JP2001208506A - 測長ローラシステム - Google Patents
測長ローラシステムInfo
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Abstract
ようにし、該表面の劣化に起因して発生する異常に早急
に対応できるようにする。 【解決手段】 測長ローラシステムにおいて、連続的に
送られる帯状のワークWの表面に接触させて回転させ、
その回転に基づいて該ワークWの送り量を検出する測長
ローラ10と、回転する前記測長ローラ10の表面状態
を検出するレーザ変位計12と、該変位計12により計
測される変位量から前記測長ローラ10の表面の劣化を
判定する判定装置14とを備えている。
Description
ム、特に測長ローラの表面の劣化を迅速に検出する際に
適用して好適な測長ローラシステムに関する。
ーク(帯状体)を連続的に送る際の送り長さを測定する
装置として、送られるワークに測長ローラを接触させ、
該ワークの移動に伴うローラの回転に基づいて測定する
測長ローラシステムが知られている。
測長ローラシステムには、測長ローラ自体の劣化を診断
する機能がないため、該システムに異常が起きた場合
に、その異常が測長ローラの劣化が原因であることを特
定するまでに時間がかかるという問題があった。
くなされたもので、測長ローラの表面の劣化を迅速に検
出できるようにし、該表面の劣化に起因して発生した異
常に早急に対応することができる測長ローラシステムを
提供することを課題とする。
ステムにおいて、連続的に送られる帯状体の表面に接触
させて回転させ、その回転に基づいて該帯状体の送り量
を検出する測長ローラと、回転する前記測長ローラの表
面状態を検出する変位計と、前記変位計により計測され
る変位量から前記測長ローラの表面の劣化を判定する判
定手段とを備えたことにより、前記課題を解決したもの
である。
実施の形態について詳細に説明する。
ーラシステムの全体を概念的に示す概略構成図である。
的に送られる帯状のワーク(帯状体)Wの表面に接触さ
せて回転させ、その回転に基づいて該ワークWの送り量
を検出する測長ローラ10と、回転する前記測長ローラ
10の表面状態を検出するレーザ変位計12と、該変位
計12により計測される変位量から前記測長ローラ10
の表面の劣化を判定する判定装置14とを備えている。
初めとする各種演算を実行するコンピュータ16と、前
記測長ローラ10の回転に連動して後述するエンコーダ
から出力されるパルス信号をカウントするエンコーダ・
カウントボード18と、前記レーザ変位計12から入力
される変位量をデジタル信号に変換するA/Dボード2
0等により構成されている。
ワークWの横方向から見た正面図と、同図(B)にその
近傍を含む側面図をそれぞれ示したように、該測長ロー
ラ10の周囲には、接触するワークWとの間の滑りを防
止するためにウレタン(又はゴム等)10Aが貼り付け
てあり、又、フレーム部材22に支持されているその回
転軸10Bは、該フレーム部材22に固定されているエ
ンコーダ24に、カップリング26を介して連結され、
該測長ローラ10の回転に連動してこのエンコーダ24
からパルス信号が出力されるようになっている。
Wの送り長さを前記測長ローラ10により測定しなが
ら、その回転に伴って前記エンコーダ24から出力され
るエンコーダパルスと、前記レーザ変位計12から入力
される変位量とから、図3にイメージを示すような変位
量の測定データが得られる。
で測定した測長ローラ10の上面までの距離に相当する
電圧であり、その電圧を測長ローラ10の1回転毎に前
記エンコーダ24から出力されるZ相信号毎に取り込ん
で記録したもので、該測長ローラ10の1回転の間に測
定される上面までの距離、即ち表面状態に相当する電圧
プロファイルである。
長ローラ10の1回転毎に前記レーザ変位計12により
得られる、表面状態の変位量に相当する電圧プロファイ
ルを基に、以下のような2つの方法により、前記判定装
置14により測長ローラ10の異常(劣化)を判定する
ようになっている。
ローチャートであり、任意の時点で前記エンコーダ24
から出力されるZ相のパルス信号の立上がりが検出され
たら(ステップ1)、前記レーザ変位計12から入力さ
れる変位量のデータの収集(測定)を開始し(ステップ
2)、それを次のZ相のパルス信号の立上がりが検出さ
れるまで継続し、その立上がりが検出されたら(ステッ
プ3)、Z相1パルス間の表面状態の変位量データ(電
圧プロファイル)を平均し(ステップ4)、予め記憶し
てある測長ローラ10の設置時(初期)の変位量(基準
値)を読み出し(ステップ5)、その平均値(基準平均
値)と前記実測平均値とを比較して、前記判定装置14
により正常か否かを判定する(ステップ6)。
毎回実行し、平均後の基準値と実測値との差が所定の閾
値を超えた場合に異常と判定し、例えば即座にブザーを
自動的に鳴らす等により警告を発するようする。このよ
うにすることにより、本実施形態の測長ローラシステム
に、測長ローラ10の劣化に対する自己診断機能を持た
せることができる。
ローチャートである。この方法では、前記判定方法1の
場合のようにZ相間の変位量の平均値を比較するのでは
なく、今回のZ相間の電圧プロファイルを、前回の同プ
ロファイルと比較することにより判定する。そこで、ま
ず図4のステップ1〜3の場合と同様に、任意のZ相信
号間のデータを収集(測定)し、今回のデータとする
(ステップ11〜13)。
測定したプロファイルの1データのみを用いて比較定す
ると、ノイズの影響等により誤判定するおそれがあるの
で、前回とその近傍のデータの移動平均、例えば前回ま
での連続16データの平均値を求め、この平均プロファ
イルを比較判定のための「前回のデータ」とする(ステ
ップ14)。その後、前記ステップ11〜13で収集し
た今回の測定データと、前回のデータ(ステップ14で
求めた平均プロファイル)とを比較し(ステップ1
5)、その差に基づいて異常の判定を行う(ステップ1
6)。
10に生じている劣化を同様に迅速に検出することがで
きることから、結果として常にワークWの送り量を高精
度に測定することができる。
ローラシステムについて詳述する。図6は、本実施形態
の測長ローラシステムが適用された、連続シートを所定
の長さに順次断裁する断裁設備の概略を示したものであ
る。
巻かれている樹脂ロール30から引き出された連続シー
ト(帯状のワーク)Wを、図中右方向に連続的に送るド
ライブローラ32と、該ドライブローラ32により送ら
れる連続シートWを所定長さのシート片W′に断裁する
断裁機34と、断裁されたシート片W′を搬送するコン
ベア36とを備えている。そして、上記断裁機34の直
前には、本実施形態のシステムが備えている測長ローラ
10とレーザ変位計12とが配設されている。
ロール30から引き出された連続シートWを所定寸法の
シート片W′に断裁するために、前記断裁機34の直前
に測長ローラ10を取り付けて断裁する場合、断裁の寸
法精度は該測長ローラ10の測定精度により左右され
る。即ち、測長ローラ10が劣化して表面が異常な状態
になると断裁の寸法精度が低下することになる。このよ
うな測長ローラ10の劣化には、表面の摩耗や表面への
ゴミ(異物)の付着等がある。
ローラ10は長時間使用すると、その表面が次第に摩耗
して磨り減ることになり、ローラの半径、即ち周長が変
化してくる。その結果、測長ローラ10が1周する間に
前記変位計12からの出力(変位量)は、図7に実線で
示したプロファイルから、徐々に点線で示したプロファ
イルに変化していく。なお、通常、測長ローラ10には
僅かではあるが、ローラの偏芯やウレタン部10Aの貼
付精度に誤差があることから、この図7には誇張しては
あるが、半径に相当するそのプロファイルは完全な直線
にはならない。
7の点線のようになった場合、それを異常とするか否か
は、前記判定方法1によりZ相1周期分のデータの平均
値を求め、その平均値が図8に実線で示した設定時の変
位量(基準平均値)に対して設定した点線の閾値以下に
なった場合に、異常と判定する。このようにすることに
より、一定の寸法精度内に前記断裁機34による断裁精
度を維持することが可能となる。
(A)に誇張して示したように、ゴミが付着する場合
は、前記判定方法2を採用することにより、同図(B)
に実線で示した正常時のプロファイル(前回の変位)か
ら一部分のみが点線で示した状態(今回の変位)に変化
することから、そのプロファイルの差から異常を判定す
ることができる。なお、図7、8、9の変位量は、レー
ザ変位計からの電圧出力をA/D変換し、分解能を補正
した後の値である。変位量大は、レーザ変位計と測長ロ
ール表面間の距離が小さくなる方向を表わしている。
特定に時間がかかっていた測長ローラ10の劣化に起因
して発生していたシステムの異常の原因を即座に判定す
ることが可能となるため、生産性を大幅に向上すること
が可能となる。
が、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるも
のでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能で
ある。
ーザ変位計を使用する場合を示したが、接触式変位計を
用いるようにしてもよい。
測長ローラの表面の劣化を迅速に検出できることから、
該表面の劣化に起因して発生する異常に早急に対応する
ことができるようになる。
の全体を概念的に示す概略構成図
示す側面図
施例を示す概略構成図
図
する線図
を説明する線図
Claims (3)
- 【請求項1】連続的に送られる帯状体の表面に接触させ
て回転させ、その回転に基づいて該帯状体の送り量を検
出する測長ローラと、 回転する前記測長ローラの表面状態を検出する変位計
と、 前記変位計により計測される表面状態の変位量から前記
測長ローラの表面の劣化を判定する判定手段とを備えて
いることを特徴とする測長ローラシステム。 - 【請求項2】請求項1において、 前記判定手段が、前記測長ローラの1回転毎に計測され
る変位量の平均値に基づいて前記劣化を判定することを
特徴とする測長ローラシステム。 - 【請求項3】請求項1において、 前記判定手段が、前記測長ローラの1回転毎に計測され
る変位量のプロファイルに基づいて前記劣化を判定する
ことを特徴とする測長ローラシステム。
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- 2000-01-28 JP JP2000019540A patent/JP4565687B2/ja not_active Expired - Fee Related
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