JP2001168537A - 多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法 - Google Patents
多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法Info
- Publication number
- JP2001168537A JP2001168537A JP34459399A JP34459399A JP2001168537A JP 2001168537 A JP2001168537 A JP 2001168537A JP 34459399 A JP34459399 A JP 34459399A JP 34459399 A JP34459399 A JP 34459399A JP 2001168537 A JP2001168537 A JP 2001168537A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide mark
- wiring board
- guide
- printed wiring
- multilayer printed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/46—Manufacturing multilayer circuits
- H05K3/4644—Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits
- H05K3/4679—Aligning added circuit layers or via connections relative to previous circuit layers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
量を観測、記録する。 【解決手段】 多層プリント配線板60の内層用の両面
配線板61の表裏の導体層に中実ガイドマーク22と中
空ガイドマーク23が形成され、例えば、中実ガイドマ
ーク22−1bに、隣接した導体層に設けられた中空ガ
イドマーク23−2aが同心に配置され、隣接した導体
層毎に同心に配置された中実、中空ガイドマーク22、
23を形成する。X線カメラの視野内に納まる外形のガ
イドマーク枠21内に、例えば3行3列に、同心の中
実、中空ガイドマーク22(1a〜5a)、23(1b
〜5b)の組が配されている。ガイドマーク群20は多
層プリント配線板の、たとえば4隅に配置され、1個の
ガイドマーク群は1回のX線照射で枠内のガイドマーク
全ての像を取り込み、それらの座標値が計算される。4
個のガイドマーク群内のガイドマークの座標値から、各
導体層に形成された配線用パターンの変形量が計算さ
れ、結果を記録できる。
Description
間ズレを精度良く識別できるガイドマークを導体層に形
成した多層プリント配線板と、これらのガイドマーク測
定に好適な測定方法に関する。
の表面実装用の電子部品の小型化に伴い、これらを実装
するプリント配線板も高密度化が要求されて、多層化さ
れるものが多い。民生用でも導体層の数が4層、6層等
の多層プリント配線板が使用され、産業用では更に層数
の多い高多層プリント配線板が使用される趨勢にある。
多層プリント配線板は表裏2層の外部に露出した導体層
と、数層の露出しない内層の導体層で構成され、各導体
層の間に絶縁性の基板が挿入され、この基板によって導
体層が接着された構造となっている。
とえば厚さ18μm程度の銅箔が使用される。基板材料
としては、熱硬化性のガラス・エポキシ樹脂の使用が主
流であり、高多層配線板ではガラス・ポリイミド樹脂、
ガラス・BT樹脂等の耐熱樹脂も使用される。
に内層の導体数が多いだけなので、多層プリント配線板
の製造法として、以下、図10および図11を参照し
て、6層の多層プリント配線板の製造法を簡単に説明す
る。図10(a)は6層配線板の構成を模式的に示した
斜視図であり、(b)は内層となる両面配線板の導体部
分に形成されたプリントパターンを模式的に示す平面図
である。(c)は後述するレイアップの際に使用される
治具板の側面図を示す。図11は6層配線板の断面の、
(a)はホットプレス工程直前を、(b)はホットプレ
スにより熱硬化され接着して1枚の多層基板となった状
態を、それぞれ示している。
線板60は2層の露出した導体層62、62と、内層と
なる2枚の両面プリント配線板61、61の間にプリプ
レグ64、64a、64を挟んで形成される。内層を構
成する両面プリント配線板61、61には、表裏の銅箔
面に最終製品となる(図では6個の)単一配線板パター
ン61a、・・・61a等が、通常エッチングによって
形成されている。
ド穴65、65が上記の両面配線板61、61に開けら
れ、このガイド穴65、65を基準にして表裏両面のパ
ターン61a、・・・61a等が形成されるので、両面
プリント配線板61、61の表裏のパターンは平面的に
は、相互にその位置が保たれている。このように2枚の
両面配線板61、61には同じ座標位置のガイド穴6
5、65を使用してパターン61a、・・・61a等が
形成される。内層板となる両面プリント配線板61に形
成されたパターンには、単一配線板のパターン61a、
・・・61aの他に、後工程に使用する基準穴用のガイ
ドマーク66、66(中央部2個所)またはガイドマー
ク66b、・・・66b(各隅に4個所等)および、表
裏識別用の基準穴の位置を示すガイドマーク66aが複
数個用意され、エッチング工程でこれらのガイドマーク
も形成される。
ント配線板を重ねて、それぞれの配線板の導体部に形成
されたパターンの位置関係を正しく揃えることをレイア
ップ(Lay up)と言う。2本のピン68a、68
aを設けた治具板68が用意される。ピン68a、68
aの中心距離は、両面プリント配線板61にパターン6
1a、・・・61a等を形成したとき使用したガイド穴
65、65の中心距離と等しくされている。1枚のエッ
チング済みの両面基板61が、そのガイド穴65、65
に治具板68のピン68a、68aを挿通して治具板6
8上に置かれる。その上にガイド穴65、65を開けら
れた、加熱前の基板材料(プリプレグと呼ばれる)64
aが載せられる。更に他の1枚の両面基板61が、その
ガイド穴65、65に治具板68のピン68a、68a
を挿通して治具板68上に重ねられる。この段階で2枚
の両面基板61、61とその間のプリプレグ64aの外
周を仮止めしてレイアップが完了する。
アップされた2枚の両面プリント配線板61、61の両
側にプリプレグ64、64と導体材料の銅箔62、62
をおいてホットプレスで加圧加熱すると、銅箔62や両
面基板61の間に挿入されたプリプレグ64、64a、
64が熱硬化して(絶縁)基板63に変化し、各導体間
の接着も完了し、同図(b)に示す1枚の多層プリント
配線板60となる。この後、多層基板の内層パターンに
対応した新たな基準穴が開けられ、この新基準穴を基準
として最外層の導体配線パターンのエッチング、スルー
ホールの穴開け加工等が行われる。更に、めっき工程、
防錆処理工程等を施し、機械加工で単一配線板に分割
し、所要の外形形状に切り出して多層プリント配線板が
完成する。
使用する位置決め用の穴をガイド穴、ホットプレス以降
の工程で使用される位置決め用の穴を基準穴と呼び分け
ることにする。既に説明したように、内層板に形成され
たパターンには、単一配線板のパターン61a、・・・
61aの他に、基準穴のためのガイドマーク66、6
6、66a等が複数個用意され、エッチング工程でこの
ガイドマークもエッチングされている。これらのガイド
マークの座標は、単一配線板のパターン61a、・・・
61aとある位置関係を保つよう定められているので、
これらのガイドマークの位置を測定すれば、電気回路を
構成するパターンの座標が判明する。上記の多層基板6
0の内層に形成されたガイドマーク66、66に対応し
た新たな基準穴を開けるのに、通常は、X線(基準穴)
穴開け機が使用される。
れた多層基板の表裏両外面は無垢の導体層で覆われてお
り、肉眼で可視光線を使って内層に形成されたガイドマ
ークを明瞭に透視することは不可能である。現在では微
弱なX線で多層基板を透視して、内層板に形成されたガ
イドマーク位置を測定する方式が一般的であるが、超音
波その他の測定法も種々研究されている。いずれにして
も、可視光線以外を使用して内層板に形成されたガイド
マーク位置を測定する方式として一括できる。
組の内層板のどれか1枚の導体層に形成される。内層板
の変形具合を具体的な数値で記述できるように、ガイド
マークはお互いに離れた位置に少なくとも2個が形成さ
れている。最近では、内層板の各所の変形を捉えるため
にガイドマークの個数は増加する傾向にあり、図8に符
号を66b、・・・66bとして示すように、一導体層
の4隅等にガイドマークを形成して、変形具合を平面の
直交する2方向で測定可能にされている。(例えば、図
10では4個のガイドマークの例が示されている)
熱されるために、内層板の多少の変形は免れず、内層板
のガイドマークも当初設定された座標と異なっている。
ガイドマーク間の距離も設計値とは異なる場合が多い。
しかし、後工程で使用される基準穴は治具板に設けられ
たピンに挿通されて使用されることから、基準穴の中心
距離、即ち、基準穴間隔を治具板のピンの間隔と等しく
しておく方が実用上具合がよい。このように、基準穴の
中心距離が所定の基準穴間隔となるように基準穴を開け
る方式は振り分け式と呼ばれる。同時に使用される基準
穴の数は2個以上任意に選んで良い。また、後工程で使
用する治具板の性格により、内層板に設けられたガイド
マークと実際に穿孔される基準穴とは位置、個数とも違
っていることが多い。なお、基準穴が2個のとき、表裏
識別用に更に1個の基準穴が追加されることもあり、治
具板のピンに挿入された基準穴の摩耗変形を恐れて、後
の工程数によっては何組かの基準穴が予め開けられる場
合もある。
ンを設計するとき使用した座標系を設計座標系と呼ぶこ
とにする。導体層に形成されたガイドマークの座標値は
この設計座標系でそれぞれ現されている。また、穴開け
機の筺体等の不動部に固定され、主構成要素の運動方向
に平行な座標軸を持つ機械座標系を想定する。多層プリ
ント配線板を穴開け機にセットし、例えばX線カメラで
ガイドマークを観測すれば、各ガイドマークの穴開け機
上の位置として、機械座標系で現された座標値が得られ
る。この座標値を統計学的に処理して、設計座標系の座
標原点の座標と座標軸の方向の最も確からしい数値を求
めれば、設計座標系で記述されている基準穴の座標も機
械座標系の座標に換算することができる。基準穴の位置
が機械座標系で表示されれば、この位置に基準穴用ドリ
ルの装着されたスピンドルを移動させ、基準穴の穴開け
を行うことができる。基準穴穴開け機はガイドマークの
測定値から、上記の設計座標系の要素を推定する計算手
段を内蔵しており、このための計算方式も各種提案され
ている。
用されている2穴振り分け式基準穴穴開け機の機能の概
略を説明する。ガイドマークとしては例えば、図10で
66、66の符号を付けた2個が測定され、2個のガイ
ドマークの中心を結んだ直線上で、2個のガイドマーク
から等距離にある中心点からそれぞれの基準穴までの距
離が等しく、且つ、基準穴の中心間隔が所定の寸法とな
るよう基準穴が開けられる。図12(a)は筺体71a
を透視した平面図、図12(b)は作業者側から見た正
面図で、同様に、筺体71aを透視して描いている。な
お、平面を示す図10(a)では可動テーブル80を破
断したり、右側のX移動架台73を省略して示してい
る。また、機械座標系50は前述のように、穴開け機の
不動部分に原点Omが固定され、機械の主運動方向に平
行に座標軸を定めた座標系で、作業者の左右方向に沿っ
てXm軸、奥に向かってYm軸、垂直方向にZm軸を設
定している。
線ガイド73a、73aとボールねじ73bが設置さ
れ、2台のチャンネル状のX移動架台73を移動可能に
支承している。X移動架台73の最上部にX線発生装置
74が固定され、下部には直線ガイド78a、78aと
ボールねじ78bが設置され、Y移動架台78を移動可
能に支承している。2台のX移動架台73は互いに反対
方向に機械座標系のXm軸に平行に動き、穴開けする多
層プリント配線板の大きさに従って、その間隔を可変と
されている。Y移動架台78は独立して機械座標系のY
m軸に平行に動くようにされ、その上にX線カメラ76
とドリル回転機構であるスピンドル77が所定間隔を隔
てて固定されている。
の中間に配置され、機械座標系のYm軸に平行に移動す
る。可動テーブルの中央近くに配置された直線ガイド8
0a、80aとボールねじ80bにより、80Aの位置
で多層プリント配線板(図示せず)を可動テーブル80
上に載置し、図12(b)に可動テーブル80として示
した穴開け位置まで引き込む。X線発生装置74に内蔵
されたX線発生管74aから放射されたX線は、X線防
護管75と、その先端に移動可能に配置されたクランパ
75aに開けられた孔を通して、図示しない多層プリン
ト配線板のガイドマークを透過して下のX線カメラ76
に入射する。X線カメラ76の位置(機械座標系による
座標値)は既知なので、X線カメラ76に写ったガイド
マークの画面上の位置を測定すれば、ガイドマークの座
標を知ることができる。左右のX線カメラ76、76の
画像から2個のガイドマークの座標が知られる。この2
個のガイドマークの座標から、基準穴の座標、H1(X
1、Y1)、H2(X2、Y2)を計算する。
ているY移動架台78がYm軸方向に移動し、スピンド
ル77がX線カメラの有った位置を占める。スピンドル
を載置しているY移動架台78はYm軸方向に移動する
と共に、X軸方向にも微動可能になされているので、X
m軸方向とYm軸方向の微調整を行い、計算された基準
穴の座標H1(X1、Y1)、H2(X2、Y2)の直
下にドリル77bを位置させて穴開けする。このとき、
X線防護管75の下端に配置されたクランパ75aは降
下して、多層プリント配線板の穴開け部の周辺を抑え込
み、穴開け時の多層プリント配線板の移動を防止する。
6を観測して基準穴を開けると、図10(b)に斜線で
示した範囲の多層配線板の変形具合は反映されるが、そ
れと直角方向の変化は無視される。既に述べたように、
最近では内層板の4隅等に3個以上のガイドマーク66
b、・・・66bを形成し、これらの全測定値から内層
板の平面の変形具合を加味した基準穴が求められてお
り、多数個のガイドマークに対応する(多マーク)振り
分け式穴開け機も実用化されつつある。
として、多層プリント配線板のユーザから製造工程の品
質情報を提供することよう求められることが多くなって
きた。配線板メーカとしては、各工程の終了時点で製品
の特性値の分布等を測定し、その結果を保存する必要が
生じる。配線板の完成検査で、内層板のパターンの変形
状況を従来より広範囲に把握し、且つ、データ化せねば
ならない。従って、今までは最も細密なパターンを持つ
導体層に着目して、そこにガイドマークを設ければ多層
配線板製造には支障がなかったが、今後は他の導体層に
関しても導体パターン変形移動の量的情報を測定し、そ
の結果を保管し、要求があればユーザに提出することが
義務となりつつある。この導体パターンの変形移動量は
導体層相互のズレを表すので、一般に”層間ズレ”と呼
ばれている。完成検査以前に、例えば、ホットプレス工
程後の基準穴穴開けの際に各導体層に形成されたパター
ン相互の層間ズレを測定すれば、中間工程で多層配線板
の良否の選別もできるので最終検査での不良品が減り、
配線板メーカとしても有用である。
全ての各導体層にガイドマークを形成する必要があり、
従来の1層だけにガイドマークを形成する場合に比し、
マークの総数は導体層の数量倍となる。各導体層に従来
と同様な大きさのガイドマークを形成すると、ガイドマ
ークの設置スペースが過大となり、配線板のパターンの
レイアウトによっては、従来より大きな外形の材料が必
要となり、原材料費増加の問題を生じる。また、従来か
ら、測定時の誤差を少なくするために、ガイドマークは
カメラの視野内でなるべく大きく、しかも、マークの図
形中心(重心)が視野の中心にあるようにして測定され
てきた。従って測定できるガイドマークは1測定につき
1個となる。そのために、これらガイドマークを観測す
るために、基準穴穴開け機に装備されたカメラが各ガイ
ドマーク位置に移動する必要があり、観測時間の増加に
よる加工時間の増加する問題も無視できない。
題点を解決するために、多層プリント配線板の内層を構
成する一の導体層に形成された、輪郭線の内側が(画像
として観察したときに周囲の画像より明るい)明部とさ
れる中空ガイドマークと、この導体層に板厚方向に隣接
する導体層に形成された、輪郭線の内側が(画像として
観察したときに周囲の画像より暗い)暗部とされる中実
ガイドマークとを備え、多層プリント配線板の板厚方向
に透視したとき、中空ガイドマークの輪郭線の内部に中
実ガイドマークを配置し、中空ガイドマークの輪郭線と
中実ガイドマークの輪郭線が接触しない大きさとした多
層プリント配線板を提供する。この多層プリント配線板
の内層の導体層は、配線板の板厚方向に透視したとき、
中空ガイドマークの輪郭線の図形重心位置と中実ガイド
マークの輪郭線の図形重心位置が一致するよう、多層プ
リント配線板の内層の導体パターン設計時に、配置され
ている。
導体を削除した複数のガイドマーク枠を形成し、このガ
イドマーク枠は、各導体層の同位置に置かれ、前記多層
プリント配線板の板厚方向に透視して前記ガイドマーク
を観測する観測装置の受像部の視野内に入る大きさに形
成され、中空ガイドマークの内部に配置された中実ガイ
ドマークと中空ガイドマークとからなる、少なくとも1
組のガイドマークの組を、このガイドマーク枠内に配置
した多層プリント配線板でもある。また、特定の多層プ
リント配線板内層の導体層に形成された中実ガイドマー
クを前記ガイドマーク枠の中央に配置することも提案さ
れている。更に、中空ガイドマークの輪郭線を内包する
輪郭線を定め、2個の輪郭線を2個の同心円とした円環
ガイドマークを中空ガイドマークとして使用することも
可能である。
を削除した複数のガイドマーク枠を形成し、このガイド
マーク枠は、各導体層の同位置に置かれ、多層プリント
配線板の板厚方向に透視してガイドマークを観測する観
測装置の受像部の視野内に入る大きさに形成され、ガイ
ドマーク枠の内部に、中空ガイドマークの内部に配置さ
れた中実ガイドマークと中空ガイドマークとからなる、
少なくとも1組のガイドマークの組を配置したガイドマ
ーク群を観測し、1個のガイドマーク群内の全ガイドマ
ークの組の画像を、1回の観測で取り込む層間ズレの測
定方法が提案されている。また、この視野の中央部に配
置されたガイドマークの位置を基準として同一ガイドマ
ーク枠内の全ガイドマークの座標を算出することも提案
されている。更に、ガイドマーク群中に含まれるガイド
マークの全ての座標値、またはその一部の座標値を使用
して内層の座標位置を推定し、基準穴座標を定める層間
ズレの測定方法も提案されている。
多層プリント配線板の内層板の各導体層に形成されたガ
イドマークを図1と図2を参照して説明する。図1は内
層を形成する導体層が10層の場合を例として示してお
り、図1(a)は各導体層のガイドマーク部の断面の模
式図、(b)は測定用X線カメラの視野に現れたガイド
マークの1例、図2(a)は内層2層目の導体層(図1
で両面配線板61−1の裏面)に形成されたガイドマー
ク(23−1b、22−1b)、図2(b)は内層3層
目の導体層(両面配線板61−2の表面)に形成された
ガイドマーク(23−2a、22−2a)をそれぞれ表
示している。
0層(内層用の両面配線板61が5枚)で構成されてい
る。そして、図1(a)の上から1〜5の添え字を付け
て区別し、更に便宜上、図の上側を表面、下側を裏面と
しa、bを添え字として使用する。図2(c)は1枚の
多層プリント配線板60内のガイドマーク群20(A、
B、C、D、E、F)の配置例を示す。なお、その他の
符号は、先に説明した図10、図11と共通に使用して
いる。ちなみに、62は外層の導体、63は絶縁基板で
ある。
配線板61−1の表面に形成された中実ガイドマーク2
2−1aに対し、中空ガイドマーク23−1bが板厚方
向(図の上下方向)で隣接した導体層に形成されてい
る。中実ガイドマーク22−1aと中空ガイドマーク2
3−1bとは設計上は同心であるように配置されてい
る。更に、中空ガイドマーク23−1bの隣に、同一導
体層に中実ガイドマーク22−1bが形成され、板厚方
向で隣接した導体層に形成された中空ガイドマーク23
−2aと同心に配されている。このように、板厚方向で
隣接した導体層間で中実ガイドマーク22と中空ガイド
マーク23が同心に形成され、両面配線板61−1の表
面の導体層から両面配線板61−5の裏面の導体層まで
相互の位置が関連づけられている。
中空ガイドマーク23は図1(b)に示すように、ほぼ
正方形のX線カメラの視野内に納まるよう例えば3行3
列に配列されている。この多層プリント配線板60に
は、それぞれの内層導体層に、銅箔が削除されたガイド
マーク枠21(21−1a、21−1b、21−2a、
・・・・21−5b)が形成され、X線を遮らないよう
にされている。この10個のガイドマーク枠21は重な
り合って不要の銅箔が削除された空隙部を構成し、内部
に配置された中実ガイドマーク22と中空ガイドマーク
23を観測し易くしている。なお、このガイドマーク枠
21の外側での銅箔の有無は問わない。
に形成されたガイドマークが一括されて観察される。こ
の像を構成する個々の導体層のパターンの例が図2
(a)、(b)に示されている。(a)は両面配線板6
1−1の裏面を表面から透視して、ガイドマーク枠21
−bの内部に配置された中空ガイドマーク23−1bと
中実ガイドマーク22−1bを示し、(b)は両面配線
板61−2の表面を描いて、ガイドマーク枠21−2a
の内部に配置された中空ガイドマーク23−2aと中実
ガイドマーク22−2aを示している。このような形状
が重なって図1(b)に示すX線の像が形成される。
る部分は中実ガイドマーク22では中央部の銅箔の残存
した円形部分(画像としては暗)であり、中空ガイドマ
ーク23の場合は中央部(内側)の銅箔のない円形部分
(画像としては明)である。すなわち、中実ガイドマー
ク22は基本となる輪郭線の内部が暗部として表現さ
れ、中空ガイドマーク23は基本となる輪郭線の内側が
明部として表現される形状である。この輪郭線の形状
は、原理的には、どんな平面図形であっても特に制約は
ないが、本例では輪郭線が同心円の場合として説明す
る。
(b)の符号を参照して、ガイドマーク枠21の1辺F
が約10mm角、ガイドマークの間隔Aがほぼ3mm、
中実ガイドマーク22の外径が1.4mm、中空ガイド
マーク23の内径が2.4mm程度とされている。ガイ
ドマーク枠21の大きさFはX線カメラの有効視野より
やや小さく定められ、ホットプレス工程が終了した多層
プリント配線板が多少変形して、個々のガイドマーク位
置が変化してもX線カメラの視野内に充分納まる大きさ
とされている。
マークの形状例が図2(a)、(b)に示されている。
図2(a)は上から1枚目の内層板61−1の裏面の導
体層に形成されたガイドマーク、同図(b)は上記の内
層板61−1の裏面の導体層と隣接した内層板61−2
の表面の導体層に形成されたガイドマークを示し、中実
ガイドマーク22−1bの重心位置と中空ガイドマーク
23−2aの重心位置が比較される。ここで重心とはガ
イドマークを形作る平面図形の重心、すなわち図形重心
を言う。隣接したガイドマークの重心位置を順次比較す
ることで全てのガイドマークの位量を知ることができ
る。
してガイドマーク群は少なくとも20A、20Bの2個
所に設ける。2個所のガイドマーク群を観測すれば、内
層の各導体層の重心位置の分布、重心周りの回転角が計
算でき、ガイドマーク群20A、20Bを通る直線の近
辺の変形具合を確実に掴むことができる。配線板60の
4隅にガイドマーク群20C、20D、20E、20F
を配置して、この4個のガイドマーク群を使用して、内
層の各導体層のパターンの設計座標の原点の移動量、座
標軸の向きを計算すれば、多層プリント配線板60のそ
れぞれの導体層の平面的な変形量を推定できる。なお、
図2(c)に記入された原点Od、直交する座標軸U
d、Vdを持つ座標系が全ての内層の導体層に共通な設
計座標系であって、設計上のガイドマーク群の位置はこ
の設計座標系で記述されている。
0の表裏にガイドマークを形成しているが、全導体層全
てにガイドマークを付けずに、いくつかの特定の導体層
にガイドマークを形成しても良い。例えば、両面配線板
61の表裏のパターンの層間ズレは、レイアップ以前の
両面配線板61の単体検査で測定可能であり、その測定
結果と照合すれば、ガイドマークを片面のみに形成して
も差し支えない。更に、ユーザとの了解事項として、あ
まり重要でない導体層の層間ズレを測定不要とすれば、
その層のガイドマークは省略できる。
図3を参照して説明する。図3(a)はX線カメラの概
要を示す模式図、(b)はマークの位置とX線カメラの
出力像の形を説明する模式図、(c)は被写体の厚さに
よる像の位置の変化を示す模式図である。通常、X線カ
メラ6には、その受光部としてX線蛍光増倍管30が内
蔵されている。図3(a)に示すように、X線蛍光増倍
管30は、蛍光膜31と光電面32からなる入力ターゲ
ット、収束電極S、陽極A、出力蛍光膜33等を内蔵し
ている。X線発生管4aから放射されたX線は被写体で
ある多層配線板60のガイドマーク66等の形成されて
いる内層を透過して、蛍光膜31に入射し、蛍光膜31
を発光させて光学像36に変換される。その光により、
蛍光膜31の内面に密接して配置された光電面32から
光電子が放出される。加速電圧を上げなどして出力光束
を増倍させ、出力蛍光膜33に像を結ぶ。その像を光学
レンズ系34を介して電荷結合素子(Charge Coupled
Device)であるCCD撮像素子35に取り込む。
60までの距離、L2はX線源とX線増倍管の蛍光膜ま
での距離である。可視光線と違い、X線は光学レンズが
使用できないので、蛍光膜31の像36と多層配線板に
形成されたガイドマークとは、ほぼ相似形の影絵として
写り、その大きさは〔(L2)/(L1)〕と拡大され
る。最近、CCD撮像素子35の感度が向上したため、
蛍光膜31の後ろに密着してCCD撮像素子35を配置
し、蛍光膜31の像を直接CCD撮像素子に取り込ん
で、増倍管30を省略したX線カメラも用いられるが、
上記の関係は同様に成立する。
置と被写体と像の形との関係を説明する。カメラの視野
の中央に図形重心があるマークB1に対しては、X線発
生管から出射したX線により形成される直下の像Z1は
元のマークB1と相似形であり、その重心(図形中心)
も元のマークB1と同位置の視野中央にある。この場合
はL1、L2とは関係なく、重心位置の変化はない。X
線が角αの角度で入射したマークB2の像Z2は前項末
尾の式により大きさは変化し、角αの微少変化でマーク
B2と像Z2の形状は厳密には相似ではなく、例えば、
マークB2の輪郭形状が円とすると、像Z2は楕円形と
なる。しかし、円の中心は楕円の中心に射影し、重心位
置は角αの線上にある。ガイドマークの重心が視野の中
心でない場合も上記の重心位置が角αの線上にあること
を利用して単純な比例計算で補正することができる。こ
のように、X線の入射角αによる像のゆがみの影響を避
けることができる。なお、X線蛍光増倍管30の蛍光膜
31は球面の場合もあり、多少の狂いが加算されるが、
その誤差の増加分はごく少ない。
である多層配線板60の表裏にマークがあると、マーク
間の距離(配線板の板厚)t1、t2により像の位置に
差が現れる。実際には表裏のマークB1、B2は同心に
配置されているが、X線がαの入射角を持つ場合は、そ
の像Z1、Z2は同心とはならない。板厚t1が小なら
ば、上半部に描いたように狂った量Q1は少なく、板厚
t2が大ならば、下半部に示すように狂った量Q2は非
常に大きくなり、誇張して示すように両ガイドマークが
重なれば解析不能となる。1例として、L1が200m
m、L2が220mm、対角に計ったガイドマークの最
大距離を4.2mm(図1(b)の22−1aの位置)
とすれば、角αは約1.2°となり、板厚t1が0.2
mm以下ならば狂った量Q1は5μm未満であり、全く
問題とならない。板厚t1が0.5mm程度で狂いの量
Q1は0.01mm前後で使用限界に近くなる。従って
板厚t1が最小となるよう、隣接した導体層に設けられ
たガイドマーク間で比較すれば、この影響を最小とでき
る。更に、基本とするガイドマークの重心が視野中心と
なるように、図3(b)のガイドマークB1のように配
置して測定すれば、同図(b)、(c)の誤差を完全に
排除できる。
クの像は、図4(a1)に模式図で示すようになる。図
4(a1)は同図(a2)に示すガイドマーク群の内の
1組のガイドマークを切りとり、拡大して示している。
CCD撮像素子35に取り込まれたガイドマークの像
は、その明るさを適当な敷居値で2値化すれば、全ての
画素は明か暗の2種のいずれかに分類され、CCD撮像
素子の画素の大きさで区画されたモザイク状となる。
今、像の左下隅に座標原点Oを定め、直交するX、Y座
標軸を引く。例えば、X軸に沿って原点Oからi番目の
画素の列に明の画素が何個あるかを数えれば、(切りと
られた図形のX軸に沿った画素数は既知なので)暗の画
素の数も自動的に得られる。同様にY軸に沿って原点O
からj番目の画素の行の明暗の画素数もそれぞれ知るこ
とができる。
像は、先に図1で説明したように中空、中実2種類のガ
イドマークの像が重ね合わされている。この像をソフト
的に分離し、それぞれの画素数から図形の重心座標を算
出する。ソフト的に解析する手法には各種あるが、その
1例を図4(b)を参照して説明する。重心を算出する
上で基準となる図形は、同図(a1)または(b)に示
すように、中実ガイドマーク22の外径である輪郭線2
2Aと中空ガイドマーク23の内径である輪郭線23A
である。
僅かに大きい径の区画円C1を定義し、この区画円C1
の内部に存在する暗画素の数の集計と、やはり区画円C
1内部の各座標軸に沿った原点Oに関するモーメント
(距離×重量)を集計する。この場合は距離は原点Oか
らの画素数であらわされ、重量は暗画素数で代用され
る。例えば、図4(a1)でX軸に沿ってi番目の列の
モーメントは〔i×(その列の暗画素数)=5×3〕と
なる。区画円C1内のモーメントの集計を区画円内の暗
画素数で除すれば、画素数で表した中実ガイドマークの
重心のX座標が得られる。Y軸に沿っても例えばj行の
モーメントは〔8×5〕となり、同様な計算で重心のY
座標が得られる。
Aより僅かに大きい径の区画円C2を定義する。更に先
の区画円C1の内部を全て明画素とみなす処理を同時に
施せば、中実ガイドマーク22は見かけ上消失する。区
画円C2の内部の明画素について、上記の重心を求める
計算を行えば、中空ガイドマーク23の重心座標が知ら
れる。このように、ソフト的に区画円C1、C2をつけ
加えることで、中実ガイドマーク22と中空ガイドマー
ク23の重心を、それぞれ独立して計算できる。この重
心計算をそれぞれの中実、中空ガイドマークの組に行え
ば1個のガイドマーク枠内の全てのガイドマークの重心
位置が判明し、簡単な換算で穴開け機に設定された機械
座標系に変換できる。なお、実際には1個のガイドマー
クに割り当てられる画素数は図(b1)よりはるかに多
く、上記の重心計算での誤差は実用上問題にはならな
い。また、良品の多層プリント配線板では、ガイドマー
クの変位は僅かであり、区画円C1、C2から重心計算
に使用する画素がはみ出す恐れは少ない。
が等しい2個の図形を組み合わせ、更にこの2個のガイ
ドマークを2層の隣接した導体層に設けておけば、1組
毎に2個のガイドマークを比較することで両者の座標の
違いが算出でき、ガイドマーク1個毎に重心を算出する
場合と比較すれば、誤差を遥かに小さくすることができ
る。また、前述のように、X線カメラの視野の中央部が
最も誤差が小さいので、中央部のガイドマークで、この
ガイドマーク群の機械座標系での座標を求めれば、ガイ
ドマーク群内の全てのガイドマークの機械座標系で表し
た座標値が簡単に計算できる。測定値の補正のために、
図3(a)に示すL1、L2による像の拡大率等、初め
から定まったX線カメラ回りの定数的数値をインプット
して置けば良い。個々の配線板のデータのインプットは
ほとんど不要である。こうしてガイドマーク群観測によ
って、高い測定精度が保証される。
の像の機械座標系の座標値を計算することもできるが、
像の拡大比率、板厚の影響、カメラ視野内での像重心の
位置等を個別に補正するのは、予め加工を行う多層配線
板の個々の数値をインプットする必要があって煩雑でも
あり、その精度もかなり低下する。
原理図から同図(b)の3行3列に折り返すが、上の導
体層から順に左上から並べる必要はなく、隣接した導体
層毎に同心の中実、中空ガイドマークの組を作る原則を
守れば、例えば最重要な導体層に形成された中実ガイド
マークを中央部に配置する等、任意に配列順を組み替え
て良い。
5に示す円環状のガイドマークも使用できる。図5はい
ずれもガイドマーク枠20の内部を模式的に描いたもの
で、図5(a1)〜(a3)は図1の中空ガイドマーク
23を円環ガイドマーク24に置き換えたものを示し、
同図(b1)〜(b3)は円環ガイドマーク24を複数
個同心に配置した場合である。また、同図(c)は上記
の区画円C1、C2に加えて、ソフト的に更に区画円C
3を定義した場合の説明図である。
ドマーク22に対しては区画円C1の定義で重心が得ら
れるのは図4と変わらない。中空ガイドマーク23の外
側の輪郭線を正方形から円に置き換えた、円環ガイドマ
ーク24の場合は、区画円C2を定義して区画円C1と
共に処理すれば、前例と同様に、円環ガイドマークの内
部の明画素の重心を求め得る。すなわち、円環ガイドマ
ーク24はその内径を輪郭線24Nとする中空ガイドマ
ークと考えて良い。この場合は図1の中空ガイドマーク
23と等価である。更に、円環ガイドマーク24の外径
より僅かに大きい区画円C3を定義し、同時に区画円C
2の内部を暗画素と見なす処理を施して、区画円C3の
内部の暗画素に対して、重心を計算すれば、円環ガイド
マーク24の外径を輪郭線24Gとする中実ガイドマー
クと等価となる。このように、ガイドマークを円環とす
ればソフト的な処理のみで中空、中実両ガイドマークと
同等となすことができる。
ークを構成する輪郭線を全視野の中央に中心を持つ同心
円とすれば、先に図3(b)、で説明した誤差の影響を
改善し得るので、観測時にガイドマークがX線カメラの
視野の中央に位置するように注意するのみで、高い精度
の観測が可能となる。また、X線カメラの視野が10m
m程度であれば、図1(b)と同等の線幅と間隔を採用
しても、内層の導体層6層をカバーできる。一般に使用
される高級民生機器向けの多層プリント配線板の製造に
充分な対応ができる。これらの同心円の円環からなるガ
イドマークも、図5(b2)、(b3)に示すように、
隣接する円環が隣接する導体層に形成されるよう配置す
れば、図3(c)に示した内層板の厚みの影響を減らす
ことができる。
に形成した多層プリント配線板の観測が可能な(多点振
り分け方式)基準穴穴開け機について説明する。図6は
上記の穴開け機1の外観の斜視図であり、筺体2を透視
して表している。 図7(a)は穴開け機1の正面図、
図7(b)は側面図である。図8(a)(b)は穴開け
機1の可動テーブル12の位置を変えた平面図を示し、
図7、図8とも筺体2を透視して内部を表している。
m、Xm、Ym、Zm)は穴開け機1の不動部分(例え
ば筺体1や架台3)に固定された座標系で、送り装置の
各種機械部分の移動方向がこの座標軸に平行になされて
いる。X線カメラで多層基板のガイドマークを観測して
得られる座標値や、基準穴の穴開け座標も基本的にこの
座標系を用いて算出される。なお、図6の白抜きの矢印
17は作業者の定位置であって、作業者は矢の方向(Y
m軸の正方向)に向かって立ち、ガイドマーク観測、基
準穴穴開けを行う多層プリント配線板(図示せず)を投
入し、工程が終われば穴開け機1から取り出す。
線板は図2(c)に示したように、四隅のガイドマーク
群20C、20D、20E、20Fを観測して、これら
のガイドマーク群とは別の座標(例えば20Aと20B
の近辺)に基準穴を穴開けするものとする。
定されている。左右1対のX移動架台10、10は、ほ
ぼ、チャンネル状に形成され、左右で鏡像関係をなす形
状とされている。このX移動架台10、10は架台3の
上端に配置された直線ガイド10a、10aによって支
承されている。ボールねじ10bとこれと係合するX移
動架台10の下面に取り付けられたボールナット(図示
せず)により、基準穴を穴開けする配線板の大きさに従
って、あらかじめ、Xm軸に平行に移動してガイドマー
クが観測可能の位置に待機している。なお、X移動架台
10、10を個別に駆動するために、ボールねじ10b
は各X移動架台10毎に配置されている。
置4、4が固定され、下部には直線ガイド11a、11
aが取り付けられている。そして、Y移動架台11、1
1がこの直線ガイド11aで支承されている。ボールね
じ11bとこれと係合するY移動架台11の下面に取り
付けられたボールナット(図示せず)により、Y移動架
台11、11はYm軸に平行に移動可能である。Y移動
架台11、11はチャンネル状に形成され、上部にX線
防護管5が配置され、図7に示すように、これと並んで
クランパ9とクランパ9を上下動させるエアシリンダ9
aが設置されている。下部にはスピンドル7とX線カメ
ラ6が固定されている。
固定された直線ガイド12aとボールねじ12bにより
支承され、駆動されて、多層プリント配線板を搭載する
可動テーブル12はYm軸に平行に運動する。可動テー
ブル12は12Aの位置で、ワークである基準穴を穴開
けする多層プリント配線板を載置し、Ym軸に沿って移
動してガイドマーク測定、基準穴開け位置に引き込まれ
る。なお、ボールねじ10b、11b、12bを駆動
し、X移動架台10、10とY移動架台11、11、お
よび可動テーブル12の移動を制御する制御装置は図示
されていない。
X線発生装置4とX線防護管5およびX線カメラ6でガ
イドマークの観測装置、スピンドル7とクランパ9で穴
開け装置、X移動架台10とY移動架台11と可動テー
ブル12およびこれらを支承し、駆動する直線ガイド1
0a、11a、12a、ボールねじ10b、11b、1
2b等で駆動装置をそれぞれ形成している。また、図示
されていない制御装置は、一連の穴開け作業手順に従っ
て、上記の各種装置の制御を行う。更に観測装置で観測
したガイドマークのX線像から座標値を算出し、この座
標値と予め入力された基準穴の設計座標から、基準穴穴
開け位置を計算するのが最大の役割である。
F、を4隅に形成した、図2(c)に示す多層プリント
配線板60の観測方法を説明する。まず、穴開けする配
線板の外形寸法と(設計上の)ガイドマーク群20C、
D、E、Fの座標値からX移動架台10、10のXm軸
に沿った位置が決まり、予め、X移動架台10、10
は、そこに移動して待機している。可動テーブル12が
(図6の)12Aの位置で、作業者は多層プリント配線
板60を可動テーブル12上の所定位置に載置する。配
線板60は可動テーブル12に仮固定される。可動テー
ブル12はX線カメラ4に内蔵されたX線発生管4aの
下にガイドマーク20C、20Dが来る位置に移動す
る。後述するように、ガイドマーク群20C、20Dを
X線で透視してX線カメラ6、6で観測し、各導体層の
ガイドマーク22、23の座標値を測定する。座標値は
図示しない制御装置のメモリに記憶される。ガイドマー
ク群20E、20FがX線発生管4aの下に来る距離だ
け、可動テーブル12はYm方向に移動する。次いでX
線を照射して、X線カメラ6、6でガイドマーク群20
E、20Fを観測して、各導体層のガイドマーク22、
23の座標値を記憶する。
イドマーク群の座標から基準穴H1、H2の座標を計算
し、可動テーブル12が移動して基準穴H1、H2の位
置に達し、スピンドル7、7が基準穴H1、H2の座標
まで移動し、基準穴H1、H2を穴開けする。なお、基
準穴H1、H2は図示していない。可動テーブルが投入
位置12Aまで動いて、穴開けの済んだ配線板60を作
業者が取り出すと基準穴加工工程が終了する。
架台に搭載された機器類がどう動作するかを説明する。
図9(a)は作業者位置から左側のX移動架台10、Y
移動架台11を見た正面図、(b)はその平面図でX移
動架台10の上半部を取り去り、Y移動架台11の上面
を示している。(c)、(d)はXm軸のプラス方向か
ら見たX移動架台10を示し、(c)はX線カメラ6に
よるガイドマークの観測時、(d)はスピンドルによる
穴開け時を模式的に示している。
測は、同図(c)に示すX線観測位置で行う。X線発生
管4aの直下にX線防護管5とX線カメラ6が来てい
る。図示しない制御装置の指令によりX線発生装置が起
動し、X線発生管4aから放射されたX線はX線防護管
の中心に開けられた穴5a内を通り、図示していないが
可動テーブル12上に載置された配線板60の内層のガ
イドマーク群の1個、例えば20Cを透視してX線カメ
ラ6で画像として捉え、その画像は制御装置内の計算機
に送られて各ガイドマーク(22、23、24等)の座
標が計算され、記憶される。通常2台のカメラで2回の
観測で4個のガイドマーク群の観測がなされ、このデー
タから基準穴の座標が計算される。
7bで行われる。穴開け時には、計算された基準穴の座
標値に従って可動テーブル12が移動し、X移動架台1
0が基準穴H1のXm軸座標まで移動し、Y移動架台1
1が基準穴H1のYm軸座標まで移動する微調整を行
う。Y移動架台11は常にX線カメラ6の中心を基準と
して動く設定なので、実際には図5(c)に示すよう
に、Y軸移動架台11はX線カメラ6の中心とスピンド
ル7の中心との距離Sだけ多く移動する。 スピンドル
7はエアタービンまたは高周波モータを回転源とする高
速モータであって、回転軸に取り付けられたチャック7
aを介して、通常超硬合金製のドリル7bを装着して配
線板に基準穴を穴開けする。なお、図示していないが、
スピンドル7を上下するエアシリンダまたはサーボモー
タによってドリル7bの切り込み送りを行う。スピンド
ル7の直上に配置されたクランパ9はエアシリンダ9a
のアクチュエータに取り付けられており、降下すれば可
動テーブル12に載置された配線板60を押さえつけ
て、穴開け時の配線板60の移動を防止する。以上がガ
イドマーク群を観測し、その観測結果に基づいて基準穴
を開ける穴開け機の機械的な手順である。
リント配線板60の内層の導体層の位置の算出法を説明
する。多層プリント配線板60の内層の導体層の導体パ
ターンを設計する際、全ての内層の導体層に共通な、直
交するUd、Vdを座標軸とする設計座標系を設定する
ことは既に述べた。穴開け機に投入したときに例えばU
d軸は機械座標系のXm軸と平行、Vd軸は同じくYm
軸と平行と定める。また、導体パターンと同時に4個所
のガイドマーク群の構成要素としてのガイドマークを所
定の座標位置に記入する。なお、ガイドマーク群の形状
は、図1(b)に示すものとして、例えば、中実ガイド
マーク22をその層の代表ガイドマークとする。4個の
ガイドマーク22の観測結果から中実ガイドマーク4個
の機械座標系で記述した座標値が知られる。
ク22の測定値からUd、Vdの設計座標系がどこに有
るかを推定して、この導体層の配置とみなす。すなわ
ち、設計座標系の原点を機械座標系で表した座標値、お
よび、Ud軸のXm軸に対する傾きが得られれば良い。
統計学上、測定値から確からしい値を推計する手法は各
種有るが、観測点(中実ガイドマーク22)を単位質点
と仮定して、その重心を求め、重心は不動として、設計
上のガイドマークの座標値と測定したガイドマークの座
標値から、この距離の自乗和を最小とするUd軸のXm
軸に対する傾きを求める方法等がよく使われる。計算手
順の具体例は、同一出願人より(特願平11−2932
71)として出願されているので、ここではごく概略を
説明する。
ークの設計上の座標から、各ガイドマークを単位質点と
みなして重心Gdを計算し、この重心を原点とし、座標
軸UがUdに平行、座標軸VがVdに平行な座標系に各
ガイドマークの座標値を換算して置く。測定された実際
のガイドマークの座標値から重心座標を計算して、重心
を原点とし、座標軸が機械座標系と平行な座標系で測定
値を換算する。設計上の座標値、測定値から座標軸の傾
きは一義的に求め得る。このようにして、全ての内層の
導体層の位置が、機械座標系で記述した原点の座標値
(GXm、GYm)と座標軸の傾き(Xm軸とU軸のな
す角α)として得られる。これが層間ズレのデータでも
ある。
上記の原点座標と座標軸の傾き(GXm、GYM、α)
から機械座標系の座標値として換算し、その位置にスピ
ンドル7が移動して穴開けされる。1枚の多層プリント
配線板の全ての内層の導体層のデータを使い、基準穴の
位置を算出してもよく、特に重要な導体層のデータによ
って、基準穴の位置を定めても良い。通常、4層から1
0層前後ある内層の導体層のそれぞれの変位が全て得ら
れるので、これから基準穴の位置を決定するにも各種の
考え方があり、実際に製造する配線板の特性から個々に
決定すれば良い。
モリに記憶され、客先の要求に応じて提出できる。ま
た、メーカ側の品質管理用にも有用な資料となる。ホッ
トプレス加工後の基準穴穴開けは、表面の導体層のパタ
ーンエッチング、スルーホール等の穴開け、単一配線板
に外形の切り出し等の後工程に、必要な工程であり、こ
の基準穴穴開け工程中に、内層導体層の層間ズレが加工
時間の増加無しに測定可能である。
開け機から穴開け機能のみを取り外せば、ガイドマーク
を観測してデータを記憶する測定器となる。大容量の記
憶装置、高速度測定を特徴とした測定器も、独立した製
品分野であるが、X線カメラ等の測定手段はほとんど穴
開け機と共通であり、上記の穴開け機の説明で、測定器
の機能説明も包含するものとする。
線板の内層の導体層に形成されるガイドマークを同一カ
メラ視野内に複数個配置し、1回のX線照射で1視野内
の全てのガイドマーク像を同時に取り込むので、測定時
間の増加無しに全ての内層の導体層の層間ズレを計測で
きる。加工時間増加無しに客先要求に沿った生産管理情
報を提供できる効果は非常に大きい。製造側としても適
切な中間管理の情報を先取できるので生産歩留り向上の
経済的効果が期待できる。
ドマークを同心に配し、計測するので内層板および絶縁
基板の厚さによる測定精度の低下を最小に押さえること
が出きる。複数の円環ガイドマークを同心に配したガイ
ドマーク形式を採用すれば、比較的層数の少ない内層導
体層の層間ズレの計測に有効である。更に、多マーク用
基準穴穴開け機としても、画像取り込み後の重心位置計
算時の一部ソフトの追加程度で対応可能な点も高く評価
できる。
す模式図である。
形態であるガイドマークの形と内層板内に形成されたガ
イドマーク群の配置例を示す図である。
図と、ガイドマーク像の狂いを説明する原理図である。
す模式図と画像処理方法を説明する原理図である。
2種の説明図である。
開けを行う基準穴穴開け機の斜視図である。
面図である。
図である。
平面図、およびホットプレス工程で使用する治具板の略
図である。
ある。
び平面図である。
置、4a X線発生管、5 X線防護管、5a 穴、6
X線カメラ、7 スピンドル、7a チャック、7b
ドリル、7c エアシリンダ、8 スピンドル架台、
9 クランパ、9a エアシリンダ、10 X移動架
台、11Y移動架台、12 可動テーブル、10a、1
1a、12a 直線ガイド(LMガイド)、10b、1
1b、12b ボールねじ、16 穴開け位置(1、2
穴)、16a 穴開け位置(3、4穴)、17 作業者
位置(白抜き矢印)、20 ガイドマーク群、21 ガ
イドマーク枠、22 中実ガイドマーク、23 中空ガ
イドマーク、24 円環ガイドマーク、C1、C2、C
3 区画円、22A、23A 輪郭線、24N 輪郭線
(内)、24G 輪郭線(外)、添え字 内層板の上か
ら1、2、〜5、内層板の表面(上側) a、 内層板
の裏面(下側) b、30 X線蛍光増倍管、31 蛍
光膜、32 光電面、33 出力蛍光膜、34光学レン
ズ系、35 CCD撮像素子(電荷結合デバイス)、3
6 像、A 陽極、S 収束電極、50 機械座標系
(Xm、Ym、Zm、機械原点Om) 51 設計座標系(Ud、Vd、原点Od) H1、H2 基準穴、60 多層プリント配線板、61
両面配線板、61a 単一配線板のパターン、62
導体、63 (絶縁)基板、64 プリプレグ、64a
プリプレグ(ガイド穴付き)、65 ガイド穴、6
6、66a、66b P ガイドマーク、67、H 基
準穴、68 レイアップ治具板、68a 位置決めピン 69 最大配線板外形、69a 最小配線板外形、70
影響範囲、Ha 表裏識別用ガイドマーク、
Claims (8)
- 【請求項1】 多層プリント配線板の内層を構成する一
の導体層に形成された、輪郭線の内側が明部とされる中
空ガイドマークと、 前記一の導体層に板厚方向に隣接する導体層に形成され
た、輪郭線の内側が暗部とされる中実ガイドマークとを
備え、 前記多層プリント配線板の板厚方向に透視したとき、前
記中空ガイドマークの輪郭線の内部に前記中実ガイドマ
ークを配置し、前記中空ガイドマークの輪郭線と前記中
実ガイドマークの輪郭線が接触しない大きさとしたこと
を特徴とする多層プリント配線板。 - 【請求項2】 前記多層プリント配線板の板厚方向に透
視したとき、前記中空ガイドマークの輪郭線の図形重心
位置と前記中実ガイドマークの輪郭線の図形重心位置が
一致するよう、前記多層プリント配線板の内層の導体パ
ターン設計時に、配置したことを特徴とする請求項1に
記載の多層プリント配線板。 - 【請求項3】 前記多層プリント配線板の内層の導体層
に、導体を削除した複数のガイドマーク枠を形成し、 該ガイドマーク枠は、各導体層の同位置に置かれ、前記
多層プリント配線板の板厚方向に透視して前記ガイドマ
ークを観測する観測装置の受像部の視野内に入る大きさ
に形成され、 前記中空ガイドマークの内部に配置された前記中実ガイ
ドマークと前記中空ガイドマークとからなる、少なくと
も1組のガイドマークの組を、前記ガイドマーク枠内に
配置したことを特徴とする請求項1および請求項2に記
載の多層プリント配線板。 - 【請求項4】 特定の前記多層プリント配線板内層の導
体層に形成された前記中実ガイドマークを前記ガイドマ
ーク枠の中央に配置することを特徴とする請求項2およ
び請求項3に記載の多層プリント配線板。 - 【請求項5】 前記中空ガイドマークの前記輪郭線を内
包する輪郭線を定め、2個の輪郭線を2個の同心円とし
た円環ガイドマークを中空ガイドマークとして使用する
ことを特徴とする請求項2、請求項3および請求項4に
記載の多層プリント配線板。 - 【請求項6】 多層プリント配線板内層の導体層に、導
体を削除した複数のガイドマーク枠を形成し、 該ガイドマーク枠は、前記各導体層の同位置に置かれ、
前記多層プリント配線板の板厚方向に透視して前記ガイ
ドマークを観測する観測装置の受像部の視野内に入る大
きさに形成され、 前記ガイドマーク枠の内部に、中空ガイドマークの内部
に配置された前記中実ガイドマークと前記中空ガイドマ
ークとからなる、少なくとも1組のガイドマークの組を
配置したガイドマーク群を観測し、1個のガイドマーク
群内の全ガイドマークの組の画像を、1回の観測で取り
込むことを特徴とする層間ズレの測定方法。 - 【請求項7】 前記視野の中央部に配置された前記ガイ
ドマークの位置を基準として同一ガイドマーク枠内の全
ガイドマークの座標を算出することを特徴とす請求項6
に記載の層間ズレの測定方法。 - 【請求項8】 前記ガイドマーク群中に含まれる前記ガ
イドマークの全ての座標値、またはその一部の座標値を
使用して内層の座標位置を推定し、基準穴座標を定める
ことを特徴とする請求項6に記載の層間ズレの測定方
法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34459399A JP3853124B2 (ja) | 1999-12-03 | 1999-12-03 | 多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法 |
TW089122293A TW484350B (en) | 1999-12-03 | 2000-10-24 | Multi-layer printed circuit board and measuring method of inter-layer dislocation |
KR10-2000-0066924A KR100381673B1 (ko) | 1999-12-03 | 2000-11-11 | 다층인쇄회로기판 및 그 층간 어긋남 측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP34459399A JP3853124B2 (ja) | 1999-12-03 | 1999-12-03 | 多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001168537A true JP2001168537A (ja) | 2001-06-22 |
JP3853124B2 JP3853124B2 (ja) | 2006-12-06 |
Family
ID=18370477
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP34459399A Expired - Lifetime JP3853124B2 (ja) | 1999-12-03 | 1999-12-03 | 多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3853124B2 (ja) |
KR (1) | KR100381673B1 (ja) |
TW (1) | TW484350B (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006040959A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品の製造方法とその製造装置 |
JP2008268132A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Seiko Precision Inc | 基準スケールとその製造方法、及び、加工装置 |
CN102291949A (zh) * | 2010-06-18 | 2011-12-21 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 多层电路板制作方法 |
WO2013176224A1 (ja) * | 2012-05-23 | 2013-11-28 | 味の素株式会社 | 多層プリント配線板の製造方法 |
KR20180126649A (ko) * | 2017-05-17 | 2018-11-28 | 주식회사 디에이피 | 엑스레이 드릴 타겟 |
CN113280737A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-20 | 惠州中京电子科技有限公司 | 高阶hdi印制电路板盲孔偏移检测方法 |
CN114113147A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-03-01 | 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 | 一种多层pcb叠板信息提取和层次防呆检测方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100831593B1 (ko) | 2007-04-23 | 2008-05-23 | 삼성전기주식회사 | 인쇄회로기판 및 그 제조방법, 비아홀 천공 장치 |
US9095083B2 (en) | 2013-11-07 | 2015-07-28 | Unimicron Technology Corp. | Manufacturing method for multi-layer circuit board |
US9288917B2 (en) | 2013-11-07 | 2016-03-15 | Unimicron Technology Corp. | Manufacturing method for multi-layer circuit board |
US9198303B2 (en) | 2013-11-07 | 2015-11-24 | Unimicron Technology Corp. | Manufacturing method for multi-layer circuit board |
KR101726950B1 (ko) * | 2015-07-29 | 2017-04-14 | 영풍전자 주식회사 | 인쇄회로기판 제조방법 |
CN112867251B (zh) * | 2020-12-30 | 2022-06-10 | 高德(苏州)电子有限公司 | 一种多层线路板的制作方法 |
CN114222418B (zh) * | 2021-12-06 | 2024-10-15 | 深圳市鑫达辉软性电路科技有限公司 | 多层板偏位识别结构 |
-
1999
- 1999-12-03 JP JP34459399A patent/JP3853124B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-10-24 TW TW089122293A patent/TW484350B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-11-11 KR KR10-2000-0066924A patent/KR100381673B1/ko active IP Right Grant
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006040959A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品の製造方法とその製造装置 |
JPWO2006040959A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2008-05-15 | 松下電器産業株式会社 | 積層セラミック電子部品の製造方法とその製造装置 |
JP2008268132A (ja) * | 2007-04-24 | 2008-11-06 | Seiko Precision Inc | 基準スケールとその製造方法、及び、加工装置 |
JP4671988B2 (ja) * | 2007-04-24 | 2011-04-20 | セイコープレシジョン株式会社 | 基準スケールとその製造方法、及び、加工装置 |
CN102291949A (zh) * | 2010-06-18 | 2011-12-21 | 富葵精密组件(深圳)有限公司 | 多层电路板制作方法 |
JPWO2013176224A1 (ja) * | 2012-05-23 | 2016-01-14 | 味の素株式会社 | 多層プリント配線板の製造方法 |
WO2013176224A1 (ja) * | 2012-05-23 | 2013-11-28 | 味の素株式会社 | 多層プリント配線板の製造方法 |
KR20180126649A (ko) * | 2017-05-17 | 2018-11-28 | 주식회사 디에이피 | 엑스레이 드릴 타겟 |
KR101969710B1 (ko) * | 2017-05-17 | 2019-04-18 | 주식회사 디에이피 | 엑스레이 드릴 타겟 |
CN113280737A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-20 | 惠州中京电子科技有限公司 | 高阶hdi印制电路板盲孔偏移检测方法 |
CN113280737B (zh) * | 2021-05-14 | 2023-08-29 | 惠州中京电子科技有限公司 | 高阶hdi印制电路板盲孔偏移检测方法 |
CN114113147A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-03-01 | 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 | 一种多层pcb叠板信息提取和层次防呆检测方法 |
CN114113147B (zh) * | 2021-11-17 | 2024-05-14 | 佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 | 一种多层pcb叠板信息提取和层次防呆检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3853124B2 (ja) | 2006-12-06 |
KR20010060307A (ko) | 2001-07-06 |
TW484350B (en) | 2002-04-21 |
KR100381673B1 (ko) | 2003-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2001168537A (ja) | 多層プリント配線板と、その層間ズレの測定方法 | |
EP0669792B1 (en) | Drill coordinate optimization for multi-layer printed circuit board | |
JP4542046B2 (ja) | 穴開け方法及び穴開け装置 | |
JP4502454B2 (ja) | 基準穴穴開け機 | |
JPS6325885B2 (ja) | ||
CN114485450B (zh) | 一种pcb板翘曲检测装置、方法和系统 | |
US5008619A (en) | Multilevel circuit board precision positioning | |
US20070256298A1 (en) | Boring device for boring via holes for connecting contact regions of multilayer printed circuit boards | |
TW200810634A (en) | Perforating device for printed circuit wiring board and reference perforating method | |
JP3805945B2 (ja) | 基準穴穴開け機 | |
JP3954474B2 (ja) | 基準穴穴開け機、および、多層プリント配線板のガイドマーク座標値の推定法 | |
JP3847182B2 (ja) | 基準穴穴開け機 | |
KR100690204B1 (ko) | 다층인쇄회로기판용 드릴링 머신 | |
KR100381674B1 (ko) | 기준홀 천공기 및 이송위치 보정방법 | |
KR101825832B1 (ko) | 다층전자회로판드릴링머신에 응용되는 자동운송장치 | |
JP4649125B2 (ja) | 基準穴穴開け機、及びその誤差補正方法 | |
JP2762130B2 (ja) | 多層積層板の基準穴明け法 | |
JPS6325884B2 (ja) | ||
JP6252809B1 (ja) | 多層回路基板基準穴明機に応用される自動搬送装置 | |
CN106900142A (zh) | 应用于多层电路板钻靶机的自动搬运装置 | |
JPS61125713A (ja) | 多層印刷配線板の孔穿設位置検出法 | |
CN117884972A (zh) | 用于控制pcb板打磨效果的检测系统及方法 | |
CN118574338A (zh) | 一种多层fpc的层间对准度测量方法 | |
JP3128401B2 (ja) | 部品装着装置 | |
KR20100045815A (ko) | 카메라 초점 조절이 필요없는 부품등록장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051026 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051101 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051226 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060425 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060621 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20060626 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060815 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060905 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3853124 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100915 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100915 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110915 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110915 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120915 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130915 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |