to EP00985815A priority patent/EP1253214A4/en
Priority to PCT/JP2000/009092 priority patent/WO2001046488A1/ja
Priority to US10/168,253 priority patent/US6761984B2/en
Publication of JP2001240960A publication Critical patent/JP2001240960A/ja
Priority to US10/682,616 priority patent/US20040069615A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08Oxides
    • C23C14/083Oxides of refractory metals or yttrium
    • B01J35/30
    • B01J35/39
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J37/00Processes, in general, for preparing catalysts; Processes, in general, for activation of catalysts
    • B01J37/34Irradiation by, or application of, electric, magnetic or wave energy, e.g. ultrasonic waves ; Ionic sputtering; Flame or plasma spraying; Particle radiation
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/08Oxides
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3464Sputtering using more than one target

Abstract

(57)【要約】 【課題】大面積の基体に光触媒活性が高い光触媒膜をス
パッタリング法で能率良く被覆する方法がなく、高活性
の光触媒膜が得られていなかった。 【解決手段】ガラス板にスパッタリング法により成膜さ
れた光触媒膜が被覆された物品であって、光触媒膜は主
成分であるチタン酸化物に対して、Arに対するスパッ
タリング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下であ
る少なくとも一種の金属、好ましくはFe、V、Mo、
Nb、Al、Crの金属群から選ばれた少なくとも一種
の金属を、金属ベースの合計量で0.01〜10重量%
含有している。この膜は、1)前記金属を金属ベースの
合計量で0.01〜10重量%含有したTi金属または
Ti亜酸化物スパッタリングターゲットを用いて成膜す
る方法、2)交互に陰極と陽極になるように反転する電
位を印加する2つのスパッタリングターゲットを用いて
成膜する方法、により基体上に被覆する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】光触媒膜が被覆された基体が
ガラス板である場合、汚れ防止性がある建築用の窓ガラ
ス、液晶やプラズマディスプレイなどのディスプレイ用
装置の窓ガラス、バイオテクノロジー分野で使用される
DNA分析用のガラス基板、太陽電池パネル等広範囲の
用途がある。また光触媒膜が被覆された基体が樹脂等の
枠体である場合、情報携帯機器、衛生設備、医療設備、
電子機器など種々の機器や設備に汚れ防止性が付与され
る。このように、光触媒膜は種々の基体に被覆される
と、汚れにくいあるい汚れを除去しやすい性質が表面に
付与される。さらに、光触媒膜は抗菌作用を有している
ので、生体・医療用の検査チップなどのバイオチップや
ケミカルチップに応用可能である。本発明は、基体に光
触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法およびそ
れを製造するために用いるスパッタリングターゲットに
関する。
【0002】
【従来の技術】基体の上に光触媒膜を被覆したものとし
て、特開平10−66879号公報には、ガラス板に酸
化チタン、酸化亜鉛、酸化タングステン等の膜を被覆し
たものが開示されている。そして、この光触媒膜にはそ
の光触媒活性を向上させるために白金、パラジウム、ニ
ッケル、銅、錫の金属を含有させることが好適であるこ
とが開示されている。そして、これらの光触媒膜は、光
触媒膜を構成する金属酸化物に対応する金属をターゲッ
トに用いて、酸素を含有する不活性ガス中でリアクティ
ブ(反応性)スパッタリングを行うことにより被覆する
ことが記載されている。
【0003】特開平11−92176号公報には、スパ
ッタリング法によって得られた酸化チタン等の光触媒膜
に対し、イオン注入法によって白金、ニッケル、クロ
ム、コバルト、錫、ニオブ、タンタルなどの金属イオン
を注入し、前記光触媒膜表面にこれら金属イオンをドー
ピングした物品が開示されている。
【0004】また、特開平11−60281号公報に
は、ソーダライムシリカガラス板の表面に、第1層のA
23を含むSiO2膜を被覆し、その上に第2層とし
てTiO2を主成分とした膜を被覆した光触媒ガラスが
開示されている。そして、TiO2膜中にAl23、P2
5、B23、ZrO2、SnO2、Ta25の金属酸化
物を、膜の緻密性の向上、膜強度の向上、耐アルカリ性
の向上、導電性の付与、紫外線のカットなどの目的で適
宜混入させることがよいとの記載がある。そしてこれら
の金属酸化物の膜は、金属アルコキシドや金属アセチル
アセトナートなどの有機金属化合物を熱分解して被覆す
ることが記載されている。
【0005】さらに、特開平10−330131号公報
の図1には、ガラス板上にSiO2のベース層、TiO2
の光触媒層、SiO2のトップ層からなる光触媒膜が被
覆された多層構成の親水性の良好な光触媒膜被覆ガラス
物品が開示されており、この光触媒層には、Al23
23、Ta25、La25を混入させた酸化チタン主
成分の層とすることが記載されている。そしてこれらの
金属酸化物層をエレクトロンビーム蒸着法で積層被覆す
ることが記載されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術のう
ち、特開平10−66879号公報に開示されている光
触媒膜は、光触媒活性を大きくするために、酸化チタン
膜に白金やパラジウムなどの金属を混入している。しか
しながら、チタンの金属ターゲットを用いる酸素反応性
スパッタリング法では、白金などの金属を含有する酸化
チタン膜を被覆する際に、チタンを酸化物状態に酸化す
る一方、触媒活性向上剤となる白金やパラジウムを酸化
させることなく金属状態で酸化チタン膜中に一定量再現
性よく含有させることは困難であるという問題点があっ
た。また、チタン酸化物のターゲットを用いるスパッタ
リング法では、白金などの金属粉を均一に酸化チタン焼
結体中に分散させた酸化物焼結体を製作することが困難
であるという問題点があった。
【0007】特開平11−92176号公報に記載され
ているイオン注入による金属イオンドーピングでは、
1)膜の深さ方向に金属イオンの分布がつき、膜中に均
一にドーピングできないので、濃度ムラによるドープ過
剰やドープ不足が起こる、2)注入された金属の置換サ
イト周辺の格子乱れが大きくなり、ドーパントのドナー
やアクセプタとしての働きが発現しないばかりか、再結
合中心増加による光触媒活性低下が起こる、3)イオン
注入量をあまり多くできない、4)一度に数種のドーパ
ントを濃度を制御して注入することはできない、5)イ
オン注入により金属イオンをドープするので、たとえば
建築用の窓ガラスや住宅の屋根に設置される太陽電池パ
ネルや比較的大きな表示装置に用いられるガラス板など
大面積の基板に適用するのが難しい、等の課題があっ
た。
【0008】また特開平11−60281号公報に記載
されている従来技術では、金属アルコキシドや金属アセ
チルアセトナートなどの有機金属化合物を基体に塗布し
た後、500〜600℃の高温に加熱することが必要で
あり、樹脂などの熱的に制限がある基体には適用できな
いという問題点があった。
【0009】さらに上記従来技術の特開平10−330
131号公報の図1の光触媒層は、エレクトロンビーム
蒸着法で積層被覆するため、たとえば建築用の窓ガラス
や住宅の屋根に設置される太陽電池パネルや比較的大き
な表示装置に用いられるガラス板など大面積の基板に適
用するのが難しいという問題点があった。
【0010】本発明は、上記の従来技術が有する問題点
を解決するためになされたものであって、その目的の第
1は、より改良された光触媒活性を有する物品を提供す
ることである。また本発明の目的の第2は、表面積が大
きくても改良された光触媒活性の物品を提供することで
ある。また本発明の目的の第3は、耐熱性が比較的弱い
基体であっても、その基体の表面を光触媒機能を有する
ようにすることである。さらに本発明の目的の第4は、
改良された光触媒膜を能率よく基体上に被覆する方法を
提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明は、基体上にスパ
ッタリング法により成膜された光触媒膜が被覆された物
品であって、光触媒膜は、1)主成分であるチタン酸化
物と、2)100eV〜2000eVのイオンエネルギ
ー領域における少なくとも一種のエネルギーを持つAr
に対するスパッタリング率が、Tiの0.9倍以上、
2.7倍以下である少なくとも一種の金属、好ましくは
Fe、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれ
た少なくとも一種の金属、からなることを特徴とする光
触媒膜が基体上に被覆された物品である。
【0012】本発明の光触媒膜はチタン酸化物を主成分
として含有し、少量成分として例えばFe、V、Mo、
Nb、Al、Crの金属群から選ばれた少なくとも一つ
の金属を含有することを特徴としている。チタン酸化物
の光触媒活性を高めるためのこれらの金属は、1種また
は2種以上を含有させることができる。
【0013】一般に金属イオンドープによるチタン酸化
物の光触媒活性向上については、古くから研究されてき
ており、光触媒活性向上効果のある添加金属として数多
くの金属が検討されている(例えば、「化学総説39無
機光化学」、初版、128ページ、学会出版センター、
1983年;や、「酸化チタン」、第1版、178ペー
ジ、技報堂出版、1991年)。これらの金属がチタン
酸化物の光触媒活性を向上させる理由は明確ではない
が、これらの金属原子がチタン酸化物膜中の酸素と結合
しているチタン原子の一部と置き換わることで、原子の
配位状態が変化し、触媒活性なサイト(たとえば欠陥サ
イト、配位が切れて酸素やチタンの所属電子の一部がぶ
らぶらと相手を持たずに自由になっている、いわゆるダ
ングリングボンドの状態)が増えるためであると考えら
れる。また、金属ドープにより室温でも励起し易い電子
や正孔と言ったキャリアの密度が増えること(ドナーサ
イト、アクセプタサイトによる)も触媒活性を向上させ
る原因であると考えられる。
【0014】本発明は、基体上にスパッタリング法によ
り成膜された光触媒膜が被覆された物品に関しており、
発明者らは通常の方法で、チタン酸化物膜に単に公知の
金属をドープするだけでは、効果的な光触媒活性向上効
果が認められないことを確認し、鋭意研究の結果、以下
の2法によって作製することで問題が解決できることを
見出した。
【0015】すなわち発明者らは、1)100eV〜2
000eVのイオンエネルギー領域における少なくとも
一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリング率
(スパッタ率とも言う)が、Tiの0.9倍以上、2.
7倍以下である少なくとも一種の金属、好ましくはF
e、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれた
少なくとも一種の金属を、金属ベースの合計量で0.0
1〜10重量%含有したTi金属スパッタリングターゲ
ットまたはTi亜酸化物スパッタリングターゲットを用
いてスパッタリング法で成膜する方法、2)交互に陰極
と陽極になるように反転する電位を印加する2つのスパ
ッタリングカソードに2種のターゲットを設けてスパッ
タリング法で成膜する方法の二つの方法を見出した。
【0016】前記方法1において、チタン酸化物スパッ
タ膜中にドープする金属は、100eV〜2000eV
のイオンエネルギー領域における少なくとも一種のエネ
ルギーを持つArに対するスパッタリング率が、Tiの
0.9倍以上、2.7倍以下である少なくとも一種の金
属、好ましくはFe、V、Mo、Nb、Al、Crの金
属群から選ばれた少なくとも一種の金属である。
【0017】これら金属を金属ベースの合計量で0.0
1〜10重量%含有したTi金属スパッタリングターゲ
ットまたはTi亜酸化物スパッタリングターゲットを用
いて、酸素ガスを用いた反応性スパッタリング法や通常
のスパッタリング法によって、基体上に金属ドープチタ
ン酸化物膜を形成する。この際、金属とTiのスパッタ
リング率が大きく異なると、スパッタリングターゲット
組成と成膜組成が大きく異なったり、不均一な金属ドー
ピングすなわち金属の偏析が起こり、光触媒活性の向上
が阻害される。よって、ドープする金属のスパッタリン
グ率はTiの0.9倍以上、2.7倍以下、好ましくは
0.9倍以上、2.3倍以下とすべきである。金属のス
パッタリング率がTiの0.9倍より小さいと、膜組成
がTiリッチとなり、金属ドープの効果が発現し難いの
で好ましくなく、2.7倍より大きいと膜組成が金属リ
ッチとなり、また金属偏析が認められるようになって、
やはり光触媒活性向上が阻害され好ましくない。このよ
うな組成変動や金属偏析は、金属のスパッタリング率を
Tiの2.3倍より小さくすることで、さらに抑制する
ことができる。
【0018】スパッタリング方法としては、減圧したア
ルゴン含有ガスでスパッタリングする方法、またそのよ
うな酸化物に対応する金属をターゲットとして、アルゴ
ンと酸素を含有する減圧した混合ガスで酸素プラズマに
よる反応性スパッタリング法を採用することができる。
上記のスパッタリングを行うときの放電プラズマを生起
させるための手段としては、直流グロー放電や中間周波
グロー放電あるいは高周波グロー放電を用いることがで
きる。金属をターゲットに用いてスパッタリングする場
合は、アルゴンと酸素の合計量に対して酸素を容量比率
で10〜1000%の範囲とするのが好ましい。スパッ
タリングは、0.07〜7Paの減圧下で行うのがよ
い。
【0019】2種以上の金属を光触媒膜中に含有させる
ときに用いる亜酸化物ターゲットは、金属酸化物の混合
粉末あるいは金属の複合酸化物の粉末を用いることがで
きる。得られるターゲットの通電性の程度により、直流
電源、交流電源または高周波電源のいずれかを用いる。
金属ターゲットとしては、合金ターゲットや粉末の混合
焼結体などの混合金属ターゲットを用いる。
【0020】前記方法2は、光触媒膜を構成する金属ま
たは金属酸化物のスパッタリングターゲットをそれぞれ
有した2つのカソードを隣り合うように配置し、一方の
カソードを陰極とするときは他方のカソードを陽極に、
他方のカソードを陰極とするときは一方のカソードを陽
極になるように、それらの極性を交互に反転させて電圧
を印加してグロー放電プラズマを生起させ、それにより
2つのターゲットを同時にスパッタリングする方法であ
る。
【0021】この際も、金属とTiのスパッタリング率
が大きく異なると、目標組成と成膜組成が大きく異なっ
たり、不均一な金属ドーピングすなわち金属の偏析が起
こり、光触媒活性の向上が阻害される。よって前記方法
1と同様の理由で、ドープする金属のスパッタリング率
はTiの0.9倍以上、2.7倍以下、好ましくは0.
9倍以上、2.3倍以下である。
【0022】以上2つのスパッタリング法においては、
基体にバイアス電圧をかけたり、基体とターゲットの距
離を近づけるなどによりプラズマを膜に当てながら成膜
することで、低温でもより結晶性の触媒膜を基体上に被
覆することができる。
【0023】また、建築用の窓ガラス板のような比較的
大きな面積の基体に、本発明の光触媒膜を被覆する場
合、基体をスパッタリングターゲットの前面を通過させ
ながら、被覆するのが基体全体に均一な厚みの膜を被覆
する上で好ましい。
【0024】本発明においては、金属を予めスパッタリ
ングターゲット中に均一に含有させておくことや、同時
に組成の異なる2種のターゲットをスパッタリングする
ことで、均一な膜組成が実現できる。上記1または2の
方法を用いてスパッタ法で成膜できるので、イオン注入
法で問題になるような金属の不均一性、チタン酸化物の
格子乱れによる光触媒活性低下、金属ドープ量の制御の
問題、複数金属ドープが困難であることなどの問題点は
ない。また、スパッタリング法であるので、例えば建築
用の窓ガラスや住宅の屋根に設置される太陽電池パネル
や比較的大きな表示装置に用いられるガラス板など大面
積の基板に適用することが容易である。また均質性・均
一性の要求品質が高いバイオチップやケミカルチップな
どにも適している。
【0025】本発明におけるドープ金属の具体例は、F
e、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれた
少なくとも一種の金属である。これらのうち、Fe、
V、Mo、Nb、Crはチタン酸化物膜中でドナーとし
て働き、電子を供給し、キャリア密度の上昇による光触
媒活性向上に寄与する。Alはチタン酸化物膜中でアク
セプタとして働き正孔を供給し、やはりキャリア密度の
上昇による光触媒活性向上に寄与する。これら金属のう
ち、Fe、V、Moは、触媒活性向上効果が大きくかつ
安定であるので特に好ましい。
【0026】ドナーとアクセプタを同時に用いる際に
は、単に混合して用いるとお互いの供給キャリアが発生
時に相殺され好ましくないので、膜中のドナーとアクセ
プタの存在領域を深さ方向に分離し、発生した異種キャ
リアが再結合しないようにすることが好ましい。
【0027】本発明の光触媒膜のX線回折分析法による
結晶学的研究によれば、種々の結晶を取りうる。たとえ
ばチタン酸化物のアナターゼ構造、チタン酸化物のアナ
ターゼと微結晶と非晶質が混在した構造、アナターゼ結
晶とルチル結晶が混在した構造、非晶質層が多くを占め
る構造を取りうる。いずれの膜構造であっても、チタン
酸化物単独の成分で構成する場合に比べて、光触媒活性
度が大きい。
【0028】本発明の光触媒膜は、必ずしも完全な結晶
性を必要とするものではなく、酸化チタンの格子群のな
かに、ある程度の中間距離秩序が存在していればよい。
本発明の光触媒膜では、膜中の電子や正孔の従うエネル
ギーバンド構造について、エネルギーバンドのエッジ部
分での量子状態密度が非晶質構造により、ややぼやけた
ような状態になっていることが、むしろ大きな光触媒活
性がある。このことから、本発明の光触媒膜は、チタン
酸化物単独の場合に比較してより長波長の可視光を含む
光についても吸収とキャリアの生成が起こる。
【0029】少量成分の上記の金属酸化物の合計量の光
触媒膜中の含有量は、膜中の金属ベースで0.01重量
%以上、10重量%以下とするのが好ましい。含有量が
0.01重量%未満では、触媒活性の向上効果がほとん
ど認められず、10重量%を越えるとチタン酸化物の格
子構造の中距離秩序が著しく乱れて光触媒キャリアの移
動距離が短くなり、光触媒活性が小さくなるので好まし
くない。
【0030】本発明に用いられる基体は、その種類が特
に限定されるものではなく、たとえばガラス、セラミッ
クス、石英等の無機材料やアルミニウム、ステンレス等
の金属材料やポリカーボネート、ポリメチルメタアクリ
レート、シリコーン、ポリスチレン、ポリイミド等の樹
脂材料を用いることができる。
【0031】本発明の物品に光が照射されると、光触媒
膜が励起し、抗菌、脱臭、有機物の分解、親水性化等の
作用を発揮する。これにより本発明の物品は、表面が汚
れにくいあるいは汚れが取りやすい、細菌やウイルスが
繁殖し難いという性質を有するようになる。
【0032】本発明の光触媒膜の内部に含有されて光触
媒活性を向上させる上記の金属は、基体上に被覆された
主成分がチタン酸化物光触媒膜の厚み方向に均一に分布
されていてもよく、厚み方向に含有量が異なるように分
布されていてもよい。そして、厚み方向に含有量を異な
るように分布させる場合は、光触媒膜の基体に近い側に
より多く含有させる、あるいは基体側とは反対側の光触
媒膜の光照射を受ける側により多くを含有させるように
してもよい。
【0033】光触媒膜の厚み方向に上記の金属の含有量
を異なるようにする場合、基体上に上記の金属膜あるい
は金属酸化物の膜または金属を含有するチタン酸化物の
膜を成膜し、その上にチタン酸化物の膜を積層するか、
チタン酸化物の膜を基体上に成膜し、その上に上記の金
属または金属酸化物を含有するチタン酸化物の膜を積層
して積層体とし、この積層体の界面から金属をチタン酸
化物の膜内に熱拡散により含有させる。このようにして
得られた光触媒膜は、膜内での不純物の拡散と膜の結晶
促進を同時に行うことができるのでよい。膜中の厚み方
向に添加物としての金属について、傾斜濃度を有するよ
うにしてエネルギーバンド構造を非対称にし、キャリア
の極性を分散させることができる。これにより、膜内で
再結合消滅を防止した高い触媒活性を有する膜とするこ
とができる。このことは太陽電池素子の用途に用いると
きにとくに好ましい。
【0034】熱拡散により金属を光触媒内に含有させる
方法としては、積層体を基体に成膜するときに基体を加
熱する、あるいは基体に被覆した積層体を後加熱する方
法、およびこれらの両方法により行うことができる。上
記の熱拡散により金属酸化物を光触媒膜に含有させるた
めには、積層体を被覆するときの基体温度は通常150
℃以上がよく、250℃以上に加熱するのがさらによ
い。また、基体に被覆した積層体を後加熱により金属を
拡散含有させるには、通常150℃以上の加熱を行うの
がさらに好ましい。加熱温度の上限は、いずれの方法で
も基体が損傷しない温度範囲に定めればよい。
【0035】主成分がチタン酸化物の光触媒膜の厚み
は、光触媒活性を実用的に必要であると考えられるレベ
ルにするために20nm以上とするのが好ましい。ま
た、それ以上厚くしても光触媒活性が増加しないという
意味で、経済性を考慮すると2000nm以下とするの
が好ましい。
【0036】本発明は、前記金属群から選ばれた少なく
とも一つの金属を、金属ベースの合計量で0.01〜1
0重量%含有したTi金属スパッタリングターゲットま
たはTi亜酸化物スパッタリングターゲットである。こ
れらターゲットは上記金属イオンがドープされた光触媒
膜を形成するために有用であり、光触媒活性が高い膜を
効率良く安定に供給することが可能である。
【0037】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の光物品の実施例
の断面図である。図1(a)では、本発明の物品10
は、基体であるガラス板11の上に光触媒膜12が被覆
されている。図1(b)では、本発明の物品10は、基
体であるガラス板11の上に金属酸化物膜13と光触媒
膜12が積層被覆され、金属が光触媒膜12の基体側の
内部に熱拡散により含有され、拡散層14が存在する。
図1(c)は、基体であるガラス板11上に光触媒膜1
2と金属酸化物膜13がこの順で積層被覆され、金属酸
化物が光触媒膜の表面側内部に熱拡散により含有され、
拡散層14を形成している。
【0038】図2は、本発明の光触媒膜を基体に被膜す
る方法を説明するためのスパッタリング装置の要部断面
図である。光触媒膜を基体に被覆する成膜装置内は、ガ
ス導入管5からアルゴンガスまたは酸素ガスを導入し、
同時に成膜装置内を真空排気ポンプにより排気して、一
定圧力の減圧した雰囲気空間が調整される。この減圧空
間の雰囲気は、真空排気ポンプと導入ガス量、調圧バル
ブ(図示されない)などにより、その圧力およびガス組
成がスパッタリング可能となるように調整される。
【0039】電源7からカソード1A、1Bに負の電圧
が印加されると、それによりターゲット表面上に生起す
るグロー放電プラズマ中のアルゴンなどのプラスイオン
により、ターゲット2Aおよびターゲット2Bがスパッ
タリングされる。カソードへの電圧の印加は、正弦波、
パルス波、時間非対称波を用いることができる。また、
任意のフーリエ展開が可能な波形も用いることができ
る。ターゲットに導電性が無い場合は高周波を印加す
る。印加電圧波形の基準ゼロ電位は、通常成膜装置のア
ース電位と同じである。また二つのカソードに共通の極
性をもったDCバイアスを同時に印加してもよい。この
場合、通常成膜装置のアース電位と上記波形の基準ゼロ
電位は、フローティングで無関係な電位とする。
【0040】電源7により、カソード1Aおよび1Bに
は負電圧が印加される。このときオシレーター(極性変
換機)8により、カソード1Aのカソードが陰極となっ
ているときにはカソード1Bが陽極になり、カソード1
Bが陰極になっているときにはカソード1Aが陽極にな
るように、それぞれのカソードの極性を交互に反転させ
てターゲット表面に蓄積する電荷の除電を行いながら、
瞬間的に見れば一方のカソードに負電圧を他方のカソー
ドに正電圧を印加して生起させた交互反転グロー放電3
により、二つのカソード表面に設置したターゲット2
A、2Bがスパッタリングされる。
【0041】極性を反転させる反転周波数は10kHz
以上が好ましい。1kHzより小さいとターゲット表面
に帯電する電荷の除電作用が低下し、放電が不安定にな
るので好ましくない。また、反転周波数が1MHzを越
えると、電圧振動に対するプラスイオンの運動遅延が生
じターゲット表面の除電作用が得られにくくなるので、
反転周波数は1MHz以下とするのが好ましい。
【0042】印加する電圧の波形は、正弦波、方形パル
ス波、時間非対称波など時間軸に対し、二つのターゲッ
ト材料の表面の電荷が中和される正負のバランスのとれ
た印加電圧波形であれば、とくに限定されない。
【0043】上記の好ましい反転周波数でカソードの極
性を反転させることにより、いわゆる陰極スパッタリン
グは、微視的には各ターゲットについて間欠的に行われ
るが、極性の反転周期を上記の好ましい範囲に選定する
ことにより、被覆という観点から巨視的にみると、ター
ゲット1Aおよびターゲット2Bが同時にスパッタリン
グされ、光触媒膜が基体に被覆される。
【0044】二つのターゲット表面における電荷が反転
電位及び反転電流で中和され、除電されつつスパッタリ
ングされるので、堆積した膜表面に帯電した電荷が膜中
を絶縁破壊する際の熱衝撃が生じない。これにより熱衝
撃が起点となって発生する異常放電(アーキング、コロ
ナなど)が抑制され、あるいは生じなくなる。
【0045】グロー放電プラズマが二つのターゲットの
表面をスパッタリングするクリーニング作用により、タ
ーゲットのエロージョン表面に堆積する膜を除去しなが
ら光触媒膜の被覆が行われる。このため二つのターゲッ
トのエロージョン部の表面には、電気絶縁性の被膜が堆
積するのが抑制され、通常の単一ターゲットを用いて金
属酸化物の膜を被覆するときに観察される、いわゆるア
ノード電極の消失現象が起きず、グロー放電プラズマが
光触媒膜の被覆の途中で停止することがない。これによ
り金属をターゲットに用いてスパッタリングガスに酸素
のような反応性ガスを用いたり、基体を加熱しても、安
定して金属酸化物の緻密な光触媒膜を基体に被覆するこ
とができる。
【0046】ターゲットの形状がプレーナ(直方体)型
の場合、これらのターゲット背面には、通常銅を主成分
とするバッキングプレートとそれを冷却するための冷却
機構とマグネトロン構成用の強化磁石を、それぞれター
ゲットと一体化あるいは別にして装備される。またター
ゲット材とバッキングプレートの界面の密着性を上げる
ため通常銅などで作製されるバッキングプレート表面
に、ニッケルやインジウムなどの鍍金を施すのがよい。
【0047】またターゲットの形状がシリンドリカル
(円筒)型のものを用いる場合は、筒状のバッキングシ
リンダ表面に円筒状のターゲット材を作製し、長手方向
の内部接線上にマグネトロン磁石を線状に配置し、磁石
は動かさずにこの筒をターゲットごと回転させる公知の
方法を用いることができる。これによりターゲットの全
面をエロージョン域とすることができ、ターゲット利用
効率の向上とエロージョンが移り変わることによるター
ゲット表面の冷却効果の向上が図れる。
【0048】以下、本発明の光触媒膜をガラス板に被覆
した結果を実施例と比較例により以下に詳述する。
【0049】(膜の被膜条件) ・基板とターゲットの距離Ls:100mm ・二つのターゲット間の距離Lc:30mm 二つのターゲット間距離は、基板とターゲット間の距離
になるべく近いか、それ以下であることが、均一なドー
ピングを行なう上で好ましい。 ・スパッタリング法:大きく分けて次の2通りである。 1)直流電源を用いた直流スパッタリング(表1〜3中
でDCと表示:図3、図4、図6、図4では二つのター
ゲットにそれぞれ一つの直流電源を結合した。) 2)中間周波数電源を用いる印加電圧交互反転スパッタ
リング(表1〜3中でDM法と表示:図2のオシレータ
により反転周波数を40kHzに設定した正弦波を印加
できる電源を使用。図5にはターゲット形状が円筒状の
例を例示。)。 ・スパッタリングパワー:電圧400〜600V、投入
電力2〜20kWの範囲で調整した。 ・スパッタリングガス:金属亜酸化物をターゲットとし
て金属酸化物の膜を被覆するときは、アルゴンに1〜1
5容量%の酸素を含むガスを、金属をターゲットとして
金属酸化物膜を被覆するときは、10〜50容量%の酸
素を含むアルゴンガスを用いた。 ・スパッタリング圧力:0.5Pa ・成膜時の基板温度:表1〜3に示す。表1〜3におい
て「室温」とあるのは、基板を加熱しなかったことを示
す。 ・成膜後熱処理:表1〜3に示す。大気中で熱処理。 ・ターゲット組成:金属ベースの重量%で、(光触媒活
性向上金属/(光触媒活性向上金属+チタン金属))×
100で表示。表1〜3には、”Ti-aM”の形式で
表記。この表記は、a重量%のM金属を含むTi主成分
ターゲットを意味する。ただし、亜酸化物ターゲットの
場合は、金属ベースに換算した値。 ・スパッタ率比(M/Ti):500VでArにてスパ
ッタした時の、添加金属のスパッタ率のTiのスパッタ
率に対する比を表1〜2に示す。スパッタ率の値は、例
えば、「金属データブック」、改訂3版、389頁、丸善
(1993年)や、「薄膜作成の基礎」、初版、126〜
130頁、日刊工業新聞社(1983年)に記載されて
いる。
【0050】(光触媒膜) ・添加金属比:膜中の金属量を、金属ベースで表現。表
1〜3には、添加金属/(添加金属+Ti)の値を記載
している。 ・膜厚:透過型電子顕微鏡を用いて、膜の破断面を観察
することで測定した。
【0051】(膜の光触媒活性評価)100mm角のサ
ンプル表面にトリオレイン(グリセロールトリオレー
ト、C 1733COOCH(CH2OCOC17332)を
0.1mg/cm2となるように塗布し、UVランプを
用いて紫外線を3mW/cm2の強度で連続照射し、時
間の経過と共にトリオレインが分解する割合を測定し
た。光触媒膜を形成しないガラス板を参照サンプルとし
て、紫外線照射による光触媒膜上のトリオレイン重量の
変化を、48時間後、60時間後、90時間後の3回測
定し、トリオレインが全て分解する時間により、光触媒
活性を次の4ランクに分けた。 トリオレインのほぼ100%が48時間以内で分解:◎ トリオレインのほぼ100%が60時間以内で分解:○ トリオレインのほぼ100%が90時間以内で分解:△ 90時間後にまだトリオレインが残留している :×
【0052】実施例1 図3に示すスパッタリング装置内に、0.2重量%のF
e金属を含有するTi主成分金属ターゲットを設置した
(FeとTiのスパッタ率比は2.16)。成膜装置内
を1.3×10-3Paに一旦真空排気した後、アルゴン
と酸素との混合ガス(70容量%のアルゴン、30容量
%酸素)を導入し、成膜装置内の圧力を0.4Paに維
持した。その後直流電源からカソードに電力を投入して
ターゲットをスパッタリングし、ターゲットの前面に、
100mm角の大きさのソーダライムシリカ組成のガラ
ス板を通過させ、厚み250nmの光触媒膜をガラス板
上に被覆した。被覆条件と光触媒活性の評価結果を表1
に示す。このガラス板を成膜装置内から取り出し、得ら
れた物品の光触媒膜の光触媒活性を評価したところ、4
8時間を経過した時点でほぼ100%のトリオレインが
分解された。この物品は、後述する表3記載の比較例で
得られた物品よりも光触媒活性が大きいことから、金属
元素Feを、スパッタリングターゲットに混合する方法
で、成膜した酸化チタン膜の光触媒活性の向上が認めら
れた。
【0053】実施例2 Fe添加量が金属ベースで1重量%のチタン金属ターゲ
ットを用いた以外は、実施例1と同様の条件で、厚み2
50nmの光触媒膜をガラス板上に被覆した。被覆条件
と光触媒活性評価を表1に示す。得られた物品の光触媒
膜は、後述する表3記載の比較例で得られた物品よりも
光触媒活性が大きく、本発明の効果が認められた。
【0054】実施例3 Vを0.5重量%添加したチタン金属ターゲット(Vと
Tiのスパッタ率比は1.27)を用いた以外は、実施
例1と同様の条件で、厚み250nmの光触媒膜をガラ
ス板上に被覆した。被覆条件と光触媒活性評価を表1に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
【0055】実施例4 図4に示す回転可能な円筒状のターゲットを2本有する
スパッタリング装置を用い、TiとMoの異種ターゲッ
トを同時放電することで、Mo金属をドープしたチタン
酸化物膜(厚み50nm)をガラス基板上に被覆した
(MoとTiのスパッタ率比は1.57)。各ターゲッ
トには直流スパッタ電源の電力を別個に印加し、Moの
チタン酸化物膜へのドープ量を調整した。被覆条件と光
触媒活性評価を表1に示す。得られた物品は、後述の表
3記載の比較例で得た物品よりも光触媒活性が大きく、
本発明の効果が認められた。
【0056】
【表1】
【0057】実施例5 Nbを2重量%添加したチタン金属ターゲット(Nbと
Tiのスパッタ率比は1.18)を用いた以外は、実施
例1と同様の条件で、光触媒膜をガラス板上に被覆し、
その後、大気中300℃で1時間熱処理し、膜厚300
nmの光触媒膜を得た。被覆条件と光触媒活性評価を表
2に示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記
載の比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、
本発明の効果が認められた。
【0058】実施例6 図5に示すスパッタリング装置を用い、DM法(デュア
ルマグネトロン法)にて、ガラス基板上に、FeとVの
2種金属をドープしたチタン酸化物膜を成膜した(Fe
とTiのスパッタ率比は2.16、VとTiのスパッタ
率比は1.27)。被覆条件と光触媒活性評価を表2に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
【0059】実施例7 ターゲットとして、表2記載のFe,V,Moの3種金
属を添加したTiターゲットを用い、スパッタガスとし
てArとO2が当体積含まれるガスを用いた他は、実施
例6と同様にして、ガラス基板上に上記3種金属をドー
プしたチタン酸化物膜を成膜した(FeとTiのスパッ
タ率比は2.16、VとTiのスパッタ率比は1.2
7、MoとTiのスパッタ率比は1.57)。被覆条件
と光触媒活性評価を表2に示す。得られた物品の光触媒
膜は、後述する表3記載の比較例で得られた物品よりも
光触媒活性が大きく、本発明の効果が認められた。
【0060】実施例8 図6に示すスパッタリング装置を用い、表2記載のF
e,V,Moの3種金属が添加されたチタン亜酸化物タ
ーゲットを用いて、少量のO2を含むArガス(Ar:
2=90:10)中で、250℃に加熱した基板ガラ
ス上に、これら3種金属をドープしたチタン酸化物膜を
被覆した(FeとTiのスパッタ率比は2.16、Vと
Tiのスパッタ率比は1.27、MoとTiのスパッタ
率比は1.57)。被覆条件と光触媒活性評価を表2に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
【0061】
【表2】
【0062】比較例1及び比較例2 金属を含有しないチタン酸化物を光触媒膜とする物品を
ガラス基板上に被覆した。被膜の被覆条件および得られ
た光触媒膜の評価結果を表3に示す。得られた物品の光
触媒活性は、実施例の物品よりも低かった。
【0063】比較例3及び比較例4 添加金属とTiとのスパッタ率が、本発明の特許請求の
範囲から外れる金属をドープした光触媒膜を作製した。
比較例3では、Tiに対するスパッタ率比が2.75で
あるPtをドープしたチタン酸化物膜を、比較例4で
は、同スパッタ率比が4.08であるPdをドープした
チタン酸化物膜を、それぞれ実施例1と同様の方法で作
製した。被膜の被覆条件および得られた光触媒膜の評価
結果を表3に示す。得られた物品の光触媒活性は、何れ
も実施例の物品よりも低く、本件発明の効果が明らかで
ある。
【0064】以上の実施例および比較例から、本発明の
実施例記載の光触媒膜は、チタン酸化物単独からなる光
触媒膜、または金属とTiのスパッタ率の比が本発明の
請求範囲から外れる光触媒膜よりも、光触媒活性が改善
された膜であることが明らかである。またスパッタリン
グ法で光触媒膜を基体に被覆するとき、二つ一組のカソ
ードを用いそれら二つのカソードに電圧の極性を交互に
反転するように印加させることにより、光触媒活性が高
い光触媒膜を基体に被覆できることがわかる。さらに、
本発明の所定の金属を添加したTi金属ターゲットやT
i亜酸化物ターゲットを用いれば、所定の金属イオンが
ドープされた光触媒活性が高い膜を効率良く安定に供給
することが可能であることも明らかである。
【0065】
【表3】
【0066】
【発明の効果】本発明の物品の主成分がチタン酸化物の
光触媒膜には、所定の金属が所定量含まれ、その金属は
光触媒活性を大きくする。
【0067】本発明の光触媒膜は、30eV〜5000
eVのイオンエネルギー領域における少なくとも一種の
エネルギーを持つArに対するスパッタリング率が、T
iの0.9倍以上、2.7倍以下である少なくとも一種
の金属を含むTi金属ターゲットやTi亜酸化物ターゲ
ットを用いてスパッタリング法で被覆されるので、ドー
ピング金属の不均一性や偏析を防ぐことができ、よって
光触媒活性の低下を抑制できる。また耐熱性が比較的小
さい材料からなる基体にも適用ができる。
【0068】また本発明の所定の金属を添加したTi金
属ターゲットやTi亜酸化物ターゲットを用いれば、所
定の金属イオンがドープされた光触媒活性が高い膜を効
率良く安定に供給することが可能である。
【0069】さらに本発明の物品の光触媒膜を被覆する
方法によれば、大きな光触媒活性を有する光触媒膜を大
きな被覆速度で被覆できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光触媒膜が被覆された物品の実施例の
断面図である。
【図2】本発明の光触媒膜を被覆する方法に用いたスパ
ッタリング装置の要部断面図である。
【図3】本発明の光触媒膜を被覆する方法に用いたスパ
ッタリング装置(DCプレーナー法)の模式図である。
【図4】本発明の光触媒膜を被覆する方法に用いたスパ
ッタリング装置(異種金属同時放電法)の模式図であ
る。
【図5】本発明の光触媒膜を被覆する方法に用いたスパ
ッタリング装置(DM法)の模式図である。
【図6】本発明の光触媒膜を被覆する方法に用いたスパ
ッタリング装置(DCシリンドリカル法)の模式図であ
る。
【符号の説明】
1:カソード 2:ターゲット 3:交互反転グロー放電 4:基体 5:ガス導入管 6:ガス保持板 7:電源 8:オシレータ 10:本発明の光触媒膜が被覆された物品 11:基体 12:主成分がチタン酸化物である光触媒膜 13:金属酸化物を含む膜 14:金属酸化物の拡散域 15:DC電源 16:アース 17:AC電源 18:シリンドリカルターゲット1 19:シリンドリカルターゲット2
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B01J 23/745 B01J 23/88 M 23/847 35/02 J 23/88 37/02 301P 35/02 C23C 14/08 E 37/02 301 B01J 23/74 301M C23C 14/08 23/84 301M

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基体上にスパッタリング法により成膜され
    た光触媒膜が被覆された物品であって、前記光触媒膜
    は、1)主成分であるチタン酸化物と、2)100eV
    〜2000eVのイオンエネルギー領域における少なく
    とも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリン
    グ率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少な
    くとも一種の金属、からなることを特徴とする光触媒膜
    が基体上に被覆された物品。
  2. 【請求項2】前記金属の前記スパッタリング率が、Ti
    の0.9倍以上、2.3倍以下であることを特徴とする
    請求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。
  3. 【請求項3】前記金属がFe、V、Mo、Nb、Al、
    Crの金属群から選ばれた少なくとも一つの金属である
    ことを特徴とする請求項1に記載の光触媒膜が被覆され
    た物品。
  4. 【請求項4】前記金属がFe、V、Mo、Nbの金属群
    から選ばれた少なくとも一つの金属であることを特徴と
    する請求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。
  5. 【請求項5】前記金属がFe、V、Moの金属群から選
    ばれた少なくとも一つの金属であることを特徴とする請
    求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。
  6. 【請求項6】前記金属の含有量は、金属ベースの合計量
    で0.01〜10重量%であることを特徴とする請求項
    1〜5のいずれかに記載の光触媒膜が基体上に被覆され
    た物品。
  7. 【請求項7】請求項1〜6のいずれかに記載の金属群か
    ら選ばれた少なくとも一つの金属を、金属ベースの合計
    量で0.01〜10重量%含有したTi金属スパッタリ
    ングターゲット。
  8. 【請求項8】請求項1〜6のいずれかに記載の金属群か
    ら選ばれた少なくとも一つの金属を、金属ベースの合計
    量で0.01〜10重量%含有したTi亜酸化物スパッ
    タリングターゲット。
  9. 【請求項9】主成分としてのチタン酸化物と100eV
    〜2000eVのイオンエネルギー領域における少なく
    とも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリン
    グ率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少な
    くとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆する
    方法において、少なくとも請求項7に記載のスパッタリ
    ングターゲットを用いて、酸素ガスを用いた反応性スパ
    ッタリング法にて作製することを特徴とする光触媒膜被
    覆物品の製造方法。
  10. 【請求項10】主成分としてのチタン酸化物と100e
    V〜2000eVのイオンエネルギー領域における少な
    くとも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリ
    ング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少
    なくとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆す
    る方法において、少なくとも請求項8に記載のスパッタ
    リングターゲットを用いて、スパッタリング法にて作製
    することを特徴とする光触媒膜被覆物品の製造方法。
  11. 【請求項11】主成分としてのチタン酸化物と100e
    V〜2000eVのイオンエネルギー領域における少な
    くとも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリ
    ング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少
    なくとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆す
    る方法において、前記光触媒膜を構成する金属または金
    属酸化物のスパッタリングターゲットをそれぞれ貼りつ
    けた2つのカソードを隣り合うように配置し、一方のカ
    ソードを陰極とするときは他方のカソードを陽極に、前
    記他方のカソードを陰極とするときは前記一方のカソー
    ドを陽極になるように、それらの極性を交互に反転させ
    て電圧を印加し、それにより生起させたグロー放電プラ
    ズマにより前記二つのターゲットを同時にスパッタリン
    グすることを特徴とする光触媒膜被覆物品の製造方法。
  12. 【請求項12】請求項9〜11のいずれかに記載の方法
    にて作製することを特徴とする光触媒膜が被覆された物
    品。
JP2000378033A 1999-12-21 2000-12-12 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット Pending JP2001240960A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000378033A JP2001240960A (ja) 1999-12-21 2000-12-12 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット
EP00985815A EP1253214A4 (en) 1999-12-21 2000-12-21 ARTICLE COATED WITH FILM PHOTOCALYST, MANUFACTURING PROCESS FOR IT AND SPUTTERING TARGET FOR COATING WITH THE CORRESPONDING FILM
PCT/JP2000/009092 WO2001046488A1 (fr) 1999-12-21 2000-12-21 Article recouvert d'un film photocatalyseur, procede de preparation dudit article et cible de pulverisation destinee a etre utilisee pour le depot du film
US10/168,253 US6761984B2 (en) 1999-12-21 2000-12-21 Article coated with photocatalyst film, method for preparing the article and sputtering target for use in coating with the film
US10/682,616 US20040069615A1 (en) 1999-12-21 2003-10-09 Article coated with photocatalyst film, method for preparing the article and sputtering target for use in coating the film

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11-363022 1999-12-21
JP36302299 1999-12-21
JP2000378033A JP2001240960A (ja) 1999-12-21 2000-12-12 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001240960A true JP2001240960A (ja) 2001-09-04

Family

ID=26581444

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000378033A Pending JP2001240960A (ja) 1999-12-21 2000-12-12 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット

Country Status (4)

Country Link
US (2) US6761984B2 (ja)
EP (1) EP1253214A4 (ja)
JP (1) JP2001240960A (ja)
WO (1) WO2001046488A1 (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003106732A1 (ja) * 2002-06-17 2003-12-24 日本板硝子株式会社 チタン化合物膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット
JP2005334796A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Tohoku Univ 可視光活性光触媒、及び可視光活性光触媒の製造方法
JP2006513325A (ja) * 2003-01-23 2006-04-20 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド 触媒を用いた無電解めっきによりパターン化された絶縁体上に金属層を形成する方法
KR100579204B1 (ko) * 2004-05-14 2006-05-11 한국산업기술대학교 금속중간층을 갖는 이산화티탄 광촉매 코팅재 및 그제조방법
JP2006130375A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Bridgestone Corp 水素貯蔵及び発生用触媒構造体並びにそれを用いた水素の貯蔵及び発生方法
JP2006144052A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Bridgestone Corp 金属ドープTiO2膜の成膜方法
JP2006152391A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Bridgestone Corp 金属をドープしたTiO2膜及びその成膜方法
JP2007039270A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Bridgestone Corp 金属ドープTiO2薄膜の結晶化方法及び金属ドープTiO2薄膜を有する積層体
JP2007532462A (ja) * 2004-04-13 2007-11-15 サン−ゴバン グラス フランス 可視光下で活性な光触媒性基材
JP2009050827A (ja) * 2007-08-29 2009-03-12 Sharp Corp 半導体酸化物膜およびその製造方法、ならびに半導体酸化物膜を用いた水素発生装置
US7612015B2 (en) 2001-12-21 2009-11-03 Nippon Sheet Glass Company, Limited Member having photocatalytic function and method for manufacture thereof
WO2010090137A1 (ja) * 2009-02-05 2010-08-12 日鉱金属株式会社 酸化チタンを主成分とする薄膜及び酸化チタンを主成分とする焼結体スパッタリングターゲット
JP2012092410A (ja) * 2010-10-28 2012-05-17 Nippon Electric Glass Co Ltd 多層膜の製造方法
JP2013049884A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Ulvac Japan Ltd スパッタリング装置
WO2014010400A1 (ja) * 2012-07-09 2014-01-16 旭硝子株式会社 積層体の製造方法および積層体

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7096692B2 (en) * 1997-03-14 2006-08-29 Ppg Industries Ohio, Inc. Visible-light-responsive photoactive coating, coated article, and method of making same
DE10140514A1 (de) * 2001-08-17 2003-02-27 Heraeus Gmbh W C Sputtertarget auf Basis von Titandioxid
DE10243132B4 (de) 2002-09-17 2006-09-14 Biocer Entwicklungs Gmbh Antiinfektiöse, biokompatible Titanoxid-Beschichtungen für Implantate sowie Verfahren zu deren Herstellung
KR100995085B1 (ko) * 2002-10-24 2010-11-19 허니웰 인터내셔날 인코포레이티드 향상된 냉각성과 감소된 편향 및 변형을 위한 타겟 디자인및 관련 방법
WO2004060560A1 (ja) * 2002-12-27 2004-07-22 Fujitsu Limited 光触媒アパタイト膜の形成方法
TWM249056U (en) * 2003-11-07 2004-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Computer
EP1680527B1 (en) * 2003-10-07 2012-03-21 Deposition Sciences, Inc. Apparatus and process for high rate deposition of rutile titanium dioxide
JP2005133110A (ja) * 2003-10-28 2005-05-26 Konica Minolta Opto Inc スパッタリング装置
JPWO2005056870A1 (ja) * 2003-12-09 2007-12-13 旭硝子株式会社 可視光で光触媒活性を有するTi酸化物膜およびその製造方法
JP2008503429A (ja) * 2004-06-25 2008-02-07 デグサ ノヴァラ テクノロジー ソチエタ ペル アツィオーニ 表面コーティングの方法に適したガラス膜およびその方法により得られた被覆製品
DE602005003228T2 (de) 2004-07-12 2008-08-28 Cardinal Cg Co., Eden Prairie Wartungsarme beschichtungen
JP2006083408A (ja) * 2004-09-14 2006-03-30 Shin Meiwa Ind Co Ltd 真空成膜装置
DE102004058426A1 (de) * 2004-12-03 2006-06-08 Interpane Entwicklungs- Und Beratungsgesellschaft Mbh & Co.Kg Hochtemperaturbeständiger Belag aus TiOx
JP5121002B2 (ja) * 2004-12-06 2013-01-16 日本板硝子株式会社 光触媒機能および熱線反射機能を有するガラス部材、ならびに、それを用いた複層ガラス
CN101213011B (zh) * 2005-03-29 2011-05-18 全世界株式会社 铂金作为分解消除空气中的有机化合物的主要触媒的技术方案,及于其相关的光触媒产品,光触媒层形成方法和光触媒体
CA2648686C (en) * 2006-04-11 2016-08-09 Cardinal Cg Company Photocatalytic coatings having improved low-maintenance properties
WO2007147832A1 (en) * 2006-06-21 2007-12-27 Agc Flat Glass Europe Sa Substrate with antimicrobial properties
CN100388974C (zh) * 2006-07-05 2008-05-21 重庆大学 金属离子掺杂非晶态二氧化钛光催化材料及其制备工艺
US20080011599A1 (en) 2006-07-12 2008-01-17 Brabender Dennis M Sputtering apparatus including novel target mounting and/or control
US20080087866A1 (en) * 2006-10-13 2008-04-17 H.C. Stark Inc. Titanium oxide-based sputtering target for transparent conductive film, method for producing such film and composition for use therein
DE102007025577B4 (de) * 2007-06-01 2011-08-25 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., 80686 Verfahren zur Herstellung von Titanoxidschichten mit hoher photokatalytischer Aktivität
TWI353388B (en) * 2007-09-12 2011-12-01 Taiwan Textile Res Inst Method for preparing titanium dioxide
US7820309B2 (en) 2007-09-14 2010-10-26 Cardinal Cg Company Low-maintenance coatings, and methods for producing low-maintenance coatings
EP2412844A4 (en) 2009-03-27 2016-12-21 Jx Nippon Mining & Metals Corp SPUTTERING TARGET OF A SINTERED TI-NB OXID BODY, TI-NB OXID THIN LAYER AND METHOD FOR PRODUCING THE THIN LAYER
US8551609B2 (en) * 2010-04-27 2013-10-08 Ppg Industries Ohio, Inc. Method of depositing niobium doped titania film on a substrate and the coated substrate made thereby
DE102013221029A1 (de) * 2013-10-16 2015-04-16 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung uniformer Schichten auf bewegten Substraten und derart hergestellte Schichten
US9720142B2 (en) * 2014-11-28 2017-08-01 Seiko Epson Corporation Optical component and timepiece
JP2016102950A (ja) * 2014-11-28 2016-06-02 セイコーエプソン株式会社 光学部品および時計
CN104789847A (zh) * 2015-04-22 2015-07-22 上海电机学院 高熵合金、高熵合金涂层及其在轴承滚动面的镀制方法
US10666841B2 (en) 2015-11-11 2020-05-26 Boston Scientific Scimed, Inc. Visualization device and related systems and methods
EP3541762B1 (en) 2016-11-17 2022-03-02 Cardinal CG Company Static-dissipative coating technology

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ES2202439T3 (es) * 1995-04-25 2004-04-01 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Sistema de pulverizacion que utiliza un magnetron cilindrico rotativo alimentado electricamente utilizando corriente alterna.
US6037289A (en) * 1995-09-15 2000-03-14 Rhodia Chimie Titanium dioxide-based photocatalytic coating substrate, and titanium dioxide-based organic dispersions
FR2738813B1 (fr) * 1995-09-15 1997-10-17 Saint Gobain Vitrage Substrat a revetement photo-catalytique
JP3781065B2 (ja) * 1996-08-29 2006-05-31 株式会社ブリヂストン 光触媒体
JP3781066B2 (ja) 1996-08-29 2006-05-31 株式会社ブリヂストン 光触媒
JPH10158814A (ja) * 1996-12-04 1998-06-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 真空成膜装置およびその使用方法
JPH10330131A (ja) 1997-05-29 1998-12-15 Ichikoh Ind Ltd 親水性薄膜及びその親水性薄膜を使用した車両用ミラー並びにガラス製品
JPH1160281A (ja) 1997-08-21 1999-03-02 Central Glass Co Ltd 光触媒ガラス及びその製造方法
JPH1192176A (ja) 1997-07-22 1999-04-06 Bridgestone Corp 光触媒膜及びその作製方法
WO2000006300A1 (en) * 1998-07-30 2000-02-10 Toto Ltd. Method for producing high-performance material having photocatalytic function and device therefor
JP3911355B2 (ja) * 1998-10-22 2007-05-09 シャープ株式会社 光触媒体の作製方法
JP3887499B2 (ja) 1998-11-10 2007-02-28 シャープ株式会社 光触媒体の形成方法
JP2000294980A (ja) * 1999-04-06 2000-10-20 Nippon Sheet Glass Co Ltd 透光性電磁波フィルタおよびその製造方法
JP2000345320A (ja) * 1999-06-02 2000-12-12 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 薄膜構造体及びその製造方法
JP2001025666A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Nippon Sheet Glass Co Ltd 積層体およびその製造方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7612015B2 (en) 2001-12-21 2009-11-03 Nippon Sheet Glass Company, Limited Member having photocatalytic function and method for manufacture thereof
WO2003106732A1 (ja) * 2002-06-17 2003-12-24 日本板硝子株式会社 チタン化合物膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット
JP2006513325A (ja) * 2003-01-23 2006-04-20 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド 触媒を用いた無電解めっきによりパターン化された絶縁体上に金属層を形成する方法
JP2007532462A (ja) * 2004-04-13 2007-11-15 サン−ゴバン グラス フランス 可視光下で活性な光触媒性基材
KR100579204B1 (ko) * 2004-05-14 2006-05-11 한국산업기술대학교 금속중간층을 갖는 이산화티탄 광촉매 코팅재 및 그제조방법
JP2005334796A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Tohoku Univ 可視光活性光触媒、及び可視光活性光触媒の製造方法
JP2006130375A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Bridgestone Corp 水素貯蔵及び発生用触媒構造体並びにそれを用いた水素の貯蔵及び発生方法
JP2006144052A (ja) * 2004-11-17 2006-06-08 Bridgestone Corp 金属ドープTiO2膜の成膜方法
JP2006152391A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Bridgestone Corp 金属をドープしたTiO2膜及びその成膜方法
JP2007039270A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Bridgestone Corp 金属ドープTiO2薄膜の結晶化方法及び金属ドープTiO2薄膜を有する積層体
JP2009050827A (ja) * 2007-08-29 2009-03-12 Sharp Corp 半導体酸化物膜およびその製造方法、ならびに半導体酸化物膜を用いた水素発生装置
WO2010090137A1 (ja) * 2009-02-05 2010-08-12 日鉱金属株式会社 酸化チタンを主成分とする薄膜及び酸化チタンを主成分とする焼結体スパッタリングターゲット
JP5214745B2 (ja) * 2009-02-05 2013-06-19 Jx日鉱日石金属株式会社 酸化チタンを主成分とする薄膜及び酸化チタンを主成分とする焼結体スパッタリングターゲット
JP2012092410A (ja) * 2010-10-28 2012-05-17 Nippon Electric Glass Co Ltd 多層膜の製造方法
JP2013049884A (ja) * 2011-08-30 2013-03-14 Ulvac Japan Ltd スパッタリング装置
WO2014010400A1 (ja) * 2012-07-09 2014-01-16 旭硝子株式会社 積層体の製造方法および積層体

Also Published As

Publication number Publication date
US6761984B2 (en) 2004-07-13
EP1253214A4 (en) 2004-07-07
WO2001046488A1 (fr) 2001-06-28
US20030054178A1 (en) 2003-03-20
EP1253214A1 (en) 2002-10-30
US20040069615A1 (en) 2004-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001240960A (ja) 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット
US6436542B1 (en) Multilayer structure and process for producing the same
JP5221364B2 (ja) 基材の製造方法
US7132373B2 (en) Thin metal oxide film and process for producing the same
EP1637225A1 (en) Photocatalyst member
JP2942829B1 (ja) 光無電解酸化法による金属酸化膜の形成方法
US6793980B2 (en) Method of forming photo-catalytic film made of titanium oxide on base material and laminated material thereof
US20060051597A1 (en) Article coated with titanium compound film, process for producing the article and sputtering target for use in coating the film
EP1791987A2 (de) Verfahren zum vakuumbeschichten mit einer photohalbleitenden schicht und anwendung des verfahrens
JPH1192176A (ja) 光触媒膜及びその作製方法
Kim et al. Structural analysis on photocatalytic efficiency of TiO2 by chemical vapor deposition
Park et al. Comparison of Electrochemical Luminescence Characteristics of Titanium Dioxide Films Prepared by Sputtering and Sol–Gel Combustion Methods
JP3829183B2 (ja) 光触媒体及びその製造方法
JP2004143584A (ja) ジルコニウム化合物膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット
JP4063577B2 (ja) 光触媒被膜を有する複合材料の製造方法
JP2005076105A (ja) 酸窒化チタン膜の成膜方法
JP4096606B2 (ja) チタン化合物膜被覆物品の製造方法
JP2003117404A (ja) 光触媒の製造方法及び光触媒
JP2001073116A (ja) 薄膜の製造方法
JP2002348665A (ja) 結晶性酸化チタン薄膜の高速成膜方法
JPH1192146A (ja) 光触媒積層膜
JP2008102272A (ja) エレクトロクロミック素子及びその製造方法
CN115125494A (zh) 过滤阴极电弧法制备TiO2基透明导电薄膜的方法及应用
JP2004033994A (ja) TiO2光触媒膜及びその作成方法、並びに該光触媒膜の結晶構造制御方法
JP2001062310A (ja) 光触媒材料

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040419

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080107

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080325

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20080411