JP2001237682A - Spdtスイッチおよびそれを用いた通信機 - Google Patents

Spdtスイッチおよびそれを用いた通信機

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昭弘 笹畑
Yoshikazu Okamoto
恵和 岡本
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    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/40Circuits
    • H04B1/44Transmit/receive switching
    • H04B1/48Transmit/receive switching in circuits for connecting transmitter and receiver to a common transmission path, e.g. by energy of transmitter

Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型化、低コスト化の可能なSPDTスイッ
チを提供する。 【解決手段】 第1のFETQ3のドレインが第1の端
子P1に接続され、第2のFETQ4のソースが第2の
端子P2に接続され、第1のFETQ3のソースと第2
のFETQ4のドレインは互いに直接接続されるととも
に共通端子P3に接続されている。第1のFETQ3の
ピンチオフ電圧Vp1は0>Vp1>α−γの範囲に、
第2のFETQ4のピンチオフ電圧Vp2は0>Vp2
>γ−βの範囲に設定されている。そして、第2の制御
端子P8に固定電位γを印加し、第1の制御端子P7に
電位αとβを切り換えて印加して、第1および第2の端
子P1、P2のいずれか一方のみを共通端子P3と導通
させる。 【効果】 1つの制御端子に印加する電位を変えるだけ
でスイッチの切換ができるため、小型化と低コスト化が
実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、SPDTスイッチ
およびそれを用いた通信機、特に移動体通信機のアンテ
ナスイッチとして用いられるSPDTスイッチおよびそ
れを用いた通信機に関する。
【0002】
【従来の技術】近年の移動体通信機の小型化、低コスト
化にともなって、アンテナスイッチとして用いられるS
PDT(Single Pole Dual Thro
ugh)スイッチ(3つの端子を持ち、1つの端子に対
して残り2つの端子のいずれか一方を接続するスイッ
チ)においても小型化、低コスト化が求められている。
【0003】図7に、従来のSPDTスイッチとして、
特開平9−23101号公報にその基本構成が開示され
ているSPDTスイッチの回路図を示す。
【0004】図7において、SPDTスイッチ1は、第
1の端子P1、第2の端子P2、共通端子P3、第1の
FETQ1、第2のFETQ2、第1のインダクタンス
素子L1、第2のインダクタンス素子L2、抵抗R1、
R2、R3、第1の制御端子P4、第2の制御端子P
5、第3の制御端子P6から構成されている。ここで、
第1のFETQ1のソースは第1の端子P1に接続さ
れ、第2のFETQ2のソースは第2の端子P2に接続
され、第1のFETQ1のドレインと第2のFETQ2
のドレインは互いに接続されるとともに共通端子P3に
接続されている。また、第1のFETQ1のドレイン−
ソース間には第1のインダクタンス素子L1が接続さ
れ、第2のFETQ2のドレイン−ソース間には第2の
インダクタンス素子L2が接続されている。そして、第
1のFETQ1のゲートは抵抗R1を介して第1の制御
端子P4に、第2のFETQ2のゲートは抵抗R2を介
して第2の制御端子P5に、第1のFETQ1のドレイ
ンおよび第2のFETQ2のドレインは抵抗R3を介し
て第3の制御端子P6にそれぞれ接続されている。ま
た、第1のFETQ1および第2のFETQ2のピンチ
オフ電圧は、いずれも−0.5Vに設定されているもの
とする。なお、図7において、Dはドレインの位置を示
している。
【0005】このように構成されたSPDTスイッチ1
において、まず、第1の制御端子P4に0Vを、第2の
制御端子P5に−3Vを、第3の制御端子P6に0Vを
印加する。これによって第1のFETQ1のドレイン、
ソースの電位は0Vとなり、ゲート−ドレイン(ソー
ス)間の電圧が0Vとなって第1のFETQ1がオン状
態となる。一方、第2のFETQ2のドレイン、ソース
の電位も0Vとなり、ゲート−ドレイン(ソース)間は
−3Vでピンチオフ電圧以下となって第2のFETQ2
はオフ状態となる。第2のFETQ2は、オフ状態にお
いてドレイン−ソース間にオフ容量を持つ。そこで、第
2のインダクタンス素子L2のインダクタンス値を、第
2のFETQ2のオフ容量と並列共振し、しかもその共
振周波数が通過を阻止したい信号の周波数に一致するよ
うに設定しておく。これによって第2のFETQ2のド
レイン−ソース間は、理論的には阻止したい信号の周波
数において無限大のインピーダンスを持つようになる。
その結果、第1の端子P1と共通端子P3は第1のFE
TQ1を介して導通し、第2の端子P2と共通端子P3
は第2のFETQ2のオフ容量と第2のインダクタンス
素子L2との並列共振による無限大のインピーダンスに
よって遮断される。
【0006】一方、第1の制御端子P4に−3Vを、第
2の制御端子P5に0Vを、第3の制御端子P6に0V
を印加すると、上記の説明とは全く逆になり、第2の端
子P2と共通端子P3は第2のFETQ2を介して導通
し、第1の端子P1と共通端子P3は第1のFETQ1
のオフ容量と第1のインダクタンス素子L1との並列共
振による無限大のインピーダンスによって遮断される。
【0007】このように、SPDTスイッチ1において
は、第1の制御端子P4と第2の制御端子P5に印加す
る電圧を変えることによって、第1の端子P1と第2の
端子P2のいずれか一方を共通端子P3と導通させるこ
とができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図7に
示したSPDTスイッチ1においては、第1の制御端子
P4に0Vもしくは−3Vを印加する時には、同時に第
2の制御端子P5には−3Vもしくは0Vを印加する必
要がある。すなわち、第1の制御端子P4と第2の制御
端子P5のいずれに対しても0Vと−3Vの2系統の電
位を交互に印加できるようにしておく必要がある。具体
的にはその電位を変化させられる2本の制御線を用意し
たり、あるいは1本の制御線を途中で2つに分岐すると
ともに、さらにいずれか一方の信号を反転させるような
構成を用意する必要がある。
【0009】そして、この場合は制御線を引き回すため
の面積が大きくなったり、CPUなどの制御ポートが余
計に必要となったり、制御信号を反転させるためのロジ
ックが必要となったりして、小型化や低コスト化の妨げ
になるという問題がある。
【0010】本発明は上記の問題点を解決することを目
的とするもので、制御が容易で小型化の可能なSPDT
スイッチおよびそれを用いた通信機を提供する。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のSPDTスイッチは、第1および第2の端
子と、共通端子と、ショットキー接続構造のゲートを備
えた第1および第2のFETとを有し、前記第1のFE
Tのドレインを前記第1の端子に接続し、前記第2のF
ETのソースを前記第2の端子に接続し、前記第1のF
ETのソースと前記第2のFETのドレインを前記共通
端子に接続してなり、前記第2のFETのゲートにγの
固定電位を印加し、前記第1のFETのゲートにαもし
くはβ(α<γ<β)の電位を切り換えて印加すること
によって、前記第1および第2の端子のいずれか一方の
みを前記共通端子と導通させるSPDTスイッチであっ
て、前記第1のFETのピンチオフ電圧Vp1を 0>
Vp1>α−γ の範囲に設定し、前記第2のFETの
ピンチオフ電圧Vp2を 0>Vp2>γ−β の範囲
に設定してなることを特徴とする。
【0012】また、本発明のSPDTスイッチは、前記
第1のFETに並列に第1のインダクタンス素子を接続
し、前記第2のFETに並列に第2のインダクタンス素
子を接続してなることを特徴とする。
【0013】また、本発明のSPDTスイッチは、前記
第1のFETに直列に第1のインダクタンス素子を接続
し、前記直列接続された第1のFETおよび第1のイン
ダクタンス素子に並列に第1の容量素子を接続し、前記
第2のFETに直列に第2のインダクタンス素子を接続
し、前記直列接続された第2のFETおよび第2のイン
ダクタンス素子に並列に第2の容量素子を接続してなる
ことを特徴とする。
【0014】また、本発明のSPDTスイッチは、ショ
ットキー接続構造のゲートを備えるとともにピンチオフ
電圧Vp3を 0>Vp3>γ−β の範囲に設定した
第3のFETと、ショットキー接続構造のゲートを備え
るとともにピンチオフ電圧Vp4を 0>Vp4>α−
γ の範囲に設定した第4のFETを有し、前記第3の
FETのドレインを前記第1のFETのドレインに接続
し、前記第3のFETのソースを第1の接地コンデンサ
を介して接地し、前記第3のFETのゲートを前記第2
のFETのゲートに接続し、前記第4のFETのドレイ
ンを前記第2のFETのソースに接続し、前記第4のF
ETのソースを第2の接地コンデンサを介して接地し、
前記第4のFETのゲートを前記第1のFETのゲート
に接続したことを特徴とする。
【0015】また、本発明の通信機は、上記のSPDT
スイッチを用いたことを特徴とする。
【0016】このように構成することにより、本発明の
SPDTスイッチにおいては、制御が容易となり、小型
化と低コスト化を実現することができる。
【0017】また、本発明の通信機においても小型化と
低コスト化を図ることができる。
【0018】
【発明の実施の形態】図1に、本発明のSPDTスイッ
チの一実施例を示す。図1において、図Xと同一もしく
は同等の部分には同じ記号を付す。
【0019】図1において、SPDTスイッチ10は、
第1の端子P1、第2の端子P2、共通端子P3、ショ
ットキー接続構造のゲートを備えた第1のFETQ3、
ショットキー接続構造のゲートを備えた第2のFETQ
4、コンデンサC1、C2、C3、第1の制御端子P
7、第2の制御端子P8から構成されている。ここで、
第1のFETQ3のドレインはコンデンサC1を介して
第1の端子P1に接続され、第2のFETQ4のソース
はコンデンサC2を介して第2の端子P2に接続され、
第1のFETQ3のソースと第2のFETQ4のドレイ
ンは互いに直接接続されるとともにコンデンサC3を介
して共通端子P3に接続されている。そして、第1のF
ETQ3のゲートは第1の制御端子P7に、第2のFE
TQ4のゲートは第2の制御端子P8にそれぞれ接続さ
れている。なお、コンデンサC1、C2、C3はいずれ
も信号周波数において低いインピーダンスを有するカッ
プリングコンデンサである。
【0020】このようなSPDTスイッチ10を動作さ
せる前提として、まず3つの電位α、β、γを考える。
この3つの電位の大小関係は、 α<γ<β とする。さらに、第1のFETQ3のピンチオフ電圧V
p1は 0>Vp1>α−γ の範囲に、第2のFETQ4のピンチオフ電圧Vp2は 0>Vp2>γ−β の範囲に設定されているものとする。なお、ここではよ
り具体的にするために、例えば α=0V、γ=3V、β=6V に設定する。この場合、第1のFETQ3のピンチオフ
電圧Vp1は 0V>Vp1>−3V の範囲、第2のFETQ4のピンチオフ電圧Vp2は 0V>Vp2>−3V の範囲となるので、ここでは Vp1=Vp2=−0.5V に設定する。
【0021】このように構成されたSPDTスイッチ1
0において、まず、第2の制御端子P8に3V(γ)を
印加する。次に第1の制御端子P7に0V(α)を印加
する。このとき、第1のFETQ3のソースと第2のF
ETQ4のドレインは直結されており、しかも、第1の
FETQ3のゲートの電位(0V)よりも第2のFET
Q4のゲートの電位(3V)の方が高くなっているた
め、第1のFETQ3のソースおよび第2のFETQ4
のドレインの電位は第2のFETQ4のゲートの電位に
等しい3Vとなる。また、第1のFETQ3のドレイン
は直流的にオープンなので、そのゲート電位と等しい0
Vとなる。そして、第2のFETQ4のソースも直流的
にオープンなので、そのゲート電位と等しい3Vとな
る。その結果、第1のFETQ3においては、ゲート−
ソース間電圧が−3Vとなる。第1のFETQ3はピン
チオフ電圧Vp1=−0.5Vに設定されているため、
第1のFETQ3はオフ状態となる。一方、第2のFE
TQ4においては、ゲート−ソース(ドレイン)間電圧
が0Vとなる。第2のFETQ4もピンチオフ電圧Vp
2=−0.5Vに設定されているため、第2のFETQ
4はオン状態となる。この結果、第2の端子P2と共通
端子P3が信号周波数において導通し、第1の端子P1
と共通端子P3が信号周波数において遮断する。
【0022】第1のFETQ3と第2のFETQ4の各
端子の電位について、より具体的に説明するために、図
2に、第1のFETQ3と第2のFETQ4をダイオー
ドを用いた等価回路で置き換えたものを示す。図2より
分かるように、ショットキー接続構造のゲートを備えた
FETは、2つのダイオードのアノードを接続してゲー
トとし、2つのダイオードのカソードをそれぞれドレイ
ンおよびソースとしたものと等価となる。そのため、第
1の制御端子P7に0Vを印加し、第2の制御端子P8
に3Vを印加すると、第1のFETQ3のドレインはゲ
ートと同じ0Vに、第2のFETQ4のソースもゲート
と同じ3Vになる。そして、第1のFETQ3のソース
と第2のFETQ4のドレインは、2つのダイオードを
介して0Vおよび3Vに接続されているために、高い方
の電位である3Vになる。
【0023】図1に戻り、上記の場合とは逆に、第1の
制御端子P7に6V(β)を印加することもできる。こ
のとき、第2の制御端子P8には3V(γ)を印加した
ままである。この状態においては、第2のFETQ4の
ゲートの電位(3V)よりも第1のFETQ3のゲート
の電位(6V)の方が高くなっているため、上記の説明
とは逆に、第1のFETQ3のドレイン、ソースおよび
第2のFETQ4のドレインの電位は第1のFETQ3
のゲートの電位に等しい6Vになる。なお、第2のFE
TQ4のソースの電位は、そのゲートの電位に等しい3
Vのままである。その結果、第1のFETQ3において
は、ゲート−ソース(ドレイン)間電圧が0Vとなる。
第1のFETQ3はピンチオフ電圧Vp1=−0.5V
に設定されているため、第1のFETQ3はオン状態と
なる。一方、第2のFETQ4においては、ゲート−ド
レイン間電圧が−3Vとなる。第2のFETQ4はピン
チオフ電圧Vp2=−0.5Vに設定されているため、
第2のFETQ4はオフ状態となる。この結果、上記の
場合とは逆に、第1の端子P1と共通端子P3が信号周
波数において導通し、第2の端子P2と共通端子P3が
信号周波数において遮断する。
【0024】このように、SPDTスイッチ10におい
ては、第2の制御端子P8に印加する電位を3V(γ)
に固定した状態で、第1の制御端子P7に印加する電位
を0V(α)もしくは6V(β)に切り換えることによ
って、第1の端子P1と第2の端子P2のいずれか一方
を共通端子に導通させることができる。
【0025】その結果、SPDTスイッチ10において
は、切換制御に関しては1つの制御端子に印加する電圧
を切り換えるだけでよくなり、2つの制御端子に電圧を
切り換えて印加しなければならない従来のSPDTスイ
ッチに比べて、制御線を引き回すための面積を小さくす
ることができ、CPUなどの制御ポートも1つで済み、
しかも制御信号を反転させるためのロジックが必要にな
るということもなくなるため、SPDTスイッチの制御
が容易になり、さらに小型化や低コスト化を実現するこ
とができる。
【0026】ところで、SPDTスイッチ10におい
て、第1のFETQ3や第2のFETQ4は、オフの時
にドレイン−ソース間に小さいながらもオフ容量を持
つ。そのため、第1のFETQ3や第2のFETQ4が
オフの時にも、このオフ容量を介して微小な信号が流れ
ることが考えられ、アイソレーションの劣化の原因にな
る。
【0027】そこで、図3に、本発明のSPDTスイッ
チの別の実施例を示す。図3において、図1と同一もし
くは同等の部分には同じ記号を付し、その説明を省略す
る。
【0028】図3において、SPDTスイッチ20は、
第1のFETQ3のドレイン−ソース間に第1のインダ
クタンス素子L3が接続され、第2のFETQ4のドレ
イン−ソース間に第2のインダクタンス素子L4が接続
されている。そして、第1のインダクタンス素子L3の
インダクタンス値は、第1のFETQ3のオフ容量と並
列共振し、その共振周波数が通過を阻止したい信号の周
波数に一致するように設定してある。また、第2のイン
ダクタンス素子L4のインダクタンス値は、第2のFE
TQ4のオフ容量と並列共振し、その共振周波数が通過
を阻止したい信号の周波数に一致するように設定してあ
る。
【0029】このように構成することによって、SPD
Tスイッチ20においては、第1のFETQ3がオンの
時には、第1の端子P1と共通端子P3は第1のFET
Q3を介して接続し、第2の端子P2と共通端子P3は
第2のFETQ4のオフ容量と第2のインダクタンス素
子L4との並列共振のインピーダンスを介して接続す
る。
【0030】一方、第2のFETQ4がオンの時には、
第2の端子P2と共通端子P3は第2のFETQ4を介
して接続し、第1の端子P2と共通端子P3は第1のF
ETQ3のオフ容量と第1のインダクタンス素子L3と
の並列共振のインピーダンスを介して接続する。
【0031】このとき、FETのオン時のインピーダン
スは非常に小さく、逆にFETのオフ容量とインダクタ
ンス素子との並列共振のインピーダンスはほぼ無限大と
なる。したがって、SPDTスイッチ20においては、
第1の端子P1および第2の端子P2と共通端子P3と
は、オン時には第1もしくは第2のFETを介して導通
し、オフ時にはFETのオフ容量とインダクタンス素子
との並列共振による無限大のインピーダンスによって遮
断される。そのため、第1もしくは第2のFETのオフ
容量を介して信号が漏れることによるアイソレーション
の劣化を防止することができる。
【0032】上記に示したSPDTスイッチ10や20
においては、オン時には第1もしくは第2のFETのド
レイン−ソース間をそのまま信号が通過する。しかしな
がら、FETはオン時においてもドレイン−ソース間に
微小な抵抗を持つため、これが信号の損失の原因にな
る。
【0033】そこで、図4に、本発明のSPDTスイッ
チのさらに別の実施例を示す。図4において、図1と同
一もしくは同等の部分には同じ記号を付し、その説明を
省略する。
【0034】図4において、SPDTスイッチ30は、
第1のFETQ3のソースに直列に第1のインダクタン
ス素子L5が接続され、第2のFETQ4のドレインに
直列に第2のインダクタンス素子L6が接続されてい
る。また、直列接続された第1のFETQ3および第1
のインダクタンス素子L5に並列に第1の容量素子C4
が接続され、直列接続された第2のFETQ4および第
2のインダクタンス素子L6に並列に第2の容量素子C
5が接続されている。そして、第1のインダクタンス素
子L5のインダクタンス値は、第1のFETQ3のオフ
容量と直列共振し、その共振周波数が通過させたい信号
の周波数に一致するように設定してある。また、第1の
容量素子C4の容量値は、第1のFETQ3のオフ容量
と一致し、第1のインダクタンス素子L5と並列共振し
て、その共振周波数が通過を阻止したい信号の周波数に
一致するように設定してある。また、第2のインダクタ
ンス素子L4のインダクタンス値は、第2のFETQ4
のオフ容量と直列共振し、その共振周波数が通過を阻止
したい信号の周波数に一致するように設定してある。ま
た、第2の容量素子C5の容量値は、第2のFETQ4
のオフ容量と一致し、第2のインダクタンス素子L6と
並列共振して、その共振周波数が通過を阻止したい信号
の周波数に一致するように設定してある。
【0035】このように構成することによって、SPD
Tスイッチ30においては、第1のFETQ3がオンの
時には、第1の端子P1と共通端子P3は第1の容量素
子C4と第1のインダクタンス素子L5との並列共振の
インピーダンスを介して接続し、第2の端子P2と共通
端子P3は第2のFETQ4のオフ容量と第2のインダ
クタンス素子L6との直列共振のインピーダンスを介し
て接続する。
【0036】一方、第2のFETQ4がオンの時には、
第1の端子P1と共通端子P3は第1のFETQ3のオ
フ容量と第1のインダクタンス素子L5との直列共振の
インピーダンスを介して接続し、第2の端子P2と共通
端子P3は第2の容量素子C5と第2のインダクタンス
素子L6との並列共振のインピーダンスを介して接続す
る。
【0037】このとき、FETのオフ容量とインダクタ
ンス素子との直列共振のインピーダンスはほとんど0に
なり、逆に容量素子とインダクタンス素子との並列共振
のインピーダンスはほぼ無限大となる。したがって、S
PDTスイッチ30においては、上記のSPDTスイッ
チ10や20とは異なり、FETがオフの時に、そのオ
フ容量と直列に接続されたインダクタンス素子との直列
共振のインピーダンスによって導通し、逆にFETがオ
ンの時に、そのオフ容量と同じ容量値に設定された容量
素子とインダクタンス素子との並列共振のインピーダン
スによって遮断することができる。そして、導通時のイ
ンピーダンスがFETのオフ容量とインダクタンス素子
との直列共振を利用することによってほとんど0になる
ため、導通時の損失をより小さくし、低損失化を図るこ
とができる。
【0038】図5に、本発明のSPDTスイッチのさら
に別の実施例を示す。図5において、図1と同一もしく
は同等の部分には同じ記号を付し、その説明を省略す
る。
【0039】図5において、SPDTスイッチ40は、
SPDTスイッチ10の構成に加えてショットキー接続
構造のゲートを備えた第3のFETQ5と、ショットキ
ー接続構造のゲートを備えた第4のFETQ6と、第1
の接地コンデンサC6と、第2の接地コンデンサC7か
ら構成されている。ここで、第3のFETQ5のドレイ
ンは第1のFETQ3のドレインに接続され、ソースは
第1の接地コンデンサC6を介して接地され、ゲートは
第2のFETQ4のゲートに接続されている。また、第
4のFETQ6のドレインは第2のFETQ4のソース
に接続され、ソースは第2の接地コンデンサC7を介し
て接地され、ゲートは第1のFETQ3のゲートに接続
されている。さらに、第3のFETQ5のピンチオフ電
圧Vp3は第2のFETQ4のピンチオフ電圧と同様に 0>Vp3>γ−β の範囲に、第4のFETQ6のピンチオフ電圧Vp4は
第1のFETQ3のピンチオフ電圧と同様に 0>Vp4>α−γ の範囲に設定されている。ここでは、SPDTスイッチ
10における第1のFETQ3および第2のFETQ4
に合わせて、 Vp3=Vp4=−0.5V に設定する。なお、第1の接地コンデンサC6と第2の
接地コンデンサC7は、いずれも信号周波数において低
いインピーダンスを有するカップリングコンデンサであ
る。
【0040】このように構成されたSPDTスイッチ4
0において、まず第2の制御端子P8に3V(γ)が印
加され、第1の制御端子P7に0V(α)が印加される
と、第1のFETQ3はゲートが0V、ドレインが3
V、ソースが3Vとなりオフ状態となる。また、第2の
FETQ4は、ゲートが3V、ドレインが3V、ソース
も3Vとなりオン状態となる。また、第3のFETQ5
は、ゲートが3V、ドレインが3V、ソースが3Vとな
りオン状態となる。そして、第4のFETQ6は、ゲー
トが0V、ドレインが3V、ソースが0Vとなりオフ状
態となる。すなわち、第1のFETQ3と第4のFET
Q6がオフ状態となり、第2のFETQ4と第3のFE
TQ5がオン状態となる。この場合、第2の端子P2と
共通端子P3が第2のFETQ4を介して導通し、第1
の端子P1と共通端子P3は第1のFETQ3によって
遮断される。さらに、第3のFETQ5が導通すること
によって第3のFETQ5のドレイン、すなわち第1の
FETQ3のドレインが高周波的に接地される。これに
よって、第1のFETQ3のオフ容量を介して第1の端
子P1と共通端子P3の間に信号が流れるのを阻止し、
アイソレーションを良くすることができる。
【0041】一方、第2の制御端子P8に3V(γ)が
印加され、第1の制御端子P7に6V(β)が印加され
ると、第1のFETQ3はゲートが6V、ドレインが6
V、ソースが6Vとなりオン状態となる。また、第2の
FETQ4は、ゲートが3V、ドレインが6V、ソース
も6Vとなりオフ状態となる。また、第3のFETQ5
は、ゲートが3V、ドレインが6V、ソースが3Vとな
りオフ状態となる。そして、第4のFETQ6は、ゲー
トが6V、ドレインが6V、ソースが6Vとなりオン状
態となる。すなわち、第1のFETQ3と第4のFET
Q6がオン状態となり、第2のFETQ4と第3のFE
TQ5がオフ状態となる。この場合、第1の端子P1と
共通端子P3が第1のFETQ3を介して導通し、第2
の端子P2と共通端子P3は第2のFETQ4によって
遮断される。さらに、第4のFETQ6が導通すること
によって第4のFETQ6のドレイン、すなわち第2の
FETQ4のドレインが高周波的に接地される。これに
よって、第2のFETQ4のオフ容量を介して第2の端
子P2と共通端子P3の間に信号が流れるのを阻止し、
アイソレーションを良くすることができる。
【0042】このように、SPDTスイッチ40におい
ては、アイソレーションを改善することができる。
【0043】なお、一般に、ショットキー接続構造のゲ
ートを備えたFETにおいてはドレインとソースはゲー
トに対してほぼ対称な構造となっていて、ドレインをソ
ースとして、ソースをドレインとして用いることもでき
る。そのため、上記の各実施例においても、各FETの
ドレインとソースの接続関係は固定されるものではな
く、ドレインとソースを入れ替える構成としても構わ
ず、同様の作用効果が得られるものである。したがっ
て、本願発明においてはFETのドレインとソースの接
続関係に関しては特許請求の範囲や実施例には限定され
ないものである。
【0044】また、FETのドレインとソースを入れ換
えても構わないことからも分かるように、第2の制御端
子の固定電位を印加して第1の制御端子に2つの電位を
切り換えて印加する構成に限られるものではなく、第1
の制御端子の固定電位を印加して第2の制御端子に2つ
の電位を切り換えて印加する構成であっても構わないも
ので、全く同様の作用効果を奏するものである。
【0045】また、上記の各実施例を見て分かるよう
に、第1の制御端子と第2の制御端子のいずれもFET
のゲートに接続されており、電流を消費しない。そこ
で、各FETに印加する電圧としては、2つ以上の直流
電源を直列接続して、α、γ、βのそれぞれの電位を得
られるようにする以外に、β以上の電圧を有する直流電
源から抵抗分割でα、γ、βのそれぞれの電位を得る方
法でも構わないものである。
【0046】図6に、本発明の通信機の一実施例のブロ
ック図を示す。図6において、通信機50はアンテナ5
1と、図1に示したSPDTスイッチ10と、送信回路
52と、受信回路53と、制御回路54から構成されて
いる。ここで、アンテナ51はアンテナスイッチとして
用いられているSPDTスイッチ10の共通端子P3に
接続され、SPDTスイッチ10の第1の端子P1は送
信回路52に、第2の端子P2は受信回路53にそれぞ
れ接続されている。そして、送信回路52と受信回路5
3はそれぞれ制御回路54に接続され、制御回路54は
SPDTスイッチ10の第1の制御端子P7に接続され
ている。なお、図示は省略しているが、SPDTスイッ
チ10の第2の制御端子P8には小弟の固定電位が印加
されている。
【0047】このように構成された通信機50におい
て、制御回路54がSPDTスイッチ10の第1の制御
端子P7に印加する電位を切換制御することによって、
アンテナ51と送信回路52を接続して送信状態にした
り、アンテナ51と受信回路53を接続して受信状態に
したりすることができる。
【0048】そして、アンテナスイッチとして本発明の
SPDTスイッチ10を用いることによって、通信機5
0の小型化、低コスト化を図ることができる。
【0049】なお、通信機においては一般的に、送信す
る信号の電力に比較して受信する信号の電力の方が低
い。そのため、このような通信機のアンテナスイッチと
して用いられるSPDTスイッチにおいては、オン時に
送信信号の通過するFETの電力耐圧を、オン時に受信
信号が通過するFETの電力耐圧より大きく設定する。
これによって、SPDTスイッチのオーバースペックを
防止し、さらなる低コスト化を図ることができる。
【0050】なお、図6においてはSPDTスイッチ1
0を用いて通信機50を構成したが、図3ないし図5に
示したSPDTスイッチ20,30、40を用いて通信
機を構成しても構わないもので、同様の作用効果に加え
て、アイソレーションの改善や低損失化や低消費電力化
を図ることもできるものである。
【0051】
【発明の効果】本発明のSPDTスイッチによれば、第
1および第2の端子と、共通端子と、ショットキー接続
構造のゲートを備えた第1および第2のFETとを有
し、第1のFETのドレインを第1の端子に接続し、第
2のFETのソースを第2の端子に接続し、第1のFE
Tのソースと第2のFETのドレインを共通端子に接続
し、第1のFETのピンチオフ電圧Vp1を 0>Vp
1>α−γ の範囲に設定し、第2のFETのピンチオ
フ電圧Vp2を 0>Vp2>γ−β の範囲に設定
し、第2のFETのゲートにγの固定電位を印加し、第
1のFETのゲートにαもしくはβ(α<γ<β)の電
位を切り換えて印加することによって、第1および第2
の端子のいずれか一方のみを前記共通端子と導通させる
ことによって、小型化と低コスト化を実現することがで
きる。
【0052】また、第1のFETに並列に第1のインダ
クタンス素子を接続し、第2のFETに並列に第2のイ
ンダクタンス素子を接続することによって、上記の効果
に加えて遮断時のアイソレーションを改善することがで
きる。
【0053】また、第1のFETに直列に第1のインダ
クタンス素子を接続し、直列接続された第1のFETお
よび第1のインダクタンス素子に並列に第1の容量素子
を接続し、第2のFETに直列に第2のインダクタンス
素子を接続し、直列接続された第2のFETおよび第2
のインダクタンス素子に並列に第2の容量素子を接続す
ることによって、上記の効果に加えて導通時の損失を小
さくすることができる。
【0054】また、ショットキー接続構造のゲートを備
えるとともにピンチオフ電圧Vp3を 0>Vp3>γ
−β の範囲に設定した第3のFETと、ショットキー
接続構造のゲートを備えるとともにピンチオフ電圧Vp
4を 0>Vp4>α−γの範囲に設定した第4のFE
Tを有し、第3のFETのドレインを第1のFETのド
レインに接続し、ソースを第1の接地コンデンサを介し
て接地し、ゲートを前記第2のFETのゲートに接続
し、第4のFETのドレインを第2のFETのソースに
接続し、ソースを第2の接地コンデンサを介して接地
し、ゲートを第1のFETのゲートに接続することによ
って、遮断時のアイソレーションをさらに良くすること
ができる。
【0055】そして、本発明の通信機によれば、本発明
のSPDTスイッチを用いることによって、通信機の小
型化、低コスト化、低損失化、低消費電力化を図ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のSPDSTスイッチの一実施例を示す
回路図である。
【図2】図1のSPDTスイッチの等価回路を示す回路
図である
【図3】本発明のSPDTスイッチの別の実施例を示す
回路図である。
【図4】本発明のSPDTスイッチのさらに別の実施例
を示す回路図である。
【図5】本発明のSPDTスイッチのさらに別の実施例
を示す回路図である。
【図6】本発明の通信機の一実施例を示すブロック図で
ある。
【図7】従来のSPDTスイッチを示す回路図である。
【符号の説明】
10、20、30、40…SPDTスイッチ 50…通信機 P1…第1の端子 P2…第2の端子 P3…共通端子 P7…第1の制御端子 P8…第2の制御端子 Q3…第1のFET Q4…第2のFET Q5…第3のFET Q6…第4のFET C1、C2、C3…コンデンサ C4…第1の容量素子 C5…第2の容量素子 C6…第1の接地コンデンサ C7…第2の接地コンデンサ L3、L5…第1のインダクタンス素子 L4、L6…第2のインダクタンス素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J012 BA03 BA04 5J055 AX44 AX54 AX63 BX11 CX01 CX24 DX23 DX61 EX07 EX21 EX26 EY10 EY23 FX12 FX17 FX37 GX01 5K011 DA22 FA01 KA18

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1および第2の端子と、共通端子と、
    ショットキー接続構造のゲートを備えた第1および第2
    のFETとを有し、前記第1のFETのドレインを前記
    第1の端子に接続し、前記第2のFETのソースを前記
    第2の端子に接続し、前記第1のFETのソースと前記
    第2のFETのドレインを前記共通端子に接続してな
    り、 前記第2のFETのゲートにγの固定電位を印加し、前
    記第1のFETのゲートにαもしくはβ(α<γ<β)
    の電位を切り換えて印加することによって、前記第1お
    よび第2の端子のいずれか一方のみを前記共通端子と導
    通させるSPDTスイッチであって、 前記第1のFETのピンチオフ電圧Vp1を 0>Vp1>α−γ の範囲に設定し、前記第2のFETのピンチオフ電圧V
    p2を 0>Vp2>γ−β の範囲に設定してなることを特徴とするSPDTスイッ
    チ。
  2. 【請求項2】 前記第1のFETに並列に第1のインダ
    クタンス素子を接続し、 前記第2のFETに並列に第2のインダクタンス素子を
    接続してなることを特徴とする、請求項1に記載のSP
    DTスイッチ。
  3. 【請求項3】 前記第1のFETに直列に第1のインダ
    クタンス素子を接続し、前記直列接続された第1のFE
    Tおよび第1のインダクタンス素子に並列に第1の容量
    素子を接続し、 前記第2のFETに直列に第2のインダクタンス素子を
    接続し、前記直列接続された第2のFETおよび第2の
    インダクタンス素子に並列に第2の容量素子を接続して
    なることを特徴とする、請求項1に記載のSPDTスイ
    ッチ。
  4. 【請求項4】 ショットキー接続構造のゲートを備える
    とともにピンチオフ電圧Vp3を 0>Vp3>γ−β の範囲に設定した第3のFETと、ショットキー接続構
    造のゲートを備えるとともにピンチオフ電圧Vp4を 0>Vp4>α−γ の範囲に設定した第4のFETを有し、 前記第3のFETのドレインを前記第1のFETのドレ
    インに接続し、前記第3のFETのソースを第1の接地
    コンデンサを介して接地し、前記第3のFETのゲート
    を前記第2のFETのゲートに接続し、 前記第4のFETのドレインを前記第2のFETのソー
    スに接続し、前記第4のFETのソースを第2の接地コ
    ンデンサを介して接地し、前記第4のFETのゲートを
    前記第1のFETのゲートに接続したことを特徴とす
    る、請求項1または2に記載のSPDTスイッチ。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載のS
    PDTスイッチを用いたことを特徴とする通信機。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010161556A (ja) * 2009-01-07 2010-07-22 Alps Electric Co Ltd 高周波回路
JP2012029289A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Internatl Business Mach Corp <Ibm> スイッチ素子とインダクタとを含む構造体および半導体回路ならびにこれらに関する設計構造を実施する機械可読媒体

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6804502B2 (en) 2001-10-10 2004-10-12 Peregrine Semiconductor Corporation Switch circuit and method of switching radio frequency signals
US7493094B2 (en) * 2005-01-19 2009-02-17 Micro Mobio Corporation Multi-mode power amplifier module for wireless communication devices
US7071783B2 (en) * 2002-07-19 2006-07-04 Micro Mobio Corporation Temperature-compensated power sensing circuit for power amplifiers
US20040232982A1 (en) * 2002-07-19 2004-11-25 Ikuroh Ichitsubo RF front-end module for wireless communication devices
DE10313868B4 (de) * 2003-03-21 2009-11-19 Siemens Ag Katheter zur magnetischen Navigation
US7468543B2 (en) * 2003-09-19 2008-12-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor device, communication device, and semiconductor device inspecting method
US7853235B2 (en) * 2004-02-11 2010-12-14 Qualcomm, Incorporated Field effect transistor amplifier with linearization
US20050205986A1 (en) * 2004-03-18 2005-09-22 Ikuroh Ichitsubo Module with integrated active substrate and passive substrate
US7221207B2 (en) * 2004-06-04 2007-05-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor switching circuit for switching the paths of a high frequency signal in a mobile communications unit
EP1774620B1 (en) 2004-06-23 2014-10-01 Peregrine Semiconductor Corporation Integrated rf front end
US7254371B2 (en) * 2004-08-16 2007-08-07 Micro-Mobio, Inc. Multi-port multi-band RF switch
US7262677B2 (en) * 2004-10-25 2007-08-28 Micro-Mobio, Inc. Frequency filtering circuit for wireless communication devices
US7389090B1 (en) 2004-10-25 2008-06-17 Micro Mobio, Inc. Diplexer circuit for wireless communication devices
JP4298636B2 (ja) * 2004-11-26 2009-07-22 パナソニック株式会社 高周波スイッチ回路装置
US7221225B2 (en) 2004-12-03 2007-05-22 Micro-Mobio Dual band power amplifier module for wireless communication devices
US7084702B1 (en) * 2005-01-19 2006-08-01 Micro Mobio Corp. Multi-band power amplifier module for wireless communication devices
US7580687B2 (en) 2005-01-19 2009-08-25 Micro Mobio Corporation System-in-package wireless communication device comprising prepackaged power amplifier
US7769355B2 (en) * 2005-01-19 2010-08-03 Micro Mobio Corporation System-in-package wireless communication device comprising prepackaged power amplifier
US7548111B2 (en) * 2005-01-19 2009-06-16 Micro Mobio Corporation Miniature dual band power amplifier with reserved pins
US7498862B2 (en) * 2005-05-31 2009-03-03 Texas Instruments Incorporated Switch for handling terminal voltages exceeding control voltage
US7910993B2 (en) 2005-07-11 2011-03-22 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFET's using an accumulated charge sink
US9653601B2 (en) 2005-07-11 2017-05-16 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
US8742502B2 (en) 2005-07-11 2014-06-03 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus for use in improving linearity of MOSFETs using an accumulated charge sink-harmonic wrinkle reduction
USRE48965E1 (en) 2005-07-11 2022-03-08 Psemi Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US7890891B2 (en) 2005-07-11 2011-02-15 Peregrine Semiconductor Corporation Method and apparatus improving gate oxide reliability by controlling accumulated charge
US20080076371A1 (en) * 2005-07-11 2008-03-27 Alexander Dribinsky Circuit and method for controlling charge injection in radio frequency switches
US7535320B2 (en) * 2005-07-12 2009-05-19 U.S. Monolithics, L.L.C. Phase shifter with flexible control voltage
US20070063982A1 (en) * 2005-09-19 2007-03-22 Tran Bao Q Integrated rendering of sound and image on a display
US7477204B2 (en) * 2005-12-30 2009-01-13 Micro-Mobio, Inc. Printed circuit board based smart antenna
US7477108B2 (en) * 2006-07-14 2009-01-13 Micro Mobio, Inc. Thermally distributed integrated power amplifier module
US7612633B2 (en) * 2006-11-07 2009-11-03 Mitsubishi Electric Corporation High-frequency switch
US7960772B2 (en) 2007-04-26 2011-06-14 Peregrine Semiconductor Corporation Tuning capacitance to enhance FET stack voltage withstand
US20080275567A1 (en) 2007-05-01 2008-11-06 Exploramed Nc4, Inc. Extra-Articular Implantable Mechanical Energy Absorbing Systems
US7642880B2 (en) * 2007-06-29 2010-01-05 Nokia Corporation Switch arrangement
US20090102540A1 (en) * 2007-10-19 2009-04-23 Advantest Corporation Switch apparatus and control apparatus
JP2009159059A (ja) * 2007-12-25 2009-07-16 Samsung Electro Mech Co Ltd 高周波スイッチ回路
TWI350053B (en) * 2008-01-25 2011-10-01 Univ Nat Taiwan Single-pole single-throw switch circuit device
EP2568608B1 (en) 2008-02-28 2014-05-14 Peregrine Semiconductor Corporation Method and Apparatus for use in Digitally Tuning a Capacitor in an Integrated Circuit Device
US8723260B1 (en) 2009-03-12 2014-05-13 Rf Micro Devices, Inc. Semiconductor radio frequency switch with body contact
KR101301209B1 (ko) * 2009-12-16 2013-08-29 한국전자통신연구원 고주파 대역 스위칭용 씨모오스 스위치 및 스위칭 격리도 강화방법
JP5251953B2 (ja) * 2010-09-30 2013-07-31 株式会社村田製作所 スイッチ回路、半導体装置及び携帯無線機
US9324512B2 (en) * 2011-11-28 2016-04-26 Nanyang Technological University SPST switch, SPDT switch, SPMT switch and communication device using the same
US8896292B2 (en) 2011-12-22 2014-11-25 Semiconductor Components Industries, Llc System and method for gain adjustment in transimpedance amplifier configurations for analyte measurement
US9590674B2 (en) 2012-12-14 2017-03-07 Peregrine Semiconductor Corporation Semiconductor devices with switchable ground-body connection
KR101452072B1 (ko) * 2012-12-21 2014-10-16 삼성전기주식회사 고주파 스위치 회로
US20150236748A1 (en) 2013-03-14 2015-08-20 Peregrine Semiconductor Corporation Devices and Methods for Duplexer Loss Reduction
KR20150035219A (ko) * 2013-09-27 2015-04-06 삼성전기주식회사 고주파 스위치
US9406695B2 (en) 2013-11-20 2016-08-02 Peregrine Semiconductor Corporation Circuit and method for improving ESD tolerance and switching speed
US9831857B2 (en) 2015-03-11 2017-11-28 Peregrine Semiconductor Corporation Power splitter with programmable output phase shift
US9948281B2 (en) 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
TWI647909B (zh) * 2018-01-19 2019-01-11 立積電子股份有限公司 開關裝置
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10886911B2 (en) 2018-03-28 2021-01-05 Psemi Corporation Stacked FET switch bias ladders
US11476849B2 (en) 2020-01-06 2022-10-18 Psemi Corporation High power positive logic switch
US11736102B1 (en) * 2022-01-18 2023-08-22 Psemi Corporation RF switch with improved isolation at target frequencies

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3169775B2 (ja) * 1994-08-29 2001-05-28 株式会社日立製作所 半導体回路、スイッチ及びそれを用いた通信機
JPH08204530A (ja) * 1995-01-23 1996-08-09 Sony Corp スイツチ回路
JPH0923101A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Toshiba Corp 高周波スイッチ装置
JP3249393B2 (ja) * 1995-09-28 2002-01-21 株式会社東芝 スイッチ回路
JP3310203B2 (ja) * 1997-07-25 2002-08-05 株式会社東芝 高周波スイッチ装置
JP2000114950A (ja) * 1998-10-07 2000-04-21 Murata Mfg Co Ltd Spstスイッチおよびspdtスイッチおよびそれを用いた通信機

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010161556A (ja) * 2009-01-07 2010-07-22 Alps Electric Co Ltd 高周波回路
JP2012029289A (ja) * 2010-07-20 2012-02-09 Internatl Business Mach Corp <Ibm> スイッチ素子とインダクタとを含む構造体および半導体回路ならびにこれらに関する設計構造を実施する機械可読媒体

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