JP2001240960A - 光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲット - Google Patents
光触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法及びその膜を被覆するために用いるスパッタリングターゲットInfo
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Abstract
パッタリング法で能率良く被覆する方法がなく、高活性
の光触媒膜が得られていなかった。 【解決手段】ガラス板にスパッタリング法により成膜さ
れた光触媒膜が被覆された物品であって、光触媒膜は主
成分であるチタン酸化物に対して、Arに対するスパッ
タリング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下であ
る少なくとも一種の金属、好ましくはFe、V、Mo、
Nb、Al、Crの金属群から選ばれた少なくとも一種
の金属を、金属ベースの合計量で0.01〜10重量%
含有している。この膜は、1)前記金属を金属ベースの
合計量で0.01〜10重量%含有したTi金属または
Ti亜酸化物スパッタリングターゲットを用いて成膜す
る方法、2)交互に陰極と陽極になるように反転する電
位を印加する2つのスパッタリングターゲットを用いて
成膜する方法、により基体上に被覆する。
Description
ガラス板である場合、汚れ防止性がある建築用の窓ガラ
ス、液晶やプラズマディスプレイなどのディスプレイ用
装置の窓ガラス、バイオテクノロジー分野で使用される
DNA分析用のガラス基板、太陽電池パネル等広範囲の
用途がある。また光触媒膜が被覆された基体が樹脂等の
枠体である場合、情報携帯機器、衛生設備、医療設備、
電子機器など種々の機器や設備に汚れ防止性が付与され
る。このように、光触媒膜は種々の基体に被覆される
と、汚れにくいあるい汚れを除去しやすい性質が表面に
付与される。さらに、光触媒膜は抗菌作用を有している
ので、生体・医療用の検査チップなどのバイオチップや
ケミカルチップに応用可能である。本発明は、基体に光
触媒膜が被覆された物品、その物品の製造方法およびそ
れを製造するために用いるスパッタリングターゲットに
関する。
て、特開平10−66879号公報には、ガラス板に酸
化チタン、酸化亜鉛、酸化タングステン等の膜を被覆し
たものが開示されている。そして、この光触媒膜にはそ
の光触媒活性を向上させるために白金、パラジウム、ニ
ッケル、銅、錫の金属を含有させることが好適であるこ
とが開示されている。そして、これらの光触媒膜は、光
触媒膜を構成する金属酸化物に対応する金属をターゲッ
トに用いて、酸素を含有する不活性ガス中でリアクティ
ブ(反応性)スパッタリングを行うことにより被覆する
ことが記載されている。
ッタリング法によって得られた酸化チタン等の光触媒膜
に対し、イオン注入法によって白金、ニッケル、クロ
ム、コバルト、錫、ニオブ、タンタルなどの金属イオン
を注入し、前記光触媒膜表面にこれら金属イオンをドー
ピングした物品が開示されている。
は、ソーダライムシリカガラス板の表面に、第1層のA
l2O3を含むSiO2膜を被覆し、その上に第2層とし
てTiO2を主成分とした膜を被覆した光触媒ガラスが
開示されている。そして、TiO2膜中にAl2O3、P2
O5、B2O3、ZrO2、SnO2、Ta2O5の金属酸化
物を、膜の緻密性の向上、膜強度の向上、耐アルカリ性
の向上、導電性の付与、紫外線のカットなどの目的で適
宜混入させることがよいとの記載がある。そしてこれら
の金属酸化物の膜は、金属アルコキシドや金属アセチル
アセトナートなどの有機金属化合物を熱分解して被覆す
ることが記載されている。
の図1には、ガラス板上にSiO2のベース層、TiO2
の光触媒層、SiO2のトップ層からなる光触媒膜が被
覆された多層構成の親水性の良好な光触媒膜被覆ガラス
物品が開示されており、この光触媒層には、Al2O3、
Y2O3、Ta2O5、La2O5を混入させた酸化チタン主
成分の層とすることが記載されている。そしてこれらの
金属酸化物層をエレクトロンビーム蒸着法で積層被覆す
ることが記載されている。
ち、特開平10−66879号公報に開示されている光
触媒膜は、光触媒活性を大きくするために、酸化チタン
膜に白金やパラジウムなどの金属を混入している。しか
しながら、チタンの金属ターゲットを用いる酸素反応性
スパッタリング法では、白金などの金属を含有する酸化
チタン膜を被覆する際に、チタンを酸化物状態に酸化す
る一方、触媒活性向上剤となる白金やパラジウムを酸化
させることなく金属状態で酸化チタン膜中に一定量再現
性よく含有させることは困難であるという問題点があっ
た。また、チタン酸化物のターゲットを用いるスパッタ
リング法では、白金などの金属粉を均一に酸化チタン焼
結体中に分散させた酸化物焼結体を製作することが困難
であるという問題点があった。
ているイオン注入による金属イオンドーピングでは、
1)膜の深さ方向に金属イオンの分布がつき、膜中に均
一にドーピングできないので、濃度ムラによるドープ過
剰やドープ不足が起こる、2)注入された金属の置換サ
イト周辺の格子乱れが大きくなり、ドーパントのドナー
やアクセプタとしての働きが発現しないばかりか、再結
合中心増加による光触媒活性低下が起こる、3)イオン
注入量をあまり多くできない、4)一度に数種のドーパ
ントを濃度を制御して注入することはできない、5)イ
オン注入により金属イオンをドープするので、たとえば
建築用の窓ガラスや住宅の屋根に設置される太陽電池パ
ネルや比較的大きな表示装置に用いられるガラス板など
大面積の基板に適用するのが難しい、等の課題があっ
た。
されている従来技術では、金属アルコキシドや金属アセ
チルアセトナートなどの有機金属化合物を基体に塗布し
た後、500〜600℃の高温に加熱することが必要で
あり、樹脂などの熱的に制限がある基体には適用できな
いという問題点があった。
131号公報の図1の光触媒層は、エレクトロンビーム
蒸着法で積層被覆するため、たとえば建築用の窓ガラス
や住宅の屋根に設置される太陽電池パネルや比較的大き
な表示装置に用いられるガラス板など大面積の基板に適
用するのが難しいという問題点があった。
を解決するためになされたものであって、その目的の第
1は、より改良された光触媒活性を有する物品を提供す
ることである。また本発明の目的の第2は、表面積が大
きくても改良された光触媒活性の物品を提供することで
ある。また本発明の目的の第3は、耐熱性が比較的弱い
基体であっても、その基体の表面を光触媒機能を有する
ようにすることである。さらに本発明の目的の第4は、
改良された光触媒膜を能率よく基体上に被覆する方法を
提供することである。
ッタリング法により成膜された光触媒膜が被覆された物
品であって、光触媒膜は、1)主成分であるチタン酸化
物と、2)100eV〜2000eVのイオンエネルギ
ー領域における少なくとも一種のエネルギーを持つAr
に対するスパッタリング率が、Tiの0.9倍以上、
2.7倍以下である少なくとも一種の金属、好ましくは
Fe、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれ
た少なくとも一種の金属、からなることを特徴とする光
触媒膜が基体上に被覆された物品である。
として含有し、少量成分として例えばFe、V、Mo、
Nb、Al、Crの金属群から選ばれた少なくとも一つ
の金属を含有することを特徴としている。チタン酸化物
の光触媒活性を高めるためのこれらの金属は、1種また
は2種以上を含有させることができる。
物の光触媒活性向上については、古くから研究されてき
ており、光触媒活性向上効果のある添加金属として数多
くの金属が検討されている(例えば、「化学総説39無
機光化学」、初版、128ページ、学会出版センター、
1983年;や、「酸化チタン」、第1版、178ペー
ジ、技報堂出版、1991年)。これらの金属がチタン
酸化物の光触媒活性を向上させる理由は明確ではない
が、これらの金属原子がチタン酸化物膜中の酸素と結合
しているチタン原子の一部と置き換わることで、原子の
配位状態が変化し、触媒活性なサイト(たとえば欠陥サ
イト、配位が切れて酸素やチタンの所属電子の一部がぶ
らぶらと相手を持たずに自由になっている、いわゆるダ
ングリングボンドの状態)が増えるためであると考えら
れる。また、金属ドープにより室温でも励起し易い電子
や正孔と言ったキャリアの密度が増えること(ドナーサ
イト、アクセプタサイトによる)も触媒活性を向上させ
る原因であると考えられる。
り成膜された光触媒膜が被覆された物品に関しており、
発明者らは通常の方法で、チタン酸化物膜に単に公知の
金属をドープするだけでは、効果的な光触媒活性向上効
果が認められないことを確認し、鋭意研究の結果、以下
の2法によって作製することで問題が解決できることを
見出した。
000eVのイオンエネルギー領域における少なくとも
一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリング率
(スパッタ率とも言う)が、Tiの0.9倍以上、2.
7倍以下である少なくとも一種の金属、好ましくはF
e、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれた
少なくとも一種の金属を、金属ベースの合計量で0.0
1〜10重量%含有したTi金属スパッタリングターゲ
ットまたはTi亜酸化物スパッタリングターゲットを用
いてスパッタリング法で成膜する方法、2)交互に陰極
と陽極になるように反転する電位を印加する2つのスパ
ッタリングカソードに2種のターゲットを設けてスパッ
タリング法で成膜する方法の二つの方法を見出した。
タ膜中にドープする金属は、100eV〜2000eV
のイオンエネルギー領域における少なくとも一種のエネ
ルギーを持つArに対するスパッタリング率が、Tiの
0.9倍以上、2.7倍以下である少なくとも一種の金
属、好ましくはFe、V、Mo、Nb、Al、Crの金
属群から選ばれた少なくとも一種の金属である。
1〜10重量%含有したTi金属スパッタリングターゲ
ットまたはTi亜酸化物スパッタリングターゲットを用
いて、酸素ガスを用いた反応性スパッタリング法や通常
のスパッタリング法によって、基体上に金属ドープチタ
ン酸化物膜を形成する。この際、金属とTiのスパッタ
リング率が大きく異なると、スパッタリングターゲット
組成と成膜組成が大きく異なったり、不均一な金属ドー
ピングすなわち金属の偏析が起こり、光触媒活性の向上
が阻害される。よって、ドープする金属のスパッタリン
グ率はTiの0.9倍以上、2.7倍以下、好ましくは
0.9倍以上、2.3倍以下とすべきである。金属のス
パッタリング率がTiの0.9倍より小さいと、膜組成
がTiリッチとなり、金属ドープの効果が発現し難いの
で好ましくなく、2.7倍より大きいと膜組成が金属リ
ッチとなり、また金属偏析が認められるようになって、
やはり光触媒活性向上が阻害され好ましくない。このよ
うな組成変動や金属偏析は、金属のスパッタリング率を
Tiの2.3倍より小さくすることで、さらに抑制する
ことができる。
ルゴン含有ガスでスパッタリングする方法、またそのよ
うな酸化物に対応する金属をターゲットとして、アルゴ
ンと酸素を含有する減圧した混合ガスで酸素プラズマに
よる反応性スパッタリング法を採用することができる。
上記のスパッタリングを行うときの放電プラズマを生起
させるための手段としては、直流グロー放電や中間周波
グロー放電あるいは高周波グロー放電を用いることがで
きる。金属をターゲットに用いてスパッタリングする場
合は、アルゴンと酸素の合計量に対して酸素を容量比率
で10〜1000%の範囲とするのが好ましい。スパッ
タリングは、0.07〜7Paの減圧下で行うのがよ
い。
ときに用いる亜酸化物ターゲットは、金属酸化物の混合
粉末あるいは金属の複合酸化物の粉末を用いることがで
きる。得られるターゲットの通電性の程度により、直流
電源、交流電源または高周波電源のいずれかを用いる。
金属ターゲットとしては、合金ターゲットや粉末の混合
焼結体などの混合金属ターゲットを用いる。
たは金属酸化物のスパッタリングターゲットをそれぞれ
有した2つのカソードを隣り合うように配置し、一方の
カソードを陰極とするときは他方のカソードを陽極に、
他方のカソードを陰極とするときは一方のカソードを陽
極になるように、それらの極性を交互に反転させて電圧
を印加してグロー放電プラズマを生起させ、それにより
2つのターゲットを同時にスパッタリングする方法であ
る。
が大きく異なると、目標組成と成膜組成が大きく異なっ
たり、不均一な金属ドーピングすなわち金属の偏析が起
こり、光触媒活性の向上が阻害される。よって前記方法
1と同様の理由で、ドープする金属のスパッタリング率
はTiの0.9倍以上、2.7倍以下、好ましくは0.
9倍以上、2.3倍以下である。
基体にバイアス電圧をかけたり、基体とターゲットの距
離を近づけるなどによりプラズマを膜に当てながら成膜
することで、低温でもより結晶性の触媒膜を基体上に被
覆することができる。
大きな面積の基体に、本発明の光触媒膜を被覆する場
合、基体をスパッタリングターゲットの前面を通過させ
ながら、被覆するのが基体全体に均一な厚みの膜を被覆
する上で好ましい。
ングターゲット中に均一に含有させておくことや、同時
に組成の異なる2種のターゲットをスパッタリングする
ことで、均一な膜組成が実現できる。上記1または2の
方法を用いてスパッタ法で成膜できるので、イオン注入
法で問題になるような金属の不均一性、チタン酸化物の
格子乱れによる光触媒活性低下、金属ドープ量の制御の
問題、複数金属ドープが困難であることなどの問題点は
ない。また、スパッタリング法であるので、例えば建築
用の窓ガラスや住宅の屋根に設置される太陽電池パネル
や比較的大きな表示装置に用いられるガラス板など大面
積の基板に適用することが容易である。また均質性・均
一性の要求品質が高いバイオチップやケミカルチップな
どにも適している。
e、V、Mo、Nb、Al、Crの金属群から選ばれた
少なくとも一種の金属である。これらのうち、Fe、
V、Mo、Nb、Crはチタン酸化物膜中でドナーとし
て働き、電子を供給し、キャリア密度の上昇による光触
媒活性向上に寄与する。Alはチタン酸化物膜中でアク
セプタとして働き正孔を供給し、やはりキャリア密度の
上昇による光触媒活性向上に寄与する。これら金属のう
ち、Fe、V、Moは、触媒活性向上効果が大きくかつ
安定であるので特に好ましい。
は、単に混合して用いるとお互いの供給キャリアが発生
時に相殺され好ましくないので、膜中のドナーとアクセ
プタの存在領域を深さ方向に分離し、発生した異種キャ
リアが再結合しないようにすることが好ましい。
結晶学的研究によれば、種々の結晶を取りうる。たとえ
ばチタン酸化物のアナターゼ構造、チタン酸化物のアナ
ターゼと微結晶と非晶質が混在した構造、アナターゼ結
晶とルチル結晶が混在した構造、非晶質層が多くを占め
る構造を取りうる。いずれの膜構造であっても、チタン
酸化物単独の成分で構成する場合に比べて、光触媒活性
度が大きい。
性を必要とするものではなく、酸化チタンの格子群のな
かに、ある程度の中間距離秩序が存在していればよい。
本発明の光触媒膜では、膜中の電子や正孔の従うエネル
ギーバンド構造について、エネルギーバンドのエッジ部
分での量子状態密度が非晶質構造により、ややぼやけた
ような状態になっていることが、むしろ大きな光触媒活
性がある。このことから、本発明の光触媒膜は、チタン
酸化物単独の場合に比較してより長波長の可視光を含む
光についても吸収とキャリアの生成が起こる。
触媒膜中の含有量は、膜中の金属ベースで0.01重量
%以上、10重量%以下とするのが好ましい。含有量が
0.01重量%未満では、触媒活性の向上効果がほとん
ど認められず、10重量%を越えるとチタン酸化物の格
子構造の中距離秩序が著しく乱れて光触媒キャリアの移
動距離が短くなり、光触媒活性が小さくなるので好まし
くない。
に限定されるものではなく、たとえばガラス、セラミッ
クス、石英等の無機材料やアルミニウム、ステンレス等
の金属材料やポリカーボネート、ポリメチルメタアクリ
レート、シリコーン、ポリスチレン、ポリイミド等の樹
脂材料を用いることができる。
膜が励起し、抗菌、脱臭、有機物の分解、親水性化等の
作用を発揮する。これにより本発明の物品は、表面が汚
れにくいあるいは汚れが取りやすい、細菌やウイルスが
繁殖し難いという性質を有するようになる。
媒活性を向上させる上記の金属は、基体上に被覆された
主成分がチタン酸化物光触媒膜の厚み方向に均一に分布
されていてもよく、厚み方向に含有量が異なるように分
布されていてもよい。そして、厚み方向に含有量を異な
るように分布させる場合は、光触媒膜の基体に近い側に
より多く含有させる、あるいは基体側とは反対側の光触
媒膜の光照射を受ける側により多くを含有させるように
してもよい。
を異なるようにする場合、基体上に上記の金属膜あるい
は金属酸化物の膜または金属を含有するチタン酸化物の
膜を成膜し、その上にチタン酸化物の膜を積層するか、
チタン酸化物の膜を基体上に成膜し、その上に上記の金
属または金属酸化物を含有するチタン酸化物の膜を積層
して積層体とし、この積層体の界面から金属をチタン酸
化物の膜内に熱拡散により含有させる。このようにして
得られた光触媒膜は、膜内での不純物の拡散と膜の結晶
促進を同時に行うことができるのでよい。膜中の厚み方
向に添加物としての金属について、傾斜濃度を有するよ
うにしてエネルギーバンド構造を非対称にし、キャリア
の極性を分散させることができる。これにより、膜内で
再結合消滅を防止した高い触媒活性を有する膜とするこ
とができる。このことは太陽電池素子の用途に用いると
きにとくに好ましい。
方法としては、積層体を基体に成膜するときに基体を加
熱する、あるいは基体に被覆した積層体を後加熱する方
法、およびこれらの両方法により行うことができる。上
記の熱拡散により金属酸化物を光触媒膜に含有させるた
めには、積層体を被覆するときの基体温度は通常150
℃以上がよく、250℃以上に加熱するのがさらによ
い。また、基体に被覆した積層体を後加熱により金属を
拡散含有させるには、通常150℃以上の加熱を行うの
がさらに好ましい。加熱温度の上限は、いずれの方法で
も基体が損傷しない温度範囲に定めればよい。
は、光触媒活性を実用的に必要であると考えられるレベ
ルにするために20nm以上とするのが好ましい。ま
た、それ以上厚くしても光触媒活性が増加しないという
意味で、経済性を考慮すると2000nm以下とするの
が好ましい。
とも一つの金属を、金属ベースの合計量で0.01〜1
0重量%含有したTi金属スパッタリングターゲットま
たはTi亜酸化物スパッタリングターゲットである。こ
れらターゲットは上記金属イオンがドープされた光触媒
膜を形成するために有用であり、光触媒活性が高い膜を
効率良く安定に供給することが可能である。
の断面図である。図1(a)では、本発明の物品10
は、基体であるガラス板11の上に光触媒膜12が被覆
されている。図1(b)では、本発明の物品10は、基
体であるガラス板11の上に金属酸化物膜13と光触媒
膜12が積層被覆され、金属が光触媒膜12の基体側の
内部に熱拡散により含有され、拡散層14が存在する。
図1(c)は、基体であるガラス板11上に光触媒膜1
2と金属酸化物膜13がこの順で積層被覆され、金属酸
化物が光触媒膜の表面側内部に熱拡散により含有され、
拡散層14を形成している。
る方法を説明するためのスパッタリング装置の要部断面
図である。光触媒膜を基体に被覆する成膜装置内は、ガ
ス導入管5からアルゴンガスまたは酸素ガスを導入し、
同時に成膜装置内を真空排気ポンプにより排気して、一
定圧力の減圧した雰囲気空間が調整される。この減圧空
間の雰囲気は、真空排気ポンプと導入ガス量、調圧バル
ブ(図示されない)などにより、その圧力およびガス組
成がスパッタリング可能となるように調整される。
が印加されると、それによりターゲット表面上に生起す
るグロー放電プラズマ中のアルゴンなどのプラスイオン
により、ターゲット2Aおよびターゲット2Bがスパッ
タリングされる。カソードへの電圧の印加は、正弦波、
パルス波、時間非対称波を用いることができる。また、
任意のフーリエ展開が可能な波形も用いることができ
る。ターゲットに導電性が無い場合は高周波を印加す
る。印加電圧波形の基準ゼロ電位は、通常成膜装置のア
ース電位と同じである。また二つのカソードに共通の極
性をもったDCバイアスを同時に印加してもよい。この
場合、通常成膜装置のアース電位と上記波形の基準ゼロ
電位は、フローティングで無関係な電位とする。
は負電圧が印加される。このときオシレーター(極性変
換機)8により、カソード1Aのカソードが陰極となっ
ているときにはカソード1Bが陽極になり、カソード1
Bが陰極になっているときにはカソード1Aが陽極にな
るように、それぞれのカソードの極性を交互に反転させ
てターゲット表面に蓄積する電荷の除電を行いながら、
瞬間的に見れば一方のカソードに負電圧を他方のカソー
ドに正電圧を印加して生起させた交互反転グロー放電3
により、二つのカソード表面に設置したターゲット2
A、2Bがスパッタリングされる。
以上が好ましい。1kHzより小さいとターゲット表面
に帯電する電荷の除電作用が低下し、放電が不安定にな
るので好ましくない。また、反転周波数が1MHzを越
えると、電圧振動に対するプラスイオンの運動遅延が生
じターゲット表面の除電作用が得られにくくなるので、
反転周波数は1MHz以下とするのが好ましい。
ス波、時間非対称波など時間軸に対し、二つのターゲッ
ト材料の表面の電荷が中和される正負のバランスのとれ
た印加電圧波形であれば、とくに限定されない。
性を反転させることにより、いわゆる陰極スパッタリン
グは、微視的には各ターゲットについて間欠的に行われ
るが、極性の反転周期を上記の好ましい範囲に選定する
ことにより、被覆という観点から巨視的にみると、ター
ゲット1Aおよびターゲット2Bが同時にスパッタリン
グされ、光触媒膜が基体に被覆される。
電位及び反転電流で中和され、除電されつつスパッタリ
ングされるので、堆積した膜表面に帯電した電荷が膜中
を絶縁破壊する際の熱衝撃が生じない。これにより熱衝
撃が起点となって発生する異常放電(アーキング、コロ
ナなど)が抑制され、あるいは生じなくなる。
表面をスパッタリングするクリーニング作用により、タ
ーゲットのエロージョン表面に堆積する膜を除去しなが
ら光触媒膜の被覆が行われる。このため二つのターゲッ
トのエロージョン部の表面には、電気絶縁性の被膜が堆
積するのが抑制され、通常の単一ターゲットを用いて金
属酸化物の膜を被覆するときに観察される、いわゆるア
ノード電極の消失現象が起きず、グロー放電プラズマが
光触媒膜の被覆の途中で停止することがない。これによ
り金属をターゲットに用いてスパッタリングガスに酸素
のような反応性ガスを用いたり、基体を加熱しても、安
定して金属酸化物の緻密な光触媒膜を基体に被覆するこ
とができる。
の場合、これらのターゲット背面には、通常銅を主成分
とするバッキングプレートとそれを冷却するための冷却
機構とマグネトロン構成用の強化磁石を、それぞれター
ゲットと一体化あるいは別にして装備される。またター
ゲット材とバッキングプレートの界面の密着性を上げる
ため通常銅などで作製されるバッキングプレート表面
に、ニッケルやインジウムなどの鍍金を施すのがよい。
(円筒)型のものを用いる場合は、筒状のバッキングシ
リンダ表面に円筒状のターゲット材を作製し、長手方向
の内部接線上にマグネトロン磁石を線状に配置し、磁石
は動かさずにこの筒をターゲットごと回転させる公知の
方法を用いることができる。これによりターゲットの全
面をエロージョン域とすることができ、ターゲット利用
効率の向上とエロージョンが移り変わることによるター
ゲット表面の冷却効果の向上が図れる。
した結果を実施例と比較例により以下に詳述する。
になるべく近いか、それ以下であることが、均一なドー
ピングを行なう上で好ましい。 ・スパッタリング法:大きく分けて次の2通りである。 1)直流電源を用いた直流スパッタリング(表1〜3中
でDCと表示:図3、図4、図6、図4では二つのター
ゲットにそれぞれ一つの直流電源を結合した。) 2)中間周波数電源を用いる印加電圧交互反転スパッタ
リング(表1〜3中でDM法と表示:図2のオシレータ
により反転周波数を40kHzに設定した正弦波を印加
できる電源を使用。図5にはターゲット形状が円筒状の
例を例示。)。 ・スパッタリングパワー:電圧400〜600V、投入
電力2〜20kWの範囲で調整した。 ・スパッタリングガス:金属亜酸化物をターゲットとし
て金属酸化物の膜を被覆するときは、アルゴンに1〜1
5容量%の酸素を含むガスを、金属をターゲットとして
金属酸化物膜を被覆するときは、10〜50容量%の酸
素を含むアルゴンガスを用いた。 ・スパッタリング圧力:0.5Pa ・成膜時の基板温度:表1〜3に示す。表1〜3におい
て「室温」とあるのは、基板を加熱しなかったことを示
す。 ・成膜後熱処理:表1〜3に示す。大気中で熱処理。 ・ターゲット組成:金属ベースの重量%で、(光触媒活
性向上金属/(光触媒活性向上金属+チタン金属))×
100で表示。表1〜3には、”Ti-aM”の形式で
表記。この表記は、a重量%のM金属を含むTi主成分
ターゲットを意味する。ただし、亜酸化物ターゲットの
場合は、金属ベースに換算した値。 ・スパッタ率比(M/Ti):500VでArにてスパ
ッタした時の、添加金属のスパッタ率のTiのスパッタ
率に対する比を表1〜2に示す。スパッタ率の値は、例
えば、「金属データブック」、改訂3版、389頁、丸善
(1993年)や、「薄膜作成の基礎」、初版、126〜
130頁、日刊工業新聞社(1983年)に記載されて
いる。
1〜3には、添加金属/(添加金属+Ti)の値を記載
している。 ・膜厚:透過型電子顕微鏡を用いて、膜の破断面を観察
することで測定した。
ンプル表面にトリオレイン(グリセロールトリオレー
ト、C 17H33COOCH(CH2OCOC17H33)2)を
0.1mg/cm2となるように塗布し、UVランプを
用いて紫外線を3mW/cm2の強度で連続照射し、時
間の経過と共にトリオレインが分解する割合を測定し
た。光触媒膜を形成しないガラス板を参照サンプルとし
て、紫外線照射による光触媒膜上のトリオレイン重量の
変化を、48時間後、60時間後、90時間後の3回測
定し、トリオレインが全て分解する時間により、光触媒
活性を次の4ランクに分けた。 トリオレインのほぼ100%が48時間以内で分解:◎ トリオレインのほぼ100%が60時間以内で分解:○ トリオレインのほぼ100%が90時間以内で分解:△ 90時間後にまだトリオレインが残留している :×
e金属を含有するTi主成分金属ターゲットを設置した
(FeとTiのスパッタ率比は2.16)。成膜装置内
を1.3×10-3Paに一旦真空排気した後、アルゴン
と酸素との混合ガス(70容量%のアルゴン、30容量
%酸素)を導入し、成膜装置内の圧力を0.4Paに維
持した。その後直流電源からカソードに電力を投入して
ターゲットをスパッタリングし、ターゲットの前面に、
100mm角の大きさのソーダライムシリカ組成のガラ
ス板を通過させ、厚み250nmの光触媒膜をガラス板
上に被覆した。被覆条件と光触媒活性の評価結果を表1
に示す。このガラス板を成膜装置内から取り出し、得ら
れた物品の光触媒膜の光触媒活性を評価したところ、4
8時間を経過した時点でほぼ100%のトリオレインが
分解された。この物品は、後述する表3記載の比較例で
得られた物品よりも光触媒活性が大きいことから、金属
元素Feを、スパッタリングターゲットに混合する方法
で、成膜した酸化チタン膜の光触媒活性の向上が認めら
れた。
ットを用いた以外は、実施例1と同様の条件で、厚み2
50nmの光触媒膜をガラス板上に被覆した。被覆条件
と光触媒活性評価を表1に示す。得られた物品の光触媒
膜は、後述する表3記載の比較例で得られた物品よりも
光触媒活性が大きく、本発明の効果が認められた。
Tiのスパッタ率比は1.27)を用いた以外は、実施
例1と同様の条件で、厚み250nmの光触媒膜をガラ
ス板上に被覆した。被覆条件と光触媒活性評価を表1に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
スパッタリング装置を用い、TiとMoの異種ターゲッ
トを同時放電することで、Mo金属をドープしたチタン
酸化物膜(厚み50nm)をガラス基板上に被覆した
(MoとTiのスパッタ率比は1.57)。各ターゲッ
トには直流スパッタ電源の電力を別個に印加し、Moの
チタン酸化物膜へのドープ量を調整した。被覆条件と光
触媒活性評価を表1に示す。得られた物品は、後述の表
3記載の比較例で得た物品よりも光触媒活性が大きく、
本発明の効果が認められた。
Tiのスパッタ率比は1.18)を用いた以外は、実施
例1と同様の条件で、光触媒膜をガラス板上に被覆し、
その後、大気中300℃で1時間熱処理し、膜厚300
nmの光触媒膜を得た。被覆条件と光触媒活性評価を表
2に示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記
載の比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、
本発明の効果が認められた。
ルマグネトロン法)にて、ガラス基板上に、FeとVの
2種金属をドープしたチタン酸化物膜を成膜した(Fe
とTiのスパッタ率比は2.16、VとTiのスパッタ
率比は1.27)。被覆条件と光触媒活性評価を表2に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
属を添加したTiターゲットを用い、スパッタガスとし
てArとO2が当体積含まれるガスを用いた他は、実施
例6と同様にして、ガラス基板上に上記3種金属をドー
プしたチタン酸化物膜を成膜した(FeとTiのスパッ
タ率比は2.16、VとTiのスパッタ率比は1.2
7、MoとTiのスパッタ率比は1.57)。被覆条件
と光触媒活性評価を表2に示す。得られた物品の光触媒
膜は、後述する表3記載の比較例で得られた物品よりも
光触媒活性が大きく、本発明の効果が認められた。
e,V,Moの3種金属が添加されたチタン亜酸化物タ
ーゲットを用いて、少量のO2を含むArガス(Ar:
O2=90:10)中で、250℃に加熱した基板ガラ
ス上に、これら3種金属をドープしたチタン酸化物膜を
被覆した(FeとTiのスパッタ率比は2.16、Vと
Tiのスパッタ率比は1.27、MoとTiのスパッタ
率比は1.57)。被覆条件と光触媒活性評価を表2に
示す。得られた物品の光触媒膜は、後述する表3記載の
比較例で得られた物品よりも光触媒活性が大きく、本発
明の効果が認められた。
ガラス基板上に被覆した。被膜の被覆条件および得られ
た光触媒膜の評価結果を表3に示す。得られた物品の光
触媒活性は、実施例の物品よりも低かった。
範囲から外れる金属をドープした光触媒膜を作製した。
比較例3では、Tiに対するスパッタ率比が2.75で
あるPtをドープしたチタン酸化物膜を、比較例4で
は、同スパッタ率比が4.08であるPdをドープした
チタン酸化物膜を、それぞれ実施例1と同様の方法で作
製した。被膜の被覆条件および得られた光触媒膜の評価
結果を表3に示す。得られた物品の光触媒活性は、何れ
も実施例の物品よりも低く、本件発明の効果が明らかで
ある。
実施例記載の光触媒膜は、チタン酸化物単独からなる光
触媒膜、または金属とTiのスパッタ率の比が本発明の
請求範囲から外れる光触媒膜よりも、光触媒活性が改善
された膜であることが明らかである。またスパッタリン
グ法で光触媒膜を基体に被覆するとき、二つ一組のカソ
ードを用いそれら二つのカソードに電圧の極性を交互に
反転するように印加させることにより、光触媒活性が高
い光触媒膜を基体に被覆できることがわかる。さらに、
本発明の所定の金属を添加したTi金属ターゲットやT
i亜酸化物ターゲットを用いれば、所定の金属イオンが
ドープされた光触媒活性が高い膜を効率良く安定に供給
することが可能であることも明らかである。
光触媒膜には、所定の金属が所定量含まれ、その金属は
光触媒活性を大きくする。
eVのイオンエネルギー領域における少なくとも一種の
エネルギーを持つArに対するスパッタリング率が、T
iの0.9倍以上、2.7倍以下である少なくとも一種
の金属を含むTi金属ターゲットやTi亜酸化物ターゲ
ットを用いてスパッタリング法で被覆されるので、ドー
ピング金属の不均一性や偏析を防ぐことができ、よって
光触媒活性の低下を抑制できる。また耐熱性が比較的小
さい材料からなる基体にも適用ができる。
属ターゲットやTi亜酸化物ターゲットを用いれば、所
定の金属イオンがドープされた光触媒活性が高い膜を効
率良く安定に供給することが可能である。
方法によれば、大きな光触媒活性を有する光触媒膜を大
きな被覆速度で被覆できる。
断面図である。
ッタリング装置の要部断面図である。
ッタリング装置(DCプレーナー法)の模式図である。
ッタリング装置(異種金属同時放電法)の模式図であ
る。
ッタリング装置(DM法)の模式図である。
ッタリング装置(DCシリンドリカル法)の模式図であ
る。
Claims (12)
- 【請求項1】基体上にスパッタリング法により成膜され
た光触媒膜が被覆された物品であって、前記光触媒膜
は、1)主成分であるチタン酸化物と、2)100eV
〜2000eVのイオンエネルギー領域における少なく
とも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリン
グ率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少な
くとも一種の金属、からなることを特徴とする光触媒膜
が基体上に被覆された物品。 - 【請求項2】前記金属の前記スパッタリング率が、Ti
の0.9倍以上、2.3倍以下であることを特徴とする
請求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。 - 【請求項3】前記金属がFe、V、Mo、Nb、Al、
Crの金属群から選ばれた少なくとも一つの金属である
ことを特徴とする請求項1に記載の光触媒膜が被覆され
た物品。 - 【請求項4】前記金属がFe、V、Mo、Nbの金属群
から選ばれた少なくとも一つの金属であることを特徴と
する請求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。 - 【請求項5】前記金属がFe、V、Moの金属群から選
ばれた少なくとも一つの金属であることを特徴とする請
求項1に記載の光触媒膜が被覆された物品。 - 【請求項6】前記金属の含有量は、金属ベースの合計量
で0.01〜10重量%であることを特徴とする請求項
1〜5のいずれかに記載の光触媒膜が基体上に被覆され
た物品。 - 【請求項7】請求項1〜6のいずれかに記載の金属群か
ら選ばれた少なくとも一つの金属を、金属ベースの合計
量で0.01〜10重量%含有したTi金属スパッタリ
ングターゲット。 - 【請求項8】請求項1〜6のいずれかに記載の金属群か
ら選ばれた少なくとも一つの金属を、金属ベースの合計
量で0.01〜10重量%含有したTi亜酸化物スパッ
タリングターゲット。 - 【請求項9】主成分としてのチタン酸化物と100eV
〜2000eVのイオンエネルギー領域における少なく
とも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリン
グ率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少な
くとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆する
方法において、少なくとも請求項7に記載のスパッタリ
ングターゲットを用いて、酸素ガスを用いた反応性スパ
ッタリング法にて作製することを特徴とする光触媒膜被
覆物品の製造方法。 - 【請求項10】主成分としてのチタン酸化物と100e
V〜2000eVのイオンエネルギー領域における少な
くとも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリ
ング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少
なくとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆す
る方法において、少なくとも請求項8に記載のスパッタ
リングターゲットを用いて、スパッタリング法にて作製
することを特徴とする光触媒膜被覆物品の製造方法。 - 【請求項11】主成分としてのチタン酸化物と100e
V〜2000eVのイオンエネルギー領域における少な
くとも一種のエネルギーを持つArに対するスパッタリ
ング率が、Tiの0.9倍以上、2.7倍以下である少
なくとも一種の金属を含有する光触媒膜を基体に被覆す
る方法において、前記光触媒膜を構成する金属または金
属酸化物のスパッタリングターゲットをそれぞれ貼りつ
けた2つのカソードを隣り合うように配置し、一方のカ
ソードを陰極とするときは他方のカソードを陽極に、前
記他方のカソードを陰極とするときは前記一方のカソー
ドを陽極になるように、それらの極性を交互に反転させ
て電圧を印加し、それにより生起させたグロー放電プラ
ズマにより前記二つのターゲットを同時にスパッタリン
グすることを特徴とする光触媒膜被覆物品の製造方法。 - 【請求項12】請求項9〜11のいずれかに記載の方法
にて作製することを特徴とする光触媒膜が被覆された物
品。
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