JP2001185541A5 - 金属配線の形成方法 - Google Patents
金属配線の形成方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2001185541A5 JP2001185541A5 JP1999369401A JP36940199A JP2001185541A5 JP 2001185541 A5 JP2001185541 A5 JP 2001185541A5 JP 1999369401 A JP1999369401 A JP 1999369401A JP 36940199 A JP36940199 A JP 36940199A JP 2001185541 A5 JP2001185541 A5 JP 2001185541A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- forming
- reaction chamber
- metal wiring
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title description 23
- 239000002184 metal Substances 0.000 title description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 8
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 8
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 6
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000003197 catalytic Effects 0.000 description 5
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 5
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005712 crystallization Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 4
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004429 atoms Chemical group 0.000 description 2
- 238000005247 gettering Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 2
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon(0) Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N HCl Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229920001721 Polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N krypton(0) Chemical compound [Kr] DNNSSWSSYDEUBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 241000894007 species Species 0.000 description 1
- 235000013619 trace mineral Nutrition 0.000 description 1
- 239000011573 trace mineral Substances 0.000 description 1
Description
【特許請求の範囲】
【請求項1】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH2Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記H 2 Oガスと前記塩素系化合物が反応してHClガスが生成されることを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項2】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH 2 Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記反応室内の温度は70℃〜200℃の範囲内で、前記反応室内の圧力は前記塩素系化合物の飽和蒸気圧よりも低いことを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項3】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH 2 Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記反応室内の温度は70℃〜100℃の範囲内で、前記反応室内の圧力は前記塩素系化合物の飽和蒸気圧よりも低いことを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項4】
請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、前記金属膜は、アルミニウム膜、アルミニウムを主に含む単層膜、または、アルミニウムを主に含む膜とアルミニウム以外の金属を主に含む膜との積層膜であることを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項5】
請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、前記不活性ガスは、Ar(アルゴン)、Kr(クリプトン)もしくはXe(キセノン)から選ばれたー種または複数種であることを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項1】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH2Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記H 2 Oガスと前記塩素系化合物が反応してHClガスが生成されることを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項2】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH 2 Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記反応室内の温度は70℃〜200℃の範囲内で、前記反応室内の圧力は前記塩素系化合物の飽和蒸気圧よりも低いことを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項3】
金属膜を形成する第1の工程と、
前記金属膜上にフォトレジストを形成する第2の工程と、
反応室内で、前記フォトレジストをマスクとして、前記金属膜を塩素を含有するガスを用いてエッチングして、金属配線を形成する第3の工程と、
前記第3の工程の後に、前記反応室内にH 2 Oガスを導入する第4の工程と、
前記第4の工程の後に、前記反応室内で不活性ガスによりプラズマ処理を行う第5の工程とを有し、
前記第3の工程において、前記金属配線の表面には塩素系化合物が生成され、
前記第4の工程において、前記反応室内の温度は70℃〜100℃の範囲内で、前記反応室内の圧力は前記塩素系化合物の飽和蒸気圧よりも低いことを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項4】
請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、前記金属膜は、アルミニウム膜、アルミニウムを主に含む単層膜、または、アルミニウムを主に含む膜とアルミニウム以外の金属を主に含む膜との積層膜であることを特徴とする金属配線の形成方法。
【請求項5】
請求項1乃至請求項4のいずれか一項において、前記不活性ガスは、Ar(アルゴン)、Kr(クリプトン)もしくはXe(キセノン)から選ばれたー種または複数種であることを特徴とする金属配線の形成方法。
図2のエッチング装置は、真空予備室201および反応室202を有する枚葉式のドライエッチング装置である。図2において、203は基板カセット、204および205はゲート弁、206は基板移載アーム、207と208は真空排気配管、209と210は真空排気ポンプ、211および212はガス供給配管である。
そして、結晶化の工程を行い非晶質シリコン膜6003aから結晶質シリコン膜6003bを形成する。その方法として、レーザーアニール法や熱アニール法固相成長法)、またはラピットサーマルアニール法(RTA法)を適用することができる。前述のような耐熱性の劣るプラスチック基板を用いる場合には、特にレーザーアニール法を適用することが望ましい。RTA法では、赤外線ランプ、ハロゲンランプ、メタルハライドランプ、キセノンランプなどを光源に用いる。本実施例では、特開平7−130652号公報で開示された技術に従って、触媒元素を用いる結晶化法で結晶質シリコン膜6003bを形成する。結晶化の工程に先立って、非晶質シリコン膜の含有水素量にもよるが、400〜500℃で1時間程度の熱処理を行い、含有水素量を5atoms%以下にしてから結晶化させることが望ましい。非晶質シリコン膜を結晶化させると原子の再配列が起こり緻密化するので、作製される結晶質シリコン膜の厚さは当初の非晶質シリコン膜の厚さ(本実施例では54nm)よりも1〜15%程度減少する(図3(B))。
次に、レジストマスク6023〜6027を形成し、導電層(A)6021と導電層(B)6022とを一括でエッチングしてゲート電極6028〜6031と容量配線6032を形成する。ゲート電極6028〜6031と容量配線6032は、導電層(A)から成る6028a〜6032aと、導電層(B)から成る6028b〜6032bとが一体として形成されている。この時、駆動回路を構成するTFTのゲート電極6029〜6030は不純物領域6017、6018の一部と、ゲート絶縁膜6020を介して重なるように形成する(図4(D))。
島状半導体層が、非晶質シリコン膜から触媒元素を用いる結晶化の方法で作製される場合、島状半導体層中には微量の触媒元素が残留する。勿論、そのような状態でもTFTを完成させることが可能であるが、残留する触媒元素を少なくともチャネル形成領域から除去する方がより好ましい。この触媒元素を除去する手段の一つにP(リン)によるゲッタリング作用を利用する手段がある。ゲッタリングに必要なP(リン)の濃度は図5(B)で形成されている不純物領域(n+)と同程度であり、ここで実施される活性化工程の熱処理により、nチャネル型TFTおよびpチャネル型TFTのチャネル形成領域から触媒元素をゲッタリングすることができる(図5(D))。
図7を参照する。図8の状態のアクティブマトリクス基板に配向膜6201を形成する。本実施例では、配向膜6201にはポリイミドを用いた。次に、対向基板を用意する。対向基板は、ガラス基板6202、遮光膜6203、透明導電膜からなる対向電極6204、配向膜6205とで構成される。
画素部1001の行ごとに走査線1030が形成され、列ごとに信号線1040が形成されている。走査線1030、信号線1040の交差部近傍には、画素TFT1010が形成されている。画素TFT1010のゲート電極は走査線1030に接続され、ソースは信号線1040に接続されている。更に、ドレインには画素電極1060、保持容量1070が接続されている。
図12(A)はフロント型プロジェクターであり、光源光学系および表示部2601、スクリーン2602で構成される。本発明は表示部やその他の信号制御回路に適用することができる。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36940199A JP4583533B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 金属配線の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36940199A JP4583533B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 金属配線の形成方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001185541A JP2001185541A (ja) | 2001-07-06 |
JP2001185541A5 true JP2001185541A5 (ja) | 2007-02-01 |
JP4583533B2 JP4583533B2 (ja) | 2010-11-17 |
Family
ID=18494328
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36940199A Expired - Fee Related JP4583533B2 (ja) | 1999-12-27 | 1999-12-27 | 金属配線の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4583533B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6457896B2 (ja) * | 2015-07-09 | 2019-01-23 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP6789721B2 (ja) * | 2016-08-12 | 2020-11-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理方法及び基板処理装置 |
CN110571129B (zh) * | 2018-06-05 | 2022-08-02 | 上海新微技术研发中心有限公司 | 一种导电金属氧化物的加工方法 |
JP7199174B2 (ja) * | 2018-07-26 | 2023-01-05 | 東京エレクトロン株式会社 | エッチング方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0341728A (ja) * | 1989-07-07 | 1991-02-22 | Fujitsu Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH0468525A (ja) * | 1990-07-10 | 1992-03-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アルミニウムドライエッチング方法及び装置 |
JPH0786253A (ja) * | 1993-09-20 | 1995-03-31 | Fujitsu Ltd | レジスト膜の灰化方法と水蒸気の供給方法 |
JPH07235543A (ja) * | 1994-02-24 | 1995-09-05 | Hitachi Ltd | プラズマ処理方法 |
JPH0969525A (ja) * | 1995-08-31 | 1997-03-11 | Mitsubishi Electric Corp | 金属配線の処理方法 |
-
1999
- 1999-12-27 JP JP36940199A patent/JP4583533B2/ja not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100881992B1 (ko) | 반도체장치 제조방법 | |
US7588981B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
US7538011B2 (en) | Method of manufacturing a semiconductor device | |
JP4024508B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP4718700B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2003086510A (ja) | 半導体装置およびその作製方法 | |
JP4785258B2 (ja) | 半導体装置及びその作製方法 | |
JP2001185541A5 (ja) | 金属配線の形成方法 | |
US20030089911A1 (en) | Semiconductor device and method of manufacturing the same | |
US7232742B1 (en) | Method of manufacturing a semiconductor device that includes forming a material with a high tensile stress in contact with a semiconductor film to getter impurities from the semiconductor film | |
JP2000133594A (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP4583533B2 (ja) | 金属配線の形成方法 | |
JP4766724B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP4304374B2 (ja) | トップゲート型薄膜トランジスタ | |
JP4201883B2 (ja) | Tftアレイ基板及びこれを用いた液晶表示装置並びにtftアレイ基板の製造方法 | |
JP2001223219A (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP4326734B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2003297750A (ja) | 半導体装置およびその作製方法 | |
JP2003289079A (ja) | 薄膜トランジスタ装置の製造方法 | |
JPH11135797A (ja) | 積層膜の形状加工方法およびそれを利用した薄膜トランジスタの製造方法 | |
JP3216173B2 (ja) | 薄膜トランジスタ回路の製造方法 | |
JP4127467B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP4853845B2 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JPH0661259A (ja) | 薄膜トランジスタの製造方法 | |
JP2003297749A (ja) | 半導体装置およびその作製方法 |