JP2001155670A - 単色のx線源 - Google Patents
単色のx線源Info
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Abstract
射線強度と同時に高いスペクトル純度で生成され得るX
線源を提供することを目的とする。 【解決手段】 本発明は、一次ターゲット及び二次ター
ゲットを用いて略単色の蛍光X線を生成するX線源に関
する。放射線源は、第1の窓を介して一次ターゲットに
入射する電子が二次ターゲットに到達するとこの二次タ
ーゲットにおいて略単色の蛍光X線が励起されるように
二次ターゲットの吸収限界に対応する本質的に最大のエ
ネルギーを示すX線を発生するようにして、電子ビーム
に対して透明な第1の窓とX線対して透明であり二次タ
ーゲットに隣接される第2の窓の間におかれる液体金属
又は液体合金であることを特徴とする。
Description
ゲットを用いて略単色の蛍光X線を生成するX線源に関
する。
7,637号から公知であり、X線管に収容されて、本
質的に陰極に対向する(一次)ターゲットを含み、この
ターゲットにおいて電子ビームが入射されることでX線
が発生される。ターゲットは、例えば、アルミニウム又
はベリリウムのような軽金属から形成され、ターゲット
の機械支持のために機能しX線管の真空気密の密閉を確
実にする基板にのせられる。基板は、ターゲットから出
射されるX線に対して本質的に透明であり、全ての入射
電子が吸収されるように非常に厚く選択される。基板の
他方の側には、例えば、酸化セリウムでもよい蛍光材料
(二次ターゲット)が設けられ、一次ターゲットから入
射されるX線は、材料に依存する単色の蛍光X線を励起
する。
題は、一次ターゲットにおいて生成されるX線の大部分
を二次ターゲットに到達させることが比較的困難な点で
ある。その結果、励起される単色の蛍光X線の強度も低
いかスペクトル純度を犠牲にしてターゲットを変更する
ことでだけ増加され得る。
質的に単色の蛍光X線が高い放射線強度と同時に高いス
ペクトル純度で生成され得る上述の種類のX線源を提供
することを目的とする。
のX線源を手段として達成され、このX線源は、第1の
窓を介して一次ターゲット上に入射する電子が二次ター
ゲットに到達するとこの二次ターゲットにおいて略単色
の蛍光X線が励起されるように二次ターゲットの吸収限
界に対応する本質的に最大のエネルギーを示すX線を発
生するようにして、電子ビームに対して透明な第1の窓
とX線に対して透明で二次ターゲットに隣接される第2
の窓の間におかれる液体金属又は液体金属合金であるこ
とを特徴とする。
液体金属又は金属合金は、一次ターゲットとして機能す
るだけでなく、同時に、ターゲットからの熱を効果的に
放ち窓を冷却し、入射する電子ビームによって比較的強
い熱がとりわけ第1の窓において生じる。冷却の結果、
電子の入射及び従って熱電力密度は、著しく増加され
得、単色の蛍光X線の放射線強度がそれに応じて増加さ
れる。
開示する。請求項2記載の通り、窓の実施例は、一方で
これらの窓が比較的薄い厚さを有するときでさえも流れ
る液体金属の流れる圧力に耐えることができるようにこ
れらの窓は特に安定しており、他方でこれらの窓は電子
ビーム又はX線ビームから非常に少ない量のエネルギー
だけを抽出する。
果的な放熱が実現されるといった利点を提供する。
例は、二次ターゲットに到達しないX線のスペクトル純
度を実質的に高めることを提供する。
び、利点は、添付図面を参照して提供される好ましい実
施例の以下の説明から明確になる。
の窓2によって真空気密に密閉される管のエンベレープ
1を示す図である。管のエンベロープの真空空間には、
動作状態において電子ビーム4を出射する陰極3が配置
され、この電子ビームは、第1の窓2を介して液体金属
の形態にある一次ターゲット10上に入射され、電子と
の相互作用によってX線が発生される。液体金属(又は
液体金属合金)は、システム5中に含まれる。このシス
テムは、ポンプ52を用いて中を流れる液体金属が駆動
されるダクト50、第1の窓2と反対の側におかれるダ
クトの一部分51、及び、冷却回路を用いて液体金属中
で発生される熱を放つことができる熱交換器を含む。
は、第2の窓6を具備し、液体金属(一次ターゲット)
で励起されるX線は、二次ターゲット11中で単色の蛍
光X線を励起させるよう、この第2の窓を介して二次タ
ーゲット11中に入射される。最後に、この放射線は、
二次ターゲットに隣接する装置8を介して到達されな
い。
び、液体金属によって横切られる部分51を真空気密に
密閉する機能を担う。更に、第1の窓は、窓を通過する
間の電子のエネルギー損失、従って、発生される熱を最
小化するよう電子ビームに対して可能な限り透明な材料
から形成されるべきである。窓は、可能な限り高い熱伝
導率も有しなくてはならない。
において既に十分な機械的安定性を提供するため、非常
に適切な材料であることが知られている。このような窓
において例えば、150keVのエネルギーの電子によ
って経験されるエネルギー損失は、1%未満であり、液
体金属が50kWで電子によって熱せられるとき窓にお
ける電子によって発生される熱流束は、500W未満で
ある。ダイヤモンドの更なる利点は、その高い熱伝導率
並びに無酸素の環境では不可逆の変更を招くこと無く1
500℃まで熱せられ得る点にある。
て動作されることが好ましく、ポンプは、機械的に移動
される部分を有しない。このようなポンプの例は、米国
特許第4,953,191号に開示される。
コン基板22を有する第1の窓2並びに例えば、100
μmの厚さのダイヤモンド層23を含むシステム5の部
分51の領域を示し、電子ビームの路の領域において開
口部21がシリコン基板中に設けられる。このような窓
の製造は、例えば、欧州出願第0957506号に開示
される。
6は、第1の窓と同様の方法で構成されることが好まし
い。第2の窓は、液体金属中で励起されるX線に対して
好適に透明であることが重要である。ダイヤモンドは、
一方でその強さ他方で低い原子番号を有することより非
常に薄くてもよいため、高い熱伝導率だけでなくターゲ
ットで生成されるX線に対して非常に低い吸収力を有
し、このため、この目的のために好ましい材料であるこ
とが再び分かる。
11は、図4を参照して以下に詳細に説明するように第
2の窓6上に配置される。液体金属による放熱効果を高
めるために、部分51の窓2及び6の領域における断面
で絞られ部54が形成され、この絞られ部は、この領域
において流れを加速させ乱れを発生させる。断面の絞ら
れ部は、例えば、示すように非対称的であり翼形の断面
プロフィールと類似する断面プロフィールを有し、液体
金属のための自由路は、約10mmのダクト50の径に
関して約100ミクロンでもよい。更に、絞られ部54
及び第2の窓6は、同じ材料から成り夫々の機能を実施
する1つの素子を構成することが好ましい。
ましくは室温である可能な限り低温で液体となる液体金
属又は金属合金から形成され得る。これに関する例は、
水銀、62.5%Ga、21.5%In、及び、16%
Snの合金、又は、43%Bi、21.7%Pb、1
8.3%In、8%Sn、5%Cd、及び、4%Hgの
合金であり(全ての値は重量パーセントで示される)。
二次ターゲットは、例えば、タンタルから形成されても
よい。
3及び図4に示すターゲットの配置に対して特に使用さ
れ得る。
ット配置の断面図である。電子ビームEは、第1の窓2
を介して変換器として機能しX線を励起する一次ターゲ
ット10上に入射される。X線は、二次ターゲット11
に第2の窓6を介して入り、その二次ターゲットにおい
て略単色の蛍光X線Rflが生成される。
ギーE0を有し、二次ターゲットの(材料に依存する)
吸収限界KのエネルギーはEkであるといった仮定に基
づく。電子が一次ターゲット10を通じて拡散される一
方で、電子は、既知の方法(即ち、本質的に比較的広い
周波数スペクトルを有する制動放射)でX線を発生さ
せ、X線が発生される間エネルギーが損失される。一次
ターゲットの厚さR1、つまり、一次ターゲットを通る
電子の路の長さは、
において電子ビームEが一次ターゲットに入る点につい
ての半径R1として示される。
隔E0−Ekに対する路の長さの一単位当たりの電子の
平均エレルギー損失を意味する。一次ターゲットを通
過、即ち、路の長さR1を伝達された電子は、エネルギ
ーEkだけを有し、従って、E kよりも大きいエネルギ
ーを有する制動放射を二次ターゲット11中でもはや生
成し得ない。このエネルギーが二次ターゲットの吸収限
界に対応するため、該当するX線の吸収並びに基本状態
に戻ることが特性の放射線(単色のX線ライン、蛍光X
線)を発生するより高いエネルギー状態の励起が二次タ
ーゲット中で行なわれる。
用いて計算される値R1よりも本質的に短いとき、発生
されるX線の強度は、比例して少なくなる。路の長さが
著しく長いとき、電子のより大部分がX線に変換される
がこれらのX線は二次ターゲットに到達し得る前に一次
ターゲットにおいて再び吸収される。従って、単色のX
線の強度は、いずれの場合においても非常に低い。
が入る点についての半径R2によって示される二次ター
ゲットの厚さは、蛍光X線の強度が可能な限り高くなる
よう選択される。最大値は、
ーゲット中のX線に対する線形の減衰係数を表わす。μ
で計算される光子のエネルギーは、約(E0−E k)/
2となる。
の領域において生成される単色の蛍光X線は、路の長さ
R1を有する一次ターゲットからの制動放射の悪影響が
可能な限り小さくなる角で読み出されなくてはならな
い。この制動放射の最適抑制は、蛍光材料自体がこの放
射線に対して放射線フィルタとして機能するとき見られ
る。これは、一次ターゲットの面に対してX線ビームR
flが比較的小さい角で読み出されるとき見られる。こ
のような方向は図3に示す。
スペクトラム中に存在する制動放射の更なる減少を実現
するために、図4に示す第2のターゲット配置は、増加
されたフィルタ効果を提供し得る。
体金属又は合金でもよい一次ターゲット10上に入射さ
れるべきよう再び第1の窓2によって透過される。発生
されたX線は、第2の窓6を介して二次ターゲット11
中に入る。励起された単色の蛍光X線Rflは、装置8
を介して止められる。
あり高い原子番号を有する材料から成る。二次ターゲッ
トの方向に絞られその主軸が入射する電子ビームの方向
に対して約65°乃至90°の間の角を成すような材料
中のファンネル型の開口部は、所与の路の長さをわたる
二次ターゲットからの放射線のビームだけを形成する。
る適用法に依存し、単色のX線とそのスペクトル純度の
間の折合い、つまり二次ターゲットのフィルタ効果を常
に構成する。
々の図において厚さ5μmの金の一次ターゲットと、厚
さ195μmの厚さのダイヤモンド窓と、厚さ150μ
mのタンタルの二次ターゲットと、一次ターゲット上に
入射する150keVのエネルギーの電子ビームEとか
ら成るターゲット配置に対する関係が示される。
光X線のエネルギースペクトル、つまり、90乃至18
0度のZ角に対する反射における曲線(1)、0乃至9
0度のZ角に対する透過における曲線(2)、及び、6
5乃至90度のZ角に対する透過における曲線(3)を
示す。図5及び図6において、Z角は、電子ビームの入
射方向と読み出し方向の間に延在する。
を示す既知のX線管における通常の推移を示すが、これ
らのラインの上及び下に著しい制動放射スペクトルも有
する。しかしながら、曲線(2)は、明らかに減少され
た制動放射スペクトル及び僅かにだけ減少された強度の
周波数ラインを示し、曲線(3)は、2つの周波数ライ
ンの著しく減少された強度を犠牲にして非常に高いスペ
クトル純度によって特徴付けられる。しかしながら、特
に曲線(2)は、高いスペクトル純度と僅かにだけ減少
された強度の単色のX線の間で好ましい折合いを構成
し、この折合いは、多数の適用法に対して有利であり技
術水準によってまだ実現されていない。
ト間隔でスペクトル単色のX線(Kαライン)の純度を
例示する。これらの尺度は、Z角が82.5度において
明確な最大値を示す。
リエーションを示すグラフ図である。
純度を示すグラフ図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 一次ターゲット及び二次ターゲットを用
いて略単色の蛍光X線を生成するX線源であって、 上記第1の窓を介して上記一次ターゲットに入射する上
記電子が上記二次ターゲットに到達すると上記二次ター
ゲットにおいて略単色の蛍光X線が励起されるよう上記
二次ターゲットの吸収限界に対応する本質的に最大のエ
ネルギーを示すX線を発生するようにして、電子ビーム
に対して透明な第1の窓と上記X線対して透明であり上
記二次ターゲットと隣接される第2の窓の間におかれる
液体金属又は液体合金であることを特徴とするX線源。 - 【請求項2】 上記第1の窓及び上記第2の窓のうち少
なくとも1つはダイヤモンド窓であることを特徴とする
請求項1記載のX線源。 - 【請求項3】 上記液体金属又は上記液体金属合金は、
乱流において上記第1の窓と上記第2の窓の間におかれ
ることを特徴とする請求項1記載のX線源。 - 【請求項4】 上記一次ターゲットからの可能な限り大
部分の制動放射が上記二次ターゲットによって吸収され
るようにして上記二次ターゲットを通じて平均的な路の
長さを伝達される単色のX線ビームを形成する装置を含
むことを特徴とする請求項1記載のX線源。 - 【請求項5】 上記装置は、上記二次ターゲットの方向
に絞られ、主軸が上記入射する電子ビームの方向に対し
て約65°乃至90°の角を成すファンネル形の開口部
を具備する、上記二次ターゲットの自由な表面上のX線
遮蔽物によって形成されることを特徴とする請求項4記
載のX線源。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19955392A DE19955392A1 (de) | 1999-11-18 | 1999-11-18 | Monochromatische Röntgenstrahlenquelle |
DE19955392.0 | 1999-11-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001155670A true JP2001155670A (ja) | 2001-06-08 |
Family
ID=7929407
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000348545A Pending JP2001155670A (ja) | 1999-11-18 | 2000-11-15 | 単色のx線源 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6560313B1 (ja) |
EP (1) | EP1102302B1 (ja) |
JP (1) | JP2001155670A (ja) |
DE (2) | DE19955392A1 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003066200A (ja) * | 2001-06-19 | 2003-03-05 | Koninkl Philips Electronics Nv | 液体金属ターゲットを備えたx線源 |
WO2006006408A1 (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-19 | Nikon Corporation | Euv光源、euv露光装置、及び半導体デバイスの製造方法 |
WO2007088934A1 (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Toshiba Electron Tubes & Devices Co., Ltd. | X線源及び蛍光x線分析装置 |
JP2009010389A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、放射システム、デバイス製造方法、及び放射生成方法 |
US7567650B2 (en) * | 2003-05-19 | 2009-07-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Fluorescent x-ray source |
JP2010507810A (ja) * | 2006-10-24 | 2010-03-11 | サーモ ニトン アナライザーズ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 2段x線集中装置 |
US7741616B2 (en) | 2004-06-24 | 2010-06-22 | Nikon Corporation | EUV light source, EUV exposure equipment, and semiconductor device manufacturing method |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10130070A1 (de) * | 2001-06-21 | 2003-01-02 | Philips Corp Intellectual Pty | Röntgenstrahler mit Flüssigmetall-Target |
DE10147473C2 (de) * | 2001-09-25 | 2003-09-25 | Siemens Ag | Drehanodenröntgenröhre |
AU2003252819A1 (en) * | 2002-03-08 | 2003-09-22 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | A device for generating x-rays having a liquid metal anode |
US7180981B2 (en) * | 2002-04-08 | 2007-02-20 | Nanodynamics-88, Inc. | High quantum energy efficiency X-ray tube and targets |
GB2403388A (en) * | 2003-06-24 | 2004-12-29 | Secr Defence | X-ray inspection system having X-ray source with compound fluorescent secondary target |
DE102004013620B4 (de) * | 2004-03-19 | 2008-12-04 | GE Homeland Protection, Inc., Newark | Elektronenfenster für eine Flüssigmetallanode, Flüssigmetallanode, Röntgenstrahler und Verfahren zum Betrieb eines solchen Röntgenstrahlers |
DE102004013618B4 (de) * | 2004-03-19 | 2007-07-26 | Yxlon International Security Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer magnetohydrodynamischen Pumpe, Flüssigmetallanode für eine Röntgenquelle sowie Röntgenstrahler |
DE102004015590B4 (de) * | 2004-03-30 | 2008-10-09 | GE Homeland Protection, Inc., Newark | Anodenmodul für eine Flüssigmetallanoden-Röntgenquelle sowie Röntgenstrahler mit einem Anodenmodul |
DE602005002257T2 (de) * | 2004-04-13 | 2008-05-29 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Vorrichtung zur erzeugung von röntgenstrahlen mit einer flüssigmetallanode |
US7319733B2 (en) * | 2004-09-27 | 2008-01-15 | General Electric Company | System and method for imaging using monoenergetic X-ray sources |
DE102008026938A1 (de) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Strahlungsquelle und Verfahren zum Erzeugen von Röntgenstrahlung |
JP2012524374A (ja) | 2009-04-16 | 2012-10-11 | エリック・エイチ・シルバー | 単色x線の方法および装置 |
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US9570265B1 (en) | 2013-12-05 | 2017-02-14 | Sigray, Inc. | X-ray fluorescence system with high flux and high flux density |
US9449781B2 (en) | 2013-12-05 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | X-ray illuminators with high flux and high flux density |
US9448190B2 (en) | 2014-06-06 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | High brightness X-ray absorption spectroscopy system |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US9390881B2 (en) | 2013-09-19 | 2016-07-12 | Sigray, Inc. | X-ray sources using linear accumulation |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
DE102013220189A1 (de) * | 2013-10-07 | 2015-04-23 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenquelle und Verfahren zur Erzeugung von Röntgenstrahlung |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
US9823203B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-11-21 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
US9594036B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-03-14 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
JP6937380B2 (ja) | 2017-03-22 | 2021-09-22 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線分光を実施するための方法およびx線吸収分光システム |
EP3641651A4 (en) * | 2017-05-19 | 2021-04-07 | Imagine Scientific, Inc. | MONOCHROMATIC X-RAY IMAGING SYSTEMS AND METHODS |
US10818467B2 (en) | 2018-02-09 | 2020-10-27 | Imagine Scientific, Inc. | Monochromatic x-ray imaging systems and methods |
JP7299226B2 (ja) | 2018-02-09 | 2023-06-27 | イマジン サイエンティフィック,インコーポレイテッド | 単色x線撮像システム及び方法 |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
US10845491B2 (en) | 2018-06-04 | 2020-11-24 | Sigray, Inc. | Energy-resolving x-ray detection system |
GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
US10962491B2 (en) | 2018-09-04 | 2021-03-30 | Sigray, Inc. | System and method for x-ray fluorescence with filtering |
DE112019004478T5 (de) | 2018-09-07 | 2021-07-08 | Sigray, Inc. | System und verfahren zur röntgenanalyse mit wählbarer tiefe |
WO2020056281A1 (en) | 2018-09-14 | 2020-03-19 | Imagine Scientific, Inc. | Monochromatic x-ray component systems and methods |
WO2021011209A1 (en) | 2019-07-15 | 2021-01-21 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
US11170965B2 (en) | 2020-01-14 | 2021-11-09 | King Fahd University Of Petroleum And Minerals | System for generating X-ray beams from a liquid target |
US11882642B2 (en) | 2021-12-29 | 2024-01-23 | Innovicum Technology Ab | Particle based X-ray source |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB957506A (en) * | 1960-01-15 | 1964-05-06 | Cav Ltd | Cooling fans for vehicle engines |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4048496A (en) * | 1972-05-08 | 1977-09-13 | Albert Richard D | Selectable wavelength X-ray source, spectrometer and assay method |
US3894239A (en) * | 1973-09-04 | 1975-07-08 | Raytheon Co | Monochromatic x-ray generator |
US3867637A (en) * | 1973-09-04 | 1975-02-18 | Raytheon Co | Extended monochromatic x-ray source |
US3919548A (en) * | 1974-07-24 | 1975-11-11 | David E Porter | X-Ray energy spectrometer system |
EP0186491B1 (en) * | 1984-12-26 | 1992-06-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for producing soft x-rays using a high energy beam |
US4953191A (en) * | 1989-07-24 | 1990-08-28 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High intensity x-ray source using liquid gallium target |
DE19639241C2 (de) * | 1996-09-24 | 1998-07-23 | Siemens Ag | Monochromatische Röntgenstrahlenquelle |
DE19805290C2 (de) * | 1998-02-10 | 1999-12-09 | Siemens Ag | Monochromatische Röntgenstrahlenquelle |
DE19808342C1 (de) * | 1998-02-27 | 1999-08-19 | Siemens Ag | Abschaltbare Fluoreszenz-Röntgenstrahlenquelle |
DE19821939A1 (de) * | 1998-05-15 | 1999-11-18 | Philips Patentverwaltung | Röntgenstrahler mit einem Flüssigmetall-Target |
-
1999
- 1999-11-18 DE DE19955392A patent/DE19955392A1/de not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-11-09 EP EP00203920A patent/EP1102302B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-11-09 DE DE50012305T patent/DE50012305D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-11-15 JP JP2000348545A patent/JP2001155670A/ja active Pending
- 2000-11-16 US US09/713,877 patent/US6560313B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB957506A (en) * | 1960-01-15 | 1964-05-06 | Cav Ltd | Cooling fans for vehicle engines |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003066200A (ja) * | 2001-06-19 | 2003-03-05 | Koninkl Philips Electronics Nv | 液体金属ターゲットを備えたx線源 |
US7567650B2 (en) * | 2003-05-19 | 2009-07-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Fluorescent x-ray source |
WO2006006408A1 (ja) * | 2004-06-24 | 2006-01-19 | Nikon Corporation | Euv光源、euv露光装置、及び半導体デバイスの製造方法 |
US7491955B2 (en) | 2004-06-24 | 2009-02-17 | Nikon Corporation | EUV light source, EUV exposure system, and production method for semiconductor device |
US7741616B2 (en) | 2004-06-24 | 2010-06-22 | Nikon Corporation | EUV light source, EUV exposure equipment, and semiconductor device manufacturing method |
WO2007088934A1 (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Toshiba Electron Tubes & Devices Co., Ltd. | X線源及び蛍光x線分析装置 |
US7809113B2 (en) | 2006-02-01 | 2010-10-05 | Toshiba Electron Tubes & Devices Co., Ltd. | X-ray source and fluorescent X-ray analyzing apparatus |
JP2010507810A (ja) * | 2006-10-24 | 2010-03-11 | サーモ ニトン アナライザーズ リミテッド ライアビリティ カンパニー | 2段x線集中装置 |
JP2009010389A (ja) * | 2007-06-28 | 2009-01-15 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、放射システム、デバイス製造方法、及び放射生成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1102302B1 (de) | 2006-03-01 |
DE50012305D1 (de) | 2006-04-27 |
EP1102302A1 (de) | 2001-05-23 |
DE19955392A1 (de) | 2001-05-23 |
US6560313B1 (en) | 2003-05-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A711 | Notification of change in applicant |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080919 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101104 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110329 |